KR102325621B1 - Curable resin composition, cured film, wavelength conversion film, method for forming light emitting layer, and light emitting display device - Google Patents
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- 239000011342 resin composition Substances 0.000 title claims abstract description 146
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 128
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 81
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 claims abstract description 143
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 130
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 95
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 75
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims abstract description 50
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims abstract description 32
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 claims abstract description 30
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims abstract description 30
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 56
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 51
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 36
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 26
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 23
- 239000003505 polymerization initiator Substances 0.000 claims description 23
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 17
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 15
- GOOHAUXETOMSMM-UHFFFAOYSA-N Propylene oxide Chemical group CC1CO1 GOOHAUXETOMSMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 11
- IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N Ethylene oxide Chemical group C1CO1 IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 7
- 125000004400 (C1-C12) alkyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 claims description 4
- 229910052795 boron group element Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052800 carbon group element Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910001849 group 12 element Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052696 pnictogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 233
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 104
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 66
- 230000008569 process Effects 0.000 description 50
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 28
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 28
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 28
- -1 propylene oxide modified trimethylolpropane Chemical class 0.000 description 25
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 22
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 20
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 19
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 18
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 18
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 description 15
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 14
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 11
- 239000011258 core-shell material Substances 0.000 description 10
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N monopropylene glycol Natural products CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 10
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 9
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 9
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 8
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 8
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 229920001195 polyisoprene Polymers 0.000 description 6
- 150000005215 alkyl ethers Chemical class 0.000 description 5
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 5
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 5
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 4
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 4
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N limonene Chemical compound CC(=C)C1CCC(C)=CC1 XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JKQRNTIBBOTABS-UHFFFAOYSA-N 2-(2,4-dichlorophenyl)-1-[2-(2,4-dichlorophenyl)-4,5-diphenylimidazol-2-yl]-4,5-diphenylimidazole Chemical compound ClC1=CC(Cl)=CC=C1C(N1C2(N=C(C(=N2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC(Cl)=CC=2)Cl)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 JKQRNTIBBOTABS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1-(4-methylsulfanylphenyl)-2-morpholin-4-ylpropan-1-one Chemical compound C1=CC(SC)=CC=C1C(=O)C(C)(C)N1CCOCC1 LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PGDIJTMOHORACQ-UHFFFAOYSA-N 9-prop-2-enoyloxynonyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCCCCCCCCCOC(=O)C=C PGDIJTMOHORACQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N Acetophenone Natural products CC(=O)C1=CC=CC=C1 KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XRMBQHTWUBGQDN-UHFFFAOYSA-N [2-[2,2-bis(prop-2-enoyloxymethyl)butoxymethyl]-2-(prop-2-enoyloxymethyl)butyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(CC)COCC(CC)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C XRMBQHTWUBGQDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 3
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 3
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 3
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 3
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 3
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 3
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 3
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 210000001785 incus Anatomy 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007870 radical polymerization initiator Substances 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- CXWXQJXEFPUFDZ-UHFFFAOYSA-N tetralin Chemical compound C1=CC=C2CCCCC2=C1 CXWXQJXEFPUFDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GRWFGVWFFZKLTI-IUCAKERBSA-N (-)-α-pinene Chemical compound CC1=CC[C@@H]2C(C)(C)[C@H]1C2 GRWFGVWFFZKLTI-IUCAKERBSA-N 0.000 description 2
- QNLZIZAQLLYXTC-UHFFFAOYSA-N 1,2-dimethylnaphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=C(C)C(C)=CC=C21 QNLZIZAQLLYXTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YUTHQCGFZNYPIG-UHFFFAOYSA-N 1-[2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethyl]cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCC1(C(O)=O)CCCCC1C(O)=O YUTHQCGFZNYPIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RWEAGLZFYKQPLZ-UHFFFAOYSA-N 1-[4,5-diphenyl-2-(2,4,6-trichlorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-diphenyl-2-(2,4,6-trichlorophenyl)imidazole Chemical compound ClC1=CC(Cl)=CC(Cl)=C1C(N1C2(N=C(C(=N2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC(Cl)=CC=2Cl)Cl)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 RWEAGLZFYKQPLZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RHNJVKIVSXGYBD-UHFFFAOYSA-N 10-prop-2-enoyloxydecyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCCCCCCCCCCOC(=O)C=C RHNJVKIVSXGYBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHDULSOPQSUKBQ-UHFFFAOYSA-N 2-(2-chlorophenyl)-1-[2-(2-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazol-2-yl]-4,5-diphenylimidazole Chemical compound ClC1=CC=CC=C1C(N1C2(N=C(C(=N2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)Cl)=NC(C=2C=CC=CC=2)=C1C1=CC=CC=C1 MHDULSOPQSUKBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PUBNJSZGANKUGX-UHFFFAOYSA-N 2-(dimethylamino)-2-[(4-methylphenyl)methyl]-1-(4-morpholin-4-ylphenyl)butan-1-one Chemical compound C=1C=C(N2CCOCC2)C=CC=1C(=O)C(CC)(N(C)C)CC1=CC=C(C)C=C1 PUBNJSZGANKUGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PFHOSZAOXCYAGJ-UHFFFAOYSA-N 2-[(2-cyano-4-methoxy-4-methylpentan-2-yl)diazenyl]-4-methoxy-2,4-dimethylpentanenitrile Chemical compound COC(C)(C)CC(C)(C#N)N=NC(C)(C#N)CC(C)(C)OC PFHOSZAOXCYAGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYGWHHGCAGTUCH-UHFFFAOYSA-N 2-[(2-cyano-4-methylpentan-2-yl)diazenyl]-2,4-dimethylpentanenitrile Chemical compound CC(C)CC(C)(C#N)N=NC(C)(C#N)CC(C)C WYGWHHGCAGTUCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CNPVJWYWYZMPDS-UHFFFAOYSA-N 2-methyldecane Chemical compound CCCCCCCCC(C)C CNPVJWYWYZMPDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RGSFGYAAUTVSQA-UHFFFAOYSA-N Cyclopentane Chemical compound C1CCCC1 RGSFGYAAUTVSQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N Ethylbenzene Chemical compound CCC1=CC=CC=C1 YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N Hydroxyethyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCO WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PWATWSYOIIXYMA-UHFFFAOYSA-N Pentylbenzene Chemical compound CCCCCC1=CC=CC=C1 PWATWSYOIIXYMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000004115 Sodium Silicate Substances 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEBCLRKUSAGCDF-UHFFFAOYSA-N ac1mi23b Chemical compound C1C2C3C(COC(=O)C=C)CCC3C1C(COC(=O)C=C)C2 VEBCLRKUSAGCDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 150000001244 carboxylic acid anhydrides Chemical class 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 2
- RWGFKTVRMDUZSP-UHFFFAOYSA-N cumene Chemical compound CC(C)C1=CC=CC=C1 RWGFKTVRMDUZSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HGCIXCUEYOPUTN-UHFFFAOYSA-N cyclohexene Chemical compound C1CCC=CC1 HGCIXCUEYOPUTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NNBZCPXTIHJBJL-UHFFFAOYSA-N decalin Chemical compound C1CCCC2CCCCC21 NNBZCPXTIHJBJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000005879 dioxolanyl group Chemical group 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SZXQTJUDPRGNJN-UHFFFAOYSA-N dipropylene glycol Chemical compound OCCCOCCCO SZXQTJUDPRGNJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N dodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GHLKSLMMWAKNBM-UHFFFAOYSA-N dodecane-1,12-diol Chemical compound OCCCCCCCCCCCCO GHLKSLMMWAKNBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- IIEWJVIFRVWJOD-UHFFFAOYSA-N ethylcyclohexane Chemical compound CCC1CCCCC1 IIEWJVIFRVWJOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 2
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- UAEPNZWRGJTJPN-UHFFFAOYSA-N methylcyclohexane Chemical compound CC1CCCCC1 UAEPNZWRGJTJPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- OTLDLKLSNZMTTA-UHFFFAOYSA-N octahydro-1h-4,7-methanoindene-1,5-diyldimethanol Chemical compound C1C2C3C(CO)CCC3C1C(CO)C2 OTLDLKLSNZMTTA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 2
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 2
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N propylene Natural products CC=C QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052911 sodium silicate Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 2
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000001988 toxicity Effects 0.000 description 2
- 231100000419 toxicity Toxicity 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- RSJKGSCJYJTIGS-UHFFFAOYSA-N undecane Chemical compound CCCCCCCCCCC RSJKGSCJYJTIGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- WTARULDDTDQWMU-RKDXNWHRSA-N (+)-β-pinene Chemical compound C1[C@H]2C(C)(C)[C@@H]1CCC2=C WTARULDDTDQWMU-RKDXNWHRSA-N 0.000 description 1
- WTARULDDTDQWMU-IUCAKERBSA-N (-)-Nopinene Natural products C1[C@@H]2C(C)(C)[C@H]1CCC2=C WTARULDDTDQWMU-IUCAKERBSA-N 0.000 description 1
- SSLASPHAKUVIRG-UHFFFAOYSA-N (2-methylcyclohexyl) prop-2-enoate Chemical compound CC1CCCCC1OC(=O)C=C SSLASPHAKUVIRG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RSHKWPIEJYAPCL-UHFFFAOYSA-N (3-ethyloxetan-3-yl)methyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1(CC)COC1 RSHKWPIEJYAPCL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002818 (Hydroxyethyl)methacrylate Polymers 0.000 description 1
- QYGBYAQGBVHMDD-XQRVVYSFSA-N (z)-2-cyano-3-thiophen-2-ylprop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C(\C#N)=C/C1=CC=CS1 QYGBYAQGBVHMDD-XQRVVYSFSA-N 0.000 description 1
- HSLFISVKRDQEBY-UHFFFAOYSA-N 1,1-bis(tert-butylperoxy)cyclohexane Chemical compound CC(C)(C)OOC1(OOC(C)(C)C)CCCCC1 HSLFISVKRDQEBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NNNLYDWXTKOQQX-UHFFFAOYSA-N 1,1-di(prop-2-enoyloxy)propyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC(CC)(OC(=O)C=C)OC(=O)C=C NNNLYDWXTKOQQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SGUVLZREKBPKCE-UHFFFAOYSA-N 1,5-diazabicyclo[4.3.0]-non-5-ene Chemical compound C1CCN=C2CCCN21 SGUVLZREKBPKCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ALVZNPYWJMLXKV-UHFFFAOYSA-N 1,9-Nonanediol Chemical compound OCCCCCCCCCO ALVZNPYWJMLXKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWMWNFMRSKOCEY-UHFFFAOYSA-N 1-Phenyl-1,2-ethanediol Chemical compound OCC(O)C1=CC=CC=C1 PWMWNFMRSKOCEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012956 1-hydroxycyclohexylphenyl-ketone Substances 0.000 description 1
- HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 1-phenylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C1=CC=CC=C1 HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WBELHNUIWMNAFH-UHFFFAOYSA-N 12-prop-2-enoyloxydodecyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCCCCCCCCCCCCOC(=O)C=C WBELHNUIWMNAFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,6,7,8,9,10-octahydropyrimido[1,2-a]azepine Chemical compound C1CCCCN2CCCN=C21 GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LZHUBCULTHIFNO-UHFFFAOYSA-N 2,4-dihydroxy-1,5-bis[4-(2-hydroxyethoxy)phenyl]-2,4-dimethylpentan-3-one Chemical compound C=1C=C(OCCO)C=CC=1CC(C)(O)C(=O)C(O)(C)CC1=CC=C(OCCO)C=C1 LZHUBCULTHIFNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MIYRHXBYLQWDQS-UHFFFAOYSA-N 2-(2-ethoxypropoxy)-1-methoxypropane Chemical compound CCOC(C)COC(C)COC MIYRHXBYLQWDQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 2-(3-fluorophenyl)-1h-imidazole Chemical compound FC1=CC=CC(C=2NC=CN=2)=C1 JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JGECUZIUOJQRMH-UHFFFAOYSA-N 2-[2,2-bis(1-prop-2-enoyloxypropan-2-yloxymethyl)butoxy]propyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(C)OCC(CC)(COC(C)COC(=O)C=C)COC(C)COC(=O)C=C JGECUZIUOJQRMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WMYINDVYGQKYMI-UHFFFAOYSA-N 2-[2,2-bis(hydroxymethyl)butoxymethyl]-2-ethylpropane-1,3-diol Chemical compound CCC(CO)(CO)COCC(CC)(CO)CO WMYINDVYGQKYMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LBNDGEZENJUBCO-UHFFFAOYSA-N 2-[2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethyl]butanedioic acid Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCC(C(O)=O)CC(O)=O LBNDGEZENJUBCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UHFFVFAKEGKNAQ-UHFFFAOYSA-N 2-benzyl-2-(dimethylamino)-1-(4-morpholin-4-ylphenyl)butan-1-one Chemical compound C=1C=C(N2CCOCC2)C=CC=1C(=O)C(CC)(N(C)C)CC1=CC=CC=C1 UHFFVFAKEGKNAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WDQMWEYDKDCEHT-UHFFFAOYSA-N 2-ethylhexyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C(C)=C WDQMWEYDKDCEHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XMLYCEVDHLAQEL-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one Chemical compound CC(C)(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 XMLYCEVDHLAQEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GTJOHISYCKPIMT-UHFFFAOYSA-N 2-methylundecane Chemical compound CCCCCCCCCC(C)C GTJOHISYCKPIMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UJTRCPVECIHPBG-UHFFFAOYSA-N 3-cyclohexylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1NC(=O)C(C2CCCCC2)=C1 UJTRCPVECIHPBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QMYGFTJCQFEDST-UHFFFAOYSA-N 3-methoxybutyl acetate Chemical compound COC(C)CCOC(C)=O QMYGFTJCQFEDST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VATRWWPJWVCZTA-UHFFFAOYSA-N 3-oxo-n-[2-(trifluoromethyl)phenyl]butanamide Chemical compound CC(=O)CC(=O)NC1=CC=CC=C1C(F)(F)F VATRWWPJWVCZTA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IYMZEPRSPLASMS-UHFFFAOYSA-N 3-phenylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1NC(=O)C(C=2C=CC=CC=2)=C1 IYMZEPRSPLASMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VFXXTYGQYWRHJP-UHFFFAOYSA-N 4,4'-azobis(4-cyanopentanoic acid) Chemical compound OC(=O)CCC(C)(C#N)N=NC(C)(CCC(O)=O)C#N VFXXTYGQYWRHJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003373 AgInS2 Inorganic materials 0.000 description 1
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004342 Benzoyl peroxide Substances 0.000 description 1
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010007269 Carcinogenicity Diseases 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 239000001293 FEMA 3089 Substances 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SGVYKUFIHHTIFL-UHFFFAOYSA-N Isobutylhexyl Natural products CCCCCCCC(C)C SGVYKUFIHHTIFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NHTMVDHEPJAVLT-UHFFFAOYSA-N Isooctane Chemical compound CC(C)CC(C)(C)C NHTMVDHEPJAVLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YIVJZNGAASQVEM-UHFFFAOYSA-N Lauroyl peroxide Chemical compound CCCCCCCCCCCC(=O)OOC(=O)CCCCCCCCCCC YIVJZNGAASQVEM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003298 Nucrel® Polymers 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M Propionate Chemical compound CCC([O-])=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WTARULDDTDQWMU-UHFFFAOYSA-N Pseudopinene Natural products C1C2C(C)(C)C1CCC2=C WTARULDDTDQWMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LCXXNKZQVOXMEH-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofurfuryl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1CCCO1 LCXXNKZQVOXMEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DAKWPKUUDNSNPN-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane triacrylate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CC)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C DAKWPKUUDNSNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical class C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N [3-prop-2-enoyloxy-2-[[3-prop-2-enoyloxy-2,2-bis(prop-2-enoyloxymethyl)propoxy]methyl]-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000013543 active substance Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- XCPQUQHBVVXMRQ-UHFFFAOYSA-N alpha-Fenchene Natural products C1CC2C(=C)CC1C2(C)C XCPQUQHBVVXMRQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MVNCAPSFBDBCGF-UHFFFAOYSA-N alpha-pinene Natural products CC1=CCC23C1CC2C3(C)C MVNCAPSFBDBCGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 description 1
- AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N benzyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1=CC=CC=C1 AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930006722 beta-pinene Natural products 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- MQDJYUACMFCOFT-UHFFFAOYSA-N bis[2-(1-hydroxycyclohexyl)phenyl]methanone Chemical compound C=1C=CC=C(C(=O)C=2C(=CC=CC=2)C2(O)CCCCC2)C=1C1(O)CCCCC1 MQDJYUACMFCOFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007670 carcinogenicity Effects 0.000 description 1
- 231100000260 carcinogenicity Toxicity 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- OEYIOHPDSNJKLS-UHFFFAOYSA-N choline Chemical compound C[N+](C)(C)CCO OEYIOHPDSNJKLS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960001231 choline Drugs 0.000 description 1
- HNEGQIOMVPPMNR-IHWYPQMZSA-N citraconic acid Chemical compound OC(=O)C(/C)=C\C(O)=O HNEGQIOMVPPMNR-IHWYPQMZSA-N 0.000 description 1
- 229940018557 citraconic acid Drugs 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N crotonic acid Chemical compound C\C=C\C(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- HHNHBFLGXIUXCM-GFCCVEGCSA-N cyclohexylbenzene Chemical compound [CH]1CCCC[C@@H]1C1=CC=CC=C1 HHNHBFLGXIUXCM-GFCCVEGCSA-N 0.000 description 1
- 229930007927 cymene Natural products 0.000 description 1
- FOTKYAAJKYLFFN-UHFFFAOYSA-N decane-1,10-diol Chemical compound OCCCCCCCCCCO FOTKYAAJKYLFFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004386 diacrylate group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001983 dialkylethers Chemical class 0.000 description 1
- 150000001991 dicarboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 1
- 150000001993 dienes Chemical class 0.000 description 1
- SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N diglyme Chemical compound COCCOCCOC SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- JVSWJIKNEAIKJW-UHFFFAOYSA-N dimethyl-hexane Natural products CCCCCC(C)C JVSWJIKNEAIKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003759 ester based solvent Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000004210 ether based solvent Substances 0.000 description 1
- LJUJMKJGPIXNAK-UHFFFAOYSA-N ethyl 4-[2-(2-chlorophenyl)-1-[2-(2-chlorophenyl)-4,5-bis(4-ethoxycarbonylphenyl)imidazol-2-yl]-5-(4-ethoxycarbonylphenyl)imidazol-4-yl]benzoate Chemical compound C1=CC(C(=O)OCC)=CC=C1C1=NC(N2C(=C(N=C2C=2C(=CC=CC=2)Cl)C=2C=CC(=CC=2)C(=O)OCC)C=2C=CC(=CC=2)C(=O)OCC)(C=2C(=CC=CC=2)Cl)N=C1C1=CC=C(C(=O)OCC)C=C1 LJUJMKJGPIXNAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCOC(N)=O UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005648 ethylene methacrylic acid copolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- LCWMKIHBLJLORW-UHFFFAOYSA-N gamma-carene Natural products C1CC(=C)CC2C(C)(C)C21 LCWMKIHBLJLORW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VOZRXNHHFUQHIL-UHFFFAOYSA-N glycidyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1CO1 VOZRXNHHFUQHIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- DMEGYFMYUHOHGS-UHFFFAOYSA-N heptamethylene Natural products C1CCCCCC1 DMEGYFMYUHOHGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N hexane-1,6-diol Chemical compound OCCCCCCO XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N hydrogen peroxide Substances OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- KQNPFQTWMSNSAP-UHFFFAOYSA-M isobutyrate Chemical compound CC(C)C([O-])=O KQNPFQTWMSNSAP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VKPSKYDESGTTFR-UHFFFAOYSA-N isododecane Natural products CC(C)(C)CC(C)CC(C)(C)C VKPSKYDESGTTFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940053080 isosol Drugs 0.000 description 1
- 239000005453 ketone based solvent Substances 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 229940087305 limonene Drugs 0.000 description 1
- 235000001510 limonene Nutrition 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N mesitylene Substances CC1=CC(C)=CC(C)=C1 AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001827 mesitylenyl group Chemical group [H]C1=C(C(*)=C(C([H])=C1C([H])([H])[H])C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- GYNNXHKOJHMOHS-UHFFFAOYSA-N methyl-cycloheptane Natural products CC1CCCCCC1 GYNNXHKOJHMOHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N methylenebutanedioic acid Natural products OC(=O)CC(=C)C(O)=O LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 150000002763 monocarboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- ZCYXXKJEDCHMGH-UHFFFAOYSA-N nonane Chemical compound CCCC[CH]CCCC ZCYXXKJEDCHMGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N normal nonane Natural products CCCCCCCCC BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001451 organic peroxides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000003566 oxetanyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000466 oxiranyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002926 oxygen Chemical class 0.000 description 1
- HFPZCAJZSCWRBC-UHFFFAOYSA-N p-cymene Chemical compound CC(C)C1=CC=C(C)C=C1 HFPZCAJZSCWRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N p-methoxyphenol Chemical compound COC1=CC=C(O)C=C1 NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- HZEBHPIOVYHPMT-UHFFFAOYSA-N polonium atom Chemical group [Po] HZEBHPIOVYHPMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001451 polypropylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- UFUASNAHBMBJIX-UHFFFAOYSA-N propan-1-one Chemical compound CC[C]=O UFUASNAHBMBJIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004805 propylene group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- GRWFGVWFFZKLTI-UHFFFAOYSA-N rac-alpha-Pinene Natural products CC1=CCC2C(C)(C)C1C2 GRWFGVWFFZKLTI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 230000008085 renal dysfunction Effects 0.000 description 1
- 230000006335 response to radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019795 sodium metasilicate Nutrition 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001935 styrene-ethylene-butadiene-styrene Polymers 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OPQYOFWUFGEMRZ-UHFFFAOYSA-N tert-butyl 2,2-dimethylpropaneperoxoate Chemical compound CC(C)(C)OOC(=O)C(C)(C)C OPQYOFWUFGEMRZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRMUNVKIHCOMHV-UHFFFAOYSA-M tetrabutylammonium bromide Chemical compound [Br-].CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC JRMUNVKIHCOMHV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229940073455 tetraethylammonium hydroxide Drugs 0.000 description 1
- LRGJRHZIDJQFCL-UHFFFAOYSA-M tetraethylazanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CC[N+](CC)(CC)CC LRGJRHZIDJQFCL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- UWHCKJMYHZGTIT-UHFFFAOYSA-N tetraethylene glycol Chemical compound OCCOCCOCCOCCO UWHCKJMYHZGTIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N trans-crotonic acid Natural products CC=CC(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- PXXNTAGJWPJAGM-UHFFFAOYSA-N vertaline Natural products C1C2C=3C=C(OC)C(OC)=CC=3OC(C=C3)=CC=C3CCC(=O)OC1CC1N2CCCC1 PXXNTAGJWPJAGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 229940042596 viscoat Drugs 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
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Abstract
(과제) 반도체 양자 도트를 포함하고, 형광 특성이 우수한 고신뢰성의 경화막을 간편하게 형성할 수 있는 경화성 수지 조성물을 제공하고, 경화막을 제공하며, 발광 소자, 파장 변환 필름 및 발광층의 형성 방법을 제공한다.
(해결 수단) [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물, [B] 반도체 양자 도트 및, [C] 탄화수소계 용제를 함유하는 경화성 수지 조성물을 형성한다. 이 경화성 수지 조성물을 이용하여, 기판(12) 상에 경화막을 형성한다. 이 경화막은 파장 변환 필름이 되고, 이것을 발광층(13)으로서 이용하여, 파장 변환 기판(11)을 형성한다. 광원(17)을 구비한 광원 기판(18)과 조합하여, 발광 표시 소자(100)를 구성한다. (Project) To provide a curable resin composition that can easily form a highly reliable cured film containing semiconductor quantum dots and excellent in fluorescence properties, to provide a cured film, and to provide a light emitting element, a wavelength conversion film, and a method of forming a light emitting layer .
