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KR102031365B1 - Scan Driver and Display Device Using the same - Google Patents

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KR102031365B1
KR102031365B1 KR1020130135704A KR20130135704A KR102031365B1 KR 102031365 B1 KR102031365 B1 KR 102031365B1 KR 1020130135704 A KR1020130135704 A KR 1020130135704A KR 20130135704 A KR20130135704 A KR 20130135704A KR 102031365 B1 KR102031365 B1 KR 102031365B1
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명은 스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호를 출력하는 레벨 시프터; 및 스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며, 스테이지들의 제N스테이지는 Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와, Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와, Q노드의 전위와 자신의 클록신호인 제N클록신호를 이용하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 리플 제거부를 포함하는 스캔 구동부를 제공한다.The invention provides a level shifter for outputting start signals, clock signals, and reset signals; And a shift register configured to shift and output the scan signal in response to the start signals, the clock signals, and the reset signals, wherein the Nth stages of the stages receive the Nth clock signal in response to the potential of the Q node. It is generated at the output terminal of the Nth stage by using the pull-up transistor which outputs to the output terminal of the Nth stage, the Q node charging / discharging unit which charges and discharges the Q node, and the Nth potential and its clock signal which is its clock signal. Provided is a scan driver including a ripple remover for removing the ripple.

Description

스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치{Scan Driver and Display Device Using the same}Scan driver and display device using the same {Scan Driver and Display Device Using the same}

본 발명은 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a scan driver and a display device using the same.

정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Display: OLED), 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD) 및 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel: PDP) 등과 같은 표시장치의 사용이 증가하고 있다.With the development of information technology, the market for a display device, which is a connection medium between a user and information, is growing. Accordingly, the use of display devices such as organic light emitting display (OLED), liquid crystal display (LCD), plasma display panel (PDP), and the like is increasing.

앞서 설명한 표시장치 중 일부 예컨대, 액정표시장치나 유기전계발광표시장치에는 매트릭스 형태로 배치된 복수의 서브 픽셀을 포함하는 표시패널과 표시패널을 구동하는 구동부가 포함된다. 구동부에는 표시패널에 스캔 신호(또는 게이트신호)를 공급하는 스캔 구동부 및 표시패널에 데이터신호를 공급하는 데이터 구동부 등이 포함된다.Some of the aforementioned display devices, for example, a liquid crystal display or an organic light emitting display device, include a display panel including a plurality of subpixels arranged in a matrix form and a driving unit for driving the display panel. The driver includes a scan driver for supplying a scan signal (or gate signal) to the display panel and a data driver for supplying a data signal to the display panel.

위와 같은 표시장치는 매트릭스 형태로 배치된 서브 픽셀들에 스캔 신호 및 데이터신호 등이 공급되면, 선택된 서브 픽셀이 발광을 하게 됨으로써 영상을 표시할 수 있게 된다. 스캔 신호를 출력하는 스캔 구동부는 집적회로 형태로 표시패널의 외부기판에 실장되는 외장형과 박막 트랜지스터 공정과 함께 이루어지는 게이트인패널(Gate In Panel) 형태로 표시패널에 형성되는 내장형으로 구분된다.When the display device is supplied with a scan signal and a data signal to subpixels arranged in a matrix form, the display device emits light so that an image can be displayed. The scan driver outputting the scan signal is classified into an external circuit mounted on an external substrate of the display panel in an integrated circuit form and an embedded type formed in the display panel in the form of a gate in panel formed through a thin film transistor process.

내장형 스캔 구동부는 아몰포스 실리콘이나 산화물 박막 트랜지스터 등으로 이루어진다. 산화물 박막 트랜지스터의 경우 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 전류의 이동 특성이 우수하여 회로의 크기를 축소 설계할 수 있는 장점이 있다. 그러나 산화물 박막 트랜지스터는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 스트레스 바이어스에 따른 문턱전압의 회복 특성이 낮은 단점이 있다.The built-in scan driver is made of amorphous silicon, an oxide thin film transistor, or the like. In the case of the oxide thin film transistor, the current transfer characteristics are superior to that of the amorphous silicon thin film transistor, thereby reducing the circuit size. However, the oxide thin film transistor has a disadvantage in that the threshold voltage recovery characteristic due to the stress bias is lower than that of the amorphous silicon thin film transistor.

하지만, 산화물 박막 트랜지스터나 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터로 구성된 내장형 스캔 구동부는 회로의 신뢰성과 수명을 증가시키기 위해 Q노드 및 스캔 로우전압을 안정화시켜야 함은 동일한 문제로 다루어진다.However, the embedded scan driver composed of an oxide thin film transistor or an amorphous silicon thin film transistor is treated as the same problem to stabilize the Q node and the scan low voltage in order to increase the reliability and life of the circuit.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 GIP 방식으로 내장된 시프트 레지스터의 수명과 신뢰성을 증가시킬 수 있도록 Q노드 및 스캔 로우전압을 안정화하는 것이다.The present invention for solving the above problems of the background art is to stabilize the Q node and the scan low voltage to increase the lifetime and reliability of the shift register embedded in the GIP method.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명은 스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호를 출력하는 레벨 시프터; 및 스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며, 스테이지들의 제N스테이지는 Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와, Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와, Q노드의 전위와 자신의 클록신호인 제N클록신호를 이용하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 리플 제거부를 포함하는 스캔 구동부를 제공한다.The present invention provides a level shifter for outputting start signals, clock signals, and reset signals. And a shift register configured to shift and output the scan signal in response to the start signals, the clock signals, and the reset signals, wherein the Nth stages of the stages receive the Nth clock signal in response to the potential of the Q node. It is generated at the output terminal of the Nth stage by using the pull-up transistor which outputs to the output terminal of the Nth stage, the Q node charging / discharging unit which charges and discharges the Q node, and the Nth potential and its clock signal which is its clock signal. Provided is a scan driver including a ripple remover for removing the ripple.

리플 제거부는 Q노드의 전위가 방전 상태이고, 제N클록신호가 로직 하이일 때, 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거할 수 있다.The ripple removing unit may remove the ripple generated at the output terminal of the Nth stage when the potential of the Q node is discharged and the Nth clock signal is logic high.

리플 제거부는 제N스테이지의 출력단자와 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자를 전기적으로 연결하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거할 수 있다.The ripple removing unit may electrically connect the output terminal of the Nth stage and the low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage to remove the ripple generated at the output terminal of the Nth stage.

리플 제거부는 Q노드의 전위가 방전 상태가 되면 제N클록신호를 출력하고, Q노드의 전위가 충전 상태가 되면 제N클록신호를 미출력하는 제1회로부와, 제1회로부로부터 출력된 제N클록신호에 대응하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제N클록신호로 제거하는 제2회로부를 포함할 수 있다.The ripple removing unit outputs the N-th clock signal when the potential of the Q node is discharged, and outputs the N-th clock signal when the potential of the Q node is charged, and the N-clock output from the first circuit portion. In response to the signal may include a second circuit portion for removing the ripple generated at the output terminal of the N-th stage as the N-th clock signal.

제1회로부는 제N클록신호가 공급되는 제N클록신호라인에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 제1노드에 제2전극이 연결된 제1보상 트랜지스터와, Q노드에 게이트전극이 연결되고 제1노드에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제2보상 트랜지스터와, 제1노드에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인에 제1전극이 연결되며 제2회로부에 제2전극이 연결된 제3보상 트랜지스터를 포함할 수 있다.The first circuit unit includes a first compensation transistor in which a gate electrode and a first electrode are commonly connected to an Nth clock signal line to which an Nth clock signal is supplied, and a second electrode is connected to a first node, and a gate electrode is connected to a Q node. And a second compensation transistor having a first electrode connected to the first node, a second electrode connected to the low potential voltage terminal, a gate electrode connected to the first node, and a first electrode connected to the Nth clock signal line. The circuit part may include a third compensation transistor connected to a second electrode.

제2회로부는 제3보상 트랜지스터의 제2전극에 게이트전극이 연결되고 제N스테이지의 출력단자에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제4보상 트랜지스터를 포함할 수 있다.The second circuit unit may include a fourth compensation transistor having a gate electrode connected to a second electrode of the third compensation transistor, a first electrode connected to an output terminal of the Nth stage, and a second electrode connected to a low potential voltage terminal. .

다른 측면에서 본 발명은 표시패널; 표시패널의 데이터라인들에 연결된 데이터 구동부; 및 표시패널의 스캔라인들에 연결되며 스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며, 스테이지들의 제N스테이지는 Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와, Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와, Q노드의 전위와 자신의 클록신호인 제N클록신호를 이용하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 리플 제거부를 포함하는 표시장치를 제공한다.In another aspect, the present invention is a display panel; A data driver connected to data lines of the display panel; And a shift register connected to the scan lines of the display panel and configured to shift and output the scan signal in response to the start signals, the clock signals, and the reset signals. A pull-up transistor for outputting the N-th clock signal to the output terminal of the N-th stage corresponding to the potential, a Q-node charging and discharging unit for charging and discharging the Q-node, a potential of the Q-node, and an N-clock signal as its clock signal The present invention provides a display device including a ripple removing unit for removing ripples generated at an output terminal of an Nth stage.

리플 제거부는 Q노드의 전위가 방전 상태이고, 제N클록신호가 로직 하이일 때, 제N스테이지의 출력단자와 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자를 전기적으로 연결하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거할 수 있다.When the potential of the Q node is discharged and the Nth clock signal is logic high, the ripple removing unit electrically connects the output terminal of the Nth stage and the low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage to the output terminal of the Nth stage. Ripple generated in the can be eliminated.

리플 제거부는 Q노드의 전위가 방전 상태가 되면 제N클록신호를 출력하고, Q노드의 전위가 충전 상태가 되면 제N클록신호를 미출력하는 제1회로부와, 제1회로부로부터 출력된 제N클록신호에 대응하여 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제N클록신호로 제거하는 제2회로부를 포함할 수 있다.The ripple removing unit outputs the N-th clock signal when the potential of the Q node is discharged, and outputs the N-th clock signal when the potential of the Q node is charged, and the N-clock output from the first circuit portion. In response to the signal may include a second circuit portion for removing the ripple generated at the output terminal of the N-th stage as the N-th clock signal.

제1회로부는 제N클록신호가 공급되는 제N클록신호라인에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 제1노드에 제2전극이 연결된 제1보상 트랜지스터와, Q노드에 게이트전극이 연결되고 제1노드에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제2보상 트랜지스터와, 제1노드에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인에 제1전극이 연결되며 제2회로부에 제2전극이 연결된 제3보상 트랜지스터를 포함할 수 있다.The first circuit unit includes a first compensation transistor in which a gate electrode and a first electrode are commonly connected to an Nth clock signal line to which an Nth clock signal is supplied, and a second electrode is connected to a first node, and a gate electrode is connected to a Q node. And a second compensation transistor having a first electrode connected to the first node, a second electrode connected to the low potential voltage terminal, a gate electrode connected to the first node, and a first electrode connected to the Nth clock signal line. The circuit part may include a third compensation transistor connected to a second electrode.

제2회로부는 제3보상 트랜지스터의 제2전극에 게이트전극이 연결되고 제N스테이지의 출력단자에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제4보상 트랜지스터를 포함할 수 있다.The second circuit unit may include a fourth compensation transistor having a gate electrode connected to a second electrode of the third compensation transistor, a first electrode connected to an output terminal of the Nth stage, and a second electrode connected to a low potential voltage terminal. .

본 발명은 자신의 클록신호가 들어올 때마다 자신의 스테이지의 출력단자에 발생하는 리플을 개선 또는 제거하여 GIP 방식으로 내장된 시프트 레지스터의 수명과 신뢰성을 증가시킬 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 리플 등의 노이즈를 제거하고 Q노드 및 스캔 로우전압을 안정화시킬 수 있어 산화물 박막 트랜지스터나 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터로 시프트 레지스터를 구현할 경우 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The present invention has an effect of increasing the lifetime and reliability of the shift register embedded in the GIP method by improving or eliminating the ripple generated in the output terminal of its stage every time its clock signal is input. In addition, the present invention can remove the noise, such as ripple and stabilize the Q node and the scan low voltage, it is possible to improve the life and reliability when implementing the shift resistor in the oxide thin film transistor or amorphous silicon thin film transistor.

도 1은 표시장치의 개략적인 블록도.
도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀의 구성 예시도.
도 3은 실험예에 따른 시프트 레지스터의 스테이지별 블록 구성도.
도 4는 실험예에 따른 스테이지의 회로 구성 예시도.
도 5는 실험예에 따른 스테이지에 공급되는 신호들과 출력신호들을 나타낸 파형 예시도.
도 6은 실시예에 따른 시프트 레지스터의 스테이지별 블록 구성도.
도 7은 실시예에 따른 스테이지의 개략적인 회로 구성 예시도.
도 8은 실시예에 따른 스테이지의 상세 회로 구성 예시도.
도 9는 실시예에 따른 스테이지에 공급되는 신호들과 출력신호들을 나타낸 파형 예시도.
도 10은 실험예와 실시예의 시프트 레지스터로부터 출력되는 스캔 신호의 리플 수준을 비교 평가한 그래프.
1 is a schematic block diagram of a display device;
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a subpixel illustrated in FIG. 1. FIG.
3 is a block configuration diagram for each stage of a shift register according to an experimental example.
4 is an exemplary circuit configuration of a stage according to an experimental example.
5 is an exemplary waveform diagram illustrating signals and output signals supplied to a stage according to an experimental example.
6 is a block configuration diagram for each stage of the shift register according to the embodiment;
7 is a schematic circuit diagram illustrating a stage according to an embodiment.
8 illustrates a detailed circuit configuration of a stage according to an embodiment.
9 is an exemplary waveform diagram illustrating signals and output signals supplied to a stage according to an exemplary embodiment.
Fig. 10 is a graph comparing and evaluating the ripple levels of scan signals output from shift registers of the experimental example and the example.

이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the specific content for the practice of the present invention will be described.

도 1은 표시장치의 개략적인 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀의 구성 예시도이다.FIG. 1 is a schematic block diagram of a display device, and FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a subpixel illustrated in FIG. 1.

도 1에 도시된 바와 같이, 표시장치에는 표시패널(100), 타이밍 콘트롤러(110), 데이터 구동부(120) 및 스캔 구동부(130, 140)가 포함된다.As shown in FIG. 1, the display device includes a display panel 100, a timing controller 110, a data driver 120, and scan drivers 130 and 140.

표시패널(10)에는 상호 교차하는 데이터 라인들(DL) 및 스캔 라인들(GL)에 구분되어 연결된 서브 픽셀들이 포함된다. 표시패널(10)은 서브 픽셀들이 형성되는 표시영역(100A)과 표시영역(100A)의 외측으로 각종 신호라인들이나 패드 등이 형성되는 비표시영역(100B)을 포함한다. 표시패널(100)은 액정표시장치(LCD), 유기발광표시장치(OLED), 전기영동표시장치(EPD) 등으로 구현될 수 있다.The display panel 10 includes subpixels separated from and connected to the data lines DL and the scan lines GL. The display panel 10 includes a display area 100A in which subpixels are formed and a non-display area 100B in which various signal lines or pads are formed outside the display area 100A. The display panel 100 may be implemented as a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting display (OLED), an electrophoretic display (EPD), or the like.

도 2에 도시된 바와 같이, 하나의 서브 픽셀(SP)에는 스캔 라인(GL1)과 데이터 라인(DL1)에 연결된 스위칭 트랜지스터(SW)와 스위칭 트랜지스터(SW)를 통해 공급된 스캔 신호에 대응하여 공급된 데이터신호(DATA)에 대응하여 동작하는 픽셀회로(PC)가 포함된다. 서브 픽셀(SP)은 픽셀회로(PC)의 구성에 따라 액정소자를 포함하는 액정표시패널이나 유기발광소자를 포함하는 유기발광표시패널 등으로 구현된다.As shown in FIG. 2, one sub-pixel SP is supplied in response to a scan signal supplied through the switching transistor SW and the switching transistor SW connected to the scan line GL1 and the data line DL1. Pixel circuit PC that operates in response to the data signal DATA is included. The subpixel SP is implemented as a liquid crystal display panel including a liquid crystal element or an organic light emitting display panel including an organic light emitting element according to the configuration of the pixel circuit PC.

표시패널(100)이 액정표시패널로 구성된 경우, 이는 TN(Twisted Nematic) 모드, VA(Vertical Alignment) 모드, IPS(In Plane Switching) 모드, FFS(Fringe Field Switching) 모드 또는 ECB(Electrically Controlled Birefringence) 모드로 구현된다. 표시패널(100)이 유기발광표시패널로 구성된 경우, 이는 전면발광(Top-Emission) 방식, 배면발광(Bottom-Emission) 방식 또는 양면발광(Dual-Emission) 방식으로 구현된다.When the display panel 100 is configured as a liquid crystal display panel, it is a twisted nematic (TN) mode, a vertical alignment (VA) mode, an in plane switching (IPS) mode, a fringe field switching (FFS) mode, or an electrically controlled wired fringefringence (ECB). Implemented in mode. When the display panel 100 is configured as an organic light emitting display panel, the display panel 100 may be implemented in a top-emission method, a bottom-emission method, or a dual-emission method.

타이밍 콘트롤러(110)는 영상보드에 연결된 LVDS 또는 TMDS 인터페이스 수신회로를 통해 수직 동기신호, 수평 동기신호, 데이터 인에이블 신호, 도트 클럭 등의 타이밍신호를 입력받는다. 타이밍 콘트롤러(110)는 입력된 타이밍신호를 기준으로 데이터 구동부(120)와 스캔 구동부(130, 140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.The timing controller 110 receives a timing signal such as a vertical synchronization signal, a horizontal synchronization signal, a data enable signal, and a dot clock through an LVDS or TMDS interface receiving circuit connected to the image board. The timing controller 110 generates timing control signals for controlling operation timings of the data driver 120 and the scan drivers 130 and 140 based on the input timing signal.

데이터 구동부(120)는 다수의 소스 드라이브 IC(Integrated Circuit)들을 포함한다. 소스 드라이브 IC들은 타이밍 콘트롤러(110)로부터 디지털 비디오 데이터들(RGB)과 소스 타이밍 제어신호(DDC)를 공급받는다. 소스 드라이브 IC들은 소스 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 디지털 비디오 데이터들(RGB)을 감마전압으로 변환하여 데이터전압을 생성하고, 데이터전압을 표시패널(100)의 데이터 라인들(DL)을 통해 공급한다. 소스 드라이브 IC들은 COG(Chip On Glass) 공정이나 TAB(Tape Automated Bonding) 공정에 의해 표시패널(100)의 데이터 라인들(DL)에 접속된다.The data driver 120 includes a plurality of source drive integrated circuits (ICs). The source drive ICs receive the digital video data RGB and the source timing control signal DDC from the timing controller 110. The source drive ICs convert the digital video data RGB into a gamma voltage in response to the source timing control signal DDC to generate a data voltage, and transmit the data voltage through the data lines DL of the display panel 100. Supply. The source drive ICs are connected to the data lines DL of the display panel 100 by a chip on glass (COG) process or a tape automated bonding (TAB) process.

스캔 구동부(130, 140)는 레벨 시프터(130) 및 시프트 레지스터(140)를 포함한다. 스캔 구동부(130, 140)는 레벨 시프터(130)와 시프트 레지스터(140)가 구분되어 형성된 게이트인패널(Gate In Panel; 이하 GIP) 방식으로 형성된다. 레벨 시프터(130)는 레벨 시프터(130)는 IC 형태로 표시패널(100)에 접속되는 외부 기판에 형성된다.The scan driver 130, 140 includes a level shifter 130 and a shift register 140. The scan drivers 130 and 140 are formed by a gate in panel (GIP) method in which the level shifter 130 and the shift register 140 are divided. The level shifter 130 is formed on an external substrate connected to the display panel 100 in the form of an IC.

레벨 시프터(130)는 타이밍 콘트롤러(11)의 제어하에 클럭신호들(clk), 리셋신호들(reset) 및 스타트신호들(vst)의 레벨을 시프팅한 후 시프트 레지스터(140)에 공급한다. 시프트 레지스터(140)는 GIP 방식에 의해 표시패널(100)의 표시영역(100A)의 좌우측에 위치하는 비표시영역(100B)에 박막 트랜지스터 형태로 형성된다. 시프트 레지스터(140)는 클럭신호들(clk), 리셋신호들(reset) 및 스타트신호들(vst)에 대응하여 스캔 신호를 시프트하고 출력하는 스테이지들로 구성된다. 시프트 레지스터(140)에 포함된 스테이지들은 출력단들을 통해 스캔 신호들을 순차적으로 출력한다.The level shifter 130 shifts the levels of the clock signals clk, the reset signals, and the start signals vst under the control of the timing controller 11 and supplies the shift register 140 to the shift register 140. The shift register 140 is formed in the form of a thin film transistor in the non-display area 100B positioned on the left and right sides of the display area 100A of the display panel 100 by the GIP method. The shift register 140 includes stages for shifting and outputting a scan signal in response to clock signals clk, reset signals, and start signals vst. Stages included in the shift register 140 sequentially output scan signals through output terminals.

한편, 시프트 레지스터(140)는 산화물 박막 트랜지스터나 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터들로 이루어진다. 산화물 박막 트랜지스터는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 전류의 이동 특성이 우수하여 회로의 크기를 축소 설계할 수 있는 장점이 있다. 그러나 산화물 박막 트랜지스터는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 스트레스 바이어스에 따른 문턱전압의 회복 특성이 낮은 단점이 있다. 그 이유는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터의 경우 시간이 지나도 문턱전압을 일정하게 유지하지만(Clamping Voltage Saturation), 산화물 박막 트랜지스터의 경우 시간이 지남에 따라 문턱전압이 포지티브(+) 방향으로 계속 시프트되기 때문이다(Clamping Voltage Not Saturation).Meanwhile, the shift register 140 may be formed of an oxide thin film transistor or an amorphous silicon thin film transistor. The oxide thin film transistor has an advantage in that the current can be reduced in size compared to the amorphous silicon thin film transistor, thereby reducing the circuit size. However, the oxide thin film transistor has a disadvantage in that the threshold voltage recovery characteristic due to the stress bias is lower than that of the amorphous silicon thin film transistor. This is because in the case of amorphous silicon thin film transistors, the threshold voltage is kept constant over time (clamping voltage saturation), but in the case of oxide thin film transistors, the threshold voltage is continuously shifted in the positive direction over time. (Clamping Voltage Not Saturation).

본 발명은 GIP 방식으로 내장된 시프트 레지스터(140)의 수명과 신뢰성을 증가시키기 위해 리플(Ripple) 등의 노이즈를 제거하고 Q노드 및 스캔 로우전압을 안정화시킬 수 있는 방식을 제안한다. 이 방식에 따르면, 시프트 레지스터(140)를 산화물 박막 트랜지스터나 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터로 구현할 경우 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The present invention proposes a method of removing noise such as ripple and stabilizing the Q node and the scan low voltage in order to increase the lifetime and reliability of the shift register 140 embedded in the GIP method. According to this method, when the shift register 140 is implemented as an oxide thin film transistor or an amorphous silicon thin film transistor, lifespan and reliability may be improved.

이하, 실험예와 실시예를 대비하여 수명과 신뢰성을 개선할 수 있는 GIP 방식의 시프트 레지스터에 대해 설명한다.Hereinafter, the shift register of the GIP type which can improve the lifetime and reliability in comparison with the experimental example and the embodiment will be described.

[실험예]Experimental Example

도 3은 실험예에 따른 시프트 레지스터의 스테이지별 블록 구성도이고, 도 4는 실험예에 따른 스테이지의 회로 구성 예시도이고, 도 5는 실험예에 따른 스테이지에 공급되는 신호들과 출력신호들을 나타낸 파형 예시도이다.3 is a block diagram illustrating stages of a shift register according to an experimental example, FIG. 4 is an exemplary circuit diagram illustrating a circuit configuration of a stage according to an experimental example, and FIG. 5 illustrates signals and output signals supplied to a stage according to an experimental example. This is an example of waveforms.

도 3에 도시된 바와 같이, 실험예에 따른 시프트 레지스터에는 스테이지들(STG1 ~ STG11)이 포함된다. 스테이지들(STG1 ~ STG11)은 종속적으로 접속되도록 배치된다.As shown in FIG. 3, the shift register according to the experimental example includes stages STG1 to STG11. The stages STG1 to STG11 are arranged to be connected in cascade.

스테이지들(STG1 ~ STG11)에는 6상의 클록신호들, 리셋신호, 저전위전압 및 스타트신호들이 공급된다. 이를 위해, 스테이지들(STG1 ~ STG11)은 6상의 클록신호들을 공급하는 클록신호라인들(CLK1 ~ CLK6), 리셋신호를 공급하는 제1리셋신호라인(RESET_1), 저전위전압을 공급하는 저전위전압라인(VSS) 및 스타트신호들을 공급하는 스타트신호라인들(VST1, VST2)에 연결된다.Stages STG1 to STG11 are supplied with six phase clock signals, a reset signal, a low potential voltage and a start signal. To this end, the stages STG1 to STG11 include clock signal lines CLK1 to CLK6 for supplying clock signals of six phases, a first reset signal line RESET_1 for supplying a reset signal, and a low potential for supplying a low potential voltage. It is connected to start signal lines VST1 and VST2 that supply a voltage line VSS and start signals.

한편, 도시된 블록은 표시패널의 일측에 형성된 홀수 라인의 스테이지들(STG1 ~ STG11)을 나타낸 것이다. 따라서, 이의 반대가 되는 타측에는 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)이 형성되고, 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)에 공급되는 리셋신호는 제2리셋신호라인(예컨대, RESET_2)을 통해 공급된다.Meanwhile, the illustrated block shows odd-numbered stages STG1 to STG11 formed on one side of the display panel. Accordingly, the stages STG2 to STG12 of even lines are formed on the other side of the opposite side, and the reset signal supplied to the stages STG2 to STG12 of even lines is provided through a second reset signal line (eg, RESET_2). Supplied.

제1스테이지(STG1)는 제1 및 제2스타트신호라인들(VST1, VST2)을 통해 공급된 제1 및 제2스타트신호와 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 공급된 제1클록신호, 제3클록신호라인(CLK3)을 통해 공급된 제3클록신호, 제5클록신호라인(CLK5)을 통해 공급된 제5클록신호 및 제6클록신호라인(CLK6)을 통해 공급된 제6클록신호에 대응하여 동작한다. 제1스테이지(STG1)는 다 다음단인 제5스테이지(STG5)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 스캔 신호(Vg_Out_5)를 공급받고 이를 기반으로 Q노드를 방전한다.The first stage STG1 may include a first clock signal supplied through the first and second start signals supplied through the first and second start signal lines VST1 and VST2 and a first clock signal line CLK1, The third clock signal supplied through the third clock signal line CLK3, the fifth clock signal supplied through the fifth clock signal line CLK5, and the sixth clock signal supplied through the sixth clock signal line CLK6. Operate in response to The first stage STG1 receives the scan signal Vg_Out_5 output from the output terminal Gout of the fifth stage STG5, which is the next stage, and discharges the Q node based on the scan signal Vg_Out_5.

제3스테이지(STG3)는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 공급된 제1클록신호, 제2클록신호라인(CLK2)을 통해 공급된 제2클록신호, 제3클록신호라인(CLK3)을 통해 공급된 제3클록신호 및 제5클록신호라인(CLK5)을 통해 공급된 제5클록신호에 대응하여 동작한다. 제3스테이지(STG3)와 같이 종속적으로 접속된 스테이지는 제1 및 제2스타트신호라인들(VST1, VST2)로부터 제1 및 제2스타트신호를 공급받지 않는다. 대신, 앞단인 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제1스캔 신호(Vg_Out_1)를 제1스타트신호로 활용하고, 다 다음단인 제5스테이지(STG5)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제5스캔 신호(Vg_Out_5)를 제2스타트신호로 활용하도록 접속된다. 제3스테이지(STG3)는 다 다음단인 제7스테이지(STG7)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제7스캔 신호(Vg_Out_7)를 공급받고 이를 기반으로 Q노드를 방전한다.The third stage STG3 receives the first clock signal supplied through the first clock signal line CLK1, the second clock signal supplied through the second clock signal line CLK2, and the third clock signal line CLK3. It operates in response to the third clock signal supplied through the fifth clock signal and the fifth clock signal line CLK5. Stages that are cascaded like the third stage STG3 do not receive the first and second start signals from the first and second start signal lines VST1 and VST2. Instead, the first scan signal Vg_Out_1 output from the output terminal Gout of the first stage STG1, which is the front stage, is used as the first start signal, and the output terminal Gout of the fifth stage STG5, which is the next stage, is used. The fifth scan signal Vg_Out_5 outputted from the < RTI ID = 0.0 > The third stage STG3 receives the seventh scan signal Vg_Out_7 output from the output terminal Gout of the seventh stage STG7, which is the next stage, and discharges the Q node based on the seventh scan signal Vg_Out_7.

앞서 설명된 제1 및 제3스테이지(STG1, STG3)와 같은 형태로 시프트 레지스터에 포함된 모든 스테이지들은 전단 및 다 다음단의 스테이지의 출력단자로부터 출력된 스캔 신호를 이용하고 또한 자신으로부터 출력되는 스캔 신호를 다음단의 스테이지로 공급하는 형태로 종속적으로 접속된다.All stages included in the shift register in the same form as the first and third stages STG1 and STG3 described above use the scan signals output from the output terminals of the preceding and next stages and are also scanned from themselves. It is cascaded in the form of supplying the signal to the next stage.

위와 같은 구성 및 접속 관계에 따라, 홀수 라인의 스테이지들(STG1 ~ STG11)과 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)은 순차적으로 스캔 하이전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1) 내지 제12스캔 신호(Vg_Out_12)를 출력하게 된다.According to the above configuration and connection relationship, the odd-numbered stages STG1 to STG11 and the even-numbered stages STG2 to STG12 sequentially scan the first scan signal Vg_Out_1 to the twelfth scan corresponding to the scan high voltage. The signal Vg_Out_12 is output.

이후, 홀수 라인의 스테이지들(STG1 ~ STG11)과 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)은 스캔 하이전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1) 내지 제12스캔 신호(Vg_Out_12)를 출력한 이후 다음 프레임 기간 동안 스캔 로우전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1) 내지 제12스캔 신호(Vg_Out_12)를 유지한다.Subsequently, the odd-numbered stages STG1 to STG11 and the even-numbered stages STG2 to STG12 output first scan signals Vg_Out_1 to twelfth scan signals Vg_Out_12 corresponding to scan high voltages, and then to the next. The first scan signal Vg_Out_1 to the twelfth scan signal Vg_Out_12 corresponding to the scan low voltage are maintained during the frame period.

도 4에 도시된 바와 같이, 실험예에 따른 스테이지에는 Q노드 충방전부(T1, T3n, T3c, T3r)와 출력 회로부(T5, T7c, T7d, T7c_1, CB)가 포함된다.As shown in FIG. 4, the stage according to the experimental example includes Q node charging and discharging units T1, T3n, T3c, and T3r and output circuit units T5, T7c, T7d, T7c_1, and CB.

Q노드 충방전부(T1, T3n, T3c, T3r)에는 제1트랜지스터(T1), 제2트랜지스터(T3n), 제3트랜지스터(T3c) 및 제4트랜지스터(T3r)가 포함된다. 출력 회로부(T5, T7c, T7d, T7c_1, CB)에는 제5트랜지스터(T5), 제6트랜지스터(T7c), 제7트랜지스터(T7d), 제8트랜지스터(T7c_1) 및 커패시터(CB)가 포함된다.The Q node charge / discharge units T1, T3n, T3c, and T3r include a first transistor T1, a second transistor T3n, a third transistor T3c, and a fourth transistor T3r. The output circuit units T5, T7c, T7d, T7c_1, and CB include a fifth transistor T5, a sixth transistor T7c, a seventh transistor T7d, an eighth transistor T7c_1, and a capacitor CB.

Q노드 충방전부(T1, T3n, T3c, T3r)와 출력 회로부(T5, T7c, T7d, T7c_1, CB)의 역할 및 이들 간의 접속 관계를 설명하면 다음과 같다.The role of the Q-node charge / discharge units T1, T3n, T3c, and T3r and the output circuit units T5, T7c, T7d, T7c_1, and CB, and the connection relationship therebetween will be described below.

제1트랜지스터(T1)는 제N-2스테이지의 출력단자(Gout[N-2])에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다. 제1트랜지스터(T1)는 제N-2스테이지의 출력단자(Gout[N-2])로부터 출력되는 제N-2스캔 신호에 대응하여 Q노드(Q)를 충전하는 역할을 한다.In the first transistor T1, the gate electrode and the first electrode are connected to the output terminal Gout [N-2] of the N-2th stage, and the second electrode is connected to the Q node Q. The first transistor T1 charges the Q node Q in response to the N-2 scan signal output from the output terminal Gout [N-2] of the N-2th stage.

제2트랜지스터(T3n)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[N+2])에 게이트전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제2트랜지스터(T3n)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[N+2])로부터 출력되는 스캔 신호에 대응하여 Q노드(Q)를 방전하는 역할을 한다.The second transistor T3n has a gate electrode connected to the output terminal Gout [N + 2] of the N + 2 stage, a first electrode connected to the Q node Q, and a low potential voltage terminal VSS. Two electrodes are connected. The second transistor T3n discharges the Q node Q in response to the scan signal output from the output terminal Gout [N + 2] of the N + 2th stage.

제3트랜지스터(T3c)는 제N-1클록신호라인(CLK[N-1])에 게이트전극이 연결되고 제N-1스테이지의 출력단자(Gout[N-1])에 제1전극이 연결되며 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다. 제3트랜지스터(T3c)는 제N-1클록신호라인(CLK[N-1])으로부터 공급되는 제N-1클록신호에 대응하여 Q노드(Q)를 충전하는 역할을 한다.In the third transistor T3c, a gate electrode is connected to the N-1 clock signal line CLK [N-1], and a first electrode is connected to the output terminal Gout [N-1] of the N-1 stage. The second electrode is connected to the Q node Q. The third transistor T3c charges the Q node Q in response to the N-1 clock signal supplied from the N-1 clock signal line CLK [N-1].

제4트랜지스터(T3r)는 제1리셋신호라인(RESET_1)에 게이트전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제4트랜지스터(T3r)는 제1리셋신호라인(RESET_1)으로부터 공급되는 제1리셋신호에 대응하여 저전위전압단자(VSS)로부터 공급되는 저전위전압으로 Q노드(Q)를 리셋하는 역할을 한다.In the fourth transistor T3r, a gate electrode is connected to the first reset signal line RESET_1, a first electrode is connected to the Q node Q, and a second electrode is connected to the low potential voltage terminal VSS. The fourth transistor T3r resets the Q node Q to a low potential voltage supplied from the low potential voltage terminal VSS in response to the first reset signal supplied from the first reset signal line RESET_1. .

제5트랜지스터(T5)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인(CLK[N])에 제1전극이 연결되며 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제2전극이 연결된다. 제5트랜지스터(T5)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 제N클록신호라인(CLK[N])로부터 공급되는 제N클록신호를 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력하는 역할을 한다.In the fifth transistor T5, a gate electrode is connected to the Q node Q, a first electrode is connected to the Nth clock signal line CLK [N], and a fifth terminal T5 is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. Two electrodes are connected. The fifth transistor T5 receives the Nth clock signal supplied from the Nth clock signal line CLK [N] corresponding to the potential of the Q node Q through the output terminal Gout [N] of its stage. It plays a role of outputting.

제6트랜지스터(T7c)는 제N-2클록신호라인(CLK[N-2])에 게이트전극이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제6트랜지스터(T7c)는 제N-2클록신호라인(CLK[N-2])로부터 공급되는 제N-2클록신호에 대응하여 저전위전압단자(VSS)로부터 공급되는 저전위전압으로 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력되는 스캔 신호를 스캔 로우전압으로 전환하는 역할을 한다.In the sixth transistor T7c, a gate electrode is connected to the N-2 clock signal line CLK [N-2], and a first electrode is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. The second electrode is connected to the terminal VSS. The sixth transistor T7c has its low potential voltage supplied from the low potential voltage terminal VSS in response to the N-2 clock signal supplied from the N-2 clock signal line CLK [N-2]. The scan signal output through the output terminal Gout [N] of the stage is converted into a scan low voltage.

제7트랜지스터(T7d)는 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인(CLK[N])에 제1전극이 연결되며 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제2전극이 연결된다. 제7트랜지스터(T7d)는 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])의 전위에 대응하여 제N클록신호라인(CLK[N])으로부터 공급되는 제N클록신호를 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력하는 역할을 한다.The seventh transistor T7d has a gate electrode connected to the output terminal Gout [N] of its stage, a first electrode connected to the Nth clock signal line CLK [N], and an output terminal of its stage The second electrode is connected to Gout [N]). The seventh transistor T7d receives the Nth clock signal supplied from the Nth clock signal line CLK [N] in response to the potential of the output terminal Gout [N] of its stage. It outputs through Gout [N]).

제8트랜지스터(T7c_1)는 제N+2클록신호라인(CLK[N+2])에 게이트전극이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제8트랜지스터(T7c_1)는 제N+2클록신호라인(CLK[N+2])으로부터 공급되는 제N+2클록신호에 대응하여 저전위전압단자(VSS)로부터 공급되는 저전위전압으로 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력되는 스캔 신호를 스캔 로우전압으로 전환하는 역할을 한다.In the eighth transistor T7c_1, a gate electrode is connected to the N + 2th clock signal line CLK [N + 2], and a first electrode is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. The second electrode is connected to the terminal VSS. The eighth transistor T7c_1 has its low potential voltage supplied from the low potential voltage terminal VSS in response to the N + 2th clock signal supplied from the N + 2th clock signal line CLK [N + 2]. The scan signal output through the output terminal Gout [N] of the stage is converted into a scan low voltage.

커패시터(CB)는 Q노드(Q)에 일단이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 타단이 연결된다. 커패시터(CB)는 Q노드(Q)와 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N]) 사이의 전위를 이용하여 Q노드(Q)를 부트스트랩하는 역할을 한다.One end of the capacitor CB is connected to the Q node Q and the other end thereof is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. The capacitor CB bootstraps the Q node Q using the potential between the Q node Q and the output terminal Gout [N] of its stage.

도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2스타트신호라인들(VST1, VST2)을 통해 공급되는 제1 및 제2스타트신호(vst1, vst2)는 일부 구간이 상호 중첩하도록 발생된다. 이때, 제1 및 제2스타트신호(vst1, vst2)는 1 수평 기간 중 1/2이 중첩하도록 발생될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.As shown in FIGS. 4 and 5, the first and second start signals vst1 and vst2 supplied through the first and second start signal lines VST1 and VST2 are generated so that some sections overlap each other. . In this case, the first and second start signals vst1 and vst2 may be generated such that half of one horizontal period overlaps, but is not limited thereto.

제1 내지 제6클록신호라인들(CLK1 ~ CLK6)을 통해 공급되는 제1 내지 제6클록신호(clk1 ~ clk6)는 일부 구간이 상호 중첩하도록 발생된다. 이때, 제1 내지 제6클록신호(clk1 ~ clk6)는 1 수평 기간 중 1/2이 중첩하도록 발생될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first to sixth clock signals clk1 to clk6 supplied through the first to sixth clock signal lines CLK1 to CLK6 are generated such that some sections overlap each other. In this case, the first to sixth clock signals clk1 to clk6 may be generated such that 1/2 of one horizontal period overlaps, but is not limited thereto.

제1 및 제2스타트신호(vst1, vst2)와 제1 내지 제6클록신호(clk1 ~ clk6)가 로직 하이를 유지하는 시간은 위와 같이 일부 중첩하도록 발생된다. 그리고 이들 신호들이 로직 하이로 발생되는 순서는 제1, 제2스타트신호(vst1, vst2), 제1, 제2, 제3, 제4, 제5 및 제6클록신호(clk1 ~ clk6)가 될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The time at which the first and second start signals vst1 and vst2 and the first to sixth clock signals clk1 to clk6 maintain logic high is generated to partially overlap as described above. The order in which these signals are generated at logic high becomes the first and second start signals vst1 and vst2, and the first, second, third, fourth, fifth and sixth clock signals clk1 to clk6. But it is not limited thereto.

제1리셋신호라인(RESET_1)을 통해 공급되는 제1리셋신호(DMY Reset1)는 1 프레임에 한 번씩 로직 하이로 발생된다. 제1리셋신호(DMY Reset1)는 1 프레임이 종료되는 시점에 한 번씩 로직 하이로 발생될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first reset signal DMY Reset1 supplied through the first reset signal line RESET_1 is generated at a logic high once every one frame. The first reset signal DMY Reset1 may be generated at a logic high once at the end of one frame, but is not limited thereto.

위와 같은 신호 체계에 의해 시프트 레지스터의 스테이지들이 구동할 경우, 제1스테이지(STG1)의 Q노드(Q)는 제1스타트신호(vst1)에 의해 충전되며 제1클록신호(clk1)에 의해 부트스트랩이 일어난다. 이때, 제3트랜지스터(T3c)는 제2스타트신호(vst2)에 대응하여 동작하고, 제8트랜지스터(T7c_1)는 제3클록신호(clk3)에 대응하여 동작하고, 제6트랜지스터(T7c)는 제5클록신호(clk5)에 대응하여 동작함을 알 수 있다.When the stages of the shift register are driven by the above signal system, the Q node Q of the first stage STG1 is charged by the first start signal vst1 and bootstrap by the first clock signal clk1. This happens. At this time, the third transistor T3c operates in response to the second start signal vst2, the eighth transistor T7c_1 operates in response to the third clock signal clk3, and the sixth transistor T7c operates in the fifth transistor T7c. It can be seen that it operates in response to the 5 clock signal clk5.

위와 같이, 제1스테이지(STG1)의 Q노드(Q)가 제1스타트신호(vst1)에 의해 충전되고 제1클록신호(clk1)에 의해 부트스트랩이 일어나면, 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)에는 스캔 하이전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1)가 출력된다.As described above, when the Q node Q of the first stage STG1 is charged by the first start signal vst1 and bootstrap occurs by the first clock signal clk1, the output terminal of the first stage STG1 is generated. The first scan signal Vg_Out_1 corresponding to the scan high voltage is output to Gout.

위와 같은 신호 체계에 의해 시프트 레지스터의 스테이지들이 구동할 경우, 제3스테이지(STG3)의 Q노드(Q)는 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제1스캔 신호(Vg_Out_1)에 의해 충전되며 제3클록신호(clk3)에 의해 부트스트랩이 일어난다. 이때, 제3트랜지스터(T3c)는 제2클록신호(clk2)에 대응하여 동작하고, 제8트랜지스터(T7c_1)는 제5클록신호(clk5)에 대응하여 동작하고, 제6트랜지스터(T7c)는 제1클록신호(clk1)에 대응하여 동작함을 알 수 있다.When the stages of the shift register are driven by the above-described signal system, the Q node Q of the third stage STG3 may have the first scan signal Vg_Out_1 output from the output terminal Gout of the first stage STG1. Charge is generated by the third clock signal clk3. At this time, the third transistor T3c operates in response to the second clock signal clk2, the eighth transistor T7c_1 operates in response to the fifth clock signal clk5, and the sixth transistor T7c operates in the fifth transistor T7c. It can be seen that it operates in response to the one clock signal clk1.

위와 같이, 제3스테이지(STG2)의 Q노드(Q)가 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제1스캔 신호(Vg_Out_1)에 의해 충전되고 제3클록신호(clk3)에 의해 부트스트랩이 일어나면, 제3스테이지(STG3)의 출력단자(Gout)에는 스캔 하이전압에 해당하는 제3스캔 신호(Vg_Out_3)가 출력된다.As described above, the Q node Q of the third stage STG2 is charged by the first scan signal Vg_Out_1 outputted from the output terminal Gout of the first stage STG1 and is driven by the third clock signal clk3. When a bootstrap occurs, the third scan signal Vg_Out_3 corresponding to the scan high voltage is output to the output terminal Gout of the third stage STG3.

한편, 앞서 설명한 바와 같은 구조로 구성된 스테이지들은 Q노드(Q) 및 스캔 로우전압을 안정화하기 위해 노이즈를 제거하는 제3트랜지스터(T3c)와 풀다운 트랜지스터에 해당하는 제6트랜지스터(T7c)에 신호를 공급한다. 예컨대, 제1스테이지(STG1)는 제1스캔 신호를 출력한 이후 제5스테이지의 제5스캔 신호(Vg_Out_5)에 의해 리셋(Reseet) 되어 안정화되고, 제3스테이지(STG3)는 제3스캔 신호를 출력한 이후 제7스테이지의 제7스캔 신호(Vg_Out_)에 의해 리셋(Reseet) 되어 안정화된다.On the other hand, the stages configured as described above supply signals to the third transistor T3c that removes noise and the sixth transistor T7c corresponding to the pull-down transistor to stabilize the Q node Q and the scan low voltage. do. For example, the first stage STG1 is reset and stabilized by the fifth scan signal Vg_Out_5 of the fifth stage after outputting the first scan signal, and the third stage STG3 is configured to reset the third scan signal. After the output, the data is reset and stabilized by the seventh scan signal Vg_Out_ of the seventh stage.

그런데, 풀다운 트랜지스터에 해당하는 제6트랜지스터(T7c)의 경우 자신의 클록신호가 들오는 구간 동안 안정화할 수 있는 장치나 방법이 없기 때문에 자신의 클록신호가 들어올 때마다 리플이 발생하게 되므로 스캔 로우전압에 해당하는 스캔 신호 출력시 노이즈가 발생하게 된다.However, in the case of the sixth transistor T7c corresponding to the pull-down transistor, since there is no device or method capable of stabilizing during the clock signal coming in, the ripple occurs every time the clock signal comes in, so the scan low voltage Noise is generated when the corresponding scan signal is output.

[실시예]EXAMPLE

본 발명은 실험예에 따른 시프트 레지스터에 포함된 제6트랜지스터(T7c)에 자신의 클록신호가 들어올 때마다 리플이 발생이 발생하게 되는 문제를 해결하여 스캔 로우전압에 해당하는 스캔 신호 출력시 노이즈를 제거하고, 수명과 신뢰성을 개선할 수 있는 GIP 방식의 시프트 레지스터를 제공한다.The present invention solves a problem in which a ripple occurs whenever the clock signal of the sixth transistor T7c included in the shift register according to the experimental example is generated, thereby reducing noise when outputting a scan signal corresponding to a scan low voltage. It provides a GIP shift register that can be eliminated and improves lifetime and reliability.

도 6은 실시예에 따른 시프트 레지스터의 스테이지별 블록 구성도이고, 도 7은 실시예에 따른 스테이지의 개략적인 회로 구성 예시도이고, 도 8은 실시예에 따른 스테이지의 상세 회로 구성 예시도이며, 도 9는 실시예에 따른 스테이지에 공급되는 신호들과 출력신호들을 나타낸 파형 예시도이고, 도 10은 실험예와 실시예의 시프트 레지스터로부터 출력되는 스캔 신호의 리플 수준을 비교 평가한 그래프이다.6 is a block diagram illustrating stages of a shift register according to an embodiment, FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a circuit configuration of a stage according to an embodiment, and FIG. 8 is a diagram illustrating a detailed circuit configuration of a stage according to an embodiment. 9 is an exemplary waveform diagram illustrating signals and output signals supplied to a stage according to an exemplary embodiment, and FIG. 10 is a graph comparing and evaluating the ripple levels of scan signals output from a shift register of an experimental example and an exemplary embodiment.

도 6에 도시된 바와 같이, 실시예에 따른 시프트 레지스터에는 스테이지들(STG1 ~ STG11)이 포함된다. 스테이지들(STG1 ~ STG11)은 종속적으로 접속되도록 배치된다.As shown in FIG. 6, the shift register according to the embodiment includes stages STG1 to STG11. The stages STG1 to STG11 are arranged to be connected in cascade.

스테이지들(STG1 ~ STG11)에는 6상의 클록신호들, 리셋신호, 저전위전압 및 스타트신호들이 공급된다. 이를 위해, 스테이지들(STG1 ~ STG11)은 6상의 클록신호들을 공급하는 클록신호라인들(CLK1 ~ CLK6), 리셋신호를 공급하는 제1리셋신호라인(RESET_1), 저전위전압을 공급하는 저전위전압라인(VSS) 및 스타트신호들을 공급하는 스타트신호라인들(VST1, VST2)에 연결된다.Stages STG1 to STG11 are supplied with six phase clock signals, a reset signal, a low potential voltage and a start signal. To this end, the stages STG1 to STG11 include clock signal lines CLK1 to CLK6 for supplying clock signals of six phases, a first reset signal line RESET_1 for supplying a reset signal, and a low potential for supplying a low potential voltage. It is connected to start signal lines VST1 and VST2 that supply a voltage line VSS and start signals.

한편, 도시된 블록은 표시패널의 일측에 형성된 홀수 라인의 스테이지들(STG1 ~ STG11)을 나타낸 것이다. 따라서, 이의 반대가 되는 타측에는 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)이 형성되고, 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)에 공급되는 리셋신호는 제2리셋신호라인(예컨대, RESET_2)을 통해 공급된다.Meanwhile, the illustrated block shows odd-numbered stages STG1 to STG11 formed on one side of the display panel. Accordingly, the stages STG2 to STG12 of even lines are formed on the other side of the opposite side, and the reset signal supplied to the stages STG2 to STG12 of even lines is provided through a second reset signal line (eg, RESET_2). Supplied.

제1스테이지(STG1)는 제1 및 제2스타트신호라인들(VST1, VST2)을 통해 공급된 제1 및 제2스타트신호와 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 공급된 제1클록신호, 제3클록신호라인(CLK3)을 통해 공급된 제3클록신호, 제5클록신호라인(CLK5)을 통해 공급된 제5클록신호 및 제6클록신호라인(CLK6)을 통해 공급된 제6클록신호에 대응하여 동작한다.The first stage STG1 may include a first clock signal supplied through the first and second start signals supplied through the first and second start signal lines VST1 and VST2 and a first clock signal line CLK1, The third clock signal supplied through the third clock signal line CLK3, the fifth clock signal supplied through the fifth clock signal line CLK5, and the sixth clock signal supplied through the sixth clock signal line CLK6. Operate in response to

제1스테이지(STG1)는 다 다음단인 제5스테이지(STG5)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 스캔 신호(Vg_Out_5)를 공급받고 이를 기반으로 Q노드를 방전한다. 제1스테이지(STG1)는 자신의 클록신호를 이용하여 자신의 스테이지의 출력단자(Gout)에서 발생되는 리플을 제거한다.The first stage STG1 receives the scan signal Vg_Out_5 output from the output terminal Gout of the fifth stage STG5, which is the next stage, and discharges the Q node based on the scan signal Vg_Out_5. The first stage STG1 removes ripple generated at the output terminal Gout of its stage by using its clock signal.

제3스테이지(STG3)는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 공급된 제1클록신호, 제2클록신호라인(CLK2)을 통해 공급된 제2클록신호, 제3클록신호라인(CLK3)을 통해 공급된 제3클록신호 및 제5클록신호라인(CLK5)을 통해 공급된 제5클록신호에 대응하여 동작한다. 제3스테이지(STG3)와 같이 종속적으로 접속된 스테이지는 제1 및 제2스타트신호라인들(VST1, VST2)로부터 제1 및 제2스타트신호를 공급받지 않는다. 대신, 앞단인 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제1스캔 신호(Vg_Out_1)를 제1스타트신호로 활용하고, 다 다음단인 제5스테이지(STG5)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제5스캔 신호(Vg_Out_5)를 제2스타트신호로 활용하도록 접속된다.The third stage STG3 receives the first clock signal supplied through the first clock signal line CLK1, the second clock signal supplied through the second clock signal line CLK2, and the third clock signal line CLK3. It operates in response to the third clock signal supplied through the fifth clock signal and the fifth clock signal line CLK5. Stages that are cascaded like the third stage STG3 do not receive the first and second start signals from the first and second start signal lines VST1 and VST2. Instead, the first scan signal Vg_Out_1 output from the output terminal Gout of the first stage STG1, which is the front stage, is used as the first start signal, and the output terminal Gout of the fifth stage STG5, which is the next stage, is used. The fifth scan signal Vg_Out_5 outputted from the < RTI ID = 0.0 >

제3스테이지(STG3)는 다 다음단인 제7스테이지(STG7)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제7스캔 신호(Vg_Out_7)를 공급받고 이를 기반으로 Q노드를 방전한다. 제3스테이지(STG3)는 자신의 클록신호를 이용하여 자신의 스테이지의 출력단자(Gout)에서 발생되는 리플을 제거한다.The third stage STG3 receives the seventh scan signal Vg_Out_7 output from the output terminal Gout of the seventh stage STG7, which is the next stage, and discharges the Q node based on the seventh scan signal Vg_Out_7. The third stage STG3 removes ripple generated at the output terminal Gout of its stage by using its clock signal.

앞서 설명된 제1 및 제3스테이지(STG1, STG3)와 같은 형태로 시프트 레지스터에 포함된 모든 스테이지들은 전단 및 다 다음단의 스테이지의 출력단자로부터 출력된 스캔 신호를 이용하고 또한 자신으로부터 출력되는 스캔 신호를 다음단의 스테이지로 공급하는 형태로 종속적으로 접속된다.All stages included in the shift register in the same form as the first and third stages STG1 and STG3 described above use the scan signals output from the output terminals of the preceding and next stages and are also scanned from themselves. It is cascaded in the form of supplying the signal to the next stage.

위와 같은 구성 및 접속 관계에 따라, 홀수 라인의 스테이지들(STG1 ~ STG11)과 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)은 순차적으로 스캔 하이전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1) 내지 제12스캔 신호(Vg_Out_12)를 출력하게 된다.According to the above configuration and connection relationship, the odd-numbered stages STG1 to STG11 and the even-numbered stages STG2 to STG12 sequentially scan the first scan signal Vg_Out_1 to the twelfth scan corresponding to the scan high voltage. The signal Vg_Out_12 is output.

이후, 홀수 라인의 스테이지들(STG1 ~ STG11)과 짝수 라인의 스테이지들(STG2 ~ STG12)은 스캔 하이전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1) 내지 제12스캔 신호(Vg_Out_12)를 출력한 이후 다음 프레임 기간 동안 스캔 로우전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1) 내지 제12스캔 신호(Vg_Out_12)를 유지한다.Subsequently, the odd-numbered stages STG1 to STG11 and the even-numbered stages STG2 to STG12 output first scan signals Vg_Out_1 to twelfth scan signals Vg_Out_12 corresponding to scan high voltages, and then to the next. The first scan signal Vg_Out_1 to the twelfth scan signal Vg_Out_12 corresponding to the scan low voltage are maintained during the frame period.

도 7에 도시된 바와 같이, 실시예에 따른 스테이지에는 Q노드 충방전부(T1, T3n, T3c, T3r), 출력 회로부(T5, T7c, T7d, T7c_1, CB) 및 리플 제거부(RDC)가 포함된다.As shown in FIG. 7, the stage according to the embodiment includes the Q node charging and discharging units T1, T3n, T3c, and T3r, the output circuit units T5, T7c, T7d, T7c_1, and CB, and the ripple removing unit RDC. do.

Q노드 충방전부(T1, T3n, T3c, T3r)에는 제1트랜지스터(T1), 제2트랜지스터(T3n), 제3트랜지스터(T3c) 및 제4트랜지스터(T3r)가 포함된다. 출력 회로부(T5, T7c, T7d, T7c_1, CB)에는 제5트랜지스터(T5), 제6트랜지스터(T7c), 제7트랜지스터(T7d), 제8트랜지스터(T7c_1) 및 커패시터(CB)가 포함된다.The Q node charge / discharge units T1, T3n, T3c, and T3r include a first transistor T1, a second transistor T3n, a third transistor T3c, and a fourth transistor T3r. The output circuit units T5, T7c, T7d, T7c_1, and CB include a fifth transistor T5, a sixth transistor T7c, a seventh transistor T7d, an eighth transistor T7c_1, and a capacitor CB.

리플 제거부(RDC)는 Q노드(Q)의 전위와 자신의 클록신호를 이용하여 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])에서 발생되는 리플을 제거한다. 리플 제거부(RDC)는 Q노드(Q)의 전위가 방전 상태이고, 자신의 클록신호가 로직 하이일 때, 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])에서 발생되는 리플을 제거한다. 리플 제거부(RDC)는 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])와 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자(VSS)를 전기적으로 연결하여 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])에서 발생되는 리플을 제거한다.The ripple removing unit RDC removes the ripple generated at the output terminal Gout [n] of its stage by using the potential of the Q node Q and its clock signal. The ripple removing unit RDC removes the ripple generated at the output terminal Gout [n] of its stage when the potential of the Q node Q is in a discharge state and its clock signal is logic high. The ripple removing unit RDC electrically connects the output terminal Gout [n] of its stage and the low potential voltage terminal VSS supplied with the low potential voltage to the output terminal Gout [n] of its stage. Eliminate ripples from

도 8에 도시된 바와 같이, Q노드 충방전부(T1, T3n, T3c, T3r), 출력 회로부(T5, T7c, T7d, T7c_1, CB) 및 리플 제거부(RDC)의 역할 및 이들 간의 접속 관계를 설명하면 다음과 같다.As shown in FIG. 8, the roles of the Q node charging and discharging units T1, T3n, T3c, and T3r, the output circuit units T5, T7c, T7d, T7c_1, and CB, and the ripple removing unit RDC, and their connection relations are illustrated. The explanation is as follows.

제1트랜지스터(T1)는 제N-2스테이지의 출력단자(Gout[N-2])에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다. 제1트랜지스터(T1)는 제N-2스테이지의 출력단자(Gout[N-2])로부터 출력되는 제N-2스캔 신호에 대응하여 Q노드(Q)를 충전하는 역할을 한다.In the first transistor T1, the gate electrode and the first electrode are connected to the output terminal Gout [N-2] of the N-2th stage, and the second electrode is connected to the Q node Q. The first transistor T1 charges the Q node Q in response to the N-2 scan signal output from the output terminal Gout [N-2] of the N-2th stage.

제2트랜지스터(T3n)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[N+2])에 게이트전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제2트랜지스터(T3n)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[N+2])로부터 출력되는 스캔 신호에 대응하여 Q노드(Q)를 방전하는 역할을 한다.The second transistor T3n has a gate electrode connected to the output terminal Gout [N + 2] of the N + 2 stage, a first electrode connected to the Q node Q, and a low potential voltage terminal VSS. Two electrodes are connected. The second transistor T3n discharges the Q node Q in response to the scan signal output from the output terminal Gout [N + 2] of the N + 2th stage.

제3트랜지스터(T3c)는 제N-1클록신호라인(CLK[N-1])에 게이트전극이 연결되고 제N-1스테이지의 출력단자(Gout[N-1])에 제1전극이 연결되며 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다. 제3트랜지스터(T3c)는 제N-1클록신호라인(CLK[N-1])으로부터 공급되는 제N-1클록신호에 대응하여 Q노드(Q)를 충전하는 역할을 한다.In the third transistor T3c, a gate electrode is connected to the N-1 clock signal line CLK [N-1], and a first electrode is connected to the output terminal Gout [N-1] of the N-1 stage. The second electrode is connected to the Q node Q. The third transistor T3c charges the Q node Q in response to the N-1 clock signal supplied from the N-1 clock signal line CLK [N-1].

제4트랜지스터(T3r)는 제1리셋신호라인(RESET_1)에 게이트전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제4트랜지스터(T3r)는 제1리셋신호라인(RESET_1)으로부터 공급되는 제1리셋신호에 대응하여 저전위전압단자(VSS)로부터 공급되는 저전위전압으로 Q노드(Q)를 리셋하는 역할을 한다.In the fourth transistor T3r, a gate electrode is connected to the first reset signal line RESET_1, a first electrode is connected to the Q node Q, and a second electrode is connected to the low potential voltage terminal VSS. The fourth transistor T3r resets the Q node Q to a low potential voltage supplied from the low potential voltage terminal VSS in response to the first reset signal supplied from the first reset signal line RESET_1. .

제5트랜지스터(T5)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인(CLK[N])에 제1전극이 연결되며 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제2전극이 연결된다. 제5트랜지스터(T5)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 제N클록신호라인(CLK[N])로부터 공급되는 제N클록신호를 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력하는 역할을 한다.In the fifth transistor T5, a gate electrode is connected to the Q node Q, a first electrode is connected to the Nth clock signal line CLK [N], and a fifth terminal T5 is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. Two electrodes are connected. The fifth transistor T5 receives the Nth clock signal supplied from the Nth clock signal line CLK [N] corresponding to the potential of the Q node Q through the output terminal Gout [N] of its stage. It plays a role of outputting.

제6트랜지스터(T7c)는 제N-2클록신호라인(CLK[N-2])에 게이트전극이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제6트랜지스터(T7c)는 제N-2클록신호라인(CLK[N-2])로부터 공급되는 제N-2클록신호에 대응하여 저전위전압단자(VSS)로부터 공급되는 저전위전압으로 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력되는 스캔 신호를 스캔 로우전압으로 전환하는 역할을 한다.In the sixth transistor T7c, a gate electrode is connected to the N-2 clock signal line CLK [N-2], and a first electrode is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. The second electrode is connected to the terminal VSS. The sixth transistor T7c has its low potential voltage supplied from the low potential voltage terminal VSS in response to the N-2 clock signal supplied from the N-2 clock signal line CLK [N-2]. The scan signal output through the output terminal Gout [N] of the stage is converted into a scan low voltage.

제7트랜지스터(T7d)는 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인(CLK[N])에 제1전극이 연결되며 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제2전극이 연결된다. 제7트랜지스터(T7d)는 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])의 전위에 대응하여 제N클록신호라인(CLK[N])으로부터 공급되는 제N클록신호를 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력하는 역할을 한다.The seventh transistor T7d has a gate electrode connected to the output terminal Gout [N] of its stage, a first electrode connected to the Nth clock signal line CLK [N], and an output terminal of its stage The second electrode is connected to Gout [N]). The seventh transistor T7d receives the Nth clock signal supplied from the Nth clock signal line CLK [N] in response to the potential of the output terminal Gout [N] of its stage. It outputs through Gout [N]).

제8트랜지스터(T7c_1)는 제N+2클록신호라인(CLK[N+2])에 게이트전극이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제8트랜지스터(T7c_1)는 제N+2클록신호라인(CLK[N+2])으로부터 공급되는 제N+2클록신호에 대응하여 저전위전압단자(VSS)로부터 공급되는 저전위전압으로 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])를 통해 출력되는 스캔 신호를 스캔 로우전압으로 전환하는 역할을 한다.In the eighth transistor T7c_1, a gate electrode is connected to the N + 2th clock signal line CLK [N + 2], and a first electrode is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. The second electrode is connected to the terminal VSS. The eighth transistor T7c_1 has its low potential voltage supplied from the low potential voltage terminal VSS in response to the N + 2th clock signal supplied from the N + 2th clock signal line CLK [N + 2]. The scan signal output through the output terminal Gout [N] of the stage is converted into a scan low voltage.

커패시터(CB)는 Q노드(Q)에 일단이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N])에 타단이 연결된다. 커패시터(CB)는 Q노드(Q)와 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[N]) 사이의 전위를 이용하여 Q노드(Q)를 부트스트랩하는 역할을 한다.One end of the capacitor CB is connected to the Q node Q and the other end thereof is connected to the output terminal Gout [N] of its stage. The capacitor CB bootstraps the Q node Q using the potential between the Q node Q and the output terminal Gout [N] of its stage.

리플 제거부(RDC)에는 Q노드(Q)의 전위가 방전 상태가 되면 자신의 클록신호를 출력하고, Q노드(Q)의 전위가 충전 상태가 되면 자신의 클록신호를 미출력하는 제1회로부(RDC1)와, 제1회로부(RDC1)로부터 출력된 자신의 클록신호에 대응하여 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])에서 발생되는 리플을 자신의 클록신호로 제거하는 제2회로부(RDC2)가 포함된다.The ripple removing unit RDC outputs a clock signal of its own when the potential of the Q node Q is discharged, and outputs its own clock signal when the potential of the Q node Q is charged. RDC1) and second circuit portion RDC2 for removing ripples generated at output terminal Gout [n] of its stage as its clock signal in response to its clock signal output from first circuit portion RDC1. Included.

제1회로부(RDC1)는 Q노드(Q)의 전위가 방전 상태가 되면 자신의 클록신호를 출력하고, Q노드(Q)의 전위가 충전 상태가 되면 자신의 클록신호를 미출력한다. 때문에, Q노드(Q)의 입장에서 보면 제1회로부(RDC1)는 자신의 충전 상태와 반대되는 동작을 하므로 인터버와 같이 제2회로부(RDC2)를 제어하는 신호를 출력한다고 볼 수 있다.The first circuit part RDC1 outputs its own clock signal when the potential of the Q node Q is discharged, and not outputs its own clock signal when the potential of the Q node Q is charged. Therefore, from the standpoint of the Q node Q, since the first circuit part RDC1 operates opposite to its state of charge, the first circuit part RDC1 outputs a signal for controlling the second circuit part RDC2 like the interleaver.

제1회로부(RDC1)에는 제1보상 트랜지스터(T8a), 제2보상 트랜지스터(T8b) 및 제3보상 트랜지스터(T8c)가 포함되고, 제2회로부(RDC2)에는 제4보상 트랜지스터(T8d)가 포함된다.The first circuit portion RDC1 includes a first compensation transistor T8a, a second compensation transistor T8b, and a third compensation transistor T8c, and the second circuit portion RDC2 includes a fourth compensation transistor T8d. do.

제1보상 트랜지스터(T8a)는 제N클록신호가 공급되는 제N클록신호라인(CLK[n])에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 제1노드(A)에 제2전극이 연결된다. 제2보상 트랜지스터(T8b)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 제1노드(A)에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다. 제3보상 트랜지스터(T8c)는 제1노드(A)에 게이트전극이 연결되고 제N클록신호라인(CLK[n])에 제1전극이 연결되며 제2회로부(RDC2)에 제2전극이 연결된다. 제4보상 트랜지스터(T8d)는 제3보상 트랜지스터(T8c)의 제2전극에 게이트전극이 연결되고 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])에 제1전극이 연결되며 저전위전압단자(VSS)에 제2전극이 연결된다.In the first compensation transistor T8a, the gate electrode and the first electrode are commonly connected to the Nth clock signal line CLK [n] to which the Nth clock signal is supplied, and the second electrode is connected to the first node A. do. In the second compensation transistor T8b, a gate electrode is connected to the Q node Q, a first electrode is connected to the first node A, and a second electrode is connected to the low potential voltage terminal VSS. In the third compensation transistor T8c, a gate electrode is connected to the first node A, a first electrode is connected to the Nth clock signal line CLK [n], and a second electrode is connected to the second circuit portion RDC2. do. In the fourth compensation transistor T8d, a gate electrode is connected to the second electrode of the third compensation transistor T8c, and a first electrode is connected to the output terminal Gout [n] of its stage, and the low potential voltage terminal VSS is connected. ) Is connected to the second electrode.

도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2스타트신호라인들(VST1, VST2)을 통해 공급되는 제1 및 제2스타트신호(vst1, vst2)는 일부 구간이 상호 중첩하도록 발생된다. 이때, 제1 및 제2스타트신호(vst1, vst2)는 1 수평 기간 중 1/2이 중첩하도록 발생될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.As shown in FIGS. 8 and 9, the first and second start signals vst1 and vst2 supplied through the first and second start signal lines VST1 and VST2 are generated so that some sections overlap each other. . In this case, the first and second start signals vst1 and vst2 may be generated such that half of one horizontal period overlaps, but is not limited thereto.

제1 내지 제6클록신호라인들(CLK1 ~ CLK6)을 통해 공급되는 제1 내지 제6클록신호(clk1 ~ clk6)는 일부 구간이 상호 중첩하도록 발생된다. 이때, 제1 내지 제6클록신호(clk1 ~ clk6)는 1 수평 기간 중 1/2이 중첩하도록 발생될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first to sixth clock signals clk1 to clk6 supplied through the first to sixth clock signal lines CLK1 to CLK6 are generated such that some sections overlap each other. In this case, the first to sixth clock signals clk1 to clk6 may be generated such that half of one horizontal period overlaps, but is not limited thereto.

제1 및 제2스타트신호(vst1, vst2)와 제1 내지 제6클록신호(clk1 ~ clk6)가 로직 하이를 유지하는 시간은 위와 같이 일부 중첩하도록 발생된다. 그리고 이들 신호들이 로직 하이로 발생되는 순서는 제1, 제2스타트신호(vst1, vst2), 제1, 제2, 제3, 제4, 제5 및 제6클록신호(clk1 ~ clk6)가 될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The time at which the first and second start signals vst1 and vst2 and the first to sixth clock signals clk1 to clk6 maintain logic high is generated to partially overlap as described above. The order in which these signals are generated at logic high becomes the first and second start signals vst1 and vst2, and the first, second, third, fourth, fifth and sixth clock signals clk1 to clk6. But it is not limited thereto.

제1리셋신호라인(RESET_1)을 통해 공급되는 제1리셋신호(DMY Reset1)는 1 프레임에 한 번씩 로직 하이로 발생된다. 제1리셋신호(DMY Reset1)는 1 프레임이 종료되는 시점에 한 번씩 로직 하이로 발생될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first reset signal DMY Reset1 supplied through the first reset signal line RESET_1 is generated at a logic high once every one frame. The first reset signal DMY Reset1 may be generated at a logic high once at the end of one frame, but is not limited thereto.

위와 같은 신호 체계에 의해 시프트 레지스터의 스테이지들이 구동할 경우, 제1스테이지(STG1)의 Q노드(Q)는 제1스타트신호(vst1)에 의해 충전되며 제1클록신호(clk1)에 의해 부트스트랩이 일어난다. 이때, 제3트랜지스터(T3c)는 제2스타트신호(vst2)에 대응하여 동작하고, 제8트랜지스터(T7c_1)는 제3클록신호(clk3)에 대응하여 동작하고, 제6트랜지스터(T7c)는 제5클록신호(clk5)에 대응하여 동작함을 알 수 있다.When the stages of the shift register are driven by the above signal system, the Q node Q of the first stage STG1 is charged by the first start signal vst1 and bootstrap by the first clock signal clk1. This happens. At this time, the third transistor T3c operates in response to the second start signal vst2, the eighth transistor T7c_1 operates in response to the third clock signal clk3, and the sixth transistor T7c operates in the fifth transistor T7c. It can be seen that it operates in response to the 5 clock signal clk5.

위와 같이, 제1스테이지(STG1)의 Q노드(Q)가 제1스타트신호(vst1)에 의해 충전되고 제1클록신호(clk1)에 의해 부트스트랩이 일어나면, 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)에는 스캔 하이전압에 해당하는 제1스캔 신호(Vg_Out_1)가 출력된다.As described above, when the Q node Q of the first stage STG1 is charged by the first start signal vst1 and bootstrap occurs by the first clock signal clk1, the output terminal of the first stage STG1 is generated. The first scan signal Vg_Out_1 corresponding to the scan high voltage is output to Gout.

위와 같은 신호 체계에 의해 시프트 레지스터의 스테이지들이 구동할 경우, 제3스테이지(STG3)의 Q노드(Q)는 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제1스캔 신호(Vg_Out_1)에 의해 충전되며 제3클록신호(clk3)에 의해 부트스트랩이 일어난다. 이때, 제3트랜지스터(T3c)는 제2클록신호(clk2)에 대응하여 동작하고, 제8트랜지스터(T7c_1)는 제5클록신호(clk5)에 대응하여 동작하고, 제6트랜지스터(T7c)는 제1클록신호(clk1)에 대응하여 동작함을 알 수 있다.When the stages of the shift register are driven by the above-described signal system, the Q node Q of the third stage STG3 may have the first scan signal Vg_Out_1 output from the output terminal Gout of the first stage STG1. Charge is generated by the third clock signal clk3. At this time, the third transistor T3c operates in response to the second clock signal clk2, the eighth transistor T7c_1 operates in response to the fifth clock signal clk5, and the sixth transistor T7c operates in the fifth transistor T7c. It can be seen that it operates in response to the one clock signal clk1.

위와 같이, 제3스테이지(STG2)의 Q노드(Q)가 제1스테이지(STG1)의 출력단자(Gout)로부터 출력된 제1스캔 신호(Vg_Out_1)에 의해 충전되고 제3클록신호(clk3)에 의해 부트스트랩이 일어나면, 제3스테이지(STG3)의 출력단자(Gout)에는 스캔 하이전압에 해당하는 제3스캔 신호(Vg_Out_3)가 출력된다.As described above, the Q node Q of the third stage STG2 is charged by the first scan signal Vg_Out_1 outputted from the output terminal Gout of the first stage STG1 and is driven by the third clock signal clk3. When a bootstrap occurs, the third scan signal Vg_Out_3 corresponding to the scan high voltage is output to the output terminal Gout of the third stage STG3.

한편, 앞서 설명한 바와 같은 구조로 구성된 스테이지들은 Q노드(Q) 및 스캔 로우전압을 안정화하기 위해 노이즈를 제거하는 제3트랜지스터(T3c), 풀다운 트랜지스터에 해당하는 제6트랜지스터(T7c) 및 리플 제거부(RDC)에 신호를 공급한다. 예컨대, 제1스테이지(STG1)는 제1스캔 신호를 출력한 이후 제5스테이지의 제5스캔 신호(Vg_Out_5)에 의해 리셋(Reseet) 되어 안정화되고, 제3스테이지(STG3)는 제3스캔 신호를 출력한 이후 제7스테이지의 제7스캔 신호(Vg_Out_)에 의해 리셋(Reseet) 되어 안정화된다.On the other hand, the stages configured as described above are the third transistor (T3c) for removing noise to stabilize the Q node (Q) and the scan low voltage, the sixth transistor (T7c) corresponding to the pull-down transistor and the ripple cancellation unit Supply a signal to (RDC). For example, the first stage STG1 is reset and stabilized by the fifth scan signal Vg_Out_5 of the fifth stage after outputting the first scan signal, and the third stage STG3 is configured to reset the third scan signal. After the output, the data is reset and stabilized by the seventh scan signal Vg_Out_ of the seventh stage.

한편, 풀다운 트랜지스터에 해당하는 제6트랜지스터(T7c)의 경우 자신의 클록신호가 들오는 구간 동안 리플 제거부(RDC)의 동작에 의해 안정화된다. 구체적으로 설명하면, 리플 제거부(RDC)는 자신의 클록신호가 들어올 때마다 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])와 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자(VSS)를 전기적으로 연결하여 자신의 스테이지의 출력단자(Gout[n])에서 발생되는 리플을 제거한다.Meanwhile, in the case of the sixth transistor T7c corresponding to the pull-down transistor, the sixth transistor T7c is stabilized by the operation of the ripple removing unit RDC during the period in which its clock signal is input. Specifically, the ripple cancellation unit RDC electrically connects the output terminal Gout [n] of its stage and the low potential voltage terminal VSS supplied with the low potential voltage whenever its clock signal is input. To eliminate the ripples generated at the output terminal Gout [n] of its own stage.

이와 관련하여, 도 5의 실험예에 표시된 TP1a와 TP2a 부분의 파형과 도 9의 실시예에 표시된 TP1b와 TP2b 부분의 파형을 비교하면, 실험와 실시예의 차이점을 명확히 구분할 수 있을 것이다.In this regard, comparing the waveforms of the TP1a and TP2a parts shown in the experimental example of FIG. 5 with the waveforms of the TP1b and TP2b parts shown in the embodiment of FIG. 9, the difference between the experiment and the embodiment will be clearly distinguished.

도 10에 도시된 실험예와 실시예의 시프트 레지스터로부터 출력되는 스캔 신호의 리플 수준을 비교 평가한 그래프를 통해 알 수 있듯이, 실험예(a)는 자신의 클록신호에 대응하여 리플(RP)이 큰 폭으로 발생하지만 실시예(b)는 자신의 클록신호에 대응하여 리플 제거부(RDC)가 동작하게 되므로 리플(RP)이 억제되어 낮은 폭으로 발생하거나 제거된다.As can be seen from a graph comparing and evaluating the ripple levels of the scan signals output from the shift registers of the experimental example and the example shown in FIG. 10, the experimental example (a) has a large ripple RP in response to its clock signal. In the embodiment (b), since the ripple cancellation unit RDC operates in response to its clock signal, the ripple RP is suppressed to be generated or removed at a low width.

그 결과, 실험예의 스캔 구동부는 초기 문턱전압의 네거티브 이동(Vth - Shift)에 따른 리플이 증가하는 반면 실시예의 스캔 구동부는 리플이 미발생하고 초기 문턱전압 마진도 약 0.8V 증가하는 경향을 나타냄을 알 수 있다. 즉, 실험예의 스캔 구동부는 초기 문턱전압 마진이 -0.5V로 나타나지만, 실시예의 스캔 구동부는 초기 문턱전압 마진이 -1.3V로 나타난다.As a result, the scan driver of the experimental example increases the ripple due to the negative shift of the initial threshold voltage (Vth-Shift), whereas the scan driver of the embodiment shows no tendency of ripple and the initial threshold voltage margin increases by about 0.8V. Able to know. That is, the scan driver of the experimental example shows an initial threshold voltage margin of -0.5V, but the scan driver of the embodiment shows an initial threshold voltage margin of -1.3V.

그러므로, 실시예의 시프트 레지스터로 구성된 스캔 구동부는 리플 제거부(RDC)의 동작에 의해 스캔 로우전압에 해당하는 스캔 신호 출력시 노이즈가 발생하게 되는 문제가 개선 또는 제거된다.Therefore, the problem that noise is generated when the scan signal corresponding to the scan low voltage is generated by the operation of the ripple canceling unit RDC is improved or eliminated.

이상 본 발명은 자신의 클록신호가 들어올 때마다 자신의 스테이지의 출력단자에 발생하는 리플을 개선 또는 제거하여 GIP 방식으로 내장된 시프트 레지스터의 수명과 신뢰성을 증가시킬 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 리플 등의 노이즈를 제거하고 Q노드 및 스캔 로우전압을 안정화시킬 수 있어 산화물 박막 트랜지스터나 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터로 시프트 레지스터를 구현할 경우 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention has the effect of improving or eliminating the ripple generated at the output terminal of its stage every time its clock signal is input to increase the lifespan and reliability of the shift register embedded in the GIP method. In addition, the present invention can remove the noise, such as ripple and stabilize the Q node and the scan low voltage, it is possible to improve the life and reliability when implementing the shift resistor in the oxide thin film transistor or amorphous silicon thin film transistor.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the technical configuration of the present invention described above may be modified in other specific forms by those skilled in the art to which the present invention pertains without changing its technical spirit or essential features. It will be appreciated that it may be practiced. Therefore, the embodiments described above are to be understood as illustrative and not restrictive in all aspects. In addition, the scope of the present invention is shown by the claims below, rather than the above detailed description. Also, it is to be construed that all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts are included in the scope of the present invention.

100: 표시패널 130, 140: 스캔 구동부
STG1 ~ STG11: 스테이지들 T1: 제1트랜지스터
T3n: 제2트랜지스터 T3c: 제3트랜지스터
T3r: 제4트랜지스터 T5: 제5트랜지스터
T7c: 제6트랜지스터 T7d: 제7트랜지스터
T7c_1: 제8트랜지스터 CB: 커패시터
RDC: 리플 제거부 T8a: 제1보상 트랜지스터
T8b: 제2보상 트랜지스터 T8c: 제3보상 트랜지스터
T8d: 제4보상 트랜지스터
100: display panel 130, 140: scan driver
STG1 to STG11: stages T1: first transistor
T3n: second transistor T3c: third transistor
T3r: fourth transistor T5: fifth transistor
T7c: 6th transistor T7d: 7th transistor
T7c_1: 8th transistor CB: capacitor
RDC: ripple removing section T8a: first compensation transistor
T8b: second compensation transistor T8c: third compensation transistor
T8d: fourth compensation transistor

Claims (11)

스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호를 출력하는 레벨 시프터; 및
상기 스타트신호들, 상기 클록신호들 및 상기 리셋신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며,
상기 스테이지들의 제N스테이지는
Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 상기 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와,
상기 Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와,
상기 Q노드의 전위와 자신의 클록신호인 상기 제N클록신호를 이용하여 상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 리플 제거부를 포함하고,
상기 리플 제거부는
상기 제N스테이지의 출력단자와 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자를 전기적으로 연결하여 상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 스캔 구동부.
A level shifter for outputting start signals, clock signals, and reset signals; And
A shift register configured to shift and output a scan signal in response to the start signals, the clock signals, and the reset signals,
Nth stage of the stages
A pull-up transistor for outputting an Nth clock signal to an output terminal of the Nth stage corresponding to the potential of the Q node;
Q node charging and discharging unit for charging and discharging the Q node,
And a ripple removing unit for removing ripples generated at an output terminal of the Nth stage by using the potential of the Q node and the Nth clock signal as its clock signal.
The ripple removing unit
And a ripple generated from the output terminal of the Nth stage by electrically connecting the output terminal of the Nth stage and the low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage.
제1항에 있어서,
상기 리플 제거부는
상기 Q노드의 전위가 방전 상태이고, 상기 제N클록신호가 로직 하이일 때,
상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 것을 특징으로 하는 스캔 구동부.
The method of claim 1,
The ripple removing unit
When the potential of the Q node is in a discharge state and the Nth clock signal is logic high,
And a ripple generated from an output terminal of the Nth stage.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 리플 제거부는
상기 Q노드의 전위가 방전 상태가 되면 상기 제N클록신호를 출력하고, 상기 Q노드의 전위가 충전 상태가 되면 상기 제N클록신호를 미출력하는 제1회로부와,
상기 제1회로부로부터 출력된 상기 제N클록신호에 대응하여 상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 상기 제N클록신호로 제거하는 제2회로부를 포함하는 스캔 구동부.
The method of claim 1,
The ripple removing unit
A first circuit part configured to output the Nth clock signal when the potential of the Q node is discharged, and not output the Nth clock signal when the potential of the Q node is charged;
And a second circuit unit configured to remove, as the Nth clock signal, a ripple generated at an output terminal of the Nth stage in response to the Nth clock signal output from the first circuit unit.
제4항에 있어서,
상기 제1회로부는
상기 제N클록신호가 공급되는 제N클록신호라인에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 제1노드에 제2전극이 연결된 제1보상 트랜지스터와,
상기 Q노드에 게이트전극이 연결되고 제1노드에 제1전극이 연결되며 상기 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제2보상 트랜지스터와,
상기 제1노드에 게이트전극이 연결되고 상기 제N클록신호라인에 제1전극이 연결되며 상기 제2회로부에 제2전극이 연결된 제3보상 트랜지스터를 포함하는 스캔 구동부.
The method of claim 4, wherein
The first circuit part
A first compensation transistor having a gate electrode and a first electrode connected to the Nth clock signal line supplied with the Nth clock signal in common, and a second electrode connected to the first node;
A second compensation transistor having a gate electrode connected to the Q node, a first electrode connected to a first node, and a second electrode connected to the low potential voltage terminal;
And a third compensation transistor having a gate electrode connected to the first node, a first electrode connected to the Nth clock signal line, and a second electrode connected to the second circuit part.
제5항에 있어서,
상기 제2회로부는
상기 제3보상 트랜지스터의 제2전극에 게이트전극이 연결되고 상기 제N스테이지의 출력단자에 제1전극이 연결되며 상기 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제4보상 트랜지스터를 포함하는 스캔 구동부.
The method of claim 5,
The second circuit portion
And a fourth compensation transistor having a gate electrode connected to the second electrode of the third compensation transistor, a first electrode connected to an output terminal of the Nth stage, and a second electrode connected to the low potential voltage terminal.
표시패널;
상기 표시패널의 데이터라인들에 연결된 데이터 구동부; 및
상기 표시패널의 스캔라인들에 연결되며 스타트신호들, 클록신호들 및 리셋신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며,
상기 스테이지들의 제N스테이지는
Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 상기 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와,
상기 Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와,
상기 Q노드의 전위와 자신의 클록신호인 상기 제N클록신호를 이용하여 상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 리플 제거부를 포함하고,
상기 리플 제거부는
상기 Q노드의 전위가 방전 상태이고, 상기 제N클록신호가 로직 하이일 때,
상기 제N스테이지의 출력단자와 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자를 전기적으로 연결하여 상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 제거하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
Display panel;
A data driver connected to data lines of the display panel; And
A shift register connected to scan lines of the display panel and configured to shift and output a scan signal in response to start signals, clock signals, and reset signals,
Nth stage of the stages
A pull-up transistor for outputting an Nth clock signal to an output terminal of the Nth stage corresponding to the potential of the Q node;
Q node charging and discharging unit for charging and discharging the Q node,
And a ripple removing unit for removing ripples generated at an output terminal of the Nth stage by using the potential of the Q node and the Nth clock signal as its clock signal.
The ripple removing unit
When the potential of the Q node is in a discharge state and the Nth clock signal is logic high,
And a ripple generated at the output terminal of the Nth stage by electrically connecting the output terminal of the Nth stage and the low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage.
삭제delete 제7항에 있어서,
상기 리플 제거부는
상기 Q노드의 전위가 방전 상태가 되면 상기 제N클록신호를 출력하고, 상기 Q노드의 전위가 충전 상태가 되면 상기 제N클록신호를 미출력하는 제1회로부와,
상기 제1회로부로부터 출력된 상기 제N클록신호에 대응하여 상기 제N스테이지의 출력단자에서 발생되는 리플을 상기 제N클록신호로 제거하는 제2회로부를 포함하는 표시장치.
The method of claim 7, wherein
The ripple removing unit
A first circuit part configured to output the Nth clock signal when the potential of the Q node is discharged, and not output the Nth clock signal when the potential of the Q node is charged;
And a second circuit unit configured to remove the ripple generated at the output terminal of the Nth stage as the Nth clock signal in response to the Nth clock signal output from the first circuit unit.
제9항에 있어서,
상기 제1회로부는
상기 제N클록신호가 공급되는 제N클록신호라인에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 제1노드에 제2전극이 연결된 제1보상 트랜지스터와,
상기 Q노드에 게이트전극이 연결되고 제1노드에 제1전극이 연결되며 상기 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제2보상 트랜지스터와,
상기 제1노드에 게이트전극이 연결되고 상기 제N클록신호라인에 제1전극이 연결되며 상기 제2회로부에 제2전극이 연결된 제3보상 트랜지스터를 포함하는 표시장치.
The method of claim 9,
The first circuit part
A first compensation transistor having a gate electrode and a first electrode connected to the Nth clock signal line supplied with the Nth clock signal in common, and a second electrode connected to the first node;
A second compensation transistor having a gate electrode connected to the Q node, a first electrode connected to a first node, and a second electrode connected to the low potential voltage terminal;
And a third compensation transistor having a gate electrode connected to the first node, a first electrode connected to the Nth clock signal line, and a second electrode connected to the second circuit part.
제10항에 있어서,
상기 제2회로부는
상기 제3보상 트랜지스터의 제2전극에 게이트전극이 연결되고 상기 제N스테이지의 출력단자에 제1전극이 연결되며 상기 저전위전압단자에 제2전극이 연결된 제4보상 트랜지스터를 포함하는 표시장치.
The method of claim 10,
The second circuit portion
And a fourth compensation transistor having a gate electrode connected to the second electrode of the third compensation transistor, a first electrode connected to an output terminal of the Nth stage, and a second electrode connected to the low potential voltage terminal.
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