[go: up one dir, main page]

KR20030086228A - 압력 센서 - Google Patents

압력 센서 Download PDF

Info

Publication number
KR20030086228A
KR20030086228A KR10-2003-0016133A KR20030016133A KR20030086228A KR 20030086228 A KR20030086228 A KR 20030086228A KR 20030016133 A KR20030016133 A KR 20030016133A KR 20030086228 A KR20030086228 A KR 20030086228A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pressure sensor
pressure
semiconductor material
diaphragm
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
KR10-2003-0016133A
Other languages
English (en)
Inventor
헨리크야코브센
Original Assignee
센소노르 아사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 센소노르 아사 filed Critical 센소노르 아사
Publication of KR20030086228A publication Critical patent/KR20030086228A/ko
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0072Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
    • G01L9/0073Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance using a semiconductive diaphragm
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D48/00Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
    • H10D48/50Devices controlled by mechanical forces, e.g. pressure
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/06Means for preventing overload or deleterious influence of the measured medium on the measuring device or vice versa
    • G01L19/069Protection against electromagnetic or electrostatic interferences

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

본 발명의 축전형 압력 센서는, 상부에 형성된 전극을 갖는 유리 플레이트를 구비하여 구성된다. 격막이 반도체 물질로 형성되고, 전극의 적어도 일부를 포함하는 밀봉된 공동을 정의하기 위하여 유리 기판에 접착됨에 따라 결정될 압력을 나타내는 캐패시턴스를 결정하기 위하여 전기 신호가 통과될 수 있는 축전 요소(capacitive element)를 정의한다.

Description

압력 센서{PRESSURE SENSOR}
압력 센서는 의료 기구, 엔진 제어와 타이어 압력 측정과 같은 자동차 산업, 산업 공정 제어 및 항공 전자 산업 등의 중요한 분야를 포함한 크고 점점 더 다양한 분야에서 광범위하게 사용되고 있다. 실리콘 기반의 압력 센서에서 가장 일반적으로 사용되는 변환 원리는 축전형(capacitive) 감지 및 압전저항형(piezoresistive) 감지이다.
압전저항형 센서는 일반적으로 축전형 센서보다 더 안정적이라고 생각된다. 압전저항형 센서의 또 다른 장점은 우수한 선형성(linearity)을 갖고 입력에 비례하는 출력 신호를 제공한다는 것이다. 반면에, 축전형 센서는 압전저항형 센서에 비해 작은 전력을 소비한다는 점에서 장점을 갖는다. 그러나 축전형 센서는 비선형의 직접적인 출력 신호를 갖고 전자파 장애에 더 민감하다. 축전형 실리콘 센서는 크기를 작게할 수 있고, 표면 마이크로머시닝(surface micromachining)에 의해서 용이하게 제조할 수 있다. 그러나, 축전형 실리콘 센서는 그다지 안정적이지 못하고, 대부분의 응용에 있어서 축전형 실리콘 센서의 압력에 민감한 격막(diaphragm)이 겔(gel) 또는 다른 유연성있는 물질에 의해 압력 매체로부터 보호되어야 한다.이것은 격막의 상부에 부가된 덩어리(mass)에 의한 진동 감도의 증가를 초래한다. 실리콘 압력 센서 및 관성 센서(inertial sensor)의 고도하며 충분히 검증된 제조 방법은 유럽특허공보 EP-A-742581 및 EP-A-994330 에 개시되어 있다.
본 발명은 상기한 점을 감안하여 발명된 것으로, 상기한 문제점을 극복할 수 있는, 압력 측정을 위한 축전형 실리콘 센서 배열(arrangement)을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 축전형 절대 압력(absolute pressure) 센서의 제1실시예의 단면도,
도 2는 도 1에 도시된 압력 센서의 상부 평면도로서, 도 1에 의한 단면도는 A-A 선에 따른 도면,
도 3은 도 1의 압력 센서의 단면도로서, 더 향상된 기계적 안정성을 위한 제2유리층과, 제1유리층을 통과하는 압력 도입부(inlet port)를 구비하는 것을 나타낸 도면,
도 4는 도 3의 일예로서, 압력에 노출되었을 때 격막이 더 활발한 피스톤 운동을 할 수 있도록, 격막에 돌기된 중앙 섹션을 갖춘 것을 나타낸 도면,
도 5는 본 발명에 따른 축전형 압력 센서의 제2실시예의 단면도로서, 압력 센서의 유리층에 전기적 상호연결부(interconnection)를 갖춘 것을 나타낸 도면,
도 6은 본 발명의 높은 정확도를 위한 예에서 사용될 수 있는, 2개의 정합(matched) 캐패시터를 사용한 축전형 측정 브리지(bridge)를 나타낸 도면,
도 7은 본 발명에 따른 2개의 정합 캐패시터를 갖는 칩의 단면도로서, 첫번째 캐패시터는 압력 도입부(inlet)를 구비하고, 두번째 캐패시터는 밀봉되고 정합된 기준(matched reference)으로 사용되는 것을 나타낸 도면,
도 8은 본 발명에 따른 차동측정장치를 나타낸 도면,
도 9a 내지 도 9g는 도 4에 도시된 센서를 제조하기 위해 사용될 수 있는 공정 시퀀스이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 상부에 형성된 전극을 갖는 유리 플레이트와; 반도체 물질로 형성되고, 상기 전극의 적어도 일부분을 포함하는 밀봉된 공동(cavity)을 정의하기 위하여 상기 유리 기판에 접착됨에 따라 결정될 압력을 나타내는 캐패시턴스를 결정하기 위하여 전기 신호가 통과될 수 있는 축전 요소(capacitive element)를 정의하는 격막을 구비하여 구성된 축전형 압력 센서를 제공한다.
상기 센서는 캐패시터의 이동성 전극(movable electrode)으로서 기능하는 압력에 민감한 격막과, 상기 캐패시터의 갭으로서 기능하고 바람직하게는 양극 접착에 의해 밀봉된 온칩(on-chip) 진공 기준 공간(vacuum reference volume) 및, 유리 상에 있는 상기 캐패시터의 반대편 전극을 갖는다. 이들은 유리 상의 금속 상호연결부(interconnect)와, 유리 상의 금속과 실리콘 부분 상의 금속 사이에 위치한 프레스 콘택트(press contact) 및, 밀폐되어 밀봉된 공동을 밀봉된 영역 외부의 금속상호연결부 및 배선 접착 영역으로 가로질러 연결하기 위한 실리콘 기판에 매립된 도전체(conductor)로 구성된 도전 시스템(conduction system)에 의해 밀봉된 공동의 외부에 연결된다.
더 높은 측정 정확도가 압력에 민감한 캐패시터로써 동일한 칩 상에 제2 매칭 캐패시터(matching capacitor)를 결합하고, 두 캐패시턴스 값의 상대적 차이를 측정함으로써 달성될 수 있다. 높은 정확도는 두 캐패시터들에 대한 패키징 스트레스(packaging stress)의 효과가 거의 동일함에 기인해서, 두 캐패시턴스 값의 온도 및 시간에 대한 영점의 양호한 매칭과 트래킹(tracking)에 의해서 얻어진다.
본 발명은 마이크로시스템(microsystem) 기술(MST) 및 미세전기기계 시스템(MEMS)에 널리 알려진 건식 식각과, 이방성(anisotropic)의 선택적 식각, 유리의 박막 도금(thin-film metallization) 및, 양극 접착(anodic bonding) 등의 모뎀(modem) 실리콘 벌크(bulk) 마이크로머시닝 공정과 결합된 실리콘 플래너(planar) 공정을 이용함으로써 제조할 수 있다.
(실시예)
이하, 예시도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.
본 발명에 따른 센싱 장치가 도 1 및 도 2에 도시된다.
상기 센서는 단단한 지지용 테(101;support rim)를 갖는 기판(100) 상에 형성된 실리콘 부(10)와, 제1 도전형의 테(101)의 일부분인 표면층 및, 얇고 유연성이 있는 격막(103)을 갖는다.
실리콘 기판(10)은 제1 도전형의 에피택셜층(102) 하부에 매립된 제2 도전형의 도핑된 도전체(conductor)(106) 및, 금속 상호연결부(108, 109)를 구비하는 전기적 도전 시스템을 포함한다. 매립된 도전체(106)와 금속 상호연결부(108, 109)는 제2 도전형의 플러그 확산 영역(105a, 105b;plug diffusion)을 매개로, 그리고 표면 패시베이션(passivation)층(111)에 형성된 접촉 구멍(contact hole)을 통해 서로 전기적으로 연결된다. 홈이 격막을 지나 연장되는 영역의 실리콘부에 식각된다.
제1유리부(120)는 그 표면에 금속 상호연결부에 의해 형성되고, 실리콘 격막(103)과 대향하는 플레이트 전극을 형성하는 박막 표면 도전 시스템(121)을 갖는다. 제1유리부(120)는 실리콘부(10)에 양극 접착됨으로써 완전히 밀봉된 링(130;ring)을 형성한다. 실리콘부에 식각된 홈은 축척화된(scaled) 진공 기준 공간(115)을 형성한다.
기판(10)과 제1유리부(120)는 제1유리부(120) 상에 제1전극으로서 기능하는 금속층(121)과 함께 축전형 센싱 장치를 형성한다. 이러한 전극은 밀봉된 영역(130) 하부의 전극(121), 상호연결부(108)와, 매립된 도전체(106) 사이에 형성된 프레스 콘택트을 매개로 밀봉된 공동(cavity)의 외부에 위치한 배선 접착 패드(109)와 전기적으로 연결된다. 밀봉된 공동(115)은 캐패시터 내에서 전기적 절연 갭(isolation gap)으로서 기능한다. 유연성 있는 격막(103)은 가변 캐패시터의 제2전극이 되고, 표면층(101)을 통해 밀봉된 공동 외부에 있는 배선 접착 패드(112)(도 1에는 도시되지 않았음)에 전기적으로 연결된다.
이러한 센싱 기능은 압력이 격막(103)을 반대편 전극(121) 방향으로 누르도록 작용할 때, 캐패시터 내의 갭(115)이 작아져 캐패시턴스가 증가하는 것에 의해 제공된다.
바람직하게는 도 3에 도시된 바와 같이 구멍(126)을 갖는 제2유리 기판(125)이 밀봉부(127)와 함께 실리콘 기판에 접착된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 센싱 장치는 실리콘 격막의 중앙 부분을 강화하기 위한 중앙 돌기 구조(104)를 갖도록 변형될 수 있다.
또한 도 5에 도시된 바와 같이, 센싱 장치는 유리부(120) 상의 배선 접착 패드(129)와, 유리부 상의 상호연결부와 실리콘부 사이의 부가적인 프레스 콘택트(123)를 갖도록 변형될 수 있다.
상기 예들에서는 하나의 캐패시터를 갖는 압력 센서들이 개시되었다. 낮은 장기 표류(long term drift)와 함께 높은 전체 측정 정확도가 요구되는 응용을 위해 상기 장치들이 변형될 수 있다.
2개의 캐패시터가 구비된 센싱 장치가 도 7에 개시된다. 이러한 센싱 장치에 있어서, 하나의 캐패시터가 상기에서 설명한 바와 같이 압력에 민감한 캐패시터로 제조된다. 그리고, 다른 캐패시터가 압력 도입부를 갖고 있지 않기 때문에 압력에 민감하지 않다는 점을 제외하고는 전자의 캐패시터와 동일하다. 결과적으로 격막(233)에는 어떠한 압력 차이도 감지되지 않는다. 2개의 캐패시터는 압력이 인가되지 않을 때 캐패시턴스 값의 최선의 매치(match)를 달성하기 위하여 동일하다.
도 8에 도시된 바와 같이, 센싱 장치는 2개의 도입부(326,336) 및, 공통의 진공 기준 공간(315,335)을 갖는 차동(differential) 압력 센서로서 만들어질 수있다.
도 9a 내지 도 9g는 (도 4에 도시된) 본 발명에 따른 장치의 제조 공정의 시퀀스를 도시하고 있다. 시퀀스의 간단성은 복잡하지 않고, 결과적으로 저비용의 제조 공정이 될 수 있게 한다는 것을 알 수 있다.
본 예에 있어서, 제조 공정은 <1-0-0> 의 방위를 갖는 p형 실리콘기판(100)으로 시작한다(도 9a 참조). 도 9b를 참조하면, 기판에 n영역(101, 104)을 형성하기 위해 표준 리소그래피(lithography) 방법과, 이온 주입 및, 인(P)과 같은 n형 도핑의 고온 확산이 사용된다. 다음 단계는 붕소(B)의 주입과 드라이브 인(drive-in) 확산에 의한 p형 영역(106)을 형성하는 것이다. 도 9c를 참조하면, n형 에피택셜층(102)이 매립된 p형 영역(106)을 형성하기 위해 실리콘 기판의 상부면에 성장된다. 이어서, 도 9d에 도시된 바와 같이, 건식 식각 및/또는 습식 식각에 의해 에피택셜층(102)의 표면에 홈이 형성된다. 도 9d에서 두 번의 식각 단계가 수행된다. 하나는 도 9e에 도시된 바와 같이 이후에 형성될 프레스 콘택트(108)를 위한 간격을 형성하는 것이고, 다른 하나는 캐패시터 내의 갭을 형성하기 위한 것이다(도 9g의 참조부호 D 참조). 이어서, 붕소(B)를 이용하여 형성된 콘택트 확산 영역(105a, 105b)이 매립된 도전체(106)의 양 끝단에 형성된다. 도 9e에 도시한 바와 같이, 접촉 구멍이 패시베이션층(111)에 형성되고, 이어서 알루미늄 등의 금속을 이용한 금속 상호연결부 및 배선 접착 영역(109)이 형성된다. 도 9f에 도시한 바와 같이, 기판의 반대편에 식각 마스크를 이용한 이방성의 선택적 식각이 수행된다. 이러한 전기화학적 식각은 기판(100)과 n영역(101,104) 및 n형 에피택셜층(102) 간의 pn 접합 까지 수행된다. 여기서, 압력에 민감한 격막이 에피택셜층(102)의 일부분으로 형성된 얇고 유연성 있는 영역과, 단단한 중앙 섹션(104)으로 형성된다.
이어서, 이미 금속 전극과 박막 상호연결부(121)가 형성된 유리 기판(120)을 진공상태에서 실리콘 기판(100)에 양극 접착한다. 그러면 도 9g 및 도 4에 도시된 바와 같이 양극 접착된 밀봉 영역(130) 및 실리콘 기판의 표면에 식각된 홈에 의해 형성된 밀봉된 공동(115)을 갖는 구조가 형성되어 압력 센서의 제조가 완성된다.
상기한 바와 같이 본 발명에 의하면, 우수한 매체 적합성을 갖고, 안정적이며 신뢰할 수 있는 압력 센서가 제공된다. 또한 본 발명의 제조 공정 기술은 자동차 산업 등의 대용량 응용 분야에 유익하도록 제조 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.

