KR102519562B1 - Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 시스템과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 및 그 동작 방법 - Google Patents
Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 시스템과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 및 그 동작 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102519562B1 KR102519562B1 KR1020160112433A KR20160112433A KR102519562B1 KR 102519562 B1 KR102519562 B1 KR 102519562B1 KR 1020160112433 A KR1020160112433 A KR 1020160112433A KR 20160112433 A KR20160112433 A KR 20160112433A KR 102519562 B1 KR102519562 B1 KR 102519562B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- tracking voltage
- input signal
- signal
- digital conversion
- analog
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000011017 operating method Methods 0.000 title abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 107
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 89
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 claims description 15
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 11
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 101100478296 Arabidopsis thaliana SR45A gene Proteins 0.000 description 5
- 101000812663 Homo sapiens Endoplasmin Proteins 0.000 description 5
- 101000689394 Homo sapiens Phospholipid scramblase 4 Proteins 0.000 description 5
- 101000796673 Homo sapiens Transformation/transcription domain-associated protein Proteins 0.000 description 5
- 101001067395 Mus musculus Phospholipid scramblase 1 Proteins 0.000 description 5
- 102100024494 Phospholipid scramblase 4 Human genes 0.000 description 5
- 101150058668 tra2 gene Proteins 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/001—Analogue/digital/analogue conversion
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0617—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
- H03M1/0675—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy
- H03M1/0678—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy using additional components or elements, e.g. dummy components
- H03M1/068—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy using additional components or elements, e.g. dummy components the original and additional components or elements being complementary to each other, e.g. CMOS
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
- H03M1/462—Details of the control circuitry, e.g. of the successive approximation register
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
- H03M1/466—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/803—Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements
-
- H03M2201/225—
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
도 1b는 본 발명에 대한 이해를 돕기 위한 도 1a의 SAR 아날로그-디지털 변환 장치의 일예시도,
도 1c는 본 발명에 대한 이해를 돕기 위한 도 1b의 SAR 아날로그-디지털 변환 장치의 입/출력 파형을 나타내는 도면,
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 SAR 아날로그-디지털 변환 장치를 이용한 씨모스 이미지 센서의 구성도,
도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 2a의 SAR 아날로그-디지털 변환 장치의 상세 구성도,
도 2c는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 2b의 SAR 아날로그-디지털 변환부의 일예시도,
도 2d는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 2c의 SAR 아날로그-디지털 변환부의 타이밍, 및 추적 전압과 픽셀 신호 변조 파형을 나타내는 도면이다.
230 : 제어부 240 : 추적 전압 발생기
250 : SAR 아날로그-디지털 변환 장치
Claims (20)
- 입사광에 상응하는 픽셀 신호를 출력하기 위한 픽셀 어레이;
제어부의 제어에 따라 상기 픽셀 어레이 내의 픽셀을 로우 라인별로 선택하여 제어하기 위한 로우 디코더;
상기 제어부의 제어에 따라 추적 전압을 발생하기 위한 추적 전압 발생기;
상기 제어부의 제어에 따라 상기 픽셀 어레이로부터의 픽셀 신호를 상기 추적 전압 발생기로부터의 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 각각 N번(N은 원하는 해상도를 나타내는 자연수) 반복 수행하여 픽셀 신호를 아날로그-디지털 변환하기 위한 복수의 SAR 아날로그-디지털 변환 장치; 및
상기 로우 디코더와 상기 추적 전압 발생기와 상기 복수의 SAR 아날로그-디지털 변환 장치의 동작을 제어하기 위한 상기 제어부
를 포함하는 씨모스 이미지 센서.
- ◈청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 1항에 있어서,
상기 추적 전압 발생기는,
순차적으로 수행되는 각 반복 과정마다 이전 반복 과정의 추적 전압보다 기 정해진 비율로 변조된 추적 전압을 발생시키는, 씨모스 이미지 센서.
- ◈청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 1항에 있어서,
상기 추적 전압 발생기는,
첫 번째 반복 과정에서 기 정해진 전압 레벨의 제 1 추적 전압을 발생시키고,
두 번째 반복 과정에서 상기 첫 번째 반복 과정의 제 1 추적 전압보다 기 정해진 비율로 변조된 제 2 추적 전압을 발생시키는 과정을 N 번째 반복 과정까지 수행하는, 씨모스 이미지 센서.
- ◈청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 1항에 있어서,
각각의 상기 SAR 아날로그-디지털 변환 장치는,
상기 픽셀 어레이로부터의 픽셀 신호를 상기 추적 전압 발생기로부터의 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 N번 반복 수행하여 픽셀 신호를 아날로그-디지털 변환하기 위한 SAR 아날로그-디지털 변환부;
상기 제어부로부터의 제어 신호에 따라 상기 SAR 아날로그-디지털 변환부로부터의 출력 신호를 선택하기 위한 출력 선택부; 및
상기 출력 선택부에서 선택된 출력 신호에 따라 피드백 제어 신호를 상기 SAR 아날로그-디지털 변환부로 출력하기 위한 피드백 제어부
를 포함하는 씨모스 이미지 센서.
- ◈청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 4항에 있어서,
각각의 상기 SAR 아날로그-디지털 변환 장치는,
상기 출력 선택부에서 선택된 출력 신호를 증폭하여 상기 피드백 제어부로 전달하기 위한 증폭부
를 더 포함하는 씨모스 이미지 센서.
- ◈청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 4항에 있어서,
상기 SAR 아날로그-디지털 변환부는,
상기 픽셀 어레이로부터의 픽셀 신호를 샘플링하여 저장하기 위한 제 1 저장 블럭;
상기 제 1 저장 블럭의 픽셀 신호와 상기 추적 전압 발생기로부터의 제 1 추적 전압을 비교하여 제 1 비교 결과를 출력하고, 상기 제 1 비교 결과에 따른 상기 피드백 제어부로부터의 피드백 제어 신호에 따라 상기 제 1 저장 블럭의 픽셀 신호를 변조 또는 유지하기 위한 제 1 비교 블럭;
상기 제 1 비교 블럭에서 변조 또는 유지된 픽셀 신호를 저장하기 위한 제 2 저장 블럭; 및
상기 제 2 저장 블럭의 픽셀 신호와 상기 추적 전압 발생기로부터의 제 2 추적 전압을 비교하여 제 2 비교 결과를 출력하고, 상기 제 2 비교 결과에 따른 상기 피드백 제어부로부터의 피드백 제어 신호에 따라 상기 제 2 저장 블럭의 픽셀 신호를 변조 또는 유지하여 상기 제 1 저장 블럭에 저장하기 위한 제 2 비교 블럭을 포함하되,
상기 제 1 및 제 2 비교 블럭과 상기 제 2 저장 블럭은 각 반복 과정마다 변조되는 제 1 및 제 2 추적 전압을 이용하여 N/2번 반복 동작하는, 씨모스 이미지 센서.
- (a) 순차적으로 수행되는 각 반복 과정마다 이전 반복 과정의 추적 전압보다 기 정해진 비율로 변조된 추적 전압을 발생시키는 단계; 및
(b) 픽셀 신호를 상기 (a) 단계에서 발생되는 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 N번(N은 원하는 해상도를 나타내는 자연수) 반복 수행하여 픽셀 신호를 아날로그-디지털 변환하는 단계
를 포함하는 씨모스 이미지 센서의 동작 방법.
- ◈청구항 8은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 7항에 있어서,
상기 (b) 단계는,
픽셀 신호와 제 1 추적 전압을 비교하여 제 1 비교 결과에 따라 픽셀 신호를 변조 또는 유지하는 제 1 과정; 및
상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 픽셀 신호와 제 2 추적 전압을 비교하여 제 2 비교 결과에 따라 상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 픽셀 신호를 변조 또는 유지하는 제 2 과정을 포함하되,
상기 제 2 과정에서 변조 또는 유지된 픽셀 신호와 세 번째 내지 N 번째 반복 과정의 추적 전압을 이용하여 상기 제 1 및 제 2 과정을 N/2번 반복 수행하는, 씨모스 이미지 센서의 동작 방법.
- 외부 제어부의 제어에 따라 추적 전압을 발생하기 위한 추적 전압 발생기; 및
상기 외부 제어부의 제어에 따라 입력 신호를 상기 추적 전압 발생기로부터의 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 각각 N번(N은 원하는 해상도를 나타내는 자연수) 반복 수행하여 입력 신호를 아날로그-디지털 변환하기 위한 복수의 SAR 아날로그-디지털 변환 장치
를 포함하며,
상기 추적 전압 발생기는,
순차적으로 수행되는 각 반복 과정마다 이전 반복 과정의 추적 전압보다 기 정해진 비율로 변조된 추적 전압을 발생시키는 SAR 아날로그-디지털 변환 시스템.
