KR101912708B1 - Contamination Measuring Device for Solar Panel Surface and Solar Cell Panel Measuring Contamination - Google Patents
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Abstract
본 발명은 태양전지패널 표면 오염측정장치에 관한 것으로, 베이스와, 베이스 상면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 베이스 상면의 타단에 위치하는 수광소자와, 베이스 상면에 배치되고, 출력된 빛을 수광소자로 반사하는 반사체와, 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함한다.The present invention relates to an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel, which comprises a base, a light emitting element located at one end of the base and outputting light, a light receiving element located at the other end of the upper surface of the base, And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element.
Description
본 발명은 태양전지패널 표면 오염측정장치 및 오염을 측정하는 태양전지패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 태양전지 표면에 배치된 반사판이나 투과창에서 반사되거나 투과되는 광량을 바탕으로 태양전지패널의 청정도를 측정하는 태양전지패널 표면 오염측정장치 및 오염을 측정하는 태양전지패널에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel and a solar cell panel for measuring contamination. More particularly, the present invention relates to a method for measuring the degree of cleanliness of a solar cell panel based on the amount of light reflected or transmitted through a reflection plate or a transmission window And a solar cell panel for measuring contamination.
화석연료의 사용에 의한 온실가스의 발생과 이로 인한 지구 온난화에 따른 환경 문제가 크게 대두하고 있다. 따라서, 대체에너지를 활용하기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다.Environmental problems caused by the generation of greenhouse gases caused by the use of fossil fuels and the global warming caused by them are rising. Therefore, researches for utilization of alternative energy are actively proceeding.
친환경 에너지 중 태양에너지를 이용한 태양전지의 보급률은 점점 증가하고 있다. 최근에는 관공서뿐만 아니라 가정에서도 태양전지를 이용하여 필요한 전력을 사용하고 있다. The adoption rate of solar cells using solar energy among green energy is increasing. In recent years, solar cells are being used in homes as well as government offices to use the necessary power.
그러나 태양전지 표면의 미세한 오염에도 태양전지의 효율은 급격하게 저하된다. 최근에는 대기오염에 따른 미세먼지의 증가로, 태양전지패널의 표면에 쌓이는 먼지나 이물질등으로 전력생산 효율을 저감시키는 문제가 증가하고 있다.However, the efficiency of the solar cell is drastically lowered even if the surface of the solar cell is slightly contaminated. In recent years, there has been an increasing problem of reducing power production efficiency due to dust or foreign matter accumulated on the surface of a solar cell panel due to increase of fine dust due to air pollution.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 목적은 발광소자, 수광소자 및 반사체 또는 투과창을 포함하는 하나의 모듈을 태양전지패널에 부착하여 간편하게 태양전지 패널의 오염도를 측정할 수 있는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a solar cell module capable of easily measuring the pollution degree of a solar cell panel by attaching one module including a light emitting device, a light receiving device, And to provide a device for measuring surface contamination of a panel.
본 발명은 발광소자로부터 방출된 빛이 태양전지패널 상에 설치된 반사판에 반사되거나 태양전지패널에 부착된 투과창을 통과하여 수광소자에서 측정되는 광량을 이용하여 효과적으로 태양전지 패널의 오염을 측정할 수 있는 태양전지패널을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.The present invention can effectively measure the contamination of a solar cell panel using light emitted from a light emitting device through a reflection plate provided on the solar cell panel or through a transmission window attached to the solar cell panel, There is another purpose in providing a solar panel.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 베이스와, 상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 수광소자와, 상기 베이스 일면에 배치되고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 반사하는 반사체와, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a light emitting device comprising: a base; a light emitting element located at one end of the base and outputting light; a light receiving element located at the other end of the base; And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element.
상기 프로세서는, 기 설정된 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값을 기준값으로 설정하고, 측정 시점의 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값과 상기 기준값을 비교하여 오염도를 판단할 수 있다.The processor sets the output value of the light receiving element that senses the light reflected from the reflector in a predetermined state as a reference value and compares the output value of the light receiving element that senses the light reflected from the reflector in the state at the measurement time with the reference value So that the degree of contamination can be determined.
상기 수광소자 및 상기 반사체는 복수이고, 상기 복수의 반사체 중 하나는 커버로 싸여있고, 상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함할 수 있다.The light receiving element and the reflector may be plural, and one of the plurality of reflectors may be enclosed by a cover, and the cover may include a cavity corresponding to the light path.
상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 반사체 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울과, 상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 반사체 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울을 더 포함할 수 있다.A plurality of reflectors disposed in the optical path, wherein a portion of the light output from the light emitting device is directed toward one of the plurality of reflectors And a total reflection mirror for reflecting the light outputted from the semi-transparent mirror to the other one of the plurality of reflectors.
상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부를 포함할 수 있다.The light emitting device may include a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.
상기 발광소자는 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되고, 상기 수광소자는 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절될 수 있다.The light emitting device is adjusted so that the output light is directed toward the reflector, and the light receiving device is adjusted to sense the light reflected from the reflector.
본 발명은 베이스와, 상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 베이스의 일면에 위치하는 수광소자와, 상기 수광소자의 상면을 덮고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 투과시키는 투과창과, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.The present invention provides a light emitting device comprising a base, a light emitting element located at one end of the base, a light emitting element for emitting light, a light receiving element located on one surface of the base, and a light receiving element covering the upper surface of the light receiving element, And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element. The above and other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG.
상기 수광소자 및 상기 투과창은 복수이며, 상기 복수의 투과창 중 하나는 커버로 싸여있고, 상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함할 수 있다.The light receiving element and the transmission window are plural, and one of the plurality of transmission windows is enclosed by a cover, and the cover may include a cavity corresponding to the optical path.
상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 투과창 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울과 상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 투과창 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울을 더 포함할 수 있다.A translucent mirror positioned in the optical path for passing a part of the light output from the light emitting element toward one of the plurality of transmission windows and reflecting the output remaining light, And may further include a total reflection mirror for refracting the other of the plurality of transmission windows.
상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부를 포함할 수 있다.The light emitting device may include a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.
또한, 본 발명은 베이스와, 상기 베이스 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 베이스 일면에 위치하는 제1 수광소자와, 상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 제2 수광소자와, 상기 제1 수광소자의 상면에 위치하고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편과, 상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a light emitting device comprising a base, a light emitting element located at one end of the base, a light emitting element for emitting light, a first light receiving element located on one side of the base, a second light receiving element located at the other end of the one side of the base, A glass sample placed on an upper surface of a light receiving element and including a reflecting portion for reflecting the output light and a transmitting portion for transmitting the light; and a control portion for controlling the degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements. The present invention can provide a solar cell surface contamination measuring device including a processor for judging a surface contamination of a solar cell panel.
상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울과, 상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울;을 더 포함하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향할 수 있다.A semitransparent mirror positioned at an optical path of light output from the light emitting device and dividing the output light into first light and second light and transmitting the first light and reflecting the second light; And a total reflection mirror for reflecting a second light reflected from the mirror, wherein one of the first and second light is directed to the transmission portion, and the other one of the first and second lights can be directed to the reflection portion have.
또한, 본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해, 패널프레임과, 상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈과, 상기 태양전지모듈의 상면에 탈부착 가능하게 결합되는 반사체와, 상기 패널프레임의 일 모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되는 발광소자와, 상기 발광소자를 마주보는 상기 패널프레임의 타 모서리에 위치하고, 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절되는 수광소자와, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 오염을 측정하는 태양전지패널을 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a solar cell module comprising: a panel frame; a solar cell module disposed inside the panel frame; a reflector detachably coupled to an upper surface of the solar cell module; A light emitting element disposed at the other corner of the panel frame facing the light emitting element and adapted to sense light reflected from the reflector, And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element.
본 발명은 패널프레임과, 상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈과, 상기 태양전지모듈의 일면에 위치하는 수광소자와, 상기 수광소자의 상면을 감싸는 투과창과, 상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 투과창을 투과하여 수광소자에 도달하도록 조절되는 발광소자와, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 오염을 측정하는 태양전지패널을 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.The present invention provides a solar cell module comprising a panel frame, a solar cell module positioned inside the panel frame, a light receiving element located on one side of the solar cell module, a transmission window surrounding the top surface of the light receiving element, And a processor for determining the degree of contamination on the basis of the amount of light sensed by the light receiving element, wherein the controller controls the amount of light to be transmitted to the light receiving element, The above object can be achieved by providing a solar cell panel for measurement.
본 발명은 패널프레임과, 상기 패널프레임의 내부에 위치하는 태양전지모듈과, 상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 태양전지모듈 일면에 위치하는 제1 수광소자와, 상기 패널프레임의 타모서리에 위치하는 제2 수광소자와, 상기 제1 수광소자의 상면을 감싸고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편과, 상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하며, 상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울과, 상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울을 더 포함하고, 기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향하는, 오염을 측정하는 태양전지패널을 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.The present invention relates to a solar cell module comprising a panel frame, a solar cell module positioned inside the panel frame, a light emitting device located at one corner of the panel frame, A second light receiving element located at the other corner of the panel frame, a glass specimen surrounding the upper surface of the first light receiving element, a reflective portion reflecting the output light, and a transmissive portion transmitting the light, And a processor for determining a degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements, wherein the processor is located in an optical path of light output from the light emitting element, Further comprising a translucent mirror for transmitting the first light and reflecting the second light and a total reflection mirror for reflecting the second light reflected from the translucent mirror, One of the first light and the second light is directed to the transmissive portion, and the other of the first and second lights is directed toward the reflective portion.
상기한 바와 같이, 본 발명은 발광소자에서 출력된 빛이 태양전지 표면의 반사체에 반사되거나 투과창을 통과되어 수광소자에 도달하는 빛의 양을 바탕으로 태양전지패널의 오염도를 측정하여 태양전지패널 청소시기를 알릴 수 있다.As described above, according to the present invention, the light output from the light emitting device is reflected on a reflector on the surface of a solar cell or passes through a transmission window to measure the degree of contamination of the solar cell panel based on the amount of light reaching the light receiving device, It can inform the cleaning time.
도 1은, 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이다.
도 2는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
도 3는, 반사체를 감싸는 커버를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4a는, 발광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4b는, 수광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5는, 발광소자의 광경로상에 위치한 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 빛이 분기되는 것을 도시한 도면이다.
도 6은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 단면도이다.
도 7은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 투과창을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
도 8a, 8b, 8c, 8d는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 유리시편의 반사막 도포 패턴을 나타낸 도면이다.
도 9는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이다.
도 10은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널을 도시한 사시도이다.
도 11은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
도 12a, 12b는 반사체와 오염을 측정하는 태양전지패널의 결합관계를 나타내는 단면도이다.
도 13은, 본 발명의 제5 실시예에 따른 태양전지를 도시한 사시도이다.
도 14는, 본 발명의 제5 실시예에 따른 태양전지에 추가 투명판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.1 is a perspective view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing that the apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to the first embodiment of the present invention includes a further reflector. FIG.
3 is a view schematically showing a cover for enclosing a reflector.
4A is a view schematically showing the internal structure of the light emitting element.
4B is a view schematically showing the internal structure of the light receiving element.
5 is a view showing that light is split using a translucent mirror and a total reflection mirror which are located on the optical path of the light emitting element.
6 is a cross-sectional view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a perspective view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a second embodiment of the present invention, including an additional transmission window. FIG.
8A, 8B, 8C, and 8D are diagrams showing a reflection film application pattern of a glass specimen of a solar cell panel surface contamination measuring apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a perspective view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a third embodiment of the present invention.
10 is a perspective view showing a solar cell panel for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention.
11 is a perspective view showing that a solar panel for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention includes a further reflecting plate.
12A and 12B are cross-sectional views showing a combination of a reflector and a solar cell panel for measuring contamination.
13 is a perspective view illustrating a solar cell according to a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 14 is a perspective view showing that a solar cell according to a fifth embodiment of the present invention further includes a transparent plate. FIG.
이하, 본 문서의 다양한 실시예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나 이는 본 문서에 기재된 기술을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 문서의 실시예의 다양한 변경(modifications), 균등물(equivalents), 및/또는 대체물(alternatives)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.Hereinafter, various embodiments of the present document will be described with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the techniques described herein are not intended to be limited to any particular embodiment, but rather include various modifications, equivalents, and / or alternatives of the embodiments of this document. In connection with the description of the drawings, like reference numerals may be used for similar components.
또한, 본 문서에서 사용된 "제 1," "제 2," 등의 표현들은 다양한 구성요소들을, 순서 및/또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 예를 들면, 제 1 사용자 기기와 제 2 사용자 기기는, 순서 또는 중요도와 무관하게, 서로 다른 사용자 기기를 나타낼 수 있다. 예를 들면, 본 문서에 기재된 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 바꾸어 명명될 수 있다.Also, the terms "first," "second," and the like used in the present document can be used to denote various components in any order and / or importance, and to distinguish one component from another But is not limited to those components. For example, the first user equipment and the second user equipment may represent different user equipment, regardless of order or importance. For example, without departing from the scope of the rights described in this document, the first component can be named as the second component, and similarly the second component can also be named as the first component.
본 문서에서 사용된 용어들은 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 다른 실시예의 범위를 한정하려는 의도가 아닐 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 용어들은 본 문서에 기재된 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가질 수 있다. 본 문서에 사용된 용어들 중 일반적인 사전에 정의된 용어들은, 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 동일 또는 유사한 의미로 해석될 수 있으며, 본 문서에서 명백하게 정의되지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. 경우에 따라서, 본 문서에서 정의된 용어일지라도 본 문서의 실시예들을 배제하도록 해석될 수 없다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to limit the scope of the other embodiments. The singular expressions may include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. Terms used herein, including technical or scientific terms, may have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. The general predefined terms used in this document may be interpreted in the same or similar sense as the contextual meanings of the related art and, unless expressly defined in this document, include ideally or excessively formal meanings . In some cases, even the terms defined in this document can not be construed as excluding the embodiments of this document.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 일 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 구성을 설명한다.Hereinafter, a configuration of an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1, 도 2 및 도 3를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 반사체를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 설명한다.Referring to FIGS. 1, 2, and 3, an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel including a reflector according to an embodiment of the present invention will be described.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반사체를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이고, 도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다. 도 3은, 반사체를 감싸는 커버를 개략적으로 도시한 도면이다.FIG. 1 is a perspective view of a solar cell panel surface pollution measuring apparatus including a reflector according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic view of a solar cell panel surface pollution measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention And a reflector. 3 is a view schematically showing a cover for covering a reflector.
도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 발광소자(110), 수광소자(120) 및 반사체(130)로 이루어져 있다. Referring to FIG. 1, an
발광소자(110)는 베이스(140)의 일면에 부착된다. 발광소자(110)는 빛을 출력하는 광원(115)을 포함한다. 광원(115)은 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(115)의 종류는 이에 한정되지 않으며, LED광원 등을 이용할 수 있다. The
수광소자(120)는 베이스(140)의 일면에 부착되고, 발광소자(110)와 마주보게 배치된다. 수광소자(120)는 광센서(125)를 포함하고, 광센서(125)를 통하여 빛을 감지한다. 광센서(125) 내부에 황화카드뮴(CdS)소자와 같이 빛이 도달하면 저항이 변화하는 소자를 포함할 수 있다. 따라서, 빛이 광센서(125)에 도달하면, 저항의 값을 프로세서로 전송할 수 있다. 광센서(125)는 상술한 광센서에 한정되지 않으며, 광량에 따라 다른 값을 출력할 수 있는 센서는 수광소자(120)의 광센서(125)로 사용할 수 있다. 즉, 광센서(125)는 광다이오드(photodiode), 솔라셀(Solar Cell), 이미지 센서, 광다이오드 어레이(photodiode array) 등을 이용할 수 있다.The
반사체(130)는 베이스(140)의 일면에 부착되고, 발광소자(110)에서 출력되는 빛을 반사한다. 반사체(130)에 반사된 빛은 수광소자(120)로 도달된다. 반사체(130)는 입사광의 손실이 거의 없이 반사할 수 있는 반사거울을 사용한다.The
반사체(130)가 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(110)에서 출력된 빛이 반사체(130)에 반사되어 수광소자(120)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다.The light output from the
본 발명에서는 반사체(130)가 베이스(140)의 일면에 매립되어 있는 형태로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 반사체(130)는 베이스(140)에서 돌출되어 있는 형태로 부착될 수 있다.The
또한, 반사체(130)는 100%에 가까운 반사율을 가지는 반사유리로 이루어진다. 반사체(130)는 오염도를 측정하여 청소시기에 청소를 한 이후에는 교체될 수 있다. 이를 위해서, 반사체(130)는 자석을 포함하거나, 고정돌기를 가질 수 있다. 이에 대응하여, 베이스(140)는 자성체이거나, 고정홈를 가질 수 있고, 반사체(130)는 베이스(140)에 자석의 자기력으로 고정되거나, 고정돌기, 고정홈이 후크결합 될 수 있다.Further, the
하부케이스(180)는 베이스(140)의 아래에 부착될 수 있다. 하부 케이스(180)는 전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)를 포함할 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(110)로 공급하고, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 작동을 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(120)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 장치 외부의 프로세서로 송신할 수 있다.The
프로세서는 하부케이스(180) 내부에 배치될 수도 있으며, 수광소자(120)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 반사율이 100%인 상태의 반사체에서 미리 측정하여 산출된 기준값과 현재 수광소자(120)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(120)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단하여, 태양전지패널의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(125)의 경우, 광센서(125)에 도달한는 빛의 양이 많으면, 광센서(125)의 저항은 낮아지고, 광센서(125)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(125)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. The processor may be disposed inside the
프로세서는 기준값보다 높은 출력값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the processor has an output value higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and the cleaning timing is determined based on the determination.
광센서(125)로 광다이오드와 같이 종류를 사용하는 경우에는, 프로세서는 전류값을 바탕으로 기준값과 출력값을 설정하고, 기준값보다 낮은 출력값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.When the
즉, 프로세서는, 광센서(125)에서 감지된 빛의 세기를 바탕으로 산출된 기준값과 출력값을 비교하여 청소시기를 판단한다.That is, the processor compares the output value with a reference value calculated on the basis of the intensity of the light sensed by the
하부케이스(180)는 태양전지패널에서 미끄러짐을 방지하기 위해서, 마찰력이 높은 부재를 부착할 수 있다. 또한, 베이스의 하면과 태양전지패널의 결합력을 높이기 위하여, 하부케이스(180)는 자석과 같은 물질로 형성되거나 자석을 포함할 수 있다. 또는, 하부케이스(180)는 태양전지패널과 후크 결합으로 고정될 수도 있다. 또한, 하부케이스(180)면은 미끄럼방지를 위해 고무재질을 포함할 수 있다.The
또한, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 장치를 감싸는 상부케이스(190)를 가진다. 케이스는 광의 유출입을 간섭하지 않도록, 케이스는 발광소자(110)와 수광소자(120)측에 개구(191,192)를 가진다.In addition, the solar panel surface
태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 상부케이스(190)를 포함하여, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 먼지, 습도 등의 외부환경으로부터 안정성을 높일 수 있다. 상부케이스(190)는 반사체(130)부분만 외부로 노출시키고 발광소자(110)와 수광소자(120)는 감싸는 구조일 수 있다.The solar panel surface
도 2를 참조하면, 발광소자(110) 복수개의 수광소자(120)와 복수개의 반사체(130)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the
도 5에서 후술하는 바와 같이, 발광소자(110)의 광경로에 반투명거울과 전반사거울을 설치하여, 발광소자(110)로부터 방출되는 빛이 각각의 반사체(130)를 향하도록 할 수 있다.A semi-transparent mirror and a total reflection mirror may be provided on the optical path of the
반사체(130)는 복수개로 배치될 수 있으며, 발광소자(110)와 수광소자(120)사이에 배치된다. 복수의 반사체(130)중 하나는 커버(150)로 싸여있다. A plurality of
도 3을 참조하면, 커버(150)는 반사체(130)의 일면을 감싸고 있다. 빛이 통과할 수 있도록, 커버(150)는 광유입구(151), 광유출구(152)를 포함하고 있다. 광유입구(151)는 발광소자(110)로부터 출력된 빛이 반사체(130)에 도달할 수 있도록 하는 개구이고, 광유출구(152)는 반사체(130)로부터 수광소자(120)로 반사된 빛이 도달할 수 있도록 하는 개구이다. 광유입구(151)와 광유출구(152)는 빛의 이동 경로상에 위치한다. 따라서, 커버(150)는 빛의 이동경로를 간섭하지 않는다. Referring to FIG. 3, the
커버(150)는 반사체(130)의 일면을 덮으므로, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)를 사용하는 경우 커버(150)가 덮인 반사체(130)는 외부의 환경에 노출되지 않아 먼지와 같은 이물질의 접근을 차단한다.The
발광소자(110)로부터 출력된 빛은 커버(150)가 덮인 반사체(130)에 반사되어 수광소자(120)에 도달한다. 반사체(130)에 반사된 빛을 센싱한 수광소자(120) 출력값을 바탕으로 기준값은 설정된다. Light output from the
프로세서는 기준값과, 출력값을 비교하여 오염도를 판단한다. 오염도를 판단하는 방법은 도 1에서 상술한 방법과 같이 수행될 수 있다. 즉, 광센서(125)의 종류에 따라, 광센서(125)의 저항값이나 전류값을 출력값으로 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 프로세서는 오염도를 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.The processor compares the reference value and the output value to determine the degree of contamination. A method of determining the degree of contamination can be performed as in the method described above in Fig. That is, depending on the type of the
도 4a, 4b를 바탕으로, 발광소자(110)와 수광소자(120)의 구조를 살펴본다.The structure of the
도 4a는, 발광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 4b는, 수광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.Fig. 4A is a view schematically showing the internal structure of the light emitting element, and Fig. 4B is a view schematically showing the internal structure of the light receiving element.
도 4a를 참조하면, 발광소자(110)는 광원(115)과 광필터(116), 렌즈(117,118)를 포함한다.Referring to FIG. 4A, the
광필터(116)는 광원(115)에서 출력되는 빛의 세기를 조절한다. 광필터(116)는 광원(115)에서 출력된 빛의 경로상에 위치한다. 렌즈는 볼록렌즈(117)와 오목렌즈(118)로 구성될 수 있다. 볼록렌즈(117)를 통과한 빛은 초점으로 집광되고, 초점의 위치 근처에 오목렌즈(118)를 배치하여, 집광된 빛이 평행하게 직진할 수 있도록 조절한다. The
도 4b를 참조하면, 수광소자(120)는 광센서(125)와 광필터(126)를 포함한다.Referring to FIG. 4B, the
광필터(126)는 수광소자(120)로 도달하는 빛의 세기를 조절한다. 광필터(126)를 통과한 빛이 광센서(125)에 도달하여 빛의 양을 감지한다. 광센서(125)의 포화도를 고려하여, 수광소자(120)의 광필터(126)와 발광소자(110)의 광필터(116)는 생략하여 사용할 수 있다. The
도 4b에서는 수광소자(120)의 광센서(125)의 센싱소자가 복수개로 구성된 것으로 나타내고 있다. 이 경우, 하나의 센싱소자로 구성된 경우보다 광센서(125)의 감도는 더 우수하고, 수광면적이 넓어지는 장점이 있다. 물론, 센싱소자는 하나로 구성될 수도 있다. 센싱소자는 수광소자(120)에 도달하는 광량에 따라 적절히 선택된다.In Fig. 4B, a plurality of sensing elements of the
발광소자(110)의 광원(115)을 LED 광원을 이용하는 경우, 집광을 높이기 위하여, 수광소자도 발광소자(110)와 같이 볼록렌즈(117)와 오목렌즈(118)를 더 구비할 수 있다.In the case where the
도 1의 경우, 발광소자(110)는 하나로 구성되어 있다. 따라서, 수광소자(120)에 센싱되는 빛의 양을 기초로 산출되는 기준값과, 출력값이 동시에 측정되지 않는다. 즉, 도 1의 실시예의 경우, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 사용전 미리 기준값은 측정되어 설정된다. 도 2의 실시예의 경우, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 커버가 없는 반사체(130)에서 반사된 빛을 센싱하여 수광소자의 출력값의 측정 전 또는 후에 커버가 덮인 반사체(130)를 이용하여 기준값을 측정할 수 있다. 도 2와 같이, 동시에 기준값과 출력값을 산출하는 경우, 동일한 조건하에서 산출된 값을 비교하여 오염도를 판단할 수 있으므로, 판단된 오염도의 정확도가 높아질 수 있다. In the case of FIG. 1, the
도 5를 참조하여, 반투명거울을 이용하여 기준값과 출력값을 동시에 산출하여 비교하는 구조를 설명한다.Referring to FIG. 5, a structure for simultaneously calculating and comparing a reference value and an output value using a semi-transparent mirror will be described.
도 5는, 발광소자의 광경로 상에 위치한 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 빛이 분기되는 것을 도시한 도면이다.5 is a view showing that light is split using a translucent mirror and a total reflection mirror which are located on the optical path of the light emitting element.
도 5를 참조하면, 태양전지패널 표면 오염측정장치는 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 포함하고 있다. Referring to FIG. 5, the solar panel surface contamination measuring apparatus includes a
반투명거울(160)은 발광소자(110)에서 출력된 빛의 일부를 어느 하나의 반사체(130)를 향하여 통과시키고, 출력된 나머지 빛을 전반사거울(170)을 향해 반사시킨다. 이 때, 반투명거울(160)에서 분기된 각각의 빛의 양은 일정하도록, 반투명거울(160)의 빛의 반사량과 투과량은 일정하도록 조절할 수 있다.The
전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 나머지 하나의 반사체(130)로 굴절시킨다.The
이하, 도 1 내지 도 4b를 참고하여 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the solar cell panel surface
발광소자(110)의 광원(115)에서 방출된 빛이 광필터(116)를 통하여 빛의 세기가 조절될 수 있다. 광필터(116)를 통과한 빛은 볼록렌즈(117)와 오목렌즈(118)를 통과하여 집광되어 반사체(130)로 직진한다. 반사체(130)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(130)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(130)에 의해 반사된 빛은 수광소자(120)를 향해 진행한다. 수광소자(120)의 광필터(126)를 통과하여 광센서(125)에 빛이 도달한다.The intensity of the light emitted from the
광센서(125)에 도달한 빛은 광센서(125)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값이나 전류값을 측정한다.Light reaching the
프로세서는 측정된 저항값 또는 전류값을 바탕으로, 오염도에 따른 기준값을 설정한다. 예를 들어, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 반사체(130)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다. The processor sets a reference value according to the degree of contamination based on the measured resistance value or current value. For example, if the measured resistance is 1 ohm (ohm) and the resistance of the
태양전지패널에 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)를 설치하여 일정시간이 지난 후, 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 반사체(130)에 부착되어 반사도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30%이상되면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지패널의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.The solar panel surface
광센서(125)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.When the
도 2와 도 5를 참조하여, 반사체(130)가 복수 개로 이루어진 경우에 태양전지패널 표면 오염측정장치의 동작을 설명한다.Referring to FIGS. 2 and 5, the operation of the solar cell surface contamination measuring device in the case where the
도 5를 참조하면, 반투명거울(160)은 발광소자(110)에서 출력된 빛의 일부를 복수의 반사체(130) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 복수의 반사체(130) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 반사체(130) 중 하나는 커버(150)로 덮여 있다.5, the
본 발명의 도면에서는 도시되지 않았지만, 복수개의 발광소자(110)를 가지는 경우에는, 하나의 발광소자(110)는 커버(150)로 덮여있는 반사체(130)로 빛을 진행시키고, 나머지 발광소자(110)는 커버로 덮여있지 않은 반사체(130)로 빛을 진행시킨다.Although not shown in the drawings of the present invention, when a plurality of light emitting
발광소자(110)로부터 출력된 빛 중 하나는 커버(150)가 씌워진 반사체(130)로 진행한다. 발광소자(110)로부터 출력된 빛은 커버(150)의 광유입구(151)를통과하여 반사체(130)로 입사된다. 반사체(130)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(130)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(130)에 의해 반사된 빛은 커버(150)의 광유출구(152)를 통과하여 수광소자(120)를 향해 진행한다. 수광소자(120)의 광필터(126)를 통과하여 광센서(125)에 빛이 도달한다.One of the light output from the
광센서(125)에 도달한 빛은 광센서(125)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.Light reaching the
발광소자(110)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(150)가 씌워지지 않은 반사체(130)로 진행한다. 반사체(130)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 반사체(130)에 의해 반사된 빛은 수광소자(120)를 향해 진행한다. 수광소자(120)의 광필터(126)를 통과하여 광센서(125)에 빛이 도달한다.The other one of the light output from the
광센서(125)에 도달한 빛은 광센서(125)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the
프로세서는 도 1의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력된 저항값과 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output resistance value and the reference value, as described above in the operation method of the embodiment of FIG.
광센서(125)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다. 청소시기 판단과정은 저항값을 기준값으로 하는 경우와 유사하다.When the
이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지패널의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.In this case, the processor can notify the cleaning time of the solar panel through an output unit such as a display (not shown) based on the determination of the contamination degree.
이하 도 6 및 도 7을 참조하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 투과창을 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 설명한다.6 and 7, an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel including a transmission window according to a second embodiment of the present invention will be described.
도 6은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 단면도이고, 도 7은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 투과창을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.FIG. 6 is a cross-sectional view showing an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a sectional view of a solar cell panel surface contamination measuring apparatus according to a second embodiment of the present invention, Fig.
도 6을 참조하면, 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)는 발광소자(210), 수광소자(220)와 투과창(230)을 포함한다. Referring to FIG. 6, an
발광소자(210)는 베이스(240)의 일면에 부착된다. 발광소자(110)는 빛을 출력하는 광원(215)을 포함한다. 광원(215)은 도 1에서 상술한 바와 같이 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(215)의 종류는 이에 한정되지 않고 LED광원 등으로 사용될 수 있다.The
수광소자(220)는 베이스(240)의 일면에 부착되거나, 베이스(240)의 일면에 매립된다. 수광소자(220)의 광센서(225)는 베이스(240)의 일면에 노출되도록 배치될 수 있다. 광센서(225) 수광소자(220)에 도달하는 빛의 양을 감지한다. 투과창(230)은 수광소자(220)의 상면에 배치되고, 발광소자(210)에서 출력된 빛을 수광소자(220)로 통과시킨다. 투과창(230)은 빛의 투과율이 거의 100%에 가까운 글래스를 쓰는 것이 바람직하다. The
투과창(230)이 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(210)에서 출력된 빛이 투과창(230)을 통과하여 수광소자(220)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다. 이 때, 오염도의 기준값은 반사체가 일정 정도 오염되었을 경우의 출력값을 산출하여 결정할 수 있다.The light output from the
본 발명에서는 투과창(230)이 베이스(240)의 일면에 매립되어 있는 형태로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 투과창(230)은 베이스(240)에서 돌출되어 있는 형태로 부착될 수 있다. 투과창(230)도 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 반사체(130)와 마찬가지로, 자석을 이용한 결합이나, 후크결합을 이용할 수 있다.The
하부케이스(270)는 베이스(240)의 아래에 부착될 수 있다. 하부케이스(270)는 전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)를 포함할 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(210)로 공급하고, 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)의 작동을 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(220)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 장치 외부의 프로세서로 송신할 수 있다.The
도 1, 도 2와 마찬가지로, 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)는 상부케이스(290)를 포함할 수 있다. 제1 실시예와 상이한 점은, 수광소자(220)는 외부로 노출되지 않으므로, 발광소자(210)를 감싸는 형태로 설치할 수 있다.1 and 2, the
프로세서는 하부케이스(270) 내부에 배치될 수 있으며, 수광소자(220)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 투과율이 100%인 상태의 투과창(230)을 통과하여 수광소자(220)에 도달한 빛의 양을 바탕으로 미리 측정하여 산출된 기준값을 정한다. 현재 수광소자(220)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(220)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단한다. 상술한 과정을 거쳐 프로세서는 태양전지패널의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(225)의 경우, 광센서(225)에 도달하는 빛의 양이 많으면, 광센서(225)의 저항은 낮아지고, 광센서(225)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(225)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. The processor can be disposed inside the
기준값보다 높은 저항값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the resistance value is higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and based on this, the cleaning time is determined.
상술한 바와 같이, 프로세서는 광다이오드를 이용하여 전류값을 바탕으로 기준값과 출력값을 산출할 수 있고, 이를 바탕으로 오염도 및 청소시기를 판단할 수 있다.As described above, the processor can calculate the reference value and the output value based on the current value using the photodiode, and it is possible to determine the degree of contamination and the cleaning time based on the reference value and the output value.
도 7을 참조하면, 투과창(230)이 복수이다. 도 5에서 상술한 바와 같이, 발광소자(210)는 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 이용하여 빛의 경로를 복수 개로 만들 수 있다. 이를 바탕으로, 발광소자(210)에서 출력되는 빛의 경로는, 복수의 투과창(230)중 하나로 향하게 조절할 수 있다. 복수의 투과창(230)중 하나는 커버(250)를 가지고 있다. 반사체(130)에 씌워진 커버(150)와 상이하게, 투과창(230)에 씌워진 커버(250)는 광유입구(251)만 가지고 있고, 광유출구는 별도로 구비하지 않는다. 커버(250)에 씌워진 투과창(230)은 청정한 상태로 유지될 수 있다. 따라서, 커버(250)에 씌워진 투과창(230)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(220)의 광센서(225)의 값을 바탕으로 기준값을 설정한다. Referring to FIG. 7, there is a plurality of
반대로, 커버가 씌워지지 않은 투과창(230)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(220)에서 출력된 출력값을 산출한다. 프로세서는 기준값과 출력값을 바탕으로, 태양전지패널의 오염도를 측정하고, 청소시기를 결정한다.Conversely, the output value output from the
상부케이스(290)는 광경로에 대응하여, 개구(291)를 가질 수 있고, 발광소자(210)를 감싼다.The
도 4a, 도 4b에서 상술한 바와 같이, 발광소자(210)는 광필터와 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 있다.4A and 4B, the
이하, 도 6 및 도 7을 참고하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the
도 6을 참조하면, 상술한 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 동작처럼, 발광소자(210)의 광원(215)에서 방출된 빛이 광필터를 통하여 빛의 세기가 조절될 수 있다. 광필터를 통과한 빛은 볼록렌즈와 오목렌즈를 통과하여 집광되어 투과창(230)으로 직진한다. 이 때, 투과창(230)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용할 수 있다. 투과창(230)에 의해 투과된 빛은 수광소자(220)를 향해 진행한다. 투과창을 통과한 빛은 수광소자(220)의 광센서(225)에 도달한다.Referring to FIG. 6, the light emitted from the
광센서(225)에 도달한 빛은 광센서(225)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값이나 전류값을 측정한다.Light reaching the
프로세서는 측정된 저항값을 바탕으로, 오염도에 따른 저항값 또는 전류값을 기준값으로 설정한다. 예를 들어, 저항값을 바탕으로 설명하면, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 투과창(230)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다.Based on the measured resistance value, the processor sets the resistance value or current value according to the degree of contamination as a reference value. For example, based on the resistance value, if the measured resistance is 1 ohm (ohms) and the resistance of the
태양전지패널에 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)를 설치하여 일정시간이 지난 후, 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 투과창(230)에 부착되어 투과도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30%이상되면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지패널의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.A solar cell surface
도 7을 참조하면, 투과창(230)은 복수 개로 이루어져 있다. 상술한 도 5의 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 본 발명에 적용하면, 반투명거울(160)은 발광소자(210)에서 출력된 빛의 일부를 복수의 투과창(230) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 복수의 투과창(230) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 투과창(230) 중 하나는 커버(250)로 덮여 있다.Referring to FIG. 7, a plurality of
발광소자(210)로부터 출력된 빛 중 어느 하나는 커버(250)가 씌워진 투과창(230)으로 진행한다. 발광소자(210)로부터 출력된 빛은 커버(250)의 광유입구(251)를 통과하여 투과창(230)으로 입사된다. 투과창(230)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용하는 것이 바람직하다. 투과창(230)에 의해 투과된 빛은 수광소자(120)를 향해 진행하여, 수광소자(220)의 광센서(225)에 빛이 도달한다.Any one of the light output from the
광센서(225)에 도달한 빛은 광센서(225)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.Light reaching the
발광소자(210)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(250)가 씌워지지 않은 투과창(230)으로 진행한다. 투과창(230)에 의해 투과된 빛은 수광소자(220)를 향해 진행하고, 수광소자(220)의 광센서(225)에 빛이 도달한다.The other one of the lights outputted from the
광센서(225)에 도달한 빛은 광센서(225)의 저항을 감소시키고, 광센서(225)의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the
프로세서는 도 6의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력된 저항값과 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output resistance value and the reference value, as described above in the operation method of the embodiment of FIG.
복수개의 발광소자(210)를 가지는 경우에도, 프로세서는 커버(250)로 덮여있는 투과창(230)을 투과하여 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 기준값을 획득한다. 또한, 프로세서는 커버(250)가 덮여있지 않은 투과창(230)으로부터 투과된 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 출력되는 저항값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지패널의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.Even when a plurality of light emitting
이하에서, 도 8a 내지 도 9를 바탕으로 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to Figs. 8A to 9. Fig.
도 8a, 8b, 8c, 8d는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 유리시편의 반사막 도포 패턴을 나타낸 도면이고, 도 9는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이다.FIGS. 8A, 8B, 8C, and 8D are views showing a reflection film application pattern of a glass specimen of a solar cell panel surface contamination measuring device according to a third embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 2 is a perspective view illustrating a solar cell surface contamination measuring device according to an embodiment of the present invention. FIG.
도 8a 내지 8d를 참조하여, 유리시편의 반사막 도포 패턴을 살펴본다. 8A to 8D, a reflection film application pattern of the glass specimen will be described.
도 8a에서는 유리시편(530)의 절반은 반사막을 도포시켜 반사부(531)를 가지고, 도포되지 않은 나머지 절반은 투과부(532)로 구성된다. 도 8b에서는 반사부(531)와 투과부(532)가 배치되어 있다. 도 8c에서는 격자무늬 형태로 반사부(531)와 투과부(532)가 배치되어 있다. 도 8d에서는 동심원 형태로 반사부(531)와 투과부(532)가 배치되어 있다.In Fig. 8A, half of the
상술한 반사부(531)와 투과부(532)를 나타내는 유리시편의 패턴들은, 포토리소그래피(photolithography) 공정을 이용하여 형성될 수 있다.The patterns of the glass specimen representing the
도 9를 참조하면, 태양전지패널 표면 오염측정장치(500)는 발광소자(510), 수광소자(520) 및 유리시편(530)을 포함하고 있다.Referring to FIG. 9, a solar panel surface
발광소자(510)와 수광소자(520)는 제1 내지 제2 실시예에서 상술한 실시예에서의 발광소자와 수광소자와 동일하다.The
유리시편(530)은 반사부(531)와 투과부(532)로 구성되어 있다. 최최의 유리시편(530)은 100%에 근접하는 투과율을 가지는 투과부(532)로만 구성된 상태이다. 이후, 유리시편(530)에 반사막을 증착시켜 반사부(531)를 형성한다. 반사막은 반사율이 100%에 근접하도록 코팅된다. 따라서, 유리시편(530)의 반사막이 증착된 반사부(531)는 100%에 근접한 반사율을 가지고, 반사막이 증착되지 않은 투과부(532)는 100%에 근접한 투과율을 가진다.The
수광소자(520)는 복수개로 구성되어 있다. 복수의 수광소자(520) 중 제1 수광소자는 유리시편(530)의 투과부(532) 하부에 배치되고, 제1 수광소자의 광센서(526)는 유리시편(530)의 투과부(532)를 향하게 배치된다.The
복수의 수광소자(520) 중 제2 수광소자는 베이스(540)의 일면에 배치되고, 발광소자(510)를 마주보게 배치된다. 제2 수광소자와 발광소자(510)사이에서 유리시편(530)은 베이스(540)의 상면에 위치한다.The second light-receiving element of the plurality of light-receiving
발광소자(510)는 도 5의 실시예와 같이, 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 이용하여, 광경로를 분기시킬 수 있다. 분기된 광경로 중 어느 하나로 진행하는 빛을 제1 빛이라 하고, 다른 빛을 제2 빛이라고 정의한다. 제1 빛과 제2 빛 중 어느 하나가 유리시편(530)의 반사부(531)로 향하면, 제1 빛과 제2 빛 중 다른 하나는 유리시편(530)의 투과부(532)로 향하도록 조정할 수 있다.The
이하에서, 도 9를 참조하여, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(500)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the
도 9의 실시예의 경우에는, 도 5의 반투명거울(160)을 이용하여 발광소자(510)에서 출력된 빛을 분기시킬 수 있다.In the case of the embodiment of FIG. 9, the light output from the
반투명거울(160)은 발광소자(510)의 광원(515)에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 제1 빛을 투과시키고 상기 제2 빛을 반사시킨다.The
전반사거울(170)은 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시킨다.The
제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 투과부(532)로 향하고, 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 반사부(531)로 향하게 진행한다. 이 경우, 투과부(532)아래에 위치하는 제1 수광소자의 광센서(526)에의해 투과부(532)를 투과한 빛이 감지한다. 반사부(531)에서 반사된 빛은 제2 수광소자로 진행하고, 제2 수광소자의 광센서(525)에 의해 반사된 빛이 감지된다.One of the first and second lights is directed to the
상술한 제1 내지 제2 실시예와 마찬가지로, 유리시편(530)이 오염되기 전에 투과부(532)를 투과한 빛과 반사부(531)에서 반사된 빛을 감지하여 기준값을 설정할 수 있다. 프로세서는 설정된 기준값과, 현재 측정된 수광소자(520)에서의 출력값을 비교하여, 태양전지패널의 오염도를 판단할 수 있다. 제1 수광소자 및 제2 수광소자에서 개별적으로 측정되므로, 오염도 측정의 정밀도를 향상시킬 수 있다.The reference value can be set by sensing the light transmitted through the
또한, 복수개의 레이저를 이용할 수도 있으며, 이 경우, 상술한 바와 같이 유리시편(530)에 커버를 씌워 측정된 출력값을 기준값으로 활용할 수 있다. 도 9의 태양전지패널 표면 오염측정장치(500)는 도 2의 실시예인 반사체를 이용하여 오염도 측정하는 구성과 도 7의 실시예인 투과창을 이용하여 오염도 측정하는 구성을 동시에 가질 수 있다. 또한, 복수개의 광원을 이용하는 경우,어느 하나의 유리시편(530)은 커버를 씌워 기준값을 동시에 측정할 수 있다.In addition, a plurality of lasers may be used. In this case, a cover may be covered with the
또한, 유리시편(530)을 도 8a 내지 도 8d와 같은 패턴을 가지는 것으로 활용하는 경우, 제1 내지 제2 실시예의 반사체나 투과창대신 사용할 수 있다. 이 경우, 미세먼지와 같은 작은 입자에 의해 오염되는 경우에도 정밀하게 측정할 수 있는 장점을 가질 수 있다.Further, when the
이하, 도 10 내지 도 12b를 참조하여, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 오염을 측정하는 태양전지패널의 구성을 설명한다.10 to 12B, a configuration of a solar cell panel for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention will be described.
도 10은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널을 도시한 사시도이고, 도 11은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 태양전지에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이며, 도 12a, 12b는 반사체와 태양전지모듈의 결합관계를 나타내는 단면도이다.FIG. 10 is a perspective view showing a solar cell panel measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 11 is a view showing that a solar cell according to a fourth embodiment of the present invention includes a further reflecting plate And FIGS. 12A and 12B are cross-sectional views showing the coupling relationship between the reflector and the solar cell module.
도 10을 참조하면, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)은 발광소자(310), 수광소자(320) 및 반사체(330)로 이루어져 있다. Referring to FIG. 10, a
발광소자(310)는 패널프레임(370)의 일모서리에 부착된다. 발광소자(210)는 빛을 출력하는 광원(315)을 포함한다. 광원(315)은 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(315)의 종류는 이에 한정되지 않는다. The
수광소자(320)는 패널프레임(370)의 일모서리에 부착되고, 발광소자(310)와 마주보게 배치된다. 수광소자(320)는 광센서(325)를 포함하고, 광센서(325)를 통하여 빛을 감지한다. 광센서(325) 내부에 황화카드뮴(CdS)소자와 같이 빛이 도달하면 저항이 변화하는 소자를 포함할 수 있다. 따라서, 빛이 광센서(325)에 도달하면, 저항의 값을 프로세서로 전송할 수 있다. 광센서(325)는 상술한 광센서에 한정되지 않으며, 광량에 따라 다른 값을 출력할 수 있는 센서는 수광소자(320)의 광센서(325)로 사용할 수 있다.The
반사체(330)는 태양전지모듈(340)의 일면에 부착되고, 발광소자(310)에서 출력되는 빛을 반사한다. 반사체(330)에 반사된 빛은 수광소자(320)로 도달된다. 반사체(330)는 입사광의 손실이 거의 없이 반사할 수 있는 것으로 사용한다. 즉, 반사체(330)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 사용할 수 있다.The
반사체(330)가 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(310)에서 출력된 빛이 반사체(330)에 반사되어 수광소자(320)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다.The light output from the
반사체(330)가 오염되는 경우나 오염도를 측정하고 청소를 한 경우에는, 반사체(330)를 교체할 수 있다. 이와 관련하여, 반사체(330)의 결합관계는 후술하도록 한다. 발광소자(310)와 수광소자(320)는 상술한 바와 같이 도 4a, 도 4b와 같이 광필터, 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 수 있다.When the
전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)는 태양전지 외부에 포함될 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(310)로 공급하고, 태양전지모듈의 오염도를 측정하기 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(320)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 관제실과 같은 원거리의 프로세서로 송신할 수 있다.A power source (not shown), a communication unit (not shown), and a processor (not shown) may be included outside the solar cell. The power supply unit supplies energy for emitting light to the
프로세서는 오염을 측정하는 태양전지패널(300) 주위에 배치될 수도 있으며, 수광소자(320)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 반사율이 100%인 상태의 반사체에서 미리 측정하여 산출된 기준값과 현재 수광소자(320)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(320)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단하여, 태양전지모듈의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(325)의 경우, 광센서(325)에 도달한는 빛의 양이 많으면, 광센서(325)의 저항은 낮아지고, 광센서(325)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(325)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. 기준값보다 높은 저항값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.The processor may be disposed around the
광센서(325)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.When the
도 11을 참조하면, 오염을 측정하는 태양전지패널(300)은 복수의 발광소자(310), 복수개의 수광소자(320)와 복수개의 반사체(330)를 포함한다.Referring to FIG. 11, a
발광소자(310)는 태양전지모듈(340)면을 기준으로 기울어지도록 패널프레임(370)과 힌지(312)로 결합될 수 있으며, 패널프레임(370)에서 회전할 수 있도록 회전판(311)을 포함할 수 있다. 발광소자(310)의 위치를 조정하여, 발광소자(310)로부터 방출되는 빛이 반사체(330)를 향하도록 할 수 있다.The
수광소자(320)도, 발광소자(310)처럼 태양전지모듈(340)면을 기준으로 기울어지도록 패널프레임(370)과 힌지(322)로 결합될 수 있으며, 패널프레임(370)에서 회전하도록 회전판(321)을 포함할 수 있다. 수광소자(320)의 위치를 조정하여, 반사체(330)로부터 반사되는 빛이 수광소자(320)에 도달할 수 있도록 할 수 있다.The
반사체(330)는 복수개로 배치될 수 있으며, 발광소자(310)와 수광소자(320)사이에 배치된다. 복수의 반사체(330)중 하나는 커버(350)로 싸여있다. A plurality of
커버(350)는 반사체(330)의 일면을 감싸고 있다. 도 3에서 설명한 바와 같이 빛이 통과할 수 있도록, 커버(350)는 광유입구, 광유출구를 포함하고 있다. 광유입구와 광유출구는 빛의 이동 경로상에 위치한다. 따라서, 커버(350)는 빛의 이동경로를 간섭하지 않는다. The
커버(350)는 반사체(330)의 일면을 덮으므로, 태양전지패널 표면 오염측정장치를 사용하는 경우 커버(350)가 싸여진 반사체(330)는 외부의 환경에 노출되지 않아 먼지와 같은 이물질의 접근을 차단한다.The
발광소자(310)로부터 출력된 빛은 커버(350)가 덮인 반사체(330)에 반사되어 수광소자(320)에 도달한다. 반사체(330)에 반사된 빛을 센싱한 수광소자(320) 출력값을 바탕으로 기준값은 설정된다. The light output from the
프로세서는 기준값과, 출력값을 비교하여 오염도를 판단한다. 오염도를 판단하는 방법은 도 10에서 상술한 방법과 같이 수행될 수 있다. 즉, 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(325)의 경우, 광센서(325)에 도달하는 빛의 양이 많으면, 광센서(325)의 저항은 낮아지고, 광센서(325)는 저항값 또는 전류값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높거나 전류값이 낮으면, 광센서(325)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다.The processor compares the reference value and the output value to determine the degree of contamination. The method of determining the degree of contamination can be performed as in the method described above in Fig. That is, in the case of the
기준값보다 저항값이 높거나 또는 전류값이 낮으면, 프로세서는 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the resistance value is higher than the reference value or the current value is lower than the reference value, the processor judges that the contamination degree is severe and determines the cleaning timing based on the judgment.
도 12a를 참조하면, 반사체(330)는 끼움돌기(331)를 구비하고, 태양전지모듈(340)은 끼움홀(342)을 구비하는 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 12A, it can be seen that the
반사체(330)의 끼움돌기(331)를 태양전지모듈(340)의 끼움홀(342)에 삽입하여 고정하는 방식으로 결합할 수 있다. 즉, 반사체(330)와 태양전지모듈(340)은 후크결합방식으로 결합될 수 있다.The
도 12b를 참조하면, 반사체(330)는 자석(332)을 포함하고 있다.Referring to FIG. 12B, the
반사체(330)는 반사체에 포함된 자석(332)으로 태양전지모듈(340)과 결합할 수 있다. 태양전지모듈(340)이 자성체로 구성되어 있으면, 반사체(330)와 자기적으로 결합할 수 있다. 반사체(330)가 고정되도록, 강한 자기장을 가지는 자석(332)을 사용하는 것이 바람직하다.The
반사체(330)는 소모품이므로, 도 12a, 12b와 같이 탈부착 가능하도록 제작되어 오염도를 판단하여 청소시기를 판단한 이후, 새 반사체(330)로 교체가능하다.Since the
이하, 도 10 내지 도 11을 참고하여 본 발명의 제3 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the
발광소자(310)에서 출력된 빛은 반사체(330)로 직진한다. 반사체(330)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(330)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(330)에 의해 반사된 빛은 수광소자(320)를 향해 진행하고, 광센서(325)에 빛이 도달한다.The light output from the
광센서(325)에 도달한 빛은 광센서(325)의 저항을 감소시키고, 광센서(325)의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다.Light reaching the
프로세서는 측정된 저항값을 바탕으로, 오염도에 따른 저항값을 기준값으로 설정한다. 예를 들어, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 반사체(130)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다.The processor sets the resistance value according to the degree of contamination as a reference value based on the measured resistance value. For example, if the measured resistance is 1 ohm (ohm) and the resistance of the
태양전지모듈에 반사체(330)를 설치하여 일정시간이 지난 후, 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 반사체(330)에 부착되어 반사도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30% 이상이면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지모듈의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.After the
광센서(325)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.When the
도 11을 참조하면, 발광소자(310)는 회전판(311)에 의해서 패널프레임(370)에서 회전하고, 힌지(312)에 의해서 태양전지모듈(340)의 일면과의 기울기를 조절할 수 있다. 발광소자(310)의 위치를 조절하여, 커버(350)가 씌워진 반사체(330)에 반사되도록 빛을 진행시킬 수 있고, 커버가 씌워지지 않은 반사체(330)에 반사되도록 빛을 진행시킬 수 있다. 11, the
복수개의 발광소자(310)를 가지는 경우에는, 하나의 발광소자(310)는 커버(350)로 덮여있는 반사체(330)로 빛을 진행시키고, 나머지 발광소자(310)는 커버로 덮여있지 않은 반사체(330)로 빛을 진행시킨다.In the case of having a plurality of light emitting
또한, 하나의 발광소자를 사용하는 경우, 도 5에서 상술한 바와 같이 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 하나의 발광소자(310)로부터 출력되는 빛을 2개로 분기시킬 수 있다. 이 경우, 반투명거울은 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 복수의 반사체(330) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울은 반투명거울에 반사된 빛을 복수의 반사체(330) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 반사체(330) 중 하나는 커버(350)로 덮여 있다.In addition, when one light emitting device is used, the light output from one
발광소자(310)로부터 출력된 빛 중 하나는 커버(350)가 씌워진 반사체(330)로 진행한다. 발광소자(310)로부터 출력된 빛은 커버(350)의 광유입구을 통과하여 반사체(330)로 입사된다. 반사체(330)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(330)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(330)에 의해 반사된 빛은 커버(350)의 광유출구를 통과하여 수광소자(320)를 향해 진행하고 광센서(325)에 빛이 도달한다.One of the light output from the
광센서(325)에 도달한 빛은 광센서(325)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.Light reaching the
발광소자(310)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(350)가 씌워지지 않은 반사체(330)로 진행한다. 반사체(330)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 반사체(330)에 의해 반사된 빛은 수광소자(320)를 향해 진행한다. 반사체(33)에 의해 반사된 빛은 수광소자(320)의 광센서(325)에 도달한다.The other one of the lights outputted from the
광센서(325)에 도달한 빛은 광센서(325)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the
프로세서는 도 10의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력된 저항값과 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output resistance value and the reference value, as described above in the operation method of the embodiment of FIG.
복수개의 발광소자(310)를 가지는 경우에도, 프로세서는 커버(350)로 덮여있는 반사체(330)로부터 반사된 빛이 도달하는 수광소자(320)로부터 기준값을 획득한다. 또한, 프로세서는 커버(350)가 덮여있지 않은 반사체(330)로부터 반사된 빛이 도달하는 수광소자(320)로부터 출력되는 저항값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지모듈의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.The processor obtains the reference value from the
이하, 도 13 및 도 14를 참조하여, 본 발명의 제5 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of the solar cell panel for measuring contamination according to the fifth embodiment of the present invention will be described with reference to Figs. 13 and 14. Fig.
도 13은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 태양전지를 도시한 사시도이고, 도 14는, 본 발명의 제4 실시예에 따른 태양전지에 추가 투명판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.FIG. 13 is a perspective view showing a solar cell according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 14 is a perspective view showing that a solar cell according to a fourth embodiment of the present invention further includes a transparent plate.
도 13을 참조하면, 오염을 측정하는 태양전지패널(400)은 발광소자(410), 수광소자(420)와 투과창(430)을 포함한다. Referring to FIG. 13, a
발광소자(410)는 패널프레임(470)의 일모서리에 부착된다. 발광소자(410)는 빛을 출력하는 광원(415)을 포함한다. 광원(415)은 도 1에서 상술한 바와 같이 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(415)의 종류는 이에 한정되지 않는다. 발광소자(410)는 패널프레임(470)에 고정되기 위하여, "ㄷ" 자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)에 의해서 체결될 수 있다. 체결 방법은 이에 한정되지 않으며, 발광소자(410)가 체결될 수 있는 형태이면 가능하다. 도 10, 도 11의 제 3실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)의 경우, 발광소자(310), 수광소자(320)는 동일하게 결합될 수 있다.The
도 10 및 도 11에서는 도시하지 않았지만, 상술한 "ㄷ"자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)는 도 10, 도 11의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)의 발광소자(310), 수광소자(320)에도 적용된다.Although not shown in FIGS. 10 and 11, the "C" shaped
또한, "ㄷ"자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)은 후술할 도 14의 복수의 발광소자(410)에도 적용된다.In addition, the "C" -shaped
수광소자(420)는 태양전지모듈(440)의 일면에 부착되거나, 태양전지모듈(440)의 일면에 매립된다. 수광소자(420)의 광센서(425)는 태양전지모듈(440)의 일면에 노출되도록 배치될 수 있다. 광센서(425) 수광소자(420)에 도달하는 빛의 양을 감지한다. 투과창(430)은 수광소자(420)의 상면에 배치되고, 발광소자(410)에서 출력된 빛을 수광소자(420)로 통과시킨다. 투과창(430)은 빛의 투과율이 거의 100%에 가까운 글래스를 쓰는 것이 바람직하다. The
투과창(430)이 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(410)에서 출력된 빛이 투과창(430)을 통과하여 수광소자(420)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다. 이 때, 오염도의 기준값은 반사체가 일정 정도 오염되었을 경우의 출력값을 산출하여 결정할 수 있다.The light output from the
본 발명에서는 투과창(430)이 태양전지모듈(440)의 일면에 돌출되어 있는 형태로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 투과창(430)은 태양전지모듈(440)에 매립되어 있는 형태일 수 있다. 투과창(430)은 도 12a, b의 반사체(330)와 마찬가지로, 태양전지모듈에 탈부착가능하다.The
전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)는 오염을 측정하는 태양전지패널(400)외부에 포함될 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(410)로 공급하고, 오염을 측정하는 태양전지패널(400)의 오염측정을 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(420)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 장치 외부의 프로세서로 송신할 수 있다.A power source (not shown), a communication unit (not shown), and a processor (not shown) may be included outside the
프로세서는 오염을 측정하는 태양전지패널(400) 근처에 배치되거나, 원거리의 제어실에 배치될 수 있으며, 수광소자(420)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 투과율이 100%인 상태의 투과창(430)을 통과하여 수광소자(420)에 도달한 빛의 양을 바탕으로 미리 측정하여 산출된 기준값을 정한다. 현재 수광소자(420)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(420)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단한다. 상술한 과정을 거쳐 프로세서는 태양전지모듈의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(425)의 경우, 광센서(425)에 도달하는 빛의 양이 많으면, 광센서(425)의 저항은 낮아지고, 광센서(425)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(425)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. The processor may be disposed near the
기준값보다 높은 저항값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the resistance value is higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and based on this, the cleaning time is determined.
도 14를 참조하면, 투과창(430)이 복수이다. 도 7에서 상술한 바와 같이, 발광소자(410)는 회전판(411)에 의해서 패널프레임(470)에서 회전하고, 힌지(412)에 의해서 태양전지모듈(440)의 일면에 대하여 기울기를 변화시킬 수 있다. 이를 바탕으로, 발광소자(410)에서 방출되는 빛의 경로는, 복수의 투과창(430)중 하나로 향하게 조절할 수 있다. 복수의 투과창(430)중 하나는 커버(450)를 가지고 있다. 투과창(430)에 씌워진 커버(450)와 상이하게, 투과창(430)에 씌워진 커버(450)는 광유입구만 가지고 있고, 광유출구는 별도로 구비하지 않는다. 커버(450)에 씌워진 투과창(430)은 청정한 상태로 유지될 수 있다. 따라서, 커버(450)에 씌워진 투과창(430)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(420)의 광센서(425)의 값을 바탕으로 기준값을 설정한다. Referring to FIG. 14, there is a plurality of
반대로, 커버가 씌워지지 않은 투과창(430)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(420)에서 출력된 출력값을 산출한다. 프로세서는 기준값과 출력값을 바탕으로, 태양전지모듈의 오염도를 측정하고, 청소시기를 결정한다.On the contrary, the output value output from the
도 14에서는 도시하지 않았지만, 도 5에서 상술한 바와 같이, 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 빛의 이동경로를 분기시킬 수 있다. 분기된 빛의 이동경로를 따라 이동하는 각각의 빛의 양을 일정하도록 조절하여, 기준값과 출력값을 동시에 산출할 수 있다.Although not shown in Fig. 14, as described above with reference to Fig. 5, the light traveling path can be branched by using a semitransparent mirror and a total reflection mirror. It is possible to simultaneously calculate the reference value and the output value by adjusting the amount of each light traveling along the movement path of the branched light to be constant.
전술한 도 13과 같이 "ㄷ"자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)로 발광소자(410)는 패널프레임(470)에 결합된다.The
도 4a, 도 4b에서 상술한 바와 같이, 발광소자(410)는 광필터와 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 있고, 수광소자(410)도 광필터, 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 수 있다.4A and 4B, the
이하, 도 13 및 도 14를 참고하여 본 발명의 제5 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(400)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the
도 13을 참조하면, 상술한 제3 실시예에 따른 태양전지의 동작처럼, 발광소자(410)의 광원(415)에서 방출된 빛이 광필터를 통하여 빛의 세기가 조절될 수 있다. 광필터를 통과한 빛은 볼록렌즈와 오목렌즈를 통과하여 집광되어 투과창(430)으로 직진한다. 이 때, 투과창(430)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용할 수 있다. 투과창(430)에 의해 투과된 빛은 수광소자(420)를 향해 진행한다. 투과창을 통과한 빛은 수광소자(420)의 광센서(425)에 도달한다.Referring to FIG. 13, light emitted from the
광센서(425)에 도달한 빛은 광센서(425)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값 또는 전류값을 측정한다.Light reaching the
프로세서는 측정된 저항값을 바탕으로, 오염도에 따른 저항값을 기준값으로 설정한다. 예를 들어, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 투과창(430)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다.The processor sets the resistance value according to the degree of contamination as a reference value based on the measured resistance value. For example, if the measured resistance is 1 ohm (ohm) and the resistance of the
태양전지모듈(440)에 투과창(430)을 설치하여 일정시간이 지난 후, 프로세서는 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 투과창(430)에 부착되어 투과도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30%이상되면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지모듈의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.After a certain period of time has elapsed after the
도 14를 참조하면, 투과창(430)은 복수 개로 이루어져 있다. 발광소자(410)는 회전판(411)에 의해서 패널프레임(470)에서 회전하고, 힌지(412)에 의해서 태양전지모듈(440)의 일면과의 기울기를 조절할 수 있다. 발광소자의 위치를 조절하여, 발광소자에서 방출된 빛은 커버(450)가 씌워진 투과창(430)에 빛이 투과될 수 있고, 커버가 씌워지지 않은 투과창(430)에 투과될 수 있다. Referring to FIG. 14, a plurality of
하나의 발광소자(410)는 커버(450)로 덮여있는 투과창(430)으로 빛을 진행시키고, 나머지 발광소자(410)는 커버로 덮여있지 않은 투과창(430)으로 빛을 진행시킨다.One
도 14에서는 도시하지 않았지만, 도 5의 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 본 발명에 적용하면, 반투명거울(160)은 발광소자(110)에서 출력된 빛의 일부를 복수의 투과창(430) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 복수의 투과창(430) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 투과창(430) 중 하나는 커버(450)로 덮여 있다.Although not shown in FIG. 14, when the
발광소자(410)로부터 출력된 빛 중 하나는 커버(450)가 씌워진 투과창(430)으로 진행한다. 발광소자(410)로부터 출력된 빛은 커버(450)의 광유입구를 통과하여 투과창(430)으로 입사된다. 투과창(430)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용하는 것이 바람직하다. 투과창(430)에 의해 투과된 빛은 수광소자(420)를 향해 진행하여, 수광소자(420)의 광센서(425)에 빛이 도달한다.One of the light output from the
광센서(425)에 도달한 빛은 광센서(425)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.The light reaching the
발광소자(410)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(450)가 씌워지지 않은 투과창(430)으로 진행한다. 투과창(430)에 의해 투과된 빛은 수광소자(420)를 향해 진행하고, 수광소자(420)의 광센서(425)에 빛이 도달한다.The other one of the lights output from the
광센서(425)에 도달한 빛은 광센서(425)의 저항을 감소시키고, 광센서(425)의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the
프로세서는 도 10의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output reference value, as described above in the method of operation of the embodiment of FIG.
복수개의 발광소자(210)를 가지는 경우에도, 프로세서는 커버(250)로 덮여있는 투과창(230)을 투과하여 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 기준값을 획득한다. 또한, 프로세서는 커버(250)가 덮여있지 않은 투과창(230)으로부터 투과된 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 출력되는 저항값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지모듈의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다. Even when a plurality of light emitting
만약, 광센서(425)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.If the
도 8a 내지 도 8d의 유리시편(530)을 도 10, 도11의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널에도 적용할 수 있으며, 도13, 도 14의 제5 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널에도 적용할 수 있다.The
유리시편(530)을 도 8a 내지 도 8d와 같은 패턴을 가지는 것으로 활용하는 경우, 제4 내지 제5 실시예의 반사체나 투과창대신 사용할 수 있다. 이 경우, 미세먼지와 같은 작은 입자에 의해 오염되는 경우에도 정밀하게 측정할 수 있는 장점을 가질 수 있다.When the
상술한 바와 같이, 프로세서는 기준값을 미리 설정하고, 이후에 수광소자에서 감지되는 빛을 바탕으로 산출되는 출력값을 비교하여 오염도를 판단할 수 있고, 커버가 씌워진 반사체, 투과창 또는 유리시편을 이용하여, 동시에 기준값과 출력값을 구하여 비교하여 오염도를 판단할 수 있다.As described above, the processor can determine the degree of contamination by comparing the output value calculated based on the light sensed by the light-receiving element in advance, by setting the reference value in advance, and by using the reflector, the transmission window, or the glass specimen , And at the same time, the reference value and the output value are obtained and compared to determine the degree of contamination.
본 발명의 일 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치와 태양전지패널은 태양전지모듈의 오염도를 판단하여 태양전지 패널의 청소시기를 적절하게 알려줄 수 있으며, 기준값을 측정하기 위한 다양한 방법을 통하여 정밀한 오염도 측정이 가능하다.The apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel and the solar cell panel according to an embodiment of the present invention can determine the pollution degree of the solar cell module to appropriately inform the cleaning timing of the solar cell panel and various methods for measuring the reference value Precise contamination measurement is possible.
또한, 다양한 패턴이 도포된 유리시편은 미세먼지와 같은 미세입자에 의한 오염도 측정의 정밀성을 향상시킬 수 있다.In addition, the glass specimen coated with various patterns can improve the precision of measuring the degree of contamination by fine particles such as fine dust.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 가능함은 물론이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention.
100,200,500 : 태양전지패널 표면 오염측정장치
300, 400 : 태양전지패널
110, 210, 310, 410, 510 : 발광소자
120, 220, 320, 420, 520 : 수광소자
130, 330 : 반사체
230, 430 : 투과창
530 : 유리시편100,200,500: Solar panel surface contamination measuring device
300, 400: solar cell panel
110, 210, 310, 410, 510:
120, 220, 320, 420, 520: Light receiving element
130, 330: reflector
230, 430: Transmission window
530: Glass Specimen
Claims (15)
상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 수광소자;
상기 베이스 일면에 배치되고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 반사하는 반사체; 및
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 반사체는 복수이고,
상기 복수의 반사체 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치.Base;
A light emitting element located at one end of the one surface of the base to output light;
A light receiving element located at the other end of the one surface of the base;
A reflector disposed on one side of the base and reflecting the output light to the light receiving element; And
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the reflector are plural,
Wherein one of the plurality of reflectors is enclosed in a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
상기 프로세서는,
기 설정된 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값을 기준값으로 설정하고, 측정 시점의 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값과 상기 기준값을 비교하여 오염도를 판단하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.The method according to claim 1,
The processor comprising:
The output value of the light receiving element which senses the light reflected from the reflector in the predetermined state is set as a reference value and the output value of the light receiving element which senses the light reflected by the reflector in the state at the measuring time is compared with the reference value, A device for measuring solar panel surface contamination.
상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 반사체 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 반사체 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울;을 더 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치.The method according to claim 1,
A plurality of reflectors disposed in the optical path, wherein a portion of the light output from the light emitting device is directed toward one of the plurality of reflectors A semi-transparent mirror for reflecting the output light; And
And a total reflection mirror for refracting the light reflected by the translucent mirror to another one of the plurality of reflectors.
상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부;를 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.The method according to claim 1,
Wherein the light emitting device includes a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.
상기 발광소자는 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되고,
상기 수광소자는 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절되는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.The method according to claim 1,
The light emitting element is controlled so that the output light is directed toward the reflector,
Wherein the light receiving element is adjusted so that light reflected from the reflector is sensed.
상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 베이스의 일면에 위치하는 수광소자;
상기 수광소자의 상면을 덮고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 투과시키는 투과창;
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 투과창은 복수이고,
상기 복수의 투과창 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.Base;
A light emitting element located at one end of the one surface of the base to output light;
A light receiving element located on one side of the base;
A transmission window covering the upper surface of the light-receiving element and transmitting the output light to the light-receiving element;
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the transmission window are plural,
Wherein one of the plurality of transmissive windows is enclosed by a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 투과창 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 투과창 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울;을 더 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.8. The method of claim 7,
A translucent mirror positioned in the optical path for passing a part of the light output from the light emitting element toward one of the plurality of transmission windows and reflecting the output remaining light; And
And a total reflection mirror for refracting the light reflected by the semi-transparent mirror to the other one of the plurality of transmission windows.
상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부;를 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.8. The method of claim 7,
Wherein the light emitting device includes a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.
상기 베이스 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 베이스 일면에 위치하는 제1 수광소자;
상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 제2 수광소자;
상기 제1 수광소자의 상면에 위치하고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편;
상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;
상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울;을 포함하고,
상기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향하는 태양전지패널 표면 오염측정장치.Base;
A light emitting element located at one end of the base and outputting light;
A first light receiving element located on one side of the base;
A second light receiving element located at the other end of the one surface of the base;
A glass specimen positioned on an upper surface of the first light receiving element and including a reflection part for reflecting the output light and a transmission part for transmitting the light;
A processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements;
A semitransparent mirror positioned at an optical path of light output from the light emitting device, for diverting the output light into first light and second light, transmitting the first light, and reflecting the second light; And
And a total reflection mirror for reflecting the second light reflected from the translucent mirror,
Wherein one of the first and second lights is directed to the transmissive portion and the other of the first and second lights is directed to the reflective portion.
상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈;
상기 태양전지모듈의 상면에 탈부착 가능하게 결합되는 반사체;
상기 패널프레임의 일 모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되는 발광소자;
상기 발광소자를 마주보는 상기 패널프레임의 타 모서리에 위치하고, 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절되는 수광소자; 및
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 반사체는 복수이고,
상기 복수의 반사체 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는, 태양전지패널.Panel frame;
A solar cell module located inside the panel frame;
A reflector detachably coupled to an upper surface of the solar cell module;
A light emitting element located at one corner of the panel frame and outputting light, the output light being adjusted to face the reflector;
A light receiving element positioned at the other corner of the panel frame facing the light emitting element and being adjusted to sense light reflected from the reflector; And
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the reflector are plural,
Wherein one of the plurality of reflectors is enclosed in a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈;
상기 태양전지모듈의 일면에 위치하는 수광소자;
상기 수광소자의 상면을 감싸는 투과창;
상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 투과창을 투과하여 수광소자에 도달하도록 조절되는 발광소자; 및
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 투과창은 복수이고,
상기 복수의 투과창 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는 태양전지패널.Panel frame;
A solar cell module located inside the panel frame;
A light receiving element located on one surface of the solar cell module;
A transmission window that surrounds the upper surface of the light receiving element;
A light emitting element located at one corner of the panel frame to emit light and being controlled so that the output light passes through the transmission window and reaches the light receiving element; And
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the transmission window are plural,
Wherein one of the plurality of transmissive windows is enclosed by a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
상기 패널프레임의 내부에 위치하는 태양전지모듈;
상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 태양전지모듈 일면에 위치하는 제1 수광소자;
상기 패널프레임의 타모서리에 위치하는 제2 수광소자;
상기 제1 수광소자의 상면을 감싸고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편; 및
상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울;을 더 포함하고,
상기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향하는, 태양전지패널.Panel frame;
A solar cell module positioned inside the panel frame;
A light emitting element located at one corner of the panel frame and outputting light;
A first light receiving element located on one surface of the solar cell module;
A second light receiving element located at the other corner of the panel frame;
A glass specimen including a reflective portion surrounding the upper surface of the first light receiving element and reflecting the output light, and a transmissive portion transmitting the light; And
And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements,
A semitransparent mirror positioned at an optical path of light output from the light emitting device, for diverting the output light into first light and second light, transmitting the first light, and reflecting the second light; And
And a total reflection mirror for reflecting the second light reflected from the translucent mirror,
Wherein one of the first and second light is directed to the transmissive portion and the other of the first and second light is directed to the reflective portion.
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