KR102757564B1 - Resistive plate chamber using strip pairs for signal read-out - Google Patents
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Abstract
스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기는, 제1 기판의 제1 면 상에 x축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된 복수의 제1 신호 스트립들; 제1 기판의 제1 면의 반대편인 제2 면 상에 상기 제1 신호 스트립들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제1 신호 스트립과 쌍(pair)으로 마주보게 배열되는 복수의 제1 접지 스트립들; 제1 기판의 제1 면과 마주보며 일정간격 이격된 제2 기판의 제1 면 상에 x축과 수직하는 y축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된 복수의 제2 신호 스트립들; 제2 기판의 제1 면의 반대편인 제2 면 상에 상기 제2 신호 스트립들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제2 신호 스트립과 쌍으로 마주보게 배열되는 복수의 제2 접지 스트립들;을 포함한다. 본 발명에서 접지 스트립들은 신호 스트립과 같이 직사각형 또는 이의 변형된 형태를 가지며, 이에 따라 저항판 검출기의 노이즈를 줄일 수 있고, 신호 스트립 쌍이 서로 수직하는 형태로 마주보고 형성되어 x축과 y축의 평면상 위치 분해능을 향상시킬 수 있다.A resistive plate detector for reading a signal using a pair of strips includes: a plurality of first signal strips formed in a strip shape extending in the x-axis direction on a first surface of a first substrate and arranged in parallel with each other; a plurality of first ground strips formed in the same shape as the first signal strips on a second surface opposite the first surface of the first substrate and arranged to face each other in pairs with the corresponding first signal strips; a plurality of second signal strips formed in a strip shape extending in the y-axis direction perpendicular to the x-axis on a first surface of a second substrate spaced apart from the first surface of the first substrate and perpendicular to the x-axis and arranged in parallel with each other; a plurality of second ground strips formed in the same shape as the second signal strips on a second surface opposite the first surface of the second substrate and arranged to face each other in pairs with the corresponding second signal strips. In the present invention, the ground strips have a rectangular shape or a modified shape thereof, like the signal strips, thereby reducing noise of the resistance plate detector, and the signal strip pairs are formed facing each other in a perpendicular shape, thereby improving the plane position resolution in the x-axis and y-axis.
Description
본 발명은 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 TOF(Time-of-flight) PET(양전자방출단층촬영; Positron Emission Tomography)에 적용되는 저항판 검출기의 평면상 위치 분해능을 향상시키는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to a resistive plate detector for reading a signal using a pair of strips, and more particularly, to a technique for improving the in-plane position resolution of a resistive plate detector applied to TOF (Time-of-flight) PET (Positron Emission Tomography).
양전자 방출 단층 촬영기(이하 PET; Positron Emission Tomography)는 양전자를 방출하는 방사성 동위원소를 결합한 의약품을 체내에 주입한 후에, 양전자의 방출위치를 인체 외부에서 검출기를 이용하여 추적한다. Positron Emission Tomography (PET) injects a drug combined with a radioactive isotope that emits positrons into the body, and then tracks the location of positron emission using a detector outside the body.
이러한 추적을 통해, 체내에 주입된 의약품의 체내에서의 활동을 조사함으로써 환자의 상태를 비침습적 방법으로 조사할 수 있다. 이에 따라, PET 기술은 환자의 암, 심장 질환, 뇌 질환, 뇌 기능 등의 상태를 파악하는 다양한 의학적 검사에 널리 사용되고 있다.Through this tracking, the patient's condition can be investigated in a non-invasive way by examining the activity of drugs injected into the body. Accordingly, PET technology is widely used in various medical tests to determine the condition of patients such as cancer, heart disease, brain disease, and brain function.
PET는 체내에 주입된 방사성 물질에서 방출된 양전자가 주위의 전자와 충돌하여 쌍소멸하면서 거의 180° 방향으로 방출되는 2개의 감마선을 관측하여, 양전자 분포에 대한 선적분에 해당하는 데이터를 얻고, 상기 데이터를 이용하여 양전자 분포 영상을 계산한다.PET observes two gamma rays emitted in nearly 180° directions when positrons emitted from radioactive substances injected into the body collide with surrounding electrons and annihilate each other, obtaining data corresponding to the line integral of the positron distribution and using the data to calculate an image of the positron distribution.
구체적으로, PET의 2개의 검출기가 동일한 양전자-전자 충돌에서 기인한 감마선을 시간 t1, t2에 검출하였다면, 해당 2개의 검출기를 연결하는 반응선(LOR; Line-Of-Response)상에 양전자가 하나 존재했다는 것을 의미하므로 양전자 분포의 해당 반응선에서의 선적분 값을 얻을 수 있다. Specifically, if two detectors of PET detect gamma rays resulting from the same positron-electron collision at times t1 and t2, it means that there was a positron on the line-of-response (LOR) connecting the two detectors, and thus the line integral value of the positron distribution on the line-of-response can be obtained.
상기 선적분 값에서 분포 영상을 계산하는 방법으로는 여현역투사(FBP; Filtered Backprojection) 또는 기댓값-최대화(EM; Expectation -Maximization) 방법 등이 널리 사용되고 있다.Filtered backprojection (FBP) or expectation-maximization (EM) methods are widely used as methods for calculating distribution images from the above-mentioned line integral values.
검출기에서 관측한 비행시간(TOF; Time-Of-Flight) t=t1-t2 정보를 이용하여 해당 LOR에서의 양전자의 위치를 보다 정확히 추정하여 영상재구성을 향상시키는 방법은 PET의 개발초기부터 연구되었으나, 당시의 PET의 낮은 시간 분해능으로는 실현하는데 어려움이 있었다. A method to improve image reconstruction by more accurately estimating the position of the positron at the LOR using the time-of-flight (TOF) t=t1-t2 information observed by the detector has been studied since the early days of PET development, but it was difficult to realize due to the low time resolution of PET at the time.