Claims (16)

  1. 상부에 형성된 전극을 갖는 유리 플레이트와;
    반도체 물질로 형성되고, 상기 전극의 적어도 일부를 포함하는 밀봉된 공동을 정의하기 위하여 상기 유리기판에 접착됨에 따라 결정될 압력을 나타내는 캐패시턴스를 결정하기 위하여 전기 신호가 통과될 수 있는 축전 요소(capacitive element)를 정의하는 격막을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 축전형 압력 센서.
  2. 제1항에 있어서, 상기 격막이 상기 반도체 물질을 마이크로머시닝(micro-machining)함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 반도체 물질이 실리콘인 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 반도체 물질이 단단한 지지용 테(support rim)를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 전기 커넥터(connector)가 상기 전극 및 상기 격막에 각각 제공되는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  6. 제5항에 있어서, 상기 전극용 상기 전기 커넥터가 상기 반도체 물질 내에 형성된 도핑된 도전체에 의해 제공되는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  7. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 격막용 상기 전기 커넥터가 상기 반도체 물질에 의해서 제공되는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 유리 기판과 상기 반도체 물질 사이의 밀봉이 양극 접착(anodic bonding)에 의해서 제공되는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 압력 도입부를 형성하는 구멍을 갖는 제2유리기판이, 반도체 물질의 층이 유리기판의 2개의 층 사이에 샌드위치되도록(sandwiched) 상기 반도체 물질에 접착되는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 격막이 단단한 중앙 돌기를 포함하는 것을 특징으로 하는 압력 센서.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 부가적인 프레스 콘택트가 다른 장치들과의 상호 작용을 위하여 상기 공동의 외부에 제공되는 것을 특징으로 하는압력 센서.
  12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따른, 적어도 2 개 이상의 축전형 압력 센서를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 압력 센서 시스템.
  13. 제12항에 있어서, 상기 각 압력 센서들의 상기 격막이 반도체 물질의 단일 섹션(section)으로 형성되는 것을 특징으로 하는 압력 센서 시스템.
  14. 제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 각 압력 센서가 동일한 유리 플레이트를 공유하는 것을 특징으로 하는 압력 센서 시스템.
  15. 제12항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 각 압력 센서가 압력 도입부를 갖춤에 따라 상기 시스템이 차동 압력 센서 장치가 되도록 된 것을 특징으로 하는 압력 센서 시스템.
  16. 제12항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 하나의 압력 센서가 압력 도입부를 갖추지 않음에 따라 이 센서가 기준 센서가 되도록 된 것을 특징으로 하는 압력 센서 시스템.
KR10-2003-0016133A 2002-05-01 2003-03-14 압력 센서 Withdrawn KR20030086228A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP02253102.4 2002-05-01
EP02253102.4A EP1359402B1 (en) 2002-05-01 2002-05-01 Pressure sensor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20030086228A true KR20030086228A (ko) 2003-11-07

Family

ID=28799736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2003-0016133A Withdrawn KR20030086228A (ko) 2002-05-01 2003-03-14 압력 센서

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6874367B2 (ko)
EP (1) EP1359402B1 (ko)
JP (1) JP2004132947A (ko)
KR (1) KR20030086228A (ko)
CN (1) CN1279340C (ko)
BR (1) BR0300955A (ko)

Families Citing this family (64)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7420659B1 (en) 2000-06-02 2008-09-02 Honeywell Interantional Inc. Flow control system of a cartridge
US7111518B1 (en) * 2003-09-19 2006-09-26 Silicon Microstructures, Inc. Extremely low cost pressure sensor realized using deep reactive ion etching
US7096738B2 (en) * 2004-03-18 2006-08-29 Rosemount Inc. In-line annular seal-based pressure device
US7028552B2 (en) * 2004-05-17 2006-04-18 Kavlico Corporation Reliable piezo-resistive pressure sensor
US6952955B1 (en) 2004-07-28 2005-10-11 Lear Corporation Adjustable mounting of tire monitoring assembly
US6904795B1 (en) 2004-09-14 2005-06-14 Lear Corporation Sealed mounting of tire monitoring assembly
US6923069B1 (en) 2004-10-18 2005-08-02 Honeywell International Inc. Top side reference cavity for absolute pressure sensor
US7346178B2 (en) * 2004-10-29 2008-03-18 Silicon Matrix Pte. Ltd. Backplateless silicon microphone
US7222639B2 (en) 2004-12-29 2007-05-29 Honeywell International Inc. Electrostatically actuated gas valve
US7328882B2 (en) 2005-01-06 2008-02-12 Honeywell International Inc. Microfluidic modulating valve
US7445017B2 (en) 2005-01-28 2008-11-04 Honeywell International Inc. Mesovalve modulator
EP1707931B1 (en) * 2005-03-31 2013-03-27 STMicroelectronics Srl Analog data-input device provided with a microelectromechanical pressure sensor
US7517201B2 (en) 2005-07-14 2009-04-14 Honeywell International Inc. Asymmetric dual diaphragm pump
US7622782B2 (en) 2005-08-24 2009-11-24 General Electric Company Pressure sensors and methods of making the same
EP1762925B1 (en) * 2005-09-09 2016-12-21 STMicroelectronics Srl Analog input device with integrated pressure sensor and electronic apparatus equipped with said input device.
US7624755B2 (en) 2005-12-09 2009-12-01 Honeywell International Inc. Gas valve with overtravel
EP1811666A1 (en) * 2006-01-19 2007-07-25 3M Innovative Properties Company Proximity sensor and method for manufacturing the same
US7523762B2 (en) 2006-03-22 2009-04-28 Honeywell International Inc. Modulating gas valves and systems
US7487681B1 (en) * 2006-08-06 2009-02-10 Silicon Microstructures Inc. Pressure sensor adjustment using backside mask
KR101004574B1 (ko) 2006-09-06 2010-12-30 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤 반도체 센서 장치 및 그 제조 방법
US7543604B2 (en) * 2006-09-11 2009-06-09 Honeywell International Inc. Control valve
US7644731B2 (en) 2006-11-30 2010-01-12 Honeywell International Inc. Gas valve with resilient seat
CN101620022B (zh) * 2008-07-01 2011-12-21 欣兴电子股份有限公司 压力感测元件封装及其制作方法
US7793550B2 (en) 2008-08-25 2010-09-14 Infineon Technologies Ag Sensor device including two sensors embedded in a mold material
US8358047B2 (en) * 2008-09-29 2013-01-22 Xerox Corporation Buried traces for sealed electrostatic membrane actuators or sensors
US20100314149A1 (en) * 2009-06-10 2010-12-16 Medtronic, Inc. Hermetically-sealed electrical circuit apparatus
US8172760B2 (en) 2009-06-18 2012-05-08 Medtronic, Inc. Medical device encapsulated within bonded dies
US11169010B2 (en) * 2009-07-27 2021-11-09 Integra Lifesciences Switzerland Sàrl Method for the calibration of an implantable sensor
CN101661012B (zh) * 2009-08-11 2013-03-13 南京理工大学 用于生化检测的微薄膜电容式表面应力传感器及其制作方法
US8393222B2 (en) * 2010-02-27 2013-03-12 Codman Neuro Sciences Sárl Apparatus and method for minimizing drift of a piezo-resistive pressure sensor due to progressive release of mechanical stress over time
US8490495B2 (en) * 2010-05-05 2013-07-23 Consensic, Inc. Capacitive pressure sensor with vertical electrical feedthroughs and method to make the same
DE102010038534A1 (de) * 2010-07-28 2012-02-02 Robert Bosch Gmbh Sensorelement zur kapazitiven Differenzdruckmessung
US8666505B2 (en) 2010-10-26 2014-03-04 Medtronic, Inc. Wafer-scale package including power source
US8424388B2 (en) 2011-01-28 2013-04-23 Medtronic, Inc. Implantable capacitive pressure sensor apparatus and methods regarding same
US8590387B2 (en) 2011-03-31 2013-11-26 DePuy Synthes Products, LLC Absolute capacitive micro pressure sensor
DE102011081887A1 (de) * 2011-08-31 2013-02-28 Robert Bosch Gmbh Polymerschichtsystem-Drucksensorvorrichtung und Polymerschichtsystem-Drucksensorverfahren
US8905063B2 (en) 2011-12-15 2014-12-09 Honeywell International Inc. Gas valve with fuel rate monitor
US9995486B2 (en) 2011-12-15 2018-06-12 Honeywell International Inc. Gas valve with high/low gas pressure detection
US9835265B2 (en) 2011-12-15 2017-12-05 Honeywell International Inc. Valve with actuator diagnostics
US9074770B2 (en) 2011-12-15 2015-07-07 Honeywell International Inc. Gas valve with electronic valve proving system
US8839815B2 (en) 2011-12-15 2014-09-23 Honeywell International Inc. Gas valve with electronic cycle counter
US9846440B2 (en) 2011-12-15 2017-12-19 Honeywell International Inc. Valve controller configured to estimate fuel comsumption
US8899264B2 (en) 2011-12-15 2014-12-02 Honeywell International Inc. Gas valve with electronic proof of closure system
US8947242B2 (en) 2011-12-15 2015-02-03 Honeywell International Inc. Gas valve with valve leakage test
US9851103B2 (en) 2011-12-15 2017-12-26 Honeywell International Inc. Gas valve with overpressure diagnostics
US9557059B2 (en) 2011-12-15 2017-01-31 Honeywell International Inc Gas valve with communication link
US9219020B2 (en) 2012-03-08 2015-12-22 Infineon Technologies Ag Semiconductor device, wafer assembly and methods of manufacturing wafer assemblies and semiconductor devices
US9234661B2 (en) 2012-09-15 2016-01-12 Honeywell International Inc. Burner control system
US10422531B2 (en) 2012-09-15 2019-09-24 Honeywell International Inc. System and approach for controlling a combustion chamber
US9366593B2 (en) * 2013-09-27 2016-06-14 Infineon Technologies Ag Pressure sensor package with integrated sealing
EP2868970B1 (en) 2013-10-29 2020-04-22 Honeywell Technologies Sarl Regulating device
CN103606565B (zh) * 2013-11-27 2016-05-11 苏州科技学院 压力传感器敏感元件的制造工艺
US10024439B2 (en) 2013-12-16 2018-07-17 Honeywell International Inc. Valve over-travel mechanism
US9267857B2 (en) * 2014-01-07 2016-02-23 Honeywell International Inc. Pressure sensor having a bossed diaphragm
JP6331447B2 (ja) * 2014-02-14 2018-05-30 オムロン株式会社 静電容量型圧力センサ及び入力装置
US9841122B2 (en) 2014-09-09 2017-12-12 Honeywell International Inc. Gas valve with electronic valve proving system
US9645584B2 (en) 2014-09-17 2017-05-09 Honeywell International Inc. Gas valve with electronic health monitoring
US10503181B2 (en) 2016-01-13 2019-12-10 Honeywell International Inc. Pressure regulator
US10549982B2 (en) 2016-02-15 2020-02-04 Stmicroelectronics S.R.L. Pressure sensor encapsulated in elastomeric material, and system including the pressure sensor
US10221062B2 (en) * 2016-10-03 2019-03-05 Continental Automotive Systems, Inc. Cavity with silicon on insulator MEMS pressure sensing device with an extended shallow cross-shaped cavity
US10564062B2 (en) 2016-10-19 2020-02-18 Honeywell International Inc. Human-machine interface for gas valve
CN107290084B (zh) * 2017-06-28 2019-08-30 京东方科技集团股份有限公司 一种压力传感器及其制作方法、电子器件
US11073281B2 (en) 2017-12-29 2021-07-27 Honeywell International Inc. Closed-loop programming and control of a combustion appliance
US10697815B2 (en) 2018-06-09 2020-06-30 Honeywell International Inc. System and methods for mitigating condensation in a sensor module

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4388668A (en) * 1976-03-12 1983-06-14 Kaylico Corporation Capacitive pressure transducer
US4426673A (en) * 1976-03-12 1984-01-17 Kavlico Corporation Capacitive pressure transducer and method of making same
US4390925A (en) * 1981-08-26 1983-06-28 Leeds & Northrup Company Multiple-cavity variable capacitance pressure transducer
FI75426C (fi) * 1984-10-11 1988-06-09 Vaisala Oy Absoluttryckgivare.
US4730496A (en) * 1986-06-23 1988-03-15 Rosemount Inc. Capacitance pressure sensor
US4872945A (en) * 1986-06-25 1989-10-10 Motorola Inc. Post seal etching of transducer diaphragm
US5113868A (en) * 1987-06-01 1992-05-19 The Regents Of The University Of Michigan Ultraminiature pressure sensor with addressable read-out circuit
US4996627A (en) * 1989-01-30 1991-02-26 Dresser Industries, Inc. High sensitivity miniature pressure transducer
US5174156A (en) * 1990-07-27 1992-12-29 Honeywell Inc. Pressure transducer with reduced offset signal
DE4207952C1 (en) * 1992-03-10 1993-04-15 Mannesmann Ag, 4000 Duesseldorf, De Capacitative differential pressure sensor for simple mfr. - comprises silicon diaphragm with edges having thinned areas, leaving central area, pressure input channels aligned with thickened edge region, and flat recesses
JPH0666658A (ja) * 1992-08-15 1994-03-11 Stec Kk 静電容量型圧力センサ
JPH07167725A (ja) * 1993-12-14 1995-07-04 Yazaki Corp 静電容量型圧力センサとその製造方法
WO1996013705A1 (de) * 1994-10-29 1996-05-09 Joshua Lanter Verfahren zum herstellen von durchführungen elektrischer leitungen durch gasdichte verbindungen zwischen glas und silizium o.dgl. und von gasdichten durchführungen durch solche verbindungen und von drucksensoren mit solchen durchführungen
FI100918B (fi) * 1995-02-17 1998-03-13 Vaisala Oy Pintamikromekaaninen, symmetrinen paine-eroanturi
JP3107516B2 (ja) * 1996-05-01 2000-11-13 株式会社日立製作所 複合センサ
US5792958A (en) * 1997-01-21 1998-08-11 Honeywell Inc. Pressure sensor with a compressible insert to prevent damage from freezing
JP3299715B2 (ja) * 1998-04-01 2002-07-08 長野計器株式会社 チップの電位取出構造および製造方法
US6109113A (en) * 1998-06-11 2000-08-29 Delco Electronics Corp. Silicon micromachined capacitive pressure sensor and method of manufacture
WO2000011444A1 (en) * 1998-08-19 2000-03-02 Wisconsin Alumni Research Foundation Sealed capacitive pressure sensors
KR100300527B1 (ko) * 1998-09-03 2001-10-27 윤덕용 밀봉형무선압력측정소자및그제조방법
DE19931773C1 (de) * 1999-07-08 2000-11-30 Daimler Chrysler Ag Mikromechanisches Bauelement mit Kontaktdurchführungen, sowie Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements

Also Published As

Publication number Publication date
EP1359402B1 (en) 2014-10-01
US20030205090A1 (en) 2003-11-06
US6874367B2 (en) 2005-04-05
CN1455234A (zh) 2003-11-12
JP2004132947A (ja) 2004-04-30
CN1279340C (zh) 2006-10-11
EP1359402A1 (en) 2003-11-05
BR0300955A (pt) 2004-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6874367B2 (en) Pressure sensor
US7150195B2 (en) Sealed capacitive sensor for physical measurements
KR100486322B1 (ko) 반도체압력센서
US7918136B2 (en) Micromechanical sensor element
US7305889B2 (en) Microelectromechanical system pressure sensor and method for making and using
US9764947B2 (en) Piezoresistive pressure sensor device
KR100502497B1 (ko) 다이어프램식 반도체 압력 센서
US7681457B2 (en) Micromechanical pressure sensing device
CN106092428B (zh) 具有高灵敏度和高精确度的压力传感器器件
US7997142B2 (en) Low pressure sensor device with high accuracy and high sensitivity
US20030015040A1 (en) Capacitive type of pressure sensor
CN113428829B (zh) 一种mems湿压集成传感器及制备方法
KR20010032103A (ko) 마이크로-기계적 차압 감응 장치
US6518084B1 (en) Method of producing a micromechanical structure for a micro-electromechanical element
JP6130405B2 (ja) 微小機械測定素子
US20240302236A1 (en) Sensor Package With A Sensor Die
CN109341932B (zh) 一种压力传感器芯片及其制造方法
CN113353883B (zh) 一种基于相位检测原理的mems压力传感器及制备方法
CN222460886U (zh) 压力传感装置
CN115615587B (zh) 压力传感器
CN119124413A (zh) 一种mems压阻式压力传感器及其制备方法
CN114199428A (zh) 一种mems内腔局部减薄工艺方法及其应用
CN113247857A (zh) 一种高可靠性mems压力传感器结构及封装方法

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20030314

PG1501 Laying open of application
PC1203 Withdrawal of no request for examination
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid