KR20090062152A - Manufacturing method of solar cell using plasma surface treatment - Google Patents
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Abstract
본 발명은 플라즈마 표면 처리를 이용한 태양전지의 제조방법에 관한 것으로서, (a) 제1도전형의 불순물이 도핑된 태양전지 기판을 준비하는 단계; (b) 상기 제1도전형과 반대 도전형인 제2도전형의 불순물을 상기 태양전지 전면에 주입하여 에미터층을 형성하는 단계; (c) 상기 태양전지 기판의 전면을 플라즈마 처리하여 데드 레이어(dead layer)를 감소시키는 단계; (d) 상기 태양전지 기판의 후면을 플라즈마 처리하여 기판 후면에 에미터층 형성 시 형성된 제2도전형의 불순물 주입층을 제거함과 동시에 기판 후면을 평탄화하는 단계; (e) 상기 태양전지 기판의 전면에 반사방지막을 형성하는 단계; (f) 상기 반사방지막을 관통하여 전면 전극을 상기 에미터층에 콘택시키는 단계; 및 (g) 상기 태양전지 기판 후면에 후면 전극을 콘택시키고, 후면 전극과 접하는 기판 후면에 BSF(back surface field)를 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a method of manufacturing a solar cell using a plasma surface treatment, comprising: (a) preparing a solar cell substrate doped with impurities of a first conductivity type; (b) forming an emitter layer by implanting impurities of a second conductivity type opposite to the first conductivity type onto the solar cell; (c) plasma processing the entire surface of the solar cell substrate to reduce dead layers; (d) plasma-processing the rear surface of the solar cell substrate to remove the second conductive type impurity implantation layer formed when the emitter layer is formed on the rear surface of the substrate, and simultaneously planarize the rear surface of the substrate; (e) forming an anti-reflection film on the entire surface of the solar cell substrate; (f) contacting the front electrode to the emitter layer through the antireflection film; And (g) contacting a rear electrode on the rear surface of the solar cell substrate, and forming a back surface field (BSF) on the rear surface of the substrate in contact with the rear electrode.
Description
본 발명은 태양전지에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 태양전지의 제조 공정에서 태양전지 기판의 전면과 후면을 플라즈마 처리하여 태양전지의 효율을 향상시킬 수 있는 플라즈마 표면 처리를 이용한 태양전지의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a solar cell, and more particularly, to a method of manufacturing a solar cell using a plasma surface treatment that can improve the efficiency of the solar cell by plasma-processing the front and rear surfaces of the solar cell substrate in the solar cell manufacturing process. It is about.
최근 석유나 석탄과 같은 기존 에너지 자원의 고갈이 예측되면서 이들을 대체할 대체 에너지에 대한 관심이 높아지고 있다. 그 중에서도 태양 에너지는 에너지 자원이 풍부하고 환경오염에 대한 문제점이 없어 특히 주목받고 있다. 태양 에너지의 이용방법으로는 태양열을 이용하여 터빈을 회전시키는데 필요한 증기를 발생시키는 태양열 에너지와, 반도체의 성질을 이용하여 태양광(photons)을 전기 에너지로 변환시키는 태양광 에너지가 있으며, 태양광 에너지라고 하면 일반적으로 태양광 전지(이하, '태양전지'라 함)를 일컫는다.Recently, as the prediction of depletion of existing energy sources such as oil and coal is increasing, interest in alternative energy to replace them is increasing. Among them, solar energy is particularly attracting attention because it is rich in energy resources and has no problems with environmental pollution. There are two methods of using solar energy: solar energy that generates steam required to rotate turbines using solar heat, and solar energy that converts photons into electrical energy using the properties of semiconductors. In general, it refers to a solar cell (hereinafter referred to as a "solar cell").
태양전지의 기본적인 구조를 나타낸 도 1을 참조하면, 태양전지는 다이오드와 같이 p형 반도체(101)와 n형 반도체(102)의 접합 구조를 가지며, 태양전지에 빛이 입사되면 빛과 태양전지의 반도체를 구성하는 물질과의 상호 작용으로 (-) 전하 를 띤 전자와 전자가 빠져나가 (+) 전하를 띤 정공이 발생하여 이들이 이동하면서 전류가 흐르게 된다. 이를 광기전력효과(光起電力效果, photovoltaic effect)라 하는데, 태양전지를 구성하는 p형(101) 및 n형 반도체(102) 중 전자는 n형 반도체(102) 쪽으로, 정공은 p형 반도체(101) 쪽으로 끌어 당겨져 각각 n형 반도체(101) 및 p형 반도체(102)와 접합된 전극(103, 104)으로 이동하게 되고, 이 전극(103, 104)들을 전선으로 연결하면 전기가 흐르므로 전력을 얻을 수 있다.Referring to FIG. 1 showing the basic structure of a solar cell, a solar cell has a junction structure of a p-
태양전지의 출력 특성은 태양전지의 출력전류-전압곡선을 측정하여 평가한다. 출력전류-전압 곡선 상에서 출력전류 Ip와 출력전압 Vp의 곱 Ip×Vp가 최대가 되는 점을 최대출력 Pm이라 정의하고, 최대출력 Pm을 태양전지로 입사하는 총 광에너지(S×I: S는 소자면적, I는 태양전지에 조사되는 광의 강도)로 나눈 값을 변환효율 η로 정의한다. 변환효율 η를 높이기 위해서는 단락전류 Jsc(출력전류-전압 곡선 상에서 V=0 일 때의 출력전류) 또는 개방전압 Voc(출력전류-전압 곡선 상에서 I=0일 때의 출력전압)를 높이거나 출력전류-전압곡선의 각형에 가까운 정도를 나타내는 충실도(fill factor)를 높여야 한다. 충실도의 값이 1에 가까울수록 출력전류-전압곡선이 이상적인 각형에 근접하게 되고, 변환효율 η도 높아지는 것을 의미하게 된다.The output characteristics of the solar cell are evaluated by measuring the output current-voltage curve of the solar cell. The maximum output Pm is defined as the point where the product Ip × Vp of the output current Ip and the output voltage Vp becomes maximum on the output current-voltage curve, and the total light energy incident on the solar cell (S × I: S is The element area, I, is defined as the conversion efficiency η divided by the intensity of light irradiated to the solar cell. To increase the conversion efficiency η, increase the short-circuit current Jsc (output current when V = 0 on the output current-voltage curve) or open voltage Voc (output voltage when I = 0 on the output current-voltage curve) or output current. Increase the fill factor, which represents the square of the voltage curve. The closer the fidelity value is to 1, the closer the output current-voltage curve is to the ideal square and the higher the conversion efficiency η.
이러한 태양전지의 제조에 있어서, 태양전지 기판의 p-n 접합은 p형 또는 n형의 불순물이 도핑된 태양전지 기판을 확산로(diffusion furnace)에 넣고 상기 기판과 다른 도전형을 형성할 수 있는 가스를 확산로에 주입한 후 이를 태양전지 기판의 표면에 확산시켜 에미터층을 형성함에 의해 이루어진다.In the manufacture of such a solar cell, the pn junction of the solar cell substrate is a gas that can form a conductivity type different from the substrate by placing a solar cell substrate doped with p-type or n-type impurities into a diffusion furnace. After implanting into the diffusion furnace, it is diffused on the surface of the solar cell substrate to form an emitter layer.
종래에는 p-n 접합 형성 시에 전면 전극과 기판 간의 콘택 특성을 향상시키고, 높은 전류 수집율을 얻을 수 있는 쉘로우(shallow) 접합을 형성하기 위해 불순물을 과도하게 도핑하는 경향이 있었다. 이러한 경우, 에미터층의 최상층부(이하, '데드 레이어(dead layer)'라 명명함)는 도핑된 불순물의 농도가 실리콘 반도체 내에서의 고체 용해도 이상으로 증가하게 된다. 참고로, 데드 레이어는 대략 50 내지 200 ㎚ 정도의 두께를 갖는다. 그 결과, 에미터층 표면 부근에서 캐리어의 이동도가 감소하고 과도한 불순물과의 산란 영향으로 인해 캐리어의 재결합 속도가 증가하고 캐리어의 라이프 타임(life time)이 감소하는 문제가 유발되었다.Conventionally, there is a tendency to excessively dopants to form a shallow junction to improve the contact characteristics between the front electrode and the substrate and to obtain a high current collection rate when forming the p-n junction. In this case, the top layer of the emitter layer (hereinafter referred to as the 'dead layer') causes the concentration of the doped impurities to increase beyond the solid solubility in the silicon semiconductor. For reference, the dead layer has a thickness of about 50 to 200 nm. As a result, there is a problem that the mobility of the carrier is reduced near the emitter layer surface and the scattering effect with excessive impurities increases the recombination rate of the carrier and decreases the life time of the carrier.
또한, 불순물의 확산을 통해 p-n 접합이 형성된 후에는 태양전지 기판의 표면 전체에 동일한 도전형이 형성되어 이후 형성되는 전면 전극 및 후면 전극이 전기적으로 연결되어 태양전지의 효율감소의 원인이 된다. 종래에는 이를 막기 위해 태양전지 기판의 측단의 가장자리에 형성된 다른 도전형의 불순물 주입층을 기계적인 스크라이빙이나, 레이저를 이용하여 제거하였다. 그런데, 기계적인 스크라이빙을 이용할 경우, 공정시간이 오래 걸리는 문제가 있고, 레이저를 이용할 경우, 공정시간이 오래 걸릴 뿐만 아니라 고온의 레이저에 의해 용융되었다가 다시 굳어진 부위가 효율 손실의 원인이 되기 때문에 레이저 공정을 적용한 후에는 별도의 에칭 공정으로 레이저로 인한 손상부위를 제거해주어야 하는 번거로움이 있었다.In addition, after the p-n junction is formed through the diffusion of impurities, the same conductivity type is formed on the entire surface of the solar cell substrate, and the front electrode and the rear electrode formed thereafter are electrically connected, which causes a decrease in efficiency of the solar cell. Conventionally, in order to prevent this, another conductive type impurity implantation layer formed on the edge of the side end of the solar cell substrate has been removed using mechanical scribing or laser. However, when using mechanical scribing, there is a problem that the process takes a long time, and when using a laser, the process takes a long time, and a part that is melted and hardened by a high temperature laser causes loss of efficiency. Therefore, after applying the laser process, there was a need to remove the damage caused by the laser by a separate etching process.
본 발명은 상술한 종래기술의 문제를 해결하기 위해 창안된 것으로서, 태양전지 기판의 전면과 후면을 플라즈마로 처리하여 에지 아이솔레이션 공정을 배제할 수 있으며, 태양전지의 에미터층에 형성된 데드 레이어를 감소시키고, 후면에 균일한 BSF를 형성할 수 있어 태양전지의 효율을 향상시킬 수 있는 플라즈마 표면 처리를 이용한 태양전지의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention was devised to solve the above-described problems of the prior art, and can eliminate the edge isolation process by treating the front and rear surfaces of the solar cell substrate with plasma, and reduce dead layers formed in the emitter layer of the solar cell. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a solar cell using plasma surface treatment, which can form a uniform BSF on a rear surface, thereby improving the efficiency of the solar cell.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 플라즈마 표면 처리를 이용한 태양전지의 제조방법은, (a) 제1도전형의 불순물이 도핑된 태양전지 기판을 준비하는 단계; (b) 상기 제1도전형과 반대 도전형인 제2도전형의 불순물을 상기 태양전지 전면에 주입하여 에미터층을 형성하는 단계; (c) 상기 태양전지 기판의 전면을 플라즈마 처리하여 데드 레이어(dead layer)를 감소시키는 단계; (d) 상기 태양전지 기판의 후면을 플라즈마 처리하여 기판 후면에 에미터층 형성 시 형성된 제2도전형의 불순물 주입층을 제거함과 동시에 기판 후면을 평탄화하는 단계; (e) 상기 태양전지 기판의 전면에 반사방지막을 형성하는 단계; (f) 상기 반사방지막을 관통하여 전면 전극을 상기 에미터층에 콘택시키는 단계; 및 (g) 상기 태양전지 기판 후면에 후면 전극을 콘택시키고, 후면 전극과 접하는 기판 후면에 BSF(back surface field)를 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a solar cell using plasma surface treatment, the method comprising: (a) preparing a solar cell substrate doped with impurities of a first conductivity type; (b) forming an emitter layer by implanting impurities of a second conductivity type opposite to the first conductivity type onto the solar cell; (c) plasma processing the entire surface of the solar cell substrate to reduce dead layers; (d) plasma-processing the rear surface of the solar cell substrate to remove the second conductive type impurity implantation layer formed when the emitter layer is formed on the rear surface of the substrate, and simultaneously planarize the rear surface of the substrate; (e) forming an anti-reflection film on the entire surface of the solar cell substrate; (f) contacting the front electrode to the emitter layer through the antireflection film; And (g) contacting a rear electrode on the rear surface of the solar cell substrate, and forming a back surface field (BSF) on the rear surface of the substrate in contact with the rear electrode.
본 발명에 있어서, 상기 (c) 단계는, CF4, SF6, Cl 및 O2 중 선택된 어느 하 나 또는 이들의 혼합가스를 이용한 플라즈마에 의한 표면 처리 단계이다. 이 때, 플라즈마 처리는 대기압 하 또는 진공 분위기 하에서 진행될 수 있다.In the present invention, step (c) is a surface treatment step by plasma using any one selected from CF 4 , SF 6 , Cl, and O 2 or a mixture thereof. At this time, the plasma treatment may proceed under atmospheric pressure or under a vacuum atmosphere.
본 발명에 있어서, 상기 (d) 단계는, CF4, SF6 및 Cl 중 선택된 어느 하나 또는 이들의 혼합가스와 O2 가스를 혼합한 가스를 이용한 플라즈마에 의한 표면 처리 단계이다. 이 때, 플라즈마 처리는 대기압 하 또는 진공 분위기 하에서 진행될 수 있다.In the present invention, the step (d) is any one selected from CF 4 , SF 6 and Cl or a mixed gas and O 2 It is a surface treatment step by the plasma using the gas which mixed gas. At this time, the plasma treatment may proceed under atmospheric pressure or under a vacuum atmosphere.
본 발명에 따르면, 태양전지의 제조 시 불순물 확산 공정에 의해 에미터층을 형성한 후 태양전지 기판의 전면과 후면을 플라즈마로 처리함으로써, 에미터층의 최상부에 형성된 데드 레이어의 두께를 감소시킬 수 있다. 또한, 태양전지 기판 후면에 형성된 다른 도전형의 불순물 주입층을 제거함과 동시에 평탄화시킬 수 있어서 별도의 에지 아이솔레이션 공정을 배제할 수 있고 기판 후면에 균일한 BSF를 형성할 수 있다. 그 결과 태양전지의 단락전류와 개방전압을 증가시켜 태양전지의 효율을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, the thickness of the dead layer formed on the top of the emitter layer can be reduced by forming the emitter layer by the impurity diffusion process in the manufacture of the solar cell and then treating the front and rear surfaces of the solar cell substrate with plasma. In addition, it is possible to planarize while removing other conductive type impurity implantation layers formed on the rear surface of the solar cell substrate, thereby eliminating a separate edge isolation process and forming a uniform BSF on the rear surface of the substrate. As a result, the short-circuit current and the open voltage of the solar cell may be increased to improve the efficiency of the solar cell.
이하 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙 에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시 예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, terms or words used in the specification and claims should not be construed as having a conventional or dictionary meaning, and the inventors should properly explain the concept of terms in order to best explain their own invention. Based on the principle that it can be defined, it should be interpreted as meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention. Therefore, the embodiments described in the specification and the drawings shown in the drawings are only the most preferred embodiments of the present invention and do not represent all of the technical idea of the present invention, various modifications that can be replaced at the time of the present application It should be understood that there may be equivalents and variations.
도 2 내지 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 플라즈마 표면 처리를 이용한 태양전지의 제조방법을 순차적으로 도시한 공정 단면도들이다.2 to 6 are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a solar cell using plasma surface treatment according to a preferred embodiment of the present invention.
본 발명에 따른 태양전지의 제조방법은, 먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1도전형의 불순물이 도핑된 태양전지 기판(201)을 준비한다. 바람직하게, 태양전지 기판(201)은 단결정이나 다결정 실리콘 기판 또는 비정질 실리콘 기판이다. 하지만, 본 발명이 이에 한하는 것은 아니다. 상기 태양전지 기판(201)은 전처리 공정으로 슬라이싱 가공 중에 태양전지 기판(201)의 표면에 발생된 소우 데미지(saw damage)를 습식 식각하여 제거하였다.In the method of manufacturing a solar cell according to the present invention, first, as shown in FIG. 2, a
그런 다음, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1도전형과 반대 도전형인 제2도전형의 불순물을 상기 태양전지 기판(201)의 전면에 주입하여 에미터층(202)을 형성한다. 에미터층(202)이 형성되면, 태양전지 기판(201)에는 p-n 접합이 형성된다. 여기서, 태양전지 기판(201)은 p형 및 n형이 모두 사용될 수 있으며, 그 중 p형 기판은 소수 캐리어의 수명 및 모빌리티(mobility)가 커서(p형의 경우 전자가 소수 캐리어임) 가장 바람직하게 사용될 수 있다. p형 기판에는 대표적으로 B, Ga, In 등의 3족 원소들이 도핑되어 있다. 기판이 p형인 경우, n형 에미터층은 P, As, Sb 등의 5족 원소들을 확산시켜 형성한다.Next, as shown in FIG. 3, an impurity of the second conductivity type opposite to the first conductivity type is implanted into the entire surface of the
상기 제2도전형의 에미터층(202)을 형성할 때에는, 먼저 태양전지 기판(201)을 확산로(diffusion furnace)에 넣고, 산소 가스와 제2도전형의 불순물 가스를 주입하여 기판 상에 불순물이 유입된 산화막을 형성한다. 여기서, 태양전지 기판(201)이 p형인 경우, 불순물 가스로는 POCl3가 사용될 수 있다. 그런 다음, 고온 열처리를 통해 산화막 내의 불순물을 태양전지 기판(201) 표면으로 드라이브-인(drive-in) 시킨다. 그리고 나서, 기판 표면에 잔류하는 산화막인 PSG막을 제거한다. 그러면 태양전지 기판(201)에는 소정 두께의 에미터층(202)이 형성된다.When the
상술한 불순물 확산 공정을 통해 에미터층(202)에 주입된 n형 불순물의 농도는 에미터층(202)의 표면에서 가장 높고 에미터층(202)의 내부로 들어갈수록 가우시안 분포 또는 에러 함수에 따라 감소된다. 그리고 확산 공정의 진행 시 충분한 량의 n형 불순물이 확산될 수 있도록 공정 조건이 조절되었으므로 에미터층(202)의 최상부에는 고체 용해도 이상의 농도로 n형 불순물이 도핑된 데드 레이어(202')가 존재하게 된다. 또한, 상술한 불순물 확산 공정을 거친 태양전지 기판(201)에는 전면에 형성된 에미터층(202) 외에도 측면과 후면에도 제2도전형의 불순물 주입층(207)이 형성되므로 이를 제거하는 공정이 수반되어야 한다.The concentration of the n-type impurity injected into the
상술한 공정을 거쳐 에미터층(202)이 형성되면, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 태양전지 기판(201)의 전면과 후면에 대해서 플라즈마를 이용한 표면 처리를 진행한다. 여기서, 플라즈마(plasma)는 에너지가 중성가스 분자로 여기시켜, 전자(Electron), 이온(Ion), 자유기(Free Radical) 등 활성물질이 발생되는 것을 말 한다. 전자는 전장 중에서 전위차로 인하여 가속도가 발생하게 되는데, 전자가 가속되는 과정 중 기타 가스 분자와 충돌되면서 여기되는 에너지를 방사하게 되고, 충격을 받은 원자가 여기되면서 또다시 전자를 방출하게 된다. 이렇게 순환하면, 플라즈마 과정이 전자, 이온, 자유기 및 중성분자에 동시에 존재하게 되는데, 이를 플라즈마 상태라고 부른다. 그리고 기본적으로 플라즈마 가스는 부분적으로 해리되는 가스 및 동일한 양의 양전하와 음전하를 띠는 입자로 구성되며, 그 중 함유되는 가스는 높은 활성을 지니고 있다.When the
상기 태양전지 기판(201)의 전면과 후면에 대해서 그 표면을 플라즈마 처리할 때에는, 먼저, 플라즈마 처리를 위한 진공 또는 대기압 챔버 내에 태양전지 기판(201)의 전면이 표면 처리될 수 있도록 위치시킨 상태에서 챔버 내에 플라즈마 가스를 주입시킨다. 이때 주입되는 플라즈마 가스로는 CF4, SF6, Cl 및 O2 중 선택된 어느 하나 또는 이들의 혼합가스가 사용된다. 그리고, 주입된 플라즈마 가스를 반응시켜 태양전지 기판(201)의 전면을 플라즈마 표면 처리한다.When the surface of the
태양전기 기판(201)의 전면에 대한 플라즈마 표면 처리가 완료되면, 다시 태양전지 기판(201)의 후면이 표면 처리될 수 있도록 위치시킨 상태에서 진공 또는 대기압 챔버 내에 플라즈마 가스를 주입시킨다. 이때 주입되는 플라즈마 가스로는 상술한 태양전지 기판(201)의 전면을 처리할 때의 플라즈마 가스를 사용할 수 있지만, 태양전지 기판(201)의 후면을 처리할 때에는 O2가스가 첨가되는 것이 바람직하다. O2 가스는 플라즈마 처리 시 태양전지 기판(201)의 산화 작용을 촉진시키는 역 할을 한다.When the plasma surface treatment of the front surface of the
상기 플라즈마 가스가 주입되면, 플라즈마 챔버를 작동시켜 주입된 플라즈마 가스를 플라즈마로 여기시켜 태양전지 기판(201)의 후면을 플라즈마로 표면 처리한다. 이때, 플라즈마 가스 내에 O2가 첨가된 경우, 첨가된 O2 가스에 의해 태양전지 기판(201)은 산화가 촉진된다. 그리고, 산화된 태양전지 기판(201)은 플라즈마 처리 시에 생성되는 플로린(F2) 계열의 가스에 의해 태양전기 기판(201)의 산화된 표면층이 식각된다. 바람직하게, 태양전지 기판(201)의 후면을 처리할 때의 식각율(etching rate)은 태양전지 기판(201)의 전면을 처리할 때보다 크게 제어한다. 태양전지 기판(201)의 후면 처리 시 식각 속도를 빠르게 진행하는 것은 태양전지 기판(201)의 후면을 전면보다 평탄하게 처리하기 위함이다. 한편, 본 발명은 태양전지 기판(201)의 전면과 후면의 플라즈마 처리 순서에 의해 한정되지 않으므로, 그 반대의 순서로 플라즈마 처리될 수 있을 것임은 자명하다.When the plasma gas is injected, the plasma chamber is operated to excite the injected plasma gas into the plasma to surface-treat the rear surface of the
상술한 공정을 거쳐 태양전지 기판(201)의 플라즈마 처리가 완료되면, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 태양전지 기판(201)의 전면은 에미터층(202)의 최상부에 고체 용해도 이상의 농도로 n형 불순물이 도핑된 데드 레이어(202')가 플라즈마의 식각 작용에 의해 제거된다. 그리고, 상기 태양전지 기판(201)의 후면은 상술한 불순물 확산 공정 시 형성된 제2도전형의 불순물 주입층(207)이 플라즈마의 식각 작용에 의해 제거됨과 동시에 태양전지 기판(201) 후면의 표면 조직이 평탄화를 이루게 된다. 한편, 태양전지 기판(201) 후면에 형성된 제2도전형의 불순물 주입 층(207)은 플라즈마 처리에 의해 제거되었다. 이처럼, 불순물 주입층(207)이 제거되면 전면 전극과 후면 전극이 전기적으로 연결될 우려가 사라지게 된다. 이러한 경우, 태양전지 제조 과정에서 태양전지 기판(201)의 측면 가장자리를 제거하기 위한 별도의 에지 아이솔레이션 공정을 생략할 수 있으므로, 태양전지 제조 과정을 단순화할 수 있는 이점이 있을 것임은 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다.When the plasma processing of the
그리고 나서, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 태양전지 기판(201)의 전면에 형성된 에미터층(202) 상에 반사방지막(203)을 형성한다. 반사방지막(203)은 태양광에 대한 반사율을 낮추기 위해 형성되는 것으로, 대표적으로 실리콘나이트라이드를 포함하여 이루어질 수 있으며, 플라즈마 화학기상증착법(PECVD), 화학기상증착법(CVD) 및 스퍼터링으로 이루어지는 군에서 선택되는 방법에 의해 형성될 수 있다. 그리고, 상기 반사방지막(203)을 관통하며 에미터층(202)에 콘택되도록 전면 전극(206)을 형성하고, 상기 태양전지 기판(201)의 반사방지막(203)이 형성된 면과 반대 면에 후면 전극(204)을 형성한다. 전면 전극(206) 및 후면 전극(204)의 형성 순서는 제한되지 않아, 어느 전극을 먼저 형성하여도 무방하다. 6, an
전면 전극(206)은 은과 글라스 프릿을 포함하는 통상의 전면 전극 형성용 페이스트를 소정 패턴에 따라 반사방지막(203) 위에 도포한 후 열처리함에 의해 형성될 수 있으며, 열처리를 통해 전면 전극(206)은 반사방지막(203)을 관통하여 에미터층(202)과 콘택되게 된다(punch through). 상기 전면 전극(206)은 은을 포함하고 있어 전기 전도성이 우수하다.The
후면 전극(204)은 알루미늄을 포함하는 통상의 후면 전극 형성용 페이스트를 상기 태양전지 기판(201)의 후면에 도포한 후 열처리함에 의해 형성될 수 있으며, 열처리에 의해 태양전지 기판(201)은 후면 전극(204)과 접하는 면으로부터 소정 깊이까지 전극 형성 물질(Al)이 도핑되어 BSF(back surface field)(205)가 형성된다. 후면 전극(204)은 알루미늄을 포함하고 있으므로 전기 전도성이 우수할 뿐만 아니라 실리콘과의 친화력이 좋아서 접합성이 우수하다. 또한, 알루미늄은 3족 원소로서 태양전지 기판(201)과의 접면에서 P+층, 즉 BSF(205)을 형성하여 캐리어들이 표면에서 사라지지 않고 BSF 방향으로 모이도록 한다. 본 발명에서는 태양전지 기판(201)의 후면을 플라즈마 표면 처리를 통해 평탄화시킴으로써, 상기 BSF(205)의 형성에 있어 종래보다 균일한 형성이 가능하여 BSF(205)에 의한 효과가 향상되어 태양전지의 효율을 증대시킬 수 있다.The
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.As described above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the present invention is not limited thereto and is intended by those skilled in the art to which the present invention pertains. Of course, various modifications and variations are possible within the scope of equivalents of the claims to be described.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시하는 것이며, 전술된 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되지 않아야 한다.The following drawings attached to this specification are illustrative of the preferred embodiments of the present invention, and together with the detailed description of the invention serves to further understand the technical spirit of the present invention, the present invention is a matter described in such drawings It should not be construed as limited to.
도 1은 태양전지의 기본적인 구조를 도시한 개략도이다.1 is a schematic diagram showing the basic structure of a solar cell.
도 2 내지 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 플라즈마 표면 처리를 이용한 태양전지의 제조방법을 순차적으로 도시한 공정 단면도들이다.2 to 6 are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a solar cell using plasma surface treatment according to a preferred embodiment of the present invention.
<도면의 주요 참조 번호><Main reference number in drawing>
201 : 태양전지 기판 202 : 에미터층201: solar cell substrate 202: emitter layer
202' : 데드 레이어 203 : 반사방지막202 ': dead layer 203: antireflection film
204 : 후면 전극 205 : BSF204: rear electrode 205: BSF
206 : 전면 전극 207 : 불순물 주입층206: front electrode 207: impurity injection layer
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