2000년대 이후의 PET 관련 기술의 향상은 시간 분해능을 이용한 영상 재구성에 응용하는 것이 가능해졌다. 현재는 높은 시간 분해능을 가지는 저항판 검출기의 신호를 획득하는 방식으로 픽셀(Pixel) 또는 스트립(Strip)이 사용되고 있다. Improvements in PET-related technology since the 2000s have made it possible to apply it to image reconstruction using time resolution. Currently, pixels or strips are used as a method to acquire signals from resistive plate detectors with high time resolution.
그러나, 저항판 검출기로 평면 상에서 원하는 위치 분해능을 구현하려고 할 때 픽셀 방식은 매우 많은 채널 수(n∝x∝y)를 요구한다. 또한, 스트립 방식은 상대적으로 적은 수의 채널 수(n∝x 혹은 n∝y)로 신호를 읽을 수 있으나 스트립 방향 위치 분해능은 검출기의 시간 분해능에 의존하므로 계산 시간 및 부하가 걸리는 문제가 있다.However, when trying to implement the desired position resolution on a plane with a resistive plate detector, the pixel method requires a very large number of channels (n∝x∝y). In addition, the strip method can read signals with a relatively small number of channels (n∝x or n∝y), but the position resolution in the strip direction depends on the time resolution of the detector, so there is a problem of calculation time and load.
이에, 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에서 착안된 것으로 본 발명의 목적은 x축과 y축의 평면상 위치 분해능을 향상시키기 위해 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기를 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem of the present invention is conceived from this point, and the purpose of the present invention is to provide a resistive plate detector that reads a signal using a pair of strips to improve the plane position resolution in the x-axis and y-axis.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기는, 제1 기판의 제1 면 상에 x축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된 복수의 제1 신호 스트립들; 제1 기판의 제1 면의 반대편인 제2 면 상에 상기 제1 신호 스트립들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제1 신호 스트립과 쌍(pair)으로 마주보게 배열되는 복수의 제1 접지 스트립들; 제1 기판의 제1 면과 마주보며 일정간격 이격된 제2 기판의 제1 면 상에 x축과 수직하는 y축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된 복수의 제2 신호 스트립들; 제2 기판의 제1 면의 반대편인 제2 면 상에 상기 제2 신호 스트립들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제2 신호 스트립과 쌍으로 마주보게 배열되는 복수의 제2 접지 스트립들;을 포함한다.According to one embodiment of the present invention for realizing the purpose described above, a resistive plate detector for reading a signal using a pair of strips includes: a plurality of first signal strips formed in a strip shape extending in the x-axis direction on a first surface of a first substrate and arranged parallel to each other; a plurality of first ground strips formed in the same shape as the first signal strips on a second surface opposite the first surface of the first substrate and arranged to face each other in pairs with the corresponding first signal strips; a plurality of second signal strips formed in a strip shape extending in the y-axis direction perpendicular to the x-axis on a first surface of a second substrate spaced apart from the first surface of the first substrate and perpendicular to the x-axis and arranged parallel to each other; and a plurality of second ground strips formed in the same shape as the second signal strips on a second surface opposite the first surface of the second substrate and arranged to face each other in pairs with the corresponding second signal strips.
본 발명의 실시예에서, 복수의 제1 신호 스트립들 및 복수의 제2 신호 스트립들은 서로 동일 형상, 동일 너비, 동일 길이, 동일 두께 및 동일 간격으로 형성될 수 있다.In an embodiment of the present invention, the plurality of first signal strips and the plurality of second signal strips can be formed with the same shape, the same width, the same length, the same thickness, and the same spacing.
본 발명의 실시예에서, 복수의 제1 접지 스트립들 및 복수의 제2 접지 스트립들은 서로 동일 형상, 동일 너비, 동일 길이, 동일 두께 및 동일 간격으로 형성될 수 있다.In an embodiment of the present invention, the plurality of first grounding strips and the plurality of second grounding strips can be formed with the same shape, the same width, the same length, the same thickness, and the same spacing.
본 발명의 실시예에서, 제1 기판 및 제2 기판은 각각 커넥터를 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the first substrate and the second substrate may each include a connector.
본 발명의 실시예에서, 제1 신호 스트립들의 일단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일하고, 제1 신호 스트립들의 타단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the lengths of the traces connecting one end of the first signal strips to the connector may be the same, and the lengths of the traces connecting the other end of the first signal strips to the connector may be the same.
본 발명의 실시예에서, 제2 신호 스트립들의 일단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일하고, 제2 신호 스트립들의 타단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the lengths of the traces connecting one end of the second signal strips to the connector may be the same, and the lengths of the traces connecting the other end of the second signal strips to the connector may be the same.
본 발명의 실시예에서, 제1 신호 스트립 및 제2 신호 스트립 각각은 양단에 적어도 하나의 저항 소자 및 적어도 하나의 캐패시터 소자가 연결될 수 있다.In an embodiment of the present invention, each of the first signal strip and the second signal strip may have at least one resistive element and at least one capacitor element connected to both ends.
본 발명의 실시예에서, 저항 소자 및 캐패시터 소자는 신호 증폭기와 연결될 수 있다.In an embodiment of the present invention, the resistor element and the capacitor element can be connected to a signal amplifier.
본 발명의 실시예에서, 복수의 제1 신호 스트립들 및 복수의 제2 신호 스트립들과 복수의 제1 접지 스트립들 및 복수의 제2 접지 스트립들의 폭과 간격은 신호 증폭기의 타겟 입력 임피던스에 따라 조절될 수 있다.In an embodiment of the present invention, the width and spacing of the plurality of first signal strips and the plurality of second signal strips and the plurality of first ground strips and the plurality of second ground strips can be adjusted according to the target input impedance of the signal amplifier.
본 발명의 실시예에서, 복수의 제1 신호 스트립들, 복수의 제2 신호 스트립들, 복수의 제1 접지 스트립들 및 복수의 제2 접지 스트립들은 각각 직사각형 형태 또는 직사각형으로 연장되는 양끝이 삼각형으로 좁아지는 형태를 가질 수 있다.In an embodiment of the present invention, the plurality of first signal strips, the plurality of second signal strips, the plurality of first ground strips and the plurality of second ground strips may each have a rectangular shape or a shape extending into a rectangle with both ends narrowing into a triangle.
본 발명의 실시예에서, 신호 판독을 위한 스트립 쌍 기반의 저항판 검출기는, TOF(Time-of-flight) PET(양전자방출단층촬영; Positron Emission Tomography)에 적용될 수 있다.In an embodiment of the present invention, a strip pair-based resistive plate detector for signal reading can be applied to TOF (Time-of-flight) PET (Positron Emission Tomography).
이와 같은 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기에 따르면, 신호 스트립과 접지 스트립을 동일 형상으로 2개의 기판 양 면에 각각 형성하고, 신호 스트립이 서로 수직 방향으로 마주보게 배치하여 저항판 검출기의 x축과 y축의 평면상 위치 분해능을 향상시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 저항판 검출기를 TOF-PET에 적용하여 저가로 높은 성능의 기기를 제작할 수 있다.According to a resistive plate detector that reads a signal using such a pair of strips, the signal strips and the ground strips are formed on two opposite sides of the substrate with the same shape, and the signal strips are arranged to face each other in a vertical direction, thereby improving the plane position resolution of the x-axis and y-axis of the resistive plate detector. Accordingly, by applying the resistive plate detector according to the present invention to TOF-PET, a device with high performance at low cost can be manufactured.
또한, 본 발명에서 접지는 하나의 평면 형태가 아닌 스트립의 형태로서 증폭된 신호가 접지에서 넓게 퍼져나가지 않고 접지 스트립을 따라 직선 형태로 빠져나가므로 신호의 노이즈를 줄일 수 있다.In addition, in the present invention, the ground is in the form of a strip rather than a single plane, so that the amplified signal does not spread widely from the ground but exits in a straight line along the ground strip, thereby reducing signal noise.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기를 설명하기 위한 개략적인 사시도이다.
도 2는 도 1의 저항판 검출기의 구체적인 사시도이다.
도 3은 도 2의 스트립들의 다른 형태의 예시이다.
도 4는 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 단면 회로도이다.
도 5는 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 평면 회로도이다.
도 6은 도 2의 저항판 검출기의 개략적인 평면도이다.
도 7은 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 제1 기판을 보여주는 평면도이다.
도 8은 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 제2 기판을 보여주는 평면도이다.FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating a resistive plate detector for reading a signal using a pair of strips according to one embodiment of the present invention.
Figure 2 is a specific perspective drawing of the resistance plate detector of Figure 1.
Figure 3 is an example of another form of the strips of Figure 2.
Fig. 4 is an exemplary cross-sectional circuit diagram of the resistance plate detector of Fig. 2.
Fig. 5 is an exemplary planar circuit diagram of the resistance plate detector of Fig. 2.
Figure 6 is a schematic plan view of the resistance plate detector of Figure 2.
FIG. 7 is a plan view showing an exemplary first substrate of the resistance plate detector of FIG. 2.
FIG. 8 is a plan view showing an exemplary second substrate of the resistance plate detector of FIG. 2.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.The detailed description of the present invention set forth below refers to the accompanying drawings which illustrate specific embodiments in which the invention may be practiced. These embodiments are described in sufficient detail to enable those skilled in the art to practice the invention. It should be understood that the various embodiments of the present invention, while different from one another, are not necessarily mutually exclusive. For example, specific shapes, structures, and features described herein may be implemented in other embodiments without departing from the spirit and scope of the invention. It should also be understood that the positions or arrangements of individual components within each disclosed embodiment may be changed without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, the following detailed description is not intended to be limiting, and the scope of the invention is defined only by the appended claims, along with the full scope of equivalents to which such claims are entitled, if any. Like reference numerals in the drawings designate the same or similar functionality throughout the several aspects.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "위(on)" 또는 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 또는 층의 바로 위뿐만 아니라 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 소자가 "직접 위(directly on)" 또는 "바로 위"로 지칭되는 것은 중간에 다른 소자 또는 층을 개재하지 않은 것을 나타낸다.When elements or layers are referred to as being "on" or "on" another element or layer, this includes not only directly on the other element or layer, but also whether there are other layers or elements intervening therebetween. Conversely, when elements or layers are referred to as being "directly on" or "directly above" an element, this means that there are no other intervening elements or layers.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성요소들과 다른 소자 또는 구성요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용 시 또는 동작 시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)" 또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.The spatially relative terms "below," "beneath," "lower," "above," "upper," and the like can be used to easily describe the relationship of one element or component to another element or component, as illustrated in the drawings. The spatially relative terms should be understood to include different orientations of the elements when used or operated in addition to the orientations depicted in the drawings. For example, if an element illustrated in the drawings is flipped, an element described as "below" or "beneath" another element may be placed "above" the other element. Thus, the exemplary term "below" can include both the above and below orientations. The elements may also be oriented in other directions, and thus the spatially relative terms may be interpreted according to the orientation.
비록 제1, 제2 등이 다양한 소자, 구성요소 및/또는 섹션들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 소자, 구성요소 및/또는 섹션들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 소자, 구성요소 또는 섹션들을 다른 소자, 구성요소 또는 섹션들과 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 소자, 제1 구성요소 또는 제1 섹션은 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 소자, 제2 구성요소 또는 제2 섹션일 수도 있음은 물론이다.Although the terms first, second, etc. are used to describe various elements, components, and/or sections, it is to be understood that these elements, components, and/or sections are not limited by these terms. These terms are merely used to distinguish one element, component, or section from other elements, components, or sections. Thus, it should be understood that a first element, a first component, or a first section referred to hereinafter may also be a second element, a second component, or a second section within the technical spirit of the present invention.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of describing embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. As used herein, the singular includes the plural unless the context clearly dictates otherwise. The terms "comprises" and/or "comprising" as used herein do not exclude the presence or addition of one or more other components, steps, operations, and/or elements.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in this specification may be used with a meaning that can be commonly understood by a person of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. In addition, terms defined in commonly used dictionaries shall not be ideally or excessively interpreted unless explicitly specifically defined.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어 도면 부호에 상관없이 동일하거나 대응하는 구성요소는 동일한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings. When describing with reference to the attached drawings, identical or corresponding components are given the same reference numerals regardless of the drawing symbols, and redundant descriptions thereof will be omitted.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명하기로 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기를 설명하기 위한 개략적인 사시도이다. 도 2는 도 1의 저항판 검출기의 구체적인 사시도이다.FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating a resistive plate detector for reading a signal using a pair of strips according to one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a specific perspective view of the resistive plate detector of FIG. 1.
본 발명에 따른 저항판 검출기(1)는 TOF-PET(Time-of-flight Positron Emission Tomography)에 적용하여 x축과 y축의 평면상 위치 분해능을 향상시키는 장치이다. 저항판 검출기(1)는 별도의 장치이거나 또는 장치의 일부 모듈일 수 있다.The resistive plate detector (1) according to the present invention is a device that improves the plane position resolution of the x-axis and y-axis by applying TOF-PET (Time-of-flight Positron Emission Tomography). The resistive plate detector (1) may be a separate device or a module of a part of the device.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 저항판 검출기(1)는 제1 기판(10) 및 제2 기판(30)의 양면에 쌍으로 형성되는 복수의 제1 신호 스트립(110)들, 복수의 제1 접지 스트립(130)들, 복수의 제2 신호 스트립(330)들 및 복수의 제2 접지 스트립(310)들을 포함한다.Referring to FIGS. 1 and 2, a resistance plate detector (1) according to the present invention includes a plurality of first signal strips (110), a plurality of first ground strips (130), a plurality of second signal strips (330), and a plurality of second ground strips (310) formed in pairs on both sides of a first substrate (10) and a second substrate (30).
본 발명에서, 제1 기판(10)은 x-플래인(plain)이라 칭할 수 있고, 제1 면(11)과 반대편의 제2 면(13)을 갖는다. 제2 기판(30)은 y-플래인이라 칭할 수 있고, 제1 면(33)과 반대편의 제2 면(31)을 갖는다. In the present invention, the first substrate (10) may be referred to as an x-plane and has a second surface (13) opposite the first surface (11). The second substrate (30) may be referred to as a y-plane and has a second surface (31) opposite the first surface (33).
예를 들어, 제1 기판(10) 및 제2 기판(30)은 유전율 ε를 갖는 일정 두께(d)의 PCB(Printed Circuit Board) 기판일 수 있다. 또한, 제1 기판(10) 및 제2 기판(30)은 서로 일정거리(D)를 가지고 평행하게 형성될 수 있다.For example, the first substrate (10) and the second substrate (30) may be PCB (Printed Circuit Board) substrates having a dielectric constant ε and a predetermined thickness (d). In addition, the first substrate (10) and the second substrate (30) may be formed parallel to each other at a predetermined distance (D).
본 발명에서는, 제1 기판(10)의 상면을 제1 면(11)으로 정의하고, 하면을 제2 면(13)으로 정의한다. 또한, 제1 기판(10)의 제1 면(11)과 마주보는 제2 기판(30)의 하면을 제1 면(33)이라 정의하고, 제2 기판(30)의 상면을 제2 면(31)으로 정의한다. 그러나, 상기 정의들은 설명의 편의상 예시적으로 정의한 것이고, 기판 또는 면의 상하좌우는 위치에 따라 변경될 수 있다.In the present invention, the upper surface of the first substrate (10) is defined as the first surface (11), and the lower surface is defined as the second surface (13). In addition, the lower surface of the second substrate (30) facing the first surface (11) of the first substrate (10) is defined as the first surface (33), and the upper surface of the second substrate (30) is defined as the second surface (31). However, the above definitions are defined as examples for convenience of explanation, and the upper, lower, left, and right of the substrate or surface may be changed depending on the location.
복수의 제1 신호 스트립(110)들은 제1 기판(10)의 제1 면(11) 상에 x축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된다.A plurality of first signal strips (110) are formed in a strip shape extending in the x-axis direction on the first surface (11) of the first substrate (10) and are arranged parallel to each other.
복수의 제1 신호 스트립(110)들은 연장된 직사각형 형태 또는 이의 변형된 형태로 형성될 수 있으며, 서로 동일 형상, 동일 너비(w), 동일 길이(l) 및 동일 두께(t)로 형성될 수 있다. 또한, 복수의 제1 신호 스트립(110)들은 제1 기판(10)의 제1 면(11) 상에서 동일 간격으로 형성될 수 있다.The plurality of first signal strips (110) may be formed in an extended rectangular shape or a modified shape thereof, and may be formed with the same shape, the same width (w), the same length (l), and the same thickness (t). In addition, the plurality of first signal strips (110) may be formed at equal intervals on the first surface (11) of the first substrate (10).
예를 들어, 제1 신호 스트립(110)의 너비(w)는 4 mm, 제1 신호 스트립(110)의 길이(l)는 160 mm, 제1 신호 스트립(110)의 두께(t)는 0.5 Oz, 제1 신호 스트립(110)의 간격은 1 mm일 수 있다. 그러나, 이러한 치수들은 설계에 따라 변경될 수 있다.For example, the width (w) of the first signal strip (110) may be 4 mm, the length (l) of the first signal strip (110) may be 160 mm, the thickness (t) of the first signal strip (110) may be 0.5 Oz, and the spacing between the first signal strips (110) may be 1 mm. However, these dimensions may be changed depending on the design.
복수의 제1 접지 스트립(130)들은 제1 기판(10)의 제2 면(13) 상에 복수의 제1 신호 스트립(110)들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제1 신호 스트립과 쌍(pair)으로 마주보게 배열된다.A plurality of first ground strips (130) are formed on the second surface (13) of the first substrate (10) in the same shape as the plurality of first signal strips (110) and are arranged to face each corresponding first signal strip in pairs.
다시 말해, 제1 기판(10)에 형성된 제1 신호 스트립(110)과 제1 접지 스트립(130)은 1 대 1로 매칭되어 중첩되는 위치의 반대면에 서로 대응하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 대응하는 제1 신호 스트립(110)과 제1 접지 스트립(130)의 쌍은 총 32 쌍으로 형성되어, 32 개의 채널을 형성할 수 있다.In other words, the first signal strip (110) and the first ground strip (130) formed on the first substrate (10) can be formed to correspond to each other on opposite sides of the overlapping position by matching one to one. For example, the pairs of corresponding first signal strips (110) and first ground strips (130) can be formed in a total of 32 pairs, thereby forming 32 channels.
마찬가지로, 복수의 제1 접지 스트립(130)들은 제1 기판(10)의 제2 면(13) 상에 x축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된다.Similarly, a plurality of first ground strips (130) are formed in a strip shape extending in the x-axis direction on the second surface (13) of the first substrate (10) and are arranged parallel to each other.
복수의 제1 접지 스트립(130)들은 연장된 직사각형 형태 또는 이의 변형된 형태로 형성될 수 있으며, 서로 동일 형상, 동일 너비(w), 동일 길이(l) 및 동일 두께(t)로 형성될 수 있다. 또한, 복수의 제1 접지 스트립(130)들은 제1 기판(10)의 제2 면(13) 상에서 동일 간격으로 형성될 수 있다.The plurality of first ground strips (130) may be formed in an extended rectangular shape or a modified shape thereof, and may be formed with the same shape, the same width (w), the same length (l), and the same thickness (t). In addition, the plurality of first ground strips (130) may be formed at equal intervals on the second surface (13) of the first substrate (10).
복수의 제2 신호 스트립(330)들은 제2 기판(30)의 제1 면(33) 상에 x축과 수직하는 y축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된다.A plurality of second signal strips (330) are formed in a strip shape extending in the y-axis direction perpendicular to the x-axis on the first surface (33) of the second substrate (30) and are arranged parallel to each other.
이에 따라, 본 발명에서는 제1 기판의 제1 면(11) 상에 형성된 제1 신호 스트립(110)들과 제2 기판(30)의 제1 면(33) 상에 형성된 복수의 제2 신호 스트립(330)들이 서로 수직을 이루며(즉, 격자 형태) 마주보게 형성된다. Accordingly, in the present invention, first signal strips (110) formed on the first surface (11) of the first substrate and a plurality of second signal strips (330) formed on the first surface (33) of the second substrate (30) are formed to face each other in a perpendicular manner (i.e., in a grid shape).
따라서, 본 발명에 따른 저항판 검출기(1)는 x축과 y축의 양 방향에서 동시에 신호를 읽을 수 있으므로 평면상 위치 분해능을 향상시킬 수 있다.Therefore, the resistance plate detector (1) according to the present invention can simultaneously read signals in both the x-axis and y-axis directions, thereby improving the plane position resolution.
복수의 제2 신호 스트립(330)은 복수의 제1 신호 스트립(110)들과 마찬가지로 연장된 직사각형 형태 또는 이의 변형된 형태로 형성될 수 있으며, 서로 동일 형상, 동일 너비(w), 동일 길이(l) 및 동일 두께(t)로 형성될 수 있다. 또한, 복수의 제2 신호 스트립(330)은 제2 기판(30)의 제1 면(33) 상에서 동일 간격으로 형성될 수 있다.The plurality of second signal strips (330) may be formed in an extended rectangular shape or a modified shape thereof, similar to the plurality of first signal strips (110), and may be formed with the same shape, the same width (w), the same length (l), and the same thickness (t). In addition, the plurality of second signal strips (330) may be formed at equal intervals on the first surface (33) of the second substrate (30).
복수의 제2 접지 스트립(310)은 제2 기판(30)의 제2 면(31) 상에 상기 제2 신호 스트립(330)들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제2 신호 스트립(330)과 쌍으로 마주보게 배열된다.A plurality of second ground strips (310) are formed on the second surface (31) of the second substrate (30) in the same shape as the second signal strips (330) and are arranged to face each corresponding second signal strip (330) in pairs.
다시 말해, 제2 기판(30)에 형성된 제2 신호 스트립(330)과 제2 접지 스트립(310)은 1 대 1로 매칭되어 중첩되는 위치의 반대면에 서로 대응하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 대응하는 제2 신호 스트립(330)과 제2 접지 스트립(310)의 쌍은 총 32 쌍으로 형성되어, 32 개의 채널을 형성할 수 있다.In other words, the second signal strip (330) and the second ground strip (310) formed on the second substrate (30) can be formed to correspond to each other on opposite sides of the overlapping position by matching one to one. For example, the pairs of corresponding second signal strips (330) and second ground strips (310) can be formed in a total of 32 pairs, thereby forming 32 channels.
마찬가지로, 복수의 제2 접지 스트립(310)들은 제2 기판(30)의 제2 면(31) 상에 y축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된다.Similarly, a plurality of second ground strips (310) are formed in a strip shape extending in the y-axis direction on the second surface (31) of the second substrate (30) and are arranged parallel to each other.
