KR102764689B1 - Method for setting setting information used for substrate processing monitoring, method for monitoring substrate processing device, and substrate processing device - Google Patents
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Abstract
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법은, 기판 처리 장치 내의 제1 감시 대상물을 이동시키는 이동 기구를 제어하여, 상기 제1 감시 대상물을 제1 정지 위치로 이동시키는 셋업 레시피 공정(S12)과, 셋업 레시피 공정(S12)과 병행하여 실행되며, 카메라가 제1 감시 대상물을 촬상하는 셋업 촬상 공정과, 셋업 촬상 공정에 있어서 카메라에 의해 취득되어, 제1 정지 위치에서 정지하는 제1 감시 대상물을 포함하는 제1 화상 데이터와, 제1 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 제1 화상 데이터 내에 있어서의 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제1 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는 설정 공정(S16)을 구비한다. A method for setting setup information used for substrate processing monitoring comprises: a setup recipe process (S12) for controlling a moving mechanism for moving a first surveillance object in a substrate processing device to move the first surveillance object to a first stop position; a setup imaging process, which is executed in parallel with the setup recipe process (S12) and in which a camera captures an image of the first surveillance object; first image data including the first surveillance object stopped at the first stop position, acquired by the camera in the setup imaging process; and a setting process (S16) for detecting a position of the first surveillance object in the first image data based on first reference image data representing at least a part of the first surveillance object, and setting the position as an appropriate position with respect to the first stop position.
Description
본원은, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법, 기판 처리 장치의 감시 방법 및 기판 처리 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a method for setting setting information used for substrate processing monitoring, a method for monitoring a substrate processing device, and a substrate processing device.
종래부터, 반도체 디바이스 등의 제조 공정에 있어서는, 기판에 대해 순수(純水), 포토레지스트액 및 에칭액 등의 다양한 처리액을 공급하여, 세정 처리 및 레지스트 도포 처리 등의 다양한 기판 처리를 행하고 있다. 이와 같은 처리를 행하는 기판 처리를 행하는 장치로는, 기판을 수평 자세로 회전시키면서, 그 기판의 표면에 노즐로부터 처리액을 토출하는 기판 처리 장치가 널리 이용되고 있다. Conventionally, in the manufacturing process of semiconductor devices, etc., various processing solutions such as pure water, photoresist solution, and etching solution are supplied to the substrate to perform various substrate processing such as cleaning treatment and resist coating treatment. As a substrate processing device that performs such processing, a substrate processing device that rotates the substrate in a horizontal position and ejects the processing solution onto the surface of the substrate from a nozzle is widely used.
노즐은 배관을 통하여 처리액 공급원에 접속되고, 배관에는 밸브가 설치된다. 밸브가 열림으로써, 노즐로부터 처리액이 토출되고, 밸브가 닫힘으로써, 노즐로부터 처리액이 토출된다.The nozzle is connected to a treatment liquid supply source through a pipe, and a valve is installed in the pipe. When the valve is opened, the treatment liquid is discharged from the nozzle, and when the valve is closed, the treatment liquid is discharged from the nozzle.
또, 기판 처리 장치에는, 노즐을 이동시키는 노즐 이동 기구가 설치된다. 노즐 이동 기구는, 노즐을, 기판보다 상방의 처리 위치와, 기판보다 외측의 대기 위치의 사이에서 이동시킨다. In addition, the substrate processing device is provided with a nozzle moving mechanism for moving the nozzle. The nozzle moving mechanism moves the nozzle between a processing position above the substrate and a waiting position outside the substrate.
노즐이 처리 위치에서 정지한 상태에서 밸브가 열림으로써, 노즐로부터 기판의 주면에 처리액이 공급된다. 이에 따라, 기판에 대한 처리가 행해진다. 처리액의 토출 개시부터 규정의 토출 시간이 경과하면, 밸브가 닫히고 처리액의 공급이 정지한다. When the valve is opened while the nozzle is stopped at the processing position, the processing liquid is supplied from the nozzle to the main surface of the substrate. Accordingly, the substrate is processed. When the prescribed discharging time has elapsed from the start of discharging the processing liquid, the valve closes and the supply of the processing liquid stops.
이와 같은 기판 처리 장치에 있어서, 노즐로부터 처리액이 토출되어 있는지 여부의 감시가 행해지는 경우가 있다. 즉, 노즐로부터의 처리액의 토출 상태를 감시하는 경우가 있다. 예를 들면 특허 문헌 1에는, 카메라 등의 촬상 수단을 설치하여 노즐로부터의 처리액 토출을 직접적으로 감시하는 것이 제안되어 있다. In such a substrate processing device, there are cases where monitoring is performed to determine whether or not the processing liquid is discharged from the nozzle. In other words, there are cases where the discharge status of the processing liquid from the nozzle is monitored. For example, patent document 1 proposes directly monitoring the discharge of the processing liquid from the nozzle by installing an imaging means such as a camera.
기판 처리에 있어서의 감시 대상으로서, 노즐로부터 토출되는 처리액의 토출 상태 외에, 노즐의 위치를 채용할 수도 있다. 즉, 기판 처리 장치는, 노즐의 위치가 적절한지 여부를, 촬상 수단에 의해 취득된 화상 데이터에 의거하여 판단하는 경우도 있다. In addition to the discharge status of the treatment liquid discharged from the nozzle, the position of the nozzle may also be adopted as a target of monitoring in substrate processing. That is, the substrate processing device may also determine whether the nozzle position is appropriate based on image data acquired by an imaging means.
구체적으로는, 기판 처리 장치는, 처리 위치에서 정지한 노즐을 포함하는 화상 데이터에 대한 화상 처리에 의해, 화상 데이터 내에 있어서의 노즐의 좌표 위치를 검출하고, 당해 노즐의 좌표 위치와, 미리 설정된 적정 위치(설정 좌표 위치)에 의거하여, 당해 노즐의 좌표 위치가 적절한지 여부를 판단한다. Specifically, the substrate processing device detects the coordinate position of the nozzle in the image data by image processing on the image data including the nozzle stopped at the processing position, and determines whether the coordinate position of the nozzle is appropriate based on the coordinate position of the nozzle and a preset appropriate position (set coordinate position).
이 설정 좌표 위치는, 노즐이 적절한 위치에 정지했을 때에 촬상된 화상 데이터에 있어서, 당해 노즐의 좌표 위치이다. 이 설정 좌표 위치는, 예를 들면, 기판 처리 장치의 설치 등에, 작업원에 의해 수동으로 설정된다. 구체적으로는, 우선, 노즐 이동 기구가 노즐을 처리 위치로 이동시킨 상태에서 촬상 수단에 의해 화상 데이터를 취득한다. 기판 처리 장치는 당해 화상 데이터를 유저 인터페이스의 디스플레이에 표시한다. 다음에, 작업원은, 디스플레이에 표시된 화상 데이터를 시인(視認)하여, 화상 데이터에 있어서 노즐이 포함된 영역의 좌표 위치를, 유저 인터페이스에 입력한다. 기판 처리 장치는, 유저 인터페이스에 입력된 좌표 위치를, 노즐의 설정 좌표 위치로서 설정한다. 이에 따라, 화상 데이터에 있어서의 노즐의 적정 위치를 설정할 수 있다. This setting coordinate position is the coordinate position of the nozzle in the captured image data when the nozzle is stopped at an appropriate position. This setting coordinate position is manually set by an operator, for example, when installing a substrate processing device. Specifically, first, the nozzle moving mechanism moves the nozzle to the processing position, and the image data is acquired by the imaging means. The substrate processing device displays the image data on the display of the user interface. Next, the operator recognizes the image data displayed on the display and inputs the coordinate position of the area including the nozzle in the image data into the user interface. The substrate processing device sets the coordinate position input into the user interface as the setting coordinate position of the nozzle. Accordingly, the appropriate position of the nozzle in the image data can be set.
그러나, 이와 같은 수동에 의한 설정은 작업 시간의 증가를 초래하는 데다, 작업원의 익숙도의 차이에 따라, 설정에 편차가 생길 수 있다. However, manual settings like this increase the work time and may result in differences in settings depending on the operator's level of familiarity.
그래서, 본원은, 상기 과제를 감안하여 이루어진 것이며, 감시 처리에 이용되는 감시 대상의 적정 위치를 자동으로 설정할 수 있는 기술을 제공하는 것을 목적으로 한다. Therefore, the present invention was made in consideration of the above-mentioned tasks, and aims to provide a technology capable of automatically setting an appropriate location of a surveillance target used for surveillance processing.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제1의 양태는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 기판 처리 장치 내의 제1 감시 대상물을 이동시키는 이동 기구를 제어하여, 상기 제1 감시 대상물을 제1 정지 위치로 이동시키는 셋업 레시피 공정과, 상기 셋업 레시피 공정과 병행하여 실행되며, 카메라가 상기 제1 감시 대상물을 촬상하는 셋업 촬상 공정과, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 제1 정지 위치에서 정지하는 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 제1 화상 데이터와, 상기 제1 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제1 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제1 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는 설정 공정을 구비한다. A first aspect of a method for setting setting information used in substrate processing monitoring is a method for setting setting information used in substrate processing monitoring, comprising: a setup recipe process for controlling a moving mechanism for moving a first monitoring target in a substrate processing device to move the first monitoring target to a first stop position; a setup imaging process for imaging the first monitoring target with a camera, which is executed in parallel with the setup recipe process; and a setting process for detecting a position of the first monitoring target in the first image data based on first image data acquired by the camera in the setup imaging process and including the first monitoring target stopped at the first stop position, and first reference image data representing at least a part of the first monitoring target, and setting the position as an appropriate position with respect to the first stop position.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제2의 양태는, 제1의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 상기 설정 공정에서는, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 순차적으로 취득되는 복수의 화상 데이터 중, 상기 제1 정지 위치에서 정지한 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 상기 제1 화상 데이터를, 상기 이동 기구로의 제어 신호에 의거하여 특정한다. A second aspect of a method for setting setting information used for substrate processing monitoring is a method for setting setting information used for substrate processing monitoring according to the first aspect, wherein in the setting step, among a plurality of image data sequentially acquired by the camera in the setup imaging step, the first image data including the first surveillance target stopped at the first stop position is specified based on a control signal to the moving mechanism.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제3의 양태는, 제1 또는 제2의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 기판 처리 장치 내에 유지된 기판의 주면에 처리액을 공급하는 노즐을, 상기 제1 감시 대상물로 하여, 상기 제1 정지 위치로 이동시킨다. A third aspect of a method for setting setup information used for substrate processing monitoring is a method for setting setup information used for substrate processing monitoring according to the first or second aspect, wherein in the setup recipe process, a nozzle for supplying a processing liquid to a main surface of a substrate held in the substrate processing device is moved to the first stop position as the first monitoring object.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제4의 양태는, 제3의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 노즐을, 상기 제1 정지 위치, 및, 상기 카메라에서 보아 적어도 깊이 방향에 있어서 상기 제1 정지 위치와 상이한 제2 정지 위치에 순서대로 이동시키고, 상기 설정 공정은, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 제2 정지 위치에서 정지한 상기 노즐을 포함하는 제2 화상 데이터와, 상기 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제2 화상 데이터 내에 있어서의 상기 노즐의 위치 및 크기를 검출하는 검출 공정과, 상기 제1 화상 데이터 내의 상기 노즐에 대해 토출 판정 영역의 위치 및 크기가 미리 규정된 제1 상대 관계와, 상기 제1 화상 데이터 내의 상기 노즐의 크기에 대한 상기 제2 화상 데이터 내의 상기 노즐의 크기의 배율에 의거하여, 상기 제2 화상 데이터 내의 상기 노즐에 대한 토출 판정 영역의 위치 및 크기를 규정하는 제2 상대 관계를 설정하는 판정 영역 설정 공정을 포함한다. A fourth aspect of a method for setting setting information used for substrate processing monitoring is a method for setting setting information used for substrate processing monitoring according to the third aspect, wherein in the setup recipe process, the nozzle is sequentially moved to the first stop position and a second stop position different from the first stop position at least in the depth direction as viewed from the camera, and the setting process includes: a detection process for detecting the position and size of the nozzle in the second image data based on second image data acquired by the camera in the setup imaging process and including the nozzle stopped at the second stop position, and the first reference image data; and a judgment area setting process for setting a second relative relationship for defining the position and size of the discharge judgment area for the nozzle in the second image data based on a first relative relationship in which the position and size of the nozzle in the first image data are defined in advance, and a magnification of the size of the nozzle in the second image data with respect to the size of the nozzle in the first image data.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제5의 양태는, 제1 또는 제2의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 기판 처리 장치 내의 기판 유지부를 둘러싸는 처리 컵을, 상기 제1 감시 대상물로 하여, 연직 방향을 따라 이동시켜 상기 제1 정지 위치에서 정지시킨다. A fifth aspect of a method for setting setting information used for substrate processing monitoring is a method for setting setting information used for substrate processing monitoring according to the first or second aspect, wherein in the setup recipe process, a processing cup surrounding a substrate holding portion in the substrate processing device is moved in a vertical direction as the first monitoring object and stopped at the first stop position.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제6의 양태는, 제1 내지 제3, 제5 중 어느 하나의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 제1 감시 대상물을 상기 제1 정지 위치, 및, 상기 제1 정지 위치와는 상이한 제2 정지 위치에 순차적으로 이동시키고, 상기 설정 공정에서는, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 취득되며, 상기 제2 정지 위치에서 정지하는 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 제2 화상 데이터와, 상기 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제2 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제2 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정한다. A sixth aspect of a method for setting setting information used for substrate processing monitoring is a method for setting setting information used for substrate processing monitoring according to any one of the first to third and fifth aspects, wherein, in the setup recipe process, the first monitoring target is sequentially moved to the first stop position and a second stop position different from the first stop position, and, in the setting process, based on second image data acquired in the setup imaging process and including the first monitoring target stopped at the second stop position, and the first reference image data, the position of the first monitoring target in the second image data is detected, and the position is set as an appropriate position with respect to the second stop position.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법의 제7의 양태는, 제1 내지 제6 중 어느 하나의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법으로서, 상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 기판 처리 장치 내의 상기 제1 감시 대상물과는 상이한 제2 감시 대상물을 제3 정지 위치로 이동시키고, 상기 설정 공정에서는, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 취득되며, 상기 제3 정지 위치에서 정지하는 상기 제2 감시 대상물을 포함하는 제3 화상 데이터와, 상기 제2 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 제2 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제3 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제2 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제2 감시 대상물의 상기 제3 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정한다. A seventh aspect of a method for setting setting information used for substrate processing monitoring is a method for setting setting information used for substrate processing monitoring according to any one of the aspects 1 to 6, wherein in the setup recipe process, a second surveillance object, different from the first surveillance object in the substrate processing device, is moved to a third stop position, and in the setting process, based on third image data acquired in the setup imaging process and including the second surveillance object stopped at the third stop position, and second reference image data indicating at least a part of the second surveillance object, a position of the second surveillance object in the third image data is detected, and the position is set as an appropriate position with respect to the third stop position of the second surveillance object.
기판 처리 장치의 감시 방법의 제1의 양태는, 제1 내지 제7 중 어느 하나의 양태에 따른 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법을 행하는 셋업 공정과, 기판 처리 장치 내의 기판 유지부가 기판을 유지하는 유지 공정과, 상기 기판 유지부가 상기 기판을 유지한 상태에서 상기 이동 기구를 제어하여, 상기 제1 감시 대상물을 상기 제1 정지 위치로 이동시키는 처리 레시피 공정과, 상기 처리 레시피 공정과 병행하여, 상기 카메라가 상기 제1 감시 대상물을 촬상하는 처리 촬상 공정과, 상기 처리 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 제1 정지 위치에서 정지한 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 제4 화상 데이터와, 상기 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제4 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치의 적정 여부를, 상기 제1 정지 위치에 관한 상기 적정 위치에 의거하여 판단하는 위치 감시 공정을 구비한다. A first aspect of a monitoring method for a substrate processing apparatus comprises: a setup step for performing a method of setting setting information used for substrate processing monitoring according to any one of aspects 1 to 7; a holding step in which a substrate holding unit in the substrate processing apparatus holds a substrate; a processing recipe step in which the moving mechanism is controlled in a state in which the substrate holding unit holds the substrate to move the first monitoring target to the first stop position; and, in parallel with the processing recipe step, a processing imaging step in which the camera captures an image of the first monitoring target; fourth image data acquired by the camera in the processing imaging step and including the first monitoring target stopped at the first stop position; and a position monitoring step in which the position of the first monitoring target in the fourth image data is detected based on the first reference image data, and whether or not the position is appropriate is judged based on the appropriate position with respect to the first stop position.
기판 처리 장치의 제1의 양태는, 기판에 대한 처리를 행하는 기판 처리 장치로서, 챔버와, 챔버 내의 감시 대상물을 소정의 정지 위치로 이동시키는 이동 기구와, 상기 감시 대상물을 포함하는 영역을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 카메라와, 상기 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 참조 화상 데이터가 기억된 기억 매체와, 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 정지 위치에서 정지한 상기 감시 대상물을 포함하는 상기 화상 데이터와, 상기 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 화상 데이터 내에 있어서의 상기 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는 제어부를 구비한다. A first aspect of a substrate processing device is a substrate processing device that performs processing on a substrate, comprising: a chamber; a moving mechanism that moves a surveillance target within the chamber to a predetermined stop position; a camera that photographs an area including the surveillance target and acquires image data; a storage medium storing reference image data representing at least a part of the surveillance target; the image data acquired by the camera and including the surveillance target stopped at the stop position; and a control unit that detects a position of the surveillance target in the image data based on the reference image data and sets the position as an appropriate position with respect to the stop position.
기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법 및 기판 처리 장치에 의하면, 적정 위치를 자동으로 설정할 수 있다. According to a method for setting setting information used for substrate processing monitoring and a substrate processing device, an appropriate position can be automatically set.
도 1은 기판 처리 장치의 전체 구성의 일례를 개략적으로 나타내는 도이다.
도 2는 처리 유닛의 구성의 일례를 개략적으로 나타내는 평면도이다.
도 3은 처리 유닛의 구성의 일례를 개략적으로 나타내는 측면도이다.
도 4는 노즐의 이동 경로의 일례를 개략적으로 나타내는 평면도이다.
도 5는 제어부의 내부 구성의 일례를 나타내는 기능 블럭도이다.
도 6은 처리 유닛의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다.
도 7은 셋업 처리의 일례를 나타내는 플로차트이다.
도 8은 촬상 화상 데이터의 일례를 개략적으로 나타내는 도이다.
도 9는 감시 처리의 구체적인 일례를 나타내는 플로차트이다.
도 10은 촬상 화상 데이터의 일례를 개략적으로 나타내는 도이다.
도 11은 촬상 화상 데이터 내의 제1 노즐의 크기를 개략적으로 나타내는 도이다.
도 12는 촬상 화상 데이터 내의 토출 판정 영역(R1)의 일례를 개략적으로 나타내는 도이다.
도 13은 체크 처리의 일례를 나타내는 플로차트이다. Figure 1 is a diagram schematically showing an example of the overall configuration of a substrate processing device.
Figure 2 is a plan view schematically showing an example of the configuration of a processing unit.
Figure 3 is a side view schematically showing an example of the configuration of a processing unit.
Figure 4 is a plan view schematically showing an example of the movement path of the nozzle.
Figure 5 is a functional block diagram showing an example of the internal configuration of a control unit.
Figure 6 is a flowchart showing an example of the operation of the processing unit.
Figure 7 is a flowchart showing an example of setup processing.
Figure 8 is a diagram schematically showing an example of captured image data.
Figure 9 is a flowchart showing a specific example of surveillance processing.
Figure 10 is a diagram schematically showing an example of captured image data.
Figure 11 is a diagram schematically showing the size of the first nozzle within the captured image data.
Fig. 12 is a diagram schematically showing an example of an ejection judgment area (R1) within captured image data.
Figure 13 is a flowchart showing an example of check processing.
이하, 첨부되는 도면을 참조하면서 실시의 형태에 대해서 설명한다. 또한, 도면은 개략적으로 나타내는 것이며, 설명의 편의를 위해, 적절히, 구성의 생략, 또는, 구성의 간략화가 이루어지는 것이다. 또, 도면에 나타내는 구성의 크기 및 위치의 상호 관계는, 반드시 정확하게 기재되는 것이 아니라, 적절히 변경될 수 있는 것이다. Hereinafter, the embodiment will be described with reference to the attached drawings. In addition, the drawings are schematic representations, and for the convenience of explanation, appropriately, the configuration is omitted or simplified. In addition, the mutual relationship between the size and position of the configurations shown in the drawings is not necessarily described accurately, and may be appropriately changed.
또, 이하에 나타내는 설명에서는, 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 붙여 도시하고, 이들 명칭과 기능에 대해서도 동일한 것으로 한다. 따라서, 이들에 대한 상세한 설명을, 중복을 피하기 위해 생략하는 경우가 있다. In addition, in the descriptions given below, identical components are depicted with the same symbols, and their names and functions are also identical. Therefore, detailed descriptions of these may be omitted in order to avoid duplication.
