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KR101665418B1 - Verifying method for laser unit using reflector - Google Patents

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KR101665418B1
KR101665418B1 KR1020150115476A KR20150115476A KR101665418B1 KR 101665418 B1 KR101665418 B1 KR 101665418B1 KR 1020150115476 A KR1020150115476 A KR 1020150115476A KR 20150115476 A KR20150115476 A KR 20150115476A KR 101665418 B1 KR101665418 B1 KR 101665418B1
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KR
South Korea
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reflector
laser device
reflectors
eccentricity
line
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Active
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KR1020150115476A
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Korean (ko)
Inventor
박규태
Original Assignee
한국항공우주산업 주식회사
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    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0014Monitoring arrangements not otherwise provided for

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Abstract

본 발명은 항공기 패널 제조에서 레이저 장치로부터 복합재 상에 투영되는 이미지 수치에 대한 정확도를 검증할 수 있는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 제공하기 위한 것이다. 이에, 항공기 패널 제작에서 이미지를 조사하고 설정된 포인트 간의 길이를 측정할 수 있는 레이저 장치를 검증하기 위한 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법은 상기 레이저 장치의 하측에 배치된 베이스에 한 쌍의 리플렉터를 설정된 거리 값으로 이격 배치하는 단계 및 상기 레이저 장치가 상기 한 쌍의 리플렉터로 광을 조사하여 상기 한 쌍의 리플렉터 간의 측정 거리 값을 측정하는 단계 및 상기 거리 값과 상기 측정 거리 값을 비교하여 상기 레이저 장치로부터 조사되는 상기 이미지의 수치 값을 검증하는 단계를 포함한다.The present invention provides a laser device verification method using a reflector capable of verifying the accuracy of image values projected from a laser device on a composite material in aircraft panel manufacture. A laser device verification method using a reflector for verifying a laser device capable of examining an image in the manufacture of an aircraft panel and measuring a length of a set point is characterized in that a pair of reflectors is disposed on a base And irradiating light to the pair of reflectors to measure a measurement distance value between the pair of reflectors, and comparing the distance value with the measured distance value, And verifying the numerical value of the image to be examined.

Description

리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법{VERIFYING METHOD FOR LASER UNIT USING REFLECTOR}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a laser apparatus for verifying a laser beam,

본 발명은 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 항공기 패널 제조 공정에서 사용되는 레이저 장치의 정확도를 검증하기 위한 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법에 관한 것이다. The present invention relates to a laser device verification method using a reflector, and more particularly, to a laser device verification method using a reflector for verifying the accuracy of a laser device used in an aircraft panel manufacturing process.

일반적으로 레이저 장치는 광을 기초로 다양한 이미지가 설정된 물체에 투영되도록 할 수 있다. 이러한 레이저 장치에 대한 종래 기술은 이미 "대한민국 공개특허공보 제 2010-0113124호 (광 투영 장치, 2010.10.20.)"에 의해 개시된 바 있다. In general, the laser device can be configured to project various images based on light onto an object. The prior art for such a laser device has already been disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 2010-0113124 (Optical Projection Apparatus, October 20, 2010).

한편, 이러한 레이저 장치는 항공기 패널 제조공정에서 사용되고 있다.On the other hand, such a laser device is used in an aircraft panel manufacturing process.

도 10 및 도 11을 참조하면, 항공기 패널 제조공정에서는 베이스(10)에 복합재(30)가 안착되고, 복합재(30)의 상부에 레이저 장치(100)가 배치된다. 이후, 레이저 장치(100)에는 항공기 패널의 형태 및 크기에 대한 정보가 입력되고, 레이저 장치(100)는 설정된 형태 및 크기에 대응되는 이미지(50)가 복합재(30) 상에 투영되도록 한다. 이에, 이미지(50)를 따라 복합재(30)가 절단되고 절단된 복수 개의 복합재(30)가 열처리됨에 따라 항공기 패널이 제조되고 있다. 10 and 11, in the aircraft panel manufacturing process, the composite material 30 is placed on the base 10, and the laser device 100 is disposed on the composite material 30. Thereafter, information on the shape and size of the aircraft panel is input to the laser device 100, and the laser device 100 causes the image 50 corresponding to the set shape and size to be projected onto the composite material 30. Thus, a plurality of composite materials 30 cut and cut along the image 50 are heat-treated to manufacture aircraft panels.

이러한 항공기 패널 제조 공정에서는 레이저 장치(100)로부터 복합재(30) 상에 투영되는 이미지(50)에 대한 수치 검증이 요구되고 있다. 즉, 레이저 장치(100)로부터 조사되는 이미지(50)가 실제 요구되는 이미지의 크기와 동일한지 검증되어야 한다. 이에, 종래의 경우 복합재(30) 상에 투영된 이미지(50)의 크기를 자 등을 활용하여 단순 측정하였으나, 이 경우 검증된 데이터 확보가 어렵고 이미지의 형태 및 크기에 따라 검증 시간이 지연되는 문제점이 있었다. In such an aircraft panel manufacturing process, numerical verification of the image 50 projected from the laser device 100 onto the composite material 30 is required. That is, it should be verified that the image 50 irradiated from the laser device 100 is equal to the size of the image actually required. In the conventional case, the size of the projected image 50 on the composite material 30 is simply measured using a ruler or the like. However, in this case, it is difficult to obtain the verified data and the verification time is delayed according to the shape and size of the image .

대한민국 공개특허공보 제 2010-0113124호 (광 투영 장치, 2010.10.20.)Korean Patent Publication No. 2010-0113124 (Optical Projection Apparatus, October 20, 2010)

본 발명의 목적은 항공기 패널 제조에서 레이저 장치로부터 복합재 상에 투영되는 이미지 수치에 대한 정확도를 검증할 수 있는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 제공하기 위한 것이다.It is an object of the present invention to provide a laser device verification method using a reflector capable of verifying the accuracy of image values projected from a laser device on a composite material in aircraft panel manufacture.

본 발명의 일측면에 따른 항공기 패널 제작에서 이미지를 조사하고 설정된 포인트 간의 길이를 측정할 수 있는 레이저 장치를 검증하기 위한 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법은 상기 레이저 장치의 하측에 배치된 베이스에 한 쌍의 리플렉터를 설정된 거리 값으로 이격 배치하는 단계 및 상기 레이저 장치가 상기 한 쌍의 리플렉터로 광을 조사하여 상기 한 쌍의 리플렉터 간의 측정 거리 값을 구하는 단계 및 상기 거리 값과 상기 측정 거리 값을 비교하여 상기 레이저 장치로부터 조사되는 상기 이미지의 수치 값을 검증하는 단계를 포함한다.A laser device verification method using a reflector for verifying a laser device capable of examining an image and measuring a length between set points in the production of an aircraft panel according to an aspect of the present invention includes: A step of separating the reflector of the pair of reflectors by a set distance value, and a step of irradiating the pair of reflectors with light to obtain a measured distance value between the pair of reflectors, and comparing the distance value and the measured distance value And verifying the numerical value of the image irradiated from the laser device.

상기 리플렉터는 원통 형태로 마련되어 상기 베이스에 지지되는 지지부와, 상기 지지부의 상단 중심부에 배치되어 상기 레이저 장치로부터 조사되는 광을 상기 레이저 장치를 향해 반사하는 반사부를 포함할 수 있다. The reflector may include a support portion provided in a cylindrical shape and supported by the base, and a reflector disposed at an upper center portion of the support portion and reflecting the light emitted from the laser device toward the laser device.

상기 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법은 상기 이격 배치하는 단계 이전, 또는 상기 검증하는 단계 이후에, 상기 지지부에 대한 상기 반사부의 편심을 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다. The laser device verification method using the reflector may further include measuring an eccentricity of the reflector with respect to the support before or after the step of spacing apart.

상기 편심을 측정하는 단계는 상기 반사부가 지면과 평행하도록 상기 리플렉터의 각도를 조절하는 단계와, 상기 반사부의 상부에 편심 측정라인을 형성하는 단계와, 상기 편심 측정라인을 기반으로 상기 반사부의 편심을 측정하는 단계를 포함할 수 있다. Wherein the step of measuring the eccentricity comprises the steps of adjusting the angle of the reflector so that the reflection part is parallel to the paper surface, forming an eccentricity measurement line on the reflection part, and measuring the eccentricity of the reflection part based on the eccentricity measurement line. And a step of measuring.

상기 편심 측정라인은 상기 반사부의 중심점과 교차점이 상호 대응되는 크로스 라인과, 상기 교차점 외측에서 정사각형 형태의 라인으로 마련되며 각 변의 길이가 상기 반사부의 직경과 동일하게 형성되는 반사부 가이드라인과, 상기 반사부 가이드라인의 외곽에서 정사각형 형태의 라인으로 마련되며 각 변의 길이가 상기 지지부의 상부면 직경과 동일하게 형성되는 지지부 가이드라인을 포함할 수 있다. Wherein the eccentricity measurement line includes a cross line having a cross point corresponding to a center point of the reflection portion and a reflection portion guide line having a length equal to the diameter of the reflection portion, And a support guide line provided in the shape of a square on the outer side of the guide part of the reflection part and having a length equal to the upper surface diameter of the support part.

상기 편심 측정라인은 상기 리플렉터 상단에 배치되는 글라스 기판의 상단에 레이저 형태로 조사될 수 있다. The eccentricity measurement line may be irradiated in laser form on the upper end of the glass substrate disposed on the upper end of the reflector.

상기 리플렉터의 상단은 상기 레이저 장치를 향하는 경사면을 갖고, 상기 한 쌍의 리플렉터의 경사면은 상기 리플렉터와 상기 레이저 장치의 각각 거리가 멀어질수록 상기 베이스에 대한 경사각이 클 수 있다. The upper end of the reflector has an inclined surface facing the laser device, and the inclination angle of the pair of reflectors may be larger as the distance between the reflector and the laser device increases.

본 발명에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법은 이미지에 대한 수치 데이터를 확보 가능하여 이미지에 대한 수치 검증이 용이하고, 레이저 장치 검증에서 사용되는 리플렉터에 대한 편심을 측정하여 레이저 장치의 검증 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다. The laser device verification method using the reflector according to the present invention can secure the numerical data of the image and can easily verify the numerical value of the image. The accuracy of the laser device is improved by measuring the eccentricity of the reflector used in the laser device verification There is an effect that can be made.

이상과 같은 본 발명의 기술적 효과는 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other technical effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1은 본 실시예에 따른 레이저 장치와 리플렉터의 배치구조를 나타낸 정면도이고,
도 2는 본 실시예에 따른 레이저 장치와 리플렉터의 배치구조를 나타낸 평면도이고,
도 3은 본 실시예에 따른 리플렉터를 나타낸 단면도이고,
도 4는 제 1실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 나타낸 순서도이고,
도 5는 제 3실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 나타낸 순서도이고,
도 6은 제 3실시예에 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 나타낸 순서도이고,
도 7은 본 실시예에 따른 리플렉터 검증단계에서 싸인바와 글라스 기판의 배치 구조를 나타낸 도면이고,
도 8 및 도 9는 제 3실시예에 따른 리플렉터 검증단계를 나타낸 개념도이고,
도 10은 종래의 레이저 장치와 베이스의 배치 구조를 나타낸 정면도이고,
도 11은 종래의 레이저 장치와 베이스의 배치 구조를 나타낸 평면도이다.
1 is a front view showing the arrangement structure of a laser device and a reflector according to the present embodiment,
2 is a plan view showing the arrangement structure of the laser device and the reflector according to the present embodiment,
3 is a sectional view showing a reflector according to the present embodiment,
4 is a flowchart showing a laser device verification method using a reflector according to the first embodiment,
5 is a flowchart illustrating a laser device verification method using a reflector according to a third embodiment,
6 is a flowchart showing a laser device verification method using a reflector in the third embodiment,
FIG. 7 is a view showing an arrangement structure of a sign and a glass substrate in the reflector verification step according to the present embodiment,
8 and 9 are conceptual diagrams showing the reflector verification step according to the third embodiment,
10 is a front view showing the arrangement structure of a conventional laser device and a base,
11 is a plan view showing the arrangement structure of a conventional laser device and a base.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 실시예는 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 위하여 과장되게 표현된 부분이 있을 수 있으며, 도면 상에서 동일 부호로 표시된 요소는 동일 요소를 의미한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, it should be understood that the present invention is not limited to the disclosed embodiments, but may be implemented in various forms, and the present embodiments are not intended to be exhaustive or to limit the scope of the invention to those skilled in the art. It is provided to let you know completely. The shape and the like of the elements in the drawings may be exaggerated for clarity, and the same reference numerals denote the same elements in the drawings.

도 1은 본 실시예에 따른 레이저 장치와 리플렉터의 배치구조를 나타낸 정면도이고, 도 2는 본 실시예에 따른 레이저 장치와 리플렉터의 배치구조를 나타낸 평면도이다. FIG. 1 is a front view showing an arrangement structure of a laser device and a reflector according to the present embodiment, and FIG. 2 is a plan view showing an arrangement structure of a laser device and a reflector according to the present embodiment.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 레이저 장치(100)는 베이스(10)의 상부 중심부에 배치될 수 있다. 여기서, 레이저 장치(100)는 베이스(10) 상에 이미지가 투영되도록 할 수 있고, 베이스(10) 상에 임의의 포인트를 설정할 경우 포인트 간의 거리 값이 산출되도록 할 수 있다. As shown in FIGS. 1 and 2, the laser device 100 according to the present embodiment may be disposed at the upper center portion of the base 10. Here, the laser apparatus 100 can project an image onto the base 10, and when a certain point is set on the base 10, the distance between points can be calculated.

그리고 베이스(10)는 레이저 장치(100) 하측에서 리플렉터(300)를 지지한다. 여기서, 베이스(10)는 정사각형 형태로 마련될 수 있으나, 이는 본 실시예를 설명하기 위한 일 실시예로 베이스(10)의 크기 및 형태는 한정하지 않는다. The base 10 supports the reflector 300 under the laser device 100. Here, the base 10 may be provided in a square shape, but this is an embodiment for explaining the present embodiment, and the size and shape of the base 10 are not limited.

그리고 리플렉터(300)는 지지부(310) 및 반사부(330)를 포함할 수 있다. The reflector 300 may include a support 310 and a reflector 330.

지지부(310)는 원통 형태로 마련되며, 하단에 돌출부(311)가 형성되어 베이스(10)에 함몰 형성된 지지홈(11)에 삽입 가능하도록 마련될 수 있다. 그리고 반사부(330)는 지지부(310)의 상부면에 배치된다. 여기서, 반사부(330)는 지지부(310)의 상부면에 형성된 홈에 삽입될 수 있다.The supporting part 310 is formed in a cylindrical shape and can be inserted into the supporting groove 11 formed in the base 10 with the protrusion 311 formed at the lower end thereof. The reflective portion 330 is disposed on the upper surface of the support portion 310. Here, the reflective portion 330 may be inserted into a groove formed in the upper surface of the support portion 310.

리플렉터(300)는 레이저 장치(100)로부터의 광 또는 이미지 신호를 반사하여 리플렉터(300)의 위치정보가 레이저 장치(100)로 제공되도록 할 수 있다. 이러한 리플렉터(300)는 베이스(10) 상에 복수 개로 배치될 수 있으며, 복수 개의 리플렉터(300)는 상호 기설정된 간격으로 설치될 수 있다. 그리고 복수 개의 리플렉터(300)는 설치위치에 따라 베이스(10)에 대하여 상이한 각도를 갖는 상부면을 가질 수 있다.The reflector 300 may reflect light or image signals from the laser device 100 so that the position information of the reflector 300 is provided to the laser device 100. The plurality of reflectors 300 may be disposed on the base 10, and the plurality of reflectors 300 may be installed at predetermined intervals. The plurality of reflectors 300 may have a top surface having a different angle with respect to the base 10, depending on the installation position.

보다 구체적으로, 리플렉터(300)는 제 1, 제 2 및 제 3리플렉터(300a, 300b, 300c)를 포함할 수 있다. More specifically, the reflector 300 may include first, second, and third reflectors 300a, 300b, and 300c.

도 3은 본 실시예에 따른 리플렉터를 나타낸 단면도이다.3 is a cross-sectional view showing a reflector according to the present embodiment.

도 3에 도시된 바와 같이, 제 1리플렉터(300a)는 베이스(10)의 중심영역에 배치되어 레이저 장치(100)와 마주하도록 배치될 수 있다. 이러한 제 1리플렉터(300a)는 레이저 장치(100)가 광을 조사할 때 용이하게 반사되도록 반사부(330)의 상부면이 평탄하게 마련될 수 있다. As shown in Fig. 3, the first reflector 300a may be disposed in the central region of the base 10 and arranged to face the laser device 100. As shown in Fig. The first reflector 300a may be provided with a flat upper surface of the reflecting portion 330 so that the laser device 100 easily reflects light when irradiated with light.

제 2리플렉터(300b)는 복수 개로 마련되어 베이스(10)의 모서리에 각각 인접하게 배치될 수 있다. 여기서, 제 2리플렉터(300b) 간의 거리는 각각 40인치로 설정될 수 있으나, 이는 본 실시예를 설명하기 위한 일 실시예로 제 2리플렉터(300b) 간의 거리는 한정하지 않는다. 이러한 제 2리플렉터(300b)는 레이저 장치(100)를 향해 경사지는 상부면을 가질 수 있으며, 예를 들어 베이스(10)에 대한 경사면의 각도가 45ㅀ로 설정될 수 있다. The plurality of second reflectors 300b may be disposed adjacent to the corners of the base 10, respectively. Here, the distances between the second reflectors 300b may be set to 40 inches, respectively, but this is not limitative as the distance between the second reflectors 300b is an embodiment for explaining the present embodiment. The second reflector 300b may have an upper surface inclined toward the laser device 100. For example, the angle of the inclined surface with respect to the base 10 may be set to 45 deg.

제 3리플렉터(300c)는 복수 개로 마련된다. 여기서, 복수 개의 제 3리플렉터(300c)는 서로 이웃하는 제 2리플렉터(300b) 사이의 중심점에 각각 배치될 수 있다. 여기서, 제 3리플렉터(300c)는 레이저 장치(100)를 향해 경사지는 상부면을 가질 수 있으며, 예를 들어 베이스(10)에 대한 경사면의 각도가 22.5ㅀ로 설정될 수 있다.A plurality of third reflectors 300c are provided. Here, the plurality of third reflectors 300c may be respectively disposed at the center points between the adjacent second reflectors 300b. Here, the third reflector 300c may have an upper surface inclined toward the laser device 100, for example, the angle of the inclined surface with respect to the base 10 may be set to 22.5 degrees.

즉, 복수 개의 리플렉터(300)는 설치위치에 따라 레이저 장치(100)로부터 거리가 멀어질수록 상기 베이스(10)에 대한 경사각이 커질 수 있다. That is, as the distance from the laser device 100 increases, the inclination angle of the plurality of reflectors 300 with respect to the base 10 can be increased according to the installation position.

한편, 상기와 같이 레이저 장치(100)와 리플렉터(300)가 배치된 상태에서 레이저 장치(100)로부터 조사되는 이미지의 수치 정확도에 대한 검증이 실시될 수 있다. The numerical accuracy of the image irradiated from the laser device 100 can be verified in a state where the laser device 100 and the reflector 300 are arranged as described above.

<제 1실시예>&Lt; Embodiment 1 >

도 4는 제 1실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 나타낸 순서도이다. 4 is a flowchart showing a laser device verification method using a reflector according to the first embodiment.

도 4에 도시된 바와 같이, 제 1실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법(S100)은 거리 측정단계(S110) 및 검증단계(S130)를 포함할 수 있다. As shown in FIG. 4, the laser device verification method (S100) using the reflector according to the first embodiment may include a distance measurement step (S110) and a verification step (S130).

먼저, 거리 측정단계(S110)에서는 레이저 장치(100)가 하부에 배치된 복수 개의 리플렉터(300)로 광을 조사하여 복수 개의 리플렉터(300) 사이의 거리를 측정한다. 즉, 거리 측정단계(S110)에서는 레이저 장치(100)로부터 광이 조사되고, 복수 개의 리플렉터(300)가 광을 반사하여 리플렉터(300) 간의 측정 거리 값이 레이저 장치(100)로 제공되도록 할 수 있다.First, in the distance measuring step S110, the distance between the plurality of reflectors 300 is measured by irradiating light to a plurality of reflectors 300 disposed under the laser device 100. [ That is, in the distance measuring step S110, light is irradiated from the laser device 100, and a plurality of reflectors 300 reflect light, so that a measurement distance value between the reflectors 300 is provided to the laser device 100 have.

이후, 검증단계(S130)에서는 복수 개의 리플렉터(300) 사이의 실제 거리 값과 거리 측정단계(S110)에서 측정된 측정 거리 값을 상호 비교하여 레이저 장치(100)의 정확성이 검증되도록 한다.Thereafter, in the verification step S130, the actual distance value between the plurality of reflectors 300 is compared with the measured distance value measured in the distance measuring step S110 so that the accuracy of the laser device 100 is verified.

예를 들어, 본 실시예서는 상술한 바와 같이, 베이스(10)에 배치된 제 2리플렉터(300b)와 제 3리플렉터(300c) 간의 실제 거리 값은 20인치이다. 이에, 거리 측정단계(S110)에서 측정된 측정 거리 값이 실제 거리 값과 상이할 경우, 레이저 장치(100)의 정확성에 오류가 발생되었음을 인지할 수 있다. For example, in this embodiment, as described above, the actual distance value between the second reflector 300b and the third reflector 300c disposed on the base 10 is 20 inches. Accordingly, when the measured distance value measured in the distance measuring step S110 is different from the actual distance value, it can be recognized that an error has occurred in the accuracy of the laser device 100. [

이에, 레이저 장치(100)의 정확성에 오류가 발생되었을 경우, 실제 거리 값과 측정 거리 값이 일치하도록 레이저 장치(100)를 제어하여 레이저 장치(100)로부터 조사되는 이미지의 수치 값을 정확하게 보정할 수 있다. Accordingly, when an error occurs in the accuracy of the laser device 100, the laser device 100 is controlled so that the actual distance value and the measured distance value coincide with each other to accurately correct the numerical value of the image irradiated from the laser device 100 .

<제 2실시예>&Lt; Embodiment 2 >

도 5는 제 3실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 나타낸 순서도이다.5 is a flowchart showing a laser device verification method using a reflector according to the third embodiment.

도 5에 도시된 바와 같이, 제 3실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법(S300)은 거리 측정단계(S310) 및 검증단계(S330)를 포함할 수 있다. As shown in FIG. 5, the laser device verification method (S300) using a reflector according to the third embodiment may include a distance measurement step (S310) and a verification step (S330).

먼저, 거리 측정단계(S310)에서는 레이저 장치(100)가 하부에 배치된 복수 개의 리플렉터(300)로 광을 조사한다. 여기서, 복수 개의 리플렉터(300) 사이를 향해 조사되는 광은 복수 개의 리플렉터(300) 간의 실제 거리 값과 같은 길이를 갖는 선형 이미지일 수 있다. 그리고 레이저 장치(100)는 복수 개의 리플렉터(300) 사이에 조사된 선형 이미지의 길이와 복수 개의 리플렉터(300) 사이의 거리 값을 각각 측정할 수 있다. First, in the distance measuring step S310, the laser device 100 irradiates light to a plurality of reflectors 300 arranged at the lower part. Here, the light irradiated toward the plurality of reflectors 300 may be a linear image having a length equal to the actual distance value between the plurality of reflectors 300. The laser device 100 may measure the length of the linear image irradiated between the plurality of reflectors 300 and the distance between the plurality of reflectors 300, respectively.

이후, 검증단계(S330)에서는 복수 개의 리플렉터(300) 사이의 실제 거리 값과 선 이미지의 길이 값을 상호 비교하여 레이저 장치(100)의 정확성이 검증되도록 한다. 이때, 선 이미지의 길이와 실제 거리 값이 상이할 경우, 레이저 장치(100)의 정확성에 오류가 발생되었음을 인지할 수 있을 뿐만 아니라, 선 이미지의 길이와 실제 거리 값의 차이 값을 계산할 수 있다. 이에, 레이저 장치(100)의 정확성에 오류가 발생되었을 경우, 차이 값을 기반으로 레이저 장치(100)로부터 조사되는 선 이미지의 길이와 실제 거리 값이 일치하도록 레이저 장치(100)를 제어하여 레이저 장치(100)로부터 조사되는 이미지의 수치 값을 보다 용이하게 보정할 수 있다. Thereafter, in the verification step S330, the actual distance value between the plurality of reflectors 300 is compared with the length value of the line image so that the accuracy of the laser device 100 is verified. At this time, when the length of the line image is different from the actual distance value, it is possible to recognize that an error has occurred in the accuracy of the laser device 100, and the difference value between the length and the actual distance value of the line image can be calculated. If an error occurs in the accuracy of the laser device 100, the laser device 100 is controlled so that the length of the line image irradiated from the laser device 100 matches the actual distance value based on the difference value, It is possible to more easily correct the numerical value of the image irradiated from the light source 100.

<제 3실시예>&Lt; Third Embodiment >

도 6은 제 3실시예에 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법을 나타낸 순서도이고, 도 7은 본 실시예에 따른 리플렉터 검증단계에서 싸인바와 글라스 기판의 배치 구조를 나타낸 도면이고, 도 8 및 도 9는 제 3실시예에 따른 리플렉터 검증단계를 나타낸 개념도이다. FIG. 6 is a flow chart showing a laser apparatus verification method using a reflector in the third embodiment, FIG. 7 is a view showing the arrangement structure of a sign and a glass substrate in the reflector verification step according to the present embodiment, FIGS. 8 and 9 Fig. 7 is a conceptual view showing the reflector verification step according to the third embodiment. Fig.

도 6 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 제 3실시예에 따른 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법(S500)은 거리 측정단계(S530) 이전에 리플렉터 검증단계(S510)가 수행될 수 있다. 다만, 본 실시예서는 리플렉터 검증단계(S510)가 거리 측정단계(S530) 이전에 실시되는 것을 설명하고 있으나, 이는 본 실시예를 설명하기 위한 일 실시예로 리플렉터 검증단계는 검증단계(S550) 이후에 실시될 수 있다. As shown in FIGS. 6 to 9, the laser device verification method (S500) using the reflector according to the third embodiment may perform the reflector verification step (S510) before the distance measurement step (S530). Although the present embodiment describes that the reflector verification step S510 is performed before the distance measurement step S530, this is an embodiment for explaining the present embodiment, and the reflector verification step may be performed after the verification step S550 . &Lt; / RTI &gt;

한편, 리플렉터 검증단계(S510)는 리플렉터 각도 조절단계(S511), 글라스 기판 배치단계(S513) 및 편심 측정단계(S515)를 포함할 수 있다. Meanwhile, the reflector verification step S510 may include a reflector angle adjustment step S511, a glass substrate placement step S513, and an eccentricity measurement step S515.

먼저, 리플렉터 각도 조절단계(S511)에서는 지지부(310)가 싸인바(Sine bar, 70)에 마련된 브이블록(V block, 90)에 지지된다. 그리고 반사부(330)의 상부면이 지면과 평행할 수 있도록 싸인바(70)가 작동될 수 있다. First, in the reflector angle adjustment step S511, the support part 310 is supported on a V block 90 provided in a sine bar 70. [ And the bar 70 can be operated so that the upper surface of the reflective portion 330 is parallel to the ground.

여기서, 제 1리플렉터(300a)가 브이블록(90)에 지지될 경우 제 1리플렉터(300a)의 상부면이 평면인 바, 싸인바(70)의 각도가 조절될 필요가 없고(도 8a참조), 제 2 및 제 3리플렉터(300b, 300c)가 브이블록(90)에 지지될 경우 싸인바(70)의 각도가 조절되어 반사부(330)의 상부면이 지면과 평행하게 배치되도록 할 수 있다(도 8b, 도 8c 참조). Here, when the first reflector 300a is supported on the V block 90, the upper surface of the first reflector 300a is flat, and the angle of the sipe bar 70 does not need to be adjusted (see FIG. 8A) The second and third reflectors 300b and 300c are supported by the V-block 90, the angle of the bar 70 may be adjusted so that the upper surface of the reflector 330 is disposed parallel to the ground (See Figs. 8B and 8C).

이후, 반사부(330)의 상단에 글라스 기판(G)이 배치되는 글라스 기판 배치단계(S513)가 수행된다. Thereafter, a glass substrate arranging step S513 is performed in which the glass substrate G is disposed on the upper end of the reflecting portion 330. [

반사부(330)의 상단에 글라스 기판(G)이 배치되면, 편심 측정단계(S515)가 수행된다. When the glass substrate G is disposed on the upper end of the reflecting portion 330, eccentricity measuring step S515 is performed.

편심 측정단계(S515)에서는 지지부(310)에 대한 반사부(330)의 편심을 측정할 수 있다. 예를 들어, 반사부(330)의 편심이 발생할 경우, 거리 측정단계(S530)에서 측정되는 반사부(330) 사이의 거리 값에 오류가 발생될 수 있음에 따라 반사부(330)의 편심을 측정하여 거리 측정단계(S530)에서의 거리 값에 대한 정확도를 향상시킬 수 있다. In the eccentricity measuring step S515, the eccentricity of the reflecting portion 330 with respect to the supporting portion 310 can be measured. For example, when the eccentricity of the reflection portion 330 occurs, an error may occur in the distance value between the reflection portions 330 measured in the distance measurement step S530, so that the eccentricity of the reflection portion 330 It is possible to improve the accuracy of the distance value in the distance measuring step S530.

이러한 편심 측정단계(S510)에서는 편심 측정라인(L)을 기반으로 반사부(330)에 대한 편심을 측정한다. 예를 들어, 편심 측정단계(S510)에서는 도 8a에 도시된 바와 같이 외부에 배치된 레이저 조사장치(80)가 글라스 기판(G) 상에 레이저를 조사하여 크로스 라인(L1)이 형성되도록 하고, 크로스 라인(L1)의 교차점(P)에 반사부(330)의 중심이 대응되도록 할 수 있다. In the eccentricity measuring step S510, the eccentricity of the reflecting portion 330 is measured based on the eccentric measuring line L. For example, in the eccentricity measuring step S510, as shown in FIG. 8A, the laser irradiating device 80 disposed outside irradiates a laser beam onto the glass substrate G to form a cross line L1, The center of the reflector 330 may correspond to the intersection P of the cross line L1.

그리고 교차점(P) 외곽에는 반사부 가이드라인(L2)이 형성될 수 있다. 반사부 가이드라인(L2)은 정사각형 형태로 마련될 수 있으며, 반사부(330) 직경과 동일한 길이의 변을 갖도록 마련될 수 있다. 이러한 반사부 가이드라인(L2)은 반사부(330)의 중심이 교차점에 정확히 배치 가능하게 하고, 반사부(330) 상부면이 정확히 원형을 유지하는지 측정되도록 할 수 있다. And the reflective portion guide line L2 may be formed on the outer periphery of the intersection P. The reflective portion guide line L2 may be provided in a square shape and may have sides having the same length as the diameter of the reflective portion 330. [ The reflector guide line L2 can allow the center of the reflector 330 to be accurately positioned at the intersection and measure whether the upper surface of the reflector 330 is exactly circular.

그리고 반사부 가이드라인(L2) 외곽에는 정사각형 형태의 지지부 가이드라인(L3)이 형성된다. 지지부 가이드라인(L3)은 지지부(310) 상단의 직경과 동일한 길이의 변을 갖도록 마련된다. 이에, 편심 측정라인(L) 내에 배치된 리플렉터(300)의 반사부(300)를 검사자가 육안으로 확인하며 반사부(330)에 대한 편심을 측정할 수 있다. 다만, 이는 본 실시예를 설명하기 위한 일 실시예로 편심 측정단계(S510)에서는 도 8b에 도시된 바와 같이 글라스 기판(G) 상이 인쇄된 편심 측정라인(L)을 활용하여 반사부(330)의 편심을 측정할 수 있다. A support guide line L3 in the form of a square is formed outside the reflector guide line L2. The supporting part guide line L3 is provided so as to have sides having the same length as the diameter of the upper end of the supporting part 310. [ The eccentricity of the reflective portion 330 of the reflector 300 disposed in the eccentric measurement line L can be measured by the examiner's eyes and the eccentricity of the reflector 300 can be measured. 8B, in the eccentricity measuring step S510, the eccentricity measuring line L on which the glass substrate G is printed is used as the reflector 330, Can be measured.

이와 같이, 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법은 이미지에 대한 수치 데이터를 확보 가능하여 이미지에 대한 수치 검증이 용이하고, 레이저 장치 검증에서 사용되는 리플렉터에 대한 편심을 측정하여 레이저 장치의 검증 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다. As described above, the laser device verification method using a reflector is capable of securing numerical data on an image, so that numerical verification of an image is easy, and the accuracy of a laser device is improved by measuring the eccentricity of a reflector used in laser device verification There is an effect that can be.

앞에서 설명되고, 도면에 도시된 본 발명의 일 실시예는, 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 청구범위에 기재된 사항에 의하여만 제한되고, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 변경하는 것이 가능하다. 따라서 이러한 개량 및 변경은 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호범위에 속하게 될 것이다.One embodiment of the invention described above and shown in the drawings should not be construed as limiting the technical idea of the present invention. The scope of protection of the present invention is limited only by the matters described in the claims, and those skilled in the art will be able to modify the technical idea of the present invention in various forms. Accordingly, such improvements and modifications will fall within the scope of the present invention as long as they are obvious to those skilled in the art.

10 : 베이스 100 : 레이저 장치
300 : 리플렉터 310 : 지지부
330 : 반사부 300a : 제 1리플렉터
300b : 제 2리플렉터 300c : 제 3리플렉터
10: Base 100: Laser device
300: reflector 310: support
330 reflector 300a first reflector
300b: second reflector 300c: third reflector

Claims (7)

항공기 패널 제작에서 이미지를 조사하고 설정된 포인트 간의 길이를 측정할 수 있는 레이저 장치를 검증하기 위한 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법에 있어서,
상기 레이저 장치의 하측에서 상기 레이저 장치에 마주하도록 배치된 베이스에 한 쌍의 리플렉터를 설정된 거리 값으로 이격 배치하는 단계;
상기 레이저 장치가 상기 한 쌍의 리플렉터로 광을 조사하여 상기 한 쌍의 리플렉터 간의 측정 거리 값을 구하는 단계; 및
상기 거리 값과 상기 측정 거리 값을 비교하여 상기 레이저 장치로부터 조사되는 상기 이미지의 수치 값을 검증하는 단계를 포함하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.
A laser device verification method using a reflector for verifying a laser device capable of examining an image in aircraft panel manufacture and measuring a length between set points,
Disposing a pair of reflectors on a base arranged to face the laser device at a lower side of the laser device with a predetermined distance value;
The laser device irradiating light to the pair of reflectors to obtain a measurement distance value between the pair of reflectors; And
And comparing the distance value with the measured distance value to verify a numerical value of the image irradiated from the laser device.
제 1항에 있어서,
상기 리플렉터는
원통 형태로 마련되어 상기 베이스에 지지되는 지지부와,
상기 지지부의 상단 중심부에 배치되어 상기 레이저 장치로부터 조사되는 광을 상기 레이저 장치를 향해 반사하는 반사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.
The method according to claim 1,
The reflector
A support portion provided in a cylindrical shape and supported by the base,
And a reflector disposed at an upper center portion of the support portion and reflecting the light emitted from the laser device toward the laser device.
제 2항에 있어서,
상기 이격 배치하는 단계 이전, 또는 상기 검증하는 단계 이후에,
상기 지지부에 대한 상기 반사부의 편심을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.
3. The method of claim 2,
Before or after the step of spacing apart,
And measuring an eccentricity of the reflection part with respect to the support part.
제 3항에 있어서,
상기 편심을 측정하는 단계는
상기 반사부가 지면과 평행하도록 상기 리플렉터의 각도를 조절하는 단계와,
상기 반사부의 상부에 편심 측정라인을 형성하는 단계와,
상기 편심 측정라인을 기반으로 상기 반사부의 편심을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.
The method of claim 3,
The step of measuring the eccentricity
Adjusting an angle of the reflector such that the reflection portion is parallel to the ground;
Forming an eccentricity measuring line on the reflective portion,
And measuring the eccentricity of the reflector based on the eccentricity measurement line.
제 4항에 있어서,
상기 편심 측정라인은
상기 반사부의 중심점과 교차점이 상호 대응되는 크로스 라인과,
상기 교차점 외측에서 정사각형 형태의 라인으로 마련되며 각 변의 길이가 상기 반사부의 직경과 동일하게 형성되는 반사부 가이드라인과,
상기 반사부 가이드라인의 외곽에서 정사각형 형태의 라인으로 마련되며 각 변의 길이가 상기 지지부의 상부면 직경과 동일하게 형성되는 지지부 가이드라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.
5. The method of claim 4,
The eccentricity measuring line
A cross line in which the center points of the reflection part and the intersection points correspond to each other,
A reflector guiding line which is provided in the shape of a square outside the intersection and is formed so that the length of each side is the same as the diameter of the reflector,
And a support guide line provided on the outer periphery of the reflector guide line in a square line and having a length equal to the upper surface diameter of the support portion.
제 5항에 있어서,
상기 편심 측정라인은
상기 리플렉터 상단에 배치되는 글라스 기판의 상단에 레이저 형태로 조사되는 것을 특징으로 하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.
6. The method of claim 5,
The eccentricity measuring line
And the laser beam is irradiated onto the upper end of the glass substrate disposed on the upper end of the reflector in a laser form.
제 2항에 있어서,
상기 리플렉터의 상단은
상기 레이저 장치를 향하는 경사면을 갖고,
상기 한 쌍의 리플렉터의 경사면은
상기 리플렉터와 상기 레이저 장치의 각각 거리가 멀어질수록 상기 베이스에 대한 경사각이 큰 것을 특징으로 하는 리플렉터를 이용한 레이저 장치 검증방법.



3. The method of claim 2,
The upper end of the reflector
And an inclined surface facing the laser device,
The inclined surfaces of the pair of reflectors
Wherein the inclination angle of the reflector with respect to the base is larger as the distance between the reflector and the laser device increases.



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