복수의 제2 접지 스트립(310)들은 연장된 직사각형 형태 또는 이의 변형된 형태로 형성될 수 있으며, 서로 동일 형상, 동일 너비(w), 동일 길이(l) 및 동일 두께(t)로 형성될 수 있다. 또한, 복수의 제2 접지 스트립(310)들은 제2 기판(30)의 제2 면(31) 상에서 동일 간격으로 형성될 수 있다.The plurality of second ground strips (310) may be formed in an extended rectangular shape or a modified shape thereof, and may be formed with the same shape, the same width (w), the same length (l), and the same thickness (t). In addition, the plurality of second ground strips (310) may be formed at equal intervals on the second surface (31) of the second substrate (30).
도 3은 도 2의 스트립들의 다른 형태의 예시이다.Figure 3 is an example of another form of the strips of Figure 2.
도 2에서 복수의 제1 신호 스트립(110)들, 복수의 제1 접지 스트립(130)들, 복수의 제2 신호 스트립(330)들 및 복수의 제2 접지 스트립(310)들을 x축 또는 y축으로 연장되는 직사각형 형태로 도시하였다. 그러나 이러한 형태는 일례일 뿐이며, 다른 형태로 변형 가능하다.In Fig. 2, a plurality of first signal strips (110), a plurality of first ground strips (130), a plurality of second signal strips (330), and a plurality of second ground strips (310) are illustrated in a rectangular shape extending along the x-axis or the y-axis. However, this shape is only an example, and may be modified into other shapes.
예를 들어, 도 3과 같이 양 끝이 삼각형으로 좁아지는 형태를 가지는 등 직사각형의 변형된 형태를 가질 수 있다. 이 경우 스트립에서 트레이스로 신호가 전달될 때 너비 변화로 발생하는 굴절(refraction)을 줄일 수 있다.For example, it may have a modified rectangular shape, such as a shape in which both ends are narrowed into triangles, as in Fig. 3. In this case, refraction caused by a change in width when a signal is transmitted from a strip to a trace can be reduced.
도 3에서는 제1 신호 스트립(110)을 대표적으로 설명하였으나, 제1 접지 스트립(130), 제2 신호 스트립(330) 및 제2 접지 스트립(310) 역시 동일한 형태로 변경될 수 있다.In Fig. 3, the first signal strip (110) is described as a representative example, but the first ground strip (130), the second signal strip (330), and the second ground strip (310) may also be changed to the same form.
도 4는 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 단면 회로도이다. 도 5는 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 평면 회로도이다. 도 6은 도 2의 저항판 검출기의 개략적인 평면도이다.Fig. 4 is an exemplary cross-sectional circuit diagram of the resistance plate detector of Fig. 2. Fig. 5 is an exemplary planar circuit diagram of the resistance plate detector of Fig. 2. Fig. 6 is a schematic planar diagram of the resistance plate detector of Fig. 2.
도 4 및 도 5를 참조하면, 제1 신호 스트립(110) 및 제2 신호 스트립(330) 각각은 양단에 적어도 하나의 저항 소자 및 적어도 하나의 캐패시터 소자가 연결될 수 있다.Referring to FIGS. 4 and 5, each of the first signal strip (110) and the second signal strip (330) may have at least one resistor element and at least one capacitor element connected to both ends.
다시 말해, 제1 신호 스트립(110)의 일단에 캐패시터(C11)와 저항(R11)이 연결되고, 타단에 캐패시터(C12)와 저항(R12)이 연결될 수 있다.In other words, a capacitor (C11) and a resistor (R11) can be connected to one end of the first signal strip (110), and a capacitor (C12) and a resistor (R12) can be connected to the other end.
도 4 및 도 5에서는 제1 신호 스트립(110)을 도시하고 있으나, 제2 신호 스트립(330)도 마찬가지로 저항과 캐패시터가 연결된다. 또한, 2 개 이상의 저항 소자 또는 캐패시터 소자가 연결될 수 있으며, 위치 변경도 가능하다.Although the first signal strip (110) is illustrated in FIGS. 4 and 5, the second signal strip (330) is also connected to a resistor and a capacitor. In addition, two or more resistor elements or capacitor elements may be connected, and their positions may also be changed.
도 6을 참조하면, 제1 기판(10) 및 제2 기판(30)은 각각 커넥터를 더 포함할 수 있다. 커넥터는 제1 기판(10) 및 제2 기판(30)의 연장부에 형성될 수 있으며, 도 6에 도시된 위치는 예시적인 것으로, 위치의 변경 설계는 자유롭게 가능하다.Referring to FIG. 6, the first substrate (10) and the second substrate (30) may each further include a connector. The connector may be formed in an extension of the first substrate (10) and the second substrate (30), and the positions shown in FIG. 6 are exemplary, and the design of changing the positions is freely possible.
양단의 캐패시터(C11)와 저항(R11) 및 캐패시터(C12)와 저항(R12)은 신호 증폭기(미도시)와 연결된다. 신호 증폭기, 저항(R11) 또는 저항(R12)은 기판(10)에 형성된 커넥터(도 6 참조) 상에 형성될 수 있다.The capacitor (C11) and resistor (R11) at both ends and the capacitor (C12) and resistor (R12) are connected to a signal amplifier (not shown). The signal amplifier, resistor (R11) or resistor (R12) can be formed on a connector (see FIG. 6) formed on the substrate (10).
제1 접지 스트립(130), 제2 신호 스트립(330) 및 제2 접지 스트립(310)의 폭과 간격은 신호 증폭기의 타겟 입력 임피던스에 따라 조절될 수 있다.The width and spacing of the first ground strip (130), the second signal strip (330), and the second ground strip (310) can be adjusted according to the target input impedance of the signal amplifier.
도 7은 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 제1 기판을 보여주는 평면도이다. 도 8은 도 2의 저항판 검출기의 예시적인 제2 기판을 보여주는 평면도이다.Fig. 7 is a plan view showing an exemplary first substrate of the resistance plate detector of Fig. 2. Fig. 8 is a plan view showing an exemplary second substrate of the resistance plate detector of Fig. 2.
도 7을 참조하면, 제1 기판(10)의 제1 면(11) 상에 x축 방향으로 연장되며 평행하게 형성된 복수의 제1 신호 스트립(110)들의 예시를 보여준다.Referring to FIG. 7, an example of a plurality of first signal strips (110) formed in parallel and extending in the x-axis direction on a first surface (11) of a first substrate (10) is shown.
도 7과 다르게, 제1 신호 스트립(110)의 일단과 커넥터를 연결하는 트레이스(111)들은 서로 동일한 길이를 가질 수 있다. 마찬가지로, 제1 신호 스트립(110)의 타단과 커넥터를 연결하는 트레이스(113)들은 서로 동일한 길이를 가질 수 있다.Unlike in FIG. 7, the traces (111) connecting one end of the first signal strip (110) and the connector may have the same length. Similarly, the traces (113) connecting the other end of the first signal strip (110) and the connector may have the same length.
도 8을 참조하면, 제2 기판(30)의 제1 면(33) 상에 y축 방향으로 연장되며 평행하게 형성된 복수의 제2 신호 스트립(330) 들의 예시를 보여준다.Referring to FIG. 8, an example of a plurality of second signal strips (330) formed in parallel and extending in the y-axis direction on the first surface (33) of the second substrate (30) is shown.
도 8과 다르게, 제2 신호 스트립(330) 의 일단과 커넥터를 연결하는 트레이스(311)들은 서로 동일한 길이를 가질 수 있다. 마찬가지로, 제2 신호 스트립(330)의 타단과 커넥터를 연결하는 트레이스(313)들은 서로 동일한 길이를 가질 수 있다.Unlike in FIG. 8, the traces (311) connecting one end of the second signal strip (330) and the connector may have the same length. Similarly, the traces (313) connecting the other end of the second signal strip (330) and the connector may have the same length.
트레이스들의 길이가 동일한 경우, TOF(Time-of-flight)의 시간 계산을 통해 신호의 위치를 용이하게 파악할 수 있다.When the lengths of the traces are the same, the position of the signal can be easily determined by calculating the time-of-flight (TOF).
이와 같은 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기에 따르면, 신호 스트립과 접지 스트립을 동일 형상으로 2개의 기판 양 면에 각각 형성하고, 신호 스트립이 서로 수직 방향으로 마주보게 배치하여 저항판 검출기의 x축과 y축의 평면상 위치 분해능을 향상시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 저항판 검출기를 TOF-PET에 적용하여 저가로 높은 성능의 기기를 제작할 수 있다.According to a resistive plate detector that reads a signal using such a pair of strips, the signal strips and the ground strips are formed on two opposite sides of the substrate with the same shape, and the signal strips are arranged to face each other in a vertical direction, thereby improving the plane position resolution of the x-axis and y-axis of the resistive plate detector. Accordingly, the resistive plate detector according to the present invention can be applied to TOF-PET to manufacture a device with high performance at low cost.
또한, 본 발명에서 접지는 하나의 평면 형태가 아닌 스트립의 형태로서 증폭된 신호가 접지에서 넓게 퍼져나가지 않고 접지 스트립을 따라 직선 형태로 빠져나가므로 신호의 노이즈를 줄일 수 있다.In addition, in the present invention, the ground is in the form of a strip rather than a single plane, so that the amplified signal does not spread widely from the ground but exits in a straight line along the ground strip, thereby reducing signal noise.
이상에서는 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the present invention has been described above with reference to embodiments, it will be understood by those skilled in the art that various modifications and changes can be made to the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention as set forth in the claims below.
발명 초기에는 파킨슨병의 연구에 사용하는 등의 용도에 한정되었던 양전자방출단층촬영(Positron Emission Tomography, PET)은 결정 섬광기와 광증폭기를 기반으로 작동한다. 이 기기는 암진단에 점차로 많이 사용되고 있다. 시간 측정 기능을 결합한 TOF-PET, 전신 PET 등이 개발되고 있는데 이들은 매우 고가 장비이다. Positron Emission Tomography (PET), which was initially limited to the study of Parkinson's disease, operates based on crystal scintillators and optical intensifiers. This device is increasingly being used for cancer diagnosis. TOF-PET and whole-body PET, which combine time measurement functions, are being developed, but these are very expensive equipment.
최근 결정 섬광기와 광증폭기를 저항판 검출기로 대치하여 높은 성능의 TOF-PET을 저가로 제작할 가능성이 알려졌다. 그러나 유럽의 RPC-PET 연구진이 제안한 저항판 검출기 기반 전신 PET은 아직 실현되지 않고 있다. 본 발명의 저항판 검출기를 TOF-PET에 적용하여 저가로 높은 성능의 기기를 제작할 수 있을 것으로 기대된다.Recently, it has been reported that it is possible to manufacture a high-performance TOF-PET at low cost by replacing the crystal scintillator and the optical amplifier with a resistive plate detector. However, the whole-body PET based on the resistive plate detector proposed by the RPC-PET research team in Europe has not yet been realized. It is expected that the resistive plate detector of the present invention can be applied to TOF-PET to manufacture a device with high performance at low cost.
1: 저항판 검출기
10: 제1 기판
30: 제2 기판
11: 제1 기판의 제1 면
13: 제1 기판의 제2 면
110: 제1 신호 스트립
130: 제1 접지 스트립
31: 제2 기판의 제2 면
33: 제2 기판의 제1 면
310: 제2 접지 스트립
330: 제2 신호 스트립
111, 113, 311, 313: 트레이스1: Resistance plate detector
10: 1st substrate
30: Second substrate
11: First side of the first substrate
13: Second side of the first substrate
110: 1st signal strip
130: 1st ground strip
31: Second side of the second substrate
33: First side of the second substrate
310: 2nd ground strip
330: 2nd signal strip
111, 113, 311, 313: Trace
Claims (11)
제1 기판의 제1 면의 반대편인 제2 면 상에 상기 제1 신호 스트립들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제1 신호 스트립과 쌍(pair)으로 매칭되어 중첩되는 위치에 마주보게 배열되는 복수의 제1 접지 스트립들;
제1 기판의 제1 면과 마주보며 일정간격 이격된 제2 기판의 제1 면 상에 x축과 수직하는 y축 방향으로 연장되는 스트립 형상으로 형성되고, 서로 평행하게 배열된 복수의 제2 신호 스트립들; 및
제2 기판의 제1 면의 반대편인 제2 면 상에 상기 제2 신호 스트립들과 동일한 형상으로 형성되고, 대응하는 각 제2 신호 스트립과 쌍으로 매칭되어 중첩되는 위치에 마주보게 배열되는 복수의 제2 접지 스트립들;을 포함하고,
제1 기판에 형성된 복수의 제1 접지 스트립들과 제2 기판에 형성된 복수의 제2 접지 스트립들은 서로 수직하게 배열되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
A plurality of first signal strips formed in a strip shape extending in the x-axis direction on a first surface of a first substrate and arranged parallel to each other;
A plurality of first ground strips formed in the same shape as the first signal strips on a second side opposite the first side of the first substrate and arranged facing each other in a position where they overlap and match in pairs with the corresponding first signal strips;
A plurality of second signal strips formed in a strip shape extending in the y-axis direction perpendicular to the x-axis on a first surface of a second substrate spaced apart from the first surface of the first substrate and arranged parallel to each other; and
A plurality of second ground strips formed in the same shape as the second signal strips on a second surface opposite the first surface of the second substrate and arranged facing each other in a position where they overlap and match in pairs with the corresponding second signal strips;
A resistive plate detector that reads a signal using strip pairs, wherein a plurality of first ground strips formed on a first substrate and a plurality of second ground strips formed on a second substrate are arranged perpendicular to each other.
복수의 제1 신호 스트립들 및 복수의 제2 신호 스트립들은 서로 동일 형상, 동일 너비, 동일 길이, 동일 두께 및 동일 간격으로 형성되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In the first paragraph,
A resistive plate detector for reading signals using strip pairs, wherein a plurality of first signal strips and a plurality of second signal strips are formed with the same shape, the same width, the same length, the same thickness, and the same spacing.
복수의 제1 접지 스트립들 및 복수의 제2 접지 스트립들은 서로 동일 형상, 동일 너비, 동일 길이, 동일 두께 및 동일 간격으로 형성되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In the first paragraph,
A resistive plate detector for reading a signal using strip pairs, wherein a plurality of first ground strips and a plurality of second ground strips are formed with the same shape, the same width, the same length, the same thickness, and the same spacing.
제1 기판 및 제2 기판은 각각 커넥터를 포함하는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In the first paragraph,
A resistive plate detector that reads signals using strip pairs, each of the first and second substrates including a connector.
제1 신호 스트립들의 일단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일하고, 제1 신호 스트립들의 타단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일한, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In paragraph 4,
A resistive plate detector that reads signals using pairs of strips, wherein the traces connecting one end of the first signal strips to the connector are of equal length, and the traces connecting the other end of the first signal strips to the connector are of equal length.
제2 신호 스트립들의 일단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일하고, 제2 신호 스트립들의 타단과 커넥터를 연결하는 트레이스들의 길이는 동일한, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In paragraph 4,
A resistive plate detector that reads signals using pairs of strips, wherein the traces connecting one end of the second signal strips to the connector are of equal length, and the traces connecting the other end of the second signal strips to the connector are of equal length.
제1 신호 스트립 및 제2 신호 스트립 각각은 양단에 적어도 하나의 저항 소자 및 적어도 하나의 캐패시터 소자가 연결되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In the first paragraph,
A resistive plate detector for reading a signal using a pair of strips, each of the first signal strip and the second signal strip having at least one resistive element and at least one capacitor element connected at both ends.
저항 소자 및 캐패시터 소자는 신호 증폭기와 연결되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In Article 7,
A resistive plate detector that reads a signal using strip pairs, with resistive and capacitor elements connected to a signal amplifier.
복수의 제1 신호 스트립들 및 복수의 제2 신호 스트립들과 복수의 제1 접지 스트립들 및 복수의 제2 접지 스트립들의 폭과 간격은 신호 증폭기의 타겟 입력 임피던스에 따라 조절되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In Article 8,
A resistive plate detector for reading a signal using strip pairs, wherein the width and spacing of a plurality of first signal strips and a plurality of second signal strips and a plurality of first ground strips and a plurality of second ground strips are adjusted according to the target input impedance of a signal amplifier.
복수의 제1 신호 스트립들, 복수의 제2 신호 스트립들, 복수의 제1 접지 스트립들 및 복수의 제2 접지 스트립들은 각각 직사각형 형태 또는 직사각형으로 연장되는 양끝이 삼각형으로 좁아지는 형태를 갖는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.
In the first paragraph,
A resistive plate detector for reading signals using strip pairs, wherein a plurality of first signal strips, a plurality of second signal strips, a plurality of first ground strips and a plurality of second ground strips each have a rectangular shape or a shape extending into a rectangle with both ends narrowing into a triangle.
TOF(Time-of-flight) PET(양전자방출단층촬영; Positron Emission Tomography)에 적용되는, 스트립 쌍을 사용하여 신호를 판독하는 저항판 검출기.In the first paragraph,
A resistive plate detector that reads signals using strip pairs, applied to TOF (Time-of-flight) PET (Positron Emission Tomography).
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