또, 이하에 기재되는 설명에 있어서, 「제1」 또는 「제2」 등의 서수가 이용되는 경우가 있어도, 이들 용어는, 실시의 형태의 내용을 이해하는 것을 용이하게 하기 위해 편의상 이용되는 것이며, 이들 서수에 의해 발생 수 있는 순서 등에 한정되는 것은 아니다. In addition, in the description described below, even if ordinal numbers such as “first” or “second” are used, these terms are used for convenience in order to facilitate understanding of the contents of the embodiment, and are not limited to the order that may occur by these ordinals.
상대적 또는 절대적인 위치 관계를 나타내는 표현(예를 들면 「일 방향으로」 「일 방향을 따라」 「평행」 「직교」 「중심」 「동심」 「동축」 등)은, 특별히 언급하지 않는 한, 그 위치 관계를 엄밀하게 나타낼 뿐만 아니라, 공차 혹은 동일한 정도의 기능이 얻어지는 범위에서 상대적으로 각도 또는 거리에 관해서 변위된 상태도 나타내는 것으로 한다. 동일한 상태인 것을 나타내는 표현(예를 들면 「동일」 「같다」 「균질」 등)은, 특별히 언급하지 않는 한, 정량적으로 엄밀하게 같은 상태를 나타낼 뿐만 아니라, 공차 혹은 동일한 정도의 기능이 얻어지는 차가 존재하는 상태도 나타내는 것으로 한다. 형상을 나타내는 표현(예를 들면, 「사각형 형상」 또는 「원통 형상」 등)은, 특별히 언급하지 않는 한, 기하학적으로 엄밀하게 그 형상을 나타낼 뿐만 아니라, 동일한 정도의 효과가 얻어지는 범위에서, 예를 들면 요철이나 모따기 등을 갖는 형상도 나타내는 것으로 한다. 하나의 구성 요소를 「마련하다」 「갖추다」 「구비하다」 「포함하다」 또는 「갖는다」라는 표현은, 다른 구성 요소의 존재를 제외하는 배타적 표현은 아니다. 「A, B 및 C 중 적어도 어느 하나」라는 표현은, A만, B만, C만, A, B 및 C 중 임의의 2개, 및, A, B 및 C 모두를 포함한다. Expressions expressing relative or absolute positional relationships (e.g., “in one direction,” “along one direction,” “parallel,” “orthogonal,” “centered,” “concentric,” “coaxial,” etc.) are intended to strictly express the positional relationship, unless otherwise specified, as well as to express a state of relative angular or distance displacement within a range in which tolerance or the same level of function is obtained. Expressions expressing the same state (e.g., “identical,” “same,” “homogeneous,” etc.) are intended to express not only a quantitatively strictly identical state, unless otherwise specified, but also a state in which there is a difference in which tolerance or the same level of function is obtained. Expressions expressing a shape (e.g., “rectangular shape” or “cylindrical shape”) are intended to express the shape geometrically strictly, unless otherwise specified, as well as to express a shape having, for example, unevenness or chamfering, within a range in which the same level of effect is obtained. The expressions "provide," "equip," "include," or "have" a component are not exclusive expressions that exclude the presence of other components. The expression "at least one of A, B, and C" includes A only, B only, C only, any two of A, B, and C, and all of A, B, and C.
<기판 처리 장치의 전체 구성><Overall configuration of the substrate processing device>
도 1은, 본 실시의 형태에 관한 기판 처리 장치(100)의 내부의 레이아웃의 일례를 설명하기 위한 도해적인 평면도이다. 도 1에 예를 나타내는 바와 같이, 기판 처리 장치(100)는, 처리 대상인 기판(W)을 1장씩 처리하는 매엽식의 처리 장치이다. Fig. 1 is a schematic plan view for explaining an example of the layout of the inside of a substrate processing device (100) according to the present embodiment. As shown in the example in Fig. 1, the substrate processing device (100) is a single-wafer processing device that processes substrates (W) as processing targets one at a time.
본 실시의 형태에 관한 기판 처리 장치(100)는, 원형 박판 형상인 실리콘 기판인 기판(W)에 대해, 약액 및 순수 등의 린스액을 이용하여 세정 처리를 행한 후, 건조 처리를 행한다. The substrate processing device (100) according to the present embodiment performs a cleaning process on a substrate (W), which is a silicon substrate in the shape of a circular thin plate, using a rinsing solution such as a chemical solution or pure water, and then performs a drying process.
상기의 약액으로는, 예를 들면, 암모니아와 과산화 수소수의 혼합액(SC1), 염산과 과산화 수소수의 혼합 수용액(SC2), 또는, DHF액(희불산) 등이 이용된다. Examples of the above-mentioned medicinal solutions used include a mixture of ammonia and hydrogen peroxide solution (SC1), a mixture of hydrochloric acid and hydrogen peroxide solution (SC2), or dihydrofluoric acid (DHF) solution.
이하의 설명에서는, 약액, 린스액 및 유기용제 등을 총칭하여 「처리액」이라고 한다. 또한, 세정 처리 뿐만 아니라, 불필요한 막을 제거하기 위한 약액, 또는, 에칭을 위한 약액 등도 「처리액」에 포함되는 것으로 한다. In the following description, chemicals, rinses, and organic solvents are collectively referred to as “treatment liquids.” In addition, chemicals for removing unnecessary films, or chemicals for etching, as well as cleaning treatments, are also included in the “treatment liquids.”
기판 처리 장치(100)는, 복수의 처리 유닛(1)과, 로드 포트(LP)와, 인덱서 로봇(102)과, 주반송 로봇(103)과, 제어부(9)와, 유저 인터페이스(90)를 구비한다. The substrate processing device (100) is equipped with a plurality of processing units (1), a load port (LP), an indexer robot (102), a main transport robot (103), a control unit (9), and a user interface (90).
도 1에 예시되는 바와 같이, 복수의 로드 포트(LP)가 늘어서 배치된다. 각 로드 포트(LP)에는, 캐리어(C)가 반입된다. 캐리어(C)로는, 기판(W)을 밀폐 공간에 수납하는 FOUP(Front Opening Unified Pod), SMIF(Standard Mechanical InterFace) 포드, 또는, 기판(W)을 바깥 공기에 노출시키는 OC(Open Cassette)가 채용되어도 된다. 또, 인덱서 로봇(102)은, 캐리어(C)와 주반송 로봇(103)의 사이에서 기판(W)을 반송한다. As illustrated in Fig. 1, a plurality of load ports (LP) are arranged in a row. A carrier (C) is loaded into each load port (LP). As the carrier (C), a FOUP (Front Opening Unified Pod), a SMIF (Standard Mechanical InterFace) pod that stores a substrate (W) in a sealed space, or an OC (Open Cassette) that exposes the substrate (W) to the outside air may be employed. In addition, the indexer robot (102) transports the substrate (W) between the carrier (C) and the main transfer robot (103).
처리 유닛(1)은, 1장의 기판(W)에 대해 액처리 및 건조 처리를 행한다. 본 실시의 형태에 관한 기판 처리 장치(100)에는, 동일한 구성인 12개의 처리 유닛(1)이 배치되어 있다. The processing unit (1) performs liquid treatment and drying treatment on one substrate (W). In the substrate processing device (100) according to the present embodiment, 12 processing units (1) having the same configuration are arranged.
구체적으로는, 각각이 연직 방향으로 적층된 3개의 처리 유닛(1)을 포함하는 4개의 타워가, 주반송 로봇(103)의 주위를 둘러싸도록 하여 배치되어 있다. Specifically, four towers, each including three processing units (1) stacked vertically, are arranged to surround the main transport robot (103).
도 1에서는, 3단으로 겹쳐진 처리 유닛(1)의 1개가 개략적으로 나타나 있다. 또한, 기판 처리 장치(100)에 있어서의 처리 유닛(1)의 수량은, 12개로 한정되는 것이 아니라, 적절히 변경되어도 된다. In Fig. 1, one processing unit (1) overlapping in three stages is schematically shown. In addition, the number of processing units (1) in the substrate processing device (100) is not limited to 12, but may be appropriately changed.
주반송 로봇(103)은, 처리 유닛(1)이 적층된 4개의 타워의 중앙에 설치되어 있다. 주반송 로봇(103)은, 인덱서 로봇(102)으로부터 수취하는 처리 대상의 기판(W)을 각각의 처리 유닛 내에 반입한다. 또, 주반송 로봇(103)은, 각각의 처리 유닛(1)으로부터 처리가 완료된 기판(W)을 반출하여 인덱서 로봇(102)에 건네준다. 제어부(9)는, 기판 처리 장치(100) 각각의 구성 요소의 동작을 제어한다. The main transfer robot (103) is installed in the center of four towers where the processing units (1) are stacked. The main transfer robot (103) loads the substrate (W) to be processed, which is received from the indexer robot (102), into each processing unit. In addition, the main transfer robot (103) removes the substrate (W) whose processing has been completed from each processing unit (1) and hands it over to the indexer robot (102). The control unit (9) controls the operation of each component of the substrate processing device (100).
유저 인터페이스(90)는, 예를 들면 액정 디스플레이 등의 표시부와, 마우스 및 키보드 등의 입력 디바이스를 포함한다. 작업원은, 유저 인터페이스(90)에 다양한 정보를 입력할 수 있다. 유저 인터페이스(90)는, 입력된 정보를 제어부(9)에 출력한다. The user interface (90) includes a display unit such as a liquid crystal display, and an input device such as a mouse and a keyboard. An operator can input various information into the user interface (90). The user interface (90) outputs the input information to the control unit (9).
이하, 기판 처리 장치(100)에 탑재된 12개의 처리 유닛(1) 중 1개에 대해서 설명하나, 다른 처리 유닛(1)에 대해서도, 노즐의 배치 관계가 상이한 것 이외에는, 동일한 구성을 갖는다. Below, one of the 12 processing units (1) mounted on the substrate processing device (100) will be described, but other processing units (1) have the same configuration except that the arrangement relationship of the nozzles is different.
<처리 유닛><Processing Unit>
도 2는, 처리 유닛(1)의 구성의 일례를 개략적으로 나타내는 평면도이다. 또, 도 3은, 처리 유닛(1)의 구성의 일례를 개략적으로 나타내는 종단면도이다. Fig. 2 is a plan view schematically showing an example of the configuration of a processing unit (1). Also, Fig. 3 is a longitudinal cross-sectional view schematically showing an example of the configuration of a processing unit (1).
처리 유닛(1)은, 챔버(10) 내에, 기판 유지부의 일례인 스핀 척(20)과, 제1 노즐(30)과, 제2 노즐(60)과, 제3 노즐(65)과, 처리 컵(40)과, 카메라(70)를 포함한다. The processing unit (1) includes, within the chamber (10), a spin chuck (20), which is an example of a substrate holding unit, a first nozzle (30), a second nozzle (60), a third nozzle (65), a processing cup (40), and a camera (70).
챔버(10)는, 연직 방향을 따르는 측벽(11), 측벽(11)에 의해 둘러싸인 공간의 상측을 폐색하는 천정벽(12) 및 하측을 폐색하는 바닥벽(13)을 포함한다. 측벽(11), 천정벽(12) 및 바닥벽(13)에 의해 둘러싸인 공간이 처리 공간이 된다. 또, 챔버(10)의 측벽(11)의 일부에는, 주반송 로봇(103)이 기판(W)을 반출입하기 위한 반출입구 및 그 반출입구를 개폐하는 셔터가 설치되어 있다(모두 도시 생략). The chamber (10) includes a side wall (11) extending in a vertical direction, a ceiling wall (12) that closes the upper side of the space surrounded by the side wall (11), and a bottom wall (13) that closes the lower side. The space surrounded by the side wall (11), the ceiling wall (12), and the bottom wall (13) becomes a processing space. In addition, a portion of the side wall (11) of the chamber (10) is provided with an entrance/exit for a main transport robot (103) to load/unload a substrate (W), and a shutter for opening/closing the entrance/exit (both not shown).
챔버(10)의 천정벽(12)에는, 기판 처리 장치(100)가 설치되어 있는 클린 룸 내의 공기를 더욱 청정화하여 챔버(10) 내의 처리 공간에 공급하기 위한 팬 필터 유닛(FFU)(14)이 장착되어 있다. 팬 필터 유닛(14)은, 클린 룸 내의 공기를 도입하여 챔버(10) 내에 송출하기 위한 팬 및 필터(예를 들면 HEPA(High Efficiency Particulate Air) 필터)를 구비하고 있어, 챔버(10) 내의 처리 공간에 청정 공기의 다운 플로우를 형성한다. 팬 필터 유닛(14)으로부터 공급된 청정 공기를 균일하게 분산하기 위해, 다수의 취출(吹出) 구멍을 형성한 펀칭 플레이트를 천정벽(12)의 바로 아래에 설치하도록 해도 된다. A fan filter unit (FFU) (14) is mounted on the ceiling wall (12) of the chamber (10) to further purify the air inside the clean room where the substrate processing device (100) is installed and supply it to the processing space inside the chamber (10). The fan filter unit (14) is equipped with a fan and a filter (e.g., a HEPA (High Efficiency Particulate Air) filter) to introduce air inside the clean room and send it out into the chamber (10), thereby forming a downflow of clean air in the processing space inside the chamber (10). In order to evenly distribute the clean air supplied from the fan filter unit (14), a punching plate having a plurality of blowing holes formed therein may be installed directly below the ceiling wall (12).
스핀 척(20)은, 기판(W)을 수평 자세로 유지한다. 수평 자세란, 기판(W)의 법선이 연직 방향을 따르는 자세이다. 스핀 척(20)은, 연직 방향을 따라 연장되는 회전축(24)의 상단에 수평 자세로 고정된 원판 형상의 스핀 베이스(21)를 구비한다. 스핀 베이스(21)의 하방에는 회전축(24)을 회전시키는 스핀 모터(22)가 설치된다. 스핀 모터(22)는, 회전축(24)을 통하여 스핀 베이스(21)를 수평면 내에서 회전시킨다. 또, 스핀 모터(22) 및 회전축(24)의 주위를 둘러싸도록 통 형상의 커버 부재(23)가 설치되어 있다. The spin chuck (20) maintains the substrate (W) in a horizontal position. The horizontal position is a position in which the normal line of the substrate (W) follows the vertical direction. The spin chuck (20) is provided with a disc-shaped spin base (21) fixed in a horizontal position at the upper end of a rotation axis (24) extending along the vertical direction. A spin motor (22) that rotates the rotation axis (24) is installed below the spin base (21). The spin motor (22) rotates the spin base (21) in a horizontal plane via the rotation axis (24). In addition, a cylindrical cover member (23) is installed to surround the spin motor (22) and the rotation axis (24).
원판 형상의 스핀 베이스(21)의 외경은, 스핀 척(20)에 유지되는 원형의 기판(W)의 직경보다 약간 크다. 따라서, 스핀 베이스(21)는, 유지해야 할 기판(W)의 하면의 전체면과 대향하는 상면(21a)을 갖고 있다. The outer diameter of the disc-shaped spin base (21) is slightly larger than the diameter of the circular substrate (W) held on the spin chuck (20). Therefore, the spin base (21) has an upper surface (21a) facing the entire lower surface of the substrate (W) to be held.
스핀 베이스(21)의 상면(21a)의 주연부에는 복수(본 실시 형태에서는 4개)의 척 핀(26)이 세워 설치되어 있다. 복수의 척 핀(26)은, 원형의 기판(W)의 주연에 대응하는 원주 상을 따라 균등한 간격을 두고(본 실시 형태와 같이 4개의 척 핀(26)이면 90° 간격으로) 배치되어 있다. 각 척 핀(26)은, 기판(W)의 주연에 맞닿는 유지 위치와, 기판(W)의 주연으로부터 떨어진 개방 위치 사이에서 구동 가능하게 설치되어 있다. 복수의 척 핀(26)은, 스핀 베이스(21) 내에 수용된 도시 생략한 링크 기구에 의해 연동하여 구동된다. 스핀 척(20)은, 복수의 척 핀(26)을 각각의 맞닿음 위치에서 정지시킴으로써, 당해 기판(W)을 스핀 베이스(21)의 상방에서 상면(21a)에 근접한 수평 자세로 유지할 수 있음과 함께(도 3 참조), 복수의 척 핀(26)을 각각의 개방 위치에서 정지시킴으로써, 기판(W)의 유지를 해제할 수 있다. A plurality of chuck pins (26) (four in this embodiment) are installed erectly on the periphery of the upper surface (21a) of the spin base (21). The plurality of chuck pins (26) are arranged at equal intervals (90° intervals in the case of four chuck pins (26) as in this embodiment) along a circumference corresponding to the periphery of a circular substrate (W). Each chuck pin (26) is installed so as to be drivable between a holding position in contact with the periphery of the substrate (W) and an open position away from the periphery of the substrate (W). The plurality of chuck pins (26) are driven in conjunction with a link mechanism (not shown) accommodated in the spin base (21). The spin chuck (20) can maintain the substrate (W) in a horizontal position close to the upper surface (21a) above the spin base (21) by stopping the plurality of chuck pins (26) at their respective contact positions (see FIG. 3), and can release the holding of the substrate (W) by stopping the plurality of chuck pins (26) at their respective open positions.
스핀 모터(22)를 덮는 커버 부재(23)는, 그 하단이 챔버(10)의 바닥벽(13)에 고정되고, 상단이 스핀 베이스(21)의 바로 아래에까지 도달하고 있다. 커버 부재(23)의 상단부에는, 커버 부재(23)로부터 바깥쪽으로 거의 수평으로 돌출되고, 또한 하방으로 굴곡하여 연장되는 플랜지 형상 부재(25)가 설치되어 있다. 복수의 척 핀(26)에 의한 파지에 의해 스핀 척(20)이 기판(W)을 유지한 상태에서, 스핀 모터(22)가 회전축(24)을 회전시킴으로써, 기판(W)의 중심을 통과하는 연직 방향을 따른 회전축선(CX) 둘레로 기판(W)을 회전시킬 수 있다. 또한, 스핀 모터(22)의 구동은 제어부(9)에 의해 제어된다. The cover member (23) covering the spin motor (22) has its lower end fixed to the bottom wall (13) of the chamber (10) and its upper end reaching just below the spin base (21). A flange-shaped member (25) is installed on the upper end of the cover member (23) so as to protrude outwardly almost horizontally from the cover member (23) and extend downwardly. With the spin chuck (20) holding the substrate (W) by the gripping by the plurality of chuck pins (26), the spin motor (22) rotates the rotation axis (24), thereby rotating the substrate (W) around the rotation axis line (CX) along the vertical direction passing through the center of the substrate (W). In addition, the driving of the spin motor (22) is controlled by the control unit (9).
제1 노즐(30)은, 노즐 아암(32)의 선단에 토출 헤드(31)를 장착하여 구성되어 있다. 노즐 아암(32)의 기단측은 노즐 기대(33)에 고정하여 연결되어 있다. 노즐 기대(33)는 도시를 생략하는 모터에 의해 연직 방향을 따른 축의 둘레로 회동 가능하게 되어 있다. 노즐 기대(33)가 회동함으로써, 도 2 중의 화살표 AR34로 나타내는 바와 같이, 제1 노즐(30)은 스핀 척(20)의 상방의 공간 내에서 원호 형상으로 이동한다. 이들 노즐 아암(32), 노즐 기대(33) 및 모터는, 제1 노즐(30)을 이동시키는 노즐 이동 기구(37)의 일례이다. The first nozzle (30) is configured by mounting a discharge head (31) on the tip of a nozzle arm (32). The base side of the nozzle arm (32) is fixedly connected to a nozzle base (33). The nozzle base (33) is rotatable around an axis in the vertical direction by a motor (not shown). As the nozzle base (33) rotates, the first nozzle (30) moves in an arc shape within the space above the spin chuck (20), as indicated by arrow AR34 in Fig. 2. These nozzle arm (32), nozzle base (33), and motor are examples of a nozzle moving mechanism (37) that moves the first nozzle (30).
도 4는, 제1 노즐(30)의 이동 경로의 일례를 개략적으로 나타내는 평면도이다. 도 4에 예시되는 바와 같이, 제1 노즐(30)의 토출 헤드(31)는, 노즐 기대(33)의 회전에 의해, 노즐 기대(33)를 중심으로 한 둘레 방향을 따라 이동한다. 제1 노즐(30)은 적절한 정지 위치에서 정지할 수 있다. 도 4의 예에서는, 제1 노즐(30)은 중앙 위치(P31), 주연 위치(P32) 및 대기 위치(P33) 각각에서 정지 가능하다. Fig. 4 is a plan view schematically showing an example of a movement path of the first nozzle (30). As illustrated in Fig. 4, the discharge head (31) of the first nozzle (30) moves along a circumferential direction centered on the nozzle base (33) by the rotation of the nozzle base (33). The first nozzle (30) can stop at an appropriate stop position. In the example of Fig. 4, the first nozzle (30) can stop at each of the central position (P31), the peripheral position (P32), and the standby position (P33).
중앙 위치(P31)는, 토출 헤드(31)가, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)의 중앙부와 연직 방향에 있어서 대향하는 위치이다. 중앙 위치(P31)에 위치하는 제1 노즐(30)이 회전 중의 기판(W)의 상면에 처리액을 토출함으로써, 기판(W)의 상면의 전체면에 처리액을 공급할 수 있다. 이에 따라, 기판(W)의 상면의 전체면에 대해 처리를 실시할 수 있다. The central position (P31) is a position where the discharge head (31) is vertically opposite to the center of the substrate (W) held on the spin chuck (20). The first nozzle (30) located at the central position (P31) discharges the treatment liquid onto the upper surface of the rotating substrate (W), thereby supplying the treatment liquid to the entire upper surface of the substrate (W). Accordingly, treatment can be performed on the entire upper surface of the substrate (W).
대기 위치(P33)는, 토출 헤드(31)가, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)와 연직 방향에 있어서 대향하지 않는 위치이다. 대기 위치(P33)에는, 제1 노즐(30)의 토출 헤드(31)를 수용하는 대기 포드가 설치되어 있어도 된다. The standby position (P33) is a position where the discharge head (31) does not face the substrate (W) held on the spin chuck (20) in the vertical direction. A standby pod that accommodates the discharge head (31) of the first nozzle (30) may be installed in the standby position (P33).
주연 위치(P32)는 중앙 위치(P31)와 대기 위치(P33) 사이의 위치이며, 토출 헤드(31)가, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)의 주연부와 연직 방향에 있어서 대향하는 위치이다. 제1 노즐(30)은, 주연 위치(P32)에 위치한 상태에 있어서, 회전 중의 기판(W)의 상면에 처리액을 토출해도 된다. 이에 따라, 기판(W)의 상면의 주연부에만 처리액을 토출할 수 있어, 기판(W)의 주연부 만을 처리할 수 있다(이른바 베벨 처리). The peripheral position (P32) is a position between the central position (P31) and the standby position (P33), and is a position where the discharge head (31) faces the peripheral portion of the substrate (W) held on the spin chuck (20) in the vertical direction. The first nozzle (30) may discharge the processing liquid onto the upper surface of the rotating substrate (W) when positioned at the peripheral position (P32). Accordingly, the processing liquid can be discharged only onto the peripheral portion of the upper surface of the substrate (W), so that only the peripheral portion of the substrate (W) can be processed (so-called bevel processing).
또, 제1 노즐(30)은 중앙 위치(P31)와 주연 위치(P32)의 사이에서 왕복 이동하면서, 회전 중의 기판(W)의 상면에 처리액을 토출하는 것도 가능하다. 이 경우에도, 기판(W)의 상면의 전체면을 처리할 수 있다. In addition, the first nozzle (30) can also reciprocate between the central position (P31) and the peripheral position (P32) to spray the treatment liquid onto the upper surface of the rotating substrate (W). In this case, the entire upper surface of the substrate (W) can be treated.
주연 위치(P34)는 중앙 위치(P31)에 대해 주연 위치(P32)와는 반대측에 위치하고 있어, 토출 헤드(31)가, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)의 주연부와 연직 방향에 있어서 대향하는 위치이다. 제1 노즐(30)은, 주연 위치(P34)에 위치한 상태에 있어서, 회전 중의 기판(W)의 상면에 처리액을 토출해도 된다. 이에 의해서도, 기판(W)의 상면의 주연부에만 처리액을 토출할 수 있어, 기판(W)의 주연부 만을 처리할 수 있다(이른바 베벨 처리). The peripheral position (P34) is located on the opposite side of the peripheral position (P32) with respect to the central position (P31), so that the discharge head (31) is positioned in the vertical direction opposite to the peripheral portion of the substrate (W) held on the spin chuck (20). The first nozzle (30) may discharge the processing liquid onto the upper surface of the rotating substrate (W) when positioned at the peripheral position (P34). This also enables the processing liquid to be discharged only onto the peripheral portion of the upper surface of the substrate (W), so that only the peripheral portion of the substrate (W) can be processed (so-called bevel processing).
또, 제1 노즐(30)은 중앙 위치(P31)와 주연 위치(P34)의 사이에서 왕복 이동하면서, 회전 중의 기판(W)의 상면에 처리액을 토출하는 것도 가능하다. 이 경우에도, 기판(W)의 상면의 전체면을 처리할 수 있다. In addition, the first nozzle (30) can also reciprocate between the central position (P31) and the peripheral position (P34) to spray the treatment liquid onto the upper surface of the rotating substrate (W). In this case, the entire upper surface of the substrate (W) can be treated.
또, 노즐 기대(33)에는, 제1 노즐(30)을 승강시키는 노즐 승강 기구(도시하지 않음)가 포함되어 있어도 된다. 노즐 승강 기구는 예를 들면 볼 나사 기구 또는 에어 실린더 등의 승강 기구를 포함한다. 노즐 승강 기구가 설치되는 경우, 제1 노즐(30)은, 연직 방향에 있어서 상이한 정지 위치 각각에서 정지하는 것이 가능하다. 예를 들면, 제1 노즐(30)은, 중앙 위치(P31)보다 연직 방향의 상방의 정지 위치에 정지 가능하다. In addition, the nozzle base (33) may include a nozzle lifting mechanism (not shown) that lifts the first nozzle (30). The nozzle lifting mechanism includes, for example, a lifting mechanism such as a ball screw mechanism or an air cylinder. When the nozzle lifting mechanism is installed, the first nozzle (30) can stop at different stop positions in the vertical direction. For example, the first nozzle (30) can stop at a stop position that is vertically higher than the center position (P31).
도 3에 예시되는 바와 같이, 제1 노즐(30)은 공급관(34)을 통하여 처리액 공급원(36)에 접속된다. 공급관(34)에는 밸브(35)가 설치되어 있다. 밸브(35)는 공급관(34)의 유로를 개폐한다. 밸브(35)가 열림으로써, 처리액 공급원(36)은 공급관(34)을 통해서 처리액을 제1 노즐(30)에 공급한다. 또한, 제1 노즐(30)은, 복수종의 처리액(적어도 순수를 포함한다)이 공급되도록 구성되어도 된다. As illustrated in FIG. 3, the first nozzle (30) is connected to a treatment liquid supply source (36) through a supply pipe (34). A valve (35) is installed in the supply pipe (34). The valve (35) opens and closes the flow path of the supply pipe (34). When the valve (35) is opened, the treatment liquid supply source (36) supplies the treatment liquid to the first nozzle (30) through the supply pipe (34). In addition, the first nozzle (30) may be configured so that a plurality of types of treatment liquids (including at least pure water) are supplied.
또, 본 실시 형태의 처리 유닛(1)에는, 상기 제 1 노즐(30)에 더하여 또한 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)이 설치되어 있다. 본 실시 형태의 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)은, 상기의 제1 노즐(30)과 같은 구성을 갖는다. 즉, 제2 노즐(60)은, 노즐 아암(62)의 선단에 토출 헤드(61)를 장착하여 구성된다. 제2 노즐(60)은, 노즐 아암(62)의 기단측에 연결된 노즐 기대(63)에 의해, 화살표 AR64로 나타내는 바와 같이, 스핀 척(20)의 상방의 공간을 원호 형상으로 이동한다. 제2 노즐(60)의 이동 경로 상에 위치하는 중앙 위치(P61), 주연 위치(P62), 대기 위치(P63) 및 주연 위치(P64)의 상대적인 위치 관계는, 중앙 위치(P31), 주연 위치(P32), 대기 위치(P33) 및 주연 위치(P34)의 상대적인 위치 관계와 동일하다. In addition, in the processing unit (1) of the present embodiment, in addition to the first nozzle (30), a second nozzle (60) and a third nozzle (65) are installed. The second nozzle (60) and the third nozzle (65) of the present embodiment have the same configuration as the first nozzle (30). That is, the second nozzle (60) is configured by mounting a discharge head (61) on the tip of a nozzle arm (62). The second nozzle (60) moves in an arc shape in the space above the spin chuck (20), as indicated by arrow AR64, by a nozzle base (63) connected to the base side of the nozzle arm (62). The relative positional relationship of the central position (P61), the main position (P62), the standby position (P63), and the main position (P64) located on the movement path of the second nozzle (60) is the same as the relative positional relationship of the central position (P31), the main position (P32), the standby position (P33), and the main position (P34).
동일하게, 제3 노즐(65)은, 노즐 아암(67)의 선단에 토출 헤드(66)를 장착하여 구성된다. 제3 노즐(65)은, 노즐 아암(67)의 기단측에 연결된 노즐 기대(68)에 의해, 화살표 AR69로 나타내는 바와 같이, 스핀 척(20)의 상방의 공간을 원호 형상으로 이동한다. 처리 위치와 처리 컵(40)보다 외측의 대기 위치의 사이에서 원호 형상으로 이동한다. 제3 노즐(65)의 이동 경로 상에 위치하는 중앙 위치(P66), 주연 위치(P67), 대기 위치(P68) 및 주연 위치(P69)의 상대적인 위치 관계는, 중앙 위치(P31), 주연 위치(P32), 대기 위치(P33) 및 주연 위치(P34)의 상대적인 위치 관계와 동일하다. Likewise, the third nozzle (65) is configured by mounting a discharge head (66) at the tip of a nozzle arm (67). The third nozzle (65) moves in an arc shape in the space above the spin chuck (20), as indicated by arrow AR69, by a nozzle base (68) connected to the base side of the nozzle arm (67). It moves in an arc shape between the processing position and the standby position outside the processing cup (40). The relative positional relationship of the central position (P66), the peripheral position (P67), the standby position (P68), and the peripheral position (P69) located on the movement path of the third nozzle (65) is the same as the relative positional relationship of the central position (P31), the peripheral position (P32), the standby position (P33), and the peripheral position (P34).
또, 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)은 승강 가능해도 된다. 예를 들면 노즐 기대(63) 및 노즐 기대(68)에 내장된 도시하지 않은 노즐 승강 기구에 의해 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)이 승강한다. In addition, the second nozzle (60) and the third nozzle (65) may be raised and lowered. For example, the second nozzle (60) and the third nozzle (65) are raised and lowered by a nozzle raising mechanism (not shown) built into the nozzle base (63) and the nozzle base (68).
제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 각각도, 제1 노즐(30)과 마찬가지로 공급관(도시 생략)을 통하여 처리액 공급원(도시 생략)에 접속된다. 각 공급관에는 밸브(도시하지 않음)가 설치되고, 밸브가 개폐함으로써 처리액의 공급/정지가 전환된다. Each of the second nozzle (60) and the third nozzle (65) is connected to a treatment liquid supply source (not shown) through a supply pipe (not shown) similar to the first nozzle (30). A valve (not shown) is installed in each supply pipe, and the supply/stop of the treatment liquid is switched by opening and closing the valve.
또한, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 각각은, 복수종의 처리액이 공급되도록 구성되어도 된다. 또, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 중 적어도 어느 하나는, 순수 등의 세정액과 가압한 기체를 혼합하여 액적을 생성하고, 그 액적과 기체의 혼합 유체를 기판(W)에 분사하는 이류체 노즐이어도 된다. 또, 처리 유닛(1)에 설치되는 노즐의 수는 3개로 한정되는 것이 아니라, 1개 이상이면 된다. In addition, each of the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) may be configured to supply multiple types of treatment liquids. In addition, at least one of the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) may be a two-fluid nozzle that mixes a cleaning liquid such as pure water and a pressurized gas to generate droplets, and sprays the mixed fluid of the droplets and the gas onto the substrate (W). In addition, the number of nozzles installed in the treatment unit (1) is not limited to three, and may be one or more.
스핀 척(20)을 둘러싸는 처리 컵(40)은, 서로 독립적으로 승강 가능한 내측 컵(41), 중간 컵(42) 및 외측 컵(43)을 포함한다. 내측 컵(41)은, 스핀 척(20)의 주위를 둘러싸고, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)의 중심을 통과하는 회전축선(CX)에 대해 거의 회전 대칭이 되는 형상을 갖고 있다. 이 내측 컵(41)은, 평면에서 보았을 때에 원환상의 바닥부(44)와, 바닥부(44)의 내주연으로부터 상방으로 올라가는 원통 형상의 내벽부(45)와, 바닥부(44)의 외주연으로부터 상방으로 올라가는 원통 형상의 외벽부(46)와, 내벽부(45)와 외벽부(46)의 사이로부터 올라가고, 상단부가 매끄러운 원호를 그리면서 중심측(스핀 척(20)에 유지되는 기판(W)의 회전축선(CX)에 가까워지는 방향) 비스듬한 상방으로 연장되는 제1 안내부(47)와, 제1 안내부(47)와 외벽부(46)의 사이로부터 상방으로 올라가는 원통 형상 중벽부(48)를 일체적으로 포함하고 있다. The processing cup (40) surrounding the spin chuck (20) includes an inner cup (41), a middle cup (42), and an outer cup (43) that can be independently raised and lowered. The inner cup (41) surrounds the spin chuck (20) and has a shape that is nearly rotationally symmetrical with respect to a rotational axis (CX) passing through the center of a substrate (W) held on the spin chuck (20). This inner cup (41) integrally includes, when viewed in a plan view, a circular bottom portion (44), a cylindrical inner wall portion (45) extending upward from the inner periphery of the bottom portion (44), a cylindrical outer wall portion (46) extending upward from the outer periphery of the bottom portion (44), a first guide portion (47) extending obliquely upward from between the inner wall portion (45) and the outer wall portion (46) and having an upper end that draws a smooth arc toward the center (in the direction approaching the rotational axis (CX) of the substrate (W) held on the spin chuck (20), and a cylindrical middle wall portion (48) extending upward from between the first guide portion (47) and the outer wall portion (46).
내벽부(45)는, 내측 컵(41)이 가장 상승된 상태에서, 커버 부재(23)와 플랜지 형상 부재(25)의 사이에 적당한 간극을 유지하여 수용되는 것 같은 길이로 형성되어 있다. 중벽부(48)는, 내측 컵(41)과 중간 컵(42)이 가장 근접한 상태에서, 중간 컵(42)의 후술하는 제2 안내부(52)와 처리액 분리벽(53)의 사이에 적당한 간극을 유지하여 수용되는 것 같은 길이로 형성되어 있다. The inner wall portion (45) is formed to a length that can be accommodated while maintaining an appropriate gap between the cover member (23) and the flange-shaped member (25) when the inner cup (41) is in the most elevated state. The middle wall portion (48) is formed to a length that can be accommodated while maintaining an appropriate gap between the second guide portion (52) described later of the middle cup (42) and the treatment liquid separation wall (53) when the inner cup (41) and the middle cup (42) are in the closest state.
제1 안내부(47)는, 매끄러운 원호를 그리면서 중심측(기판(W)의 회전축선(CX)에 가까워지는 방향) 비스듬한 상방으로 연장되는 상단부(47b)를 갖고 있다. 또, 내벽부(45)와 제1 안내부(47)의 사이는, 사용이 완료된 처리액을 모아 폐기하기 위한 폐기 홈(49)으로 되어 있다. 제1 안내부(47)와 중벽부(48)의 사이는, 사용이 완료된 처리액을 모아 회수하기 위한 원환상의 내측 회수 홈(50)으로 되어 있다. 또한, 중벽부(48)와 외벽부(46)의 사이는, 내측 회수 홈(50)과는 종류가 상이한 처리액을 모아 회수하기 위한 원환상의 외측 회수 홈(51)으로 되어 있다. The first guide section (47) has an upper portion (47b) that extends obliquely upward toward the center (in the direction approaching the rotation axis (CX) of the substrate (W)) while drawing a smooth arc. In addition, a disposal groove (49) for collecting and discarding used treatment liquid is formed between the inner wall section (45) and the first guide section (47). An annular inner recovery groove (50) is formed between the first guide section (47) and the middle wall section (48) for collecting and recovering used treatment liquid. In addition, an annular outer recovery groove (51) is formed between the middle wall section (48) and the outer wall section (46) for collecting and recovering a treatment liquid of a different type from the inner recovery groove (50).
폐기 홈(49)에는, 이 폐기 홈(49)에 모아진 처리액을 배출함과 함께, 폐기 홈(49) 내를 강제적으로 배기하기 위한 도시 생략한 배기액 기구가 접속되어 있다. 배기액 기구는, 예를 들면, 폐기 홈(49)의 둘레 방향을 따라 등간격으로 4개 설치되어 있다. 또, 내측 회수 홈(50) 및 외측 회수 홈(51)에는, 내측 회수 홈(50) 및 외측 회수 홈(51)에 각각 모아진 처리액을 처리 유닛(1)의 외부에 설치된 회수 탱크에 회수하기 위한 회수 기구(모두 도시 생략)가 접속되어 있다. 또한, 내측 회수 홈(50) 및 외측 회수 홈(51)의 저부는, 수평 방향에 대해 미소 각도만큼 경사져 있으며, 그 가장 낮아지는 위치에 회수 기구가 접속되어 있다. 이에 따라, 내측 회수 홈(50) 및 외측 회수 홈(51)에 유입된 처리액이 원활하게 회수된다. In the waste groove (49), an exhaust mechanism (not shown) is connected for discharging the treatment liquid collected in the waste groove (49) and forcibly exhausting the inside of the waste groove (49). For example, four exhaust mechanisms are installed at equal intervals along the circumferential direction of the waste groove (49). In addition, in the inner recovery groove (50) and the outer recovery groove (51), a recovery mechanism (not shown) is connected for recovering the treatment liquid collected in the inner recovery groove (50) and the outer recovery groove (51), respectively, to a recovery tank installed outside the treatment unit (1). In addition, the bottoms of the inner recovery groove (50) and the outer recovery groove (51) are inclined at a small angle with respect to the horizontal direction, and the recovery mechanism is connected at the lowest position. Accordingly, the treatment liquid flowing into the inner recovery groove (50) and the outer recovery groove (51) is smoothly recovered.
중간 컵(42)은, 스핀 척(20)의 주위를 둘러싸고, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)의 중심을 통과하는 회전축선(CX)에 대해 거의 회전 대칭이 되는 형상을 갖고 있다. 이 중간 컵(42)은, 제2 안내부(52)와, 이 제2 안내부(52)에 연결된 원통 형상의 처리액 분리벽(53)을 일체적으로 포함하고 있다. The intermediate cup (42) has a shape that is almost rotationally symmetrical with respect to the rotation axis (CX) that surrounds the spin chuck (20) and passes through the center of the substrate (W) held on the spin chuck (20). This intermediate cup (42) integrally includes a second guide member (52) and a cylindrical treatment liquid separation wall (53) connected to the second guide member (52).
제2 안내부(52)는, 내측 컵(41)의 제1 안내부(47)의 외측에 있어서, 제1 안내부(47)의 하단부와 동축 원통 형상을 이루는 하단부(52a)와, 하단부(52a)의 상단으로부터 매끄러운 원호를 그리면서 중심측(기판(W)의 회전축선(CX)에 가까워지는 방향) 비스듬한 상방으로 연장되는 상단부(52b)와, 상단부(52b)의 선단부를 하방으로 꺾어 형성되는 꺾임부(52c)를 갖고 있다. 하단부(52a)는, 내측 컵(41)과 중간 컵(42)이 가장 근접한 상태에서, 제1 안내부(47)와 중벽부(48)의 사이에 적당한 간극을 유지하여 내측 회수 홈(50) 내에 수용된다. 또, 상단부(52b)는, 내측 컵(41)의 제1 안내부(47)의 상단부(47b)와 상하 방향으로 겹쳐지도록 설치되고, 내측 컵(41)과 중간 컵(42)이 가장 근접한 상태에서, 제1 안내부(47)의 상단부(47b)에 대해 매우 미소한 간격을 유지하여 근접한다. 또한, 상단부(52b)의 선단을 하방으로 꺾어 형성되는 꺾임부(52c)는, 내측 컵(41)과 중간 컵(42)이 가장 근접한 상태에서, 꺾임부(52c)가 제1 안내부(47)의 상단부(47b)의 선단과 수평 방향으로 겹쳐지는 것 같은 길이로 되어 있다. The second guide portion (52) has a lower portion (52a) that forms a cylindrical shape coaxial with the lower portion of the first guide portion (47) on the outer side of the first guide portion (47) of the inner cup (41), an upper portion (52b) that extends obliquely upward from the upper end of the lower portion (52a) in a smooth arc toward the center (in the direction approaching the rotational axis (CX) of the substrate (W)), and a folded portion (52c) that is formed by folding the tip of the upper portion (52b) downward. The lower portion (52a) is accommodated in the inner recovery groove (50) while maintaining an appropriate gap between the first guide portion (47) and the middle wall portion (48) when the inner cup (41) and the middle cup (42) are in the closest proximity. In addition, the upper portion (52b) is installed so as to overlap with the upper portion (47b) of the first guide portion (47) of the inner cup (41) in the vertical direction, and approaches the upper portion (47b) of the first guide portion (47) while maintaining a very small gap when the inner cup (41) and the middle cup (42) are in the closest proximity. In addition, the folded portion (52c) formed by folding the tip of the upper portion (52b) downward is of a length such that the folded portion (52c) horizontally overlaps with the tip of the upper portion (47b) of the first guide portion (47) when the inner cup (41) and the middle cup (42) are in the closest proximity.
또, 제2 안내부(52)의 상단부(52b)는, 하방일수록 두께가 두꺼워지도록 형성되어 있으며, 처리액 분리벽(53)은 상단부(52b)의 하단 외주연부로부터 하방으로 연장되도록 설치된 원통 형상을 갖고 있다. 처리액 분리벽(53)은, 내측 컵(41)과 중간 컵(42)이 가장 근접한 상태에서, 중벽부(48)와 외측 컵(43)의 사이에 적당한 간극을 유지하여 외측 회수 홈(51) 내에 수용된다. In addition, the upper part (52b) of the second guide part (52) is formed so that the thickness increases toward the bottom, and the treatment liquid separation wall (53) has a cylindrical shape installed so as to extend downward from the lower outer periphery of the upper part (52b). The treatment liquid separation wall (53) is accommodated in the outer recovery groove (51) by maintaining an appropriate gap between the middle wall part (48) and the outer cup (43) while the inner cup (41) and the middle cup (42) are in the closest proximity.
외측 컵(43)은, 중간 컵(42)의 제2 안내부(52)의 외측에 있어서, 스핀 척(20)의 주위를 둘러싸고, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)의 중심을 통과하는 회전축선(CX)에 대해 거의 회전 대칭이 되는 형상을 갖고 있다. 이 외측 컵(43)은, 제3 안내부로서의 기능을 갖는다. 외측 컵(43)은, 제2 안내부(52)의 하단부(52a)와 동축 원통 형상을 이루는 하단부(43a)와, 하단부(43a)의 상단으로부터 매끄러운 원호를 그리면서 중심측(기판(W)의 회전축선(CX)에 가까워지는 방향) 비스듬한 상방으로 연장되는 상단부(43b)와, 상단부(43b)의 선단부를 하방으로 꺾어 형성되는 꺾임부(43c)를 갖고 있다. The outer cup (43) has a shape that is almost rotationally symmetrical with respect to the rotational axis (CX) passing through the center of the substrate (W) held on the spin chuck (20) and surrounding the spin chuck (20) on the outside of the second guide portion (52) of the middle cup (42). This outer cup (43) functions as a third guide portion. The outer cup (43) has a lower portion (43a) that forms a cylindrical shape coaxial with the lower portion (52a) of the second guide portion (52), an upper portion (43b) that extends obliquely upward from the upper end of the lower portion (43a) in a smooth arc toward the center (in the direction approaching the rotational axis (CX) of the substrate (W)), and a bent portion (43c) that is formed by bending the tip of the upper portion (43b) downward.
하단부(43a)는, 내측 컵(41)과 외측 컵(43)이 가장 근접한 상태에서, 중간 컵(42)의 처리액 분리벽(53)과 내측 컵(41)의 외벽부(46)의 사이에 적당한 간극을 유지하여 외측 회수 홈(51) 내에 수용된다. 또, 상단부(43b)는, 중간 컵(42)의 제2 안내부(52)와 상하 방향으로 겹쳐지도록 설치되며, 중간 컵(42)과 외측 컵(43)이 가장 근접한 상태에서, 제2 안내부(52)의 상단부(52b)에 대해 매우 미소한 간격을 유지하여 근접한다. 또한, 상단부(43b)의 선단부를 하방으로 꺾어 형성되는 꺾임부(43c)는, 중간 컵(42)과 외측 컵(43)이 가장 근접한 상태에서, 꺾임부(43c)가 제2 안내부(52)의 꺾임부(52c)와 수평 방향으로 겹쳐지도록 형성되어 있다. The lower portion (43a) is accommodated in the outer recovery groove (51) while maintaining an appropriate gap between the treatment liquid separation wall (53) of the middle cup (42) and the outer wall (46) of the inner cup (41) when the inner cup (41) and the outer cup (43) are in the closest proximity. In addition, the upper portion (43b) is installed so as to overlap with the second guide portion (52) of the middle cup (42) in the vertical direction, and is brought into close proximity while maintaining a very small gap with respect to the upper portion (52b) of the second guide portion (52) when the middle cup (42) and the outer cup (43) are in the closest proximity. In addition, the bending portion (43c) formed by bending the tip of the upper portion (43b) downward is formed so that the bending portion (43c) overlaps horizontally with the bending portion (52c) of the second guide portion (52) when the middle cup (42) and the outer cup (43) are closest to each other.
또, 내측 컵(41), 중간 컵(42) 및 외측 컵(43)은 서로 독립적으로 승강 가능하게 되어 있다. 즉, 내측 컵(41), 중간 컵(42) 및 외측 컵(43) 각각에는 개별적으로 컵 이동 기구(59)가 설치되어 있으며, 이에 따라 별개 독립적으로 승강된다. 이와 같은 컵 이동 기구(59)로는, 예를 들면 볼 나사 기구나 에어 실린더 등의 공지된 다양한 기구를 채용할 수 있다. In addition, the inner cup (41), the middle cup (42), and the outer cup (43) are independently liftable. That is, the inner cup (41), the middle cup (42), and the outer cup (43) are each individually provided with a cup moving mechanism (59), and thus are lifted separately and independently. As such a cup moving mechanism (59), various known mechanisms such as a ball screw mechanism or an air cylinder can be employed, for example.
칸막이판(15)은, 처리 컵(40)의 주위에 있어서 챔버(10)의 내측 공간을 상하로 나누도록 설치되어 있다. 칸막이판(15)은, 처리 컵(40)을 둘러싸는 1장의 판 형상 부재여도 되고, 복수의 판 형상 부재를 이어 맞춘 것이어도 된다. 또, 칸막이판(15)에는, 두께 방향으로 관통하는 관통 구멍이나 절결이 형성되어 있어도 되고, 본 실시 형태에서는 제1 노즐(30)의 노즐 기대(33), 제2 노즐(60)의 노즐 기대(63) 및 제3 노즐(65)의 노즐 기대(68)을 지지하기 위한 지지축을 통하기 위한 관통 구멍이 형성되어 있다. The partition plate (15) is installed to divide the inner space of the chamber (10) into upper and lower parts around the processing cup (40). The partition plate (15) may be a single plate-shaped member surrounding the processing cup (40), or may be a plurality of plate-shaped members joined together. In addition, the partition plate (15) may have a through hole or a cut formed therein in the thickness direction, and in the present embodiment, a through hole is formed to pass through a support shaft for supporting the nozzle base (33) of the first nozzle (30), the nozzle base (63) of the second nozzle (60), and the nozzle base (68) of the third nozzle (65).
칸막이판(15)의 외주단은 챔버(10)의 측벽(11)에 연결되어 있다. 또, 칸막이판(15)의 처리 컵(40)을 둘러싸는 단연부(端緣部)는 외측 컵(43)의 외경보다 큰 직경의 원형 형상이 되도록 형성되어 있다. 따라서, 칸막이판(15)이 외측 컵(43)의 승강의 장해가 되지 않는다. The outer circumference of the partition plate (15) is connected to the side wall (11) of the chamber (10). In addition, the end portion surrounding the treatment cup (40) of the partition plate (15) is formed to have a circular shape with a diameter larger than the outer diameter of the outer cup (43). Therefore, the partition plate (15) does not obstruct the lifting and lowering of the outer cup (43).
또, 챔버(10)의 측벽(11)의 일부이며, 바닥벽(13)의 근방에는 배기 덕트(18)가 설치되어 있다. 배기 덕트(18)는 도시 생략한 배기 기구에 연통 접속되어 있다. 팬 필터 유닛(14)으로부터 공급되어 챔버(10) 내를 흘러내린 청정 공기 중, 처리 컵(40)과 칸막이판(15)의 사이를 통과한 공기는 배기 덕트(18)로부터 장치 밖으로 배출된다. In addition, an exhaust duct (18) is installed in a part of the side wall (11) of the chamber (10) and near the bottom wall (13). The exhaust duct (18) is connected to an exhaust mechanism (not shown). Among the clean air supplied from the fan filter unit (14) and flowing through the chamber (10), the air that passes between the treatment cup (40) and the partition plate (15) is discharged outside the device through the exhaust duct (18).
카메라(70)는, 챔버(10) 내이며 칸막이판(15)보다 상방에 설치되어 있다. 카메라(70)는, 예를 들면 고체 촬상 소자의 1개인 CCD(Charge Coupled Device)와, 렌즈 등의 광학계를 포함한다. 카메라(70)는 후술하는 챔버(10) 내의 감시 대상물을 감시하기 위해 설치된다. 감시 대상물의 구체예에 대해서는 나중에 상세히 서술한다. 카메라(70)는 감시 대상물을 촬상 영역에 포함하는 위치에 배치되어 있다. 이 촬상 영역은, 예를 들어, 기판(W), 및 기판(W)보다 상방의 공간을 포함한다. 카메라(70)는 촬상 영역을 촬상하여 촬상 화상 데이터를 취득하고, 취득한 촬상 화상 데이터를 순차적으로 제어부(9)에 출력한다. The camera (70) is installed inside the chamber (10) and above the partition plate (15). The camera (70) includes, for example, a CCD (Charge Coupled Device), which is one of the solid-state imaging elements, and an optical system such as a lens. The camera (70) is installed to monitor a surveillance target inside the chamber (10), which will be described later. A specific example of the surveillance target will be described in detail later. The camera (70) is positioned at a position that includes the surveillance target in the imaging area. This imaging area includes, for example, a substrate (W) and a space above the substrate (W). The camera (70) captures an imaging area to acquire imaging image data, and sequentially outputs the acquired imaging image data to the control unit (9).
도 3에 나타내는 바와 같이, 챔버(10) 내이며 칸막이판(15)보다 상방의 위치에, 조명부(71)가 설치되어 있다. 챔버(10) 내가 암실인 경우, 카메라(70)가 촬상을 행할 때에 조명부(71)가 광을 조사하도록, 제어부(9)가 조명부(71)를 제어해도 된다. As shown in Fig. 3, a lighting unit (71) is installed in the chamber (10) at a position higher than the partition plate (15). If the chamber (10) is a dark room, the control unit (9) may control the lighting unit (71) so that the lighting unit (71) irradiates light when the camera (70) takes a picture.
기판 처리 장치(100)에 설치된 제어부(9)의 하드웨어로서의 구성은 일반적인 컴퓨터와 동일하다. 즉, 제어부(9)는, 각종 연산 처리를 행하는 CPU 등의 처리부와, 기본 프로그램을 기억하는 읽어내기 전용의 메모리인 ROM(Read Only Memory) 등의 일시적인 기억 매체와, 각종 정보를 기억하는 읽고쓰기 가능한 메모리인 RAM(Random Access Memory) 및 제어용 소프트웨어 또는 데이터 등을 기억해 두는 자기 디스크 등인 비일시적인 기억 매체를 구비하여 구성된다. 제어부(9)의 CPU가 소정의 처리 프로그램을 실행함으로써, 기판 처리 장치(100)의 각 동작 기구가 제어부(9)에 의해 제어되어, 기판 처리 장치(100)에 있어서의 처리가 진행된다. 또한, 제어부(9)는 그 기능의 실현에 소프트웨어가 불필요한 전용의 하드웨어 회로에 의해 실현되어도 된다. The hardware configuration of the control unit (9) installed in the substrate processing device (100) is the same as that of a general computer. That is, the control unit (9) is configured to include a processing unit such as a CPU that performs various types of arithmetic processing, a temporary storage medium such as a ROM (Read Only Memory) that is a read-only memory that stores a basic program, a RAM (Random Access Memory) that is a read-write memory that stores various types of information, and a non-transitory storage medium such as a magnetic disk that stores control software or data, etc. When the CPU of the control unit (9) executes a predetermined processing program, each operating mechanism of the substrate processing device (100) is controlled by the control unit (9), and processing in the substrate processing device (100) progresses. In addition, the control unit (9) may be realized by a dedicated hardware circuit that does not require software to realize its function.
도 5는, 제어부(9)의 내부 구성의 일례를 개략적으로 나타내는 기능 블럭도이다. 제어부(9)는, 감시 처리부(91)와, 셋업부(92)와, 처리 제어부(93)를 포함하고 있다. Fig. 5 is a functional block diagram schematically showing an example of the internal configuration of a control unit (9). The control unit (9) includes a monitoring processing unit (91), a setup unit (92), and a processing control unit (93).
처리 제어부(93)는 챔버(10) 내의 각 구성을 제어한다. 구체적으로는, 처리 제어부(93)는, 스핀 모터(22), 밸브(35, 82) 등의 각종 밸브, 노즐 기대(33, 63, 68)의 모터 및 노즐 승강 기구, 컵 이동 기구(59) 및 팬 필터 유닛(14)을 제어한다. 처리 제어부(93)가 이들 구성을 소정의 수순을 따라 제어함으로써, 처리 유닛(1)은 기판(W)에 대한 처리를 행할 수 있다. The processing control unit (93) controls each component within the chamber (10). Specifically, the processing control unit (93) controls the spin motor (22), various valves such as valves (35, 82), the motor of the nozzle base (33, 63, 68), the nozzle lifting mechanism, the cup moving mechanism (59), and the fan filter unit (14). By the processing control unit (93) controlling these components according to a predetermined sequence, the processing unit (1) can perform processing on the substrate (W).
감시 처리부(91)는, 카메라(70)가 챔버(10) 내를 촬상하여 취득한 촬상 화상 데이터에 의거하여, 감시 대상물에 대한 감시 처리를 행한다. 감시 처리부(91)는 감시 대상물의 위치를 감시한다. 감시 대상물로는, 예를 들면, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 등의 각종 노즐을 채용할 수 있다. 또, 감시 처리부(91)는, 각종 노즐로부터의 처리액의 토출 상태를 감시해도 된다. 감시 처리의 구체적인 일례에 대해서는 나중에 상세히 서술한다. The surveillance processing unit (91) performs surveillance processing on the surveillance target based on the captured image data acquired by the camera (70) by capturing the inside of the chamber (10). The surveillance processing unit (91) monitors the position of the surveillance target. As the surveillance target, various nozzles such as the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) can be employed. In addition, the surveillance processing unit (91) may monitor the discharge status of the treatment liquid from various nozzles. A specific example of the surveillance processing will be described in detail later.
셋업부(92)는, 감시 처리에 이용하는 처리 정보를 설정한다. 예를 들면, 셋업부(92)는 촬상 화상 데이터 내에 있어서의 감시 대상물의 적정 위치(이하, 설정 좌표 위치라고 부른다)를 설정한다. 또, 셋업부(92)는, 각종 노즐의 처리액의 토출 상태를 감시하기 위한 판정 영역을 촬상 화상 데이터 내에 있어서 설정할 수도 있다. 구체적인 설정 방법의 일례는 나중에 상세히 서술한다. The setup unit (92) sets processing information used for monitoring processing. For example, the setup unit (92) sets the appropriate position of the monitoring target in the captured image data (hereinafter referred to as the set coordinate position). In addition, the setup unit (92) can also set a judgment area for monitoring the discharge status of the processing liquid of each nozzle in the captured image data. An example of a specific setting method will be described in detail later.
<기판 처리의 흐름의 일례><Example of the flow of substrate processing>
<전체의 흐름><Overall Flow>
도 6은, 기판 처리의 흐름의 일례를 나타내는 플로차트이다. 우선, 주반송 로봇(103)이 미처리 기판(W)을 처리 유닛(1)에 반입한다(단계 S1: 반입 공정). 다음에, 스핀 척(20)이 기판(W)을 수평 자세로 유지한다(단계 S2: 유지 공정). 구체적으로는, 복수의 척 핀(26)이 각각의 맞닿음 위치로 이동함으로써, 복수의 척 핀(26)이 기판(W)을 유지한다. Fig. 6 is a flow chart showing an example of the flow of substrate processing. First, the main transfer robot (103) loads an unprocessed substrate (W) into the processing unit (1) (step S1: loading process). Next, the spin chuck (20) maintains the substrate (W) in a horizontal position (step S2: holding process). Specifically, the plurality of chuck pins (26) move to their respective contact positions, so that the plurality of chuck pins (26) maintain the substrate (W).
다음에, 스핀 모터(22)가 기판(W)의 회전을 개시한다(단계 S3: 회전 공정). 구체적으로는, 스핀 모터(22)가 스핀 척(20)을 회전시킴으로써, 스핀 척(20)에 유지된 기판(W)을 회전시킨다. 다음에, 컵 승강 기구가 처리 컵(40)을 상승시킨다(단계 S4: 컵 상승 공정). 이에 따라, 처리 컵(40)이 상측 위치에서 정지한다. Next, the spin motor (22) starts to rotate the substrate (W) (step S3: rotation process). Specifically, the spin motor (22) rotates the spin chuck (20), thereby rotating the substrate (W) held on the spin chuck (20). Next, the cup lifting mechanism raises the processing cup (40) (step S4: cup lifting process). Accordingly, the processing cup (40) stops at the upper position.
다음에, 기판(W)에 대해 처리액을 순차적으로 공급한다(단계 S5: 처리 레시피 공정). 또한, 이 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서, 컵 이동 기구(59)는, 기판(W)에 공급되는 처리액의 종류에 따라, 적절히 상승시키는 컵을 전환하지만, 설명을 간단히 하기 위해, 이하에서는, 그 설명을 생략한다. Next, the treatment liquid is sequentially supplied to the substrate (W) (step S5: treatment recipe process). In addition, in this treatment recipe process (step S5), the cup moving mechanism (59) switches the cup to be raised appropriately depending on the type of the treatment liquid supplied to the substrate (W), but for the sake of simplicity, the explanation thereof is omitted below.
처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서는, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)이 각각 필요에 따라, 회전 중의 기판(W)의 상면에 순차적으로 처리액을 토출한다. 여기에서는, 일례로서, 제1 노즐(30) 및 제2 노즐(60)이 처리액을 순서대로 토출한다. 우선, 노즐 이동 기구(37)가 제1 노즐(30)을 대기 위치(P33)로부터 중앙 위치(P31)로 이동시킨다. 다음에, 밸브(35)가 열림으로써, 제1 노즐(30)로부터 기판(W)의 상면에 처리액이 토출된다. 기판(W)의 상면에 착액(着液)한 처리액은 원심력을 받아 퍼져, 기판(W)의 주연으로부터 외측으로 비산한다. 이에 따라, 처리액에 따른 처리를 기판(W)의 상면에 대해 행할 수 있다. 예를 들면 처리액의 공급 개시부터 소정 시간이 경과하면, 밸브(35)가 닫힌다. 이에 따라, 제1 노즐(30)로부터의 처리액의 토출이 정지한다. 다음에, 노즐 이동 기구(37)는 제1 노즐(30)을 중앙 위치(P31)로부터 대기 위치(P33)로 이동시킨다. In the treatment recipe process (step S5), the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) sequentially eject the treatment liquid onto the upper surface of the rotating substrate (W), as needed. Here, as an example, the first nozzle (30) and the second nozzle (60) eject the treatment liquid in sequence. First, the nozzle moving mechanism (37) moves the first nozzle (30) from the standby position (P33) to the central position (P31). Next, the valve (35) opens, thereby ejecting the treatment liquid onto the upper surface of the substrate (W) from the first nozzle (30). The treatment liquid that has landed on the upper surface of the substrate (W) spreads under centrifugal force and flies outward from the periphery of the substrate (W). Accordingly, treatment according to the treatment liquid can be performed on the upper surface of the substrate (W). For example, when a predetermined time has elapsed since the start of supply of the treatment liquid, the valve (35) closes. Accordingly, the discharge of the treatment liquid from the first nozzle (30) stops. Next, the nozzle moving mechanism (37) moves the first nozzle (30) from the central position (P31) to the standby position (P33).
