KR101554768B1 - 열처리 장치 및 이것에 기판을 반송하는 기판 반송 방법 - Google Patents
열처리 장치 및 이것에 기판을 반송하는 기판 반송 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101554768B1 KR101554768B1 KR1020120082270A KR20120082270A KR101554768B1 KR 101554768 B1 KR101554768 B1 KR 101554768B1 KR 1020120082270 A KR1020120082270 A KR 1020120082270A KR 20120082270 A KR20120082270 A KR 20120082270A KR 101554768 B1 KR101554768 B1 KR 101554768B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- wafer
- supporting
- substrates
- container
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 215
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 42
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 54
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 214
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 48
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 13
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 6
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67766—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67757—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a batch of workpieces
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
- H01L21/67781—Batch transfer of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/137—Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/14—Wafer cassette transporting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치를 도시하는 개략 상면도이다.
도 3은 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치에 있어서의 웨이퍼 보트, 웨이퍼 반송 기구, 및 웨이퍼 캐리어의 위치 관계를 도시하는 사시도이다.
도 4는 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치의 웨이퍼 보트 및 웨이퍼 반송 기구를 도시하는 개략 측면도이다.
도 5는 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치의 웨이퍼 반송 기구를 설명하는 설명도이다.
도 6은 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치에 있어서의 기판 반송 방법을 설명하는 설명도이다.
도 7은 도 6에 이어서 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치에 있어서의 기판 반송 방법을 설명하는 설명도이다.
도 8은 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치에 있어서의 기판 반송 방법을 설명하는 다른 설명도이다.
도 9는 도 8에 이어서 본 발명의 실시 형태에 의한 열처리 장치에 있어서의 기판 반송 방법을 설명하는 다른 설명도이다.
2: 하우징
3: 웨이퍼 보트
4: 웨이퍼 반송 기구
5: 반송 기체
6: 맵핑 센서
7: 제어부
20: 개구부
21: 격벽
24: 제1 적재대
25: 제2 적재대
26: 캐리어 보관부
27: 캐리어 반송 기구
28: 도어
31: 열처리로
33: 승강 기구
36: 지주
45: 진퇴 기구
S1: 반출입 영역
S2: 처리 영역
C: 캐리어
M1, M2: 모터
F(FU, FD): 포크
Fp: 패드
Fs: 흡인구
W: 웨이퍼
Claims (7)
- 복수의 기판이 서로 제1 간격을 두고 당해 복수의 기판을 수용하는 기판 용기가 적재되는 용기 적재부와,
상기 제1 간격보다도 좁은 제2 간격을 두고 상기 복수의 기판을 보유지지하는 기판 보유지지구와,
기판 지지 가능한 적어도 2개의 기판 지지부를 포함하고, 상기 기판 보유지지구와 상기 기판 용기 사이에서 상기 복수의 기판을 전달하는 기판 반송부이며, 상기 적어도 2개의 기판 지지부가 상기 제1 간격으로 서로 겹치도록 배치되고, 상기 기판 용기에 대하여 함께 진퇴하고, 상기 기판 보유지지구에 대하여 독립적으로 진퇴하는 당해 기판 반송부와,
상기 적어도 2개의 기판 지지부 중 하방의 기판 지지부가 상기 기판을 지지하고 있을 때에, 상방의 기판 지지부가 동작하지 않도록 당해 상방의 기판 지지부를 제어하는 제어부를 구비하고,
상기 제어부는 우선 하방의 기판 지지부에 의해 지지된 기판을 기판 보유지지구에 전달하고, 그 다음에 상방의 기판 지지부에 의해 지지된 기판을 기판 보유지지구에 전달하도록 제어하는, 열처리 장치. - 제1항에 있어서, 상기 하방의 기판 지지부가 당해 하방의 기판 지지부에 의해 지지되는 기판의 유무를 검출하는 검출기를 구비하는, 열처리 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 제어부가 상기 검출기에 의해 검출된, 상기 하방의 기판 지지부에 의해 지지되는 기판의 유무에 기초하여, 상기 상방의 기판 지지부가 동작 가능한지의 여부를 판단하는, 열처리 장치.
- 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 적어도 2개의 기판 지지부 중 한쪽의 기판 지지부에, 상기 기판 보유지지구에 보유지지되는 상기 기판을 검출하는 센서부가 설치되는, 열처리 장치.
- 복수의 기판이 서로 제1 간격을 두고 당해 복수의 기판을 수용하는 기판 용기로부터, 상기 제1 간격보다도 좁은 제2 간격을 두고 상기 복수의 기판을 보유지지할 수 있는 기판 보유지지구에, 상기 제1 간격으로 서로 겹치도록 배치되고, 기판 지지 가능한 적어도 2개의 기판 지지부를 사용하여 복수의 기판을 반송하는 기판 반송 방법이며,
상기 기판 용기 내에 상기 적어도 2개의 기판 지지부를 함께 진입시키는 공정과,
상기 적어도 2개의 기판 지지부의 각각에 의해 1매씩의 기판을 수취하는 공정과,
상기 적어도 2개의 기판 지지부를 상기 기판 용기로부터 함께 퇴출시키는 공정과,
상기 적어도 2개의 기판 지지부 중 하방의 기판 지지부에 의해, 당해 기판 지지부가 지지하는 제1 기판을 상기 기판 보유지지구에 반입하고, 그 다음에 상기 적어도 2개의 기판 지지부 중 상방의 기판 지지부에 의해, 당해 기판 지지부가 지지하는 제2 기판을, 상기 기판 보유지지구에서의, 상기 하방의 기판 지지부에 의해 반입된 상기 제1 기판의 하방으로 반입하는 공정을 포함하는, 기판 반송 방법. - 제1 간격보다도 좁은 제2 간격을 두고 복수의 기판을 보유지지하는 기판 보유지지구로부터, 상기 복수의 기판을 서로 제1 간격을 두고 수용하는 기판 용기에, 상기 제1 간격으로 서로 겹치도록 배치되고, 기판 지지 가능한 적어도 2개의 기판 지지부를 사용하여 복수의 기판을 반송하는 기판 반송 방법이며,
상기 기판 보유지지구에서 하방측에 위치하는 제1 기판을, 상기 적어도 2개의 기판 지지부 중 상방의 기판 지지부에 의해 취출하고, 그 다음에 상기 기판 보유지지구에서 상기 제1 기판이 있었던 위치보다도 위에 위치하는 제2 기판을, 상기 적어도 2개의 기판 지지부 중 하방의 기판 지지부에 의해 취출하는 공정과,
상기 제1 기판을 지지하는 상기 상방의 기판 지지부, 및 상기 제2 기판을 지지하는 상기 하방의 기판 지지부가 상기 기판 용기에 함께 진입하는 공정과,
상기 제1 기판 및 상기 제2 기판을 상기 기판 용기 내에 전달하는 공정과,
상기 기판 용기로부터 상기 상방의 기판 지지부 및 상기 하방의 기판 지지부를 함께 퇴출시키는 공정을 포함하는, 기판 반송 방법. - 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 하방의 기판 지지부가 상기 기판을 지지하고 있는지를 검출하는 공정과,
상기 검출하는 공정에서의 검출의 결과에 기초하여, 상기 하방의 기판 지지부가 상기 기판을 지지하고 있는지의 여부를 판정하는 공정과,
상기 판정하는 공정에서 상기 하방의 기판 지지부가 상기 기판을 지지하고 있다고 판정되었을 때에, 상기 상방의 기판 지지부가 동작하지 않도록 당해 상방의 기판 지지부를 제어하는 공정을 더 포함하는, 기판 반송 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011167428A JP5715904B2 (ja) | 2011-07-29 | 2011-07-29 | 熱処理装置、及びこれに基板を搬送する基板搬送方法 |
JPJP-P-2011-167428 | 2011-07-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130014406A KR20130014406A (ko) | 2013-02-07 |
KR101554768B1 true KR101554768B1 (ko) | 2015-09-21 |
Family
ID=47575838
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120082270A Active KR101554768B1 (ko) | 2011-07-29 | 2012-07-27 | 열처리 장치 및 이것에 기판을 반송하는 기판 반송 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8979469B2 (ko) |
JP (1) | JP5715904B2 (ko) |
KR (1) | KR101554768B1 (ko) |
CN (1) | CN102903657B (ko) |
TW (1) | TWI502675B (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5666361B2 (ja) * | 2011-03-29 | 2015-02-12 | 株式会社Screenセミコンダクターソリューションズ | 基板処理装置 |
US8915368B2 (en) * | 2012-09-20 | 2014-12-23 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | LCD glass substrate storage tray |
JP6278751B2 (ja) * | 2014-03-04 | 2018-02-14 | 東京エレクトロン株式会社 | 搬送方法及び基板処理装置 |
KR101580554B1 (ko) * | 2014-03-11 | 2016-01-11 | 배석근 | 웨이퍼 적재 간격 변경장치 |
JP6339040B2 (ja) * | 2015-03-20 | 2018-06-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 保護カバー及びこれを用いた基板処理装置 |
US10381257B2 (en) | 2015-08-31 | 2019-08-13 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Substrate conveying robot and substrate processing system with pair of blade members arranged in position out of vertical direction |
US9978631B2 (en) * | 2015-12-31 | 2018-05-22 | Beijing Naura Microelectronics Equipment Co., Ltd. | Wafer pick-and-place method and system |
JP6600588B2 (ja) | 2016-03-17 | 2019-10-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送機構の洗浄方法及び基板処理システム |
JP7187147B2 (ja) * | 2017-12-12 | 2022-12-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 搬送装置のティーチング方法及び基板処理システム |
SG11202109509QA (en) * | 2019-03-22 | 2021-09-29 | Kokusai Electric Corp | Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device, and program |
US12037193B2 (en) * | 2019-09-02 | 2024-07-16 | Murata Machinery, Ltd. | Wafer delivery device, wafer storage container, and wafer storage system |
JP2021048322A (ja) | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 株式会社Screenホールディングス | 基板搬送装置および基板搬送方法 |
KR102563297B1 (ko) * | 2021-04-12 | 2023-08-03 | 주식회사 유진테크 | 기판이송장치 및 이를 포함하는 기판 처리장치 |
CN115083942B (zh) * | 2022-08-16 | 2022-11-15 | 浙江果纳半导体技术有限公司 | 晶圆状态检测方法、系统、存储介质及检测装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004311821A (ja) * | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
JP2007251088A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-09-27 | Tokyo Electron Ltd | 縦型熱処理装置及び縦型熱処理装置における移載機構の制御方法 |
JP2009260252A (ja) | 2008-03-27 | 2009-11-05 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置およびその方法ならびに基板搬送装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07105357B2 (ja) * | 1989-01-28 | 1995-11-13 | 国際電気株式会社 | 縦型cvd拡散装置に於けるウェーハ移載方法及び装置 |
JP2913439B2 (ja) * | 1993-03-18 | 1999-06-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 移載装置及び移載方法 |
JP2969034B2 (ja) * | 1993-06-18 | 1999-11-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 搬送方法および搬送装置 |
US5980195A (en) * | 1996-04-24 | 1999-11-09 | Tokyo Electron, Ltd. | Positioning apparatus for substrates to be processed |
JPH11129184A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-05-18 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板搬入搬出装置 |
JP4180787B2 (ja) * | 2000-12-27 | 2008-11-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP5131094B2 (ja) | 2008-08-29 | 2013-01-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置及び熱処理方法並びに記憶媒体 |
-
2011
- 2011-07-29 JP JP2011167428A patent/JP5715904B2/ja active Active
-
2012
- 2012-07-25 TW TW101126778A patent/TWI502675B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-07-26 US US13/559,084 patent/US8979469B2/en active Active
- 2012-07-27 CN CN201210264581.0A patent/CN102903657B/zh active Active
- 2012-07-27 KR KR1020120082270A patent/KR101554768B1/ko active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004311821A (ja) * | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
JP2007251088A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-09-27 | Tokyo Electron Ltd | 縦型熱処理装置及び縦型熱処理装置における移載機構の制御方法 |
JP2009260252A (ja) | 2008-03-27 | 2009-11-05 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置およびその方法ならびに基板搬送装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5715904B2 (ja) | 2015-05-13 |
JP2013030701A (ja) | 2013-02-07 |
US20130028687A1 (en) | 2013-01-31 |
US8979469B2 (en) | 2015-03-17 |
KR20130014406A (ko) | 2013-02-07 |
CN102903657A (zh) | 2013-01-30 |
TWI502675B (zh) | 2015-10-01 |
CN102903657B (zh) | 2017-03-22 |
TW201320226A (zh) | 2013-05-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101554768B1 (ko) | 열처리 장치 및 이것에 기판을 반송하는 기판 반송 방법 | |
KR101877425B1 (ko) | 기판 반송 장치, 기판 반송 방법 및 기억 매체 | |
KR101575406B1 (ko) | 기판 처리 장치, 퍼지 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 기록 매체 | |
JP6047228B2 (ja) | 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム | |
JP4891199B2 (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JP5978728B2 (ja) | 基板受け渡し装置、基板受け渡し方法及び記憶媒体 | |
CN108573902B (zh) | 纵式热处理装置和纵式热处理装置的运转方法 | |
CN110729225B (zh) | 晶圆搬运设备与其方法 | |
TWI783171B (zh) | 半導體裝置之製造方法、基板處理裝置及程式 | |
WO2007136066A1 (ja) | 基板の変形検出システムおよび変形検出方法 | |
JP4664264B2 (ja) | 検出装置及び検出方法 | |
JP2013222949A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 | |
JP2022002255A (ja) | 収納モジュール、基板処理システムおよび消耗部材の搬送方法 | |
KR100432440B1 (ko) | 종형 열처리장치 | |
JP4275184B2 (ja) | 基板処理装置、ロードポート、半導体装置の製造方法および収納容器の搬送方法 | |
JP2009267153A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
TW202232624A (zh) | 處理系統及搬運方法 | |
JP4653875B2 (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
KR100920463B1 (ko) | 반도체 제조 설비 | |
JP2002270671A (ja) | 基板処理装置 | |
WO2024162483A1 (ja) | 基板保持具用治具、基板処理装置及び半導体装置の製造方法 | |
US20220324659A1 (en) | Method of teaching transfer device, and transfer system | |
US20240014050A1 (en) | Batch substrate treatment apparatus | |
JP2011238962A (ja) | 載置プレート、基板移載装置および基板処理装置 | |
TW202401639A (zh) | 異常偵測方法及搬運裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20120727 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20131213 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20120727 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20150302 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20150907 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20150915 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20150915 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180903 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180903 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190903 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190903 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210830 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220822 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240820 Start annual number: 10 End annual number: 10 |