KR101964456B1 - Organic light emitting diode display device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 구동 TFT의 문턱전압을 보상할 수 있는 유기발광다이오드 표시장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치는 데이터 라인들, 제1 내지 제3 스캔 라인들, 발광 라인들, 및 컨트롤 라인들이 형성되고, 매트릭스 형태로 형성된 다수의 화소가 형성된 표시패널을 구비하고, 상기 화소는, 게이트 전극이 제1 노드에 접속되고, 소스 전극이 제2 노드에 접속된 구동 TFT; 상기 구동 TFT의 드레인 전극에 접속된 애노드 전극과, 저전위 전압을 공급하는 저전위 전압원에 접속된 캐소드 전극을 포함하는 유기발광다이오드; 일측 전극이 상기 제3 노드에 접속되고, 타측 전극이 상기 고전위 전압원에 접속된 제1 캐패시터; 상기 일측 전극이 상기 제1 노드에 접속되고, 상기 타측 전극이 상기 제3 노드 사이에 접속된 제2 캐패시터; 및 제1 내지 제3 스캔 라인들, 발광 라인들, 및 컨트롤 라인들 각각으로부터 공급되는 신호들에 의해 제어되는 제1 내지 제5 TFT를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an organic light emitting diode display device capable of compensating a threshold voltage of a driving TFT. An organic light emitting diode display device according to an embodiment of the present invention includes a display panel in which a plurality of pixels formed of a matrix are formed, in which data lines, first to third scan lines, light emitting lines, and control lines are formed Wherein the pixel includes: a driver TFT having a gate electrode connected to a first node and a source electrode connected to a second node; An organic light emitting diode including an anode electrode connected to a drain electrode of the driving TFT, and a cathode electrode connected to a low potential voltage source for supplying a low potential voltage; A first capacitor having one electrode connected to the third node and the other electrode connected to the high potential voltage source; A second capacitor having one electrode connected to the first node and the other electrode connected between the third node; And first to fifth TFTs controlled by signals supplied from the first to third scan lines, the light emission lines, and the control lines, respectively.
Description
본 발명은 구동 TFT의 문턱전압을 보상할 수 있는 유기발광다이오드 표시장치에 관한 것이다.
The present invention relates to an organic light emitting diode display device capable of compensating a threshold voltage of a driving TFT.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있다. 이에 따라, 최근에는 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display), 플라즈마표시장치(PDP: Plasma Display Panel), 유기발광다이오드 표시장치(OLED: Organic Light Emitting Diode)와 같은 여러가지 평판표시장치가 활용되고 있다. 이들 평판표시장치 중에서, 유기발광다이오드 표시장치는 저전압 구동이 가능하고, 박형이며, 시야각이 우수하고, 응답속도가 빠른 특성이 있다. 유기발광다이오드 표시장치 중에서 다수의 화소가 매트릭스 형태로 위치하여 영상을 표시하는 액티브 매트릭스 타입 유기발광다이오드 표시장치가 널리 사용된다.As the information society develops, the demand for display devices for displaying images is increasing in various forms. In recent years, various flat panel display devices such as a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting diode (OLED) have been used . Among these flat panel display devices, organic light emitting diode display devices are capable of low voltage driving, are thin, have excellent viewing angles, and have a high response speed. An active matrix type organic light emitting diode display device in which a plurality of pixels are arranged in a matrix form to display an image is widely used in organic light emitting diode display devices.
액티브 매트릭스 타입 유기발광다이오드 표시장치의 표시패널은 매트릭스 형태로 배치된 다수의 화소들을 포함한다. 화소들 각각은 스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인의 데이터 전압을 공급하는 스캔 TFT(Thin Film Transistor)와 게이트 전극에 공급되는 데이터 전압에 따라 유기발광다이오드(Organic Light Emitting Diode)에 공급되는 전류의 양을 조절하는 구동 TFT를 포함한다. 이때, 유기발광다이오드에 공급되는 구동 TFT의 드레인-소스간 전류(Ids)는 수학식 1과 같이 표현될 수 있다.A display panel of an active matrix type organic light emitting diode display device includes a plurality of pixels arranged in a matrix form. Each of the pixels includes a scan TFT (Thin Film Transistor) for supplying a data voltage of the data line in response to a scan signal of the scan line, and a current And a driving TFT for adjusting the amount of the driving TFT. At this time, the drain-source current Ids of the driving TFT supplied to the organic light emitting diode can be expressed by Equation (1).
수학식 1에서, k'는 구동 TFT의 구조와 물리적 특성에 의해 결정되는 비례 계수, Vgs는 구동 TFT의 게이트-소스간 전압, Vth는 구동 TFT의 문턱전압을 의미한다.In
한편, 구동 TFT의 열화에 의한 문턱전압 쉬프트(shift)로 인해, 화소들 각각의 구동 TFT의 문턱전압(Vth)은 서로 다른 값을 갖는다. 구동 TFT의 드레인-소스간 전류(Ids)는 구동 TFT의 문턱전압(Vth)에 의존하므로, 동일한 데이터 전압을 화소들 각각에 공급하더라도 유기발광다이오드에 공급되는 전류(Ids)는 화소마다 달라진다. 따라서, 동일한 데이터 전압을 화소들 각각에 공급하더라도 화소들 각각의 유기발광다이오드가 발광하는 빛의 휘도가 달라지는 문제점이 발생한다. 이를 해결하기 위해, 구동 TFT의 문턱전압을 보상하는 여러 형태의 화소 구조가 제안되고 있다.On the other hand, the threshold voltage (Vth) of each of the driving TFTs of the pixels has a different value due to the threshold voltage shift due to deterioration of the driving TFT. Since the drain-source current Ids of the driving TFT depends on the threshold voltage Vth of the driving TFT, even if the same data voltage is supplied to each of the pixels, the current Ids supplied to the organic light emitting diode differs from pixel to pixel. Therefore, even if the same data voltage is supplied to each of the pixels, the luminance of the light emitted by each of the organic light emitting diodes of the pixels varies. To solve this problem, various types of pixel structures for compensating a threshold voltage of a driving TFT have been proposed.
하지만, 최근에 유기발광다이오드 표시장치는 입체영상 구현을 구현하거나 화질을 향상시키기 위해 240Hz 이상의 프레임 주파수로 고속 구동하도록 제조되고 있다. 이 경우, 문턱전압 센싱 기간이 짧아지게 되므로 구동 TFT의 문턱전압 센싱의 정확도가 낮아지는 문제가 발생한다. 또한, 최근에 유기발광다이오드 표시장치는 수요자의 요구에 따라 대면적 고해상도로 제조되고 있다. 이 경우, 배선의 길이가 길어지기 때문에 배선 저항이 높아져 RC 딜레이(delay)가 발생할 수 있으며, 이로 인해 문턱전압 센싱 신호가 딜레이되어 문턱전압 센싱 기간이 짧아지게 되므로 구동 TFT의 문턱전압 센싱의 정확도가 낮아지는 문제가 발생한다.
However, in recent years, an organic light emitting diode display device has been manufactured to realize a stereoscopic image realization or a high-speed driving with a frame frequency of 240 Hz or more in order to improve image quality. In this case, since the threshold voltage sensing period is shortened, the accuracy of the threshold voltage sensing of the driving TFT is lowered. In addition, recently, organic light emitting diode display devices have been manufactured in a large-area high resolution according to a demand of a consumer. In this case, since the length of the wiring becomes long, the wiring resistance becomes high and an RC delay may occur. As a result, the threshold voltage sensing signal is delayed and the threshold voltage sensing period is shortened. The problem of lowering occurs.
본 발명은 구동 TFT의 문턱전압 센싱의 정확도를 높일 수 있는 유기발광다이오드 표시장치를 제공한다.
The present invention provides an organic light emitting diode display device capable of increasing the accuracy of threshold voltage sensing of a driving TFT.
본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치는 데이터 라인들, 제1 내지 제3 스캔 라인들, 발광 라인들, 및 컨트롤 라인들이 형성되고, 매트릭스 형태로 형성된 다수의 화소가 형성된 표시패널을 구비하고, 상기 화소는, 게이트 전극이 제1 노드에 접속되고, 소스 전극이 제2 노드에 접속된 구동 TFT; 상기 구동 TFT의 드레인 전극에 접속된 애노드 전극과, 저전위 전압을 공급하는 저전위 전압원에 접속된 캐소드 전극을 포함하는 유기발광다이오드; 상기 제1 스캔 라인으로부터 공급되는 제1 스캔 신호에 응답하여 제3 노드와 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인을 접속시키는 제1 TFT; 상기 제2 스캔 라인으로부터 공급되는 제2 스캔 신호에 응답하여 상기 제1 노드와 데이터 라인을 접속시키는 제2 TFT; 상기 제3 스캔 라인으로부터 공급되는 제3 스캔 신호에 응답하여 기준 전압을 공급하는 기준 전압원과 상기 제1 노드를 접속시키는 제3 TFT; 상기 발광 라인으로부터 공급되는 발광 신호에 응답하여 고전위 전압을 공급하는 고전위 전압원과 상기 제2 노드를 접속시키는 제4 TFT; 상기 컨트롤 라인으로부터 공급되는 컨트롤 신호에 응답하여 상기 제2 노드와 제3 노드를 접속시키는 제5 TFT; 일측 전극이 상기 제3 노드에 접속되고, 타측 전극이 상기 고전위 전압원에 접속된 제1 캐패시터; 및 상기 일측 전극이 상기 제1 노드에 접속되고, 상기 타측 전극이 상기 제3 노드 사이에 접속된 제2 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
An organic light emitting diode display device according to an embodiment of the present invention includes a display panel in which a plurality of pixels formed of a matrix are formed, in which data lines, first to third scan lines, light emitting lines, and control lines are formed Wherein the pixel includes: a driver TFT having a gate electrode connected to a first node and a source electrode connected to a second node; An organic light emitting diode including an anode electrode connected to a drain electrode of the driving TFT, and a cathode electrode connected to a low potential voltage source for supplying a low potential voltage; A first TFT connecting a third node and a data line supplying a data voltage in response to a first scan signal supplied from the first scan line; A second TFT for connecting the data line to the first node in response to a second scan signal supplied from the second scan line; A third TFT for connecting the first node with a reference voltage source for supplying a reference voltage in response to a third scan signal supplied from the third scan line; A fourth TFT for connecting the second node to a high potential voltage source for supplying a high-potential voltage in response to the light-emitting signal supplied from the light-emitting line; A fifth TFT for connecting the second node and the third node in response to a control signal supplied from the control line; A first capacitor having one electrode connected to the third node and the other electrode connected to the high potential voltage source; And a second capacitor having one side electrode connected to the first node and the other side electrode connected between the third node.
본 발명은 2 수평기간 이상의 기간 동안 구동 TFT의 문턱전압을 센싱한다. 그 결과, 본 발명은 대면적 고해상도의 유기발광표시장치가 240Hz 이상의 프레임 주파수로 고속 구동하는 경우에도 구동 TFT의 문턱전압을 정확히 센싱할 수 있다.The present invention senses the threshold voltage of the driving TFT for a period longer than two horizontal periods. As a result, the present invention can accurately sense the threshold voltage of the driving TFT even when the large-area, high-resolution organic light emitting display device is driven at a high frame frequency of 240 Hz or higher.
또한, 본 발명은 고전위 전압원과 구동 TFT 사이에 제4 TFT를 접속시키고, 발광 신호를 이용하여 제4 TFT의 온/오프를 제어한다. 그 결과, 본 발명은 고전위 전압의 전압 강하가 반영된 전압을 이용하여 문턱전압을 보상하므로, 고전위 전압의 전압 강하를 보상할 수 있다.Further, the present invention connects the fourth TFT between the high potential source and the driving TFT, and controls on / off of the fourth TFT by using the light emitting signal. As a result, the present invention can compensate the voltage drop of the high-potential voltage by compensating the threshold voltage using the voltage reflecting the voltage drop of the high-potential voltage.
또한, 본 발명은 데이터 라인을 이용하여 구동 TFT의 드레인-소스간 전류를 센싱할 수 있다. 그 결과, 본 발명은 외부 보상 방법을 이용하여 외부 보상할 수 있으므로, 구동 TFT의 문턱전압 뿐만 아니라 구동 TFT의 모빌리티 등을 보상할 수 있다.
Further, the present invention can sense the drain-source current of the driving TFT by using the data line. As a result, since the present invention can externally compensate using the external compensation method, it is possible to compensate not only the threshold voltage of the driving TFT but also the mobility of the driving TFT.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 화소의 등가회로도.
도 2는 내부 보상의 경우 화소에 입력되는 신호들을 보여주는 파형도.
도 3은 노드들의 전압 변화를 보여주는 표.
도 4는 외부 보상의 경우 화소에 입력되는 신호들을 보여주는 파형도.
도 5는 외부 보상의 경우 화소의 전류 흐름도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치를 개략적으로 보여주는 블록도.
도 7은 타이밍 컨트롤러의 외부 보상부를 보여주는 블록도.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 외부 보상방법을 보여주는 흐름도.1 is an equivalent circuit diagram of a pixel according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a waveform diagram showing signals input to a pixel in the case of internal compensation. FIG.
3 is a table showing voltage changes of nodes.
4 is a waveform diagram showing signals input to a pixel in the case of external compensation;
5 is a current flow diagram of a pixel in the case of external compensation;
6 is a block diagram schematically illustrating an organic light emitting diode display device according to an embodiment of the present invention.
7 is a block diagram showing an external compensation section of the timing controller;
8 is a flow chart illustrating an external compensation method in accordance with an embodiment of the present invention.
이하 첨부된 도면을 참조하여 유기발광다이오드 표시장치를 중심으로 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소들의 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것으로, 실제 제품의 명칭과는 상이할 수 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals throughout the specification denote substantially identical components. In the following description, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The names of components used in the following description are selected in consideration of ease of specification, and may be different from actual product names.
본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치의 화소는 구동 TFT의 문턱전압을 내부 보상할 수 있을 뿐만 아니라, 구동 TFT(Thin Film Transistor)의 문턱전압과 모빌리티(mobility) 등을 외부 보상할 수 있다. 내부 보상은 화소 내에서 실시간으로 구동 TFT의 문턱전압 등을 센싱하여 보상하는 것을 의미한다. 외부 보상은 구동 TFT의 드레인-소스간 전류를 센싱하고 센싱된 전류를 이용하여 화소에 입력될 디지털 비디오 데이터를 보상한 후, 보상된 디지털 비디오 데이터를 화소에 공급하는 것을 의미한다.
The pixel of the organic light emitting diode display according to the embodiment of the present invention not only internally compensates the threshold voltage of the driving TFT but also compensates the threshold voltage and mobility of the driving TFT (Thin Film Transistor) have. The internal compensation means that the threshold voltage of the driving TFT is sensed and compensated in real time in the pixel. The external compensation senses the drain-source current of the driving TFT and compensates the digital video data to be input to the pixel by using the sensed current, and then supplies the compensated digital video data to the pixel.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 화소의 등가회로도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 화소(P)는 구동 TFT(DT), 유기발광다이오드(OLED), 제어 회로, 및 캐패시터(capacitor)들 등을 포함한다.1 is an equivalent circuit diagram of a pixel according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, a pixel P according to an embodiment of the present invention includes a driving TFT DT, an organic light emitting diode (OLED), a control circuit, capacitors, and the like.
구동 TFT(DT)는 게이트 전극에 인가된 전압 량에 따라, 드레인-소스간 전류(Ids)의 양을 다르게 조절한다. 구동 TFT(DT)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 접속되고, 소스 전극은 제2 노드(N2)에 접속되며, 드레인 전극은 유기발광다이오드(OLED)의 애노드 전극에 접속된다.The driving TFT DT adjusts the amount of the drain-source current Ids differently depending on the amount of voltage applied to the gate electrode. The gate electrode of the driving TFT DT is connected to the first node N1, the source electrode is connected to the second node N2, and the drain electrode is connected to the anode electrode of the organic light emitting diode OLED.
유기발광다이오드(OLED)의 애노드 전극은 구동 TFT(DT)의 드레인 전극에 접속되고, 캐소드 전극은 저전위 전압(VSS)을 공급하는 저전위 전압원(VSS_S)에 접속된다. 유기발광다이오드(OLED)는 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)에 따라 발광된다.The anode electrode of the organic light emitting diode OLED is connected to the drain electrode of the driving TFT DT and the cathode electrode is connected to the low potential voltage source VSS_S for supplying the low potential voltage VSS. The organic light emitting diode OLED emits light in accordance with the drain-source current Ids of the driving TFT DT.
제어 회로는 제1 내지 제5 TFT(T1, T2, T3, T4, T5)를 포함한다. 제1 TFT(T1)는 제1 스캔 라인(SL1)으로부터 공급되는 제1 스캔 신호(SCAN1)에 응답하여 제3 노드(N3)와 데이터 전압(DATA)이 공급되는 데이터 라인(DL)을 접속시킨다. 제1 TFT(T1)의 게이트 전극은 제1 스캔 라인(SL1)에 접속되고, 소스 전극은 데이터 라인(DL)에 접속되며, 드레인 전극은 제3 노드(N3)에 접속된다.The control circuit includes the first to fifth TFTs T1, T2, T3, T4, and T5. The first TFT T1 connects the third node N3 and the data line DL to which the data voltage DATA is supplied in response to the first scan signal SCAN1 supplied from the first scan line SL1 . The gate electrode of the first TFT T1 is connected to the first scan line SL1, the source electrode thereof is connected to the data line DL, and the drain electrode thereof is connected to the third node N3.
제2 TFT(T2)는 제2 스캔 라인(SL2)으로부터 공급되는 제2 스캔 신호(SCAN2)에 응답하여 제1 노드(N1)와 데이터 라인(DL)을 접속시킨다. 제2 TFT(T2)의 게이트 전극은 제2 스캔 라인(SL2)에 접속되고, 소스 전극은 데이터 라인(DL)에 접속되며, 드레인 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다.The second TFT T2 connects the first node N1 and the data line DL in response to the second scan signal SCAN2 supplied from the second scan line SL2. The gate electrode of the second TFT T2 is connected to the second scan line SL2, the source electrode thereof is connected to the data line DL, and the drain electrode thereof is connected to the first node N1.
제3 TFT(T3)는 제3 스캔 라인(SL3)으로부터 공급되는 제3 스캔 신호(SCAN3)에 응답하여 기준 전압(REF)을 공급하는 기준 전압원(REF_S)과 제1 노드(N1)를 접속시킨다. 제3 TFT(T3)의 게이트 전극은 제3 스캔 라인(SL3)에 접속되고, 소스 전극은 제1 노드(N1)에 접속되며, 드레인 전극은 기준 전압원(REF_S)에 접속된다.The third TFT T3 connects the first node N1 with the reference voltage source REF_S that supplies the reference voltage REF in response to the third scan signal SCAN3 supplied from the third scan line SL3 . The gate electrode of the third TFT T3 is connected to the third scan line SL3, the source electrode thereof is connected to the first node N1, and the drain electrode thereof is connected to the reference voltage source REF_S.
제4 TFT(T4)는 발광 라인(EML)으로부터 공급되는 발광 신호(EM)에 응답하여 제2 노드(N2)와 고전위 전압(VDD)을 공급하는 고전위 전압원(VDD_S)를 접속시킨다. 제4 TFT(T4)의 게이트 전극은 발광 라인(EML)에 접속되고, 소스 전극은 고전위 전압원(VDD_S)에 접속되며, 드레인 전극은 제2 노드(N2)에 접속된다.The fourth TFT T4 connects the high potential voltage source VDD_S which supplies the high potential voltage VDD to the second node N2 in response to the light emission signal EM supplied from the light emission line EML. The gate electrode of the fourth TFT T4 is connected to the light emitting line EML, the source electrode thereof is connected to the high potential voltage source VDD_S, and the drain electrode thereof is connected to the second node N2.
제5 TFT(T5)는 컨트롤 라인(MGL)으로부터 공급되는 컨트롤 신호(MG)에 응답하여 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)를 접속시킨다. 제5 TFT(T5)의 게이트 전극은 컨트롤 라인(MGL)에 접속되고, 소스 전극은 제2 노드(N2)에 접속되며, 드레인 전극은 제3 노드(N3)에 접속된다.The fifth TFT T5 connects the second node N2 and the third node N3 in response to the control signal MG supplied from the control line MGL. The gate electrode of the fifth TFT T5 is connected to the control line MGL, the source electrode thereof is connected to the second node N2, and the drain electrode thereof is connected to the third node N3.
제1 캐패시터(C1)의 일측 전극은 제3 노드(N3)에 접속되고, 타측 전극은 고전위 전압원(VDD_S) 사이에 접속된다. 제2 캐패시터(C2)의 일측 전극은 제1 노드(N1)에 접속되고, 타측 전극은 제3 노드(N3)에 접속된다.One electrode of the first capacitor C1 is connected to the third node N3, and the other electrode thereof is connected between the high potential voltage source VDD_S. One electrode of the second capacitor C2 is connected to the first node N1 and the other electrode is connected to the third node N3.
제1 노드(N1)는 구동 TFT(DT)의 게이트 전극, 제2 TFT(T2)의 드레인 전극, 제3 TFT(T3)의 소스 전극, 및 제2 캐패시터(C2)의 일측 전극 간의 접점이다. 제2 노드(N2)는 구동 TFT(DT)의 소스 전극, 제4 TFT(T4)의 드레인 전극, 및 제5 TFT(T5)의 소스 전극 간의 접점이다. 제3 노드(N3)는 제1 TFT(T1)의 드레인 전극, 제5 TFT(T5)의 드레인 전극, 제1 캐패시터(C1)의 일측 전극, 및 제2 캐패시터(C2)의 타측 전극 간의 접점이다.The first node N1 is a contact point between the gate electrode of the driving TFT DT, the drain electrode of the second TFT T2, the source electrode of the third TFT T3, and one electrode of the second capacitor C2. The second node N2 is a contact point between the source electrode of the driving TFT DT, the drain electrode of the fourth TFT T4, and the source electrode of the fifth TFT T5. The third node N3 is a contact point between the drain electrode of the first TFT T1, the drain electrode of the fifth TFT T5, one electrode of the first capacitor C1, and the other electrode of the second capacitor C2 .
제1 내지 제5 TFT(T1, T2, T3, T4, T5), 및 구동 TFT(DT)의 반도체 층은 a-Si, Poly-Si, 산화물 중 어느 하나로 형성될 수도 있다. 또한, 본 발명의 실시예에서 제1 내지 제5 TFT(T1, T2, T3, T4, T5), 및 구동 TFT(DT)가 P 타입 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)으로 형성된 것을 중심으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않으며, N 타입 MOSFET으로도 구현될 수 있다.The semiconductor layers of the first to fifth TFTs T1, T2, T3, T4, and T5 and the driver TFT DT may be formed of any one of a-Si, Poly-Si, and oxides. In the embodiment of the present invention, the first to fifth TFTs T1, T2, T3, T4, and T5 and the driving TFT DT are formed of a P-type MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) However, the present invention is not limited to this, and it may be implemented as an N-type MOSFET.
구동 TFT(DT)의 특성, 유기발광다이오드(OLED)의 특성 등을 고려하여 고전위 전압원(VDD_S)은 직류 고전위 전압(VDD)을 공급하도록 설정되고, 저전위 전압원(VSS_S)은 직류 저전위 전압(VSS)을 공급하도록 설정될 수 있다. 기준 전압원(REF_S)은 제1 노드(N1)를 초기화하기 위해 기준 전압(REF)을 공급하도록 설정된다. 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)을 센싱하기 위해, 고전위 전압(VDD)과 기준 전압(REF)의 차전압(VDD-REF)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)보다 큰 전압으로 설정될 수 있다.The high potential voltage source VDD_S is set to supply the direct current high potential voltage VDD in consideration of the characteristics of the driving TFT DT and the characteristics of the organic light emitting diode OLED and the low potential power source VSS_S is set to the direct current low potential May be set to supply the voltage VSS. The reference voltage source REF_S is set to supply the reference voltage REF to initialize the first node N1. The differential voltage VDD-REF between the high-potential voltage VDD and the reference voltage REF is higher than the threshold voltage Vth of the driving TFT DT in order to sense the threshold voltage Vth of the driving TFT DT Voltage can be set.
한편, 본 발명의 유기발광다이오드 표시장치의 표시패널(10)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)과 모빌리티, 및 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(Vth) 등을 외부 보상하기 위해 데이터 전압 스위칭 회로(DATA_SW)를 포함한다. 데이터 전압 스위칭 회로(DATA_SW)는 제1 및 제2 스위치(S1, S2), 인버터(Inv), 및 전류 센싱 회로(ADC)를 포함한다. 제1 및 제2 스위치(S1, S2)는 P 타입 MOSFET으로 형성된 것을 중심으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않으며, N 타입 MOSFET으로도 구현될 수 있다. 데이터 전압 스위칭 회로(DATA_SW)는 내부 보상을 하는 경우 데이터 라인(DL)을 소스 드라이브 IC(S-IC)에 접속시키고, 외부 보상을 하는 경우 데이터 라인(DL)을 전류 센싱 회로(ADC)에 접속시킨다.The
제1 스위치(S1)는 스위칭 제어 라인(SCL)으로부터 공급되는 스위칭 제어 신호(SC)에 응답하여 데이터 라인(DL)을 데이터 전압(DATA)을 공급하는 소스 드라이브 IC(S-IC)에 접속시킨다. 제1 스위치(S1)의 게이트 전극은 스위칭 제어 라인(SCL)에 접속되고, 소스 전극은 소스 드라이브(IC)에 접속되며, 드레인 전극은 데이터 라인(DL)에 접속된다.The first switch S1 connects the data line DL to the source driver IC (S-IC) which supplies the data voltage DATA in response to the switching control signal SC supplied from the switching control line SCL . The gate electrode of the first switch S1 is connected to the switching control line SCL, the source electrode thereof is connected to the source drive IC, and the drain electrode thereof is connected to the data line DL.
제2 스위치(S2)는 스위칭 제어 라인(SCL)으로부터 공급되는 인버터에 의해 반전된 스위칭 제어 신호(SC)에 응답하여 데이터 라인(DL)을 전류 센싱 회로(ADC)에 접속시킨다. 제2 스위치(S2)의 게이트 전극은 인버터(Inv)에 접속되고, 소스 전극은 전류 센싱 회로(ADC)에 접속되며, 드레인 전극은 데이터 라인(DL)에 접속된다.The second switch S2 connects the data line DL to the current sensing circuit ADC in response to the switching control signal SC inverted by the inverter supplied from the switching control line SCL. The gate electrode of the second switch S2 is connected to the inverter Inv, the source electrode thereof is connected to the current sensing circuit ADC and the drain electrode thereof is connected to the data line DL.
인버터(Inv)는 스위칭 제어 라인(SCL)으로부터 공급되는 스위칭 제어 신호(SC)를 인버전시킨다. 인버터(Inv)는 스위칭 제어 라인(SCL)과 제2 스위치(S2)의 게이트 전극 사이에 접속된다.The inverter Inv inverts the switching control signal SC supplied from the switching control line SCL. The inverter Inv is connected between the switching control line SCL and the gate electrode of the second switch S2.
전류 센싱 회로(ADC)는 데이터 라인(DL)에 접속되어 데이터 라인(DL)에 흐르는 전류를 센싱한다. 전류 센싱 회로(ADC)는 센싱된 전류를 디지털 데이터로 변환하고, 변환된 디지털 데이터를 타이밍 컨트롤러(40)로 출력한다. 타이밍 컨트롤러(40)의 외부 보상 방법에 대한 자세한 설명은 도 7 및 도 8을 결부하여 후술한다.
The current sensing circuit ADC is connected to the data line DL and senses the current flowing through the data line DL. The current sensing circuit ADC converts the sensed current into digital data and outputs the converted digital data to the
도 2는 내부 보상의 경우 화소에 입력되는 신호들을 보여주는 파형도이다. 도 2에는 내부 보상의 경우 제1 내지 제4 기간(t1, t2, t3, t4) 동안 표시패널(10)의 어느 한 화소(P)에 입력되는 제1 내지 제3 스캔 신호들(SCAN1, SCAN2, SCAN3), 컨트롤 신호(MG), 발광 신호(EM), 및 스위칭 제어 신호(SC)가 나타나 있다. 제1 기간(t1)은 제1 노드(N1)를 초기화하는 기간이고, 제2 기간(t2)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압을 센싱하는 기간이며, 제3 기간(t3)은 화소(P)에 데이터 전압을 공급하는 기간이며, 제4 기간(t4)은 유기발광다이오드(OLED)가 발광하는 기간이다.2 is a waveform diagram showing signals input to a pixel in the case of internal compensation. In FIG. 2, the first to third scan signals SCAN1 and SCAN2, which are input to one pixel P of the
도 2를 참조하면, 제1 내지 제3 스캔 신호들(SCAN1, SCAN2, SCAN3), 발광 신호(EM), 및 컨트롤 신호(MG)는 화소(P)의 제1 내지 제5 TFT(T1, T2, T3, T4, T5)를 제어하기 위한 신호들이다. 스위칭 제어신호(SC)는 표시패널(10)의 데이터 전압 스위칭 회로(DATA_SW)의 제1 및 제2 스위치(S1, S2)를 제어하기 위한 신호이다. 제1 내지 제3 스캔 신호들(SCAN1, SCAN2, SCAN3), 발광 신호(EM), 및 컨트롤 신호(MG)는 1 프레임 기간을 주기로 발생한다. 데이터 전압(DATA)은 1 수평기간(1H)을 주기로 발생한다. 1 수평기간(1H)은 표시패널(10)에서 1 수평라인의 화소(P)들에 데이터가 기입되는 1 라인 스캐닝 시간을 의미한다.2, the first to third scan signals SCAN1, SCAN2 and SCAN3, the emission signal EM and the control signal MG are applied to the first to fifth TFTs T1 and T2 of the pixel P, , T3, T4, T5). The switching control signal SC is a signal for controlling the first and second switches S1 and S2 of the data voltage switching circuit DATA_SW of the
제1 스캔 신호(SCAN1)는 제1 내지 제4 기간(t1, t2, t3, t4) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생한다. 제2 스캔 신호(SCAN2)는 제1, 제2, 및 제4 기간(t1, t2, t4) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생하고, 제3 기간(t3) 동안 게이트 로우 전압(VGL)으로 발생한다. 제3 스캔 신호(SCAN3)는 제3 및 제4 기간(t3, t4) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생하고, 제1 및 제2 기간(t1, t2) 동안 게이트 로우 전압(VGL)으로 발생한다. 컨트롤 신호(MG)는 제3 기간(t3) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생하고, 제1, 제2, 및 제4 기간(t1, t2, t4) 동안 게이트 로우 전압(VGL)으로 발생한다. 발광 신호(EM)는 제2 및 제3 기간(t2, t3) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생하고, 제1 및 제4 기간(t1, t4) 동안 게이트 로우 전압(VGL)으로 발생한다. 스위칭 제어신호(SC)는 제1 내지 제4 기간(t1, t2, t3, t4) 동안 게이트 로우 전압(VGL)으로 발생한다. 게이트 하이 전압(VGH)은 대략 14V 내지 20V 사이에서 설정될 수 있고, 게이트 로우 전압(VGL)은 대략 -12V 내지 -5V로 설정될 수 있다.
The first scan signal SCAN1 is generated at the gate high voltage VGH during the first to fourth periods t1, t2, t3 and t4. The second scan signal SCAN2 is generated at the gate high voltage VGH during the first, second and fourth periods t1, t2 and t4 and during the third period t3 at the gate low voltage VGL Occurs. The third scan signal SCAN3 is generated at the gate high voltage VGH during the third and fourth periods t3 and t4 and is generated at the gate low voltage VGL during the first and second periods t1 and t2 do. The control signal MG is generated with the gate high voltage VGH during the third period t3 and with the gate low voltage VGL during the first, second and fourth periods t1, t2 and t4 . The emission signal EM is generated at the gate high voltage VGH during the second and third periods t2 and t3 and at the gate low voltage VGL during the first and fourth periods t1 and t4. The switching control signal SC is generated as a gate low voltage VGL during the first to fourth periods t1, t2, t3 and t4. The gate high voltage VGH may be set between about 14V and 20V, and the gate low voltage VGL may be set between about -12V and -5V.