(Solutions) [A] A curable resin composition containing a compound having a molecular weight of 150 or more and 10000 or less in one molecule, [B] a semiconductor quantum dot, and [C] a hydrocarbon solvent is formed. A cured film is formed on the substrate 12 using this curable resin composition. This cured film turns into a wavelength conversion film, and uses this as the light emitting layer 13 to form the wavelength conversion board|substrate 11. As shown in FIG. In combination with the light source substrate 18 provided with the light source 17 , the light emitting display element 100 is constituted.
Description
본 발명은, 경화성 수지 조성물, 경화막, 발광 소자, 파장 변환 필름 및 발광층의 형성 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for forming a curable resin composition, a cured film, a light emitting element, a wavelength conversion film, and a light emitting layer.
전자를 가두기 위해 형성된 극소한 알갱이(도트)가, 양자 도트라고 칭해지며, 최근 주목을 끌고 있다. 1알갱이의 양자 도트의 크기는, 직경 수 나노미터로부터 수 10나노미터이며, 약 1만개의 원자로 구성되어 있다.The minute grains (dots) formed to confine electrons are called quantum dots, and are attracting attention in recent years. The size of one quantum dot is from several nanometers to several ten nanometers in diameter, and is composed of about 10,000 atoms.
양자 도트는, 태양 전지 패널의 반도체의 박막 중에 분산시키면, 에너지 변환 효율을 대폭으로 향상시킬 수 있는 점에서 태양 전지로의 적용이 검토되고 있다(예를 들면, 특허문헌 1을 참조). 또한, 양자 도트의 사이즈를 바꿈(밴드 갭을 바꿈)으로써, 발광하는 형광의 색(발광 파장)을 바꾸는 것(파장 변환)을 할 수 있기 때문에, 바이오 연구에 있어서의 형광 프로브(비특허문헌 1을 참조)나, 파장 변환 재료로서의 표시 소자로의 적용(특허문헌 2 및 특허문헌 3을 참조)이 검토되고 있다.When a quantum dot is disperse|distributed in the thin film of the semiconductor of a solar cell panel, since energy conversion efficiency can be improved significantly, application to a solar cell is examined (for example, refer patent document 1). In addition, by changing the size of the quantum dot (changing the band gap), the color (emission wavelength) of the emitted fluorescence can be changed (wavelength conversion), so a fluorescent probe in bioresearch (Non-Patent Document 1) ) and application to a display element as a wavelength conversion material (refer to
비특허문헌 1이나 특허문헌 1의 실시예에 나타나는 바와 같이, 대표적인 양자 도트는, Ⅱ-Ⅴ족의 반도체의 CdSe(셀렌화 카드뮴), CdTe(텔루르화 카드뮴) 및 PbS 등으로 이루어지는 반도체 양자 도트이다.As shown in the Examples of
그러나, 예를 들면, 주성분인 납(Pb)은, 독성으로의 우려가 잘 알려진 재료이다. 또한, 카드뮴(Cd)과 그의 화합물은, 저농도에서도 매우 강한 독성을 나타내고, 신장 기능 장해나 발암성이 우려되는 재료이다. 따라서, 보다 안전한 재료로 이루어지는 반도체 양자 도트의 형성이 요구되고 있다.However, for example, lead (Pb), which is a main component, is a material with a well-known risk of toxicity. Moreover, cadmium (Cd) and its compound show very strong toxicity even at a low concentration, and are a material with concern about renal dysfunction and carcinogenicity. Therefore, formation of the semiconductor quantum dot which consists of a safer material is calculated|required.
또한, 반도체 양자 도트를 태양 전지 패널이나 표시 소자의 디스플레이 등에 적용하고자 하는 경우, 그 형광 발광을 이용하기 때문에, 입자 형태의 반도체 양자 도트로 이루어지는 막이나 층의 형성이 요구되는 경우가 있다. 즉, 형광 발광을 나타내는, 파장 변환막(파장 변환 필름) 또는 발광층의 형성이 요구되는 경우가 있다.In addition, when a semiconductor quantum dot is to be applied to a display of a solar cell panel or a display element, the formation of a film or a layer made of semiconductor quantum dots in particle form may be required because the fluorescence emission is used. That is, formation of a wavelength conversion film (wavelength conversion film) or a light emitting layer which shows fluorescence emission is calculated|required in some cases.
입자 형태의 반도체 양자 도트를 이용한 발광층의 형성 방법으로서는, 예를 들면, 특허문헌 1의 실시예나 특허문헌 2에 나타나는 바와 같이, 적당한 기판 상에, 직접, 반도체 양자 도트로 이루어지는 층을 형성하는 방법이 알려져 있다. 그러나, 이러한 형성 방법으로는, 얻어지는 발광층의 안정성이 부족하다. 특히, 반도체 양자 도트로 이루어지는 층과 기판과의 결착성에 우려가 있다.As a method of forming a light emitting layer using particle-form semiconductor quantum dots, for example, as shown in Examples of
그래서, 입자 형태의 반도체 양자 도트를 수지 재료 중에 혼합 또는 매입하여, 층 또는 막을 구성하는 방법이 제안되고 있다. 그러나, 반도체 양자 도트를 이용하고, 높은 분산성을 실현하여 반도체 양자 도트로서의 형광 특성을 유지하면서, 수지와 함께 층이나 막의 형성을 행하는 방법은 충분한 검토가 이루어져 있지 않다.Therefore, a method of forming a layer or a film by mixing or embedding semiconductor quantum dots in the form of particles in a resin material has been proposed. However, a method for forming a layer or a film with a resin using semiconductor quantum dots while realizing high dispersibility and maintaining fluorescence properties as semiconductor quantum dots has not been sufficiently studied.
그 때문에, 반도체 양자 도트를 수지 재료와 함께 이용하고, 높은 분산성을 실현하여 반도체 양자 도트의 형광 발광 특성을 저하시키는 일 없이, 반도체 양자 도트의 층 또는 막을 형성하고, 고신뢰성의 발광층 또는 파장 변환 필름을 형성하는 기술이 요구되고 있다. 특히, 반도체 양자 도트와 함께 이용되고, 반도체 양자 도트나 수지로 이루어지는 발광층이나 파장 변환 필름의 형성에 적합한 수지 재료가 요구되고 있다.Therefore, a semiconductor quantum dot is used together with a resin material, high dispersibility is realized, and a layer or film of the semiconductor quantum dot is formed without lowering the fluorescence emission characteristic of the semiconductor quantum dot, and a highly reliable light emitting layer or wavelength conversion is performed. A technique for forming a film is required. In particular, there is a demand for a resin material that is used together with semiconductor quantum dots and is suitable for forming a light emitting layer or wavelength conversion film made of semiconductor quantum dots or resin.
그 경우, 수지 재료는, 특히, 안전한 재료로 이루어지는 반도체 양자 도트와 함께 이용되고, 발광층이나 파장 변환 필름의 형성에 적합한 것이 바람직하다.In that case, it is preferable that a resin material is used especially with the semiconductor quantum dot which consists of a safe material, and a thing suitable for formation of a light emitting layer and a wavelength conversion film.
또한, 반도체 양자 도트와 수지 재료로 이루어지는 발광층이나 파장 변환 필름은, 간편한 형성이 가능하고, 높은 생산성을 갖고 있는 것이 바람직하다. 따라서, 그 반도체 양자 도트와 수지 재료로 이루어지는 발광층이나 파장 변환 필름의 형성에는, 예를 들면, 도포 등의 간편한 형성 방법을 이용할 수 있는 것이 바람직하다. 그리고, 그 발광층이나 파장 변환 필름은, 예를 들면, 반도체 양자 도트와 수지 성분을 포함하는 액상의 수지 조성물로부터, 도포 등의 방법을 이용하여 형성할 수 있는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the light emitting layer and wavelength conversion film which consist of a semiconductor quantum dot and a resin material can form simply and have high productivity. Therefore, it is preferable that a simple formation method, such as application|coating, can be used for formation of the light emitting layer or wavelength conversion film which consists of the semiconductor quantum dot and a resin material, for example. And it is preferable that the light emitting layer and wavelength conversion film can be formed using methods, such as application|coating, from the liquid resin composition containing a semiconductor quantum dot and a resin component, for example.
그 때문에, 반도체 양자 도트와 수지 성분을 포함하여 조제되고, 도포 등의 방법의 이용에 의해, 발광층이나 파장 변환 필름을 형성할 수 있는 수지 조성물이 요구되고 있다.Therefore, it is prepared including a semiconductor quantum dot and a resin component, and the resin composition which can form a light emitting layer and a wavelength conversion film by use of methods, such as application|coating, is calculated|required.
그리고 또한, 그 수지 조성물은, 우수한 패터닝성을 갖는 것이 바람직하다. 즉, 발광층이나 파장 변환 필름을 형성하는 수지 조성물은, 예를 들면, 발광 표시 소자 등의 발광 소자의 구성에 적합하게 이용할 수 있도록, 패터닝이 가능한 것이 바람직하다. 그 경우, 패터닝된 발광층이나 파장 변환 필름의 형성은, 예를 들면, 포토리소그래피법 등의 이용이 가능하고, 간편하게 실현할 수 있는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that this resin composition has the outstanding patterning property. That is, it is preferable that patterning is possible so that the resin composition which forms a light emitting layer or a wavelength conversion film may use suitably for structures of light emitting elements, such as a light emitting display element, for example. In that case, it is preferable that the formation of the patterned light emitting layer or wavelength conversion film can be utilized, for example, a photolithographic method, etc. and can implement|achieve simply.
그 때문에, 포토리소그래피법 등의 공지의 패터닝 방법을 이용하여, 패터닝된 발광층이나 파장 변환 필름을 간편하게 형성할 수 있는 감방사선성의 경화성 수지 조성물이 요구되고 있다.Therefore, the radiation-sensitive curable resin composition which can easily form the patterned light emitting layer and wavelength conversion film using well-known patterning methods, such as a photolithographic method, is calculated|required.
본 발명은, 이상과 같은 문제를 감안하여 이루어진 것이다. 즉, 본 발명의 목적은, 반도체 양자 도트를 포함하고, 형광 특성이 우수한 고신뢰성의 경화막을 간편하게 형성할 수 있는 경화성 수지 조성물을 제공하는 것이다.The present invention has been made in view of the above problems. That is, the objective of this invention is providing the curable resin composition which can form easily the highly reliable cured film excellent in a fluorescence characteristic including a semiconductor quantum dot.
또한, 본 발명의 목적은, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성되고, 형광 특성이 우수하고, 높은 신뢰성을 갖는 경화막을 제공하는 것에 있다.Moreover, the objective of this invention is providing the cured film which is formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot, is excellent in a fluorescence characteristic, and has high reliability.
또한, 본 발명의 목적은, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 발광층을 갖는 발광 소자를 제공하는 것에 있다.Moreover, the objective of this invention is providing the light emitting element which has a light emitting layer formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot.
또한, 본 발명의 목적은, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성되고, 형광 특성이 우수하고, 높은 신뢰성을 갖는 파장 변환 필름을 제공하는 것에 있다.Moreover, the objective of this invention is providing the wavelength conversion film which is formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot, is excellent in a fluorescence characteristic, and has high reliability.
또한, 본 발명의 목적은, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용한 발광층의 형성 방법을 제공하는 것에 있다.Moreover, the objective of this invention is providing the formation method of the light emitting layer using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot.
본 발명의 기타 목적 및 이점은, 이하의 기재로부터 명백해질 것이다. Other objects and advantages of the present invention will become apparent from the following description.
본 발명의 제1 태양(態樣)은,A first aspect of the present invention is
[A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물,[A] a compound having a molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] 반도체 양자 도트 및,[B] semiconductor quantum dots and;
[C] 탄화수소계 용제[C] Hydrocarbon solvent
를 함유하는 것을 특징으로 하는 경화성 수지 조성물에 관한 것이다.It relates to a curable resin composition characterized in that it contains.
본 발명의 제1 태양에 있어서, 추가로 산소 원자 함유 유기 용제를 함유하는 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, it is preferable to further contain an oxygen atom-containing organic solvent.
본 발명의 제1 태양에 있어서, 추가로 [D] 중합성 개시제를 함유하는 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, it is preferable to further contain [D] a polymerization initiator.
본 발명의 제1 태양에 있어서, [D] 중합성 개시제가, 탄소수 1∼20의 탄화수소기를 함유하는 중합성 개시제인 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, the [D] polymerization initiator is preferably a polymerization initiator containing a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms.
본 발명의 제1 태양에 있어서, 추가로 [E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체를 함유하는 것이 바람직하다.1st aspect of this invention WHEREIN: [E] It is preferable to contain the polymer whose weight average molecular weights which have a carboxyl group are 5000 or more and 40000 or less further.
본 발명 제1 태양에 있어서, [B] 반도체 양자 도트가, 2족 원소, 11족 원소, 12족 원소, 13족 원소, 14족 원소, 15족 원소 및 16족 원소로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 2종의 원소를 포함하는 화합물로 이루어지는 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, [B] the semiconductor quantum dot is at least selected from the group consisting of a
본 발명의 제1 태양에 있어서, [B] 반도체 양자 도트가, In을 구성 성분으로서 포함하는 화합물로 이루어지는 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, the [B] semiconductor quantum dot is preferably made of a compound containing In as a constituent component.
본 발명의 제1 태양에 있어서, [B] 반도체 양자 도트가, InP/ZnS 화합물, CuInS2/ZnS 화합물, AgInS2 화합물, (ZnS/AgInS2) 고용체(solid solution)/ZnS 화합물, Zn 도핑된 AgInS2 화합물 및 Si 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인 것이 바람직하다.In the first aspect of the present invention, [B] a semiconductor quantum dot, InP/ZnS compound, CuInS 2 /ZnS compound, AgInS 2 compound, (ZnS/AgInS 2 ) solid solution/ZnS compound, Zn doped It is preferable that it is at least 1 sort(s ) chosen from the group which consists of an AgInS2 compound and a Si compound.
본 발명의 제1 태양에 있어서, 상기 [A] 화합물이, 하기식 (1)로 나타나는 화합물, 하기식 (2)로 나타나는 화합물 및 하기식 (3)으로 나타나는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1개의 화합물인 것이 바람직하다:In the first aspect of the present invention, the compound [A] is at least one selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3) It is preferably a compound of:
(식 (1) 중, X는 식 (5)로 나타나는 2가의 기, 또는 탄소수 5∼20의 2가의 지환식 탄화수소기를 나타내고, 식 (5) 중, n은 2∼20의 정수를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고;(In formula (1), X represents a divalent group represented by formula (5) or a divalent alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms, and in formula (5), n represents an integer of 2 to 20; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group;
식 (2) 중, R2는 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타내고;In formula (2), R<2> represents a hydrogen atom or a C1-C12 alkyl group; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, m represents the integer of 0-4;
식 (3) 중, R3은 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타냄).In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents the integer of 0-4).
본 발명의 제2 태양은, 본 발명의 제1 태양의 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 것을 특징으로 하는 경화막에 관한 것이다.A 2nd aspect of this invention relates to the cured film formed using the curable resin composition of the 1st aspect of this invention, The cured film characterized by the above-mentioned.
본 발명의 제3 태양은, 본 발명의 제1 태양의 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 발광층을 갖는 것을 특징으로 하는 발광 소자에 관한 것이다.A third aspect of the present invention relates to a light emitting element having a light emitting layer formed using the curable resin composition of the first aspect of the present invention.
본 발명의 제4 태양은, 본 발명의 제1 태양의 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 것을 특징으로 하는 파장 변환 필름에 관한 것이다.A fourth aspect of the present invention relates to a wavelength conversion film formed using the curable resin composition of the first aspect of the present invention.
본 발명의 제5 태양은, 발광 소자의 발광층의 형성 방법으로서,A fifth aspect of the present invention is a method for forming a light emitting layer of a light emitting element,
(1) 본 발명의 제1 태양의 경화성 수지 조성물의 도막을 기판 상에 형성하는 공정,(1) A step of forming a coating film of the curable resin composition of the first aspect of the present invention on a substrate;
(2) 공정 (1)에서 형성한 도막의 적어도 일부에 방사선을 조사하는 공정,(2) a step of irradiating at least a part of the coating film formed in step (1) with radiation;
(3) 공정 (2)에서 방사선이 조사된 도막을 현상하는 공정 및,(3) a step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2);
(4) 공정 (3)에서 현상된 도막을 노광하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 발광층의 형성 방법에 관한 것이다.(4) It has a process of exposing the coating film developed in the process (3), It relates to the formation method of the light emitting layer characterized by the above-mentioned.
본 발명의 제1 태양에 의하면, 반도체 양자 도트를 포함하고, 형광 특성이 우수한 고신뢰성의 경화막을 간편하게 형성할 수 있는 경화성 수지 조성물이 제공된다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the 1st aspect of this invention, the curable resin composition which can form easily the highly reliable cured film excellent in a fluorescence characteristic including a semiconductor quantum dot is provided.
또한, 본 발명의 제2 태양에 의하면, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성되고, 형광 특성이 우수하고, 높은 신뢰성을 갖는 경화막이 제공된다.Moreover, according to the 2nd aspect of this invention, it is formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot, it is excellent in a fluorescence characteristic, and the cured film which has high reliability is provided.
또한, 본 발명의 제3 태양에 의하면, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 발광층을 갖는 발광 소자가 제공된다.Moreover, according to the 3rd aspect of this invention, the light emitting element which has a light emitting layer formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot is provided.
또한, 본 발명의 제4 태양에 의하면, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성되고, 형광 특성이 우수하고, 높은 신뢰성을 갖는 파장 변환 필름을 제공하는 것이다.Moreover, according to the 4th aspect of this invention, it is formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot, is excellent in a fluorescence characteristic, and provides the wavelength conversion film which has high reliability.
또한, 본 발명의 제5 태양에 의하면, 반도체 양자 도트를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용한, 발광 소자의 발광층의 형성 방법이 제공된다.Moreover, according to the 5th aspect of this invention, the formation method of the light emitting layer of a light emitting element using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot is provided.
도 1은 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 도막 형성 공정을 설명하는 기판의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 방사선 조사 공정을 개략적으로 설명하는 단면도이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 현상 공정을 설명하는 기판의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 경화 공정을 설명하는 경화막 및 기판의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제3 실시 형태의 발광 표시 소자를 개략적으로 나타내는 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing of the board|substrate explaining the coating-film formation process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
It is sectional drawing explaining schematically the radiation irradiation process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the board|substrate explaining the image development process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
It is sectional drawing of the cured film explaining the hardening process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention, and a board|substrate.
5 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting display device according to a third embodiment of the present invention.
(발명을 실시하기 위한 형태)(Form for implementing the invention)
본 발명의 경화성 수지 조성물은, [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 중량 평균 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물, 즉, [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 중량 평균 분자량이 150∼10000인 화합물(이하, 단순히 [A] 성분이라고도 함), [B] 반도체 양자 도트(이하, 단순히 [B] 성분이라고도 함) 및, [C] 탄화수소계 용제(이하, 단순히 [C] 성분이라고도 함)를 함유하여 이루어지는 경화성의 수지 조성물이다.The curable resin composition of the present invention is [A] a compound having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule, that is, [A] a weight average molecular weight having two or more polymerizable groups in one molecule. A compound of 150 to 10000 (hereinafter simply referred to as [A] component), [B] semiconductor quantum dots (hereinafter simply referred to as [B] component), and [C] hydrocarbon-based solvent (hereinafter simply referred to as [C] component) Also called) is a curable resin composition comprising.
본 발명의 경화성 수지 조성물은, [C] 탄화수소계 용제를 함유하고, 도포 등의 간편한 막이나 층의 형성 방법에 적합한 액상의 수지 조성물이 된다.The curable resin composition of the present invention contains [C] a hydrocarbon-based solvent, and is a liquid resin composition suitable for a simple film or layer formation method such as application.
본 발명의 경화성 수지 조성물은, [A] 성분과 함께 [B] 반도체 양자 도트를 함유하지만, [C] 탄화수소계 용제를 함유함으로써, [B] 반도체 양자 도트의 양호한 분산 상태를 실현할 수 있다.Although the curable resin composition of this invention contains [B] semiconductor quantum dot with component [A], the favorable dispersion state of [B] semiconductor quantum dot can be implement|achieved by containing [C] hydrocarbon type solvent.
[B] 반도체 양자 도트는, 높은 극성의 용제 중에서는 응집하는 경향이 있어, 양호한 분산 상태를 실현하는 것이 어렵다. [B] 반도체 양자 도트에 있어서, 응집은, 양자 도트로서의 특성을 손상시키게 된다. 그 한편으로, [B] 반도체 양자 도트는, 낮은 극성의 용제 중에서는 양호한 분산 상태를 실현하기 쉬운 경향을 갖는다. 그 때문에, 본 발명의 경화성 수지 조성물에서는, [C] 성분으로서 낮은 극성을 실현하는 것이 가능한 탄화수소계 용제를 함유한다. 그리고, 수지 성분으로서는, [C] 탄화수소계 용제에 용해, 또는, 분산을 시키는 데에 적합한 것이 선택된다. 보다 구체적으로는, [C] 탄화수소계 용제에 용해, 또는, 분산을 시키는 데에 적합한, [A] 성분이 선택되어 함유된다.[B] Semiconductor quantum dots tend to aggregate in a solvent of high polarity, and it is difficult to achieve a good dispersion state. [B] In a semiconductor quantum dot, aggregation impairs the characteristic as a quantum dot. On the other hand, [B] semiconductor quantum dots have a tendency to easily realize a good dispersion state in a solvent of low polarity. Therefore, in the curable resin composition of this invention, the hydrocarbon type solvent which can implement|achieve low polarity as component [C] is contained. In addition, as a resin component, the thing suitable for making it melt|dissolve or disperse|distribute in the [C] hydrocarbon solvent is selected. More specifically, [C] component [A] suitable for dissolving or dispersing in a hydrocarbon solvent is selected and contained.
그 결과, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, [B] 반도체 양자 도트의 양호한 분산 상태가 실현된 액상의 수지 조성물을 형성할 수 있다. 그리고, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, 도포 등의 간편한 형성 방법을 이용하여, [B] 반도체 양자 도트의 분산된 층이나 막을 형성할 수 있다.As a result, the curable resin composition of this invention can form the liquid resin composition by which the favorable dispersion state of [B] semiconductor quantum dot was implement|achieved. And the curable resin composition of this invention can form the disperse|distributed layer and film|membrane of [B] semiconductor quantum dot using simple formation methods, such as application|coating.
또한, 본 발명의 경화성 수지 조성물은 감방사선성을 가질 수 있다. 그 때문에, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, [D] 중합성 개시제(이하, 단순히 [D] 성분이라고도 함), [E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체(이하, 단순히 [E] 성분이라고도 함)를 함유하는 것이 바람직하다. 그리고, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, 그 감방사선성에 기초하여, 예를 들면, 포토리소그래피법 등을 이용한 패터닝이 가능하다.In addition, the curable resin composition of the present invention may have radiation sensitivity. Therefore, the curable resin composition of the present invention is a polymer having a [D] polymerization initiator (hereinafter also simply referred to as [D] component) and [E] a polymer having a carboxyl group having a weight average molecular weight of 5000 or more and 40,000 or less (hereinafter simply referred to as [E] ] component). And the curable resin composition of this invention can be patterned using the photolithography method etc. based on the radiation sensitivity, for example.
또한, 본 발명에 있어서, 노광시에 있어서 조사되는 「방사선」에는, 가시광선, 자외선, 원자외선, X선 및 하전 입자선 등이 포함된다.In addition, in this invention, visible light, an ultraviolet-ray, a deep ultraviolet-ray, X-ray, a charged particle beam, etc. are contained in the "radiation" irradiated at the time of exposure.
또한, 포토리소그래피법에는, 가공이나 처리를 받는 기판의 표면에, 소위 레지스트 조성물을 도포하여 레지스트막을 형성하는 공정, 빛이나 전자선을 조사하여 소정의 레지스트 패턴을 노광함으로써 레지스트 패턴 잠상을 형성하는 노광 공정, 필요에 따라서 가열 처리하는 공정, 이어서 이것을 현상하여 소망하는 미세 패턴을 형성하는 현상 공정 및, 이 미세 패턴을 마스크로 하여 기판에 대하여 에칭 등의 가공을 행하는 공정 등이 포함된다.In the photolithography method, a so-called resist composition is applied to the surface of a substrate to be processed or treated to form a resist film, and a resist pattern latent image is formed by irradiating light or electron beams to expose a predetermined resist pattern. , a step of heat-treating if necessary, a developing step of developing this to form a desired micropattern, and a step of performing processing such as etching on the substrate using the micropattern as a mask.
그리고, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, 필요한 경우에 패터닝이 시행되어, 본 발명의 경화막을 형성한다. 본 발명의 경화막은, 수지 중에 [B] 반도체 양자 도트가 포함되어 구성된다.And the curable resin composition of this invention is patterned, if necessary, and forms the cured film of this invention. [B] Semiconductor quantum dot is contained in resin, and the cured film of this invention is comprised.
그리고, 본 발명의 경화막은, [B] 반도체 양자 도트에 기초하는 형광 발광(파장 변환) 기능을 갖는다. 그 때문에, 여기광과 상이한 파장의 형광을 발광하는 파장 변환 필름이나 발광층으로서의 이용이 가능하다.And the cured film of this invention has a fluorescence emission (wavelength conversion) function based on the [B] semiconductor quantum dot. Therefore, it can be used as a wavelength conversion film or a light emitting layer that emits fluorescence having a wavelength different from that of excitation light.
특히, 본 발명의 경화막은, 발광 소자의 발광층으로서의 이용에 적합하며, 후술하는 본 발명의 발광 소자의 구성에 이용할 수 있다.In particular, the cured film of this invention is suitable for use as a light emitting layer of a light emitting element, and can be used for the structure of the light emitting element of this invention mentioned later.
이하, 본 발명의 경화성 수지 조성물, 경화막, 발광 소자, 파장 변환 필름 및, 발광층의 형성 방법에 대해서 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the formation method of curable resin composition of this invention, a cured film, a light emitting element, a wavelength conversion film, and a light emitting layer is demonstrated.
실시 형태 1.
<경화성 수지 조성물><Curable resin composition>
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 전술한 바와 같이, [A] 성분, [B] 반도체 양자 도트 및, [C] 탄화수소계 용제를 필수의 성분으로서 함유한다.As described above, the curable resin composition of the first embodiment of the present invention contains component [A], [B] semiconductor quantum dots, and [C] hydrocarbon-based solvent as essential components.
[C] 탄화수소계 용제를 함유함으로써, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, [B] 반도체 양자 도트의 양호한 분산 상태가 실현된 액상의 수지 조성물을 형성할 수 있다. 그리고, 수지 성분인 [A] 성분으로서는, [C] 탄화수소계 용제와 함께 이용되고, 용해 또는 분산이 가능한 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 중량 평균 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물 중에서 선택된다.[C] By containing the hydrocarbon solvent, the curable resin composition of the present invention can form a liquid resin composition in which a good dispersion state of [B] semiconductor quantum dots is realized. And, as component [A], which is the resin component, it is used together with the [C] hydrocarbon solvent and is selected from compounds having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule capable of dissolving or dispersing.
본 발명의 경화성 수지 조성물은, 도포 등의 방법을 이용하여, [B] 반도체 양자 도트를 함유하여 우수한 형광 발광(파장 변환) 기능(이하, 단순히, 형광성 또는 형광 특성 등이라고도 함)을 구비한 본 발명의 실시 형태의 경화막을 형성할 수 있다.The curable resin composition of the present invention contains a semiconductor quantum dot [B] using a method such as coating, and has an excellent fluorescence emission (wavelength conversion) function (hereinafter simply referred to as fluorescence or fluorescence characteristics). The cured film of embodiment of invention can be formed.
또한, 본 발명의 경화성 수지 조성물은 감방사선성을 가질 수 있다. 그 때문에, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, 또한, [D] 중합성 개시제를 함유하는 것이 바람직하고, 또한 추가로, [E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체를 함유하는 것이 바람직하다.In addition, the curable resin composition of the present invention may have radiation sensitivity. Therefore, it is preferable that the curable resin composition of this invention contains a [D] polymerization initiator further, Furthermore, [E] It is preferable to contain the polymer whose weight average molecular weights which have a carboxyl group are 5000 or more and 40000 or less. do.
그리고, 본 발명의 경화성 수지 조성물은, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 한 후술하는 그 외의 임의 성분을 함유할 수 있다.And the curable resin composition of this invention can contain the other arbitrary components mentioned later unless the effect of this invention is impaired.
이하에서, 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물의 함유 성분에 대해서 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, the component contained in curable resin composition of 1st Embodiment of this invention is demonstrated.
[[A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물][[A] A compound having a molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule]
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물을 함유한다.Curable resin composition of 1st Embodiment of this invention contains the compound whose molecular weight which has two or more polymeric groups in [A] 1 molecule is 150 or more and 10000 or less.
[A] 성분의 중합성기로서는, (메타)아크릴로일기, 비닐기, 옥시라닐기, 옥세타닐기를 들 수 있다. 이들 중, 특히 (메타)아크릴로일기가 바람직하다.[A] Examples of the polymerizable group of the component include a (meth)acryloyl group, a vinyl group, an oxiranyl group, and an oxetanyl group. Among these, a (meth)acryloyl group is especially preferable.
[A] 성분의 중량 평균 분자량은 150 이상인데, 그것이 150 미만인 경우, 경화막으로서의 경화막 물성이 얻어지지 않는 경향이 있다. 또한, 분자량이 10000보다 큰 경우, 탄화수소계 용제에 용해되기 어려워지는 경향이 있다.[A] Although the weight average molecular weight of component is 150 or more, when it is less than 150, there exists a tendency for the cured film physical property as a cured film not to be acquired. Moreover, when molecular weight is larger than 10000, there exists a tendency for it to become difficult to melt|dissolve in a hydrocarbon type solvent.
그리고, [A] 성분은, 2개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖고, 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물인 것이 바람직하다.And it is preferable that [A] component has a 2 or more (meth)acryloyl group, and is a compound whose molecular weights are 150 or more and 10000 or less.
또한, 본 발명에 있어서, [A] 성분의 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피로 측정한 중량 평균 분자량을 나타낸다.In addition, in this invention, the molecular weight of [A] component shows the weight average molecular weight measured by the gel permeation chromatography.
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 있어서, [A] 성분으로서는, 다관능 아크릴레이트를 이용할 수 있다. 그 중에서도 [C] 탄화수소계 용제와 함께 이용되고, 용해 또는 분산이 가능한 다관능 아크릴레이트가 바람직하다.Curable resin composition of 1st Embodiment of this invention WHEREIN: Polyfunctional acrylate can be used as [A] component. Among them, [C] a polyfunctional acrylate which is used together with a hydrocarbon solvent and can be dissolved or dispersed is preferable.
[A] 성분에 사용되는 다관능 아크릴레이트로서는, 예를 들면, 에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메타)아크릴레이트, 1,9-노난디올디(메타)아크릴레이트, 1,10-데칸디올디(메타)아크릴레이트, 1,12-도데칸디올디(메타)아크릴레이트, 테트라에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 트리사이클로데칸디메탄올디(메타)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 비스페녹시에탄올플루오렌디(메타)아크릴레이트, 트리사이클로데칸디메탄올디(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시-3-(메타)아크릴로일옥시프로필메타크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 프로필렌옥사이드 변성 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라(메타)아크릴레이트, 디트리메틸올프로판테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트, 트리(2-(메타)아크릴로일옥시에틸)포스페이트, 에틸렌옥사이드 변성 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트, 숙신산 변성 펜타에리트리톨트리아크릴레이트, 직쇄 알킬렌기 및 지환식 구조를 갖고, 또한 2개 이상의 이소시아네이트기를 갖는 화합물과, 분자 내에 1개 이상의 수산기를 갖고, 또한 3개∼5개의 (메타)아크릴로일옥시기를 갖는 화합물을 반응시켜 얻어지는 우레탄(메타)아크릴레이트 화합물 등의 다관능 (메타)아크릴레이트 화합물 등을 들 수 있다.[A] Examples of the polyfunctional acrylate used in the component include ethylene glycol di(meth)acrylate, 1,6-hexanediol di(meth)acrylate, 1,9-nonanediol di(meth)acryl rate, 1,10-decanediol di(meth)acrylate, 1,12-dodecanediol di(meth)acrylate, tetraethylene glycol di(meth)acrylate, tricyclodecanedimethanol di(meth)acrylate, Polyethylene glycol di(meth)acrylate, polypropylene glycol di(meth)acrylate, bisphenoxyethanol fluorenedi(meth)acrylate, tricyclodecane dimethanol di(meth)acrylate, 2-hydroxy- 3-(meth)acryloyloxypropyl methacrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, propylene oxide modified trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, pentaerythritol Tetra (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tri (2- (meth) acryloyl Oxyethyl) phosphate, ethylene oxide-modified dipentaerythritol hexaacrylate, succinic acid-modified pentaerythritol triacrylate, a compound having a straight-chain alkylene group and an alicyclic structure, and having two or more isocyanate groups, and at least one in a molecule Polyfunctional (meth)acrylate compounds, such as a urethane (meth)acrylate compound obtained by making the compound which has a hydroxyl group and has 3-5 pieces (meth)acryloyloxy group react, etc. are mentioned.
다관능 아크릴레이트의 시판품으로서는, 예를 들면,As a commercial item of polyfunctional acrylate, for example,
아로닉스(Aronix)(등록상표) M-210, 동(同) M-220, 동 M-240, 동 M-270, 동 M-305, 동 M-309, 동 M-310, 동 M-315, 동 M-321, 동 M-400, 동 M-402, 동 M-405, 동 M-408, 동 M-450, 동 M-1310, 동 M-1600, 동 M-1960, 동 M-7100, 동 M-8030, 동 M-8060, 동 M-8100, 동 M-8530, 동 M-8560, 동 M-9050, 동 TO-1450, 동 TO-1382(이상, 토아고세 주식회사 제조);Aronix (registered trademark) M-210, M-220, M-240, M-270, M-305, M-309, M-310, M-315 , M-321, M-400, M-402, M-405, M-408, M-450, M-1310, M-1600, M-1960, M-7100 , M-8030, M-8060, M-8100, M-8530, M-8560, M-9050, TO-1450, TO-1382 (above, manufactured by Toagose Corporation);
KAYARAD(등록상표) DPHA, 동 DPCA-20, 동 DPCA-30, 동 DPCA-60, 동 DPCA-120, 동 MAX-3510(이상, 닛폰카야쿠 주식회사 제조);KAYARAD (registered trademark) DPHA, copper DPCA-20, copper DPCA-30, copper DPCA-60, copper DPCA-120, copper MAX-3510 (above, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.);
비스코트(Viscoat)(등록상표) 260, 동 295, 동 300, 동 310HP, 동 335HP, 동 360(이상, 오사카 유기화학공업 주식회사 제조);Viscoat (registered trademark) 260, Dong 295, Dong 300, Dong 310HP, Dong 335HP, Dong 360 (above, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.);
우레탄아크릴레이트계 화합물로서,As a urethane acrylate-based compound,
뉴 프론티어(NEW FRONTIER)(등록상표) R-1150(다이이치 공업제약 주식회사 제조);NEW FRONTIER (registered trademark) R-1150 (manufactured by Daiichi Kogyo Pharmaceutical Co., Ltd.);
KAYARAD(등록상표) DPHA-40H, 동 R-526, 동 R-167, 동 R-604, 동 R-684, 동 R-551, 동 R-712, 동 UX-2201, 동 UX-2301, 동 UX-3204, 동 UX-3301, 동 UX-4101, 동 UX-5000, 동 UX-6101, 동 UX-7101, 동 UX-8101, 동 UX-0937, 동 MU-2100, 동 MU-4001(이상, 닛폰카야쿠 주식회사 제조);KAYARAD (registered trademark) DPHA-40H, R-526, R-167, R-604, R-684, R-551, R-712, UX-2201, UX-2301, East UX-3204, East UX-3301, East UX-4101, East UX-5000, East UX-6101, East UX-7101, East UX-8101, East UX-0937, East MU-2100, East MU-4001 (or above) , manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.);
아트레진(Art-Resin)(등록상표) UN-333, 동 UN-1255, 동 UN-6060PTM, 동 UN-7600, 동 UN-7700, 동 UN-9000PEP, 동 UN-9200A(이상, 네가미 공업 주식회사 제조) 등을 들 수 있다.Art-Resin (registered trademark) UN-333, UN-1255, UN-6060PTM, UN-7600, UN-7700, UN-9000PEP, UN-9200A (above, Negami Industries) Co., Ltd.), etc. are mentioned.
또한, [A] 성분으로서는, 특히, 하기식 (1)로 나타나는 화합물, 하기식 (2)로 나타나는 화합물 및 하기식 (3)으로 나타나는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1개의 화합물인 것이 바람직하다:Moreover, it is preferable that it is at least 1 compound selected from the group which consists of a compound especially represented by a compound represented by a following formula (1), a compound represented by a following formula (2), and a following formula (3) as [A] component as a component especially :
(식 (1) 중, X는 식 (5)로 나타나는 2가의 기, 또는 탄소수 5∼20의 2가의 지환식 탄화수소기를 나타내고, 식 (5) 중, n은 2∼20의 정수를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고;(In formula (1), X represents a divalent group represented by formula (5) or a divalent alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms, and in formula (5), n represents an integer of 2 to 20; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group;
식 (2) 중, R2는 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타내고;In formula (2), R<2> represents a hydrogen atom or a C1-C12 alkyl group; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, m represents the integer of 0-4;
식 (3) 중, R3은 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타냄).In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents the integer of 0-4).
이들 [A] 성분으로서 이용되는 식 (1), 식 (2), 식 (3)으로 나타나는 화합물 중, 특히 바람직하게 이용되는 것은 탄화수소계 용제로의 용해성이 우수한 관능기수 2∼4의 다관능 아크릴레이트이며, 예를 들면 1,9-노난디올디아크릴레이트, 1,10-데칸디올디아크릴레이트, 1,12-도데칸디올디아크릴레이트, 트리사이클로데칸디메탄올디아크릴레이트, 프로필렌옥사이드 변성 트리메틸올프로판트리아크릴레이트, 디트리메틸올프로판테트라아크릴레이트, 프로필렌옥사이드 변성 디트리메틸올프로판테트라아크릴레이트 등을 들 수 있다.Among the compounds represented by Formula (1), Formula (2), and Formula (3) used as the component [A], those used particularly preferably are polyfunctional acryl having 2 to 4 functional groups excellent in solubility in hydrocarbon solvents. rate, for example, 1,9-nonanediol diacrylate, 1,10-decanediol diacrylate, 1,12-dodecanediol diacrylate, tricyclodecanedimethanol diacrylate, propylene oxide modified trimethylol A propane triacrylate, a ditrimethylol propane tetraacrylate, a propylene oxide modified|denatured ditrimethylol propane tetraacrylate, etc. are mentioned.
상기 다관능 아크릴레이트의 시판품으로서는, 예를 들면,As a commercial item of the said polyfunctional acrylate, for example,
아로닉스(등록상표) M-310, 동 M-321, 동 M-408(이상, 토아고세 주식회사 제조);Aronix (registered trademark) M-310, Dong M-321, Dong M-408 (above, manufactured by Toagose Co., Ltd.);
NK에스테르(등록상표) A-NOD-N, 동 A-DOD-N, 동 A-DCP, 동 A-TMPT-3PO, 동 A-TMPT-6PO, 동 AD-TMP-L, 동 AD-TMP-4P(이상, 신나카무라 화학공업 주식회사 제조);NK Ester (registered trademark) A-NOD-N, Copper A-DOD-N, Copper A-DCP, Copper A-TMPT-3PO, Copper A-TMPT-6PO, Copper AD-TMP-L, Copper AD-TMP- 4P (above, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.);
뉴 프론티어(등록상표) L-C9A, 동 TMP-3P(이상, 다이이치 공업제약 주식회사 제조);New Frontier (registered trademark) L-C9A, Dong TMP-3P (above, manufactured by Daiichi Kogyo Pharmaceutical Co., Ltd.);
비스코트(등록상표) 260, (이상, 오사카 유기화학공업 주식회사 제조) 등을 들 수 있다.Viscote (trademark) 260, (above, the Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd. make) etc. are mentioned.
이상의 [A] 성분은, 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되어, 용해, 또는, 분산되고, 도포 등의 간편한 형성 방법을 이용하여 층이나 막을 형성하는 액상의 수지 조성물을 형성할 수 있다.The above component [A] is contained in the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, dissolved or dispersed, and a liquid resin composition for forming a layer or a film is formed using a simple forming method such as application. can
[[B] 반도체 양자 도트][[B] Semiconductor quantum dots]
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물의 필수의 성분인 [B] 반도체 양자 도트는, Cd나 Pb를 구성 성분으로 하지 않고, 예를 들면, In(인듐)이나 Si(규소) 등을 구성 성분으로 하여 구성된, 안전한 재료로 이루어지는 반도체 양자 도트이다.[B] The semiconductor quantum dot, which is an essential component of the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, does not contain Cd or Pb as a constituent component, but comprises In (indium), Si (silicon), etc., for example. It is a semiconductor quantum dot which consists of components and consists of a safe material.
[B] 반도체 양자 도트는, 2족 원소, 11족 원소, 12족 원소, 13족 원소, 14족 원소, 15족 원소 및 16족 원소로 나타나는 원소의 군으로부터 선택되는 적어도 2종 이상의 원소를 포함하는 화합물로 이루어지는, 반도체 양자 도트인 것이 바람직하다.[B] The semiconductor quantum dot contains at least two or more elements selected from the group of elements represented by a
그리고, 보다 구체적으로는, 사람에 대한 안전성에 대해서 우려가 큰, 예를 들면, Pb 및 Cd 등의 원소가 제외되고, Be(베릴륨), Mg(마그네슘), Ca(칼슘), Sr(스트론튬), Ba(바륨), Cu(구리), Ag(은), 금(Au), 아연(Zn), B(붕소), Al(알루미늄), Ga(갈륨), In(인듐), Tl(탈륨), C(탄소), Si(규소), Ge(게르마늄), Sn(주석), N(질소), P(인), As(비소), Sb(안티몬), Bi(비스무트), O(산소), S(황), Se(셀레늄), Te(텔루륨) 및 Po(폴로늄)군으로부터 선택되는 적어도 2종 이상의 원소를 포함하는 화합물로 이루어지는, 반도체 양자 도트인 것이 바람직하다.And, more specifically, elements with high concern for safety for humans, such as Pb and Cd, are excluded, and Be (beryllium), Mg (magnesium), Ca (calcium), Sr (strontium) , Ba (barium), Cu (copper), Ag (silver), gold (Au), zinc (Zn), B (boron), Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Tl (thallium) , C (carbon), Si (silicon), Ge (germanium), Sn (tin), N (nitrogen), P (phosphorus), As (arsenic), Sb (antimony), Bi (bismuth), O (oxygen) It is preferable that it is a semiconductor quantum dot which consists of a compound containing at least 2 or more types of elements selected from , S (sulfur), Se (selenium), Te (tellurium), and Po (polonium) group.
이때, [B] 반도체 양자 도트가 500㎚∼600㎚의 파장 영역에 형광 극대를 갖는 화합물 (a) 및/또는 600㎚∼700㎚의 파장 영역에 형광 극대를 갖는 화합물 (b)로 이루어지는 것이 바람직하다.At this time, it is preferable that the [B] semiconductor quantum dot consists of a compound (a) having a fluorescence maximum in a wavelength region of 500 nm to 600 nm and/or a compound (b) having a fluorescence maximum in a wavelength region of 600 nm to 700 nm. do.
[B] 반도체 양자 도트는, 이러한 형광 발광 특성을 갖는 화합물 (a) 및/또는 화합물 (b)로 이루짐으로써, 500㎚∼600㎚의 파장 영역 및/또는, 600㎚∼700㎚의 파장 영역에 형광 극대를 가질 수 있다. 그 결과, [B] 반도체 양자 도트를 함유하는 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 가시역(域)의 빛을 이용하여 화상의 표시를 행하는 발광 소자의 발광층의 구성에 적합한 경화막을 형성할 수 있다.[B] A semiconductor quantum dot is composed of a compound (a) and/or a compound (b) having such a fluorescence emission characteristic, and thus a wavelength region of 500 nm to 600 nm and/or a wavelength region of 600 nm to 700 nm may have a fluorescence maxima. As a result, the curable resin composition of this embodiment containing [B] semiconductor quantum dot can form a cured film suitable for the structure of the light emitting layer of the light emitting element which displays an image using the light of a visible region. .
그리고 또한, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되는 [B] 반도체 양자 도트가, In을 구성 성분으로서 포함하는 화합물로 이루어지는 반도체 양자 도트인 것이 보다 바람직하다. 또한 그 외에, [B] 반도체 양자 도트로서는, Si 또는 Si 화합물을 들 수 있다.Moreover, it is more preferable that the [B] semiconductor quantum dot contained in the curable resin composition of this embodiment is a semiconductor quantum dot which consists of a compound containing In as a structural component. Moreover, Si or a Si compound is mentioned as another [B] semiconductor quantum dot.
[B] 반도체 양자 도트로서, Si 또는 Si 화합물 중, Si가 특히 바람직하다.[B] As a semiconductor quantum dot, Si is especially preferable among Si or Si compounds.
[B] 반도체 양자 도트의 성분 구성을 전술한 바와 같이 함으로써, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 안전하고, 우수한 형광 특성을 갖는 경화막을 형성할 수 있고, 나아가서는, 안전하고, 우수한 형광 특성을 갖는 파장 변환 필름이나 발광 소자의 발광층을 형성할 수 있다.[B] By making the component configuration of the semiconductor quantum dot as described above, the curable resin composition of the present embodiment is safe and can form a cured film having excellent fluorescence properties, and furthermore, safe and excellent fluorescence properties A wavelength conversion film or a light emitting layer of a light emitting element can be formed.
또한, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되는 [B] 반도체 양자 도트는, 1종의 화합물로 이루어지는 균질 구조형 및, 2종 이상의 화합물로 이루어지는 코어 쉘 구조형으로부터 선택되는 적어도 한쪽의 구조형의 반도체 양자 도트인 것이 바람직하다.In addition, the [B] semiconductor quantum dot contained in the curable resin composition of this embodiment is a semiconductor quantum dot of at least one structural type selected from the homogeneous structure type which consists of 1 type of compound, and the core-shell structure type which consists of 2 or more types of compounds. It is preferable to be
코어 쉘 구조형의 [B] 반도체 양자 도트는, 1개의 종류의 화합물로 코어 구조를 형성하고, 다른 화합물로 코어 구조의 주위를 피복하여 구성된다. 예를 들면, 밴드 갭이 보다 큰 반도체로 코어의 반도체를 피복함으로써, 광여기(光勵起)에 의해 생성된 여기자(勵起子)(전자-정공대(正孔對))는 코어 내에 갇힌다. 그 결과, 양자 도트 표면에서의 무복사 전이의 확률이 감소하여, 발광의 양자 수율 및 [B] 반도체 양자 도트의 형광 특성의 안정성이 향상된다.The [B] semiconductor quantum dot of the core-shell structure type is constituted by forming a core structure with one type of compound and covering the periphery of the core structure with another compound. For example, by covering the semiconductor of the core with a semiconductor having a larger band gap, excitons (electron-hole bands) generated by photoexcitation are trapped in the core. As a result, the probability of the radiation-free transition on the surface of the quantum dot is reduced, and the quantum yield of light emission and the stability of the fluorescence property of the [B] semiconductor quantum dot are improved.
본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되는 [B] 반도체 양자 도트는, 성분 구성과 구조를 고려한 경우, 코어 쉘 구조형 반도체 양자 도트인 InP/ZnS, CuInS2/ZnS 및 (ZnS/AgInS2) 고용체/ZnS, 그리고, 균질 구조형 반도체 양자 도트인 AgInS2 및 Zn 도핑된 AgInS2로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인 것이 바람직하다.[B] The semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of the present embodiment are core-shell structured semiconductor quantum dots InP/ZnS, CuInS 2 /ZnS and (ZnS/AgInS 2 ) solid solution/ ZnS, and is preferably at least one member selected from the homogeneous-structure semiconductor quantum dot of AgInS 2 and the group consisting of Zn-doped AgInS 2.
이상으로부터, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되는 [B] 반도체 양자 도트는, InP/ZnS 화합물, CuInS2/ZnS 화합물, AgInS2 화합물, (ZnS/AgInS2) 고용체/ZnS 화합물, Zn 도핑된 AgInS2 화합물 및 Si 화합물의 군으로부터 선택되는 적어도 1개인 것이 바람직하다.From the above, [B] semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of this embodiment are InP/ZnS compound, CuInS 2 /ZnS compound, AgInS 2 compound, (ZnS/AgInS 2 ) solid solution/ZnS compound, Zn doped It is preferable that it is at least 1 selected from the group of AgInS 2 compound and Si compound.
이상에서 예시한 [B] 반도체 양자 도트에 의해, 그것을 함유하는 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 안전하고, 보다 우수한 형광 특성을 갖는 경화막을 형성하고, 나아가서는, 보다 우수한 형광 특성의 파장 변환 필름이나 발광 소자의 발광층을 형성할 수 있다.By the [B] semiconductor quantum dot exemplified above, the curable resin composition of the present embodiment containing the same is safe and forms a cured film having more excellent fluorescence properties, and furthermore, a wavelength conversion film of more excellent fluorescence properties Alternatively, the light emitting layer of the light emitting device can be formed.
또한, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되는 [B] 반도체 양자 도트는, 평균 입경이 0.5㎚∼20㎚인 것이 바람직하고, 1.0㎚∼10㎚인 것이 보다 바람직하다. 평균 입경이 0.5㎚ 미만인 경우에는, [B] 반도체 양자 도트를 조제하는 것이 어렵고, 조제를 할 수 있었다고 해도, [B] 반도체 양자 도트의 형광 특성이 불안정해지는 경우가 있다. [B] 반도체 양자 도트의 평균 입경이 20㎚를 초과하는 경우에는, 반도체 양자 도트의 크기에 의한 양자 가두기 효과가 얻어지지 않는 경우가 있어, 소망으로 하는 형광 특성이 얻어지지 않아, 바람직하지 않다.Moreover, it is preferable that average particle diameters are 0.5 nm - 20 nm, and, as for [B] semiconductor quantum dot contained in curable resin composition of this embodiment, it is more preferable that they are 1.0 nm - 10 nm. When the average particle diameter is less than 0.5 nm, it is difficult to prepare the [B] semiconductor quantum dot, and even if it can be prepared, the fluorescence characteristic of the [B] semiconductor quantum dot may become unstable. [B] When the average particle diameter of the semiconductor quantum dots exceeds 20 nm, the quantum confinement effect due to the size of the semiconductor quantum dots may not be obtained, and the desired fluorescence characteristics cannot be obtained, which is not preferable.
또한, [B] 반도체 양자 도트의 형상은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면, 구 형상, 막대 형상, 원반 형상, 그 외의 형상이라도 좋다. 양자 도트의 입경, 형상, 분산 상태 등의 정보에 대해서는, 투과형 전자 현미경(TEM)에 의해 얻을 수 있다.In addition, [B] The shape of a semiconductor quantum dot is not specifically limited, For example, a spherical shape, a rod shape, a disk shape, and other shapes may be sufficient. Information such as the particle size, shape, and dispersion state of the quantum dots can be obtained by a transmission electron microscope (TEM).
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 함유되는 [B] 반도체 양자 도트를 얻는 방법으로서는, 배위성 유기 용제 중에서 유기 금속 화합물을 열분해하는 공지의 방법을 이용할 수 있다. 또한, 코어 쉘 구조형의 반도체 양자 도트는, 반응에 의해 균질인 코어 구조를 형성한 후, 반응계 내에, 코어 표면에 쉘을 형성하기 위한 전구체를 첨가하고, 쉘 형성 후, 반응을 정지하여, 용제로부터 분리함으로써 얻을 수 있다. 또한, 시판되고 있는 것을 이용하는 것도 가능하다.As a method of obtaining the [B] semiconductor quantum dot contained in the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, a known method of thermally decomposing an organometallic compound in a coordinating organic solvent can be used. In addition, the semiconductor quantum dots of the core-shell structure type, after forming a homogeneous core structure by reaction, add a precursor for forming a shell on the surface of the core in the reaction system, and after shell formation, the reaction is stopped, and the reaction is removed from the solvent. It can be obtained by separating. Moreover, it is also possible to use a commercially available thing.
본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 있어서의 [B] 반도체 양자 도트의 함유량으로서는, 전술한 [A] 성분 100질량부에 대하여, 바람직하게는, 0.1질량부∼100질량부, 보다 바람직하게는 0.2질량부∼50질량부이다. [B] 반도체 양자 도트의 함유량을 전술한 범위로 함으로써, 우수한 형광 특성을 갖는 경화막을 형성하고, 그 결과, 우수한 형광 특성의 파장 변환 필름이나 발광 소자의 발광층을 형성할 수 있다. [B] 반도체 양자 도트의 함유량이, [A] 성분 100질량부에 대하여, 0.1질량부보다 적으면, 형성되는 경화막에 있어서 소망으로 하는 형광 특성을 얻을 수 없어, 파장 변환 필름이나 발광 소자의 발광층을 형성할 수 없다. 또한, [A] 성분 100질량부에 대하여, 100질량부보다 많으면, 형성되는 경화막의 안정성이 손상되어, 안정된 파장 변환 필름이나 발광 소자의 발광층을 형성할 수 없다.As content of [B] semiconductor quantum dot in curable resin composition of this embodiment, with respect to 100 mass parts of [A] component mentioned above, Preferably it is 0.1 mass part - 100 mass parts, More preferably, 0.2 mass parts to 50 parts by mass. [B] By making content of a semiconductor quantum dot into the above-mentioned range, the cured film which has the outstanding fluorescence characteristic can be formed, As a result, the wavelength conversion film of the outstanding fluorescence characteristic, or the light emitting layer of a light emitting element can be formed. [B] When content of a semiconductor quantum dot is less than 0.1 mass part with respect to 100 mass parts of [A] component, the fluorescence characteristic made desired in the cured film formed cannot be acquired, but a wavelength conversion film or a light emitting element A light emitting layer cannot be formed. Moreover, when there are more than 100 mass parts with respect to 100 mass parts of [A] component, stability of the cured film formed will be impaired, and the light emitting layer of a stable wavelength conversion film or a light emitting element cannot be formed.
[[C] 탄화수소계 용제][[C] Hydrocarbon solvent]
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [C] 탄화수소계 용제를 함유한다. 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [C] 탄화수소계 용제를 함유함으로써, 액상의 수지 조성물을 형성할 수 있고, 그 한편으로, [B] 반도체 양자 도트의 응집을 억제하여, [B] 반도체 양자 도트의 분산된 경화성의 수지 조성물을 형성할 수 있다.The curable resin composition of the first embodiment of the present invention contains [C] a hydrocarbon-based solvent. Curable resin composition of this embodiment can form a liquid resin composition by containing [C] hydrocarbon-type solvent, On the other hand, [B] suppresses aggregation of semiconductor quantum dots, [B] semiconductor quantum A dotted dispersed curable resin composition can be formed.
탄화수소계 용제란 탄소 원자와 수소 원자만으로 이루어지는 용제를 나타낸다. 탄화수소계 용제로서는 방향족 탄화수소 용제와 지방족 탄화수소 용제를 들 수 있다. 방향족 탄화수소 용제로서는, 톨루엔, 에틸벤젠, 아밀벤젠, 이소프로필벤젠, 자일렌, 사이클로헥실벤젠, 나프탈렌, 디메틸나프탈렌, 시멘, 테트랄린, 비페닐, 메시틸렌 등을 들 수 있다. 지방족 탄화수소계 용제로서는, 헥산, 헵탄, 옥탄, 노난, 데칸, 운데칸, 도데칸, 사이클로헥산, 메틸사이클로헥산, 에틸사이클로헥산, p-멘탄, 데칼린, 이소옥탄, 이소도데칸, 사이클로헥센, 사이클로펜탄, 디펜텐, 이소파(Isopar) E, 이소파 G, 이소파 H, 이소파 L, 이소파 M((주)고쿠라코산 제조), 테레빈유(turpentine oil), 데카하이드로나프탈린, 피난, α-피넨, β-피넨, 리모넨, 벤진, 쿄와졸 C-800, 쉘졸, 이소졸, 리그로인(고드 공업(주)사 제조) 등을 들 수 있다.The hydrocarbon-based solvent refers to a solvent composed of only carbon atoms and hydrogen atoms. Examples of the hydrocarbon solvent include an aromatic hydrocarbon solvent and an aliphatic hydrocarbon solvent. Examples of the aromatic hydrocarbon solvent include toluene, ethylbenzene, amylbenzene, isopropylbenzene, xylene, cyclohexylbenzene, naphthalene, dimethylnaphthalene, cymene, tetralin, biphenyl, and mesitylene. Examples of the aliphatic hydrocarbon solvent include hexane, heptane, octane, nonane, decane, undecane, dodecane, cyclohexane, methylcyclohexane, ethylcyclohexane, p-mentane, decalin, isooctane, isododecane, cyclohexene, and cyclopentane. , Dipentene, Isopar E, Isopar G, Isopar H, Isofar L, Isopar M (manufactured by Kokura Kosan Co., Ltd.), turpentine oil, decahydronaphthaline, finan, α -Pinene, β-pinene, limonene, benzine, Kyowasol C-800, shellsol, isosol, and ligroin (manufactured by God Industrial Co., Ltd.), and the like.
또한, 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 있어서는, 전술한 [C] 탄화수소계 용제와 함께, 산소 원자 함유 유기 용제를 함유할 수 있다. 산소 함유 유기 용제란, 분자 중에 산소 원자를 포함하는 용제이다. 이 산소 원자 함유 유기 용제를 함유함으로써, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [A] 성분의 용해성 또는 분산성을 보다 향상시킬 수 있다.Moreover, in the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention, an oxygen atom containing organic solvent can be contained with the [C] hydrocarbon-type solvent mentioned above. An oxygen-containing organic solvent is a solvent containing an oxygen atom in a molecule|numerator. By containing this oxygen atom containing organic solvent, the curable resin composition of this embodiment can improve the solubility or dispersibility of [A] component more.
이러한 산소 원자 함유 유기 용제로서는, 아세트산 에틸 등의 에스테르계 용제, 아세톤, 메틸에틸케톤, 사이클로헥산온 등의 케톤계 용제, 테트라하이드로푸란, 디옥산, 디알킬에테르 등의 에테르계 용제, 디메틸술폭사이드 등의 용제, 디메틸포름아미드, N-메틸피롤리돈, N,N-디메틸아세트아미드 등의 아미드계 용제를 들 수 있다.Examples of the oxygen atom-containing organic solvent include ester solvents such as ethyl acetate, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, and cyclohexanone, ether solvents such as tetrahydrofuran, dioxane, and dialkyl ether, dimethyl sulfoxide and amide solvents such as solvents such as dimethylformamide, N-methylpyrrolidone, and N,N-dimethylacetamide.
[C] 탄화수소계 용제와 혼합하여 산소 원자 함유 유기 용제를 이용하는 경우, [C] 탄화수소계 용제의 사용 비율을 100으로 했을 때에, 산소 원자 함유 유기 용제를 1질량%∼50질량%의 범위에서 이용하는 것이 바람직하다. 산소 원자 함유 유기 용제의 상기 사용량이 1질량% 미만인 경우, 산소 원자 함유 유기 용제의 첨가 효과가 충분히 얻어지지 않는 경우가 있다. 또한, 산소 원자 함유 유기 용제의 전술한 사용량이 50질량%보다 많은 경우, [B] 반도체 양자 도트의 응집의 우려가 발생하는 경우가 있다.[C] When using an oxygen atom-containing organic solvent by mixing with a hydrocarbon-based solvent, [C] When the use ratio of the hydrocarbon-based solvent is 100, the oxygen atom-containing organic solvent is used in the range of 1% by mass to 50% by mass. it is preferable When the said usage-amount of the oxygen atom containing organic solvent is less than 1 mass %, the addition effect of an oxygen atom containing organic solvent may not fully be acquired. Moreover, when the above-mentioned usage-amount of an oxygen atom containing organic solvent is more than 50 mass %, fear of aggregation of [B] semiconductor quantum dot may arise.
[[D] 중합성 개시제][[D] Polymerization Initiator]
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 추가로 [D] 중합성 개시제를 함유할 수 있다. [D] 중합성 개시제는, 방사선에 감응하여 [A] 성분과 같은 중합성기를 갖는 화합물의 중합을 개시할 수 있는 활성종을 발생시키는 성분이다. 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [D] 중합성 개시제를 함유함으로써, 감방사선성을 높여, 패터닝성을 향상시킬 수 있다. 그리고, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 포토리소그래피법 등의 공지의 패터닝 방법을 이용하여, 패터닝된 발광층이나 파장 변환 필름을 간편하게 형성할 수 있다.The curable resin composition of 1st Embodiment of this invention can contain [D] a polymerization initiator further. [D] The polymerization initiator is a component that generates active species capable of initiating polymerization of a compound having the same polymerizable group as component [A] in response to radiation. Curable resin composition of this embodiment can improve radiation sensitivity and patternability by containing [D] a polymerization initiator. And the curable resin composition of this embodiment can form the light emitting layer and wavelength conversion film which were patterned simply using well-known patterning methods, such as a photolithography method.
본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 있어서, [D] 중합성 개시제로서는, 예를 들면, 옥심에스테르 화합물, 아세토페논 화합물, 비이미다졸 화합물 등을 들 수 있다. 또한, [D] 중합성 개시제는, 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용해도 좋다.Curable resin composition of this embodiment WHEREIN: As a [D] polymerization initiator, an oxime ester compound, an acetophenone compound, a biimidazole compound, etc. are mentioned, for example. In addition, [D] You may use a polymerization initiator individually or in combination of 2 or more type.
상기 옥심에스테르 화합물로서는, 예를 들면, 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심), 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)], 1-[9-에틸-6-벤조일-9H-카르바졸-3-일]-옥탄-1-온옥심-O-아세테이트, 1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-에탄-1-온옥심-O-벤조에이트, 1-[9-n-부틸-6-(2-에틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-에탄-1-온옥심-O-벤조에이트, 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸-4-테트라하이드로푸라닐벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심), 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸-4-테트라하이드로피라닐벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심), 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸-5-테트라하이드로푸라닐벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심), 에탄온-1-[9-에틸-6-{2-메틸-4-(2,2-디메틸-1,3-디옥솔라닐)메톡시벤조일}-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심) 등의 O-아실옥심 화합물 등을 들 수 있다.Examples of the oxime ester compound include ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime), 1, 2-octanedione-1-[4-(phenylthio)-2-(O-benzoyloxime)], 1-[9-ethyl-6-benzoyl-9H-carbazol-3-yl]-octane-1- Onoxime-O-acetate, 1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-ethan-1-oneoxime-O-benzoate, 1-[9- n-Butyl-6-(2-ethylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-ethan-1-oneoxime-O-benzoate, ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-) Methyl-4-tetrahydrofuranylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime), ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methyl-4-tetra) Hydropyranylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime), ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methyl-5-tetrahydrofuranylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime), ethanone-1-[9-ethyl-6-{2-methyl-4-(2,2-dimethyl-1,3-) O-acyloxime compounds, such as dioxolanyl) methoxybenzoyl}-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyl oxime), etc. are mentioned.
전술한 중에서, 옥심에스테르 화합물로서는, 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심), 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)], 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸-4-테트라하이드로푸라닐메톡시벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심), 에탄온-1-[9-에틸-6-{2-메틸-4-(2,2-디메틸-1,3-디옥솔라닐)메톡시벤조일}-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심)이 바람직하다.In the above, examples of the oxime ester compound include ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime), 1,2 -Octanedione-1-[4-(phenylthio)-2-(O-benzoyloxime)], ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methyl-4-tetrahydrofuranylmethoxybenzoyl) -9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime), ethanone-1-[9-ethyl-6-{2-methyl-4-(2,2-dimethyl-1,3-) Preference is given to dioxolanyl)methoxybenzoyl}-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime).
상기 아세토페논 화합물로서는, 예를 들면, α-아미노케톤, α-하이드록시케톤 화합물을 들 수 있다.Examples of the acetophenone compound include α-aminoketone and α-hydroxyketone compounds.
상기 α-아미노케톤 화합물로서는, 예를 들면, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄-1-온, 2-디메틸아미노-2-(4-메틸벤질)-1-(4-모르폴린-4-일-페닐)-부탄-1-온, 2-메틸-1-(4-메틸티오페닐)-2-모르폴리노프로판-1-온 등을 들 수 있다.Examples of the α-aminoketone compound include 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butan-1-one, 2-dimethylamino-2-(4-methylbenzyl). )-1-(4-morpholin-4-yl-phenyl)-butan-1-one, 2-methyl-1-(4-methylthiophenyl)-2-morpholinopropan-1-one, etc. can
상기 α-하이드록시케톤 화합물로서는, 예를 들면, 1-페닐-2-하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 1-(4-i-프로필페닐)-2-하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 4-(2-하이드록시에톡시)페닐-(2-하이드록시-2-프로필)케톤, 1-하이드록시사이클로헥실페닐케톤 등을 들 수 있다.Examples of the α-hydroxyketone compound include 1-phenyl-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one and 1-(4-i-propylphenyl)-2-hydroxy-2-methyl. Propan-1-one, 4-(2-hydroxyethoxy)phenyl-(2-hydroxy-2-propyl)ketone, 1-hydroxycyclohexylphenylketone, etc. are mentioned.
상기 아세토페논 화합물로서는, α-아미노케톤 화합물이 바람직하고, 2-디메틸아미노-2-(4-메틸벤질)-1-(4-모르폴린-4-일-페닐)-부탄-1-온, 2-메틸-1-(4-메틸티오페닐)-2-모르폴리노프로판-1-온이 보다 바람직하다.The acetophenone compound is preferably an α-aminoketone compound, 2-dimethylamino-2-(4-methylbenzyl)-1-(4-morpholin-4-yl-phenyl)-butan-1-one; 2-methyl-1-(4-methylthiophenyl)-2-morpholinopropan-1-one is more preferable.
상기 비이미다졸 화합물로서는, 예를 들면, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라키스(4-에톡시카보닐페닐)-1,2'-비이미다졸, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸, 2,2'-비스(2,4-디클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸, 2,2'-비스(2,4,6-트리클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸 등을 들 수 있다. 이들 중에서, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸, 2,2'-비스(2,4-디클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸, 2,2'-비스(2,4,6-트리클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸이 바람직하고, 2,2'-비스(2,4-디클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸이 보다 바람직하다.Examples of the biimidazole compound include 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetrakis(4-ethoxycarbonylphenyl)-1,2' -Biimidazole, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis(2,4 -dichlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis(2,4,6-trichlorophenyl)-4,4', 5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, etc. are mentioned. Among them, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis(2,4-dichloro Phenyl)-4,4',5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis(2,4,6-trichlorophenyl)-4,4',5, 5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole is preferred, 2,2'-bis(2,4-dichlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenyl-1,2' -Biimidazole is more preferable.
[D] 중합성 개시제의 함유량으로서는, [A] 성분 100질량부에 대하여, 0.1질량부∼40질량부가 바람직하고, 0.5질량부∼20질량부가 보다 바람직하다. [D] 중합 개시제의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 저노광량의 경우라도 양호한 패터닝성을 나타내고, 또한, 충분한 표면 경도 및 밀착성을 갖는 경화막을 형성할 수 있다.[D] As content of a polymerization initiator, 0.1 mass part - 40 mass parts are preferable with respect to 100 mass parts of [A] component, and 0.5 mass part - 20 mass parts are more preferable. [D] By making content of a polymerization initiator into the said range, curable resin composition of this embodiment can show favorable patterning property even in the case of a low exposure amount, and can form the cured film which has sufficient surface hardness and adhesiveness.
또한, [D] 중합 개시제는, 탄소수 1∼20의 탄화수소기를 함유하는 중합성 개시제인 것이 바람직하다. 이러한 구조를 구비한 [D] 중합 개시제로 함으로써, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 있어서, [C] 탄화수소계 용제로의 [D] 중합 개시제의 용해성을 향상시킬 수 있다.Moreover, it is preferable that the [D] polymerization initiator is a polymerization initiator containing a C1-C20 hydrocarbon group. By setting it as the [D] polymerization initiator having such a structure, in the curable resin composition of the present embodiment, the solubility of the [D] polymerization initiator in the [C] hydrocarbon-based solvent can be improved.
이러한 탄소수 1∼20의 탄화수소기를 함유하는 중합성 개시제로서는, 예를 들면, 2-디메틸아미노-2-(4-메틸벤질)-1-(4-모르폴린-4-일-페닐)-부탄-1-온(이르가큐어(IRUGACURE)(등록상표) 379), 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)](이르가큐어(등록상표) OXE01), 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심)(이르가큐어(등록상표) OXE02)(이상, BASF사 제조) 등을 들 수 있다.Examples of the polymerization initiator containing a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms include 2-dimethylamino-2-(4-methylbenzyl)-1-(4-morpholin-4-yl-phenyl)-butane- 1-one (IRUGACURE (registered trademark) 379), 1,2-octanedione-1-[4-(phenylthio)-2-(O-benzoyloxime)] (IRUGACURE (registered trademark) ) OXE01), ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(O-acetyloxime) (Irgacure® OXE02 ) (above, manufactured by BASF) and the like.
[[E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체][[E] Polymer having a carboxyl group and having a weight average molecular weight of 5000 or more and 40000 or less]
본 발명의 경화성 수지 조성물에 있어서의 [E] 성분인 [E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체는, 후술하는 화합물 (e1) 및 화합물 (e2)를 용제 중에서, 중합 개시제의 존재하에 라디칼 중합함으로써 제조할 수 있는 공중합체(이하, [E1] 성분이라고도 함)나, 카복실기 함유 엘라스토머(이하, [E2] 성분이라고도 함)를 들 수 있다.The polymer having a weight average molecular weight of 5000 or more and 40,000 or less having a [E] carboxyl group as the [E] component in the curable resin composition of the present invention contains the compound (e1) and the compound (e2) described later in a solvent, the presence of a polymerization initiator A copolymer (hereinafter, also referred to as a [E1] component) and a carboxyl group-containing elastomer (hereinafter also referred to as a [E2] component) which can be produced by radical polymerization under the following conditions are mentioned.
[E1] 성분 중, (e1) 에틸렌성 불포화 카본산 및/또는 에틸렌성 불포화 카본산무수물(이하, 이들을 종합하여, 불포화 카본산계 단량체 (e1)이라고 함)로서는, 예를 들면, 아크릴산, 메타크릴산, 크로톤산, 2-메타크릴로일옥시에틸숙신산, 2-메타크릴로일옥시에틸헥사하이드로프탈산 등의 모노카본산류; 말레산, 푸마르산, 시트라콘산, 메타콘산, 이타콘산 등의 디카본산류; 상기 디카본산의 무수물류 등을 들 수 있다.[E1] Among the components, (e1) ethylenically unsaturated carboxylic acid and/or ethylenically unsaturated carboxylic acid anhydride (hereinafter, these are collectively referred to as unsaturated carboxylic acid monomer (e1)) include, for example, acrylic acid and methacrylic acid. monocarboxylic acids such as acid, crotonic acid, 2-methacryloyloxyethylsuccinic acid, and 2-methacryloyloxyethylhexahydrophthalic acid; dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, metaconic acid, and itaconic acid; The anhydrides of the said dicarboxylic acid etc. are mentioned.
이들 불포화 카본산계 단량체 (e1) 중, 공중합 반응성, 얻어지는 중합체의 알칼리 수용액에 대한 용해성 및 입수가 용이한 점에서, 아크릴산, 메타크릴산, 무수 말레산, 2-메타크릴로일옥시에틸헥사하이드로프탈산 등이 바람직하다.Among these unsaturated carboxylic acid monomers (e1), acrylic acid, methacrylic acid, maleic anhydride, 2-methacryloyloxyethylhexahydrophthalic acid, from the viewpoint of copolymerization reactivity, solubility of the polymer obtained in aqueous alkali solution, and easy availability. etc. are preferable.
[E1] 성분에 있어서, 불포화 카본산계 단량체 (e1)은, 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.[E1] Component WHEREIN: The unsaturated carboxylic acid-type monomer (e1) can be used individually or in mixture of 2 or more types.
[E1] 성분에 있어서, 불포화 카본산계 단량체 (e1)에 유래하는 반복 단위의 함유율은, 바람직하게는 5질량%∼50질량%, 더욱 바람직하게는 10질량%∼40질량%, 특히 바람직하게는 15질량%∼30질량%이다. 이 경우, 불포화 카본산계 단량체 (e1)에 유래하는 반복 단위의 함유율이 5질량% 미만이면, 알칼리 수용액에 대한 용해성이 저하되는 경향이 있고, 한편 40질량%를 초과하면, 알칼리 수용액에 대한 용해성이 지나치게 커질 우려가 있다.[E1] In the component, the content of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid monomer (e1) is preferably 5% by mass to 50% by mass, more preferably 10% by mass to 40% by mass, particularly preferably 15 mass % - 30 mass %. In this case, when the content rate of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid monomer (e1) is less than 5% by mass, the solubility in aqueous alkali solution tends to decrease, whereas when it exceeds 40% by mass, the solubility in aqueous alkali solution is poor. There is a risk of becoming too large.
또한, (e2) 기타 에틸렌성 불포화 화합물(이하, 단순히, (e2) 기타 단량체라고 함)로서는, (메타)아크릴산 알킬에스테르류, (메타)아크릴산 지환식 에스테르류, (메타)아크릴산의 아릴에스테르, 디카본산 디알킬에스테르류, (메타)아크릴산 에폭시알킬에스테르류; 디카보닐이미드 유도체류; 공액 디엔계 화합물, 비닐 방향족 화합물 등을 들 수 있다.Further, as (e2) other ethylenically unsaturated compounds (hereinafter simply referred to as (e2) other monomers), (meth)acrylic acid alkyl esters, (meth)acrylic acid alicyclic esters, (meth)acrylic acid aryl esters, dicarboxylic acid dialkyl esters, (meth)acrylic acid epoxyalkyl esters; dicarbonylimide derivatives; A conjugated diene type compound, a vinyl aromatic compound, etc. are mentioned.
이들의 (e2) 기타 단량체 중, 공중합 반응성 및 얻어지는 중합체의 알칼리 수용액에 대한 용해성의 점에서, 아크릴산 2-메틸사이클로헥실, 메타크릴산 하이드록시에틸, 메타크릴산 트리사이클로[5.2.1.02,6]데칸-8-일, 스티렌, 메타크릴산 글리시딜, 3-(메타크릴옥시메틸)-3-에틸옥세탄, 메타크릴산 테트라하이드로푸르푸릴, 1,3-부타디엔, 페닐말레이미드, 사이클로헥실말레이미드 등이 바람직하다. (e2) 기타 단량체는, 단독 또는 2종류 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Among these (e2) other monomers, 2-methylcyclohexyl acrylate, hydroxyethyl methacrylate, tricyclo[5.2.1.0 2,6 methacrylate from the viewpoint of copolymerization reactivity and solubility of the polymer obtained in aqueous alkali solution. ]Decan-8-yl, styrene, glycidyl methacrylate, 3-(methacryloxymethyl)-3-ethyloxetane, tetrahydrofurfuryl methacrylate, 1,3-butadiene, phenylmaleimide, cyclo Hexylmaleimide and the like are preferable. (e2) Other monomers can be used individually or in mixture of 2 or more types.
[E1] 성분은, (e2) 기타 단량체로부터 유도되는 반복 단위를, 바람직하게는 50질량%∼95질량%, 더욱 바람직하게는 60질량%∼90질량%, 특히 바람직하게는 70질량%∼85질량% 함유하고 있다. 이 경우, 반복 단위가 10질량% 미만인 경우는, [E1] 성분의 보존 안정성이 저하되는 경향이 있고, 한편 70질량%를 초과하는 경우는 [E1] 성분이 알칼리 수용액에 용해되기 어려워진다.[E1] component, (e2) the repeating unit derived from other monomers, preferably 50 mass% to 95 mass%, more preferably 60 mass% to 90 mass%, particularly preferably 70 mass% to 85 mass% % by mass. In this case, when the repeating unit is less than 10% by mass, the storage stability of the component [E1] tends to decrease, while when it exceeds 70% by mass, the component [E1] becomes difficult to dissolve in the aqueous alkali solution.
상기와 같이, 본 발명에서 이용되는 [E1] 성분은, 카복실기 및/또는 카본산 무수물기 그리고 기타 에틸렌성 불포화 화합물을 갖고 있고, 알칼리 수용액에 대하여 적절한 용해성을 가짐과 동시에, 특별한 경화제를 병용하지 않아도 가열에 의해 용이하게 경화시킬 수 있다.As described above, the [E1] component used in the present invention has a carboxyl group and/or a carboxylic acid anhydride group and other ethylenically unsaturated compounds, has appropriate solubility in aqueous alkali solution, and does not use a special curing agent in combination. It can be easily hardened by heating.
[E1] 성분의 제조에 이용되는 용제로서는, 예를 들면, 알코올, 에테르, 글리콜에테르, 에틸렌글리콜알킬에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜, 디프로필렌글리콜, 프로필렌글리콜모노알킬에테르, 프로필렌글리콜알킬에테르아세테이트, 프로필렌글리콜알킬에테르프로피오네이트, 방향족 탄화수소, 케톤, 에스테르 등을 들 수 있다.[E1] As a solvent used for manufacture of a component, For example, alcohol, ether, glycol ether, ethylene glycol alkyl ether acetate, diethylene glycol, dipropylene glycol, propylene glycol monoalkyl ether, propylene glycol alkyl ether acetate, propylene A glycol alkyl ether propionate, an aromatic hydrocarbon, a ketone, ester, etc. are mentioned.
이들 중, 에틸렌글리콜알킬에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜, 디프로필렌글리콜, 프로필렌글리콜모노알킬에테르, 프로필렌글리콜알킬에테르아세테이트가 바람직하고, 그 중에서도, 디에틸렌글리콜디메틸에테르, 디에틸렌글리콜에틸메틸에테르, 디프로필렌글리콜디메틸에테르, 디프로필렌글리콜에틸메틸에테르, 프로필렌글리콜메틸에테르, 프로필렌글리콜메틸에테르아세테이트, 아세트산 3-메톡시부틸이 특히 바람직하다.Among these, ethylene glycol alkyl ether acetate, diethylene glycol, dipropylene glycol, propylene glycol monoalkyl ether, and propylene glycol alkyl ether acetate are preferable, and among these, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol ethyl methyl ether, and dipropylene Glycol dimethyl ether, dipropylene glycol ethyl methyl ether, propylene glycol methyl ether, propylene glycol methyl ether acetate and 3-methoxybutyl acetate are particularly preferable.
상기 용제는, 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.The said solvent can be used individually or in mixture of 2 or more types.
또한, 상기 중합에 이용되는 라디칼 중합 개시제로서는, 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들면, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 2,2'-아조비스-(2,4-디메틸발레로니트릴), 2,2'-아조비스-(4-메톡시-2,4-디메틸발레로니트릴), 4,4'-아조비스(4-시아노발레르산), 디메틸2,2'-아조비스(2-메틸프로피오네이트), 2,2'-아조비스(4-메톡시-2,4-디메틸발레로니트릴) 등의 아조 화합물; 벤조일퍼옥사이드, 라우로일퍼옥사이드, t-부틸퍼옥시피발레이트, 1,1-비스(t-부틸퍼옥시)사이클로헥산 등의 유기 과산화물; 과산화 수소 등을 들 수 있다. 또한, 라디칼 중합 개시제로서 과산화물을 이용하는 경우에는, 그것과 환원제를 병용하여, 리닥스형 개시제로 해도 좋다.Moreover, it does not specifically limit as a radical polymerization initiator used for the said superposition|polymerization, For example, 2,2'- azobisisobutyronitrile, 2,2'- azobis-(2, 4- dimethylvalero nitrile), 2,2'-azobis-(4-methoxy-2,4-dimethylvaleronitrile), 4,4'-azobis(4-cyanovaleric acid),
이들 라디칼 중합 개시제는, 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.These radical polymerization initiators can be used individually or in mixture of 2 or more types.
또한, [E1] 성분 중의 카복실기에 에폭시기를 갖는 (메타)아크릴산 에스테르를 반응시켜, 중합체 중에 (메타)아크릴로일옥시기를 도입할 수 있다.Moreover, (meth)acrylic acid ester which has an epoxy group can be made to react with the carboxyl group in [E1] component, and a (meth)acryloyloxy group can be introduce|transduced in a polymer.
중합체 중의 카복실기와 에폭시기를 갖는 (메타)아크릴산 에스테르 등의 불포화 화합물과의 반응에 있어서는, 필요에 따라서 적당한 촉매의 존재하에 있어서, 바람직하게는 중합 금지제를 포함하는 중합체의 용액에, 에폭시기를 갖는 불포화 화합물을 투입하고, 가온하에서 소정 시간 교반한다. 상기 촉매로서는, 예를 들면, 테트라부틸암모늄브로마이드 등을 들 수 있다. 상기 중합 금지제로서는, 예를 들면, p-메톡시페놀 등을 들 수 있다. 반응 온도는, 70℃∼100℃가 바람직하다. 반응 시간은, 8시간∼12시간이 바람직하다.In the reaction with an unsaturated compound such as (meth)acrylic acid ester having a carboxyl group in a polymer and an epoxy group, in the presence of a suitable catalyst as needed, preferably in a solution of a polymer containing a polymerization inhibitor, an unsaturated compound having an epoxy group The compound is added and stirred under heating for a predetermined time. As said catalyst, tetrabutylammonium bromide etc. are mentioned, for example. As said polymerization inhibitor, p-methoxyphenol etc. are mentioned, for example. As for reaction temperature, 70 degreeC - 100 degreeC are preferable. As for reaction time, 8 hours - 12 hours are preferable.
(메타)아크릴로일옥시기를 갖는 구성 단위의 함유량은, [E1] 성분 전체 성분 중 10㏖%∼70㏖%인 것이 바람직하고, 20㏖%∼50㏖%인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that they are 10 mol% - 70 mol% in [E1] component whole component, and, as for content of the structural unit which has a (meth)acryloyloxy group, it is more preferable that they are 20 mol% - 50 mol%.
(메타)아크릴로일옥시기를 갖는 구성 단위의 함유량이 10㏖%보다 적은 경우, 경화성 수지 조성물의 방사선으로의 감도가 저하되는 경향이 있고, 얻어지는 경화막의 내열성도 충분하지 않다. 또한, 70㏖%보다 많이 함유하는 경우에서는, 현상시의 현상 불량의 원인이 되어, 현상 잔사가 발생하기 쉬워진다.When content of the structural unit which has a (meth)acryloyloxy group is less than 10 mol%, there exists a tendency for the sensitivity to the radiation of curable resin composition to fall, and the heat resistance of the cured film obtained is also not enough. Moreover, when it contains more than 70 mol%, it becomes a cause at the time of image development at the time of image development, and it becomes easy to generate|occur|produce image development residue.
본 발명의 경화성 수지 조성물에 있어서의 [E2] 성분으로서는, 카복실기 함유 엘라스토머를 들 수 있다.A carboxyl group containing elastomer is mentioned as [E2] component in curable resin composition of this invention.
[E2] 성분으로서 이용되는 카복실기 함유 엘라스토머로서는, 예를 들면, 카복실기 함유 폴리이소프렌(주식회사 쿠라레 제조, 상품명 「LIR-410」 「UC-102」 「UC-203」), 무수 말레산 변성 EEA 수지(일본 제지 주식회사 제조, 상품명 「아우로렌(AUROREN) 350S」), 무수 말레산 변성 SEBS 수지(아사히카세이 케미컬즈 주식회사 제조, 상품명 「터프텍(TUFTEC) M-1943」), 에틸렌-메타크릴산 공중합 수지(미쓰이·듀퐁 폴리케미컬 주식회사 제조, 상품명 「뉴크렐(Nucrel)」) 등을 들 수 있다.[E2] As the carboxyl group-containing elastomer used as the component, for example, carboxyl group-containing polyisoprene (manufactured by Kuraray Co., Ltd., trade names "LIR-410" "UC-102" "UC-203"), maleic anhydride-modified EEA resin (manufactured by Nippon Paper Co., Ltd., trade name "AUROREN 350S"), maleic anhydride-modified SEBS resin (manufactured by Asahi Kasei Chemicals, trade name "TUFTEC M-1943"), ethylene-methacrylic Acid copolymer resin (The Mitsui DuPont Polychemical Co., Ltd. make, brand name "Nucrel") etc. are mentioned.
상기 [E2] 성분으로서 이용되는 카복실기 함유 엘라스토머 중, 특히 카복실기 함유 폴리이소프렌(주식회사 쿠라레 제조, 상품명 「LIR-410」 「UC-102」 「UC-203」)이 양자 도트의 분산 안정성의 관점에서 바람직하고, 그 중에서도 「UC-102」는 패터닝의 관점에서 특히 바람직하다.Among the carboxyl group-containing elastomers used as the component [E2], in particular, carboxyl group-containing polyisoprene (manufactured by Kuraray Co., Ltd., trade names "LIR-410" "UC-102" "UC-203") is a quantum dot dispersion stability It is preferable from a viewpoint, and especially, "UC-102" is especially preferable from a viewpoint of patterning.
이상의 [E] 성분에 있어서, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)에 의한 폴리스티렌 환산 중량 평균 분자량(이하, 「Mw」라고 함)은, 통상, 5000∼40000, 바람직하게는 5000∼20000이다. 이 경우, Mw가 5000 미만이면, 얻어지는 피막의 현상성, 잔막률 등이 저하되거나, 또한 패턴 형상, 내열성 등이 손상될 우려가 있다. 한편, Mw가 20000을 초과하면, 해상도가 저하되거나, 패턴 형상이 손상될 우려가 있다.The above component [E] WHEREIN: The polystyrene conversion weight average molecular weight (henceforth "Mw") by gel permeation chromatography (GPC) is 5000-40000 normally, Preferably it is 5000-20000. In this case, when Mw is less than 5000, there is a possibility that the developability, the remaining film ratio, etc. of the obtained film may fall, or a pattern shape, heat resistance, etc. may be impaired. On the other hand, when Mw exceeds 20000, there exists a possibility that a resolution may fall or a pattern shape may be impaired.
[E] 성분의 함유량으로서는, [A] 성분 100질량부에 대하여, 20질량부∼200질량부가 바람직하고, 40질량부∼150질량부가 보다 바람직하다. 중합체의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 밀착성이 우수하고, 또한 저노광량에 있어서도 충분한 표면 경도를 갖는 경화막을 형성할 수 있다.As content of [E] component, 20 mass parts - 200 mass parts are preferable with respect to 100 mass parts of [A] component, and 40 mass parts - 150 mass parts are more preferable. By making content of a polymer into the said range, curable resin composition of this embodiment can form the cured film which is excellent in adhesiveness and has sufficient surface hardness also in a low exposure amount.
[그 외의 임의 성분][Other optional ingredients]
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 분자량이 150∼10000인 화합물, [B] 반도체 양자 도트 및, [C] 탄화수소계 용제를 필수의 성분으로서 함유함과 동시에, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 한, 그 외의 임의 성분을 함유할 수 있다. 그 외의 임의 성분으로서는, 예를 들면, 경화촉진제나 열산 발생제 등을 들 수 있다.The curable resin composition of the first embodiment of the present invention contains [A] a compound having a molecular weight of 150 to 10000 having two or more polymerizable groups in one molecule, [B] a semiconductor quantum dot, and [C] a hydrocarbon solvent. As long as the effects of the present invention are not impaired, other optional components may be contained. As another optional component, a hardening accelerator, a thermal acid generator, etc. are mentioned, for example.
경화촉진제는, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물에 의해 형성되는 막의 경화를 촉진하는 기능을 하는 화합물이다.A hardening accelerator is a compound which functions to accelerate|stimulate hardening of the film|membrane formed of the curable resin composition of this embodiment.
열산 발생제는, 열을 가함으로써 수지를 경화시킬 때의 촉매로서 작용하는 산성 활성 물질을 방출할 수 있는 화합물이다.A thermal acid generator is a compound capable of releasing an acidic active substance that acts as a catalyst when curing a resin by applying heat.
또한, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 필요에 따라서, 계면활성제, 보존 안정제, 접착조제, 내열성 향상제 등의 그 외의 임의 성분을 함유할 수 있다. 이들의 각 임의 성분은, 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 혼합하여 사용해도 좋다.Moreover, the curable resin composition of this embodiment can contain other arbitrary components, such as surfactant, a storage stabilizer, an adhesion aid, and a heat resistance improving agent, as needed within the range which does not impair the effect of this invention. Each of these optional components may be used independently, and 2 or more types may be mixed and used for them.
[경화성 수지 조성물의 조제 방법][Method for preparing curable resin composition]
본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 분자량(중량 평균 분자량)이 150∼10000인 화합물, [B] 반도체 양자 도트 및, [C] 탄화수소계 용제를 균일하게 혼합함으로써 조제된다. 또한, [D] 성분이나 [E] 성분을 함유하는 경우, [A] 성분, [B] 성분 및 [C] 성분과 함께, [D] 성분이나 [E] 성분을 균일하게 혼합함으로써 조제된다.The curable resin composition of the first embodiment of the present invention includes [A] a compound having a molecular weight (weight average molecular weight) of 150 to 10000 having two or more polymerizable groups in one molecule, [B] a semiconductor quantum dot, and [C] It is prepared by uniformly mixing a hydrocarbon solvent. In addition, when the component [D] or the component [E] is contained, it is prepared by uniformly mixing the component [D] and the component [E] together with the component [A], the component [B] and the component [C].
또한, 그 외의 임의 성분을 필요에 따라서 선택하고, 그들을 함유시키는 경우, [A] 성분, [B] 성분 및 [C] 성분 그리고 그 외의 임의의 성분을 균일하게 혼합함으로써 조제된다. 그리고, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, [C] 탄화수소계 용제를 함유하고, 필요한 경우에, 산소 원자 함유 유기 용제도 함유하여, 기타 성분이 용해되고, 바람직하게는 용액 상태로 이용된다.Moreover, when selecting other arbitrary components as needed, and making them contain, it prepares by mixing uniformly [A] component, [B] component, and [C] component, and other arbitrary components. And the curable resin composition of this embodiment contains the [C] hydrocarbon type solvent, and also contains an oxygen atom containing organic solvent if necessary, other components melt|dissolve, Preferably it is used in a solution state.
[C] 탄화수소계 용제 및 필요한 경우에 이용되는 산소 원자 함유 유기 용제(이하, 단순히, 용제 성분이라고도 함)의 함유량은 특별히 한정되지 않는다. 그러나, 얻어지는 경화성 수지 조성물의 기타 성분의 용해성이나, 경화성 수지 조성물의 도포성 및 안정성 등의 관점에서, 경화성 수지 조성물의 용제 성분을 제외한 각 성분의 합계 농도가, 2질량%∼50질량%가 되는 양이 바람직하고, 5질량%∼40질량%가 되는 양이 보다 바람직하다. 경화성 수지 조성물의 용액을 조제하는 경우, 실제로는, 전술한 농도 범위에 있어서, 소망하는 막두께의 값 등에 따른 고형분 농도(경화성 수지 조성물 용액 중에 차지하는 용제 성분 이외의 성분)가 설정된다.[C] The content of the hydrocarbon-based solvent and the oxygen atom-containing organic solvent (hereinafter simply referred to as a solvent component) used when necessary is not particularly limited. However, from the viewpoint of solubility of other components of the obtained curable resin composition, applicability and stability of the curable resin composition, the total concentration of each component excluding the solvent component of the curable resin composition is 2% by mass to 50% by mass The quantity is preferable, and the quantity used as 5 mass % - 40 mass % is more preferable. When preparing the solution of curable resin composition, in fact, in the above-mentioned density|concentration range, the solid content concentration (components other than the solvent component which occupies in curable resin composition solution) according to the value of a desired film thickness etc. is set.
이와 같이 하여 조제된 용액 상태의 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물은, 공경(孔徑) 0.5㎛ 정도의 밀리포어 필터 등을 이용하여 여과한 후에, 본 실시 형태의 경화막의 형성에 사용하는 것이 바람직하다.After filtering the curable resin composition of this embodiment of the solution state prepared in this way using the Millipore filter etc. with a pore diameter of about 0.5 micrometer, it is preferable to use for formation of the cured film of this embodiment.
실시 형태 2.
<경화막><Cured film>
본 발명의 제2 실시 형태의 경화막은, 기판 상에, 전술한 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물을 도포하고, 필요한 경우에 패터닝을 한 후, 가열 경화하여 형성된다. 이하에서, 본 실시 형태의 경화막 및 그의 형성 방법에 대해서 설명한다.The cured film of 2nd Embodiment of this invention apply|coats the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention mentioned above on a board|substrate, after patterning if necessary, it heat-hardens and forms. Below, the cured film of this embodiment and its formation method are demonstrated.
본 실시 형태의 경화막의 형성 방법에서는, 기판 상에 경화막이 형성되도록, 적어도 하기의 공정 (1)∼공정 (4)를 하기의 순서로 포함하는 것이 바람직하다.In the formation method of the cured film of this embodiment, it is preferable to include the following process (1) - a process (4) in the following order at least so that a cured film may be formed on a board|substrate.
(1) 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물의 도막을 기판 상에 형성하는 도막 형성 공정.(1) A coating film forming step of forming a coating film of the curable resin composition of the first embodiment of the present invention on a substrate.
(2) 공정 (1)에서 형성한 도막의 적어도 일부에 방사선을 조사하는 방사선 조사 공정.(2) A radiation irradiation step of irradiating at least a part of the coating film formed in the step (1) with radiation.
(3) 공정 (2)에서 방사선이 조사된 도막을 현상하는 현상 공정.(3) A developing step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2).
(4) 공정 (3)에서 현상된 도막을 노광하는 경화 공정.(4) A curing step of exposing the coating film developed in step (3).
그리고, 도 1∼도 4는, 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성 방법을 설명하는 도면이다.And FIGS. 1-4 are figures explaining the formation method of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
도 1은, 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 도막 형성 공정을 설명하는 기판의 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing of the board|substrate explaining the coating-film formation process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
도 2는, 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 방사선 조사 공정을 개략적으로 설명하는 단면도이다.2 : is sectional drawing explaining schematically the radiation irradiation process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
도 3은, 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 현상 공정을 설명하는 기판의 단면도이다.It is sectional drawing of the board|substrate explaining the image development process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention.
도 4는, 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서의 경화 공정을 설명하는 경화막 및 기판의 단면도이다.It is sectional drawing of the cured film explaining the hardening process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention, and a board|substrate.
이하, 전술의 공정 (1)(도막 형성 공정)∼공정 (4)(경화 공정)에 대해서 각각 설명한다.Hereinafter, the above-mentioned process (1) (coating-film formation process) - process (4) (hardening process) are demonstrated, respectively.
[공정 (1)][Process (1)]
본 실시 형태의 경화막의 형성 방법의 공정 (1)인 도막 형성 공정에서는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물의 도막(1)을 기판(2) 상에 형성한다.In the coating film formation process which is process (1) of the formation method of the cured film of this embodiment, as shown in FIG. 1, the
도막(1)을 형성하는 기판(2)에는, 유리, 석영, 실리콘, 또는, 수지(예를 들면, 폴리이미드, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리에테르술폰, 폴리카보네이트, 폴리에스테르, 환상 올레핀의 개환 중합체 및 그의 수소 첨가물 등) 등으로 이루어지는 기판을 이용할 수 있다. 또한, 이들 기판에는, 소망에 따라, 실란 커플링제 등에 의한 약품 처리, 플라즈마 처리, 이온 플레이팅, 스퍼터링, 기상 반응법, 진공 증착 등의 전(前)처리를 시행해 둘 수도 있다.To the
기판(2)에 있어서, 한쪽의 면에, 본 실시 형태의 경화성 수지 조성물이 도포된 후, 프리베이킹을 행하고, 경화성 수지 조성물에 함유되는 용제 등의 성분이 증발하여, 도막(1)의 형성이 행해진다.In the board|
본 공정에 있어서의 경화성 수지 조성물의 도포 방법으로서는, 예를 들면, 스프레이법, 롤 코팅법, 회전 도포법(스핀 코팅법 또는 스피너법이라고 칭해는 경우도 있음), 슬릿 도포법(슬릿 다이 도포법), 바 도포법, 잉크젯 도포법 등의 적절한 방법을 채용할 수 있다. 이들 중, 균일한 두께의 막을 형성할 수 있는 점에서, 스핀 코팅법 또는 슬릿 도포법이 바람직하다.As a coating method of the curable resin composition in this process, for example, a spray method, a roll coating method, a spin coating method (the spin coating method or a spinner method may be called), a slit coating method (slit die coating method) ), a bar coating method, and an appropriate method such as an inkjet coating method can be employed. Among these, the spin coating method or the slit coating method is preferable at the point which can form the film|membrane of uniform thickness.
전술의 프리베이킹의 조건은, 경화성 수지 조성물을 구성하는 각 성분의 종류, 배합 비율 등에 따라 상이하지만, 70℃∼120℃의 온도에서 행하는 것이 바람직하고, 시간은, 핫 플레이트나 오븐 등의 가열 장치에 따라 상이하지만, 대략 1분간∼15분간 정도이다.Although the conditions of the above-mentioned pre-baking differ depending on the kind, blending ratio, etc. of each component which comprises curable resin composition, it is preferable to carry out at the temperature of 70 degreeC - 120 degreeC, and time is a heating apparatus, such as a hotplate and oven, Although it varies depending on the time, it is about 1 minute to 15 minutes.
[공정 (2)][Process (2)]
이어서, 본 실시 형태의 경화막의 형성 방법의 공정 (2)인 방사선 조사 공정에서는, 도 2에 나타내는 바와 같이, 공정 (1)에서 기판(2) 상에 형성된 도막(1)의 적어도 일부에 방사선(4)을 조사한다. 이때, 도막(1)의 일부에만, 방사선(4a)을 조사하려면, 예를 들면, 소망하는 형상의 형성에 대응하는 패턴의 포토마스크(3)를 개재하여 행한다. 이 포토마스크(3)를 이용함으로써, 조사된 방사선(4)의 일부가 포토마스크를 투과하여, 그 일부의 방사선(4a)이, 도막(1)에 조사된다.Next, in the radiation irradiation process which is the process (2) of the formation method of the cured film of this embodiment, as shown in FIG. 2, at least a part of the
조사에 사용되는 방사선(4)으로서는, 가시광선, 자외선, 원자외선 등을 들 수 있다. 이 중 파장이 200㎚∼550㎚의 범위에 있는 방사선이 바람직하고, 365㎚의 자외선을 포함하는 방사선이 보다 바람직하다.As the
방사선(4)의 조사량(노광량)은, 방사선(4)의 파장 365㎚에 있어서의 강도를 조도계(OAI model 356, Optical Associates Inc. 제조)에 의해 측정한 값으로서, 10J/㎡∼10000J/㎡로 할 수 있고, 100J/㎡∼5000J/㎡가 바람직하고, 200J/㎡∼3000J/㎡가 보다 바람직하다.The dose (exposure dose) of the
[공정 (3)][Process (3)]
다음으로, 본 실시 형태의 경화막의 형성 방법의 공정 (3)인 현상 공정에서는, 도 3에 나타내는 바와 같이, 방사선 조사 후의 도 2의 도막(1)을 현상하여 불필요한 부분을 제거하고, 소정의 형상으로 패터닝된 도막(1a)을 얻는다.Next, in the developing process which is process (3) of the formation method of the cured film of this embodiment, as shown in FIG. 3, the
현상에 사용되는 현상액으로서는, 예를 들면, 수산화 나트륨, 수산화 칼륨, 탄산 나트륨, 규산 나트륨, 메타규산 나트륨, 암모니아 등의 무기 알칼리나, 테트라메틸암모늄하이드록사이드, 테트라에틸암모늄하이드록사이드 등의 4급 암모늄염이나, 콜린, 1,8-디아자바이사이클로-[5.4.0]-7-운데센, 1,5-디아자바이사이클로-[4.3.0]-5-노넨 등의 알칼리성 화합물의 수용액을 사용할 수 있다. 전술의 알칼리성 화합물의 수용액에는, 메탄올, 에탄올 등의 수용성 유기 용제를 적당량 첨가하여 사용할 수도 있다. 또한, 계면활성제를 그것만으로, 또는, 전술의 수용성 유기 용제의 첨가와 함께, 적당량 첨가하여 사용할 수도 있다.As a developing solution used for image development, For example, inorganic alkalis, such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, ammonia, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide, etc. An aqueous solution of an alkaline compound such as quaternary ammonium salt or choline, 1,8-diazabicyclo-[5.4.0]-7-undecene, or 1,5-diazabicyclo-[4.3.0]-5-nonene may be used. can An appropriate amount of a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol may be added to the aqueous solution of the above-mentioned alkaline compound and used. Moreover, surfactant can also be used by itself or by adding an appropriate amount together with addition of the above-mentioned water-soluble organic solvent.
현상 방법은, 퍼들법, 디핑법, 샤워법, 스프레이법 등 중 어느 것이라도 좋고, 현상 시간은, 상온에서 5초간∼300초간으로 할 수 있고, 바람직하게는 상온에서 10초간∼180초간 정도이다. 현상 처리에 이어서, 예를 들면, 유수 세정을 30초간∼90초간 행한 후, 압축 공기나 압축 질소로 풍건함으로써, 소망하는 패턴이 얻어진다.The developing method may be any of a puddle method, a dipping method, a shower method, a spray method, and the like, and the developing time can be 5 seconds to 300 seconds at room temperature, and preferably about 10 seconds to 180 seconds at room temperature. . Following the developing treatment, for example, washing under running water is performed for 30 seconds to 90 seconds, and then air-dried with compressed air or compressed nitrogen to obtain a desired pattern.
[공정 (4)][Process (4)]
다음으로, 본 실시 형태의 경화막의 형성 방법의 공정 (4)인 경화 공정에서는, 도 3에 나타낸 패터닝된 도막(1a)을, 노광 장치를 이용한 노광에 의해 경화(포스트 노광이라고도 함)한다. 이에 따라, 도 4에 나타내는 바와 같이, 기판(2) 상에 형성된, 본 실시 형태의 경화막(5)이 얻어진다. 경화막(5)은, 전술한 바와 같이, 소망하는 형상이 되도록 패터닝되어 있다.Next, in the hardening process which is process (4) of the formation method of the cured film of this embodiment, the patterned
본 실시 형태의 경화막(5)의 형성에는, 전술한 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물을 이용하고 있고, 본 공정에서는, 그 도막의 일부에 방사선을 조사한다. 구체적으로는, 공정 (1)에서 형성되고, 공정 (2) 및 공정 (3)에서 패터닝된 도막에 대하여, 소정의 방사선을 조사한다. 이때에 이용되는 방사선으로서는, 예를 들면, 자외선, 원자외선, X선, 하전 입자선 등을 들 수 있다.The curable resin composition of 1st Embodiment mentioned above is used for formation of the cured
전술의 자외선으로서는, 예를 들면, g선(파장 436㎚), i선(파장 365㎚) 등을 들 수 있다. 원자외선으로서는, 예를 들면, KrF 엑시머 레이저광 등을 들 수 있다. X선으로서는, 예를 들면, 싱크로트론 방사선 등을 들 수 있다. 하전 입자선으로서는, 예를 들면, 전자선 등을 들 수 있다. 이들 방사선 중, 자외선의 사용이 바람직하고, 자외선 중에서도 g선, h선 및 i선 중 적어도 한쪽을 포함하는 방사선이 보다 바람직하다. 방사선의 노광량으로서는, 0.1J/㎡∼30000J/㎡가 바람직하다.Examples of the above-mentioned ultraviolet rays include g-line (wavelength: 436 nm) and i-line (wavelength: 365 nm). As far ultraviolet rays, KrF excimer laser beam etc. are mentioned, for example. Examples of X-rays include synchrotron radiation. As a charged particle beam, an electron beam etc. are mentioned, for example. Among these radiations, the use of ultraviolet rays is preferable, and among the ultraviolet rays, the radiation containing at least one of g-rays, h-rays and i-rays is more preferable. As an exposure amount of a radiation, 0.1 J/m<2> - 30000 J/m<2> is preferable.
이상의 공정 (1)∼공정 (4)를 포함하는 경화막의 형성 방법에 의해 형성된 본 실시 형태의 경화막은, 수지 중에 [B] 반도체 양자 도트를 포함하여 구성되고, [B] 반도체 양자 도트에 기초하는 형광 발광(파장 변환) 기능을 갖는다. 그 때문에, 여기광과 상이한 파장의 형광을 발광하는 파장 변환 필름으로서 이용할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 형태의 파장 변환 필름은, 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물을 이용하여, 전술한 제2 실시 형태의 경화막의 형성 방법에 따라 형성할 수 있다. 그리고, 본 실시 형태의 파장 변환 필름은, [B] 반도체 양자 도트에 기초하는 형광 발광(파장 변환) 기능을 갖는다.The cured film of this embodiment formed by the method for forming a cured film including the above steps (1) to (4) is constituted by including [B] semiconductor quantum dots in resin, and based on [B] semiconductor quantum dots It has a fluorescence emission (wavelength conversion) function. Therefore, it can be used as a wavelength conversion film which emits fluorescence of a wavelength different from excitation light. Therefore, the wavelength conversion film of embodiment of this invention can be formed according to the formation method of the cured film of 2nd Embodiment mentioned above using the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention. And the wavelength conversion film of this embodiment has the function of fluorescence emission (wavelength conversion) based on [B] semiconductor quantum dot.
또한, 본 실시 형태의 경화막을 발광층으로서 이용하여, 발광 소자를 제공하는 것도 가능하다. 그 경우, 본 발명의 실시 형태의 발광 소자의 발광층은, 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물을 이용하여, 전술한 본 실시 형태의 경화막의 형성 방법에 따라, 동일하게 형성할 수 있다. 그리고, 본 실시 형태의 발광 소자의 발광층은, [B] 반도체 양자 도트에 기초하는 형광 발광(파장 변환) 기능을 갖는다.Moreover, it is also possible to provide a light emitting element using the cured film of this embodiment as a light emitting layer. In that case, the light emitting layer of the light emitting element of embodiment of this invention can be formed similarly using the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention according to the formation method of the cured film of this embodiment mentioned above. And the light emitting layer of the light emitting element of this embodiment has a fluorescent light emission (wavelength conversion) function based on [B] semiconductor quantum dot.
특히, 본 실시 형태의 경화막은, 후술하는 바와 같이, 발광 소자의 예인 발광 표시 소자의 발광층으로서의 이용에 적합하고, 발광 표시 소자의 구성에 이용할 수 있다.In particular, the cured film of this embodiment is suitable for use as a light emitting layer of the light emitting display element which is an example of a light emitting element so that it may mention later, and can be used for the structure of a light emitting display element.
그 때문에, 경화막은 빛의 이용 효율을 높일 수 있도록, 그것을 구성하는 수지에 있어서, 두께 0.1㎜에서의 전체 광선 투과율(JIS K7105)이, 바람직하게는 75%∼95%이며, 보다 바람직하게는 78%∼95%이며, 더욱 바람직하게는 80%∼95%이다. 전체 광선 투과율이 이러한 범위이면, 얻어지는 경화막은 우수한 광 이용 효율의 파장 변환 필름이나 발광 소자의 발광층을 구성할 수 있다.Therefore, the cured film has a total light transmittance (JIS K7105) in a thickness of 0.1 mm in the resin constituting the cured film so as to increase light utilization efficiency, preferably 75% to 95%, more preferably 78 % to 95%, more preferably 80% to 95%. The cured film obtained as a total light transmittance being such a range can comprise the light emitting layer of the wavelength conversion film of the outstanding light utilization efficiency, or a light emitting element.
실시 형태 3.
<발광 표시 소자 및 그 발광층><Light emitting display element and its light emitting layer>
본 발명에 있어서는, 전술한 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막을 이용하여, 파장 변환 필름이나 발광층으로서 사용함으로써, 조명 장치나 발광 표시 소자 등의 발광 소자를 제공할 수 있다.In this invention, light emitting elements, such as a lighting device and a light emitting display element, can be provided by using the cured film of 2nd Embodiment of this invention mentioned above as a wavelength conversion film or a light emitting layer.
본 발명의 제3 실시 형태인 발광 표시 소자는, 본 발명의 발광 소자의 일례이다. 본 발명의 제3 실시 형태인 발광 표시 소자는, 전술한 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막을 발광층으로 하는 파장 변환 기판을 이용하여 구성된다.The light emitting display element which is a 3rd Embodiment of this invention is an example of the light emitting element of this invention. The light emitting display element which is 3rd Embodiment of this invention is comprised using the wavelength conversion board|substrate which uses the cured film of 2nd Embodiment of this invention mentioned above as a light emitting layer.
도 5는, 본 발명의 실시 형태의 발광 표시 소자를 개략적으로 나타내는 단면도이다.5 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
본 발명의 제1 실시 형태의 발광 표시 소자(100)는, 기판(12) 상에 발광층(13)(13a, 13b, 13c)과 블랙 매트릭스(14)를 형성하여 구성된 파장 변환 기판(11)과, 파장 변환 기판(11) 상에 접착제층(15)을 개재하여 접합된 광원 기판(18)을 갖는다.The light emitting
기판(12)은, 유리, 석영, 또는, 투명 수지(예를 들면, 투명 폴리이미드, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에스테르 필름, 환상 올레핀계 수지 필름 등) 등으로 이루어진다.The
파장 변환 기판(11)의 발광층(13)은, 전술한 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막을 이용하여 이루어지는 것이다. 즉, 발광층(13)은, 전술한 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물을 이용하고, 패터닝하여 형성된다.The
발광층의 형성 방법에 대해서는, 그들이 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막을 이용하여 이루어지는 것인 점에서, 전술한 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성 방법과 동일해진다.About the formation method of a light emitting layer, since they are formed using the cured film of 2nd Embodiment of this invention, it becomes the same as the formation method of the cured film of 2nd Embodiment of this invention mentioned above.
즉, 기판(12) 상에 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막이 형성되고, 그들이 발광층(13)이 되어 발광 표시 소자(100)의 파장 변환 기판(11)을 구성한다. 따라서, 발광층(13)의 형성 방법은, 전술한 것과 동일한 하기 공정 (1)∼공정 (4)를 이 순서로 포함하는 것이 바람직하다.That is, the cured film of 2nd Embodiment of this invention is formed on the board|
(1) 본 발명의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물의 도막을 기판 상에 형성하는 도막 형성 공정.(1) A coating film forming step of forming a coating film of the curable resin composition of the first embodiment of the present invention on a substrate.
(2) 공정 (1)에서 형성한 도막의 적어도 일부에 방사선을 조사하는 방사선 조사 공정.(2) A radiation irradiation step of irradiating at least a part of the coating film formed in the step (1) with radiation.
(3) 공정 (2)에서 방사선이 조사된 도막을 현상하는 현상 공정.(3) A developing step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2).
(4) 공정 (3)에서 현상된 도막을 노광하는 경화 공정.(4) A curing step of exposing the coating film developed in step (3).
그리고, 발광층(13)을 형성하기 위한 (1) 공정∼(4) 공정의 각각은, 본 발명의 제2 실시 형태의 경화막의 형성에 있어서, 도 1∼도 4를 이용하여 설명했던 바와 같다. 따라서, 그의 상세는 생략하지만, 도 4에 대해서 나타나는 소망하는 형상이 되도록 패터닝된 경화막(5)이, 도 5의 파장 변환 기판(11)의 발광층(13)이 된다.And each of the (1) process - (4) process for forming the
파장 변환 기판(11)은, 발광층(13)의 각각이, 함유하는 반도체 양자 도트를 이용하고, 광원 기판(18)의 여기 광원(17)으로부터의 여기광을 파장 변환하여, 소망으로 하는 파장의 형광을 발광한다.The
그리고, 파장 변환 기판(11)에서는, 발광층(13)의 발광층(13a)과 발광층(13b)과 발광층(13c)이, 각각, 상이한 반도체 양자 도트를 포함하여 구성되어, 상이한 형광을 발광할 수 있다.And, in the
예를 들면, 파장 변환 기판(11)은, 발광층(13a)이 여기광을 적색의 빛으로 변환하고, 발광층(13b)이 여기광을 녹색의 빛으로 변환하고, 발광층(13c)이 여기광을 청색의 빛으로 변환하도록 구성할 수 있다.For example, in the
그 경우, 발광층(13a, 13b, 13c)은, 각각이 소망으로 하는 형광 특성을 갖도록, 함유하는 반도체 양자 도트의 선택이 이루어진다. 그 때문에, 파장 변환 기판(11)의 발광층(13a, 13b, 13c)의 형성에 있어서는, 상이한 발광 특성의 반도체 양자 도트를 포함하는, 예를 들면, 3종의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물이 준비된다.In that case, the semiconductor quantum dots to contain are selected so that each of the
그리고, 그 3종의 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물을 각각 이용하여, 전술한 공정 (1)∼공정 (4)를 포함하는 발광층(13)의 형성 방법을 반복하여, 발광층(13a), 발광층(13b) 및 발광층(13c)을 순차 형성한다. 그리고, 기판(12) 상에 발광층(13)을 형성하여, 파장 변환 기판(11)을 얻는다.And the formation method of the
파장 변환 기판(11)의 발광층(13)의 두께는, 100㎚∼100㎛ 정도가 바람직하고, 1㎛∼100㎛가 보다 바람직하다. 그 두께가 100㎚ 미만이면, 여기광을 충분히 흡수할 수 없고, 광 변환 효율이 저하되기 때문에 발광 표시 소자의 휘도를 충분히 확보할 수 없다는 문제가 발생한다. 또한, 여기광의 흡수를 높여, 발광 표시 소자의 휘도를 충분히 확보하기 위해서는, 막두께로서, 1㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하다.About 100 nm - 100 micrometers are preferable, and, as for the thickness of the
기판(12) 상의 각 발광층(13)의 사이에는, 블랙 매트릭스(14)가 배치되어 있다. 블랙 매트릭스(14)는, 공지의 차광성의 재료를 이용하고, 공지의 방법에 따라 패터닝하여 형성할 수 있다. 또한, 블랙 매트릭스(14)는, 파장 변환 기판(11)에 있어서, 필수의 구성 요소가 아니라, 파장 변환 기판(11)은, 블랙 매트릭스(14)를 형성하지 않는 구성으로 하는 것도 가능하다.A
접착제층(15)은, 후술하는 파장의 자외광 또는 청색광을 투과하는 공지의 접착제를 이용하여 형성된다. 또한, 접착제층(15)은, 도 5에 나타내는 바와 같이, 기판(12) 상에 발광층(13a, 13b, 13c)의 전체면을 피복하도록 형성할 필요는 없고, 파장 변환 기판(11)의 주위에만 형성하는 것도 가능하다.The
광원 기판(18)은, 기판(16)과, 기판(16)의 파장 변환 기판(11)측에 배치된 광원(17)을 구비하고 있다. 광원(17)으로부터는 각각, 여기광으로서 자외광 또는 청색광이 출사된다.The
광원(17)으로서는, 공지의 구조의 자외 발광 유기 EL 소자 및 청색 발광 유기 EL 소자 등의 사용이 가능하며, 특별히 한정되는 것이 아니고, 공지의 재료, 공지의 제조 방법으로 제작하는 것이 가능하다. 여기에서, 자외광으로서는, 주(主)발광 피크가 360㎚∼435㎚인 발광이 바람직하고, 청색광으로서는, 주발광 피크가 435㎚∼480㎚인 발광이 바람직하다. 광원(17)은, 각각의 출사광이 대향하는 발광층(13)을 조사하도록, 지향성을 갖고 있는 것이 바람직하다.As the
본 실시 형태의 발광 표시 소자(100)는, 광원(17)의 하나인 광원(17a)으로부터의 여기광을, 대향하는 파장 변환 기판(11)의 발광층(13a)의 반도체 양자 도트에 의해 파장 변환한다. 마찬가지로, 광원(17b)으로부터의 여기광을, 대향하는 파장 변환 기판(11)의 발광층(13b)의 반도체 양자 도트에 의해 파장 변환하고, 또한, 광원(17c)으로부터의 여기광을, 대향하는 파장 변환 기판(11)의 발광층(13c)의 반도체 양자 도트에 의해 파장 변환한다. 이와 같이 하여, 광원(17)으로부터의 여기광이, 각각 소망으로 하는 파장의 가시광선에 변환되어 표시에 이용되고 있다.The light emitting
또한, 파장 변환 기판(11)에 있어서는, 후술하는 바와 같이, 발광층(13c)에 있어서 여기광을 청색광으로 변환한다. 이때, 파장 변환 기판(11)은, 발광층(13c)을 대신하여, 수지 중에 광산 산란 입자를 분산하여 구성된 광산란층을 이용하는 것도 가능하다. 이렇게 함으로써, 여기광이 청색광인 경우, 그 여기광을 파장 변환하는 일 없이, 그대로의 파장 특성으로 사용할 수 있다.In addition, in the
발광 표시 소자(100)의 파장 변환 기판(11)은, 전술한 바와 같이, 각각 반도체 양자 도트와 수지로 이루어지는 발광층(13a)과 발광층(13b)과 발광층(13c)이, 기판(12) 위에 패터닝되어 형성된 것이다. 발광층(13a, 13b, 13c)은, 반도체 양자 도트를 포함하는, 제1 실시 형태의 경화성 수지 조성물로 각각 형성된다.As described above, the
발광 표시 소자(100)에 있어서는, 발광층(13a)이 형성된 부분이, 적색 표시를 행하는 서브 화소를 구성한다. 즉, 파장 변환 기판(11)의 발광층(13a)은, 광원 기판(18)의 대향하는 광원(17a)으로부터의 여기광을 적색으로 변환한다. 또한, 발광층(13b)이 형성된 부분이, 녹색 표시를 행하는 서브 화소를 구성한다. 즉, 발광층(13b)은, 광원 기판(18)의 대향하는 광원(17b)으로부터의 여기광을 녹색으로 변환한다. 또한, 발광층(13c)이 형성된 부분이, 청색 표시를 행하는 서브 화소를 구성한다. 즉, 발광층(13c)은, 광원 기판(18)의 대향하는 광원(17c)으로부터의 여기광을 청색으로 변환한다.In the light-emitting
그리고, 발광 표시 소자(100)는, 발광층(13a)을 구비한 서브 화소, 발광층(13b)을 구비한 서브 화소 및 발광층(13c)을 구비한 서브 화소의 3종에 의해, 화상을 구성하는 최소 단위가 되는 1개의 화소를 구성한다.In addition, the light emitting
이상의 구성을 갖는 본 실시 형태의 발광 표시 소자(100)는, 발광층(13a)을 구비한 서브 화소, 발광층(13b)을 구비한 서브 화소 및 발광층(13c)을 구비한 서브 화소마다, 적색, 녹색 또는 청색의 빛의 발광이 제어된다. 그리고, 3종의 서브 화소로 이루어지는 1개의 화소마다, 적색, 녹색 및 청색의 빛의 발광이 제어되어, 풀 컬러의 표시가 행해진다.The light emitting
또한, 본 발명의 실시 형태의 발광 표시 소자(100)에 있어서는, 발광층(13)과 기판(12)과의 사이에, 컬러 필터를 형성하는 것이 가능하다. 즉, 발광층(13a)과 기판(12)과의 사이에 적색의 컬러 필터를 형성하고, 발광층(13b)과 기판(12)과의 사이에 녹색의 컬러 필터를 형성하고, 발광층(13c)과 기판(12)과의 사이에 적색의 컬러 필터를 형성할 수 있다.In addition, in the light emitting
본 발명의 제3 실시 형태의 발광 표시 소자(100)는, 컬러 필터를 형성함으로써, 표시의 색 순도를 높일 수 있다. 여기에서, 컬러 필터로서는, 액정 표시 소자용 등으로서 공지의 것을 공지의 방법으로 형성하여 이용할 수 있다.In the light emitting
(실시예)(Example)
이하, 실시예에 기초하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 전혀 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described more specifically based on Examples, but the present invention is not limited to these Examples at all.
<[B] 반도체 양자 도트 ([B] 성분)><[B] semiconductor quantum dot ([B] component)>
본 실시예에서 이용한 반도체 양자 도트를 다음에 나타낸다.The semiconductor quantum dots used in this embodiment are shown below.
반도체 양자 도트 A: InP/ZnS 코어 쉘형 양자 도트Semiconductor quantum dot A: InP/ZnS core-shell type quantum dot
반도체 양자 도트 B: InCuS2/ZnS 코어 쉘형 양자 도트Semiconductor quantum dot B: InCuS 2 /ZnS core-shell type quantum dot
반도체 양자 도트 C: Si 양자 도트Semiconductor quantum dot C: Si quantum dot
그리고, 하기 실시예에서 이용한 반도체 양자 도트 A: InP/ZnS 코어 쉘형 양자 도트, 반도체 양자 도트 B: InCuS2/ZnS 코어 쉘형 양자 도트, 반도체 양자 도트 C: Si 양자 도트는, 일반적으로 알려져 있는 방법으로 합성할 수 있다.And, semiconductor quantum dot A: InP/ZnS core-shell type quantum dot, semiconductor quantum dot B: InCuS 2 /ZnS core-shell type quantum dot, semiconductor quantum dot C: Si quantum dot used in the following examples are generally known methods. can be synthesized.
예를 들면, 반도체 양자 도트 A: InP/ZnS 코어 쉘형 양자 도트에 관해서는 기술문헌 「Journal of American Chemical Society. 2007, 129, 15432-15433」에, 반도체 양자 도트 B: InCuS2/ZnS 코어 쉘형 양자 도트에 관해서는 기술문헌 「Journal of American Chemical Society. 2009, 131, 5691-5697」 및 기술문헌 「Chemistry of Materials. 2009, 21, 2422-2429」에, 반도체 양자 도트 C: Si 양자 도트에 관해서는 기술문헌 「Journal of American Chemical Society. 2010, 132, 248-253」에 기재되어 있는 방법을 참조하여 합성할 수 있다.For example, regarding the semiconductor quantum dot A: InP/ZnS core-shell type quantum dot, the technical document "Journal of American Chemical Society. 2007, 129, 15432-15433 on the "semiconductor quantum dots B: InCuS 2 / ZnS core-shell quantum dots are technical literature as to" Journal of American Chemical Society. 2009, 131, 5691-5697” and the technical literature “Chemistry of Materials. 2009, 21, 2422-2429," regarding the semiconductor quantum dot C: Si quantum dot, the technical document "Journal of American Chemical Society. 2010, 132, 248-253", and can synthesize|combine it with reference to the method described in.
이상의 [B] 반도체 양자 도트와 함께, [A] 1분자 중에 2개 이상의 중합성기를 갖는 중량 평균 분자량이 150 이상 10000 이하인 화합물 ([A] 성분) 및 [C] 탄화수소계 용제 ([C] 성분)을 이용하고, 추가로, [D] 중합성 개시제 ([D] 성분), [E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체 ([E] 성분)인 전술의 [E1] 성분, [E2] 성분을 이용하여, 실시예의 경화성 수지 조성물을 조제했다. 이어서, 그것을 이용하여 실시예의 경화막을 형성하고, 그 평가를 행했다.Together with the above [B] semiconductor quantum dots, [A] a compound having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule (component [A]) and [C] a hydrocarbon-based solvent (component [C]) ), and further, [D] a polymerization initiator (component [D]), [E] the above-mentioned [E1] component, which is a polymer having a weight average molecular weight of 5000 or more and 40,000 or less (component [E]) having a carboxyl group, [E2] Curable resin composition of an Example was prepared using the component. Next, the cured film of an Example was formed using it, and the evaluation was performed.
<[E1] 성분의 합성예><Synthesis example of [E1] component>
냉각관과 교반기를 구비한 플라스크에, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 150질량부를 투입하여 질소 치환했다. 80℃로 가열하여, 동 온도에서, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 50질량부, 메타크릴산 20질량부, 벤질메타크릴레이트 5질량부, 스티렌 10질량부, 2-하이드록시에틸메타크릴레이트 13질량부, 2-에틸헥실메타크릴레이트 40질량부, N-페닐말레이미드 12질량부 및 2,2'-아조비스(2,4-디메틸발레로니트릴) 6질량부의 혼합 용액을 2시간에 걸쳐 적하하고, 이 온도를 보존유지하여 1시간 중합했다. 그 후, 반응 용액의 온도를 90℃로 승온시키고, 추가로 1시간 중합함으로써, 수지 용액(고형분 농도=33질량%)을 얻었다. 얻어진 수지는, Mw=11100, Mn=6000, Mw/Mn=1.85였다. 이것을 카복실기 함유 수지 용액 (E-1)로 한다.Into a flask provided with a cooling tube and a stirrer, 150 parts by mass of propylene glycol monomethyl ether acetate was introduced and nitrogen-substituted. It is heated to 80 degreeC, and at the same temperature, 50 mass parts of propylene glycol monomethyl ether acetate, 20 mass parts of methacrylic acid, 5 mass parts of benzyl methacrylate, 10 mass parts of styrene, 13 mass of 2-hydroxyethyl methacrylate A mixed solution of 40 parts by mass of part, 2-ethylhexyl methacrylate, 12 parts by mass of N-phenylmaleimide, and 6 parts by mass of 2,2'-azobis(2,4-dimethylvaleronitrile) is added dropwise over 2 hours. Then, the temperature was maintained and polymerization was carried out for 1 hour. Then, the temperature of the reaction solution was raised to 90 degreeC, and the resin solution (solid content concentration = 33 mass %) was obtained by superposing|polymerizing for 1 hour further. The obtained resin was Mw=11100, Mn=6000, and Mw/Mn=1.85. Let this be a carboxyl group containing resin solution (E-1).
실시예 1Example 1
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅰ)의 조제][Preparation of curable resin composition (β-I)]
[E2] 성분으로서 카복실기 함유 폴리이소프렌(주식회사 쿠라레 제조, 상품명 「UC-102」)을 함유하는 용액을, 중합체 30질량부(고형분)에 상당하는 양 및, [D] 성분으로서 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)](BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) OXE01) 10질량부, [A] 성분으로서 1,9-노난디올디아크릴레이트(신나카무라 화학공업 주식회사 제조 NK에스테르(등록상표) A-NOD-N) 70질량부를 혼합하고, [C] 성분으로서 p-멘탄에 용해시키고, [B] 성분으로서 반도체 양자 도트 A를 10질량부 혼합하여, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅰ)을 조제했다.[E2] A solution containing carboxyl group-containing polyisoprene (manufactured by Kuraray Co., Ltd., trade name "UC-102") as a component, in an amount equivalent to 30 parts by mass (solid content) of the polymer, and [D] 1,2 as component -Octanedione-1-[4-(phenylthio)-2-(O-benzoyloxime)] (Irgacure (registered trademark) OXE01 manufactured by BASF) 10 parts by mass, 1,9-no as component [A] 70 parts by mass of nandiol diacrylate (NK ester (registered trademark) A-NOD-N manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.) was mixed, dissolved in p-mentane as component [C], and semiconductor quantum dot A as component [B]. 10 parts by mass of was mixed to prepare a curable resin composition (β-I).
실시예 2Example 2
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅱ)의 조제][Preparation of curable resin composition (β-II)]
[E2] 성분으로서 카복실기 함유 폴리이소프렌(주식회사 쿠라레 제조, 상품명 「UC-203」) 20질량부 및, [D] 성분으로서 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)](BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) OXE01) 10질량부, [A] 성분으로서 1,10-데칸디올디아크릴레이트(신나카무라 화학공업 주식회사 제조 NK에스테르(등록상표) A-DOD-N) 80질량부를 혼합하고, [C] 성분으로서 피난에 용해시키고, [B] 성분으로서 반도체 양자 도트 A를 10질량부 혼합하여, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅱ)를 조제했다.[E2] 20 parts by mass of carboxyl group-containing polyisoprene (manufactured by Kuraray Co., Ltd., trade name "UC-203") as a component and 1,2-octanedione-1-[4-(phenylthio)- as a component [D] 2-(O-benzoyloxime)] (Irgacure (registered trademark) OXE01 manufactured by BASF) 10 parts by mass, [A] 1,10-decanediol diacrylate (NK ester manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.) (registered trademark) A-DOD-N) 80 parts by mass, dissolved in evacuation as component [C], and 10 parts by mass of semiconductor quantum dot A as component [B] to obtain a curable resin composition (β-II) prepared
실시예 3Example 3
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅲ)의 조제][Preparation of curable resin composition (β-III)]
[E2] 성분으로서 카복실기 함유 폴리이소프렌(주식회사 쿠라레 제조, 상품명 「UC-102」) 30질량부 및, [D] 성분으로서 2-디메틸아미노-2-(4-메틸벤질)-1-(4-모르폴린-4-일-페닐)-부탄-1-온(BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) 379) 10질량부, [A] 성분으로서 1,9-노난디올디아크릴레이트(신나카무라 화학공업 주식회사 제조 NK에스테르(등록상표) A-NOD-N) 50질량부, 프로필렌옥사이드 변성 트리메틸올프로판트리아크릴레이트 20질량부(토아고세 주식회사 제조 아로닉스(등록상표) M-321)를 혼합하고, [C] 성분으로서 데칸에 용해시키고, [B] 성분으로서 반도체 양자 도트 C를 10질량부 혼합하여, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅲ)을 조제했다.[E2] 30 parts by mass of carboxyl group-containing polyisoprene (manufactured by Kuraray Co., Ltd., trade name "UC-102") as a component, and 2-dimethylamino-2-(4-methylbenzyl)-1-( 10 parts by mass of 4-morpholin-4-yl-phenyl)-butan-1-one (Irgacure (registered trademark) 379 manufactured by BASF) 1,9-nonanediol diacrylate (Shin 50 parts by mass of Nakamura Chemical Industry Co., Ltd. NK ester (registered trademark) A-NOD-N) and 20 parts by mass of propylene oxide-modified trimethylolpropane triacrylate (Aronix (registered trademark) M-321, manufactured by Toagose Corporation) are mixed. Then, it was made to melt|dissolve in decane as [C] component, 10 mass parts of semiconductor quantum dots C were mixed as [B] component, and curable resin composition ((beta)-III) was prepared.
실시예 4Example 4
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅳ)의 조제][Preparation of curable resin composition (β-IV)]
[E2] 성분으로서 카복실기 함유 폴리이소프렌(주식회사 쿠라레 제조, 상품명 「UC-102」) 40질량부 및, [D] 성분으로서 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)](BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) OXE01) 10질량부, 에탄온-1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(O-아세틸옥심)(BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) OXE02) 5질량부, [A] 성분으로서 1,9-노난디올디아크릴레이트(신나카무라 화학공업 주식회사 제조 NK에스테르(등록상표) A-NOD-N) 60질량부를 혼합하고, [C] 성분으로서 피난에 용해시키고, [B] 성분으로서 반도체 양자 도트 B를 10질량부 혼합하여, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅳ)를 조제했다.[E2] 40 parts by mass of carboxyl group-containing polyisoprene (manufactured by Kuraray Co., Ltd., trade name "UC-102") as a component and 1,2-octanedione-1-[4-(phenylthio)- as a [D] component 2-(O-benzoyloxime)] (Irgacure (registered trademark) OXE01 manufactured by BASF) 10 parts by mass, ethanone-1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazole- 3-yl]-1-(O-acetyloxime) (Irgacure (registered trademark) OXE02 manufactured by BASF) 5 parts by mass, [A] 1,9-nonanediol diacrylate (Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.) 60 parts by mass of manufactured NK ester (registered trademark) A-NOD-N) was mixed, dissolved in evacuation as component [C], and 10 parts by mass of semiconductor quantum dots B were mixed as component [B], and a curable resin composition (β -IV) was prepared.
실시예 5Example 5
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅴ)의 조제][Preparation of curable resin composition (β-V)]
[E1] 성분으로서 카복실기 함유 수지 용액 (E-1) 90질량부에 [C] 성분으로서 p-멘탄 40질량부를 첨가하여 용해시킨 후, [B] 성분으로서 반도체 양자 도트 A를 10질량부 혼합하여 균일한 용액을 제작하고, [D] 성분으로서 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판-1-온(BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) 907) 5질량부, 1,2-옥탄디온-1-[4-(페닐티오)-2-(O-벤조일옥심)](BASF사 제조 이르가큐어(등록상표) OXE01) 5질량부, [A] 성분으로서 트리사이클로데칸디메탄올디아크릴레이트(신나카무라 화학공업 주식회사 제조 NK에스테르(등록상표) A-DCP) 20질량부, 디트리메틸올프로판테트라아크릴레이트(토아고세 주식회사 제조 아로닉스(등록상표) M-408) 10질량부를 혼합하여, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅴ)를 조제했다.[E1] After adding and dissolving 40 parts by mass of p-mentane as component [C] to 90 parts by mass of the carboxyl group-containing resin solution (E-1) as component [B], 10 parts by mass of semiconductor quantum dot A is mixed as component [B] to prepare a uniform solution, and as [D] component 2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholinopropan-1-one (Irgacure (registered trademark) manufactured by BASF) 907) 5 parts by mass, 1,2-octanedione-1-[4-(phenylthio)-2-(O-benzoyloxime)] (Irgacure (registered trademark) OXE01 manufactured by BASF) 5 parts by mass, [ A] 20 parts by mass of tricyclodecane dimethanol diacrylate (NK ester (registered trademark) A-DCP, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.) as a component, ditrimethylolpropane tetraacrylate (Aronix (registered trademark) manufactured by Toagose Corporation) ) M-408) 10 parts by mass was mixed to prepare a curable resin composition (β-V).
실시예 6Example 6
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅰ)을 이용한 경화막의 형성][Formation of cured film using curable resin composition (β-I)]
무알칼리 유리 기판 상에, 실시예 1에서 조제한 경화성 수지 조성물 (β-Ⅰ)을 스피너에 의해 도포한 후, 80℃의 핫 플레이트 상에서 2분간 프리베이킹함으로써 도막을 형성했다.After apply|coating the curable resin composition ((beta)-I) prepared in Example 1 with a spinner on an alkali free glass substrate, the coating film was formed by prebaking on an 80 degreeC hotplate for 2 minutes.
다음으로, 소정의 패턴을 구비한 포토마스크를 개재하고, 얻어진 도막에 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 700J/㎡로 하여 방사선 조사를 행했다. 이어서, 0.04질량%의 수산화 칼륨 수용액으로 23℃, 80초간 현상을 행했다.Next, through a photomask having a predetermined pattern, the obtained coating film was irradiated with radiation at an exposure amount of 700 J/
다음으로, 얻어진 패턴에, 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 10000J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하여, 소정의 형상으로 패터닝된 경화막을 형성했다.Next, the obtained pattern was irradiated with an exposure amount of 10000 J/m<2> using a high-pressure mercury-vapor lamp, and the cured film patterned in the predetermined shape was formed.
다음으로, 패터닝된 경화막의 가장자리 부분을 광학 현미경으로 관찰하여, 현상 잔사가 없고, 패턴의 직선 부분이 직선 형상으로 형성되어 있는 경우에 패터닝성 양호라고 판단했다.Next, the edge part of the patterned cured film was observed with the optical microscope, when there is no image development residue and the linear part of a pattern is formed in linear shape, it judged that patterning property is favorable.
그 결과, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅰ)을 이용하고, 패터닝하여 형성된 경화막의 패터닝성은 양호했다.As a result, the patternability of the cured film formed by patterning using curable resin composition ((beta)-I) was favorable.
실시예 7Example 7
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅱ)를 이용한 경화막의 형성][Formation of cured film using curable resin composition (β-II)]
무알칼리 유리 기판 상에, 실시예 2에서 조제한 경화성 수지 조성물 (β-Ⅱ)를 스피너에 의해 도포한 후, 80℃의 핫 플레이트 상에서 2분간 프리베이킹함으로써 도막을 형성했다.On an alkali free glass substrate, after apply|coating curable resin composition ((beta)-II) prepared in Example 2 with a spinner, the coating film was formed by prebaking on an 80 degreeC hotplate for 2 minutes.
다음으로, 소정의 패턴을 구비한 포토마스크를 개재하고, 얻어진 도막에 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 1000J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하고, 0.04질량%의 수산화 칼륨 수용액으로 23℃, 80초간 현상을 행했다.Next, through a photomask having a predetermined pattern, the obtained coating film is irradiated with a high-pressure mercury lamp at an exposure amount of 1000 J/
다음으로, 얻어진 패턴에, 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 10000J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하여, 소정의 형상으로 패터닝된 경화막을 형성했다.Next, the obtained pattern was irradiated with an exposure amount of 10000 J/m<2> using a high-pressure mercury-vapor lamp, and the cured film patterned in the predetermined shape was formed.
다음으로, 패터닝된 경화막의 단 부분을 광학 현미경으로 관찰하여, 현상 잔사가 없고, 패턴의 직선 부분이 직선 형상으로 형성되어 있는 경우에 패터닝성 양호라고 판단했다.Next, the edge part of the patterned cured film was observed with the optical microscope, when there is no image development residue and the linear part of a pattern is formed in linear shape, it judged that patterning property is favorable.
그 결과, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅱ)를 이용하고, 패터닝하여 형성된 경화막의 패터닝성은 양호했다.As a result, the patternability of the cured film formed by patterning using curable resin composition ((beta)-II) was favorable.
실시예 8Example 8
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅲ)을 이용한 경화막의 형성][Formation of cured film using curable resin composition (β-III)]
무알칼리 유리 기판 상에, 실시예 3에서 조제한 경화성 수지 조성물 (β-Ⅲ)을 스피너에 의해 도포한 후, 80℃의 핫 플레이트 상에서 2분간 프리베이킹함으로써 도막을 형성했다.After apply|coating the curable resin composition ((beta)-III) prepared in Example 3 with a spinner on an alkali-free-glass board|substrate, the coating film was formed by prebaking on an 80 degreeC hotplate for 2 minutes.
다음으로, 소정의 패턴을 구비한 포토마스크를 개재하고, 얻어진 도막에 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 800J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하고, 0.04질량%의 수산화 칼륨 수용액으로 23℃, 80초간 현상을 행했다.Next, through a photomask having a predetermined pattern, the obtained coating film is irradiated with an exposure amount of 800 J/
다음으로, 얻어진 패턴에, 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 10000J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하여, 소정의 형상으로 패터닝된 경화막을 형성했다.Next, the obtained pattern was irradiated with an exposure amount of 10000 J/m<2> using a high-pressure mercury-vapor lamp, and the cured film patterned in the predetermined shape was formed.
다음으로, 패터닝된 경화막의 단 부분을 광학 현미경으로 관찰하여, 현상 잔사가 없고, 패턴의 직선 부분이 직선 형상으로 형성되어 있는 경우에 패터닝성 양호라고 판단했다.Next, the edge part of the patterned cured film was observed with the optical microscope, when there is no image development residue and the linear part of a pattern is formed in linear shape, it judged that patterning property is favorable.
그 결과, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅲ)을 이용하고, 패터닝하여 형성된 경화막의 패터닝성은 양호했다.As a result, the patternability of the cured film formed by patterning using curable resin composition ((beta)-III) was favorable.
실시예 9Example 9
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅳ)를 이용한 경화막의 형성][Formation of cured film using curable resin composition (β-IV)]
무알칼리 유리 기판 상에, 실시예 4에서 조제한 경화성 수지 조성물 (β-Ⅳ)를 스피너에 의해 도포한 후, 80℃의 핫 플레이트 상에서 2분간 프리베이킹함으로써 도막을 형성했다.After apply|coating curable resin composition ((beta)-IV) prepared in Example 4 with a spinner on an alkali-free-glass board|substrate, the coating film was formed by prebaking on an 80 degreeC hotplate for 2 minutes.
다음으로, 소정의 패턴을 구비한 포토마스크를 개재하고, 얻어진 도막에 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 800J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하고, 0.04질량%의 수산화 칼륨 수용액으로 23℃, 80초간 현상을 행했다.Next, through a photomask having a predetermined pattern, the obtained coating film is irradiated with an exposure amount of 800 J/
다음으로, 얻어진 패턴에, 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 10000J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하여, 소정의 형상으로 패터닝된 경화막을 형성했다.Next, the obtained pattern was irradiated with an exposure amount of 10000 J/m<2> using a high-pressure mercury-vapor lamp, and the cured film patterned in the predetermined shape was formed.
다음으로, 패터닝된 경화막의 가장자리 부분을 광학 현미경으로 관찰하여, 현상 잔사가 없고, 패턴의 직선 부분이 직선 형상으로 형성되어 있는 경우에 패터닝성 양호라고 판단했다.Next, the edge part of the patterned cured film was observed with the optical microscope, when there is no image development residue and the linear part of a pattern is formed in linear shape, it judged that patterning property is favorable.
그 결과, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅳ)를 이용하고, 패터닝하여 형성된 경화막의 패터닝성은 양호했다.As a result, the patternability of the cured film formed by patterning using the curable resin composition (β-IV) was favorable.
실시예 10Example 10
[경화성 수지 조성물 (β-Ⅴ)를 이용한 경화막의 형성][Formation of cured film using curable resin composition (β-V)]
무알칼리 유리 기판 상에, 실시예 5에서 조제한 경화성 수지 조성물 (β-Ⅴ)를 스피너에 의해 도포한 후, 80℃의 핫 플레이트 상에서 2분간 프리베이킹함으로써 도막을 형성했다.After apply|coating curable resin composition ((beta)-V) prepared in Example 5 with a spinner on an alkali free glass substrate, the coating film was formed by prebaking on an 80 degreeC hotplate for 2 minutes.
다음으로, 소정의 패턴을 구비한 포토마스크를 개재하고, 얻어진 도막에 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 800J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하고, 0.04질량%의 수산화 칼륨 수용액으로 23℃, 80초간 현상을 행했다.Next, through a photomask having a predetermined pattern, the obtained coating film is irradiated with an exposure amount of 800 J/
다음으로, 얻어진 패턴에, 고압 수은 램프를 이용하여 노광량 10000J/㎡로 하여 방사선 조사를 행하여, 소정의 형상으로 패터닝된 경화막을 형성했다.Next, the obtained pattern was irradiated with an exposure amount of 10000 J/m<2> using a high-pressure mercury-vapor lamp, and the cured film patterned in the predetermined shape was formed.
다음으로, 패터닝된 경화막의 단 부분을 광학 현미경으로 관찰하여, 현상 잔사가 없고, 패턴의 직선 부분이 직선 형상으로 형성되어 있는 경우에 패터닝성 양호라고 판단했다.Next, the edge part of the patterned cured film was observed with the optical microscope, when there is no image development residue and the linear part of a pattern is formed in linear shape, it judged that patterning property is favorable.
그 결과, 경화성 수지 조성물 (β-Ⅴ)를 이용하고, 패터닝하여 형성된 경화막의 패터닝성은 양호했다.As a result, the patternability of the cured film formed by patterning using curable resin composition (beta-V) was favorable.
실시예 11Example 11
[경화 수축성의 평가][Evaluation of curing shrinkage]
실시예 6의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로 10000J/㎡의 노광 처리를 행하고, 이 노광 전후에서의 막두께를 촉침식 막두께 측정기(알파 스텝 IQ, KLA 텐코사)로 측정했다. 그리고, 잔막률((처리 후 막두께/처리 전 막두께)×100)을 산출하고, 이 잔막률을 경화 수축성으로 했다. 잔막률은 99%이며, 경화 수축성은 양호라고 판단했다.About the cured film by the formation method of Example 6, the exposure process of 10000 J/m<2> was further performed, and the film thickness before and behind this exposure was measured with a stylus type film thickness meter (Alpha Step IQ, KLA Tenko Corporation). And the residual film ratio ((film thickness after process/film thickness before process) x100) was computed, and this residual film ratio was made into cure shrinkage property. The residual film rate was 99 %, and it judged that cure shrinkage property was favorable.
마찬가지로 실시예 7의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로 10000J/㎡의 노광 처리를 행하고, 이 노광 전후에서의 막두께를 촉침식 막두께 측정기(알파 스텝 IQ, KLA 텐코사)로 측정했다. 그리고, 잔막률((처리 후 막두께/처리 전 막두께)×100)을 산출하고, 이 잔막률을 경화 수축성으로 했다. 잔막률은 99%이며, 경화 수축성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 7, the exposure process of 10000 J/m<2> was further performed, and the film thickness before and behind this exposure was measured with a stylus type film thickness meter (alpha step IQ, KLA Tenko Corporation). . And the residual film ratio ((film thickness after process / film thickness before process) *100) was computed, and this residual film ratio was made into cure shrinkage property. The residual film rate was 99 %, and it judged that cure shrinkage property was favorable.
마찬가지로 실시예 8의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로 10000J/㎡의 노광 처리를 행하고, 이 노광 전후에서의 막두께를 촉침식 막두께 측정기(알파 스텝 IQ, KLA 텐코사)로 측정했다. 그리고, 잔막률((처리 후 막두께/처리 전 막두께)×100)을 산출하고, 이 잔막률을 경화 수축성으로 했다. 잔막률은 99%이며, 경화 수축성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 8, the exposure process of 10000 J/m<2> was further performed, and the film thickness before and behind this exposure was measured with a stylus type film thickness meter (alpha step IQ, KLA Tenko Corporation). . And the residual film ratio ((film thickness after process/film thickness before process) x100) was computed, and this residual film ratio was made into cure shrinkage property. The residual film rate was 99 %, and it judged that cure shrinkage property was favorable.
마찬가지로 실시예 9의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로 10000J/㎡의 노광 처리를 행하고, 이 노광 전후에서의 막두께를 촉침식 막두께 측정기(알파 스텝 IQ, KLA 텐코사)로 측정했다. 그리고, 잔막률((처리 후 막두께/처리 전 막두께)×100)을 산출하고, 이 잔막률을 경화 수축성으로 했다. 잔막률은 99%이며, 경화 수축성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 9, the exposure process of 10000 J/m<2> was further performed, and the film thickness before and behind this exposure was measured with a stylus type film thickness meter (Alpha Step IQ, KLA Tenko Corporation). . And the residual film ratio ((film thickness after process / film thickness before process) *100) was computed, and this residual film ratio was made into cure shrinkage property. The residual film rate was 99 %, and it judged that cure shrinkage property was favorable.
마찬가지로 실시예 10의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로 10000J/㎡의 노광 처리를 행하고, 이 노광 전후에서의 막두께를 촉침식 막두께 측정기(알파 스텝 IQ, KLA 텐코사)로 측정했다. 그리고, 잔막률((처리 후 막두께/처리 전 막두께)×100)을 산출하고, 이 잔막률을 경화 수축성으로 했다. 잔막률은 99%이며, 경화 수축성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 10, the exposure process of 10000 J/m<2> was further performed, and the film thickness before and behind this exposure was measured with a stylus type film thickness meter (Alpha Step IQ, KLA Tenko Corporation). . And the residual film ratio ((film thickness after process/film thickness before process) x100) was computed, and this residual film ratio was made into cure shrinkage property. The residual film rate was 99 %, and it judged that cure shrinkage property was favorable.
실시예 12Example 12
[내광성의 평가][Evaluation of light resistance]
실시예 6의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, UV 조사 장치(UVX-02516S1JS01, 우시오사)를 이용하여, 130mW의 조도로 800000J/㎡의 자외광을 조사하고, 조사 후의 막 감소량을 조사했다. 막 감소량은 2% 이하이며, 내광성은 양호라고 판단했다.About the cured film by the formation method of Example 6, using UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushiosa), irradiate 800000J/m<2> ultraviolet light at 130 mW illumination intensity, and the film|membrane decrease amount after irradiation further investigated. The film reduction amount was 2% or less, and it was judged that light resistance was favorable.
마찬가지로, 실시예 7의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, UV 조사 장치(UVX-02516S1JS01, 우시오사)를 이용하여, 130mW의 조도로 800000J/㎡의 자외광을 조사하고, 조사 후의 막 감소량을 조사했다. 막 감소량은 2% 이하이며, 내광성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 7, using UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Corporation), 800000 J/m<2> ultraviolet light is irradiated with 130 mW illuminance, and the film|membrane after irradiation decrease was investigated. The film reduction amount was 2% or less, and it was judged that light resistance was favorable.
마찬가지로, 실시예 8의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, UV 조사 장치(UVX-02516S1JS01, 우시오사)를 이용하여, 130mW의 조도로 800000J/㎡의 자외광을 조사하고, 조사 후의 막 감소량을 조사했다. 막 감소량은 2% 이하이며, 내광성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 8, using UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Corporation), 800000 J/m<2> ultraviolet light is irradiated with 130 mW illuminance, and the film|membrane after irradiation decrease was investigated. The film reduction amount was 2% or less, and it was judged that light resistance was favorable.
마찬가지로, 실시예 9의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, UV 조사 장치(UVX-02516S1JS01, 우시오사)를 이용하여, 130mW의 조도로 800000J/㎡의 자외광을 조사하고, 조사 후의 막 감소량을 조사했다. 막 감소량은 2% 이하이며, 내광성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 9, using UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Corporation), 800000 J/m<2> ultraviolet light is irradiated with 130 mW illuminance, and the film|membrane after irradiation decrease was investigated. The film reduction amount was 2% or less, and it was judged that light resistance was favorable.
마찬가지로, 실시예 10의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, UV 조사 장치(UVX-02516S1JS01, 우시오사)를 이용하여, 130mW의 조도로 800000J/㎡의 자외광을 조사하고, 조사 후의 막 감소량을 조사했다. 막 감소량은 2% 이하이며, 내광성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 10, using UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Corporation), irradiating 800000 J/m<2> ultraviolet light at 130 mW illumination intensity, and irradiating the film|membrane further similarly decrease was investigated. The film reduction amount was 2% or less, and it was judged that light resistance was favorable.
실시예 13Example 13
[형광 특성의 평가][Evaluation of fluorescence properties]
실시예 6의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, 절대 PL 양자 수율 측정 장치(C11347-01, 하마마츠 포토닉스사)를 이용하여, 25℃에서의 형광 양자 수율을 조사했다. 형광 양자 수율은 37%이며, 형광 특성은 양호라고 판단했다.About the cured film by the formation method of Example 6, the fluorescence quantum yield in 25 degreeC was further investigated using the absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics company). The fluorescence quantum yield was 37%, and it was judged that a fluorescence characteristic was favorable.
마찬가지로, 실시예 7의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, 절대 PL 양자 수율 측정 장치(C11347-01, 하마마츠 포토닉스사)를 이용하여, 25℃에서의 형광 양자 수율을 조사했다. 형광 양자 수율은 39%이며, 형광 특성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 7, the fluorescence quantum yield in 25 degreeC was further investigated using the absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics company). The fluorescence quantum yield was 39%, and it was judged that a fluorescence characteristic was favorable.
마찬가지로, 실시예 8의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, 절대 PL 양자 수율 측정 장치(C11347-01, 하마마츠 포토닉스사)를 이용하여, 25℃에서의 형광 양자 수율을 조사했다. 형광 양자 수율은 38%이며, 형광 특성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 8, the fluorescence quantum yield in 25 degreeC was further investigated using the absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics company). The fluorescence quantum yield was 38%, and it was judged that a fluorescence characteristic was favorable.
마찬가지로, 실시예 9의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, 절대 PL 양자 수율 측정 장치(C11347-01, 하마마츠 포토닉스사)를 이용하여, 25℃에서의 형광 양자 수율을 조사했다. 형광 양자 수율은 35%이며, 형광 특성은 양호라고 판단했다.Similarly, about the cured film by the formation method of Example 9, the fluorescence quantum yield in 25 degreeC was further investigated using the absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics company). The fluorescence quantum yield was 35 %, and it was judged that a fluorescence characteristic was favorable.
마찬가지로, 실시예 10의 형성 방법에 의한 경화막에 대해서, 추가로, 절대 PL 양자 수율 측정 장치(C11347-01, 하마마츠 포토닉스사)를 이용하여, 25℃에서의 형광 양자 수율을 조사했다. 형광 양자 수율은 36%이며, 형광 특성은 양호라고 판단했다. Similarly, about the cured film by the formation method of Example 10, the fluorescence quantum yield in 25 degreeC was further investigated using the absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics company). The fluorescence quantum yield was 36%, and it was judged that a fluorescence characteristic was favorable.
본 발명의 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 경화막은, 내광성 등의 신뢰성이 우수하고, 또한, 패터닝도 용이하며, 파장 변환층 또는 파장 변환 필름으로서, 표시 소자나 그것을 이용한 전자 기기 외에, LED 및 태양 전지의 분야에서도 이용할 수 있다.The cured film formed using the curable resin composition of this invention is excellent in reliability, such as light resistance, and it is also easy to pattern, and as a wavelength conversion layer or a wavelength conversion film, in addition to a display element and the electronic device using the same, LED and a solar cell. It can also be used in the field of
1, 1a : 도막
2, 12, 16 : 기판
3 : 포토마스크
4, 4a : 방사선
5 : 경화막
11 : 파장 변환 기판
13, 13a, 13b, 13c : 발광층
14 : 블랙 매트릭스
15 : 접착제층
17, 17a, 17b, 17c : 광원
18 : 광원 기판
100 : 발광 표시 소자1, 1a: coating film
2, 12, 16: substrate
3: photo mask
4, 4a: radiation
5: cured film
11: wavelength conversion substrate
13, 13a, 13b, 13c: light emitting layer
14 : Black Matrix
15: adhesive layer
17, 17a, 17b, 17c: light source
18: light source substrate
100: light emitting display element
Claims (13)
[B] 반도체 양자 도트,
[C] 탄화수소계 용제 및,
[E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체를 함유하고,
상기 [A] 화합물이, 하기식 (1)로 나타나는 화합물, 하기식 (2)로 나타나는 화합물 및 하기식 (3)으로 나타나는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1개의 화합물인
경화성 수지 조성물:
(식 (1) 중, X는 식 (5)로 나타나는 2가의 기를 나타내고, 식 (5) 중, n은 7∼20의 정수를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고;
식 (2) 중, R2는 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 1∼4의 정수를 나타내고;
식 (3) 중, R3은 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타냄).[A] a compound having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] semiconductor quantum dots,
[C] a hydrocarbon-based solvent, and
[E] contains a polymer having a carboxyl group and having a weight average molecular weight of 5000 or more and 40000 or less,
The [A] compound is at least one compound selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3)
Curable resin composition:
(in formula (1), X represents a divalent group represented by formula (5), in formula (5), n represents an integer of 7 to 20; Y represents a group represented by formula (4), and R 1 is a hydrogen atom or a methyl group;
In formula (2), R<2> represents a hydrogen atom or a C1-C12 alkyl group; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, m represents an integer of 1-4;
In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents the integer of 0-4).
추가로 [D] 중합성 개시제를 함유하는, 경화성 수지 조성물.According to claim 1,
Further [D] Curable resin composition containing a polymerization initiator.
상기 [D] 중합성 개시제가, 탄소수 1∼20의 탄화수소기를 함유하는 중합성 개시제인, 경화성 수지 조성물.3. The method of claim 2,
[D] The curable resin composition wherein the polymerization initiator is a polymerization initiator containing a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms.
[B] 반도체 양자 도트가, 2족 원소, 11족 원소, 12족 원소, 13족 원소, 14족 원소, 15족 원소 및 16족 원소로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 2종의 원소를 포함하는 화합물을 포함하는, 경화성 수지 조성물.According to claim 1,
[B] A compound in which the semiconductor quantum dot contains at least two elements selected from the group consisting of a group 2 element, a group 11 element, a group 12 element, a group 13 element, a group 14 element, a group 15 element, and a group 16 element A curable resin composition comprising a.
[B] 반도체 양자 도트가, In을 구성 성분으로서 포함하는 화합물을 포함하는, 경화성 수지 조성물.According to claim 1,
[B] Curable resin composition in which the semiconductor quantum dot contains the compound which contains In as a structural component.
[B] 반도체 양자 도트가, InP/ZnS 화합물, CuInS2/ZnS 화합물, AgInS2 화합물, (ZnS/AgInS2) 고용체/ZnS 화합물, Zn 도핑된 AgInS2 화합물 및 Si 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 경화성 수지 조성물.According to claim 1,
[B] at least a semiconductor quantum dot is selected from the group consisting of InP/ZnS compound, CuInS 2 /ZnS compound, AgInS 2 compound, (ZnS/AgInS 2 ) solid solution/ZnS compound, Zn-doped AgInS 2 compound, and Si compound One type, curable resin composition.
[B] 반도체 양자 도트 및,
[C] 탄화수소계 용제를 함유하고,
상기 [A] 화합물이, 하기식 (1)로 나타나는 화합물, 하기식 (2)로 나타나는 화합물 및 하기식 (3)으로 나타나는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1개의 화합물인
경화성 수지 조성물:
(식 (1) 중, X는 식 (5)로 나타나는 2가의 기를 나타내고, 식 (5) 중, n은 7∼20의 정수를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고;
식 (2) 중, R2는 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 1∼4의 정수를 나타내고;
식 (3) 중, R3은 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타냄).[A] a compound having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] semiconductor quantum dots and;
[C] contains a hydrocarbon solvent,
The [A] compound is at least one compound selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3)
Curable resin composition:
(in formula (1), X represents a divalent group represented by formula (5), in formula (5), n represents an integer of 7 to 20; Y represents a group represented by formula (4), and R 1 is a hydrogen atom or a methyl group;
In formula (2), R<2> represents a hydrogen atom or a C1-C12 alkyl group; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, m represents an integer of 1-4;
In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents the integer of 0-4).
[B] 반도체 양자 도트 및,
[C] 탄화수소계 용제를 포함하는 경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 파장 변환 필름이며,
상기 [A] 화합물이, 하기식 (1)로 나타나는 화합물, 하기식 (2)로 나타나는 화합물 및 하기식 (3)으로 나타나는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1개의 화합물인
파장 변환 필름:
(식 (1) 중, X는 식 (5)로 나타나는 2가의 기를 나타내고, 식 (5) 중, n은 7∼20의 정수를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고;
식 (2) 중, R2는 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 1∼4의 정수를 나타내고;
식 (3) 중, R3은 수소 원자, 또는 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타내고; Y는 식 (4)로 나타나는 기를 나타내고, R1은 수소 원자, 또는 메틸기를 나타내고; W는 에틸렌옥사이드기 또는 프로필렌옥사이드기를 나타내고, m은 0∼4의 정수를 나타냄).[A] a compound having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] semiconductor quantum dots and;
[C] a wavelength conversion film formed using a curable resin composition containing a hydrocarbon solvent,
The [A] compound is at least one compound selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3)
Wavelength Conversion Film:
(in formula (1), X represents a divalent group represented by formula (5), in formula (5), n represents an integer of 7 to 20; Y represents a group represented by formula (4), and R 1 is a hydrogen atom or a methyl group;
In formula (2), R<2> represents a hydrogen atom or a C1-C12 alkyl group; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, m represents an integer of 1-4;
In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms; Y represents group represented by Formula (4), R<1> represents a hydrogen atom or a methyl group; W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents the integer of 0-4).
(1) 경화성 수지 조성물의 도막을 기판 상에 형성하는 공정,
(2) 공정 (1)에서 형성한 도막의 적어도 일부에 방사선을 조사하는 공정,
(3) 공정 (2)에서 방사선이 조사된 도막을 현상하는 공정 및,
(4) 공정 (3)에서 현상된 도막을 노광하는 공정을 갖고,
상기 경화성 수지 조성물이, 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 경화성 수지 조성물인
발광층의 형성 방법.A method of forming a light emitting layer of a light emitting device, comprising:
(1) a step of forming a coating film of the curable resin composition on a substrate;
(2) a step of irradiating at least a part of the coating film formed in step (1) with radiation;
(3) a step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2);
(4) having a step of exposing the coating film developed in step (3);
The said curable resin composition is curable resin composition in any one of Claims 1-7
A method of forming a light emitting layer.
[B] 반도체 양자 도트,
[C] 탄화수소계 용제 및,
[E] 카복실기를 갖는 중량 평균 분자량이 5000 이상 40000 이하인 중합체를 함유하는
경화성 수지 조성물.[A] a compound having a weight average molecular weight of 150 or more and 10000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] semiconductor quantum dots,
[C] a hydrocarbon-based solvent, and
[E] containing a polymer having a weight average molecular weight of 5000 or more and 40000 or less having a carboxyl group
Curable resin composition.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013132144 | 2013-06-24 | ||
JPJP-P-2013-132144 | 2013-06-24 | ||
JP2014107796A JP6379671B2 (en) | 2013-06-24 | 2014-05-26 | Curable resin composition, cured film, light emitting element, wavelength conversion film, and method for forming light emitting layer |
JPJP-P-2014-107796 | 2014-05-26 | ||
KR1020140076424A KR102197936B1 (en) | 2013-06-24 | 2014-06-23 | Curable resin composition, cured film, light emitting element, wavelength conversion film, and method for forming light emitting layer |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140076424A Division KR102197936B1 (en) | 2013-06-24 | 2014-06-23 | Curable resin composition, cured film, light emitting element, wavelength conversion film, and method for forming light emitting layer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210005821A KR20210005821A (en) | 2021-01-15 |
KR102325621B1 true KR102325621B1 (en) | 2021-11-11 |
Family
ID=52492020
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200182997A KR102325621B1 (en) | 2013-06-24 | 2020-12-24 | Curable resin composition, cured film, wavelength conversion film, method for forming light emitting layer, and light emitting display device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6379671B2 (en) |
KR (1) | KR102325621B1 (en) |
TW (1) | TWI620760B (en) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106795228B (en) * | 2014-09-05 | 2019-08-30 | 住友化学株式会社 | Curable composition |
KR102052101B1 (en) * | 2015-02-25 | 2019-12-04 | 동우 화인켐 주식회사 | Self emission type photosensitive resin composition, color filter manufactured using thereof and image display device having the same |
EP3070109B1 (en) * | 2015-03-16 | 2018-12-05 | Rohm and Haas Electronic Materials LLC | Multilayer polymer composite for encapsulating quantum dots |
KR102028439B1 (en) * | 2015-03-19 | 2019-10-04 | 동우 화인켐 주식회사 | Self emission type photosensitive resin composition, and color filter comprising thereof and display device comprising of the same |
KR101993679B1 (en) * | 2015-05-28 | 2019-06-27 | 후지필름 가부시키가이샤 | A quantum dot-containing composition, a wavelength converting member, a backlight unit, and a liquid crystal display |
KR101878421B1 (en) * | 2015-07-07 | 2018-07-13 | 동우 화인켐 주식회사 | Quantum dot dispersion, self emission type photosensitive resin composition comprising the same, color filter and image display device manufactured using the same |
JP6834213B2 (en) * | 2015-07-29 | 2021-02-24 | Jsr株式会社 | Resin composition, film, wavelength conversion member, and method for forming the film |
JP6657684B2 (en) * | 2015-09-04 | 2020-03-04 | Jsr株式会社 | Composition for forming cured film, cured film, light emitting display element, and method for forming cured film |
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KR102146212B1 (en) * | 2016-08-11 | 2020-08-20 | 아반타마 아게 | Luminescent crystals and manufacturing thereof |
JP6630755B2 (en) * | 2017-02-16 | 2020-01-15 | 住友化学株式会社 | Curable resin composition, cured film and display device |
US11957037B2 (en) | 2019-02-20 | 2024-04-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing light-emitting device |
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Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7381516B2 (en) * | 2002-10-02 | 2008-06-03 | 3M Innovative Properties Company | Multiphoton photosensitization system |
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JP2009251129A (en) | 2008-04-02 | 2009-10-29 | Optoelectronic Industry & Technology Development Association | Color filter for liquid crystal display device and liquid crystal display device |
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KR101739576B1 (en) * | 2011-10-28 | 2017-05-25 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor nanocrystal-polymer micronized composite, method of preparing the same, and optoelectronic device |
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-
2014
- 2014-05-26 JP JP2014107796A patent/JP6379671B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-06-23 TW TW103121485A patent/TWI620760B/en not_active IP Right Cessation
-
2020
- 2020-12-24 KR KR1020200182997A patent/KR102325621B1/en active IP Right Grant
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20210005821A (en) | 2021-01-15 |
TWI620760B (en) | 2018-04-11 |
JP2015028139A (en) | 2015-02-12 |
TW201502154A (en) | 2015-01-16 |
JP6379671B2 (en) | 2018-08-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A107 | Divisional application of patent | ||
PA0107 | Divisional application |
Comment text: Divisional Application of Patent Patent event date: 20201224 Patent event code: PA01071R01D Filing date: 20140623 Application number text: 1020140076424 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20210210 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20210826 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20211108 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20211108 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |