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KR101912708B1 - Contamination Measuring Device for Solar Panel Surface and Solar Cell Panel Measuring Contamination - Google Patents

Contamination Measuring Device for Solar Panel Surface and Solar Cell Panel Measuring Contamination Download PDF

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KR101912708B1
KR101912708B1 KR1020170007243A KR20170007243A KR101912708B1 KR 101912708 B1 KR101912708 B1 KR 101912708B1 KR 1020170007243 A KR1020170007243 A KR 1020170007243A KR 20170007243 A KR20170007243 A KR 20170007243A KR 101912708 B1 KR101912708 B1 KR 101912708B1
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박기철
신석호
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경상대학교산학협력단
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Abstract

본 발명은 태양전지패널 표면 오염측정장치에 관한 것으로, 베이스와, 베이스 상면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 베이스 상면의 타단에 위치하는 수광소자와, 베이스 상면에 배치되고, 출력된 빛을 수광소자로 반사하는 반사체와, 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함한다.The present invention relates to an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel, which comprises a base, a light emitting element located at one end of the base and outputting light, a light receiving element located at the other end of the upper surface of the base, And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element.

Description

태양전지패널 표면 오염측정장치 및 오염을 측정하는 태양전지패널{Contamination Measuring Device for Solar Panel Surface and Solar Cell Panel Measuring Contamination}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a solar cell panel,

본 발명은 태양전지패널 표면 오염측정장치 및 오염을 측정하는 태양전지패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 태양전지 표면에 배치된 반사판이나 투과창에서 반사되거나 투과되는 광량을 바탕으로 태양전지패널의 청정도를 측정하는 태양전지패널 표면 오염측정장치 및 오염을 측정하는 태양전지패널에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel and a solar cell panel for measuring contamination. More particularly, the present invention relates to a method for measuring the degree of cleanliness of a solar cell panel based on the amount of light reflected or transmitted through a reflection plate or a transmission window And a solar cell panel for measuring contamination.

화석연료의 사용에 의한 온실가스의 발생과 이로 인한 지구 온난화에 따른 환경 문제가 크게 대두하고 있다. 따라서, 대체에너지를 활용하기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다.Environmental problems caused by the generation of greenhouse gases caused by the use of fossil fuels and the global warming caused by them are rising. Therefore, researches for utilization of alternative energy are actively proceeding.

친환경 에너지 중 태양에너지를 이용한 태양전지의 보급률은 점점 증가하고 있다. 최근에는 관공서뿐만 아니라 가정에서도 태양전지를 이용하여 필요한 전력을 사용하고 있다. The adoption rate of solar cells using solar energy among green energy is increasing. In recent years, solar cells are being used in homes as well as government offices to use the necessary power.

그러나 태양전지 표면의 미세한 오염에도 태양전지의 효율은 급격하게 저하된다. 최근에는 대기오염에 따른 미세먼지의 증가로, 태양전지패널의 표면에 쌓이는 먼지나 이물질등으로 전력생산 효율을 저감시키는 문제가 증가하고 있다.However, the efficiency of the solar cell is drastically lowered even if the surface of the solar cell is slightly contaminated. In recent years, there has been an increasing problem of reducing power production efficiency due to dust or foreign matter accumulated on the surface of a solar cell panel due to increase of fine dust due to air pollution.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 목적은 발광소자, 수광소자 및 반사체 또는 투과창을 포함하는 하나의 모듈을 태양전지패널에 부착하여 간편하게 태양전지 패널의 오염도를 측정할 수 있는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a solar cell module capable of easily measuring the pollution degree of a solar cell panel by attaching one module including a light emitting device, a light receiving device, And to provide a device for measuring surface contamination of a panel.

본 발명은 발광소자로부터 방출된 빛이 태양전지패널 상에 설치된 반사판에 반사되거나 태양전지패널에 부착된 투과창을 통과하여 수광소자에서 측정되는 광량을 이용하여 효과적으로 태양전지 패널의 오염을 측정할 수 있는 태양전지패널을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.The present invention can effectively measure the contamination of a solar cell panel using light emitted from a light emitting device through a reflection plate provided on the solar cell panel or through a transmission window attached to the solar cell panel, There is another purpose in providing a solar panel.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 베이스와, 상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 수광소자와, 상기 베이스 일면에 배치되고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 반사하는 반사체와, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a light emitting device comprising: a base; a light emitting element located at one end of the base and outputting light; a light receiving element located at the other end of the base; And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element.

상기 프로세서는, 기 설정된 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값을 기준값으로 설정하고, 측정 시점의 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값과 상기 기준값을 비교하여 오염도를 판단할 수 있다.The processor sets the output value of the light receiving element that senses the light reflected from the reflector in a predetermined state as a reference value and compares the output value of the light receiving element that senses the light reflected from the reflector in the state at the measurement time with the reference value So that the degree of contamination can be determined.

상기 수광소자 및 상기 반사체는 복수이고, 상기 복수의 반사체 중 하나는 커버로 싸여있고, 상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함할 수 있다.The light receiving element and the reflector may be plural, and one of the plurality of reflectors may be enclosed by a cover, and the cover may include a cavity corresponding to the light path.

상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 반사체 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울과, 상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 반사체 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울을 더 포함할 수 있다.A plurality of reflectors disposed in the optical path, wherein a portion of the light output from the light emitting device is directed toward one of the plurality of reflectors And a total reflection mirror for reflecting the light outputted from the semi-transparent mirror to the other one of the plurality of reflectors.

상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부를 포함할 수 있다.The light emitting device may include a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.

상기 발광소자는 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되고, 상기 수광소자는 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절될 수 있다.The light emitting device is adjusted so that the output light is directed toward the reflector, and the light receiving device is adjusted to sense the light reflected from the reflector.

본 발명은 베이스와, 상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 베이스의 일면에 위치하는 수광소자와, 상기 수광소자의 상면을 덮고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 투과시키는 투과창과, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.The present invention provides a light emitting device comprising a base, a light emitting element located at one end of the base, a light emitting element for emitting light, a light receiving element located on one surface of the base, and a light receiving element covering the upper surface of the light receiving element, And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element. The above and other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG.

상기 수광소자 및 상기 투과창은 복수이며, 상기 복수의 투과창 중 하나는 커버로 싸여있고, 상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함할 수 있다.The light receiving element and the transmission window are plural, and one of the plurality of transmission windows is enclosed by a cover, and the cover may include a cavity corresponding to the optical path.

상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 투과창 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울과 상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 투과창 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울을 더 포함할 수 있다.A translucent mirror positioned in the optical path for passing a part of the light output from the light emitting element toward one of the plurality of transmission windows and reflecting the output remaining light, And may further include a total reflection mirror for refracting the other of the plurality of transmission windows.

상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부를 포함할 수 있다.The light emitting device may include a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.

또한, 본 발명은 베이스와, 상기 베이스 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 베이스 일면에 위치하는 제1 수광소자와, 상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 제2 수광소자와, 상기 제1 수광소자의 상면에 위치하고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편과, 상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a light emitting device comprising a base, a light emitting element located at one end of the base, a light emitting element for emitting light, a first light receiving element located on one side of the base, a second light receiving element located at the other end of the one side of the base, A glass sample placed on an upper surface of a light receiving element and including a reflecting portion for reflecting the output light and a transmitting portion for transmitting the light; and a control portion for controlling the degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements. The present invention can provide a solar cell surface contamination measuring device including a processor for judging a surface contamination of a solar cell panel.

상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울과, 상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울;을 더 포함하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향할 수 있다.A semitransparent mirror positioned at an optical path of light output from the light emitting device and dividing the output light into first light and second light and transmitting the first light and reflecting the second light; And a total reflection mirror for reflecting a second light reflected from the mirror, wherein one of the first and second light is directed to the transmission portion, and the other one of the first and second lights can be directed to the reflection portion have.

또한, 본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해, 패널프레임과, 상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈과, 상기 태양전지모듈의 상면에 탈부착 가능하게 결합되는 반사체와, 상기 패널프레임의 일 모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되는 발광소자와, 상기 발광소자를 마주보는 상기 패널프레임의 타 모서리에 위치하고, 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절되는 수광소자와, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 오염을 측정하는 태양전지패널을 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a solar cell module comprising: a panel frame; a solar cell module disposed inside the panel frame; a reflector detachably coupled to an upper surface of the solar cell module; A light emitting element disposed at the other corner of the panel frame facing the light emitting element and adapted to sense light reflected from the reflector, And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the light receiving element.

본 발명은 패널프레임과, 상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈과, 상기 태양전지모듈의 일면에 위치하는 수광소자와, 상기 수광소자의 상면을 감싸는 투과창과, 상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 투과창을 투과하여 수광소자에 도달하도록 조절되는 발광소자와, 상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하는 오염을 측정하는 태양전지패널을 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.The present invention provides a solar cell module comprising a panel frame, a solar cell module positioned inside the panel frame, a light receiving element located on one side of the solar cell module, a transmission window surrounding the top surface of the light receiving element, And a processor for determining the degree of contamination on the basis of the amount of light sensed by the light receiving element, wherein the controller controls the amount of light to be transmitted to the light receiving element, The above object can be achieved by providing a solar cell panel for measurement.

본 발명은 패널프레임과, 상기 패널프레임의 내부에 위치하는 태양전지모듈과, 상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자와, 상기 태양전지모듈 일면에 위치하는 제1 수광소자와, 상기 패널프레임의 타모서리에 위치하는 제2 수광소자와, 상기 제1 수광소자의 상면을 감싸고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편과, 상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서를 포함하며, 상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울과, 상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울을 더 포함하고, 기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향하는, 오염을 측정하는 태양전지패널을 제공하여 상기 목적을 달성할 수 있다.The present invention relates to a solar cell module comprising a panel frame, a solar cell module positioned inside the panel frame, a light emitting device located at one corner of the panel frame, A second light receiving element located at the other corner of the panel frame, a glass specimen surrounding the upper surface of the first light receiving element, a reflective portion reflecting the output light, and a transmissive portion transmitting the light, And a processor for determining a degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements, wherein the processor is located in an optical path of light output from the light emitting element, Further comprising a translucent mirror for transmitting the first light and reflecting the second light and a total reflection mirror for reflecting the second light reflected from the translucent mirror, One of the first light and the second light is directed to the transmissive portion, and the other of the first and second lights is directed toward the reflective portion.

상기한 바와 같이, 본 발명은 발광소자에서 출력된 빛이 태양전지 표면의 반사체에 반사되거나 투과창을 통과되어 수광소자에 도달하는 빛의 양을 바탕으로 태양전지패널의 오염도를 측정하여 태양전지패널 청소시기를 알릴 수 있다.As described above, according to the present invention, the light output from the light emitting device is reflected on a reflector on the surface of a solar cell or passes through a transmission window to measure the degree of contamination of the solar cell panel based on the amount of light reaching the light receiving device, It can inform the cleaning time.

도 1은, 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이다.
도 2는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
도 3는, 반사체를 감싸는 커버를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4a는, 발광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4b는, 수광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5는, 발광소자의 광경로상에 위치한 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 빛이 분기되는 것을 도시한 도면이다.
도 6은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 단면도이다.
도 7은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 투과창을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
도 8a, 8b, 8c, 8d는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 유리시편의 반사막 도포 패턴을 나타낸 도면이다.
도 9는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이다.
도 10은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널을 도시한 사시도이다.
도 11은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
도 12a, 12b는 반사체와 오염을 측정하는 태양전지패널의 결합관계를 나타내는 단면도이다.
도 13은, 본 발명의 제5 실시예에 따른 태양전지를 도시한 사시도이다.
도 14는, 본 발명의 제5 실시예에 따른 태양전지에 추가 투명판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.
1 is a perspective view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing that the apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to the first embodiment of the present invention includes a further reflector. FIG.
3 is a view schematically showing a cover for enclosing a reflector.
4A is a view schematically showing the internal structure of the light emitting element.
4B is a view schematically showing the internal structure of the light receiving element.
5 is a view showing that light is split using a translucent mirror and a total reflection mirror which are located on the optical path of the light emitting element.
6 is a cross-sectional view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a perspective view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a second embodiment of the present invention, including an additional transmission window. FIG.
8A, 8B, 8C, and 8D are diagrams showing a reflection film application pattern of a glass specimen of a solar cell panel surface contamination measuring apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a perspective view illustrating an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a third embodiment of the present invention.
10 is a perspective view showing a solar cell panel for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention.
11 is a perspective view showing that a solar panel for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention includes a further reflecting plate.
12A and 12B are cross-sectional views showing a combination of a reflector and a solar cell panel for measuring contamination.
13 is a perspective view illustrating a solar cell according to a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 14 is a perspective view showing that a solar cell according to a fifth embodiment of the present invention further includes a transparent plate. FIG.

이하, 본 문서의 다양한 실시예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나 이는 본 문서에 기재된 기술을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 문서의 실시예의 다양한 변경(modifications), 균등물(equivalents), 및/또는 대체물(alternatives)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.Hereinafter, various embodiments of the present document will be described with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the techniques described herein are not intended to be limited to any particular embodiment, but rather include various modifications, equivalents, and / or alternatives of the embodiments of this document. In connection with the description of the drawings, like reference numerals may be used for similar components.

또한, 본 문서에서 사용된 "제 1," "제 2," 등의 표현들은 다양한 구성요소들을, 순서 및/또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 예를 들면, 제 1 사용자 기기와 제 2 사용자 기기는, 순서 또는 중요도와 무관하게, 서로 다른 사용자 기기를 나타낼 수 있다. 예를 들면, 본 문서에 기재된 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 바꾸어 명명될 수 있다.Also, the terms "first," "second," and the like used in the present document can be used to denote various components in any order and / or importance, and to distinguish one component from another But is not limited to those components. For example, the first user equipment and the second user equipment may represent different user equipment, regardless of order or importance. For example, without departing from the scope of the rights described in this document, the first component can be named as the second component, and similarly the second component can also be named as the first component.

본 문서에서 사용된 용어들은 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 다른 실시예의 범위를 한정하려는 의도가 아닐 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 용어들은 본 문서에 기재된 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가질 수 있다. 본 문서에 사용된 용어들 중 일반적인 사전에 정의된 용어들은, 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 동일 또는 유사한 의미로 해석될 수 있으며, 본 문서에서 명백하게 정의되지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. 경우에 따라서, 본 문서에서 정의된 용어일지라도 본 문서의 실시예들을 배제하도록 해석될 수 없다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to limit the scope of the other embodiments. The singular expressions may include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. Terms used herein, including technical or scientific terms, may have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. The general predefined terms used in this document may be interpreted in the same or similar sense as the contextual meanings of the related art and, unless expressly defined in this document, include ideally or excessively formal meanings . In some cases, even the terms defined in this document can not be construed as excluding the embodiments of this document.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 일 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 구성을 설명한다.Hereinafter, a configuration of an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1, 도 2 및 도 3를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 반사체를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 설명한다.Referring to FIGS. 1, 2, and 3, an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel including a reflector according to an embodiment of the present invention will be described.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반사체를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이고, 도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다. 도 3은, 반사체를 감싸는 커버를 개략적으로 도시한 도면이다.FIG. 1 is a perspective view of a solar cell panel surface pollution measuring apparatus including a reflector according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic view of a solar cell panel surface pollution measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention And a reflector. 3 is a view schematically showing a cover for covering a reflector.