도 3은 화소의 노드들의 전압 변화를 보여주는 표이다. 이하에서, 도 1 내지 도 3을 참조하여 제1 내지 제4 기간(t1, t2, t3, t4) 동안 화소(P)의 동작을 상세히 설명한다.3 is a table showing voltage changes of the nodes of the pixel. Hereinafter, the operation of the pixel P during the first to fourth periods t1, t2, t3 and t4 will be described in detail with reference to Figs.
제1 기간(t1)은 제1 노드(N1)를 초기화하는 기간이고, 제2 기간(t2)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압을 센싱하는 기간이며, 제3 기간(t3)은 화소(P)에 데이터 전압을 공급하는 기간이며, 제4 기간(t4)은 유기발광다이오드(OLED)가 발광하는 기간이다. 제2 기간(t2)은 제1 기간(t1)에 연속하고, 제3 기간(t3)은 제2 기간(t2)에 연속하며, 제4 기간(t4)은 제3 기간(t3)에 연속한다.The first period t1 is a period for initializing the first node N1, the second period t2 is a period for sensing the threshold voltage of the driving TFT DT, and the third period t3 is a period for initializing the pixels P And the fourth period t4 is a period during which the organic light emitting diode OLED emits light. The second period t2 continues in the first period t1 and the third period t3 continues in the second period t2 and the fourth period t4 continues in the third period t3 .
제1 내지 제4 기간(t1~t4) 동안 게이트 로우 전압(VGL)의 스위칭 제어 신호(SC)가 스위칭 제어 라인(SCL)을 통해 공급된다. 제1 스위치(S1)는 게이트 로우 전압(VGL)의 스위치 제어 신호(SC)에 의해 턴-온된다. 제1 스위치(S1)의 턴-온으로 인해, 소스 드라이브 IC(S-IC)와 데이터 라인(DL)은 서로 접속된다. 제2 스위치(S2)는 스위치 제어 신호(SC)의 인버전 신호에 의해 턴-오프된다.The switching control signal SC of the gate low voltage VGL is supplied through the switching control line SCL during the first to fourth periods t1 to t4. The first switch S1 is turned on by the switch control signal SC of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the first switch S1, the source drive IC (S-IC) and the data line DL are connected to each other. The second switch S2 is turned off by the inversion signal of the switch control signal SC.
첫 번째로, 제1 기간(t1) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 로우 전압(VGL)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제1 기간(t1) 동안 게이트 로우 전압(VGL)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급되고, 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급된다.First, the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1 during the first period t1 and the second scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1. SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate low voltage VGL is supplied through the third scan line SL3. During the first period t1 the emission signal EM of the gate low voltage VGL is supplied through the emission line EML and the control signal MG of the gate low voltage VGL is supplied to the control line MGL, Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-오프된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-오프된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 로우 전압(VGL)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-온된다. 제3 TFT(T3)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)와 기준 전압원(REF_S)은 서로 접속된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 로우 전압(VGL)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-온된다. 제4 TFT(T4)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 고전위 전압원(VDD_S)은 서로 접속된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-온된다. 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)는 서로 접속된다.The first TFT T1 is turned off by the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH. And the second TFT T2 is turned off by the second scan signal SCAN2 of the gate high voltage VGH. The third TFT T3 is turned on by the third scan signal SCAN3 of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the third TFT T3, the first node N1 and the reference voltage source REF_S are connected to each other. The fourth TFT T4 is turned on by the emission signal EM of the gate-low voltage VGL. Due to the turn-on of the fourth TFT (T4), the second node (N2) and the high potential voltage source (VDD_S) are connected to each other. The fifth TFT T5 is turned on by the control signal MG of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the fifth TFT (T5), the second node (N2) and the third node (N3) are connected to each other.
제2 TFT(T2)의 턴-오프와 제3 TFT(T3)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)는 기준 전압원(REF_S)에 접속되므로, 제1 노드(N1)에는 기준 전압(REF)이 공급된다. 제4 TFT(T4)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)는 고전위 전압원(VDD_S)에 접속되므로, 제2 노드(N2)에는 고전위 전압(VDD)이 공급된다. 제1 TFT(T1)의 턴-오프와 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제3 노드(N3)는 제2 노드(N2)와 접속되므로, 제3 노드(N3)에는 고전위 전압(VDD)이 공급된다.Since the first node N1 is connected to the reference voltage source REF_S due to the turn-off of the second TFT T2 and the turn-on of the third TFT T3, the first node N1 is supplied with the reference voltage REF) is supplied. Due to the turn-on of the fourth TFT T4, the second node N2 is connected to the high potential voltage source VDD_S, so that the high potential voltage VDD is supplied to the second node N2. The third node N3 is connected to the second node N2 due to the turn-off of the first TFT T1 and the turn-on of the fifth TFT T5, The voltage VDD is supplied.
두 번째로, 제2 기간(t2) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 로우 전압(VGL)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제2 기간(t2) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급되고, 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급된다.Second, during the second period t2, the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1 and the second scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate low voltage VGL is supplied through the third scan line SL3. The light emission signal EM of the gate high voltage VGH is supplied through the light emission line EML and the control signal MG of the gate low voltage VGL is supplied to the control line MGL during the second period t2. Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-오프된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-오프된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 로우 전압(VGL)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-온된다. 제3 TFT(T3)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)와 기준 전압원(REF_S)은 서로 접속된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-오프된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-온된다. 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)는 서로 접속된다.The first TFT T1 is turned off by the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH. And the second TFT T2 is turned off by the second scan signal SCAN2 of the gate high voltage VGH. The third TFT T3 is turned on by the third scan signal SCAN3 of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the third TFT T3, the first node N1 and the reference voltage source REF_S are connected to each other. The fourth TFT T4 is turned off by the emission signal EM of the gate high voltage VGH. The fifth TFT T5 is turned on by the control signal MG of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the fifth TFT (T5), the second node (N2) and the third node (N3) are connected to each other.
제2 TFT(T2)의 턴-오프와 제3 TFT(T3)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)는 기준 전압원(REF_S)에 접속되므로, 제1 노드(N1)에는 기준 전압(REF)이 공급된다. 제4 TFT(T4)의 턴-오프로 인해, 제2 노드(N2)는 플로팅(floating)된다. 제1 TFT(T1)의 턴-오프와 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제3 노드(N3)는 제2 노드(N2)와 접속되므로, 제3 노드(N3)는 제2 노드(N2)와 실질적으로 동등한 전위로 플로팅된다.Since the first node N1 is connected to the reference voltage source REF_S due to the turn-off of the second TFT T2 and the turn-on of the third TFT T3, the first node N1 is supplied with the reference voltage REF) is supplied. Due to the turn-off of the fourth TFT T4, the second node N2 is floating. The third node N3 is connected to the second node N2 because of the turn-off of the first TFT T1 and the turn-on of the fifth TFT T5, And is plotted with a potential substantially equal to the node N2.
제2 기간(t2) 동안 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)의 플로팅으로 인해, 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)은 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)에 센싱된다. 구동 TFT(DT)의 게이트 전극에 접속된 제1 노드(N1)와 소스 전극에 접속된 제2 노드(N2)간의 전압 차(Vgs)가 문턱전압(Vth)보다 크므로, 구동 TFT(DT)는 게이트 전극과 소스 전극 간의 전압 차(Vgs)가 문턱전압(Vth)에 도달할 때까지 전류 패스를 형성한다. 따라서, 제2 노드(N2)의 전압은 기준 전압(REF)과 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)의 차전압(REF-Vth)까지 낮아진다. 또한, 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해 제3 노드(N3)도 제2 노드(N2)와 실질적으로 동등한 전위로 플로팅되므로, 제3 노드(N3)의 전압도 기준 전압(REF1)과 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)의 차전압(REF-Vth)까지 낮아진다.The threshold voltage Vth of the driving TFT DT is set to the second node N2 and the third node N3 due to the floating of the second node N2 and the third node N3 during the second period t2, . The voltage difference Vgs between the first node N1 connected to the gate electrode of the driving TFT DT and the second node N2 connected to the source electrode is greater than the threshold voltage Vth, Forms a current path until the voltage difference (Vgs) between the gate electrode and the source electrode reaches the threshold voltage (Vth). Therefore, the voltage of the second node N2 is lowered to the difference voltage REF-Vth between the reference voltage REF and the threshold voltage Vth of the driving TFT DT. The third node N3 is also floated to a potential substantially equal to the second node N2 due to the turn-on of the fifth TFT T5, so that the voltage of the third node N3 also becomes equal to the reference voltage REF1, (REF-Vth) of the threshold voltage (Vth) of the driving TFT (DT).
제2 기간(t2) 동안 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)는 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)을 센싱한다. 특히, 제2 기간(t2)은 사전 실험을 통해 2 수평기간 이상의 기간으로 적절하게 설정될 수 있다. 그 결과, 본 발명은 2 수평 기간 이상의 기간 동안 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)을 센싱할 수 있으므로, 대면적 고해상도의 유기발광표시장치가 240Hz 이상의 프레임 주파수로 고속 구동하는 경우에도 구동 TFT(DT)의 문턱전압 센싱의 정확도를 높일 수 있다.During the second period t2, the second node N2 and the third node N3 sense the threshold voltage Vth of the driving TFT DT. In particular, the second period t2 may be appropriately set to a period longer than two horizontal periods through a preliminary experiment. As a result, according to the present invention, the threshold voltage (Vth) of the driving TFT (DT) can be sensed for a period longer than two horizontal periods. Therefore, even when the organic light emitting display device with a large area and high resolution is driven at a high- The accuracy of the threshold voltage sensing of the signal DT can be improved.
세 번째로, 제3 기간(t3) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 로우 전압(VGL)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제3 기간(t3) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급된다.Third, during the third period t3, the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1 and the second scan signal SCAN1 of the gate low voltage VGL SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH is supplied through the third scan line SL3. During the third period t3, the emission signal EM of the gate high voltage VGH is supplied through the emission line EML and the control signal MG of the gate high voltage VGH is supplied to the control line MGL. Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-오프된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 로우 전압(VGL)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-온된다. 제2 TFT(T2)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)와 데이터 라인(DL)은 서로 접속된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-오프된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-오프된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 하이 전압(VGH)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-오프된다.The first TFT T1 is turned off by the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH. And the second TFT T2 is turned on by the second scan signal SCAN2 of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the second TFT T2, the first node N1 and the data line DL are connected to each other. The third TFT T3 is turned off by the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH. The fourth TFT T4 is turned off by the emission signal EM of the gate high voltage VGH. The fifth TFT T5 is turned off by the control signal MG of the gate high voltage VGH.
