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KR101913862B1 - Ｘ선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저 및 ｘ선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법 - Google Patents

Ｘ선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저 및 ｘ선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법 Download PDF

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KR101913862B1
KR101913862B1 KR1020120032043A KR20120032043A KR101913862B1 KR 101913862 B1 KR101913862 B1 KR 101913862B1 KR 1020120032043 A KR1020120032043 A KR 1020120032043A KR 20120032043 A KR20120032043 A KR 20120032043A KR 101913862 B1 KR101913862 B1 KR 101913862B1
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Abstract

본 발명은 X선 검출기에 사용을 위한 평판 패널 이미저 및 평판 패널 이미저 상에 모듈을 배열하기 위한 방법을 개시한다. 평판 패널 이미저는 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 포함하고, 데이터 모듈의 제 1 부분은 평판 패널 이미저의 일측에 배열되고, 데이터 모듈의 제 2 부분은 데이터 모듈의 제 1 부분의 대향측에 배열되고, 스캔 모듈의 제 1 부분은 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 배열되고, 스캔 모듈의 제 2 부분은 스캔 모듈의 제 1 부분의 대향측에 배열된다. 본 발명에 제안된 X선 검출기용 평판 패널 이미저 및 모듈 배열 방법을 사용함으로써, X선 검출기는 크기가 더 소형이 될 수 있고, 어떠한 수정도 현존하는 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 디자인에 요구되지 않는다.

Description

Ｘ선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저 및 Ｘ선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법{FLAT PANEL IMAGER FOR X-RAY DETECTOR AND METHOD FOR ARRANGING MODULES}
본 발명은 X선 검출기에 사용을 위한 평판 패널 이미저(imager)에 관한 것으로서, 특히 X선 검출기에 사용을 위한 평판 패널 이미저 상의 모듈의 배열에 관한 것이다.
X선 검출기용 평판 패널 이미저 상의 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 종래의 배열이 예를 들어 도 1에 도시되어 있다. 일반적으로, 데이터 모듈(200)은 가요성 회로 기판을 경유하여 평판 패널 이미저(100)의 일측에 배열되고, 반면 스캔 모듈(300)은 평판 패널 이미저의 인접한 측에 배열된다. 그 결과, 검출기 쉘 내에 배치되도록 동시에 절첩될 때, 데이터 모듈(200) 및 스캔 모듈(300)은 도 1에 A로서 도시된 평판 패널 이미저의 코너에서 중첩될 수 있다. 더 많은 공간이 모듈의 중첩을 회피하기 위해 요구된다.
따라서, 검출기 쉘 내로 절첩될 때 모듈이 평판 패널 이미저의 임의의 코너에서 중첩하지 않을 수 있는 X선 검출기용 평판 패널 이미저 상의 모듈의 신규한 배열을 제공할 필요가 존재한다.
본 발명의 목적은 데이터 모듈 및 스캔 모듈이 동시에 절첩되어 검출기 쉘 내에 배치될 때 평판 패널 이미저의 임의의 코너에서 중첩되지 않을 수 있는 X선 검출기에 사용을 위한 평판 패널 이미저 및 X선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 모듈을 배열하기 위한 방법을 제공함으로써 관련 종래 기술에 존재하는 단점을 처리하는 것이다. 이 목적을 충족시키기 위해, 본 발명은 이하의 기술적인 해결책을 이용한다.
본 발명의 제 1 실시예의 제 1 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 포함하되, 데이터 모듈의 제 1 부분은 평판 패널 이미저의 일측에 배열되고 데이터 모듈의 제 2 부분은 데이터 모듈의 제 1 부분의 대향측에 배열되며, 스캔 모듈의 제 1 부분은 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 배열되고, 스캔 모듈의 제 2 부분은 스캔 모듈의 제 1 부분의 대향측에 배열되는 X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저가 개시된다.
일 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 동일한 방위각 단부에 인접하여 배치된다. 선택적으로, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 좌측 단부에 인접하여 배치된다. 대안적으로, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 우측 단부에 인접하여 배치된다.
다른 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 데이터 모듈 및 스캔 모듈이 평판 패널 이미저의 각각의 측의 단부로부터 이격되도록 배치된다. 바람직하게는, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 중간에 배치된다.
또 다른 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 각각의 부분은 동일한 수의 모듈을 포함한다.
제 2 실시예에 따르면, 본 발명은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 평판 패널 이미저를 포함하는 X선 검출기를 제공한다.
본 발명의 제 3 실시예에 따르면, 평판 패널 이미저의 일측에 데이터 모듈의 제 1 부분을 배치하고, 데이터 모듈의 제 1 부분의 대향측에 데이터 모듈의 제 2 부분을 배치하는 단계와, 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 스캔 모듈의 제 1 부분을 배치하고, 스캔 모듈의 제 1 부분의 대향측에 스캔 모듈의 제 2 부분을 배치하는 단계를 포함하는, X선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법이 제공된다.
일 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 동일한 방위각 단부에 인접하여 배치된다. 선택적으로, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 좌측 단부에 인접하여 배치된다. 대안적으로, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 우측 단부에 인접하여 배치된다.
다른 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 데이터 모듈 및 스캔 모듈이 평판 패널 이미저의 각각의 측의 단부로부터 이격되도록 배치된다. 바람직하게는, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 중간에 배치된다.
또 다른 양태에 따르면, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 각각의 부분은 동일한 수의 모듈을 포함한다.
이하, 본 발명이 동일한 또는 유사한 요소를 유사한 도면 부호로 나타내는 도면을 참조하여 더 상세히 설명될 것이다.
본 발명에 제안된 X선 검출기용 평판 패널 이미저 및 모듈 배열 방법을 사용함으로써, X선 검출기는 크기가 더 소형이 될 수 있고, 어떠한 수정도 현존하는 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 디자인에 요구되지 않는다.
도 1은 X선 검출기의 종래의 평판 패널 이미저에서 존재하는 중첩 모듈을 도시하는 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검출기용 평판 패널 이미저를 도시하는 도면.
도 3은 검출기 쉘 내에 배치된 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검출기용 평판 패널 이미저를 도시하는 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 검출기용 평판 패널 이미저(100)를 도시한다. 평판 패널 이미저(100)는 복수의 데이터 모듈(200) 및 복수의 스캔 모듈(300)을 포함한다. 데이터 모듈(200)은 2개의 부분으로 분할된다. 제 1 부분은 평판 패널 이미저(100)의 일측에 배치되고, 제 2 부분은 제 1 부분의 대향측에 배치된다. 마찬가지로, 스캔 모듈(300)은 또한 2개의 부분으로 분할된다. 제 1 부분은 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 배열되고, 제 2 부분은 제 1 부분의 대향측에 배열된다.
본 발명의 일 양태에서, 데이터 모듈(200) 및 스캔 모듈(300)의 모두의 각각의 부분은 예를 들어 도 2에 도시된 바와 같이 동일한 방위각에서 각각의 측의 좌측 단부에 인접하여 평판 패널 이미저(100)의 각각의 측의 동일한 방위각 단부 상에 배열된다. 마찬가지로, 이들은 또한 동일한 방위각에서 평판 패널 이미저(100)의 각각의 측의 우측 단부에 인접하여 배치될 수 있다.
본 발명의 다른 양태에 따르면, 데이터 모듈(200) 및 스캔 모듈(300)의 각각의 부분은 이들이 평판 패널 이미저의 각각의 측의 단부(좌측 또는 우측 단부)로부터 이격되도록 배치된다. 바람직하게는, 데이터 모듈(200) 및 스캔 모듈(300)의 모두의 각각의 부분은 평판 패널 이미저(100)의 각각의 측의 중간에 배치된다.
더 바람직하게는, 실시예의 일 양태에서, 데이터 모듈(200) 및 스캔 모듈(300)의 각각의 부분은 동일한 수의 모듈을 포함한다. 예를 들어, 데이터 모듈(200)의 양 부분은 4개의 데이터 모듈을 포함한다. 유사하게, 스캔 모듈(300)의 양 부분은 도 2에 도시된 바와 같이 4개의 스캔 모듈을 또한 포함한다.
본 발명에서 제안된 바와 같은 X선 검출기용 평판 패널 이미저(100) 상에 배열될 때, 데이터 모듈(200) 및 스캔 모듈(300)은 도 3에 도시된 바와 같이 동시에 절첩되어 검출기 쉘(400) 내에 배치될 때 서로 중첩하지 않는다. 더욱이, 본 발명에서 제안된 모듈 배열을 사용함으로써, X선 검출기는 더 소형의 크기를 갖고 제조될 수 있고, 어떠한 수정도 현존하는 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 디자인에 이루어질 필요가 없다.
본 발명의 실시예에 따른 평판 패널 이미저(100)는 당 기술 분야의 숙련자들에게 용이하게 고려 가능한 방식으로 다양한 X선 검출기에 적용될 수 있다. 따라서, 이와 관련한 상세는 생략된다.
다른 실시예에 따르면, 본 발명은 X선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하기 위한 방법을 제공한다. 방법은 평판 패널 이미저의 일측에 데이터 모듈의 제 1 부분을, 데이터 모듈의 제 1 부분의 대향측에 데이터 모듈의 제 2 부분을 배치하는 단계와, 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 스캔 모듈의 제 1 부분을, 스캔 모듈의 제 1 부분의 대향측에 스캔 모듈의 제 2 부분을 배치하는 단계를 포함한다.
바람직하게는, 본 발명의 일 양태에서, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 각각의 부분은 예를 들어 동일한 방위각에서 각각의 측의 좌측 단부 또는 우측 단부에 인접한 평판 패널 이미저의 각각의 측의 동일한 방위각 단부 상에 배열된다.
본 발명의 다른 양태에서, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 각각의 부분은 이들이 평판 패널 이미저의 각각의 측의 단부(좌측 또는 우측 단부)로부터 이격되도록 배치된다. 바람직하게는, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 각각의 부분은 평판 패널 이미저의 각각의 측의 중간에 배치된다.
더 바람직하게는, 일 양태에서, 데이터 모듈 및 스캔 모듈의 각각의 부분은 동일한 수의 모듈을 포함한다.
그러나, 본 발명의 무수히 많은 특성 및 장점이 상기 상세한 설명에 설명되어 있지만, 개시 내용은 단지 예시적인 것이라는 것이 이해되어야 한다. 당 기술 분야의 숙련자들은 다양한 수정 및 등가의 치환이 본 발명의 원리 내에서 이루어질 수 있고, 이들 수정 및 등가의 치환이 또한 본 발명의 범주 내에 있게 된다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 더욱이, 상세한 설명 및 청구범위에 사용된 "좌측" 및 "우측"과 같은 이러한 용어는 본 발명을 제한하는 것으로 고려되지 않아야 하고 단지 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 더욱이, 상기 "일 실시예 및 "다른 실시예" 등은 상이한 실시예를 표현하도록 해석될 수 있고, 물론 전체적으로 또는 부분적으로 하나의 실시예로 통합될 수도 있다.
100: 평판 패널 이미저 200: 데이터 모듈
300: 스캔 모듈 400: 검출기 쉘

Claims (15)

  1. X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저(flat panel imager)로서,
    데이터 모듈 및 스캔 모듈을 포함하되,
    상기 데이터 모듈의 제 1 부분은 상기 평판 패널 이미저의 일측에 배열되고 상기 데이터 모듈의 제 2 부분은 상기 데이터 모듈의 제 1 부분의 대향측에 배열되며, 상기 스캔 모듈의 제 1 부분은 상기 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 배열되고, 상기 스캔 모듈의 제 2 부분은 상기 스캔 모듈의 제 1 부분의 대향측에 배열되며, 상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈이 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 단부로부터 이격되도록 배치되고, 상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 모두의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 중간에 배치되는
    X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 동일한 방위각 단부에 인접하여 배치되는
    X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 좌측 단부에 인접하여 배치되는
    X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 우측 단부에 인접하여 배치되는
    X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 동일한 수의 모듈을 포함하는
    X선 검출기에서 사용하기 위한 평판 패널 이미저.
  8. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 따른 평판 패널 이미저를 포함하는
    X선 검출기.
  9. X선 검출기용 평판 패널 이미저 상에 데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법에 있어서,
    상기 평판 패널 이미저의 일측에 상기 데이터 모듈의 제 1 부분을 배치하고, 상기 데이터 모듈의 제 1 부분의 대향측에 상기 데이터 모듈의 제 2 부분을 배치하는 단계와,
    상기 평판 패널 이미저의 나머지 측들 중 하나에 상기 스캔 모듈의 제 1 부분을 배치하고, 상기 스캔 모듈의 제 1 부분의 대향측에 상기 스캔 모듈의 제 2 부분을 배치하는 단계를 포함하되,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈이 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 단부로부터 이격되도록 배치되고,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 중간에 배치되는
    데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 동일한 방위각 단부에 인접하여 배치되는
    데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 좌측 단부에 인접하여 배치되는
    데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 상기 평판 패널 이미저의 각각의 측의 우측 단부에 인접하여 배치되는
    데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법.
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 제 9 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 데이터 모듈 및 상기 스캔 모듈의 각각의 부분은 동일한 수의 모듈을 포함하는
    데이터 모듈 및 스캔 모듈을 배열하는 방법.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6685678B2 (ja) * 2015-09-11 2020-04-22 キヤノン株式会社 放射線撮像装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020134943A1 (en) * 2001-02-07 2002-09-26 Yoshihiro Izumi Electromagnetic wave detecting device
JP2002297066A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置およびその製造方法
CN101156782A (zh) 2006-10-03 2008-04-09 通用电气公司 数字x射线探测器
WO2010070735A1 (ja) 2008-12-16 2010-06-24 株式会社島津製作所 光マトリックスデバイス

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3183390B2 (ja) * 1995-09-05 2001-07-09 キヤノン株式会社 光電変換装置及びそれを用いた撮像装置
JP2000012875A (ja) * 1998-06-23 2000-01-14 Canon Inc 光電変換装置
US6396253B1 (en) * 1999-11-19 2002-05-28 General Electric Company Methods and apparatus for automated repair detection of solid-state X-ray detectors
CN1973214B (zh) * 2003-11-10 2010-09-15 江苏康众数字医疗设备有限公司 使用电互连的平铺光电传感器阵列的平板检测器
US7120230B2 (en) * 2004-05-03 2006-10-10 General Electric Company System and method for eliminating the effects of saturated pixels in solid state x-ray detectors
JP2007093449A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Toshiba Corp 放射線検出器
JP4949908B2 (ja) * 2007-03-29 2012-06-13 富士フイルム株式会社 放射線画像検出方法および装置
CN101900825A (zh) * 2009-05-25 2010-12-01 上海天马微电子有限公司 X射线传感器及其制造方法和驱动方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020134943A1 (en) * 2001-02-07 2002-09-26 Yoshihiro Izumi Electromagnetic wave detecting device
JP2002297066A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置およびその製造方法
CN101156782A (zh) 2006-10-03 2008-04-09 通用电气公司 数字x射线探测器
WO2010070735A1 (ja) 2008-12-16 2010-06-24 株式会社島津製作所 光マトリックスデバイス

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KR20120112153A (ko) 2012-10-11

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