KR102410318B1 - 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체 - Google Patents
표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102410318B1 KR102410318B1 KR1020197000090A KR20197000090A KR102410318B1 KR 102410318 B1 KR102410318 B1 KR 102410318B1 KR 1020197000090 A KR1020197000090 A KR 1020197000090A KR 20197000090 A KR20197000090 A KR 20197000090A KR 102410318 B1 KR102410318 B1 KR 102410318B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- acoustic wave
- hybrid structure
- layer
- surface acoustic
- nanocavities
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H01L41/083—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/50—Piezoelectric or electrostrictive devices having a stacked or multilayer structure
-
- H01L41/081—
-
- H01L41/1873—
-
- H01L41/312—
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
- H03H3/10—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves for obtaining desired frequency or temperature coefficient
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
- H03H9/02574—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/01—Manufacture or treatment
- H10N30/07—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base
- H10N30/072—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by laminating or bonding of piezoelectric or electrostrictive bodies
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/704—Piezoelectric or electrostrictive devices based on piezoelectric or electrostrictive films or coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/704—Piezoelectric or electrostrictive devices based on piezoelectric or electrostrictive films or coatings
- H10N30/706—Piezoelectric or electrostrictive devices based on piezoelectric or electrostrictive films or coatings characterised by the underlying bases, e.g. substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/704—Piezoelectric or electrostrictive devices based on piezoelectric or electrostrictive films or coatings
- H10N30/706—Piezoelectric or electrostrictive devices based on piezoelectric or electrostrictive films or coatings characterised by the underlying bases, e.g. substrates
- H10N30/708—Intermediate layers, e.g. barrier, adhesion or growth control buffer layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/80—Constructional details
- H10N30/85—Piezoelectric or electrostrictive active materials
- H10N30/853—Ceramic compositions
- H10N30/8542—Alkali metal based oxides, e.g. lithium, sodium or potassium niobates
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Abstract
Description
- 도 1은 본 발명에 따른 하이브리드 구조체를 도시한 것이다.
- 도 2a 내지 도 2e는 본 발명에 따른 하이브리드 구조체의 단면도(2a) 및 평면도(2b 내지 2e)를 도시한 것이다.
- 도 3은 본 발명에 따른 하이브리드 구조체를 도시한 것이다.
- 도 4는 본 발명에 따른 표면 음향파 디바이스를 도시한 것이다.
- 도 5a 내지 도 5e는 제 1 실시형태에 따른 하이브리드 구조체의 제조 방법을 도시한 것이다.
- 도 6a 및 도 6b는 제 2 실시형태에 따른 하이브리드 구조체의 제조 방법을 도시한 것이다.
- 도 7a 내지 도 7c는 제 3 실시형태에 따른 하이브리드 구조체의 제조 방법을 도시한 것이다.
Claims (13)
- 지지 기판(20) 상에 배치된 제 1 자유(free) 면(1) 및 제 2 면(2)을 갖는 가용 압전 층(useful piezoelectric layer)(10)을 포함하는 표면 음향파 디바이스(surface acoustic wave device)용 하이브리드 구조체(100)로서, 상기 지지 기판(20)은 상기 가용 층(10)보다 낮은 열팽창 계수를 가지며, 상기 하이브리드 구조체(100)는 상기 가용 층(10)이 나노캐비티들(nanocavities)(31)의 영역(30)을 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100).
- 제 1 항에 있어서,
상기 나노캐비티들(31)의 영역(30)은 50 nm 내지 3 ㎛의 기능적 두께(functional thickness)를 갖는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 나노캐비티들(31)의 영역(30)은 상기 가용 층(10)의 상기 제 2 면(2)으로부터 50 nm 초과의 거리에 위치하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 나노캐비티들(31)은, 적어도 부분적으로, 1 nm 내지 500 nm의 최대 크기를 갖는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 나노캐비티들(31)의 영역(30)은 상기 가용 층(10)의 상기 제 2 면(2)에 평행한 평면에서 연장되는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 지지 기판(20)은 실리콘, 유리, 실리카, 사파이어, 알루미나, 알루미늄 니트라이드 및 실리콘 카바이드 중에서 선택된 재료를 포함하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 가용 층(10)은 리튬 탄탈레이트(LiTaO3), 리튬 니오베이트(LiNbO3), 석영 및 산화 아연(ZnO) 중에서 선택된 압전 재료를 포함하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 가용 층(10)의 상기 제 2 면(2)과 상기 지지 기판(20) 사이에 위치되는 중간 층(40)을 포함하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100). - 제 1 항 또는 제 2 항에 따른 하이브리드 구조체(100)를 포함하는 표면 음향파 디바이스(200).
- 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100)의 제조 방법으로서,
a) 제 1 면(1) 및 제 2 면(2)을 갖는 가용 압전 층(10)을 제공하는 단계;
b) 상기 가용 층(10)보다 낮은 열팽창 계수를 갖는 지지 기판(20)을 제공하는 단계;
c) 상기 지지 기판(20) 상에 상기 가용 층(10)의 상기 제 2 면(2)을 조립하는 단계를 포함하며,
상기 방법은 나노캐비티들(31)의 영역(30)을 형성하기 위해 상기 가용 층(10) 내에 가스 종들(gaseous species)을 도입하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100)의 제조 방법. - 제 10 항에 있어서,
상기 가스 종들을 도입하는 단계는 수소, 헬륨, 아르곤 및 다른 희귀 가스들 중에서 선택된 하나 이상의 이온 주입을 포함하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100)의 제조 방법. - 제 10 항 또는 제 11 항에 있어서,
상기 가스 종들을 도입하는 단계 이후에 열처리 단계를 포함하는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100)의 제조 방법. - 제 10 항 또는 제 11 항에 있어서,
상기 가용 층 내에 상기 가스 종들을 도입하는 것은 마스크를 적용하여 국부적으로 수행되는 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체(100)의 제조 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1655030A FR3052298B1 (fr) | 2016-06-02 | 2016-06-02 | Structure hybride pour dispositif a ondes acoustiques de surface |
FR1655030 | 2016-06-02 | ||
PCT/FR2017/051339 WO2017207911A1 (fr) | 2016-06-02 | 2017-05-30 | Structure hybride pour dispositif a ondes acoustiques de surface |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190014072A KR20190014072A (ko) | 2019-02-11 |
KR102410318B1 true KR102410318B1 (ko) | 2022-06-17 |
Family
ID=56322239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020197000090A Active KR102410318B1 (ko) | 2016-06-02 | 2017-05-30 | 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11800803B2 (ko) |
EP (1) | EP3465784B1 (ko) |
JP (1) | JP7057288B2 (ko) |
KR (1) | KR102410318B1 (ko) |
CN (1) | CN109219896B (ko) |
FR (1) | FR3052298B1 (ko) |
SG (1) | SG11201810733PA (ko) |
WO (1) | WO2017207911A1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210211114A1 (en) * | 2020-01-03 | 2021-07-08 | Wisol Co., Ltd. | Surface acoustic wave device and manufacturing method thereof |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020098910A1 (en) * | 2018-11-13 | 2020-05-22 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Surface acoustic wave device with phononic crystal |
DE102018131946A1 (de) * | 2018-12-12 | 2020-06-18 | RF360 Europe GmbH | Dünnfilm-SAW-Vorrichtung |
FR3091032B1 (fr) * | 2018-12-20 | 2020-12-11 | Soitec Silicon On Insulator | Procédé de transfert d’une couche superficielle sur des cavités |
CN111490748B (zh) * | 2020-02-28 | 2024-06-04 | 武汉敏声新技术有限公司 | 一种薄膜体声波谐振器 |
EP3896850A1 (en) * | 2020-04-14 | 2021-10-20 | IQE plc | Layered structure with regions of localized strain in crystalline rare earth oxides |
CN113629182A (zh) * | 2020-05-08 | 2021-11-09 | 济南晶正电子科技有限公司 | 一种tc-saw复合衬底及其制备方法 |
CN112382559B (zh) * | 2020-11-13 | 2024-06-11 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种异质薄膜结构及其制备方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090224853A1 (en) | 2008-03-07 | 2009-09-10 | Oh Young Joo | Piezoelectric substrate and surface acoustic wave filter using the same |
US20160065162A1 (en) | 2013-04-08 | 2016-03-03 | Soitec | Advanced thermally compensated surface acoustic wave device and fabrication |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004045181B4 (de) * | 2004-09-17 | 2016-02-04 | Epcos Ag | SAW-Bauelement mit reduziertem Temperaturgang und Verfahren zur Herstellung |
JP2008219720A (ja) * | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 弾性表面波デバイス |
EP2246978B1 (en) * | 2008-01-24 | 2018-01-03 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Method for manufacturing elastic wave element |
JP5429200B2 (ja) | 2010-05-17 | 2014-02-26 | 株式会社村田製作所 | 複合圧電基板の製造方法および圧電デバイス |
JP5695394B2 (ja) * | 2010-11-17 | 2015-04-01 | 日本碍子株式会社 | 複合基板の製法 |
JP5814774B2 (ja) * | 2010-12-22 | 2015-11-17 | 日本碍子株式会社 | 複合基板及び複合基板の製造方法 |
WO2012086639A1 (ja) * | 2010-12-24 | 2012-06-28 | 株式会社村田製作所 | 弾性波装置及びその製造方法 |
-
2016
- 2016-06-02 FR FR1655030A patent/FR3052298B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-05-30 WO PCT/FR2017/051339 patent/WO2017207911A1/fr unknown
- 2017-05-30 EP EP17732512.3A patent/EP3465784B1/fr active Active
- 2017-05-30 SG SG11201810733PA patent/SG11201810733PA/en unknown
- 2017-05-30 JP JP2018563171A patent/JP7057288B2/ja active Active
- 2017-05-30 CN CN201780034366.2A patent/CN109219896B/zh active Active
- 2017-05-30 KR KR1020197000090A patent/KR102410318B1/ko active Active
- 2017-05-30 US US16/306,822 patent/US11800803B2/en active Active
-
2023
- 2023-10-12 US US18/485,899 patent/US20240040930A1/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090224853A1 (en) | 2008-03-07 | 2009-09-10 | Oh Young Joo | Piezoelectric substrate and surface acoustic wave filter using the same |
US20160065162A1 (en) | 2013-04-08 | 2016-03-03 | Soitec | Advanced thermally compensated surface acoustic wave device and fabrication |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210211114A1 (en) * | 2020-01-03 | 2021-07-08 | Wisol Co., Ltd. | Surface acoustic wave device and manufacturing method thereof |
US12199587B2 (en) * | 2020-01-03 | 2025-01-14 | Wisol Co., Ltd. | Surface acoustic wave device and manufacturing method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20190014072A (ko) | 2019-02-11 |
WO2017207911A1 (fr) | 2017-12-07 |
JP2019520753A (ja) | 2019-07-18 |
EP3465784B1 (fr) | 2020-04-08 |
CN109219896A (zh) | 2019-01-15 |
FR3052298A1 (fr) | 2017-12-08 |
US20190165252A1 (en) | 2019-05-30 |
FR3052298B1 (fr) | 2018-07-13 |
JP7057288B2 (ja) | 2022-04-19 |
US11800803B2 (en) | 2023-10-24 |
CN109219896B (zh) | 2022-11-22 |
EP3465784A1 (fr) | 2019-04-10 |
US20240040930A1 (en) | 2024-02-01 |
SG11201810733PA (en) | 2018-12-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102410318B1 (ko) | 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체 | |
CN109417124B (zh) | 用于表面声波器件的混合结构 | |
US12108678B2 (en) | Hybrid structure for a surface acoustic wave device | |
CN108475722B (zh) | 用于温度补偿表面声波器件或体声波器件的衬底 | |
TW201804510A (zh) | 複合晶圓之製造方法 | |
CN113872557B (zh) | 用于声表面波器件的复合衬底及制造方法、声表面波器件 | |
US20250023543A1 (en) | Composite substrate for surface acoustic wave device and manufacturing method thereof | |
US11942915B2 (en) | Bulk acoustic wave resonator device and method of manufacturing thereof | |
CN117439572A (zh) | 声表面波谐振装置及形成方法、滤波装置 | |
JP2023520662A (ja) | 高周波デバイスのための、圧電層を転写するのに使用できる圧電構造体を製造するための方法、及びそのような圧電層を転写するための方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 20190102 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20200318 Comment text: Request for Examination of Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20211129 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20220607 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20220614 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20220615 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20250522 Start annual number: 4 End annual number: 4 |