KR20070023598A - Semiconductor Memory Systems and Semiconductor Memory Chips - Google Patents
Semiconductor Memory Systems and Semiconductor Memory Chips Download PDFInfo
- Publication number
- KR20070023598A KR20070023598A KR1020060080464A KR20060080464A KR20070023598A KR 20070023598 A KR20070023598 A KR 20070023598A KR 1020060080464 A KR1020060080464 A KR 1020060080464A KR 20060080464 A KR20060080464 A KR 20060080464A KR 20070023598 A KR20070023598 A KR 20070023598A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- semiconductor memory
- frame
- cell array
- temporary storage
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 76
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 12
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims 2
- 238000012432 intermediate storage Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
- G11C11/4087—Address decoders, e.g. bit - or word line decoders; Multiple line decoders
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
본 발명은, 사전 결정되는 프로토콜에 부합하여 신호 프레임의 형태로 메모리 제어기와 반도체 메모리 칩 사이에 데이터, 명령 및 어드레스 신호가 직렬로 전송되는 반도체 메모리 시스템 및 반도체 메모리 칩에 관한 것이다. 반도체 메모리 칩(1) 내의 수신 신호 경로 상에는 수신 인터페이스 장치(2)에 이어 신호 프레임을 디코딩하는 프레임 디코더(3)가 배치되며, 프레임 디코더와 메모리 코어(5) 사이에는 셀 어레이(10)를 포함하는 중간 저장 장치(4)가 배치되고, 이 어레이는 복수의 메모리 셀과 어드레싱 및 선택기 회로(11-14)를 포함하는데, 프레임 디코더(3)에 의해 디코딩되는 메모리 제어기에 의해 제공되는 명령 및/또는 기록 신호 프레임으로부터의 어드레스 신호가 이 회로에 인가되어, 셀 어레이(10)를 어드레싱하고 셀 어레이에 기록될 기록 데이터와 이로부터 판독될 데이터를 선택한다.The present invention relates to a semiconductor memory system and a semiconductor memory chip in which data, command and address signals are serially transmitted between the memory controller and the semiconductor memory chip in the form of signal frames in accordance with a predetermined protocol. On the receiving signal path in the semiconductor memory chip 1, a frame decoder 3 for decoding a signal frame is disposed following the receiving interface device 2, and includes a cell array 10 between the frame decoder and the memory core 5. An intermediate storage device 4 is arranged, the array comprising a plurality of memory cells and addressing and selector circuits 11-14, instructions provided by a memory controller decoded by the frame decoder 3 and / or Alternatively, an address signal from a write signal frame is applied to this circuit to address the cell array 10 and select write data to be written to the cell array and data to be read therefrom.
Description
도 1은 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩의 일실시예의 변형의 기능 블록도를 개략적으로 도시하고 있는데, 이를 참조하여 핵심 목적 및 기능적 특징을 설명할 것이다.1 schematically illustrates a functional block diagram of a variation of one embodiment of a semiconductor memory chip according to the present invention, with reference to which will be described the core purpose and functional features.
도 2는 본 발명에서 사용되는 임시 저장 장치에 적용 가능한 상태도를 그래픽적으로 도시하고 있다.2 graphically illustrates a state diagram applicable to a temporary storage device used in the present invention.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for the main parts of the drawings
1: 반도체 메모리 칩 2: 수신 인터페이스 장치1: semiconductor memory chip 2: receiving interface device
3: 프레임 디코더 4: 임시 저장 장치3: frame decoder 4: temporary storage device
5: 메모리 코어 5: memory core
10: 임시 저장 장치(4)의 셀 어레이10: cell array of
11: 어드레스 포인터 12: 프레임 카운터11: address pointer 12: frame counter
13: 임시 저장 기록 선택기 14: 임시 저장 판독 선택기13: Temporary save record selector 14: Temporary save read selector
WD1, WD2, WD3: 기록 데이터 단위WD1, WD2, WD3: Record Data Unit
DM: 데이터 마스킹 비트 및 신호 프레임DM: Data Masking Bits and Signal Frames
WR1, WR2, WR3: 기록 신호 프레임WR1, WR2, WR3: Record Signal Frame
WR-RET: 임시 저장 장치로부터의 판독 요청WR-RET: read request from temporary storage
Z1-Z7: 상태Z1-Z7: Status
본 발명은 반도체 메모리 시스템 및 반도체 메모리 칩에 관한 것이며, 청구범위에서 독립항인 제 1 항과 제 8 항에 각각 기재되어 있다. 이러한 반도체 메모리 시스템 및 반도체 메모리 칩은 예를 들어 종래 DRAM 또는 DDR-DRAM 반도체 메모리 시스템 및 메모리 칩이다.The present invention relates to a semiconductor memory system and a semiconductor memory chip, and is described in each of
종래 DRAM 반도체 메모리 시스템 및 메모리 칩에서, 메모리 제어기 및/또는 기타 반도체 메모리 칩으로 오가는 데이터, 명령 및 어드레스 신호는 신호 프레임의 형태로 전송되지 않으며, 직렬이 아닌 병렬로 전송된다. 예를 들어 기록 데이터, 명령 및 어드레스인 이 병렬 전송은 메모리 제어기로부터 하나 이상의 DRAM 메모리 칩으로의 개별 데이터, 명령 및 어드레스 신호 버스에 의해 이루어질 수 있다.In conventional DRAM semiconductor memory systems and memory chips, data, command and address signals to and from memory controllers and / or other semiconductor memory chips are not transmitted in the form of signal frames, but in parallel rather than serially. This parallel transfer, for example write data, commands and addresses, can be accomplished by separate data, command and address signal buses from the memory controller to one or more DRAM memory chips.
미래의 반도체 메모리 시스템, 예를 들어, DRAM 메모리 시스템 및 메모리 칩에서는, 데이터, 명령 및 어드레스 신호는 사전 결정되는 프로토콜에 부합하는 신호 프레임의 형태로 직렬 신호 스트림으로서 매우 높은 전송률로 전송된다.In future semiconductor memory systems, such as DRAM memory systems and memory chips, data, command and address signals are transmitted at very high rates as serial signal streams in the form of signal frames conforming to a predetermined protocol.
이러한 진보하는 반도체 메모리에서, 그 메모리 코어와 송신 및 수신 인터페이스 장치 사이에 프레임 디코더가 존재하는데, 이는 수신 인터페이스 장치로부터 수신된 신호 프레임의 디코딩하고 데이터와 명령을 추후에 메모리 코어로 전송하기 위한 것이다. 서로에 속하는 명령 단위에도 적용될 수 있는 바와 같이, 서로에 속하는 기록 데이터 단위는 프로토콜에 따라 단일 신호 프레임뿐만 아니라 다수의 연속적으로 전송되는 신호 프레임에 포함될 수 있기 때문에, 이러한 반도체 메모리 칩은 임시 저장 장치를 가져야 하는데, 임시 저장 장치는 프레임 디코더와 메모리 장치에 접속되며 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 다수의 데이터 및/또는 명령 단위를 임시로 저장하여, 이러한 진보하는 반도체 메모리 칩의 메모리 코어에 대한 기록 데이터 단위 및/또는 명령 단위의 전송 과정에서 절대적으로 필요한 유연성을 제공한다.In this evolving semiconductor memory, there is a frame decoder between the memory core and the transmit and receive interface device, which is for decoding signal frames received from the receiving interface device and for later sending data and commands to the memory core. As can also be applied to instruction units belonging to each other, such a semiconductor memory chip is a temporary storage device because the write data units belonging to each other can be included in not only a single signal frame but also a plurality of consecutively transmitted signal frames according to a protocol. The temporary storage device temporarily stores a plurality of data and / or instruction units connected to the frame decoder and the memory device and decoded by the frame decoder, so that the write data unit for the memory core of such an advanced semiconductor memory chip and It provides the flexibility that is absolutely necessary in the transmission of the command unit.
그러므로, 본 발명의 목적은 프레임 디코더와 클록-동기적으로 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 다수의 기록 데이터 및/또는 명령 단위를 임시 저장하여 시간에 관해 중요하지 않은 데이터 및/또는 명령 유닛을 저장하고 시간에 관해 중요하지 않은 메모리 코어도 이들을 판독하는 일반적인 반도체 메모리 시스템 및 반도체 메모리 칩을 특정하는 것이다.Therefore, an object of the present invention is to temporarily store a large number of write data and / or command units decoded by the frame decoder clock-synchronously with the frame decoder to store data and / or command units that are not critical in time. Memory cores, which are insignificant with respect, also specify a general semiconductor memory system and a semiconductor memory chip that read them.
이 목적은 청구범위에 따라 달성된다.This object is achieved according to the claims.
제 1 양태에 따르면, 본 발명은 메모리 제어기와 데이터, 명령, 어드레스 버 스 라인을 통해 이 메모리 제어기에 접속되는 적어도 하나의 메모리 칩에 의해 전술한 목적을 달성하는 반도체 메모리 시스템을 제공하는 것인데, 이 메모리 칩은 메모리 코어와 송신 및 수신 인터페이스 장치 - 이 장치는 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 상기 메모리 제어기 및/또는 다른 유사한 반도체 메모리 칩으로 각각 송신 및 수신함 - 를 포함하는데, 반도체 메모리 시스템은 사전 결정되는 프로토콜에 부합하는 신호 프레임의 형태로 직렬 신호 스트림으로서 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 송신하도록 구성되며, 적어도 하나의 반도체 메모리 칩은, 수신 인터페이스 장치와 메모리 사이에 배치되는 프레임 디코더 - 이 디코더는 수신 인터페이스 장치에 의해 수신되는 신호 프레임을 디코딩하도록 구성됨 - 와, 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 다수의 기록 데이터 및/또는 명령 단위를 임시로 저장하는 임시 저장 장치 - 이 장치는 프레임 디코더와 메모리 코어 사이의 수신 경로상에 배치되고 다수의 메모리 어드레스와 메모리 제어기에 의해 공급되는 신호 프레임으로부터 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 어드레스 신호가 인가되는 어드레싱 및 선택기 회로를 포함하는 셀 어레이를 가져서, 셀 어레이를 어드레싱하고, 셀 어레이에 관한 판독/기록 선택을 수행함 - 을 또한 포함한다.According to a first aspect, the present invention provides a semiconductor memory system which achieves the above object by a memory controller and at least one memory chip connected to the memory controller via data, command, and address bus lines. The memory chip includes a memory core and a transmit and receive interface device, which transmits and receives data, command and address signals to the memory controller and / or other similar semiconductor memory chip, respectively, wherein the semiconductor memory system is pre-determined. A data decoder configured to transmit data, command and address signals as a serial signal stream in the form of a signal frame conforming to the protocol, wherein at least one semiconductor memory chip comprises a frame decoder disposed between the receiving interface device and the memory, the decoder having a receiving interface Received by the device Configured to decode a signal frame; and temporary storage for temporarily storing a plurality of write data and / or instruction units decoded by the frame decoder, the apparatus being disposed on a receive path between the frame decoder and the memory core and multiple A cell array comprising addressing and selector circuits to which the address signal decoded by the frame decoder is applied from a memory address and a signal frame supplied by the memory controller, addressing the cell array, and selecting read / write for the cell array. -Also includes.
