KR20040085047A - 탄성 표면파 공진기, 및 그것을 이용한 탄성 표면파 필터,안테나 공용기 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (18)
- 압전 기판과,상기 압전 기판 상에 형성된 인터 디지털 트랜스듀서 전극과,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극에 인접하는 반사기 전극을 갖고,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극은, 제1 전극 핑거와 제2 전극 핑거와 스트립 라인 전극을 포함하고, 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는 서로 교차하지 않으며, 상기 스트립 라인 전극을 통해서 음향적으로 결합된 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제1항에 있어서,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극은,제1 버스바 전극과,상기 제1 버스바 전극에 접속되는 다수의 제1 전극 핑거와,제2 버스바 전극과,상기 제2 버스바 전극에 접속되는 다수의 제2 전극 핑거와,상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거의 적어도 한쪽과 교차하고, 탄성 표면파를 여진하는 위치에 배치된 다수의 스트립 라인 전극을 가지며,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극과, 이것에 인접하는 상기 반사기 전극에 의해 2개 이상의 공진기 유니트를 구성하고, 상기 공진기 유니트가 상기 스트립 라인 전극을 통해서 직렬로 접속된 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제2항에 있어서,다수의 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는, 대향하여 배치한 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제2항에 있어서,다수의 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는, 각각 탄성 표면파의 전파 파장인 1파장의 주기로 배치되고, 또한 탄성 표면파의 전파 방향에 대해서 동일 위치에 배치된 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제2항에 있어서,다수의 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는, 각각 탄성 표면파의 전파 파장인 1파장의 주기로 배치되고, 또한 서로가 탄성 표면파의 전파 방향에 대해서 일정 거리 어긋난 위치에 배치된 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제5항에 있어서,상기 일정 거리는, 탄성 표면파의 전파 파장을 λ로 하였을 때, λ/2 또는λ/4인 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제4항에 있어서,다수의 상기 스트립 라인 전극은 상기 제1 전극 핑거 및 상기 제2 전극 핑거의 중심으로부터 탄성 표면파의 파장을 λ로 하였을 때, λ/2 어긋난 위치에 배치되고,다수의 상기 제1 전극 핑거와 다수의 상기 스트립 라인 전극이 교차하는 영역이 제1 공진기 유니트를 구성하며,다수의 상기 제2 전극 핑거와 상기 스트립 라인 전극이 교차하는 영역이 제2 공진기 유니트를 구성하는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제5항에 있어서,다수의 상기 스트립 라인 전극은, 상기 제1 전극 핑거 및 상기 제2 전극 핑거에 대해서, 각각 동일 간격만큼 이간하여 배치되고, 또한 도그레그(dogleg) 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제2항에 있어서,상기 스트립 라인 전극은, 다수의 제1 스트립 라인 전극으로부터 다수의 제N 스트립 라인 전극(단, N은 2이상의 정수)까지를 포함하고,상기 제1 스트립 라인 전극의 일부는, 탄성 표면파의 전파 파장을 λ로 하였을 때, 상기 제1 전극 핑거의 중심으로부터 λ/2 어긋난 위치에 상기 제1 전극 핑거와 교차하여 배치되며,상기 제N 스트립 라인 전극의 일부는, 탄성 표면파의 전파 파장을 λ로 하였을 때, 상기 제2 전극 핑거의 중심으로부터 λ/2 어긋난 위치에 상기 제2 전극 핑거와 교차하여 배치되고,상기 제1 스트립 라인 전극의 연장부와 제2 스트립 라인 전극, 제m 스트립 라인 전극과 제m+1 스트립 라인 전극(단, m은 2이상이고, N-2 이하의 정수), 및 제N-1 스트립 라인 전극과 제N 스트립 라인 전극의 연장부가, 서로 소정의 길이로 교차하여 배치되며,상기 제1 전극 핑거와 상기 제1 스트립 라인 전극이 교차하는 영역이 제1 공진기 유니트를 구성하고,상기 제2 전극 핑거와 상기 제N 스트립 라인 전극이 교차하는 영역이 제2 공진기 유니트를 구성하며,제m 스트립 라인 전극으로부터 제m+1 스트립 라인 전극까지의 각각이 소정의 길이로 교차하는 영역에 의해 N-1개의 공진기 유니트를 구성하고,상기 제1 공진기 유니트로부터 상기 제N+1 공진기 유니트까지는, 상기 제1 스트립 라인 전극으로부터 상기 제N 스트립 라인 전극을 통해서 직렬로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제9항에 있어서,상기 스트립 라인 전극은 N=2이고,상기 제1 스트립 라인 전극과 상기 제2 스트립 라인 전극 중 적어도 한쪽은 도그레그 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제2항에 있어서,상기 제1 전극 핑거 사이 또는 상기 제2 전극 핑거 사이의 적어도 한쪽에, 스트립 라인 전극과 대향하는 더미 전극을 배치하는 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제11항에 있어서,상기 더미 전극의 길이를, 탄성 표면파의 파장을 λ로 하였을 때, λ/2 이상으로 한 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제11항에 있어서,상기 더미 전극과, 대향하는 상기 스트립 라인 전극의 간격을, 탄성 표면파의 파장을 λ로 하였을 때, λ/4 이하로 한 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 제11항에 있어서,상기 더미 전극의 전극폭을, 상기 제1 전극 핑거 및 상기 제2 전극 핑거의전극폭보다 큰 형상으로 한 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 공진기.
- 압전 기판과,상기 압전 기판 상에 다수개의 탄성 표면파 공진기를 배열하여 구성되고,상기 다수개의 탄성 표면파 공진기의 적어도 일부는,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극이 제1 전극 핑거와 제2 전극 핑거와 스트립 라인 전극을 포함하고, 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는 서로 교차하지 않으며, 상기 스트립 라인 전극을 통해서 음향적으로 결합된 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 필터.
- 압전 기판과,탄성 표면파의 전파 방향을 따라서 상기 압전 기판 상에 근접하여 배치된 다수의 인터 디지털 트랜스듀서 전극과, 상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극의 바깥쪽에 반사기 전극이 배치되어 세로 결합으로 된 필터 패턴을, 다수개 탄성 표면파의 전파 방향과 직교하는 방향으로 설치한 구성으로 이루어지고,다수의 상기 필터 패턴 중의 적어도 하나의 상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극이 제1 전극 핑거와 제2 전극 핑거와 스트립 라인 전극을 포함하고, 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는 서로 교차하지 않으며, 상기 스트립 라인 전극을 통해서 음향적으로 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 필터.
- 제16항에 있어서,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극은 3개로 이루어지고,중앙부에 설치된 인터 디지털 트랜스듀서 전극은, 제1 전극 핑거와 제2 전극 핑거와 스트립 라인 전극을 포함하고, 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거는 서로 교차하지 않으며, 상기 스트립 라인 전극을 통해서 음향적으로 결합되고,상기 중앙부의 인터 디지털 트랜스듀서 전극의 양측에 배치된 인터 디지털 트랜스듀서 전극은, 2개의 인터 디지털 트랜스듀서 전극 패턴을 각각 병렬 접속한 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 필터.
- 통과 대역 및 저지역 특성이 다른 다수의 탄성 표면파 필터가 일체화하여 구성되고,상기 탄성 표면파 필터는,압전 기판과,상기 압전 기판 상에 다수개의 탄성 표면파 공진기를 배열하여 구성되고,상기 다수개의 탄성 표면파 공진기의 적어도 일부는,상기 인터 디지털 트랜스듀서 전극이, 제1 전극 핑거와, 상기 제1 전극 핑거와 대향하는 위치에 배치된 제2 전극 핑거와, 스트립 라인 전극을 포함하며, 상기 제1 전극 핑거와 상기 제2 전극 핑거가 상기 스트립 라인 전극을 통해서 음향적으로 결합된 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 안테나 공용기.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20040327 |
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PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20050929 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20040327 Comment text: Patent Application |
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PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20060928 Patent event code: PE09021S01D |
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E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20070427 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20060928 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |