KR101906029B1 - 제조 설비 진단 지원 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 실시의 형태 1에서의 데이터의 그룹화의 예를 설명하는 도면.
도 3은 본 발명의 실시의 형태 1에서의 특징량의 추출의 한 예를 설명하는 도면.
도 4는 본 발명의 실시의 형태 1에서의해석 범위를 변경하는 의의를 설명하는 도면.
도 5는 본 발명의 실시의 형태 1에서의 이사상 후보 항목의 판별의 한 예를 도시하는 도면.
도 6은 본 발명의 실시의 형태 1에서의 이사상 후보 항목의 판별의 한 예를 도시하는 도면.
도 7은 본 발명의 실시의 형태 1의 데이터 해석의 흐름을 도시하는 플로 차트.
도 8은 본 발명의 실시의 형태 1에서의 표시례를 도시하는 도면.
도 9는 본 발명의 실시의 형태 2의 시스템의 구성을 도시하는 도면.
2 : 데이터 채취 장치
2a : 기록 장치
3 : 데이터 해석 장치
4 : 데이터 해석 범위 설정 유닛
5 : 데이터 그룹화 유닛
6 : 특징량 추출 유닛
7 : 이사상 특정 유닛
8 : 검정 유닛
9 : 표시 장치
10, 10A, 10B, 10C, 10D : 압연기
26 : 사상압연기
260 : 압연 스탠드
Claims (6)
- 하나의 제조 설비 내에 배치되는 복수의 감시 대상 장치, 또는 복수의 제조 설비에 분산하여 배치되는 복수의 감시 대상 장치의 각각의 데이터를 항상 또는 간헐적으로 채취하고 기록하는 데이터 채취 장치와,
상기 데이터 채취 장치에 기록된 데이터를 해석하는 데이터 해석 장치와,
상기 데이터 해석 장치의 해석 과정 및 해석 결과를 표시하는 표시 장치를
구비하는 제조 설비 진단 지원 장치로서,
상기 데이터 해석 장치는,
상기 데이터 채취 장치에 기록된 데이터의 해석의 범위를 데이터 항목과 시간으로 설정하는 데이터 해석 범위 설정 수단과,
상기 데이터 해석 범위 설정 수단에 의해 설정된 범위의 데이터를 상기 데이터 채취 장치로부터 입력하고, 각 데이터에 대해, 당해 데이터가 채취된 감시 대상 장치의 사양 및 사용 조건에 의거한 분류와, 당해 데이터가 나타내는 물리량에 의거한 분류를 행함에 의해, 상기 데이터 채취 장치로부터 입력한 데이터를 그룹으로 나누는 데이터 그룹화 수단과,
상기 데이터 그룹화 수단에 의해 그룹으로 나눠진 데이터의 각 항목에서의 특징량을 추출하는 특징량 추출 수단과,
상기 특징량 추출 수단에 의해 추출된 각 데이터 항목의 특징량을 그룹 내와 그룹 사이의 각각에서 비교하고, 추출된 데이터 항목 중 어느 데이터 항목의 특징량이, 추출된 데이터 항목 중 나머지 데이터 항목의 특징량과는 다른 사상을 나타내는 데이터 항목이 있는 경우, 당해 데이터 항목을 이사상 후보 항목으로서 특정하는 이사상 특정 수단과,
상기 이사상 특정 수단에서 특정된 이사상 후보 항목과 상기 나머지 데이터 항목과의 사이에 유의한 차가 있는지의 여부를 검정하고, 유의한 차가 있는 경우에는, 이사상 후보 항목으로 된 데이터 항목을 이사상 항목이라고 판정하는 검정 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 제조 설비 진단 지원 장치. - 제1항에 있어서,
상기 데이터 그룹화 수단은, 각 그룹 내의 데이터 항목수를 그룹 사이에서 동일하게 하고, 각 데이터 항목에 대해, 그룹 내의 식별용으로 그룹 내 데이터 번호를 붙이고, 그룹 사이의 식별용으로 그룹 번호를 붙이는 것을 특징으로 하는 제조 설비 진단 지원 장치. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 특징량 추출 수단은, 원데이터, 및, 원데이터를 필터링하여 얻은 신호와 원데이터와의 편차의 2개에 대해, 동일 종류의 특징량을 계산하는 것을 특징으로 하는 제조 설비 진단 지원 장치. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 이사상 특정 수단은,
동일 그룹 내의 데이터 항목 사이에서 특징량을 비교하고, 특징량의 크기에 관해 타 데이터 항목과는 소정 비율 이상의 차가 있는 데이터 항목이 있는 경우, 당해 데이터 항목을 제1 레벨의 이사상 후보 항목으로서 특정하고,
감시 대상 장치에서 공통되는 데이터 항목이 복수의 그룹에 걸쳐서 제1 레벨의 이사상 후보 항목으로서 특정된 경우, 당해 데이터 항목을 제2 레벨의 이사상 후보 항목으로서 특정하는 것을 특징으로 하는 제조 설비 진단 지원 장치. - 제4항에 있어서,
상기 검정 수단은,
상기 이사상 특정 수단에서 제1 레벨의 이사상 후보 항목으로서 특정된 데이터 항목에 관해, 당해 데이터 항목의 특징량과, 동일 그룹 내의 타 데이터 항목의 특징량과의 사이에서 통계적인 검정을 행하고, 양자의 사이에 소정의 유의 수준으로 유의한 차가 없다는 귀무가설이 기각된 경우, 당해 데이터 항목을 제1 레벨의 이사상 항목으로서 특정하고,
당해 데이터 항목이 제2 레벨의 이사상 후보 항목이기도 하는 경우에 있어서, 감시 대상 장치에서 공통되는 타 그룹의 데이터 항목도 제1 레벨의 이사상 항목에 해당하는 경우, 당해 데이터 항목을 제2 레벨의 이사상 항목으로서 특정하는 것을 특징으로 하는 제조 설비 진단 지원 장치. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 데이터 해석 장치는, 일련의 데이터 해석의 완료 후에 상기 데이터 해석 범위 설정 수단에 의해 데이터의 해석의 범위의 시간을 변경하고, 변경된 범위의 데이터에 의거하여 일련의 데이터 해석을 재차 실행하는 것을 특징으로 하는 제조 설비 진단 지원 장치.
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---|---|---|---|---|
JP6572979B2 (ja) | 2016-02-03 | 2019-09-11 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 製造設備診断支援装置及び製造設備診断支援方法 |
JP6416823B2 (ja) * | 2016-05-16 | 2018-10-31 | ファナック株式会社 | 加工セル及び加工セル管理システム |
JP6791261B2 (ja) * | 2016-11-28 | 2020-11-25 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 圧延設備の異常診断の方法及び装置 |
WO2018123049A1 (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 誘導加熱装置の診断装置 |
JP6845703B2 (ja) * | 2017-02-13 | 2021-03-24 | 株式会社神戸製鋼所 | プラント状況情報提示システム及びプラント状況情報提示方法 |
JP6903976B2 (ja) * | 2017-03-22 | 2021-07-14 | オムロン株式会社 | 制御システム |
JP7127304B2 (ja) * | 2018-03-12 | 2022-08-30 | 株式会社リコー | 診断装置、診断方法およびプログラム |
JP6936178B2 (ja) * | 2018-03-23 | 2021-09-15 | ファナック株式会社 | 異常検知装置 |
WO2019220913A1 (ja) * | 2018-05-15 | 2019-11-21 | 住友電気工業株式会社 | 管理装置、管理方法および管理プログラム |
JP6777686B2 (ja) * | 2018-05-29 | 2020-10-28 | ファナック株式会社 | 診断装置、診断方法及び診断プログラム |
JP7031512B2 (ja) | 2018-06-25 | 2022-03-08 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 鉄鋼プラント用監視作業支援システム |
SG11202012751QA (en) * | 2018-07-05 | 2021-01-28 | Hitachi Ltd | Method and system for chiller performance anomaly diagnosis |
WO2020044533A1 (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 製造プロセス監視装置 |
CN113330379B (zh) | 2019-01-21 | 2024-11-29 | 三菱电机株式会社 | 异常原因推定装置、异常原因推定方法及介质 |
KR102398307B1 (ko) * | 2019-03-26 | 2022-05-16 | 도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤 | 이상 판정 지원 장치 |
EP3796117B1 (de) * | 2019-09-18 | 2021-10-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Diagnoseverfahren und diagnosesystem für eine verfahrenstechnische anlage |
US20210370960A1 (en) * | 2020-01-22 | 2021-12-02 | Clearpath Robotics Inc. | Systems and methods for monitoring an operation of one or more self-driving vehicles |
WO2022003871A1 (ja) * | 2020-07-01 | 2022-01-06 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 製造設備の診断支援装置 |
US11586675B1 (en) * | 2021-08-03 | 2023-02-21 | Jmp Statistical Discovery Llc | Interactive graphical user interface for specification rate settings and predictions |
WO2023233927A1 (ja) * | 2022-06-03 | 2023-12-07 | オムロン株式会社 | 異常検知装置、異常検知方法およびプログラム |
CN118159368A (zh) * | 2022-10-05 | 2024-06-07 | 东芝三菱电机产业系统株式会社 | 轧制风险提示装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011243118A (ja) | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Hitachi Ltd | 監視診断装置および監視診断方法 |
JP2013137797A (ja) | 2013-03-05 | 2013-07-11 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プラント運転状態監視方法 |
JP2013218725A (ja) | 2013-06-19 | 2013-10-24 | Hitachi Ltd | 異常検知方法及び異常検知システム |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11338535A (ja) * | 1998-05-22 | 1999-12-10 | Mitsubishi Electric Corp | 生産設備保全データ監視システム |
JPH11344589A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Hitachi Ltd | プラント診断システム |
GB0307406D0 (en) * | 2003-03-31 | 2003-05-07 | British Telecomm | Data analysis system and method |
JP4434905B2 (ja) | 2004-09-30 | 2010-03-17 | 株式会社東芝 | プロセス管理装置 |
JP2006338373A (ja) | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | 多変数時系列データ分析装置、方法およびプログラム |
JP2007148890A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Hitachi Ltd | 機器診断装置 |
JP5301310B2 (ja) | 2009-02-17 | 2013-09-25 | 株式会社日立製作所 | 異常検知方法及び異常検知システム |
CN101937207B (zh) * | 2010-08-27 | 2012-09-05 | 上海交通大学 | 机械设备状态的智能可视化监测与诊断方法 |
JP2012137934A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Hitachi Ltd | 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム並びに企業資産管理・設備資産管理システム |
WO2013026501A2 (en) * | 2011-08-19 | 2013-02-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Automated root cause analysis |
US8786425B1 (en) * | 2011-09-09 | 2014-07-22 | Alarm.Com Incorporated | Aberration engine |
US9075713B2 (en) * | 2012-05-24 | 2015-07-07 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Method for detecting anomalies in multivariate time series data |
JP5963579B2 (ja) * | 2012-06-13 | 2016-08-03 | 住友重機械工業株式会社 | ショベルの管理装置及びショベルの異常検出方法 |
EP2708963A1 (en) * | 2012-09-12 | 2014-03-19 | Alstom Technology Ltd. | Devices and methods for diagnosis of industrial electronic based products |
-
2014
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