도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 발광소자(110), 수광소자(120) 및 반사체(130)로 이루어져 있다. Referring to FIG. 1, an apparatus 100 for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a first embodiment of the present invention includes a light emitting device 110, a light receiving device 120, and a reflector 130.

발광소자(110)는 베이스(140)의 일면에 부착된다. 발광소자(110)는 빛을 출력하는 광원(115)을 포함한다. 광원(115)은 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(115)의 종류는 이에 한정되지 않으며, LED광원 등을 이용할 수 있다. The light emitting device 110 is attached to one surface of the base 140. The light emitting device 110 includes a light source 115 that outputs light. The light source 115 may be a rare light source that outputs laser light, but the type of the light source 115 is not limited thereto, and an LED light source or the like may be used.

수광소자(120)는 베이스(140)의 일면에 부착되고, 발광소자(110)와 마주보게 배치된다. 수광소자(120)는 광센서(125)를 포함하고, 광센서(125)를 통하여 빛을 감지한다. 광센서(125) 내부에 황화카드뮴(CdS)소자와 같이 빛이 도달하면 저항이 변화하는 소자를 포함할 수 있다. 따라서, 빛이 광센서(125)에 도달하면, 저항의 값을 프로세서로 전송할 수 있다. 광센서(125)는 상술한 광센서에 한정되지 않으며, 광량에 따라 다른 값을 출력할 수 있는 센서는 수광소자(120)의 광센서(125)로 사용할 수 있다. 즉, 광센서(125)는 광다이오드(photodiode), 솔라셀(Solar Cell), 이미지 센서, 광다이오드 어레이(photodiode array) 등을 이용할 수 있다.The light receiving element 120 is attached to one surface of the base 140 and disposed to face the light emitting element 110. The light receiving element 120 includes an optical sensor 125 and detects light through the optical sensor 125. [ The light sensor 125 may include a device such as a cadmium sulfide (CdS) device whose resistance changes when light arrives. Thus, when light reaches the optical sensor 125, the value of the resistor can be transferred to the processor. The optical sensor 125 is not limited to the optical sensor described above, and a sensor capable of outputting a different value according to the amount of light may be used as the optical sensor 125 of the light receiving element 120. That is, the optical sensor 125 may use a photodiode, a solar cell, an image sensor, a photodiode array, or the like.

반사체(130)는 베이스(140)의 일면에 부착되고, 발광소자(110)에서 출력되는 빛을 반사한다. 반사체(130)에 반사된 빛은 수광소자(120)로 도달된다. 반사체(130)는 입사광의 손실이 거의 없이 반사할 수 있는 반사거울을 사용한다.The reflector 130 is attached to one surface of the base 140 and reflects light output from the light emitting device 110. The light reflected by the reflector 130 reaches the light receiving element 120. The reflector 130 uses a reflective mirror capable of reflecting incident light with little loss.

반사체(130)가 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(110)에서 출력된 빛이 반사체(130)에 반사되어 수광소자(120)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다.The light output from the light emitting device 110 is reflected by the reflector 130 before the reflector 130 is contaminated with the external environment and the reference value of the pollution degree is calculated based on the output value according to the amount of light reaching the light receiving device 120 .

본 발명에서는 반사체(130)가 베이스(140)의 일면에 매립되어 있는 형태로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 반사체(130)는 베이스(140)에서 돌출되어 있는 형태로 부착될 수 있다.The reflector 130 is embedded on one surface of the base 140. However, the reflector 130 may be attached to the base 140 in a protruding manner.

또한, 반사체(130)는 100%에 가까운 반사율을 가지는 반사유리로 이루어진다. 반사체(130)는 오염도를 측정하여 청소시기에 청소를 한 이후에는 교체될 수 있다. 이를 위해서, 반사체(130)는 자석을 포함하거나, 고정돌기를 가질 수 있다. 이에 대응하여, 베이스(140)는 자성체이거나, 고정홈를 가질 수 있고, 반사체(130)는 베이스(140)에 자석의 자기력으로 고정되거나, 고정돌기, 고정홈이 후크결합 될 수 있다.Further, the reflector 130 is made of a reflective glass having a reflectance close to 100%. The reflector 130 can be replaced after the pollution is measured and cleaned at the time of cleaning. To this end, the reflector 130 may comprise a magnet or may have a fixing protrusion. Correspondingly, the base 140 may be a magnetic body or have a fixing groove, and the reflector 130 may be fixed to the base 140 by the magnetic force of the magnet, or the fixing protrusion and the fixing groove may be hooked.

하부케이스(180)는 베이스(140)의 아래에 부착될 수 있다. 하부 케이스(180)는 전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)를 포함할 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(110)로 공급하고, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 작동을 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(120)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 장치 외부의 프로세서로 송신할 수 있다.The lower case 180 may be attached to the bottom of the base 140. The lower case 180 may include a power unit (not shown), a communication unit (not shown), and a processor (not shown). The power unit supplies energy for emitting light to the light emitting device 110 and supplies power to each component for operation of the solar panel surface contamination measuring apparatus 100. The communication unit can transmit an output value according to the amount of light sensed by the light receiving element 120 to a processor outside the apparatus.

프로세서는 하부케이스(180) 내부에 배치될 수도 있으며, 수광소자(120)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 반사율이 100%인 상태의 반사체에서 미리 측정하여 산출된 기준값과 현재 수광소자(120)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(120)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단하여, 태양전지패널의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(125)의 경우, 광센서(125)에 도달한는 빛의 양이 많으면, 광센서(125)의 저항은 낮아지고, 광센서(125)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(125)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. The processor may be disposed inside the lower case 180, and the degree of contamination can be measured based on the output value of the light receiving element 120. Specifically, the output value calculated from the amount of light currently sensed by the light receiving element 120 is compared with a reference value that is previously measured and calculated in a reflector with a reflectance of 100%, and the amount of light reaching the light receiving element 120 It is judged that the pollution degree is high, and the cleaning time of the solar cell panel is judged. In the case of the optical sensor 125 using a cadmium sulfide (CdS) element, when the amount of light reaching the optical sensor 125 is large, the resistance of the optical sensor 125 is low and the optical sensor 125 And outputs it to the process as an output value. The process compares the output value with the reference value to determine the degree of contamination. If the output resistance value is high, it is determined that the amount of light reaching the optical sensor 125 is small.

프로세서는 기준값보다 높은 출력값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the processor has an output value higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and the cleaning timing is determined based on the determination.

광센서(125)로 광다이오드와 같이 종류를 사용하는 경우에는, 프로세서는 전류값을 바탕으로 기준값과 출력값을 설정하고, 기준값보다 낮은 출력값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.When the optical sensor 125 is of the same type as the photodiode, the processor sets the reference value and the output value based on the current value. If the optical sensor 125 has an output value lower than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe. .

즉, 프로세서는, 광센서(125)에서 감지된 빛의 세기를 바탕으로 산출된 기준값과 출력값을 비교하여 청소시기를 판단한다.That is, the processor compares the output value with a reference value calculated on the basis of the intensity of the light sensed by the optical sensor 125 to determine a cleaning time.

하부케이스(180)는 태양전지패널에서 미끄러짐을 방지하기 위해서, 마찰력이 높은 부재를 부착할 수 있다. 또한, 베이스의 하면과 태양전지패널의 결합력을 높이기 위하여, 하부케이스(180)는 자석과 같은 물질로 형성되거나 자석을 포함할 수 있다. 또는, 하부케이스(180)는 태양전지패널과 후크 결합으로 고정될 수도 있다. 또한, 하부케이스(180)면은 미끄럼방지를 위해 고무재질을 포함할 수 있다.The lower case 180 can attach a member having a high frictional force to prevent slippage in the solar cell panel. Further, in order to increase the bonding force between the lower surface of the base and the solar cell panel, the lower case 180 may be formed of a material such as a magnet or may include a magnet. Alternatively, the lower case 180 may be fixed to the solar cell panel by hook coupling. In addition, the lower case 180 surface may include a rubber material for preventing slipping.

또한, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 장치를 감싸는 상부케이스(190)를 가진다. 케이스는 광의 유출입을 간섭하지 않도록, 케이스는 발광소자(110)와 수광소자(120)측에 개구(191,192)를 가진다.In addition, the solar panel surface contamination measuring apparatus 100 has an upper case 190 for enclosing the apparatus. The case has openings 191 and 192 on the side of the light emitting element 110 and the light receiving element 120 so that the case does not interfere with the flow of light.

태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 상부케이스(190)를 포함하여, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)는 먼지, 습도 등의 외부환경으로부터 안정성을 높일 수 있다. 상부케이스(190)는 반사체(130)부분만 외부로 노출시키고 발광소자(110)와 수광소자(120)는 감싸는 구조일 수 있다.The solar panel surface contamination measuring apparatus 100 includes an upper case 190 so that the solar cell surface contamination measuring apparatus 100 can improve stability from external environments such as dust and humidity. The upper case 190 may have a structure in which only the reflector 130 is exposed to the outside and the light emitting device 110 and the light receiving device 120 are enclosed.

도 2를 참조하면, 발광소자(110) 복수개의 수광소자(120)와 복수개의 반사체(130)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the light emitting device 110 includes a plurality of light receiving devices 120 and a plurality of reflectors 130.

도 5에서 후술하는 바와 같이, 발광소자(110)의 광경로에 반투명거울과 전반사거울을 설치하여, 발광소자(110)로부터 방출되는 빛이 각각의 반사체(130)를 향하도록 할 수 있다.A semi-transparent mirror and a total reflection mirror may be provided on the optical path of the light emitting device 110 so that the light emitted from the light emitting device 110 may be directed to the respective reflectors 130, as described later with reference to FIG.

반사체(130)는 복수개로 배치될 수 있으며, 발광소자(110)와 수광소자(120)사이에 배치된다. 복수의 반사체(130)중 하나는 커버(150)로 싸여있다. A plurality of reflectors 130 may be disposed and disposed between the light emitting element 110 and the light receiving element 120. One of the plurality of reflectors 130 is encased in a cover 150.

도 3을 참조하면, 커버(150)는 반사체(130)의 일면을 감싸고 있다. 빛이 통과할 수 있도록, 커버(150)는 광유입구(151), 광유출구(152)를 포함하고 있다. 광유입구(151)는 발광소자(110)로부터 출력된 빛이 반사체(130)에 도달할 수 있도록 하는 개구이고, 광유출구(152)는 반사체(130)로부터 수광소자(120)로 반사된 빛이 도달할 수 있도록 하는 개구이다. 광유입구(151)와 광유출구(152)는 빛의 이동 경로상에 위치한다. 따라서, 커버(150)는 빛의 이동경로를 간섭하지 않는다. Referring to FIG. 3, the cover 150 surrounds one side of the reflector 130. The cover 150 includes a light oil inlet 151 and a light oil outlet 152 so that light can pass therethrough. The light oil inlet 151 is an opening for allowing the light output from the light emitting element 110 to reach the reflector 130 and the light oil outlet 152 is formed by a light reflected from the reflector 130 to the light receiving element 120 To be reached. The mineral oil inlet 151 and the mineral oil outlet 152 are located on the path of light travel. Therefore, the cover 150 does not interfere with the path of light travel.

커버(150)는 반사체(130)의 일면을 덮으므로, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)를 사용하는 경우 커버(150)가 덮인 반사체(130)는 외부의 환경에 노출되지 않아 먼지와 같은 이물질의 접근을 차단한다.The cover 150 covers one side of the reflector 130 and thus the reflector 130 with the cover 150 covered by the solar panel surface contamination measuring apparatus 100 is not exposed to the outside environment Block access to foreign objects.

발광소자(110)로부터 출력된 빛은 커버(150)가 덮인 반사체(130)에 반사되어 수광소자(120)에 도달한다. 반사체(130)에 반사된 빛을 센싱한 수광소자(120) 출력값을 바탕으로 기준값은 설정된다. Light output from the light emitting element 110 is reflected by the reflector 130 covered with the cover 150 and reaches the light receiving element 120. The reference value is set based on the output value of the light receiving element 120 that senses the light reflected by the reflector 130.

프로세서는 기준값과, 출력값을 비교하여 오염도를 판단한다. 오염도를 판단하는 방법은 도 1에서 상술한 방법과 같이 수행될 수 있다. 즉, 광센서(125)의 종류에 따라, 광센서(125)의 저항값이나 전류값을 출력값으로 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 프로세서는 오염도를 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.The processor compares the reference value and the output value to determine the degree of contamination. A method of determining the degree of contamination can be performed as in the method described above in Fig. That is, depending on the type of the optical sensor 125, the resistance value or the current value of the optical sensor 125 is transferred to the process as an output value. The process compares the output value with the reference value to determine the degree of contamination. The processor determines the degree of contamination and determines the timing of cleaning based on this.

도 4a, 4b를 바탕으로, 발광소자(110)와 수광소자(120)의 구조를 살펴본다.The structure of the light emitting device 110 and the light receiving device 120 will be described with reference to FIGS. 4A and 4B.

도 4a는, 발광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 4b는, 수광소자의 내부 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.Fig. 4A is a view schematically showing the internal structure of the light emitting element, and Fig. 4B is a view schematically showing the internal structure of the light receiving element.

도 4a를 참조하면, 발광소자(110)는 광원(115)과 광필터(116), 렌즈(117,118)를 포함한다.Referring to FIG. 4A, the light emitting device 110 includes a light source 115, an optical filter 116, and lenses 117 and 118.

광필터(116)는 광원(115)에서 출력되는 빛의 세기를 조절한다. 광필터(116)는 광원(115)에서 출력된 빛의 경로상에 위치한다. 렌즈는 볼록렌즈(117)와 오목렌즈(118)로 구성될 수 있다. 볼록렌즈(117)를 통과한 빛은 초점으로 집광되고, 초점의 위치 근처에 오목렌즈(118)를 배치하여, 집광된 빛이 평행하게 직진할 수 있도록 조절한다. The optical filter 116 adjusts the intensity of light output from the light source 115. The optical filter 116 is located on the path of the light output from the light source 115. The lens may be composed of a convex lens 117 and a concave lens 118. Light passing through the convex lens 117 is condensed by focusing, and a concave lens 118 is disposed near the position of the focus so that the condensed light can be straightened in parallel.

도 4b를 참조하면, 수광소자(120)는 광센서(125)와 광필터(126)를 포함한다.Referring to FIG. 4B, the light receiving element 120 includes an optical sensor 125 and an optical filter 126.

광필터(126)는 수광소자(120)로 도달하는 빛의 세기를 조절한다. 광필터(126)를 통과한 빛이 광센서(125)에 도달하여 빛의 양을 감지한다. 광센서(125)의 포화도를 고려하여, 수광소자(120)의 광필터(126)와 발광소자(110)의 광필터(116)는 생략하여 사용할 수 있다. The optical filter 126 adjusts the intensity of light reaching the light receiving element 120. Light passing through the optical filter 126 reaches the optical sensor 125 and detects the amount of light. The optical filter 126 of the light receiving element 120 and the optical filter 116 of the light emitting element 110 may be omitted in consideration of the degree of saturation of the optical sensor 125. [

도 4b에서는 수광소자(120)의 광센서(125)의 센싱소자가 복수개로 구성된 것으로 나타내고 있다. 이 경우, 하나의 센싱소자로 구성된 경우보다 광센서(125)의 감도는 더 우수하고, 수광면적이 넓어지는 장점이 있다. 물론, 센싱소자는 하나로 구성될 수도 있다. 센싱소자는 수광소자(120)에 도달하는 광량에 따라 적절히 선택된다.In Fig. 4B, a plurality of sensing elements of the optical sensor 125 of the light receiving element 120 are shown. In this case, the sensitivity of the optical sensor 125 is better than that of a single sensing element, and the light receiving area is advantageously widened. Of course, the sensing element may be composed of one. The sensing element is appropriately selected according to the amount of light reaching the light receiving element 120.

발광소자(110)의 광원(115)을 LED 광원을 이용하는 경우, 집광을 높이기 위하여, 수광소자도 발광소자(110)와 같이 볼록렌즈(117)와 오목렌즈(118)를 더 구비할 수 있다.In the case where the light source 115 of the light emitting element 110 is an LED light source, the light receiving element may further include a convex lens 117 and a concave lens 118 like the light emitting element 110 in order to increase light condensation.

도 1의 경우, 발광소자(110)는 하나로 구성되어 있다. 따라서, 수광소자(120)에 센싱되는 빛의 양을 기초로 산출되는 기준값과, 출력값이 동시에 측정되지 않는다. 즉, 도 1의 실시예의 경우, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 사용전 미리 기준값은 측정되어 설정된다. 도 2의 실시예의 경우, 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 커버가 없는 반사체(130)에서 반사된 빛을 센싱하여 수광소자의 출력값의 측정 전 또는 후에 커버가 덮인 반사체(130)를 이용하여 기준값을 측정할 수 있다. 도 2와 같이, 동시에 기준값과 출력값을 산출하는 경우, 동일한 조건하에서 산출된 값을 비교하여 오염도를 판단할 수 있으므로, 판단된 오염도의 정확도가 높아질 수 있다. In the case of FIG. 1, the light emitting devices 110 are composed of one. Therefore, the reference value and the output value calculated on the basis of the amount of light sensed by the light receiving element 120 are not measured at the same time. That is, in the case of the embodiment of FIG. 1, the reference value is measured and set before use of the apparatus 100 for measuring surface contamination of the solar cell panel. In the embodiment of FIG. 2, the light reflected from the reflector 130 without the cover of the solar panel surface contamination measuring apparatus 100 is sensed, and the reflector 130 covered with the cover is used before or after the measurement of the output value of the light- So that the reference value can be measured. As shown in Fig. 2, when calculating the reference value and the output value at the same time, the pollution degree can be determined by comparing the values calculated under the same conditions, so that the accuracy of the determined pollution degree can be increased.

도 5를 참조하여, 반투명거울을 이용하여 기준값과 출력값을 동시에 산출하여 비교하는 구조를 설명한다.Referring to FIG. 5, a structure for simultaneously calculating and comparing a reference value and an output value using a semi-transparent mirror will be described.

도 5는, 발광소자의 광경로 상에 위치한 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 빛이 분기되는 것을 도시한 도면이다.5 is a view showing that light is split using a translucent mirror and a total reflection mirror which are located on the optical path of the light emitting element.

도 5를 참조하면, 태양전지패널 표면 오염측정장치는 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 포함하고 있다. Referring to FIG. 5, the solar panel surface contamination measuring apparatus includes a translucent mirror 160 and a total reflection mirror 170.

반투명거울(160)은 발광소자(110)에서 출력된 빛의 일부를 어느 하나의 반사체(130)를 향하여 통과시키고, 출력된 나머지 빛을 전반사거울(170)을 향해 반사시킨다. 이 때, 반투명거울(160)에서 분기된 각각의 빛의 양은 일정하도록, 반투명거울(160)의 빛의 반사량과 투과량은 일정하도록 조절할 수 있다.The translucent mirror 160 passes a part of the light output from the light emitting device 110 toward one of the reflectors 130 and reflects the remaining output light toward the total reflection mirror 170. At this time, the reflection amount and the transmission amount of light of the translucent mirror 160 can be adjusted so that the amount of each of the lights branched from the translucent mirror 160 is constant.

전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 나머지 하나의 반사체(130)로 굴절시킨다.The total reflection mirror 170 refracts the light reflected by the semitransparent mirror 160 to the other reflector 130.

이하, 도 1 내지 도 4b를 참고하여 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the solar cell panel surface contamination measuring apparatus 100 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4B.

발광소자(110)의 광원(115)에서 방출된 빛이 광필터(116)를 통하여 빛의 세기가 조절될 수 있다. 광필터(116)를 통과한 빛은 볼록렌즈(117)와 오목렌즈(118)를 통과하여 집광되어 반사체(130)로 직진한다. 반사체(130)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(130)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(130)에 의해 반사된 빛은 수광소자(120)를 향해 진행한다. 수광소자(120)의 광필터(126)를 통과하여 광센서(125)에 빛이 도달한다.The intensity of the light emitted from the light source 115 of the light emitting device 110 can be adjusted through the optical filter 116. The light having passed through the optical filter 116 passes through the convex lens 117 and the concave lens 118, is condensed and goes straight to the reflector 130. The reflector 130 reflects the light at an angle of reflection equal to the incident angle of the incident light. At this time, the reflector 130 can use a front reflector whose reflectance is close to 100%. The light reflected by the reflector 130 travels toward the light receiving element 120. Light passes through the optical filter 126 of the light receiving element 120 and reaches the optical sensor 125.

광센서(125)에 도달한 빛은 광센서(125)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값이나 전류값을 측정한다.Light reaching the optical sensor 125 reduces the resistance of the optical sensor 125 and applies a voltage across the resistance of the optical sensor to measure the resistance value or the current value.

프로세서는 측정된 저항값 또는 전류값을 바탕으로, 오염도에 따른 기준값을 설정한다. 예를 들어, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 반사체(130)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다. The processor sets a reference value according to the degree of contamination based on the measured resistance value or current value. For example, if the measured resistance is 1 ohm (ohm) and the resistance of the reflector 130 surface is about 30% contaminated is 1.3 ohm (ohm), the processor sets the 1.3 ohm do.

태양전지패널에 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)를 설치하여 일정시간이 지난 후, 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 반사체(130)에 부착되어 반사도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30%이상되면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지패널의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.The solar panel surface contamination measuring device 100 is installed on the solar cell panel, and after a predetermined time passes, the resistance value is measured by the above-described method. In this case, external dust or foreign matter adheres to the reflector 130 and the reflectivity is lowered. If the contamination level of the surface exceeds 30%, the resistance measurement value becomes 1.3 (Ω) or more. At this time, the processor can notify that the cleaning time of the solar panel has come through an output unit such as a display (not shown).

광센서(125)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.When the optical sensor 125 measures the current value, the processor determines that the contamination degree is high when the current value sensed by the optical sensor is measured to be smaller than the reference value, and determines the cleaning time.

도 2와 도 5를 참조하여, 반사체(130)가 복수 개로 이루어진 경우에 태양전지패널 표면 오염측정장치의 동작을 설명한다.Referring to FIGS. 2 and 5, the operation of the solar cell surface contamination measuring device in the case where the reflectors 130 are formed in plural is explained.

도 5를 참조하면, 반투명거울(160)은 발광소자(110)에서 출력된 빛의 일부를 복수의 반사체(130) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 복수의 반사체(130) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 반사체(130) 중 하나는 커버(150)로 덮여 있다.5, the translucent mirror 160 reflects a part of the light output from the light emitting device 110 toward one of the plurality of reflectors 130 And reflects the remaining output light. The total reflection mirror 170 refracts the light reflected by the semitransparent mirror 160 to the other one of the plurality of reflectors 130 and proceeds. One of the plurality of reflectors 130 is covered with a cover 150.

본 발명의 도면에서는 도시되지 않았지만, 복수개의 발광소자(110)를 가지는 경우에는, 하나의 발광소자(110)는 커버(150)로 덮여있는 반사체(130)로 빛을 진행시키고, 나머지 발광소자(110)는 커버로 덮여있지 않은 반사체(130)로 빛을 진행시킨다.Although not shown in the drawings of the present invention, when a plurality of light emitting devices 110 are provided, one light emitting device 110 advances light to a reflector 130 covered with a cover 150, 110 advance the light to a reflector 130 that is not covered with a cover.

발광소자(110)로부터 출력된 빛 중 하나는 커버(150)가 씌워진 반사체(130)로 진행한다. 발광소자(110)로부터 출력된 빛은 커버(150)의 광유입구(151)를통과하여 반사체(130)로 입사된다. 반사체(130)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(130)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(130)에 의해 반사된 빛은 커버(150)의 광유출구(152)를 통과하여 수광소자(120)를 향해 진행한다. 수광소자(120)의 광필터(126)를 통과하여 광센서(125)에 빛이 도달한다.One of the light output from the light emitting device 110 goes to the reflector 130 covered with the cover 150. The light output from the light emitting device 110 passes through the light oil inlet 151 of the cover 150 and is incident on the reflector 130. The reflector 130 reflects the light at an angle of reflection equal to the incident angle of the incident light. At this time, the reflector 130 can use a front reflector whose reflectance is close to 100%. The light reflected by the reflector 130 passes through the light oil outlet 152 of the cover 150 and travels toward the light receiving element 120. Light passes through the optical filter 126 of the light receiving element 120 and reaches the optical sensor 125.

광센서(125)에 도달한 빛은 광센서(125)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.Light reaching the optical sensor 125 reduces the resistance of the optical sensor 125 and applies a voltage across the resistance of the optical sensor to measure the resistance value. The processor sets the reference value based on this.

발광소자(110)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(150)가 씌워지지 않은 반사체(130)로 진행한다. 반사체(130)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 반사체(130)에 의해 반사된 빛은 수광소자(120)를 향해 진행한다. 수광소자(120)의 광필터(126)를 통과하여 광센서(125)에 빛이 도달한다.The other one of the light output from the light emitting device 110 goes to the reflector 130, which is not covered with the cover 150. The reflector 130 reflects the light at an angle of reflection equal to the incident angle of the incident light. The light reflected by the reflector 130 travels toward the light receiving element 120. Light passes through the optical filter 126 of the light receiving element 120 and reaches the optical sensor 125.

광센서(125)에 도달한 빛은 광센서(125)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the optical sensor 125 reduces the resistance of the optical sensor 125 and applies a voltage across the resistance of the optical sensor to measure and output the resistance value.

프로세서는 도 1의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력된 저항값과 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output resistance value and the reference value, as described above in the operation method of the embodiment of FIG.

광센서(125)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다. 청소시기 판단과정은 저항값을 기준값으로 하는 경우와 유사하다.When the optical sensor 125 measures the current value, the processor determines that the contamination degree is high when the current value sensed by the optical sensor is measured to be smaller than the reference value, and determines the cleaning time. The cleaning timing judgment process is similar to the case of using the resistance value as the reference value.

이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지패널의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.In this case, the processor can notify the cleaning time of the solar panel through an output unit such as a display (not shown) based on the determination of the contamination degree.

이하 도 6 및 도 7을 참조하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 투과창을 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치를 설명한다.6 and 7, an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel including a transmission window according to a second embodiment of the present invention will be described.

도 6은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 단면도이고, 도 7은, 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치에 추가 투과창을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.FIG. 6 is a cross-sectional view showing an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a sectional view of a solar cell panel surface contamination measuring apparatus according to a second embodiment of the present invention, Fig.

도 6을 참조하면, 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)는 발광소자(210), 수광소자(220)와 투과창(230)을 포함한다. Referring to FIG. 6, an apparatus 200 for measuring surface contamination of a solar cell panel includes a light emitting device 210, a light receiving device 220, and a transmission window 230.

발광소자(210)는 베이스(240)의 일면에 부착된다. 발광소자(110)는 빛을 출력하는 광원(215)을 포함한다. 광원(215)은 도 1에서 상술한 바와 같이 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(215)의 종류는 이에 한정되지 않고 LED광원 등으로 사용될 수 있다.The light emitting device 210 is attached to one side of the base 240. The light emitting device 110 includes a light source 215 that outputs light. The light source 215 may be a rare light source that outputs laser light as described above with reference to FIG. 1. However, the light source 215 is not limited to this, and may be used as an LED light source.

수광소자(220)는 베이스(240)의 일면에 부착되거나, 베이스(240)의 일면에 매립된다. 수광소자(220)의 광센서(225)는 베이스(240)의 일면에 노출되도록 배치될 수 있다. 광센서(225) 수광소자(220)에 도달하는 빛의 양을 감지한다. 투과창(230)은 수광소자(220)의 상면에 배치되고, 발광소자(210)에서 출력된 빛을 수광소자(220)로 통과시킨다. 투과창(230)은 빛의 투과율이 거의 100%에 가까운 글래스를 쓰는 것이 바람직하다. The light receiving element 220 is attached to one surface of the base 240 or is embedded on one surface of the base 240. The light sensor 225 of the light receiving element 220 may be arranged to be exposed on one side of the base 240. The light sensor 225 detects the amount of light reaching the light receiving element 220. The transmission window 230 is disposed on the upper surface of the light receiving element 220 and allows light output from the light emitting element 210 to pass through the light receiving element 220. It is preferable that the transmission window 230 uses a glass whose transmittance of light is close to 100%.

투과창(230)이 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(210)에서 출력된 빛이 투과창(230)을 통과하여 수광소자(220)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다. 이 때, 오염도의 기준값은 반사체가 일정 정도 오염되었을 경우의 출력값을 산출하여 결정할 수 있다.The light output from the light emitting element 210 passes through the transmission window 230 and reaches the light receiving element 220 before the transmission window 230 is contaminated with the external environment. The reference value is determined. At this time, the reference value of the pollution degree can be determined by calculating an output value when the reflector is contaminated to a certain degree.

본 발명에서는 투과창(230)이 베이스(240)의 일면에 매립되어 있는 형태로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 투과창(230)은 베이스(240)에서 돌출되어 있는 형태로 부착될 수 있다. 투과창(230)도 본 발명의 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(100)의 반사체(130)와 마찬가지로, 자석을 이용한 결합이나, 후크결합을 이용할 수 있다.The transmission window 230 is embedded in one surface of the base 240 but the present invention is not limited thereto and the transmission window 230 may be attached to the base 240 in a protruding manner . The transmission window 230 may be a magnet or a hook, similar to the reflector 130 of the apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel 100 according to the first embodiment of the present invention.

하부케이스(270)는 베이스(240)의 아래에 부착될 수 있다. 하부케이스(270)는 전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)를 포함할 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(210)로 공급하고, 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)의 작동을 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(220)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 장치 외부의 프로세서로 송신할 수 있다.The lower case 270 may be attached under the base 240. The lower case 270 may include a power unit (not shown), a communication unit (not shown), and a processor (not shown). The power supply unit supplies energy for emitting light to the light emitting device 210 and supplies power to each component for operation of the solar panel surface pollution measuring apparatus 200. The communication unit can transmit an output value according to the amount of light sensed by the light receiving element 220 to a processor outside the apparatus.

도 1, 도 2와 마찬가지로, 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)는 상부케이스(290)를 포함할 수 있다. 제1 실시예와 상이한 점은, 수광소자(220)는 외부로 노출되지 않으므로, 발광소자(210)를 감싸는 형태로 설치할 수 있다.1 and 2, the apparatus 200 for measuring surface contamination of a solar cell panel may include an upper case 290. The light receiving element 220 is different from the first embodiment in that the light receiving element 220 is not exposed to the outside,

프로세서는 하부케이스(270) 내부에 배치될 수 있으며, 수광소자(220)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 투과율이 100%인 상태의 투과창(230)을 통과하여 수광소자(220)에 도달한 빛의 양을 바탕으로 미리 측정하여 산출된 기준값을 정한다. 현재 수광소자(220)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(220)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단한다. 상술한 과정을 거쳐 프로세서는 태양전지패널의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(225)의 경우, 광센서(225)에 도달하는 빛의 양이 많으면, 광센서(225)의 저항은 낮아지고, 광센서(225)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(225)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. The processor can be disposed inside the lower case 270, and the degree of contamination can be measured based on the output value of the light receiving element 220. Specifically, the reference value is determined in advance based on the amount of light that has passed through the transmission window 230 with the transmittance of 100% and reaches the light receiving element 220. The output value calculated from the amount of light currently detected by the light receiving element 220 is compared to determine that the degree of contamination is high if the amount of light arriving at the light receiving element 220 is less than a certain standard. Through the above-described process, the processor determines the cleaning timing of the solar cell panel. In the case of the optical sensor 225 using a cadmium sulfide (CdS) element, if the amount of light reaching the optical sensor 225 is large, the resistance of the optical sensor 225 is lowered and the optical sensor 225 And outputs it to the process as an output value. The process compares the output value with the reference value to determine the degree of contamination. If the output resistance value is high, it is determined that the amount of light reaching the optical sensor 225 is small.

기준값보다 높은 저항값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the resistance value is higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and based on this, the cleaning time is determined.

상술한 바와 같이, 프로세서는 광다이오드를 이용하여 전류값을 바탕으로 기준값과 출력값을 산출할 수 있고, 이를 바탕으로 오염도 및 청소시기를 판단할 수 있다.As described above, the processor can calculate the reference value and the output value based on the current value using the photodiode, and it is possible to determine the degree of contamination and the cleaning time based on the reference value and the output value.

도 7을 참조하면, 투과창(230)이 복수이다. 도 5에서 상술한 바와 같이, 발광소자(210)는 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 이용하여 빛의 경로를 복수 개로 만들 수 있다. 이를 바탕으로, 발광소자(210)에서 출력되는 빛의 경로는, 복수의 투과창(230)중 하나로 향하게 조절할 수 있다. 복수의 투과창(230)중 하나는 커버(250)를 가지고 있다. 반사체(130)에 씌워진 커버(150)와 상이하게, 투과창(230)에 씌워진 커버(250)는 광유입구(251)만 가지고 있고, 광유출구는 별도로 구비하지 않는다. 커버(250)에 씌워진 투과창(230)은 청정한 상태로 유지될 수 있다. 따라서, 커버(250)에 씌워진 투과창(230)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(220)의 광센서(225)의 값을 바탕으로 기준값을 설정한다. Referring to FIG. 7, there is a plurality of transmission windows 230. As described above with reference to FIG. 5, the light emitting device 210 can make a plurality of light paths using the semi-transparent mirror 160 and the total reflection mirror 170. On the basis of this, the path of light output from the light emitting device 210 can be directed toward one of the plurality of transmission windows 230. One of the plurality of transmission windows 230 has a cover 250. The cover 250 covering the transmission window 230 has only the light oil inlet 251 different from the cover 150 covered with the reflector 130 and does not have a separate light oil outlet. The transmission window 230 covering the cover 250 can be kept clean. Therefore, the reference value is set based on the value of the optical sensor 225 of the light receiving element 220 which senses the light passing through the transmission window 230 covered with the cover 250.

반대로, 커버가 씌워지지 않은 투과창(230)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(220)에서 출력된 출력값을 산출한다. 프로세서는 기준값과 출력값을 바탕으로, 태양전지패널의 오염도를 측정하고, 청소시기를 결정한다.Conversely, the output value output from the light receiving element 220, which senses the light passing through the transmission window 230 not covered with the cover, is calculated. The processor measures the pollution degree of the solar panel based on the reference value and the output value, and determines the cleaning time.

상부케이스(290)는 광경로에 대응하여, 개구(291)를 가질 수 있고, 발광소자(210)를 감싼다.The upper case 290 may have an opening 291 corresponding to the optical path and surrounds the light emitting element 210.

도 4a, 도 4b에서 상술한 바와 같이, 발광소자(210)는 광필터와 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 있다.4A and 4B, the light emitting device 210 includes an optical filter, a convex lens, and a concave lens.

이하, 도 6 및 도 7을 참고하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the apparatus 200 for measuring surface contamination of the solar cell panel according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 and 7. FIG.

도 6을 참조하면, 상술한 제1 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 동작처럼, 발광소자(210)의 광원(215)에서 방출된 빛이 광필터를 통하여 빛의 세기가 조절될 수 있다. 광필터를 통과한 빛은 볼록렌즈와 오목렌즈를 통과하여 집광되어 투과창(230)으로 직진한다. 이 때, 투과창(230)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용할 수 있다. 투과창(230)에 의해 투과된 빛은 수광소자(220)를 향해 진행한다. 투과창을 통과한 빛은 수광소자(220)의 광센서(225)에 도달한다.Referring to FIG. 6, the light emitted from the light source 215 of the light emitting device 210 is adjusted in intensity through the optical filter, as in the operation of the apparatus for measuring surface contamination of the solar cell panel according to the first embodiment . The light passing through the optical filter passes through the convex lens and the concave lens, is condensed, and goes straight to the transmission window 230. At this time, the transmission window 230 can use glass having a transmittance close to 100%. The light transmitted by the transmission window 230 travels toward the light receiving element 220. The light passing through the transmission window reaches the light sensor 225 of the light receiving element 220.

광센서(225)에 도달한 빛은 광센서(225)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값이나 전류값을 측정한다.Light reaching the light sensor 225 reduces the resistance of the light sensor 225 and applies a voltage across the resistance of the light sensor to measure the resistance value or the current value.

프로세서는 측정된 저항값을 바탕으로, 오염도에 따른 저항값 또는 전류값을 기준값으로 설정한다. 예를 들어, 저항값을 바탕으로 설명하면, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 투과창(230)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다.Based on the measured resistance value, the processor sets the resistance value or current value according to the degree of contamination as a reference value. For example, based on the resistance value, if the measured resistance is 1 ohm (ohms) and the resistance of the transmissive window 230 when the surface of the transmissive window 230 is contaminated by about 30% is 1.3 ohms, Set the 1.3 ohm (Ω) as the reference value.

태양전지패널에 태양전지패널 표면 오염측정장치(200)를 설치하여 일정시간이 지난 후, 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 투과창(230)에 부착되어 투과도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30%이상되면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지패널의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.A solar cell surface contamination measuring device 200 is installed on a solar cell panel, and after a predetermined time has elapsed, the resistance value is measured by the above-described method. In this case, external dust or foreign matter adheres to the transmission window 230, and the degree of transmission is reduced. If the contamination level of the surface exceeds 30%, the resistance measurement value becomes 1.3 (Ω) or more. At this time, the processor can notify that the cleaning time of the solar panel has come through an output unit such as a display (not shown).

도 7을 참조하면, 투과창(230)은 복수 개로 이루어져 있다. 상술한 도 5의 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 본 발명에 적용하면, 반투명거울(160)은 발광소자(210)에서 출력된 빛의 일부를 복수의 투과창(230) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 복수의 투과창(230) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 투과창(230) 중 하나는 커버(250)로 덮여 있다.Referring to FIG. 7, a plurality of transmission windows 230 are formed. The semitransparent mirror 160 and the total reflection mirror 170 of FIG. 5 are applied to the present invention. The semitransparent mirror 160 reflects a part of the light output from the light emitting device 210 to any one of the plurality of transmission windows 230 Towards one And reflects the output light. The total reflection mirror 170 refracts the light reflected by the semitransparent mirror 160 to the other one of the plurality of transmission windows 230 and proceeds. One of the plurality of transmission windows 230 is covered with a cover 250.

발광소자(210)로부터 출력된 빛 중 어느 하나는 커버(250)가 씌워진 투과창(230)으로 진행한다. 발광소자(210)로부터 출력된 빛은 커버(250)의 광유입구(251)를 통과하여 투과창(230)으로 입사된다. 투과창(230)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용하는 것이 바람직하다. 투과창(230)에 의해 투과된 빛은 수광소자(120)를 향해 진행하여, 수광소자(220)의 광센서(225)에 빛이 도달한다.Any one of the light output from the light emitting device 210 proceeds to the transmission window 230 covered with the cover 250. The light output from the light emitting device 210 passes through the light oil inlet 251 of the cover 250 and enters the transmission window 230. The transmission window 230 preferably uses glass having a transmittance close to 100%. The light transmitted by the transmission window 230 travels toward the light receiving element 120 and reaches the light sensor 225 of the light receiving element 220.

광센서(225)에 도달한 빛은 광센서(225)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.Light reaching the optical sensor 225 reduces the resistance of the optical sensor 225 and applies a voltage across the resistance of the optical sensor to measure the resistance value. The processor sets the reference value based on this.

발광소자(210)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(250)가 씌워지지 않은 투과창(230)으로 진행한다. 투과창(230)에 의해 투과된 빛은 수광소자(220)를 향해 진행하고, 수광소자(220)의 광센서(225)에 빛이 도달한다.The other one of the lights outputted from the light emitting device 210 goes to the transmission window 230 where the cover 250 is not covered. The light transmitted by the transmission window 230 travels toward the light receiving element 220 and light reaches the light sensor 225 of the light receiving element 220.

광센서(225)에 도달한 빛은 광센서(225)의 저항을 감소시키고, 광센서(225)의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the light sensor 225 reduces the resistance of the light sensor 225 and applies a voltage across the resistance of the light sensor 225 to measure and output the resistance value.

프로세서는 도 6의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력된 저항값과 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output resistance value and the reference value, as described above in the operation method of the embodiment of FIG.

복수개의 발광소자(210)를 가지는 경우에도, 프로세서는 커버(250)로 덮여있는 투과창(230)을 투과하여 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 기준값을 획득한다. 또한, 프로세서는 커버(250)가 덮여있지 않은 투과창(230)으로부터 투과된 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 출력되는 저항값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지패널의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.Even when a plurality of light emitting devices 210 are provided, the processor obtains a reference value from the light receiving device 220 through which the light reaches the transmission window 230 covered by the cover 250. Also, the processor compares the resistance value output from the light-receiving element 220 to which the light transmitted from the transmission window 230, which is not covered with the cover 250, reaches a reference value to determine the degree of contamination. In this case, the processor can notify the cleaning time of the solar panel through an output unit such as a display (not shown) based on the determination of the contamination degree.

이하에서, 도 8a 내지 도 9를 바탕으로 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of an apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to Figs. 8A to 9. Fig.

도 8a, 8b, 8c, 8d는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치의 유리시편의 반사막 도포 패턴을 나타낸 도면이고, 도 9는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치를 도시한 사시도이다.FIGS. 8A, 8B, 8C, and 8D are views showing a reflection film application pattern of a glass specimen of a solar cell panel surface contamination measuring device according to a third embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 2 is a perspective view illustrating a solar cell surface contamination measuring device according to an embodiment of the present invention. FIG.

도 8a 내지 8d를 참조하여, 유리시편의 반사막 도포 패턴을 살펴본다. 8A to 8D, a reflection film application pattern of the glass specimen will be described.

도 8a에서는 유리시편(530)의 절반은 반사막을 도포시켜 반사부(531)를 가지고, 도포되지 않은 나머지 절반은 투과부(532)로 구성된다. 도 8b에서는 반사부(531)와 투과부(532)가 배치되어 있다. 도 8c에서는 격자무늬 형태로 반사부(531)와 투과부(532)가 배치되어 있다. 도 8d에서는 동심원 형태로 반사부(531)와 투과부(532)가 배치되어 있다.In Fig. 8A, half of the glass specimen 530 has a reflecting portion 531 coated with a reflective film, and the remaining half of the specimen 530 is composed of a transmitting portion 532. Fig. 8B, the reflection portion 531 and the transmission portion 532 are disposed. In Fig. 8C, the reflection portion 531 and the transmission portion 532 are arranged in a lattice pattern. In Fig. 8D, the reflective portion 531 and the transmissive portion 532 are arranged concentrically.

상술한 반사부(531)와 투과부(532)를 나타내는 유리시편의 패턴들은, 포토리소그래피(photolithography) 공정을 이용하여 형성될 수 있다.The patterns of the glass specimen representing the reflection portion 531 and the transmission portion 532 may be formed using a photolithography process.

도 9를 참조하면, 태양전지패널 표면 오염측정장치(500)는 발광소자(510), 수광소자(520) 및 유리시편(530)을 포함하고 있다.Referring to FIG. 9, a solar panel surface contamination measuring apparatus 500 includes a light emitting element 510, a light receiving element 520, and a glass specimen 530.

발광소자(510)와 수광소자(520)는 제1 내지 제2 실시예에서 상술한 실시예에서의 발광소자와 수광소자와 동일하다.The light emitting element 510 and the light receiving element 520 are the same as the light emitting element and the light receiving element in the above-described embodiments in the first and second embodiments.

유리시편(530)은 반사부(531)와 투과부(532)로 구성되어 있다. 최최의 유리시편(530)은 100%에 근접하는 투과율을 가지는 투과부(532)로만 구성된 상태이다. 이후, 유리시편(530)에 반사막을 증착시켜 반사부(531)를 형성한다. 반사막은 반사율이 100%에 근접하도록 코팅된다. 따라서, 유리시편(530)의 반사막이 증착된 반사부(531)는 100%에 근접한 반사율을 가지고, 반사막이 증착되지 않은 투과부(532)는 100%에 근접한 투과율을 가진다.The glass specimen 530 is composed of a reflecting portion 531 and a transmitting portion 532. The ultimate glass specimen 530 is composed only of the transmitting portion 532 having a transmittance close to 100%. Thereafter, a reflective film is deposited on the glass piece 530 to form a reflective portion 531. [ The reflective film is coated so that its reflectance approaches 100%. Therefore, the reflective portion 531 on which the reflective film of the glass specimen 530 is deposited has a reflectance close to 100%, and the transmissive portion 532 on which the reflective film is not deposited has a transmissivity close to 100%.

수광소자(520)는 복수개로 구성되어 있다. 복수의 수광소자(520) 중 제1 수광소자는 유리시편(530)의 투과부(532) 하부에 배치되고, 제1 수광소자의 광센서(526)는 유리시편(530)의 투과부(532)를 향하게 배치된다.The light receiving element 520 is composed of a plurality of light receiving elements. The first light receiving element among the plurality of light receiving elements 520 is disposed below the transmissive portion 532 of the glass specimen 530 and the light sensor 526 of the first light receiving element is disposed below the transmissive portion 532 of the glass specimen 530 Respectively.

복수의 수광소자(520) 중 제2 수광소자는 베이스(540)의 일면에 배치되고, 발광소자(510)를 마주보게 배치된다. 제2 수광소자와 발광소자(510)사이에서 유리시편(530)은 베이스(540)의 상면에 위치한다.The second light-receiving element of the plurality of light-receiving elements 520 is disposed on one side of the base 540 and faces the light-emitting element 510. Between the second light receiving element and the light emitting element 510, the glass specimen 530 is positioned on the upper surface of the base 540.

발광소자(510)는 도 5의 실시예와 같이, 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 이용하여, 광경로를 분기시킬 수 있다. 분기된 광경로 중 어느 하나로 진행하는 빛을 제1 빛이라 하고, 다른 빛을 제2 빛이라고 정의한다. 제1 빛과 제2 빛 중 어느 하나가 유리시편(530)의 반사부(531)로 향하면, 제1 빛과 제2 빛 중 다른 하나는 유리시편(530)의 투과부(532)로 향하도록 조정할 수 있다.The light emitting device 510 can divide the optical path using the translucent mirror 160 and the total reflection mirror 170, as in the embodiment of FIG. The light proceeding to one of the branched optical paths is referred to as a first light, and the other light is defined as a second light. When one of the first light and the second light is directed to the reflection portion 531 of the glass sample 530, the other of the first light and the second light is adjusted to be directed to the transmission portion 532 of the glass sample 530 .

이하에서, 도 9를 참조하여, 본 발명의 제3 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치(500)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the apparatus 500 for measuring surface contamination of a solar cell panel according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

도 9의 실시예의 경우에는, 도 5의 반투명거울(160)을 이용하여 발광소자(510)에서 출력된 빛을 분기시킬 수 있다.In the case of the embodiment of FIG. 9, the light output from the light emitting device 510 can be diverted using the translucent mirror 160 of FIG.

반투명거울(160)은 발광소자(510)의 광원(515)에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 제1 빛을 투과시키고 상기 제2 빛을 반사시킨다.The semitransparent mirror 160 is located in an optical path of the light output from the light source 515 of the light emitting device 510 and divides the output light into the first light and the second light and transmits the first light, It reflects light.

전반사거울(170)은 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시킨다.The total reflection mirror 170 reflects the second light reflected from the semitransparent mirror.

제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 투과부(532)로 향하고, 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 반사부(531)로 향하게 진행한다. 이 경우, 투과부(532)아래에 위치하는 제1 수광소자의 광센서(526)에의해 투과부(532)를 투과한 빛이 감지한다. 반사부(531)에서 반사된 빛은 제2 수광소자로 진행하고, 제2 수광소자의 광센서(525)에 의해 반사된 빛이 감지된다.One of the first and second lights is directed to the transmissive portion 532 and the other of the first and second lights is directed toward the reflective portion 531. In this case, the light transmitted through the transmissive portion 532 is sensed by the light sensor 526 of the first light receiving element located below the transmissive portion 532. Light reflected by the reflection part 531 proceeds to the second light receiving element, and light reflected by the light sensor 525 of the second light receiving element is sensed.

상술한 제1 내지 제2 실시예와 마찬가지로, 유리시편(530)이 오염되기 전에 투과부(532)를 투과한 빛과 반사부(531)에서 반사된 빛을 감지하여 기준값을 설정할 수 있다. 프로세서는 설정된 기준값과, 현재 측정된 수광소자(520)에서의 출력값을 비교하여, 태양전지패널의 오염도를 판단할 수 있다. 제1 수광소자 및 제2 수광소자에서 개별적으로 측정되므로, 오염도 측정의 정밀도를 향상시킬 수 있다.The reference value can be set by sensing the light transmitted through the transmission portion 532 and the light reflected by the reflection portion 531 before the glass specimen 530 is contaminated, as in the first and second embodiments described above. The processor compares the set reference value with the output value of the currently measured light receiving element 520 to determine the degree of contamination of the solar cell panel. Since the measurement is separately performed by the first light receiving element and the second light receiving element, the precision of the contamination degree measurement can be improved.

또한, 복수개의 레이저를 이용할 수도 있으며, 이 경우, 상술한 바와 같이 유리시편(530)에 커버를 씌워 측정된 출력값을 기준값으로 활용할 수 있다. 도 9의 태양전지패널 표면 오염측정장치(500)는 도 2의 실시예인 반사체를 이용하여 오염도 측정하는 구성과 도 7의 실시예인 투과창을 이용하여 오염도 측정하는 구성을 동시에 가질 수 있다. 또한, 복수개의 광원을 이용하는 경우,어느 하나의 유리시편(530)은 커버를 씌워 기준값을 동시에 측정할 수 있다.In addition, a plurality of lasers may be used. In this case, a cover may be covered with the glass specimen 530 as described above, and the measured output value may be used as a reference value. The solar cell panel surface contamination measuring apparatus 500 of FIG. 9 can have both a configuration for measuring the contamination degree using the reflector, which is the embodiment of FIG. 2, and a configuration for measuring the pollution degree using the transmission window, which is the embodiment of FIG. Further, when a plurality of light sources are used, one of the glass specimens 530 can cover the cover to measure the reference value at the same time.

또한, 유리시편(530)을 도 8a 내지 도 8d와 같은 패턴을 가지는 것으로 활용하는 경우, 제1 내지 제2 실시예의 반사체나 투과창대신 사용할 수 있다. 이 경우, 미세먼지와 같은 작은 입자에 의해 오염되는 경우에도 정밀하게 측정할 수 있는 장점을 가질 수 있다.Further, when the glass sample 530 is utilized as having a pattern as shown in Figs. 8A to 8D, it can be used in place of the reflector or the transmission window of the first to second embodiments. In this case, it can have an advantage that it can be precisely measured even if it is contaminated with small particles such as fine dust.

이하, 도 10 내지 도 12b를 참조하여, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 오염을 측정하는 태양전지패널의 구성을 설명한다.10 to 12B, a configuration of a solar cell panel for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention will be described.

도 10은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널을 도시한 사시도이고, 도 11은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 태양전지에 추가 반사판을 포함하는 것을 도시한 사시도이며, 도 12a, 12b는 반사체와 태양전지모듈의 결합관계를 나타내는 단면도이다.FIG. 10 is a perspective view showing a solar cell panel measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 11 is a view showing that a solar cell according to a fourth embodiment of the present invention includes a further reflecting plate And FIGS. 12A and 12B are cross-sectional views showing the coupling relationship between the reflector and the solar cell module.

도 10을 참조하면, 본 발명의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)은 발광소자(310), 수광소자(320) 및 반사체(330)로 이루어져 있다. Referring to FIG. 10, a solar cell panel 300 for measuring contamination according to a fourth embodiment of the present invention includes a light emitting device 310, a light receiving device 320, and a reflector 330.

발광소자(310)는 패널프레임(370)의 일모서리에 부착된다. 발광소자(210)는 빛을 출력하는 광원(315)을 포함한다. 광원(315)은 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(315)의 종류는 이에 한정되지 않는다. The light emitting device 310 is attached to one corner of the panel frame 370. The light emitting device 210 includes a light source 315 that outputs light. The light source 315 may be a rare light source that outputs laser light, but the type of the light source 315 is not limited thereto.

수광소자(320)는 패널프레임(370)의 일모서리에 부착되고, 발광소자(310)와 마주보게 배치된다. 수광소자(320)는 광센서(325)를 포함하고, 광센서(325)를 통하여 빛을 감지한다. 광센서(325) 내부에 황화카드뮴(CdS)소자와 같이 빛이 도달하면 저항이 변화하는 소자를 포함할 수 있다. 따라서, 빛이 광센서(325)에 도달하면, 저항의 값을 프로세서로 전송할 수 있다. 광센서(325)는 상술한 광센서에 한정되지 않으며, 광량에 따라 다른 값을 출력할 수 있는 센서는 수광소자(320)의 광센서(325)로 사용할 수 있다.The light receiving element 320 is attached to one corner of the panel frame 370 and disposed to face the light emitting element 310. The light receiving element 320 includes an optical sensor 325 and senses light through the optical sensor 325. The light sensor 325 may include a device such as a cadmium sulfide (CdS) device whose resistance changes when light arrives. Thus, when light reaches the optical sensor 325, the value of the resistor can be transferred to the processor. The optical sensor 325 is not limited to the optical sensor described above. A sensor capable of outputting different values depending on the amount of light can be used as the optical sensor 325 of the light receiving element 320.

반사체(330)는 태양전지모듈(340)의 일면에 부착되고, 발광소자(310)에서 출력되는 빛을 반사한다. 반사체(330)에 반사된 빛은 수광소자(320)로 도달된다. 반사체(330)는 입사광의 손실이 거의 없이 반사할 수 있는 것으로 사용한다. 즉, 반사체(330)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 사용할 수 있다.The reflector 330 is attached to one surface of the solar cell module 340 and reflects light output from the light emitting device 310. The light reflected by the reflector 330 reaches the light receiving element 320. The reflector 330 is used so that it can reflect the incident light with little loss. That is, the reflector 330 can use a front reflector whose reflectance is close to 100%.

반사체(330)가 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(310)에서 출력된 빛이 반사체(330)에 반사되어 수광소자(320)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다.The light output from the light emitting device 310 is reflected by the reflector 330 before the reflector 330 is contaminated with the external environment and is converted into a reference value of the pollution degree based on the output value according to the amount of light reaching the light receiving device 320 .

반사체(330)가 오염되는 경우나 오염도를 측정하고 청소를 한 경우에는, 반사체(330)를 교체할 수 있다. 이와 관련하여, 반사체(330)의 결합관계는 후술하도록 한다. 발광소자(310)와 수광소자(320)는 상술한 바와 같이 도 4a, 도 4b와 같이 광필터, 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 수 있다.When the reflector 330 is contaminated or the contamination level is measured and cleaned, the reflector 330 can be replaced. In this regard, the coupling relationship of the reflector 330 will be described later. The light emitting device 310 and the light receiving device 320 may include an optical filter, a convex lens, and a concave lens as described above with reference to FIGS. 4A and 4B.

전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)는 태양전지 외부에 포함될 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(310)로 공급하고, 태양전지모듈의 오염도를 측정하기 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(320)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 관제실과 같은 원거리의 프로세서로 송신할 수 있다.A power source (not shown), a communication unit (not shown), and a processor (not shown) may be included outside the solar cell. The power supply unit supplies energy for emitting light to the light emitting device 310 and supplies power to each component for measuring the pollution degree of the solar cell module. The communication unit can transmit an output value according to the amount of light sensed by the light receiving element 320 to a remote processor such as a control room.

프로세서는 오염을 측정하는 태양전지패널(300) 주위에 배치될 수도 있으며, 수광소자(320)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 반사율이 100%인 상태의 반사체에서 미리 측정하여 산출된 기준값과 현재 수광소자(320)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(320)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단하여, 태양전지모듈의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(325)의 경우, 광센서(325)에 도달한는 빛의 양이 많으면, 광센서(325)의 저항은 낮아지고, 광센서(325)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(325)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. 기준값보다 높은 저항값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.The processor may be disposed around the solar panel 300 for measuring the contamination, and the pollution degree may be measured based on the output value of the light receiving element 320. Specifically, the output value calculated from the amount of light currently sensed by the light receiving element 320 is compared with a reference value previously measured and calculated in a reflector with a reflectance of 100%, and the amount of light reaching the light receiving element 320 Is less than the predetermined standard, it is determined that the pollution degree is high, and the cleaning timing of the solar cell module is determined. In the case of the optical sensor 325 using a cadmium sulfide (CdS) element, if the amount of light reaching the optical sensor 325 is large, the resistance of the optical sensor 325 is lowered and the optical sensor 325 And outputs it to the process as an output value. The process compares the output value with the reference value to determine the degree of contamination. If the output resistance value is high, it is determined that the amount of light reaching the optical sensor 325 is small. If the resistance value is higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and based on this, the cleaning time is determined.

광센서(325)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.When the optical sensor 325 measures the current value, the processor determines that the contamination degree is high when the current value sensed by the optical sensor is measured to be smaller than the reference value, and determines the cleaning time.

도 11을 참조하면, 오염을 측정하는 태양전지패널(300)은 복수의 발광소자(310), 복수개의 수광소자(320)와 복수개의 반사체(330)를 포함한다.Referring to FIG. 11, a solar cell panel 300 for measuring contamination includes a plurality of light emitting devices 310, a plurality of light receiving devices 320, and a plurality of reflectors 330.

발광소자(310)는 태양전지모듈(340)면을 기준으로 기울어지도록 패널프레임(370)과 힌지(312)로 결합될 수 있으며, 패널프레임(370)에서 회전할 수 있도록 회전판(311)을 포함할 수 있다. 발광소자(310)의 위치를 조정하여, 발광소자(310)로부터 방출되는 빛이 반사체(330)를 향하도록 할 수 있다.The light emitting device 310 may be coupled to the panel frame 370 and the hinge 312 so as to be inclined with respect to the surface of the solar cell module 340 and may include a rotating plate 311 to be rotatable by the panel frame 370 can do. The position of the light emitting element 310 may be adjusted so that the light emitted from the light emitting element 310 may be directed to the reflector 330.

수광소자(320)도, 발광소자(310)처럼 태양전지모듈(340)면을 기준으로 기울어지도록 패널프레임(370)과 힌지(322)로 결합될 수 있으며, 패널프레임(370)에서 회전하도록 회전판(321)을 포함할 수 있다. 수광소자(320)의 위치를 조정하여, 반사체(330)로부터 반사되는 빛이 수광소자(320)에 도달할 수 있도록 할 수 있다.The light receiving element 320 may be coupled to the panel frame 370 and the hinge 322 such that the light receiving element 320 is tilted with respect to the surface of the solar cell module 340 like the light emitting device 310, (321). It is possible to adjust the position of the light receiving element 320 so that the light reflected from the reflector 330 can reach the light receiving element 320.

반사체(330)는 복수개로 배치될 수 있으며, 발광소자(310)와 수광소자(320)사이에 배치된다. 복수의 반사체(330)중 하나는 커버(350)로 싸여있다. A plurality of reflectors 330 may be disposed and disposed between the light emitting element 310 and the light receiving element 320. One of the plurality of reflectors 330 is encased in a cover 350.

커버(350)는 반사체(330)의 일면을 감싸고 있다. 도 3에서 설명한 바와 같이 빛이 통과할 수 있도록, 커버(350)는 광유입구, 광유출구를 포함하고 있다. 광유입구와 광유출구는 빛의 이동 경로상에 위치한다. 따라서, 커버(350)는 빛의 이동경로를 간섭하지 않는다. The cover 350 surrounds one side of the reflector 330. 3, the cover 350 includes a light oil inlet and a light oil outlet so that light can pass therethrough. The mineral oil inlet and the mineral oil outlet are located on the light travel path. Therefore, the cover 350 does not interfere with the light travel path.

커버(350)는 반사체(330)의 일면을 덮으므로, 태양전지패널 표면 오염측정장치를 사용하는 경우 커버(350)가 싸여진 반사체(330)는 외부의 환경에 노출되지 않아 먼지와 같은 이물질의 접근을 차단한다.The cover 350 covers one side of the reflector 330. Therefore, when the apparatus for measuring the surface contamination of the solar panel is used, the reflector 330 with the cover 350 enclosed therein is not exposed to the external environment, .

발광소자(310)로부터 출력된 빛은 커버(350)가 덮인 반사체(330)에 반사되어 수광소자(320)에 도달한다. 반사체(330)에 반사된 빛을 센싱한 수광소자(320) 출력값을 바탕으로 기준값은 설정된다. The light output from the light emitting element 310 is reflected by the reflector 330 covered with the cover 350 and reaches the light receiving element 320. The reference value is set based on the output value of the light receiving element 320 that senses the light reflected by the reflector 330.

프로세서는 기준값과, 출력값을 비교하여 오염도를 판단한다. 오염도를 판단하는 방법은 도 10에서 상술한 방법과 같이 수행될 수 있다. 즉, 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(325)의 경우, 광센서(325)에 도달하는 빛의 양이 많으면, 광센서(325)의 저항은 낮아지고, 광센서(325)는 저항값 또는 전류값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높거나 전류값이 낮으면, 광센서(325)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다.The processor compares the reference value and the output value to determine the degree of contamination. The method of determining the degree of contamination can be performed as in the method described above in Fig. That is, in the case of the optical sensor 325 using a cadmium sulfide (CdS) element, when the amount of light reaching the optical sensor 325 is large, the resistance of the optical sensor 325 is lowered, Value or current value to the process as an output value. The process compares the output value with the reference value to determine the degree of contamination. If the output resistance value is high or the current value is low, it is determined that the amount of light reaching the optical sensor 325 is small.

기준값보다 저항값이 높거나 또는 전류값이 낮으면, 프로세서는 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the resistance value is higher than the reference value or the current value is lower than the reference value, the processor judges that the contamination degree is severe and determines the cleaning timing based on the judgment.

도 12a를 참조하면, 반사체(330)는 끼움돌기(331)를 구비하고, 태양전지모듈(340)은 끼움홀(342)을 구비하는 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 12A, it can be seen that the reflector 330 has the fitting protrusion 331, and the solar cell module 340 has the fitting hole 342.

반사체(330)의 끼움돌기(331)를 태양전지모듈(340)의 끼움홀(342)에 삽입하여 고정하는 방식으로 결합할 수 있다. 즉, 반사체(330)와 태양전지모듈(340)은 후크결합방식으로 결합될 수 있다.The fitting protrusion 331 of the reflector 330 may be inserted into the fitting hole 342 of the solar cell module 340 and fixed thereto. That is, the reflector 330 and the solar cell module 340 may be coupled to each other by a hook coupling method.

도 12b를 참조하면, 반사체(330)는 자석(332)을 포함하고 있다.Referring to FIG. 12B, the reflector 330 includes a magnet 332.

반사체(330)는 반사체에 포함된 자석(332)으로 태양전지모듈(340)과 결합할 수 있다. 태양전지모듈(340)이 자성체로 구성되어 있으면, 반사체(330)와 자기적으로 결합할 수 있다. 반사체(330)가 고정되도록, 강한 자기장을 가지는 자석(332)을 사용하는 것이 바람직하다.The reflector 330 may be coupled to the solar cell module 340 with a magnet 332 included in the reflector. If the solar cell module 340 is made of a magnetic material, it can be magnetically coupled to the reflector 330. It is preferable to use a magnet 332 having a strong magnetic field so that the reflector 330 is fixed.

반사체(330)는 소모품이므로, 도 12a, 12b와 같이 탈부착 가능하도록 제작되어 오염도를 판단하여 청소시기를 판단한 이후, 새 반사체(330)로 교체가능하다.Since the reflector 330 is a consumable item, the reflector 330 can be replaced with a new reflector 330 after the cleaning time is determined by determining the degree of contamination by detachably attaching as shown in FIGS. 12A and 12B.

이하, 도 10 내지 도 11을 참고하여 본 발명의 제3 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the solar cell panel 300 for measuring contamination according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 10 to 11. FIG.

발광소자(310)에서 출력된 빛은 반사체(330)로 직진한다. 반사체(330)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(330)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(330)에 의해 반사된 빛은 수광소자(320)를 향해 진행하고, 광센서(325)에 빛이 도달한다.The light output from the light emitting device 310 goes straight to the reflector 330. The reflector 330 reflects light at an angle of reflection equal to the incident angle of the incident light. At this time, the reflector 330 can use a front reflector whose reflectance is close to 100%. Light reflected by the reflector 330 travels toward the light receiving element 320, and light reaches the light sensor 325.

광센서(325)에 도달한 빛은 광센서(325)의 저항을 감소시키고, 광센서(325)의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다.Light reaching the light sensor 325 reduces the resistance of the light sensor 325 and applies a voltage across the resistance of the light sensor 325 to measure the resistance value.

프로세서는 측정된 저항값을 바탕으로, 오염도에 따른 저항값을 기준값으로 설정한다. 예를 들어, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 반사체(130)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다.The processor sets the resistance value according to the degree of contamination as a reference value based on the measured resistance value. For example, if the measured resistance is 1 ohm (ohm) and the resistance of the reflector 130 surface is about 30% contaminated is 1.3 ohm (ohm), the processor sets the 1.3 ohm do.

태양전지모듈에 반사체(330)를 설치하여 일정시간이 지난 후, 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 반사체(330)에 부착되어 반사도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30% 이상이면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지모듈의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.After the reflector 330 is installed in the solar cell module, the resistance value is measured by the above-described method. In this case, external dust or foreign matter adheres to the reflector 330 and the reflectivity is lowered. If the contamination level of the surface is 30% or more, the resistance measurement value is 1.3 (Ω) or more. At this time, the processor can notify that the cleaning time of the solar cell module has come through an output unit such as a display (not shown).

광센서(325)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.When the optical sensor 325 measures the current value, the processor determines that the contamination degree is high when the current value sensed by the optical sensor is measured to be smaller than the reference value, and determines the cleaning time.

도 11을 참조하면, 발광소자(310)는 회전판(311)에 의해서 패널프레임(370)에서 회전하고, 힌지(312)에 의해서 태양전지모듈(340)의 일면과의 기울기를 조절할 수 있다. 발광소자(310)의 위치를 조절하여, 커버(350)가 씌워진 반사체(330)에 반사되도록 빛을 진행시킬 수 있고, 커버가 씌워지지 않은 반사체(330)에 반사되도록 빛을 진행시킬 수 있다. 11, the light emitting device 310 is rotated by the panel frame 370 by the rotation plate 311, and the inclination of the light emitting device 310 with respect to one surface of the solar cell module 340 can be adjusted by the hinge 312. The position of the light emitting device 310 can be adjusted so that light can be reflected to be reflected by the reflector 330 covered with the cover 350 and light can be reflected to be reflected to the reflector 330 not covered with the cover.

복수개의 발광소자(310)를 가지는 경우에는, 하나의 발광소자(310)는 커버(350)로 덮여있는 반사체(330)로 빛을 진행시키고, 나머지 발광소자(310)는 커버로 덮여있지 않은 반사체(330)로 빛을 진행시킨다.In the case of having a plurality of light emitting devices 310, one light emitting device 310 advances the light to the reflector 330 covered with the cover 350, and the remaining light emitting device 310 is a reflector (330).

또한, 하나의 발광소자를 사용하는 경우, 도 5에서 상술한 바와 같이 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 하나의 발광소자(310)로부터 출력되는 빛을 2개로 분기시킬 수 있다. 이 경우, 반투명거울은 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 복수의 반사체(330) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울은 반투명거울에 반사된 빛을 복수의 반사체(330) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 반사체(330) 중 하나는 커버(350)로 덮여 있다.In addition, when one light emitting device is used, the light output from one light emitting device 310 can be divided into two by using a semitransparent mirror and a total reflection mirror as described above with reference to FIG. In this case, the translucent mirror reflects a part of the light output from the light emitting element toward one of the plurality of reflectors 330 And reflects the output light. The total reflection mirror refracts the light reflected by the semitransparent mirror to the other one of the plurality of reflectors 330 and proceeds. One of the plurality of reflectors 330 is covered with a cover 350.

발광소자(310)로부터 출력된 빛 중 하나는 커버(350)가 씌워진 반사체(330)로 진행한다. 발광소자(310)로부터 출력된 빛은 커버(350)의 광유입구을 통과하여 반사체(330)로 입사된다. 반사체(330)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 이 때, 반사체(330)는 반사율이 100%에 가까운 전반사경을 이용할 수 있다. 반사체(330)에 의해 반사된 빛은 커버(350)의 광유출구를 통과하여 수광소자(320)를 향해 진행하고 광센서(325)에 빛이 도달한다.One of the light output from the light emitting device 310 goes to the reflector 330 covered with the cover 350. The light output from the light emitting device 310 passes through the light oil inlet of the cover 350 and is incident on the reflector 330. The reflector 330 reflects light at an angle of reflection equal to the incident angle of the incident light. At this time, the reflector 330 can use a front reflector whose reflectance is close to 100%. The light reflected by the reflector 330 passes through the light oil outlet of the cover 350 and advances toward the light receiving element 320 to reach the light sensor 325.

광센서(325)에 도달한 빛은 광센서(325)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.Light reaching the light sensor 325 reduces the resistance of the light sensor 325 and applies a voltage across the resistance of the light sensor to measure the resistance value. The processor sets the reference value based on this.

발광소자(310)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(350)가 씌워지지 않은 반사체(330)로 진행한다. 반사체(330)는 입사된 빛의 입사각과 동일한 각도의 반사각으로 빛을 반사시킨다. 반사체(330)에 의해 반사된 빛은 수광소자(320)를 향해 진행한다. 반사체(33)에 의해 반사된 빛은 수광소자(320)의 광센서(325)에 도달한다.The other one of the lights outputted from the light emitting device 310 goes to the reflector 330, which is not covered with the cover 350. The reflector 330 reflects light at an angle of reflection equal to the incident angle of the incident light. The light reflected by the reflector 330 travels toward the light receiving element 320. Light reflected by the reflector 33 reaches the light sensor 325 of the light receiving element 320. [

광센서(325)에 도달한 빛은 광센서(325)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the light sensor 325 reduces the resistance of the light sensor 325 and applies a voltage across the resistance of the light sensor to measure and output the resistance value.

프로세서는 도 10의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력된 저항값과 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output resistance value and the reference value, as described above in the operation method of the embodiment of FIG.

복수개의 발광소자(310)를 가지는 경우에도, 프로세서는 커버(350)로 덮여있는 반사체(330)로부터 반사된 빛이 도달하는 수광소자(320)로부터 기준값을 획득한다. 또한, 프로세서는 커버(350)가 덮여있지 않은 반사체(330)로부터 반사된 빛이 도달하는 수광소자(320)로부터 출력되는 저항값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지모듈의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.The processor obtains the reference value from the light receiving element 320 through which the light reflected from the reflector 330 covered by the cover 350 reaches. In addition, the processor compares the resistance value output from the light-receiving element 320 to which the light reflected from the reflector 330, which is not covered with the cover 350, reaches a reference value to determine the degree of contamination. In this case, the processor can notify the cleaning timing of the solar cell module through an output unit such as a display (not shown) based on the determination of the degree of contamination.

이하, 도 13 및 도 14를 참조하여, 본 발명의 제5 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of the solar cell panel for measuring contamination according to the fifth embodiment of the present invention will be described with reference to Figs. 13 and 14. Fig.

도 13은, 본 발명의 제4 실시예에 따른 태양전지를 도시한 사시도이고, 도 14는, 본 발명의 제4 실시예에 따른 태양전지에 추가 투명판을 포함하는 것을 도시한 사시도이다.FIG. 13 is a perspective view showing a solar cell according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 14 is a perspective view showing that a solar cell according to a fourth embodiment of the present invention further includes a transparent plate.

도 13을 참조하면, 오염을 측정하는 태양전지패널(400)은 발광소자(410), 수광소자(420)와 투과창(430)을 포함한다. Referring to FIG. 13, a solar cell panel 400 for measuring contamination includes a light emitting device 410, a light receiving device 420, and a transmission window 430.

발광소자(410)는 패널프레임(470)의 일모서리에 부착된다. 발광소자(410)는 빛을 출력하는 광원(415)을 포함한다. 광원(415)은 도 1에서 상술한 바와 같이 레이저광을 출력하는 레어저광원으로 이루어 질 수 있으나, 광원(415)의 종류는 이에 한정되지 않는다. 발광소자(410)는 패널프레임(470)에 고정되기 위하여, "ㄷ" 자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)에 의해서 체결될 수 있다. 체결 방법은 이에 한정되지 않으며, 발광소자(410)가 체결될 수 있는 형태이면 가능하다. 도 10, 도 11의 제 3실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)의 경우, 발광소자(310), 수광소자(320)는 동일하게 결합될 수 있다.The light emitting element 410 is attached to one corner of the panel frame 470. The light emitting device 410 includes a light source 415 that outputs light. The light source 415 may be a rare light source that outputs laser light as described above with reference to FIG. 1, but the type of the light source 415 is not limited thereto. The light emitting element 410 may be fastened by a "C" shaped latch 480 and a screw 490 to be fixed to the panel frame 470. The fastening method is not limited to this, and it is possible that the fastening method is such that the light emitting element 410 can be fastened. 10 and 11, the light emitting device 310 and the light receiving device 320 may be similarly coupled.

도 10 및 도 11에서는 도시하지 않았지만, 상술한 "ㄷ"자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)는 도 10, 도 11의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(300)의 발광소자(310), 수광소자(320)에도 적용된다.Although not shown in FIGS. 10 and 11, the "C" shaped latch 480 and the screw 490 are provided on the solar cell panel 300 for measuring contamination according to the fourth embodiment of FIGS. 10 and 11, The light emitting element 310 and the light receiving element 320 of FIG.

또한, "ㄷ"자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)은 후술할 도 14의 복수의 발광소자(410)에도 적용된다.In addition, the "C" -shaped latch 480 and the screw 490 are also applied to a plurality of light emitting devices 410 of FIG. 14 to be described later.

수광소자(420)는 태양전지모듈(440)의 일면에 부착되거나, 태양전지모듈(440)의 일면에 매립된다. 수광소자(420)의 광센서(425)는 태양전지모듈(440)의 일면에 노출되도록 배치될 수 있다. 광센서(425) 수광소자(420)에 도달하는 빛의 양을 감지한다. 투과창(430)은 수광소자(420)의 상면에 배치되고, 발광소자(410)에서 출력된 빛을 수광소자(420)로 통과시킨다. 투과창(430)은 빛의 투과율이 거의 100%에 가까운 글래스를 쓰는 것이 바람직하다. The light receiving element 420 is attached to one surface of the solar cell module 440 or embedded in one surface of the solar cell module 440. The light sensor 425 of the light receiving element 420 may be disposed to be exposed on one side of the solar cell module 440. The light sensor 425 detects the amount of light reaching the light receiving element 420. The transmission window 430 is disposed on the upper surface of the light receiving element 420 and allows light output from the light emitting element 410 to pass through the light receiving element 420. It is preferable that the transmission window 430 is made of glass having a light transmittance close to 100%.

투과창(430)이 외부환경에 오염되기 전, 발광소자(410)에서 출력된 빛이 투과창(430)을 통과하여 수광소자(420)에 도달한 빛의 양에 따른 출력값을 바탕으로 오염도의 기준값을 결정한다. 이 때, 오염도의 기준값은 반사체가 일정 정도 오염되었을 경우의 출력값을 산출하여 결정할 수 있다.The light output from the light emitting device 410 passes through the transmission window 430 and reaches the light receiving device 420 before the transmission window 430 is contaminated with the external environment, The reference value is determined. At this time, the reference value of the pollution degree can be determined by calculating an output value when the reflector is contaminated to a certain degree.

본 발명에서는 투과창(430)이 태양전지모듈(440)의 일면에 돌출되어 있는 형태로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 투과창(430)은 태양전지모듈(440)에 매립되어 있는 형태일 수 있다. 투과창(430)은 도 12a, b의 반사체(330)와 마찬가지로, 태양전지모듈에 탈부착가능하다.The transmission window 430 is projected on one side of the solar cell module 440 but the present invention is not limited thereto and the transmission window 430 may be in the form of being embedded in the solar cell module 440. [ . The transmission window 430 is detachably attachable to the solar cell module, like the reflector 330 of Figs. 12a and b.

전원부(미도시), 통신부(미도시) 및 프로세서(미도시)는 오염을 측정하는 태양전지패널(400)외부에 포함될 수 있다. 전원부는 빛을 방출하기 위한 에너지를 발광소자(410)로 공급하고, 오염을 측정하는 태양전지패널(400)의 오염측정을 위한 각 구성요소에 전력을 공급한다. 통신부는 수광소자(420)가 감지한 빛의 양에 따른 출력값을 장치 외부의 프로세서로 송신할 수 있다.A power source (not shown), a communication unit (not shown), and a processor (not shown) may be included outside the solar cell panel 400 for measuring contamination. The power supply unit supplies energy for emitting light to the light emitting device 410 and supplies power to each component for measuring contamination of the solar cell panel 400 for measuring the contamination. The communication unit can transmit an output value according to the amount of light sensed by the light receiving element 420 to a processor outside the apparatus.

프로세서는 오염을 측정하는 태양전지패널(400) 근처에 배치되거나, 원거리의 제어실에 배치될 수 있으며, 수광소자(420)의 출력값을 바탕으로 오염도를 측정할 수 있다. 구체적으로, 투과율이 100%인 상태의 투과창(430)을 통과하여 수광소자(420)에 도달한 빛의 양을 바탕으로 미리 측정하여 산출된 기준값을 정한다. 현재 수광소자(420)에서 감지되는 빛의 양으로부터 산출된 출력값을 비교하여, 수광소자(420)에 도달하는 빛의 양이 일정기준 이하로 적어지면, 오염도가 높은 것으로 판단한다. 상술한 과정을 거쳐 프로세서는 태양전지모듈의 청소시기를 판단한다. 황화카드뮴(CdS)소자를 이용한 광센서(425)의 경우, 광센서(425)에 도달하는 빛의 양이 많으면, 광센서(425)의 저항은 낮아지고, 광센서(425)는 저항값을 출력값으로 하여 프로세스로 전달한다. 프로세스는 출력값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 출력되는 저항값이 높으면, 광센서(425)에 도달하는 빛의 양이 적은 것으로 판단한다. The processor may be disposed near the solar panel 400 for measuring the contamination or may be disposed in a remote control room and may measure the contamination degree based on the output value of the light receiving element 420. Specifically, the reference value is determined in advance based on the amount of light that has passed through the transmission window 430 with the transmittance of 100% and reaches the light receiving element 420. The output value calculated from the amount of light sensed by the light receiving element 420 is compared to determine that the degree of contamination is high if the amount of light reaching the light receiving element 420 becomes less than a certain standard. After the process described above, the processor determines the cleaning time of the solar cell module. In the case of the optical sensor 425 using a cadmium sulfide (CdS) element, when the amount of light reaching the optical sensor 425 is large, the resistance of the optical sensor 425 is lowered, and the optical sensor 425 And outputs it to the process as an output value. The process compares the output value with the reference value to determine the degree of contamination. If the output resistance value is high, it is determined that the amount of light reaching the optical sensor 425 is small.

기준값보다 높은 저항값을 가지면, 오염도가 심한 것으로 판단하고, 이를 바탕으로 청소시기를 판단한다.If the resistance value is higher than the reference value, it is determined that the degree of contamination is severe, and based on this, the cleaning time is determined.

도 14를 참조하면, 투과창(430)이 복수이다. 도 7에서 상술한 바와 같이, 발광소자(410)는 회전판(411)에 의해서 패널프레임(470)에서 회전하고, 힌지(412)에 의해서 태양전지모듈(440)의 일면에 대하여 기울기를 변화시킬 수 있다. 이를 바탕으로, 발광소자(410)에서 방출되는 빛의 경로는, 복수의 투과창(430)중 하나로 향하게 조절할 수 있다. 복수의 투과창(430)중 하나는 커버(450)를 가지고 있다. 투과창(430)에 씌워진 커버(450)와 상이하게, 투과창(430)에 씌워진 커버(450)는 광유입구만 가지고 있고, 광유출구는 별도로 구비하지 않는다. 커버(450)에 씌워진 투과창(430)은 청정한 상태로 유지될 수 있다. 따라서, 커버(450)에 씌워진 투과창(430)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(420)의 광센서(425)의 값을 바탕으로 기준값을 설정한다. Referring to FIG. 14, there is a plurality of transmission windows 430. 7, the light emitting device 410 rotates in the panel frame 470 by the rotation plate 411 and can change the tilt of the solar cell module 440 with respect to one surface of the solar cell module 440 by the hinge 412 have. On the basis of this, the path of the light emitted from the light emitting device 410 can be directed toward one of the plurality of transmission windows 430. One of the plurality of transmission windows 430 has a cover 450. Unlike the cover 450 which is covered by the transmission window 430, the cover 450 which is covered by the transmission window 430 has only a light oil inlet and does not have a separate light oil outlet. The transmission window 430 covering the cover 450 can be kept clean. Therefore, the reference value is set based on the value of the optical sensor 425 of the light receiving element 420 which senses the light passing through the transmission window 430 covered with the cover 450.

반대로, 커버가 씌워지지 않은 투과창(430)을 통과한 빛을 센싱한 수광소자(420)에서 출력된 출력값을 산출한다. 프로세서는 기준값과 출력값을 바탕으로, 태양전지모듈의 오염도를 측정하고, 청소시기를 결정한다.On the contrary, the output value output from the light receiving element 420 which senses the light passing through the transmission window 430 not covered with the cover is calculated. The processor measures the pollution degree of the solar cell module based on the reference value and the output value, and determines the cleaning time.

도 14에서는 도시하지 않았지만, 도 5에서 상술한 바와 같이, 반투명거울과 전반사거울을 이용하여, 빛의 이동경로를 분기시킬 수 있다. 분기된 빛의 이동경로를 따라 이동하는 각각의 빛의 양을 일정하도록 조절하여, 기준값과 출력값을 동시에 산출할 수 있다.Although not shown in Fig. 14, as described above with reference to Fig. 5, the light traveling path can be branched by using a semitransparent mirror and a total reflection mirror. It is possible to simultaneously calculate the reference value and the output value by adjusting the amount of each light traveling along the movement path of the branched light to be constant.

전술한 도 13과 같이 "ㄷ"자형태의 걸쇠(480)와 스크류(490)로 발광소자(410)는 패널프레임(470)에 결합된다.The light emitting element 410 is coupled to the panel frame 470 with the latch 480 and the screw 490 of the "C" shape as shown in FIG.

도 4a, 도 4b에서 상술한 바와 같이, 발광소자(410)는 광필터와 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 있고, 수광소자(410)도 광필터, 볼록렌즈, 오목렌즈를 포함할 수 있다.4A and 4B, the light emitting device 410 includes an optical filter, a convex lens, and a concave lens, and the light receiving element 410 may include an optical filter, a convex lens, and a concave lens.

이하, 도 13 및 도 14를 참고하여 본 발명의 제5 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널(400)의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the solar cell panel 400 for measuring contamination according to the fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 13 and 14. FIG.

도 13을 참조하면, 상술한 제3 실시예에 따른 태양전지의 동작처럼, 발광소자(410)의 광원(415)에서 방출된 빛이 광필터를 통하여 빛의 세기가 조절될 수 있다. 광필터를 통과한 빛은 볼록렌즈와 오목렌즈를 통과하여 집광되어 투과창(430)으로 직진한다. 이 때, 투과창(430)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용할 수 있다. 투과창(430)에 의해 투과된 빛은 수광소자(420)를 향해 진행한다. 투과창을 통과한 빛은 수광소자(420)의 광센서(425)에 도달한다.Referring to FIG. 13, light emitted from the light source 415 of the light emitting device 410 can be controlled in intensity through an optical filter, as in the operation of the solar cell according to the third embodiment. The light passing through the optical filter passes through the convex lens and the concave lens, is condensed, and goes straight to the transmission window 430. At this time, the transmission window 430 can use glass having a transmittance close to 100%. The light transmitted by the transmission window 430 travels toward the light receiving element 420. The light passing through the transmission window reaches the optical sensor 425 of the light receiving element 420.

광센서(425)에 도달한 빛은 광센서(425)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값 또는 전류값을 측정한다.Light reaching the light sensor 425 reduces the resistance of the light sensor 425 and applies a voltage across the resistance of the light sensor to measure the resistance value or the current value.

프로세서는 측정된 저항값을 바탕으로, 오염도에 따른 저항값을 기준값으로 설정한다. 예를 들어, 측정된 저항이 1옴(Ω)이고, 투과창(430)의 표면이 30% 정도의 오염된 경우의 저항이 1.3옴(Ω)이면, 프로세서는 1.3옴(Ω)을 기준값으로 설정한다.The processor sets the resistance value according to the degree of contamination as a reference value based on the measured resistance value. For example, if the measured resistance is 1 ohm (ohm) and the resistance of the transmission window 430 surface is about 30% contaminated by 1.3 ohms (ohms), then the processor will assume 1.3 ohms Setting.

태양전지모듈(440)에 투과창(430)을 설치하여 일정시간이 지난 후, 프로세서는 상술한 방법으로 저항값을 측정한다. 이 경우, 외부의 먼지나 이물질이 투과창(430)에 부착되어 투과도가 떨어지게 된다. 표면의 오염 정도가 30%이상되면, 저항 측정값은 1.3(Ω)이상이 된다. 이때, 프로세서는, 태양전지모듈의 청소시기가 되었음을 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다.After a certain period of time has elapsed after the transmission window 430 is installed in the solar cell module 440, the processor measures the resistance value by the above-described method. In this case, external dust or foreign matter adheres to the transmission window 430 and the transmittance is lowered. If the contamination level of the surface exceeds 30%, the resistance measurement value becomes 1.3 (Ω) or more. At this time, the processor can notify that the cleaning time of the solar cell module has come through an output unit such as a display (not shown).

도 14를 참조하면, 투과창(430)은 복수 개로 이루어져 있다. 발광소자(410)는 회전판(411)에 의해서 패널프레임(470)에서 회전하고, 힌지(412)에 의해서 태양전지모듈(440)의 일면과의 기울기를 조절할 수 있다. 발광소자의 위치를 조절하여, 발광소자에서 방출된 빛은 커버(450)가 씌워진 투과창(430)에 빛이 투과될 수 있고, 커버가 씌워지지 않은 투과창(430)에 투과될 수 있다. Referring to FIG. 14, a plurality of transmission windows 430 are formed. The light emitting device 410 is rotated by the panel frame 470 by the rotating plate 411 and can adjust the inclination of the light emitting device 410 with the one surface of the solar cell module 440 by the hinge 412. The light emitted from the light emitting device can be transmitted through the transmission window 430 covered with the cover 450 and transmitted through the transmission window 430 not covered with the cover.

하나의 발광소자(410)는 커버(450)로 덮여있는 투과창(430)으로 빛을 진행시키고, 나머지 발광소자(410)는 커버로 덮여있지 않은 투과창(430)으로 빛을 진행시킨다.One light emitting device 410 advances the light to the transmission window 430 covered with the cover 450 and the remaining light emitting device 410 advances the light to the transmission window 430 not covered with the cover.

도 14에서는 도시하지 않았지만, 도 5의 반투명거울(160)과 전반사거울(170)을 본 발명에 적용하면, 반투명거울(160)은 발광소자(110)에서 출력된 빛의 일부를 복수의 투과창(430) 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시킨다. 전반사거울(170)은 반투명거울(160)에 반사된 빛을 복수의 투과창(430) 중 다른 하나로 굴절시켜 진행시킨다. 복수의 투과창(430) 중 하나는 커버(450)로 덮여 있다.Although not shown in FIG. 14, when the semitransparent mirror 160 and the total reflection mirror 170 of FIG. 5 are applied to the present invention, the semitransparent mirror 160 separates a part of the light output from the light emitting element 110 into a plurality of transmission windows Lt; RTI ID = 0.0 > 430 < / RTI & And reflects the output light. The total reflection mirror 170 refracts the light reflected by the semitransparent mirror 160 to the other one of the plurality of transmission windows 430 and proceeds. One of the plurality of transmission windows 430 is covered with a cover 450.

발광소자(410)로부터 출력된 빛 중 하나는 커버(450)가 씌워진 투과창(430)으로 진행한다. 발광소자(410)로부터 출력된 빛은 커버(450)의 광유입구를 통과하여 투과창(430)으로 입사된다. 투과창(430)은 투과율이 100%에 가까운 글래스를 이용하는 것이 바람직하다. 투과창(430)에 의해 투과된 빛은 수광소자(420)를 향해 진행하여, 수광소자(420)의 광센서(425)에 빛이 도달한다.One of the light output from the light emitting device 410 goes to the transmission window 430 covered with the cover 450. The light output from the light emitting device 410 is incident on the transmission window 430 through the optical oil inlet of the cover 450. It is preferable that the transmission window 430 uses glass having a transmittance close to 100%. The light transmitted by the transmission window 430 travels toward the light receiving element 420 and reaches the light sensor 425 of the light receiving element 420.

광센서(425)에 도달한 빛은 광센서(425)의 저항을 감소시키고, 광센서의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정한다. 프로세서는 이를 바탕으로 기준값을 설정한다.The light reaching the light sensor 425 reduces the resistance of the light sensor 425 and applies a voltage across the resistance of the light sensor to measure the resistance value. The processor sets the reference value based on this.

발광소자(410)로부터 출력된 빛 중 다른 하나는 커버(450)가 씌워지지 않은 투과창(430)으로 진행한다. 투과창(430)에 의해 투과된 빛은 수광소자(420)를 향해 진행하고, 수광소자(420)의 광센서(425)에 빛이 도달한다.The other one of the lights output from the light emitting device 410 goes to the transmission window 430 where the cover 450 is not covered. Light transmitted by the transmission window 430 travels toward the light receiving element 420, and light reaches the light sensor 425 of the light receiving element 420.

광센서(425)에 도달한 빛은 광센서(425)의 저항을 감소시키고, 광센서(425)의 저항 양단에 전압을 인가하여, 저항값을 측정하고 출력한다.Light reaching the light sensor 425 reduces the resistance of the light sensor 425 and applies a voltage across the resistance of the light sensor 425 to measure and output the resistance value.

프로세서는 도 10의 실시예의 동작방법에서 상술한 바와 같이, 출력 기준값을 바탕으로 오염도를 판단한다.The processor determines the degree of contamination based on the output reference value, as described above in the method of operation of the embodiment of FIG.

복수개의 발광소자(210)를 가지는 경우에도, 프로세서는 커버(250)로 덮여있는 투과창(230)을 투과하여 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 기준값을 획득한다. 또한, 프로세서는 커버(250)가 덮여있지 않은 투과창(230)으로부터 투과된 빛이 도달하는 수광소자(220)로부터 출력되는 저항값과 기준값을 비교하여 오염도를 판단한다. 이 경우에도, 프로세서는 오염도를 판단한 것을 바탕으로, 태양전지모듈의 청소시기를 디스플레이(미도시)와 같은 출력부를 통하여 알릴 수 있다. Even when a plurality of light emitting devices 210 are provided, the processor obtains a reference value from the light receiving device 220 through which the light reaches the transmission window 230 covered by the cover 250. Also, the processor compares the resistance value output from the light-receiving element 220 to which the light transmitted from the transmission window 230, which is not covered with the cover 250, reaches a reference value to determine the degree of contamination. In this case, the processor can notify the cleaning timing of the solar cell module through an output unit such as a display (not shown) based on the determination of the degree of contamination.

만약, 광센서(425)가 전류값을 측정하는 경우, 프로세서는 광센서에 감지된 전류값이 기준값보다 작게 측정되면 오염도가 높은 경우로 판단하고 청소시기를 판단한다.If the optical sensor 425 measures the current value, the processor determines that the contamination degree is high when the current value sensed by the optical sensor is measured to be smaller than the reference value, and determines the cleaning time.

도 8a 내지 도 8d의 유리시편(530)을 도 10, 도11의 제4 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널에도 적용할 수 있으며, 도13, 도 14의 제5 실시예에 따른 오염을 측정하는 태양전지패널에도 적용할 수 있다.The glass specimen 530 of Figs. 8A to 8D can be applied to the solar cell panel for measuring the contamination according to the fourth embodiment of Figs. 10 and 11, and the contamination according to the fifth embodiment of Figs. 13 and 14 The present invention can be applied to a solar cell panel that measures a solar cell.

유리시편(530)을 도 8a 내지 도 8d와 같은 패턴을 가지는 것으로 활용하는 경우, 제4 내지 제5 실시예의 반사체나 투과창대신 사용할 수 있다. 이 경우, 미세먼지와 같은 작은 입자에 의해 오염되는 경우에도 정밀하게 측정할 수 있는 장점을 가질 수 있다.When the glass specimen 530 is utilized as having a pattern as shown in Figs. 8A to 8D, it can be used in place of the reflector or the transmission window of the fourth to fifth embodiments. In this case, it can have an advantage that it can be precisely measured even if it is contaminated with small particles such as fine dust.

상술한 바와 같이, 프로세서는 기준값을 미리 설정하고, 이후에 수광소자에서 감지되는 빛을 바탕으로 산출되는 출력값을 비교하여 오염도를 판단할 수 있고, 커버가 씌워진 반사체, 투과창 또는 유리시편을 이용하여, 동시에 기준값과 출력값을 구하여 비교하여 오염도를 판단할 수 있다.As described above, the processor can determine the degree of contamination by comparing the output value calculated based on the light sensed by the light-receiving element in advance, by setting the reference value in advance, and by using the reflector, the transmission window, or the glass specimen , And at the same time, the reference value and the output value are obtained and compared to determine the degree of contamination.

본 발명의 일 실시예에 따른 태양전지패널 표면 오염측정장치와 태양전지패널은 태양전지모듈의 오염도를 판단하여 태양전지 패널의 청소시기를 적절하게 알려줄 수 있으며, 기준값을 측정하기 위한 다양한 방법을 통하여 정밀한 오염도 측정이 가능하다.The apparatus for measuring surface contamination of a solar cell panel and the solar cell panel according to an embodiment of the present invention can determine the pollution degree of the solar cell module to appropriately inform the cleaning timing of the solar cell panel and various methods for measuring the reference value Precise contamination measurement is possible.

또한, 다양한 패턴이 도포된 유리시편은 미세먼지와 같은 미세입자에 의한 오염도 측정의 정밀성을 향상시킬 수 있다.In addition, the glass specimen coated with various patterns can improve the precision of measuring the degree of contamination by fine particles such as fine dust.

이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 가능함은 물론이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention.

100,200,500 : 태양전지패널 표면 오염측정장치
300, 400 : 태양전지패널
110, 210, 310, 410, 510 : 발광소자
120, 220, 320, 420, 520 : 수광소자
130, 330 : 반사체
230, 430 : 투과창
530 : 유리시편
100,200,500: Solar panel surface contamination measuring device
300, 400: solar cell panel
110, 210, 310, 410, 510:
120, 220, 320, 420, 520: Light receiving element
130, 330: reflector
230, 430: Transmission window
530: Glass Specimen

Claims (15)

베이스;
상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 수광소자;
상기 베이스 일면에 배치되고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 반사하는 반사체; 및
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 반사체는 복수이고,
상기 복수의 반사체 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치.
Base;
A light emitting element located at one end of the one surface of the base to output light;
A light receiving element located at the other end of the one surface of the base;
A reflector disposed on one side of the base and reflecting the output light to the light receiving element; And
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the reflector are plural,
Wherein one of the plurality of reflectors is enclosed in a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
기 설정된 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값을 기준값으로 설정하고, 측정 시점의 상태의 반사체에서 반사된 빛을 센싱한 상기 수광소자의 출력값과 상기 기준값을 비교하여 오염도를 판단하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.
The method according to claim 1,
The processor comprising:
The output value of the light receiving element which senses the light reflected from the reflector in the predetermined state is set as a reference value and the output value of the light receiving element which senses the light reflected by the reflector in the state at the measuring time is compared with the reference value, A device for measuring solar panel surface contamination.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 반사체 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 반사체 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울;을 더 포함하는 태양전지패널 표면 오염측정장치.
The method according to claim 1,
A plurality of reflectors disposed in the optical path, wherein a portion of the light output from the light emitting device is directed toward one of the plurality of reflectors A semi-transparent mirror for reflecting the output light; And
And a total reflection mirror for refracting the light reflected by the translucent mirror to another one of the plurality of reflectors.
제1항에 있어서,
상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부;를 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.
The method according to claim 1,
Wherein the light emitting device includes a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.
제1항에 있어서,
상기 발광소자는 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되고,
상기 수광소자는 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절되는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.
The method according to claim 1,
The light emitting element is controlled so that the output light is directed toward the reflector,
Wherein the light receiving element is adjusted so that light reflected from the reflector is sensed.
베이스;
상기 베이스 일면의 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 베이스의 일면에 위치하는 수광소자;
상기 수광소자의 상면을 덮고, 상기 출력된 빛을 상기 수광소자로 투과시키는 투과창;
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 투과창은 복수이고,
상기 복수의 투과창 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.
Base;
A light emitting element located at one end of the one surface of the base to output light;
A light receiving element located on one side of the base;
A transmission window covering the upper surface of the light-receiving element and transmitting the output light to the light-receiving element;
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the transmission window are plural,
Wherein one of the plurality of transmissive windows is enclosed by a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
삭제delete 제7항에 있어서,
상기 광경로에 위치하며, 상기 발광소자에서 출력된 빛의 일부를 상기 복수의 투과창 중 어느 하나를 향해 통과시키고, 상기 출력된 나머지 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에 반사된 빛을 상기 복수의 투과창 중 다른 하나로 굴절시키는 전반사거울;을 더 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.
8. The method of claim 7,
A translucent mirror positioned in the optical path for passing a part of the light output from the light emitting element toward one of the plurality of transmission windows and reflecting the output remaining light; And
And a total reflection mirror for refracting the light reflected by the semi-transparent mirror to the other one of the plurality of transmission windows.
제7항에 있어서,
상기 발광소자는 상기 빛이 상기 공동부를 통과하도록 집광하여 출력하는 렌즈부;를 포함하는, 태양전지패널 표면 오염측정장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the light emitting device includes a lens unit that condenses and outputs the light so as to pass through the cavity.
베이스;
상기 베이스 일단에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 베이스 일면에 위치하는 제1 수광소자;
상기 베이스 일면의 타단에 위치하는 제2 수광소자;
상기 제1 수광소자의 상면에 위치하고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편;
상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;
상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울;을 포함하고,
상기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향하는 태양전지패널 표면 오염측정장치.
Base;
A light emitting element located at one end of the base and outputting light;
A first light receiving element located on one side of the base;
A second light receiving element located at the other end of the one surface of the base;
A glass specimen positioned on an upper surface of the first light receiving element and including a reflection part for reflecting the output light and a transmission part for transmitting the light;
A processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements;
A semitransparent mirror positioned at an optical path of light output from the light emitting device, for diverting the output light into first light and second light, transmitting the first light, and reflecting the second light; And
And a total reflection mirror for reflecting the second light reflected from the translucent mirror,
Wherein one of the first and second lights is directed to the transmissive portion and the other of the first and second lights is directed to the reflective portion.
삭제delete 패널프레임;
상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈;
상기 태양전지모듈의 상면에 탈부착 가능하게 결합되는 반사체;
상기 패널프레임의 일 모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 반사체를 향하도록 조절되는 발광소자;
상기 발광소자를 마주보는 상기 패널프레임의 타 모서리에 위치하고, 상기 반사체에서 반사된 빛이 센싱되도록 조절되는 수광소자; 및
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 반사체는 복수이고,
상기 복수의 반사체 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는, 태양전지패널.
Panel frame;
A solar cell module located inside the panel frame;
A reflector detachably coupled to an upper surface of the solar cell module;
A light emitting element located at one corner of the panel frame and outputting light, the output light being adjusted to face the reflector;
A light receiving element positioned at the other corner of the panel frame facing the light emitting element and being adjusted to sense light reflected from the reflector; And
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the reflector are plural,
Wherein one of the plurality of reflectors is enclosed in a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
패널프레임;
상기 패널프레임 내부에 위치하는 태양전지모듈;
상기 태양전지모듈의 일면에 위치하는 수광소자;
상기 수광소자의 상면을 감싸는 투과창;
상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하고, 상기 출력된 빛이 상기 투과창을 투과하여 수광소자에 도달하도록 조절되는 발광소자; 및
상기 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 수광소자 및 상기 투과창은 복수이고,
상기 복수의 투과창 중 하나는 커버로 싸여있고,
상기 커버는 광경로에 대응되는 공동부를 포함하는 태양전지패널.
Panel frame;
A solar cell module located inside the panel frame;
A light receiving element located on one surface of the solar cell module;
A transmission window that surrounds the upper surface of the light receiving element;
A light emitting element located at one corner of the panel frame to emit light and being controlled so that the output light passes through the transmission window and reaches the light receiving element; And
And a processor for determining a degree of contamination based on an amount of light sensed by the light receiving element,
Wherein the light receiving element and the transmission window are plural,
Wherein one of the plurality of transmissive windows is enclosed by a cover,
Wherein the cover includes a cavity corresponding to an optical path.
패널프레임;
상기 패널프레임의 내부에 위치하는 태양전지모듈;
상기 패널프레임의 일모서리에 위치하여 빛을 출력하는 발광소자;
상기 태양전지모듈 일면에 위치하는 제1 수광소자;
상기 패널프레임의 타모서리에 위치하는 제2 수광소자;
상기 제1 수광소자의 상면을 감싸고, 상기 출력된 빛을 반사시키는 반사부와 상기 빛을 투과시키는 투과부를 포함하는 유리시편; 및
상기 제1 및 제2 수광소자에 센싱되는 빛의 양을 기초로 오염도를 판단하는 프로세서;를 포함하며,
상기 발광소자에서 출력되는 빛의 광경로에 위치하고, 상기 출력되는 빛을 제1 빛 및 제2 빛으로 분기하며, 상기 제1 빛을 투과시키고, 상기 제2 빛을 반사시키는 반투명거울; 및
상기 반투명거울에서 반사된 제2 빛을 반사시키는 전반사거울;을 더 포함하고,
상기 제1 및 제2 빛 중 어느 하나는 상기 투과부로 향하고, 상기 제1 및 제2 빛 중 다른 하나는 상기 반사부로 향하는, 태양전지패널.
Panel frame;
A solar cell module positioned inside the panel frame;
A light emitting element located at one corner of the panel frame and outputting light;
A first light receiving element located on one surface of the solar cell module;
A second light receiving element located at the other corner of the panel frame;
A glass specimen including a reflective portion surrounding the upper surface of the first light receiving element and reflecting the output light, and a transmissive portion transmitting the light; And
And a processor for determining the degree of contamination based on the amount of light sensed by the first and second light receiving elements,
A semitransparent mirror positioned at an optical path of light output from the light emitting device, for diverting the output light into first light and second light, transmitting the first light, and reflecting the second light; And
And a total reflection mirror for reflecting the second light reflected from the translucent mirror,
Wherein one of the first and second light is directed to the transmissive portion and the other of the first and second light is directed to the reflective portion.
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