KR102548015B1 - 디바이스 테스트 지그 및 디바이스 테스트 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 디바이스 테스트 지그의 예시적인 일 외형을 나타낸다.
도 3은 바디에서 픽스쳐 모듈과 누름판이 분리된 예시적인 형태를 도시한 도면이다.
도 4는 디바이스 테스트 지그 내부의 예시적인 회로 구조와 연결 구조를 도시한 도면이다.
도 5는 디바이스 테스트 지그를 이용하여 전자 디바이스를 테스트하기 위한 예시적인 제어 흐름을 도시한 도면이다.
110 : 바디
111 : 베이스 플레이트
121 : 외부 인터페이스 123 : 버튼
125 : 체결구 127 : 전원공급구
130 : 픽스쳐 모듈
131 : 마스크
131-1 : 안착홈 131-5 : 포고핀홀
133 : 수용프레임
135 : 픽스쳐 연결보드
135-1 : 커넥터보드 커넥터 135-2 : 커넥터보드 연결단자
135-3 : 포고핀그룹 커넥터 135-5 : 포고핀연결단자
137 : 포고핀 그룹
137-1 : 포고핀
140 : 이미지 센서
150 : 상하이동기
151 : 공압식 실린더 153 : 상하이동 가이드
155 : 누름판
155-1 : 관통홀 155-5 : 나사홀
170 : 제어 모듈
171 : 메인제어 모듈 173 : 내부통신부
175 : 채널제어 모듈 179 : 제어모듈 커넥터
190 : 커넥터 보드
191 : 제어모듈대응 커넥터 193 : 전원스위치
195 : 전류센서 197 : 비교기
199 : 픽스쳐모듈대응 커넥터
199-1 : 픽스쳐모듈 대응연결단자
200 : 테스트 관리 장치
300 : 네트워크
500 : 전자 디바이스
Claims (7)
- 디바이스 테스트 지그로서,
복수의 전자 디바이스를 수용하기 위한 복수의 안착홈을 구비한 마스크와 상기 복수의 안착홈의 복수의 전자 디바이스의 금속핀들과 접촉가능한 복수의 포고핀 그룹을 포함하고 상기 디바이스 테스트 지그의 바디에 탈착 가능한 픽스쳐 모듈;
상기 픽스쳐 모듈 위에서 상측 또는 하측으로 이동하고 상기 복수의 안착홈의 복수의 전자 디바이스의 테스트시에 상기 복수의 전자 디바이스 각각의 금속핀들을 상기 복수의 포고핀 그룹 각각에 접촉하도록 상기 복수의 전자 디바이스를 하측으로 누르도록 상기 마스크 전체에 하측 압력을 가하는 단일한 누름판;으로서 상기 마스크의 복수의 안착홈 각각의 대응하는 위치에 형성되고 상기 안착홈의 전자 디바이스의 표면 면적보다 적은 면적의 복수의 관통홀을 가져 상기 마스크 전체에 하측 압력의 인가시에 상기 복수의 전자 디바이스의 외곽을 하측으로 누르는 누름판;
상기 픽스쳐 모듈과 상기 누름판 상측에 설치되어 상기 픽스쳐 모듈의 복수의 안착홈에 위치하는 복수의 전자 디바이스를 촬영하는 이미지 센서; 및
단일한 상기 누름판이 상기 마스크 전체에 하측 압력을 가한 상태에서, 상기 이미지 센서에 의해 촬영되는 이미지 데이터에서 상기 복수의 전자 디바이스의 식별자들을 추출하고 추출된 식별자들에 기초하여 상기 복수의 전자 디바이스에 대한 테스트를 상기 복수의 포고핀 그룹을 통해 수행하는 제어 모듈;을 포함하고,
상기 제어 모듈은 상기 복수의 관통홀을 통해 노출되는 상기 복수의 전자 디바이스의 표면을 촬영한 이미지 데이터에서 식별자들을 추출하는,
디바이스 테스트 지그. - 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 픽스쳐 모듈은, 상기 픽스쳐 모듈의 일측면에 노출되는 복수의 연결단자를 가지고 상기 복수의 연결단자와 상기 복수의 포고핀 그룹 사이의 전기신호를 전달하는 픽스쳐 연결보드;를 더 포함하고,
상기 복수의 포고핀 그룹은 상기 픽스쳐 연결보드의 상기 복수의 연결단자에 전기적으로 연결되는 보드 표면의 전기패드들에 직접 결합하거나 상기 전기패드들에 연결되는 선들을 통해 결합하는,
디바이스 테스트 지그. - 제3항에 있어서,
상기 제어 모듈과 상기 복수의 포고핀 그룹을 연결하고 상기 디바이스 테스트 지그의 베이스 플레이트 위에서 상기 바디의 일측면의 지정된 높이에 노출되는 복수의 대응연결단자를 가지는 커넥터 보드;를 더 포함하고,
상기 픽스쳐 모듈은 상기 디바이스 테스트 지그의 상기 베이스 플레이트 위에서 상응하는 높이의 상기 복수의 연결단자를 상기 복수의 대응연결단자에 수평방향으로 결합하거나 분리하여 상기 바디에 탈착 가능한,
디바이스 테스트 지그. - 제3항에 있어서,
상기 제어 모듈과 상기 픽스쳐 연결보드를 통해 상기 복수의 포고핀 그룹을 전기적으로 연결하는 커넥터 보드;를 더 포함하고,
상기 포고핀 그룹의 신호들은 전원신호 및 접지신호를 포함하고,
상기 커넥터 보드는 상기 제어 모듈로부터의 전원신호와 상기 복수의 포고핀 그룹 각각의 전원신호 사이에 위치하여 상기 제어 모듈로부터의 전원을 공급 또는 차단하는 복수의 전원스위치, 상기 복수의 포고핀 그룹 각각의 전원신호에서의 전류량을 센싱하기 위한 복수의 전류센서 및 상기 전류센서에 의해 센싱되는 전류량에 따라 상기 전원스위치의 전원을 차단하기 위한 복수의 비교기를 구비하는,
디바이스 테스트 지그. - 제1항에 있어서,
상기 제어 모듈은, 복수의 포고핀 그룹과 1 대 1 매칭되고 매칭되는 포고핀 그룹과 전자 디바이스의 테스트 환경설정에 따른 포고핀 그룹의 셋팅된 신호들의 규격에 따라 인터페이스하는 복수의 채널제어 모듈 및 상기 이미지 센서로부터의 촬영된 이미지 데이터에서 안착홈에 탑재되고 관통홀을 통해 노출되는 전자 디바이스의 식별자를 추출하고 추출된 식별자의 전자 디바이스의 테스트 여부에 따라 대응하는 채널제어 모듈을 제어하여 식별자가 인식된 전자 디바이스에 대한 테스트를 수행하는 메인제어 모듈을 포함하는,
디바이스 테스트 지그. - 제1항에 따른 디바이스 테스트 지그; 및
상기 디바이스 테스트 지그에서 테스트된 전자 디바이스의 테스트 로그를 저장하는 테스트 로그 DB를 포함하고 상기 디바이스 테스트 지그에서의 테스트를 상기 테스트 로그 DB를 이용하여 연결된 네트워크를 통해 제어하는 테스트 관리 장치;를 포함하는,
디바이스 테스트 시스템.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220167266A KR102548015B1 (ko) | 2022-12-05 | 2022-12-05 | 디바이스 테스트 지그 및 디바이스 테스트 시스템 |
PCT/KR2023/095096 WO2024123162A1 (ko) | 2022-12-05 | 2023-11-23 | 디바이스 테스트 지그 및 디바이스 테스트 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220167266A KR102548015B1 (ko) | 2022-12-05 | 2022-12-05 | 디바이스 테스트 지그 및 디바이스 테스트 시스템 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR102548015B1 true KR102548015B1 (ko) | 2023-06-28 |
Family
ID=86994072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020220167266A Active KR102548015B1 (ko) | 2022-12-05 | 2022-12-05 | 디바이스 테스트 지그 및 디바이스 테스트 시스템 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102548015B1 (ko) |
WO (1) | WO2024123162A1 (ko) |
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2022
- 2022-12-05 KR KR1020220167266A patent/KR102548015B1/ko active Active
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PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20221205 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PA0302 | Request for accelerated examination |
Patent event date: 20221207 Patent event code: PA03022R01D Comment text: Request for Accelerated Examination Patent event date: 20221205 Patent event code: PA03021R01I Comment text: Patent Application |
|
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20230321 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20230609 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20230622 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20230622 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
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PG1601 | Publication of registration |