- 삭제
- ◈청구항 11은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 9항에 있어서,
상기 추적 전압 발생기는,
첫 번째 반복 과정에서 기 정해진 전압 레벨의 제 1 추적 전압을 발생시키고,
두 번째 반복 과정에서 상기 첫 번째 반복 과정의 제 1 추적 전압보다 기 정해진 비율로 변조된 제 2 추적 전압을 발생시키는 과정을 N 번째 반복 과정까지 수행하는, SAR 아날로그-디지털 변환 시스템.
- ◈청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 9항에 있어서,
각각의 상기 SAR 아날로그-디지털 변환 장치는,
입력 신호를 상기 추적 전압 발생기로부터의 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 N번 반복 수행하여 입력 신호를 아날로그-디지털 변환하기 위한 SAR 아날로그-디지털 변환부;
상기 외부 제어부로부터의 제어 신호에 따라 상기 SAR 아날로그-디지털 변환부로부터의 출력 신호를 선택하기 위한 출력 선택부; 및
상기 출력 선택부에서 선택된 출력 신호에 따라 피드백 제어 신호를 상기 SAR 아날로그-디지털 변환부로 출력하기 위한 피드백 제어부
를 포함하는 SAR 아날로그-디지털 변환 시스템.
- ◈청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 12항에 있어서,
상기 SAR 아날로그-디지털 변환부는,
입력 신호를 샘플링하여 저장하기 위한 제 1 저장 블럭;
상기 제 1 저장 블럭의 입력 신호와 상기 추적 전압 발생기로부터의 제 1 추적 전압을 비교하여 제 1 비교 결과를 출력하고, 상기 제 1 비교 결과에 따른 상기 피드백 제어부로부터의 피드백 제어 신호에 따라 상기 제 1 저장 블럭의 입력 신호를 변조 또는 유지하기 위한 제 1 비교 블럭;
상기 제 1 비교 블럭에서 변조 또는 유지된 입력 신호를 저장하기 위한 제 2 저장 블럭; 및
상기 제 2 저장 블럭의 입력 신호와 상기 추적 전압 발생기로부터의 제 2 추적 전압을 비교하여 제 2 비교 결과를 출력하고, 상기 제 2 비교 결과에 따른 상기 피드백 제어부로부터의 피드백 제어 신호에 따라 상기 제 2 저장 블럭의 입력 신호를 변조 또는 유지하여 상기 제 1 저장 블럭에 저장하기 위한 제 2 비교 블럭을 포함하되,
상기 제 1 및 제 2 비교 블럭과 상기 제 2 저장 블럭은 각 반복 과정마다 변조되는 제 1 및 제 2 추적 전압을 이용하여 N/2번 반복 동작하는, SAR 아날로그-디지털 변환 시스템.
- (a) 순차적으로 수행되는 각 반복 과정마다 이전 반복 과정의 추적 전압보다 기 정해진 비율로 변조된 추적 전압을 발생시키는 단계; 및
(b) 입력 신호를 상기 (a) 단계에서 발생되는 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 N번(N은 원하는 해상도를 나타내는 자연수) 반복 수행하여 입력 신호를 아날로그-디지털 변환하는 단계
를 포함하는 SAR 아날로그-디지털 변환 방법.
- ◈청구항 15은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 14항에 있어서,
상기 (b) 단계는,
입력 신호와 제 1 추적 전압을 비교하여 제 1 비교 결과에 따라 입력 신호를 변조 또는 유지하는 제 1 과정; 및
상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호와 제 2 추적 전압을 비교하여 제 2 비교 결과에 따라 상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호를 변조 또는 유지하는 제 2 과정을 포함하되,
상기 제 2 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호와 세 번째 내지 N 번째 반복 과정의 추적 전압을 이용하여 상기 제 1 및 제 2 과정을 N/2번 반복 수행하는, SAR 아날로그-디지털 변환 방법.
- 입력 신호를 외부의 추적 전압 발생기로부터의 추적 전압과 비교하여 변조하는 과정을 N번 반복 수행하여 입력 신호를 아날로그-디지털 변환하기 위한 SAR 아날로그-디지털 변환부;
외부의 제어부로부터의 제어 신호에 따라 상기 SAR 아날로그-디지털 변환부로부터의 출력 신호를 선택하기 위한 출력 선택부; 및
상기 출력 선택부에서 선택된 출력 신호에 따라 피드백 제어 신호를 상기 SAR 아날로그-디지털 변환부로 출력하기 위한 피드백 제어부
를 포함하는 SAR 아날로그-디지털 변환 장치.
- ◈청구항 17은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 16항에 있어서,
상기 SAR 아날로그-디지털 변환부는,
입력 신호를 샘플링하여 저장하기 위한 제 1 저장 블럭;
상기 제 1 저장 블럭의 입력 신호와 상기 추적 전압 발생기로부터의 제 1 추적 전압을 비교하여 제 1 비교 결과를 출력하고, 상기 제 1 비교 결과에 따른 상기 피드백 제어부로부터의 피드백 제어 신호에 따라 상기 제 1 저장 블럭의 입력 신호를 변조 또는 유지하기 위한 제 1 비교 블럭;
상기 제 1 비교 블럭에서 변조 또는 유지된 입력 신호를 저장하기 위한 제 2 저장 블럭; 및
상기 제 2 저장 블럭의 입력 신호와 상기 추적 전압 발생기로부터의 제 2 추적 전압을 비교하여 제 2 비교 결과를 출력하고, 상기 제 2 비교 결과에 따른 상기 피드백 제어부로부터의 피드백 제어 신호에 따라 상기 제 2 저장 블럭의 입력 신호를 변조 또는 유지하여 상기 제 1 저장 블럭에 저장하기 위한 제 2 비교 블럭을 포함하되,
상기 제 1 및 제 2 비교 블럭과 상기 제 2 저장 블럭은 각 반복 과정마다 변조되는 제 1 및 제 2 추적 전압을 이용하여 N/2번 반복 동작하는, SAR 아날로그-디지털 변환 장치.
- 입력 신호와 제 1 추적 전압을 비교하여 제 1 비교 결과에 따라 입력 신호를 변조 또는 유지하는 제 1 과정; 및
상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호와 제 2 추적 전압을 비교하여 제 2 비교 결과에 따라 상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호를 변조 또는 유지하는 제 2 과정을 포함하되,
상기 제 2 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호와 세 번째 내지 N 번째 반복 과정의 추적 전압을 이용하여 상기 제 1 및 제 2 과정을 N/2번 반복 수행하는, SAR 아날로그-디지털 변환 방법.
- ◈청구항 19은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 18항에 있어서,
상기 제 1 과정은,
입력 신호를 샘플링하여 저장한 후 첫 번째 반복 과정의 제 1 추적 전압과 비교한 후 상기 제 1 비교 결과에 따른 제어에 따라 입력 신호를 변조 또는 유지하여 저장하는, SAR 아날로그-디지털 변환 방법.
- ◈청구항 20은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈제 18항에 있어서,
상기 제 2 과정은,
상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호를 두 번째 반복 과정의 제 2 추적 전압과 비교한 후 상기 제 2 비교 결과에 따른 제어에 따라 상기 제 1 과정에서 변조 또는 유지된 입력 신호를 변조 또는 유지하여 저장하는, SAR 아날로그-디지털 변환 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160112433A KR102519562B1 (ko) | 2016-09-01 | 2016-09-01 | Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 시스템과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 및 그 동작 방법 |
US15/596,014 US9905603B1 (en) | 2016-09-01 | 2017-05-16 | Successive approximation register analog-to-digital converter, CMOS image sensor including the same and operating method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160112433A KR102519562B1 (ko) | 2016-09-01 | 2016-09-01 | Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 시스템과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 및 그 동작 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180026004A KR20180026004A (ko) | 2018-03-12 |
KR102519562B1 true KR102519562B1 (ko) | 2023-04-11 |
Family
ID=61226006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020160112433A Active KR102519562B1 (ko) | 2016-09-01 | 2016-09-01 | Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 시스템과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 및 그 동작 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9905603B1 (ko) |
KR (1) | KR102519562B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102520450B1 (ko) * | 2018-04-17 | 2023-04-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
TWI844557B (zh) * | 2018-09-13 | 2024-06-11 | 日商索尼半導體解決方案公司 | 固態攝像元件、電子機器及電源雜訊修正方法 |
US10291251B1 (en) * | 2018-09-21 | 2019-05-14 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging systems with sub-radix-2 charge sharing successive approximation register (SAR) analog-to-digital converters |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5907299A (en) * | 1996-10-23 | 1999-05-25 | Sonix Technologies, Inc. | Analog-to digital converter with delta-sigma modulator |
TWI446723B (zh) * | 2011-03-08 | 2014-07-21 | Univ Macau | 類比至數位轉換器電路 |
US8581761B1 (en) | 2012-10-12 | 2013-11-12 | Aptina Imaging Corporation | Methods and apparatus for performing code correction for hybrid analog-to-digital converters in imaging devices |
KR102174204B1 (ko) | 2014-04-22 | 2020-11-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | Sar 및 ss 아날로그-디지털 변환 장치 및 그 방법과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 |
US9602116B1 (en) * | 2016-01-07 | 2017-03-21 | Inphi Corporation | Interleaved successive approximation register analog to digital converter |
US9584144B1 (en) * | 2016-04-21 | 2017-02-28 | Xilinx, Inc. | Asynchronous clock generation for time-interleaved successive approximation analog to digital converters |
-
2016
- 2016-09-01 KR KR1020160112433A patent/KR102519562B1/ko active Active
-
2017
- 2017-05-16 US US15/596,014 patent/US9905603B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180061881A1 (en) | 2018-03-01 |
US9905603B1 (en) | 2018-02-27 |
KR20180026004A (ko) | 2018-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8659462B2 (en) | Successive approximation register analog-to-digital converter and analog-to-digital conversion method using the same | |
US10797714B2 (en) | Pipelined SAR with TDC converter | |
KR102431242B1 (ko) | Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 그 시스템 | |
US8643529B2 (en) | SAR assisted pipelined ADC and method for operating the same | |
KR20100073009A (ko) | 다단 듀얼 연속 근사 레지스터 아날로그 디지털 변환기 및 이를 이용한 아날로그 디지털 변환 방법 | |
US8508392B2 (en) | Pipelined analog digital converter | |
US10498992B2 (en) | Single-slope comparison device with low-noise, and analog-to-digital conversion device and CMOS image sensor including the same | |
US20130127646A1 (en) | Multiplying digital-to-analog converter (dac) | |
KR20190044261A (ko) | 저잡음 싱글-슬롭 비교 장치 및 그에 따른 아날로그-디지털 변환 장치와 씨모스 이미지 센서 | |
KR102519562B1 (ko) | Sar 아날로그-디지털 변환 장치 및 시스템과 그에 따른 씨모스 이미지 센서 및 그 동작 방법 | |
JP2017060071A (ja) | 半導体装置 | |
US10715757B2 (en) | A/D converter | |
JP2009218964A (ja) | アナログデジタル変換回路およびそれを搭載した撮像装置 | |
Huang et al. | A 10-bit 100 MS/s successive approximation register analog-to-digital converter design | |
JP5695629B2 (ja) | 逐次比較型a/d変換器及びそれを用いたマルチビットデルタシグマ変調器 | |
KR101364987B1 (ko) | 아날로그 입력신호 범위 확장을 통한 데이터 변환이 가능한 파이프라인 아날로그-디지털 변환기 | |
TWI826142B (zh) | 差分分級式類比數位轉換器及其操作方法與影像感測系統 | |
KR102336896B1 (ko) | 아날로그-디지털 변환 장치 및 이를 포함하는 이미지 센싱 장치 및 방법 | |
US7728751B2 (en) | Pipelined converter | |
US7652612B2 (en) | Cyclic pipeline analog-to-digital converter | |
KR101899012B1 (ko) | 축차 비교형 아날로그-디지털 변환기 및 이를 포함하는 cmos 이미지 센서 | |
KR20170025627A (ko) | 영상 신호를 변환하는 아날로그 디지털 변환 장치 | |
WO2022266792A1 (zh) | 斜坡发生器、图像传感器和产生斜坡电压的方法 | |
JP2005012250A (ja) | A/d変換器 | |
KR101692698B1 (ko) | 변환 시간이 스케일링되는 알고리즘 아날로그 디지털 변환기 및 이를 이용한 변환 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20160901 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20210510 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20160901 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20220928 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20230227 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20230404 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20230405 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |