KR101904027B1 - 기판 처리 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 도 1의 기판 처리 장치의 메쉬망을 나타낸 사시도이다.
3 : 제1 처리 공간 4 : 제2 처리 공간
10 : 공정 챔버 19 : 약액 제공부
11 : 제1 분사 노즐 21 : 제2 분사 노즐
13 : 제1 회수부 23 : 제2 회수부
15 : 격벽
20 : 약액 탱크 30 : 약액 공급 펌프
41 : 제1 배관 42 : 제2 배관
43 : 제1 연결 배관 44 : 제2 연결 배관
50 : 메쉬망
Claims (4)
- 약액을 제공하는 약액 제공부; 및
상기 약액 제공부로부터 제공된 약액으로 기판 처리 공정을 수행하는 공정 챔버를 포함하며, 상기 공정 챔버는,
제1 기판에 상기 약액을 분사하는 제1 분사 노즐 및 상기 제1 기판에 분사된 약액을 회수하는 제1 회수부를 포함하는 제1 처리 공간; 및
상기 제1 처리 공간과 격벽에 의해 구획되며, 상기 제1 회수부에서 약액을 공급받아 제2 기판에 약액을 분사하는 제2 분사 노즐 및 상기 제2 기판에 분사된 약액을 회수하는 제2 회수부를 포함하는 제2 처리 공간을 포함하고,
상기 제1 처리 공간은 상단에 배치되고, 상기 제2 처리 공간은 하단에 배치되게 상기 격벽은 상기 공정 챔버를 수직으로 구획하도록 구비되고,
상기 약액은 상단의 상기 제1 처리 공간으로부터 하단의 상기 제2 처리 공간으로 낙하되게 플로우가 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치. - 제1항에 있어서, 상기 공정 챔버는,
상기 제1 회수부와 상기 제2 분사 노즐 사이에 배치되어 상기 제1 처리 공간으로부터 상기 제2 처리 공간으로 낙하되게 플로우가 이루어지는 약액의 이물질을 제거하는 이물질 제거부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치. - 제2항에 있어서, 상기 이물질 제거부는,
가장자리를 정의하는 테두리;
상기 테두리를 가로지르도록 구비되는 지지대;
상기 테두리와 상기 지지대 사이에 망사 구조를 갖도록 구비되는 망; 및
상기 망을 통하여 상기 제1 처리 공간으로부터 상기 제2 처리 공간으로 낙하되게 플로우가 이루어지도록 상기 약액이 배출될 때 상기 망의 표면에 발생하는 수막 현상을 방지하도록 상기 지지대에 배치되게 구비되는 에어 벤트 파이프를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치. - 제2항에 있어서, 상기 이물질 제거부는,
상기 제2 회수부와 약액 제공부 사이에도 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110124958A KR101904027B1 (ko) | 2011-11-28 | 2011-11-28 | 기판 처리 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020110124958A KR101904027B1 (ko) | 2011-11-28 | 2011-11-28 | 기판 처리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130058946A KR20130058946A (ko) | 2013-06-05 |
KR101904027B1 true KR101904027B1 (ko) | 2018-10-04 |
Family
ID=48858008
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1020110124958A Active KR101904027B1 (ko) | 2011-11-28 | 2011-11-28 | 기판 처리 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101904027B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6220990B2 (ja) | 2013-12-23 | 2017-10-25 | ポスコPosco | 鋼板の欠陥検出のための超音波探傷装置および方法 |
KR101595492B1 (ko) * | 2013-12-26 | 2016-02-18 | 주식회사 포스코 | 강판 결함 검출을 위한 초음파 탐상 장치 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3006177B2 (ja) * | 1991-07-12 | 2000-02-07 | セイコーエプソン株式会社 | ワーク洗浄装置 |
JP3473662B2 (ja) * | 1996-10-09 | 2003-12-08 | 三菱住友シリコン株式会社 | ウェット式洗浄装置 |
KR100933126B1 (ko) * | 2007-05-24 | 2009-12-21 | 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 |
KR101451856B1 (ko) * | 2008-05-09 | 2014-10-16 | 세메스 주식회사 | 약액 공급 장치 |
KR101451857B1 (ko) * | 2008-05-09 | 2014-10-16 | 세메스 주식회사 | 약액 공급 장치 |
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2011
- 2011-11-28 KR KR1020110124958A patent/KR101904027B1/ko active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130058946A (ko) | 2013-06-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20111128 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20161107 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20111128 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20180305 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20180918 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20180927 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20180928 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210701 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220824 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230823 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240823 Start annual number: 7 End annual number: 7 |