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KR101715386B1 - Solar cell and manufacuring method thereof - Google Patents

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KR101715386B1
KR101715386B1 KR1020110013712A KR20110013712A KR101715386B1 KR 101715386 B1 KR101715386 B1 KR 101715386B1 KR 1020110013712 A KR1020110013712 A KR 1020110013712A KR 20110013712 A KR20110013712 A KR 20110013712A KR 101715386 B1 KR101715386 B1 KR 101715386B1
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이만
김성진
이성은
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엘지전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 태양 전지에 관한 것이다. 이러한 태양 전지의 한 예는 제1 도전성 타입을 갖는 기판, 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입을 갖고 상기 기판의 제1 면에 위치하는 에미터부, 상기 에미터부 위에 위치하고 제올라이트(zeolite)로 이루어진 반사 방지막을 구비한 반사 방지부, 상기 에미터부에 연결되어 있는 제1 전극, 그리고 상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 위치하고 상기 기판과 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 이로 이해, 다공성 구조를 갖는 제올라이트로 이루어진 반사 방지막에 의해 기판의 표면에 존재하는 불순물이 포획되어 불순물에 의한 전하의 손실량이 감소한다.The present invention relates to a solar cell. One example of such a solar cell is a substrate having a first conductivity type, an emitter portion having a second conductivity type opposite to the first conductivity type and located on a first surface of the substrate, a zeolite layer overlying the emitter portion, A first electrode connected to the emitter, and a second electrode located on a second surface of the substrate opposite to the first surface and connected to the substrate, . Under these circumstances, impurities existing on the surface of the substrate are trapped by the antireflection film made of zeolite having a porous structure, and the loss of charge due to impurities is reduced.

Description

태양 전지 및 그 제조 방법{SOLAR CELL AND MANUFACURING METHOD THEREOF}SOLAR CELL AND MANUFACURING METHOD THEREOF

본 발명은 태양 전지 및 그 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a solar cell and a manufacturing method thereof.

최근 석유나 석탄과 같은 기존 에너지 자원의 고갈이 예측되면서 이들을 대체할 대체 에너지에 대한 관심이 높아지고, 이에 따라 태양 에너지로부터 전기 에너지를 생산하는 태양 전지가 주목 받고 있다.Recently, as energy resources such as oil and coal are expected to be depleted, interest in alternative energy to replace them is increasing, and solar cells that produce electric energy from solar energy are attracting attention.

일반적인 태양 전지는 p형과 n형처럼 서로 다른 도전성 타입(conductive type)에 의해 p-n 접합을 형성하는 반도체부, 그리고 서로 다른 도전성 타입의 반도체부에 각각 연결된 전극을 구비한다. Typical solar cells have a semiconductor portion that forms a p-n junction by different conductive types, such as p-type and n-type, and electrodes connected to semiconductor portions of different conductivity types, respectively.

이러한 태양 전지에 빛이 입사되면 반도체부에서 복수의 전자-정공 쌍이 생성되고, 생성된 전자와 전공은 p-n 접합에 의해 각각 해당 방향, 즉, 전자는 n형의 반도체부 쪽으로 이동하고 정공은 p형의 반도체부 쪽으로 이동한다. 이동한 전자와 정공은 각각 n형의 반도체부와 p형의 반도체부에 연결된 서로 다른 전극에 의해 수집되고 이 전극들을 전선으로 연결함으로써 전력을 얻는다.When light is incident on the solar cell, a plurality of electron-hole pairs are generated in the semiconductor portion, and the generated electrons and electrons are moved in the corresponding direction, that is, electrons move toward the n-type semiconductor portion by the pn junction, As shown in FIG. The transferred electrons and holes are collected by different electrodes connected to the n-type semiconductor portion and the p-type semiconductor portion, respectively, and electric power is obtained by connecting these electrodes with electric wires.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 태양 전지의 효율을 향상시키기 위한 것이다. The technical problem to be solved by the present invention is to improve the efficiency of a solar cell.

본 발명의 한 특징에 따른 태양 전지는 제1 도전성 타입을 갖는 기판, 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입을 갖고 상기 기판의 제1 면에 위치하는 에미터부, 상기 에미터부 위에 위치하고 제올라이트(zeolite)로 이루어진 반사 방지막을 구비한 반사 방지부, 상기 에미터부에 연결되어 있는 제1 전극, 그리고 상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 위치하고 상기 기판과 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. A solar cell according to one aspect of the present invention includes a substrate having a first conductivity type, an emitter portion having a second conductivity type opposite to the first conductivity type and located on a first surface of the substrate, an antireflective portion having an antireflection film made of zeolite, a first electrode connected to the emitter portion, and a second electrode disposed on a second surface of the substrate opposite to the first surface, Two electrodes.

상기 반사 방지부는 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 알루미늄 산화물(Al2O3) 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 반사 방지막을 추가로 구비할 수 있다.The anti-reflection part may be further provided with at least one anti-reflection film of at least one consisting of a silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), aluminum oxide (Al 2 O 3).

상기 특징에 따른 태양 전지는 상기 기판의 상기 제2 면 위에 위치하고 제올라이트로 이루어진 보호막을 구비하는 보호부를 더 포함할 수 있다.The solar cell according to the above feature may further include a protection part located on the second surface of the substrate and having a protective film made of zeolite.

상기 보호부는 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 알루미늄 산화물(Al2O3) 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 보호막을 추가로 구비할 수 있다.The protection unit may further include at least one protective layer consisting of at least one of silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), aluminum oxide (Al 2 O 3).

상기 특징에 따른 태양 전지는 상기 제2 전극은 상기 보호부 위에 위치하고, 상기 기판과 연결되어 있는 복수의 접촉부를 구비하는 것이 좋다.In the solar cell according to the above feature, the second electrode may include a plurality of contact portions located on the protection portion and connected to the substrate.

상기 특징에 따른 태양 전지는 상기 복수의 접촉부와 접촉하는 상기 기판의 부분에 위치하는 복수의 후면 전계부를 더 포함할 수 있다.The solar cell according to the above feature may further include a plurality of rear electric field portions located in a portion of the substrate in contact with the plurality of contact portions.

상기 제2 전극은 상기 기판의 상기 제2 면 위에 바로 위치할 수 있다.The second electrode may be positioned directly on the second side of the substrate.

상기 특징에 따른 태양 전지는 상기 제2 전극과 접촉하는 상기 기판의 부분에 위치하는 후면 전계부를 더 포함할 수 있다.The solar cell according to the above feature may further include a rear electric field portion located at a portion of the substrate in contact with the second electrode.

본 발명의 다른 특징에 따른 태양 전지는 제1 도전성 타입을 갖는 기판, 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입을 갖고 상기 기판의 제1 면에 위치하는 에미터부, 상기 에미터부 위에 위치하는 반사 방지부, 상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 부분적으로 위치하고 제올라이트(zeolite)로 이루어진 보호막을 구비한 보호부, 상기 기판의 상기 제1 면에 위치하고 상기 에미터부에 연결되어 있는 제1 전극, 그리고 상기 보호부 위와 상기 기판의 상기 제2 면 위에 위치하여, 상기 기판과 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다.A solar cell according to another aspect of the present invention includes a substrate having a first conductivity type, an emitter portion having a second conductivity type opposite to the first conductivity type and located on a first surface of the substrate, An anti-reflective portion, a protective portion having a protective layer, which is partially located on a second surface of the substrate and opposite to the first surface, the protection layer being made of zeolite, and a protection portion located on the first surface of the substrate and connected to the emitter portion And a second electrode located on the protection portion and on the second surface of the substrate, the second electrode being connected to the substrate.

상기 보호부는 상기 제올라이트로 이루어진 보호막 위에 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 알루미늄 산화물(Al2O3) 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 보호막을 추가로 구비할 수 있다.The protection unit may further include at least one protective layer consisting of at least the zeolite of silicon nitride (SiNx) on the protective layer consisting of a silicon oxide (SiOx), aluminum oxide (Al 2 O 3) in one.

상기 반사 방지부는 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산화 질화물(SiOxNy) 및 알루미늄 산화물(Al2O3) 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 반사 방지막을 구비할 수 있다.The anti-reflection part may be provided with a silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), at least one anti-reflection film of at least one of a silicon oxynitride (SiOxNy), and aluminum oxide (Al 2 O 3).

상기 특징에 따른 태양 전지는 상기 제2 전극과 접촉하는 상기 기판의 상기 제2 면에 위치하는 복수의 후면 전계부를 더 포함할 수 있다.The solar cell according to the above feature may further include a plurality of rear electric field portions located on the second surface of the substrate in contact with the second electrode.

본 발명의 또 다른 특징에 따른 태양 전지의 제조 방법은 제1 도전성 타입을 갖는 기판의 제1 면에 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입의 에미터부를 형성하는 단계, 상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 제올라이트로 이루어진 막을 도포한 후 건조시켜 보호막을 형성하는 단계, 그리고 상기 에미터부와 연결된 제1 전극과 상기 보호부를 통과해 상기 기판과 선택적으로 연결되는 제2 전극을 형성하는 단계를 포함한다.A method of manufacturing a solar cell according to another aspect of the present invention includes the steps of forming an emitter portion of a second conductivity type opposite to the first conductivity type on a first surface of a substrate having a first conductivity type, Forming a protective film by applying a film made of zeolite on the second surface of the substrate located on the opposite side of the substrate and then forming a protective film on the second surface of the substrate, And forming a second electrode.

상기 보호막 형성 단계는 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 이용하여 상기 보호막을 형성하는 것이 좋다.Preferably, the protective layer is formed using an organic solvent in which the aluminosilicate is dissolved.

상기 특징에 따른 태양 전지의 제조 방법은 상기 에미터부 위에 반사 방지부를 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a solar cell according to the above feature may further include forming an antireflection portion on the emitter portion.

상기 반사 방지부 형성 단계는 플라즈마 기상 증착법을 이용하여 실리콘 질화물, 실리콘 산화물, 실리콘 산화 질화물 및 알루미늄 산화물 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 반사 방지막을 형성할 수 있다.The anti-reflection part forming step may form at least one anti-reflection film made of at least one of silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride and aluminum oxide by plasma vapor deposition.

상기 반사 방지부 형성 단계는 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 이용하여 상기 반사 방지부를 형성하는 것이 좋다.It is preferable that the anti-reflection part is formed using an organic solvent in which the aluminosilicate is dissolved.

본 발명의 또 다른 특징에 따른 태양 전지의 제조 방법은 제1 도전성 타입을 갖는 기판의 제1 면에 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입의 에미터부를 형성하는 단계, 상기 에미터부 위에 제올라이트로 이루어진 막을 도포한 후 건조시켜 반사 방지부를 형성하는 단계, 그리고 상기 기판의 상기 제1 면에 위치하고 상기 에미터부와 연결되어 있는 제1 전극과 상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 위치하고 상기 기판과 연결되는 제2 전극을 형성하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a solar cell, comprising: forming a first conductivity type emitter portion on a first surface of a substrate having a first conductivity type opposite to the first conductivity type; Forming an antireflective portion by applying a film made of zeolite and then drying the exposed portion of the substrate; forming a first electrode on the first surface of the substrate and connected to the emitter portion and a second electrode on the opposite side of the first surface, And forming a second electrode located on two sides and connected to the substrate.

상기 반사 방지부 형성 단계는 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 이용하여 상기 반사 방지부를 형성할 수 있다.The anti-reflection part may be formed using an organic solvent in which aluminosilicate is dissolved.

이러한 특징에 따르면, 다공성 구조를 갖는 제올라이트로 이루어진 반사 방지막이나 보호막에 의해 기판의 표면에 존재하는 불순물이 포획되어 불순물에 의한 전하의 손실량이 감소하여, 태양 전지의 효율이 향상된다. According to this aspect, impurities present on the surface of the substrate are trapped by the antireflection film or the protective film made of zeolite having a porous structure, thereby reducing the amount of charge loss caused by impurities, thereby improving the efficiency of the solar cell.

도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 태양 전지의 일부 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시한 태양 전지를 II-II선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 3a 내지 도 3e는 본 발명의 한 실시예에 따른 태양 전지의 제조 방법을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 태양 전지의 일부 사시도이다.
도 5는 도 4에 도시한 태양 전지를 V-V선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 6a 내지 도 6d는 본 발명의 다른 실시예에 따른 태양 전지의 제조 방법을 도시한 도면이다.
1 is a partial perspective view of a solar cell according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the solar cell shown in FIG. 1 taken along line II-II.
3A to 3E are views illustrating a method of manufacturing a solar cell according to an embodiment of the present invention.
4 is a partial perspective view of a solar cell according to another embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view of the solar cell shown in FIG. 4 cut along the line VV.
6A to 6D illustrate a method of manufacturing a solar cell according to another embodiment of the present invention.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. In order to clearly illustrate the present invention, parts not related to the description are omitted, and similar parts are denoted by like reference characters throughout the specification.

도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다. 또한 어떤 부분이 다른 부분 위에 "전체적"으로 형성되어 있다고 할 때에는 다른 부분의 전체 면에 형성되어 있는 것뿐만 아니라 가장 자리 일부에는 형성되지 않은 것을 뜻한다.In the drawings, the thickness is enlarged to clearly represent the layers and regions. When a layer, film, region, plate, or the like is referred to as being "on" another portion, it includes not only the case directly above another portion but also the case where there is another portion in between. Conversely, when a part is "directly over" another part, it means that there is no other part in the middle. Further, when a certain portion is formed as "whole" on another portion, it means not only that it is formed on the entire surface of the other portion but also that it is not formed on the edge portion.

그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 따른 태양 전지 및 그 제조 방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, a solar cell according to an embodiment of the present invention and a method of manufacturing the same will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1 및 도 2를 참고로 하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 태양 전지(11)는 기판(110), 빛이 입사되는 기판(110)의 면인 입사면[이하, '전면(front surface)'라 함]에 위치한 에미터부(emitter region)(121), 에미터부(121) 위에 위치하는 반사 방지부(130), 에미터부(121)와 연결되어 있는 전면 전극부(140), 전면의 반대쪽에 위치하는 기판(110)의 면[이하, '후면(back surface)'이라 함]에 위치하는 후면 전계(back surface field, BSF)부(BSF region)(172), 그리고 기판(110)의 후면 위에 위치하는 후면 전극부(150)를 구비한다. 1 and 2, a solar cell 11 according to an embodiment of the present invention includes a substrate 110, an incident surface (hereinafter referred to as a front surface) that is a surface of the substrate 110 on which light is incident, An antireflective part 130 located on the emitter part 121, a front electrode part 140 connected to the emitter part 121, A back surface field (BSF) region 172 located at a surface of a substrate 110 located at a back surface (hereinafter referred to as a "back surface") of the substrate 110, And a rear electrode unit 150 positioned above the rear electrode unit 150.

기판(110)은 제1 도전성 타입, 예를 들어 p형 도전성 타입의 실리콘(silicon)과 같은 반도체로 이루어진 반도체 기판이다. 이때, 반도체는 다결정 실리콘 또는 단결정 실리콘과 같은 결정질 반도체이다.The substrate 110 is a semiconductor substrate of a first conductivity type, for example, a semiconductor such as silicon of p-type conductivity type. At this time, the semiconductor is a crystalline semiconductor such as polycrystalline silicon or single crystal silicon.

기판(110)이 p형의 도전성 타입을 가질 경우, 붕소(B), 갈륨, 인듐 등과 같은 3가 원소의 불순물이 기판(110)에 도핑(doping)된다. 하지만, 이와는 달리, 기판(110)은 n형 도전성 타입일 수 있다. 기판(110)이 n형의 도전성 타입을 가질 경우, 인(P), 비소(As), 안티몬(Sb) 등과 같이 5가 원소의 불순물이 기판(110)에 도핑될 수 있다.Impurities such as boron (B), gallium, indium, and the like are doped to the substrate 110 when the substrate 110 has a p-type conductivity type. Alternatively, however, the substrate 110 may be of the n-type conductivity type. Impurities of pentavalent elements such as phosphorus (P), arsenic (As), and antimony (Sb) may be doped to the substrate 110 when the substrate 110 has an n-type conductivity type.

이러한 기판(110)의 전면은 텍스처링(texturing)되어 요철면인 텍스처링 표면(textured surface)을 가질 수 있다. 이 경우, 기판(110)의 전면에 위치하는 반사 방지부(130) 역시 텍스처링 표면을 가질 수 있다.The front surface of the substrate 110 may be textured to have a textured surface that is an uneven surface. In this case, the anti-reflection part 130 positioned on the front surface of the substrate 110 may also have a textured surface.

이와 같이, 기판(110)의 전면이 텍스처링 표면을 가질 경우, 기판(110)의 표면적이 증가하여 빛의 입사 면적이 증가하고 기판(110)에 의해 반사되는 빛의 양이 감소하므로, 기판(110)으로 입사되는 빛의 양이 증가한다.As described above, when the front surface of the substrate 110 has a textured surface, the surface area of the substrate 110 increases, the incident area of the light increases, and the amount of light reflected by the substrate 110 decreases. The amount of incident light increases.

이러한 기판(110)에 빛이 입사되면, 입사된 빛의 에너지로 인해 전자와 정공이 발생하게 된다. When light is incident on the substrate 110, electrons and holes are generated due to the energy of the incident light.

기판(110)에 위치한 에미터부(121)는 기판(110)의 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입, 예를 들어, n형의 도전성 타입을 구비하고 있는 불순물부이다. 따라서 기판(110)의 제1 도전성 타입 부분과 p-n 접합을 이룬다. The emitter portion 121 located on the substrate 110 is an impurity portion having a second conductivity type opposite to the conductivity type of the substrate 110, for example, an n-type conductivity type. Thus forming a p-n junction with the first conductive type portion of the substrate 110.

이러한 p-n 접합에 인한 내부 전위차(built-in potential difference)에 의해, 기판(110)에 입사된 빛에 의해 생성된 전하인 전자-정공 쌍은 전자와 정공으로 분리되어 전자는 n형 쪽으로 이동하고 정공은 p형 쪽으로 이동한다. 따라서, 기판(110)이 p형이고 에미터부(121)가 n형일 경우, 분리된 정공은 기판(110) 쪽으로 이동하고 분리된 전자는 에미터부(121) 쪽으로 이동한다.Due to the built-in potential difference due to the pn junction, the electron-hole pairs generated by the light incident on the substrate 110 are separated into electrons and holes, electrons move toward the n-type, Moves toward the p-type. Accordingly, when the substrate 110 is p-type and the emitter section 121 is n-type, the separated holes move toward the substrate 110, and the separated electrons move toward the emitter section 121.

에미터부(121)는 기판(110), 즉 기판(110)의 제1 도전성 타입과 p-n접합을 형성하므로, 본 실시예와 달리, 기판(110)이 n형의 도전성 타입을 가질 경우, 에미터부(121)는 p형의 도전성 타입을 가진다. 이 경우, 분리된 전자는 기판(110)쪽으로 이동하고 분리된 정공은 에미터부(121)쪽으로 이동한다.Since the emitter section 121 forms a pn junction with the first conductive type of the substrate 110, that is, the substrate 110, when the substrate 110 has the n-type conductivity type, unlike the present embodiment, (121) has a p-type conductivity type. In this case, the separated electrons move toward the substrate 110, and the separated holes move toward the emitter 121.

에미터부(121)가 n형의 도전성 타입을 가질 경우, 에미터부(121)는 5가 원소의 불순물을 기판(110)에 도핑하여 형성될 수 있고, 에미터부(121)가 반대로 p형의 도전성 타입을 가질 경우, 3가 원소의 불순물을 기판(110)에 도핑하여 형성될 수 있다.When the emitter section 121 has an n-type conductivity type, the emitter section 121 may be formed by doping an impurity of a pentavalent element into the substrate 110, and the emitter section 121 may be formed of a p- Type, it can be formed by doping an impurity of a trivalent element into the substrate 110. [

도 1 및 도 2에서, 기판(110)의 후면 일부, 예를 들어, 후면 버스바(152)와 접하고 있는 기판(110)의 후면 부분에 에미터부(121)가 존재하지만, 이에 한정되지 않고 기판(110)의 후면에 에미터부(121)는 존재하지 않을 수 있다. 예를 들어, 에미터부(121) 형성 시 기판(110)의 후면에 에미터부(121)를 형성하지 않을 경우, 또는 후면 전극부(150)를 형성하기 전에 기판(110)의 후면에 형성된 에미터부(121)를 제거할 경우, 기판(110)의 후면에는 에미터부(121)가 존재하지 않는다. 1 and 2, there is an emitter portion 121 at a rear portion of the substrate 110, for example, at a rear portion of the substrate 110 in contact with the rear bus bar 152. However, The emitter 121 may not be present on the rear surface of the substrate 110. For example, when the emitter section 121 is not formed on the rear surface of the substrate 110 or when the emitter section 121 is formed on the rear surface of the substrate 110 before the rear electrode section 150 is formed, The emitter layer 121 is not present on the rear surface of the substrate 110. In this case,

반사 방지부(130)는 태양 전지(11)로 입사되는 빛의 반사도를 줄이고 특정한 파장 영역의 선택성을 증가시켜, 태양 전지(11)의 효율을 높인다. The reflection preventing part 130 reduces the reflectivity of the light incident on the solar cell 11 and increases the selectivity of the specific wavelength area to increase the efficiency of the solar cell 11. [

이러한 반사 방지부(130)는 에미터부(121) 위에 위치한 제1 반사 방지막(131), 제1 반사 방지막(131) 위에 위치하는 제2 반사 방지막(132) 그리고 제2 반사 방지막(132) 위에 위치하는 제3 반사 방지막(133)을 구비한다.The antireflection unit 130 is disposed on the first antireflection film 131 located on the emitter 121, the second antireflection film 132 located on the first antireflection film 131, and the second antireflection film 132 The third antireflection film 133 is formed.

한 예로서, 제1 반사 방지막(131)은 결정성 알루미노 규산염(aluminosilicate)과 같은 제올라이트(zeolite)로 이루어져 있고, 제2 반사 방지막(132)은 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)로 이루어져 있고, 제3 반사 방지막(133)은 수소화된 실리콘 산화물(SiOx)로 이루어져 있다.For example, the first antireflection film 131 is made of zeolite such as crystalline aluminosilicate, the second antireflection film 132 is made of hydrogenated silicon nitride (SiNx) The third antireflection film 133 is made of hydrogenated silicon oxide (SiOx).

이와 같이 기판(110)과 바로 접해 있는 부분이 제올라이트막으로 이루어져 있으므로 기판(110)의 표면의 패시베이션 기능이 향상된다. 즉, 일반적으로 제올라이트막은 다공성 구조를 갖고 있어 칼륨, 나트륨, 마그네슘 등과 같은 알칼리성 물질과 같은 미립 물질을 흡착하여 포획하는 특성이 있다. 이로 인해, 제올라이트막(131)에 의해 기판(110)의 표면이나 표면 근처에 존재하고 기판(110)의 실리콘(Si)과 정상적으로 결합하지 못하여 전하의 손실을 초래하는 불순물들은 제올라이트막인 제1 반사 방지막(131)에 의해 포획된다. 따라서, 기판(110)의 표면에 존재하는 전하와 재결합되는 불순물의 양이 감소하여 기판(110)의 표면에서 손실되는 전하의 양이 감소한다. 또한, 제올라이트는 음(-)의 고정 전하(fixed charge)의 특성을 갖고 있어, 양(+)의 고정 전하 특성을 갖고 있는 불순물의 포획에 특히 더 유리하다.Since the portion directly contacting the substrate 110 is made of the zeolite membrane, the passivation function of the surface of the substrate 110 is improved. That is, generally, the zeolite membrane has a porous structure and adsorbs and captures a particulate matter such as an alkaline substance such as potassium, sodium, magnesium and the like. The impurities which are present near the surface or the surface of the substrate 110 due to the zeolite film 131 and can not be normally bonded to the silicon (Si) of the substrate 110, And is trapped by the barrier film 131. Accordingly, the amount of the charges that are recombined with the charge existing on the surface of the substrate 110 decreases, and the amount of charges lost on the surface of the substrate 110 decreases. In addition, zeolite has the property of a negative charge (fixed charge), which is particularly advantageous for trapping impurities having a positive charge characteristic.

수소화된 실리콘 질화물로 이루어진 제2 반사 방지막(132)은 함유된 수소(H)를 이용하여 기판(110)의 표면 및 그 근처에 존재하는 댕글링 결합(dangling bond)과 같은 결함(defect)을 안정한 결합으로 바꾸어 결함에 의해 기판(110)의 표면 쪽으로 이동한 전하가 소멸되는 것을 감소시키는 패시베이션 기능(passivation function)을 주로 수행하여 결함에 의해 기판(110)의 표면에서 손실되는 전하의 양을 감소시킨다. The second antireflection film 132 made of hydrogenated silicon nitride is formed by using a hydrogen (H) contained in the first antireflection film 132 to stabilize defects such as a dangling bond existing on the surface of the substrate 110 and its vicinity The amount of charges lost on the surface of the substrate 110 due to the defects is reduced by mainly performing a passivation function to reduce the loss of charge that has shifted toward the surface of the substrate 110 due to the defect .

또한 수소화된 실리콘 산화물로 이루어진 제3 반사 방지막(133)은 빛의 반사 방지 기능을 주로 실행하고, 하부에 위치하는 제2 반사 방지막(132)에 함유된 수소(H)가 상부 쪽으로 이동하는 것을 방해한다. 또한, 실리콘 산화물(SiOx)에 함유된 수소 역시 패시베이션 기능에 기여하므로, 제3 반사 방지막(133)은 패시베이션 효율을 더욱 향상시킨다. The third antireflection film 133 made of hydrogenated silicon oxide mainly performs the antireflection function of light and prevents the hydrogen (H) contained in the second antireflection film 132 located below from moving upward do. Further, since the hydrogen contained in the silicon oxide (SiOx) also contributes to the passivation function, the third antireflection film 133 further improves the passivation efficiency.

추가로, 제올라이트로 이루어진 제1 반사 방지막(131)이 실리콘 질화물로 이루어진 제2 반사 방지막(132) 하부에 위치하므로, 실리콘 질화막인 제2 반사 방지막(132)이 형성될 때 기판(110)의 표면에 발생하는 손상이 방지된다. 이 경우, 제1 반사 방지막(131)은 기판(110)을 보호하는 버퍼층(buffer layer)으로서 기능할 수 있다. Since the first antireflection film 131 made of zeolite is located below the second antireflection film 132 made of silicon nitride, the surface of the substrate 110 when the second antireflection film 132, which is a silicon nitride film, Is prevented. In this case, the first anti-reflection film 131 may function as a buffer layer for protecting the substrate 110.

즉, 플라즈마 기상 증착법(PECVD)으로 실리콘 질화막을 형성할 경우, 생성된 플라즈마에 의해 기판(110)의 표면이 손상된다. 하지만, 이미 제올라이트로 제1 반사 방지막(131)에 의해 기판(110)의 표면이 보호되므로, 제2 반사 방지막(132) 형성을 위한 플라즈마 기상 증착 공정시 발생하는 기판(110)의 표면 손상을 방지된다. 본 예에서, 제올라이트막을 형성하는 한 예는 유기 용매에 알루미노 규산염을 용해시킨 후 스핀 코팅법(spin coating)이나 인쇄법(printing)으로 기판(110) 위에 유기 용매에 용해된 알루미노 규산염을 원하는 두께만큼 도포시킨 후 대략 상온 내지 500℃ 의 온도에서 열처리하여 형성한다. 이때, 열처리 공정 중에 유기 용매는 제거된다. 이와 같이, 제올라이트막을 형성하기 위한 물리적인 충격이 기판(110)과 같은 막 위에 가해지지 않으므로, 제올라이트막 형상 시 기판(110)과 같은 막 손상은 발생하지 않는다. That is, when the silicon nitride film is formed by plasma enhanced vapor deposition (PECVD), the surface of the substrate 110 is damaged by the generated plasma. However, since the surface of the substrate 110 is protected by the first antireflection film 131 with zeolite, it is possible to prevent the surface of the substrate 110 from being damaged during the plasma vapor deposition process for forming the second antireflection film 132 do. In this example, an example of forming a zeolite film is a method in which an aluminosilicate dissolved in an organic solvent is dissolved in an organic solvent, and then an aluminosilicate dissolved in an organic solvent is formed on the substrate 110 by spin coating or printing And then heat-treated at a temperature of about room temperature to 500 캜. At this time, the organic solvent is removed during the heat treatment process. Thus, since the physical impact for forming the zeolite film is not applied to the film such as the substrate 110, the film damage such as the substrate 110 in the case of the zeolite film does not occur.

이미 설명한 것처럼, 제1 반사 방지막(131)이 음(-) 전하의 특성을 갖는 제올라이트로 이루어져 있으므로, 기판(110)이 p형일 경우, 제올라이트의 음(-) 고정 전하 특성에 의해 n형인 에미터부(121) 쪽으로 이동하는 음 전하인 전하는 제1 반사 방지막(131)과 동일한 극성을 갖고 있으므로, 제올라이트막인 제1 반사 방지막(131)의 극성에 의해 에미터부(121)의 반대쪽으로 밀려나게 된다. The first antireflection film 131 is made of zeolite having the property of negative (-) electric charge. Therefore, when the substrate 110 is p-type, The negative charge moving toward the first antireflection film 121 has the same polarity as that of the first antireflection film 131 and is pushed to the opposite side of the emitter part 121 due to the polarity of the first antireflection film 131 as the zeolite film.

따라서, n형 에미터부(121)로의 전자 이동의 방해를 방지하기 위해, 양(+)의 고정 전하(fixed charge)를 갖는 제2 반사 방지막(132)인 실리콘 질화막의 두께를 충분히 두껍게 하여 제1 반사 방지막(131)인 제올라이트의 음(-)의 고정 전하의 영향을 받지 않고 양(+)의 고정 전하를 갖고 있는 제2 반사 방지막(132)인 실리콘 질화막의 영향으로 음 전하인 전자가 기판(110)에서부터 n형 에미터부(121) 쪽으로 원활하게 이동하도록 할 수 있다.Therefore, in order to prevent the electron migration to the n-type emitter section 121, the thickness of the silicon nitride film, which is the second antireflection film 132 having a positive fixed charge, The electrons which are negatively charged due to the influence of the silicon nitride film, which is the second antireflection film 132 having the positive charge (+) without being influenced by the negative fixed charge of the zeolite as the antireflection film 131, 110 to the n-type emitter section 121. In this case,

하지만, 다른 예에서, 위에 기술한 것과는 다른 물질로 이루어진 삼층막 구조의 반사 방지부(130)가 구비된다.However, in another example, an antireflection portion 130 of a three-layer structure made of a material different from that described above is provided.

예를 들어, 기판(110) 위에 바로 위치하는 제1 반사 방지막(131)은 수소화된 실리콘 산화물(SiOx)로 이루어져 있고, 제1 반사 방지막(131) 위에 위치하는 제2 반사 방지막(132)은 제올라이트로 이루어져 있으며, 제2 반사 방지막(132) 위에 위치하는 제3 반사 방지막(133)은 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)로 이루어져 있다.For example, the first antireflection film 131 positioned on the substrate 110 is made of hydrogenated silicon oxide (SiOx), and the second antireflection film 132 positioned on the first antireflection film 131 is made of zeolite And the third antireflection film 133 located on the second antireflection film 132 is made of hydrogenated silicon nitride (SiNx).

이 경우, 수소에 의한 패시베이션 기능은 실리콘 산화막인 제1 반사 방지막(131)과 실리콘 질화막인 제3 반사 방지막(133)에 의해 행해지고, 제3 반사 방지막(133)은 제1 및 제3 반사 방지막(131, 133)의 수소가 기판(110)의 반대쪽으로 이동하는 것을 방지한다. In this case, the passivation function by the hydrogen is performed by the first antireflection film 131 which is a silicon oxide film and the third antireflection film 133 which is a silicon nitride film, and the third antireflection film 133 is formed by the first and third antireflection films 131 and 133 from moving toward the opposite side of the substrate 110. [

또한, 제2 반사 방지막(132)인 제올라이트막은 이미 설명한 것처럼, 다공성 및 음(-)의 고정 전하 특성에 의해 기판(110)의 표면에 존재하여 에미터부(121) 쪽으로 이동한 전하와 재결합되어 전하의 손실을 초래하는 불순물들을 포획하는 기능을 수행한다.The zeolite film as the second antireflection film 132 is recombined with the charge existing on the surface of the substrate 110 and moving toward the emitter section 121 due to the porous and negative fixed charge characteristics as described above, And to trap impurities that cause the loss of the film.

이때, 기판(110)이 p형일 경우, 제1 및 제2 반사 방지막(131, 132)의 고정 전하가 모두 n형 에미터부(121)로 이동하는 전자의 이동을 방해하는 음(-)의 고정 전하이므로, 양(+)의 고정 전하를 갖는 실리콘 질화막인 제3 반사 방지막(133)의 두께를 충분히 두껍게 하여, 제1 및 제2 반사 방지 반지막(131, 132)의 음(-)의 고정 전하에 의해 전자 이동이 악영향을 받지 않도록 한다.At this time, when the substrate 110 is of the p-type, all of the fixed charges of the first and second anti-reflective films 131 and 132 are negative (-) fixing which hinders the movement of electrons moving to the n-type emitter section 121 (-) fixing of the first and second anti-reflection ring films 131 and 132 by making the thickness of the third anti-reflective film 133, which is a silicon nitride film having a positive charge of positive (+), The electrons are not adversely affected by the charge.

전면 전극부(140)는 복수의 전면 전극(141)과 복수의 전면 전극(141)과 연결되어 있는 복수의 전면 버스바(142)를 구비한다.The front electrode unit 140 includes a plurality of front electrodes 141 and a plurality of front bus bars 142 connected to the plurality of front electrodes 141.

복수의 전면 전극(141)은 에미터부(121)와 연결되어 있고, 서로 이격되어 정해진 방향으로 나란히 뻗어있다. 복수의 전면 전극(141)은 에미터부(121) 쪽으로 이동한 전하, 예를 들면, 전자를 수집한다.The plurality of front electrodes 141 are connected to the emitter section 121, and are spaced apart from each other and extend in a predetermined direction. The plurality of front electrodes 141 collects charges, for example, electrons, which have migrated toward the emitter section 121.

복수의 전면 버스바(142)는 에미터부(121)와 연결되어 있고, 복수의 전면 전극(141)과 교차하는 방향으로 나란하게 뻗어 있다.A plurality of front bus bars 142 are connected to the emitter section 121 and extend in a direction crossing the plurality of front electrodes 141.

이때, 복수의 전면 버스바(142)는 복수의 전면 전극(141)과 동일 층에 위치하여 각 전면 전극(141)과 교차하는 지점에서 해당 전면 전극(141)과 전기적 및 물리적으로 연결되어 있다. The plurality of front bus bars 142 are located on the same layer as the plurality of front electrodes 141 and are electrically and physically connected to the front electrodes 141 at the intersections of the front electrodes 141.

따라서, 도 1에 도시한 것처럼, 복수의 전면 전극(141)은 가로 또는 세로 방향으로 뻗어 있는 스트라이프(stripe) 형상을 갖고, 복수의 전면 버스바(142)는 세로 또는 가로 방향으로 뻗어 있는 스트라이프 형상을 갖고 있어, 전면 전극부(140)는 기판(110)의 전면에 격자 형태로 위치한다.1, the plurality of front electrodes 141 has a stripe shape extending in the horizontal or vertical direction, and the plurality of front bus bars 142 have stripe shapes extending in the vertical or horizontal direction And the front electrode unit 140 is disposed on the front surface of the substrate 110 in a lattice form.

각 전면 버스바(142)는 에미터부(121)로부터 이동하는 전하(예, 전자)뿐만 아니라 교차하는 복수의 전면 전극(141)에 의해 수집된 전하를 모아서 원하는 방향으로 이동시켜야 되므로, 각 전면 버스바(142)의 폭은 각 전면 전극(141)의 폭보다 크다.Each front bus bar 142 must collect the charges collected by the plurality of intersecting front electrodes 141 as well as the charge (e.g., electrons) moving from the emitter section 121 and move them in a desired direction, The width of the bar 142 is larger than the width of each front electrode 141.

복수의 전면 버스바(142)는 외부 장치와 연결되어, 수집된 전하를 외부 장치로 출력한다. A plurality of front bus bars 142 are connected to an external device, and output the collected electric charges to an external device.

복수의 전면 전극(141)과 복수의 전면 버스바(142)를 구비한 전면 전극부(140)는 은(Ag)과 같은 적어도 하나의 도전 물질로 이루어져 있다.The front electrode part 140 having the plurality of front electrodes 141 and the plurality of front bus bars 142 is made of at least one conductive material such as silver (Ag).

도 1에서, 기판(110)에 위치하는 전면 전극(141)과 전면 버스바(142)의 개수는 한 예에 불과하고, 경우에 따라 변경 가능하다.In FIG. 1, the number of the front electrode 141 and the front bus bar 142 located on the substrate 110 is only an example, and may be changed depending on the case.

후면 전계부(172)는 기판(110)과 동일한 도전성 타입의 불순물이 기판(110)보다 고농도로 도핑된 영역, 예를 들면, P+ 영역이다. The rear electric field 172 is a region in which impurities of the same conductivity type as that of the substrate 110 are doped at a higher concentration than the substrate 110, for example, a P + region.

이러한 기판(110)의 제1 도전성 영역과 후면 전계부(172)간의 불순물 농도 차이로 인해 전위 장벽이 형성되고, 이로 인해, 정공의 이동 방향인 후면 전계부(172) 쪽으로 전자 이동은 방해되는 반면, 후면 전계부(172) 쪽으로의 정공 이동은 좀더 용이해진다. 따라서, 후면 전계부(172)는 기판(110)의 후면 및 그 부근에서 전자와 정공의 재결합으로 손실되는 전하의 양을 감소시키고 원하는 전하(예, 정공)의 이동을 가속화시켜 후면 전극부(150)로의 전하 이동량을 증가시킨다.A potential barrier is formed due to the difference in impurity concentration between the first conductive region and the rear conductive portion 172 of the substrate 110, thereby preventing the electron movement toward the rear conductive portion 172, which is the direction of the movement of the holes , It becomes easier to move the hole toward the rear electric section 172. Accordingly, the rear electric field 172 reduces the amount of electric charge lost due to the recombination of electrons and holes at the back surface of the substrate 110 and the vicinity thereof, and accelerates the movement of a desired electric charge (e.g., a hole) ) In the direction of the arrow.

후면 전극부(150)는 후면 전극(151)과 후면 전극(151)과 연결되어 있는 복수의 후면 버스바(152)를 구비한다.The rear electrode unit 150 includes a plurality of rear bus bars 152 connected to the rear electrode 151 and the rear electrode 151.

후면 전극(151)은 기판(110)의 후면에 위치한 후면 전계부(172)와 접촉하고 있고, 후면 버스바(152)가 위치한 부분을 제외하면 실질적으로 기판(110)의 후면 전체에 위치한다. 대안적인 예에서, 후면 전극(151)은 기판(110) 후면의 가장자리 부분에 위치하지 않을 수 있다.The rear electrode 151 is in contact with the rear electric field 172 located on the rear surface of the substrate 110 and substantially entirely on the rear surface of the substrate 110 except for the portion where the rear bus bar 152 is located. In an alternative example, the back electrode 151 may not be located at the edge portion of the back surface of the substrate 110. [

후면 전극(151)은 알루미늄(Al)과 같은 도전성 물질을 함유하고 있다. The rear electrode 151 contains a conductive material such as aluminum (Al).

이러한 후면 전극(151)은 후면 전계부(172)쪽으로부터 이동하는 전하, 예를 들어 정공을 수집한다.This rear electrode 151 collects charge, for example, holes, moving from the rear electric field 172 side.

이때, 후면 전극(151)이 기판(110)보다 높은 불순물 농도를 갖는 후면 전계부(172)와 접촉하고 있으므로, 기판(110), 즉 후면 전계부(172)와 후면 전극(151) 간의 접촉 저항이 감소하여 기판(110)으로부터 후면 전극(151)으로의 전하 전송 효율이 향상된다.In this case, since the rear electrode 151 is in contact with the rear electric field portion 172 having a higher impurity concentration than the substrate 110, the contact resistance between the substrate 110, i.e., the rear electric field portion 172 and the rear electrode 151 And the charge transfer efficiency from the substrate 110 to the rear electrode 151 is improved.

복수의 후면 버스바(152)는 후면 전극(151)이 위치하지 않는 기판(110)의 후면 위에 위치하며 인접한 후면 전극(151)과 연결되어 있다. The plurality of rear bus bars 152 are located on the rear surface of the substrate 110 where the rear electrodes 151 are not located and are connected to the adjacent rear electrodes 151.

또한, 복수의 후면 버스바(152)는 기판(110)을 중심으로 복수의 전면 버스바(142)와 대응되게 마주본다.In addition, the plurality of rear bus bars 152 are opposed to the plurality of front bus bars 142 in correspondence with the substrate 110 as a center.

복수의 후면 버스바(152)는 복수의 전면 버스바(142)와 유사하게, 후면 전극(151)으로부터 전달되는 전하를 수집한다.A plurality of rear bus bars 152 collects charge transferred from the rear electrode 151, similar to a plurality of front bus bars 142.

복수의 후면 버스바(152) 역시 외부 장치와 연결되어, 복수의 후면 버스바(152)에 의해 수집된 전하(예, 정공)는 외부 장치로 출력된다. A plurality of rear bus bars 152 are also connected to external devices so that the charges (e.g., holes) collected by the plurality of rear bus bars 152 are output to an external device.

이러한 복수의 후면 버스바(152)는 후면 전극(151)보다 양호한 전도도를 갖는 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 후면 전극(151)과는 달리 은(Ag)과 같은 적어도 하나의 도전성 물질을 함유한다.These plurality of rear bus bars 152 may be made of a material having a better conductivity than the back electrode 151 and may be made of at least one conductive material such as Ag, for example, .

대안적인 예에서, 후면 전극(151)은 후면 버스바(152)가 위치한 기판(110)의 후면 부분에도 위치할 수 있고, 이 경우, 복수의 후면 버스바(152)는 기판(110)을 중심으로 복수의 전면 버스바(142)와 대응되게 마주보며 후면 전극(151) 위에 위치한다. 이때, 경우에 따라 후면 전극(151)은 후면의 가장 자리 부분을 제외한 실질적인 후면 전체 면에 위치할 수 있다. The backside electrode 151 may also be located on the backside portion of the substrate 110 where the backside bus bar 152 is located, Facing the plurality of front bus bars 142 and on the rear electrode 151. [ At this time, the rear electrode 151 may be positioned substantially on the entire rear surface excluding the edge portion of the rear surface.

이와 같은 구조를 갖는 본 실시예에 따른 태양 전지(11)의 동작은 다음과 같다.The operation of the solar cell 11 according to this embodiment having such a structure is as follows.

태양 전지(11)로 빛이 조사되어 제3 내지 제1 반사 방지막(133-131)을 통해 반도체부인 에미터부(121)와 기판(110)으로 입사되면 빛 에너지에 의해 반도체부에서 전자와 정공이 발생한다. 이때, 제3 내지 제1 반사 방지막(133-131)에 의해 기판(110)으로 입사되는 빛의 반사 손실이 줄어들어 기판(110)으로 입사되는 빛의 양이 증가한다. When the light is irradiated to the solar cell 11 and is incident on the emitter section 121 and the substrate 110 through the third to the first antireflection films 133-131 and the substrate 110, Occurs. At this time, the reflection loss of light incident on the substrate 110 is reduced by the third to the first anti-reflection films 133-131, and the amount of light incident on the substrate 110 is increased.

이들 전자와 정공은 기판(110)과 에미터부(121)의 p-n 접합에 의해 예를 들어, n형의 도전성 타입을 갖는 에미터부(121)과 p형의 도전성 타입을 갖는 기판(110) 쪽으로 각각 이동한다. 이처럼, 에미터부(121) 쪽으로 이동한 전자는 복수의 전면 전극(141)과 복수의 전면 버스바(142)에 의해 수집되어 복수의 전면 버스바(142)를 따라 이동하고, 기판(110) 쪽으로 이동한 정공은 인접한 후면 전극(151)와 복수의 후면 버스바(152)에 의해 수집되어 복수의 후면 버스바(152)를 따라 이동한다. 이러한 전면 버스바(142)와 후면 버스바(152)를 도선으로 연결하면 전류가 흐르게 되고, 이를 외부에서 전력으로 이용하게 된다.These electrons and holes are injected into the emitter section 121 having the n-type conductivity type and the substrate 110 having the p-type conductivity type, for example, by the pn junction of the substrate 110 and the emitter section 121 Move. Electrons migrated toward the emitter section 121 are collected by the plurality of front electrodes 141 and the plurality of front bus bars 142 and move along the plurality of front bus bars 142, The moved holes are collected by the adjacent rear electrode 151 and the plurality of rear bus bars 152 and move along the plurality of rear bus bars 152. When the front bus bar 142 and the rear bus bar 152 are connected to each other by a wire, a current flows and is used as electric power from the outside.

다음, 이러한 태양 전지(11)를 제조하는 방법에 대하여 도 3a 내지 도 3e를 참고로 하여 설명한다.Next, a method of manufacturing such a solar cell 11 will be described with reference to Figs. 3A to 3E.

도 3a에 도시한 것처럼, p형 또는 n형 기판(110)에 5가 원소 또는 3가 원소의 불순물을 포함하는 물질을 열 확산법 등으로 기판(110)에 도핑하여, 기판(110)에 에미터부(121)를 형성한다. 이때, 기판(110)이 n형일 경우, 인(P) 등을 포함하는 물질(예, POCl3이나 H3PO4)을 이용하고, 기판(110)이 p형일 경우, 붕소(B) 등을 포함하는 물질(예, B2H6)을 이용하여 기판(110)에 에미터부(121)를 형성할 수 있다. 또한, 열 확산법으로 에미터부(121)를 형성할 경우, 기판(110)의 전면, 후면 및 측면에 에미터부(121)가 형성된다. 3A, a substrate 110 is doped with p-type or n-type impurities such as pentavalent elements or trivalent elements in a substrate 110 by a thermal diffusion method or the like, (121). In this case, when the substrate 110 is n-type, a material including phosphorous (P) or the like (for example, POCl 3 or H 3 PO 4 ) is used and when the substrate 110 is p- The emitter layer 121 may be formed on the substrate 110 using a material (e.g., B 2 H 6 ) that contains a material (e.g., B 2 H 6 ). When the emitter layer 121 is formed by the thermal diffusion method, the emitter layer 121 is formed on the front surface, the back surface, and the side surface of the substrate 110.

p형 불순물 또는 n형 불순물이 기판(110) 내부로 확산됨에 따라 생성된 인을 포함하는 산화물(phosphorous silicate glass, PSG)이나 붕소를 포함하는 산화물(boron silicate glass, BSG)은 식각 공정을 통해 제거된다.a phosphorus silicate glass (PSG) or a boron silicate glass (BSG) containing phosphorus generated as the p-type impurity or the n-type impurity diffuses into the substrate 110 is removed through the etching process do.

필요할 경우, 에미터부(121)를 형성하기 전에, 기판(110)의 전면에 건식 식각법 또는 습식 식각법을 통한 텍스처링 공정을 수행하여, 요철면인 텍스처링 표면을 형성할 수 있다. 이때, 기판(110)이 단결정 실리콘으로 이루어질 경우, KOH, NaOH 등의 염기 용액을 사용하여 기판(110)의 표면을 텍스처링할 수 있고, 기판(110)이 다결정 실리콘으로 이루어질 경우, HF나 HNO3와 같은 산 용액을 사용하여 기판(110)의 표면을 텍스처링할 수 있다.If necessary, the surface of the substrate 110 may be subjected to a texturing process by a dry etching method or a wet etching method to form a textured surface, which is an uneven surface, before the emitter layer 121 is formed. When the substrate 110 is made of monocrystalline silicon, the surface of the substrate 110 may be textured using a base solution such as KOH or NaOH. When the substrate 110 is made of polycrystalline silicon, HF or HNO 3 May be used to texture the surface of the substrate 110.

다음, 도 3b에 도시한 것처럼, 유기 용매에 알루미노 규산염을 용해시킨 용액을 스핀 코팅법(spin coating)이나 인쇄법(printing)으로 기판(110) 전면의 에미터부(121) 위에 도포시킨 후 대략 상온 내지 500℃ 의 온도에서 열처리하여 제올라이트로 이루어진 제1 반사 방지막(131)을 형성한다. 이때, 열처리 공정 중에 유기 용매는 제거된다.3B, a solution prepared by dissolving aluminosilicate in an organic solvent is applied on the emitter 121 on the entire surface of the substrate 110 by spin coating or printing, Treated at a temperature ranging from room temperature to 500 ° C to form a first antireflection film 131 made of zeolite. At this time, the organic solvent is removed during the heat treatment process.

다음, 도 3c에 도시한 것처럼, 제올라이트로 이루어진 제1 반사 방지막(131) 위에, 플라즈마 화학 기상 증착법(plasma enhanced chemical vapor deposition, PECVD) 등을 이용하여 순차적으로 제2 및 제3 반사 방지막(132, 133)을 형성하여 반사 방지부(130)을 완성한다.Next, as shown in FIG. 3C, the second and third antireflection films 132 and 132 are sequentially formed on the first antireflection film 131 made of zeolite by using plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) 133 are formed to complete the anti-reflection portion 130.

이때, 제2 반사 방지막(132)은 수소화된 실리콘 질화물로 이루어지고, 제3 반사 방지막(133)은 수소화된 실리콘 산화물로 이루어질 수 있다.At this time, the second antireflection film 132 may be made of hydrogenated silicon nitride, and the third antireflection film 133 may be made of hydrogenated silicon oxide.

이와는 달리, 다른 예에서, 플라즈마 화학 기상 증착법을 이용하여 수소화된 실리콘 산화물로 이루어진 제1 반사 방지막(131)을 형성한 후, 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 스핀 코팅법이나 인쇄법을 이용하여 제1 반사 방지막(132) 위에 도포한 후 열처리하여 제올라이트로 이루어진 제2 반사 방지막(132)을 형성한다. 그런 다음, 다시 플라즈마 화학 기상 증착법을 이용하여 수소화된 실리콘 질화물로 이루어진 제3 반사 방지막(133)을 형성하여 반사 방지부(130)을 형성한다. Alternatively, in another example, a first anti-reflective film 131 made of hydrogenated silicon oxide is formed by plasma CVD, and then an organic solvent in which the aluminosilicate is dissolved is spin-coated or printed Is applied on the first antireflection film 132, and then heat-treated to form a second antireflection film 132 made of zeolite. Then, a third anti-reflection film 133 made of hydrogenated silicon nitride is formed by plasma chemical vapor deposition to form the anti-reflection portion 130.

그런 다음, 도 3d에 도시한 것처럼, 반사 방지부(130) 위에 스크린 인쇄법(screen printing)을 이용하여, 은(Ag)을 함유한 페이스트를 인쇄한 후 건조시켜 전면전극부 패턴(40)을 형성한다. 이때, 전면전극부 패턴(40)은 전면전극 패턴(41)과 전면 버스바 패턴(42)을 구비한다. Then, as shown in FIG. 3D, a paste containing silver (Ag) is printed on the antireflective portion 130 by screen printing and then dried to form the front electrode pattern 40 . At this time, the front electrode pattern 40 includes a front electrode pattern 41 and a front bus bar pattern 42.

다음, 도 3e를 참고로 하면, 기판(110)의 후면에 형성된 에미터부(121) 위에 후면전극 패턴(51)과 후면 버스바 패턴(52)을 형성하여 후면 전극부 패턴(50)을 완성한다.3E, a rear electrode pattern 51 and a rear bus bar pattern 52 are formed on the emitter 121 formed on the rear surface of the substrate 110 to complete the rear electrode pattern 50 .

후면전극 패턴(51)은 알루미늄(Al)을 함유하는 페이스트를 스크린 인쇄법으로 기판(110)의 후면 위에 선택적으로 인쇄한 후 건조시켜 형성되고, 후면 버스바 패턴(52)은 은(Ag)을 함유한 페이스트를 스크린 인쇄법으로 후면전극 패턴(51)이 위치하지 않은 기판(110)의 후면 위에 선택적으로 인쇄한 후 건조시켜 형성된다. 후면전극 패턴(51)과 후면 버스바 패턴(52)의 형성 순서는 변경 가능하다. The rear electrode pattern 51 is formed by selectively printing a paste containing aluminum (Al) on the rear surface of the substrate 110 by screen printing and drying the rear electrode pattern 51. The rear bus bar pattern 52 is formed by silver Is selectively formed on the rear surface of the substrate 110 on which the rear electrode pattern 51 is not formed by a screen printing method and then dried. The order of forming the rear electrode pattern 51 and the rear bus bar pattern 52 can be changed.

이때, 이들 패턴(40, 51, 52)의 건조 온도는 약 120℃ 내지 약 200℃일 수 있고, 패턴(40, 51, 52)의 형성 순서는 변경 가능하다.At this time, the drying temperature of these patterns 40, 51, and 52 may be about 120 ° C to about 200 ° C, and the order of forming the patterns 40, 51, and 52 may be changed.

그런 다음, 전면전극부 패턴(40)과 후면전극부 패턴(50)이 형성된 기판(110)에 약 750℃ 내지 약 800℃의 온도에서 열처리 공정이 시행되어, 에미터부(121)와 접촉하고 복수의 전면 전극(141)과 복수의 전면 버스바(142)를 구비한 전면 전극부(140), 기판(110)과 전기적으로 연결되는 후면 전극(151)과 후면 버스바(152)를 구비한 후면 전극부(150), 그리고 후면 전극(151)과 접하는 기판(110) 내에 후면 전계부(172)를 형성한다.A heat treatment process is then performed on the substrate 110 on which the front electrode pattern 40 and the rear electrode pattern 50 are formed at a temperature of about 750 ° C. to about 800 ° C. to contact the emitter 121, A rear electrode 151 and a rear bus bar 152 electrically connected to the substrate 110. The rear electrode 151 is electrically connected to the substrate 110, The electrode unit 150 and the rear electrode 151 are formed on the substrate 110. The rear electrode unit 172 is formed on the substrate 110 in contact with the electrode unit 150 and the rear electrode 151. [

즉, 열처리 공정에 의해, 전면전극부 패턴(40)에 함유된 식각 물질에 의해 전면전극부 패턴(40)과 접해 있는 반사 방지부(130) 부분의 식각 동작이 이루어져 해당 부분의 반사 방지부(130)가 제거되어 전면 전극부 패턴(40)이 에미터부(121)와 접촉하여 전면 전극부(140)가 형성된다. 이때 전면전극 패턴(41)은 전면 전극(141)이 되고 전면 버스바 패턴(42)은 전면 버스바(142)를 형성한다. That is, by the heat treatment process, the etching operation of the portion of the reflection preventing portion 130, which is in contact with the front electrode portion pattern 40, is performed by the etching material contained in the front electrode portion pattern 40, The front electrode part pattern 40 is contacted with the emitter part 121 to form the front electrode part 140. [ At this time, the front electrode pattern 41 becomes the front electrode 141 and the front bus bar pattern 42 forms the front bus bar 142.

또한, 열처리 공정에 의해, 후면전극부 패턴(50)의 후면 전극 패턴(51)과 후면 버스바 패턴(52)의 동작에 기판(110)에 접해 있는 후면 전극(151)과 복수의 후면 버스바(152)로 형성되고, 후면전극부 패턴(50)의 후면 전극 패턴(51)에 포함된 알루미늄(Al)이 기판(110)의 후면에 형성된 에미터부(121) 뿐만 아니라 그 넘어서까지 기판(110)으로 확산되어 기판(110) 내부에 기판(110)보다 높은 불순물 농도를 갖는 불순물부인 후면 전계부(172)가 형성된다. 이로 인해, 후면 전극(151)은 후면 전계부(172)와 접촉하여 기판(110)과 전기적으로 연결된다.The back electrode pattern 51 and the rear bus bar pattern 52 of the rear electrode pattern 50 are electrically connected to the back electrode 151 and the rear bus bar pattern 52 by the heat treatment process, Aluminum included in the rear electrode pattern 51 of the rear electrode pattern 50 is formed not only on the emitter 121 formed on the rear surface of the substrate 110 but also on the substrate 110 To form a rear electric field portion 172, which is an impurity portion having a higher impurity concentration than the substrate 110, in the substrate 110. Thus, the rear electrode 151 is electrically connected to the substrate 110 in contact with the rear electric part 172.

그런 다음, 레이저빔이나 식각 공정을 이용하여 기판(110)의 측면으로 확산되어 측면에 도핑된 에미터부(121)를 제거하는 측면 분리(edge isolation) 공정을 실시하여 태양 전지(11)를 완성한다(도 1 및 도 2). 하지만, 측면 분리 공정 시기는 필요에 따라 변경 가능하며 생략될 수 있다.Then, the solar cell 11 is completed by performing an edge isolation process of diffusing to the side surface of the substrate 110 using a laser beam or an etching process to remove the emitter layer 121 doped on the side surface (Figs. 1 and 2). However, the timing of the side-separating process can be changed as needed and may be omitted.

본 실시예의 경우, 기판(110)의 후면에 형성된 에미터부(121)는 별도로 제거되지 않았지만, 대안적인 예에서, 후면전극부 패턴(50)을 형성하기 전에 기판(110)의 후면에 위치하는 에미터부(121)를 제거하기 위한 별도의 공정이 행해질 수 있다. 또한, 대안적인 예에서, 기판(110)의 전면에만 에미터부(121)를 형성할 수 있고, 이 경우, 기판(110)의 후면에 위치한 에미터부를 제거하기 위한 별도의 공정이나 측면 분리 공정은 생략된다.The emitter portion 121 formed on the back surface of the substrate 110 is not removed separately but in an alternative embodiment the emitter portion 121 formed on the back surface of the substrate 110 is formed before the rear electrode portion pattern 50 is formed. A separate process for removing the tab 121 may be performed. In an alternative embodiment, the emitter portion 121 may be formed only on the front surface of the substrate 110. In this case, a separate process or side separation process for removing the emitter portion located on the rear surface of the substrate 110 Is omitted.

다음, 도 4 및 도 5를 참고로 하여, 본 발명의 다른 실시예에 따른 태양 전지를 설명한다.Next, a solar cell according to another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG.

도 4 및 도 5의 태양 전지(12)에서 도 1 및 도 2와 동일한 구조로 이루어져 있고 같은 기능을 수행하는 구성요소에 대해서는 같은 도면 부호를 부여하고 그에 대한 자세한 설명은 생략한다.The solar cell 12 of FIGS. 4 and 5 has the same structure as that of FIG. 1 and FIG. 2, and the same reference numerals are assigned to the components performing the same function, and a detailed description thereof will be omitted.

도 4 및 도 5에 도시한 태양 전지(12)는 도 1 및 도 2 및 도시한 태양 전지(11)와 유사한 구조를 갖는다.The solar cell 12 shown in Figs. 4 and 5 has a structure similar to that of the solar cell 11 shown in Figs. 1 and 2 and Fig.

즉, 태양 전지(12)는 기판(110)의 전면에 위치한 에미터부(121), 에미터부(121) 위에 위치하는 반사 방지부(130), 반사 방지부(130)를 관통하여 에미터부(121)와 연결되어 있고 복수의 전면 전극(141)과 복수의 전면 버스바(142)를 구비한 전면 전극부(140), 기판(110)과 연결되어 있는 후면 전극부(150a), 그리고 기판(110)의 후면에 위치하는 복수의 후면 전계부(172a)를 구비한다.That is, the solar cell 12 includes an emitter section 121 disposed on the front surface of the substrate 110, an antireflection section 130 positioned on the emitter section 121, and an emitter section 121 A front electrode unit 140 having a plurality of front electrodes 141 and a plurality of front bus bars 142, a rear electrode unit 150a connected to the substrate 110, And a plurality of rear electric sections 172a located on the rear side of the rear electric field section 172a.

이러한 태양 전지(12)는 도 1 및 도 2에 도시한 태양 전지(11)와는 달리 기판(110)의 후면 위에 위치하는 보호부(190)를 더 구비하고 있고, 이 보호부(190) 위에 후면 전극부(150a)가 존재한다. Unlike the solar cell 11 shown in FIGS. 1 and 2, the solar cell 12 further includes a protection unit 190 positioned on the rear surface of the substrate 110, There is an electrode portion 150a.

이때, 후면 전극부(150a) 역시 후면 전극(151a)과 이 후면 전극(151a)과 연결되어 있는 복수의 후면 버스바(152)를 구비하지만, 후면 전극(151a)은 보호부(190) 위에 위치한다. 따라서 기판(110)과 후면 전극(151a)과의 연결을 위해, 후면 전극(151a)은 보호부(190)를 관통하여 기판(110)과 접하고 있는 복수의 접촉부(155)를 구비한다. 이로 인해, 후면 전극(151a)은 복수의 접촉부(155)를 통해 기판(110)과 선택적으로 연결되어 있고, 복수의 접촉부(155)와 접촉하는 기판(110)의 부분에 복수의 후면 전계부(172a)가 형성된다. 따라서, 도 1 및 도 2의 태양 전지(11)의 경우, 복수의 후면 버스바(152)가 위치한 부분을 제외하면 기판(110)의 후면 전체에 후면 전극(151)과 후면 전계부(172)가 위치하는 반면, 도 3 및 도 4의 태양 전지(12)에서는 접촉부(155)를 제외한 후면 전극(151a) 부분이 보호부(190) 위에 존재하여 기판(110)과 부분적으로, 즉 선택적으로 연결되어 있고, 후면 전계부(172a) 역시 기판(110)에 부분적으로 위치한다. 또한, 태양 전지(12)에서 복수의 후면 버스바(152)는 기판(110) 위에 바로 위치하는 것이 아니라 보호부(190) 위에 위치하며 인접한 후면 전극(151a)과 연결되어 있고, 기판(110)의 전면에 위치한 전면 버스바(142)와 마주하고 있다.In this case, the rear electrode unit 150a also includes a rear electrode 151a and a plurality of rear bus bars 152 connected to the rear electrode 151a. However, the rear electrode 151a is positioned on the protection unit 190 do. The rear electrode 151a has a plurality of contact portions 155 that are in contact with the substrate 110 through the protective portion 190 for connection between the substrate 110 and the rear electrode 151a. The rear electrode 151a is selectively connected to the substrate 110 through the plurality of contact portions 155 and is electrically connected to the plurality of rear electric parts 172a. 1 and 2, the rear electrode 151 and the rear electric part 172 are formed on the entire rear surface of the substrate 110, except for the portion where the plurality of rear bus bars 152 are disposed. In the solar cell 12 of FIGS. 3 and 4, a portion of the rear electrode 151a except for the contact portion 155 is present on the protection portion 190 and partially or selectively connected to the substrate 110 And the rear electric section 172a is also partially located on the substrate 110. [ The plurality of rear bus bars 152 in the solar cell 12 are not positioned directly on the substrate 110 but are connected to the adjacent rear electrodes 151a on the protective portion 190, And a front bus bar 142 located on the front side of the front side.

이처럼, 기판(110)의 후면에 위치한 보호부(190)는 반사 방지부(130)와 유사하게 기판(110)의 후면에서 패시베이션 기능을 수행하고, 반사 방지부(130)와는 반대로 기판(110)을 통과한 빛을 다시 기판(110) 쪽으로 반사시켜 기판(110)으로 입사되는 빛의 양은 증가시킨다. The protective portion 190 located on the rear surface of the substrate 110 performs a passivation function on the rear surface of the substrate 110 similar to the anti-reflection portion 130, And the amount of light incident on the substrate 110 is increased.

이러한 보호부(190)는 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)이나 알루미늄 산화물(Al2O3) 등으로 이루어진 단일막 구조를 가질 수 있지만, 도 3 및 도 4와 도시한 것처럼, 다층막 구조를 가질 수 있다.The protection unit 190 may have a single layer structure composed of aluminum oxide of the hydrogenated silicon nitride (SiNx) or (Al 2 O 3), as shown in Fig. 3 and 4, it may have a multi-layer film structure .

예를 들어, 보호부(190)는 기판(110)의 후면에서부터 순차적으로 위치하는 제1 내지 제3 보호막(191-193)을 구비한다.For example, the protective portion 190 includes first to third protective films 191 to 193 sequentially positioned from the rear surface of the substrate 110.

기판(110)의 후면 위에 바로 위치하는 제1 보호막(191)은 제올라이트로 이루어지고, 제1 보호막(191) 위에 위치하는 제2 보호막(192)은 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)로 이루어지며, 제2 보호막(192) 위에 위치하는 제3 보호막(193)은 수소화된 실리콘 산화물(SiOx)이나 알루미늄 산화물(Al2O3)로 이루어진다.The first passivation layer 191 directly located on the rear surface of the substrate 110 is made of zeolite and the second passivation layer 192 located on the first passivation layer 191 is made of hydrogenated silicon nitride (SiNx) the third protective film 193 that is formed on the second protective film 192 is made of hydrogenated silicon oxide (SiOx) or aluminum oxide (Al 2 O 3).

따라서, 다공성 구조를 갖고 음(-)의 고정 전하의 특성을 갖고 있는 제올라이트로 이루어진 제1 보호막(191)으로 인해, 전하의 손실을 초래하는 불순물들이 포획되어, 기판(110)의 후면에 존재하는 전하와 재결합되는 불순물의 양이 감소하여 기판(110)의 표면에서 손실되는 전하의 양이 감소한다. 또한, 이미 설명한 것처럼, 제올라이트막인 제1 보호막(191)이 버퍼층으로 기능하여, 실리콘 질화막인 제2 보호막(192)을 플라즈마 기상 증착법으로 형성할 경우 기판(110)의 후면에 발생하는 손상이 방지된다.Therefore, the first protective film 191 made of zeolite having a porous structure and negative (-) fixed charge characteristics can trap impurities that cause loss of charge, The amount of charge that is lost at the surface of the substrate 110 decreases due to a decrease in the amount of impurities recombining with the charge. In addition, as described above, when the first protective film 191, which is a zeolite film, functions as a buffer layer and the second protective film 192, which is a silicon nitride film, is formed by a plasma CVD method, damage to the rear surface of the substrate 110 is prevented do.

또한, 제2 및 제3 보호막(192, 193)에 함유된 수소(H)나 알루미늄(Al)에 의해 기판(110)의 후면 및 그 근처에 존재하는 댕글링 결합과 같은 결함이 안정한 결합으로 바뀌게 되어 결함에 의해 기판(110)의 표면 쪽으로 이동한 전하가 소멸되는 것을 감소시키는 패시베이션 기능이 수행된다. 또한, 제3 보호막(193)에 의해 제2 보호막(192)에 함유된 수소(H)이나 알루미늄(Al)이 기판(110)의 반대쪽으로 이동하는 것을 방지하여, 패시베이션 기능을 더욱 향상시킨다. 더욱이, 보호막(190)이 다층막으로 이루어져 있으므로, 기판(110)을 통과한 빛의 반사 기능은 더욱 향상된다.In addition, defects such as dangling bonds present on the rear surface of the substrate 110 and near the substrate 110 due to hydrogen (H) or aluminum (Al) contained in the second and third protective films 192 and 193 are changed into stable bonds A passivation function is performed to reduce the disappearance of the charges that have moved toward the surface of the substrate 110 due to the defect. The third protective film 193 prevents hydrogen (H) and aluminum (Al) contained in the second protective film 192 from moving toward the opposite side of the substrate 110, thereby further improving the passivation function. Furthermore, since the protective film 190 is formed of a multilayer film, the function of reflecting light passing through the substrate 110 is further improved.

반사 방지부(130)는 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 산화 질화물(SiOxNy) 또는 알루미늄 산화물(Al2O3) 등으로 이루어져 있는 단일막이나 다층막 구조를 가질 수 있지만, 이미 도 1 및 도 2에 도시한 것과 같이, 제1 내지 제3 반사 방지막(131-133)으로 이루어져 있는 삼중막과 같은 다층막 구조를 가질 수 있다. Anti-reflection part 130 is a silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), but may have a single film or multi-film structure consisting of such as a silicon oxynitride (SiOxNy) or an aluminum oxide (Al 2 O 3), imido 1 and the first to third anti-reflection films 131 to 133 as shown in FIG. 2 and FIG.

제1 내지 제3 반사 방지막(131-133)에서, 제1 반사 방지막(131)은 제올라이트나 수소화된 실리콘 산화물(SiOx)로 이루어질 수 있고, 제2 반사 방지막(132)은 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)이나 제올라이트로 이루어질 수 있으며, 제3 반사 방지막(133)은 수소화된 실리콘 산화물(SiOx)이나 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)로 이루어질 수 있다. The first antireflection film 131-133 may be made of zeolite or hydrogenated silicon oxide (SiOx), and the second antireflection film 132 may be made of hydrogenated silicon nitride (SiNx ) Or zeolite, and the third anti-reflection film 133 may be made of hydrogenated silicon oxide (SiOx) or hydrogenated silicon nitride (SiNx).

또한, 다른 예로서, 반사 방지부(130)는 제올라이트로 이루어진 제1 반사 방지막(131), 수소화된 실리콘 질화물(SiNx)로 이루어진 제2 반사 방지막(132), 그리고 알루미늄 산화물(Al2O3)로 이루어진 제3 반사 방지막(133)으로 이루어질 수 있다. In addition, as another example, the antireflection portion 130 may include a first antireflection film 131 made of zeolite, a second antireflection film 132 made of hydrogenated silicon nitride (SiNx), and an aluminum oxide (Al 2 O 3 ) The third anti-reflection film 133 may be formed of a second anti-reflection film.

이때, 실리콘 질화막인 제2 반사 방지막(132)과 알루미늄 산화막인 제3 반사 방지막(133)에 함유된 수소(H)나 알루미늄(Al)에 의해 댕글링 결합과 같은 불안정한 결합을 안정한 결합으로 변경하는 패시베이션 기능이 수행되며, 기판(110)의 표면에 바로 위치하고 제올라이트막으로 이루어진 제1 반사 방지막(131)에 의해 이미 설명한 것처럼 전하의 손실을 초래하는 불순물들이 포획되어 기판(110)의 표면의 패시베이션 기능을 수행하며, 제2 반사 방지막(132)은 플라즈마 기상 증착법으로 형성할 때 발생하는 기판(110)의 손상이 방지된다.At this time, unstable bonds such as dangling bonds are changed to stable bonds by hydrogen (H) or aluminum (Al) contained in the second antireflection film 132 which is a silicon nitride film and the third antireflection film 133 which is an aluminum oxide film The passivation function is performed and impurities which cause charge loss are trapped by the first antireflection film 131 located immediately on the surface of the substrate 110 and made of the zeolite film to prevent passivation of the surface of the substrate 110 And the second antireflection film 132 is prevented from being damaged when the substrate 110 is formed by plasma enhanced vapor deposition.

또한, 제2 반사 방지막(132)과 제3 반사 방지막(133)의 굴절률 등에 의해 기판(110)으로 입사되는 빛의 반사량이 감소한다.In addition, the amount of reflection of light incident on the substrate 110 is reduced by the refractive indexes of the second anti-reflection film 132 and the third anti-reflection film 133.

이와 같이, 기판(110)의 전면에 위치하는 반사 방지부(130)와 기판(110)의 후면에 위치하는 보호부(190)에 제올라이트로 이루어진 막을 각각 구비하고 있으므로, 기판(110)의 전면 및 후면에 존재하여 기판(110)의 전면과 후면으로 각각 이동한 전하와 재결합되어 전하의 손실을 초래하는 불순물이 제올라이트막과 각각 결합되므로, 전하의 손실량이 감소한다.Since the antireflective portion 130 located on the front surface of the substrate 110 and the protective portion 190 located on the rear surface of the substrate 110 are provided with films made of zeolite, And the impurities which are recombined with the charges transferred to the front surface and the rear surface of the substrate 110, respectively, which are present on the rear surface, are combined with the zeolite membrane, thereby reducing the amount of charge loss.

이러한 태양 전지(12) 역시, 반사 방지막(130)을 통해 기판(110)에 빛이 입사됨에 따라 발생된 전자와 정공이 각 해당하는 도전성 타입을 갖는 반도체 부분, 예를 들어, 에미터부(121)와 기판(110) 쪽으로 각각 이동한다. 에미터부(121) 쪽으로 이동한 전하(예, 전자)는 전면 전극(141)과 전면 버스바(142)에 의해 수집되어 전면 버스바(142)로 전달되어 수집되고, 기판(110) 쪽으로 이동한 전하(예, 정공)은 인접한 접촉부(155)로 전달된 후 후면 전극(151a)을 통해 후면 버스바(152)에 의해 수집된다. 이러한 전면 버스바(142)와 후면 버스바(152)를 도선으로 연결하면 전류가 흐르게 되고, 이를 외부에서 전력으로 이용하게 된다.The solar cell 12 may also include a semiconductor part having a corresponding conductive type, for example, an emitter part 121, and a light emitting part formed on the substrate 110 through the anti- And the substrate 110, respectively. Charges (eg electrons) traveling toward the emitter section 121 are collected by the front electrode 141 and the front bus bar 142 and transferred to the front bus bar 142 to be collected and transferred to the substrate 110 Charges (e.g., holes) are transferred to the adjacent contacts 155 and then collected by the rear bus bar 152 through the back electrode 151a. When the front bus bar 142 and the rear bus bar 152 are connected to each other by a wire, a current flows and is used as electric power from the outside.

이 경우, 기판(110)의 전면뿐만 아니라 보호부(190)에 의해 기판(110)의 후면에도 패시베이션 효과가 발생하므로, 기판(110)의 전면뿐만 아니라 후면에서 전하 손실이 방지되므로 태양 전지(12)의 효율이 향상된다.In this case, a passivation effect is also generated on the rear surface of the substrate 110 by the protective portion 190 as well as the front surface of the substrate 110, so that charge loss is prevented on the front surface as well as on the front surface of the substrate 110, ) Is improved.

또한, 보호부(190)가 제올라이트막으로 이루어져 있으므로, 기판(110)의 후면의 표면 패시베이션 효과가 더욱 향상되므로, 전하 손실은 더욱더 줄어든다.Further, since the protective portion 190 is made of a zeolite film, the surface passivation effect of the rear surface of the substrate 110 is further improved, so that the charge loss is further reduced.

이러한 태양 전지(12)를 제조하는 방법을 이미 설명한 도 3a 내지 도 3e 뿐만 아니라 도 6a 내지 도 6d를 참고로 하여 설명한다.The method of manufacturing such a solar cell 12 will be described with reference to FIGS. 6A to 6D as well as FIGS. 3A to 3E already described.

이미 도 3a 내지 도 3c를 참고로 하여 기판(110)에 에미터부(121)와 반사 방지부(130)를 형성한다.Referring to FIGS. 3A to 3C, the emitter layer 121 and the anti-reflection portion 130 are formed on the substrate 110.

이때, 다른 예에서, 제1 내지 제3 반사 방지막(131-133)은 제올라이트로 이루어진 막을 구비하지 않고, 수소화된 실리콘 질화물(SiNx), 수소화된 실리콘 산화물(SiOx), 수소화된 실리콘 산화 질화물(SiOxNy) 또는 알루미늄 산화물(Al2O3) 중 적어도 하나로 이루어질 수 있고, 이 경우, 제1 내지 제3 반사 방지막(131-133)은 플라즈마 화학 기상 증착법으로 형성될 수 있다.Here, in another example, the first to third anti-reflective films 131 to 133 do not have a film made of zeolite but are made of hydrogenated silicon nitride (SiNx), hydrogenated silicon oxide (SiOx), hydrogenated silicon oxynitride ) Or aluminum oxide (Al 2 O 3 ). In this case, the first through third anti-reflective films 131-133 may be formed by a plasma chemical vapor deposition method.

도 6a에 도시한 것처럼, 습식 식각 또는 건식 식각 등으로 기판(110)의 후면에 형성된 에미터부(121)를 제거한다. 대안적인 예에서, 기판(110)의 전면에만 에미터부(121)가 형성될 경우, 기판(110)의 후면에 형성된 에미터부의 제거 공정은 생략된다. The emitter 121 formed on the back surface of the substrate 110 is removed by wet etching or dry etching as shown in FIG. 6A. In an alternative example, when the emitter section 121 is formed only on the front surface of the substrate 110, the process of removing the emitter section formed on the rear surface of the substrate 110 is omitted.

그런 다음, 도 6b에 도시한 것처럼, 기판(110)의 후면에 이미 설명한 것과 같이 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 스핀 코팅법이나 인쇄법을 이용하여 도포한 후 건조시켜, 제1 보호막(191)을 형성한 후, 제1 보호막(191) 위에 플라즈마 화학 기상법을 이용하여 순차적으로 제2 및 제3 보호막(192, 193)을 형성하여 보호부(190)를 완성한다. 이때, 제2 보호막(192)은 수소화된 실리콘 질화물로 이루어지고, 제3 보호막(193)은 수소화된 실리콘 산화물이나 알루미늄 산화물로 이루어질 수 있다.6B, an organic solvent in which aluminosilicate has been dissolved is applied to the rear surface of the substrate 110 by spin coating or printing, followed by drying to form a first protective film 191 The second and third protective films 192 and 193 are sequentially formed on the first protective film 191 by using a plasma chemical vapor deposition method to complete the protective portion 190. At this time, the second passivation layer 192 may be formed of hydrogenated silicon nitride, and the third passivation layer 193 may be formed of hydrogenated silicon oxide or aluminum oxide.

다음, 도 3d 및 도 3e에 도시한 것과 같이, 스크린 인쇄법을 이용하여, 반사 방지부(130)의 해당 부분에 은(Ag)을 포함한 페이스트를 도포한 후 건조시켜 전면전극 패턴(41)과 전면버스바 패턴(42)을 구비한 전면전극부 패턴(40)을 형성하고, 보호부(190) 위에 알루미늄(Al)을 포함한 페이스트를 도포하여 후면전극 패턴(51a)을 형성하고 또한 은(Ag)을 포함한 페이스트를 도포한 후 건조시켜 복수의 후면 버스바 패턴(52)을 형성한다(도 6c).Next, as shown in FIG. 3D and FIG. 3E, a paste containing silver (Ag) is applied to a corresponding portion of the antireflection portion 130 by using a screen printing method and dried to form a front electrode pattern 41 A front electrode pattern 40 having a front bus bar pattern 42 is formed and a paste containing aluminum (Al) is applied on the protective portion 190 to form a rear electrode pattern 51a, ) Is applied and dried to form a plurality of rear bus bar patterns 52 (FIG. 6C).

다음, 도 6d에 도시한 것처럼, 후면전극 패턴(51a)의 정해진 부분에 선택적으로 레이저 빔을 조사하면, 후면전극 패턴(51a), 그 하부의 보호부(190) 및 기판(110)이 서로 혼합된 부분(molten mixture)을 형성하여 접촉부(155)를 형성한다.6D, when a predetermined portion of the rear electrode pattern 51a is selectively irradiated with a laser beam, the rear electrode pattern 51a, the protective portion 190 and the substrate 110 below the rear electrode pattern 51a and the substrate 110 are mixed with each other A molten mixture is formed to form the contact portion 155.

그런 다음, 이미 설명한 것처럼, 패턴(40, 51a, 52)이 형성된 기판(110)을 약 750℃ 내지 약 800℃의 온도에서 열처리하여, 반사 방지부(130)를 관통해 에미터부(121)와 연결된 복수의 전면 전극(141)과 복수의 전면 버스바(142)를 구비한 전면 전극부(140), 접촉부(155)를 통해 기판(110)의 후면과 연결된 후면 전극(151a), 그리고 접촉부(155)와 접해 있는 기판(110)의 후면에 위치한 복수의 후면 전계부(172)를 형성하여 태양 전지(12)를 완성한다(도 4 및 도 5).Then, as described above, the substrate 110 on which the patterns 40, 51a, and 52 are formed is heat-treated at a temperature of about 750 ° C. to about 800 ° C. to pass through the antireflective portion 130, A front electrode unit 140 having a plurality of front electrodes 141 and a plurality of front bus bars 142 connected to the rear substrate 151 and a rear electrode 151a connected to a rear surface of the substrate 110 through a contact unit 155, The solar cell 12 is completed by forming a plurality of rear electric fields 172 located on the rear surface of the substrate 110 in contact with the electrodes 155 (FIGS. 4 and 5).

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, It belongs to the scope of right.

11, 12: 태양 전지 110: 기판
121: 에미터부 130: 반사 방지부
131-133: 반사 방지막 140: 전면 전극부
141: 전면 전극 142: 전면 버스바
150, 150a: 후면 전극부 151, 151a: 후면 전극
152: 후면 버스바 155: 접촉부
172: 후면 전계부 190: 보호부
191-193: 보호막
11, 12: solar cell 110: substrate
121: Emitter part 130: Antireflection part
131-133: Antireflection film 140: Front electrode part
141: front electrode 142: front bus bar
150, 150a: Rear electrode part 151, 151a: Rear electrode
152: rear bus bar 155: contact
172: rear surface electrical part 190: protection part
191-193: Shield

Claims (19)

제1 도전성 타입을 갖는 기판,
상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입을 갖고 상기 기판의 제1 면에 위치하는 에미터부,
상기 에미터부 위에 위치하는 반사 방지막을 구비한 반사 방지부,
상기 에미터부에 연결되어 있는 제1 전극, 그리고
상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 위치하고 상기 기판과 연결되어 있는 제2 전극
을 포함하고,
상기 반사 방지부는,
상기 에미터부 바로 위에 형성되고, 제올라이트로 이뤄진 제1 반사 방지막과,
상기 제1 반사 방지막 바로 위에 형성되고, 수소화된 실리콘 질화물로 이뤄진 제2 반사 방지막과,
상기 제2 반사 방지막 바로 위에 형성되고, 알루미늄 산화물로 이뤄진 제3 반사 방지막,
을 포함하는 태양 전지.
A substrate having a first conductivity type,
An emitter portion having a second conductivity type opposite to the first conductivity type and located on a first surface of the substrate,
An antireflection portion having an antireflection film disposed on the emitter,
A first electrode connected to the emitter, and
A second electrode located on a second side of the substrate opposite the first side and connected to the substrate,
/ RTI >
The anti-
A first antireflection film formed directly on the emitter section and made of zeolite;
A second antireflection film formed on the first antireflection film and made of hydrogenated silicon nitride,
A third antireflection film formed directly on the second antireflection film and made of aluminum oxide,
≪ / RTI >
삭제delete 청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 3 has been abandoned due to the setting registration fee. 제1항에서,
상기 기판의 상기 제2 면 위에 위치하고 제올라이트로 이루어진 보호막을 구비하는 보호부를 더 포함하는 태양 전지.
The method of claim 1,
And a protective portion located on the second surface of the substrate and having a protective film made of zeolite.
청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 4 has been abandoned due to the setting registration fee. 제3항에서,
상기 보호부는 실리콘 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물(Al2O3) 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 보호막을 추가로 구비한 태양 전지.
4. The method of claim 3,
Wherein the protective portion further comprises at least one protective film made of at least one of silicon nitride, silicon oxide, and aluminum oxide (Al 2 O 3 ).
청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 5 has been abandoned due to the setting registration fee. 제3항에서,
상기 제2 전극은 상기 보호부 위에 위치하고, 상기 기판과 연결되어 있는 복수의 접촉부를 구비하고 있는 태양 전지.
4. The method of claim 3,
And the second electrode is located on the protection portion and has a plurality of contact portions connected to the substrate.
청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 6 has been abandoned due to the setting registration fee. 제5항에서,
상기 복수의 접촉부와 접촉하는 상기 기판의 부분에 위치하는 복수의 후면 전계부를 더 포함하는 태양 전지.
The method of claim 5,
And a plurality of rear electric field portions located in a portion of the substrate in contact with the plurality of contact portions.
청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 7 has been abandoned due to the setting registration fee. 제1항에서,
상기 제2 전극은 상기 기판의 상기 제2 면 위에 바로 위치하는 태양 전지.
The method of claim 1,
Wherein the second electrode is located directly on the second side of the substrate.
청구항 8은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 8 has been abandoned due to the setting registration fee. 제7항에서,
상기 제2 전극과 접촉하는 상기 기판의 부분에 위치하는 후면 전계부를 더 포함하는 태양 전지.
8. The method of claim 7,
And a back electric field portion located at a portion of the substrate in contact with the second electrode.
제1 도전성 타입을 갖는 기판,
상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입을 갖고 상기 기판의 제1 면에 위치하는 에미터부,
상기 에미터부 위에 위치하는 반사 방지부,
상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 위치하는 보호막을 구비한 보호부,
상기 기판의 상기 제1 면에 위치하고 상기 반사 방지부를 관통해 상기 에미터부에 연결되어 있는 제1 전극, 그리고
상기 기판의 제2 면에 위치하고 상기 보호부 를 관통해 상기 기판에 연결되어 있는 제2 전극
을 포함하고,
상기 보호부는,
상기 제2 면 바로 위에 형성되고, 제올라이트로 이뤄진 제1 보호막과,
상기 제1 보호막 바로 위에 형성되고, 수소화된 실리콘 질화물로 이뤄진 제2 보호막과,
상기 제2 보호막 바로 위에 형성되고, 수소화된 실리콘 산화물 또는 알루미늄 산화물로 이뤄진 제3 보호막
을 포함하는 태양 전지.
A substrate having a first conductivity type,
An emitter portion having a second conductivity type opposite to the first conductivity type and located on a first surface of the substrate,
An antireflective portion positioned above the emitter,
A protective portion having a protective film located on a second surface of the substrate opposite to the first surface,
A first electrode located on the first surface of the substrate and connected to the emitter through the anti-reflection portion, and
A second electrode disposed on a second surface of the substrate and connected to the substrate through the protective portion,
/ RTI >
The protection unit includes:
A first protective film formed directly on the second surface and made of zeolite,
A second protective film formed directly on the first protective film and made of hydrogenated silicon nitride,
A third protective film formed directly on the second protective film and made of hydrogenated silicon oxide or aluminum oxide,
≪ / RTI >
삭제delete 청구항 11은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 11 has been abandoned due to the set registration fee. 제9항에서,
상기 반사 방지부는 실리콘 질화물, 실리콘 산화물, 실리콘 산화 질화물 및 알루미늄 산화물 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 반사 방지막을 구비한 태양 전지.
The method of claim 9,
Wherein the antireflection portion comprises at least one antireflection film made of at least one of silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride, and aluminum oxide.
청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 12 is abandoned in setting registration fee. 제9항에서,
상기 제2 전극과 접촉하는 상기 기판의 상기 제2 면에 위치하는 복수의 후면 전계부를 더 포함하는 태양 전지.
The method of claim 9,
And a plurality of rear electric field portions located on the second surface of the substrate in contact with the second electrode.
제1 도전성 타입을 갖는 기판의 제1 면에 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입의 에미터부를 형성하는 단계,
상기 제1 면의 반대편에 위치하는 제2 면 위에 보호부를 형성하는 단계, 그리고
상기 에미터부와 연결된 제1 전극과 상기 보호부를 통과해 상기 기판과 선택적으로 연결되는 제2 전극을 형성하는 단계
를 포함하고,
상기 보호부 형성 단계는,
상기 제2 면 바로 위로 제올라이트로 이뤄진 제1 보호막을 형성하는 단계;
상기 제1 보호막 바로 위에 수소화된 실리콘 질화물로 이뤄진 제2 보호막을 형성하는 단계; 그리고,
상기 제2 보호막 바로 위에 수소화된 실리콘 산화물 또는 알루미늄 산화물로 이뤄진 제3 보호막을 형성하는 단계,
를 포함하는 태양 전지의 제조 방법.
Forming an emitter portion of a second conductivity type opposite to the first conductivity type on a first side of a substrate having a first conductivity type;
Forming a protective portion on a second surface opposite the first surface, and
Forming a first electrode connected to the emitter and a second electrode selectively connected to the substrate through the protector,
Lt; / RTI >
In the protecting portion forming step,
Forming a first protective layer of zeolite just above the second side;
Forming a second protective film made of hydrogenated silicon nitride directly over the first protective film; And,
Forming a third protective layer of hydrogenated silicon oxide or aluminum oxide on the second protective layer,
Wherein the method comprises the steps of:
청구항 14은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 14 has been abandoned due to the setting registration fee. 제13항에서,
상기 제1 보호막 형성 단계는 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 이용하여 상기 보호막을 형성하는 태양 전지의 제조 방법.
The method of claim 13,
Wherein the first protective film forming step forms the protective film using an organic solvent in which the aluminosilicate is dissolved.
청구항 15은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 15 is abandoned in the setting registration fee payment. 제14항에서,
상기 에미터부 위에 반사 방지부를 형성하는 단계를 더 포함하고,
상기 제1 전극은 상기 반사 방지부를 관통해 상기 에미터부에 연결되는 태양 전지의 제조 방법.
The method of claim 14,
Further comprising forming an antireflective portion on the emitter portion,
Wherein the first electrode is connected to the emitter portion through the anti-reflection portion.
청구항 16은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 16 has been abandoned due to the setting registration fee. 제15항에서,
상기 반사 방지부 형성 단계는 플라즈마 기상 증착법을 이용하여 실리콘 질화물, 실리콘 산화물, 실리콘 산화 질화물, 및 알루미늄 산화물 중 적어도 하나로 이루어진 적어도 하나의 반사 방지막을 형성하는 태양 전지의 제조 방법.
16. The method of claim 15,
Wherein the anti-reflection part forming step forms at least one antireflection film made of at least one of silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride, and aluminum oxide by using a plasma vapor deposition method.
청구항 17은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 17 has been abandoned due to the setting registration fee. 제15항에서,
상기 반사 방지부 형성 단계는 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 이용하여 상기 반사 방지부를 형성하는 태양 전지의 제조 방법.
16. The method of claim 15,
Wherein the anti-reflection part is formed using the organic solvent in which the aluminosilicate is dissolved.
제1 도전성 타입을 갖는 기판의 제1 면에 상기 제1 도전성 타입과 반대인 제2 도전성 타입의 에미터부를 형성하는 단계,
상기 에미터부 위에 반사 방지부를 형성하는 단계, 그리고
상기 기판의 상기 제1 면에 위치하고 상기 반사 방지부를 통과해 상기 에미터부와 연결되어 있는 제1 전극과 상기 제1 면의 반대편에 위치하는 상기 기판의 제2 면 위에 위치하고 상기 기판과 연결되는 제2 전극을 형성하는 단계
를 포함하고,
상기 반사 방지부 형성 단계는,
상기 에미터부 바로 위로 제올라이트로 이뤄진 제1 반사 방지막을 형성하는 단계;
상기 제1 반사 방지막 바로 위에 수소화된 실리콘 질화물로 이뤄진 제2 반사 방지막을 형성하는 단계; 그리고,
상기 제2 반사 방지막 바로 위에 알루미늄 산화물로 이뤄진 제3 반사 방지막을 형성하는 단계,
를 포함하는 태양 전지의 제조 방법.
Forming an emitter portion of a second conductivity type opposite to the first conductivity type on a first side of a substrate having a first conductivity type;
Forming an antireflective portion on the emitter portion, and
A first electrode located on the first surface of the substrate and passing through the antireflective portion and connected to the emitter portion and a second electrode located on a second surface of the substrate opposite the first surface, Step of forming electrodes
Lt; / RTI >
Wherein the step of forming the anti-
Forming a first antireflection film of zeolite just above the emitter;
Forming a second antireflection film of hydrogenated silicon nitride directly over the first antireflection film; And,
Forming a third antireflection film made of aluminum oxide directly on the second antireflection film,
Wherein the method comprises the steps of:
청구항 19은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 19 is abandoned in setting registration fee. 제18항에서,
상기 제1 반사 방지막 형성 단계는 알루미노 규산염이 용해된 유기 용매를 이용하여 상기 반사 방지부를 형성하는 태양 전지의 제조 방법.
The method of claim 18,
Wherein the first antireflection film forming step forms the antireflection portion using an organic solvent in which the aluminosilicate is dissolved.
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Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090205536A1 (en) 2008-02-19 2009-08-20 National Central University Coating Composition for Low-Refractive Index Anti-Reflection Film
US20100065117A1 (en) 2008-09-16 2010-03-18 Jinsung Kim Solar cell and texturing method thereof
JP2010158828A (en) 2009-01-08 2010-07-22 Toyobo Co Ltd Polyester film for solar cell back protecting film

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