KR102502993B1 - 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 본 발명에 의한 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템의 주요부인 수평 다이의 일측면도,
도 3은 도 2의 평면도,
도 4는 본 발명에 의한 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템의 다른 주요부인 지그의 일측면도,
도 5는 본 발명에 의한 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템의 다른 주요부인 틸팅 작동 샤프트에 결합되는 틸팅 작동 블록의 평면도,
도 6은 도 5의 일측면도,
도 7은 도 4에 도시된 지그에 결합되는 스페이서의 평면도,
도 8은 도 7의 일측면도,
도 9는 본 발명의 다른 주요부인 각도 계측기의 평면도,
도 10은 도 9에 도시된 각도 계측기의 각도 표시 눈금을 정면에서 보여주는 도면,
도 11은 도 10의 일측면도,
도 12는 본 발명에 의한 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템의 평면도,
도 13은 도 12에 도시된 주요부인 지그를 상향 경사지게 회동시키기 이전의 상태를 보여주는 일측면도,
도 14는 도 12에 도시된 주요부인 지그를 상향 경사지게 회동시킨 상태를 보여주는 일측면도,
도 15는 본 발명의 다른 실시예의 주요부인 지그와 진공 챔버의 구조를 보여주는 측단면도,
도 16은 본 발명의 다른 실시예의 주요부인 지그와 진공 챔버 및 진공 장치의 구조를 보여주는 평면도,
도 17은 본 발명의 또 다른 실시예의 주요부인 결합 브라켓을 틸팅 작동 블록의 일측면에 결합한 상태를 보여주는 측면도,
도 18은 도 17에 도시된 결합 브라켓에 의해 틸팅 작동 블록의 샤프트측 가이드 경사면에 한 개의 경사 각도 셋팅편을 결합한 상태를 보여주는 측면도,
도 19는 도 17에 도시된 결합 브라켓에 의해 틸팅 작동 블록의 샤프트측 가이드 경사면에 두 개의 경사 각도 셋팅편을 결합한 상태를 보여주는 측면도,
도 20은 본 발명의 또 다른 실시예의 주요부인 하부 링체 지지편과 상부 링체 지지편과 하부 원주 링체와 상부 원주 링체 부분의 구조를 보여주는 정단면도,
도 21은 도 20에 도시된 와 상부 원주 링체가 하부 원주 링체의 위쪽으로 회동된 상태를 보여주는 정단면도,
도 22는 본 발명의 또 다른 실시예의 주요부인 클램프 프레임 부분의 구조를 보여주는 평면도,
도 23은 도 22에 도시된 복수개의 클램핑 바아 사이에 소켓이 결합되기 이전의 상태를 보여주는 종단면도,
도 24는 도 23에 도시된 복수개의 클램핑 바아 사이에 소켓이 결합된 상태를 보여주는 종단면도이다.
120. 지그 122. 틸팅 가이드 경사면
124. 스페이서 안착홈 126. 스페이서
126G. 소켓 모재 안착홈 128. 곡면 형상부
130. 수평 테이블 132. 틸팅 지지 힌지
140. 틸팅 작동 샤프트 142. 틸팅 작동 블록
144. 샤프트측 가이드 경사면 150. 각도 계측기
1120. 진공 챔버 1122. 진공 석션홀
1224. 진공 장치 1140. 볼트 결합홀
1142. 결합 브라켓 1142FP. 고정편
1142BH. 볼트 통과홀 1142CP. 결합 지지턱
1146. 경사 각도 셋팅편 1146CSP. 결합 슬라이드편
1152. 하부 링체 지지편 1152CG. 하부 원주홈
1154. 상부 링체 지지편 1154CG. 상부 원주홈
1162. 하부 원주 링체 1162BH. 하부 볼돌출홀
1164. 상부 원주 링체 1164BH. 상부 볼돌출홀
1172. 원형 판스프링 1172HCH. 하우징 결합홀
1182. 하부 하우징 BL. 볼
SPR. 스프링 CAP. 캡
1184. 상부 하우징 1192. 외부 판스프링
1210. 클램프 프레임 1212. 클램핑 지지핀
1214. 클램핑 바아 1216. 클램핑 탄성체
Claims (5)
- 반도체 소자 테스트용 소켓(2)을 지지하는 지그(120);
상기 지그(120)의 일측을 수평 다이(130)에 연결하는 틸팅 지지 힌지(132);
상기 틸팅 지지 힌지(132)와 마주하는 위치에서 상기 지그(120)의 하부로 진입하여 상기 지그(120)를 상기 틸팅 지지 힌지(132)를 기준으로 상향 회동시켜서 상기 소켓(2)을 상기 수평 다이(130)에 대하여 상향 경사지도록 하는 틸팅 작동 샤프트(140);를 포함하고,
상기 지그(120)의 저면에는 상기 틸팅 지지 힌지(132)에서 멀어지는 방향으로 갈수록 상향 경사진 틸팅 가이드 경사면(122)이 구비되고, 상기 틸팅 작동 샤프트(140)의 선단부에는 틸팅 작동 블록(142)이 구비되고, 상기 틸팅 작동 블록(142)의 전면에는 상기 틸팅 가이드 경사면(122)에서 멀어지는 방향으로 갈수록 상하면 사이의 높이가 점점 높아지는 샤프트측 가이드 경사면(144)이 구비되어, 상기 틸팅 가이드 경사면(122)에 상기 샤프트측 가이드 경사면(144)이 접촉된 상태에서 상기 틸팅 작동 샤프트(140)에 구비된 상기 틸팅 작동 블록(142)이 상기 지그(120)의 저면 쪽으로 진입하여 상기 지그(120)가 상기 틸팅 지지 힌지(132)를 기준으로 상향 경사지도록 함으로써, 상기 지그(120)에 지지된 상기 소켓(2)이 상향 경사지도록 하고,
상기 지그(120)의 상면에는 스페이서 안착홈(124)이 구비되고, 상기 스페이서 안착홈(124)에 스페이서(126)가 안착되어 고정되고, 상기 스페이서(126)에는 소켓 안착홈(126G)이 구비되고, 상기 소켓 안착홈(126G)에 상기 소켓(2)이 안착되어, 상기 지그(120)에 상기 소켓(2)이 지지되도록 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템.
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 지그(120)의 양측에는 구 형태로 구현된 곡면 형상부(128)가 구비되어, 상기 지그(120)와 상기 소켓(2)이 상기 수평 다이(130)에서 상향 경사진 상태에서 수평 방향으로 기준 공구가 들어올 때에 상기 기준 공구의 팁이 상기 곡면 형상부(128)에 터치되지 않고 상기 곡면 형상부(128)를 지나가서 상기 소켓(2)에서 타겟 지점을 터치하여 천공기에 의한 천공 작업시 요구되는 기준점을 에러없이 잡을 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템.
- 제1항에 있어서,
상기 수평 다이(130)에는 각도 계측기(150)가 구비되어, 상기 지그(120)가 상향 경사진 상태에서 상기 지그(120)의 일측면이 기울어진 각도를 상기 각도 계측기(150)의 눈금으로 확인하여 상기 지그(120)의 상향 경사지게 기울어진 각도를 설정하여, 상기 소켓(2)에 형성되는 구멍(2H)의 경사 각도를 설정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템.
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KR1020220041414A KR102502993B1 (ko) | 2022-04-02 | 2022-04-02 | 반도체 소자 소켓용 홀 성형 시스템 |
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