KR102694967B1 - 아날로그-디지털 변환 장치 및 그에 따른 씨모스 이미지 센서 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2a는 본 발명의 실시예에 대한 이해를 돕기 위한 게인 증가 방식에 대한 일예시도,
도 2b는 본 발명의 실시예에 대한 이해를 돕기 위한 오버플로우 카운팅 게인 조정 방식에 대한 일예시도,
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 게인 증가 방식에 대한 설명도,
도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 아날로그-디지털 변환 장치의 구성도,
도 4a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 오버플로우 카운팅 게인 조정 방식에 대한 설명도,
도 4b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 아날로그-디지털 변환 장치의 일예시도,
도 4c는 본 발명의 다른 실시예에 따른 아날로그-디지털 변환 장치의 다른 예시도이다.
413 : 카운터 414 : 카운팅 제한부
Claims (19)
- 램프 신호의 전압 레인지에 소정 배수의 마진을 준 마진 계수에 비례하면서, 아날로그-디지털 변환 장치에서의 아날로그 게인 배수에는 반비례하여 램프 신호의 전압 레인지를 감소시키며, 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키기 위한 램프 신호 발생부;
픽셀 어레이 내의 픽셀의 출력 신호인 픽셀 신호를 일측 단자로 입력받고 상기 램프 신호를 타측 단자로 입력받아 상기 램프 신호 발생부로부터의 램프 신호에 따라 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하기 위한 비교기; 및
상기 비교기로부터의 비교 신호에 따라 카운팅 동작을 수행하기 위한 카운터
를 포함하는 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 램프 신호 발생부는,
상기 픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 비교기는,
상기 픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복되는 램프 신호 및 상기 픽셀 신호의 값을 비교하여 상기비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 카운터는,
램프 신호가 하강(또는 상승)하는 시점부터 상기 비교기로부터 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력되는 비교 신호가 반전되는 순간까지 제어부로부터의 클럭을 카운팅하는 과정을 수행하여 카운팅 정보를 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 램프 신호의 전압 레인지에 소정 배수의 마진을 준 마진 계수에 비례하면서 아날로그-디지털 변환 장치에서의 아날로그 게인 배수에는 반비례하여 램프 신호의 전압 레인지를 감소시키며, 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키기 위한 램프 신호 발생부;
픽셀 어레이 내의 픽셀의 출력 신호인 픽셀 신호를 일측 단자로 입력받고 상기 램프 신호를 타측 단자로 입력받아 상기 램프 신호 발생부로부터의 램프 신호에 따라 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하기 위한 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 신호에 따라 카운팅 동작을 수행하기 위한 카운터; 및
상기 카운터의 카운팅 비트 수를 최대 카운팅 비트 수로 제한하기 위한 카운팅 제한부
를 포함하는 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 5항에 있어서,
상기 램프 신호 발생부는,
상기 픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 5항에 있어서,
상기 비교기는,
상기 픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복되는 상기 램프 신호 및 상기 픽셀 신호의 값을 비교하여 상기 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 5항에 있어서,
상기 카운터는,
램프 신호가 하강(또는 상승)하는 시점부터 상기 비교기로부터 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력되는 비교 신호가 반전되는 순간까지 제어부로부터의 클럭을 카운팅하는 과정을 수행하여 카운팅 정보를 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 8항에 있어서,
상기 카운터는,
난-오버플로우 카운터(Non-Overflow Counter)인, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 5항에 있어서,
상기 카운팅 제한부는,
카운팅을 완료하기 전에 상기 카운터가 최대 카운팅 비트 수를 카운팅하면 상기 카운터를 디스에이블시켜 카운팅을 중지시키는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 8항에 있어서,
상기 카운팅 제한부는,
상기 카운터로부터 상기 카운팅 정보의 마지막 비트를 입력받아 카운터 디스에이블 신호를 상기 카운터로 인가하여 상기 카운터를 디스에이블시키는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 램프 신호의 전압 레인지에 소정 배수의 마진을 준 마진 계수에 비례하면서 아날로그-디지털 변환 장치에서의 아날로그 게인 배수에는 반비례하여 램프 신호의 전압 레인지를 감소시키며, 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키기 위한 램프 신호 발생부;
픽셀 어레이 내의 픽셀의 출력 신호인 픽셀 신호를 일측 단자로 입력받고 상기 램프 신호를 타측 단자로 입력받아 상기 램프 신호 발생부로부터의 램프 신호에 따라 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하기 위한 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 신호에 따라 카운팅 동작을 수행하기 위한 카운터; 및
상기 카운터의 오버플로우를 감지하여 통지하기 위한 오버플로우 통지부
를 포함하는 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 12항에 있어서,
상기 램프 신호 발생부는,
상기 픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키는, 아날로그-디지털 변환 장치. - 제 12항에 있어서,
상기 비교기는,
상기 픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복되는 상기 램프 신호 및 상기 픽셀 신호의 값을 비교하여 상기 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 12항에 있어서,
상기 카운터는,
램프 신호가 하강(또는 상승)하는 시점부터 상기 비교기로부터 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력되는 비교 신호가 반전되는 순간까지 제어부로부터의 클럭을 카운팅하는 과정을 수행하여 카운팅 정보를 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 제 15항에 있어서,
상기 오버플로우 통지부는,
상기 카운터로부터 입력되는 상기 카운팅 정보의 마지막 비트에 따라 오버플로우를 감지하여 오버플로우 신호를 출력하는, 아날로그-디지털 변환 장치.
- 입사광에 상응하는 픽셀의 출력 신호를 출력하기 위한 픽셀;
제어부의 제어에 따라 상기 픽셀을 선택하여 제어하기 위한 로우 디코더;
상기 제어부의 제어에 따라, 아날로그-디지털 변환 장치에서의 아날로그 게인 배수에 반비례하여 램프 신호의 전압 레인지를 감소시키고 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키기 위한 램프 신호 발생부;
상기 램프 신호 발생부로부터의 램프 신호에 따라 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하기 위한 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 신호에 따라 카운팅 동작을 수행하기 위한 카운터;
상기 제어부의 제어에 따라 상기 카운터로부터의 카운팅 정보를 저장하기 위한 메모리;
상기 로우 디코더와 상기 램프 신호 발생부와 상기 카운터와 상기 메모리와 컬럼 리드아웃 회로의 동작을 제어하기 위한 상기 제어부; 및
상기 메모리의 데이터를 상기 제어부의 제어에 따라 출력하기 위한 상기 컬럼 리드아웃 회로
를 포함하며,
상기 램프 신호 발생부는,
픽셀의 1 로우(row) 동작 타임 동안 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키는 씨모스 이미지 센서.
- 입사광에 상응하는 픽셀의 출력 신호를 출력하기 위한 픽셀;
제어부의 제어에 따라 상기 픽셀을 선택하여 제어하기 위한 로우 디코더;
상기 제어부의 제어에 따라, 램프 신호의 전압 레인지에 소정 배수의 마진을 준 마진 계수에 비례하면서 아날로그-디지털 변환 장치에서의 아날로그 게인 배수에는 반비례하여 상기램프 신호의 전압 레인지를 감소시키며, 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키기 위한 램프 신호 발생부;
상기 램프 신호 발생부로부터의 램프 신호에 따라 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하기 위한 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 신호에 따라 카운팅 동작을 수행하기 위한 카운터;
상기 카운터의 카운팅 비트 수를 최대 카운팅 비트 수로 제한하기 위한 카운팅 제한부;
상기 제어부의 제어에 따라 상기 카운터로부터의 카운팅 정보를 저장하기 위한 메모리;
상기 로우 디코더와 상기 램프 신호 발생부와 상기 카운터와 상기 메모리와 컬럼 리드아웃 회로의 동작을 제어하기 위한 상기 제어부; 및
상기 메모리의 데이터를 상기 제어부의 제어에 따라 출력하기 위한 상기 컬럼 리드아웃 회로
를 포함하는 씨모스 이미지 센서.
- 입사광에 상응하는 픽셀의 출력 신호를 출력하기 위한 픽셀;
제어부의 제어에 따라 상기 픽셀을 선택하여 제어하기 위한 로우 디코더;
상기 제어부의 제어에 따라, 램프 신호의 전압 레인지에 소정 배수의 마진을 준 마진 계수에 비례하면서 아날로그-디지털 변환 장치에서의 아날로그 게인 배수에는 반비례하여 상기 램프 신호의 전압 레인지를 감소시키며, 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 램프 신호를 발생시키기 위한 램프 신호 발생부;
상기 램프 신호 발생부로부터의 램프 신호에 따라 비교 신호를 상기 아날로그 게인 배수만큼 반복하여 출력하기 위한 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 신호에 따라 카운팅 동작을 수행하기 위한 카운터;
상기 카운터의 오버플로우를 감지하여 통지하기 위한 오버플로우 통지부;
상기 제어부의 제어에 따라 상기 카운터로부터의 카운팅 정보를 저장하기 위한 메모리;
상기 로우 디코더와 상기 램프 신호 발생부와 상기 카운터와 상기 메모리와 컬럼 리드아웃 회로의 동작을 제어하기 위한 상기 제어부; 및
상기 메모리의 데이터를 상기 제어부의 제어에 따라 출력하기 위한 상기 컬럼 리드아웃 회로
를 포함하는 씨모스 이미지 센서.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10419701B2 (en) | 2017-06-26 | 2019-09-17 | Facebook Technologies, Llc | Digital pixel image sensor |
US10686996B2 (en) | 2017-06-26 | 2020-06-16 | Facebook Technologies, Llc | Digital pixel with extended dynamic range |
US10598546B2 (en) | 2017-08-17 | 2020-03-24 | Facebook Technologies, Llc | Detecting high intensity light in photo sensor |
US11393867B2 (en) | 2017-12-06 | 2022-07-19 | Facebook Technologies, Llc | Multi-photodiode pixel cell |
US10969273B2 (en) | 2018-03-19 | 2021-04-06 | Facebook Technologies, Llc | Analog-to-digital converter having programmable quantization resolution |
US11004881B2 (en) | 2018-04-03 | 2021-05-11 | Facebook Technologies, Llc | Global shutter image sensor |
US10812742B2 (en) * | 2018-04-18 | 2020-10-20 | Facebook Technologies, Llc | Apparatus and method for determining whether a photodiode saturates and outputting a digital value representing a charge from that photodiode based on that determination |
US11906353B2 (en) | 2018-06-11 | 2024-02-20 | Meta Platforms Technologies, Llc | Digital pixel with extended dynamic range |
US11089241B2 (en) | 2018-06-11 | 2021-08-10 | Facebook Technologies, Llc | Pixel cell with multiple photodiodes |
US11089210B2 (en) | 2018-06-11 | 2021-08-10 | Facebook Technologies, Llc | Configurable image sensor |
US11463636B2 (en) | 2018-06-27 | 2022-10-04 | Facebook Technologies, Llc | Pixel sensor having multiple photodiodes |
US10897586B2 (en) | 2018-06-28 | 2021-01-19 | Facebook Technologies, Llc | Global shutter image sensor |
US10931884B2 (en) | 2018-08-20 | 2021-02-23 | Facebook Technologies, Llc | Pixel sensor having adaptive exposure time |
US11956413B2 (en) | 2018-08-27 | 2024-04-09 | Meta Platforms Technologies, Llc | Pixel sensor having multiple photodiodes and shared comparator |
JP2020065231A (ja) * | 2018-10-19 | 2020-04-23 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置および電子機器 |
US11595602B2 (en) | 2018-11-05 | 2023-02-28 | Meta Platforms Technologies, Llc | Image sensor post processing |
US11102430B2 (en) | 2018-12-10 | 2021-08-24 | Facebook Technologies, Llc | Pixel sensor having multiple photodiodes |
US11218660B1 (en) | 2019-03-26 | 2022-01-04 | Facebook Technologies, Llc | Pixel sensor having shared readout structure |
US11943561B2 (en) | 2019-06-13 | 2024-03-26 | Meta Platforms Technologies, Llc | Non-linear quantization at pixel sensor |
KR102005898B1 (ko) * | 2019-07-05 | 2019-07-31 | 한화시스템 주식회사 | 신호 처리 장치 |
KR102005899B1 (ko) * | 2019-07-05 | 2019-07-31 | 한화시스템 주식회사 | 신호 처리 장치 |
US11936998B1 (en) | 2019-10-17 | 2024-03-19 | Meta Platforms Technologies, Llc | Digital pixel sensor having extended dynamic range |
US11902685B1 (en) | 2020-04-28 | 2024-02-13 | Meta Platforms Technologies, Llc | Pixel sensor having hierarchical memory |
US11910114B2 (en) | 2020-07-17 | 2024-02-20 | Meta Platforms Technologies, Llc | Multi-mode image sensor |
US11956560B2 (en) | 2020-10-09 | 2024-04-09 | Meta Platforms Technologies, Llc | Digital pixel sensor having reduced quantization operation |
US12022218B2 (en) | 2020-12-29 | 2024-06-25 | Meta Platforms Technologies, Llc | Digital image sensor using a single-input comparator based quantizer |
KR20230011089A (ko) | 2021-07-13 | 2023-01-20 | 삼성전자주식회사 | 복수 회 픽셀 신호의 샘플링을 수행하는 이미지 센서 및 이의 동작 방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120006974A1 (en) * | 2010-07-08 | 2012-01-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Solid-state imaging device |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1298800A1 (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-02 | STMicroelectronics Limited | Ramp generator |
KR100660858B1 (ko) | 2005-01-28 | 2006-12-26 | 삼성전자주식회사 | 선 블랙 현상을 방지하는 시모스 이미지 센서의 칼럼 adc |
KR101724092B1 (ko) * | 2010-12-23 | 2017-04-07 | 삼성전자주식회사 | 램프신호 발생기, 이를 구비한 a/d 컨버터 및 이미지 센서 |
US8441387B2 (en) * | 2011-01-31 | 2013-05-14 | SK Hynix Inc. | Continuous ramp generator design and its calibration for CMOS image sensors using single-ramp ADCs |
KR102431248B1 (ko) | 2016-01-29 | 2022-08-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 아날로그-디지털 변환 장치 및 그 방법과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20230801 Patent event code: PE09021S01D |
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Patent event date: 20240528 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: PX07013S01D Patent event date: 20240520 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX07012R01I Patent event date: 20240221 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX07011S01I Patent event date: 20230925 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX07012R01I |
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