KR101918203B1 - Laser Processing Apparatus and Method - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 레이저 빔을 발진하는 레이저 발진부, 레이저 빔의 경로 및 크기를 조절 가능하도록 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 안내부, 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능하도록 안내부를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 가변 광학부, 기판 상에 레이저 빔의 초점을 형성할 수 있도록 가변 광학부를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 결상부를 포함하고, 결함의 크기에 따른 레이저 빔의 크기 조절 시 에너지의 손실을 줄일 수 있는 레이저 처리 장치 및 이에 적용되는 레이저 처리 방법이 제시된다.The present invention relates to a laser oscillator comprising a laser oscillating section for oscillating a laser beam, a guide section arranged in a traveling path of the laser beam so as to adjust the path and size of the laser beam, a laser beam passing through the guide section for shaping the laser beam into different shapes And an image forming unit arranged on a progress path of the laser beam passing through the variable optical unit so as to form a focal point of the laser beam on the substrate. In the adjustment of the size of the laser beam according to the size of the defect, A laser processing apparatus capable of reducing energy loss and a laser processing method applied thereto are proposed.
Description
본 발명은 레이처 처리 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 결함의 크기에 따른 레이저 빔의 크기 조절 시 에너지의 손실을 줄일 수 있는 레이저 처리 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a laser processing apparatus and method, and more particularly, to a laser processing apparatus and method capable of reducing energy loss in adjusting the size of a laser beam according to the size of a defect.
각종 표시장치는 기판 상에 형성된 전자 회로를 구비한다. 이들 전자 회로의 제조 중 전자 회로의 도전 라인 일부가 단락이나 중첩되는 결함이 야기될 수 있다. 예컨대 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Display) 또는 LED(Light Emitting Display) 등의 표시장치를 제조하는 공정 중에 기판 상에 형성되는 각 소자의 전극, 배선 또는 신호라인 등의 신호선이 일부 중첩되어 결함이 생성되는 경우가 있다. 기판 상에 결함이 생성되면, 기판 상에 형성된 화소가 올바른 화상을 형성할 수 없다. 따라서, 중첩된 신호선을 절단하여 상호 중첩되지 않도록 하는 공정이 수행되는데, 이를 리페어라고 한다.Various display devices include electronic circuits formed on a substrate. During manufacturing of these electronic circuits, some of the conductive lines of the electronic circuit may be short-circuited or overlapped. A signal line such as an electrode, a wiring, or a signal line of each device formed on a substrate during a process of manufacturing a display device such as an LCD (Liquid Crystal Display), an OLED (Organic Light Emitting Display) There is a case where a defect is generated due to overlapping. If a defect is generated on the substrate, the pixel formed on the substrate can not form a correct image. Therefore, a process of cutting the overlapping signal lines so as not to overlap each other is performed, which is referred to as repair.
한편, LCD, OLED 또는 LED 등의 표시장치의 경우 단위 면적당 구현되는 화소 수가 점점 많아짐에 따라 이들 화소를 구동하는 소자들이 작아지고 있고, 소자들을 연결하는 신호선들의 선폭이 얇아지고 있다. 이에 따라, 기판 상에 생성된 결함 역시 그 크기가 수㎛ 정도로 매우 작다.On the other hand, in the case of display devices such as LCDs, OLEDs, and LEDs, as the number of pixels realized per unit area increases, the number of elements driving these pixels becomes smaller, and the line width of signal lines connecting the elements becomes thinner. Accordingly, the defects generated on the substrate are also very small, on the order of several micrometers.
즉, 수㎛ 정도의 작은 크기로 형성된 결함을 리페어하기 위해서는 기판 상의 결함에 조사되는 레이저 빔의 크기도 수㎛ 정도로 작아져야 한다. 통상적으로 수㎛ 정도로 작은 크기의 결함을 리페어하기 위하여, 예컨대 수㎜ 정도의 크기로 발진된 레이저 빔을 슬릿에 통과시켜 백 내지 수백㎛의 크기로 조절한 후, 이를 튜브 렌즈로 집속하며 수십 배율을 가진 대물 렌즈에 통과시킨다. 레이저 빔은 대물 렌즈를 통과한 후 기판 상의 결함에 수㎛ 정도의 크기로 결상되어 결함을 리페어한다.That is, in order to repair defects formed in a small size of about several micrometers, the size of the laser beam irradiated to the defects on the substrate must be reduced to about several micrometers. In order to repair defects of a size as small as several micrometers, a laser beam oscillated to a size of, for example, several millimeters is passed through a slit and adjusted to a size of hundreds to several hundreds of micrometers, Pass through the objective lens. After passing through the objective lens, the laser beam is focused on defects on the substrate to a size of about several micrometers to repair defects.
이때, 수㎜의 레이저 빔이 백 내지 수백㎛ 정도로 작은 크기의 슬릿을 통과하며 레이저 빔이 회절되고, 회절에 의해 레이저 빔이 퍼지면서 결상 시 상의 형태가 유지되지 않는 문제점이 있다.At this time, a laser beam of several millimeters passes through a slit having a size as small as hundreds to several hundreds of micrometers, the laser beam is diffracted, and the laser beam is spread by diffraction, so that the shape of the phase is not maintained during image formation.
또한, 레이저 빔의 크기가 수㎜인 것에 반하여 슬릿을 통과하는 레이저 빔의 크기가 백 내지 수백㎛ 정도이고, 이에 상당량의 에너지가 결함의 리페어에 사용되지 못하고 슬릿에서 손실되는 문제점이 있다.Also, the size of the laser beam passing through the slit is about one hundred to several hundreds of microns, whereas a considerable amount of energy can not be used for repairing the defect, and the laser beam is lost at the slit.
본 발명의 배경이 되는 기술은 하기의 특허문헌에 개시되어 있다.Techniques that serve as the background of the present invention are disclosed in the following patent documents.
본 발명은 레이저 빔의 크기 조절 시 에너지의 손실을 줄일 수 있는 레이저 처리 장치 및 방법을 제공한다.The present invention provides a laser processing apparatus and method capable of reducing energy loss in adjusting the size of a laser beam.
본 발명은 하나의 장치에서 결상 광학계와 초점 광학계를 선택적으로 사용하여 레이저 빔의 크기를 조절할 수 있는 레이저 처리 장치 및 방법을 제공한다.The present invention provides a laser processing apparatus and method capable of adjusting the size of a laser beam by selectively using an imaging optical system and a focusing optical system in one apparatus.
본 발명의 실시 형태에 따른 레이저 처리 장치는, 레이저 빔을 이용하여 기판을 처리 가능한 장치로서, 레이저 빔을 발진하는 레이저 발진부; 레이저 빔의 경로 및 크기를 조절 가능하도록 상기 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 안내부; 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능하도록 상기 안내부를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 가변 광학부; 및 기판 상에 레이저 빔의 초점을 형성할 수 있도록 상기 가변 광학부를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 결상부;를 포함한다.A laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention is an apparatus capable of processing a substrate by using a laser beam, the apparatus comprising: a laser oscillation section for oscillating a laser beam; A guide disposed in a path of the laser beam so as to adjust the path and size of the laser beam; A variable optical part disposed in a traveling path of the laser beam passing through the guide part so as to allow the laser beam to be shaped in different shapes; And an imaging element disposed on a path of the laser beam that has passed through the variable optical portion so as to form a focus of the laser beam on the substrate.
상기 안내부는, 상기 레이저 발진부에서 발진된 레이저 빔을 상기 가변 광학부로 안내하도록 배치되는 레이저 미러; 상기 레이저 미러에 의해 안내된 레이저 빔의 크기를 조절 가능하도록 배치되는 슬릿;을 포함할 수 있다.Wherein the guide unit comprises: a laser mirror arranged to guide a laser beam emitted from the laser oscillation unit to the variable optical unit; And a slit arranged to adjust the size of the laser beam guided by the laser mirror.
상기 가변 광학부는, 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 복수의 광학계; 및 레이저 빔의 진행 경로에 상기 복수의 광학계를 선택적으로 위치시키는 구동기;를 포함할 수 있다.Wherein the variable optical unit includes: a plurality of optical systems capable of shaping laser beams into different shapes; And a driver for selectively positioning the plurality of optical systems in the progress path of the laser beam.
상기 복수의 광학계는, 경로 및 크기가 조절된 레이저 빔을 집속빔으로 정형 가능하게 형성되는 제1광학계; 및 경로가 조절된 레이저 빔을 평행빔으로 정형하며 크기를 조절 가능하게 형성되는 제2광학계;를 포함할 수 있다.The plurality of optical systems includes a first optical system formed to be capable of shaping a laser beam whose path and size are adjusted to a focusing beam; And a second optical system configured to adjust the path-adjusted laser beam into a parallel beam and to be adjustable in size.
상기 제1광학계는 튜브 렌즈부를 포함하고, 상기 제2광학계는 콜리메이트 렌즈부를 포함할 수 있다.The first optical system may include a tube lens portion, and the second optical system may include a collimator lens portion.
상기 가변 광학부는, 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 가변 광학계;를 포함할 수 있다.The variable optical unit may include a variable optical system capable of shaping the laser beam into different shapes.
상기 가변 광학계는, 레이저 빔을 집속빔으로 정형 가능하게 형성되고, 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 제1렌즈부; 상기 제1렌즈부로 향하는 레이저 빔의 진행 경로상에 위치하여 상기 제1렌즈부와 함께 콜리메이트 렌즈부를 형성 가능한 제2렌즈부; 및 상기 제1렌즈부로 향하는 레이저 빔의 진행 경로상에 상기 제2렌즈부를 선택적으로 위치시키는 구동기;를 포함할 수 있다.Wherein the variable optical system includes: a first lens unit that is formed to be capable of shaping a laser beam into a convergent beam, and that is disposed in a traveling path of the laser beam; A second lens unit positioned on a traveling path of the laser beam toward the first lens unit and capable of forming a collimator lens unit together with the first lens unit; And a driver for selectively positioning the second lens unit on the path of the laser beam directed toward the first lens unit.
상기 제1렌즈부는 튜브 렌즈부를 포함하고, 상기 제2렌즈부는 오목 렌즈부를 포함할 수 있다.The first lens unit may include a tube lens unit, and the second lens unit may include a concave lens unit.
본 발명의 실시 형태에 따른 레이저 처리 방법은, 레이저 빔을 발진하는 과정; 상기 레이저 빔의 경로를 조절하는 과정; 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 가변 광학부를 이용하여 상기 레이저 빔을 정형하는 과정; 및 상기 레이저 빔을 기판에 조사하여 상기 기판의 결함을 처리하는 과정;을 포함한다.A laser processing method according to an embodiment of the present invention includes: a process of oscillating a laser beam; Adjusting a path of the laser beam; A step of shaping the laser beam using a variable optical part capable of shaping the laser beam into different shapes; And irradiating the substrate with the laser beam to process defects of the substrate.
상기 레이저 빔의 경로를 조절하는 과정 및 상기 레이저 빔을 정형하는 과정의 사이에 상기 레이저 빔의 크기를 조절하는 과정을 수행하고, 상기 레이저 빔을 정형하는 과정은, 경로 및 크기가 조절된 레이저 빔을 집속빔으로 정형하는 과정을 포함할 수 있다.A step of adjusting a size of the laser beam during a process of adjusting the path of the laser beam and a process of shaping the laser beam, and a step of shaping the laser beam, To form a focused beam.
상기 레이저 빔을 정형하는 과정은, 경로가 조절된 레이저 빔을 평행빔으로 정형하면서 크기를 조절하는 과정;을 포함할 수 있다.The step of shaping the laser beam may include a step of shaping the path-adjusted laser beam into a parallel beam and adjusting its size.
본 발명의 실시 형태들에 따르면, 기판 상에 형성되는 다양한 크기의 결함을 하나의 장치로 리페어함에 있어, 결함의 크기에 따라 결상 광학계와 초점 광학계를 선택적으로 사용하여 레이저 빔의 크기를 조절할 수 있다. 이때, 미세한 크기의 결함에 대응하여 레이저 빔의 크기를 수㎛의 크기로 줄일 때 초점 광학계를 이용하여 레이저 빔의 크기를 조절함에 따라 에너지의 손실을 현저하게 줄일 수 있다. 또한, 상대적으로 큰 크기의 결함에 대응하여 레이저 빔의 크기를 수십㎛ 또는 그 이상의 크기로 정형할 때 결상 광학계를 이용하여 레이저 빔의 크기를 조절함에 따라 레이저 빔의 크기를 쉽게 조절할 수 있고, 다양한 크기의 결함을 효율적으로 리페어할 수 있다. 따라서, 다양한 크기의 결함을 에너지의 손실이나 낭비 없이 하나의 장치로 원활하게 리페어할 수 있다.According to the embodiments of the present invention, in repairing defects of various sizes formed on a substrate with one apparatus, the size of the laser beam can be adjusted by selectively using the focusing optical system and the focusing optical system depending on the size of the defect . At this time, when the size of the laser beam is reduced to several micrometers corresponding to the small size defect, energy loss can be remarkably reduced by adjusting the size of the laser beam using the focal optical system. Further, when the size of the laser beam is adjusted to a size of several tens of micrometers or more corresponding to a relatively large size defect, the size of the laser beam can be easily adjusted by adjusting the size of the laser beam using the imaging optical system, Size defects can be efficiently repaired. Thus, defects of various sizes can be seamlessly repaired to one device without loss of energy or waste.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 개략도이다.
도 3은 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치의 개략도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 제1 작동도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 제2 작동도이다.
도 6은 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치의 제1 작동도이다.
도 7은 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치의 제2 작동도이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 빔의 결상 형태의 사진이다.
도 9는 본 발명의 비교 예에 따른 슬릿의 사진이다.1 is a block diagram of a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram of a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a schematic view of a laser processing apparatus according to a modification of the present invention.
4 is a first operation diagram of a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 is a second operation diagram of the laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention.
6 is a first operation diagram of a laser processing apparatus according to a modification of the present invention.
7 is a second operational diagram of a laser processing apparatus according to a modification of the present invention.
FIG. 8 is a photograph of an image forming form of a laser beam according to an embodiment of the present invention.
9 is a photograph of a slit according to a comparative example of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니고, 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이다. 단지 본 발명의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 발명의 실시 예를 설명하기 위하여 도면은 과장될 수 있고, 도면상의 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described below, but may be embodied in various forms. It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description of the present invention are exemplary and explanatory and are intended to provide further explanation of the invention as claimed. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The drawings may be exaggerated for purposes of describing embodiments of the present invention, wherein like reference numerals refer to like elements throughout.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치를 나타내는 블록도이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 개략도이며, 도 3은 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치의 개략도이다.FIG. 1 is a block diagram showing a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram of a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram of a laser processing apparatus according to a modification of the present invention Fig.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 제1 작동도이고, 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치의 제2 작동도이고, 도 6은 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치의 제1 작동도이며, 도 7은 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치의 제2 작동도이다.FIG. 4 is a first operational view of the laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention, FIG. 5 is a second operational view of the laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 7 is a second operational diagram of a laser processing apparatus according to a modification of the present invention. FIG.
도 8의 (a) 및 (b)는 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 빔의 각기 다른 결상 형태를 촬영한 사진이고, 도 9의 (a) 및 (b)는 본 발명의 비교 예에 따른 슬릿에서 레이저 빔이 회절되는 현상을 설명하기 위한 사진이다.FIGS. 8A and 8B are photographs of different imaging forms of the laser beam according to the embodiment of the present invention, and FIGS. 9A and 9B are photographs of slits In which the laser beam is diffracted.
도 1 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치는, 레이저 빔을 발진하는 레이저 발진부(100), 레이저 빔의 경로 및 크기를 조절 가능하도록 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 안내부(200), 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능하도록 안내부(200)를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 가변 광학부(300), 기판(10) 상에 레이저 빔의 초점을 형성할 수 있도록 가변 광학부(300)를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 결상부(400)를 포함한다.1 to 7, a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention includes a
본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치는, 기판(10)의 영상을 획득하도록 가변 광학부(300)에서 결상부(400)를 향하는 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 관찰부(500), 결상부(400)를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되어 기판(10)을 지지하는 지지부(600) 예컨대 스테이지를 더 포함할 수 있다.The laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention includes an
본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 장치는, 기판(10)의 결함(defect)을 리페어하는 장치일 수 있고, 기판(10)에 다양한 크기의 레이저 빔을 조사하여 기판(10)을 각종 방식으로 가공 또는 처리하는 장치일 수 있으며, 이때, 수㎛ 정도의 미세한 크기로 레이저 빔을 조사하여 기판(10)의 리페어를 포함한 각종 처리 및 가공이 가능한 장치일 수 있다.The laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention may be a device for repairing defects of the
기판(10)은 전자 소자나 도전성 패턴 라인 등이 제조되는 공정이 진행중이거나 종료된 각종 판일 수 있다. 예컨대 기판(10)은 OLED가 제조되는 공정이 진행 중인 TFT(Thin Film Transistor) 기판일 수 있고, 일면에 게이트 라인, 데이터 라인, 화소 및 박막 트렌지스터 등이 구비될 수 있다. 물론, 기판(10)은 각종 표시장치가 제조되는 공정이 진행 중이거나 종료된 다양한 기판일 수 있다. 기판(10)은 지지부(600)에 지지될 수 있다. 기판(10)과 결상부(400)는 서로 상대 이동이 가능하도록 마련될 수 있다. 예컨대 지지부(600)가 이동 가능하게 설치되거나, 결상부(400)가 겐트리(미도시) 등에 의해 이동 가능하도록 설치될 수 있다. 기판(10)은 레이저 빔에 의하여 다양한 방식으로 처리될 수 있다.The
레이저 발진부(100)는 레이저 빔(L)을 발진할 수 있다. 레이저 발진부(100)는 하나 또는 복수의 소스를 이용하여 파장이 각기 다른 레이저 빔을 발진할 수 있고, 예컨대 1064㎚, 532㎚, 355㎚ 및 266㎚ 파장의 레이저 빔을 발진할 수 있으며, 이때 발진되는 레이저 빔은 기판(10)의 가공 또는 처리를 위한 펨토초레이저(Femto Second Laser)나 피코초레이저(Pico Second Laser) 등의 극 초단 레이저 빔일 수 있다. 레이저 발진부(100)가 레이저 빔을 발진하는 방식 및 레이저 발진부(100)에서 발진되는 레이저 빔의 파장은 상기한 바 외에 다양할 수 있다. 한편, 레이저 발진부(100)의 끝단에 플랫탑 렌즈(미도시)가 설치될 수도 있고, 이를 이용하여 레이저 빔의 에너지를 상대적으로 고르게 분포시킬 수 있다.The
안내부(200)는 레이저 빔의 경로 및 크기를 조절 가능하도록 레이저 빔의 진행 경로에 배치된다. 안내부(200)는 레이저 발진부(100)에서 발진된 레이저 빔을 가변 광학부(300)로 안내하도록 배치되는 레이저 미러(210), 레이저 미러(210)에 의해 안내된 레이저 빔의 크기를 조절 가능하도록 배치되는 슬릿(220)을 포함할 수 있다.The
레이저 미러(210)는 레이저 빔을 반사시켜 진행 경로를 바꿔주는 역할을 한다. 레이저 미러(210)는 다양한 개수로 구비되어 레이저 발진부(100)에서 발진되는 레이저 빔을 슬릿(220)으로 안내할 수 있는 소정의 위치에 배치될 수 있다. 레이저 미러(210)의 개수 및 배치 위치는 특별히 한정하지 않는다.The
슬릿(220)은 레이저 미러(210)에서 반사되어 가변 광학계(300)로 향하는 레이저 빔의 진행 경로에 배치되어 레이저 빔의 크기 및 형태를 조절할 수 있다. 즉, 슬릿(220)은 투과되는 레이저 빔의 크기를 조절할 수 있다.The
한편, 레이저 발진부(100)에서 발진되는 레이저 빔은 수㎜의 크기일 수 있으며, 이를 슬릿(220)에서 원하는 크기로 조절하는데, 예컨대 백 내지 수백㎛의 크기로 조절하는 경우, 레이저 빔의 에너지 손실이 많다. 특히, 레이저 빔이 슬릿(220)에서 약 150㎛ 정도의 크기로 조절되는 경우 슬릿(220)에서 레이저 빔의 회절이 발생될 수 있다.Meanwhile, the laser beam oscillated in the
따라서, 본 발명의 실시 예에서는 기판(10) 상에 형성하고자 하는 레이저 빔의 초점 크기에 대응하여 기판(10) 상에 형성하고자 하는 레이저 빔의 초점 크기가 수㎛ 정도의 작은 크기이면 슬릿(220)을 완전 개방하여 레이저 빔을 그대로 통과시킨다. 이때, 레이저 빔은 가변 광학부(300)에서 평행빔으로 정형되면서 크기가 백 내지 수백㎛의 크기로 조절된 후, 결상부(400)로 안내된다. 이에 레이저 빔의 에너지 손실이 방지되고 회절이 방지될 수 있다. 또한, 이 경우, 상대적으로 작은 크기의 결함을 정밀하게 리페어할 수 있다.Therefore, in the embodiment of the present invention, if the focal length of the laser beam to be formed on the
또한, 본 발명의 실시 예에서는 기판(10) 상에 형성하고자 하는 레이저 빔의 초점 크기에 대응하여 기판(10) 상에 형성하고자 하는 레이저 빔의 초점 크기가 수십㎛ 이상이면, 슬릿(220)에서 레이저 빔의 크기를 조절한 후, 가변 광학부(300)로 안내하고, 가변 광학부(300)에서 레이저 빔을 집속빔으로 정형한 후, 결상부(400)로 안내한다. 이 경우, 레이저 빔의 크기 조절 및 정형이 용이할 수 있어, 예컨대 상대적으로 큰 크기의 결함을 용이하게 리페어할 수 있다.Further, in the embodiment of the present invention, when the focal size of the laser beam to be formed on the
한편, 안내부(200)는 레이저 빔의 진행 경로에 위치하도록 레이저 미러(210)와 슬릿(220)의 사이에 배치되는 슬릿 관찰용 빔 스플리터(230), 슬릿(220)의 이미지를 관찰 가능한 조명을 제공하는 슬릿 관찰용 조명기(240)를 포함할 수 있다.The guiding
슬릿 관찰용 조명기(240)에서 슬릿 관찰용 빔 스플리터(230)를 향하도록 슬릿 관찰용 조명이 생성되고, 슬릿 관찰용 조명은 슬릿 관찰용 빔 스플리터(230)에서 반사되어 슬릿(220)으로 유도된다. 이후, 슬릿 관찰용 CCD 카메라(미도시)로 슬릿(220)이 결상부(400)의 후술하는 대물 렌즈(410)에 잘 정렬되었는지를 확인할 수 있고, 정렬이 틀어진 경우, 슬릿(220)이 대물 렌즈(410)에 정렬되도록 정렬을 조절할 수 있다.Slit observation illumination is generated from the
슬릿 관찰용 빔 스플리터(230)는 이동 가능하게 설치되어, 기판(10)의 처리 이전 또는 이후에 레이저 빔의 진행 경로에 배치되며, 기판(10)의 처리 중에 레이저 빔의 진행 경로에서 제거될 수 있다.The slit-
가변 광학부(300)는 레이저 빔(L)을 각기 다른 형태로 정형 가능하도록 안내부(200)를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치될 수 있다. 가변 광학부(300)는 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 복수의 광학계 및 레이저 빔의 진행 경로에 상기 복수의 광학계를 선택적으로 위치시키는 구동기(미도시)를 포함할 수 있다. 복수의 광학계는 경로 및 크기가 조절된 레이저 빔을 집속빔으로 정형 가능하게 형성되는 제1광학계(310) 및 경로가 조절된 레이저 빔을 평행빔으로 정형하며 크기를 조절 가능하게 형성되는 제2광학계(320)를 포함할 수 있다.The variable
제1광학계(310)는 튜브 렌즈부(311)를 포함하고, 슬릿(220)을 통과하면서 크기 및 형상이 조절 및 결정된 레이저 빔의 형상을 고정시키면서 집속빔으로 정형할 수 있다. 이때, 집속빔은 진행 방향으로 진행하며 소정 각도(θ)로 모아지는 형태의 레이저 빔을 의미한다. 슬릿(220), 제1광학계(310) 및 결상부(400)의 대물 렌즈(410)를 포함하여 결상 광학계라 한다. 결상 광학계는 기판(10)에 형성되는 레이저 빔의 초점 크기를 슬릿(220)을 이용하여 조절할 수 있다. 본 발명의 실시 예에서는 기판(10)에 형성되는 레이저 빔의 초점 크기를 수십㎛ 이상의 크기로 조절할 때 결상 광학계를 이용하여 기판(10)을 효율적으로 가공 또는 처리할 수 있다.The first
제2광학계(320)는 콜리메이트 렌즈부를 포함할 수 있다. 이때, 콜리메이트 렌즈부는 오목 렌즈부(322) 및 튜브 렌즈부(321)의 조합으로 구성될 수 있다. 제2광학계(320)는 안내부(200)를 통과하면서 경로가 조절된 레이저 빔을 콜리메이트하여 평행빔의 형상으로 정형하면서 레이저 빔의 크기를 백 내지 수백㎛의 크기로 조절할 수 있다. 이에, 에너지의 손실 없이 레이저 빔을 대물 렌즈(410)로 안내할 수 있다. 제2광학계(320)와 대물 렌즈(410)를 포함하여 초점 광학계라 한다. 초점 광학계는 수㎛의 미세한 크기로 레이저 빔의 초점을 형성할 때 에너지 손실을 방지할 수 있고, 레이저 빔의 크기 조절 시 회절을 원천 방지할 수 있다. 이에, 기판(10)의 미세한 처리 또는 가공이 가능하다. 한편, 제2광학계(320)로 빔 익스펜더의 구조가 사용될 수도 있다.The second
제1광학계(310) 및 제2광학계(320)는 구동기에 의하여 이동하면서 레이저 빔의 진행 경로에 선택적으로 배치되며, 이를 위한 구동기의 구성 및 방식은 특별히 한정하지 않는다.The first
한편, 본 발명의 변형 예에 따른 레이저 처리 장치는 가변 광학부(300)로서, 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 가변 광학계(330)를 포함한다. 가변 광학계(330)는 레이저 빔을 집속빔으로 정형 가능하게 형성되고, 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 제1렌즈부, 제1렌즈부로 향하는 레이저 빔의 진행 경로상에 위치하여 제1렌즈부와 함께 콜리메이트 렌즈부를 형성 가능한 제2렌즈부, 제1렌즈부로 향하는 레이저 빔의 진행 경로상에 제2렌즈부를 선택적으로 위치시키는 구동기(미도시)를 포함할 수 있다.Meanwhile, the laser processing apparatus according to a modification of the present invention includes a variable
이때, 제1렌즈부는 튜브 렌즈부(331)를 포함할 수 있고, 제2렌즈부는 오목 렌즈부(332)를 포함할 수 있다. 물론, 콜리메이트 렌즈부를 구성하기 위한 각 렌즈부의 구성은 이 외에도 다양할 수 있다.At this time, the first lens unit may include a
본 발명의 변형 예의 경우, 슬릿(220), 튜브 렌즈부(331) 및 대물 렌즈(410)를 포함하여 결상 광학계라 한다. 변형 예의 결상 광학계가 가진 기술적인 특징은 실시 예의 결상 광학계가 가진 기술적인 특징에 대응한다.In the modified example of the present invention, it is referred to as an imaging optical system including a
예컨대 가변 광학계(330)가 결상 광학계로 작용할 경우 제2렌즈부를 레이저 빔의 진행 경로에서 제거하고, 튜브 렌즈부(331)을 이용하여 슬릿(220)을 통과하면서 크기 및 형상이 조절 및 결정된 레이저 빔의 형상을 고정시키면서 집속빔으로 정형할 수 있다. 기판(10)에 형성되는 레이저 빔의 초점 크기를 수십㎛ 이상의 크기로 조절할 때 결상 광학계를 이용하여 기판(10)을 효율적으로 가공 또는 처리할 수 있다.For example, when the variable
본 발명의 변형 예의 경우, 오목 렌즈부(332), 튜브 렌즈부(331) 및 대물 렌즈(410)를 포함하여 초점 광학계라 한다. 변형 예의 초점 광학계가 가지는 기술적인 특징은 실시 예의 초점 광학계가 가지는 기술적인 특징에 대응한다.In a modification of the present invention, a
예컨대 가변 광학계(330)가 초점 광학계로 작용할 경우 제2렌즈부를 레이저 빔의 진행 경로에 위치시켜 콜리메이트 렌즈부를 구성하고, 콜리메이트 렌즈부를 이용하여 안내부(200)를 통과하면서 경로가 조절된 레이저 빔을 콜리메이트하여 평행빔의 형상으로 정형하면서 레이저 빔의 크기를 백 내지 수백㎛의 크기로 조절할 수 있다. 이에, 에너지의 손실 없이 레이저 빔을 대물 렌즈(410)로 안내할 수 있으며, 대물 렌즈(410)에서 수㎛의 크기로 레이저 빔의 초점을 형성하여 미세한 크기로 기판(10)을 가공 또는 처리할 수 있고, 레이저 빔의 크기 조절 시 회절을 원천 방지할 수 있다.For example, when the variable
한편, 제2렌즈부를 이동시켜 레이저 빔의 진행 경로에 선택적으로 위치시키기 위한 구동기의 구성 및 방식은 특별히 한정하지 않는다.On the other hand, the configuration and the method of the actuator for moving the second lens unit to selectively position the laser beam in the path of the laser beam are not particularly limited.
결상부(400)는 기판 상에 레이저 빔의 초점을 형성하도록 가변 광학부(300)를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치된다. 결상부(400)는 대물 렌즈(410), 제1빔 스플리터(420), 제2빔 스플리터(430), 자동초점기(440), 반사조명 미러(450) 및 반사조명기(460)를 포함할 수 있다.The
대물 렌즈(410)는 레이저 빔이 높은 에너지 밀도를 갖도록 압축하여 이를 기판(10)에 조사하고, 레이저 빔의 초점을 기판(10)에 형성한다. 즉, 대물 렌즈(410)는 레이저 빔을 집속하여 기판(10)에 조사할 수 있다. 대물 렌즈(410)는 서로 다른 배율을 가지는 복수의 렌즈를 선택적으로 사용하여 레이저 빔의 배율을 수 내지 수십배의 배율로 조절할 수 있다. 예컨대 대물 렌즈(410)는 오십 배율로 레이저 빔을 집속할 수 있으나, 이를 특별히 한정하지 않는다. 기판(10) 상에 형성된 레이저 빔의 초점에 의해 기판(10)이 처리될 수 있다.The
반사조명기(460)는 기판(10)을 관찰하기 위한 조명을 생성하고, 반사조명 미러(450)는 기판(10)을 관찰하기 위한 조명을 제1빔 스플리터(420)로 안내한다. 제1빔 스플리터(420)는 기판(10)을 처리하기 위한 레이저 빔을 통과시키며, 기판(10)을 관찰하기 위한 조명을 반사시켜 기판(10)으로 안내한다. 자동초점기(440)는 제1빔 스플리터(420)와 제2빔 스플리터(430)에 의해 안내되는 기판(10)의 영상을 받아서 대물 렌즈(410)의 초점을 보정하는 역할을 한다. 이때, 자동초점기(440)가 대물 렌즈(410)의 초점을 보정하는 방식을 특별히 한정하지 않는다.The
한편, 제1빔 스플리터(420)는 기판(10)에서 반사되는 조명을 통과시킬 수 있고, 제2빔 스플리터(430)은 기판(10)에서 반사되는 조명을 통과시키면서 기판(10)을 관찰하기 위한 조명을 통과시킬 수 있다.On the other hand, the
관찰부(500)는 CCD 카메라(510), 컷오프필터(520), 이미지 미러(530), 이미지 튜브 렌즈(540), 적외선 필터(550) 및 제3빔 스플리터(560)를 포함할 수 있다.The
기판(10)을 관찰하기 위한 조명은 반사조명기(460)에서 생성된 후, 반사조명 미러(450), 제2빔 스플리터(430) 및 제1빔 스플리터(420)을 거쳐 기판(10)에 도달한다. 기판(10)에서 반사된 조명은 제1빔 스플리터(420)를 통과한 후 제3빔 스플리터(560)에서 적외선 필터(550)로 안내되고, 이후, 이미지 튜브 렌즈(540), 이미지 미러(530) 및 컷오프필터(520)를 거쳐 CCD 카메라(510)에 도달한 후 영상으로 결상될 수 있다. 이에, 기판(10)의 처리 과정을 실시간으로 관찰할 수 있다. 즉, 영상으로 보면서 기판(10)을 처리할 수 있다.The illumination for observing the
여기서, 컷오프필터(520)는 CCD 카메라(510)로 들어올 수 있는 레이저 빔을 커팅하는 역할을 하고, 이미지 튜브 렌즈(540)는 대물 렌즈(410)를 통하여 전달받은 조명에 의한 기판(10)의 이미지를 일정한 위치에 결상시켜주는 역할을 한다. 제3빔 스플리터(560)는 기판(10)의 처리를 위한 레이저 빔을 통과시킬 수 있다.Here, the
본 발명의 실시 예에 따른 레이저 처리 방법은, 레이저 빔을 발진하는 과정, 레이저 빔의 경로를 조절하는 과정, 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 가변 광학부를 이용하여 상기 레이저 빔을 정형하는 과정, 레이저 빔을 기판에 조사하여 기판의 결함을 처리하는 과정을 포함한다.A laser processing method according to an exemplary embodiment of the present invention includes a process of oscillating a laser beam, a process of adjusting a path of a laser beam, a process of shaping the laser beam using a variable optical part capable of shaping the laser beam into different shapes, And irradiating the substrate with a laser beam to process defects of the substrate.
우선, 레이저 빔을 발진한다. 예컨대 레이저 발진부(100)에서 원하는 파장의 레이저 빔을 발진한다. 이후, 레이저 미러(210)를 이용하여 레이저 빔의 경로를 조절한다. 이때, 레이저 빔의 크기(D0)는 수㎜일 수 있고, 예컨대 2 내지 3㎜일 수 있다.First, the laser beam is oscillated. The
이후, 도 4 및 도 6을 참조하면, 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 가변 광학부를 이용하여 상기 레이저 빔을 정형하는데, 이때, 기판(10)에 형성하고자 하는 레이저 빔(L)의 초점 크기가 예컨대 수십㎛ 이상의 크기일 경우, 레이저 빔의 경로를 조절하는 과정 및 레이저 빔을 정형하는 과정의 사이에 슬릿(220)을 이용하여 레이저 빔(L)의 크기를 조절할 수 있다. 이때, 레이저 빔의 크기(D1)는 수백㎛의 크기일 수 있다.4 and 6, the laser beam is shaped using a variable optical part capable of shaping the laser beam into different shapes. At this time, the focal size of the laser beam L to be formed on the
이후, 레이저 빔을 가변 광학부(300)에 통과시켜 정형한다. 예컨대 경로 및 크기가 조절된 레이저 빔을 집속빔으로 정형한다. 이때, 레이저 빔의 크기(D3)는 레이저 빔이 소정의 각도(θ)로 점차 모아짐에 따라 작아질 수 있다.Thereafter, the laser beam is passed through the variable
이후, 레이저 빔을 대물 렌즈(410)에 통과시켜 수십 배율로 압축하여 기판에 조사한다. 이때의 레이저 빔 초점 크기(D)는 수십㎛ 이상일 수 있다. 이때의 초점 형상은 도 8의 (a)와 같은 형상일 수 있다.Thereafter, the laser beam is passed through the
도 5 및 도 7을 참조하면, 기판(10)에 형성하고자 하는 레이저 빔(L)의 초점 크기가 예컨대 수㎛ 의 크기일 경우, 슬릿(220)을 완전 개방하여 경로가 조절된 레이저 빔을 크기 조절 없이 원형 빔의 형태로 통과시킨 후, 가변 광학부(330)에 통과시켜 평행빔으로 정형하면서 크기를 조절한다. 이때, 슬릿(220)을 통과하기 전의 레이저 빔의 크기(D0)와 슬릿(220)을 통과한 후의 레이저 빔의 크기(D1)가 같을 수 있고, 가변 광학부(330)를 통과하여 크기가 조절된 평행빔의 크기(D2)는 예컨대 백 내지 수백㎛일 수 있다.5 and 7, when the focal point size of the laser beam L to be formed on the
이후, 레이저 빔을 대물 렌즈(410)에 통과시켜 수십 배율로 압축하여 기판에 조사한다. 이때의 레이저 빔 초점 크기(D)는 수㎛일 수 있고, 예컨대 5 내지 3㎛ 또는 1㎛ 이하일 수 있다. 이때의 초점 형상은 도 8의 (b)와 같은 스팟 형상일 수 있다.Thereafter, the laser beam is passed through the
이후, 레이저 빔을 기판(10)에 조사하여 기판(10)의 결함을 처리한다. 상술한 것처럼 본 발명의 실시 예에서 레이저 처리 장치를 이용한 레이저 처리 방법을 예시하였으나, 레이저 처리 장치를 이용한 기판의 처리 방식은 다양할 수 있다.Then, the
도 9의 (a)를 보면, 슬릿을 통과하는 레이저 빔의 크기가 수백㎛ 이상의 큰 크기일 때는 회절 현상 없이 잘 통과하는 것을 볼 수 있고, 도 9의 (b)를 보면 슬릿을 통과하는 레이저 빔의 크기가 약 백 내지 이백㎛ 정도의 크기로 통과할 때 회절이 발생하는 것을 확인할 수 있다.9 (a), when the size of the laser beam passing through the slit is a large size of several hundreds of micrometers or more, it can be seen that the laser beam passes well without diffraction. In FIG. 9 (b) The diffraction occurs when the size of the light beam passes through a size of about one hundred to two hundred micrometers.
따라서, 본 발명의 상술한 실시 예에서는 기판에 형성하고자 하는 레이저 빔의 초점 크기에 대응하여 가변 광학부에 레이저 빔의 크기를 크게 하여 전달해야 하는 경우, 결상 광학계를 사용한다. 이에 레이저 빔의 초점 크기 및 형상을 원하는 대로 조절하면서 기판을 처리할 수 있다.Therefore, in the above-described embodiment of the present invention, when the size of the laser beam is to be transmitted to the variable optical portion corresponding to the focal size of the laser beam to be formed on the substrate, an imaging optical system is used. Thus, the substrate can be processed while adjusting the focal size and shape of the laser beam as desired.
반면, 가변 광학부에 레이저 빔의 크기를 작게 해서 전달해야 하는 경우에, 초점 광학계를 사용한다. 이에, 에너지 손실을 방지할 수 있고, 미세한 스팟 빔의 형태로 레이저 빔을 조사하여 기판을 정밀하게 처리할 수 있다.On the other hand, when the variable optical portion needs to be transmitted with a small laser beam size, a focal optical system is used. Thus, energy loss can be prevented, and the substrate can be precisely processed by irradiating the laser beam in the form of a minute spot beam.
즉, 하나의 장치가 각각 다른 가공 특성을 가질 수 있고, 이에 공정의 효율이 향상될 수 있다.That is, one device can have different processing characteristics, and the efficiency of the process can be improved.
본 발명의 상기 실시 예는 본 발명의 설명을 위한 것이고, 본 발명의 제한을 위한 것이 아니다. 또한, 본 발명의 상기 실시 예에 제시된 구성과 방식은 서로 결합하거나 교차 적용되어 다양한 형태로 변형될 것이고, 이 변형 예들도 본 발명의 범주로 볼 수 있음을 주지해야 한다. 즉, 본 발명은 청구범위 및 이와 균등한 기술 사상의 범위 내에서 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 본 발명이 해당하는 기술 분야의 업자는 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.The above-described embodiments of the present invention are for the explanation of the present invention and are not intended to limit the present invention. In addition, it should be noted that the configurations and the methods disclosed in the above embodiments of the present invention may be combined or crossed with each other and modified into various forms, and these modifications may be considered as the scope of the present invention. That is, the present invention may be embodied in various forms without departing from the scope of the appended claims and equivalents thereto, and it is to be understood and appreciated by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit of the invention You will understand.
100: 레이저 발진부 200: 안내부
300: 가변 광학부 400: 결상부100: laser oscillation part 200: guide part
300: Variable optical part 400: Concave part
Claims (11)
레이저 빔의 경로 및 크기를 조절 가능하도록 상기 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 안내부;
집속빔 및 평행빔을 포함하는 각기 다른 형태로 레이저 빔을 정형 가능하도록 상기 안내부를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 가변 광학부; 및
기판 상에 레이저 빔의 초점을 형성할 수 있도록 상기 가변 광학부를 통과한 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 결상부;를 포함하고,
상기 안내부는 기판 상에 형성할 레이저 빔의 초점 크기에 따라 레이저 빔의 크기를 조절하여 통과시키거나 레이저 빔을 그대로 통과시킬 수 있도록 슬릿을 구비하고,
상기 안내부, 가변 광학부 및 결상부가 상기 레이저 빔의 진행 경로에서 결상 광학계 또는 초점 광학계를 선택적으로 형성하도록, 상기 가변 광학부는 상기 슬릿을 통과한 레이저 빔을 각기 다른 형태로 정형 가능한 가변 광학계를 구비하고,
상기 가변 광학계는,
레이저 빔을 집속빔으로 정형 가능하게 형성되고, 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 제1렌즈부;
상기 제1렌즈부와 조합하여 콜리메이트 렌즈부를 형성할 수 있고, 상기 제1렌즈부로 향하는 레이저 빔의 진행 경로상에서 상기 제1렌즈부와 함께 레이저 빔을 평행빔으로 정형할 수 있는 제2렌즈부; 및
상기 제1렌즈부로 향하는 레이저 빔의 진행 경로상에 상기 제2렌즈부를 선택적으로 위치시키는 구동기;를 포함하는 레이저 처리 장치.A laser oscillation unit for oscillating a laser beam;
A guide disposed in a path of the laser beam so as to adjust the path and size of the laser beam;
A variable optical portion disposed in a path of the laser beam passing through the guide portion so as to allow the laser beam to be shaped in different forms including a focusing beam and a parallel beam; And
And an imaging element disposed on a path of the laser beam passing through the variable optical portion so as to form a focal point of the laser beam on the substrate,
The guide unit may include a slit for adjusting the size of the laser beam according to the focal size of the laser beam to be formed on the substrate and allowing the laser beam to pass therethrough,
The variable optical portion includes a variable optical system capable of shaping the laser beam passing through the slit in different shapes so that the guide portion, the variable optical portion, and the focusing portion selectively form an imaging optical system or a focusing optical system in the progress path of the laser beam and,
The variable optical system includes:
A first lens unit that is formed to be capable of shaping a laser beam into a focusing beam, and is disposed in a traveling path of the laser beam;
A second lens unit capable of forming a collimator lens unit in combination with the first lens unit and capable of shaping a laser beam into a parallel beam together with the first lens unit on the progress path of the laser beam toward the first lens unit, ; And
And a driver for selectively positioning the second lens unit on the path of the laser beam directed toward the first lens unit.
상기 안내부는,
상기 레이저 발진부에서 발진된 레이저 빔을 상기 가변 광학부로 안내하도록 배치되는 레이저 미러;를 더 포함하고,
상기 슬릿은 상기 레이저 미러에서 반사되어 상기 가변 광학계로 향하는 레이저 빔의 진행 경로에 배치되는 레이저 처리 장치.The method according to claim 1,
The guide portion
And a laser mirror arranged to guide the laser beam oscillated in the laser oscillation section to the variable optical section,
Wherein the slit is disposed in a traveling path of a laser beam reflected by the laser mirror and directed to the variable optical system.
기판 상에 형성할 레이저 빔의 초점 크기가 상대적으로 클 때, 상기 슬릿, 제1렌즈부, 및 결상부가 상기 레이저 빔의 진행 경로에 결상 광학계를 형성하고,
기판 상에 형성할 레이저 빔의 초점 크기가 상대적으로 작을 때, 상기 제1렌즈부, 제2렌즈부, 및 결상부가 상기 레이저 빔의 진행 경로에 초점 광학계를 형성하는 레이저 처리 장치.The method according to claim 1,
The slit, the first lens unit, and the image forming unit form an imaging optical system in the traveling path of the laser beam when the focal size of the laser beam to be formed on the substrate is relatively large,
Wherein the first lens unit, the second lens unit, and the imaging unit form a focal optical system in the progress path of the laser beam when the focal size of the laser beam to be formed on the substrate is relatively small.
상기 제1렌즈부는 튜브 렌즈부를 포함하고,
상기 제2렌즈부는 오목 렌즈부를 포함하는 레이저 처리 장치.The method according to claim 1 or 3,
Wherein the first lens unit includes a tube lens unit,
And the second lens unit includes a concave lens unit.
상기 레이저 빔의 경로를 조절하는 과정;
기판 상에 형성할 상기 레이저 빔의 초점 크기에 따라, 레이저 빔의 진행 경로에 배치된 슬릿에 레이저 빔을 통과시키며 크기를 조절하거나, 레이저 빔을 그대로 통과시키는 과정;
레이저 빔의 진행 경로에서 결상 광학계 또는 초점 광학계를 선택적으로 형성하며 집속빔 및 평행빔을 포함한 각기 다른 형태로 레이저 빔을 정형하도록 레이저 빔의 진행 경로에서 제1렌즈부 및 제2렌즈부를 선택적으로 조합시킬 수 있는 가변 광학계를 이용하여, 상기 레이저 빔을 정형하는 과정; 및
상기 레이저 빔을 기판에 조사하여 상기 기판의 결함을 처리하는 과정;을 포함하는 레이저 처리 방법.A process of oscillating the laser beam;
Adjusting a path of the laser beam;
Adjusting a size of a laser beam passing through a slit disposed in a path of the laser beam according to a focus size of the laser beam to be formed on the substrate or passing the laser beam through the laser beam;
The first lens unit and the second lens unit are selectively combined in the progress path of the laser beam so as to selectively form an imaging optical system or a focusing optical system in the progress path of the laser beam and to shape the laser beam in different forms including a focusing beam and a parallel beam A step of shaping the laser beam using a variable optical system that can be used; And
And irradiating the substrate with the laser beam to process defects of the substrate.
상기 레이저 빔을 정형하는 과정은,
상기 기판 상에 형성할 레이저 빔의 초점 크기가 상대적으로 클 때, 상기 슬릿에서 크기가 조절된 레이저 빔을 상기 제1렌즈부에만 통과시켜 집속빔으로 정형하는 과정;
상기 기판 상에 형성할 레이저 빔의 초점 크기가 상대적으로 작을 때, 상기 슬릿을 그대로 통과한 레이저 빔을 상기 제1렌즈부 및 제2렌즈부에 통과시켜 평행빔으로 정형하며 크기를 조절하는 과정;을 포함하는 레이저 처리 방법.The method of claim 9,
The process of shaping the laser beam includes:
Forming a focused beam by passing only the laser beam whose size is adjusted in the slit through the first lens unit when the focal size of the laser beam to be formed on the substrate is relatively large;
Adjusting a size of the laser beam passing through the slit through the first lens unit and the second lens unit to form a parallel beam when the focal size of the laser beam to be formed on the substrate is relatively small; .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160183687A KR101918203B1 (en) | 2016-12-30 | 2016-12-30 | Laser Processing Apparatus and Method |
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