제2 TFT(T2)의 턴-온과 제3 TFT(T3)의 턴-오프로 인해, 제1 노드(N1)는 데이터 라인(DL)에 접속되므로, 제1 노드(N1)에는 데이터 전압(DATA)이 공급된다. 제4 TFT(T4)의 턴-오프로 인해, 제2 노드(N2)는 플로팅된다. 제1 TFT(T1)와 제5 TFT(T5)의 턴-오프로 인해, 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)의 접속은 차단되므로, 제3 노드(N3)는 플로팅된다.The first node N1 is connected to the data line DL due to the turn-on of the second TFT T2 and the turn-off of the third TFT T3, DATA) is supplied. Due to the turn-off of the fourth TFT (T4), the second node (N2) floats. Due to the turn-off of the first TFT (T1) and the fifth TFT (T5), the connection between the second node (N2) and the third node (N3) is cut off, so that the third node (N3) floats.
제3 기간(t3) 동안 제3 노드(N3)가 플로팅되므로, 제1 노드(N1)의 전압 변화량이 제2 캐패시터(C2)에 의해 제3 노드(N3)에 반영된다. 즉, 제3 노드(N3)에는 제1 노드(N1)의 전압 변화량인 'REF-DATA'가 반영된다. 다만, 제3 노드(N3)는 직렬로 연결된 제1 및 제2 캐패시터(C1, C2)의 사이에 접속되어 있으므로, 수학식 2와 같이 C'의 비율로 전압 변화량이 반영된다.Since the third node N3 is floated during the third period t3, the voltage variation of the first node N1 is reflected to the third node N3 by the second capacitor C2. That is, 'REF-DATA', which is the voltage change amount of the first node N1, is reflected to the third node N3. However, since the third node N3 is connected between the first and second capacitors C1 and C2 connected in series, the voltage change amount is reflected at the ratio of C 'as in Equation (2).
수학식 2에서, CA1은 제1 캐패시터(C1)의 용량, CA2는 제2 캐패시터(C2)의 용량을 의미한다. 결국, 제3 노드(N3)에는 'C'(REF-DATA)'가 반영되므로, 제3 노드(N3)의 전압은 'REF-Vth-C'(REF-DATA)'로 변화된다.In Equation (2), CA1 denotes the capacitance of the first capacitor (C1) and CA2 denotes the capacitance of the second capacitor (C2). As a result, 'C' (REF-DATA) 'is reflected in the third node N3, so that the voltage of the third node N3 changes to' REF-Vth-C '(REF-DATA).
네 번째로, 제4 기간(t4) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제4 기간(t4) 동안 게이트 로우 전압(VGL)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급되고, 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급된다.Fourth, during the fourth period t4, the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1 and the second scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH is supplied through the third scan line SL3. During the fourth period t4, the emission signal EM of the gate low voltage VGL is supplied through the emission line EML and the control signal MG of the gate low voltage VGL is supplied to the control line MGL. Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-오프된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-오프된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-오프된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 로우 전압(VGL)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-온된다. 제4 TFT(T4)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 고전위 전압원(VDD_S)은 서로 접속된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-온된다. 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)는 서로 접속된다.The first TFT T1 is turned off by the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH. And the second TFT T2 is turned off by the second scan signal SCAN2 of the gate high voltage VGH. The third TFT T3 is turned off by the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH. The fourth TFT T4 is turned on by the emission signal EM of the gate-low voltage VGL. Due to the turn-on of the fourth TFT (T4), the second node (N2) and the high potential voltage source (VDD_S) are connected to each other. The fifth TFT T5 is turned on by the control signal MG of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the fifth TFT (T5), the second node (N2) and the third node (N3) are connected to each other.
제2 TFT(T2)와 제3 TFT(T3)의 턴-오프로 인해, 제1 노드(N1)는 플로팅된다. 제4 TFT(T4)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)는 고전위 전압원(VDD_S)과 접속되므로, 제2 노드(N2)에는 고전위 전압(VDD)이 공급된다. 제1 TFT(T1)의 턴-오프와 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)가 접속되므로, 제3 노드(N3)에는 고전위 전압(VDD)이 공급된다.Due to the turn-off of the second TFT T2 and the third TFT T3, the first node N1 floats. Due to the turn-on of the fourth TFT T4, the second node N2 is connected to the high potential voltage source VDD_S, and thus the high potential voltage VDD is supplied to the second node N2. Since the second node N2 and the third node N3 are connected due to the turn-off of the first TFT T1 and the turn-on of the fifth TFT T5, the third node N3 is supplied with a high potential The voltage VDD is supplied.
제4 기간(t4) 동안 제1 노드(N1)가 플로팅되므로, 제3 노드(N3)의 전압 변화량이 제2 캐패시터(C2)에 의해 제1 노드(N1)에 반영된다. 즉, 제1 노드(N1)에는 제3 노드(N3)의 전압 변화량인 'REF-Vth-C'(REF-DATA)-VDD'가 반영된다. 따라서, 제1 노드(N1)의 전압은 'DATA-{REF-Vth-C'(REF-DATA)-VDD}'로 변화된다.Since the first node N1 is floated during the fourth period t4, the voltage variation of the third node N3 is reflected to the first node N1 by the second capacitor C2. That is, 'REF-Vth-C' (REF-DATA) -VDD ', which is the voltage change amount of the third node N3, is reflected in the first node N1. Accordingly, the voltage of the first node N1 changes to 'DATA- {REF-Vth-C' (REF-DATA) -VDD} '.
한편, 유기발광다이오드(OLED)에 공급되는 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)는 수학식 3과 같이 표현된다.Meanwhile, the drain-source current Ids of the driving TFT DT supplied to the organic light emitting diode (OLED) is expressed by Equation (3).
수학식 3에서, k'는 구동 TFT(DT)의 구조와 물리적 특성에 의해 결정되는 비례 계수로서, 구동 TFT(DT)의 모빌리티, 채널 폭, 및 채널 길이 등에 의해 결정된다. Vgs는 구동 TFT(DT)의 게이트 전압(Vg)과 소스 전압(Vs) 간의 차, Vth는 구동 TFT(DT)의 문턱전압을 의미한다. 제4 기간(t4) 동안 'Vgs-Vth'는 수학식 4와 같다.In Equation 3, k 'is a proportional coefficient determined by the structure and physical characteristics of the driver TFT DT, and is determined by the mobility, the channel width, and the channel length of the driver TFT DT. Vgs denotes a difference between the gate voltage Vg and the source voltage Vs of the driving TFT DT and Vth denotes a threshold voltage of the driving TFT DT. During the fourth period (t4), 'Vgs-Vth' is expressed by Equation (4).
수학식 4를 정리하면, 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)는 수학식 5와 같이 도출된다.Summarizing the expression (4), the drain-source current Ids of the driving TFT DT is derived as shown in expression (5).
결국, 제4 기간(t4) 동안 유기발광다이오드(OLED)에 공급되는 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)는 수학식 5와 같이 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)에 의존하지 않게 된다. 즉, 본 발명은 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)을 보상할 수 있다.As a result, the drain-source current Ids of the driving TFT DT supplied to the organic light emitting diode OLED during the fourth period t4 is equal to the threshold voltage Vth of the driving TFT DT It does not depend on it. That is, the present invention can compensate the threshold voltage (Vth) of the driving TFT (DT).
한편, 고전위 전압원(VDD_S)은 다수의 화소(P)들에 고전위 전압(VDD)을 공급한다. 제4 기간(t4) 동안 게이트 로우 전압(VGL)의 발광 펄스(EM)에 의해 제4 TFT(T4)가 턴-온되는 경우, 고전위 전압(VDD)과 저전위 전압(VSS) 사이의 전류패스를 따라 존재하는 구동 TFT(DT), 유기발광다이오드(OLED) 등의 기생저항으로 인해 고전위 전압원(VDD_S)으로부터 공급되는 고전위 전압(VDD)은 강하된다. 수학식 4를 참조하여 설명하면, 종래 기술에서 게이트 전압(Vg)의 'VDD'는 전압 강하되기 전의 고전위 전압이고, 소스 전압(Vs)의 'VDD'는 전압 강하된 고전위 전압이었다. 이 경우 게이트 전압(Vg)의 'VDD'와 소스 전압(Vs)의 'VDD'가 다르기 때문에 수학식 4에서 'VDD'가 삭제되지 않으므로, 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)는 고전위 전압(VDD)에 의존적이게 되는 문제가 발생하였다. 하지만, 본 발명의 실시예에 따른 화소(P)는 수학식 4의 'Vgs-Vth'에서 게이트 전압(Vg)에 샘플링된 'VDD'와 소스 전압(Vs)인 'VDD'가 모두 전압 강하가 반영된 전압이기 때문에 수학식 4에서 'VDD'가 삭제되므로, 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)는 고전위 전압(VDD)에 의존적이지 않게 된다. 즉, 본 발명은 고전위 전압(VDD)의 전압 강하를 보상할 수 있다.
On the other hand, the high potential voltage source VDD_S supplies the high potential voltage VDD to the plurality of pixels P. When the fourth TFT T4 is turned on by the light emission pulse EM of the gate low voltage VGL during the fourth period t4, the current between the high potential VDD and the low potential VSS The high potential voltage VDD supplied from the high potential voltage source VDD_S is lowered due to the parasitic resistance of the driving TFT DT and the organic light emitting diode OLED existing along the path. Referring to Equation (4), in the prior art, 'VDD' of the gate voltage Vg is a high potential voltage before the voltage is lowered, and 'VDD' of the source voltage Vs is a voltage lowered high potential voltage. In this case, 'VDD' is not deleted in Equation (4) because 'VDD' of the gate voltage Vg and 'VDD' of the source voltage Vs are different. Therefore, the drain-source current Ids of the driving TFT DT, Has a problem that it becomes dependent on the high-potential voltage (VDD). However, in the pixel P according to the embodiment of the present invention, 'VDD' sampled at the gate voltage Vg at 'Vgs-Vth' in Equation 4 and 'VDD', which is the source voltage Vs, Since the voltage is reflected, 'VDD' is deleted in Equation (4), so that the drain-source current Ids of the driving TFT DT is not dependent on the high-potential voltage VDD. That is, the present invention can compensate the voltage drop of the high-potential voltage (VDD).
도 4는 외부 보상의 경우 화소에 입력되는 신호들을 보여주는 파형도이다. 도 4에는 외부 보상의 경우 표시패널(10)의 어느 한 화소(P)에 입력되는 제1 내지 제3 스캔 신호(SCAN1, SCAN2, SCAN3), 컨트롤 신호(MG), 발광 신호(EM), 및 스위칭 제어 신호(SC)가 나타나 있다. 제5 및 제7 기간(t5, t7)은 휴지 기간이고, 제6 기간(t6)은 외부 보상을 위해 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)를 센싱하는 기간이다. 제6 기간(t6)은 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)가 정확히 센싱될 수 있도록 실험을 통해 적절한 기간으로 설정될 수 있다.4 is a waveform diagram showing signals input to a pixel in the case of external compensation. 4 shows the first to third scan signals SCAN1, SCAN2 and SCAN3, the control signal MG, the emission signal EM, and the first and second scan signals SC1 to SCn3 inputted to one pixel P of the
도 4를 참조하면, 제1 내지 제3 스캔 신호들(SCAN1, SCAN2, SCAN3), 발광 신호(EM), 및 컨트롤 신호(MG)는 화소(P)의 제1 내지 제5 TFT(T1, T2, T3, T4, T5)를 제어하기 위한 신호들이다. 스위칭 제어신호(SC)는 표시패널(10)의 데이터 전압 스위칭 회로(DATA_SW)의 제1 및 제2 스위치(S1, S2)를 제어하기 위한 신호이다.4, the first to third scan signals SCAN1, SCAN2 and SCAN3, the emission signal EM and the control signal MG are applied to the first to fifth TFTs T1 and T2 of the pixel P, , T3, T4, T5). The switching control signal SC is a signal for controlling the first and second switches S1 and S2 of the data voltage switching circuit DATA_SW of the
제1 스캔 신호(SCAN1), 제3 스캔 신호(SCAN3), 및 컨트롤 신호(MG)는 제5 및 제7 기간(t5, t7) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생하고, 제6 기간(t6) 동안 게이트 로우 전압(VGL)으로 발생한다. 제2 스캔 신호(SCAN2), 발광 신호(EM), 및 스위칭 제어신호(SC)는 제5 내지 제7 기간(t5, t6, t7) 동안 게이트 하이 전압(VGH)으로 발생한다.
The first scan signal SCAN1, the third scan signal SCAN3 and the control signal MG are generated at the gate high voltage VGH during the fifth and seventh periods t5 and t7 and during the sixth period t6 ≪ / RTI > (VGL). The second scan signal SCAN2, the emission signal EM and the switching control signal SC are generated at the gate high voltage VGH during the fifth to tenth periods t5, t6 and t7.
도 5는 외부 보상의 경우 화소의 전류 흐름도이다. 이하에서, 도 4 및 도 5를 참조하여 제1 내지 제4 기간(t1, t2, t3, t4) 동안 화소(P)의 동작을 상세히 설명한다. 제5 및 제7 기간(t5, t7)은 휴지 기간이고, 제6 기간(t6)은 외부 보상을 위해 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)를 센싱하는 기간이다. 제6 기간(t6)은 제5 기간(t5)에 연속하고, 제7 기간(t7)은 제6 기간(t6)에 연속한다.5 is a current flow diagram of a pixel in the case of external compensation. Hereinafter, the operation of the pixel P during the first to fourth periods t1, t2, t3 and t4 will be described in detail with reference to Figs. 4 and 5. Fig. The fifth and seventh periods t5 and t7 are idle periods and the sixth period t6 is a period for sensing the drain-source current Ids of the driving TFT DT for external compensation. The sixth period t6 continues in the fifth period t5 and the seventh period t7 continues in the sixth period t6.
제5 내지 제7 기간(t5~t7) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 스위칭 제어 신호(SC)가 스위칭 제어 라인(SCL)을 통해 공급된다. 제1 스위치(S1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 스위치 제어 신호(SC)에 의해 턴-오프된다. 제2 스위치(S2)는 스위치 제어 신호(SC)의 인버전 신호에 의해 턴-온된다. 제2 스위치(S2)의 턴-온으로 인해, 전류 센싱 회로(ADC)와 데이터 라인(DL)은 서로 접속된다.The switching control signal SC of the gate high voltage VGH is supplied through the switching control line SCL during the fifth to seventh periods t5 to t7. The first switch S1 is turned off by the switch control signal SC of the gate high voltage VGH. The second switch S2 is turned on by the inversion signal of the switch control signal SC. Due to the turn-on of the second switch S2, the current sensing circuit ADC and the data line DL are connected to each other.
첫 번째로, 제5 기간(t5) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제5 기간(t5) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급된다.First, during the fifth period t5, the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1 and the second scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH is supplied through the third scan line SL3. During the fifth period t5, the control signal MG of the gate high voltage VGH is supplied through the control line MGL and the emission signal EM of the gate high voltage VGH is supplied to the emission line EML. Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-오프된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-오프된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-오프된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-오프된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 하이 전압(VGH)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-오프된다.The first TFT T1 is turned off by the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH. And the second TFT T2 is turned off by the second scan signal SCAN2 of the gate high voltage VGH. The third TFT T3 is turned off by the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH. The fourth TFT T4 is turned off by the emission signal EM of the gate high voltage VGH. The fifth TFT T5 is turned off by the control signal MG of the gate high voltage VGH.
두 번째로, 제6 기간(t6) 동안 게이트 로우 전압(VGL)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 로우 전압(VGL)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제6 기간(t6) 동안 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급된다.Secondly, during the sixth period t6, the first scan signal SCAN1 of the gate low voltage VGL is supplied through the first scan line SL1, and the second scan signal of the gate high voltage VGH SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate low voltage VGL is supplied through the third scan line SL3. During the sixth period t6 the control signal MG of the gate low voltage VGL is supplied through the control line MGL and the emission signal EM of the gate high voltage VGH is supplied to the emission line EML, Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 로우 전압(VGL)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-온된다. 제1 TFT(T1)의 턴-온으로 인해, 제3 노드(N3)와 데이터 라인(DL)은 서로 접속된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-오프된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 로우 전압(VGL)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-온된다. 제3 TFT(T3)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)와 기준 전압원(REF_S)은 서로 접속된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-오프된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 로우 전압(VGL)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-온된다. 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)와 제3 노드(N3)는 서로 접속된다.The first TFT (T1) is turned on by the first scan signal (SCAN1) of the gate low voltage (VGL). Due to the turn-on of the first TFT (T1), the third node (N3) and the data line (DL) are connected to each other. And the second TFT T2 is turned off by the second scan signal SCAN2 of the gate high voltage VGH. The third TFT T3 is turned on by the third scan signal SCAN3 of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the third TFT T3, the first node N1 and the reference voltage source REF_S are connected to each other. The fourth TFT T4 is turned off by the emission signal EM of the gate high voltage VGH. The fifth TFT T5 is turned on by the control signal MG of the gate low voltage VGL. Due to the turn-on of the fifth TFT (T5), the second node (N2) and the third node (N3) are connected to each other.
제1 TFT(T1)의 턴-온으로 인해, 제3 노드(N3)는 데이터 라인(DL)에 접속된다. 제2 TFT(T2)의 턴-오프와 제3 TFT(T3)의 턴-온으로 인해, 제1 노드(N1)는 기준 전압원(REF_S)에 접속되므로, 제1 노드(N1)에는 기준 전압(REF)이 공급된다. 제4 TFT(T4)의 턴-오프와 제5 TFT(T5)의 턴-온으로 인해, 제2 노드(N2)는 제3 노드(N3)에 접속된다.Due to the turn-on of the first TFT (T1), the third node (N3) is connected to the data line (DL). Since the first node N1 is connected to the reference voltage source REF_S due to the turn-off of the second TFT T2 and the turn-on of the third TFT T3, the first node N1 is supplied with the reference voltage REF) is supplied. Due to the turn-off of the fourth TFT (T4) and the turn-on of the fifth TFT (T5), the second node (N2) is connected to the third node (N3).
제6 기간(t6) 동안 구동 TFT(DT)의 게이트 전극에 인가된 기준 전압(REF)과 소스 전극의 전압 간의 전압차(Vgs)가 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)보다 크기 때문에, 구동 TFT(DT)는 턴-온된다. 또한, 제1 및 제5 TFT(T1, T5)가 턴-온되므로, 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)는 제2 노드(N2), 제3 노드(N3), 및 데이터 라인(DL)을 통해 전류 센싱 회로(ADC)에 센싱된다. 전류 센싱 회로(ADC)는 센싱된 전류를 디지털 데이터로 변환하고, 변환된 디지털 데이터를 타이밍 컨트롤러(40)의 외부 보상부(41)로 출력한다. 외부 보상부(41)의 외부 보상 방법에 대한 자세한 설명은 도 7 및 도 8을 결부하여 후술한다.Since the voltage difference Vgs between the reference voltage REF applied to the gate electrode of the driving TFT DT and the voltage of the source electrode during the sixth period t6 is larger than the threshold voltage Vth of the driving TFT DT, The driving TFT DT is turned on. Further, since the first and fifth TFTs T1 and T5 are turned on, the drain-source current Ids of the driving TFT DT is higher than the second node N2, the third node N3, And is sensed by a current sensing circuit ADC via a line DL. The current sensing circuit ADC converts the sensed current into digital data and outputs the converted digital data to the
세 번째로, 제7 기간(t7) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)가 제1 스캔 라인(SL1)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)가 제2 스캔 라인(SL2)을 통해 공급되며, 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)가 제3 스캔 라인(SL3)을 통해 공급된다. 또한, 제7 기간(t7) 동안 게이트 하이 전압(VGH)의 컨트롤 신호(MG)가 컨트롤 라인(MGL)을 통해 공급되고, 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)가 발광 라인(EML)을 통해 공급된다.Third, during the seventh period t7, the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH is supplied through the first scan line SL1 and the second scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH SCAN2 are supplied through the second scan line SL2 and the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH is supplied through the third scan line SL3. The control signal MG of the gate high voltage VGH is supplied through the control line MGL and the emission signal EM of the gate high voltage VGH is supplied to the emission line EML during the seventh period t7, Lt; / RTI >
제1 TFT(T1)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제1 스캔 신호(SCAN1)에 의해 턴-오프된다. 제2 TFT(T2)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제2 스캔 신호(SCAN2)에 의해 턴-오프된다. 제3 TFT(T3)는 게이트 하이 전압(VGH)의 제3 스캔 신호(SCAN3)에 의해 턴-오프된다. 제4 TFT(T4)는 게이트 하이 전압(VGH)의 발광 신호(EM)에 의해 턴-오프된다. 제5 TFT(T5)는 게이트 하이 전압(VGH)의 컨트롤 신호(MG)에 의해 턴-오프된다.
The first TFT T1 is turned off by the first scan signal SCAN1 of the gate high voltage VGH. And the second TFT T2 is turned off by the second scan signal SCAN2 of the gate high voltage VGH. The third TFT T3 is turned off by the third scan signal SCAN3 of the gate high voltage VGH. The fourth TFT T4 is turned off by the emission signal EM of the gate high voltage VGH. The fifth TFT T5 is turned off by the control signal MG of the gate high voltage VGH.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치를 개략적으로 보여주는 블록도이다. 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치는 표시패널(10), 데이터 구동부(20), 스캔 구동부(30), 타이밍 컨트롤러(40) 및 호스트 시스템(50) 등을 구비한다.6 is a block diagram schematically showing an organic light emitting diode display device according to an embodiment of the present invention. 6, the organic light emitting diode display according to the exemplary embodiment of the present invention includes a
표시패널(10)에는 데이터 라인(DL)들과 제1 스캔 라인(SL1)들이 서로 교차되도록 형성된다. 또한, 표시패널(10)에는 제1 스캔 라인(SL1)들과 나란하게 제2 스캔 라인(SL2)들, 제3 스캔 라인(SL3)들, 컨트롤 라인(MG)들, 및 발광 라인(EML)들이 형성된다. 또한, 표시패널(10)에는 제1 스캔 라인(SL1)들과 나란하게 스위칭 제어 라인(SCL)들이 형성될 수 있다. 또한, 표시패널(10)에는 매트릭스 형태로 배치된 화소(P)들이 형성된다. 표시패널(10)의 화소(P)들 각각은 도 1을 결부하여 설명한 바와 같다.The
데이터 구동부(20)는 다수의 소스 드라이브 IC들을 포함한다. 소스 드라이브 IC들은 타이밍 컨트롤러(40)로부터 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)과 모빌리티(mobility), 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(Vth) 등이 보상된 디지털 비디오 데이터(RGB')를 입력받는다. 소스 드라이브 IC들은 타이밍 컨트롤러(40)로부터의 소스 타이밍 제어신호(DCS)에 응답하여 보상 디지털 비디오 데이터(RGB')를 감마보상전압으로 변환하여 데이터 전압을 발생하고, 그 데이터 전압을 제1 스캔 신호(SCAN1)에 동기되도록 표시패널(10)의 데이터 라인(DL)들에 공급한다.The
스캔 구동부(30)는 제1 스캔 신호 출력부, 제2 스캔 신호 출력부, 제3 스캔 신호 출력부, 컨트롤 신호 출력부, 발광 신호 출력부, 및 스위칭 제어 신호 출력부를 포함한다. 제1 스캔 신호 출력부는 표시패널(10)의 제1 스캔 라인(SL1)들에 제1 스캔 신호(SCAN1)를 순차적으로 출력한다. 제2 스캔 신호 출력부는 표시패널(10)의 제2 스캔 라인(SL2)들에 제2 스캔 신호(SCAN2)를 순차적으로 출력한다. 제3 스캔 신호 출력부는 표시패널(10)의 제3 스캔 라인(SL3)들에 제3 스캔 신호(SCAN3)를 순차적으로 출력한다. 컨트롤 신호 출력부는 표시패널(10)의 컨트롤 라인(MGL)들에 컨트롤 신호(MG)를 순차적으로 출력한다. 발광 신호 출력부는 표시패널(10)의 발광 라인(EML)들에 발광 신호(EM)를 순차적으로 출력한다. 스위칭 제어 신호 출력부는 표시패널(10)의 스위칭 제어 라인(SCL)들에 스위칭 제어 신호(SC)를 순차적으로 출력한다. 제1 내지 제3 스캔 신호(SCAN1, SCAN2, SCAN3), 컨트롤 신호(MG), 발광 신호(EM), 및 스위칭 제어 신호(SC) 등에 대한 자세한 설명은 도 2, 및 도 4를 결부하여 상세히 설명하였다.The
타이밍 컨트롤러(40)는 LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 인터페이스, TMDS(Transition Minimized Differential Signaling) 인터페이스 등의 인터페이스를 통해 호스트 시스템(50)으로부터 디지털 비디오 데이터(RGB)를 입력받는다. 타이밍 컨트롤러(40)는 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)와 모빌리티 등을 외부 보상하기 위한 외부 보상부(41)를 포함할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(40)의 외부 보상부(41)는 호스트 시스템(50)으로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)에 외부 보상 방법을 이용하여 산출된 보상 데이터를 반영하여 보상 디지털 비디오 데이터(RGB')를 데이터 구동부(20)로 출력한다.The
타이밍 컨트롤러(40)는 수직 동기신호, 수평 동기신호, 데이터 인에이블 신호(Data Enable), 도트 클럭(Dot Clock) 등의 타이밍 신호를 입력받는다. 타이밍 컨트롤러(50)는 호스트 시스템으로부터의 타이밍 신호를 기준으로 데이터 구동부(20)와 스캔 구동부(30)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다. 타이밍 제어신호들은 스캔 구동부(30)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 스캔 타이밍 제어신호, 데이터 구동부(20)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호를 포함한다. 타이밍 컨트롤러(40)는 스캔 타이밍 제어신호를 스캔 구동부(30)로 출력하고, 데이터 타이밍 제어신호를 데이터 구동부(20)로 출력한다.The
표시패널은 도시하지 않은 전원부를 더 구비할 수 있다. 전원부는 표시패널(10)에 고전위 전압(VDD), 저전위 전압(VSS), 및 기준 전압(REF) 등을 공급한다. 또한, 전원부는 스캔 구동부(30)에 게이트 하이 전압(VGH)과 게이트 로우 전압(VGL) 등을 공급한다.
The display panel may further include a power supply unit (not shown). The power supply unit supplies a high potential voltage (VDD), a low potential voltage (VSS), and a reference voltage (REF) to the display panel (10). The power supply unit supplies a gate high voltage VGH and a gate low voltage VGL to the
도 7은 타이밍 컨트롤러의 외부 보상부를 보여주는 블록도이다. 도 8은 본 발명의 실시예에 따른 외부 보상 방법을 보여주는 흐름도이다. 도 7을 참조하면, 타이밍 컨트롤러(40)의 외부 보상부(41)는 보상 데이터 산출부(41a)와 보상 디지털 비디오 데이터 출력부(41b)를 포함한다. 이하에서, 도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 외부 보상부(41)의 외부 보상 방법을 개략적으로 설명한다.7 is a block diagram showing an external compensation unit of the timing controller. 8 is a flowchart illustrating an external compensation method according to an embodiment of the present invention. 7, the
첫 번째로, 표시패널(10)의 화소(P)들 각각의 데이터 라인(DL)에 접속된 전류 센싱 회로(ADC)를 이용하여 화소(P)들 각각의 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids)를 센싱한다. 전류 센싱 회로(ADC)의 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전류(Ids) 센싱 방법에 대하여는 도 4 및 도 5를 결부하여 상세히 설명하였다. 전류 센싱 회로(ADC)는 센싱된 전류를 디지털 데이터로 변환하고, 변환된 디지털 데이터를 외부 보상부(41)의 보상 데이터 산출부(41a)로 출력한다. (S1)First, a current-sensing circuit (ADC) connected to the data line DL of each of the pixels P of the
두 번째로, 보상 데이터 산출부(41a)는 전류 센싱 회로(ADC)로부터 입력된 디지털 데이터를 이용하여 외부 보상 데이터를 산출한다. 보상 데이터 산출부(41a)는 공지의 외부 보상 연산 방법들을 이용하여 입력된 디지털 데이터로부터 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)과 모빌리티 등이 보상된 외부 보상 데이터를 산출할 수 있다. (S2)Secondly, the compensation
세 번째로, 보상 디지털 비디오 데이터 출력부(41b)는 호스트 시스템(50)으로부터 디지털 비디오 데이터(RGB)를 입력받고, 보상 데이터 산출부(41a)로부터 외부 보상 데이터를 입력받는다. 보상 디지털 비디오 데이터 출력부(41b)는 입력된 디지털 비디오 데이터(RGB)에 외부 보상 데이터를 반영하여 보상 디지털 비디오 데이터(RGB')를 생성한다. 보상 디지털 비디오 데이터 출력부(41b)는 보상 디지털 비디오 데이터(RGB')를 데이터 구동부(20)로 출력한다. (S3)
Thirdly, the compensated digital video
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.
OLED: 유기발광다이오드 DT: 구동 TFT
T1: 제1 TFT T2: 제2 TFT
T3: 제3 TFT T4: 제4 TFT
T5: 제5 TFT S1: 제1 스위치
S2: 제2 스위치 Inv: 인버터
ADC: 전류 센싱 회로 C1: 제1 캐패시터
C2: 제2 캐패시터 N1: 제1 노드
N2: 제2 노드 N3: 제3 노드
SCAN1: 제1 스캔 신호 SCAN2: 제2 스캔 신호
SCAN3: 제3 스캔 신호 MG: 컨트롤 신호
EM: 발광 신호 SC: 스위칭 제어 신호
10: 표시패널 20: 데이터 구동부
30: 스캔 구동부 40: 타이밍 컨트롤러
41: 외부 보상부 41a: 외부 보상 데이터 산출부
41b: 보상 디지털 비디오 데이터 출력부
50: 호스트 시스템OLED: organic light emitting diode DT: driving TFT
T1: first TFT T2: second TFT
T3: third TFT T4: fourth TFT
T5: fifth TFT S1: first switch
S2: second switch Inv: inverter
ADC: current sensing circuit C1: first capacitor
C2: second capacitor N1: first node
N2: second node N3: third node
SCAN1: first scan signal SCAN2: second scan signal
SCAN3: Third scan signal MG: Control signal
EM: Emission signal SC: Switching control signal
10: display panel 20: data driver
30: scan driver 40: timing controller
41:
41b: Compensated digital video data output section
50: Host system
Claims (14)
상기 화소는,
게이트 전극이 제1 노드에 접속되고, 소스 전극이 제2 노드에 접속된 구동 TFT;
상기 구동 TFT의 드레인 전극에 접속된 애노드 전극과, 저전위 전압을 공급하는 저전위 전압원에 접속된 캐소드 전극을 포함하는 유기발광다이오드;
상기 제1 스캔 라인으로부터 공급되는 제1 스캔 신호에 응답하여 제3 노드와 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인을 접속시키는 제1 TFT;
상기 제2 스캔 라인으로부터 공급되는 제2 스캔 신호에 응답하여 상기 제1 노드와 데이터 라인을 접속시키는 제2 TFT;
상기 제3 스캔 라인으로부터 공급되는 제3 스캔 신호에 응답하여 기준 전압을 공급하는 기준 전압원과 상기 제1 노드를 접속시키는 제3 TFT;
상기 발광 라인으로부터 공급되는 발광 신호에 응답하여 고전위 전압을 공급하는 고전위 전압원과 상기 제2 노드를 접속시키는 제4 TFT;
상기 컨트롤 라인으로부터 공급되는 컨트롤 신호에 응답하여 상기 제2 노드와 제3 노드를 접속시키는 제5 TFT;
일측 전극이 상기 제3 노드에 접속되고, 타측 전극이 상기 고전위 전압원에 접속된 제1 캐패시터; 및
상기 일측 전극이 상기 제1 노드에 접속되고, 상기 타측 전극이 상기 제3 노드 사이에 접속된 제2 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.And a display panel in which a plurality of data lines, first to third scan lines, light emitting lines, and control lines are formed and a plurality of pixels formed in a matrix form are formed,
The pixel includes:
A driver TFT having a gate electrode connected to the first node and a source electrode connected to the second node;
An organic light emitting diode including an anode electrode connected to a drain electrode of the driving TFT, and a cathode electrode connected to a low potential voltage source for supplying a low potential voltage;
A first TFT connecting a third node and a data line supplying a data voltage in response to a first scan signal supplied from the first scan line;
A second TFT for connecting the data line to the first node in response to a second scan signal supplied from the second scan line;
A third TFT for connecting the first node with a reference voltage source for supplying a reference voltage in response to a third scan signal supplied from the third scan line;
A fourth TFT for connecting the second node to a high potential voltage source for supplying a high-potential voltage in response to the light-emitting signal supplied from the light-emitting line;
A fifth TFT for connecting the second node and the third node in response to a control signal supplied from the control line;
A first capacitor having one electrode connected to the third node and the other electrode connected to the high potential voltage source; And
And a second capacitor having one electrode connected to the first node and the other electrode connected between the third node.
상기 제1 노드를 상기 기준 전압으로 초기화하는 제1 기간 동안,
상기 제1 및 제2 스캔 신호는 게이트 하이 전압으로 발생하고,
상기 제3 스캔 신호, 컨트롤 신호, 및 발광 신호는 상기 게이트 하이 전압보다 낮은 게이트 로우 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.The method according to claim 1,
During a first period of initializing the first node to the reference voltage,
The first and second scan signals are generated at a gate high voltage,
Wherein the third scan signal, the control signal, and the emission signal are generated at a gate low voltage lower than the gate high voltage.
상기 제1 기간에 연속하고, 상기 구동 TFT의 문턱전압을 센싱하는 제2 기간 동안,
상기 제1 및 제2 스캔 신호와 발광 신호는 상기 게이트 하이 전압으로 발생하고,
상기 제3 스캔 신호 및 컨트롤 신호는 상기 게이트 로우 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.3. The method of claim 2,
During a second period following the first period and sensing a threshold voltage of the driving TFT,
The first and second scan signals and the emission signal are generated at the gate high voltage,
And the third scan signal and the control signal are generated at the gate low voltage.
상기 제2 기간에 연속하고, 상기 데이터 라인에 데이터 전압이 공급되는 제3 기간 동안,
상기 제1 및 제3 스캔 신호, 컨트롤 신호, 및 발광 신호는 상기 게이트 하이 전압으로 발생하고,
상기 제2 스캔 신호는 상기 게이트 로우 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.The method of claim 3,
During a third period in which the data voltage is supplied to the data line,
The first and third scan signals, the control signal, and the emission signal are generated at the gate high voltage,
And the second scan signal is generated at the gate-low voltage.
상기 제3 기간에 연속하고, 상기 유기발광다이오드가 발광하는 제4 기간 동안,
상기 제1 내지 제3 스캔 신호는 상기 게이트 하이 전압으로 발생하고,
상기 컨트롤 신호 및 발광 신호는 상기 게이트 로우 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.5. The method of claim 4,
During the fourth period in which the organic light emitting diode emits light,
The first to third scan signals are generated at the gate high voltage,
Wherein the control signal and the emission signal are generated at the gate low voltage.
상기 기준 전압과 고전위 전압의 차전압은 상기 구동 TFT의 문턱전압보다 큰 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.The method according to claim 1,
And the difference voltage between the reference voltage and the high-potential voltage is greater than a threshold voltage of the driving TFT.
상기 제1 TFT의 게이트 전극은 상기 제1 스캔 라인에 접속되고, 소스 전극은 상기 데이터 라인에 접속되며, 드레인 전극은 상기 제3 노드에 접속되고,
상기 제2 TFT의 게이트 전극은 상기 제2 스캔 라인에 접속되고, 소스 전극은 상기 데이터 라인에 접속되며, 드레인 전극은 상기 제1 노드에 접속되고,
상기 제3 TFT의 게이트 전극은 상기 제3 스캔 라인에 접속되고, 소스 전극은 상기 제1 노드에 접속되며, 드레인 전극은 상기 기준 전압원에 접속되고,
상기 제4 TFT의 게이트 전극은 상기 발광 라인에 접속되고, 소스 전극은 상기 고전위 전압원에 접속되며, 드레인 전극은 상기 제2 노드에 접속되고,
상기 제5 TFT의 게이트 전극은 상기 컨트롤 라인에 접속되고, 소스 전극은 상기 제2 노드에 접속되며, 드레인 전극은 상기 제3 노드에 접속되는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.The method according to claim 1,
A gate electrode of the first TFT is connected to the first scan line, a source electrode is connected to the data line, a drain electrode is connected to the third node,
A gate electrode of the second TFT is connected to the second scan line, a source electrode is connected to the data line, a drain electrode is connected to the first node,
A gate electrode of the third TFT is connected to the third scan line, a source electrode is connected to the first node, a drain electrode is connected to the reference voltage source,
A gate electrode of the fourth TFT is connected to the light emitting line, a source electrode is connected to the high potential voltage source, a drain electrode is connected to the second node,
The gate electrode of the fifth TFT is connected to the control line, the source electrode is connected to the second node, and the drain electrode is connected to the third node.
상기 표시패널에는 스위칭 제어 라인이 더 형성되고,
상기 표시패널은,
상기 스위칭 제어 라인의 스위칭 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 전압을 공급하는 소스 드라이브 IC와 상기 데이터 라인을 접속시키는 제1 스위치;
상기 스위칭 제어 신호를 반전시키는 인버터; 및
상기 인버터에 의해 반전된 스위칭 제어 신호에 응답하여 전류 센싱 회로와 상기 데이터 라인을 접속시키는 제2 스위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.6. The method of claim 5,
The display panel further includes a switching control line,
In the display panel,
A first switch for connecting the data line with a source drive IC for supplying the data voltage in response to a switching control signal of the switching control line;
An inverter for inverting the switching control signal; And
And a second switch for connecting the current sensing circuit and the data line in response to the switching control signal inverted by the inverter.
상기 스위칭 제어 신호는 제1 내지 제4 기간 동안 게이트 로우 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.9. The method of claim 8,
Wherein the switching control signal is generated as a gate-low voltage during the first to fourth periods.
휴지 기간인 제5 기간 동안,
상기 제1 내지 제3 스캔 신호, 컨트롤 신호, 및 발광 신호는 게이트 하이 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.The method according to claim 1,
During the fifth period of rest period,
Wherein the first to third scan signals, the control signal, and the emission signal are generated at a gate high voltage.
상기 제5 기간에 연속하고, 상기 구동 TFT의 드레인-소스간 전류를 센싱하는 제6 기간 동안,
상기 제1 스캔 신호와 발광 신호는 상기 게이트 하이 전압으로 발생하고,
상기 제3 스캔 신호 및 컨트롤 신호는 상기 게이트 하이 전압보다 낮은 게이트 로우 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.11. The method of claim 10,
During a sixth period subsequent to the fifth period and sensing the drain-source current of the driving TFT,
The first scan signal and the emission signal are generated at the gate high voltage,
And the third scan signal and the control signal are generated at a gate low voltage lower than the gate high voltage.
상기 제6 기간에 연속하고, 상기 휴지 기간인 제7 기간 동안,
상기 제1 내지 제3 스캔 신호, 컨트롤 신호, 및 발광 신호는 게이트 하이 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.12. The method of claim 11,
During the seventh period which is continuous to the sixth period and which is the rest period,
Wherein the first to third scan signals, the control signal, and the emission signal are generated at a gate high voltage.
상기 표시패널에는 스위칭 제어 라인이 더 형성되고,
상기 표시패널은,
상기 스위칭 제어 라인의 스위칭 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 전압을 공급하는 소스 드라이브 IC와 상기 데이터 라인을 접속시키는 제1 스위치;
상기 스위칭 제어 신호를 반전시키는 인버터; 및
상기 인버터에 의해 반전된 스위칭 제어 신호에 응답하여 전류 센싱 회로와 상기 데이터 라인을 접속시키는 제2 스위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.13. The method of claim 12,
The display panel further includes a switching control line,
In the display panel,
A first switch for connecting the data line with a source drive IC for supplying the data voltage in response to a switching control signal of the switching control line;
An inverter for inverting the switching control signal; And
And a second switch for connecting the current sensing circuit and the data line in response to the switching control signal inverted by the inverter.
상기 스위칭 제어 신호는 제1 내지 제4 기간 동안 게이트 하이 전압으로 발생하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치.14. The method of claim 13,
Wherein the switching control signal is generated at a gate high voltage during the first to fourth periods.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110132001A KR101964456B1 (en) | 2011-12-09 | 2011-12-09 | Organic light emitting diode display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110132001A KR101964456B1 (en) | 2011-12-09 | 2011-12-09 | Organic light emitting diode display device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130065232A KR20130065232A (en) | 2013-06-19 |
KR101964456B1 true KR101964456B1 (en) | 2019-04-02 |
Family
ID=48861906
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110132001A Active KR101964456B1 (en) | 2011-12-09 | 2011-12-09 | Organic light emitting diode display device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101964456B1 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102404485B1 (en) * | 2015-01-08 | 2022-06-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | Organic Light Emitting Display Device |
KR102586974B1 (en) * | 2018-12-11 | 2023-10-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | Display device |
KR102762838B1 (en) | 2019-10-28 | 2025-02-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | Light emitting display panel |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070146247A1 (en) | 2005-11-28 | 2007-06-28 | Huang Chien H | Organic light emitting display |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4281765B2 (en) * | 2006-08-09 | 2009-06-17 | セイコーエプソン株式会社 | Active matrix light emitting device, electronic device, and pixel driving method for active matrix light emitting device |
KR101495342B1 (en) * | 2007-12-03 | 2015-02-24 | 엘지디스플레이 주식회사 | Organic Light Emitting Diode Display |
-
2011
- 2011-12-09 KR KR1020110132001A patent/KR101964456B1/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070146247A1 (en) | 2005-11-28 | 2007-06-28 | Huang Chien H | Organic light emitting display |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130065232A (en) | 2013-06-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20111209 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20161206 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20111209 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20181017 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20190319 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20190326 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20190327 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220210 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230215 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
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|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20250218 Start annual number: 7 End annual number: 7 |