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KR101799613B1 - Method of producing adhesive composition, adhesive composition, and adhesive film - Google Patents

Method of producing adhesive composition, adhesive composition, and adhesive film Download PDF

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KR101799613B1
KR101799613B1 KR1020130018006A KR20130018006A KR101799613B1 KR 101799613 B1 KR101799613 B1 KR 101799613B1 KR 1020130018006 A KR1020130018006 A KR 1020130018006A KR 20130018006 A KR20130018006 A KR 20130018006A KR 101799613 B1 KR101799613 B1 KR 101799613B1
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adhesive composition
wafer
resin
support
agent
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히로후미 이마이
도시유키 오가타
아츠시 구보
다카히로 요시오카
다쿠야 노구치
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도쿄 오카 고교 가부시키가이샤
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Abstract

웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해해 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지한 접착제 조성물을 제공한다.
웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하는 정제 공정을 포함한다.
Provided is an adhesive composition for preventing adhesion of residues on a wafer when it is dissolved in a solvent and used for adhesion between a wafer and a support of the wafer.
The method for producing an adhesive composition for bonding a wafer and a support of the wafer includes a purification process for removing an anticaking agent contained in the adhesive composition.

Description

접착제 조성물의 제조 방법, 접착제 조성물 및 접착 필름{METHOD OF PRODUCING ADHESIVE COMPOSITION, ADHESIVE COMPOSITION, AND ADHESIVE FILM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a method for producing an adhesive composition, an adhesive composition, and an adhesive film,

본 발명은 접착제 조성물의 제조 방법, 접착제 조성물 및 접착 필름에 관한 것이다.The present invention relates to a process for producing an adhesive composition, an adhesive composition and an adhesive film.

휴대 전화, 디지털 AV 기기 및 IC 카드 등의 고기능화에 수반해, 탑재되는 반도체 실리콘 칩(이하, 칩)을 소형화 및 박형화함으로써, 패키지 내에 실리콘을 고집적화하는 요구가 높아지고 있다. 예를 들면, CSP(chip size package) 또는 MCP(multi-chip package)로 대표되는 복수의 칩을 원 패키지화하는 집적회로에 있어서 박형화가 요구되고 있다. 패키지 내의 칩의 고집적화를 실현하기 위해서는 칩의 두께를 25~150㎛의 범위로까지 얇게 할 필요가 있다.There has been a growing demand for highly integrated silicon in a package by making a semiconductor silicon chip (hereinafter, referred to as a chip) mounted on the mobile phone, a digital AV device, an IC card, etc. more compact and thinner. For example, in an integrated circuit that packages a plurality of chips typified by a CSP (chip size package) or an MCP (multi-chip package), a thin circuit is required. In order to realize high integration of chips in a package, it is necessary to make the thickness of the chip thin to a range of 25 to 150 mu m.

그렇지만, 칩의 베이스가 되는 반도체 웨이퍼(이하, 웨이퍼)는 연삭함으로써 두께가 얇아지기 때문에 그 강도는 약해져 웨이퍼에 크랙 또는 휨이 생기기 쉬워진다. 또, 박판화(薄板化)함으로써 강도가 약해진 웨이퍼를 자동 반송하는 것은 곤란하기 때문에, 사람 손에 의해 반송하지 않으면 안 되어, 그 취급이 번잡했다.However, since the semiconductor wafer (hereinafter referred to as a wafer) serving as the base of the chip is thinned by grinding, its strength becomes weak, and the wafer tends to crack or warp. In addition, since it is difficult to automatically transport a wafer whose strength is weakened by thinning (thinning) the wafer, it must be carried by a person's hand, and handling thereof is troublesome.

이 때문에, 연삭하는 웨이퍼에 서포트 플레이트로 불리는 유리, 경질 플라스틱 등으로 이루어진 플레이트를 첩합함으로써 웨이퍼의 강도를 유지해, 크랙의 발생 및 웨이퍼의 휨을 방지하는 웨이퍼 핸들링 시스템이 개발되고 있다. 웨이퍼 핸들링 시스템에 의해 웨이퍼의 강도를 유지할 수 있기 때문에, 박판화한 반도체 웨이퍼의 반송을 자동화할 수 있다.Therefore, a wafer handling system has been developed that maintains the strength of the wafer by bonding a plate made of glass, hard plastic, or the like called a support plate to the wafer to be ground, thereby preventing occurrence of cracks and warping of the wafer. Since the strength of the wafer can be maintained by the wafer handling system, it is possible to automate the transportation of the thinned semiconductor wafer.

웨이퍼 핸들링 시스템에 있어서, 웨이퍼와 서포트 플레이트는 점착 테이프, 열가소성 수지, 접착제 등을 이용해 첩합된다. 그리고, 서포트 플레이트가 첩부된 웨이퍼를 두께를 박판화한 후, 웨이퍼를 다이싱하기 전에 서포트 플레이트를 기판으로부터 박리한다. 이 웨이퍼와 서포트 플레이트의 첩합에 접착제를 이용했을 경우, 접착제를 용해해 웨이퍼를 서포트 플레이트로부터 박리한다.In the wafer handling system, the wafer and the support plate are bonded using an adhesive tape, a thermoplastic resin, an adhesive, or the like. After the wafer with the support plate attached thereto is thinned, the support plate is peeled from the substrate before dicing the wafer. When an adhesive is used for bonding the wafer and the support plate, the adhesive is dissolved and the wafer is peeled from the support plate.

여기서, 최근 상기 접착제로서 탄화수소계의 접착제가 개발되고 있다(특허문헌 1, 2).Recently, hydrocarbon adhesives have been developed as adhesives (Patent Documents 1 and 2).

일본 특표 2009-529065(2009년 8월 13일 공개)Japan Specification 2009-529065 (Released on August 13, 2009) 일본 특표 2010-506406(2010년 2월 25일 공개)Japan Special Feature 2010-506406 (Released on February 25, 2010)

그렇지만, 종래 기술과 관련된 탄화수소계의 접착제에 사용되는 재료는 펠릿상의 것이 많아, 펠릿상으로 성형하는 공정에서 사용되는 교착(膠着) 방지제(활제)가 접착제 중에 포함되어 버린다. 이와 같은 교착 방지제가 포함된 접착제를 웨이퍼와 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용했을 경우, 사용 후에 용제로 용해시켜 세정해도 세정 후의 웨이퍼 상에 잔사가 생겨 버린다. 웨이퍼 상에 이와 같은 잔사가 발생하면 기판의 전기 특성이나 제품 수율의 저하로 이어진다. However, many of the materials used for the hydrocarbon-based adhesives related to the prior art are in the form of pellets, so that the adhesive contains an anti-sticking agent (lubricant) used in the process of molding into a pellet. When an adhesive containing such an anticaking agent is used for bonding a wafer and a support to a wafer, residues are formed on the wafer after cleaning even if the wafer is dissolved in a solvent after use and washed. Such a residue on the wafer leads to deterioration of the electrical characteristics of the substrate and the yield of the product.

본 발명은 상기 과제를 감안해 이루어진 것으로, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해시켜 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지한 접착제 조성물의 제조 방법 및 상기 접착제 조성물을 제공하는 것을 주된 목적으로 한다.DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems and provides a method of producing an adhesive composition for preventing the occurrence of residues on a wafer when the wafer is used for adhering a wafer and a support of the wafer and then washed with a solvent, The main purpose is to do.

상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 관한 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하는 정제 공정을 포함하는 것을 특징으로 하고 있다.In order to solve the above problems, a method for manufacturing an adhesive composition for adhering a wafer according to the present invention and a support of the wafer includes a purification step for removing the antireflection agent contained in the adhesive composition.

본 발명에 관한 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물은 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량이 전체 고체 중량에 대해서 10ppb 이상, 2ppm 이하인 것을 특징으로 하고 있다.The adhesive composition for bonding the wafer according to the present invention and the support of the wafer is characterized in that the content of the metal component originating from the antiglare agent is 10 ppb or more and 2 ppm or less with respect to the total solid weight.

본 발명에 관한 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착 필름은 필름 상에 본 발명에 관한 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물로 이루어진 접착층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.The adhesive film for bonding the wafer according to the present invention and the support of the wafer is characterized in that an adhesive layer made of an adhesive composition for bonding the wafer according to the present invention and the support of the wafer is formed on the film.

본 발명에 관한 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하는 정제 공정을 포함하고 있다. 그러므로, 웨이퍼와 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해시켜 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지한 접착제 조성물을 제조할 수 있다. 또, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해시켜 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지한 접착제 조성물을 제공할 수 있다.The method for producing an adhesive composition for adhering a wafer according to the present invention to a support of the wafer includes a purification step for removing an anticaking agent contained in the adhesive composition. Therefore, it is possible to produce an adhesive composition which prevents the occurrence of residues on the wafer when it is used to adhere the wafer to a support of a wafer and then dissolved in a solvent and cleaned. In addition, it is possible to provide an adhesive composition which is used for adhesion between a wafer and a support of the wafer, and then prevents the residue from being formed on the wafer when the wafer is dissolved and cleaned with a solvent.

[접착제 조성물][Adhesive composition]

본 발명에 관한 접착제 조성물은 교착 방지제가 제거된 접착제 조성물이며, 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량이 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 10ppb 이상, 2ppm 이하이다. 본 발명에 관한 접착제 조성물은 탄화수소 수지 또는 엘라스토머를 포함하고 있어도 된다.The adhesive composition according to the present invention is an adhesive composition from which an antistacking agent has been removed. The content of the metal component derived from the antistatic agent is 10 ppb or more and 2 ppm or less based on the total solid weight of the adhesive composition. The adhesive composition according to the present invention may contain a hydrocarbon resin or an elastomer.

본 발명에 관한 접착제 조성물은 접착성을 부여하기 위한 수지를 포함하고 있다. 상기 수지로는 탄화수소 수지 및 엘라스토머로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하다.The adhesive composition according to the present invention includes a resin for imparting adhesiveness. It is preferable that the resin includes at least one kind selected from a hydrocarbon resin and an elastomer.

(탄화수소 수지)(Hydrocarbon resin)

탄화수소 수지는 탄화수소 골격을 가지며, 단량체 성분을 중합해서 이루어지는 수지이다. 탄화수소 수지로는 예를 들면, 시클로올레핀 폴리머(이하, 「수지 A」라고도 함), 및 테르펜계 수지, 로진계 수지 및 석유계 수지로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지(이하, 「수지 B」라고도 함)를 들 수 있다.The hydrocarbon resin has a hydrocarbon skeleton and is a resin obtained by polymerizing a monomer component. Examples of the hydrocarbon resin include at least one resin selected from the group consisting of a cycloolefin polymer (hereinafter also referred to as " resin A ") and a terpene resin, a rosin resin and a petroleum resin B ").

시클로올레핀 폴리머는 단량체 성분인 시클로올레핀 모노머를 중합해서 이루어지는 수지이다. 시클로올레핀 모노머로는 예를 들면, 노르보넨, 노르보르나디엔 등의 2환체, 디시클로펜타디엔, 히드록시 디시클로펜타디엔 등의 3환체, 테트라시클로도데센 등의 4환체, 시클로펜타디엔 3량체 등의 5환체, 테트라시클로펜타디엔 등의 7환체 또는 이들 다환체의 알킬(메틸, 에틸, 프로필, 부틸 등) 치환체, 알케닐(비닐 등) 치환체, 알킬리덴(에틸리덴 등) 치환체, 아릴(페닐, 톨일, 나프틸 등) 치환체 등을 들 수 있다. 수지 (A)로는 이들 시클로올레핀 모노머 중 1종만을 중합시켜서 이루어진 것이어도 되고, 2종 이상을 공중합시켜서 이루어진 것이어도 된다.The cycloolefin polymer is a resin obtained by polymerizing a cycloolefin monomer as a monomer component. Examples of the cycloolefin monomers include bifunctional compounds such as norbornene and norbornadiene, trifunctional compounds such as dicyclopentadiene and hydroxydicyclopentadiene, tetracyclines such as tetracyclododecene, cyclopentadiene 3 (Methyl, ethyl, propyl, butyl, etc.) substituents, alkenyl (vinyl) substituents, alkylidene (ethylidene etc.) substituents, aryl (Phenyl, tolyl, naphthyl, etc.), and the like. As the resin (A), only one kind of these cycloolefin monomers may be polymerized, or two or more kinds of them may be copolymerized.

또, 수지 (A)에 포함되는 단량체 성분은 시클로올레핀 모노머로 한정되는 것은 아니고, 상기 시클로올레핀 모노머와 공중합 가능한 다른 모노머를 함유하고 있어도 된다. 다른 모노머로는 예를 들면, 직쇄상 또는 분기쇄상의 알켄 모노머를 들 수 있으며, 그러한 알켄 모노머로는 예를 들면, 에틸렌, 프로필렌, 1-부텐, 이소부텐 및 1-헥센 등의 α-올레핀을 들 수 있다. 또한, 알켄 모노머는 1종만을 이용해도 되고, 2종 이상을 조합해 이용해도 된다.The monomer component contained in the resin (A) is not limited to a cycloolefin monomer but may contain other monomer copolymerizable with the cycloolefin monomer. Examples of other monomers include straight chain or branched chain alkene monomers. Examples of such alkene monomers include ethylene, propylene, 1-butene, isobutene, 1-hexene, . The alkene monomers may be used alone or in combination of two or more.

수지 (A)의 분자량은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 겔·투과·크로마토그래피(GPC)에 의한 폴리스티렌 환산값으로서 측정한 중량 평균 분자량(Mw)이 50,000~200,000이며, 보다 바람직하게는 50,000~150,000이다. 수지 (A)의 중량 평균 분자량이 상기 범위 내이면, 성막 후에 크랙이 발생하기 어렵고, 또한 특정 용제에 대한 용해성을 얻을 수 있다.The molecular weight of the resin (A) is not particularly limited. For example, the weight average molecular weight (Mw) measured as a polystyrene conversion value by gel permeation chromatography (GPC) is 50,000 to 200,000, more preferably 50,000 ~ 150,000. When the weight average molecular weight of the resin (A) is within the above range, cracks are hardly generated after the film formation and the solubility in a specific solvent can be obtained.

또, 수지 (A)를 구성하는 단량체 성분은 그의 5 몰% 이상이 시클로올레핀 모노머인 것이 고내열성(낮은 열 분해성·열 중량 감소성)의 점으로부터 바람직하고, 10 몰% 이상이 시클로올레핀 모노머인 것이 보다 바람직하며, 20 몰% 이상이 더욱 바람직하다. 상한은 특별히 한정되지 않지만, 80 몰% 이하인 것이 용해성 및 용액에서의 경시 안정성의 점으로부터 바람직하고, 70 몰% 이하인 것이 더욱 바람직하다. 다른 모노머로서 직쇄상 또는 분기쇄상의 알켄 모노머를 함유하는 경우, 수지 (A)를 구성하는 단량체 성분 전체에 대해서 10~90 몰%인 것이 용해성 및 유연성의 점으로부터 바람직하고, 20~85 몰%이 더욱 바람직하며, 30~80 몰%이 특히 바람직하다.It is preferable that 5 mol% or more of the monomer component constituting the resin (A) is a cycloolefin monomer from the viewpoints of high heat resistance (low thermally decomposable property and thermogravimetric property), and 10 mol% or more is a cycloolefin monomer , And more preferably 20 mol% or more. The upper limit is not particularly limited, but it is preferably 80 mol% or less from the viewpoints of solubility and stability with time in the solution, more preferably 70 mol% or less. When the other monomer contains a straight chain or branched chain alkene monomer, the content of the monomer component in the resin (A) is preferably from 10 to 90 mol%, from the viewpoint of solubility and flexibility, more preferably from 20 to 85 mol% , And particularly preferably from 30 to 80 mol%.

단량체 성분의 중합 방법 및 중합 조건은 특별히 한정되는 것은 아니고, 종래 공지의 방법을 이용해 실시하면 된다.The polymerization method and the polymerization conditions of the monomer component are not particularly limited and may be carried out by a conventionally known method.

수지 (A)로서 이용될 수 있는 시판품으로는 예를 들면, 미츠이 화학사제의 「APEL(상품명)」, 폴리플라스틱스사제의 「TOPAS(상품명)」, 일본 제온사제의 「ZEONOR(상품명)」 및 「ZEONEX(상품명)」, 및 JSR사제의 「ARTON(상품명)」를 들 수 있다.Examples of commercially available products that can be used as the resin (A) include "APEL (trade name)" manufactured by Mitsui Chemicals, "TOPAS (trade name)" manufactured by Polyplastics, "ZEONOR (trade name)" ZEONEX (trade name) "manufactured by JSR Corporation, and" ARTON (trade name) "manufactured by JSR.

수지 (B)는 상술한 바와 같이 테르펜계 수지, 로진계 수지 및 석유계 수지로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지이다. 테르펜계 수지로는 예를 들면, 테르펜 수지, 테르펜페놀 수지, 변성 테르펜 수지, 수첨(水添) 테르펜 수지 및 수첨 테르펜페놀 수지 등을 들 수 있다. 로진계 수지로는 예를 들면, 로진, 로진 에스테르, 수첨 로진, 수첨 로진 에스테르, 중합 로진, 중합 로진 에스테르 및 변성 로진 등을 들 수 있다. 석유계 수지로는 예를 들면, 지방족 또는 방향족 석유 수지, 수첨 석유 수지, 변성 석유 수지, 지환족 석유 수지 및 마론·인덴 석유 수지 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 특히 수첨 테르펜 수지 및 수첨 테르펜페놀 수지가 바람직하다.The resin (B) is at least one resin selected from the group consisting of a terpene resin, a rosin resin and a petroleum resin as described above. Examples of the terpene resin include a terpene resin, a terpene phenol resin, a modified terpene resin, a hydrogenated terpene resin, and a hydrogenated terpene phenol resin. Examples of the rosin-based resin include rosin, rosin ester, hydrogenated rosin, hydrogenated rosin ester, polymerized rosin, polymerized rosin ester, and modified rosin. Examples of the petroleum-based resin include an aliphatic or aromatic petroleum resin, a hydrogenated petroleum resin, a modified petroleum resin, an alicyclic petroleum resin, and a maroon-indene petroleum resin. Among these, a hydrogenated terpene resin and a hydrogenated terpene phenol resin are particularly preferable.

수지 (B)의 분자량은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, GPC에 의한 폴리스티렌 환산치로서 측정한 중량 평균 분자량(Mw)이 300~10,000이고, 보다 바람직하게는 500~5,000이다. 수지 (B)의 중량 평균 분자량이 상기 범위 내이면, 성막 후에 크랙이 발생하기 어렵고, 또한 높은 내열성(열 분해성·승화성에 대한 내성)이 얻어진다.The molecular weight of the resin (B) is not particularly limited. For example, the weight average molecular weight (Mw) measured as a polystyrene conversion value by GPC is 300 to 10,000, and more preferably 500 to 5,000. When the weight average molecular weight of the resin (B) is within the above range, cracks are hardly generated after the film formation and high heat resistance (resistance to thermal decomposition property and sublimation property) is obtained.

또한, 수지 (A)와 수지 (B)를 혼합해 사용해도 된다. 수지 (A)의 함유량이 탄화수소 수지 전체의 40중량부 이상인 것이 바람직하고, 60중량부 이상인 것이 보다 바람직하다. 수지 (A)의 함유량이 탄화수소 수지 전체의 40중량부 이상인 경우에는 유연성과 함께 높은 내열성(낮은 열 분해성)을 발휘할 수 있다.The resin (A) and the resin (B) may be mixed and used. The content of the resin (A) is preferably 40 parts by weight or more, more preferably 60 parts by weight or more, based on the whole of the hydrocarbon resin. When the content of the resin (A) is 40 parts by weight or more based on the total weight of the hydrocarbon resin, flexibility and high heat resistance (low thermal decomposition resistance) can be exhibited.

(엘라스토머)(Elastomer)

본 발명에 관한 접착제 조성물은 엘라스토머를 포함하는 것이 바람직하다. 본 발명에 관한 접착제 조성물에 포함되는 엘라스토머는 주쇄의 구성 단위로서 스티렌 단위를 포함하는 것이 바람직하다. 구체적으로는 상기 스티렌 단위의 함유량이 15중량% 이상, 50중량% 이하의 범위이며, 중량 평균 분자량이 10,000 이상, 200,000 이하의 범위이면 된다.The adhesive composition according to the present invention preferably comprises an elastomer. The elastomer contained in the adhesive composition according to the present invention preferably contains a styrene unit as a constitutional unit of the main chain. Specifically, the content of the styrene unit may be in the range of 15 wt% or more and 50 wt% or less, and the weight average molecular weight may be in the range of 10,000 or more and 200,000 or less.

본 명세서에서 「구성 단위」란 중합체를 구성하는 구조에 있어서, 1 분자의 단량체에 기인하는 구조를 말한다. 본 명세서에서 「스티렌 단위」란 스티렌을 중합했을 때에 중합체에 포함되는 상기 스티렌 유래의 구성 단위이며, 상기 「스티렌 단위」는 치환기를 가지고 있어도 된다. 치환기로는 예를 들면, 탄소수 1~5의 알킬기, 탄소수 1~5의 알콕시기, 탄소수 1~5의 알콕시알킬기, 아세톡시기, 카르복실기 등을 들 수 있다.In the present specification, the term " constituent unit " refers to a structure derived from one molecule of monomers in the structure constituting the polymer. In the present specification, the "styrene unit" is a styrene-derived structural unit contained in the polymer when styrene is polymerized, and the "styrene unit" may have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group of 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group of 1 to 5 carbon atoms, an alkoxyalkyl group of 1 to 5 carbon atoms, an acetoxy group, and a carboxyl group.

스티렌 단위의 함유량이 14중량% 이상, 50중량% 이하의 범위이며, 엘라스토머의 중량 평균 분자량이 10,000 이상, 200,000 이하의 범위이면, 후술하는 탄화수소계의 용제에 용이하게 용해되므로, 보다 용이하면서도 신속히 제거할 수 있다. 또, 스티렌 단위의 함유량 및 중량 평균 분자량이 상기의 범위임으로 인해, 웨이퍼가 레지스트 리소그라피 공정에 제공될 때 노출되는 레지스트 용제(예를 들면, PGMEA, PGME 등), 산(불화 수소산 등), 알칼리(TMAH 등)에 대해서 뛰어난 내성을 발휘한다.When the content of the styrene unit is in the range of 14 wt% to 50 wt%, and the weight average molecular weight of the elastomer is in the range of 10,000 to 200,000, it is easily dissolved in the hydrocarbon solvent described later, can do. Further, since the content of the styrene unit and the weight average molecular weight are in the above-mentioned ranges, resist solvents (for example, PGMEA, PGME, etc.) exposed when the wafer is provided to the resist lithography process, acids (hydrofluoric acid, etc.) TMAH and the like).

스티렌 단위의 함유량은 보다 바람직하게는 17중량% 이상이며, 또 보다 바람직하게는 40중량% 이하이다.The content of the styrene unit is more preferably 17% by weight or more, and still more preferably 40% by weight or less.

중량 평균 분자량의 보다 바람직한 범위는 20,000 이상이며, 또 보다 바람직한 범위는 150,000 이하이다.A more preferable range of the weight average molecular weight is 20,000 or more, and a more preferable range is 150,000 or less.

엘라스토머로는 스티렌 단위의 함유량이 14중량% 이상, 50중량% 이하의 범위이며, 엘라스토머의 중량 평균 분자량이 10,000 이상, 200,000 이하의 범위이면, 여러 가지의 엘라스토머를 이용할 수 있다. 예를 들면, 폴리스티렌-폴리(에틸렌/프로필렌) 블록 코폴리머(SEP), 스티렌-이소프렌-스티렌 블록 코폴리머(SIS), 스티렌-부타디엔-스티렌 블록 코폴리머(SBS), 스티렌-부타디엔-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머(SBBS), 에틸렌프로필렌터폴리머(EPT) 및 이들의 수첨물, 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머(SEBS), 스티렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머(스티렌-이소프렌-스티렌 블록 코폴리머)(SEPS), 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머(SEEPS), 스티렌 블록이 반응 가교형인 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머(SeptonV9461(쿠라레사제)), 스티렌 블록이 반응 가교형인 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머(반응성의 폴리스티렌계 하드 블록을 가지는 SeptonV9827(쿠라레사제)) 등으로서, 스티렌 단위의 함유량 및 중량 평균 분자량이 상술한 범위인 것을 이용할 수 있다.As the elastomer, the content of the styrene unit is in the range of 14 wt% to 50 wt%. When the weight average molecular weight of the elastomer is in the range of 10,000 to 200,000, various elastomers can be used. Styrene block copolymers (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymers (SBS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymers Ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (styrene-isoprene-styrene block copolymer), styrene block copolymer (SBBS), ethylene propylene terpolymer (EPT) Styrene block copolymer (SEPS), a styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), a styrene block copolymer of styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (Septon V9461 ), A styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer having a reactive crosslinked styrene block (Septon V9827 having a reactive polystyrene-based hard block (Kuraray Co., Ltd.)), Those having an average molecular weight in the above-mentioned range can be used.

또, 엘라스토머 중에서도 수첨물이 보다 바람직하다. 수첨물이라면 열에 대한 안정성이 향상되어 분해나 중합 등의 변질이 일어나기 어렵다. 또, 탄화수소계 용제에 대한 용해성 및 레지스트 용제에 대한 내성의 관점으로부터도 보다 바람직하다.Among the elastomers, hydrous materials are more preferable. If it is a water-soluble additive, the stability against heat is improved, and deterioration such as decomposition or polymerization is hardly caused. It is more preferable from the viewpoints of solubility in hydrocarbon solvents and resistance to resist solvents.

또, 엘라스토머 중에서도 양단이 스티렌의 블록 중합체인 것이 보다 바람직하다. 열 안정성이 높은 스티렌을 양 말단에 블록함으로써 보다 높은 내열성을 나타내기 때문이다.Further, among the elastomers, styrene block polymers at both ends are more preferable. This is because styrene having high heat stability is blocked at both ends to exhibit higher heat resistance.

보다 구체적으로는 스티렌 및 공역 디엔의 블록 코폴리머의 수첨물인 것이 보다 바람직하다. 열에 대한 안정성이 향상되어 분해나 중합 등의 변질이 일어나기 어렵다. 또, 열 안정성이 높은 스티렌을 양 말단에 블록함으로써 보다 높은 내열성을 나타낸다. 또한, 탄화수소계 용제에 대한 용해성 및 레지스트 용제에 대한 내성의 관점으로부터도 보다 바람직하다.More specifically, it is more preferable to be a hydrogenated product of a block copolymer of styrene and a conjugated diene. The stability against heat is improved, and deterioration such as decomposition or polymerization is hardly caused. Further, styrene having high thermal stability is blocked at both ends to exhibit higher heat resistance. Further, from the viewpoints of solubility in a hydrocarbon solvent and resistance to a resist solvent, it is more preferable.

본 발명에 관한 접착제 조성물에 포함되는 엘라스토머로서 이용될 수 있는 시판품으로는 예를 들면, 쿠라레사제 「셉톤(상품명)」, 쿠라레사제 「하이브라(상품명)」, 아사히화성사제 「터프텍(상품명)」, JSR사제 「다이나론(상품명)」 등을 들 수 있다.Examples of commercially available products that can be used as the elastomer contained in the adhesive composition according to the present invention include "Septon (trade name)" manufactured by Kuraray Co., Ltd., "Hiabra (trade name)" manufactured by Kuraray Co., (Trade name) manufactured by JSR Corporation, and Dynalon (trade name) manufactured by JSR Corporation.

본 발명에 관한 접착제 조성물에 포함되는 엘라스토머의 함유량으로는 예를 들면, 접착제 조성물 전량을 100중량부로 하여 10중량부 이상, 80중량부 이하가 바람직하고, 20중량부 이상, 60중량부 이하가 보다 바람직하다.The content of the elastomer contained in the adhesive composition according to the present invention is preferably 10 parts by weight or more and 80 parts by weight or less, more preferably 20 parts by weight or more and 60 parts by weight or less, based on 100 parts by weight of the total amount of the adhesive composition desirable.

또, 엘라스토머는 복수의 종류를 혼합해도 된다. 즉, 본 발명에 관한 접착제 조성물은 복수의 종류의 엘라스토머를 포함해도 된다. 복수의 종류의 엘라스토머 중 적어도 하나가 주쇄의 구성 단위로서 스티렌 단위를 포함하고, 상기 스티렌 단위의 함유량이 14중량% 이상, 50중량% 이하의 범위이며, 중량 평균 분자량이 10,000 이상, 200,000 이하의 범위이면, 본 발명의 범주이다. 또, 본 발명에 관한 접착제 조성물에 있어서, 복수의 종류의 엘라스토머를 포함하는 경우, 혼합한 결과 스티렌 단위의 함유량이 상기의 범위가 되도록 조제해도 된다. 예를 들면, 스티렌 단위의 함유량이 30중량%인 쿠라레사제의 셉톤(상품명)인 Septon8007와 스티렌 단위의 함유량이 13중량%인 셉톤(상품명)인 Septon2063를 중량비 1 대 1로 혼합하면 접착제 조성물에 포함되는 엘라스토머 전체에 대한 스티렌 함유량은 21~22중량%가 되어, 14중량% 이상이 된다. 또, 예를 들면, 스티렌 단위가 10중량%인 것과 60중량%인 것을 1 대 1로 혼합하면 35중량%가 되어, 상기의 범위 내가 된다. 본 발명은 이와 같은 형태여도 된다. 또, 본 발명에 관한 접착제 조성물에 포함되는 복수의 종류의 엘라스토머는 모두 상기의 범위에서 스티렌 단위를 포함하며, 또한 상기의 범위의 중량 평균 분자량인 것이 가장 바람직하다.The elastomer may be mixed with a plurality of kinds. That is, the adhesive composition according to the present invention may contain a plurality of kinds of elastomers. At least one of the plurality of kinds of elastomers contains a styrene unit as a constituent unit of the main chain, the content of the styrene unit is in a range of 14% by weight or more and 50% by weight or less, a weight average molecular weight of 10,000 or more and 200,000 or less Is a category of the present invention. In the adhesive composition according to the present invention, when a plurality of kinds of elastomers are contained, they may be prepared so that the content of the styrene unit is within the above range. For example, when Septon 8007 (trade name), which is a trade name of Kuraray Co., Ltd., having a styrene unit content of 30% by weight, and Septon 2063 (trade name), which has a styrene unit content of 13% by weight, are mixed at a weight ratio of 1: 1, The content of styrene relative to the total amount of the elastomer contained is 21 to 22% by weight, and is 14% by weight or more. For example, when the styrene unit is 10 wt% and 60 wt% is mixed in a one-to-one ratio, it becomes 35 wt%, which is within the above range. The present invention may be of such a form. It is most preferable that the plurality of kinds of elastomers included in the adhesive composition according to the present invention contain styrene units in the above-mentioned range, and the weight average molecular weight in the above range is the most preferable.

(용제)(solvent)

본 발명에 관한 접착제 조성물은 탄화수소 수지 또는 엘라스토머를 용해하는 용제를 포함하고 있는 것이 바람직하다. 이와 같은 용제로는 예를 들면, 비극성의 탄화수소계 용제, 극성 및 무극성의 석유계 용제 등을 이용할 수 있다.The adhesive composition according to the present invention preferably contains a solvent for dissolving a hydrocarbon resin or an elastomer. As such a solvent, for example, non-polar hydrocarbon solvents, polar and non-polar petroleum solvents, and the like can be used.

바람직하게는 용제는 축합 다환식 탄화수소를 포함할 수 있다. 용제가 축합 다환식 탄화수소를 포함함으로써 접착제 조성물을 액상 형태로(특히 저온에서) 보존했을 때에 생길 수 있는 백탁화를 피할 수 있어 제품 안정성을 향상시킬 수 있다.Preferably, the solvent may comprise condensed polycyclic hydrocarbons. By including the condensed polycyclic hydrocarbon in the solvent, clouding that can occur when the adhesive composition is stored in a liquid form (particularly at low temperature) can be avoided and the product stability can be improved.

탄화수소계 용제로는 직쇄상, 분기상 또는 환상의 탄화수소를 들 수 있다. 예를 들면, 헥산, 헵탄, 옥탄, 노난, 메틸옥탄, 데칸, 운데칸, 도데칸, 트리데칸 등의 직쇄상의 탄화수소, 탄소수 3 내지 15의 분기상의 탄화수소;p-멘탄, o-멘탄, m-멘탄, 디페닐멘탄, α-테르피넨, β-테르피넨, γ-테르피넨, 1,4-테르핀, 1,8-테르핀, 보르난, 노르보난, 피난, α-피넨, β-피넨, 투잔(thujane), α-투존(thujone), β-투존, 카란, 롱기폴렌(longifolene) 등을 들 수 있다.Examples of the hydrocarbon-based solvent include linear, branched or cyclic hydrocarbons. For example, straight chain hydrocarbons such as hexane, heptane, octane, nonane, methyloctane, decane, undecane, dodecane and tridecane, branched hydrocarbons having 3 to 15 carbon atoms, p-menthane, o-menthane, m Beta-terpinene, beta -terpinene, gamma -terpinene, 1,4-terpine, 1,8-terpine, borane, norbonane, Pinene, thujane,? -Tujone,? -Tuzon, caran, longifolene, and the like.

또, 석유계 용제로는 예를 들면, 시클로헥산, 시클로헵탄, 시클로옥탄, 나프탈렌, 데카히드로 나프탈렌, 테트라히드로 나프탈렌 등을 들 수 있다.Examples of the petroleum-based agent include cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, naphthalene, decahydronaphthalene, and tetrahydronaphthalene.

또, 축합 다환식 탄화수소란 2 이상의 단환이 각각의 고리의 옆을 서로 1개만 공급해서 생기는 축합환의 탄화수소이며, 2개의 단환이 축합되어서 이루어지는 탄화수소를 이용하는 것이 바람직하다.The condensed polycyclic hydrocarbon is preferably a hydrocarbon formed by condensation of two monocyclic rings, which is a condensed ring hydrocarbon formed by feeding at least two monocyclic rings adjacent to the respective rings to each other.

그러한 탄화수소로는 5원환 및 6원환의 조합, 또는 2개의 6원환의 조합을 들 수 있다. 5원환 및 6원환을 조합한 탄화수소로는 예를 들면, 인덴, 펜타렌, 인단, 테트라히드로 인덴 등을 들 수 있으며, 2개의 6원환을 조합한 탄화수소로는 예를 들면, 나프탈렌, 테트라히드로 나프탈린(테트랄린) 및 데카히드로 나프탈린(데칼린) 등을 들 수 있다.Such hydrocarbons include a combination of a five-membered ring and a six-membered ring, or a combination of two six-membered rings. Examples of hydrocarbons in which a 5-membered ring and a 6-membered ring are combined include indene, pentane, indane, and tetrahydroindene. Examples of the hydrocarbon having two 6-membered rings include naphthalene, tetrahydronaphth Talline (tetralin) and decahydronaphthalene (decalin).

또, 용제가 상기 축합 다환식 탄화수소를 포함하는 경우, 용제에 포함되는 성분은 상기 축합 다환식 탄화수소뿐이어도 되고, 예를 들면, 포화 지방족 탄화수소 등의 다른 성분을 함유하고 있어도 된다. 이 경우, 축합 다환식 탄화수소의 함유량이 탄화수소계 용제 전체의 40중량부 이상인 것이 바람직하고, 60중량부 이상인 것이 보다 바람직하다. 축합 다환식 탄화수소의 함유량이 탄화수소계 용제 전체의 40중량부 이상인 경우에는 상기 수지에 대한 높은 용해성을 발휘할 수 있다. 축합 다환식 탄화수소와 포화 지방족 탄화수소의 혼합비가 상기 범위 내이면, 축합 다환식 탄화수소의 취기(臭氣)를 완화시킬 수 있다.When the solvent contains the condensed polycyclic hydrocarbon, the component contained in the solvent may be only the condensed polycyclic hydrocarbon, or may contain other components such as saturated aliphatic hydrocarbons. In this case, the content of the condensed polycyclic hydrocarbon is preferably at least 40 parts by weight, more preferably at least 60 parts by weight, based on the whole hydrocarbon solvent. When the content of the condensed polycyclic hydrocarbon is 40 parts by weight or more based on the total amount of the hydrocarbon-based solvent, high solubility in the resin can be exhibited. If the mixing ratio of the condensed polycyclic hydrocarbon and the saturated aliphatic hydrocarbon is within the above range, the odor of the condensed polycyclic hydrocarbon can be alleviated.

상기 포화 지방족 탄화수소로는 예를 들면, 헥산, 헵탄, 옥탄, 노난, 메틸옥탄, 데칸, 운데칸, 도데칸, 트리데칸 등의 직쇄상의 탄화수소, 탄소수 3 내지 15의 분기상의 탄화수소, p-멘탄, o-멘탄, m-멘탄, 디페닐멘탄, 1,4-테르핀, 1,8-테르핀, 보르난, 노르보난, 피난, 투잔, 카란, 롱기폴렌 등을 들 수 있다.Examples of the saturated aliphatic hydrocarbon include straight chain hydrocarbons such as hexane, heptane, octane, nonane, methyloctane, decane, undecane, dodecane and tridecane, branched hydrocarbons having 3 to 15 carbon atoms, , o-menthane, m-menthane, diphenylmethane, 1,4-terpine, 1,8-terpine, borane, norbornane, pyrazane, tozan, caran and longpolyene.

또한, 본 발명에 관한 접착제 조성물에 있어서의 용제의 함유량으로는 상기 접착제 조성물을 이용해 성막하는 접착층의 두께에 따라 적절히 조정하면 되지만, 예를 들면, 접착제 조성물의 전량을 100중량부로 했을 때, 20중량부 이상, 90중량부 이하의 범위인 것이 바람직하다. 용제의 함유량이 상기 범위 내이면, 점도 조정이 용이해진다.The content of the solvent in the adhesive composition according to the present invention may be appropriately adjusted depending on the thickness of the adhesive layer formed using the adhesive composition. For example, when the total amount of the adhesive composition is 100 parts by weight, And more preferably 90 parts by weight or less. When the content of the solvent is within the above range, the viscosity can be easily adjusted.

(열 중합 금지제)(Thermal polymerization inhibitor)

본 발명에 관한 접착제 조성물은 열 중합 금지제를 함유하고 있어도 된다. 열 중합 금지제는 열에 의한 라디칼 중합 반응을 방지하는 기능을 가진다. 구체적으로는 열 중합 금지제는 라디칼에 대해서 높은 반응성을 나타내기 때문에 모노머보다도 우선적으로 반응해 모노머의 중합을 금지한다. 그러한 열 중합 금지제를 포함하는 접착제 조성물은 고온 환경 하(특히, 250℃~350℃)에서 중합 반응이 억제된다.The adhesive composition according to the present invention may contain a thermal polymerization inhibitor. The thermal polymerization inhibitor has a function of preventing radical polymerization reaction by heat. Specifically, since the thermal polymerization inhibitor exhibits high reactivity to the radical, it reacts preferentially to the monomer to inhibit the polymerization of the monomer. The adhesive composition containing such a thermal polymerization inhibitor is inhibited from polymerization under a high temperature environment (particularly 250 ° C to 350 ° C).

예를 들면, 반도체 제조 공정에 있어서, 지지체가 접착된 웨이퍼를 250℃에서 1시간 가열하는 고온 프로세스를 포함하는 경우가 있다. 이때, 고온에 의해 접착제 조성물의 중합이 일어나면 고온 프로세스 후에 웨이퍼로부터 서포트 플레이트(지지판)를 박리하는 박리액에 대한 용해성이 저하되어 웨이퍼로부터 서포트 플레이트를 양호하게 박리할 수 없다. 그러나, 열 중합 금지제를 함유하고 있는 본 발명의 접착제 조성물에서는 열에 의한 산화 및 거기에 따르는 중합 반응이 억제되기 때문에, 고온 프로세스를 거쳤다고 해도 서포트 플레이트를 용이하게 박리할 수 있어 잔사의 발생을 억제할 수 있다.For example, in a semiconductor manufacturing process, there is a case that a high temperature process for heating a wafer to which a support is adhered at 250 DEG C for one hour is included. At this time, if the polymerization of the adhesive composition occurs at a high temperature, the solubility of the release plate for separating the support plate (support plate) from the wafer after the high temperature process deteriorates, and the support plate can not be satisfactorily peeled off from the wafer. However, in the adhesive composition of the present invention containing a thermal polymerization inhibitor, since the oxidation by heat and the polymerization reaction are suppressed, the support plate can be easily peeled off even after a high-temperature process, can do.

열 중합 금지제로는 열에 의한 라디칼 중합 반응을 방지하는데 유효하다면 특별히 한정되는 것은 아니지만, 페놀을 가지는 열 중합 금지제가 바람직하다. 이것에 의해, 대기 하에서의 고온 처리 후에도 양호한 용해성을 확보할 수 있다. 그러한 열 중합 금지제로는 힌더드 페놀계의 산화 방지제를 이용하는 것이 가능하고, 예를 들면, 피로가롤, 벤조퀴논, 히드로퀴논, 메틸렌블루, tert-부틸카테콜, 모노벤질에테르, 메틸히드로퀴논, 아밀퀴논, 아밀옥시히드로퀴논, n-부틸페놀, 페놀, 히드로퀴논 모노프로필에테르, 4,4'-(1-메틸에틸리덴) 비스(2-메틸페놀), 4,4'-(1-메틸에틸리덴) 비스(2,6-디메틸 페놀), 4,4'-[1-[4-(1-(4-히드록시페닐)-1-메틸에틸)페닐]에틸리덴]비스페놀, 4,4',4"-에틸리덴트리스(2-메틸페놀), 4,4',4"-에틸리덴트리스페놀, 1,1,3-트리스(2,5-디메틸-4-히드록시페닐)-3-페닐프로판, 2,6-디-tert-부틸-4-메틸페놀, 2,2'-메틸렌비스(4-메틸-6-tert-부틸페놀), 4,4'-부틸리덴비스(3-메틸-6-tert-부틸페놀), 4,4'-티오비스(3-메틸-6-tert-부틸페놀), 3,9-비스[2-(3-(3-tert-부틸-4-히드록시-5-메틸페닐)-프로피오닐옥시)-1,1-디메틸에틸]-2,4,8,10-테트라옥사스피로(5,5) 운데칸, 트리에틸렌글리콜-비스-3-(3-tert-부틸-4-히드록시-5-메틸페닐)프로피오네이트, n-옥틸-3-(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시페닐)프로피오네이트, 펜타에리스릴 테트라키스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시페닐)프로피오네이트](상품명 IRGANOX1010, 치바·재팬사제), 트리스(3,5-디-tert-부틸히드록시벤질)이소시아누레이트, 티오디에틸렌 비스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시페닐)프로피오네이트]를 들 수 있다. 열 중합 금지제는 1종만을 이용해도 되고, 2종 이상을 조합해 이용해도 된다.The thermal polymerization inhibitor is not particularly limited as long as it is effective in preventing radical polymerization by heat, but a thermal polymerization inhibitor having phenol is preferable. As a result, good solubility can be ensured even after the high temperature treatment in the atmosphere. As the thermal polymerization inhibitor, a hindered phenol-based antioxidant can be used. Examples of the heat-polymerization inhibitor include hindered phenol-based antioxidants such as pyrrole, benzoquinone, hydroquinone, methylene blue, tert- butylcatechol, monobenzyl ether, methylhydroquinone, , Amyl oxyhydroquinone, n-butyl phenol, phenol, hydroquinone monopropyl ether, 4,4'- (1-methylethylidene) bis (2-methylphenol), 4,4 ' ) Bis (2,6-dimethylphenol), 4,4 '- [1- [4- (1- (4- hydroxyphenyl) 4, 4 "-ethylenedendrisol phenol, 1,1,3-tris (2,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) -3 (4-methyl-6-tert-butylphenol), 4,4'-butylidenebis (3-tert-butylphenyl) (3-methyl-6-tert-butylphenol), 4,4'-thiobis -Hydroxy-5-methylphenyl) -propionyloxy) -1,1- Dimethylethyl] -2,4,8,10-tetraoxaspiro (5,5) undecane, triethylene glycol-bis-3- (3-tert- butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl) propionate (3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate, pentaerythrityl tetrakis [3- (3,5-di-tert-butylhydroxybenzyl) isocyanurate, thiodiethylenebis [3- (3,5-di -tert-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate]. The thermal polymerization inhibitor may be used alone or in combination of two or more.

열 중합 금지제의 함유량은 탄화수소 수지 또는 엘라스토머의 종류, 및 접착제 조성물의 용도 및 사용 환경에 따라 적절히 결정하면 되지만, 예를 들면, 탄화수소 수지 또는 엘라스토머의 양을 100중량부로 했을 때, 0.1중량부 이상, 10중량부 이하인 것이 바람직하다. 열 중합 금지제의 함유량이 상기 범위 내이면, 열에 의한 중합을 억제하는 효과가 양호하게 발휘되어 고온 프로세스 후에 있어서, 접착제 조성물의 박리액에 대한 용해성의 저하를 더욱 억제할 수 있다.The content of the thermal polymerization inhibitor may be appropriately determined according to the kind of the hydrocarbon resin or elastomer, the use of the adhesive composition, and the use environment. For example, when the amount of the hydrocarbon resin or elastomer is 100 parts by weight, , And 10 parts by weight or less. When the content of the thermal polymerization inhibitor is within the above range, the effect of inhibiting polymerization by heat is excellently exerted, and the deterioration of the solubility in the peeling liquid of the adhesive composition can be further suppressed after the high temperature process.

또, 본 발명에 관한 접착제 조성물은 열 중합 금지제를 용해하며, 탄화수소 수지 또는 엘라스토머를 용해하기 위한 용제와는 상이한 조성으로 이루어진 첨가 용제를 함유하는 구성이어도 된다. 첨가 용제로는 특별히 한정되지 않지만, 접착제 조성물에 포함되는 성분을 용해하는 유기용제를 이용할 수 있다.The adhesive composition according to the present invention may contain a heat polymerization inhibitor dissolved therein and an additive solvent having a different composition from the solvent for dissolving the hydrocarbon resin or elastomer. The additive is not particularly limited, but an organic solvent capable of dissolving the components contained in the adhesive composition can be used.

유기용제로는 예를 들면, 접착제 조성물의 각 성분을 용해해 균일한 용액으로 할 수 있으면 되고, 임의의 1종 또는 2종 이상을 조합해 이용할 수 있다.As the organic solvent, for example, the components of the adhesive composition may be dissolved to form a homogeneous solution, and any one kind or a combination of two or more kinds thereof may be used.

유기용제의 구체적인 예로는 예를 들면, 극성기로서 산소 원자, 카르보닐기 또는 아세톡시기 등을 가지는 테르펜 용제를 들 수 있으며, 예를 들면, 게라니올, 네롤, 리나롤, 시트랄, 시트로네롤, 멘톨, 이소멘톨, 네오멘톨, α-테르피네올, β-테르피네올, γ-테르피네올, 테르피넨-1-올, 테르피넨-4-올, 디히드로타피닐아세테이트, 1,4-시네올, 1,8-시네올, 보르네올, 카르본, 요논(ionone), 투존(thujone), 캠퍼를 들 수 있다. 또, γ-부티로락톤 등의 락톤류;아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥산온(CH), 메틸-n-펜틸케톤, 메틸이소펜틸케톤, 2-헵타논 등의 케톤류;에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜 등의 다가 알코올류;에틸렌글리콜 모노아세테이트, 디에틸렌글리콜 모노아세테이트, 프로필렌글리콜 모노아세테이트 또는 디프로필렌글리콜 모노아세테이트 등의 에스테르 결합을 가지는 화합물, 상기 다가 알코올류 또는 상기 에스테르 결합을 가지는 화합물의 모노메틸에테르, 모노에틸에테르, 모노프로필에테르, 모노부틸에테르 등의 모노알킬에테르 또는 모노페닐에테르 등의 에테르 결합을 가지는 화합물 등의 다가 알코올류의 유도체(이들 중에서는 프로필렌글리콜 모노메틸에테르 아세테이트(PGMEA), 프로필렌글리콜 모노메틸 에테르(PGME)가 바람직하다);디옥산과 같은 환식 에테르류나, 젖산 메틸, 젖산 에틸(EL), 아세트산 메틸, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 피르브산 메틸, 피르브산 에틸, 메톡시프로피온산 메틸, 에톡시프로피온산 에틸 등의 에스테르류;아니솔, 에틸벤질에테르, 크레질메틸에테르, 디페닐에테르, 디벤질에테르, 페네톨, 부틸페닐에테르 등의 방향족계 유기용제 등을 들 수 있다.Specific examples of the organic solvent include, for example, a terpene solvent having an oxygen atom, a carbonyl group or an acetoxy group as a polar group, and examples thereof include geraniol, nerol, linalol, citral, But are not limited to, menthol, isomenthol, neomenthol,? -Terpineol,? -Terpineol,? -Terpineol, terpinene-1-ol, terpinene-4-ol, dihydrotaphenylacetate, Cineol, 1,8-cineol, borneol, carbone, ionone, thujone, camphor. Also, lactones such as? -Butyrolactone; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone (CH 3), methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone and 2-heptanone; Polyhydric alcohols such as glycol, propylene glycol and dipropylene glycol; compounds having an ester bond such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate or dipropylene glycol monoacetate; A compound having an ether bond such as a monoalkyl ether of monoethyl ether, monoethyl ether, monopropyl ether, monobutyl ether, or monophenyl ether of a compound having a bond (among these, a derivative of a polyhydric alcohol such as propylene glycol mono Methyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME) A cyclic ether such as dioxane or an ester such as methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate and ethyl ethoxypropionate Aromatic organic solvents such as anisole, ethyl benzyl ether, cresyl methyl ether, diphenyl ether, dibenzyl ether, phenetole, butyl phenyl ether and the like.

첨가 용제의 함유량은 열 중합 금지제의 종류 등에 따라 적절히 결정하면 되지만, 예를 들면, 열 중합 금지제를 1중량부로 했을 때, 1중량부 이상, 50중량부 이하인 것이 바람직하고, 1~30중량부가 더욱 바람직하며, 1~15중량부가 가장 바람직하다. 열 중합 금지제의 함유량이 상기 범위 내이면, 열 중합 금지제를 충분히 용해할 수 있다.The content of the additive solvent may be appropriately determined depending on the kind of the thermal polymerization inhibitor and is preferably from 1 part by weight to 50 parts by weight based on 1 part by weight of the thermal polymerization inhibitor, More preferably 1 to 15 parts by weight. When the content of the thermal polymerization inhibitor is within the above range, the thermal polymerization inhibitor can be sufficiently dissolved.

(그 밖의 성분)(Other components)

본 발명에 관한 접착제 조성물에는 본 발명에 있어서의 본질적인 특성을 해치지 않는 범위에서 혼화성이 있는 다른 물질을 더 포함하고 있어도 된다. 예를 들면, 접착제의 성능을 개량하기 위한 부가적 수지, 가소제, 접착 보조제, 안정제, 착색제 및 계면활성제 등 관용되고 있는 각종 첨가제를 더 이용할 수 있다.The adhesive composition according to the present invention may further contain other miscible materials insofar as the essential characteristics of the present invention are not impaired. For example, various additives commonly used such as an additive resin for improving the performance of the adhesive, a plasticizer, an adhesion assisting agent, a stabilizer, a colorant, and a surfactant can be further used.

(접착제 조성물의 조제 방법)(Method of preparing adhesive composition)

교착 방지제의 함유량을 조정하기 전의, 접착제 조성물의 조제 방법은 특별히 한정되지 않고, 공지의 방법을 이용하면 되지만, 예를 들면, 탄화수소 수지 또는 엘라스토머를 용제에 용해시키고, 기존의 교반 장치를 이용하여 각 조성을 교반함으로써 접착제 조성물을 얻을 수 있다.The method for preparing the adhesive composition before adjusting the content of the antistatic agent is not particularly limited and a known method may be used. For example, a method in which a hydrocarbon resin or an elastomer is dissolved in a solvent, By stirring the composition, an adhesive composition can be obtained.

또, 접착제 조성물에 열 중합 금지제를 첨가하는 경우에는 열 중합 금지제를, 미리 열 중합 금지제를 용해시키기 위한 첨가 용제에 용해시킨 것을 첨가하는 것이 바람직하다.When a heat polymerization inhibitor is added to the adhesive composition, it is preferable to add a heat polymerization inhibitor dissolved in an additive solvent for dissolving the heat polymerization inhibitor in advance.

그리고, 이와 같이 조제한 접착제 조성물을, 후술하는 본 발명에 관한 접착제 조성물의 제조 방법에 있어서의 정제 공정에 제공하여 본 발명에 관한 접착제 조성물을 얻을 수 있다. 또한, 후술하는 본 발명에 관한 접착제 조성물의 제조 방법 이외의 방법이어도 교착 방지제를 제거할 수 있는 방법이면, 본 발명에 관한 접착제 조성물을 제조할 수 있다.The adhesive composition thus prepared can be subjected to a purification step in a method for producing an adhesive composition according to the present invention to be described later to obtain an adhesive composition according to the present invention. Further, even if the method other than the method for producing the adhesive composition according to the present invention described later is used, the adhesive composition according to the present invention can be produced as long as the method can remove the antireflection agent.

(교착 방지제)(Antistatic agent)

정제 공정에 있어서, 접착제 조성물로부터 제거되는 교착 방지제는 활제라고 칭하기도 하며, 접착제 조성물에 이용하는 수지(탄화수소 수지, 엘라스토머)를 펠릿상으로 성형할 경우에 상기 수지에 함유되는 것이다. 그 결과, 상기 수지를 이용해 접착제 조성물을 조제하면, 최종적으로 교착 방지제가 접착제 조성물에 함유되게 된다. 상업적으로 입수 가능한 수지는 펠릿상으로 공급되는 것이 많기 때문에, 많은 접착제 조성물에 교착 방지제가 포함되어 있다.In the refining step, the antiglare agent to be removed from the adhesive composition is also referred to as an activator, and is contained in the resin when the resin (hydrocarbon resin, elastomer) used in the adhesive composition is molded into pellets. As a result, when the adhesive composition is prepared using the resin, an antireflection agent is finally contained in the adhesive composition. Because many commercially available resins are supplied on pellets, many adhesive compositions contain antiglare agents.

교착 방지제의 예로서 예를 들면, 탈크(Mg3Si4O10(OH)2), 하이드로 탈크(Mg6Al2(CO3)(OH)16·4H2O, Mg6Fe2(CO3)(OH)16·4H2O, Mg6Mn2(CO3)(OH)16·4H2O) 등의 염 광물, 스테아르산 납, 스테아르산 아연, 스테아르산 칼슘, 스테아르산 마그네슘 등의 스테아르산염, 유동 파라핀, 파라핀 왁스 등의 파라핀류, 스테아르산, 스테아르산 아마이드, 올레산 아마이드, 메틸렌비스스테아르산 아마이드, 에틸렌비스스테아르산 아마이드, 에루스산 아마이드 등의 지방산 아마이드를 들 수 있다.As examples of the antiglare agent, G., Talc (Mg 3 Si 4 O 10 ( OH) 2), hydro talc (Mg 6 Al 2 (CO 3 ) (OH) 16 · 4H 2 O, Mg 6 Fe 2 (CO 3) (OH) 16 · 4H 2 O, Mg 6 Mn 2 (CO 3 ) (OH) 16 · 4H 2 O), lead stearate, zinc stearate, calcium stearate, stearates such as magnesium stearate, liquid paraffin, paraffin wax And fatty acid amides such as paraffins such as stearic acid, stearic acid amide, oleic acid amide, methylene bisstearic acid amide, ethylene bisstearic acid amide and erucic acid amide.

본 발명에 관한 접착제 조성물은 접착제 조성물 중에 포함되는 교착 방지제의 양이 저감하고 있다. 접착제 조성물 중에 포함되는 교착 방지제의 양은 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량에 의해 나타낼 수 있다. 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분으로는 예를 들면, 나트륨, 마그네슘, 알루미늄, 칼륨, 칼슘, 크롬, 망간, 철, 니켈, 구리, 납, 아연 등을 들 수 있다.The adhesive composition according to the present invention reduces the amount of the anticaking agent contained in the adhesive composition. The amount of the anti-static agent contained in the adhesive composition can be represented by the content of the metal component derived from the anti-static agent. Examples of the metal component derived from the antiglare agent include sodium, magnesium, aluminum, potassium, calcium, chromium, manganese, iron, nickel, copper, lead and zinc.

본 발명에 관한 접착제 조성물은 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량이 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 10ppb 이상, 2ppm 이하이다.The adhesive composition according to the present invention has a content of a metal component derived from an anti-static agent of 10 ppb or more and 2 ppm or less based on the total solid weight of the adhesive composition.

접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량이 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 2ppm 이하이면, 이 접착제 조성물을 이용해 웨이퍼와 지지체를 접착하고, 용해시켜 세정한 후에도 웨이퍼 상에 잔사가 발생하지 않기 때문에 바람직하다. 또한, 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량의 하한치는 「0」인 것이 바람직하기는 하지만, 실질적으로는 금속 성분의 검출 한계치(일반적으로 10ppb)로 하면 된다. 따라서, 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량의 하한치는 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 10ppb이다.If the content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition is 2 ppm or less based on the total solid weight of the adhesive composition, residues are generated on the wafer even after the wafer and the support are bonded and dissolved using this adhesive composition and washed It is preferable. Although the lower limit value of the content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition is preferably " 0 ", the detection limit value of the metal component (generally 10 ppb) may be used. Therefore, the lower limit of the content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition is 10 ppb with respect to the total solid weight of the adhesive composition.

접착제 조성물 중에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량은 예를 들면, ICP-MS(유전 결합 플라스마 질량 분석법)에 의한 접착제 조성물 중의 금속 성분의 정량화에 의해 구할 수 있다. 구체적으로는 접착제 조성물을 포함하는 용액에 있어서, 상기 방법에 의해 그 금속 함유량을 측정한 측정 결과를 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대한 값으로 환산해, 접착제 조성물 중에 있어서의 함유 농도로 하여 접착제 조성물 중의 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량을 산출할 수 있다.The content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition can be determined by quantifying the metal component in the adhesive composition by, for example, ICP-MS (Dielectric Bonded Plasma Mass Spectrometry). Specifically, in the solution containing the adhesive composition, the measurement result of the metal content measured by the above method is converted into the value based on the total solid weight of the adhesive composition, and the concentration of the metal component in the adhesive composition The content of the metal component derived from the antiglare agent can be calculated.

또한, 본 발명에 관한 접착제 조성물은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분 가운데, 가장 많이 포함되는 금속 성분의 함유량이 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 10ppb 이상, 2ppm 이하가 되면 된다.In the adhesive composition according to the present invention, the content of the metal component most contained in the metal component derived from the antistatic agent contained in the adhesive composition may be 10 ppb or more and 2 ppm or less with respect to the total solid weight of the adhesive composition.

(접착제 조성물의 용도)(Use of Adhesive Composition)

본 발명에 관한 접착제 조성물은 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위해서 이용된다.The adhesive composition according to the present invention is used for bonding a wafer and a support of the wafer.

지지체는 예를 들면, 웨이퍼를 박화하는 공정에서 웨이퍼를 지지하는 역할을 완수하여 본 발명에 관한 접착제 조성물에 의해 웨이퍼에 접착된다. 일 실시 형태에 있어서, 지지체는 예를 들면, 그 막 두께가 500~1000㎛인 유리 또는 실리콘으로 형성되어 있다.The support is bonded to the wafer by the adhesive composition according to the present invention, for example, by fulfilling the role of supporting the wafer in the step of thinning the wafer. In one embodiment, the support is formed of, for example, glass or silicon having a thickness of 500 to 1000 占 퐉.

또한, 일 실시 형태에 있어서, 지지체에는 상기 지지체를 두께 방향으로 관통하는 구멍이 마련되어 있다. 이 구멍을 통하여 접착제 조성물을 용해하는 용제를 지지체와 웨이퍼의 사이에 흘려 넣음으로써 지지체와 기판을 용이하게 분리할 수 있다.In one embodiment, the support body is provided with a hole penetrating the support body in the thickness direction. And the support and the substrate can be easily separated from each other by pouring a solvent which dissolves the adhesive composition through the hole between the support and the wafer.

또, 다른 실시 형태에 있어서, 지지체와 웨이퍼의 사이에는 접착층 외에 반응층이 개재하고 있어도 된다. 반응층은 지지체를 통하여 조사되는 빛을 흡수함으로써 변질되게 되어 있어 반응층에 빛 등을 조사해 반응층을 변질시킴으로써 지지체와 웨이퍼를 용이하게 분리할 수 있다. 이 경우, 지지체는 두께 방향으로 관통하는 구멍이 마련되어 있지 않은 지지체를 이용하는 것이 바람직하다.In another embodiment, a reaction layer may be interposed between the support and the wafer in addition to the adhesive layer. The reaction layer is altered by absorbing the light emitted through the support, and the support and the wafer can be easily separated from each other by modifying the reaction layer by irradiating the reaction layer with light or the like. In this case, it is preferable to use a support having no hole penetrating in the thickness direction.

반응층에 조사하는 빛으로는 반응층이 흡수 가능한 파장에 따라서, 예를 들면, YAG 레이저, 리비 레이저, 글라스 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저광 또는 비레이저광을 적절히 이용하면 된다. 반응층에 흡수되어야 할 빛의 파장으로는 이것으로 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 600nm 이하의 파장의 빛일 수 있다.The light to be irradiated to the reaction layer may be a solid laser such as a YAG laser, a laser beam, a glass laser, a YVO 4 laser, an LD laser or a fiber laser, a liquid laser such as a dye laser , Gas lasers such as CO 2 lasers, excimer lasers, Ar lasers, and He-Ne lasers, laser lasers such as semiconductor lasers, free electron lasers, or non-laser lasers. The wavelength of the light to be absorbed into the reaction layer is not limited to this, but may be, for example, a light having a wavelength of 600 nm or less.

반응층은 예를 들면, 빛 등에 의해 분해되는 광 흡수제를 포함하고 있어도 된다. 광 흡수제로는 예를 들면, 그래파이트분, 철, 알루미늄, 구리, 니켈, 코발트, 망간, 크롬, 아연, 테룰 등의 미립자 금속 분말, 흑색 산화 티탄 등의 금속 산화물 분말, 카본 블랙, 또는 방향족 디아미노계 금속 착체, 지방족 디아민계 금속 착체, 방향족 디티올계 금속 착체, 메르캅토 페놀계 금속 착체, 스쿠알리움계 화합물, 시아닌계 색소, 메틴계 색소, 나프토퀴논계 색소, 안트라퀴논계 색소 등의 염료 혹은 안료를 이용할 수 있다. 이와 같은 반응층은 예를 들면, 바인더 수지와 혼합하여 지지체 상에 도포함으로써 형성할 수 있다. 또, 광 흡수기를 가지는 수지를 이용할 수도 있다.The reaction layer may contain, for example, a light absorbent decomposed by light or the like. Examples of the light absorbing agent include graphite powder, fine metal powder such as iron, aluminum, copper, nickel, cobalt, manganese, chrome, zinc and terlue, metal oxide powder such as black titanium oxide, carbon black, A dyestuff or pigment such as a metal complex, an aliphatic diamine metal complex, an aromatic dithiol metal complex, a mercapto phenol metal complex, a squalinium compound, a cyanine dye, a methine dye, a naphthoquinone dye or an anthraquinone dye Can be used. Such a reaction layer can be formed, for example, by mixing with a binder resin and coating on a support. It is also possible to use a resin having a light absorber.

또, 반응층으로서 플라스마 CVD법에 의해 형성한 무기막 또는 유기막을 이용해도 된다. 무기막으로는 예를 들면, 금속막을 이용할 수 있다. 또, 유기막으로는 플루오로 카본막을 이용할 수 있다. 이와 같은 반응막은 예를 들면, 지지체 상에 플라스마 CVD법에 의해 형성할 수 있다.As the reaction layer, an inorganic film or an organic film formed by the plasma CVD method may be used. As the inorganic film, for example, a metal film can be used. As the organic film, a fluorocarbon film can be used. Such a reaction film can be formed, for example, on a support by a plasma CVD method.

본 발명에 관한 접착제 조성물은 지지체와 접착한 후에 박화 공정에 제공되는 웨이퍼와 지지체의 접착에 매우 적합하게 이용된다. 상술한 바와 같이, 이 지지체는 웨이퍼를 박화할 때에 웨이퍼의 강도를 유지한다. 본 발명에 관한 접착제 조성물은 이와 같은 웨이퍼와 지지체의 접착에 매우 적합하게 이용된다.The adhesive composition according to the present invention is suitably used for adhesion between a wafer and a support provided in a thinning process after bonding with a support. As described above, this support maintains the strength of the wafer when the wafer is thinned. The adhesive composition according to the present invention is suitably used for adhesion between such a wafer and a support.

또, 본 발명에 관한 접착제 조성물은 지지체와 접착한 후에 전극 형성 공정에 제공되는 웨이퍼와 지지체의 접착에 매우 적합하게 이용된다.In addition, the adhesive composition according to the present invention is suitably used for adhesion between a wafer and a support provided in an electrode forming step after bonding with a support.

접착제 조성물에 교착 방지제가 포함되어 있으면, 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분이 웨이퍼 상에 잔존해 버려, 전극이 형성된 웨이퍼의 전기 특성에 악영향을 미친다. 한편, 본 발명에 관한 접착제 조성물은 교착 방지제가 제거되어 있으므로, 웨이퍼와 지지체를 접착하고, 용해시켜 세정한 후에 웨이퍼 상에 잔사가 생기지 않는다. 그러므로, 본 발명에 관한 접착제 조성물을 웨이퍼와 지지체의 접착에 이용하면, 전극 등의 전기 소자가 마련된 웨이퍼의 전기 특성, 특히 접속 특성이 양호하다.If the adhesive composition contains an antistatic agent, the metal component derived from the antiglare agent remains on the wafer, which adversely affects the electrical characteristics of the wafer on which the electrode is formed. On the other hand, the adhesive composition according to the present invention does not cause residues on the wafer after bonding and dissolution of the wafer and the support are washed, since the antireflection agent is removed. Therefore, when the adhesive composition according to the present invention is used for bonding a wafer and a support, electrical characteristics, particularly connection properties, of a wafer provided with an electric element such as an electrode are good.

본 발명에 관한 접착제 조성물에 의하면, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해해 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지할 수 있다.According to the adhesive composition of the present invention, it is possible to prevent the residue from being formed on the wafer when it is dissolved in a solvent and washed after it is used for bonding the wafer and the support of the wafer.

(접착제 조성물에 의해 형성된 접착제층의 제거)(Removal of the adhesive layer formed by the adhesive composition)

본 발명에 관한 접착제 조성물에 의해 접착된 웨이퍼와 지지체를 상기의 반응층을 변질시키는 것 등에 의해 분리한 후에 접착제층을 제거하는 경우, 접착제 조성물을 용해하는 용제를 이용하면 용이하게 용해시켜 제거할 수 있다. 또, 상기의 반응층 등을 이용하지 않고, 웨이퍼와 지지체를 접착한 상태에서 접착제층에 직접 용제를 공급함으로써, 용이하게 접착제층이 용해되어 상기 접착제층이 제거되어 웨이퍼와 지지체를 분리할 수 있다. 이 경우, 접착제층에 대한 용제의 공급 효율을 높이기 위해 지지체에는 관통한 구멍이 마련되어 있는 것이 보다 바람직하다.In the case of removing the adhesive layer after separating the wafer and the support adhered by the adhesive composition according to the present invention by altering the reaction layer or the like, it is possible to easily dissolve and remove the adhesive layer by using a solvent dissolving the adhesive composition have. Further, by supplying the solvent directly to the adhesive layer in a state in which the wafer and the support are adhered without using the reaction layer and the like, the adhesive layer can be easily dissolved and the adhesive layer can be easily removed to separate the wafer and the support . In this case, it is more preferable that a hole penetrating the support body is provided in order to increase the supply efficiency of the solvent to the adhesive layer.

[접착제 조성물의 제조 방법][Method of producing adhesive composition]

본 발명에 관한 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하는 정제 공정을 포함하고 있다. 또, 본 발명에 관한 접착제 조성물의 제조 방법은 상기 정제 공정에서 상기 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량을 상기 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 2ppm 이하로 하는 것이 바람직하다. 또한, 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량의 하한치는 「0」인 것이 바람직하기는 하지만, 실질적으로는 금속 성분의 검출 한계치(일반적으로 10ppb)로 하면 된다.The method for producing an adhesive composition for adhering a wafer according to the present invention to a support of the wafer includes a purification step for removing an anticaking agent contained in the adhesive composition. In the method for producing an adhesive composition according to the present invention, it is preferable that the content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition in the purification step is 2 ppm or less with respect to the total solid weight of the adhesive composition. Although the lower limit value of the content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition is preferably " 0 ", the detection limit value of the metal component (generally 10 ppb) may be used.

(정제 공정)(Purification process)

정제 공정에 있어서, 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하는 방법으로는 구체적으로는 (1) 접착제 조성물을 여과해 교착 방지제를 제거하는 방법을 들 수 있다.As a method for removing the antiglare agent contained in the adhesive composition in the purification process, specifically, (1) a method of filtering the adhesive composition to remove the antiglare agent may be mentioned.

접착제 조성물을 여과해 교착 방지제를 제거하는 방법에 있어서는 우선, 접착제 조성물을 구멍 지름 0.01~10㎛의 필터를 통과시켜(바람직하게는 0.1~10㎛), 교착 방지제를 용액으로부터 제거한다. 필터의 구멍 지름은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제의 종류에 따라 적절히 선택할 수 있다. 즉, 필터는 상기 교착 방지제를 여과하는 것이 가능한 구멍 지름이면 된다.In the method of filtering an adhesive composition to remove an antiglare agent, the adhesive composition is first passed through a filter having a pore diameter of 0.01 to 10 μm (preferably 0.1 to 10 μm) to remove the anticaking agent from the solution. The hole diameter of the filter can be appropriately selected depending on the kind of the antiglare agent contained in the adhesive composition. That is, the filter may have a hole diameter capable of filtering the anti-cracking agent.

필터의 재질은 예를 들면, 폴리프로필렌, 나일론(폴리아미드), 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE) 등을 들 수 있다. 구멍 지름은 0.01~10㎛, 바람직하게는 0.1~10㎛로부터 적절히 선택하면 된다.Examples of the material of the filter include polypropylene, nylon (polyamide), polytetrafluoroethylene (PTFE), and the like. The diameter of the hole may be appropriately selected from 0.01 to 10 탆, preferably 0.1 to 10 탆.

또한, 상기 정제 공정 (1)의 전처리 공정 (2)으로서, 접착제 조성물에 사용되는 수지를 용제에 용해시킨 수지 용액을, 상기 수지 용액에 대해서 빈용매가 되는 예를 들면 물, 알코올 중에 적하하여 수지를 재침전(석출)시켜도 된다. 이와 같은 알코올은 탄소수 1~4의 알코올인 것이 바람직하고, 예를 들면, 메탄올, 에탄올, 1-프로판올, 2-프로판올, 1-부탄올, 2-부탄올 등을 들 수 있다. 수지를 용해시키는 용제로는 상술한 p-멘탄 등의 테르펜계 용제, 상술한 시클로헥산, 데카히드로 나프탈린 등의 석유계 용제를 들 수 있다. 그리고 침전된 수지를 상기 교착 방지제가 분산된 용액으로부터 취출(取出)함으로써 수지로부터 교착 방지제를 제거한다. 이와 같이 교착 방지제가 제거된 수지를 이용해 접착제 조성물을 조제한다. 그리고, 상기 정제 공정 (1)에 의해 접착제 조성물을 더욱 정제함으로써, 교착 방지제가 제거된 접착제 조성물을 제조할 수 있다.In the pretreatment step (2) of the purification step (1), a resin solution in which a resin used in an adhesive composition is dissolved in a solvent is dropped into water or alcohol which is a poor solvent for the resin solution, May be reprecipitated (precipitated). Such alcohols are preferably alcohols having 1 to 4 carbon atoms, and examples thereof include methanol, ethanol, 1-propanol, 2-propanol, 1-butanol and 2-butanol. Examples of the solvent for dissolving the resin include terpene solvents such as the above-mentioned p-menthane, petroleum solvents such as cyclohexane and decahydronaphthalene described above. Then, the precipitated resin is removed from the solution in which the anti-crossing agent is dispersed to remove the anti-cracking agent from the resin. Thus, an adhesive composition is prepared using a resin from which an anti-cracking agent has been removed. Further, by further purifying the adhesive composition by the purification step (1), the adhesive composition from which the anti-cracking agent has been removed can be produced.

용액 중에 침전된 수지는 여과, 상등(上澄) 제거(디캔테이션), 원심 분리, 수지의 재침전 등의 방법에 의해 용액으로부터 취출할 수 있다.The resin precipitated in the solution can be removed from the solution by a method such as filtration, supernatant removal (decantation), centrifugation, or reprecipitation of the resin.

또, 상기 정제 공정 (1)의 전처리 공정 (2)로서, 펠릿상의 수지를 세정해 교착 방지제를 제거할 수도 있다. 우선, 펠릿상의 수지를 물, 알코올(바람직하게는 탄소수 1~4의 알코올) 등의 빈용매 중에서 교반하면서 세정해 펠릿상의 수지의 표면에 부착하고 있는 교착 방지제를 탈리시킨다. 그리고, 펠릿이 분산된 용액을, 예를 들면 구멍 지름 10~200㎛와 같은 눈이 엉성한 메쉬 필터에 의해 여과해 수지로부터 탈리한 교착 방지제를 제거한다. 이와 같이 교착 방지제가 제거된 수지를 이용해 접착제 조성물을 조제한다. 그리고, 상기 정제 공정 (1)에 의해 접착제 조성물을 더욱 정제함으로써, 교착 방지제가 제거된 접착제 조성물을 제조할 수 있다.As the pretreatment step (2) of the purification step (1), the pellet-shaped resin may be washed to remove the antiglare agent. First, the pellet-shaped resin is washed with stirring in a poor solvent such as water or an alcohol (preferably an alcohol having 1 to 4 carbon atoms) or the like to remove the antiglare agent adhering to the surface of the pellet-shaped resin. Then, the solution in which the pellets are dispersed is filtered by a mesh filter having a coarse mesh such as a pore diameter of 10 to 200 mu m to remove the antiglare agent desorbed from the resin. Thus, an adhesive composition is prepared using a resin from which an anti-cracking agent has been removed. Further, by further purifying the adhesive composition by the purification step (1), the adhesive composition from which the anti-cracking agent has been removed can be produced.

또, 상술한 물, 알코올 등에 의한 세정과 동일하게, 펠릿상의 수지를 불산 등의 산에 침지해 교착 방지제를 용해 제거하는 산에 의한 세정 제거 방법에 의해 교착 방지제를 용해 제거해도 된다.In the same manner as in the above-described cleaning with water or alcohol, the pellet-shaped resin may be immersed in an acid such as hydrofluoric acid to dissolve and remove the antireflection agent by a method of cleaning with an acid to dissolve and remove the antireflection agent.

또, 풍력 선별기(제트 세퍼레이터)를 사용하여 비교적 가벼운 교착 방지제를 풍력에 의해 집진시키고, 비교적 무거운 펠릿만을 회수함으로써, 수지로부터 교착 방지제를 제거해도 된다.Alternatively, the antistatic agent may be removed from the resin by collecting a relatively lightweight antistatic agent by a wind force using a wind separator (jet separator) and recovering only relatively heavy pellets.

또, 상기 정제 공정 (1)의 전처리 공정 (2)으로서, 수지를 용액 중에 침지시킨 상태에서 초음파 세정함으로써 교착 방지제를 제거할 수도 있다. 수지를 침지시키는 용액으로는 빈용매를 들 수 있다. 빈용매로는 예를 들면, 글리콜에테르류인 프로필렌글리콜 모노메틸에테르 아세테이트, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르, 탄소수 1~5의 저급 알코올인 메탄올, 에탄올, 프로판올 등을 들 수 있다. 이들 빈용매를 이용함으로써, 수지 자체는 실질적으로 용해하지 않기는 하지만, 수지를 팽윤시킴으로써 교착 방지제를 제거하는 것이 가능해진다. 또한, 수지를 용액에 침지시키는 온도로는 20도 이상, 50도 이하인 것이 바람직하다. 초음파 세정하는 시간으로는 5분 이상, 60분 이하인 것이 바람직하다. 이와 같이 교착 방지제가 제거된 수지를 이용해 접착제 조성물을 조제한다. 그리고, 상기 정제 공정 (1)에 의해 접착제 조성물을 더욱 정제함으로써, 교착 방지제가 제거된 접착제 조성물을 제조할 수 있다.As the pretreatment step (2) of the purification step (1), the antireflection agent may be removed by ultrasonically cleaning the resin immersed in the solution. The solution for immersing the resin is a poor solvent. Examples of the poor solvent include propylene glycol monomethyl ether acetate as a glycol ether, propylene glycol monomethyl ether, methanol as a lower alcohol having 1 to 5 carbon atoms, ethanol, propanol, and the like. By using these poor solvents, it is possible to remove the anti-cracking agent by swelling the resin, although the resin itself does not substantially dissolve. The temperature at which the resin is dipped in the solution is preferably not less than 20 degrees and not more than 50 degrees. The ultrasonic cleaning time is preferably 5 minutes or more and 60 minutes or less. Thus, an adhesive composition is prepared using a resin from which an anti-cracking agent has been removed. Further, by further purifying the adhesive composition by the purification step (1), the adhesive composition from which the anti-cracking agent has been removed can be produced.

수지를 용액 중에 침지시킨 상태에서 초음파 세정할 때에는 공지의 초음파 세정기를 사용하면 된다.When the resin is immersed in a solution and ultrasonically cleaned, a known ultrasonic cleaner may be used.

상술한 바와 같은 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하는 방법은 각각 단독으로 실시해도 되고, 복수의 방법을 조합해 실시해도 된다. 즉, 교착 방지제를 침전시켜 제거하는 방법에 의해 수지에 포함되는 교착 방지제를 제거한 접착제 조성물을, 추가로 여과해 교착 방지제를 제거하는 방법에 제공해도 된다.The method for removing the antiglare agent contained in the adhesive composition as described above may be performed individually or in combination of a plurality of methods. That is, the adhesive composition in which the antireflection agent contained in the resin is removed by the method of precipitating and removing the antireflection agent may be further subjected to filtration to provide a method for removing the antireflection agent.

상술한 수지를 재침전(석출)시켰을 경우나, 수지를 세정했을 경우에는 눈이 엉성한 메쉬 필터에 의해 여과한 후, p-멘탄 등의 테르펜계 용제, 시클로헥산, 데카히드로 나프탈린 등의 석유계 용제에 용해시킴으로써 수지를 회수해도 된다. 접착제 조성물을 여과해 교착 방지제를 제거했을 경우에는 여과해 얻어진 용액을 접착제 조성물로 한다.When the above-mentioned resin is reprecipitated (or precipitated) or when the resin is cleaned, the resin is filtered by a mesh filter having a uniform shape of snow. Then, a terpene solvent such as p-menthane, a petroleum solvent such as cyclohexane and decahydronaphthalene The resin may be recovered by dissolving in a solvent. When the adhesive composition is filtered to remove the anti-cracking agent, the solution obtained by filtration is used as an adhesive composition.

본 발명에 관한 접착제 조성물의 제조 방법에 의하면, 정제 공정에 의해 접착제 조성물에 포함되는 교착 방지제를 제거하므로, 웨이퍼와 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해해 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지한 접착제 조성물을 제조할 수 있다. 또, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체의 접착에 사용한 후, 용제로 용해해 세정했을 때의 웨이퍼 상에서의 잔사의 발생을 방지한 접착제 조성물을 제공할 수 있다.According to the method for producing an adhesive composition according to the present invention, since the antiglare agent contained in the adhesive composition is removed by the purification step, it is possible to remove the residue on the wafer when it is used for adhesion between the wafer and the support, Can be produced. In addition, it is possible to provide an adhesive composition which is used for adhesion between a wafer and a support of the wafer, and which prevents the occurrence of residues on the wafer when it is dissolved and cleaned with a solvent.

또한, 본 발명에 관한 접착제 조성물의 제조 방법에 의해, 교착 방지제가 제거되는 대상이 되는 접착제 조성물, 및 본 발명에 관한 접착제 조성물을 이용해 웨이퍼와 지지체를 접착하는 적층체의 제조 방법, 상기 적층체의 웨이퍼에 전극을 형성하는 전극 형성 방법, 상기 적층체의 웨이퍼로부터 지지체를 박리하는 박리 방법, 지지체를 박리한 웨이퍼를 세정하는 세정 방법도 본 발명의 범주이다.Further, a method for producing a laminated body in which a wafer and a support are adhered to each other by using an adhesive composition to be an object from which an anti-static agent is to be removed by the method for producing an adhesive composition according to the present invention and an adhesive composition according to the present invention, A method of forming an electrode for forming an electrode on a wafer, a peeling method for peeling a support from a wafer of the above laminate, and a cleaning method for cleaning a wafer on which a support is peeled are also a category of the present invention.

[접착 필름][Adhesive film]

본 발명에 관한 접착제 조성물은 용도에 따라 여러 가지 이용 형태를 채용할 수 있다. 예를 들면, 액상인 채, 반도체 웨이퍼 등의 피가공체 상에 도포해 접착제층을 형성하는 방법을 이용해도 되고, 본 발명에 관한 접착 필름, 즉 미리 가요성 필름 등의 필름 상에 상기 어느 하나의 접착제 조성물을 포함하는 접착제층을 형성한 후, 건조시켜 두고, 이 필름(접착 필름)을 피가공체에 첩부하여 사용하는 방법(접착 필름법)을 이용해도 된다.The adhesive composition according to the present invention may be used in various forms depending on the application. For example, it is possible to use a method in which the adhesive layer is formed on a workpiece such as a semiconductor wafer while being in a liquid state, or the adhesive layer according to the present invention, that is, (Adhesive film method) in which the adhesive layer containing the adhesive composition of the present invention is formed and dried, and the film (adhesive film) is affixed to the workpiece for use.

이와 같이 본 발명에 관한 접착 필름은 필름 상에 상기 어느 하나의 접착제 조성물을 함유하는 접착제층을 구비한다.As described above, the adhesive film of the present invention has an adhesive layer containing any one of the above adhesive compositions on a film.

접착 필름은 접착제층에 보호 필름을 더 피복해 이용해도 된다. 이 경우에는 접착제층 상의 보호 필름을 박리해 피가공체 상에 노출된 접착제층을 포갠 후, 접착제층으로부터 상기 필름을 박리함으로써 피가공체 상에 접착제층을 용이하게 마련할 수 있다.The adhesive film may be used by further coating a protective film on the adhesive layer. In this case, the protective film on the adhesive layer is peeled off, the adhesive layer exposed on the workpiece is covered, and the film is peeled off from the adhesive layer, whereby the adhesive layer can be easily provided on the workpiece.

따라서, 이 접착 필름을 이용하면, 피가공체 상에 직접 접착제 조성물을 도포해 접착제층을 형성하는 경우와 비교하여, 막 두께 균일성 및 표면 평활성이 양호한 접착제층을 형성할 수 있다.Therefore, by using this adhesive film, an adhesive layer having good film thickness uniformity and surface smoothness can be formed as compared with the case where an adhesive composition is applied directly on a workpiece to form an adhesive layer.

접착 필름의 제조에 사용되는 상기 필름으로는 필름 상에 제막된 접착제층을 상기 필름으로부터 박리할 수 있어 접착제층을 보호 기판이나 웨이퍼 등의 피처리면 전사할 수 있는 이형 필름이면 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 막 두께 15~125㎛의 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리카보네이트 및 폴리염화비닐 등의 합성 수지 필름으로 이루어진 가요성 필름을 들 수 있다. 상기 필름에는 필요에 따라서 전사가 용이해지도록 이형 처리가 실시되어 있는 것이 바람직하다.The above-mentioned film used in the production of the adhesive film is not limited as long as the adhesive layer formed on the film can be peeled off from the film and the release layer can be transferred onto a protective substrate or a wafer. For example, a flexible film made of a synthetic resin film such as polyethylene terephthalate, polyethylene, polypropylene, polycarbonate, and polyvinyl chloride having a thickness of 15 to 125 탆 can be used. It is preferable that the film is subjected to a release treatment so as to facilitate the transfer if necessary.

상기 필름 상에 접착제층을 형성하는 방법으로는 원하는 접착제층의 막 두께나 균일성에 따라서 적절히 공지의 방법을 이용하여, 필름 상에 접착제층의 건조 막 두께가 10~1000㎛가 되도록 본 발명에 관한 접착제 조성물을 도포하는 방법을 들 수 있다.As a method of forming the adhesive layer on the film, a known method such as a method of applying a film thickness of 10 to 1000 mu m to the adhesive layer on the film is carried out according to the thickness and uniformity of the desired adhesive layer And a method of applying an adhesive composition.

또, 보호 필름을 이용하는 경우, 보호 필름으로는 접착제층으로부터 박리할 수 있는 한 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름, 폴리프로필렌 필름 및 폴리에틸렌 필름이 바람직하다. 또, 각 보호 필름은 실리콘을 코팅 또는 소부(燒付)되어 있는 것이 바람직하다. 접착제층으로부터의 박리가 용이해지기 때문이다. 보호 필름의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 15~125㎛가 바람직하다. 보호 필름을 구비한 접착 필름의 유연성을 확보할 수 있기 때문이다.When a protective film is used, the protective film is not limited as long as it can be peeled off from the adhesive layer. For example, a polyethylene terephthalate film, a polypropylene film and a polyethylene film are preferable. It is preferable that each protective film is coated with silicon or baked. This is because peeling from the adhesive layer is facilitated. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is preferably 15 to 125 占 퐉. This is because the flexibility of the adhesive film having the protective film can be secured.

접착 필름의 사용 방법은 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 보호 필름을 이용했을 경우에는 이것을 박리한 다음, 피가공체 위에 노출된 접착제층을 포개고 필름 상(접착제층이 형성된 면의 이면)으로부터 가열 롤러를 이동시킴으로써 접착제층을 피가공체의 표면에 열 압착시키는 방법을 들 수 있다. 이때, 접착 필름으로부터 박리된 보호 필름은 차례차례 권취 롤러 등의 롤러로 롤상으로 권취하면 보존해 재이용하는 것이 가능하다.The method of using the adhesive film is not particularly limited. For example, when a protective film is used, the adhesive film is peeled off. Then, the adhesive layer exposed on the object to be processed is overlaid and the film is peeled from the back surface And a method in which the adhesive layer is thermally pressed on the surface of the workpiece by moving the heating roller. At this time, the protective film peeled off from the adhesive film can be stored and reused after being rolled up in roll form by a roller such as a winding roller in turn.

실시예Example

[접착제 조성물의 조제][Preparation of adhesive composition]

실시예 1~10 및 비교예 1~4에서 사용한 수지(탄화수소 수지 또는 엘라스토머), 중합 금지제, 주 용제, 첨가 용제를 이하의 표 1 및 2에 나타낸다. 또한, 표 2 중의 「부」는 모두 중량부이다.The resins (hydrocarbon resin or elastomer) used in Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 4, the polymerization inhibitor, the main solvent and the additives are shown in Tables 1 and 2 below. In Table 2, "parts" are all parts by weight.

탄화수소 수지로는 폴리플라스틱스사제의 「TOPAS(상품명) 8007X10, Mw=95,000, Mw/Mn=1.9, m:n=35:65(몰비)」(이하, COC A라고 칭함), 및 미츠이 화학사제의 「APEL(상품명) 8008T COC, Mw=100,000, Mw/Mn=2.1, m:n=80:20(몰비)」(이하, COC 1이라고 칭함)을 이용했다.Mw = 95,000, Mw / Mn = 1.9, m: n = 35: 65 (molar ratio) " (hereinafter referred to as COC A) manufactured by Mitsui Chemicals, Inc. and TOPAS (trade name) 8007X10 manufactured by Polyplastics Co., Mw = 100,000, Mw / Mn = 2.1, m: n = 80: 20 (molar ratio) "(hereinafter referred to as COC1) was used as the APEL (trade name) 8008T COC.

엘라스토머로는 쿠라레사제의 셉톤(상품명)인 HG252(SEEPS-OH:폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록-폴리스티렌 말단 수산기 변성), HG253, 및 Septon8007(SEBS:폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록-폴리스티렌), 및 아사히화성사제의 터프텍(상품명)인 H1051(SEBS, 수첨 스티렌계 열가소성 엘라스토머) 및 H1053(SEBS, 수첨 스티렌계 열가소성 엘라스토머)를 이용했다. 또한, 본 실시예에서의 「수첨」이란, 스티렌과 부타디엔의 블록 코폴리머의 이중 결합을 수소 첨가한 폴리머이다.As the elastomer, HG252 (SEEPS-OH: polystyrene-poly (ethylene-ethylene / propylene) block-polystyrene terminal hydroxyl group denaturation), HG253 and Septon 8007 (SEBS: polystyrene- H1051 (SEBS, hydrogenated styrenic thermoplastic elastomer) and H1053 (SEBS, hydrogenated styrenic thermoplastic elastomer), which are available from Asahi Chemical Industry Co., Ltd., were used. In the present embodiment, "hydrogenation" means a polymer obtained by hydrogenating a double bond of a block copolymer of styrene and butadiene.

사용한 엘라스토머 중의 스티렌 함유량 및 엘라스토머의 중량 평균 분자량을 이하의 표 1에 나타낸다.The styrene content in the used elastomer and the weight average molecular weight of the elastomer are shown in Table 1 below.

Figure 112013015248491-pat00001
Figure 112013015248491-pat00001

또, 열 중합 금지제로는 BASF사제의 「IRGANOX(상품명) 1010」을 이용했다. 또, 주 용제로는 하기 화학식 (I)로 나타내는 데카히드로 나프탈린을 이용했다. 또, 첨가 용제로서 아세트산 부틸을 이용했다.As the thermal polymerization inhibitor, "IRGANOX (trade name) 1010" manufactured by BASF was used. As the main solvent, decahydronaphthalene represented by the following formula (I) was used. In addition, butyl acetate was used as an addition solvent.

Figure 112013015248491-pat00002
Figure 112013015248491-pat00002

실시예 1의 접착제 조성물의 조제는 다음과 같이 실시했다. 우선, 표 2에 나타내는 수지 100중량부를 주 용제 255중량부에 용해시켰다. 다음에 열 중합 금지제가 들어간 아세트산 부틸 용액을 엘라스토머 100중량부에 대해서 열 중합 금지제가 1중량부, 아세트산 부틸이 45중량부가 되도록 가했다. 이와 같이 하여 얻은 접착제 조성물을 구멍 지름 1㎛의 PTFE 필터(PALL사제)를 이용해 여과했다. 얻어진 접착제 조성물 중의 교착 방지제로부터 유래하는 금속 성분의 함유량(메탈 함유량)을 ICP-MS(아지렌트 테크놀로지 주식회사제, 제품명:7500cs)에 의해 측정했다.The preparation of the adhesive composition of Example 1 was carried out as follows. First, 100 parts by weight of the resin shown in Table 2 was dissolved in 255 parts by weight of the main solvent. Next, a butyl acetate solution containing a thermal polymerization inhibitor was added to 100 parts by weight of the elastomer such that 1 part by weight of the thermal polymerization inhibitor and 45 parts by weight of butyl acetate were added. The thus obtained adhesive composition was filtered using a PTFE filter (manufactured by PALL) having a pore diameter of 1 mu m. The content (metal content) of the metal component derived from the antiglare agent in the obtained adhesive composition was measured by ICP-MS (product name: 7500cs, manufactured by Ajinut Technology Co., Ltd.).

또, 접착제 조성물에 대해서 탁도를 측정함으로써 교착 방지제 제거 효과를 확인했다. 탁도는 SHIMADZU UV-3600을 이용해 측정했다.Further, the effect of removing the anti-cracking agent was confirmed by measuring the turbidity of the adhesive composition. Turbidity was measured using SHIMADZU UV-3600.

접착제 조성물 중의 금속 성분의 함유량은 나트륨, 마그네슘, 알루미늄, 칼륨, 칼슘, 크롬, 망간, 철, 니켈 및 구리의 10 원소 가운데, 접착제 조성물 중에 가장 많이 포함되어 있는 금속 성분의 함유량으로서 나타냈다. 접착제 조성물 중의 메탈 함유량을 표 2에 나타냈다. 또, 실시예 2~4 및 6에 대해서도 동일한 수법에 의해 접착제 조성물을 얻었다. 실시예 5 및 7에 대해서는 교착 방지제의 제거를 접착제 수지 성분을 23℃에서 메탄올 중에 침지한 상태에서 쓰리원 모터로 교반·세정한 후 동일하게 여과해 실시한 것, 실시예 8에 대해서는 교착 방지제의 제거를 접착제 수지 성분의 데카히드로 나프탈린 용해액(10w% 농도)을 빈용매로 하여 물/메탄올(중량비 2/8)에 적하해 접착제 수지 성분을 재침전시킨 후에 동일하게 여과해 실시한 것 이외에는 실시예 1과 동일한 수법에 의해 접착제 조성물을 얻었다. 또, 실시예 9에 대해서는 교착 방지제의 제거를 풍력 선별기(제트 세퍼레이터(ACO사제, 제트 세퍼레이터 CFS))를 이용해 접착제 수지 성분으로부터 교착 방지제를 집진한 후, 동일하게 여과해 실시한 것 이외에는 실시예 1과 동일한 수법에 의해 접착제 조성물을 얻었다.The content of the metal component in the adhesive composition was expressed as the content of the metal component contained most in the adhesive composition among the ten elements of sodium, magnesium, aluminum, potassium, calcium, chromium, manganese, iron, nickel and copper. The metal content in the adhesive composition is shown in Table 2. The adhesive compositions were also obtained in the same manner as in Examples 2 to 4 and 6. In Examples 5 and 7, the removal of the antiglare agent was carried out by agitating and cleaning the adhesive resin component at 23 占 폚 with methanol in a state of being immersed in methanol, followed by filtration in the same manner. In Example 8, Except that decahydronaphthalene solution (concentration of 10w%) of an adhesive resin component was added dropwise to water / methanol (weight ratio 2/8) as a poor solvent to reprecipitate the adhesive resin component and filtration was carried out in the same manner 1, an adhesive composition was obtained. In Example 9, the removal of the antiglare agent was carried out in the same manner as in Example 1 except that the antireflection agent was collected from the adhesive resin component using a wind separator (jet separator (Jet Separator CFS) manufactured by ACO) An adhesive composition was obtained by the same procedure.

실시예 10에 대해서는 접착제 수지 성분을 프로필렌글리콜 모노메틸에테르 아세테이트에 35℃에서 침지시킨 상태에서 초음파 세정기 중(아이와 의과 공업제, 제품번호:AU-70C, 발진 출력:100W, 주파수:28kHz)에서 30분간 세정함으로써 교착 방지제를 제거한 후, 동일하게 여과해 실시한 것 이외에는 실시예 1과 동일한 수법에 의해 접착제 조성물을 얻었다.For Example 10, the adhesive resin component was immersed in propylene glycol monomethyl ether acetate at 35 占 폚 in an ultrasonic cleaner (manufactured by Aiwa Chemical Industry Co., Ltd., product number: AU-70C, oscillation output: 100 W, frequency: 28 kHz) , And the same procedure as in Example 1 was followed to obtain an adhesive composition.

실시예 5, 7~10의 수지에 대해서 상기 소정의 처리를 가한 후, 처리 후의 수지를 이용해 접착제 조성물을 조제했다. 여기서, 실시예 5, 7, 9, 10에서는 펠릿을 그대로 처리했다. 실시예 8에서는 펠릿을 한번 용해시켜 재침전 처리를 했다.After the above-mentioned predetermined treatment was applied to the resins of Examples 5 and 7 to 10, an adhesive composition was prepared using the resin after the treatment. Here, in Examples 5, 7, 9 and 10, the pellets were treated as they were. In Example 8, the pellets were dissolved once to perform reprecipitation treatment.

실시예 1~10의 각 접착제 조성물 중의 메탈 함유량은 모두 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 10ppb 이상, 2ppm 이하였다. 또, 접착제 조성물의 탁도에 대해서도 모두 5% 이하로 양호했다.The metal content in each of the adhesive compositions of Examples 1 to 10 was 10 ppb or more and 2 ppm or less with respect to the total solid weight of the adhesive composition. In addition, the turbidity of the adhesive composition was all 5% or less.

비교예 1~4에 대해서는 접착제 조성물을 여과해 메탈 함유량을 측정하는 것 이외에는 실시예 1과 동일한 수법에 의해 접착제 조성물을 얻었다.For Comparative Examples 1 to 4, an adhesive composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that the adhesive composition was filtered to measure the metal content.

[접착제층의 형성][Formation of adhesive layer]

12인치 Si 웨이퍼에 각 접착제 조성물을 스핀 도포하고, 100℃, 160℃, 200℃에서 각 5분 구워 접착제층을 형성했다(막 두께 50㎛).Each adhesive composition was spin-coated on a 12-inch Si wafer and baked at 100 ° C, 160 ° C, and 200 ° C for 5 minutes each to form an adhesive layer (film thickness 50 μm).

한쪽 지지체에는 다음에 레이저를 조사해 변질시킴으로써 지지체와 웨이퍼를 박리하기 위한 반응층을 마련했다. 반응층으로서 유량 400sccm, 압력 700mTorr, 고주파 전력 2500W 및 성막 온도 240℃의 조건 하에서 반응 가스로서 C4F8을 사용한 CVD법에 의해 플루오로 카본막(1㎛)을 서포트 플레이트(12인치 유리, 두께 700㎛) 상에 형성했다.On one support, a reaction layer for peeling the support and the wafer was prepared by next irradiating the laser with the laser. A fluorocarbon film (1 탆) was coated on a support plate (12-inch glass, thickness: 20 탆) by a CVD method using C 4 F 8 as a reaction gas under the conditions of a flow rate of 400 sccm, a pressure of 700 mTorr, a high frequency power of 2500 W, 700 mu m).

[적층체의 박화 처리][Thinning treatment of laminate]

웨이퍼와 지지체의 적층체를 이용하여 웨이퍼의 박화 처리, 포토리소그라피 처리 등을 실시했다.Thinning and photolithography of the wafer were performed using a laminate of a wafer and a support.

[접착제층의 세정][Cleansing of adhesive layer]

532nm 레이저를 조사해 웨이퍼와 지지체를 분리했다. 지지체를 없앤 웨이퍼를 p-멘탄에 의해 스프레이 세정해 접착제층을 제거했다. 접착제층 제거 후의 웨이퍼 표면을 현미경 관찰해 잔사의 발생을 확인했다. 결과를 표 2에 나타낸다. 또한, 표 2에서 「○」로 나타낸 결과는 잔사가 확인되지 않았던 것을 나타내고, 「△」로 나타낸 결과는 작은 또는 소량의 잔사가 확인된 것을 나타내며, 「×」로 나타낸 결과는 큰 또는 다량의 잔사가 확인된 것을 나타낸다.A wafer and a support were separated by irradiating a 532 nm laser. The wafer with the support removed was spray-rinsed with p-menthol to remove the adhesive layer. The surface of the wafer after removing the adhesive layer was observed under a microscope to confirm the occurrence of the residue. The results are shown in Table 2. The results indicated by " o " in Table 2 indicate that the residue was not confirmed, the result indicated by " DELTA " indicates that a small or small amount of residue was identified, Is confirmed.

Figure 112013015248491-pat00003
Figure 112013015248491-pat00003

표 2에 나타내는 바와 같이 실시예에서는 세정 후의 웨이퍼에 잔사가 생기지 않았지만, 비교예에서는 세정 후의 웨이퍼 표면에 1~100㎛의 결정물의 잔사가 확인되었다. 또, 비교예에서는 접착제 조성물의 탁도에 대해서도 모두 5%를 넘고 있었다.As shown in Table 2, no residues were formed on the wafer after cleaning in Examples, but in Comparative Example, residues of crystal products of 1 to 100 탆 were confirmed on the surface of the wafer after cleaning. In the comparative example, the turbidity of the adhesive composition also exceeded 5%.

본 발명은 상술한 실시 형태로 한정되는 것은 아니고, 청구항에 나타낸 범위에서 여러 가지의 변경이 가능하고, 실시 형태에 개시된 기술적 수단을 적절히 조합해 얻어지는 실시 형태에 대해서도 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.The present invention is not limited to the above-described embodiments, but various modifications may be made within the scope of the claims, and embodiments in which the technical means disclosed in the embodiments are appropriately combined are also included in the technical scope of the present invention.

본 발명에 관한 제조 방법, 접착제 조성물 및 접착 필름은 예를 들면, 미세화된 반도체 장치의 제조 공정에서 매우 적합하게 이용할 수 있다.The manufacturing method, the adhesive composition and the adhesive film according to the present invention can be suitably used, for example, in a manufacturing process of a micronized semiconductor device.

Claims (12)

접착제 조성물에 포함되는 금속 성분을 포함하는 교착(膠着) 방지제를 제거하는 정제 공정을 포함하고,
상기 정제 공정에서, 상기 접착제 조성물을 포함하는 용액을 여과하며,
상기 교착 방지제는 탈크(Mg3Si4O10(OH)2), 및 하이드로 탈크(Mg6Al2(CO3)(OH)16·4H2O, Mg6Fe2(CO3)(OH)16·4H2O, Mg6Mn2(CO3)(OH)16·4H2O)를 포함하는 염 광물; 스테아르산 납, 스테아르산 아연, 스테아르산 칼슘, 및 스테아르산 마그네슘을 포함하는 스테아르산염으로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법.
And a purification step of removing an anti-sticking agent containing a metal component contained in the adhesive composition,
In the purification step, the solution containing the adhesive composition is filtered,
The deadlock agent is talc (Mg 3 Si 4 O 10 ( OH) 2), and dihydro talc (Mg 6 Al 2 (CO 3 ) (OH) 16 · 4H 2 O, Mg 6 Fe 2 (CO 3) (OH) 16 · 4H 2 O, Mg 6 Mn 2 (CO 3 ) (OH) 16 · 4H 2 O); Wherein the adhesive composition comprises at least one selected from the group consisting of lead stearate, zinc stearate, calcium stearate, and stearate including magnesium stearate. ≪ / RTI >
청구항 1에 있어서,
상기 정제 공정에서, 상기 접착제 조성물에 포함되는 상기 교착 방지제에 유래하는 금속 성분의 함유량을 상기 접착제 조성물의 전체 고체 중량에 대해서 2ppm 이하로 하는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법.
The method according to claim 1,
Characterized in that the content of the metal component derived from the antiglare agent contained in the adhesive composition in the refining step is 2 ppm or less based on the total solid weight of the adhesive composition. Gt;
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 정제 공정 전에, 상기 접착제 조성물을 형성하는 수지를 포함하는 수지 용액 중에서 상기 수지를 재침전시킨 후, 상기 수지 용액에서 취출(取出)한 수지를 상기 접착제 조성물에 함유시키는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법.
The method according to claim 1 or 2,
Characterized in that the adhesive composition contains a resin taken out from the resin solution after the resin is reprecipitated in a resin solution containing a resin forming the adhesive composition before the purification step, And adhering the support of the wafer.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 정제 공정 전에, 상기 접착제 조성물을 형성하는 수지를 용액 중에서 세정한 후, 상기 수지를 포함하는 용액에서 취출한 수지를 상기 접착제 조성물에 함유시키는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법.
The method according to claim 1 or 2,
Characterized in that before the purification step, the resin forming the adhesive composition is washed in a solution, and then the resin taken out from the solution containing the resin is contained in the adhesive composition. ≪ / RTI >
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 정제 공정 전에, 풍력 선별에 의해 상기 접착제 조성물에 포함되는 상기 교착 방지제를 집진하는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법.
The method according to claim 1 or 2,
A method for manufacturing an adhesive composition for bonding a wafer and a support of the wafer, comprising collecting the antigelling agent contained in the adhesive composition by wind power selection before the purification step.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 정제 공정 전에, 상기 접착제 조성물을 형성하는 수지를 용액 중에 침지시킨 상태로, 초음파 세정한 후, 상기 수지를 포함하는 용액에서 취출한 수지를 상기 접착제 조성물에 함유시키는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물의 제조 방법.
The method according to claim 1 or 2,
Characterized in that before the purification step, the resin forming the adhesive composition is ultrasonically washed in a state immersed in a solution, and then the resin taken out from the solution containing the resin is contained in the adhesive composition. A method for manufacturing an adhesive composition for bonding a support of a wafer.
교착 방지제로서, 금속 성분을 포함하는 교착 방지제만을 포함하고, 상기 교착 방지제에 유래하는 금속 성분의 함유량이 전체 고체 중량에 대해서, 10ppb 이상 2ppm 이하이며,
상기 교착 방지제는 탈크(Mg3Si4O10(OH)2), 및 하이드로 탈크(Mg6Al2(CO3)(OH)16·4H2O, Mg6Fe2(CO3)(OH)16·4H2O, Mg6Mn2(CO3)(OH)16·4H2O)를 포함하는 염 광물; 스테아르산 납, 스테아르산 아연, 스테아르산 칼슘, 및 스테아르산 마그네슘을 포함하는 스테아르산염으로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물.
The antisticking agent according to any one of claims 1 to 3, wherein the antistatic agent comprises only an antistatic agent containing a metal component, the content of the metal component derived from the antistatic agent is 10 ppb or more and 2 ppm or less,
The deadlock agent is talc (Mg 3 Si 4 O 10 ( OH) 2), and dihydro talc (Mg 6 Al 2 (CO 3 ) (OH) 16 · 4H 2 O, Mg 6 Fe 2 (CO 3) (OH) 16 · 4H 2 O, Mg 6 Mn 2 (CO 3 ) (OH) 16 · 4H 2 O); Wherein the adhesive composition comprises at least one selected from the group consisting of lead stearate, zinc stearate, calcium stearate, and stearate including magnesium stearate. .
청구항 7에 있어서,
상기 웨이퍼는 상기 지지체와 접착한 후에 전극 형성 공정에 제공되는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물.
The method of claim 7,
Wherein the wafer is provided in an electrode forming process after being bonded to the support.
청구항 7 또는 청구항 8에 있어서,
탄화수소 수지를 포함하는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물.
The method according to claim 7 or 8,
The adhesive composition for bonding a wafer and a support of the wafer, which comprises a hydrocarbon resin.
청구항 7 또는 청구항 8에 있어서,
엘라스토머를 포함하는 것을 특징으로 하는, 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물.
The method according to claim 7 or 8,
An adhesive composition for bonding a wafer and a support of the wafer, comprising an elastomer.
필름 위에 청구항 7 또는 청구항 8의 웨이퍼와 상기 웨이퍼의 지지체를 접착하기 위한 접착제 조성물로 이루어진 접착층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 접착 필름.Characterized in that an adhesive layer composed of an adhesive composition for bonding the wafer of claim 7 or claim 8 to the support of the wafer is formed on the film. 삭제delete
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