계속해서, 노즐 이동 기구(노즐 기대(63))가 제2 노즐(60)을 대기 위치(P63)로부터 중앙 위치(P61)로 이동시킨다. 다음에, 제2 노즐(60)용의 밸브가 열림으로써, 제2 노즐(60)로부터 기판(W)의 상면에 처리액이 토출된다. 기판(W)의 상면에 착액한 처리액은 원심력을 받아 퍼져, 기판(W)의 주연으로부터 외측으로 비산한다. 처리액은 예를 들면 순수 등의 린스액이다. 이 경우, 린스액이 기판(W)의 상면의 처리액을 씻어내고, 기판(W)의 상면의 처리액이 린스액으로 치환된다. 예를 들면 린스액의 공급 개시부터 소정 시간이 경과하면, 밸브가 닫힌다. 이에 따라, 제2 노즐(60)로부터의 린스액의 토출이 정지한다. 다음에, 노즐 기대(63)은 제2 노즐(60)을 중앙 위치(P61)로부터 대기 위치(P63)로 이동시킨다. Subsequently, the nozzle moving mechanism (nozzle base (63)) moves the second nozzle (60) from the standby position (P63) to the central position (P61). Next, the valve for the second nozzle (60) opens, so that the treatment liquid is discharged from the second nozzle (60) onto the upper surface of the substrate (W). The treatment liquid that has landed on the upper surface of the substrate (W) spreads under centrifugal force and flies outward from the periphery of the substrate (W). The treatment liquid is, for example, a rinse liquid such as pure water. In this case, the rinse liquid washes away the treatment liquid on the upper surface of the substrate (W), and the treatment liquid on the upper surface of the substrate (W) is replaced by the rinse liquid. For example, when a predetermined time has elapsed since the start of supplying the rinse liquid, the valve closes. Accordingly, the discharge of the rinse liquid from the second nozzle (60) stops. Next, the nozzle anticipation (63) moves the second nozzle (60) from the central position (P61) to the standby position (P63).
제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)은 필요에 따라 순차적으로 소정의 정지 위치로 이동하여, 처리액을 토출해도 된다. 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)로부터의 처리액의 토출이 종료됨으로써, 처리 레시피 공정(단계 S5)이 종료된다. The first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) may sequentially move to predetermined stop positions as needed to discharge the treatment liquid. When discharge of the treatment liquid from the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) is completed, the treatment recipe process (step S5) is completed.
도 6을 다시 참조하여, 처리 레시피 공정(단계 S5)의 종료 후에, 처리 유닛(1)은, 기판(W)을 건조시킨다(단계 S6: 건조 공정). 예를 들면, 스핀 모터(22)가 기판(W)의 회전 속도를 증가시켜, 기판(W)을 건조시킨다(이른바 스핀 드라이). Referring again to Fig. 6, after the end of the processing recipe process (step S5), the processing unit (1) dries the substrate (W) (step S6: drying process). For example, the spin motor (22) increases the rotation speed of the substrate (W) to dry the substrate (W) (so-called spin drying).
다음에, 컵 이동 기구(59)는 처리 컵(40)을 하강시킨다(단계 S7: 컵 하강 공정). Next, the cup moving mechanism (59) lowers the processing cup (40) (step S7: cup lowering process).
다음에, 스핀 모터(22)는 스핀 척(20) 및 기판(W)의 회전을 종료하고, 스핀 척(20)은 기판(W)의 유지를 해제한다(단계 S8: 유지 해제 공정). 구체적으로는, 복수의 척 핀(26)이 각각의 개방 위치로 이동함으로써, 유지를 해제한다. Next, the spin motor (22) terminates the rotation of the spin chuck (20) and the substrate (W), and the spin chuck (20) releases the holding of the substrate (W) (step S8: holding release process). Specifically, the holding is released by moving a plurality of chuck pins (26) to their respective open positions.
다음에, 주반송 로봇(103)은, 처리가 완료된 기판(W)을 처리 유닛(1)으로부터 반출한다(단계 S9: 반출 공정). Next, the main transport robot (103) removes the substrate (W) on which processing has been completed from the processing unit (1) (step S9: removal process).
이상과 같이 하여, 기판(W)에 대한 처리가 행해진다. In this manner, processing of the substrate (W) is performed.
<감시 대상><Subject of surveillance>
<노즐의 위치><Nozzle location>
상술한 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)은 필요에 따라 적절히 이동한다. 예를 들면, 제1 노즐(30)은 대기 위치(P33)로부터 중앙 위치(P31)로 이동한다. 이 때, 노즐 기대(33)의 모터 이상(異常) 등의 여러 요인에 의해, 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)로부터 어긋나 정지하는 경우도 있다. 이 경우, 제1 노즐(30)로부터의 처리액에 의거하는 처리가 부적절하게 종료될 수 있다. In the above-described treatment recipe process (step S5), the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) are appropriately moved as needed. For example, the first nozzle (30) moves from the standby position (P33) to the central position (P31). At this time, due to various factors such as a motor abnormality of the nozzle base (33), the first nozzle (30) may be deviated from the central position (P31) and stop. In this case, the treatment based on the treatment liquid from the first nozzle (30) may be improperly terminated.
그래서, 노즐의 위치를 감시한다. 이하, 노즐의 위치 감시에 대해서 서술한다. So, the nozzle position is monitored. Below, the nozzle position monitoring is described.
<셋업 처리><Setup Processing>
우선, 감시 처리에 이용하는 설정 정보를 설정하는 셋업 처리에 대해서 서술한다. 이 셋업 처리는, 예를 들면, 기판 처리 장치(100)가 설치 장소(예를 들면 공장)에 설치될 때에 행해진다. 도 7은, 셋업 처리의 일례를 나타내는 플로차트이다. First, setup processing for setting setup information used for monitoring processing is described. This setup processing is performed, for example, when a substrate processing device (100) is installed at an installation location (e.g., a factory). Fig. 7 is a flowchart showing an example of setup processing.
우선, 작업원은, 유저 인터페이스(90)에 필요 사항을 입력한다(단계 S11: 입력 공정). 예를 들면, 작업원은, 감시 대상물로서 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)을 지정하는 입력을 행하고, 각 노즐의 정지 위치로서 복수의 위치를 지정하는 입력을 행한다. 예를 들면 작업원은, 제1 노즐(30)의 정지 위치로서, 중앙 위치(P31), 주연 위치(P32) 및 주연 위치(P34) 등의 복수의 정지 위치를 입력한다. 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)에 대해서도 동일하다. 또한, 정지 위치의 수는 적절히 변경되어도 된다. First, the worker inputs necessary information into the user interface (90) (step S11: input process). For example, the worker inputs the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) as the objects to be monitored, and inputs the multiple positions as the stop positions of each nozzle. For example, the worker inputs multiple stop positions, such as the center position (P31), the peripheral position (P32), and the peripheral position (P34), as the stop positions of the first nozzle (30). The same applies to the second nozzle (60) and the third nozzle (65). In addition, the number of stop positions may be changed as appropriate.
다음에, 작업원은, 셋업의 개시를 지시하는 입력을 유저 인터페이스(90)에 대해 행한다. Next, the operator makes an input to the user interface (90) indicating the start of setup.
처리 제어부(93)는 당해 지시의 입력에 응답하여, 카메라(70)로 하여금 촬상을 개시하게 한다(단계 S12: 셋업 촬상 공정 개시). 카메라(70)는 촬상 영역을 촬상하여 촬상 화상 데이터를 취득하고, 당해 촬상 화상 데이터를 제어부(9)에 출력한다. The processing control unit (93) causes the camera (70) to start shooting in response to the input of the instruction (step S12: start of setup shooting process). The camera (70) shoots a shooting area to acquire shooting image data, and outputs the shooting image data to the control unit (9).
또, 처리 제어부(93)는 당해 지시의 입력에 응답하여, 노즐 이동 기구를 제어하여, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)을 순차적으로 각 정지 위치로 이동시킨다(단계 S12: 셋업 레시피 공정). 예를 들면, 노즐 이동 기구(37)는, 제1 노즐(30)을 주연 위치(P32), 중앙 위치(P31) 및 주연 위치(P34)에 순차적으로 정지시킨다. 구체적으로는, 우선, 노즐 이동 기구(37)는 제1 노즐(30)을 대기 위치(P33)로부터 주연 위치(P32)로 이동시키고, 소정 시간에 걸쳐 주연 위치(P32)에서 정지시키고, 그 후, 제1 노즐(30)을 주연 위치(P32)로부터 중앙 위치(P31)로 이동시키고, 소정 시간에 걸쳐 중앙 위치(P31)에서 정지시키고, 그 후, 제1 노즐(30)을 중앙 위치(P31)로부터 주연 위치(P34)로 이동시키고, 소정 시간에 걸쳐 주연 위치(P34)에서 정지시킨다. 노즐 이동 기구(37)는, 제1 노즐(30)을, 입력된 모든 정지 위치에서 정지시킨 후, 대기 위치(P33)로 이동시킨다. 그 후, 처리 제어부(93)는, 동일하게 하여, 제2 노즐(60)을 모든 정지 위치에서 순서대로 정지시키고, 계속해서, 제3 노즐(65)을 모든 정지 위치에 순서대로 정지시킨다. In addition, the processing control unit (93) controls the nozzle movement mechanism in response to the input of the instruction to sequentially move the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) to the respective stop positions (step S12: setup recipe process). For example, the nozzle movement mechanism (37) sequentially stops the first nozzle (30) at the peripheral position (P32), the central position (P31), and the peripheral position (P34). Specifically, first, the nozzle moving mechanism (37) moves the first nozzle (30) from the standby position (P33) to the peripheral position (P32), stops it at the peripheral position (P32) over a predetermined period of time, then moves the first nozzle (30) from the peripheral position (P32) to the central position (P31), stops it at the central position (P31) over a predetermined period of time, then moves the first nozzle (30) from the central position (P31) to the peripheral position (P34), and stops it at the peripheral position (P34) over a predetermined period of time. The nozzle moving mechanism (37) stops the first nozzle (30) at all input stop positions and then moves it to the standby position (P33). Then, the processing control unit (93) similarly stops the second nozzle (60) at all stop positions in sequence, and then stops the third nozzle (65) at all stop positions in sequence.
또, 처리 제어부(93)는, 셋업 레시피 공정에 있어서, 각 노즐이 각 정지 위치에서 정지하고 있는 시각을 기억 매체에 기억해 두면 된다. 예를 들면, 처리 제어부(93)는, 제1 노즐(30)을 중앙 위치(P31)에 정지시키기 위한 제어 신호를 노즐 이동 기구(37)에 출력한 시각을 기억해 둔다. 마찬가지로 처리 제어부(93)는, 주연 위치(P32) 및 주연 위치(P34) 각각에 대한 제어 신호가 출력된 시각도 기억 매체에 기억해 둔다. 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)에 대해서도 동일하다. In addition, the processing control unit (93) may store in the storage medium the time at which each nozzle is stopped at each stop position in the setup recipe process. For example, the processing control unit (93) stores the time at which the control signal for stopping the first nozzle (30) at the center position (P31) is output to the nozzle moving mechanism (37). Similarly, the processing control unit (93) also stores in the storage medium the time at which the control signals for each of the peripheral position (P32) and the peripheral position (P34) are output. The same applies to the second nozzle (60) and the third nozzle (65).
셋업 레시피 공정이 종료되면, 카메라(70)가 촬상을 종료한다(단계 S14: 셋업 촬상 공정 종료). When the setup recipe process is completed, the camera (70) ends shooting (step S14: end of setup shooting process).
셋업 촬상 공정은 셋업 레시피 공정과 병행하여 행해지므로, 카메라(70)는 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)을 촬상할 수 있다. 즉, 카메라(70)에 의해 취득된 복수의 촬상 화상 데이터에는, 각 정지 위치에서 정지한 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 각각이 포함된다. Since the setup shooting process is performed in parallel with the setup recipe process, the camera (70) can capture images of the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65). That is, the plurality of captured image data acquired by the camera (70) include each of the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) stopped at each stop position.
도 8은, 셋업 촬상 공정에 있어서 취득되는 촬상 화상 데이터의 일례를 개략적으로 나타내는 도이다. 도 8의 촬상 화상 데이터에는, 중앙 위치(P31)에서 정지하는 제1 노즐(30)의 토출 헤드(31)가 포함되어 있다. 즉, 도 8은, 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)에서 정지하고 있을 때에 취득된 촬상 화상 데이터를 나타내고 있다. Fig. 8 is a diagram schematically showing an example of captured image data acquired in a setup shooting process. The captured image data of Fig. 8 includes the ejection head (31) of the first nozzle (30) that stops at the central position (P31). That is, Fig. 8 shows captured image data acquired when the first nozzle (30) stops at the central position (P31).
다음에, 셋업부(92)는 복수의 촬상 화상 데이터로부터, 각 정지 위치에서 정지한 각 노즐을 포함하는 촬상 화상 데이터(이하, 설정 화상 데이터라고 부른다)를 특정한다(단계 S15: 설정 화상 데이터 특정 공정). 예를 들면, 셋업부(92)는, 중앙 위치(P31)에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터를, 노즐 이동 기구(37)에 출력된 제어 신호에 의거하여 특정한다. 즉, 셋업부(92)는, 제1 노즐(30)을 중앙 위치(P31)로 이동시키기 위한 제어 신호가 출력된 시각을 기억 매체로부터 읽어내고, 당해 시각과, 카메라(70)에 의한 촬상 화상 데이터의 취득 시각에 의거하여, 중앙 위치(P31)에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터를 특정한다. 제어 신호가 출력되고부터 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)에서 정지할 때까지의 시간은 미리 정해져 있으므로, 셋업부(92)는, 제어 신호가 출력된 시각에 의거하여, 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)에서 정지하고 있는 기간을 구할 수 있다. 셋업부(92)는, 당해 기간에 포함된 취득 시각을 갖는 촬상 화상 데이터를, 설정 화상 데이터로서 특정한다. Next, the setup unit (92) specifies, from the plurality of captured image data, captured image data (hereinafter, referred to as setting image data) including each nozzle stopped at each stop position (step S15: setting image data specifying process). For example, the setup unit (92) specifies the setting image data including the first nozzle (30) stopped at the central position (P31) based on the control signal output to the nozzle moving mechanism (37). That is, the setup unit (92) reads, from the storage medium, the time at which the control signal for moving the first nozzle (30) to the central position (P31) is output, and, based on the time and the acquisition time of the captured image data by the camera (70), specifies the setting image data including the first nozzle (30) stopped at the central position (P31). Since the time from when the control signal is output until the first nozzle (30) stops at the central position (P31) is determined in advance, the setup unit (92) can obtain the period during which the first nozzle (30) stops at the central position (P31) based on the time at which the control signal is output. The setup unit (92) specifies the captured image data having the acquisition time included in the period as the setup image data.
셋업부(92)는, 동일하게 하여, 다른 각 정지 위치에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터, 각 정지 위치에서 정지한 제2 노즐(60)을 포함하는 설정 화상 데이터, 및, 각 정지 위치에서 정지한 제3 노즐(65)을 포함하는 설정 화상 데이터를 특정한다. 각 노즐에 대한 정지 위치의 수가 서로 동일하면, 설정 화상 데이터 특정 공정에 있어서, (노즐의 수) × (정지 위치의 수)장의 설정 화상 데이터가 특정된다. The setup section (92) specifies setup image data including the first nozzle (30) stopped at each of the other stop positions, setup image data including the second nozzle (60) stopped at each of the stop positions, and setup image data including the third nozzle (65) stopped at each of the stop positions. If the number of stop positions for each nozzle is the same, in the setup image data specifying process, setup image data of (the number of nozzles) × (the number of stop positions) are specified.
또한, 셋업 레시피 공정(단계 S13)에서는, 설정용의 기판(W)이 처리 유닛(1)에 반입되어도 된다. 도 8의 예에서는, 촬상 화상 데이터에는, 스핀 척(20)에 의해 유지되는 설정용의 기판(W)이 포함되어 있다. 단, 셋업 레시피 공정에 있어서, 반드시 설정용의 기판(W)이 반입되어 있지 않아도 된다. In addition, in the setup recipe process (step S13), a substrate (W) for setting may be loaded into the processing unit (1). In the example of Fig. 8, the captured image data includes a substrate (W) for setting held by a spin chuck (20). However, in the setup recipe process, the substrate (W) for setting does not necessarily have to be loaded.
또, 셋업 레시피 공정에서는, 컵 이동 기구(59)는 처리 컵(40)을 상승시켜도 된다. 도 8의 예에서는, 설정 화상 데이터에는, 상승한 상태의 처리 컵(40)이 나타나 있다. 단, 셋업 레시피 공정에 있어서, 처리 컵(40)은 반드시 상승하고 있지 않아도 된다. In addition, in the setup recipe process, the cup moving mechanism (59) may raise the processing cup (40). In the example of Fig. 8, the setup image data shows the processing cup (40) in an elevated state. However, in the setup recipe process, the processing cup (40) does not necessarily have to be raised.
다음에, 셋업부(92)는 설정 화상 데이터를 해석하여, 설정 화상 데이터 내에 있어서의 노즐의 좌표 위치를 검출하고, 당해 좌표 위치를 설정 좌표 위치로서 설정한다(단계 S17: 위치 설정 공정). 예를 들면, 셋업부(92)는, 중앙 위치(P31)에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터(도 8)와, 미리 기억 매체에 기억된 제1 노즐(30)(구체적으로는, 토출 헤드(31))을 나타내는 참조 화상 데이터(RI1)의 템플릿 매칭에 의해, 설정 화상 데이터 내의 제1 노즐(30)의 좌표 위치를 검출한다. 또한, 도 8의 예에서는, 참조 화상 데이터(RI1)를 모식적으로 가상선으로, 촬상 화상 데이터에 겹쳐 나타내고 있다. Next, the setup unit (92) interprets the setting image data, detects the coordinate position of the nozzle in the setting image data, and sets the coordinate position as the setting coordinate position (step S17: position setting process). For example, the setup unit (92) detects the coordinate position of the first nozzle (30) in the setting image data by template matching of the setting image data (Fig. 8) including the first nozzle (30) stopped at the center position (P31) and the reference image data (RI1) indicating the first nozzle (30) (specifically, the ejection head (31)) stored in the storage medium in advance. In addition, in the example of Fig. 8, the reference image data (RI1) is schematically shown as a virtual line overlapping the captured image data.
셋업부(92)는, 검출한 좌표 위치를, 중앙 위치(P31)에 대한 설정 좌표 위치로서 설정한다. 구체적으로는, 셋업부(92)는 중앙 위치(P31)에 대한 설정 좌표 위치를 기억 매체에 기억시킨다. The setup unit (92) sets the detected coordinate position as a set coordinate position for the central position (P31). Specifically, the setup unit (92) stores the set coordinate position for the central position (P31) in a storage medium.
또, 셋업부(92)는, 다른 각 정지 위치에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터와, 참조 화상 데이터(RI1)의 템플릿 매칭에 의해, 설정 화상 데이터 내의 제1 노즐(30)의 좌표 위치를 검출하고, 당해 좌표 위치를 당해 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치로서 설정한다. 또, 셋업부(92)는, 각 정지 위치에서 정지한 제2 노즐(60)을 포함하는 설정용 화상 데이터와, 제2 노즐(60)의 일부를 나타내는 참조 화상 데이터에 의거하여, 제2 노즐(60)의 좌표 위치를 검출하고, 당해 좌표 위치를 당해 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치로서 설정한다. 또, 셋업부(92)는, 동일하게 하여, 제3 노즐(65)의 각 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치도 순차적으로 설정한다. In addition, the setup unit (92) detects the coordinate position of the first nozzle (30) in the setup image data by template matching of the setup image data including the first nozzle (30) stopped at each of the other stop positions and the reference image data (RI1), and sets the coordinate position as the setup coordinate position for the stop position. In addition, the setup unit (92) detects the coordinate position of the second nozzle (60) based on the setup image data including the second nozzle (60) stopped at each of the stop positions and the reference image data indicating a part of the second nozzle (60), and sets the coordinate position as the setup coordinate position for the stop position. In addition, the setup unit (92) also sequentially sets the setup coordinate positions for the respective stop positions of the third nozzle (65) in the same manner.
이에 따라, 제1 노즐(30)의 각 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치, 제2 노즐(60)의 각 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치 및 제3 노즐(65)의 각 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치가 설정된다. Accordingly, the set coordinate positions for each stop position of the first nozzle (30), the set coordinate positions for each stop position of the second nozzle (60), and the set coordinate positions for each stop position of the third nozzle (65) are set.
또한, 도 7의 예에서는, 단계 S17(판정 영역 설정 공정)도 실행되어 있으나, 이 처리에 대해서는 나중에 서술한다. Additionally, in the example of Fig. 7, step S17 (judgment area setting process) is also executed, but this processing will be described later.
이상과 같이, 본 셋업 처리에 의하면, 셋업부(92)는 복수의 촬상 화상 데이터로부터 설정 화상 데이터를 자동으로 특정하고, 당해 설정 화상 데이터 내에 있어서의 감시 대상물의 설정 좌표 위치를 자동으로 설정한다. 따라서, 작업원은 복수의 촬상 화상 데이터를 시인하여 수동으로 설정 화상 데이터를 특정할 필요가 없고, 또, 설정 화상 데이터 내의 제1 노즐(30)의 좌표 위치를 수동으로 지정할 필요도 없다. 따라서, 작업원의 부담을 경감할 수 있어, 셋업에 필요로 하는 작업 시간을 단축시킬 수도 있다. 또, 작업원에 의한 숙달도의 편차에 기인한 설정의 편차도 회피할 수 있다. As described above, according to the setup processing, the setup unit (92) automatically specifies the setting image data from the plurality of captured image data, and automatically sets the setting coordinate position of the surveillance target within the setting image data. Therefore, the worker does not need to manually specify the setting image data by recognizing the plurality of captured image data, and also does not need to manually specify the coordinate position of the first nozzle (30) within the setting image data. Therefore, the burden on the worker can be reduced, and the work time required for setup can be shortened. In addition, the deviation of the setting due to the deviation of the proficiency level of the worker can also be avoided.
또, 본 셋업 처리에 의하면, 셋업부(92)는, 예를 들면 작업원에 의한 셋업의 개시 지시의 입력에 응답하여, 각 노즐의 각 정지 위치에 대한 설정 화상 데이터 모두를 순차적으로 자동적으로 특정한다. 비교를 위해, 설정 화상 데이터를 특정하기 위한 입력을, 각 노즐의 정지 위치 마다 행하는 경우도 생각된다. 예를 들면, 셋업부(92)는, 중앙 위치(P31)에서 정지하는 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터를 특정하기 위한 입력에 응답하여, 당해 설정 화상 데이터를 특정하고, 주연 위치(P32)에서 정지하는 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터를 특정하기 위한 입력에 응답하여, 당해 설정 화상 데이터를 특정하는 경우도 생각된다. 그러나, 이와 같은 입력은 작업원의 부담이며, 작업 시간을 길어지게 한다. 이에 반해, 상술한 예에서는, 한번의 입력으로 모든 설정 화상 데이터가 특정되므로, 작업원의 입력 회수를 저감시킬 수 있어, 작업 시간을 단축시킬 수 있다. 또한, 셋업부(92)가 셋업 촬상 공정의 종료를 트리거로 하여, 설정 화상 데이터 특정 공정을 행하는 경우에는, 작업원에 의한 입력 회수를 더 저감시킬 수 있다. In addition, according to the setup processing, the setup unit (92) automatically and sequentially specifies all of the setting image data for each stop position of each nozzle in response to, for example, an input of a setup start instruction by a worker. For comparison, it is also conceivable that the input for specifying the setting image data is performed for each stop position of each nozzle. For example, it is also conceivable that the setup unit (92) specifies the setting image data including the first nozzle (30) stopping at the center position (P31) in response to an input for specifying the setting image data, and specifies the setting image data including the first nozzle (30) stopping at the peripheral position (P32) in response to an input for specifying the setting image data. However, such input is a burden to the worker and lengthens the work time. In contrast, in the above-described example, since all of the setting image data is specified with a single input, the number of inputs by the worker can be reduced, and the work time can be shortened. In addition, when the setup unit (92) performs a specific process of setting image data by triggering the end of the setup shooting process, the number of inputs by the operator can be further reduced.
또, 셋업부(92)는, 예를 들면 한번의 입력에 응답하여, 각 노즐의 각 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치 모두를 순차적으로 설정한다. 따라서, 작업원의 입력 회수를 저감시킬 수 있어, 작업 시간을 단축시킬 수 있다. 또한, 셋업부(92)가 설정 화상 데이터 특정 공정의 종료를 트리거로 하여, 위치 설정 공정을 행하는 경우에는, 작업원에 의한 입력 회수를 더 저감시킬 수 있다. In addition, the setup unit (92) sequentially sets all of the set coordinate positions for each stop position of each nozzle, for example, in response to a single input. Therefore, the number of inputs by the operator can be reduced, and the work time can be shortened. In addition, when the setup unit (92) performs the position setting process by triggering the end of a specific process of the set image data, the number of inputs by the operator can be further reduced.
또한, 셋업 처리에 있어서, 적절히 작업원의 입력을 트리거로서 채용해도 상관없다. 예를 들면, 설정 화상 데이터 특정 공정은 작업원에 의한 입력 지시를 트리거로 하여 개시해도 된다. 예를 들면, 셋업부(92)는 셋업 촬상 공정의 종료를, 유저 인터페이스(90)를 통하여 작업원에 통지하고, 작업원은 당해 통지를 받아, 설정 화상 데이터 특정 공정의 개시를 지시하는 입력을 유저 인터페이스(90)에 행한다. 셋업부(92)는 당해 지시의 입력에 응답하여 설정 화상 데이터 특정 공정을 행해도 된다. In addition, in the setup process, it is okay to appropriately employ the input of the worker as a trigger. For example, the setup image data specific process may be started by using an input instruction by the worker as a trigger. For example, the setup unit (92) notifies the worker of the end of the setup imaging process through the user interface (90), and the worker, upon receiving the notification, inputs an instruction to start the setup image data specific process to the user interface (90). The setup unit (92) may perform the setup image data specific process in response to the input of the instruction.
또, 위치 설정 공정(단계 S16)도, 작업원에 의한 입력 지시를 트리거로 하여 개시해도 된다. 예를 들면, 셋업부(92)는 설정 화상 데이터 특정 공정의 종료를, 유저 인터페이스(90)를 통하여 작업원에 통지하고, 작업원은 당해 통지를 받아, 위치 설정 공정의 개시를 지시하는 입력을 유저 인터페이스(90)에 행한다. 셋업부(92)는 당해 지시의 입력에 응답하여 설정 화상 데이터 특정 공정을 행해도 된다. In addition, the position setting process (step S16) may also be started by a trigger input instruction from a worker. For example, the setup unit (92) notifies the worker of the end of the setting image data specific process through the user interface (90), and the worker receives the notification and inputs an instruction to start the position setting process to the user interface (90). The setup unit (92) may perform the setting image data specific process in response to the input of the instruction.
<감시 처리><Surveillance Processing>
다음에, 처리 레시피 공정(단계 S5)과 병행하여 행해지는 감시 처리의 일례에 대해서 설명한다. 도 9는, 감시 처리의 일례를 나타내는 플로차트이다. 카메라(70)는 처리 레시피 공정과 병행하여, 촬상 영역을 순차적으로 촬상하여 촬상 화상 데이터를 취득한다(단계 S21: 처리 촬상 공정). 상술한 예에서는, 처리 레시피 공정에 있어서, 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)에서 기판(W)의 상면에 처리액을 토출하고, 그 후, 제2 노즐(60)이 중앙 위치(P61)에서 기판(W)의 상면에 처리액(예를 들면 린스액)을 토출한다. Next, an example of a monitoring process performed in parallel with the processing recipe process (step S5) will be described. Fig. 9 is a flowchart showing an example of the monitoring process. The camera (70) sequentially captures images of an imaging area in parallel with the processing recipe process to acquire captured image data (step S21: processing imaging process). In the above-described example, in the processing recipe process, the first nozzle (30) ejects the processing liquid onto the upper surface of the substrate (W) at the central position (P31), and then the second nozzle (60) ejects the processing liquid (e.g., rinse liquid) onto the upper surface of the substrate (W) at the central position (P61).
감시 처리부(91)는, 처리 촬상 공정에 의해 취득된 촬상 화상 데이터에 의거하여, 각 노즐의 위치를 감시한다(단계 S22: 위치 감시 공정). 구체적으로는, 우선, 감시 처리부(91)는, 처리 제어부(93)로부터 처리의 수순을 나타내는 정보를 받아들여, 제1 노즐(30)이 대기 위치(P33)로부터 중앙 위치(P31)로 이동하는 기간을 당해 정보에 의거하여 특정한다. 감시 처리부(91)는, 당해 기간에 있어서 취득된 촬상 화상 데이터와, 기억 매체에 기억된 참조 화상 데이터(RI1)의 템플릿 매칭에 의해, 촬상 화상 데이터 내에 있어서의 제1 노즐(30)의 좌표 위치를 검출한다. 복수의 촬상 화상 데이터에 있어서 제1 노즐(30)의 좌표 위치가 거의 일정하면, 제1 노즐(30)은 중앙 위치(P31)에서 정지하고 있다고 판단할 수 있으며, 당해 좌표 위치가 제1 노즐(30)의 정지 좌표 위치에 상당한다. The monitoring processing unit (91) monitors the position of each nozzle based on the captured image data acquired by the processing imaging process (step S22: position monitoring process). Specifically, first, the monitoring processing unit (91) receives information indicating the processing sequence from the processing control unit (93) and specifies the period during which the first nozzle (30) moves from the standby position (P33) to the central position (P31) based on the information. The monitoring processing unit (91) detects the coordinate position of the first nozzle (30) in the captured image data by template matching of the captured image data acquired during the period and the reference image data (RI1) stored in the storage medium. If the coordinate position of the first nozzle (30) is substantially constant in the plurality of captured image data, it can be determined that the first nozzle (30) is stopped at the central position (P31), and the coordinate position corresponds to the stop coordinate position of the first nozzle (30).
다음에, 감시 처리부(91)는, 중앙 위치(P31)에 대한 설정 좌표 위치를 기억 매체로부터 읽어내고, 검출된 제1 노즐(30)의 정지 좌표 위치와, 설정 좌표 위치에 의거하여, 제1 노즐(30)의 위치의 적정 여부를 판단한다. 구체적으로는, 감시 처리부(91)는 정지 좌표 위치와 설정 좌표 위치의 차가 허용치 이하인지 여부를 판단한다. 허용치는 예를 들면 미리 설정되어 있으며, 기억 매체에 기억된다. Next, the monitoring processing unit (91) reads the set coordinate position for the central position (P31) from the storage medium, and determines whether the position of the first nozzle (30) is appropriate based on the detected stop coordinate position of the first nozzle (30) and the set coordinate position. Specifically, the monitoring processing unit (91) determines whether the difference between the stop coordinate position and the set coordinate position is less than or equal to a tolerance. The tolerance is, for example, set in advance and stored in the storage medium.
당해 차가 허용치 이하이면, 감시 처리부(91)는, 제1 노즐(30)이 적절히 중앙 위치(P31)에 정지하고 있다고 판단한다. 한편, 당해 차가 허용치보다 크면, 감시 처리부(91)는, 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)로부터 어긋나 정지하고 있다고 판단한다. 즉, 감시 처리부(91)는 제1 노즐(30)에 대한 노즐 위치 이상을 검출한다. 감시 처리부(91)는 유저 인터페이스(90)를 통하여, 제1 노즐(30)의 노즐 위치 이상을 작업원에 통지해도 된다. 또, 이 때, 처리 제어부(93)는 기판(W)의 처리를 중단해도 된다. If the difference is less than the allowable value, the monitoring processing unit (91) determines that the first nozzle (30) is properly stopped at the center position (P31). On the other hand, if the difference is greater than the allowable value, the monitoring processing unit (91) determines that the first nozzle (30) is stopped at a position that is displaced from the center position (P31). In other words, the monitoring processing unit (91) detects a nozzle position abnormality for the first nozzle (30). The monitoring processing unit (91) may notify the worker of the nozzle position abnormality of the first nozzle (30) through the user interface (90). In addition, at this time, the processing control unit (93) may stop processing the substrate (W).
감시 처리부(91)는 상술과 동일한 처리에 의해, 제2 노즐(60)의 위치도 감시한다. 또, 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서, 제3 노즐(65)이 처리액을 기판(W)의 상면에 토출하는 경우에는, 감시 처리부(91)는 동일한 처리에 의해, 제3 노즐(65)의 위치도 감시한다. The monitoring processing unit (91) also monitors the position of the second nozzle (60) through the same processing as described above. In addition, in the processing recipe process (step S5), when the third nozzle (65) ejects the processing liquid onto the upper surface of the substrate (W), the monitoring processing unit (91) also monitors the position of the third nozzle (65) through the same processing.
이상과 같이, 감시 처리부(91)는, 처리 레시피 공정에 있어서의 각 노즐의 위치를 감시할 수 있다. As described above, the monitoring processing unit (91) can monitor the position of each nozzle in the processing recipe process.
<토출 감시><Discharge Monitoring>
도 9의 예에서는, 감시 처리부(91)는, 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서의 각 노즐로부터의 처리액의 토출 상태도, 촬상 화상 데이터에 의거하여 감시한다(단계 S23: 토출 감시 공정). 이하, 제1 노즐(30)을 예로 들어 설명한다. In the example of Fig. 9, the monitoring processing unit (91) monitors the discharge status of the treatment liquid from each nozzle in the treatment recipe process (step S5) based on the captured image data (step S23: discharge monitoring process). Hereinafter, the first nozzle (30) will be described as an example.
우선, 감시 처리부(91)는, 촬상 화상 데이터에 있어서 토출 판정 영역(R1)(도 8 참조)을 설정한다. 토출 판정 영역(R1)은, 촬상 화상 데이터에 있어서 제1 노즐(30)의 선단보다 하측의 영역을 포함하는 영역이며, 제1 노즐(30)의 선단으로부터 토출된 처리액을 포함하는 영역이다. First, the monitoring processing unit (91) sets a discharge determination area (R1) (see Fig. 8) in the captured image data. The discharge determination area (R1) is an area that includes an area lower than the tip of the first nozzle (30) in the captured image data, and is an area that includes the processing liquid discharged from the tip of the first nozzle (30).
제1 노즐(30)의 좌표 위치에 대한 토출 판정 영역(R1)의 상대적인 위치 관계는 미리 설정되어 있으며, 기억 매체에 기억되어 있다. 또, 토출 판정 영역(R1)은, 예를 들면 세로 방향으로 연장하는 직사각형의 형상으로 소정 사이즈로 미리 설정되어 있다. 이와 같은 위치 관계, 형상 및 사이즈를 나타내는 상대 관계(이하, 설정 상대 관계라고 부른다)는 기억 매체에 기억된다. The relative positional relationship of the discharge judgment area (R1) with respect to the coordinate position of the first nozzle (30) is preset and stored in a storage medium. In addition, the discharge judgment area (R1) is preset to a predetermined size, for example, in the shape of a rectangle extending in the vertical direction. The relative relationship (hereinafter referred to as the set relative relationship) representing such a positional relationship, shape, and size is stored in a storage medium.
감시 처리부(91)는, 기술의 템플릿 매칭에 의해 검출된 제1 노즐(30)의 정지 좌표 위치와, 기억 매체에 기억된 설정 상대 관계에 의거하여, 토출 판정 영역(R1)을 설정한다. 이에 따라, 촬상 화상 데이터 내에 있어서 제1 노즐(30)의 좌표 위치가 약간 변동해도, 당해 좌표 위치에 따라 토출 판정 영역(R1)이 설정된다. 따라서, 제1 노즐(30)의 선단으로부터 토출되는 처리액이 적절히 포함되도록 토출 판정 영역(R1)이 설정된다. The monitoring processing unit (91) sets the discharge determination area (R1) based on the stationary coordinate position of the first nozzle (30) detected by the template matching of the technology and the set relative relationship stored in the storage medium. Accordingly, even if the coordinate position of the first nozzle (30) slightly fluctuates within the captured image data, the discharge determination area (R1) is set according to the coordinate position. Accordingly, the discharge determination area (R1) is set so that the processing liquid discharged from the tip of the first nozzle (30) is appropriately included.
도 10은, 처리 촬상 공정(단계 S21)에 있어서 취득된 촬상 화상 데이터의 다른 일례를 개략적으로 나타내는 도이다. 도 10의 촬상 화상 데이터에는, 중앙 위치(P31)에서 처리액을 토출하는 제1 노즐(30)의 토출 헤드(31)가 포함되어 있다. 즉, 도 10은, 제1 노즐(30)이 중앙 위치(P31)에서 처리액을 토출하고 있을 때에 취득된 촬상 화상 데이터를 나타내고 있다. Fig. 10 is a diagram schematically showing another example of captured image data acquired in the processing imaging process (step S21). The captured image data of Fig. 10 includes the ejection head (31) of the first nozzle (30) ejecting the processing liquid at the central position (P31). That is, Fig. 10 shows captured image data acquired when the first nozzle (30) is ejecting the processing liquid at the central position (P31).
도 8 및 도 10의 비교로부터 이해할 수 있는 바와 같이, 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값은, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출했을 때와, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있지 않을 때에서 상이하다. 예를 들면, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있을 때의 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값의 총 합은, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있지 않을 때의 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값의 총 합보다 커진다. As can be understood from the comparison of FIGS. 8 and 10, the pixel values within the discharge determination area (R1) are different when the first nozzle (30) discharges the treatment liquid and when the first nozzle (30) is not discharged the treatment liquid. For example, the total sum of the pixel values within the discharge determination area (R1) when the first nozzle (30) is discharged the treatment liquid is greater than the total sum of the pixel values within the discharge determination area (R1) when the first nozzle (30) is not discharged the treatment liquid.
그래서, 감시 처리부(91)는, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있는지 여부를 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값에 의거하여 판단한다. 구체적인 일례로서, 감시 처리부(91)는, 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값의 총 합이 소정의 토출 기준치 이상인지 여부를 판단하여, 당해 총 합이 토출 기준치 이상일 때에 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있다고 판단한다. 또, 감시 처리부(91)는 당해 총 합이 토출 기준치 미만일 때에, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있지 않다고 판단한다. Therefore, the monitoring processing unit (91) determines whether the first nozzle (30) is discharging the treatment liquid based on the pixel values within the discharge determination area (R1). As a specific example, the monitoring processing unit (91) determines whether the total sum of the pixel values within the discharge determination area (R1) is equal to or greater than a predetermined discharge reference value, and determines that the first nozzle (30) is discharging the treatment liquid when the total sum is equal to or greater than the discharge reference value. In addition, the monitoring processing unit (91) determines that the first nozzle (30) is not discharging the treatment liquid when the total sum is less than the discharge reference value.
또한, 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값에 의거하는 처리액의 토출의 유무 판정은 이에 한정되지 않고, 다양한 수법을 채용할 수 있다. 예를 들면, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있을 때의 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값의 분산은, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출하고 있지 않을 때의 분산보다 크다. 따라서, 감시 처리부(91)는 당해 분산을 산출하고, 그 분산의 대소에 의거하여 처리액의 토출의 유무를 판단해도 된다. 또, 분산 대신에 표준 편차를 채용하는 것도 가능하다. In addition, the determination of whether or not the treatment liquid is discharged based on the pixel values within the discharge determination area (R1) is not limited to this, and various methods can be adopted. For example, the dispersion of the pixel values within the discharge determination area (R1) when the first nozzle (30) is discharging the treatment liquid is larger than the dispersion when the first nozzle (30) is not discharging the treatment liquid. Therefore, the monitoring processing unit (91) may calculate the dispersion and determine whether or not the treatment liquid is discharged based on the size of the dispersion. In addition, it is also possible to adopt the standard deviation instead of the dispersion.
감시 처리부(91)는, 카메라(70)에 의해 순차적으로 취득된 촬상 화상 데이터 각각에 대해 상술한 처리를 행함으로써, 제1 노즐(30)이 처리액의 토출을 개시하는 개시 타이밍, 및, 제1 노즐(30)이 처리액의 토출을 종료하는 종료 타이밍을 검출할 수 있다. 또, 감시 처리부(91)는 개시 타이밍 및 종료 타이밍에 의거하여, 처리액이 토출되는 토출 시간을 산출하고, 당해 토출 시간이 규정 시간이 되어 있는지를 감시할 수 있다. 구체적으로는, 토출 시간과 규정 시간의 차가 허용 시간 이상이 되고 있을 때에, 토출 이상이 발생했다고 판단한다. 허용 시간은 예를 들면 미리 설정되며, 기억 매체에 기억되어 있다. The monitoring processing unit (91) can detect the start timing at which the first nozzle (30) starts discharging the treatment liquid, and the end timing at which the first nozzle (30) ends discharging the treatment liquid, by performing the above-described processing on each of the captured image data sequentially acquired by the camera (70). In addition, the monitoring processing unit (91) can calculate the discharge time at which the treatment liquid is discharged based on the start timing and the end timing, and monitor whether the discharge time has reached a specified time. Specifically, when the difference between the discharge time and the specified time is an allowable time or longer, it is determined that a discharge abnormality has occurred. The allowable time is, for example, set in advance and stored in a storage medium.
감시 처리부(91)는, 동일한 처리에 의해, 필요에 따라, 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)로부터의 처리액의 토출 상태를 감시한다. 예를 들면, 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서 제2 노즐(60)도 중앙 위치(P61)에서 처리액을 토출하는 경우, 감시 처리부(91)는 제2 노즐(60)의 처리액의 토출 상태도 감시한다. The monitoring processing unit (91) monitors the discharge status of the treatment liquid from the second nozzle (60) and the third nozzle (65) as needed by the same processing. For example, in the treatment recipe process (step S5), when the second nozzle (60) also discharges the treatment liquid at the central position (P61), the monitoring processing unit (91) also monitors the discharge status of the treatment liquid from the second nozzle (60).
또, 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서, 제1 노즐(30)이 주연 위치(P32)에서 처리액을 토출하는 경우도 있을 수 있다. 이 경우에는, 감시 처리부(91)는, 주연 위치(P32)에 있어서의 제1 노즐(30)의 처리액의 토출 상태를 감시한다. 구체적으로는, 우선, 감시 처리부(91)는, 제1 노즐(30)이 주연 위치(P32)로 이동하는 기간을, 처리 제어부(93)로부터 수취한 처리의 수순을 나타내는 정보에 의거하여 특정한다. 감시 처리부(91)는, 당해 기간에 있어서 취득된 촬상 화상 데이터로부터, 주연 위치(P32)에서 정지하는 촬상 화상 데이터를 특정하고, 당해 촬상 화상 데이터 내에 있어서의 제1 노즐(30)의 정지 좌표 위치를 검출한다. 그리고, 감시 처리부(91)는 제1 노즐(30)의 정지 좌표 위치와, 기억 매체에 기억된 설정 상대 관계에 의거하여 토출 판정 영역(R1)을 설정하고, 토출 판정 영역(R1) 내의 화소값에 의거하여 처리액의 토출 상태를 감시한다. In addition, in the processing recipe process (step S5), there may be a case where the first nozzle (30) discharges the processing liquid at the peripheral position (P32). In this case, the monitoring processing unit (91) monitors the discharge status of the processing liquid of the first nozzle (30) at the peripheral position (P32). Specifically, first, the monitoring processing unit (91) specifies the period during which the first nozzle (30) moves to the peripheral position (P32) based on information indicating the processing sequence received from the processing control unit (93). The monitoring processing unit (91) specifies the captured image data that stops at the peripheral position (P32) from the captured image data acquired during the period, and detects the stop coordinate position of the first nozzle (30) within the captured image data. And, the monitoring processing unit (91) sets a discharge judgment area (R1) based on the stationary coordinate position of the first nozzle (30) and the set relative relationship stored in the storage medium, and monitors the discharge status of the processing liquid based on the pixel value within the discharge judgment area (R1).
제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)이 각각 적절한 정지 위치에서 처리액을 토출하는 경우에도, 감시 처리부(91)는 동일하게 하여, 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 각각으로부터의 처리액의 토출 상태를 감시한다. Even when the second nozzle (60) and the third nozzle (65) each discharge the treatment liquid at an appropriate stop position, the monitoring processing unit (91) monitors the discharge status of the treatment liquid from each of the second nozzle (60) and the third nozzle (65) in the same manner.
<판정 영역><Judgment Area>
그런데, 다른 제1 정지 위치 및 제2 정지 위치에서 정지한 제1 노즐(30)의 촬상 화상 데이터 내의 크기는 서로 상이할 수 있다. 구체적으로는, 제1 정지 위치 및 제2 정지 위치가 카메라(70)에서 본 깊이 방향에 있어서 서로 어긋나 있는 경우에, 제1 노즐(30)의 촬상 화상 데이터 내의 크기는 서로 상이하다. 예를 들면, 카메라(70)의 깊이 방향에 있어서, 중앙 위치(P31), 주연 위치(P32) 및 주연 위치(P34)는 서로 상이하다. 따라서, 중앙 위치(P31), 주연 위치(P32) 및 주연 위치(P32)에서 정지한 제1 노즐(30)의 촬상 화상 데이터 내에 있어서의 크기는, 서로 상이하다. However, the sizes in the captured image data of the first nozzle (30) stopped at the first stop position and the second stop position may be different from each other. Specifically, when the first stop position and the second stop position are misaligned in the depth direction as viewed from the camera (70), the sizes in the captured image data of the first nozzle (30) are different from each other. For example, in the depth direction of the camera (70), the center position (P31), the peripheral position (P32), and the peripheral position (P34) are different from each other. Therefore, the sizes in the captured image data of the first nozzle (30) stopped at the center position (P31), the peripheral position (P32), and the peripheral position (P32) are different from each other.
도 11은, 제1 노즐(30)의 촬상 화상 데이터 내의 크기의 상이를 나타내는 도이다. 도 11에서는, 우측의 제1 노즐(30)이 좌측의 제1 노즐(30)보다 커져 있다. 즉, 우측의 제1 노즐(30)은, 깊이 방향에 있어서 카메라(70)에 가까운 위치에서 정지한 제1 노즐(30)을 나타내고 있고, 좌측의 제1 노즐(30)은, 깊이 방향에 있어서 카메라(70)로부터 먼 위치에서 정지한 제1 노즐(30)을 나타내고 있다. Fig. 11 is a diagram showing the difference in size within the captured image data of the first nozzle (30). In Fig. 11, the first nozzle (30) on the right is larger than the first nozzle (30) on the left. That is, the first nozzle (30) on the right represents the first nozzle (30) stopped at a position closer to the camera (70) in the depth direction, and the first nozzle (30) on the left represents the first nozzle (30) stopped at a position farther from the camera (70) in the depth direction.
좌측의 제1 노즐(30)은 카메라(70)로부터 먼 정지 위치에서 정지하고 있으므로, 좌측의 제1 노즐(30)의 선단으로부터 토출되는 처리액은, 촬상 화상 데이터 내에 있어서 보다 작게 나타나 있다. 반대로, 우측의 제1 노즐(30)은 카메라(70)에 가까운 정지 위치에서 정지하고 있으므로, 우측의 제1 노즐(30)의 선단으로부터 토출되는 처리액은, 촬상 화상 데이터 내에 있어서 보다 크게 나타난다. Since the first nozzle (30) on the left is stopped at a stationary position farther from the camera (70), the treatment liquid discharged from the tip of the first nozzle (30) on the left appears smaller in the captured image data. Conversely, since the first nozzle (30) on the right is stopped at a stationary position closer to the camera (70), the treatment liquid discharged from the tip of the first nozzle (30) on the right appears larger in the captured image data.
이와 같은 촬상 화상 데이터에 있어서, 토출 판정 영역(R1)의 위치 및 크기가 정지 위치에 상관없이, 즉, 제1 노즐(30)의 크기에 상관없이 설정되면, 토출 판정 영역(R1)이 처리액에 대해 적절한 위치로부터 어긋나거나, 혹은, 처리액의 크기에 비해 너무 커진다. 도 11에서는, 좌측의 제1 노즐(30)의 선단과 토출 판정 영역(R1)의 상단의 간격은, 우측의 제1 노즐(30)의 선단과 토출 판정 영역(R1)의 상단의 간격과 같고, 양 토출 판정 영역(R1)의 크기도 서로 같다. 이 경우, 좌측의 토출 판정 영역(R1)은 처리액에 대해 적절한 위치로부터 하방으로 어긋나 있으며, 또, 처리액의 크기에 비해 크게 설정된다. In such captured image data, if the position and size of the discharge judgment area (R1) are set regardless of the stop position, that is, regardless of the size of the first nozzle (30), the discharge judgment area (R1) may be deviated from the appropriate position for the processing liquid, or may be too large compared to the size of the processing liquid. In Fig. 11, the distance between the tip of the first nozzle (30) on the left and the upper end of the discharge judgment area (R1) is the same as the distance between the tip of the first nozzle (30) on the right and the upper end of the discharge judgment area (R1), and the sizes of both discharge judgment areas (R1) are also the same. In this case, the discharge judgment area (R1) on the left is deviated downward from the appropriate position for the processing liquid, and is also set to be large compared to the size of the processing liquid.
그래서, 제1 노즐(30)에 대한 토출 판정 영역(R1)의 위치 및 크기를 나타내는 설정 상대 관계를, 정지 위치 별로 설정해 두는 것이 바람직하다. Therefore, it is desirable to set the setting relative relationship indicating the position and size of the discharge judgment area (R1) for the first nozzle (30) for each stop position.
<판정 영역 설정 공정><Judgment Area Setting Process>
도 7의 셋업 처리의 일례에서는, 위치 설정 공정(단계 S16) 후에 판정 영역 설정 공정(단계 S17)이 실행된다. 이 판정 영역 설정 공정에서는, 셋업부(92)는, 각 노즐의 설정 좌표 위치와 토출 판정 영역(R1)의 기하학적인 상대 관계(위치 및 크기)를 나타내는 설정 상대 관계를, 각 노즐의 정지 위치 마다 설정한다. In an example of the setup processing of Fig. 7, a judgment area setting process (step S17) is executed after a position setting process (step S16). In this judgment area setting process, the setup unit (92) sets a setting relative relationship representing a geometrical relative relationship (position and size) between the setting coordinate position of each nozzle and the discharge judgment area (R1) for each stop position of each nozzle.
단, 제1 노즐(30)의 중앙 위치(P31)에 대한 설정 상대 관계는 미리 설정되며, 기억 매체에 기억되어 있다. 이 설정 상대 관계는, 예를 들면, 다음과 같이 하여 작업원에 의해 수동으로 설정된다. 예를 들면, 작업원은, 중앙 위치(P31)에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터의 표시를 지시하는 입력을 유저 인터페이스(90)에 대해 행한다. 제어부(9)는 당해 입력에 응답하여, 당해 설정 화상 데이터를 유저 인터페이스(90)로 하여금 표시하게 한다. 작업원은 당해 설정 화상 데이터를 시인하여, 당해 설정 화상 데이터 내에서 토출 판정 영역(R1)의 위치 및 크기를 지정하는 입력을 유저 인터페이스(90)에 대해 행한다. 셋업부(92)는, 당해 설정 화상 데이터에 있어서의 제1 노즐(30)의 설정 좌표 위치와, 입력된 토출 판정 영역(R1)의 기하학적인 상대 관계를 나타내는 설정 상대 관계를 작성하여, 당해 설정 상대 관계를 기억 매체에 기억시킨다. However, the setting relative relationship with respect to the center position (P31) of the first nozzle (30) is set in advance and stored in the storage medium. This setting relative relationship is manually set by the operator, for example, as follows. For example, the operator makes an input for instructing display of setting image data including the first nozzle (30) stopped at the center position (P31) to the user interface (90). The control unit (9) responds to the input by causing the user interface (90) to display the setting image data. The operator recognizes the setting image data and makes an input for specifying the position and size of the ejection judgment area (R1) within the setting image data to the user interface (90). The setup unit (92) creates a setting relative relationship representing the geometric relative relationship between the setting coordinate position of the first nozzle (30) in the setting image data and the input ejection judgment area (R1), and stores the setting relative relationship in the storage medium.
셋업부(92)는, 다른 정지 위치에서 정지하는 제1 노즐(30)에 대응하는 설정 상대 관계를, 제1 노즐(30)의 중앙 위치(P31)에 대한 설정 상대 관계에 의거하여 자동으로 작성한다. 구체적으로는, 우선, 셋업부(92)는, 주연 위치(P32)에서 정지한 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터에 포함되는 제1 노즐(30)의 크기를 검출한다. 예를 들면, 셋업부(92)는, 당해 설정 화상 데이터와 제1 노즐(30)의 참조 화상 데이터(RI1)를 이용한 템플릿 매칭을 행한다. 이 템플릿 매칭에서는, 참조 화상 데이터(RI1)의 크기를 순차적으로 변경하여, 설정 화상 데이터 내에서 참조 화상 데이터(RI1)와 유사도가 높은 영역을 특정한다. 이에 따라, 설정 화상 데이터에 있어서 참조 화상 데이터(RI1)에 상당하는 영역의, 참조 화상 데이터(RI1)에 대한 배율(M1)을 얻을 수 있다. The setup unit (92) automatically creates a setting relative relationship corresponding to the first nozzle (30) stopped at another stopping position based on the setting relative relationship with respect to the central position (P31) of the first nozzle (30). Specifically, first, the setup unit (92) detects the size of the first nozzle (30) included in the setting image data including the first nozzle (30) stopped at the peripheral position (P32). For example, the setup unit (92) performs template matching using the setting image data and the reference image data (RI1) of the first nozzle (30). In this template matching, the size of the reference image data (RI1) is sequentially changed to specify an area having a high similarity to the reference image data (RI1) within the setting image data. Accordingly, a magnification (M1) for the reference image data (RI1) of an area corresponding to the reference image data (RI1) in the setting image data can be obtained.
도 12는, 중앙 위치(P31) 및 주연 위치(P32)에 있어서의 토출 판정 영역(R1)의 일례를 개략적으로 나타낸다. 도 12에서는, 중앙 위치(P31)에서의 제1 노즐(30)의 크기(즉, 참조 화상 데이터(RI1)의 크기)에 대한 주연 위치(P32)에서의 제1 노즐(30)의 크기의 배율(M1)이, 블록 화살표로 모식적으로 나타나 있다. Fig. 12 schematically shows an example of a discharge judgment area (R1) at a central position (P31) and a peripheral position (P32). In Fig. 12, a magnification (M1) of the size of the first nozzle (30) at the peripheral position (P32) relative to the size of the first nozzle (30) at the central position (P31) (i.e., the size of the reference image data (RI1)) is schematically shown by block arrows.
도 12에서는, 주연 위치(P32)에서의 제1 노즐(30)의 크기는, 중앙 위치(P31)에서의 제1 노즐(30)의 크기보다 작기 때문에, 배율(M1)은 1보다 작다. 단, 주연 위치(P32)가 중앙 위치(P31)보다 카메라(70)에 가까운 경우에는, 주연 위치(P32)에서의 제1 노즐(30)이 보다 크게 비치므로, 배율(M1)은 1보다 커진다. In Fig. 12, since the size of the first nozzle (30) at the main position (P32) is smaller than the size of the first nozzle (30) at the central position (P31), the magnification (M1) is less than 1. However, when the main position (P32) is closer to the camera (70) than the central position (P31), the first nozzle (30) at the main position (P32) appears larger, so the magnification (M1) becomes greater than 1.
셋업부(92)는, 주연 위치(P32)에 대한 토출 판정 영역(R1)의 크기를, 중앙 위치(P31)에 대한 토출 판정 영역(R1)의 크기에 배율(M1)을 곱한 값으로 설정한다. 이에 따라, 촬상 화상 데이터 내에 있어서의 처리액의 크기에 따른 토출 판정 영역(R1)을 설정할 수 있다. The setup unit (92) sets the size of the discharge judgment area (R1) for the main position (P32) to a value obtained by multiplying the size of the discharge judgment area (R1) for the central position (P31) by the magnification (M1). Accordingly, it is possible to set the discharge judgment area (R1) according to the size of the processing liquid in the captured image data.
또, 셋업부(92)는, 제1 노즐(30)의 영역에 대한 토출 판정 영역(R1)의 상대적인 위치도 조정해도 된다. 예를 들면 배율(M1)이 작을수록, 토출 판정 영역(R1)의 위치를 제1 노즐(30)에 가깝게 설정한다. 즉, 배율(M1)이 작을수록, 토출 판정 영역(R1)을 보다 상측으로 설정하면 된다. 이에 의하면, 제1 노즐(30)과 토출 판정 영역(R1)의 설정 상대 관계를, 배율(M1)에 따라 적절히 설정할 수 있다. 셋업부(92)는, 주연 위치(P32)에 대한 설정 상대 관계를 기억 매체에 기억시킨다. In addition, the setup unit (92) may also adjust the relative position of the discharge judgment area (R1) with respect to the area of the first nozzle (30). For example, the smaller the magnification (M1), the closer the position of the discharge judgment area (R1) is set to the first nozzle (30). In other words, the smaller the magnification (M1), the higher the discharge judgment area (R1) is set. According to this, the setting relative relationship between the first nozzle (30) and the discharge judgment area (R1) can be appropriately set according to the magnification (M1). The setup unit (92) stores the setting relative relationship with respect to the peripheral position (P32) in a storage medium.
제1 노즐(30)의 다른 정지 위치에 대해서도 동일하며, 또, 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)에 대해서도 동일하다. The same applies to other stopping positions of the first nozzle (30), and also to the second nozzle (60) and the third nozzle (65).
<체크 처리><Check Processing>
셋업 처리에 의해 설정된 설정 정보(설정 좌표 위치 및 설정 상대 관계)가 적절한지 여부를 판단하는 체크 처리를 행해도 된다. 도 13은, 체크 처리의 일례를 나타내는 플로차트이다. 우선, 카메라(70)가 촬상 영역의 촬상을 개시한다(단계 S31: 체크 촬상 공정 개시). 다음에, 처리 제어부(93)는, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65) 각각을 각 정지 위치에서 정지시키고, 각 정지 위치에서 처리액을 토출시킨다(단계 S32: 체크 레시피 공정). 예를 들면, 노즐 이동 기구(37)는 제1 노즐(30)을 대기 위치(P33)로부터 주연 위치(P32)로 이동시켜 주연 위치(P32)에서 정지시킨다. 제1 노즐(30)이 주연 위치(P32)에서 정지하고 있을 때에, 밸브(35)가 열림으로써, 제1 노즐(30)이 처리액을 토출한다. 다음에, 밸브(35)가 닫힘으로써, 제1 노즐(30)이 처리액의 토출을 정지한다. 이후, 제1 노즐(30)을 각 정지 위치에서 정지시키면서, 그 때 마다, 처리액을 토출시킨다. 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)도 동일하다. A check process may be performed to determine whether the setting information (setting coordinate position and setting relative relationship) set by the setup process is appropriate. Fig. 13 is a flowchart showing an example of the check process. First, the camera (70) starts capturing an image of the capturing area (step S31: check imaging process start). Next, the processing control unit (93) stops each of the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) at their respective stop positions, and discharges the processing liquid at each of the stop positions (step S32: check recipe process). For example, the nozzle moving mechanism (37) moves the first nozzle (30) from the standby position (P33) to the peripheral position (P32) and stops it at the peripheral position (P32). When the first nozzle (30) is stopped at the peripheral position (P32), the valve (35) opens, causing the first nozzle (30) to discharge the processing liquid. Next, the valve (35) closes, so that the first nozzle (30) stops discharging the treatment liquid. Thereafter, the first nozzle (30) is stopped at each stop position, and the treatment liquid is discharged at each stop. The same applies to the second nozzle (60) and the third nozzle (65).
처리 제어부(93)는, 각 노즐이 각 정지 위치에 위치하는 시각 및 처리액을 토출하는 시각을 노즐 이동 기구 및 밸브에 출력되는 제어 신호에 의거하여, 기억 매체에 기억해 둔다. The processing control unit (93) stores the time at which each nozzle is positioned at each stop position and the time at which the processing liquid is discharged in a storage medium based on control signals output to the nozzle movement mechanism and valve.
다음에, 카메라(70)가 촬상을 종료한다(단계 S33: 체크 촬상 공정 종료). 카메라(70)에 의한 체크 촬상 공정은 체크 레시피 공정과 병행하여 행해지므로, 복수의 촬상 화상 데이터에는, 각 정지 위치에서 처리액을 토출하는 각 노즐이 포함되어 있다. Next, the camera (70) ends the shooting (step S33: end of the check shooting process). Since the check shooting process by the camera (70) is performed in parallel with the check recipe process, each nozzle that ejects the processing liquid at each stop position is included in the plurality of shooting image data.
다음에, 셋업부(92)는, 설정 좌표 위치 및 설정 상대 관계가 적절히 설정되어 있는지 여부를 판단한다(단계 S34: 체크 공정). 우선, 셋업부(92)는, 각 정지 위치에서 정지한 각 노즐을 포함하는 촬상 화상 데이터를, 그 취득 시각과, 기억 매체에 기억된 시각에 의거하여 특정한다. 또, 셋업부(92)는, 각 정지 위치에서 처리액을 토출하는 각 노즐을 포함하는 촬상 화상 데이터를, 그 취득 시각과, 기억 매체에 기억된 시각에 의거하여 특정한다. Next, the setup unit (92) determines whether the setting coordinate position and the setting relative relationship are appropriately set (step S34: check process). First, the setup unit (92) specifies the captured image data including each nozzle stopped at each stop position based on the acquisition time and the time stored in the storage medium. In addition, the setup unit (92) specifies the captured image data including each nozzle that discharges the processing liquid at each stop position based on the acquisition time and the time stored in the storage medium.
다음에, 셋업부(92)는 촬상 화상 데이터에 의거하여, 체크 레시피 공정에 있어서의 각 노즐의 위치 및 처리액의 토출을 감시한다. 각 노즐의 위치의 감시는, 위치 감시 공정(단계 S22)과 동일한 처리에 의해 행해지고, 노즐의 토출 상태의 감시는, 토출 감시 공정(단계 S23)과 동일한 처리에 의해 행해진다. Next, the setup unit (92) monitors the position of each nozzle and the discharge of the processing liquid in the check recipe process based on the captured image data. The monitoring of the position of each nozzle is performed by the same processing as the position monitoring process (step S22), and the monitoring of the discharge status of the nozzle is performed by the same processing as the discharge monitoring process (step S23).
셋업부(92)는 노즐 위치 이상을 검출하면, 그 노즐의 위치 이상을 검출한 노즐 및 정지 위치에 대한 설정 좌표 위치가 적절히 설정되어 있지 않다고 판단한다. 이 때, 셋업부(92)는, 당해 노즐의 당해 정지 위치에 대해서 설정 좌표 위치가 적절히 설정되어 있지 않은 취지를 유저 인터페이스(90)를 통하여 작업원에 통지한다. When the setup unit (92) detects an abnormality in the nozzle position, it determines that the set coordinate position for the nozzle that detected the abnormality in the nozzle position and the stop position are not set appropriately. At this time, the setup unit (92) notifies the operator through the user interface (90) that the set coordinate position for the stop position of the nozzle is not set appropriately.
또, 셋업부(92)는, 처리액의 토출 이상을 검출하면, 처리액의 토출 이상을 검출한 노즐 및 정지 위치에 대한 설정 상대 위치가 적절히 설정되어 있지 않다고 판단한다. 셋업부(92)는, 당해 노즐의 당해 정지 위치에 대해서 설정 상대 관계가 적절히 설정되어 있지 않은 취지를 유저 인터페이스(90)를 통하여 작업원에 통지한다. In addition, when the setup unit (92) detects an abnormal discharge of the treatment liquid, it determines that the nozzle that detected the abnormal discharge of the treatment liquid and the set relative position for the stop position are not set appropriately. The setup unit (92) notifies the operator through the user interface (90) that the set relative relationship for the stop position of the nozzle is not set appropriately.
작업원은, 설정 정보가 적절히 설정되어 있지 않은 취지의 통지를 인식하면, 재차, 셋업 처리를 실행함으로써, 설정 정보를 재설정해도 된다. 이 경우, 적절히 설정되어 있지 않았던 설정 정보 만을 재설정하면 된다. 예를 들면 입력 공정에 있어서, 재설정하는 노즐과 정지 위치 만을 입력해도 된다. 혹은, 작업원은, 적절히 설정되어 있지 않았던 설정 정보 만을, 유저 인터페이스(90)를 이용하여 수동으로 재설정해도 된다. If the operator recognizes a notification indicating that the setting information is not set properly, the operator may reset the setting information by executing the setup process again. In this case, only the setting information that was not set properly may be reset. For example, in the input process, only the nozzle to be reset and the stop position may be input. Alternatively, the operator may manually reset only the setting information that was not set properly using the user interface (90).
<처리 컵><Processing Cup>
상술한 예에서는, 챔버(10) 내에서 이동하는 감시 대상물의 일례로서, 제1 노즐(30), 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)을 예시했다. 그런데, 감시 대상물로서 처리 컵(40)을 채용해도 된다. 이 처리 컵(40)의 내측 컵(41), 중간 컵(42) 및 외측 컵(43)은, 컵 이동 기구(59)에 의해 상측 위치 및 하측 위치의 사이에서 승강한다. 이하에서는, 설명을 간단히 하기 위해, 외측 컵(43)에 대해서 서술한다. In the above-described example, the first nozzle (30), the second nozzle (60), and the third nozzle (65) are exemplified as examples of the surveillance target moving within the chamber (10). However, the treatment cup (40) may also be employed as the surveillance target. The inner cup (41), the middle cup (42), and the outer cup (43) of the treatment cup (40) are raised and lowered between the upper position and the lower position by the cup moving mechanism (59). In the following, for the sake of simplicity, the outer cup (43) will be described.
감시 처리부(91)는, 촬상 화상 데이터에 있어서 처리 컵(40)의 상태를 감시한다. 여기에서는, 구체적으로는, 외측 컵(43)이 상측 위치로 상승한 상태에서의 촬상 영역을 카메라(70)가 미리 촬상하여 촬상 화상 데이터를 취득하고, 그 촬상 화상 데이터에 포함되는 외측 컵(43)의 일부(예를 들면, 외측 컵(43)의 상단의 일부)를, 참조 화상 데이터(RI2)(도 8도 참조)로서 기억 매체에 기억해 둔다. The surveillance processing unit (91) monitors the state of the processing cup (40) in the captured image data. Specifically, the camera (70) captures an image of an image area in advance in a state where the outer cup (43) is raised to an upper position to acquire captured image data, and a part of the outer cup (43) included in the captured image data (for example, a part of the upper end of the outer cup (43)) is stored in a storage medium as reference image data (RI2) (see also FIG. 8).
그리고, 감시 처리부(91)는, 처리 레시피 공정(단계 S5)에 있어서 취득된 촬상 화상 데이터와, 참조 화상 데이터(RI2)의 템플릿 매칭에 의해, 외측 컵(43)의 좌표 위치를 검출한다. 감시 처리부(91)는, 외측 컵(43)의 좌표 위치와, 외측 컵(43)의 상측 위치에 대한 설정 좌표 위치의 차를 산출하고, 당해 차가 허용치 이상일 때에, 컵의 위치 이상을 검출한다. And, the monitoring processing unit (91) detects the coordinate position of the outer cup (43) by template matching of the captured image data acquired in the processing recipe process (step S5) and the reference image data (RI2). The monitoring processing unit (91) calculates the difference between the coordinate position of the outer cup (43) and the set coordinate position for the upper position of the outer cup (43), and detects an abnormality in the position of the cup when the difference is greater than or equal to the allowable value.
이와 같은 외측 컵(43)의 설정 좌표 위치도, 셋업 처리에 의해 설정된다. 구체적으로는, 셋업 레시피 공정(단계 S12)에 있어서, 컵 이동 기구(59)가 외측 컵(43)을 하측 위치로부터 상측 위치로 이동시키고, 소정 시간에 걸쳐 상측 위치에서 정지시킨다. 그리고, 위치 설정 공정(단계 S14)에 있어서, 셋업부(92)가, 상측 위치에서 정지하는 외측 컵(43)을 포함하는 촬상 화상 데이터를, 컵 이동 기구(59)로의 제어 신호에 의거하여 특정하고, 당해 촬상 화상 데이터와 참조 화상 데이터(RI2)의 템플릿 매칭에 의해, 외측 컵(43)의 좌표 위치를 검출한다. 셋업부(92)는 당해 좌표 위치를, 외측 컵(43)의 상측 위치에 대한 설정 좌표 위치로서 기억 매체에 기억시킨다. The setting coordinate position of the outer cup (43) is also set by the setup process. Specifically, in the setup recipe process (step S12), the cup moving mechanism (59) moves the outer cup (43) from the lower position to the upper position, and stops it at the upper position over a predetermined period of time. Then, in the position setting process (step S14), the setup unit (92) specifies the captured image data including the outer cup (43) stopped at the upper position based on a control signal to the cup moving mechanism (59), and detects the coordinate position of the outer cup (43) by template matching of the captured image data and reference image data (RI2). The setup unit (92) stores the coordinate position in the storage medium as the setting coordinate position for the upper position of the outer cup (43).
이에 의하면, 외측 컵(43)의 설정 좌표 위치도 자동으로 설정할 수 있어, 셋업 처리에 필요로 하는 시간을 단축할 수 있다. 중간 컵(42) 및 내측 컵(41)도 동일하다. According to this, the setting coordinate position of the outer cup (43) can also be set automatically, thereby shortening the time required for setup processing. The same applies to the middle cup (42) and the inner cup (41).
이상과 같이, 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치(100)는 상세하게 설명되었지만, 상기의 설명은, 모든 국면에 있어서, 예시이며, 이 기판 처리 장치가 이에 한정되는 것은 아니다. 예시되어 있지 않은 무수한 변형예가, 이 개시된 범위에서 벗어나지 않고 상정될 수 있는 것으로 해석된다. 상기 각 실시의 형태 및 각 변형예에서 설명한 각 구성은, 서로 모순되지 않는 한, 적절히 조합하거나 생략할 수 있다. As described above, the substrate processing method and the substrate processing device (100) have been described in detail, but the above description is, in all aspects, an example, and the substrate processing device is not limited thereto. It is interpreted that countless modified examples that have not been illustrated can be assumed without departing from the scope of this disclosure. Each configuration described in each of the above embodiments and each modified example can be appropriately combined or omitted, as long as they do not contradict each other.
상술한 예에서는, 기판 처리 장치(100)의 설치 시에 셋업 처리를 행하고 있지만, 예를 들면, 카메라(70)에 사람의 손이 충돌하여 카메라(70)의 자세가 변화한 경우에도, 셋업 처리를 행해도 된다. 카메라(70)의 자세가 변화하면, 촬상 화상 데이터 내에 있어서의 각 노즐의 좌표 위치가 변화하기 때문이다. In the above-described example, the setup process is performed when the substrate processing device (100) is installed. However, the setup process may also be performed even if, for example, a person's hand collides with the camera (70) and the posture of the camera (70) changes. This is because if the posture of the camera (70) changes, the coordinate position of each nozzle in the captured image data changes.
또, 상술한 예에서는, 노즐 아암(32)의 선단에는, 1개의 제1 노즐(30)이 장착되어 있지만, 복수의 제1 노즐(30)이 장착되어 있어도 된다. 이 경우, 복수의 제1 노즐(30)은 일체로 이동한다. 이 경우, 입력 공정(단계 S11)에 있어서, 작업원은, 노즐 아암(32)에 장착되어 있는 복수의 제1 노즐(30)의 정보를 유저 인터페이스(90)에 입력한다. 셋업부(92)는, 예를 들면, 중앙 위치(P31)에서 정지한 복수의 제1 노즐(30)을 포함하는 설정 화상 데이터에 있어서의, 각 제1 노즐(30)의 좌표 위치를 검출하고, 각 좌표 위치를 설정 좌표 위치로서 설정해도 된다. 즉, 중앙 위치(P13)에 대해서 제1 노즐(30)마다 설정 좌표 위치가 설정된다. 다른 정지 위치에 대해서도 동일하다. 또 설정 상대 관계도 동일하게 제1 노즐(30)마다 설정되면 된다. 제2 노즐(60) 및 제3 노즐(65)도 동일하다. In addition, in the above-described example, although one first nozzle (30) is mounted on the tip of the nozzle arm (32), a plurality of first nozzles (30) may be mounted. In this case, the plurality of first nozzles (30) move as one. In this case, in the input process (step S11), the worker inputs information on the plurality of first nozzles (30) mounted on the nozzle arm (32) into the user interface (90). The setup unit (92) may detect the coordinate position of each first nozzle (30) in the setup image data including a plurality of first nozzles (30) stopped at the central position (P31), for example, and set each coordinate position as the set coordinate position. That is, the set coordinate position is set for each first nozzle (30) with respect to the central position (P13). The same applies to other stop positions. In addition, the set relative relationship may be set in the same way for each first nozzle (30). The second nozzle (60) and the third nozzle (65) are also the same.
또, 상술한 셋업 처리에서는, 1개의 처리 유닛(1)에 대한 설정 정보를 설정하고 있지만, 기판 처리 장치(100)에 속하는 복수의 처리 유닛(1)에 대해서 설정 정보를 설정해도 된다. In addition, in the setup processing described above, setting information for one processing unit (1) is set, but setting information may be set for a plurality of processing units (1) belonging to the substrate processing device (100).
1: 처리 유닛 10: 챔버
20: 기판 유지(스핀 척) 30, 60, 65: 감시 대상물(노즐)
37: 이동 기구(노즐 이동 기구) 40: 감시 대상물(처리 컵)
59: 이동 기구(컵 이동 기구) 9: 제어부
70: 카메라 100: 기판 처리 장치
W: 기판1: Processing unit 10: Chamber
20: Substrate holding (spin chuck) 30, 60, 65: Monitoring target (nozzle)
37: Moving mechanism (nozzle moving mechanism) 40: Surveillance target (processing cup)
59: Moving mechanism (cup moving mechanism) 9: Control unit
70: Camera 100: Substrate Processing Unit
W: substrate
Claims (9)
기판 처리 장치 내의 제1 감시 대상물을 이동시키는 이동 기구를 제어하여, 상기 제1 감시 대상물을 제1 정지 위치에 이동시키는 셋업 레시피 공정과,
상기 셋업 레시피 공정과 병행하여 실행되며, 카메라가 상기 제1 감시 대상물을 촬상하는 셋업 촬상 공정과,
상기 셋업 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 제1 정지 위치에서 정지하는 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 제1 화상 데이터와, 상기 제1 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제1 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제1 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는 설정 공정
을 구비하고,
상기 설정 공정에서는, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 순차적으로 취득되는 복수의 화상 데이터 중, 상기 제1 정지 위치에서 정지한 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 상기 제1 화상 데이터를, 상기 이동 기구에 제어 신호가 출력된 시각과, 상기 복수의 화상 데이터의 취득 시각에 의거하여 특정하는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법. A method for setting setting information used for substrate processing monitoring,
A setup recipe process for controlling a moving mechanism for moving a first surveillance object within a substrate processing device to move the first surveillance object to a first stop position;
A setup shooting process that is executed in parallel with the above setup recipe process, in which the camera captures the first surveillance object;
A setup process for detecting a position of the first surveillance object in the first image data based on first image data acquired by the camera in the setup imaging process and including the first surveillance object stopped at the first stop position, and first reference image data indicating at least a part of the first surveillance object, and setting the position as an appropriate position with respect to the first stop position.
Equipped with,
In the above setting process, a method for setting setting information used for substrate processing monitoring is provided, wherein, among a plurality of image data sequentially acquired by the camera in the above setup imaging process, the first image data including the first surveillance target stopped at the first stop position is specified based on the time at which a control signal is output to the moving mechanism and the acquisition time of the plurality of image data.
상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 기판 처리 장치 내에 유지된 기판의 주면에 처리액을 공급하는 노즐을, 상기 제1 감시 대상물로 하여, 상기 제1 정지 위치에 이동시키는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법. In claim 1,
A method for setting setup information used for substrate processing monitoring, wherein in the above setup recipe process, a nozzle that supplies a processing liquid to the main surface of a substrate maintained in the substrate processing device is moved to the first stop position as the first monitoring target.
상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 노즐을, 상기 제1 정지 위치, 및, 상기 카메라에서 보아 적어도 깊이 방향에 있어서 상기 제1 정지 위치와 상이한 제2 정지 위치에 순서대로 이동시키고,
상기 설정 공정은,
상기 셋업 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 제2 정지 위치에서 정지한 상기 노즐을 포함하는 제2 화상 데이터와, 상기 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제2 화상 데이터 내에 있어서의 상기 노즐의 위치 및 크기를 검출하는 검출 공정과,
상기 제1 화상 데이터 내의 상기 노즐에 대해 토출 판정 영역의 위치 및 크기가 미리 규정된 제1 상대 관계와, 상기 제1 화상 데이터 내의 상기 노즐의 크기에 대한 상기 제2 화상 데이터 내의 상기 노즐의 크기의 배율에 의거하여, 상기 제2 화상 데이터 내의 상기 노즐에 대한 토출 판정 영역의 위치 및 크기를 규정하는 제2 상대 관계를 설정하는 판정 영역 설정 공정
을 포함하는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법. In claim 2,
In the above setup recipe process, the nozzle is sequentially moved to the first stop position and a second stop position that is different from the first stop position at least in the depth direction as viewed from the camera,
The above setup process is,
In the above setup imaging process, the second image data is acquired by the camera and includes the nozzle stopped at the second stop position, and a detection process for detecting the position and size of the nozzle in the second image data based on the first reference image data;
A judgment area setting process for setting a first relative relationship in which the position and size of the discharge judgment area for the nozzle in the first image data are predefined, and a second relative relationship that defines the position and size of the discharge judgment area for the nozzle in the second image data based on a ratio of the size of the nozzle in the first image data to the size of the nozzle in the second image data.
A method for setting setting information used for substrate processing monitoring, including:
상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 기판 처리 장치 내의 기판 유지부를 둘러싸는 처리 컵을, 상기 제1 감시 대상물로 하여, 연직 방향을 따라 이동시켜 상기 제1 정지 위치에서 정지시키는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법. In claim 1,
A method for setting setup information used for substrate processing monitoring, wherein in the above setup recipe process, a processing cup surrounding a substrate holding portion within the substrate processing device is moved in a vertical direction as the first monitoring object and stopped at the first stop position.
상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 제1 감시 대상물을 상기 제1 정지 위치, 및, 상기 제1 정지 위치와는 상이한 제2 정지 위치에 순차적으로 이동시키고,
상기 설정 공정에서는, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 취득되며, 상기 제2 정지 위치에서 정지하는 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 제2 화상 데이터와, 상기 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제2 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제2 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법. In claim 1,
In the above setup recipe process, the first surveillance object is sequentially moved to the first stop position and a second stop position different from the first stop position,
In the above setting process, a method for setting setting information used for substrate processing monitoring, wherein the second image data including the first surveillance object stopped at the second stop position and the first reference image data are acquired in the above setup imaging process, and the position of the first surveillance object in the second image data is detected, and the position is set as an appropriate position with respect to the second stop position.
상기 셋업 레시피 공정에서는, 상기 기판 처리 장치 내의 상기 제1 감시 대상물과는 상이한 제2 감시 대상물을 제3 정지 위치에 이동시키고,
상기 설정 공정에서는, 상기 셋업 촬상 공정에 있어서 취득되며, 상기 제3 정지 위치에서 정지하는 상기 제2 감시 대상물을 포함하는 제3 화상 데이터와, 상기 제2 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 제2 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제3 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제2 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 제2 감시 대상물의 상기 제3 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는, 기판 처리 감시에 이용하는 설정 정보의 설정 방법. In claim 1,
In the above setup recipe process, a second surveillance object different from the first surveillance object in the substrate processing device is moved to a third stop position,
In the above setting process, a method for setting setting information used in substrate processing monitoring, wherein, based on third image data acquired in the setup imaging process and including the second surveillance object stopped at the third stop position, and second reference image data indicating at least a part of the second surveillance object, the position of the second surveillance object in the third image data is detected, and the position is set as an appropriate position with respect to the third stop position of the second surveillance object.
기판 처리 장치 내의 기판 유지부가 기판을 유지하는 유지 공정과,
상기 기판 유지부가 상기 기판을 유지한 상태에서 상기 이동 기구를 제어하여, 상기 제1 감시 대상물을 상기 제1 정지 위치에 이동시키는 처리 레시피 공정과,
상기 처리 레시피 공정과 병행하여, 상기 카메라가 상기 제1 감시 대상물을 촬상하는 처리 촬상 공정과,
상기 처리 촬상 공정에 있어서 상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 제1 정지 위치에서 정지한 상기 제1 감시 대상물을 포함하는 제4 화상 데이터와, 상기 제1 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 제4 화상 데이터 내에 있어서의 상기 제1 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치의 적정 여부를, 상기 제1 정지 위치에 관한 상기 적정 위치에 의거하여 판단하는 위치 감시 공정
을 구비하는, 기판 처리 장치의 감시 방법. A setup process for performing a method of setting setup information used for substrate processing monitoring as described in claim 1,
A maintenance process in which a substrate maintenance unit within a substrate processing device maintains the substrate,
A processing recipe process in which the substrate holding unit controls the moving mechanism while holding the substrate, thereby moving the first surveillance target to the first stop position;
In parallel with the above processing recipe process, a processing imaging process in which the camera captures an image of the first surveillance object,
A position monitoring process in which the fourth image data, which is acquired by the camera in the above processing imaging process and includes the first surveillance object stopped at the first stop position, and the first reference image data, detects the position of the first surveillance object in the fourth image data, and determines whether the position is appropriate based on the appropriate position with respect to the first stop position.
A method for monitoring a substrate processing device, comprising:
챔버와,
챔버 내의 감시 대상물을 소정의 정지 위치에 이동시키는 이동 기구와,
상기 감시 대상물을 포함하는 영역을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 카메라와,
상기 감시 대상물의 적어도 일부를 나타내는 참조 화상 데이터가 기억된 기억 매체와,
상기 카메라에 의해 취득되며, 상기 정지 위치에서 정지한 상기 감시 대상물을 포함하는 상기 화상 데이터와, 상기 참조 화상 데이터에 의거하여, 상기 화상 데이터 내에 있어서의 상기 감시 대상물의 위치를 검출하고, 당해 위치를 상기 정지 위치에 관한 적정 위치로서 설정하는 제어부
를 구비하고,
상기 제어부는, 상기 카메라에 의해 순차적으로 취득되는 복수의 화상 데이터 중, 상기 정지 위치에서 정지한 상기 감시 대상물을 포함하는 상기 화상 데이터를, 상기 이동 기구에 제어 신호가 출력된 시각과, 상기 복수의 화상 데이터의 취득 시각에 의거하여 특정하는, 기판 처리 장치.A substrate processing device that performs processing on a substrate,
Chamber and,
A moving mechanism that moves the surveillance object within the chamber to a predetermined stop position,
A camera that captures image data by capturing an area including the above surveillance target,
A storage medium storing reference image data representing at least a portion of the above surveillance object,
A control unit that detects the position of the surveillance object in the image data based on the image data acquired by the camera and including the surveillance object stopped at the stop position, and the reference image data, and sets the position as an appropriate position with respect to the stop position.
Equipped with,
A substrate processing device, wherein the control unit specifies, among a plurality of image data sequentially acquired by the camera, the image data including the surveillance target stopped at the stop position, based on the time at which a control signal is output to the moving mechanism and the acquisition time of the plurality of image data.
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