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KR102766678B1 - 편광판의 검사 방법 및 검사 장치 - Google Patents

편광판의 검사 방법 및 검사 장치 Download PDF

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KR102766678B1
KR102766678B1 KR1020210128329A KR20210128329A KR102766678B1 KR 102766678 B1 KR102766678 B1 KR 102766678B1 KR 1020210128329 A KR1020210128329 A KR 1020210128329A KR 20210128329 A KR20210128329 A KR 20210128329A KR 102766678 B1 KR102766678 B1 KR 102766678B1
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polarizing plate
polarizing
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defect candidate
manufacturing
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슈야 후루사와
다다아키 스기와키
마사히로 야에가시
마키코 기무라
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닛토덴코 가부시키가이샤
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Abstract

[과제] 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판의 외관을 바람직하게 검사하는 방법을 제공하는 것.
[해결 수단] 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을, 그 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 방법으로서, 그 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과, 그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과, 결함 후보부의 사이즈에 기초하여 결함을 검출하는 공정을 포함하는 검사 방법.

Description

편광판의 검사 방법 및 검사 장치{POLARIZING PLATE INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS}
본 발명은 비편광부를 갖는 편광판의 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것이다. 대표적으로는, 비편광부를 갖는 편광자를 포함하는 편광판의 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것이다.
휴대 전화, 노트형 퍼스널 컴퓨터 (PC) 등의 화상 표시 장치에는, 카메라 등의 내부 전자 부품이 탑재되어 있는 것이 있다. 이와 같은 화상 표시 장치의 카메라 성능 등의 향상을 목적으로 하여, 여러 가지 검토가 이루어지고 있다 (예를 들어, 특허문헌 1 ∼ 7). 그러나, 스마트 폰, 터치 패널식의 정보 처리 장치의 급속한 보급에 의해서, 카메라 성능 등이 더욱 향상될 것이 요망되고 있다. 또, 화상 표시 장치의 형상의 다양화 및 고기능화에 대응하기 위해서, 부분적으로 편광 성능을 갖는 편광판이 요망되고 있다. 이들 요망을 공업적 및 상업적으로 실현하기 위해서는 허용 가능한 비용으로 화상 표시 장치 및/또는 그 부품을 제조하는 것이 요망되는 바, 그러한 기술을 확립하기 위해서는 여러 가지 검토 사항이 남아 있다.
일본 공개특허공보 2011-81315호 일본 공개특허공보 2007-241314호 미국 특허출원공개 제2004/0212555호 명세서 한국 공개특허공보 제10-2012-0118205호 한국 특허공보 제10-1293210호 일본 공개특허공보 2012-137738호 미국 특허출원공개 제2014/0118826호 명세서
본 발명자들이, 부분적으로 편광 성능을 갖는 편광판으로서, 비편광부를 갖는 편광자를 사용하여 편광판을 제조하고, 얻어진 편광판을 외관 검사에 제공한 바, 비편광부가 결함으로서 잘못 검출된다는 문제에 직면하였다. 본 발명은, 당해 문제를 해결하기 위해서 이루어진 것으로서, 그 주된 목적은, 비편광부를 갖는 편광자를 포함하여, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판의 외관을 바람직하게 검사하는 방법을 제공하는 것에 있다.
본 발명에 의하면, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을, 그 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 방법이 제공된다. 그 검사 방법은, 그 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과, 그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과, 그 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과, 그 결함 후보부의 사이즈에 기초하여 결함을 검출하는 공정을 포함한다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 편광판이, 장척 방향 및 폭 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 화상 데이터의 취득이, 상기 편광판의 연속적인 촬상에 기초하여 행해진다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부의 추출이, 상기 화상 데이터의 휘도 정보에 기초하여 행해진다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부가 상기 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정을 추가로 포함하고, 상기 결함을 검출하는 공정이, 상기 결함 후보부의 사이즈 및 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 공정이다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서만, 상기 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단한다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부의 주기성 유무의 판단이, 상기 결함 후보부의 장척 방향에 있어서의 위치 좌표에 기초하여 행해진다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부의 주기성 유무의 판단이, 판단 대상인 결함 후보부와, 그 반송 방향 상류측에 존재하는 비편광부의 장척 방향의 거리가, 소정 거리인지의 여부에 기초하여 행해진다.
본 발명의 다른 국면에 의하면, 편광판의 제조 방법이 제공된다. 그 제조 방법은, 상기 검사 방법에 의해서 편광판을 검사하는 것을 포함한다.
본 발명의 또 다른 국면에 의하면, 장척상의 편광판의 외관 검사 장치가 제공된다. 그 외관 검사 장치는, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 촬상 장치와, 그 화상 데이터를 해석하여 그 편광판의 결함을 검출하는 화상 해석 장치를 구비한다. 그 화상 해석 장치가, 그 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출하는 결함 후보부 추출부와, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 사이즈 판단부와, 결함 후보부가 그 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 주기성 판단부와, 결함 후보부의 사이즈, 또는, 결함 후보부의 사이즈와 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 결함 검출부를 갖는다.
본 발명의 검사 방법에 의하면, 비편광부를 결함으로서 잘못 검출하는 것을 회피할 수 있기 때문에, 비편광부를 갖는 편광자를 포함하여, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판의 외관을 바람직하게 검사할 수 있다.
도 1 은, 본 발명의 검사 방법에 제공될 수 있는 편광판의 개략 단면도이다.
도 2a 는, 비편광부의 배치 패턴의 일례를 설명하는 개략 평면도이다.
도 2b 는, 비편광부의 배치 패턴의 다른 예를 설명하는 개략 평면도이다.
도 2c 는, 비편광부의 배치 패턴의 또 다른 예를 설명하는 개략 평면도이다.
도 3 은, 본 발명의 검사 방법에 사용될 수 있는 검사 장치를 설명하는 개략도이다.
도 4 는, 본 발명의 일 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다.
도 5 는, 본 발명의 다른 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다.
도 6 은, 도 5 에서 나타낸 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 개략도이다.
[A. 검사 방법 및 검사 장치]
본 발명은, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을, 그 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 방법을 제공한다. 본 발명의 검사 방법은, 비편광부를 갖는 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과, 그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과, 결함 후보부의 사이즈에 기초하여 결함을 검출하는 공정을 포함한다. 결함을 검출하는 공정에 있어서는, 예를 들어, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부를 비편광부로 인식하여 구별하고, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부를 결함으로서 검출할 수 있다.
본 발명의 검사 방법은, 결함 후보부가 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정을 추가로 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 결함을 검출하는 공정에 있어서, 결함 후보부의 사이즈 및 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출한다. 보다 구체적으로는, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부를 결함으로서 검출함과 함께, 주기성을 갖지 않는 결함 후보부도 결함으로서 검출한다. 결함 후보부를 사이즈와 주기성의 2 가지 측면에서 평가함으로써, 검사 정밀도를 향상시킬 수 있다. 검사 효율의 관점에서는, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서만, 주기성의 유무를 판단하는 것이 바람직하다. 이 경우, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 모든 결함 후보부를 결함으로서 검출함과 함께, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서는, 주기성을 갖지 않는 것만을 결함으로서 검출한다.
A-1. 편광판
본 발명의 검사 방법에 제공되는 편광판은 장척상이고, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다. 그 비편광부는, 대표적으로는, 편광자에 형성된 비편광부에서 기인된다. 또한, 본 명세서에 있어서 「장척상」이란, 폭에 비해서 길이가 충분히 긴 세장 (細長) 형상을 의미하고, 예를 들어, 폭에 비해서 길이가 10 배 이상, 바람직하게는 20 배 이상의 세장 형장을 포함한다.
도 1 은, 본 발명의 검사 방법에 제공될 수 있는 편광판의 개략 단면도이다. 편광판 (30) 은, 비편광부를 갖는 편광자 (10) 와, 편광자 (10) 의 양측에 배치된 보호 필름 (11, 12) 을 갖는다. 도시예에서는, 편광자의 양측에 보호 필름이 배치되어 있지만, 편측에만 보호 필름이 배치되어 있어도 된다. 혹은, 편광판은 편광자만으로 구성되어 있어도 된다 (즉, 편광판은 편광자이어도 된다).
편광자 (10) 는, 대표적으로는 이색성 물질을 함유하는 수지 필름으로 구성된다. 편광판 (30) 이 장척상인 점에서, 편광자 (10) 역시 장척상이다. 편광자 (10) 는, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다. 일 실시형태에 있어서, 편광자 (10) 는, 장척 방향 및 폭 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다. 비편광부의 배치 패턴은, 목적에 따라서 적절히 설정될 수 있다. 대표적으로는, 상기 비편광부는, 편광자를 소정 사이즈의 화상 표시 장치에 장착하기 위해서 소정 사이즈로 재단 (예를 들어, 장척 방향 및/또는 폭 방향으로의 절단, 타발 (打拔)) 했을 때, 그 화상 표시 장치의 카메라부에 대응하는 위치에 배치될 수 있다. 일 실시형태에 있어서는, 비편광부는 장척 방향 및 폭 방향 중 어느 방향에 있어서도 실질적으로 등간격으로 배치된다. 또한, 「장척 방향 및 폭 방향 중 어느 방향에 있어서도 실질적으로 등간격」이란, 장척 방향의 간격이 등간격이며, 또한, 폭 방향의 간격이 등간격인 것을 의미하고, 장척 방향의 간격과 폭 방향의 간격이 동등할 필요는 없다. 다른 실시형태에 있어서는, 비편광부는 장척 방향으로 실질적으로 등간격으로 배치되며, 또한, 폭 방향으로 상이한 간격으로 배치되어도 된다. 폭 방향에 있어서 비편광부가 상이한 간격으로 배치될 경우, 인접하는 비편광부의 간격은 모두 상이해도 되고, 일부 (특정한 인접하는 비편광부의 간격) 만이 상이해도 된다. 또, 편광자의 장척 방향으로 복수의 영역을 규정하고, 각각의 영역마다 장척 방향 및/또는 폭 방향에 있어서의 비편광부의 간격을 설정해도 된다.
도 2a ∼ 도 2c 는 각각, 편광자 (10) 에 있어서의 비편광부의 배치 패턴의 일례를 설명하는 개략 평면도이다. 일 실시형태에 있어서는, 비편광부 (10a) 는, 도 2a 에 나타내는 바와 같이, 장척 방향에 있어서 인접하는 비편광부를 잇는 직선이, 장척 방향에 대해서 실질적으로 평행하고, 그리고, 폭 방향에 있어서 인접하는 비편광부를 잇는 직선이, 폭 방향에 대해서 실질적으로 평행하도록 배치된다.
비편광부를 평면에서 보았을 때의 형상은, 목적에 따라서 임의의 적절한 형상이 채용될 수 있다. 예를 들어, 비편광부를 평면에서 보았을 때의 형상은, 편광자가 사용되는 화상 표시 장치의 카메라 성능에 악영향을 주지 않는 한에 있어서, 임의의 적절한 형상이 채용될 수 있다. 도시예의 비편광부는 원형이지만, 예를 들어, 타원형, 정방형, 사각형, 마름모꼴 등으로 형성되어 있어도 된다.
비편광부의 투과율 (예를 들어, 23 ℃ 에 있어서의 파장 550 ㎚ 의 광으로 측정한 투과율) 은, 바람직하게는 50 ％ 이상이고, 보다 바람직하게는 60 ％ 이상이며, 더욱 바람직하게는 75 ％ 이상이고, 특히 바람직하게는 90 ％ 이상이다. 이와 같은 투과율이면, 예를 들어, 비편광부가 화상 표시 장치의 카메라부에 대응하도록 편광자를 배치했을 경우, 카메라의 촬영 성능에 대한 악영향을 방지할 수 있다.
비편광부는 임의의 적절한 형태일 수 있다. 일 실시형태에 있어서는, 비편광부는 부분적으로 탈색된 탈색부이다. 탈색부는, 예를 들어, 레이저 조사 또는 화학 처리에 의해서 형성된다. 다른 실시형태에 있어서는, 비편광부는 관통공이다. 관통공은, 예를 들어, 기계적 타발 (예를 들어, 펀칭, 톰슨날 타발, 플로터, 워터 제트) 또는 소정 부분의 제거 (예를 들어, 레이저 어블레이션 또는 화학적 용해) 에 의해서 형성된다.
보호 필름 (11, 12) 의 형성 재료로는, 예를 들어, 디아세틸셀룰로오스, 트리아세틸셀룰로오스 등의 셀룰로오스계 수지, (메트)아크릴계 수지, 시클로올레핀계 수지, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지 등의 에스테르계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 이것들의 공중합체 수지 등을 들 수 있다. 목적이나 원하는 구성에 따라서, 보호 필름 (11, 12) 의 일방은 생략해도 된다.
보호 필름의 두께는, 대표적으로는 10 ㎛ ∼ 100 ㎛ 이다. 보호 필름은, 대표적으로는 접착층 (구체적으로는, 접착제층, 점착제층) 을 개재하여 편광자에 적층된다. 접착제층은, 대표적으로는 PVA 계 접착제나 활성 에너지선 경화형 접착제로 형성된다. 점착제층은, 대표적으로는 아크릴계 점착제로 형성된다.
실용적으로는, 편광판 (30) 은, 최외층으로서 점착제층 (13) 을 갖는다. 점착제층 (13) 은, 대표적으로는 화상 표시 장치측의 최외층이 된다. 점착제층 (13) 에는, 세퍼레이터 (14) 가 박리 가능하게 임시 부착되고, 실제의 사용까지 점착제층을 보호함과 함께, 롤 형성을 가능하게 하고 있다.
편광판 (30) 은, 목적에 따라서 임의의 적절한 광학 기능층을 추가로 갖고 있어도 된다. 광학 기능층의 대표예로는, 위상차 필름 (광학 보상 필름), 표면 처리층을 들 수 있다. 예를 들어, 보호 필름 (12) 과 점착제층 (13) 사이에 위상차 필름이 배치될 수 있다 (도시 생략). 위상차 필름의 광학 특성 (예를 들어, 굴절률 타원체, 면내 위상차, 두께 방향 위상차) 은, 목적, 화상 표시 장치의 특성 등에 따라서 적절히 설정될 수 있다.
표면 처리층은, 보호 필름 (11) 의 외측에 배치될 수 있다 (도시 생략). 표면 처리층의 대표예로는, 하드 코트층, 반사 방지층, 안티글레어층을 들 수 있다. 표면 처리층은, 예를 들어, 편광자의 가습 내구성을 향상시킬 목적에서 투습도가 낮은 층인 것이 바람직하다. 표면 처리층을 형성하는 대신에, 보호 필름 (11) 의 표면에 동일한 표면 처리를 실시해도 된다.
A-2. 검사 장치
도 3 은, 본 발명의 검사 방법에 사용될 수 있는 검사 장치를 설명하는 개략도이다. 도시한 실시형태에 있어서는, 장척상의 편광판 (30) 이 검사 장치 (100) 에 반송되어 외관 검사가 행해진다. 검사 장치 (100) 는, 편광판 (30) 을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 촬상 장치 (50) 와, 얻어진 화상 데이터를 해석하여 그 편광판 (30) 의 결함을 검출하는 화상 해석 장치 (80) 를 구비한다. 화상 해석 장치 (80) 는, 얻어진 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출하는 결함 후보부 추출부 (82) 와, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 사이즈 판단부 (84) 와, 결함 후보부가 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 주기성 판단부 (86) 와, 결함 후보부의 사이즈, 또는, 결함 후보부의 사이즈와 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 결함 검출부 (88) 를 갖는다.
A-3. 화상 데이터를 취득하는 공정 (1)
공정 (1) 은, 촬상 장치 (50) 를 사용하여, 상기 비편광부를 갖는 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 얻음으로써 행해질 수 있다. 촬상 장치 (50) 는, 대표적으로는 조명부 (52) 와 촬상부 (54) 를 구비한다.
조명부 (52) 는, 임의의 적절한 광원을 사용하여 구성될 수 있다. 광원은 백색 광원이어도 되고, 단색 광원이어도 된다. 광원의 구체예로는, 형광등, 할로겐 램프, 메탈 할라이드 램프, LED 등을 들 수 있다.
촬상부 (54) 는, 대표적으로는, 렌즈 및 이미지 센서를 사용하여 구성된 카메라이다. 촬상부는, 바람직하게는 편광판의 전체 폭을 촬상할 수 있도록 1 개 또는 복수 형성된다. 또, 촬상부는, 바람직하게는 장척 방향으로 연속된 화상을 촬상할 수 있도록 되어 있다. 일 실시형태에 있어서, 촬상부는 라인 센서 카메라이다.
도 3 에 나타내는 실시형태에 있어서는, 상기 편광판의 일방의 측에 배치된 조명부 (52) 로부터 편광판 (30) 에 대해서 광을 조사하고, 편광판 (30) 의 타방의 측에 조명부 (52) 와 대향하도록 배치된 촬상부 (54) 에 의해서 편광판 (30) 을 투과한 광을 촬상한다. 투과광을 촬상함으로써, 비편광부에 대응하는 영역의 휘도가, 다른 부분에 대응하는 영역의 휘도보다 높은 이미지가 얻어질 수 있다.
다른 실시형태 (도시 생략) 에 있어서는, 상기 편광판의 일방의 측에 조명부와 촬상부를 배치하고, 그 조명부로부터 편광판에 대해서 경사 방향으로부터 광을 조사하여, 조명부와 동일한 측에 배치된 촬상부에 의해서 편광판에 반사된 광을 촬상한다.
또 다른 실시형태 (도시 생략) 에 있어서는, 상기 편광판의 일방의 측에 조명부와 촬상부를 배치하고, 그 촬상부의 카메라의 광축과 조사광의 광축이 일치하도록, 편광판에 대해서 수직으로 광을 조사하여, 그 반사광을 촬상한다.
비편광부의 형태 (탈색부, 관통공 등), 편광판의 구성 등에 따라서 적절한 촬상 방법을 선택하여 편광판을 촬상함으로써, 비편광부에 대응하는 영역의 휘도와 그 밖의 부분에 대응하는 영역의 휘도의 차가 큰 (결과적으로, 콘트라스트비가 큰) 화상이 얻어질 수 있다. 편광판의 촬상은, 상기 실시형태의 어느 하나에 따라서 행해져도 되고, 2 개 이상의 실시형태를 조합하여 행해도 된다.
바람직하게는, 장척상의 편광판을 장척 방향으로 반송하면서 촬상을 행한다. 반송하면서 촬상을 행함으로써, 제조 라인의 정지를 회피하여 제조 효율을 유지할 수 있다.
A-4. 결함 후보부를 추출하는 공정 (2)
촬상 장치 (50) 에 의해서 얻어진 화상 데이터는, 전기 신호로서 화상 해석 장치 (80) 에 송신된다. 송신된 화상 데이터는, 결함 후보부 추출부 (82) 에 의해서 해석되고, 이로써 결함 후보부가 추출된다.
일 실시형태에 있어서는, 화상 데이터의 휘도 정보에 기초하여 결함 후보부를 추출한다. 구체적으로는, 미리 정상적인 편광판을 촬상하여 정상으로 판정되는 휘도 기준을 설정하고, 그 기준에 기초하여 결함 후보부를 추출한다. 예를 들어, 정상으로 판정되는 휘도의 상한을 초과하는 고휘도부, 정상으로 판정되는 휘도의 하한을 초과하는 저휘도부 등을 결함 후보부로 판정할 수 있다. 이물질, 기포, 핀홀 등의 외관 불량의 원인이 되는 결함부는, 통상적으로 편광판의 정상 영역과 투과율, 반사율 등이 상이한 점에서, 상기와 같은 휘도 기준에 의해서 결함 후보부로서 추출된다. 한편, 얻어진 화상 데이터에 있어서는, 비편광부에 대응하는 영역도, 그 밖의 부분에 대응하는 영역과 투과율, 반사율 등이 상이한 점에서 결함 후보부로서 추출될 수 있다.
결함 후보 추출부 (82) 는, 바람직하게는 결함 후보부의 위치 정보 (예를 들어, 장척 방향으로 연속된 화상에 있어서의 장척 방향 및 폭 방향의 위치 좌표 (X, Y)) 를 기억하여, 주기성 판단부 (86) 에 송신한다.
A-5. 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정 (3)
결함 후보부 추출부 (82) 에 의해서 결함 후보부가 추출되면, 추출된 개개의 결함 후보부에 대해서, 사이즈 판단부 (84) 에서 그 사이즈를 결정하고, 나아가서는, 그 사이즈가 기준치 이하인지의 여부를 판단한다.
결함 후보부의 사이즈의 결정은 임의의 적절한 방법에 의해서 행해질 수 있다. 예를 들어, 화상 데이터 중에 있어서의 결함 후보부의 화소수, 직경, 면적 등에 기초하여 사이즈를 결정할 수 있다. 결함 후보부의 직경은, 대표적으로는 화상 데이터에 있어서, 결함 후보부의 외주상의 임의의 2 점을 잇는 직선 중, 가장 긴 것의 길이가 직경으로서 결정될 수 있다. 면적은 화소수 또는 직경에 기초하여 산출될 수 있다.
상기 기준치는, 임의의 적절한 방법에 의해서 결정될 수 있다. 예를 들어, 상기 기준치는, 비편광부의 사이즈에 기초하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 직경에 의해서 사이즈를 판단하는 경우, 상기 기준치 (직경의 기준치) 는, 이하와 같이 하여 결정할 수 있다. 즉, 설계상의 비편광부의 형상 및 치수에 기초하여 비편광부의 직경 (이론치) 을 산출하거나, 혹은, 실제로 편광자에 형성된 비편광부의 직경 (실측치) 을 측정하고, 얻어진 비편광부의 직경의 예를 들어 90 ％, 바람직하게는 95 ％ 를 기준치로 할 수 있다. 또, 예를 들어, 결함의 평균 사이즈가 비편광부의 사이즈에 비해서 충분히 작을 경우 (예를 들어, 결함의 평균 직경이 비편광부의 직경의 1/8 이하인 경우), 상기 기준치는, 비편광부의 직경의 1/4 ∼ 1/2 의 값으로 할 수 있다. 구체예로서, 비편광부의 직경이 2800 ㎛ 정도이고, 결함의 평균 직경이 150 ㎛ ∼ 300 ㎛ 인 경우, 상기 기준치를 1000 ㎛ 정도로 할 수 있다.
A-6. 결함 후보부가 그 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정 (4)
주기성 판단부 (86) 는, 추출된 결함 후보부 전체를 주기성의 판단 대상으로 해도 되고, 사이즈 판단부 (84) 에 있어서 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 것이 확인된 결함 후보부만을 판단 대상으로 해도 된다. 바람직하게는, 사이즈 판단부 (84) 에 있어서 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 것이 확인된 결함 후보부만을 판단 대상으로 한다.
일 실시형태에 있어서는, 3 개 이상의 결함 후보부가 임의의 방향으로 연장되는 직선 상에 등간격으로 존재할 때, 이들 결함 후보부는 주기성을 갖는다고 판단할 수 있다.
검사 대상의 편광판에 있어서는, 적어도 장척 방향으로 소정 간격으로 비편광부가 배치되어 있는 점에서, 장척 방향에 있어서의 비편광부 사이의 간격에 기초하여 주기성을 판단할 수 있다. 따라서, 편광판 표면에 있어서의 판단 대상인 결함 후보부의 위치를 결정하고, 상기 소정 간격으로 존재하는 것을 스크리닝하거나 함으로써, 주기성의 유무를 효율적으로 판단할 수 있다.
일 실시형태에 있어서는, 결함 후보부의 주기성 유무의 판단은, 결함 후보부의 위치 좌표 (예를 들어, 장척 방향에 있어서의 위치 좌표) 에 기초하여 행해진다. 예를 들어, 결함 후보부 추출부로부터 송신되는 결함 후보부 (예를 들어 장척 방향으로 2 개 이상, 바람직하게는 3 개 이상 인접하는 결함 후보부) 의 위치 좌표를, 설계상 (이론상) 의 비편광부의 위치 좌표와 대조하여 위치 좌표가 일치한 경우에는, 그 결함 후보부는 주기성을 갖는다고 판단할 수 있다. 또, 예를 들어, 결함 후보부 추출부로부터 송신되는 결함 후보부의 장척 방향의 위치 좌표에 기초하여, 판단 대상인 결함 후보부와, 그 반송 방향 상류측에 존재하는 비편광부 (결함은 아니라고 판단 완료된 결함 후보부일 수 있다) 의 장척 방향의 거리를 구하고, 그 거리가 소정 거리인지의 여부에 기초하여 행해진다. 그 거리는, 예를 들어, 장척 방향에 있어서의 비편광부의 배치 간격 (즉, 상기 장척 방향에 있어서의 소정 간격), 또는, 그 소정 간격을 정수배한 거리일 수 있다.
A-7. 결함을 검출하는 공정 (5)
결함 검출부 (88) 는, 결함 후보부의 사이즈, 또는, 결함 후보부의 사이즈와 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출한다. 구체적으로는, 결함 검출부 (88) 는, 사이즈 판단부 (84) 에 있어서 기준치 이하의 사이즈를 갖는다고 판단된 결함 후보부를 결함으로서 검출한다. 결함 검출부 (88) 는 또한, 주기성 판단부 (86) 에 있어서 주기성을 갖는다고 판단된 결함 후보부를 비편광부로 인식하여 결함 후보부와 구별하고, 나머지의 결함 후보부를 결함으로서 검출할 수 있다. 바꾸어 말하면, 결함 검출부 (88) 는, 기준치 이하의 사이즈를 갖는다고 판단된 결함 후보부 및 주기성을 갖지 않는다고 판단된 결함 후보부를 결함으로서 검출할 수 있다.
도 4 는, 본 발명의 일 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다. 도 4 에 나타내는 실시형태에서는, 먼저, 편광판의 화상 데이터를 취득한다 (상기 공정 (1)). 이어서, 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출한다 (상기 공정 (2)). 이어서, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하고 (상기 공정 (3)), 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부를 비편광부로 판단하는 한편, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부를 결함으로서 검출한다 (상기 공정 (5)).
도 5 는, 본 발명의 다른 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다. 도 5 에 나타내는 실시형태에서는, 먼저, 편광판의 화상 데이터를 취득한다 (상기 공정 (1)). 이어서, 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출한다 (상기 공정 (2)). 이어서, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하고 (상기 공정 (3)), 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서, 주기성의 유무를 판단한다 (상기 공정 (4)). 얻어진 결과에 기초하여, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부 및 기준치를 초과하는 사이즈를 갖지만, 주기성을 갖지 않는 결함 후보부를 결함으로서 검출한다 (상기 공정 (5)). 또한, 도 6(a) 중의 백색 원은, 당해 실시형태에 의한 공정 (2) 에 있어서 추출된 모든 결함 후보부를 나타내고, 도 6(b) 중의 백색 원은, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖고, 주기성 유무의 판단 대상이 되는 결함 후보부를 나타내며, 도 6(c) 중의 흑색 원은 주기성을 갖는다고 판단된 결함 후보부 (비편광부) 를 나타내고, 백색 원은 주기성을 갖지 않는다고 판단된 결함 후보부 (결함) 를 나타내고, 도 6(d) 중의 백색 원은 최종적으로 검출되는 결함을 나타낸다.
A-8. 마킹 공정 (6)
검사 장치 (100) 는, 마킹 장치 (도시 생략) 를 추가로 구비하고 있어도 된다. 마킹 장치는, 화상 처리 장치와 접속되어, 화상 처리 장치 (실질적으로는 결함 검출부) 가 결함을 검출하면, 그 결함의 위치 정보를 마킹 장치에 송신한다. 마킹 장치는, 그 위치 정보에 기초하여 결함부에 마킹을 행한다. 마킹된 영역은, 재단 후에 불량 편광판으로서 용이하게 배제될 수 있다. 마킹으로는, 마커 펜을 사용한 마킹이나 레이저 마킹을 들 수 있다.
[B. 편광판의 제조 방법]
본 발명의 비편광부를 갖는 편광자를 포함하는 장척상의 편광판의 제조 방법은, 장척상의 편광자에 비편광부를 형성하는 것, 그 비편광부를 갖는 장척상의 편광자를 사용하여 편광판을 제조하는 것, 및, 상기 검사 방법에 의해서 편광판의 외관을 검사하는 것을 포함한다.
B-1. 편광자
편광자는, 대표적으로는 이색성 물질을 함유하는 수지 필름으로 구성된다. 이색성 물질로는, 예를 들어, 요오드, 유기 염료 등을 들 수 있다. 이것들은 단독으로, 또는 2 종 이상 조합하여 사용될 수 있다. 바람직하게는 요오드가 사용된다.
상기 수지 필름을 형성하는 수지로는, 임의의 적절한 수지가 사용될 수 있다. 바람직하게는, 폴리비닐알코올계 수지가 사용된다. 폴리비닐알코올계 수지로는, 예를 들어, 폴리비닐알코올, 에틸렌-비닐알코올 공중합체를 들 수 있다. 폴리비닐알코올은, 폴리아세트산비닐을 비누화함으로써 얻어진다. 에틸렌-비닐알코올 공중합체는, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체를 비누화함으로써 얻어진다.
편광자 (비편광부를 제외한다) 는, 바람직하게는 파장 380 ㎚ ∼ 780 ㎚ 의 어느 파장에서 흡수 이색성을 나타낸다. 편광자 (비편광부를 제외한다) 의 단체 투과율은, 바람직하게는 39 ％ 이상, 보다 바람직하게는 39.5 ％ 이상, 더욱 바람직하게는 40 ％ 이상, 특히 바람직하게는 40.5 ％ 이상이다. 또한, 단체 투과율의 이론상의 상한은 50 ％ 이고, 실용적인 상한은 46 ％ 이다. 또, 단체 투과율은 JIS Z8701 의 2 도 시야 (C 광원) 에 의해서 측정하여 시감도 보정을 행한 Y 값으로서, 예를 들어, 현미 분광 시스템 (람다 비전 제조 LVmicro) 을 사용하여 측정할 수 있다. 편광자의 편광도 (비편광부를 제외한다) 는, 바람직하게는 99.9 ％ 이상, 보다 바람직하게는 99.93 ％ 이상, 더욱 바람직하게는 99.95 ％ 이상이다.
편광자의 두께는, 임의의 적절한 값으로 설정될 수 있다. 두께는, 바람직하게는 30 ㎛ 이하, 보다 바람직하게는 25 ㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 20 ㎛ 이하, 특히 바람직하게는 10 ㎛ 이하이다. 한편으로, 두께는, 바람직하게는 0.5 ㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 1 ㎛ 이상이다.
편광자의 흡수축은, 목적에 따라서 임의의 적절한 방향으로 설정될 수 있다. 흡수축의 방향은, 예를 들어 장척 방향이어도 되고 폭 방향이어도 된다. 장척 방향으로 흡수축을 갖는 편광자는, 예를 들어, 제조 효율이 우수하다는 이점이 있다. 폭 방향으로 흡수축을 갖는 편광자는, 예를 들어, 장척 방향으로 지상축을 갖는 위상차 필름과 롤 투 롤로 적층할 수 있다는 이점이 있다. 일 실시형태에 있어서는, 흡수축은 장척 방향 또는 폭 방향으로 실질적으로 평행하며, 또한, 편광자의 폭 방향 양단은 장척 방향으로 평행하게 슬릿 가공되어 있다. 이와 같은 구성에 의하면, 편광자의 단변 (端邊) 을 기준으로 재단할 수 있고, 원하는 위치에 비편광부를 가지며, 또한 적절한 방향으로 흡수축을 갖는 복수의 편광자를 용이하게 제조할 수 있다. 또한, 편광자의 흡수축은, 후술하는 연신 처리에 있어서의 연신 방향에 대응할 수 있다.
편광자는, 대표적으로는 상기 수지 필름에 팽윤 처리, 연신 처리, 상기 이색성 물질에 의한 염색 처리, 가교 처리, 세정 처리, 건조 처리 등의 각종 처리를 실시함으로써 얻어진다. 각종 처리를 실시할 때, 수지 필름은 기재 상에 형성된 수지층이어도 된다. 상기 비편광부의 형성은, 편광자의 제조 공정 도중이어도 행할 수 있다.
B-2. 비편광부의 형성
바람직하게는 비편광부는 탈색부이다. 이와 같은 구성에 의하면, 기계적으로 (예를 들어, 톰슨날 타발, 플로터, 워터 제트 등을 사용하여 기계적으로 빼내는 방법에 의해서) 관통공이 형성되어 있는 경우에 비해서, 크랙, 디라미네이션 (층간 박리), 접착 물질의 비어져 나옴 등의 품질상의 문제가 회피된다. 탈색부는, 바람직하게는, 편광자 (이색성 물질을 함유하는 수지 필름) 의 원하는 위치에 염기성 용액을 접촉시킴으로써 형성된다. 이와 같은 방법에 의해서 형성되는 비편광부는, 다른 부위 (비접촉부) 보다 이색성 물질의 함유량이 낮은 저농도부가 될 수 있다. 저농도부는 이색성 물질 자체의 함유량이 낮기 때문에, 레이저광 등에 의해서 이색성 물질을 분해하여 탈색부가 형성되어 있는 경우에 비해서, 비편광부의 투명성이 양호하게 유지된다.
상기 저농도부의 이색성 물질의 함유량은, 바람직하게는 1.0 중량％ 이하, 보다 바람직하게는 0.5 중량％ 이하, 더욱 바람직하게는 0.2 중량％ 이하이다. 저농도부의 이색성 물질의 함유량의 하한치는, 통상적으로 검출 한계치 이하이다. 상기 다른 부위에 있어서의 이색성 물질의 함유량과 저농도부에 있어서의 이색성 물질의 함유량의 차는, 바람직하게는 0.5 중량％ 이상, 더욱 바람직하게는 1 중량％ 이상이다. 이색성 물질로서 요오드를 사용하는 경우, 요오드 함유량은, 예를 들어, 형광 X 선 분석으로 측정한 X 선 강도로부터, 미리 표준 시료를 사용하여 작성한 검량선에 의해서 구해진다.
상기 염기성 용액에 함유되는 염기성 화합물로는, 임의의 적절한 화합물이 사용될 수 있다. 염기성 화합물로는, 예를 들어, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 수산화리튬 등의 알칼리 금속의 수산화물, 수산화칼슘 등의 알칼리 토금속의 수산화물, 탄산나트륨 등의 무기 알칼리 금속염, 아세트산나트륨 등의 유기 알칼리 금속염, 암모니아수 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 바람직하게는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 수산화물이 사용되고, 더욱 바람직하게는 수산화나트륨, 수산화칼륨, 수산화리튬이 사용된다. 이색성 물질을 효율적으로 이온화할 수 있고, 보다 간편하게 탈색부를 형성할 수 있다. 이들 염기성 화합물은 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.
염기성 용액의 용매로는, 물, 알코올이 바람직하게 사용된다. 염기성 용액의 농도는, 예를 들어 0.01 N ∼ 5 N 이고, 바람직하게는 0.05 N ∼ 3 N 이며, 더욱 바람직하게는 0.1 N ∼ 2.5 N 이다. 염기성 용액의 액온은, 예를 들어 20 ℃ ∼ 50 ℃ 이다. 염기성 용액의 접촉 시간은, 편광자의 두께, 염기성 용액에 함유되는 염기성 화합물의 종류나 농도에 따라서 설정될 수 있다. 접촉 시간은, 예를 들어 5 초 ∼ 30 분이고, 바람직하게는 5 초 ∼ 5 분이다.
염기성 용액의 접촉 방법으로는, 임의의 적절한 방법이 채용될 수 있다. 예를 들어, 편광자에 대해서, 염기성 용액을 적하, 도공, 스프레이하는 방법, 편광자를 염기성 용액에 침지하는 방법을 들 수 있다. 염기성 용액의 접촉시에, 원하는 부위 이외에 염기성 용액이 접촉하지 않도록 임의의 적절한 보호재로 편광자를 보호해도 된다. 이와 같은 보호재로는, 예를 들어, 보호 필름, 표면 보호 필름이 사용된다. 보호 필름은, 편광자의 보호 필름으로서 그대로 이용될 수 있는 것이다. 표면 보호 필름은, 편광자의 제조시에 일시적으로 사용되는 것이다. 표면 보호 필름은, 임의의 적절한 타이밍에서 편광자로부터 제거되기 때문에, 대표적으로는 편광자에 점착제층을 개재하여 첩합 (貼合) 된다. 보호재의 다른 구체예로는, 포토레지스트 등을 들 수 있다. 또, 상기 편광자의 제조 공정에서 사용되는 기재도 보호재로서 사용할 수 있다.
바람직하게는, 염기성 용액의 접촉시에, 편광자 표면은, 그 적어도 일부가 노출되도록 표면 보호 필름으로 피복되어 있다. 도시예와 같은 비편광부의 배치 패턴을 갖는 편광자는, 당해 배치 패턴에 대응하는 위치에, 원하는 비편광부 사이즈에 대응하는 작은 원형의 관통공이 형성된 표면 보호 필름을 편광자의 편측에 첩합하여 편광 필름 적층체를 준비하고, 이것에 염기성 용액을 접촉시킴으로써 제조된다. 그 때, 편광자의 또 다른 편측 (관통공이 형성된 표면 보호 필름 (제 1 보호 필름) 이 배치되어 있지 않은 측) 도 보호되어 있는 것이 바람직하다. 보호 필름이나 표면 보호 필름의 첩합은, 롤 투 롤에 의해서 행해지는 것이 바람직하다. 본 명세서에 있어서, 「롤 투 롤」이란, 롤상의 필름을 반송하면서 서로의 장척 방향을 정렬하여 적층하는 것을 말한다.
상기 표면 보호 필름의 형성 재료로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지 등의 에스테르계 수지, 노르보르넨계 수지 등의 시클로올레핀계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 이것들의 공중합체 수지 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 에스테르계 수지 (특히, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지) 이다. 탄성률이 충분히 높고, 예를 들어, 반송 및/또는 첩합시에 장력을 가해도 관통공의 변형이 잘 발생되지 않기 때문이다. 표면 보호 필름의 두께는, 대표적으로는 20 ㎛ ∼ 250 ㎛ 이고, 바람직하게는 30 ㎛ ∼ 150 ㎛ 이다.
제 1 표면 보호 필름은, 소정 패턴으로 배치된 관통공을 갖는다. 관통공의 위치는, 비편광부가 형성되는 위치에 대응한다. 관통공의 형상은, 원하는 비편광부의 형상에 대응한다. 관통공은, 예를 들어, 기계적 타발 (예를 들어, 펀칭, 톰슨날 타발, 플로터, 워터 제트) 또는 필름의 소정 부분의 제거 (예를 들어, 레이저 어블레이션 또는 화학적 용해) 에 의해서 형성된다.
일 실시형태에 있어서는, 상기 염기성 용액은, 편광자와 접촉 후, 임의의 적절한 수단에 의해서 편광자로부터 제거된다. 이와 같은 실시형태에 의하면, 예를 들어, 편광자의 사용에 수반하는 비편광부의 투과율의 저하를 보다 확실하게 방지할 수 있다. 염기성 용액의 제거 방법의 구체예로는, 세정, 웨스 등에 의한 닦아냄 제거, 흡인 제거, 자연 건조, 가열 건조, 송풍 건조, 감압 건조 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 염기성 용액은 세정된다. 세정에 사용하는 세정액으로는, 예를 들어, 물 (순수), 메탄올, 에탄올 등의 알코올, 및, 이것들의 혼합 용매 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 물이 사용된다. 세정 횟수는 특별히 한정되지 않고, 복수 회 행해도 된다. 염기성 용액을 건조에 의해서 제거하는 경우, 그 건조 온도는, 예를 들어 20 ℃ ∼ 100 ℃ 이다.
바람직하게는, 상기 염기성 용액과의 접촉 후, 염기성 용액을 접촉시킨 접촉부에 있어서, 수지 필름에 함유되는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 저감시킨다. 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 저감시킴으로써, 치수 안정성이 우수한 비편광부를 얻을 수 있다. 구체적으로는, 가습 환경 하에서도 염기성 용액과의 접촉에 의해서 형성된 비편광부의 형상을 그대로 유지할 수 있다.
염기성 용액을 접촉시킴으로써, 접촉부에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 수산화물이 잔존할 수 있다. 또, 염기성 용액을 접촉시킴으로써, 접촉부에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 금속염 (예를 들어, 붕산염) 을 생성할 수 있다. 이것들은 수산화물 이온을 생성할 수 있고, 생성된 수산화물 이온은, 접촉부 주위에 존재하는 이색성 물질 (예를 들어, 요오드 착물) 에 작용 (분해·환원) 하여 비편광 영역을 넓힐 수 있다. 따라서, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속염을 저감시킴으로써, 시간 경과적으로 비편광 영역이 넓어지는 것을 억제하여, 원하는 비편광부 형상이 유지될 수 있다고 생각할 수 있다.
상기 비편광부는, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 함유량이 3.6 중량％ 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2.5 중량％ 이하이며, 더욱 바람직하게는 1.0 중량％ 이하이고, 특히 바람직하게는 0.5 중량％ 이하이다. 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 함유량은, 예를 들어, 형광 X 선 분석에 의해서 측정한 X 선 강도로부터, 미리 표준 시료를 사용하여 작성한 검량선에 의해서 구할 수 있다.
상기 저감시키는 방법으로는, 바람직하게는 염기성 용액과의 접촉부에 산성 용액을 접촉시키는 방법이 이용된다. 이와 같은 방법에 의하면, 산성 용액에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 효율적으로 이행시켜, 그 함유량을 저감시킬 수 있다. 산성 용액과의 접촉은, 상기 염기성 용액의 제거 후에 행해도 되고, 염기성 용액을 제거하지 않고 행해도 된다.
상기 산성 용액에 함유되는 산성 화합물로는, 임의의 적절한 산성 화합물을 사용할 수 있다. 산성 화합물로는, 예를 들어, 염산, 황산, 질산, 불화수소 등의 무기산, 포름산, 옥살산, 시트르산, 아세트산, 벤조산 등의 유기산 등을 들 수 있다. 산성 용액에 함유되는 산성 화합물은, 이 중에서도, 바람직하게는 무기산이고, 더욱 바람직하게는 염산, 황산, 질산이다. 이들 산성 화합물은 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.
산성 용액의 용매로는, 물, 알코올이 바람직하게 사용된다. 산성 용액의 농도는, 예를 들어 0.01 N ∼ 5 N 이고, 바람직하게는 0.05 N ∼ 3 N 이며, 더욱 바람직하게는 0.1 N ∼ 2.5 N 이다. 산성 용액의 액온은, 예를 들어 20 ℃ ∼ 50 ℃ 이다. 산성 용액의 접촉 시간은, 예를 들어 5 초 ∼ 5 분이다. 또한, 산성 용액의 접촉 방법은, 상기 염기성 용액의 접촉 방법과 동일한 방법이 채용될 수 있다. 또, 산성 용액은 편광자로부터 제거될 수 있다. 산성 용액의 제거 방법은, 상기 염기성 용액의 제거 방법과 동일한 방법이 채용될 수 있다.
대표적으로는, 상기와 같이 하여 비편광부가 형성된 후 (바람직하게는, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 저감 후), 표면 보호 필름은 박리 제거될 수 있다.
B-3. 편광판의 제조
상기와 같이 하여 얻어지는 비편광부를 갖는 장척상의 편광자는, 대표적으로는 편광자/보호 필름의 적층체를 구성하고 있다. 그 적층체는, 그대로 편광판으로서 사용할 수 있는 한편, 목적 등에 따라서, 그 적층체에 보호 필름 등의 다른 구성 부재를 적층함으로써, 최종 제품으로서의 임의의 적절한 구성을 갖는 편광판이 얻어질 수 있다. 또, 단일한 수지 필름으로 이루어지는 편광자가 얻어지는 경우도 마찬가지로, 용도 등에 따라서 그 편측 또는 양측에 보호 필름 등의 다른 구성 부재를 적층함으로써, 최종 제품으로서의 임의의 적절한 구성을 갖는 편광판이 얻어질 수 있다. 적층되는 다른 구성 부재에 대해서는, A-1 항에서 기재한 대로이다.
상기 다른 구성 부재의 적층은, 이른바 롤 투 롤로 행해질 수 있다.
B-4. 편광판의 외관 검사
상기와 같이 하여 얻어진 편광판을 A 항에 기재된 검사 방법에 제공한다. A 항에 기재된 검사 방법으로, 비편광부를 갖는 편광판의 외관을 검사함으로써, 비편광부를 결함으로서 잘못 검출하지 않고, 목적으로 하는 결함 (이물질, 기포, 핀홀 등) 을 검출할 수 있기 때문에, 검사 효율과 검사 정밀도를 고차로 양립할 수 있게 된다. 그 결과, 고품질의 편광판이, 우수한 제조 효율로 얻어질 수 있다.
B-5. 편광판의 재단
본 발명의 편광판의 제조 방법은, 장척상의 편광판을 원하는 사이즈로 재단하는 공정을 추가로 포함할 수 있다. 재단은, 절단, 타발 등에 의해서 행해질 수 있다. 장척상의 편광판은, 바람직하게는 장착되는 화상 표시 장치에 대응하는 사이즈를 가짐과 함께, 화상 표시 장치에 장착되었을 때, 그 카메라부와 대응하는 위치에 비편광부를 갖도록 재단된다.
재단되는 편광판은, 바람직하게는 결함부에 마킹이 실시되어 있기 때문에, 재단 후에 그 마킹에 기초하여 불량품인 편광판이 용이하게 배제될 수 있다.
본 발명의 검사 방법은, 예를 들어, 스마트 폰 등의 휴대 전화, 노트형 PC, 태블릿 PC 등의 카메라 부착 화상 표시 장치 (액정 표시 장치, 유기 EL 디바이스) 에 구비되는 편광판을 제조할 때 바람직하게 사용된다.
10 : 편광자
10a : 비편광부
30 : 편광판
50 : 촬상 장치
80 : 화상 해석 장치
82 : 결함 후보부 추출부
84 : 사이즈 판단부
86 : 주기성 판단부
88 : 결함 검출부
100 : 검사 장치

Claims (10)

  1. 장척상의 편광자에 장척 방향으로 소정의 간격으로 배치된 비편광부를 형성하는 것, 그 비편광부를 갖는 장척상의 편광자를 사용하여 장척상의 편광판을 제조하는 것, 및, 그 장척상의 편광판을 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 것을 포함하는, 편광판의 제조 방법으로서,
    그 장척상의 편광판의 외관을 검사하는 것이,
    그 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과,
    그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과,
    그 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과,
    그 결함 후보부가 그 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정과,
    결함을 검출하는 공정을 포함하고,
    그 결함을 검출하는 공정은, 그 결함 후보부의 사이즈 및 그 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 공정인, 편광판의 제조 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 장척상의 편광자에, 장척 방향 및 폭 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 형성하는, 편광판의 제조 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 화상 데이터의 취득이, 상기 편광판의 연속적인 촬상에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 결함 후보부의 추출이, 상기 화상 데이터의 휘도 정보에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서만, 상기 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는, 편광판의 제조 방법.
  7. 제 1 항 또는 제 6 항에 있어서,
    상기 결함 후보부의 주기성의 유무의 판단이, 상기 결함 후보부의 장척 방향에 있어서의 위치 좌표에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
  8. 제 1 항에 또는 제 6 항에 있어서,
    상기 결함 후보부의 주기성의 유무의 판단이, 판단 대상인 결함 후보부와, 그 반송 방향 상류측에 존재하는 비편광부의 장척 방향의 거리가, 소정 거리인지의 여부에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
  9. 제 1 항에 있어서,
    외관을 검사한 후에, 상기 장척상의 편광판을 원하는 사이즈로 재단하는 것을 추가로 포함하는, 편광판의 제조 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    염기성 용액과의 접촉에 의해 상기 장척상의 편광자에 상기 비편광부를 형성하는, 편광판의 제조 방법.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7310101B2 (ja) * 2017-08-03 2023-07-19 東レ株式会社 ガス拡散電極の検査方法およびガス拡散電極
JP7299219B2 (ja) * 2018-07-30 2023-06-27 日本化薬株式会社 マーキング装置、マーキング方法、偏光板の製造方法および偏光板
JP7649952B2 (ja) 2021-07-28 2025-03-24 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 検査方法および検査装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004198163A (ja) 2002-12-17 2004-07-15 Sumitomo Chem Co Ltd 保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法
JP2007212442A (ja) 2006-01-11 2007-08-23 Nitto Denko Corp 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置
JP2008175609A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Sekisui Chem Co Ltd 光学フィルムの検査方法及び光学フィルム
JP2012137738A (ja) * 2010-10-29 2012-07-19 Apple Inc 偏光窓及び不透明マスク層を有する電子デバイスのディスプレイ
JP2013007689A (ja) * 2011-06-27 2013-01-10 Fujifilm Corp 欠陥検査装置及び方法
JP2014211548A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 住友化学株式会社 偏光能を示さない領域を有する偏光性積層フィルムの製造方法及び偏光板

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040212555A1 (en) 2003-04-23 2004-10-28 Falco Mark A. Portable electronic device with integrated display and camera and method therefore
JP2007271314A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Japan Radio Co Ltd 地中探査レーダにおける管径推定方法
JP5248052B2 (ja) * 2006-10-11 2013-07-31 日東電工株式会社 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム
KR100876291B1 (ko) * 2007-02-21 2008-12-31 에버테크노 주식회사 편광필름의 결함검사 시스템
JP4646951B2 (ja) 2007-06-06 2011-03-09 株式会社半導体エネルギー研究所 センサ付き表示装置
KR20100125537A (ko) * 2009-05-21 2010-12-01 동우 화인켐 주식회사 편광격자 스크린의 제조방법, 편광격자 스크린 및 이것이 구비된 3차원 화상표시장치
CN102576143A (zh) * 2009-10-06 2012-07-11 索尼公司 光学单元和摄像装置
JP5434457B2 (ja) 2009-10-09 2014-03-05 ソニー株式会社 光学ユニットおよび撮像装置
KR101704556B1 (ko) * 2010-02-12 2017-02-08 동우 화인켐 주식회사 편광판의 커팅 장치 및 방법
KR101293210B1 (ko) 2010-12-15 2013-08-05 주식회사 엘지화학 디스플레이 기기용 편광판의 구멍 형성 장치 및 방법
JP5917492B2 (ja) * 2011-03-25 2016-05-18 東レエンジニアリング株式会社 外観検査方法およびその装置
KR101495759B1 (ko) 2011-04-18 2015-02-26 주식회사 엘지화학 디스플레이 장치용 편광판, 이를 이용한 액정 패널 및 디스플레이 장치
TW201314384A (zh) * 2011-09-16 2013-04-01 V Technology Co Ltd 膜片曝光裝置
US9196031B2 (en) * 2012-01-17 2015-11-24 SCREEN Holdings Co., Ltd. Appearance inspection apparatus and method
JP2013221766A (ja) * 2012-04-13 2013-10-28 Panasonic Corp 外観検査装置および外観検査方法
JP5822371B2 (ja) * 2012-07-11 2015-11-24 エルジー・ケム・リミテッド ディスプレイ基板のベゼルパターン形成方法
JP2014081482A (ja) * 2012-10-16 2014-05-08 Nitto Denko Corp 偏光子および画像表示装置
US9075199B2 (en) 2012-10-30 2015-07-07 Apple Inc. Displays with polarizer layers for electronic devices
JP5825278B2 (ja) * 2013-02-21 2015-12-02 オムロン株式会社 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2015025759A (ja) * 2013-07-26 2015-02-05 Hoya株式会社 基板検査方法、基板製造方法および基板検査装置
JP6156820B2 (ja) * 2013-08-22 2017-07-05 住友化学株式会社 欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム
US20150160390A1 (en) * 2013-12-10 2015-06-11 Apple Inc. Display Having Polarizer with Unpolarized Strip
WO2015108261A1 (ko) * 2014-01-17 2015-07-23 주식회사 엘지화학 국지적으로 편광 해소 영역을 갖는 편광자 제조 방법, 이를 이용하여 제조된 편광자 및 편광판
WO2015145658A1 (ja) * 2014-03-27 2015-10-01 日東電工株式会社 偏光子および画像表示装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004198163A (ja) 2002-12-17 2004-07-15 Sumitomo Chem Co Ltd 保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法
JP2007212442A (ja) 2006-01-11 2007-08-23 Nitto Denko Corp 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置
JP2008175609A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Sekisui Chem Co Ltd 光学フィルムの検査方法及び光学フィルム
JP2012137738A (ja) * 2010-10-29 2012-07-19 Apple Inc 偏光窓及び不透明マスク層を有する電子デバイスのディスプレイ
JP2013007689A (ja) * 2011-06-27 2013-01-10 Fujifilm Corp 欠陥検査装置及び方法
JP2014211548A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 住友化学株式会社 偏光能を示さない領域を有する偏光性積層フィルムの製造方法及び偏光板

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