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KR101849572B1 - Method of fabricating liquid crystal display device - Google Patents

Method of fabricating liquid crystal display device Download PDF

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KR101849572B1
KR101849572B1 KR1020110075480A KR20110075480A KR101849572B1 KR 101849572 B1 KR101849572 B1 KR 101849572B1 KR 1020110075480 A KR1020110075480 A KR 1020110075480A KR 20110075480 A KR20110075480 A KR 20110075480A KR 101849572 B1 KR101849572 B1 KR 101849572B1
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Abstract

본 발명의 액정표시장치의 제조방법은 ITO(Indium Tin Oxide)를 데이터 배선의 배리어 메탈(barrier metal)로 이용하여 데이터 배선과 화소전극을 하나의 마스크로 형성함으로써 마스크수를 감소시켜 제조공정을 단순화하는 동시에 제조비용을 절감하기 위한 것으로, 화소부와 데이터패드부 및 게이트패드부로 구분되는 어레이 기판을 제공하는 단계; 상기 어레이 기판의 화소부에 제 1 도전막으로 이루어진 게이트전극과 게이트라인을 형성하는 단계; 상기 게이트전극과 게이트라인이 형성된 어레이 기판 전면에 제 1 절연막을 형성하는 단계; 상기 제 1 절연막이 형성된 어레이 기판의 화소부에 액티브층 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴을 형성하는 단계; 상기 액티브층 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 형성한 후, 하프-톤 마스크를 통해 상기 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 선택적으로 제거하여 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하는 한편, 상기 제 2 도전막으로 이루어진 화소전극을 형성하는 단계; 상기 액티브층 상부의 n+ 비정질 실리콘 박막패턴을 선택적으로 제거하여 오믹-콘택층을 형성하는 단계; 상기 오믹-콘택층이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 절연막을 형성하는 단계; 및 상기 어레이 기판과 컬러필터 기판을 합착하는 단계를 포함한다.
특히, 상기 본 발명의 액정표시장치의 제조방법은 드레인전극이 콘택홀을 통하지 않고 화소전극과 직접 접속하는 한편, 기존의 4마스크구조 대비 액티브 테일(active tail)이 발생하지 않아 개구율이 향상되는 특징을 가진다.
The method of manufacturing a liquid crystal display of the present invention uses ITO (Indium Tin Oxide) as a barrier metal of a data line to form a data line and a pixel electrode in a single mask, thereby reducing the number of masks and simplifying the manufacturing process Providing an array substrate divided into a pixel portion, a data pad portion, and a gate pad portion for reducing manufacturing cost; Forming a gate electrode and a gate line made of a first conductive film in a pixel portion of the array substrate; Forming a first insulating layer on the entire surface of the array substrate where the gate electrode and the gate line are formed; Forming an active layer and an n + amorphous silicon thin film pattern on a pixel portion of the array substrate on which the first insulating film is formed; The second conductive layer and the third conductive layer are formed on the entire surface of the array substrate on which the active layer and the n + amorphous silicon thin film pattern are formed, and then the second conductive layer and the third conductive layer are selectively removed through the half- Forming a source electrode, a drain electrode, and a data line made of a third conductive film while forming a pixel electrode made of the second conductive film; Selectively removing the n + amorphous silicon thin film pattern on the active layer to form an ohmic contact layer; Forming a second insulating layer on the entire surface of the array substrate on which the ohmic-contact layer is formed; And attaching the array substrate and the color filter substrate together.
In particular, in the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, the drain electrode is directly connected to the pixel electrode without passing through the contact hole, and an active tail is not generated compared to the existing four mask structure, .

Description

액정표시장치의 제조방법{METHOD OF FABRICATING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a method of manufacturing a liquid crystal display device,

본 발명은 액정표시장치의 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 마스크수를 감소시켜 제조공정을 단순화하는 동시에 액티브 테일이 발생하지 않아 개구율을 향상시킬 수 있는 액정표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device capable of reducing the number of masks and simplifying a manufacturing process, .

최근 정보 디스플레이에 관한 관심이 고조되고 휴대가 가능한 정보매체를 이용하려는 요구가 높아지면서 기존의 표시장치인 브라운관(Cathode Ray Tube; CRT)을 대체하는 경량 박막형 평판표시장치(Flat Panel Display; FPD)에 대한 연구 및 상업화가 중점적으로 이루어지고 있다. 특히, 이러한 평판표시장치 중 액정표시장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 액정의 광학적 이방성을 이용하여 이미지를 표현하는 장치로서, 해상도와 컬러표시 및 화질 등에서 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터 등에 활발하게 적용되고 있다.Recently, interest in information display has increased, and a demand for using portable information media has increased, and a light-weight flat panel display (FPD) that replaces a cathode ray tube (CRT) And research and commercialization are being carried out. Particularly, among such flat panel display devices, a liquid crystal display (LCD) is an apparatus for displaying an image using the optical anisotropy of a liquid crystal, and is excellent in resolution, color display and picture quality and is actively applied to a notebook or a desktop monitor have.

상기 액정표시장치는 크게 컬러필터(color filter) 기판과 어레이(array) 기판 및 상기 컬러필터 기판과 어레이 기판 사이에 형성된 액정층(liquid crystal layer)으로 구성된다.The liquid crystal display comprises a color filter substrate, an array substrate, and a liquid crystal layer formed between the color filter substrate and the array substrate.

이하, 도 1을 참조하여 일반적인 액정표시장치에 대해서 상세히 설명한다.Hereinafter, a general liquid crystal display device will be described in detail with reference to FIG.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 구조를 개략적으로 나타내는 분해사시도이다.1 is an exploded perspective view schematically showing a structure of a general liquid crystal display device.

도면에 도시된 바와 같이, 일반적으로 액정표시장치는 크게 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10) 및 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10) 사이에 형성된 액정층(liquid crystal layer)(30)으로 구성된다.As shown in the figure, a liquid crystal display generally comprises a color filter substrate 5, an array substrate 10, and a liquid crystal layer formed between the color filter substrate 5 and the array substrate 10, (30).

상기 컬러필터 기판(5)은 적(Red; R), 녹(Green; G) 및 청(Blue; B)의 색상을 구현하는 다수의 서브-컬러필터(7)로 구성된 컬러필터(C)와 상기 서브-컬러필터(7) 사이를 구분하고 액정층(30)을 투과하는 광을 차단하는 블랙매트릭스(black matrix)(6), 그리고 상기 액정층(30)에 전압을 인가하는 투명한 공통전극(8)으로 이루어져 있다.The color filter substrate 5 includes a color filter C composed of a plurality of sub-color filters 7 implementing colors of red (R), green (G) and blue (B) A black matrix 6 for separating the sub-color filters 7 from each other and shielding light transmitted through the liquid crystal layer 30 and a transparent common electrode for applying a voltage to the liquid crystal layer 30 8).

또한, 상기 어레이 기판(10)은 종횡으로 배열되어 복수개의 화소영역(P)을 정의하는 복수개의 게이트라인(16)과 데이터라인(17), 상기 게이트라인(16)과 데이터라인(17)의 교차영역에 형성된 스위칭소자인 박막 트랜지스터(T) 및 상기 화소영역(P) 위에 형성된 화소전극(18)으로 이루어져 있다.The array substrate 10 includes a plurality of gate lines 16 and data lines 17 arranged vertically and horizontally to define a plurality of pixel regions P and a plurality of gate lines 16 and data lines 17 A thin film transistor T which is a switching element formed in the intersection region and a pixel electrode 18 formed on the pixel region P. [

이와 같이 구성된 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)은 화상표시 영역의 외곽에 형성된 실런트(sealant)(미도시)에 의해 대향하도록 합착되어 액정패널을 구성하며, 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)의 합착은 상기 컬러필터 기판(5) 또는 어레이 기판(10)에 형성된 합착키(미도시)를 통해 이루어진다.The color filter substrate 5 and the array substrate 10 constituted as described above are adhered to each other by a sealant (not shown) formed on the periphery of the image display area to constitute a liquid crystal panel, and the color filter substrate 5 (Not shown) formed on the color filter substrate 5 or the array substrate 10 are bonded to each other.

이때, 상기 액정표시장치에 일반적으로 사용되는 구동방식으로 네마틱상의 액정분자를 기판에 대해 수직 방향으로 구동시키는 트위스티드 네마틱(Twisted Nematic; TN)방식이 있으나, 상기 트위스티드 네마틱방식의 액정표시장치는 시야각이 90도 정도로 좁다는 단점을 가지고 있다. 이것은 액정분자의 굴절률 이방성(refractive anisotropy)에 기인하는 것으로 기판과 수평하게 배향된 액정분자가 패널에 전압이 인가될 때 기판과 거의 수직방향으로 배향되기 때문이다.In this case, there is a twisted nematic (TN) method in which a nematic liquid crystal molecule is driven in a direction perpendicular to a substrate by a driving method generally used in the liquid crystal display device. However, the twisted nematic liquid crystal display Has a disadvantage that the viewing angle is as narrow as 90 degrees. This is due to the refractive anisotropy of the liquid crystal molecules, because the liquid crystal molecules aligned horizontally with the substrate are oriented in a direction substantially perpendicular to the substrate when a voltage is applied to the panel.

이에 액정분자를 기판에 대해 수평한 방향으로 구동시켜 시야각을 170도 이상으로 향상시킨 횡전계(In Plane Switching; IPS)방식 액정표시장치가 있다.There is an in-plane switching (IPS) type liquid crystal display device in which liquid crystal molecules are driven in a horizontal direction with respect to a substrate to improve a viewing angle to 170 degrees or more.

상기 액정표시장치의 제조공정은 기본적으로 박막 트랜지스터를 포함하는 어레이 기판의 제작에 다수의 마스크공정(즉, 포토리소그래피(photolithography)공정)을 필요로 하므로 생산성 면에서 상기 마스크수를 줄이는 방법이 요구되어지고 있으며, 이를 상세히 설명하면 다음과 같다.Since the manufacturing process of the liquid crystal display device basically requires a plurality of mask processes (that is, a photolithography process) to fabricate an array substrate including thin film transistors, a method of reducing the number of masks in terms of productivity is required The following is a detailed description.

도 2a 내지 도 2e는 일반적인 액정표시장치의 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도로써, 좌측에는 화소부의 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타내며 우측에는 차례대로 데이터패드부와 게이트패드부의 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타내고 있다.FIGS. 2A to 2E are cross-sectional views sequentially illustrating the steps of manufacturing an array substrate of a general liquid crystal display device. In FIGS. 2A to 2E, a process of fabricating an array substrate of a pixel portion is shown on the left side and an array substrate of a data pad portion and a gate pad portion .

도 2a에 도시된 바와 같이, 포토리소그래피공정(제 1 마스크공정)을 이용하여 어레이 기판(10)의 화소부에 제 1 도전막으로 이루어진 게이트전극(21)과 게이트라인(미도시)을 형성하며, 상기 어레이 기판(10)의 게이트패드부에 상기 제 1 도전막으로 이루어진 게이트패드라인(16p)을 형성한다.2A, a gate electrode 21 and a gate line (not shown) made of a first conductive film are formed in a pixel portion of the array substrate 10 by using a photolithography process (first mask process) And a gate pad line 16p made of the first conductive film is formed on the gate pad portion of the array substrate 10.

다음으로, 도 2b에 도시된 바와 같이, 상기 게이트전극(21)과 게이트라인 및 게이트패드라인(16p)이 형성된 어레이 기판(10) 전면(全面)에 차례대로 제 1 절연막(15a), 비정질 실리콘 박막, n+ 비정질 실리콘 박막 및 제 2 도전막을 증착한 후, 포토리소그래피공정(제 2 마스크공정)을 이용하여 선택적으로 패터닝함으로써 상기 게이트전극(21) 위에 상기 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 액티브층(24)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2B, a first insulating layer 15a, an amorphous silicon layer 16b, and a second insulating layer 16c are sequentially formed on the entire surface of the array substrate 10 on which the gate electrode 21 and the gate line and gate pad line 16p are formed. The active layer 24 made of the amorphous silicon thin film is formed on the gate electrode 21 by selectively patterning the thin film, the n + amorphous silicon thin film and the second conductive film using a photolithography process (second mask process) .

또한, 상기 제 2 마스크공정을 통해 상기 액티브층(24) 상부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 소오스전극(22)과 드레인전극(23)을 형성한다.Further, the source electrode 22 and the drain electrode 23, which are the second conductive film, are formed on the active layer 24 through the second mask process.

또한, 상기 제 2 마스크공정을 통해 상기 어레이 기판(10)의 데이터라인 영역에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 데이터라인(17)을 형성하는 동시에 상기 어레이 기판(10)의 데이터패드부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 데이터패드라인(17p)을 형성하게 된다.In addition, a data line 17 made of the second conductive film is formed in the data line region of the array substrate 10 through the second mask process, and a data line 17 is formed in the data pad portion of the array substrate 10, Thereby forming a data pad line 17p made of a conductive film.

이때, 상기 액티브층(24) 상부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 상기 액티브층(24)의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극(22, 23) 사이를 오믹-콘택(ohmic contact)시키는 오믹-콘택층(25n)이 형성되게 된다.At this time, the n + amorphous silicon thin film is formed on the active layer 24 and ohmic contact is made between the source / drain region of the active layer 24 and the source / drain electrodes 22 and 23 The ohmic-contact layer 25n is formed.

또한, 상기 데이터라인(17) 하부에는 각각 상기 n+ 비정질 실리콘 박막 및 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 제 1 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(25') 및 제 1 비정질 실리콘 박막패턴(20')이 형성되며, 상기 데이터패드라인(17p)의 하부에는 각각 상기 n+ 비정질 실리콘 박막 및 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 제 2 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(25") 및 제 2 비정질 실리콘 박막패턴(20")이 형성되게 된다.The first n + amorphous silicon thin film pattern 25 'and the first amorphous silicon thin film pattern 20', which are the n + amorphous silicon thin film and the amorphous silicon thin film, are formed under the data line 17, The second n + amorphous silicon thin film pattern 25 '' and the second amorphous silicon thin film pattern 20 'made of the n + amorphous silicon thin film and the amorphous silicon thin film are formed below the pad line 17p, respectively.

이후, 도 2c에 도시된 바와 같이, 상기 소오스/드레인전극(23)과 데이터라인(17) 및 데이터패드라인(17p)이 형성된 어레이 기판(10) 전면에 제 2 절연막(15b)을 증착한 후, 포토리소그래피공정(제 3 마스크공정)을 통해 상기 제 1 절연막(15a)과 제 2 절연막(15b)의 일부영역을 제거하여 각각 상기 드레인전극(23)과 데이터패드라인(17p) 및 게이트패드라인(16p)의 일부를 노출시키는 제 1 콘택홀(40a)과 제 2 콘택홀(40b) 및 제 3 콘택홀(40c)을 형성한다.2C, a second insulating layer 15b is deposited on the entire surface of the array substrate 10 on which the source / drain electrodes 23, the data lines 17 and the data pad lines 17p are formed, A portion of the first insulating film 15a and the second insulating film 15b are removed through a photolithography process (a third mask process) to form the drain electrode 23, the data pad line 17p, A first contact hole 40a, a second contact hole 40b, and a third contact hole 40c exposing a part of the first contact hole 16p are formed.

마지막으로, 도 2d에 도시된 바와 같이, 제 3 도전막을 어레이 기판(10) 전면에 증착한 후 포토리소그래피공정(제 4 마스크공정)을 이용하여 선택적으로 패터닝함으로써 상기 제 1 콘택홀(40a)을 통해 드레인전극(23)과 전기적으로 접속하는 화소전극(18)을 형성하는 한편, 상기 화소전극(18)과 함께 화소영역 내에 횡전계를 발생시키는 공통전극(8)을 형성한다.Lastly, as shown in FIG. 2D, a third conductive film is deposited on the entire surface of the array substrate 10, and then selectively patterned using a photolithography process (fourth mask process) to form the first contact hole 40a A pixel electrode 18 electrically connected to the drain electrode 23 is formed while a common electrode 8 for generating a transverse electric field in the pixel region together with the pixel electrode 18 is formed.

또한, 상기 제 4 마스크공정을 통해 상기 제 3 도전막을 선택적으로 패터닝함으로써 상기 데이터패드부 및 게이트패드부에 각각 상기 제 2 콘택홀(40b) 및 제 3 콘택홀(40c)을 통해 상기 데이터패드라인(17p) 및 게이트패드라인(16p)에 전기적으로 접속하는 데이터패드전극(27p) 및 게이트패드전극(26p)을 형성하게 된다.The third conductive layer may be selectively patterned through the fourth mask process so that the data pad portion and the gate pad portion are electrically connected to the data pad line through the second contact hole 40b and the third contact hole 40c, A data pad electrode 27p and a gate pad electrode 26p electrically connected to the gate pad line 17p and the gate pad line 16p are formed.

상기에 설명된 바와 같이 박막 트랜지스터를 포함하는 어레이 기판의 제조에는 다수의 포토리소그래피공정을 필요로 하는데, 상기와 같이 하프-톤(half tone) 마스크를 이용하여 액티브층과 데이터 배선, 즉 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 한번의 마스크공정으로 형성함으로써 총 4번의 마스크공정으로 어레이 기판을 제작할 수 있게 된다.As described above, the fabrication of the array substrate including the thin film transistor requires a plurality of photolithography processes. As described above, the half-tone mask is used to form the active layer and the data line, that is, The drain electrode and the data line are formed by a single mask process, so that an array substrate can be manufactured by a total of four mask processes.

그러나, 상기 일반적인 4마스크구조의 액정표시장치는 하프-톤 마스크를 이용하여 2번의 식각공정을 거쳐 액티브층과 데이터 배선을 동시에 패터닝함에 따라 도 3에 도시된 바와 같이 데이터 배선의 하부 주변으로 돌출된 액티브층, 즉 액티브 테일(active tail)이 남아있게 된다.However, the conventional four-mask liquid crystal display device has a structure in which the active layer and the data line are simultaneously patterned through two etching processes using a half-tone mask, and as shown in FIG. 3, The active layer, that is, the active tail, remains.

상기 액티브층은 순수한 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며, 이때 상기 데이터 배선 하부의 액티브층은 게이트 배선, 즉 게이트전극과 게이트라인에 의해 가려진 부분을 제외하고는 하부의 백라이트 빛에 노출됨으로써 상기 백라이트 빛에 의해 광전류가 발생하게 된다. 이때, 상기 백라이트 빛의 미세한 깜빡임으로 인해 상기 비정질 실리콘 박막은 미세하게 반응하여 활성화와 비활성화 상태가 반복되게 되며, 이로 인해 광전류에 변화가 발생하게 된다. 이와 같은 광전류 성분은 이웃하는 화소전극에 흐르는 신호와 함께 커플링(coupling)되어 상기 화소전극에 위치한 액정의 움직임을 왜곡시키게 한다. 그 결과 액정표시장치의 화면에는 물결무늬의 가는 선이 나타나는 웨이비 노이즈(wavy noise)가 발생하게 된다.The active layer is made of a pure amorphous silicon thin film. At this time, the active layer under the data line is exposed to the lower backlight except the gate line, that is, the portion covered by the gate electrode and the gate line, A photocurrent is generated. At this time, due to the minute flickering of the backlight, the amorphous silicon thin film reacts finely and is repeatedly activated and deactivated, thereby causing a change in the photocurrent. Such a photocurrent component is coupled together with a signal flowing to neighboring pixel electrodes to distort the movement of the liquid crystal located on the pixel electrodes. As a result, wavy noise is generated on the screen of the liquid crystal display device in which a thin line of a wave pattern appears.

또한, 상기 데이터라인의 하부에 위치한 액티브 테일은 상기 데이터라인의 양측으로 소정거리(~ 2㎛) 돌출 됨으로써 화소부의 개구영역이 상기 돌출된 거리만큼 잠식됨에 따라 액정표시장치의 개구율이 감소하게 된다.In addition, the active tail located below the data line protrudes a predetermined distance (~ 2 mu m) to both sides of the data line, so that the aperture ratio of the liquid crystal display device decreases as the aperture region of the pixel portion is eroded by the protruded distance.

또한, 전술한 일반적인 액정표시장치는 드레인전극과 화소전극의 연결을 위해 콘택홀이 필요하며, 상기 콘택홀의 형성에 따라 투과율의 손실(loss)로 개구율이 감소하게 된다.Also, in the above-described general liquid crystal display device, a contact hole is required for connection between the drain electrode and the pixel electrode, and the aperture ratio is reduced due to the loss of transmittance according to the formation of the contact hole.

본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 4번의 마스크공정으로 액정표시장치의 어레이 기판을 제작하도록 한 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a liquid crystal display device in which an array substrate of a liquid crystal display device is manufactured by four mask processes.

본 발명의 다른 목적은 기존의 4마스크구조 대비 액티브 테일이 발생하지 않아 개구율이 향상되도록 한 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a method of manufacturing a liquid crystal display device in which an aperture ratio is improved because an active tail is not generated compared to a conventional four-mask structure.

본 발명의 다른 목적 및 특징들은 후술되는 발명의 구성 및 특허청구범위에서 설명될 것이다.Other objects and features of the present invention will be described in the following description of the invention and claims.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 액정표시장치의 제조방법은 화소부와 데이터패드부 및 게이트패드부로 구분되는 어레이 기판을 제공하는 단계; 상기 어레이 기판의 화소부에 제 1 도전막으로 이루어진 게이트전극과 게이트라인을 형성하는 단계; 상기 게이트전극과 게이트라인이 형성된 어레이 기판 전면에 제 1 절연막을 형성하는 단계; 상기 제 1 절연막이 형성된 어레이 기판의 화소부에 액티브층 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴을 형성하는 단계; 상기 액티브층 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 형성한 후, 하프-톤 마스크를 통해 상기 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 선택적으로 제거하여 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하는 한편, 상기 제 2 도전막으로 이루어진 화소전극을 형성하는 단계; 상기 액티브층 상부의 n+ 비정질 실리콘 박막패턴을 선택적으로 제거하여 오믹-콘택층을 형성하는 단계; 상기 오믹-콘택층이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 절연막을 형성하는 단계; 및 상기 어레이 기판과 컬러필터 기판을 합착하는 단계를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a liquid crystal display device, comprising: providing an array substrate divided into a pixel portion, a data pad portion, and a gate pad portion; Forming a gate electrode and a gate line made of a first conductive film in a pixel portion of the array substrate; Forming a first insulating layer on the entire surface of the array substrate where the gate electrode and the gate line are formed; Forming an active layer and an n + amorphous silicon thin film pattern on a pixel portion of the array substrate on which the first insulating film is formed; The second conductive layer and the third conductive layer are formed on the entire surface of the array substrate on which the active layer and the n + amorphous silicon thin film pattern are formed, and then the second conductive layer and the third conductive layer are selectively removed through the half- Forming a source electrode, a drain electrode, and a data line made of a third conductive film while forming a pixel electrode made of the second conductive film; Selectively removing the n + amorphous silicon thin film pattern on the active layer to form an ohmic contact layer; Forming a second insulating layer on the entire surface of the array substrate on which the ohmic-contact layer is formed; And attaching the array substrate and the color filter substrate together.

이때, 상기 어레이 기판의 화소부에 상기 제 1 도전막으로 이루어진 공통라인을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.The method may further include forming a common line of the first conductive film on a pixel portion of the array substrate.

상기 어레이 기판의 게이트패드부에 상기 제 1 도전막으로 이루어진 게이트패드라인을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.And forming a gate pad line made of the first conductive film on the gate pad portion of the array substrate.

이때, 상기 제 1 절연막 및 제 2 절연막을 선택적으로 제거하여 상기 게이트패드라인을 노출시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.The method may further include selectively removing the first insulating layer and the second insulating layer to expose the gate pad line.

상기 어레이 기판의 화소부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 공통전극을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.And forming a common electrode made of the second conductive film on a pixel portion of the array substrate.

상기 어레이 기판의 데이터패드부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 데이터패드라인을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.And forming a data pad line including the third conductive film on a data pad portion of the array substrate.

이때, 상기 제 2 절연막을 선택적으로 제거하여 상기 데이터패드라인을 노출시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.The method may further include selectively removing the second insulating layer to expose the data pad line.

상기 소오스전극, 드레인전극, 데이터라인 및 화소전극을 형성하는 단계는 상기 액티브층과 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 도전막과 제 3 도전막을 형성하는 단계; 하프-톤 마스크를 이용하여 상기 어레이 기판 상부에 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 형성하는 단계; 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 마스크로 그 하부에 형성된 제 2 도전막과 제 3 도전막의 일부영역을 선택적으로 제거하여 상기 액티브층 상부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극과 드레인전극을 형성하는 한편, 화소영역에 상기 제 2 도전막과 제 3 도전막으로 이루어진 화소전극과 화소전극패턴을 형성하는 단계; 상기 액티브층 상부의 n+ 비정질 실리콘 박막을 선택적으로 제거하여 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 오믹-콘택층을 형성하는 단계; 상기 제 4 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 제거하는 동시에 상기 제 4 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴의 두께만큼 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴의 두께 일부를 제거하여 제 7 감광막패턴 내지 제 9 감광막패턴을 형성하는 단계; 및 상기 제 7 감광막패턴 내지 제 9 감광막패턴을 마스크로 그 하부에 형성된 제 3 도전막을 선택적으로 제거하여 상기 화소전극 상부의 화소전극패턴을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The forming of the source electrode, the drain electrode, the data line, and the pixel electrode includes: forming a second conductive layer and a third conductive layer on the entire array substrate on which the active layer and the n + amorphous silicon thin film pattern are formed; Forming a first photoresist pattern to a sixth photoresist pattern on the array substrate using a half-tone mask; The second conductive film and the third conductive film formed under the first photosensitive film pattern to the sixth photosensitive film pattern are selectively removed to selectively remove a portion of the active layer from the source and drain electrodes, Forming a pixel electrode and a pixel electrode pattern including the second conductive film and the third conductive film in the pixel region; Selectively removing the n + amorphous silicon thin film on the active layer to form an ohmic contact layer made of the n + amorphous silicon thin film; The fourth photoresist pattern to the sixth photoresist pattern are removed and a part of the first photoresist pattern to the sixth photoresist pattern is partially removed by a thickness of the fourth photoresist pattern to the sixth photoresist pattern, Forming a photoresist pattern; And removing the third conductive layer formed under the seventh photoresist pattern to the ninth photoresist pattern using a mask to remove the pixel electrode pattern on the pixel electrode.

이때, 상기 제 3 도전막은 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하기 위해 구리로 형성하며, 상기 제 2 도전막은 상기 구리의 배리어 메탈로 이용하는 동시에 화소전극을 형성하기 위해 ITO 또는 IZO로 형성하는 것을 특징으로 한다.In this case, the third conductive film is formed of copper to form a source electrode, a drain electrode, and a data line, and the second conductive film is formed of ITO or IZO for use as a barrier metal of copper and for forming a pixel electrode .

이때, 상기 어레이 기판 위에 제 2 도전막을 형성하기 전에 몰리브덴 또는 몰리브덴 합금, 알루미늄 또는 알루미늄 합금을 50Å ~ 500Å의 두께로 증착하여 상기 ITO와 액티브층 사이의 오믹-콘택층으로 이용하는 것을 특징으로 한다.At this time, a molybdenum or molybdenum alloy, aluminum or an aluminum alloy is deposited to a thickness of 50 Å to 500 Å on the array substrate before forming the second conductive layer, and the ohmic contact layer between the ITO and the active layer is used.

이때, 상기 화소부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 데이터라인을 형성하는 것을 특징으로 한다.In this case, a data line made of the third conductive film is formed in the pixel portion.

이때, 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 마스크로 그 하부에 형성된 제 2 도전막과 제 3 도전막의 일부영역을 선택적으로 제거하여 상기 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인 하부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 소오스전극패턴과 드레인전극패턴 및 데이터라인패턴을 형성하는 것을 특징으로 한다.At this time, the first conductive film pattern to the sixth conductive pattern pattern are masked to selectively remove portions of the second conductive film and the third conductive film formed under the source and drain electrodes, A source electrode pattern, a drain electrode pattern and a data line pattern made of a film are formed.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조방법은 ITO를 데이터 배선의 배리어 메탈로 이용하여 데이터 배선과 화소전극을 하나의 마스크로 형성함으로써 마스크수를 감소시켜 제조공정을 단순화하는 동시에 제조비용을 절감시키는 효과를 제공한다.As described above, in the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, the number of masks is reduced by using the ITO as the barrier metal of the data line, and the data line and the pixel electrode are formed as a single mask, Thereby providing a cost saving effect.

또한, 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조방법은 드레인전극이 콘택홀을 통하지 않고 화소전극과 직접 접속하는 한편, 기존의 4마스크구조 대비 액티브 테일이 발생하지 않아 개구율이 향상되는 효과를 제공한다.In addition, the method of manufacturing a liquid crystal display according to the present invention provides an effect that the drain electrode is directly connected to the pixel electrode without passing through the contact hole, and the aperture ratio is improved because the active tail does not occur compared to the conventional four mask structure.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 구조를 개략적으로 나타내는 분해사시도.
도 2a 내지 도 2d는 일반적인 액정표시장치의 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도.
도 3은 소오스/드레인전극 하부에 액티브 테일이 발생한 상태를 보여주는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope; SEM) 사진.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 평면도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 단면도.
도 6a 내지 도 6d는 상기 도 4에 도시된 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 평면도.
도 7a 내지 도 7d는 상기 도 5에 도시된 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도.
도 8a 내지 도 8f는 상기 도 6c 및 도 7c에 도시된 본 발명의 실시예에 따른 제 3 마스크공정을 구체적으로 나타내는 단면도.
1 is an exploded perspective view schematically showing a structure of a general liquid crystal display device.
FIGS. 2A to 2D are sectional views sequentially showing a manufacturing process of an array substrate of a general liquid crystal display device. FIG.
3 is a Scanning Electron Microscope (SEM) photograph showing a state where an active tail is generated under a source / drain electrode.
4 is a plan view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
6A to 6D are plan views sequentially showing the manufacturing steps of the array substrate shown in FIG.
7A to 7D are cross-sectional views sequentially showing a manufacturing process of the array substrate shown in FIG. 5;
FIGS. 8A to 8F are cross-sectional views illustrating a third mask process according to an embodiment of the present invention shown in FIGS. 6C and 7C. FIG.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조방법의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 평면도이며, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 단면도이다.FIG. 4 is a plan view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

이때, 도면에는 설명의 편의를 위해 화소부와 데이터패드부 및 게이트패드부를 포함하는 하나의 화소를 나타내고 있으며, 실제의 액정표시장치에서는 N개의 게이트라인과 M개의 데이터라인이 교차하여 MxN개의 화소가 존재하지만 설명을 간단하게 하기 위해 도면에는 하나의 화소를 나타내고 있다.In this case, one pixel including a pixel portion, a data pad portion, and a gate pad portion is shown for convenience of explanation. In an actual liquid crystal display device, N gate lines and M data lines cross each other and MxN pixels However, in order to simplify the description, one pixel is shown in the drawing.

또한, 도면에는 액정분자를 기판에 대해 수평한 방향으로 구동시켜 시야각을 170도 이상으로 향상시킨 횡전계방식의 액정표시장치를 예를 들어 설명하고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.In the drawings, a liquid crystal display device of a transverse electric field system in which a liquid crystal molecule is driven in a horizontal direction with respect to a substrate to improve a viewing angle to 170 degrees or more is described as an example, but the present invention is not limited thereto.

도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예의 어레이 기판(110)에는 상기 어레이 기판(110) 위에 종횡으로 배열되어 화소영역을 정의하는 게이트라인(116)과 데이터라인(117)이 형성되어 있다. 또한, 상기 게이트라인(116)과 데이터라인(117)의 교차영역에는 스위칭소자인 박막 트랜지스터가 형성되어 있으며, 상기 화소영역 내에는 횡전계를 발생시켜 액정(미도시)을 구동시키는 공통전극(108)과 화소전극(118)이 교대로 배치되어 있다.As shown in the figure, a gate line 116 and a data line 117 are vertically and horizontally arranged on the array substrate 110 to define a pixel region in the array substrate 110 of the embodiment of the present invention. A thin film transistor, which is a switching element, is formed in an intersection region of the gate line 116 and the data line 117. A common electrode 108 (not shown) for generating a transverse electric field to drive a liquid crystal And the pixel electrode 118 are alternately arranged.

상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트라인(116)에 연결된 게이트전극(121), 상기 데이터라인(117)에 연결된 소오스전극(122) 및 화소전극라인(118L)을 통해 상기 화소전극(118)에 전기적으로 접속된 드레인전극(123)으로 구성되어 있다. 또한, 상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트전극(121)에 공급되는 게이트 전압에 의해 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 간에 전도채널(conductive channel)을 형성하는 액티브층(124)을 포함한다.The thin film transistor is electrically connected to the pixel electrode 118 through a gate electrode 121 connected to the gate line 116, a source electrode 122 connected to the data line 117, and a pixel electrode line 118L. And the drain electrode 123 is formed. The thin film transistor includes an active layer 124 which forms a conductive channel between the source electrode 122 and the drain electrode 123 by a gate voltage supplied to the gate electrode 121.

이때, 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 및 데이터라인(117)은 구리와 같은 저저항 도전물질로 이루어질 수 있으며, 그 하부에는 상기 구리의 배리어 메탈(barrier metal)로 ITO(Indium Tin Oxide)를 이용하여 각각 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 및 데이터라인(117)과 실질적으로 동일한 형태로 패터닝된 소오스전극패턴(122')과 드레인전극패턴(123') 및 데이터라인패턴(117')이 형성되게 된다.The source electrode 122, the drain electrode 123 and the data line 117 may be made of a low-resistance conductive material such as copper, and a barrier metal of ITO (Indium Tin A source electrode pattern 122 'and a drain electrode pattern 123' patterned in substantially the same manner as the source electrode 122, the drain electrode 123 and the data line 117, A pattern 117 'is formed.

그리고, 상기 액티브층(124) 위에는 상기 액티브층(124)의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극패턴(122', 123') 사이를 오믹-콘택(ohmic contact)시키는 오믹-콘택층을 나타낸다.On the active layer 124, an ohmic contact layer is formed to ohmic contact between the source / drain regions of the active layer 124 and the source / drain electrode patterns 122 'and 123' .

상기 소오스전극(122)과 소오스전극패턴(122')의 일부는 일 방향으로 연장되어 각각 상기 데이터라인(117)과 데이터라인패턴(117')의 일부를 구성하며, 상기 드레인전극패턴(123')의 일부는 화소영역 쪽으로 연장되어 상기 화소전극라인(118L)을 구성하게 된다.A part of the source electrode 122 and the source electrode pattern 122 'extend in one direction to form a part of the data line 117 and the data line pattern 117', and the drain electrode pattern 123 ' Is extended toward the pixel region to constitute the pixel electrode line 118L.

전술한 바와 같이 상기 화소영역 내에는 횡전계를 발생시키기 위한 공통전극(108)과 화소전극(118)이 교대로 배치되어 있다.As described above, in the pixel region, the common electrode 108 and the pixel electrode 118 for generating a transverse electric field are alternately arranged.

이때, 상기 화소영역의 상, 하부에는 상기 게이트라인(116)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 배치된 공통라인(108l)이 형성되어 있으며, 상기 공통라인(108l)은 상기 데이터라인(117)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 배치된 좌우의 연결라인(108a)에 의해 서로 연결되어 있다.At this time, a common line 108l arranged in a direction substantially parallel to the gate line 116 is formed above and below the pixel region, and the common line 108l is connected to the data line 117 And are connected to each other by left and right connection lines 108a arranged in a substantially parallel direction with respect to each other.

이때, 상기 다수개의 공통전극(108)은 상기 공통라인(108l)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 배치된 공통전극라인(108L)에 연결되게 되며, 상기 공통전극라인(108L)은 상기 제 1 절연막(115a)에 형성된 제 1 콘택홀(140a)을 통해 그 하부의 공통라인(108l)과 전기적으로 접속하게 된다.At this time, the plurality of common electrodes 108 are connected to the common electrode line 108L arranged in a direction substantially parallel to the common line 1081, and the common electrode line 108L is connected to the first insulating film 108L. And is electrically connected to the common line 1081 under the first contact hole 140a formed in the first contact hole 115a.

또한, 상기 다수개의 화소전극(118)은 상기 게이트라인(116)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 배치된 상기 화소전극라인(118L)에 연결되어 상기 드레인전극(123)과 전기적으로 접속하게 된다.The plurality of pixel electrodes 118 are connected to the pixel electrode lines 118L arranged in a direction substantially parallel to the gate lines 116 and are electrically connected to the drain electrodes 123. [

상기 연결전극(108a)과 공통라인(108l)은 게이트 배선, 즉 게이트전극(121) 및 게이트라인(116)과 동일한 불투명한 도전물질로 이루어지며, 상기 공통전극(108), 화소전극(118), 공통전극라인(108L) 및 화소전극라인(118L)은 상기 소오스전극패턴(122')과 드레인전극패턴(123') 및 데이터라인패턴(117')과 동일한 투명한 도전물질로 이루어질 수 있다.The connection electrode 108a and the common line 1081 are made of the same opaque conductive material as the gate lines 121 and the gate lines 116. The common electrode 108, The common electrode line 108L and the pixel electrode line 118L may be made of the same transparent conductive material as the source electrode pattern 122 ', the drain electrode pattern 123' and the data line pattern 117 '.

이와 같이 구성된 상기 어레이 기판(110)의 가장자리 영역에는 상기 데이터라인(117)과 게이트라인(116)에 각각 연결되는 데이터패드라인(117p)과 게이트패드라인(116p)이 형성되어 있으며, 외부의 구동회로부(미도시)로부터 인가 받은 데이터신호와 주사신호를 각각 상기 데이터라인(117)과 게이트라인(116)에 전달하게 된다.A data pad line 117p and a gate pad line 116p connected to the data line 117 and the gate line 116 are formed in the edge region of the array substrate 110, And transmits a data signal and a scan signal applied from a circuit unit (not shown) to the data line 117 and the gate line 116, respectively.

즉, 상기 데이터라인(117)과 게이트라인(116)은 구동회로부 쪽으로 연장되어 각각 해당하는 데이터패드라인(117p)과 게이트패드라인(116p)에 연결되며, 상기 데이터패드라인(117p)과 게이트패드라인(116p)은 각각 제 2 콘택홀(140b)과 제 3 콘택홀(140c)을 통해 구동회로로부터 데이터신호와 주사신호를 인가 받게 된다.That is, the data line 117 and the gate line 116 extend to the driving circuit portion and are connected to the corresponding data pad line 117p and the gate pad line 116p, The lines 116p receive a data signal and a scan signal from the driver circuit through the second contact hole 140b and the third contact hole 140c, respectively.

참고로, 상기 게이트패드라인(117p) 하부에는 상기 게이트패드라인(117p)과 실질적으로 동일한 형태로 패터닝된 게이트패드라인패턴(117p])이 형성되게 된다.For reference, a gate pad line pattern 117p patterned in substantially the same shape as the gate pad line 117p is formed under the gate pad line 117p.

여기서, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 액티브층을 형성한 다음 하프-톤 마스크 또는 회절마스크(이하, 하프-톤 마스크를 지칭하는 경우에는 회절마스크를 포함하는 것으로 한다)를 이용하여 한번의 마스크공정으로 데이터 배선과 화소전극 및 공통전극을 형성함으로 총 4번의 마스크공정으로 어레이 기판을 제작할 수 있는 것을 특징으로 한다.Here, a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention may be formed by forming an active layer and then using a half-tone mask or a diffraction mask (hereinafter, referred to as a half-tone mask includes a diffraction mask) The data lines, the pixel electrodes, and the common electrode are formed by the mask process of FIG. 4A, so that the array substrate can be manufactured by a total of four mask processes.

즉, ITO를 데이터 배선의 배리어 메탈로 이용하여 데이터 배선과 화소전극 및 공통전극을 하나의 마스크로 형성함으로써 마스크수를 감소시킬 수 있게 되며, 드레인전극이 콘택홀을 통하지 않고 화소전극과 접속하는 한편, 기존의 4마스크구조 대비 액티브 테일이 발생하지 않아 개구율이 향상되게 되는데, 이를 다음의 액정표시장치의 제조방법을 통해 상세히 설명한다.That is, the number of masks can be reduced by forming the data line, the pixel electrode, and the common electrode in one mask by using ITO as the barrier metal of the data line, and the drain electrode is connected to the pixel electrode without passing through the contact hole , The active tail is not generated as compared with the conventional four mask structure, and the aperture ratio is improved. This will be described in detail with reference to the following manufacturing method of the liquid crystal display device.

도 6a 내지 도 6d는 상기 도 4에 도시된 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 평면도이다.6A to 6D are plan views sequentially showing the manufacturing steps of the array substrate shown in FIG.

도 7a 내지 도 7d는 상기 도 5에 도시된 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도로써, 좌측에는 화소부의 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타내며 우측에는 차례대로 데이터패드부와 게이트패드부의 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타내고 있다.7A to 7D are cross-sectional views sequentially illustrating the manufacturing steps of the array substrate shown in FIG. 5. FIG. 7A to FIG. 7D illustrate a process of fabricating an array substrate of a pixel portion on the left side and an array substrate of a data pad portion and a gate pad portion, And the like.

도 6a 및 도 7a에 도시된 바와 같이, 유리와 같은 투명한 절연물질로 이루어진 어레이 기판(110)의 화소부에 게이트전극(121)과 게이트라인(116) 및 공통라인(108l)과 연결라인(108a)을 형성하며, 상기 어레이 기판(110)의 게이트패드부에 게이트패드라인(116p)을 형성한다.6A and 7A, a gate electrode 121, a gate line 116, a common line 1081, and a connection line 108a (not shown) are formed in a pixel portion of an array substrate 110 made of a transparent insulating material such as glass, And a gate pad line 116p is formed in the gate pad portion of the array substrate 110. [

이때, 상기 공통라인(108l)은 실질적으로 상기 게이트라인(116)과 평행한 방향으로 배치되며, 상기 연결라인(108a)은 실질적으로 상기 게이트라인(116)에 수직한 방향으로 배치되어 상기 공통라인(108l)에 연결되게 된다. 다만, 본 발명이 상기 공통라인(108l)과 연결라인(108a)의 배치 형태에 한정되는 것은 아니다.Here, the common line 108l is disposed substantially parallel to the gate line 116, and the connection line 108a is disposed substantially in a direction perpendicular to the gate line 116, And is connected to the light source 108l. However, the present invention is not limited to the arrangement of the common line 108l and the connection line 108a.

이때, 상기 게이트전극(121), 게이트라인(116), 공통라인(108l), 연결라인(108a) 및 게이트패드라인(116p)은 제 1 도전막을 상기 어레이 기판(110) 전면에 증착한 후 포토리소그래피공정(제 1 마스크공정)을 통해 선택적으로 패터닝하여 형성하게 된다.The gate electrode 121, the gate line 116, the common line 1081, the connection line 108a and the gate pad line 116p are formed by depositing a first conductive layer on the entire surface of the array substrate 110, And then selectively patterned through a lithography process (first mask process).

여기서, 상기 제 1 도전막은 알루미늄(aluminium; Al), 알루미늄 합금(Al alloy), 텅스텐(tungsten; W), 구리(copper; Cu), 크롬(chromium; Cr), 몰리브덴(molybdenum; Mo) 및 몰리브덴 합금 등과 같은 저저항 불투명 도전물질로 형성할 수 있다. 또한, 상기 제 1 도전막은 상기 저저항 도전물질이 2가지 이상 적층된 다층구조로 형성할 수 있다.The first conductive layer may include at least one selected from the group consisting of aluminum (Al), aluminum alloy (Al alloy), tungsten (W), copper (Cu), chromium (Cr), molybdenum Or a low-resistance opaque conductive material such as an alloy or the like. The first conductive layer may have a multi-layer structure in which two or more low-resistance conductive materials are stacked.

다음으로, 도 6b 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 상기 게이트전극(121), 게이트라인(116), 공통라인(108l), 연결라인(108a) 및 게이트패드라인(116p)이 형성된 어레이 기판(110) 전면에 제 1 절연막(115a)과 비정질 실리콘 박막 및 n+ 비정질 실리콘 박막을 형성한다.Next, as shown in FIGS. 6B and 7B, an array substrate (not shown) having the gate electrode 121, the gate line 116, the common line 1081, the connection line 108a and the gate pad line 116p 110, a first insulating layer 115a, an amorphous silicon thin film, and an n + amorphous silicon thin film are formed.

이후, 포토리소그래피공정(제 2 마스크공정)을 통해 상기 비정질 실리콘 박막과 n+ 비정질 실리콘 박막을 선택적으로 제거함으로써 상기 어레이 기판(110)의 화소부에 상기 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 액티브층(124)을 형성한다.Thereafter, the amorphous silicon thin film and the n + amorphous silicon thin film are selectively removed through a photolithography process (second mask process) to form an active layer 124 made of the amorphous silicon thin film in the pixel portion of the array substrate 110 do.

이때, 상기 액티브층(124) 상부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 상기 액티브층(124)과 실질적으로 동일한 형태로 패터닝된 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125)이 형성되게 된다.At this time, an n + amorphous silicon thin film pattern 125 formed of the n + amorphous silicon thin film and patterned substantially in the same manner as the active layer 124 is formed on the active layer 124.

한편, 상기 제 2 마스크공정에 하프-톤 마스크를 이용하는 경우 상기 제 1 절연막(115a)의 일부영역을 선택적으로 제거함으로써 상기 공통라인(108l)의 일부를 노출시키는 제 1 콘택홀(140a)을 형성할 수도 있다.If a half-tone mask is used in the second mask process, a first contact hole 140a exposing a part of the common line 1081 is formed by selectively removing a part of the first insulating film 115a You may.

다음으로, 도 6c 및 도 7c에 도시된 바와 같이, 상기 액티브층(124)과 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 형성된 어레이 기판(110) 전면에 제 2 도전막과 제 3 도전막을 형성한다.Next, as shown in FIGS. 6C and 7C, a second conductive film and a third conductive film are formed on the entire surface of the array substrate 110 on which the active layer 124 and the n + amorphous silicon thin film pattern are formed.

이때, 상기 제 3 도전막은 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하기 위해 구리와 같은 저저항 불투명 도전물질로 형성할 수 있으며, 상기 제 2 도전막은 상기 구리의 배리어 메탈로 이용하는 동시에 화소전극과 공통전극을 형성하기 위해 인듐-틴-옥사이드(Indium Tin Oxide; ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(Indium Zinc Oxide; IZO)와 같은 투명한 도전물질로 형성할 수 있다.Here, the third conductive layer may be formed of a low-resistance opaque conductive material such as copper to form a source electrode, a drain electrode, and a data line, and the second conductive layer may be used as a barrier metal of copper, And may be formed of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) to form an electrode.

이후, 포토리소그래피공정(제 3 마스크공정)을 통해 상기 n+ 비정질 실리콘 박막과 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 선택적으로 제거함으로써 상기 액티브층(124) 상부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극(122)과 드레인전극(123)을 형성하는 한편, 화소영역에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 다수의 화소전극(118)과 공통전극(108)을 형성하게 된다.Thereafter, the n + amorphous silicon thin film, the second conductive film, and the third conductive film are selectively removed through a photolithography process (a third mask process) to form a source electrode And a plurality of pixel electrodes 118 and a common electrode 108 of the second conductive film are formed in the pixel region.

이때, 상기 제 3 마스크공정을 통해 상기 어레이 기판(110)의 데이터라인 영역에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 데이터라인(117)을 형성하며, 상기 어레이 기판(110)의 데이터패드부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 데이터패드라인(117p)을 형성하게 된다.In this case, a data line 117 made of the third conductive film is formed in the data line region of the array substrate 110 through the third mask process, Thereby forming a data pad line 117p made of a conductive film.

또한, 상기 제 3 마스크공정을 통해 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 및 데이터라인(117) 하부에 상기 제 2 도전막으로 이루어지며, 각각 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 및 데이터라인(117)과 실질적으로 동일한 형태로 패터닝된 소오스전극패턴(122')과 드레인전극패턴(123') 및 데이터라인패턴(117')을 형성하게 된다.The second conductive film is formed under the source electrode 122, the drain electrode 123 and the data line 117 through the third mask process and is electrically connected to the source electrode 122 and the drain electrode 123 The source electrode pattern 122 'and the drain electrode pattern 123' and the data line pattern 117 ', which are patterned in substantially the same manner as the data line 117 and the data line 117, are formed.

이때, 상기 액티브층(124) 상부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 상기 액티브층(124)의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극(122, 123) 사이를 오믹-콘택시키는 오믹-콘택층(125n)이 형성되게 된다.At this time, on the active layer 124, an n + amorphous silicon thin film is formed on the active layer 124, and an ohmic contact layer 123 is formed between the source / drain region of the active layer 124 and the source / (125n) is formed.

그리고, 상기 소오스전극(122)과 소오스전극패턴(122')의 일부는 일 방향으로 연장되어 각각 상기 데이터라인(117)과 데이터라인패턴(117')의 일부를 구성하며, 상기 다수개의 공통전극(108)은 상기 공통라인(108l)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 배치된 공통전극라인(108L)에 연결되고, 상기 다수개의 화소전극(118)은 상기 게이트라인(116)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 배치된 화소전극라인(118L)에 연결되어 상기 드레인전극(123)과 전기적으로 접속하게 된다.A part of the source electrode 122 and the source electrode pattern 122 'extend in one direction to form a part of the data line 117 and the data line pattern 117' (108) are connected to a common electrode line (108L) arranged in a direction substantially parallel to the common line (108l), and the plurality of pixel electrodes (118) are substantially parallel to the gate line And is electrically connected to the drain electrode 123 by being connected to the pixel electrode line 118L arranged in one direction.

이때, 상기 소오스/드레인전극(122, 123), 소오스/드레인전극패턴(122', 123'), 데이터라인(117), 데이터라인패턴(117'), 데이터패드라인(117p), 데이터패드라인패턴(117p'), 화소전극(118), 화소전극라인(118L), 공통전극(108), 공통전극라인(108L)은 하프-톤 노광을 이용함으로써 한번의 마스크공정을 통해 형성할 수 있게 되는데, 이를 다음의 도면을 참조하여 상세히 설명한다.At this time, the source / drain electrodes 122 and 123, the source / drain electrode patterns 122 'and 123', the data lines 117, the data line patterns 117 ', the data pad lines 117p, The pattern 117p ', the pixel electrode 118, the pixel electrode line 118L, the common electrode 108 and the common electrode line 108L can be formed through a single mask process by using half-tone exposure , Which will be described in detail with reference to the following drawings.

도 8a 내지 도 8f는 상기 도 6c 및 도 7c에 도시된 본 발명의 실시예에 따른 제 3 마스크공정을 구체적으로 나타내는 단면도이다.8A to 8F are cross-sectional views illustrating a third mask process according to an embodiment of the present invention shown in FIGS. 6C and 7C.

도 8a에 도시된 바와 같이, 상기 액티브층(124)과 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125)이 형성된 어레이 기판(110) 전면에 제 2 도전막(120)과 제 3 도전막(130)을 형성한다.The second conductive layer 120 and the third conductive layer 130 are formed on the entire surface of the array substrate 110 on which the active layer 124 and the n + amorphous silicon thin film pattern 125 are formed, as shown in FIG. 8A .

이때, 전술한 바와 같이 상기 제 3 도전막(130)은 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하기 위해 구리와 같은 저저항 불투명 도전물질로 형성할 수 있으며, 상기 제 2 도전막(120)은 상기 구리의 배리어 메탈로 이용하는 동시에 화소전극과 공통전극을 형성하기 위해 ITO 또는 IZO와 같은 투명한 도전물질로 형성할 수 있다.In this case, as described above, the third conductive layer 130 may be formed of a low-resistance opaque conductive material such as copper to form a source electrode, a drain electrode, and a data line, And may be formed of a transparent conductive material such as ITO or IZO in order to use the barrier metal of copper and to form the pixel electrode and the common electrode.

이때, 상기 어레이 기판(110) 위에 제 2 도전막(120)을 형성하기 전에 몰리브덴 또는 몰리브덴 합금, 알루미늄 또는 알루미늄 합금을 50Å ~ 500Å의 두께로 증착하여 상기 ITO와 액티브층(124) 사이의 오믹-콘택층으로 이용할 수도 있다.At this time, a molybdenum or molybdenum alloy, aluminum or an aluminum alloy is deposited to a thickness of 50 Å to 500 Å on the array substrate 110 before the second conductive layer 120 is formed, thereby forming ohmic- It can also be used as a contact layer.

그리고, 도 8b에 도시된 바와 같이, 상기 제 3 도전막(130)이 형성된 어레이 기판(110) 위에 포토레지스트와 같은 감광성물질로 이루어진 감광막(170)을 형성한 후 본 발명의 실시예에 따른 하프-톤 마스크(180)를 통해 상기 감광막(170)에 선택적으로 광을 조사한다.8B, a photosensitive film 170 made of a photosensitive material such as a photoresist is formed on the array substrate 110 on which the third conductive film 130 is formed. Then, - selectively irradiates light to the photoresist layer 170 through the tone mask 180. [

이때, 상기 하프-톤 마스크(180)에는 조사된 광을 모두 투과시키는 제 1 투과영역(I)과 광의 일부만 투과시키고 일부는 차단하는 제 2 투과영역(II) 및 조사된 모든 광을 차단하는 차단영역(III)이 마련되어 있으며, 상기 하프-톤 마스크(180)를 투과한 광만이 상기 감광막(170)에 조사되게 된다.At this time, the half-tone mask 180 is provided with a first transmission region I through which all the irradiated light is transmitted, a second transmission region II through which only a part of light is transmitted and a portion is blocked, And only the light transmitted through the half-tone mask 180 is irradiated on the photoresist layer 170.

이어서, 상기 하프-톤 마스크(180)를 통해 노광된 상기 감광막(170)을 현상하고 나면, 도 8c에 도시된 바와 같이, 상기 차단영역(III)과 제 2 투과영역(II)을 통해 광이 모두 차단되거나 일부만 차단된 영역에는 소정 두께의 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 6 감광막패턴(170f)이 남아있게 되고, 모든 광이 투과된 제 1 투과영역(I)에는 상기 감광막이 완전히 제거되어 상기 제 3 도전막(130) 표면이 노출되게 된다.Then, after the photoresist layer 170 exposed through the half-tone mask 180 is developed, light is irradiated through the blocking region III and the second transmissive region II, as shown in FIG. 8C. The first photosensitive film pattern 170a to the sixth photosensitive film pattern 170f having a predetermined thickness remain in the area where all the light is blocked or partially blocked and the photosensitive film is completely removed in the first transmission area I The surface of the third conductive layer 130 is exposed.

이때, 상기 차단영역(III)에 형성된 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 3 감광막패턴(170c)은 제 2 투과영역(II)을 통해 형성된 제 4 감광막패턴(170d) 내지 제 6 감광막패턴(170f)보다 두껍게 형성된다. 또한, 상기 제 1 투과영역(I)을 통해 광이 모두 투과된 영역에는 감광막이 완전히 제거되는데, 이것은 포지티브 타입의 포토레지스트를 사용했기 때문이며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며 네거티브 타입의 포토레지스트를 사용하여도 무방하다.The first photoresist pattern 170a to the third photoresist pattern 170c formed in the blocking region III may include a fourth photoresist pattern 170d through a sixth photoresist pattern 170f formed through the second transmissive area II, . Further, the photoresist layer is completely removed in the region where the light is completely transmitted through the first transmissive region I because the positive type photoresist is used. The present invention is not limited to this, It may be used.

다음으로, 도 8d에 도시된 바와 같이, 상기와 같이 형성된 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 6 감광막패턴(170f)을 마스크로 하여, 그 하부에 형성된 제 2 도전막과 제 3 도전막의 일부영역을 선택적으로 제거하게 되면, 상기 액티브층(124) 상부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극(122)과 드레인전극(123)이 형성되는 한편, 화소영역에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 다수의 화소전극(118)과 공통전극(108) 및 화소전극라인(118L)이 형성되게 된다.Next, as shown in FIG. 8D, using the first photoresist pattern 170a to the sixth photoresist pattern 170f formed as described above as a mask, a second conductive film and a part of the third conductive film The source electrode 122 and the drain electrode 123 of the third conductive layer are formed on the active layer 124 and the plurality of second conductive layers The pixel electrode 118, the common electrode 108, and the pixel electrode line 118L are formed.

또한, 상기 어레이 기판(110)의 데이터라인 영역에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 데이터라인(117)이 형성되며, 상기 어레이 기판(110)의 데이터패드부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 데이터패드라인(117p)이 형성되게 된다.A data line 117 made of the third conductive film is formed on the data line area of the array substrate 110 and a data pad line made of the third conductive film is formed on the data pad part of the array substrate 110. [ (117p) is formed.

이때, 상기 소오스전극(122), 드레인전극(123), 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p) 하부에는 상기 제 2 도전막으로 이루어지며, 각각 상기 소오스전극(122), 드레인전극(123), 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p)과 실질적으로 동일한 형태로 패터닝된 소오스전극패턴(122'), 드레인전극패턴(123'), 데이터라인패턴(117') 및 데이터패드라인패턴(117p')이 형성되게 된다.At this time, the second conductive layer is formed under the source electrode 122, the drain electrode 123, the data line 117, and the data pad line 117p, and the source electrode 122 and the drain electrode 123 A source electrode pattern 122 ', a drain electrode pattern 123', a data line pattern 117 ', and a data pad line pattern 117' that are patterned in substantially the same pattern as the data line 117, the data line 117, (117p ') is formed.

또한, 상기 화소전극(118)과 공통전극(108) 및 화소전극라인(118L) 상부에는 상기 제 3 도전막으로 이루어지며, 각각 상기 화소전극(118)과 공통전극(108) 및 화소전극라인(118L)과 실질적으로 동일한 형태로 패터닝된 화소전극패턴(130')과 공통전극패턴(130") 및 화소전극라인패턴(130'")이 형성되게 된다.The third conductive film is formed on the pixel electrode 118 and the common electrode 108 and the pixel electrode line 118L and is electrically connected to the common electrode 108 and the pixel electrode line The pixel electrode pattern 130 ', the common electrode pattern 130', and the pixel electrode line pattern 130 '' are formed in substantially the same pattern as the pixel electrode pattern 118 '.

이후, 상기 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 6 감광막패턴(170f)을 마스크로 상기 액티브층(124) 상부, 즉 백채널 상부의 n+ 비정질 실리콘 박막을 선택적으로 제거하여 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 오믹-콘택층(125n)을 형성하게 된다.Thereafter, the n + amorphous silicon thin film on the active layer 124, that is, the upper part of the back channel is selectively removed using the first photoresist pattern 170a to the sixth photoresist pattern 170f as a mask to form the n + amorphous silicon thin film Thereby forming the ohmic contact layer 125n.

그리고, 상기 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 6 감광막패턴(170f)의 두께 일부를 제거하는 애싱공정을 진행하게 되면, 도 8e에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 투과영역(II)의 제 4 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴이 완전히 제거되게 된다.When the ashing process for removing a part of the thickness of the first to sixth photoresist patterns 170a to 170f is performed, as shown in FIG. 8E, The photoresist pattern to the sixth photoresist pattern are completely removed.

이때, 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 3 감광막패턴은 상기 제 4 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴의 두께만큼이 제거된 제 7 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170c')으로 상기 차단영역(III)에 대응하는 영역에만 남아있게 된다.In this case, the first to third photoresist patterns to the seventh photoresist pattern 170a 'to the ninth photoresist pattern 170c', which are removed by the thicknesses of the fourth to sixth photoresist patterns, (III). ≪ / RTI >

이후, 도 8f에 도시된 바와 같이, 상기 제 7 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170c')을 마스크로 하여, 그 하부에 형성된 제 3 도전막의 일부영역을 선택적으로 제거하게 되면, 상기 화소전극(118)과 공통전극(108) 및 화소전극라인(118L) 상부의 화소전극패턴과 공통전극패턴 및 화소전극라인패턴이 제거되게 된다.Then, as shown in FIG. 8F, using the seventh photosensitive film pattern 170a 'to the ninth photosensitive film pattern 170c' as masks, a part of the third conductive film formed at the lower part thereof is selectively removed, The pixel electrode pattern, the common electrode pattern, and the pixel electrode line pattern on the pixel electrode 118, the common electrode 108, and the pixel electrode line 118L are removed.

그리고, 도 6d 및 도 7d에 도시된 바와 같이, 상기 어레이 기판(110) 전면에 제 2 절연막(115b)을 형성한다.As shown in FIGS. 6D and 7D, a second insulating layer 115b is formed on the entire surface of the array substrate 110. FIG.

이때, 상기 제 2 절연막(115b)은 실리콘질화막(SiNx), 실리콘산화막(SiO2)과 같은 무기절연막으로 형성하거나 포토 아크릴과 같은 유기절연막으로 형성할 수 있다.At this time, the second insulating film (115b) may be formed of an organic insulating film such as formed of an inorganic insulating film or an acrylic photo, such as a silicon nitride film (SiNx), silicon oxide (SiO 2).

이후, 포토리소그래피공정(제 4 마스크공정)을 통해 상기 제 1 절연막(115a)과 제 2 절연막(115b)을 선택적으로 제거함으로써 상기 어레이 기판(110)의 데이터패드부 및 게이트패드부에 각각 상기 데이터패드라인(117p) 및 게이트패드라인(116p)의 일부를 외부로 노출시키는 제 2 콘택홀(140b) 및 제 3 콘택홀(140c)을 형성하게 된다.Thereafter, the first insulating film 115a and the second insulating film 115b are selectively removed through a photolithography process (a fourth mask process) to form the data pad portion and the gate pad portion of the array substrate 110, respectively, A second contact hole 140b and a third contact hole 140c for exposing a part of the pad line 117p and the gate pad line 116p to the outside are formed.

이와 같이 구성된 상기 본 발명의 실시예의 어레이 기판은 화상표시 영역의 외곽에 형성된 실런트에 의해 컬러필터 기판과 대향하여 합착되게 되는데, 이때 상기 컬러필터 기판에는 적, 녹 및 청색의 컬러를 구현하기 위한 컬러필터가 형성되어 있다.The array substrate of the present invention having the above-described structure according to the present invention is adhered to the color filter substrate by a sealant formed on the outer periphery of the image display area. In this case, the color filter substrate is provided with color A filter is formed.

이때, 상기 컬러필터 기판과 어레이 기판의 합착은 상기 컬러필터 기판 또는 어레이 기판에 형성된 합착키를 통해 이루어진다.At this time, the color filter substrate and the array substrate are bonded together through a covalent key formed on the color filter substrate or the array substrate.

상기 본 발명의 실시예의 액정표시장치는 액티브층으로 비정질 실리콘 박막을 이용한 비정질 실리콘 박막 트랜지스터를 예를 들어 설명하고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명은 상기 액티브층으로 다결정 실리콘 박막을 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에도 적용된다.Although the amorphous silicon thin film transistor using the amorphous silicon thin film as the active layer is described as an example of the liquid crystal display device of the embodiment of the present invention, the present invention is not limited to this, And is also applied to a polycrystalline silicon thin film transistor.

또한, 상기 본 발명의 실시예의 액정표시장치는 횡전계방식의 액정표시장치를 예를 들어 설명하고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명은 트위스티드 네마틱방식의 액정표시장치 또는 수직배향(Vertical Alignment: VA)방식의 액정표시장치에도 적용 가능하다.In addition, although the liquid crystal display device of the present invention has been described as an example of a liquid crystal display device of a transverse electric field system, the present invention is not limited thereto. The present invention can be applied to a liquid crystal display device of a twisted nematic type or a liquid crystal display device of vertical orientation Vertical Alignment (VA) type liquid crystal display device.

또한, 본 발명은 액정표시장치뿐만 아니라 박막 트랜지스터를 이용하여 제작하는 다른 표시장치, 예를 들면 구동 트랜지스터에 유기전계발광소자(Organic Light Emitting Diodes; OLED)가 연결된 유기전계발광 디스플레이장치에도 이용될 수 있다.In addition, the present invention can be applied not only to a liquid crystal display device but also to other display devices manufactured using thin film transistors, for example, organic electroluminescent display devices in which organic light emitting diodes (OLEDs) have.

상기한 설명에 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나 이것은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 따라서 발명은 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위와 특허청구범위에 균등한 것에 의하여 정하여져야 한다While a great many are described in the foregoing description, it should be construed as an example of preferred embodiments rather than limiting the scope of the invention. Accordingly, the invention is not to be determined by the embodiments described, but should be determined by equivalents to the appended claims and the claims

108 : 공통전극 108l : 공통라인
108L : 공통전극라인 110 : 어레이 기판
116 : 게이트라인 117 : 데이터라인
117' : 데이터라인패턴 118 : 화소전극
118L : 화소전극라인 121 : 게이트전극
122 : 소오스전극 122' : 소오스전극패턴
123 : 드레인전극 123' : 드레인전극패턴
108: common electrode 108l: common line
108L: common electrode line 110: array substrate
116: gate line 117: data line
117 ': Data line pattern 118: Pixel electrode
118L: pixel electrode line 121: gate electrode
122: source electrode 122 ': source electrode pattern
123: drain electrode 123 ': drain electrode pattern

Claims (12)

화소부와 데이터패드부 및 게이트패드부로 구분되는 어레이 기판을 제공하는 단계;
상기 어레이 기판의 화소부에 제 1 도전막으로 이루어진 게이트전극과 게이트라인을 형성하는 단계;
상기 게이트전극과 게이트라인이 형성된 어레이 기판 전면에 제 1 절연막을 형성하는 단계;
상기 제 1 절연막이 형성된 어레이 기판의 화소부에 액티브층 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴을 형성하는 단계;
상기 액티브층 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 형성한 후, 하프-톤 마스크를 통해 상기 제 2 도전막 및 제 3 도전막을 선택적으로 제거하여 상기 화소부에, 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인과, 상기 제 2 도전막으로 이루어진 화소전극을 형성하는 한편, 상기 데이터 패드부에 상기 제2 도전막으로 이루어진 데이터 패드 라인 패턴과, 상기 제3 도전막으로 이루어진 데이터 패드 라인을 형성하는 단계;
상기 액티브층 상부의 n+ 비정질 실리콘 박막패턴을 선택적으로 제거하여 오믹-콘택층을 형성하는 단계;
상기 오믹-콘택층이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 절연막을 형성하는 단계; 및
상기 어레이 기판과 컬러필터 기판을 합착하는 단계를 포함하며,
상기 데이터 패드 라인 패턴의 측면과, 상기 데이터 패드 라인 패턴 상에 배치되는 데이터 패드 라인의 측면은 상기 제2 절연막과 접촉하는 액정표시장치의 제조방법.
Providing an array substrate divided into a pixel portion, a data pad portion, and a gate pad portion;
Forming a gate electrode and a gate line made of a first conductive film in a pixel portion of the array substrate;
Forming a first insulating layer on the entire surface of the array substrate where the gate electrode and the gate line are formed;
Forming an active layer and an n + amorphous silicon thin film pattern on a pixel portion of the array substrate on which the first insulating film is formed;
The second conductive layer and the third conductive layer are formed on the entire surface of the array substrate on which the active layer and the n + amorphous silicon thin film pattern are formed, and then the second conductive layer and the third conductive layer are selectively removed through the half- A data electrode line formed of the first conductive film, a source electrode and a drain electrode of the third conductive film, a data line, and a pixel electrode made of the second conductive film, Forming a data pad line including the third conductive film;
Selectively removing the n + amorphous silicon thin film pattern on the active layer to form an ohmic contact layer;
Forming a second insulating layer on the entire surface of the array substrate on which the ohmic-contact layer is formed; And
And bonding the array substrate and the color filter substrate,
Wherein a side surface of the data pad line pattern and a side surface of a data pad line disposed on the data pad line pattern are in contact with the second insulating layer.
제 1 항에 있어서, 상기 어레이 기판의 화소부에 상기 제 1 도전막으로 이루어진 공통라인을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 액정표시장치의 제조방법.The manufacturing method of a liquid crystal display device according to claim 1, further comprising forming a common line made of the first conductive film on a pixel portion of the array substrate. 제 1 항에 있어서, 상기 어레이 기판의 게이트패드부에 상기 제 1 도전막으로 이루어진 게이트패드라인을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 1, further comprising forming a gate pad line made of the first conductive film on a gate pad portion of the array substrate. 제 3 항에 있어서, 상기 제 1 절연막 및 제 2 절연막을 선택적으로 제거하여 상기 게이트패드라인을 노출시키는 단계를 추가로 포함하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 3, further comprising selectively removing the first insulating layer and the second insulating layer to expose the gate pad line. 제 1 항에 있어서, 상기 어레이 기판의 화소부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 공통전극을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 액정표시장치의 제조방법.The manufacturing method of a liquid crystal display device according to claim 1, further comprising forming a common electrode made of the second conductive film on a pixel portion of the array substrate. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 제 2 절연막을 선택적으로 제거하여 상기 데이터패드라인을 노출시키는 단계를 추가로 포함하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 1, further comprising selectively removing the second insulating layer to expose the data pad line. 제 1 항에 있어서, 상기 소오스전극, 드레인전극, 데이터라인 및 화소전극을 형성하는 단계는
상기 액티브층과 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 형성된 어레이 기판 전면에 제 2 도전막과 제 3 도전막을 형성하는 단계;
하프-톤 마스크를 이용하여 상기 어레이 기판 상부에 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 형성하는 단계;
상기 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 마스크로 그 하부에 형성된 제 2 도전막과 제 3 도전막의 일부영역을 선택적으로 제거하여 상기 액티브층 상부에 상기 제 3 도전막으로 이루어진 소오스전극과 드레인전극을 형성하는 한편, 화소영역에 상기 제 2 도전막과 제 3 도전막으로 이루어진 화소전극과 화소전극패턴을 형성하는 단계;
상기 액티브층 상부의 n+ 비정질 실리콘 박막을 선택적으로 제거하여 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 오믹-콘택층을 형성하는 단계;
상기 제 4 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 제거하는 동시에 상기 제 4 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴의 두께만큼 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴의 두께 일부를 제거하여 제 7 감광막패턴 내지 제 9 감광막패턴을 형성하는 단계; 및
상기 제 7 감광막패턴 내지 제 9 감광막패턴을 마스크로 그 하부에 형성된 제 3 도전막을 선택적으로 제거하여 상기 화소전극 상부의 화소전극패턴을 제거하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
The method of claim 1, wherein forming the source electrode, the drain electrode, the data line, and the pixel electrode comprises:
Forming a second conductive layer and a third conductive layer on the entire array substrate on which the active layer and the n + amorphous silicon thin film pattern are formed;
Forming a first photoresist pattern to a sixth photoresist pattern on the array substrate using a half-tone mask;
The second conductive film and the third conductive film formed under the first photosensitive film pattern to the sixth photosensitive film pattern are selectively removed to selectively remove a portion of the active layer from the source and drain electrodes, Forming a pixel electrode and a pixel electrode pattern including the second conductive film and the third conductive film in the pixel region;
Selectively removing the n + amorphous silicon thin film on the active layer to form an ohmic contact layer made of the n + amorphous silicon thin film;
The fourth photoresist pattern to the sixth photoresist pattern are removed and a part of the first photoresist pattern to the sixth photoresist pattern is partially removed by a thickness of the fourth photoresist pattern to the sixth photoresist pattern, Forming a photoresist pattern; And
And removing the third conductive layer formed under the seventh photoresist pattern to the ninth photoresist pattern using a mask to remove the pixel electrode pattern on the pixel electrode.
제 1 항 또는 제 8 항에 있어서, 상기 제 3 도전막은 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하기 위해 구리로 형성하며, 상기 제 2 도전막은 상기 구리의 배리어 메탈로 이용하는 동시에 화소전극을 형성하기 위해 ITO 또는 IZO로 형성하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 1 or claim 8, wherein the third conductive layer is formed of copper to form a source electrode, a drain electrode, and a data line, the second conductive layer is used as a barrier metal of copper, Wherein the first electrode is formed of ITO or IZO. 제 9 항에 있어서, 상기 어레이 기판 위에 제 2 도전막을 형성하기 전에 몰리브덴 또는 몰리브덴 합금, 알루미늄 또는 알루미늄 합금을 50Å ~ 500Å의 두께로 증착하여 상기 ITO와 액티브층 사이의 오믹-콘택층으로 이용하는 액정표시장치의 제조방법.The liquid crystal display according to claim 9, wherein a molybdenum or molybdenum alloy, aluminum or aluminum alloy is deposited to a thickness of 50 Å to 500 Å on the array substrate to form an ohmic contact layer between the ITO and the active layer, ≪ / RTI > 삭제delete 제 8 항에 있어서, 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 6 감광막패턴을 마스크로 그 하부에 형성된 제 2 도전막과 제 3 도전막의 일부영역을 선택적으로 제거하여 상기 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인 하부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 소오스전극패턴과 드레인전극패턴 및 데이터라인패턴을 형성하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 8, further comprising selectively removing portions of the second conductive layer and the third conductive layer formed under the first to sixth photoresist patterns to mask the source and drain electrodes And forming a source electrode pattern, a drain electrode pattern, and a data line pattern made of the second conductive film.
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