KR20010049584A - 유기구리 선구물질 배합물 및 화학 기상 증착에 의한 구리증착 방법 - Google Patents
유기구리 선구물질 배합물 및 화학 기상 증착에 의한 구리증착 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20010049584A KR20010049584A KR1020000034116A KR20000034116A KR20010049584A KR 20010049584 A KR20010049584 A KR 20010049584A KR 1020000034116 A KR1020000034116 A KR 1020000034116A KR 20000034116 A KR20000034116 A KR 20000034116A KR 20010049584 A KR20010049584 A KR 20010049584A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- copper
- precursor
- blend
- tmvs
- weight
- Prior art date
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 59
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims abstract description 58
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 56
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 56
- 239000002243 precursor Substances 0.000 title claims abstract description 20
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 title claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000009472 formulation Methods 0.000 claims abstract description 33
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 claims abstract description 16
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C=C GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 8
- 239000012691 Cu precursor Substances 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- MBDSOAUNPWENPB-UHFFFAOYSA-N copper 3-methylbut-2-en-2-ylsilane Chemical compound [Cu].CC(C)=C(C)[SiH3] MBDSOAUNPWENPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 21
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 3
- XNMQEEKYCVKGBD-UHFFFAOYSA-N 2-butyne Chemical compound CC#CC XNMQEEKYCVKGBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 150000004683 dihydrates Chemical group 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000004584 weight gain Effects 0.000 description 2
- 235000019786 weight gain Nutrition 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010960 commercial process Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 1
- 239000013049 sediment Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/06—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
- C23C16/18—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metallo-organic compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/448—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
- C23C16/4485—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by evaporation without using carrier gas in contact with the source material
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
구리 필름의 성질을 개선하는 것으로 구리 필름은 구리 헥사플루오르아세틸아세토네이트 트리메틸비닐실란의 배합물의 유기구리 선구물질과 기화기내에서 기화되어, 화학 기상 증착 챔버로 보내지는 트리메틸비닐실란의 약 1.0 내지 5.0 중량%로부터 화학 기상 증착에 의해 증착된다. 이와는 따로, 수증기는 선구물질 배합물의 약 2 중량%까지는 챔버에 직접 추가된다.
Description
본 발명은 유기구리 선구물질과 화학 기상 증착 구리 필름의 개선에 관한 것이다. 특히 본 발명은 저 저항성 및 개선된 형태(morphology)를 가진 구리 필름을 증착하는 보다 열적으로 안정한 구리 선구물질과 이런 구리 필름을 높은 생산량과 감소된 미립자 오염으로 제조하는 방법에 관한 것이다.
집적회로가 보다 소형화되고 보다 더 조밀해짐에 따라, 금속 배선은 보다 좁게 만들어져야 하고, 금속의 전자이동은 보다 많은 문제점으로 된다. 알루미늄은 때때로, 쉽게 증착되고, 도전성이고, 실리콘과 혼합시에 적절한 전자이동 성질을 가지기 때문에, 이러한 금속으로 선택되어져 왔다. 그러나, 디자인 룰이 1/4 마이크론 이하로 감소함에 따라, 알루미늄의 라인 폭은 한계에 도달된다.
증가된 도전성에 의해서, 소형 디자인 룰 집적회로에 맞는 구리 라인 및 바이어스의 사용은 구리 라인이 알루미늄 라인에 필요한 폭의 약 1/2가 될 수 있기 때문에 보다 매력적이 된다. 그러나, 구리의 사용은 인접한 소자로 구리의 전자이동의 위험이 증가할 때, 상승 온도가 증착 및 제거에 사용되어야 하기 때문에, 제한된다.
최근에, 몇 몇 기준은 유기 선구물질, 헥사플루오르아세틸아세토네이트- Cu-트리메틸비닐실란(이후에, hfac-Cu-TMVS로 칭함)으로부터 구리 필름을 증착하기 위한 화학 기상 증착 공정에 관계되어 있다. 이 선구물질은 상당히 낮은 온도, 즉, 200℃ 아래에서 용해되어, 저 필름 저항성을 가진 구리 필름을 만든다. 그러나, 이렇게 만든 구리 필름은 아래 표면, 특히 TiN 또는 Ta 배리어 층에 나쁜 접착성을 주며, 선구물질은 특히 실온 또는 고온에서 불안정하다. 더욱이, 구리의 증착 속도는 낮다.
그러므로, 다양한 접착제가 필름질, 증착 속도 및 선구물질의 열 안정성을 개선하기 위해서, hfac-Cu-TMVS과 조합하여 사용하는 것이 제안되어 있다. Galatos등의 Appl. Phys. Lett. 63(20), 15 Nov, 1993 페이지 2842-2844에 의해 공지된 바와 같이, 구리 선구물질에 수증기의 첨가는 증착 속도를 개선하지만 저항성을 감소한다. Materials Research Soc.의 1995, Conf. Proceed ULSI-X 에서 Hochberg 등은 hfac-Cu-TMVS의 디하이드레이트 형태를 사용함으로써 물의 추가를 개시하고 있다. 이것은 구리 선구물질의 안정성과 구리 증착 속도를 개선한다. 그러나, 구리 필름은 저전도성이고 거칠며, 입자의 존재를 나타낸다. Chem. Mater. 1996, Vol. 8, 페이지 1119-1127에서 Jaim 등은 hfac-Cu-TMVS와 2-부틴으로부터 구리의 증착과, 또한 구리 선구물질에 물의 추가를 개시한다. 그러나, 증착된 구리 필름의 저항성은 높다.
미국 특허 제 5,744,192 호에서 Nguyen은 추가의 TMVS의 0.3 -3 중량%와 5중량%까지의 챔버 압력에서 상기 구리 선구물질에 물을 추가하여 선구물질의 안정성을 개선하는 것을 개시한다. 양성자화 hfac(Hfac)의 0.4 중량%까지 추가될 수 있어 구리의 증착속도를 증가할 수 있다. 그러나, 구리 선구물질의 이런 배합물은 상업적 프로세스에서 부적절하고, 증착된 필름의 필름 형태, 저항 및 순도 레벨은 부적절하다.
현재에, 구리의 CVD에 대한 가장 넓게 사용된 구리 선구물질은 hfac-Cu-TMVS, TMVS의 여분의 2.5 중량%과 H(fac) 디하이드레이트(HDH)의 0.4 중량%의 배합물이다. 이런 배합물의 목적은 여분의 TMVS를 추가함으로써 구리 선구물질의 열적 안정성을 개선하고, 여분의 HDH를 추가함으로써 구리의 증착 속도를 개선한다. 이런 배합물은 "배합물 2504"로서 Schumacher Co사로부터 이용가능하다. 그러나, 이런 배합물의 열 안정성은 TMVS의 여분의 2.5 중량%을 가질지라도 나쁘다. 이런 이유는 HDH가 상당히 낮은 온도에서 선구물질의 분해를 가속하기 때문이다. 가스성 선구물질을 증착챔버에 보내는데 사용된 기화기내에서의 구리 선구물질의 분해는 웨이퍼에 도달하기 전에 증착 재료의 입자가 형성되며, 웨이퍼에 필름의 접착성을 나쁘게 한다. 더욱이, 이런 배합물 성분의 화학 제어는 어렵기 때문에, HDH 농도는 배합물의 각 량에 따라 변한다.
웨이퍼상에 구리를 증착하기 위해서 상술한 배합물을 사용하기 위한 종래의 방법은 액체를 증발하는 기화기에 구리 선구물질을 추가하고 합성물(hfac 및 TMVS)을 배합하고, 그런 후에, 기판상에 구리를 분해해서 증착하는 CVD 챔버로 기체를 보내는 것이다.
그러므로, 안정성이 개선되고, 형태가 개선된 구리 증착 방법 및 저 구리 저항성을 가진 TMVS 구리 선구물질 배합물이 매우 바람직할 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 구리 필름을 증착하기 위해 유용한 화학 기상 증착 시스템의 대략적인 다이어그램.
도 2는 종래 기술과 본 발명에 따라서 증착된 구리 필름의 두께 대 436nm에서의 반사율 %의 그래프.
도 3은 종래 기술과 본 발명에 따라서 증착된 구리 필름의 두께 대 저항의 그래프.
도 4는 종래 기술의 배합물 및 본 발명의 배합물의 펌프 다운 시간 대 기화기 압력의 그래프.
hfac -Cu-TMVS와 HDH를 포함하지 않은 여분의 TMVS의 1.5 내지 2.5 중량%의 배합물이 종래의 배합물(blend)에 비해서 시간에 대해서 실온에서 열 안정성을 개선하는 것을 발견했다. 이런 배합물은 증발하고 그리고 나서 증착 챔버로 도입되며, 증착 챔버에서 소량의 물이 프로세싱 챔버에 증발된 구리 선구물질 배합물과 따로 직접 추가된다. 이렇게 하면 기화기내의 선구물질의 분해를 제거한다. 본 발명에 따라서 증착된 구리 필름은 종래 기술의 구리 증착과 비교해서 형태를 개선하며 저항성을 낮춘다. 본 발명의 배합물은 선구물질이 안정되도록 충분한 TMVS를 포함한다. 증착의 프로세스 동안, 상술한 배합물은 기화기로 보내지고, 기체는 화학 기상 증착 챔버로 도입된다. 소량의 수증기는 가스 입구 매니폴드와 같이, 프로세싱 챔버로 따로 직접 도입된다. 기판에 양호한 접착성, 저 저항성, 고 반사율 및 개선된 형태를 가진 증착 구리 필름은 높은 증착 속도로 얻어진다.
도 1은 본 발명의 방법을 실시할 수 있는 시스템의 대략적인 다이어그램이다.
시스템(10)은 hfac -Cu-TMVS와 여분의 TMVS를 포함하는 용기(12)를 포함한다. 배합물은 TMVS의 1.5 내지 2.5 중량%을 포함한다. 배합물은 기화기(14)를 통과하며, 여기서 배합물은 기화한다. 기화기(14)에 물을 추가하지 않는다. 배합된 기체는 차례로 CVD 챔버(16)로 도입된다. 챔버(16)는 처리되어질 기판을 지지하기 위한 서셉터(18)를 포함한다. 샤워헤드(20)는 서셉터(18)로부터 이격되고 평행하게 장착되어 있으며, 기화기로부터 이어지는 라인(22)과 수증기용 입구(24)에 연결되어 있다. 배기 라인(26)은 챔버(16)로부터 가스 및 증착 부산물을 배기하기 위한 진공 펌프(도시 생략)에 통해 있다. 구리 필름은 2(hfac) -Cu-(TMVS) → Cu°+ Cu(hfac)2+ 2TMVS와 같은 불균형 반응을 통해서 서셉터(18)에 의해 지지된 기판(28)상에 증착된다.
본 발명의 배합물은 hfac -Cu-TMVS와 여분의 TMVS의 1.5 내지 2.5 중량%를 포함한다. 배합물은 선구물질의 소량, 예를 들어 약 2 중량%까지, 적합하게 약 0.5 중량%의 챔버에 직접 공급된 수증기의 혼합된다.
일련의 비교 테스트는 hfac -Cu-TMVS와, TMVS의 2.5 중량%와 HDH의 0.4%의 종래의 배합물과 여분의 TMVS의 1.5 중량%를 포함하는 본 발명의 배합물에 따라서 만든 구리 필름상에서 실시했다.
증착된 구리 필름의 반사율은 구리 필름의 옴스트롱의 두께의 함수로서 436nm 광원을 사용해서 측정하였다. 그 결과 본 발명의 구리 필름은 도 2에 도시한 바와 같이 종래 배합물에서 증착된 구리 필름보다 높은 반사율을 가지며, 라인(A)은 종래 기술의 배합물을 사용해서 증착한 구리이고 라인(B)은 여분의 TMVS의 1.5 중량%을 포함하는 본 발명의 배합물을 사용해서 증착된 구리이다. 본 발명에 따라서 증착한 구리 필름의 반사율 및 그러므로 형태는 약 20% 정도 개선됨을 알 수 있다.
본 발명의 동일한 배합물을 사용해서 증착한 구리의 저항은 또한 도 3에 도시한 바와 같이, 종래 기술로서 상술한 "배합물 2504"와 비교되어 있다. 여분의 TMVS의 1.5 중량%를 사용해서 증착한 구리의 저항은 옴스트롱의 필름의 두께 대 μΩ- cm으로 표시되어 있다. 본 발명에 따라서 증착한 구리 필름(라인 (B))이 종래 기술의 배합물(라인(A))을 사용해서 증착한 구리 필름보다 낮은 저항을 가짐을 알 수 있다.
본 발명과 종래 기술의 배합물은 또한 열 안정성 면에서 비교하였다. 구리 필름을 TiN 배리어 층위에 종래 기술의 "배합물 2504"와 여분의 TMVS의 1.5 중량%의 배합물로부터 증착하였다. 구리 코팅 웨이퍼는 한 시간동안, 기화기에서와 동일한, 75℃에서 가열되어진다. 본 발명의 구리 층은 0.1 mg(사용된 발란스의 감지성 제한임)보다 적은 중량 이득(weigh gain)을 가진다. 그러나 종래 기술의 구리 층은 29.2 mg의 중량 이득을 가지므로, 본 발명의 구리 선구물질의 열 안정성을 크게 개선한 것을 볼 수 있다.
본 선구물질 배합물을 사용하는 기화기는 종래 기술의 배합물보다 구리 증착용 프로세스 압력을 보다 빠르게 얻는다. 기화기에 동일한 증착 시간과 구리 선구물질 유속을 사용하면, 기화기는 도 4에 도시한 바와 같이, 본 배합물이 사용될 때 보다 빨리 펌프 다운될 수 있다. 도 4에서, 정사각형은 종래 기술 배합물을 사용하는 기화기의 펌프 다운 시간을 초로 표시한 것이고 마름모형은 여분의 TMVS의 1.5 중량%을 사용하는 본 선구물질 배합물이 사용될 때 기화기의 펌프 다운 시간을 도시한 것이다. 이 데이터는 본 배합물을 사용하는 기화기의 펌프 다운 시간이 약 60초 후에 안정하고, 반면에 종래 기술의 배합물을 사용하는 기화기가 약 150초 후에도 안정하지 않는 것을 분명히 보여주고 있다. 그러므로, 본 발명의 배합물을 사용하면, 다운 시간은 감소되고 동시에 생산량은 개선되며, 입자 형성 및 잔류물의 감소로, 개선된 구리 필름 형태를 야기한다.
배합물(B)은 프로세싱 챔버에 직접 소량의 물이 첨가된 여분의 TMVS의 1.5 중량%와 hfac -Cu-TMVS로 만들어져 있다. 이렇게 만든 구리 층은 아래의 표에서 목록한 다양한 매개변수에서 측정 및 테스트했다. 비교 배합물은 상술한 바와 같은 종래 기술의 배합물을 사용했다.
매개변수 배합물 B 배합물 2504
증착속도, Å/분 1000 400
균일성, % 5 5
반사율, 1000Å 115 90
저항성, 1500Å 2.2μΩ- cm 2.5 μΩ- cm
스텝 적용범위,% 100 100
증착시 접착성, J/m22.16 2.14
어닐링 후 접착성 〉5.0 〉5.0
열 안정성* 침전물 없음 다크 분말로서 29.4mg
필름 불순물 레벨 F: 3 ×1017F: 3 ×1019
C: 5 ×1017C: 5 ×1018
O: 1.3 ×1018O: 3 ×1021
웨이퍼당 비용 $ 0.30 $ 0.69
* 한시간 동안 100℃에서 증착된 필름
그러므로, 본 배합물은 몇 몇 중요한 특징에서 종래 기술의 배합물보다 우수하다. 증착속도는 2.5배 높고, 반사율은 보다 높고, 열 안정성은 훨씬 높고 구리 필름내의 불순물은 훨씬 적다.
그러므로, 본 배합물은 개선된 성질 및 저 비용을 가지며, 이러한 것은 본 발명이 최신식의 반도체 장치를 생산 가치 있게 만든다.
본 발명이 특정 실시예를 사용해서 설명하였지만, 본 발명은 여기에 국한되지 않는다. 이 기술분야의 숙련된 자는 배합물의 합성물의 비 등을 쉽게 변경할 수 있으며 이런 변화는 본 발명에서 포함되어진다. 본 발명은 단지 첨부의 청구범위에 의해서만 제한된다.
Claims (6)
- 헥사플루오르아세틸아세토네이트- 구리- 트리메틸비닐실란과 트리메틸비닐실란의 약 1.0 내지 5.0 중량%으로 된 열 안정성 배합물.
- 제 1항에 있어서, 상기 트리메틸비닐실란이 약 1.5 내지 약 2.5 중량%을 포함하는 열 안정성 배합물.
- 화학 기상 증착에 의해 구리 필름을 증착하는 방법에 있어서,구리 헥사플루오르아세틸아세토네이트 트리메틸비닐실란 선구물질과 상기 선구물질을 안정화하기 위한 충분한 량의 트리메틸비닐실란의 배합물을 형성하는 단계와,상기 배합물을 상기 배합물을 증발하기 위한 기화기로 보내는 단계와,상기 배합물을 화학 기상 증착 챔버로 도입하는 단계와,상기 챔버로 상기 선구물질 배합물의 중량을 근거해서 수증기의 약 2.0% 중량까지 따로 직접 도입하는 단계와,상기 챔버내에 장착된 기판상에 구리 필름을 증착하는 단계를 포함하는 방법.
- 제 3항에 있어서, 상기 구리 선구물질에 트리메틸비닐실란의 약 1.0 내지 약 5.0 중량%을 추가하는 방법.
- 제 4항에 있어서, 상기 구리 선구물질에 트리메틸비닐실란의 약 1.5 내지 약 2.5 중량%을 추가하는 방법.
- 제 3항에 있어서, 상기 선구물질 배합물의 량에 근거해서 수증기의 약 5.0 중량%을 상기 챔버에 도입하는 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US9/339,970 | 1999-06-25 | ||
US09/339,970 US6110530A (en) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | CVD method of depositing copper films by using improved organocopper precursor blend |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010049584A true KR20010049584A (ko) | 2001-06-15 |
Family
ID=23331346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000034116A KR20010049584A (ko) | 1999-06-25 | 2000-06-21 | 유기구리 선구물질 배합물 및 화학 기상 증착에 의한 구리증착 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6110530A (ko) |
EP (1) | EP1063240A3 (ko) |
JP (1) | JP2001026872A (ko) |
KR (1) | KR20010049584A (ko) |
Families Citing this family (183)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6291347B1 (en) * | 1999-10-08 | 2001-09-18 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for constructing semiconductor devices |
JP2002105639A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-10 | L'air Liquide | Mocvd処理用の銅原料液及びその製造方法 |
US20020127336A1 (en) * | 2001-01-16 | 2002-09-12 | Applied Materials, Inc. | Method for growing thin films by catalytic enhancement |
US6811814B2 (en) | 2001-01-16 | 2004-11-02 | Applied Materials, Inc. | Method for growing thin films by catalytic enhancement |
KR100424388B1 (ko) * | 2001-06-28 | 2004-03-25 | 동부전자 주식회사 | 구리 배선 방법 |
US7138014B2 (en) | 2002-01-28 | 2006-11-21 | Applied Materials, Inc. | Electroless deposition apparatus |
US6824666B2 (en) * | 2002-01-28 | 2004-11-30 | Applied Materials, Inc. | Electroless deposition method over sub-micron apertures |
US6899816B2 (en) * | 2002-04-03 | 2005-05-31 | Applied Materials, Inc. | Electroless deposition method |
US6905622B2 (en) * | 2002-04-03 | 2005-06-14 | Applied Materials, Inc. | Electroless deposition method |
US6821909B2 (en) * | 2002-10-30 | 2004-11-23 | Applied Materials, Inc. | Post rinse to improve selective deposition of electroless cobalt on copper for ULSI application |
EP1639159B2 (en) † | 2003-06-30 | 2018-07-18 | The Procter & Gamble Company | Coated nanofiber webs |
US7827930B2 (en) * | 2004-01-26 | 2010-11-09 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for electroless deposition of metals onto semiconductor substrates |
US7654221B2 (en) * | 2003-10-06 | 2010-02-02 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for electroless deposition of metals onto semiconductor substrates |
US7465358B2 (en) * | 2003-10-15 | 2008-12-16 | Applied Materials, Inc. | Measurement techniques for controlling aspects of a electroless deposition process |
US20070111519A1 (en) * | 2003-10-15 | 2007-05-17 | Applied Materials, Inc. | Integrated electroless deposition system |
US7064065B2 (en) * | 2003-10-15 | 2006-06-20 | Applied Materials, Inc. | Silver under-layers for electroless cobalt alloys |
WO2005038084A2 (en) * | 2003-10-17 | 2005-04-28 | Applied Materials, Inc. | Selective self-initiating electroless capping of copper with cobalt-containing alloys |
US7205233B2 (en) | 2003-11-07 | 2007-04-17 | Applied Materials, Inc. | Method for forming CoWRe alloys by electroless deposition |
US20060003570A1 (en) * | 2003-12-02 | 2006-01-05 | Arulkumar Shanmugasundram | Method and apparatus for electroless capping with vapor drying |
US20050161338A1 (en) * | 2004-01-26 | 2005-07-28 | Applied Materials, Inc. | Electroless cobalt alloy deposition process |
US20050230350A1 (en) | 2004-02-26 | 2005-10-20 | Applied Materials, Inc. | In-situ dry clean chamber for front end of line fabrication |
US7166732B2 (en) * | 2004-06-16 | 2007-01-23 | Advanced Technology Materials, Inc. | Copper (I) compounds useful as deposition precursors of copper thin films |
US7438949B2 (en) * | 2005-01-27 | 2008-10-21 | Applied Materials, Inc. | Ruthenium containing layer deposition method |
US20060162658A1 (en) * | 2005-01-27 | 2006-07-27 | Applied Materials, Inc. | Ruthenium layer deposition apparatus and method |
US20060251801A1 (en) | 2005-03-18 | 2006-11-09 | Weidman Timothy W | In-situ silicidation metallization process |
WO2006102318A2 (en) | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Applied Materials, Inc. | Electroless deposition process on a contact containing silicon or silicide |
US7651934B2 (en) | 2005-03-18 | 2010-01-26 | Applied Materials, Inc. | Process for electroless copper deposition |
WO2007035880A2 (en) * | 2005-09-21 | 2007-03-29 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for forming device features in an integrated electroless deposition system |
US20090162550A1 (en) * | 2006-06-02 | 2009-06-25 | Advanced Technology Materials, Inc. | Copper (i) amidinates and guanidinates, mixed ligand copper complexes, and compositions for chemical vapor deposition, atomic layer deposition, and rapid vapor deposition of copper |
JP5151082B2 (ja) * | 2006-07-20 | 2013-02-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜方法、成膜装置及び記憶媒体 |
WO2008069821A1 (en) * | 2006-12-05 | 2008-06-12 | Advanced Technology Materials, Inc. | Metal aminotroponiminates, bis-oxazolinates and guanidinates |
US7867900B2 (en) * | 2007-09-28 | 2011-01-11 | Applied Materials, Inc. | Aluminum contact integration on cobalt silicide junction |
US9324576B2 (en) | 2010-05-27 | 2016-04-26 | Applied Materials, Inc. | Selective etch for silicon films |
US10283321B2 (en) | 2011-01-18 | 2019-05-07 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing system and methods using capacitively coupled plasma |
US8771539B2 (en) | 2011-02-22 | 2014-07-08 | Applied Materials, Inc. | Remotely-excited fluorine and water vapor etch |
US9064815B2 (en) | 2011-03-14 | 2015-06-23 | Applied Materials, Inc. | Methods for etch of metal and metal-oxide films |
US8999856B2 (en) | 2011-03-14 | 2015-04-07 | Applied Materials, Inc. | Methods for etch of sin films |
US8771536B2 (en) | 2011-08-01 | 2014-07-08 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch for silicon-and-carbon-containing films |
US8679982B2 (en) | 2011-08-26 | 2014-03-25 | Applied Materials, Inc. | Selective suppression of dry-etch rate of materials containing both silicon and oxygen |
US8679983B2 (en) | 2011-09-01 | 2014-03-25 | Applied Materials, Inc. | Selective suppression of dry-etch rate of materials containing both silicon and nitrogen |
US8927390B2 (en) | 2011-09-26 | 2015-01-06 | Applied Materials, Inc. | Intrench profile |
US8808563B2 (en) | 2011-10-07 | 2014-08-19 | Applied Materials, Inc. | Selective etch of silicon by way of metastable hydrogen termination |
WO2013070436A1 (en) | 2011-11-08 | 2013-05-16 | Applied Materials, Inc. | Methods of reducing substrate dislocation during gapfill processing |
US9267739B2 (en) | 2012-07-18 | 2016-02-23 | Applied Materials, Inc. | Pedestal with multi-zone temperature control and multiple purge capabilities |
US9373517B2 (en) | 2012-08-02 | 2016-06-21 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing with DC assisted RF power for improved control |
US9034770B2 (en) | 2012-09-17 | 2015-05-19 | Applied Materials, Inc. | Differential silicon oxide etch |
US9023734B2 (en) | 2012-09-18 | 2015-05-05 | Applied Materials, Inc. | Radical-component oxide etch |
US9390937B2 (en) | 2012-09-20 | 2016-07-12 | Applied Materials, Inc. | Silicon-carbon-nitride selective etch |
US9132436B2 (en) | 2012-09-21 | 2015-09-15 | Applied Materials, Inc. | Chemical control features in wafer process equipment |
US8765574B2 (en) | 2012-11-09 | 2014-07-01 | Applied Materials, Inc. | Dry etch process |
US8969212B2 (en) | 2012-11-20 | 2015-03-03 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch selectivity |
US9064816B2 (en) | 2012-11-30 | 2015-06-23 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch for selective oxidation removal |
US8980763B2 (en) | 2012-11-30 | 2015-03-17 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch for selective tungsten removal |
US9111877B2 (en) | 2012-12-18 | 2015-08-18 | Applied Materials, Inc. | Non-local plasma oxide etch |
US8921234B2 (en) | 2012-12-21 | 2014-12-30 | Applied Materials, Inc. | Selective titanium nitride etching |
US10256079B2 (en) | 2013-02-08 | 2019-04-09 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing systems having multiple plasma configurations |
US9362130B2 (en) | 2013-03-01 | 2016-06-07 | Applied Materials, Inc. | Enhanced etching processes using remote plasma sources |
US9040422B2 (en) | 2013-03-05 | 2015-05-26 | Applied Materials, Inc. | Selective titanium nitride removal |
US8801952B1 (en) | 2013-03-07 | 2014-08-12 | Applied Materials, Inc. | Conformal oxide dry etch |
US10170282B2 (en) | 2013-03-08 | 2019-01-01 | Applied Materials, Inc. | Insulated semiconductor faceplate designs |
US20140271097A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Applied Materials, Inc. | Processing systems and methods for halide scavenging |
US8895449B1 (en) | 2013-05-16 | 2014-11-25 | Applied Materials, Inc. | Delicate dry clean |
US9114438B2 (en) | 2013-05-21 | 2015-08-25 | Applied Materials, Inc. | Copper residue chamber clean |
US9493879B2 (en) | 2013-07-12 | 2016-11-15 | Applied Materials, Inc. | Selective sputtering for pattern transfer |
US9773648B2 (en) | 2013-08-30 | 2017-09-26 | Applied Materials, Inc. | Dual discharge modes operation for remote plasma |
US8956980B1 (en) | 2013-09-16 | 2015-02-17 | Applied Materials, Inc. | Selective etch of silicon nitride |
US8951429B1 (en) | 2013-10-29 | 2015-02-10 | Applied Materials, Inc. | Tungsten oxide processing |
US9576809B2 (en) | 2013-11-04 | 2017-02-21 | Applied Materials, Inc. | Etch suppression with germanium |
US9236265B2 (en) | 2013-11-04 | 2016-01-12 | Applied Materials, Inc. | Silicon germanium processing |
US9520303B2 (en) | 2013-11-12 | 2016-12-13 | Applied Materials, Inc. | Aluminum selective etch |
US9245762B2 (en) | 2013-12-02 | 2016-01-26 | Applied Materials, Inc. | Procedure for etch rate consistency |
US9117855B2 (en) | 2013-12-04 | 2015-08-25 | Applied Materials, Inc. | Polarity control for remote plasma |
US9263278B2 (en) | 2013-12-17 | 2016-02-16 | Applied Materials, Inc. | Dopant etch selectivity control |
US9287095B2 (en) | 2013-12-17 | 2016-03-15 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor system assemblies and methods of operation |
US9190293B2 (en) | 2013-12-18 | 2015-11-17 | Applied Materials, Inc. | Even tungsten etch for high aspect ratio trenches |
US9287134B2 (en) | 2014-01-17 | 2016-03-15 | Applied Materials, Inc. | Titanium oxide etch |
US9293568B2 (en) | 2014-01-27 | 2016-03-22 | Applied Materials, Inc. | Method of fin patterning |
US9396989B2 (en) | 2014-01-27 | 2016-07-19 | Applied Materials, Inc. | Air gaps between copper lines |
US9385028B2 (en) | 2014-02-03 | 2016-07-05 | Applied Materials, Inc. | Air gap process |
US9499898B2 (en) | 2014-03-03 | 2016-11-22 | Applied Materials, Inc. | Layered thin film heater and method of fabrication |
US9299575B2 (en) | 2014-03-17 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Gas-phase tungsten etch |
US9299537B2 (en) | 2014-03-20 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Radial waveguide systems and methods for post-match control of microwaves |
US9299538B2 (en) | 2014-03-20 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Radial waveguide systems and methods for post-match control of microwaves |
US9136273B1 (en) | 2014-03-21 | 2015-09-15 | Applied Materials, Inc. | Flash gate air gap |
US9903020B2 (en) | 2014-03-31 | 2018-02-27 | Applied Materials, Inc. | Generation of compact alumina passivation layers on aluminum plasma equipment components |
US9269590B2 (en) | 2014-04-07 | 2016-02-23 | Applied Materials, Inc. | Spacer formation |
US9309598B2 (en) | 2014-05-28 | 2016-04-12 | Applied Materials, Inc. | Oxide and metal removal |
US9847289B2 (en) | 2014-05-30 | 2017-12-19 | Applied Materials, Inc. | Protective via cap for improved interconnect performance |
US9378969B2 (en) | 2014-06-19 | 2016-06-28 | Applied Materials, Inc. | Low temperature gas-phase carbon removal |
US9406523B2 (en) | 2014-06-19 | 2016-08-02 | Applied Materials, Inc. | Highly selective doped oxide removal method |
US9425058B2 (en) | 2014-07-24 | 2016-08-23 | Applied Materials, Inc. | Simplified litho-etch-litho-etch process |
US9378978B2 (en) | 2014-07-31 | 2016-06-28 | Applied Materials, Inc. | Integrated oxide recess and floating gate fin trimming |
US9496167B2 (en) | 2014-07-31 | 2016-11-15 | Applied Materials, Inc. | Integrated bit-line airgap formation and gate stack post clean |
US9159606B1 (en) | 2014-07-31 | 2015-10-13 | Applied Materials, Inc. | Metal air gap |
US9165786B1 (en) | 2014-08-05 | 2015-10-20 | Applied Materials, Inc. | Integrated oxide and nitride recess for better channel contact in 3D architectures |
US9659753B2 (en) | 2014-08-07 | 2017-05-23 | Applied Materials, Inc. | Grooved insulator to reduce leakage current |
US9553102B2 (en) | 2014-08-19 | 2017-01-24 | Applied Materials, Inc. | Tungsten separation |
US9355856B2 (en) | 2014-09-12 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | V trench dry etch |
US9368364B2 (en) | 2014-09-24 | 2016-06-14 | Applied Materials, Inc. | Silicon etch process with tunable selectivity to SiO2 and other materials |
US9355862B2 (en) | 2014-09-24 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | Fluorine-based hardmask removal |
US9613822B2 (en) | 2014-09-25 | 2017-04-04 | Applied Materials, Inc. | Oxide etch selectivity enhancement |
US9355922B2 (en) | 2014-10-14 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for internal surface conditioning in plasma processing equipment |
US9966240B2 (en) | 2014-10-14 | 2018-05-08 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for internal surface conditioning assessment in plasma processing equipment |
US10103057B2 (en) | 2014-11-11 | 2018-10-16 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Use of an inhibitor molecule in chemical vapor deposition to afford deposition of copper on a metal substrate with no deposition on adjacent SIO2 substrate |
US11637002B2 (en) | 2014-11-26 | 2023-04-25 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems to enhance process uniformity |
US9299583B1 (en) | 2014-12-05 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Aluminum oxide selective etch |
US10573496B2 (en) | 2014-12-09 | 2020-02-25 | Applied Materials, Inc. | Direct outlet toroidal plasma source |
US10224210B2 (en) | 2014-12-09 | 2019-03-05 | Applied Materials, Inc. | Plasma processing system with direct outlet toroidal plasma source |
US9502258B2 (en) | 2014-12-23 | 2016-11-22 | Applied Materials, Inc. | Anisotropic gap etch |
US9343272B1 (en) | 2015-01-08 | 2016-05-17 | Applied Materials, Inc. | Self-aligned process |
US11257693B2 (en) | 2015-01-09 | 2022-02-22 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems to improve pedestal temperature control |
US9373522B1 (en) | 2015-01-22 | 2016-06-21 | Applied Mateials, Inc. | Titanium nitride removal |
US9449846B2 (en) | 2015-01-28 | 2016-09-20 | Applied Materials, Inc. | Vertical gate separation |
US20160225652A1 (en) | 2015-02-03 | 2016-08-04 | Applied Materials, Inc. | Low temperature chuck for plasma processing systems |
US9728437B2 (en) | 2015-02-03 | 2017-08-08 | Applied Materials, Inc. | High temperature chuck for plasma processing systems |
US9881805B2 (en) | 2015-03-02 | 2018-01-30 | Applied Materials, Inc. | Silicon selective removal |
US9741593B2 (en) | 2015-08-06 | 2017-08-22 | Applied Materials, Inc. | Thermal management systems and methods for wafer processing systems |
US9691645B2 (en) | 2015-08-06 | 2017-06-27 | Applied Materials, Inc. | Bolted wafer chuck thermal management systems and methods for wafer processing systems |
US9349605B1 (en) | 2015-08-07 | 2016-05-24 | Applied Materials, Inc. | Oxide etch selectivity systems and methods |
US10504700B2 (en) | 2015-08-27 | 2019-12-10 | Applied Materials, Inc. | Plasma etching systems and methods with secondary plasma injection |
US10522371B2 (en) | 2016-05-19 | 2019-12-31 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for improved semiconductor etching and component protection |
US10504754B2 (en) | 2016-05-19 | 2019-12-10 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for improved semiconductor etching and component protection |
US9865484B1 (en) | 2016-06-29 | 2018-01-09 | Applied Materials, Inc. | Selective etch using material modification and RF pulsing |
US10629473B2 (en) | 2016-09-09 | 2020-04-21 | Applied Materials, Inc. | Footing removal for nitride spacer |
US10062575B2 (en) | 2016-09-09 | 2018-08-28 | Applied Materials, Inc. | Poly directional etch by oxidation |
US9721789B1 (en) | 2016-10-04 | 2017-08-01 | Applied Materials, Inc. | Saving ion-damaged spacers |
US10062585B2 (en) | 2016-10-04 | 2018-08-28 | Applied Materials, Inc. | Oxygen compatible plasma source |
US9934942B1 (en) | 2016-10-04 | 2018-04-03 | Applied Materials, Inc. | Chamber with flow-through source |
US10546729B2 (en) | 2016-10-04 | 2020-01-28 | Applied Materials, Inc. | Dual-channel showerhead with improved profile |
US10062579B2 (en) | 2016-10-07 | 2018-08-28 | Applied Materials, Inc. | Selective SiN lateral recess |
US9947549B1 (en) | 2016-10-10 | 2018-04-17 | Applied Materials, Inc. | Cobalt-containing material removal |
US9768034B1 (en) | 2016-11-11 | 2017-09-19 | Applied Materials, Inc. | Removal methods for high aspect ratio structures |
US10163696B2 (en) | 2016-11-11 | 2018-12-25 | Applied Materials, Inc. | Selective cobalt removal for bottom up gapfill |
US10242908B2 (en) | 2016-11-14 | 2019-03-26 | Applied Materials, Inc. | Airgap formation with damage-free copper |
US10026621B2 (en) | 2016-11-14 | 2018-07-17 | Applied Materials, Inc. | SiN spacer profile patterning |
US10566206B2 (en) | 2016-12-27 | 2020-02-18 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for anisotropic material breakthrough |
US10431429B2 (en) | 2017-02-03 | 2019-10-01 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for radial and azimuthal control of plasma uniformity |
US10403507B2 (en) | 2017-02-03 | 2019-09-03 | Applied Materials, Inc. | Shaped etch profile with oxidation |
US10043684B1 (en) | 2017-02-06 | 2018-08-07 | Applied Materials, Inc. | Self-limiting atomic thermal etching systems and methods |
US10319739B2 (en) | 2017-02-08 | 2019-06-11 | Applied Materials, Inc. | Accommodating imperfectly aligned memory holes |
US10943834B2 (en) | 2017-03-13 | 2021-03-09 | Applied Materials, Inc. | Replacement contact process |
US10319649B2 (en) | 2017-04-11 | 2019-06-11 | Applied Materials, Inc. | Optical emission spectroscopy (OES) for remote plasma monitoring |
US11276590B2 (en) | 2017-05-17 | 2022-03-15 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone semiconductor substrate supports |
US11276559B2 (en) | 2017-05-17 | 2022-03-15 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing chamber for multiple precursor flow |
US10049891B1 (en) | 2017-05-31 | 2018-08-14 | Applied Materials, Inc. | Selective in situ cobalt residue removal |
US10497579B2 (en) | 2017-05-31 | 2019-12-03 | Applied Materials, Inc. | Water-free etching methods |
US10920320B2 (en) | 2017-06-16 | 2021-02-16 | Applied Materials, Inc. | Plasma health determination in semiconductor substrate processing reactors |
US10541246B2 (en) | 2017-06-26 | 2020-01-21 | Applied Materials, Inc. | 3D flash memory cells which discourage cross-cell electrical tunneling |
US10727080B2 (en) | 2017-07-07 | 2020-07-28 | Applied Materials, Inc. | Tantalum-containing material removal |
US10541184B2 (en) | 2017-07-11 | 2020-01-21 | Applied Materials, Inc. | Optical emission spectroscopic techniques for monitoring etching |
US10354889B2 (en) | 2017-07-17 | 2019-07-16 | Applied Materials, Inc. | Non-halogen etching of silicon-containing materials |
US10043674B1 (en) | 2017-08-04 | 2018-08-07 | Applied Materials, Inc. | Germanium etching systems and methods |
US10170336B1 (en) | 2017-08-04 | 2019-01-01 | Applied Materials, Inc. | Methods for anisotropic control of selective silicon removal |
US10297458B2 (en) | 2017-08-07 | 2019-05-21 | Applied Materials, Inc. | Process window widening using coated parts in plasma etch processes |
US10283324B1 (en) | 2017-10-24 | 2019-05-07 | Applied Materials, Inc. | Oxygen treatment for nitride etching |
US10128086B1 (en) | 2017-10-24 | 2018-11-13 | Applied Materials, Inc. | Silicon pretreatment for nitride removal |
US11584986B1 (en) | 2017-11-01 | 2023-02-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Area selective CVD of metallic films using precursor gases and inhibitors |
US10256112B1 (en) | 2017-12-08 | 2019-04-09 | Applied Materials, Inc. | Selective tungsten removal |
US10903054B2 (en) | 2017-12-19 | 2021-01-26 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone gas distribution systems and methods |
US11328909B2 (en) | 2017-12-22 | 2022-05-10 | Applied Materials, Inc. | Chamber conditioning and removal processes |
US10854426B2 (en) | 2018-01-08 | 2020-12-01 | Applied Materials, Inc. | Metal recess for semiconductor structures |
US10679870B2 (en) | 2018-02-15 | 2020-06-09 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing chamber multistage mixing apparatus |
US10964512B2 (en) | 2018-02-15 | 2021-03-30 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing chamber multistage mixing apparatus and methods |
TWI766433B (zh) | 2018-02-28 | 2022-06-01 | 美商應用材料股份有限公司 | 形成氣隙的系統及方法 |
US10593560B2 (en) | 2018-03-01 | 2020-03-17 | Applied Materials, Inc. | Magnetic induction plasma source for semiconductor processes and equipment |
US10319600B1 (en) | 2018-03-12 | 2019-06-11 | Applied Materials, Inc. | Thermal silicon etch |
US10497573B2 (en) | 2018-03-13 | 2019-12-03 | Applied Materials, Inc. | Selective atomic layer etching of semiconductor materials |
US10573527B2 (en) | 2018-04-06 | 2020-02-25 | Applied Materials, Inc. | Gas-phase selective etching systems and methods |
US10490406B2 (en) | 2018-04-10 | 2019-11-26 | Appled Materials, Inc. | Systems and methods for material breakthrough |
US10699879B2 (en) | 2018-04-17 | 2020-06-30 | Applied Materials, Inc. | Two piece electrode assembly with gap for plasma control |
US10886137B2 (en) | 2018-04-30 | 2021-01-05 | Applied Materials, Inc. | Selective nitride removal |
US10755941B2 (en) | 2018-07-06 | 2020-08-25 | Applied Materials, Inc. | Self-limiting selective etching systems and methods |
US10872778B2 (en) | 2018-07-06 | 2020-12-22 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods utilizing solid-phase etchants |
US10672642B2 (en) | 2018-07-24 | 2020-06-02 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for pedestal configuration |
US11049755B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor substrate supports with embedded RF shield |
US10892198B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-01-12 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for improved performance in semiconductor processing |
US11062887B2 (en) | 2018-09-17 | 2021-07-13 | Applied Materials, Inc. | High temperature RF heater pedestals |
US11417534B2 (en) | 2018-09-21 | 2022-08-16 | Applied Materials, Inc. | Selective material removal |
US11682560B2 (en) | 2018-10-11 | 2023-06-20 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for hafnium-containing film removal |
US11121002B2 (en) | 2018-10-24 | 2021-09-14 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for etching metals and metal derivatives |
US11437242B2 (en) | 2018-11-27 | 2022-09-06 | Applied Materials, Inc. | Selective removal of silicon-containing materials |
US11721527B2 (en) | 2019-01-07 | 2023-08-08 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber mixing systems |
US10920319B2 (en) | 2019-01-11 | 2021-02-16 | Applied Materials, Inc. | Ceramic showerheads with conductive electrodes |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US35614A (en) * | 1862-06-17 | Improvement in surgical splints | ||
US5098516A (en) * | 1990-12-31 | 1992-03-24 | Air Products And Chemicals, Inc. | Processes for the chemical vapor deposition of copper and etching of copper |
US5085731A (en) * | 1991-02-04 | 1992-02-04 | Air Products And Chemicals, Inc. | Volatile liquid precursors for the chemical vapor deposition of copper |
US5322712A (en) | 1993-05-18 | 1994-06-21 | Air Products And Chemicals, Inc. | Process for improved quality of CVD copper films |
JPH09296269A (ja) * | 1996-04-30 | 1997-11-18 | Toshiba Corp | 銅薄膜の形成方法 |
US5744192A (en) * | 1996-11-08 | 1998-04-28 | Sharp Microelectronics Technology, Inc. | Method of using water vapor to increase the conductivity of cooper desposited with cu(hfac)TMVS |
-
1999
- 1999-06-25 US US09/339,970 patent/US6110530A/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-05-31 EP EP00304591A patent/EP1063240A3/en not_active Withdrawn
- 2000-06-15 JP JP2000179505A patent/JP2001026872A/ja not_active Withdrawn
- 2000-06-21 KR KR1020000034116A patent/KR20010049584A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001026872A (ja) | 2001-01-30 |
US6110530A (en) | 2000-08-29 |
EP1063240A3 (en) | 2002-11-27 |
EP1063240A2 (en) | 2000-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20010049584A (ko) | 유기구리 선구물질 배합물 및 화학 기상 증착에 의한 구리증착 방법 | |
JP2641700B2 (ja) | 銅フィルムの化学蒸着法 | |
US5273775A (en) | Process for selectively depositing copper aluminum alloy onto a substrate | |
KR950004895B1 (ko) | 구리 필름을 화학 증착시키는 유기 금속 구리 착물 | |
US5866205A (en) | Process for titanium nitride deposition using five- and six-coordinate titanium complexes | |
US20050081882A1 (en) | Method for preventing and cleaning ruthenium-containing deposits in a CVD apparatus | |
KR20020089381A (ko) | 루테늄 금속막의 제조 방법 | |
JPH04318170A (ja) | 銅金属フィルムの選択溶蝕法 | |
JP2002543283A (ja) | ハロゲン化タンタル前駆物質からの熱的CVDTaNフイルムのプラズマ処理 | |
KR940003098B1 (ko) | 퇴적막 형성법 | |
US8283485B2 (en) | Process for selectively depositing copper thin films on substrates with copper and ruthenium areas via vapor deposition | |
KR100479519B1 (ko) | 고접착성 구리 박막을 금속 질화물 기판 상에 증착시키는방법 | |
JP4338246B2 (ja) | Cu−CVDプロセス用原料とCu−CVD装置 | |
JP2000169966A (ja) | 化学蒸着からの銅膜堆積のための銅化合物の溶液およびその合成方法 | |
US6204176B1 (en) | Substituted phenylethylene precursor deposition method | |
JP3176088B2 (ja) | 堆積膜形成法 | |
US7208197B2 (en) | Method of depositing copper on a support | |
Zhang et al. | Optimization of copper CVD film properties using the precursor of Cu (hfac)(tmvs) with variations of additive content | |
JP2721020B2 (ja) | 堆積膜形成法 | |
TW202214667A (zh) | 熱穩定的釕前體組合物和形成含釕膜的方法 | |
CN118786132A (zh) | 用于cvd及ald应用的具有磷基配体的金属羰基配合物 | |
Chen et al. | Scienti? que, Paris (FR) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20000621 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
PC1203 | Withdrawal of no request for examination | ||
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |