KR20070031811A - Manufacturing Method of Printed Wiring Board - Google Patents
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Abstract
절연 필름의 적어도 한쪽 면에 동층이 적층된 적층 필름에 대해 동층을 원하는 두께까지 얇게 하는 처리를 행할 때에, 처리 시간이 짧고 또한 처리 후의 동층의 두께 편차가 작은 프린트 배선 기판의 제조 방법을 제공한다. 본 발명의 프린트 배선 기판의 제조 방법은, 절연 필름의 적어도 한쪽 면에 동층이 적층된 적층 필름을, 염화 제2구리 또는 염화 제2철을 주성분으로서 함유하는 제1 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 얇게 하는 공정과, 제1 에칭액으로 처리한 적층 필름을 황산 및 과산화수소를 주성분으로서 함유하는 제2 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 조정하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.When performing the process which makes a copper layer thin to the desired thickness with respect to the laminated | multilayer film in which the copper layer was laminated | stacked on at least one surface of the insulating film, the manufacturing method of the printed wiring board is short and processing time and the thickness variation of the copper layer after a process is small is provided. The manufacturing method of the printed wiring board of this invention processes the laminated | multilayer film which the copper layer was laminated | stacked on at least one surface of the insulating film with the 1st etching liquid which contains a cupric chloride or ferric chloride as a main component, and reduces the thickness of a copper layer. And a step of thinning and adjusting the thickness of the copper layer by treating the laminated film treated with the first etching solution with a second etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components.
Description
[특허 문헌 1] 일본 특허공개 2003-78234호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2003-78234
[특허 문헌 2] 일본 특허공개 2003-258411호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-258411
[특허 문헌 3] 일본 특허공개 2004-95983호 공보[Patent Document 3] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-95983
본 발명은, 반도체 칩 등의 전자 부품이 실장되는 프린트 배선 기판(예를 들면, TAB(Tape Automated Bonding) 테이프, COF(Chip On Film) 테이프, BGA(Ball Grid Array) 테이프, CSP(Chip Size Package) 테이프, ASIC(Application Specific Integrated Circuit) 테이프, FPC(Flexible Printed Circuit) 등)의 제조 방법에 관한 것이다. 한편, 본 명세서에 있어서, "프린트 배선 기판"에는, 길이 방향으로 배선 패턴이 반복하여 형성된 테이프와, 전자 부품 실장 후에 이 긴 테이프로부터 개개의 테이프 캐리어로 만든 것 양쪽 모두가 포함된다.The present invention provides a printed wiring board on which electronic components such as semiconductor chips are mounted (for example, a tape automated bonding (TAB) tape, a chip on film (COF) tape, a ball grid array (BGA) tape, and a chip size package)). ) Tape, ASIC (Application Specific Integrated Circuit) tape, FPC (Flexible Printed Circuit) and the like. In addition, in this specification, the "printed wiring board" includes both the tape in which the wiring pattern was repeatedly formed in the longitudinal direction, and the thing made from the individual tape carrier from this long tape after electronic component mounting.
IC(집적회로), LSI(대규모 집적회로) 등의 전자 부품을 액정 표시 장치, 프린터 등에 실장할 때에 각종 프린트 배선 기판이 사용되고 있다. 최근에는 이러한 기기의 소형화, 경량화, 고기능화의 요구가 강하고, 이에 따라 프린트 배선 기판의 도체 배선 패턴의 미세화, 고밀도화가 진행되고 있다. 최근에는, 피치폭이 30㎛를 밑도는 프린트 배선 기판도 실용화되고 있다.Various printed wiring boards are used to mount electronic components such as ICs (Integrated Circuits) and LSIs (large scale integrated circuits) in liquid crystal displays, printers, and the like. In recent years, there is a strong demand for miniaturization, weight reduction, and high functionality of such devices, and accordingly, miniaturization and high density of conductor wiring patterns of printed wiring boards are in progress. In recent years, the printed wiring board whose pitch width is less than 30 micrometers is also utilized.
이러한 협피치의 배선 패턴을 갖는 프린트 배선 기판에서는, 반도체 칩을 실장할 때에 COF(Chip On Film) 방식 등이 이용되고 있다. 종래, 프린트 배선 기판을 제조할 때에 절연 필름상에 배선 패턴을 형성하는 방법으로서, 서브트랙티브법, 세미애디티브법, 풀애디티브법 등이 이용되어 왔는데, 상기와 같은 협피치의 배선을 형성하기 위해 적절한 방법으로서 세미애디티브법이 주목받고 있다(특허 문헌 1∼3).In a printed wiring board having such a narrow pitch wiring pattern, a COF (Chip On Film) method or the like is used when mounting a semiconductor chip. Conventionally, a subtractive method, a semiadditive method, a full additive method, and the like have been used as a method of forming a wiring pattern on an insulating film when manufacturing a printed wiring board. In order to make it suitable, the semiadditive process attracts attention (patent documents 1-3).
세미애디티브법에 의한 배선 패턴의 형성은 다음과 같이 행해진다. 우선, 폴리이미드 필름 등의 절연 필름 위에 얇은 베이스 금속층이 적층된 적층 필름을 준비한다.Formation of the wiring pattern by the semiadditive process is performed as follows. First, a laminated film in which a thin base metal layer is laminated on an insulating film such as a polyimide film is prepared.
이 베이스 금속층의 표면에, 배선 패턴을 형성하는 부분만 베이스 금속층이 노출되도록 도금 레지스트를 형성한다. 도금 레지스트는, 감광성의 드라이 필름 또는 액상의 포토레지스트를 이용하여 패턴을 노광, 현상하는 방법 등에 의해 형성된다.On the surface of this base metal layer, only a part which forms a wiring pattern forms a plating resist so that a base metal layer is exposed. The plating resist is formed by a method of exposing and developing a pattern using a photosensitive dry film or a liquid photoresist.
다음으로, 도금 레지스트로 피복되어 있지 않은 베이스 금속층이 노출된 부분에, 전해 도금 등에 의해 금속 도금층을 형성한다. 이 금속 도금층의 두께는 베이스 금속층의 두께에 비해 충분히 두껍고, 예를 들면 10㎛ 정도의 두께가 되도록 형성된다.Next, a metal plating layer is formed by electroplating or the like on the portion where the base metal layer not covered with the plating resist is exposed. The thickness of this metal plating layer is formed so that it may be thick enough compared with the thickness of a base metal layer, for example, about 10 micrometers thick.
그리고, 알칼리 용액 등에 의해 도금 레지스트를 제거한 후, 금속 도금층의 사이에 잔존하고 있는 베이스 금속층을 플래시 에칭으로 제거함으로써 배선 패턴이 형성된다.After removing the plating resist by an alkaline solution or the like, a wiring pattern is formed by removing the base metal layer remaining between the metal plating layers by flash etching.
상기의 베이스 금속층의 두께가 두꺼우면, 플래시 에칭으로 베이스 금속층을 제거할 때에 베이스 금속층과 함께 배선 측면의 바닥부측이 에칭되어, 배선시에 언더컷이 발생하기 쉬워진다. 그 때문에, 베이스 금속층의 두께를 얇게 할 필요가 있다. 예를 들면, 시판되고 있는 동박 적층판을 2층 기재로서 이용했을 경우, 두께 8㎛ 정도의 동층을 화학 연마에 의해 두께 O.1 내지 3㎛까지 얇게 한 것을 이용하고 있다.When the base metal layer is thick, when the base metal layer is removed by flash etching, the bottom side of the wiring side is etched together with the base metal layer, and undercut is likely to occur during wiring. Therefore, it is necessary to make thickness of a base metal layer thin. For example, when using a commercially available copper foil laminated plate as a two-layer base material, what thinned the copper layer about 8 micrometers in thickness to 0.1-3 micrometers by chemical polishing is used.
얇은 베이스 금속층을 얻기 위해 황산-과산화수소계 또는 과황산 암모늄계의 에칭액을 이용하면, 에칭 속도가 늦기 때문에, 베이스 금속층이 원하는 두께가 되기까지 필요로 하는 에칭 시간이 매우 길어진다.If an etching solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide or ammonium persulfate-based etching solution is used to obtain a thin base metal layer, the etching time is slow, and the etching time required until the base metal layer reaches a desired thickness becomes very long.
또한, 얇은 베이스 금속층을 얻기 위해 염화 제2구리 에칭액 또는 염화 제2철 에칭액을 이용하면, 에칭 속도가 빠르기 때문에, 베이스 금속층의 두께가 균일하게 되도록 제어하기 어려워진다. 그 때문에, 에칭 처리 후의 베이스 금속층은 두께 편차가 커진다.In addition, when the cupric chloride etching solution or the ferric chloride etching solution is used to obtain a thin base metal layer, the etching speed is high, so that it is difficult to control the base metal layer to have a uniform thickness. Therefore, the thickness variation of the base metal layer after the etching treatment is large.
이와 같이 두께 편차가 큰 표면 상태에서는, 도금 레지스트인 드라이 필름 레지스트를 후속 공정에서 피복할 때에, 베이스 금속층에 대한 드라이 필름 레지스트의 밀착성이 저하된다. 드라이 필름 레지스트의 밀착성이 양호하지 않으면, 전해 도금시에 드라이 필름 레지스트와 베이스 금속층 사이에 도금액이 침입하는 경우가 있어, 양호한 배선 패턴을 얻지 못할 수도 있다.Thus, in the surface state with large thickness variation, when the dry film resist which is a plating resist is coat | covered in a subsequent process, the adhesiveness of the dry film resist with respect to a base metal layer falls. If the adhesion of the dry film resist is not good, the plating liquid may invade between the dry film resist and the base metal layer during electrolytic plating, and a good wiring pattern may not be obtained.
한편, 서브트랙티브법으로 배선 패턴을 형성하는 경우에도, 배선 패턴을 형성하기 전에, 미리 적층 필름에서의 동층을 원하는 두께까지 얇게 하는 경우가 있지만, 이 경우에도, 상기의 방법에서는, 두께 편차가 작은 원하는 두께의 동층을 단시간에 얻기는 힘들다는 문제가 있었다.On the other hand, even when the wiring pattern is formed by the subtractive method, the copper layer in the laminated film may be thinned to a desired thickness in advance before the wiring pattern is formed, but even in this case, the thickness variation There was a problem that it was difficult to obtain a copper layer of small desired thickness in a short time.
본 발명은, 절연 필름의 적어도 한쪽 면에 동층이 적층된 적층 필름에 대해 동층을 원하는 두께까지 얇게 하는 처리를 행할 때에, 처리 시간이 짧고 또한 처리 후의 동층의 두께 편차가 작은 프린트 배선 기판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.This invention is a manufacturing method of the printed wiring board which is short in processing time and small in thickness variation of the copper layer after a process, when performing the process which makes a copper layer thin to the desired thickness with respect to the laminated | multilayer film in which the copper layer was laminated | stacked on at least one surface of the insulating film. The purpose is to provide.
본 발명은, 세미애디티브법에 따라 배선 패턴을 형성할 때에, 짧은 처리 시간에 레지스트 밀착성이 양호한 얇은 베이스 동층을 얻을 수 있는 프린트 배선 기판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.An object of this invention is to provide the manufacturing method of the printed wiring board which can obtain the thin base copper layer with favorable resist adhesiveness in a short process time, when forming a wiring pattern by the semiadditive process.
본 발명의 프린트 배선 기판의 제조 방법은, 절연 필름의 적어도 한쪽 면에 동층이 적층된 적층 필름을, 염화 제2구리 또는 염화 제2철을 주성분으로서 함유하는 제1 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 얇게 하는 공정과,The manufacturing method of the printed wiring board of this invention processes the laminated | multilayer film which the copper layer was laminated | stacked on at least one surface of the insulating film with the 1st etching liquid which contains a cupric chloride or ferric chloride as a main component, and reduces the thickness of a copper layer. Thinning process,
제1 에칭액으로 처리한 적층 필름을, 황산 및 과산화수소를 주성분으로서 함유하는 제2 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 조정하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.And a step of adjusting the thickness of the copper layer by treating the laminated film treated with the first etching solution with a second etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components.
본 발명의 프린트 배선 기판의 제조 방법은, 제2 에칭액으로 처리한 적층 필 름에서의 동층 위에, 배선 패턴에 대응하는 부분만 동층이 노출되도록 도금 레지스트를 형성하는 공정과,The manufacturing method of the printed wiring board of this invention is a process of forming a plating resist so that only the part corresponding to a wiring pattern may be exposed on the copper layer in the laminated film processed with the 2nd etching liquid,
동층이 노출된 부분에 금속 도금층을 형성하는 공정과,Forming a metal plating layer on the portion where the copper layer is exposed;
적층 필름으로부터 도금 레지스트를 제거하는 공정과,Removing the plating resist from the laminated film;
배선이 되는 금속 도금층의 사이에 잔존하는 동층을 플래시 에칭에 의해 제거하는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.And removing the copper layer remaining between the metal plating layers serving as wirings by flash etching.
이하, 본 발명에 대해 구체적으로 설명한다. 본 발명에 있어서 사용되는 적층 필름은, 절연 필름의 적어도 한쪽 면에 동층이 적층된 적층 필름이다. 구체적으로는, 절연 필름과 동층으로 이루어지는 2층 필름, 혹은 절연 필름과 동층을 접착제를 사이에 두고 적층한 3층 필름을 이용할 수 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated concretely. The laminated | multilayer film used in this invention is a laminated | multilayer film by which the copper layer was laminated | stacked on at least one surface of the insulating film. Specifically, the two-layer film which consists of an insulating film and the copper layer, or the three-layer film which laminated | stacked the insulating film and the copper layer through an adhesive agent can be used.
절연 필름과 동층으로 이루어지는 2층 필름으로서는, 절연 필름상에 니켈, 크롬 등의 얇은 금속층을 스퍼터링법 등에 의해 증착시킨 후, 이 금속층 위에 전해 도금 등에 의해 동층을 형성한 2층 필름, 캐리어박 부착 동박을 절연 필름에 열압착한 후, 캐리어박을 박리하거나 혹은 캐리어박을 에칭에 의해 제거하여 얻어진 2층 필름, 캐스팅법에 의해 얻어진 2층 필름 등을 들 수 있다. 캐스팅법에서는, 예를 들면, 동박상에 폴리이미드 전구체의 수지 용액을 도포한 후, 건조하고 가열하여 경화함으로써 2층 필름을 얻을 수 있다.As a two-layer film which consists of an insulating film and a copper layer, after depositing thin metal layers, such as nickel and chromium, on the insulating film by sputtering method etc., the two-layer film which formed the copper layer by electroplating etc. on this metal layer, copper foil with carrier foil And the two-layer film obtained by peeling carrier foil or removing carrier foil by etching, the two-layer film obtained by the casting method, etc. are mentioned after thermocompression bonding to the insulating film. In the casting method, after apply | coating the resin solution of a polyimide precursor on copper foil, for example, a two-layer film can be obtained by drying, heating, and hardening.
상기의 3층 필름은, 절연 필름과 동박을 접착제층을 사이에 두고 접착한 것이다. 접착제로서는, 에폭시 수지계 접착제, 아크릴 수지계 접착제, 우레탄 수지계 접착제, 폴리이미드계 접착제, 폴리아미드계 접착제 등을 들 수 있다. 접착제층의 두께는, 통상적으로는 3 내지 50㎛, 바람직하게는 6 내지 25㎛이다.Said three-layer film adhere | attaches an insulating film and copper foil through an adhesive bond layer. As an adhesive agent, an epoxy resin adhesive, an acrylic resin adhesive, a urethane resin adhesive, a polyimide adhesive, a polyamide adhesive, etc. are mentioned. The thickness of an adhesive bond layer is 3-50 micrometers normally, Preferably it is 6-25 micrometers.
절연 필름은, 에칭에 사용되는 산성액, 세정시에 사용되는 알칼리액 등에 침식되지 않는 내약품성을 갖고, 전자 부품을 본딩 등에 의해 실장할 때 가열에 의해 크게 열변형하지 않는 내열성을 갖고 있는 것이 바람직하다.The insulating film preferably has chemical resistance that does not corrode the acidic liquid used for etching, alkali liquid used for cleaning, and the like, and has heat resistance that does not significantly thermally deform by heating when mounting the electronic component by bonding or the like. Do.
절연 필름의 구체적인 예로서는, 폴리이미드 필름, 폴리이미드아미드 필름, 폴리에스테르 필름, 폴리페닐렌 설파이드 필름, 폴리에테르 이미드 필름, 불소 수지 필름, 액정 폴리머 필름 등을 들 수 있다. 특히, 폴리이미드로 이루어지는 가요성의 필름을 이용하는 것이 바람직하다.As a specific example of an insulation film, a polyimide film, a polyimide amide film, a polyester film, a polyphenylene sulfide film, a polyether imide film, a fluororesin film, a liquid crystal polymer film, etc. are mentioned. In particular, it is preferable to use a flexible film made of polyimide.
절연 필름의 평균 두께는, 통상적으로는 1 내지 150㎛, 바람직하게는 5 내지 125㎛, 보다 바람직하게는 15 내지 75㎛이다. 프린트 배선 기판이 COF인 경우에는, 절연 필름의 구체예로서, 평균 두께가 15 내지 75㎛, 바람직하게는 20 내지 50㎛인 폴리이미드 필름을 들 수 있다.The average thickness of an insulation film is 1-150 micrometers normally, Preferably it is 5-125 micrometers, More preferably, it is 15-75 micrometers. When a printed wiring board is COF, the polyimide film whose average thickness is 15-75 micrometers, Preferably 20-50 micrometers is mentioned as a specific example of an insulating film.
절연 필름 위에 적층되는 동층은 전해 동박, 압연 동박의 어느 것이라도 된다. 또한, 구리를 주성분으로 하는 구리 합금으로 이루어지는 층이라도 무방하다.The copper layer laminated on the insulating film may be either an electrolytic copper foil or a rolled copper foil. Moreover, the layer which consists of a copper alloy which has copper as a main component may be sufficient.
이하, 상기의 적층 필름을 이용하여, 세미애디티브법에 의해 프린트 배선 기판을 제조하는 경우에 대해 설명한다. 적층 필름으로서는, 예를 들면, 동층의 두께가 8㎛ 정도인 시판되는 2층 필름을 사용할 수 있다. 동층의 두께가 이보다 두꺼운 2층 필름, 혹은 동층의 두께가 이보다 얇은 2층 필름을 이용하여도 무방하지만, 동층의 두께 편차가 가능한 작은 것이 바람직하다.Hereinafter, the case where a printed wiring board is manufactured by the semiadditive process using said laminated | multilayer film is demonstrated. As a laminated | multilayer film, the commercially available 2-layer film whose thickness of a copper layer is about 8 micrometers can be used, for example. A two-layer film having a thicker copper layer or a two-layer film having a thinner copper layer may be used, but a small one capable of thickness variation of the copper layer is preferable.
상기의 적층 필름을, 염화 제2구리 또는 염화 제2철을 주성분으로서 함유하는 제1 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 얇게 한다. 제1 에칭액에 의해, 동층의 두께를 2 내지 5㎛까지 얇게 하는 것이 바람직하다.The laminated film is treated with a first etching solution containing cupric chloride or ferric chloride as a main component to reduce the thickness of the copper layer. It is preferable to make thickness of the copper layer thin to 2-5 micrometers with a 1st etching liquid.
제1 에칭액에 의한 처리는 스프레이 에칭에 의해 행해진다. 적층 필름은, 권출(捲出) 릴로부터 권출되어 권출 릴과 권취(捲取) 릴 사이에 배치된 에칭 챔버에 일정 속도로 도입된다.The treatment with the first etching liquid is performed by spray etching. The laminated film is unwound from the unwinding reel and introduced into the etching chamber disposed between the unwinding reel and the unwinding reel at a constant speed.
에칭 챔버에는, 에칭액을 분무하는 스프레이 노즐이 적층 필름의 한 면측 또는 양면측에 복수 배치되어 있다. 에칭액 챔버로부터의 에칭액이 펌프에 의해 복수의 스프레이 노즐에 연속적으로 공급되어, 스프레이 노즐로부터 동층 표면에 대해 에칭액이 균일하게 분무된다. 스프레이 노즐은 균일한 분무를 행하기 위한 진동 기능을 갖고 있을 수 있다. 적층 필름은 수직으로 기립한 상태로, 혹은 수평으로 눕힌 상태로 에칭 챔버 내에 반송되면서 에칭액이 분무된다.In the etching chamber, the spray nozzle which sprays etching liquid is plurally arrange | positioned on one side or both sides of a laminated | multilayer film. The etching liquid from the etching liquid chamber is continuously supplied to the plurality of spray nozzles by the pump, and the etching liquid is uniformly sprayed from the spray nozzle onto the surface of the same layer. The spray nozzle may have a vibration function for performing uniform spraying. The laminated film is sprayed into the etching chamber while being vertically stood up or horizontally laid down in the etching chamber.
제1 에칭액으로서 사용되는, 염화 제2구리를 주성분으로서 함유하는 에칭액은, 염화 제2구리와 염산(HCl)을 적어도 함유하고 있다. 염화 제2구리의 함유량은, 바람직하게는 1 내지 4mol/L이다. 염산의 함유량은, 바람직하게는 2 내지 8mol/L이다.The etching liquid containing cupric chloride as a main component used as the first etching solution contains at least cupric chloride and hydrochloric acid (HCl). The content of cupric chloride is preferably 1 to 4 mol / L. Content of hydrochloric acid becomes like this. Preferably it is 2-8 mol / L.
상기의 에칭액은, 과산화수소 등의 산화제를 함유하고 있어도 된다. 이 외에 소량의 첨가제를 함유하고 있어도 된다.The etching liquid may contain an oxidizing agent such as hydrogen peroxide. In addition, it may contain a small amount of additives.
에칭액의 온도는, 바람직하게는 30 내지 60℃이다. 스프레이 압력은, 바람직하게는 0.07 내지 0.3MPa이다. 동면으로의 스프레이량은, 바람직하게는 60 내지 750L/min·㎡이다.The temperature of etching liquid becomes like this. Preferably it is 30-60 degreeC. The spray pressure is preferably 0.07 to 0.3 MPa. The spray amount to a copper surface becomes like this. Preferably it is 60-750 L / min * m <2>.
제1 에칭액으로서 사용되는, 염화 제2철을 주성분으로서 함유하는 에칭액은, 염화 제2철과 염산(HCl)을 적어도 함유하고 있다. 염화 제2철의 함유량은, 바람직하게는 1 내지 4mol/L이다. 염산의 함유량은, 바람직하게는 1 내지 4mol/L이다.The etching solution containing ferric chloride as a main component used as the first etching solution contains at least ferric chloride and hydrochloric acid (HCl). The content of ferric chloride is preferably 1 to 4 mol / L. Content of hydrochloric acid becomes like this. Preferably it is 1-4 mol / L.
상기의 에칭액은, 이 외에 소량의 첨가제를 함유하고 있어도 된다.Said etching liquid may contain a small amount of additives in addition to this.
에칭액의 온도는, 바람직하게는 30 내지 60℃이다. 스프레이 압력은, 바람직하게는 O.07 내지 0.3MPa이다. 동면으로의 스프레이량은, 바람직하게는 60 내지 750L/min·㎡이다.The temperature of etching liquid becomes like this. Preferably it is 30-60 degreeC. The spray pressure is preferably 0.07 to 0.3 MPa. The spray amount to a copper surface becomes like this. Preferably it is 60-750 L / min * m <2>.
제1 에칭액으로 적층 필름을 처리한 후, 이 적층 필름을 황산 및 과산화수소를 함유하는 제2 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 원하는 두께로 조정한다. 세미애디티브법에 따라 배선 패턴을 형성할 때, 제2 에칭액에 의해 동층의 두께를 O.1 내지 2㎛의 범위 내로 조절하는 것이 바람직하다.After the laminated film is treated with the first etching solution, the laminated film is treated with a second etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide to adjust the thickness of the copper layer to a desired thickness. When forming a wiring pattern by the semiadditive process, it is preferable to adjust the thickness of a copper layer in the range of 0.1-2 micrometers with a 2nd etching liquid.
제2 에칭액에 의한 처리는 침지 에칭에 의해 행해진다. 적층 필름은, 권출 릴로부터 권출되어 권출 릴과 권취 릴 사이에 배치된 제2 에칭액의 에칭 챔버로 도입된다. 제1 에칭액에 의한 스프레이 에칭과, 제2 에칭액에 의한 침지 에칭은, 동일한 권출 릴과 권취 릴 사이에서 차례로 행하는 것도 가능하다.The treatment with the second etching liquid is performed by immersion etching. The laminated film is unwound from the unwinding reel and introduced into the etching chamber of the second etching liquid disposed between the unwinding reel and the unwinding reel. Spray etching with a 1st etching liquid and immersion etching with a 2nd etching liquid can also be performed in order between the same unwinding reel and the winding reel.
제2 에칭액은, 황산(H2SO4)과 과산화수소(H2O2)를 적어도 함유하고 있다. 황산의 함유량은, 바람직하게는 1.5 내지 4.5mol/L이다. 과산화수소의 함유량은, 바람직하게는 1.0 내지 4.0mol/L이다.The second etching solution contains at least sulfuric acid (H 2 SO 4 ) and hydrogen peroxide (H 2 O 2 ). Content of sulfuric acid becomes like this. Preferably it is 1.5-4.5 mol / L. The content of hydrogen peroxide is preferably 1.0 to 4.0 mol / L.
제2 에칭액은, 이 외에 적당량의 동 이온, 황산염 및 황산수소염을 함유하고 있어도 된다. 또한, 과산화수소의 안정화제 등 다른 첨가제를 소량 함유하고 있어도 된다.In addition, the second etching liquid may contain an appropriate amount of copper ions, sulfates, and hydrogen sulfates. Moreover, you may contain a small amount of other additives, such as a stabilizer of hydrogen peroxide.
제2 에칭액의 온도는, 바람직하게는 20 내지 50℃이다.The temperature of the 2nd etching liquid becomes like this. Preferably it is 20-50 degreeC.
제1 에칭액에 의한 처리에서는, 에칭 속도가 빠르기 때문에 신속한 에칭이 가능하지만, 여기에서 얻어지는 동층은 그 평균 두께로부터 ±1.0 내지 ±2.0㎛ 정도의 두께 편차가 생긴다. 한편, 제2 에칭액에 의한 처리에서는, 에칭 속도는 늦지만, 동층과의 접촉 계면에 있어서 에칭액의 흐름(에칭액의 갱신)이 빠른 부분일수록 빠르게 에칭되기 때문에, 동층 표면에서의 오목부보다 볼록부가 빠르게 에칭된다. 그 때문에, 동층의 두께 편차가 작아져, 최종적으로는 두께 편차를 ±0.1 내지 ±O.8㎛ 정도로 할 수 있다.In the treatment with the first etching solution, since the etching rate is high, rapid etching is possible, but the thickness of the copper layer obtained here is about ± 1.0 to ± 2.0 μm from the average thickness. On the other hand, in the treatment with the second etching liquid, although the etching rate is slow, the faster the portion of the etching liquid flow (update of the etching liquid) is etched faster at the contact interface with the copper layer, the convex portion is faster than the concave portion on the surface of the copper layer. Is etched. Therefore, the thickness variation of the copper layer becomes small, and finally, the thickness variation can be about ± 0.1 to ± 8 .mu.m.
이와 같이, 제1 에칭액과 제2 에칭액을 이용하여 2단계로 처리함으로써, 도금 레지스트의 밀착성이 양호한 표면을 단시간에 마무리할 수 있어, 세미애디티브법의 베이스가 되는 금속층을 얻기 위한 코스트를 저감할 수 있다.In this way, by treating in two steps using the first etching solution and the second etching solution, the surface having good adhesion of the plating resist can be finished in a short time, and the cost for obtaining the metal layer serving as the base of the semi-additive method can be reduced. Can be.
상기와 같이 하여 베이스가 되는 동층의 두께를 조절한 적층 필름을 이용하여, 동층의 표면에 배선 패턴을 형성할 부분만 동층이 노출되도록 도금 레지스트를 형성한다. 도금 레지스트는, 감광성의 드라이 필름 또는 액상 포토레지스트를 이용하여 패턴을 노광, 현상하는 방법 등에 의해 형성한다.Using the laminated film which adjusted the thickness of the copper layer used as a base as mentioned above, plating resist is formed so that the copper layer may be exposed only in the part which will form a wiring pattern on the surface of the copper layer. A plating resist is formed by the method of exposing and developing a pattern using a photosensitive dry film or liquid photoresist.
도금 레지스트를 형성한 다음, 도금 레지스트로 피복되지 않고 동층이 노출된 부분에 금속 도금층을 형성한다. 이 금속 도금층은, 전해 도금에 의해 형성하는 것이 바람직하고, 예를 들면, 구리로 이루어지는 금속 도금층을 형성하는 경우에는, 황산구리욕 등을 이용하여 적층 필름의 동층을 공통 전극으로 한 전해 도금을 이용할 수 있다. 이 금속 도금층의 두께는, 통상적으로는 1 내지 70㎛, 바람직하게는 4 내지 35㎛이다. 피치가 30㎛ 이하인 배선 패턴을 형성하기 위해서는, 베이스의 동층과 금속 도금층의 합계로서의 배선 높이는, 통상적으로는 12㎛ 이하, 바람직하게는 10㎛ 이하가 된다.After the plating resist is formed, a metal plating layer is formed on the portion where the copper layer is exposed without being coated with the plating resist. It is preferable to form this metal plating layer by electrolytic plating, For example, when forming the metal plating layer which consists of copper, electroplating which made the copper layer of laminated | multilayer film into a common electrode using copper sulfate bath etc. can be used. have. The thickness of this metal plating layer is 1-70 micrometers normally, Preferably it is 4-35 micrometers. In order to form the wiring pattern whose pitch is 30 micrometers or less, the wiring height as a total of the base copper layer and a metal plating layer is 12 micrometers or less normally, Preferably it is 10 micrometers or less.
다음으로, 알칼리 용액 등에 의해 도금 레지스트를 제거하고, 그 다음, 금속 도금층 사이에 잔존한 베이스 금속층을 플래시 에칭으로 제거함으로써 배선 패턴이 형성된다. 배선 피치는 25 내지 50㎛가 일반적이지만, 파인 피치화가 진행되는 동안, 경우에 따라서는 배선 피치는 25㎛ 미만이 된다. 본 발명의 방법은, 특히 피치가 30㎛ 이하인 배선 패턴을 형성하는데 적합하다.Next, a wiring pattern is formed by removing a plating resist with an alkaline solution or the like and then removing the base metal layer remaining between the metal plating layers by flash etching. Although wiring pitch is generally 25-50 micrometers, while fine pitching progresses, a wiring pitch may become less than 25 micrometers in some cases. The method of the present invention is particularly suitable for forming a wiring pattern having a pitch of 30 µm or less.
이렇게 하여 배선 패턴을 형성한 후, 반도체 칩의 단자와 접속되는 내부 리드와 입력측 및 출력측의 외부 기기와 접속되는 외부 리드를 제외한 배선 패턴의 영역을 한 면으로 덮도록 솔더 레지스트를 피복한다. 그 후, 솔더 레지스트로부터 노출된 내부 리드 및 외부 리드에 단자 도금을 실시함으로써, 프린트 배선 기판이 얻어진다.After the wiring pattern is formed in this manner, the solder resist is coated so as to cover the area of the wiring pattern with one surface except for the internal lead connected to the terminals of the semiconductor chip and the external lead connected to external devices on the input side and the output side. Then, a printed wiring board is obtained by performing terminal plating on the internal lead and the external lead exposed from the soldering resist.
솔더 레지스트는, 스크린 인쇄법에 의해 레지스트 잉크를 도포, 경화하거나, 혹은 감광성의 드라이 필름을 피복함으로써 형성된다.A soldering resist is formed by apply | coating and hardening a resist ink by a screen printing method, or coating a photosensitive dry film.
단자 도금으로서는, 예를 들면, 주석 도금, 니켈 도금, 니켈-금 도금, Cu-Sn 도금, Sn-Bi 도금 등을 들 수 있다.As terminal plating, tin plating, nickel plating, nickel-gold plating, Cu-Sn plating, Sn-Bi plating, etc. are mentioned, for example.
이상으로 세미애디티브법에 의해 배선 패턴을 형성하는 경우를 설명하였지만, 본 발명은, 서브트랙티브법에 의해 배선 패턴을 형성하는 경우에도 적용할 수 있다. 이 경우, 적층 필름으로서는, 전술한 각종 2층 필름 및 3층 필름을 사용할 수 있다. 예를 들면, 시판되는 적층 필름을 사용할 수 있다. 동층의 평균 두께는, 통상적으로는 1 내지 70㎛, 바람직하게는 4 내지 35㎛이다.Although the case where the wiring pattern is formed by the semi-additive method has been described above, the present invention can be applied to the case where the wiring pattern is formed by the subtractive method. In this case, the above-mentioned various two-layer film and three-layer film can be used as the laminated film. For example, a commercially available laminated film can be used. The average thickness of the copper layer is usually 1 to 70 µm, preferably 4 to 35 µm.
상기의 적층 필름을 염화 제2구리 또는 염화 제2철을 주성분으로서 함유하는 전술한 제1 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 얇게 한다. 제1 에칭액에 의해, 동층의 평균 두께를 최종적으로 얻고자 하는 평균 두께+1∼5㎛까지 얇게 하는 것이 바람직하다.The laminated film is treated with the above-described first etching solution containing cupric chloride or ferric chloride as a main component to make the thickness of the copper layer thin. It is preferable to make it thin to the average thickness + 1-5 micrometers which wants to finally obtain the average thickness of the copper layer with a 1st etching liquid.
제1 에칭액으로 적층 필름을 처리한 후, 이 적층 필름을 황산 및 과산화수소를 함유하는 전술한 제2 에칭액으로 처리하여 동층의 두께를 조정한다. 이에 따라, 두께 편차가 예를 들면 ±0.1 내지 ±0.8㎛ 정도인 원하는 두께의 동층이 얻어진다.After processing a laminated film with a 1st etching liquid, this laminated film is processed with the above-mentioned 2nd etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the thickness of a copper layer is adjusted. As a result, a copper layer having a desired thickness having a thickness variation of, for example, about ± 0.1 to ± 0.8 μm is obtained.
그 다음, 적층 필름의 동층 위에 드라이 필름 레지스트를 피복하거나, 혹은 액상 포토레지스트를 도포하고, 마스크를 통해 이 레지스트에 자외선을 조사함으로써 형성할 배선 패턴에 대응하는 부분을 경화시키고, 경화되어 있지 않은 부분의 레지스트를 현상액에 의해 용해 제거한다. 한편, 노광에 의해 매체에 용해 가능해지는 포토레지스트를 사용할 수도 있다.Then, the dry film resist is coated on the copper layer of the laminated film or the liquid photoresist is applied, and the portion corresponding to the wiring pattern to be formed is cured by irradiating the resist with ultraviolet rays through a mask, and the uncured portion Is removed by dissolving the developer. In addition, the photoresist which can be melt | dissolved in a medium by exposure can also be used.
다음으로, 레지스트에 의해 보호된 부분 이외의 동층을 산에 의한 에칭으로 용해 제거함으로써, 절연 필름의 표면에 배선 패턴을 형성한다. 배선 패턴상의 레 지스트는 알칼리 용액 등으로 제거한다.Next, the wiring pattern is formed on the surface of an insulating film by melt | dissolving and removing copper layers other than the part protected by the resist by the etching with an acid. The resist on the wiring pattern is removed with an alkaline solution or the like.
이상과 같이 하여 얻어진 프린트 배선 기판의 내부 리드와 반도체 칩의 외부 단자를 본딩 툴 등을 이용하여 가열 압착함으로써, 반도체 칩 등의 전자 부품이 실장된다.Electronic components, such as a semiconductor chip, are mounted by heat-pressing the inner lead of the printed wiring board obtained as mentioned above and the external terminal of a semiconductor chip using a bonding tool etc.
반도체 칩을 실장한 후, 절연 필름에 마련된 디바이스 홀로부터, 혹은 COF 테이프 등의 경우에는 절연 필름과 반도체 칩의 간극으로부터, 에폭시 등의 수지를 유입하여 경화시켜, 내부 리드와 반도체 칩의 외부 단자의 접속부를 밀봉하고, 이렇게 하여 반도체 장치가 얻어진다.After mounting the semiconductor chip, resin such as epoxy is introduced into the device hole provided in the insulating film or in the case of a COF tape or the like between the insulating film and the semiconductor chip to cure the resin and the internal lead and the external terminal of the semiconductor chip. The connection part is sealed, and a semiconductor device is obtained in this way.
이하, 실시예에 의해 본 발명을 설명하지만, 본 발명은 이 실시예로 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, although an Example demonstrates this invention, this invention is not limited to this Example.
[제1 실시예][First Embodiment]
폴리이미드 필름에 동층이 적층된 시판의 2층 필름(에스파넥스 신닛테츠카가꾸 주식회사 제품, 동층의 평균 두께 8㎛)을 준비하였다.A commercial two-layer film (Spanex Shinnitetsu Chemical Co., Ltd. product, average thickness of 8 micrometers) in which the copper layer was laminated | stacked on the polyimide film was prepared.
이 2층 필름을 스프레이 장치에 반송하면서, 염화 제2구리를 2mol/L, HCl을 4mol/L 함유하는 염화 제2구리계의 제1 에칭액(40℃)을 이용하여, 2층 필름의 동층에 대해 스프레이 장치의 노즐로부터 스프레이압 0.15MPa로 제1 에칭액을 균일하게 분무하고, 약 10초간 에칭을 행하였다.While conveying this 2-layer film to a spray apparatus, it uses the 1st copper chloride type etching liquid (40 degreeC) containing 2 mol / L of cupric chlorides, and 4 mol / L of HCl, to the copper layer of a 2-layer film. On the other hand, the 1st etching liquid was sprayed uniformly by the spray pressure of 0.15 Mpa from the nozzle of a spray apparatus, and etching was performed for about 10 second.
에칭 후의 동층의 두께를 다음 방법으로 측정하였다. 접촉식의 막두께 측정기(ME-50H 주식회사 니콘 제품)를 이용하여, 폭 방향으로 8㎜의 간격을 두고 5점, 길이 방향으로 50㎜의 간격을 두고 5점의 총 25점에서의 동층의 두께를 측정하였 다. 동층의 평균 두께는 2.98㎛, 두께의 표준 편차 σ는 O.538㎛, 두께 편차는 3σ로 1.614㎛였다.The thickness of the copper layer after etching was measured by the following method. Using a contact film thickness gauge (manufactured by Nikon Co., Ltd., ME-50H), the thickness of the copper layer at a total of 5 points at 25 points spaced apart by 8 mm in the width direction and 50 mm spaced in the longitudinal direction. Was measured. The average thickness of the copper layer was 2.98 µm, the standard deviation σ of the thickness was 0.45 µm, and the thickness variation was 1.614 µm.
다음으로, H2SO4를 3.0mol/L, H2O2를 2.8mol/L, 첨가제를 수십 ppm 포함하는 에칭액에 2층 기재를 반송하여 침지하여, 30℃에서 약 90초의 에칭을 행하였다.Next, the two-layer substrate was returned and immersed in an etching solution containing 3.0 mol / L of H 2 SO 4 , 2.8 mol / L of H 2 O 2 , and several tens of ppm of additives, and etching was performed at 30 ° C. for about 90 seconds. .
에칭 후의 동층의 두께를 상기의 방법으로 측정한 결과, 동층의 평균 두께는 1.44㎛, 두께의 표준 편차 σ는 O.162㎛, 두께 편차는 3σ로 O.486㎛였다.As a result of measuring the thickness of the copper layer after etching by the said method, the average thickness of the copper layer was 1.44 micrometers, the standard deviation (sigma) of thickness was O.162 micrometers, and the thickness deviation was 3 (sigma) and O.486 micrometers.
이 2층 기재의 동층 위에, 두께 15㎛의 드라이 필름 레지스트(ALPHO NIT 215 니치고모튼사 제품)를 적층하였다. 래미네이트 조건은, 온도 약 100℃, 압력 0.3MPa, 래미네이트 속도 2.0m/min였다.A dry film resist (ALPHO NIT 215 Nichigo Morton Co., Ltd.) having a thickness of 15 µm was laminated on the copper layer of this two-layer base material. Lamination conditions were the temperature of about 100 degreeC, the pressure of 0.3 Mpa, and the lamination rate of 2.0 m / min.
드라이 필름 레지스트에 배선에 대응하는 패턴을 약 80mJ/㎠로 노광하고, 그 후, 1% Na2CO3 수용액을 이용하여 온도 30℃의 조건하에서 스프레이로 약 15초 현상하였다.The pattern corresponding to the wiring was exposed to the dry film resist at about 80 mJ / cm 2, and then developed by spray using a 1% Na 2 CO 3 aqueous solution under conditions of a temperature of 30 ° C. for about 15 seconds.
다음으로, FR(상품명, 아트텍사 제품) 10%+20% H2SO4로 온도 40℃에서 18O초간, 계속해서 10% H2SO4로 온도 30℃에서 60분간 도금 전 처리를 행하였다.Next, it was subjected to FR (trade name, Artech Inc.) 10% + 20% H 2 18O seconds at a temperature of 40 ℃ as SO 4, continue to 60 minutes plating pre-treatment at a temperature of 30 ℃ to 10% H 2 SO 4.
그 다음, CuSO4·5H2O를 60g/L, H2SO4를 210g/L, 염화물 이온 50ppm, 첨가제를 수 ppm 포함하는 도금액에서, 온도 23℃, Dk=2.0A/dm2의 조건으로 약 20분간 전해동 도금을 행하여 두께 9㎛의 동도금층을 형성하였다.Then, in a plating solution containing 60 g / L of CuSO 4 H 2 O, 210 g / L of H 2 SO 4 , 50 ppm of chloride ions, and several ppm of additives, at a temperature of 23 ° C. and Dk = 2.0 A / dm 2 . Electrolytic copper plating was performed for about 20 minutes to form a copper plating layer having a thickness of 9 µm.
다음으로, 온도 50℃의 3% NaOH 수용액을 드라이 필름 레지스트에 스프레이 로 약 15초간 분무하여, 레지스트를 박리 제거하였다.Next, a 3% NaOH aqueous solution having a temperature of 50 ° C. was sprayed on the dry film resist for about 15 seconds by spraying to remove the resist.
그 후, H2SO4를 4.1mol/L, H2O2를 3.3mol/L, 첨가제를 수십 ppm 포함하는 에칭액을 이용하여, 온도 30℃의 조건하에서 스프레이로 약 20초간 플래시 에칭을 행하여 동도금층의 사이에 잔존하는 동층을 제거하였다. 이렇게 하여, 배선 피치 25㎛(라인폭; 13㎛, 스페이스폭; 12㎛)의 배선 패턴을 형성하였다. 그 후, 리드 부분을 남기고 배선 패턴을 덮도록 솔더 레지스트를 피복하고, 리드 부분에 단자 도금을 실시하여 프린트 배선 기판을 얻었다.Thereafter, using an etching solution containing 4.1 mol / L of H 2 SO 4 , 3.3 mol / L of H 2 O 2 , and several tens of ppm of additives, flash etching was performed for about 20 seconds by spraying under conditions of a temperature of 30 ° C. The copper layer which remained between the plating layers was removed. In this way, the wiring pattern of wiring pitch of 25 micrometers (line width; 13 micrometers, space width; 12 micrometers) was formed. Thereafter, the solder resist was coated so as to cover the wiring pattern leaving the lead portion, and the lead portion was subjected to terminal plating to obtain a printed wiring board.
이 프린트 배선 기판은, 배선의 언더 컷이 적고 또한 도금 레지스트가 동층 표면에 충분히 밀착되어 있었기 때문에, 양호한 배선 패턴을 얻을 수 있었다.Since this printed wiring board had few undercuts of wiring and the plating resist was fully in close contact with the copper layer surface, a good wiring pattern was obtained.
본 발명에 따르면, 동층을 원하는 두께까지 얇게 하는 처리를 단시간에 행할 수 있으며, 또한 처리 후의 동층의 두께 편차가 작다.According to the present invention, the process of thinning the copper layer to a desired thickness can be performed in a short time, and the thickness variation of the copper layer after the treatment is small.
또한 본 발명에 따르면, 세미애디티브법에 따라 배선 패턴을 형성할 때에, 레지스트 밀착성이 양호한 얇은 베이스 동층을 단시간에 얻을 수 있다.According to the present invention, when forming the wiring pattern by the semi-additive method, a thin base copper layer having good resist adhesion can be obtained in a short time.
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