어드레싱 및 선택기 회로는 어드레스 포인터와 프레임 카운터를 갖는다.The addressing and selector circuit has an address pointer and a frame counter.
제 2 양태에 따르면, 본 발명은 또한 전술한 목적을 달성하는 반도체 메모리 칩을 제공하는데, 메모리 코어와 송신 및 수신 인터페이스 장치 - 이 장치는 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 상기 메모리 제어기 및/또는 다른 유사한 반도체 메모리 칩으로 각각 송신 및 수신함 - 를 포함하는데, 반도체 메모리 시스템은 사전 결정되는 프로토콜에 부합하는 신호 프레임의 형태로 직렬 신호 스트림으로서 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 송신하도록 구성되며, 적어도 하나의 반도체 메모리 칩은, 수신 인터페이스 장치와 메모리 사이에 배치되는 프레임 디코더 - 이 디코더는 수신 인터페이스 장치에 의해 수신되는 신호 프레임을 디코딩하도록 구성됨 - 와, 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 다수의 기록 데이터 및/또는 명령 단위를 임시로 저장하는 임시 저장 장치 - 이 장치는 프레임 디코더와 메모리 코어 사이의 수신 경로상에 배치되고 다수의 메모리 어드레스와 메모리 제어기에 의해 공급되는 신호 프레임으로부터 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 어드레스 신호가 인가되는 어드레싱 및 선택기 회로를 포함하는 셀 어레이를 가져서, 셀 어레이를 어드레싱하고, 셀 어레이에 관한 판독/기록 선택을 수행함 - 을 또한 포함한다.According to a second aspect, the present invention also provides a semiconductor memory chip which achieves the above object, comprising a memory core and a transmit and receive interface device, which transmits data, command and address signals to the memory controller and / or other similar devices. Each transmitting and receiving to a semiconductor memory chip, the semiconductor memory system being configured to transmit data, command and address signals as a serial signal stream in the form of signal frames conforming to a predetermined protocol, the at least one semiconductor memory The chip comprises a frame decoder disposed between the receiving interface device and the memory, the decoder configured to decode a signal frame received by the receiving interface device, and a plurality of write data and / or command units decoded by the frame decoder. Temporarily save me temporarily Chapter apparatus-The apparatus includes addressing and selector circuitry disposed on a receive path between a frame decoder and a memory core and to which a plurality of memory addresses and address signals decoded by the frame decoder from a signal frame supplied by the memory controller are applied. Taking a cell array, addressing the cell array, and performing read / write selections on the cell array.
이 장치에서, 어드레싱 및 선택기 회로는 오드레스 포인터 및 프레임 카운터를 갖는다.In this apparatus, the addressing and selector circuit has an address pointer and a frame counter.
임시 저장 장치와 그 어드레싱 및 선택기 회로는 본 발명에 따른 반도체 메모리 시스템 및 칩에서 프레임 디코더와 클록-동기적으로 동작하는 것이 바람직하다.The temporary storage device and its addressing and selector circuitry preferably operate clock-synchronously with the frame decoder in the semiconductor memory system and chip according to the invention.
또한, 임시 저장 장치의 셀 어레이의 각 어드레싱 가능한 메모리 셀은, 명령 및/또는 기록 데이터가 본 발명에 따른 반도체 메모리 시스템 및 칩에서 다수의 클록 사이클에서 전송되는 경우에 연속적 또는 방해되는 다중 액세스를 위한 다수의 개별 섹션으로 세부 분할되는 것이 바람직하다.In addition, each addressable memory cell of the cell array of temporary storage device is intended for continuous or disturbed multiple access when command and / or write data is transmitted in multiple clock cycles in a semiconductor memory system and chip according to the present invention. It is desirable to subdivide the number into individual sections.
바람직한 실시예에서, 임시 저장 장치의 어드레싱 및 선택기 회로는 또한 임 시 저장 기록 선택기를 갖는데, 이는 어드레스 포인터 및 프레임 카운터의 출력 신호로부터 형성되는 기록 선택 제어 신호에 의해 구동되는 임시 저장 기록 선택기를 셀 어레이의 입력부에 가지며, 메모리 코어 이전의 자신의 출력부에, 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 판독 명령 프레임으로부터의 판독 선택 제어 신호에 의해 구동되는 임시 저장 판독 선택기를 갖는다.In a preferred embodiment, the addressing and selector circuitry of the temporary storage device also has a temporary storage write selector, which stores a temporary storage write selector driven by a write selection control signal formed from an address pointer and an output signal of the frame counter. Has at its input and its output before the memory core has a temporary storage read selector driven by a read select control signal from a read command frame decoded by the frame decoder.
전술한 바와 같이, 임시 저장 장치와 그 어드레싱 및 선택기 회로는 본 발명에 따른 다수의 기록 데이터 단위 및 다수의 명령 단위 모두를 임시 저장하도록 구성될 수 있다.As mentioned above, the temporary storage device and its addressing and selector circuit can be configured to temporarily store both a plurality of write data units and a plurality of command units according to the present invention.
그러나, 실시예를 변형하여, 임시 저장 장치와 그 어드레싱 및 선택기 회로가 기록 데이터만을 임시 저장하도록 구성될 수 있다.However, in an alternative embodiment, the temporary storage device and its addressing and selector circuit can be configured to temporarily store only write data.
바람직하게는, 반도체 메모리 시스템의 사전 결정되는 프로토콜이 또한 명령/기록 데이터 신호 스트림 내의 개별 기록 데이터 단위에 임시 근사 및 개별 데이터 할당의 기록 데이터 마스킹 비트를 전송하도록 설정되는 경우, 임시 저장 장치와 그 어드레싱 선택기 회로는 이 경우에 다수의 기록 데이터 단위의 임시 저장과는 별도로 각 경우에 셀 어레이의 각 어드레싱 가능한 메모리 셀의 개별 섹션의 그 관련 마스킹 비트를 임시 저장할 수도 있다.Preferably, when the predetermined protocol of the semiconductor memory system is also set to transmit a temporary approximation and write data masking bits of individual data allocations to individual write data units in the command / write data signal stream, the temporary storage device and its addressing. The selector circuit may in this case temporarily store its associated masking bits in a separate section of each addressable memory cell of the cell array in each case separately from the temporary storage of a plurality of write data units.
본 명세서에서 제안되는 임시 저장 장치와 그 어드레싱 및 선택기 회로는, 명령 및/또는 기록 데이터가 어드레싱 가능한 메모리 셀마다 다수의 클록 사이클에 전송되는 경우에 연속적 또는 방해되는 다중 액세스로 분할되기 때문에, 논리 복잡성을 감소시키고 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩의 면적을 절감하는 장점을 갖는 다. 또한, 본 명세서에서 제안되는 프레임 디코더와 메모리 코어 사이의 이러한 임시 저장 장치와 그 어드레싱 및 선택기 회로를 사용은, 프레임 디코더로부터 메모리로 기록 데이터 및/또는 명령을 전송하는 데 유연성을 증가시킨다.Since the temporary storage device and its addressing and selector circuitry proposed herein are divided into multiple accesses that are contiguous or interrupted when the command and / or write data is transmitted in multiple clock cycles per addressable memory cell, logic complexity It has the advantage of reducing and reducing the area of the semiconductor memory chip according to the present invention. In addition, the use of such temporary storage and its addressing and selector circuitry between the frame decoder and the memory core as proposed herein increases flexibility in transferring write data and / or commands from the frame decoder to memory.
본 명세서의 바람직한 실시예에서는, 임시 저장 장치의 어드레싱 및 선택기 회로에 제공되어 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 셀 어레이를 어드레싱하는 어드레스 신호가 메모리 제어기에 의해 전송되는 신호 프레임으로부터 오게 되므로, 즉, 메모리 제어기가 최종적으로 임시 저장 장치에 대한 어드레스를 결정하므로, 임시 저장 장치의 어드레스를 생성하는 논리의 복잡성이 감소되고 임시 저장 장치 자체에서 어드레스를 발생시키는 임의의 가능한 다른 해결책에 비해 시간이 덜 소모된다.In a preferred embodiment of the present specification, the address signal provided to the addressing and selector circuit of the temporary storage device and addressing the cell array to be decoded by the frame decoder comes from a signal frame transmitted by the memory controller, i.e., the memory controller is By finally determining the address for the temporary storage device, the complexity of the logic for generating the address of the temporary storage device is reduced and is less time consuming than any other possible solution for generating an address in the temporary storage device itself.
본 발명에 따른 반도체 메모리 시스템 및 칩의 전술한 목적과 다른 목적 및 장점을 첨부된 도면을 참조하여 더욱 상세히 후술할 것이다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The above and other objects and advantages of the semiconductor memory system and chip according to the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
첨부된 도 1은, 간단히 표시된 수신 인터페이스 장치(2)와 메모리 코어(5) 사이의 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩(1)의 수신 경로 섹션을 개략적으로 도시하고 있다. 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩(1)의 수신 인터페이스 장치(2)에 기능 블록으로 표시된 프레임 디코더(3)가 직접 이어지는데, 이는 수신 인터페이스 장치(2)에 의해 제공되는 기록, 판독, 시스템과 기타 명령 및 기록과 판독 데이터에 관한 신호 프레임 및 마스킹 비트(masking bits)를 디코딩하고, 디코딩된 데이 터를 병렬 형태로 변환하는 작업도 수행한다. 이 바람직한 실시예에 따른 임시 저장 장치(4)는 다수의 기록 데이터 및 프레임 디코더(3)에 의해 디코딩되는 기록 데이터 마스킹 비트를 임시로 저장하도록 구성되며, 프레임 디코더(3)와 메모리 코어(5) 사이의 수신 경로상에 위치되어, 복수의 어드레싱 가능한 메모리 셀과 메모리 제어기(도시 생략)에 의해 제공되어 프레임 디코더(3)에 의해 디코딩되는 신호 프레임으로부터의 어드레스 신호가 인가되는 어드레싱 및 선택기 회로를 포함하는 셀 어레이(10)를 갖는데, 이는 셀 어레이(10)로 기록되고 이로부터 판독될 기록 데이터와 마스킹 비트를 어드레싱하고 선택하기 위해 어드레스 포인터(11), 기록 선택기(13) 및 판독 선택기(14)를 갖는다. 기록 선택기(13)는 셀 어레이(10)의 입력부에 배치되고 어드레스 포인터(11)와 프레임 카운터(12)의 출력 신호에 의해 구동되어 기록 데이터와 마스킹 비트를 셀 어레이(10)로 기록한다. 판독 선택기(14)는 셀 어레이(10)의 출력부에 배치되어 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 판독 명령 프레임으로부터의 판독 선택 제어 신호 "어드레스/인에이블 WR-RET"에 의해 구동된다.The attached FIG. 1 schematically shows a receive path section of a
이 실시예에서, 임시 저장 장치는 기록 데이터 단위(WD1, WD2, WD3) 및 이들에 할당되는 마스킹 비트(DM)를 임시로 저장하기 위해서만 구성된다는 것을 유의해야 한다.In this embodiment, it should be noted that the temporary storage device is configured only for temporarily storing the write data units WD1, WD2, WD3 and the masking bits DM assigned thereto.
사전 결정되는 프로토콜로 인해, 기록 데이터 단위는 필수적으로 서로 이어지지는 않는 다수의 기록 신호 프레임에 대해 분산된다고 가정된다. 프레임 디코더(3)는 인입 신호 프레임(WR1, WR2, WR3, DM)을 제어 신호 "수신 프레임"으로 디 코딩하고 임시 저장 장치(4)의 프레임 카운터(12)에 공급하여 프레임을 카운트한다. 또한, 프레임 디코더(3)는 프레임에 수신되는 기록 데이터 단위 및 마스킹 비트를 디코딩하는데, 이는 프레임 디코더(3)에 의해 기록 선택기(13)로 공급된다. 예시적 실시예에서, 프레임 디코더(3)는 프레임(WR1) 또는 DM 프레임으로부터 어드레스 포인터(11)에 공급되는 임시 저장 기록 어드레스를 디코딩한다. 기록 선택기(13)는 결국 어드레스 포인트(11) 및 프레임 카운터(12)로부터의 출력 신호에 의해 구동되어 기록 데이터 단위(WD1, WD2 및 WD3)와 기록 데이터 마스킹 비트를 선택적으로 기록한다. 임시 저장 장치(4)에 대한 어드레스가 신호 프레임(WR1)의 메모리 제어기에 의해 전송되었으면 신호 프레임(WR2, WR3 및 DM) 내에서 전송될 필요가 없다.Due to the predetermined protocol, it is assumed that the write data units are distributed over a number of write signal frames that do not necessarily follow each other. The
기록 어드레스가 배치되는 것으로부터 보다 정밀히 설명한다. 1. 어드레스가 다음 어드레스가 시작하기 전에 완전히 기술되면, 이 어드레스는 제 1 프레임 또는 다른 어드레스의 이전 기록 사이클의 최종 프레임에 의해서도 적합하게 전송되어야 한다. 2. 상이한 어드레스가 중첩되어 기술되면, 어드레스 정보는 프레임의 각각에 공급되어야 한다.The recording address will be described more precisely from the arrangement. 1. If an address is fully described before the start of the next address, this address must also be suitably transmitted by the last frame of the previous write cycle of the first frame or another address. 2. If different addresses are superimposed and described, address information must be supplied to each of the frames.
또한, 프레임 디코더(3)는 신호 프레임 "WR-RET"로부터 임시 저장 장치(4)로부터의 명령을 디코딩하고 기록 데이터 단위와 마스킹 비트를 셀 어레이(10)로부터 판독하며 이들을 메모리 코어(5)로 공급한다. 이를 위해, 셀 어레이(10)의 출력에 배치되는 임시 저장 판독 선택기(14)는 프레임 디코더(3)로부터 신호 프레임 WR-RET로부터 디코딩된 판독 어드레스를 수신하여, 셀 어레이(10) 및 인에이블 신호를 판독한다. 셀 어레이(10) 자체는 어드레싱 가능한 메모리 셀마다 다수의 기록 데이터 프레임(WR1, WR2, WR3) 및 마스킹 비트 프레임에 대응하는 다수의 섹션으로 분할된다. 셀 어레이(10)는 항상 WR1-WR2-WR3-DM의 순서로 액세스된다. 신호 프레임은 공백 프레임 또는 상이한 어드레스에 대한 판독 요청에 의해 방해될 수 있다.The
임시 저장 장치(4)에 대한 판독 및 기록 액세스는 하나의 양방향 버스 시스템 또는 2개의 단방향 버스에 의해 실행될 수 있다. 도 1에 도시된 실시예에서는, 프레임 디코더(3)로부터 임시 저장 장치(4)로, 임시 저장 장치(4)로부터 메모리 코어(5)로 각 경우에 2개의 단방향 버스가 구현된다.Read and write access to the
도 2는 상태도를 도시하고 있는데, 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩에서 도 1에 도시된 임시 저장 장치(4)에 대해 7개의 상태, Z1 - Z7를 갖는다. 이하, 도 1과 도 2를 참조하여 프레임 디코더(3)와 메모리 코어(5)와 함께 임시 저장 장치(4)의 동작을 설명한다.Fig. 2 shows a state diagram, which has seven states, Z1-Z7, for the
Z1: 최초에, 셀 어레이(10)의 엔트리 및 어드레스 포인터(11)와 임시 저장 장치(4)의 프레임 카운터(12)가 0으로 설정된다. 임시 저장 기록 선택기(13) 및 임시 저장 판독 선택기(14)는 각각 보안되거나 차단된다.Z1: Initially, the entry and
Z2: 임시 저장 장치(4)의 다음 동작, 즉, 기록 데이터 및 마스킹 비트를 이전 것으로 기록하거나 기록 데이터 또는 마스킹 비트를 WR-RET에 의해 판독하는 상태를 기다린다.Z2: Waits for the next operation of the
Z3: WR1 신호 프레임의 디코딩에 이어, 프레임 디코더(3)는 프레임 비트로부 터 셀 어레이(10)의 어드레스를 디코딩하고 이에 부합하게 어드레스 포인터(11)를 설정한다. 프레임 카운터(12)는 0으로 설정된다. 다음 클록 사이클에, 기록 데이터(WD1)는 임시 저장 기록 선택기(13)를 통해 셀 어레이(10)의 대응 어드레스로 기록될 수 있다. DM 신호 프레임이 단 하나의 선택 사항인 경우, 셀 어레이(10)의 대응 어드레스의 DM 선택은 0으로 설정된다.Z3: Following decoding of the WR1 signal frame, the
Z4: WR2 신호 프레임에 액세스하는 동안, 셀 어레이(10)의 어드레스는 WR1 신호 프레임의 디코딩으로부터 이미 이용 가능하므로 프레임 카운터(12)는 1만큼만 증가된다. 다음 클록 주기에, 기록 데이터(WD2)는 임시 저장 기록 선택기(13)를 통해 셀 어레이(10)의 대응 어드레스(예: 0)의 제 2 섹션으로 기록된다.Z4: While accessing the WR2 signal frame, the
Z5: WR3 신호 프레임에 액세스하는 동안, 셀 어레이(10)의 어드레스는 WR1 신호 프레임의 디코딩으로부터 이미 이용 가능하므로, 프레임 카운터는 1만큼만 증가된다. 다음 클록 주기에, 기록 데이터(WD3)는 임시 저장 기록 선택기(13)를 통해 대응 어드레스(예: 0)의 제 3 섹션에 셀 어레이(10)로 기록된다.Z5: While accessing the WR3 signal frame, the frame counter is incremented by only 1 since the address of the
Z6: DM 신호 프레임에 액세스하는 동안, 셀 어레이(10)의 어드레스는 WR1 신호 프레임의 디코딩으로부터 이미 이용 가능하므로 프레임 카운터(12)는 1만큼만 증가된다. 다음 클록 주기에, 데이터 마스킹 비트(DM)는 임시 저장 기록 선택기(13)를 통해 대응 어드레스(예: 0)의 DM 섹션으로 기록된다. DM 신호 프레임이 발생하지 않으면, DM 섹션은 임의의 경우에 앞서 0으로 설정되었으므로 상관없다.Z6: During access to the DM signal frame, the
Z7: 임시 저장 장치(4) 또는 그 셀 어레이(10)로부터의 판독 명령은 각각 가 프레임을 이용하여 도달할 수 있다. 셀 어레이(10)의 동시 판독은, 판독 요청이 셀 어레이(10)의 다른 어드레스에 유도되는 한 (이러한 판독 신호 프레임에 의해 방해되는) 기록 데이터 시퀀스 동안에도 가능하다. 이러한 판독 요청이 발생하면, 셀 어레이(10)의 적용 가능한 어드레스는 판독 신호 프레임으로부터 디코딩되고, 다음 클록 사이클에, 기록 데이터(WD1, WD2,WD3) 및 아마도 기록 데이터 마스킹 비트(DM)가 이제 인에이블된 임시 저장 판독 선택기(14)를 통해 셀 어레이(10)의 앞서 디코딩된 어드레스에서 판독되어 메모리 코어(5)로 전송된다. 도 1에 도시된 예에서, 128개의 기록 데이터 비트와 16개의 데이트 마스킹(DM) 비트가 임시 저장 판독 선택기(14)를 통해 셀 어레이(10)로부터 판독되어 이러한 판독 명령 WR-RET에 의해 메모리 코어(5)로 전송된다고 가정하자.Z7: Read commands from the
전술한 해결책에서, 임시 저장 장치(4)의 셀 어레이(10)에 대한 판독 및 기록 어드레스는 각 경우에 판독 신호 프레임 및 기록 신호 프레임(WR-RET)의 메모리 제어기에 의해 또한 공급되므로, 도 1 및 2에 도시된 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩의 임시 저장 장치(4)는, 셀 어레이에 대한 판독 및 기록 어드레스가 임시 저장 장치 내에 각 경우에 계산되는 다른 종류의 해결책과 비교할 때 다음의 장점을 지닌다.In the above-described solution, the read and write addresses for the
- 후속 기록 데이터 신호 프레임에 대한 어드레스 계산용 기능 블록의 절감 및 셀 어레이(10)로부터의 판독 요청 WR-RET에 이어지는 기록 데이터 신호 프레임에 대한 셀 어레이(10)의 어드레스의 재계산용 기능 블록의 절감.Reduction of the functional block for address calculation for subsequent write data signal frames and reduction of the functional block for recalculation of the address of the
- 추가 기능 블록의 절감으로 인한 반도체 메모리 칩의 면적 절감.-Reduced area of semiconductor memory chips due to the reduction of additional function blocks.
- 셀 어레이에 대한 모든 어드레스 판정을 위한 동일한 기간The same period for all address determinations for the cell array
- 프레임 시퀀스 "WR-RET" → "WRD1"에 대한 시간 중첩 방지.-Time overlap prevention for frame sequence "WR-RET" → "WRD1".
도 1 및 도 2에 도시된, 기록 데이터 및 데이터 마스킹 비트를 셀 어레이(10)로 기록하기 위해 어드레싱하고 데이터 마스킹 비트로부터 기록 데이터 및 데이터 마스킹 비트를 판독하기 위해 어드레싱하는 바람직한 해결책은 추가 기능적 복잡성과 반도체 메모리 칩의 추가 하드웨어 지출을 방지하는데, 이는 특히 셀 어레이(10)를 어드레싱하는 어드레스 정보가 이미 메모리 제어기에 존재하고, 임의의 경우에 자유 위치가 WR1 데이터 신호 프레임의 이 어드레스를 전송하기 위해 이용 가능하기 때문이다.1 and 2, the preferred solution of addressing write data and data masking bits for writing to the
도 1 및 도 2와 전술한 바에서는 기록 데이터 단위(WD1-WD3)과 각 경우에 셀 어레이(10)의 각 어드레싱 가능한 메모리 셀의 개별 섹션의 그들의 관련 마스킹 비트(DM)를 임시로 저장하기 위해서만 배치되는 임시 저장 장치(4)를 설명하지만, 본 발명의 기본 원리는, 기록 데이터 단위와 마스킹 비트 외에도 대응 명령 신호 프레임으로부터 디코딩되는 명령 단위도 임시로 저장되는 임시 저장 장치 및 기록 데이터 단위와 마스킹 비트 대신에 명령 신호 프레임으로부터 디코딩되는 명령 단위만이 임시로 저장되는 임시 저장 장치에도 유사하게 적용 가능하다.1 and 2 and the foregoing, only to temporarily store the write data units WD1-WD3 and in each case their associated masking bits DM of the individual sections of each addressable memory cell of the
전술한 설명은 본 발명에 따른 반도체 메모리 칩을 설명하는데, 메모리 코어 와 각 경우에 데이터, 명령 및 어드레스 버스 라인을 통해 메모리 제어기 및/또는 다른 유사한 반도체 메모리 칩으로 각 경우에 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 송신하고 수신하는 송신 및 수신 인터페이스 장치를 가지며, 이 반도체 메모리 칩과 메모리 제어기는 사전 결정되는 프로토콜에 부합하는 신호 프레임의 형태로 직렬 신호 스트림으로서 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 송신하도록 구성되며, 이 반도체 메모리 칩은 다음 장치도 구비한다.The foregoing description describes a semiconductor memory chip according to the present invention, in which case the data, command and address signals in each case with a memory controller and / or other similar semiconductor memory chip via the memory core and in each case the data, command and address bus lines. And a semiconductor memory chip and a memory controller configured to transmit data, command and address signals as serial signal streams in the form of signal frames conforming to a predetermined protocol. The semiconductor memory chip also includes the following apparatus.
- 수신 인터페이스 장치에 의해 수신되는 신호 프레임을 디코딩하며 수신 인터페이스 장치와 메모리 사이에 배치되는 프레임 디코더A frame decoder which decodes the signal frame received by the receiving interface device and is arranged between the receiving interface device and the memory
- 프레임 디코더와 메모리 코어사이의 수신 경로상에 배치되며, 복수의 메모리 어드레스와 어드레싱 및 선택기 회로를 포함하는 셀 어레이를 가지고, 프레임 디코더로부터 메모리 제어기에 의해 공급되는 신호 프레임에 의해 디코딩되는 어드레스 신호가 인가되어 셀 어레이를 어드레싱하고 셀 어레이의 판독/기록 선택을 위한, 다수의 기록 데이터 및/또는 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 명령 단위를 임시로 저장하는 임시 저장 장치.An address signal disposed on the receive path between the frame decoder and the memory core and having a cell array comprising a plurality of memory addresses and addressing and selector circuitry, the address signal being decoded by a signal frame supplied by the memory controller from the frame decoder And a temporary storage device for temporarily storing a plurality of write data and / or instruction units decoded by a frame decoder for addressing the cell array and for reading / writing selection of the cell array.
이 경우에, 어드레싱 및 선택기 회로는 어드레싱 포인터와 프레임 카운터를 갖는다.In this case, the addressing and selector circuit has an addressing pointer and a frame counter.
전술한 특징은 본 발명에 따라 메모리 제어기와 데이터, 명령 및 어드레스 버스 라인을 통해 메모리 제어기에 접속되는 적어도 하나의 반도체 메모리 칩을 구비한 반도체 메모리 시스템에도 적용 가능하다는 것이 당업자에게 명백할 것인데, 이 반도체 칩은 메모리 코어 와 각 경우에 데이터, 명령 및 어드레스 버스 라인을 통해 메모리 제어기 및/또는 다른 유사한 반도체 메모리 칩으로 각 경우에 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 송신하고 수신하는 송신 및 수신 인터페이스 장치를 가지며, 이 반도체 메모리 칩과 메모리 제어기는 사전 결정되는 프로토콜에 부합하는 신호 프레임의 형태로 직렬 신호 스트림으로서 데이터, 명령 및 어드레스 신호를 송신하도록 구성되며, 이 반도체 메모리 칩은 다음 장치도 구비한다.It will be apparent to those skilled in the art that the foregoing features are also applicable to a semiconductor memory system having a memory controller and at least one semiconductor memory chip connected to the memory controller via data, command and address bus lines in accordance with the present invention. The chip has a transmit and receive interface device for transmitting and receiving data, command and address signals in each case to a memory controller and / or other similar semiconductor memory chip via a memory core and in each case data, command and address bus lines, The semiconductor memory chip and the memory controller are configured to transmit data, command and address signals as serial signal streams in the form of signal frames conforming to a predetermined protocol. The semiconductor memory chip also includes the following apparatus.
- 수신 인터페이스 장치에 의해 수신되는 신호 프레임을 디코딩하며 수신 인터페이스 장치와 메모리 사이에 배치되는 프레임 디코더A frame decoder which decodes the signal frame received by the receiving interface device and is arranged between the receiving interface device and the memory
- 프레임 디코더와 메모리 코어사이의 수신 경로상에 배치되며, 복수의 메모리 어드레스와 어드레싱 및 선택기 회로를 포함하는 셀 어레이를 가지고, 프레임 디코더로부터 메모리 제어기에 의해 공급되는 신호 프레임에 의해 디코딩되는 어드레스 신호가 인가되어 셀 어레이를 어드레싱하고 셀 어레이의 판독/기록 선택을 위한, 다수의 기록 데이터 및/또는 프레임 디코더에 의해 디코딩되는 명령 단위를 임시로 저장하는 임시 저장 장치.An address signal disposed on the receive path between the frame decoder and the memory core and having a cell array comprising a plurality of memory addresses and addressing and selector circuitry, the address signal being decoded by a signal frame supplied by the memory controller from the frame decoder And a temporary storage device for temporarily storing a plurality of write data and / or instruction units decoded by a frame decoder for addressing the cell array and for reading / writing selection of the cell array.
본 발명에 의하면, 논리 복잡성을 감소시키고 반도체 메모리 칩의 면적을 절감하는 반도체 메모리 시스템 및 반도체 메모리 칩을 제공한다.According to the present invention, there is provided a semiconductor memory system and a semiconductor memory chip which reduce the logic complexity and reduce the area of the semiconductor memory chip.
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060080464A KR100819968B1 (en) | 2005-08-24 | 2006-08-24 | Semiconductor Memory Systems and Semiconductor Memory Chips |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005040109.0 | 2005-08-24 | ||
KR1020060080464A KR100819968B1 (en) | 2005-08-24 | 2006-08-24 | Semiconductor Memory Systems and Semiconductor Memory Chips |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070023598A true KR20070023598A (en) | 2007-02-28 |
KR100819968B1 KR100819968B1 (en) | 2008-04-07 |
Family
ID=41641112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060080464A Expired - Fee Related KR100819968B1 (en) | 2005-08-24 | 2006-08-24 | Semiconductor Memory Systems and Semiconductor Memory Chips |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100819968B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100882484B1 (en) * | 2007-04-10 | 2009-02-09 | 삼성전자주식회사 | A semiconductor memory device having an error detection function, a memory system having the same, and a data output method of the semiconductor memory device |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08101793A (en) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Ricoh Co Ltd | Memory system |
US6473838B1 (en) | 2000-01-04 | 2002-10-29 | International Business Machines Corporation | Data transfer system for multiple network processors using dual DRAM storage |
KR100546345B1 (en) * | 2003-07-22 | 2006-01-26 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor memory device and data input / output method thereof having data input / output circuit operated according to DVB interleaved data access test method |
-
2006
- 2006-08-24 KR KR1020060080464A patent/KR100819968B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100882484B1 (en) * | 2007-04-10 | 2009-02-09 | 삼성전자주식회사 | A semiconductor memory device having an error detection function, a memory system having the same, and a data output method of the semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100819968B1 (en) | 2008-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7027349B2 (en) | Method for selecting memory device in response to bank selection signal | |
EP1488323B1 (en) | Memory system with burst length shorter than prefetch length | |
JP2007012270A (en) | Dynamic random access memory system | |
JP4034268B2 (en) | Method and apparatus for auxiliary command bus | |
JPH0516060B2 (en) | ||
CN101868788B (en) | Scheduling based on turnaround event | |
US7523250B2 (en) | Semiconductor memory system and semiconductor memory chip | |
US6363017B2 (en) | Method and apparatus for alternate operation of a random access memory in single-memory operating mode and in combined multi-memory operating mode | |
US20080172500A1 (en) | Memory system and method accessing memory array via common signal ports | |
US11586393B2 (en) | Control method for requesting status of flash memory, flash memory die and flash memory with the same | |
KR100819968B1 (en) | Semiconductor Memory Systems and Semiconductor Memory Chips | |
US7093051B2 (en) | Dynamic input/output: configurable data bus for optimizing data throughput | |
KR20060090748A (en) | Shared memory device | |
US5796672A (en) | Method and circuit for routing data to registers in an integrated circuit | |
US10929029B2 (en) | Memory controller and method for accessing memory modules and processing sub-modules | |
KR100801709B1 (en) | Memory module and memory system having same | |
US7395399B2 (en) | Control circuit to enable high data rate access to a DRAM with a plurality of areas | |
US6055609A (en) | Apparatus and method for improving bus usage in a system having a shared memory | |
JP4726187B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JP3138597B2 (en) | Dynamic polling method using memory for burst signal transmission management | |
JP2002055873A (en) | Memory integrator | |
US20060095652A1 (en) | Memory device and method for receiving instruction data | |
US20040210730A1 (en) | Dram control circuit | |
JPS5916064A (en) | Shared memory device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20060824 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20070921 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20080122 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20080331 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20080331 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110318 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120323 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130321 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130321 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140320 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140320 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160304 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160304 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170302 Year of fee payment: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170302 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20190111 |