KR101546890B1 - 위상 변화 메모리 어레이를 위한 방법 - Google Patents
위상 변화 메모리 어레이를 위한 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101546890B1 KR101546890B1 KR1020127019823A KR20127019823A KR101546890B1 KR 101546890 B1 KR101546890 B1 KR 101546890B1 KR 1020127019823 A KR1020127019823 A KR 1020127019823A KR 20127019823 A KR20127019823 A KR 20127019823A KR 101546890 B1 KR101546890 B1 KR 101546890B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- memory array
- change memory
- phase change
- pattern
- sequence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 198
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 83
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 124
- 230000006870 function Effects 0.000 description 15
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 7
- 239000012782 phase change material Substances 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000003490 calendering Methods 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 239000011232 storage material Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
- G06F3/062—Securing storage systems
- G06F3/0622—Securing storage systems in relation to access
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0638—Organizing or formatting or addressing of data
- G06F3/0643—Management of files
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0673—Single storage device
- G06F3/0679—Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0004—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements comprising amorphous/crystalline phase transition cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0021—Auxiliary circuits
- G11C13/004—Reading or sensing circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0021—Auxiliary circuits
- G11C13/0059—Security or protection circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0021—Auxiliary circuits
- G11C13/0069—Writing or programming circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0021—Auxiliary circuits
- G11C13/0097—Erasing, e.g. resetting, circuits or methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/02—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using elements whose operation depends upon chemical change
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N70/00—Solid-state devices having no potential barriers, and specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching
- H10N70/20—Multistable switching devices, e.g. memristors
- H10N70/231—Multistable switching devices, e.g. memristors based on solid-state phase change, e.g. between amorphous and crystalline phases, Ovshinsky effect
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N70/00—Solid-state devices having no potential barriers, and specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching
- H10N70/20—Multistable switching devices, e.g. memristors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Storage Device Security (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따라 위상 변화 메모리 어레이를 동작시키는 방법의 동작을 나타내는 흐름도;
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 위상 변화 메모리 어레이를 동작시키는 방법의 동작을 나타내는 흐름도;
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 시간의 함수로서 논리 "1"에 대한 프로그램 펄스 진폭 및 시간의 함수로서 논리 "0"에 대한 프로그램 펄스 진폭을 나타내는 그래프;
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 시간의 함수로서 논리 "1"에 대한 셀 전류 및 시간의 함수로서 논리 "0"에 대한 셀 전류를 나타내는 그래프;
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 위상 변화 메모리 셀의 어레이를 도시하는 도면;
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 위상 변화 메모리 셀의 어레이를 포함하는 무선 아키텍처의 개략도;
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 위상 변화 메모리 어레이에 기초하여 비휘발성 메모리를 암호화하거나 복호화하거나 암호화 및 복호화하도록 구성된 컴퓨터 시스템의 일례의 블록도;
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따라 위상 변화 메모리 어레이에 기초하여 비휘발성 메모리를 암호화하거나 복호화하거나 암호화 및 복호화하도록 구성된 메모리 아키텍처의 일례의 블록도.
Claims (24)
- 위상 변화 메모리 어레이(phase-change memory array)를 동작시키는 방법으로서,
복수의 비트를 상기 위상 변화 메모리 어레이에 기억시키기 전에, 상기 위상 변화 메모리 어레이 내의 각 셀의 시작 조건을 정의하는 단계 - 상기 시작 조건은 상기 위상 변화 메모리 어레이 내의 상기 각 셀에, 하드 리셋 펄스 또는 소프트 리셋 펄스 중 하나를 제공함으로써 정의됨 - ;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 기록될 패턴을 결정하는 단계 - 상기 패턴은 기억될 민감한 정보를 갖는 실제 데이터 비트 및 민감하지 않은 정보를 갖는 거짓 데이터 비트 양자를 포함함 - ; 및
상기 위상 변화 메모리 어레이에 상기 패턴을 기록하는 단계를 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법. - 제1항에 있어서, 상기 방법은 상기 위상 변화 메모리 어레이를 암호화하기 위한 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제1항에 있어서, 상기 패턴을 기록하기 전에, 기록 패스워드를 발행하는 단계를 더 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제1항에 있어서, 상기 하드 리셋 펄스는 제1 진폭을 가지고, 상기 소프트 리셋 펄스는 상기 제1 진폭과는 다른 제2 진폭을 가지고 있는 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제4항에 있어서, 상기 하드 리셋 펄스는 논리 "0"을 기록하는 것을 가능하게 하는 것이고, 상기 소프트 리셋 펄스는 논리 "1"을 기록하는 것을 가능하게 하는 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제1항에 있어서, 상기 패턴을 상기 위상 변화 메모리 어레이에 기록하는 단계는 내부 상태 기계에 의해 수행되는 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 위상 변화 메모리 어레이를 동작시키는 방법으로서,
상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 세트 펄스들의 시퀀스를 제공함으로써 세트 시퀀스를 실행하는 단계;
상기 세트 시퀀스를 실행하는 것으로부터 유도된 패턴을 얻기 위해 상기 위상 변화 메모리 어레이에 판독을 수행하는 단계 - 상기 패턴은 기억될 민감한 정보를 갖는 실제 데이터 비트 및 민감하지 않은 정보를 갖는 거짓 데이터 비트 양자를 포함함 - ; 및
내부 판독 기준을 조절하여, 상기 패턴을 취득하는 단계
를 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법. - 제7항에 있어서, 상기 방법은 상기 위상 변화 메모리 어레이를 복호하기 위한 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제7항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이의 상기 판독을 수행하기 전에, 판독 패스워드를 발행하는 단계를 더 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제7항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계는 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 모두 제로(0)인 패턴 타깃으로 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계를 포함하며, 상기 패턴은 모두 제로(0)인 것은 아닌 패턴(non-all-zero pattern)인 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제7항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계는 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 제1 패턴 타깃으로 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계를 포함하며, 상기 패턴은 상기 제1 패턴과는 다른 제2 패턴인 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제7항에 있어서, 상기 판독을 수행한 후, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 상기 패턴을 재은닉하기 위해 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 2개 이상의 리셋 시퀀스를 실행하는 단계를 더 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 위상 변화 메모리 어레이를 동작시키는 방법으로서,
복수의 비트를 상기 위상 변화 메모리 어레이에 기억시키기 전에, 상기 위상 변화 메모리 어레이 내의 각 셀의 시작 조건을 정의하는 단계 - 상기 시작 조건은 상기 위상 변화 메모리 어레이 내의 상기 각 셀에, 하드 리셋 펄스 또는 소프트 리셋 펄스 중 하나를 제공함으로써 정의됨 - ;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 기록될 패턴을 결정하는 단계 - 상기 패턴은 기억될 민감한 정보를 갖는 실제 데이터 비트 및 민감하지 않은 정보를 갖는 거짓 데이터 비트 양자를 포함함 - ;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 상기 패턴을 기록하는 단계;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 세트 펄스들의 시퀀스를 제공함으로써 세트 시퀀스를 실행하는 단계; 및
상기 세트 시퀀스를 실행하는 것으로부터 유도된 상기 패턴을 얻기 위해 상기 위상 변화 메모리 어레이에 판독을 수행하는 단계를 포함하는 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법. - 제13항에 있어서, 상기 패턴을 기록하기 전에, 기록 패스워드를 발행하는 단계를 더 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이의 상기 판독을 수행하기 전에, 판독 패스워드를 발행하는 단계를 더 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 상기 하드 리셋 펄스는 제1 진폭을 가지고, 상기 소프트 리셋 펄스는 상기 제1 진폭과는 다른 제2 진폭을 가지고 있는 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제16항에 있어서, 상기 하드 리셋 펄스는 논리 "0"을 기록하는 것을 가능하게 하는 것이고, 상기 소프트 리셋 펄스는 논리 "1"을 기록하는 것을 가능하게 하는 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 상기 패턴을 기록하는 단계는 내부 상태 기계에 의해 수행되는 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계는 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 모두 제로(0)인 패턴 타깃으로 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계를 포함하고, 상기 패턴은 모두 제로(0)인 것은 아닌 패턴인 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계는 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 제1 패턴 타깃으로 상기 세트 시퀀스를 실행하는 단계를 포함하며, 상기 패턴은 상기 제1 패턴과는 다른 제2 패턴인 것인, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 내부 판독 기준을 조절하여, 상기 패턴을 얻기 위한 마진을 유지하는 단계를 더 포함하는 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 제13항에 있어서, 상기 판독을 수행한 후에, 상기 위상 변화 메모리 어레이에 상기 패턴을 재은닉하기 위해 상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 2개 이상의 추가적인 리셋 시퀀스를 실행하는 단계를 더 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
- 위상 변화 메모리 어레이를 동작시키는 방법으로서,
상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 리셋 펄스들의 시퀀스를 제공함으로써 리셋 시퀀스를 실행하는 단계;
상기 리셋 시퀀스를 실행하는 것으로부터 유도된 패턴을 얻기 위해 상기 위상 변화 메모리 어레이에 판독을 수행하는 단계 - 상기 패턴은 기억될 민감한 정보를 갖는 실제 데이터 비트 및 민감하지 않은 정보를 갖는 거짓 데이터 비트 양자를 포함함 - ; 및
내부 판독 기준을 조절하여, 상기 패턴을 취득하는 단계
를 포함하는, 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법. - 위상 변화 메모리 어레이를 동작시키는 방법으로서,
복수의 비트를 상기 위상 변화 메모리 어레이에 기억시키기 전에, 상기 위상 변화 메모리 어레이 내의 각 셀의 시작 조건을 정의하는 단계 - 상기 시작 조건은 상기 위상 변화 메모리 어레이 내의 상기 각 셀에, 하드 리셋 펄스 또는 소프트 리셋 펄스 중 하나를 제공함으로써 정의됨 - ;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 기록될 패턴을 결정하는 단계 - 상기 패턴은 기억될 민감한 정보를 갖는 실제 데이터 비트 및 민감하지 않은 정보를 갖는 거짓 데이터 비트 양자를 포함함 - ;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 상기 패턴을 기록하는 단계;
상기 위상 변화 메모리 어레이에 대해 리셋 펄스들의 시퀀스를 제공함으로써 리셋 시퀀스를 실행하는 단계; 및
상기 리셋 시퀀스를 실행하는 것으로부터 유도된 상기 패턴을 얻기 위해 상기 위상 변화 메모리 어레이에 판독을 수행하는 단계를 포함하는 위상 변화 메모리 어레이의 동작방법.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/IT2009/000603 WO2011080784A1 (en) | 2009-12-31 | 2009-12-31 | Methods for a phase-change memory array |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120125265A KR20120125265A (ko) | 2012-11-14 |
KR101546890B1 true KR101546890B1 (ko) | 2015-08-25 |
Family
ID=42133652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020127019823A Active KR101546890B1 (ko) | 2009-12-31 | 2009-12-31 | 위상 변화 메모리 어레이를 위한 방법 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (5) | US9251897B2 (ko) |
JP (1) | JP5500468B2 (ko) |
KR (1) | KR101546890B1 (ko) |
CN (1) | CN103222005B (ko) |
DE (1) | DE112009005490T5 (ko) |
TW (1) | TWI501233B (ko) |
WO (1) | WO2011080784A1 (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112009005490T5 (de) | 2009-12-31 | 2013-01-24 | Micron Technology, Inc. | Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix |
US9471793B2 (en) * | 2013-01-07 | 2016-10-18 | Infineon Technologies Ag | System on chip with embedded security module |
US9424442B2 (en) | 2013-11-27 | 2016-08-23 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Nonvolatile memory and electronic device |
CN103631732B (zh) * | 2013-11-27 | 2016-09-07 | 华为技术有限公司 | 非易失存储器及电子设备 |
US10922292B2 (en) | 2015-03-25 | 2021-02-16 | WebCloak, LLC | Metamorphic storage of passcodes |
US10191664B2 (en) * | 2015-10-16 | 2019-01-29 | SK Hynix Inc. | Memory system |
US10180796B2 (en) * | 2015-10-16 | 2019-01-15 | SK Hynix Inc. | Memory system |
US10249351B2 (en) | 2016-11-06 | 2019-04-02 | Intel Corporation | Memory device with flexible internal data write control circuitry |
FR3145641A1 (fr) * | 2023-02-02 | 2024-08-09 | Stmicroelectronics International N.V. | Procédé d’émulation d’une mémoire EEPROM |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0651394B1 (fr) | 1993-10-28 | 1998-12-16 | STMicroelectronics S.A. | Circuit intégré contenant une mémoire protégée et système sécurisé utilisant ledit circuit intégré |
US20090059658A1 (en) | 2003-06-03 | 2009-03-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system, memory device and apparatus including writing driver circuit for a variable resistive memory |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5748807A (en) * | 1992-10-09 | 1998-05-05 | Panasonic Technologies, Inc. | Method and means for enhancing optical character recognition of printed documents |
US5583819A (en) * | 1995-01-27 | 1996-12-10 | Single Chip Holdings, Inc. | Apparatus and method of use of radiofrequency identification tags |
US6141241A (en) * | 1998-06-23 | 2000-10-31 | Energy Conversion Devices, Inc. | Universal memory element with systems employing same and apparatus and method for reading, writing and programming same |
US7788553B2 (en) * | 2000-01-06 | 2010-08-31 | Super Talent Electronics, Inc. | Mass production testing of USB flash cards with various flash memory cells |
AU5997901A (en) | 2000-05-16 | 2001-11-26 | John Taschereau | Method and system for providing geographically targeted information and advertising |
US6850432B2 (en) * | 2002-08-20 | 2005-02-01 | Macronix International Co., Ltd. | Laser programmable electrically readable phase-change memory method and device |
US7962361B2 (en) | 2002-11-07 | 2011-06-14 | Novitaz | Customer relationship management system for physical locations |
JP2004164766A (ja) * | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Renesas Technology Corp | 不揮発性記憶装置 |
US6944041B1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-13 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. | Circuit for accessing a chalcogenide memory array |
KR100587702B1 (ko) | 2004-07-09 | 2006-06-08 | 삼성전자주식회사 | 피크 전류의 감소 특성을 갖는 상변화 메모리 장치 및그에 따른 데이터 라이팅 방법 |
US20060056227A1 (en) * | 2004-09-10 | 2006-03-16 | Parkinson Ward D | One time programmable phase change memory |
JP4282612B2 (ja) * | 2005-01-19 | 2009-06-24 | エルピーダメモリ株式会社 | メモリ装置及びそのリフレッシュ方法 |
KR101293365B1 (ko) * | 2005-09-30 | 2013-08-05 | 모사이드 테크놀로지스 인코퍼레이티드 | 출력 제어 메모리 |
JP4628935B2 (ja) | 2005-11-19 | 2011-02-09 | エルピーダメモリ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US8947233B2 (en) * | 2005-12-09 | 2015-02-03 | Tego Inc. | Methods and systems of a multiple radio frequency network node RFID tag |
US7531825B2 (en) * | 2005-12-27 | 2009-05-12 | Macronix International Co., Ltd. | Method for forming self-aligned thermal isolation cell for a variable resistance memory array |
US7844879B2 (en) * | 2006-01-20 | 2010-11-30 | Marvell World Trade Ltd. | Method and system for error correction in flash memory |
US20110093340A1 (en) | 2006-01-30 | 2011-04-21 | Hoozware, Inc. | System for providing a service to venues where people perform transactions |
US8121237B2 (en) * | 2006-03-16 | 2012-02-21 | Rambus Inc. | Signaling system with adaptive timing calibration |
JP5008947B2 (ja) | 2006-10-30 | 2012-08-22 | 京セラ株式会社 | 無線通信端末及び無線通信方法 |
US7692949B2 (en) | 2006-12-04 | 2010-04-06 | Qimonda North America Corp. | Multi-bit resistive memory |
KR20080060918A (ko) | 2006-12-27 | 2008-07-02 | 삼성전자주식회사 | 상변화 메모리 소자와 그 제조 및 동작 방법 |
JP5100292B2 (ja) * | 2007-10-05 | 2012-12-19 | 株式会社東芝 | 抵抗変化メモリ装置 |
KR101291222B1 (ko) * | 2007-11-29 | 2013-07-31 | 삼성전자주식회사 | 상변화 메모리 소자의 동작 방법 |
US8269208B2 (en) * | 2008-03-07 | 2012-09-18 | Ovonyx, Inc. | Memory device |
KR20090123244A (ko) * | 2008-05-27 | 2009-12-02 | 삼성전자주식회사 | 상 변화 메모리 장치 및 그것의 쓰기 방법 |
WO2010030392A2 (en) | 2008-09-12 | 2010-03-18 | Dimitris Achlioptas | Interpersonal spacetime interaction system |
WO2010076834A1 (en) * | 2008-12-31 | 2010-07-08 | Ferdinando Bedeschi | Reliable set operation for phase-change memory cell |
US20100226168A1 (en) * | 2009-03-04 | 2010-09-09 | Savransky Semyon D | Programming methods for phase-change memory |
US8179731B2 (en) * | 2009-03-27 | 2012-05-15 | Analog Devices, Inc. | Storage devices with soft processing |
US20100317371A1 (en) | 2009-06-12 | 2010-12-16 | Westerinen William J | Context-based interaction model for mobile devices |
US8809829B2 (en) * | 2009-06-15 | 2014-08-19 | Macronix International Co., Ltd. | Phase change memory having stabilized microstructure and manufacturing method |
US9378507B2 (en) | 2009-06-17 | 2016-06-28 | 1020, Inc. | System and method of disseminating electronic content utilizing geographic and time granularities |
JP5178637B2 (ja) * | 2009-06-18 | 2013-04-10 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
DE112009005490T5 (de) | 2009-12-31 | 2013-01-24 | Micron Technology, Inc. | Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix |
US20110184945A1 (en) | 2010-01-22 | 2011-07-28 | Qualcomm Incorporated | Location aware recommendation engine |
-
2009
- 2009-12-31 DE DE112009005490T patent/DE112009005490T5/de active Pending
- 2009-12-31 CN CN200980163406.9A patent/CN103222005B/zh active Active
- 2009-12-31 WO PCT/IT2009/000603 patent/WO2011080784A1/en active Application Filing
- 2009-12-31 JP JP2012546563A patent/JP5500468B2/ja active Active
- 2009-12-31 KR KR1020127019823A patent/KR101546890B1/ko active Active
- 2009-12-31 US US13/518,361 patent/US9251897B2/en active Active
-
2010
- 2010-11-26 TW TW099141065A patent/TWI501233B/zh active
-
2016
- 2016-02-01 US US15/012,478 patent/US9851913B2/en active Active
-
2017
- 2017-11-30 US US15/827,795 patent/US10216438B2/en active Active
-
2019
- 2019-01-21 US US16/253,087 patent/US10416909B2/en active Active
- 2019-08-29 US US16/555,546 patent/US11003365B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0651394B1 (fr) | 1993-10-28 | 1998-12-16 | STMicroelectronics S.A. | Circuit intégré contenant une mémoire protégée et système sécurisé utilisant ledit circuit intégré |
US20090059658A1 (en) | 2003-06-03 | 2009-03-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system, memory device and apparatus including writing driver circuit for a variable resistive memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11003365B2 (en) | 2021-05-11 |
JP5500468B2 (ja) | 2014-05-21 |
US9251897B2 (en) | 2016-02-02 |
TWI501233B (zh) | 2015-09-21 |
WO2011080784A1 (en) | 2011-07-07 |
US20160162213A1 (en) | 2016-06-09 |
US9851913B2 (en) | 2017-12-26 |
US20140376306A1 (en) | 2014-12-25 |
CN103222005B (zh) | 2016-08-24 |
US20180095687A1 (en) | 2018-04-05 |
DE112009005490T5 (de) | 2013-01-24 |
JP2013516724A (ja) | 2013-05-13 |
TW201142843A (en) | 2011-12-01 |
US10216438B2 (en) | 2019-02-26 |
KR20120125265A (ko) | 2012-11-14 |
US20190391751A1 (en) | 2019-12-26 |
CN103222005A (zh) | 2013-07-24 |
US10416909B2 (en) | 2019-09-17 |
US20190155528A1 (en) | 2019-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101546890B1 (ko) | 위상 변화 메모리 어레이를 위한 방법 | |
JP5520842B2 (ja) | マルチモードプログラム可能抵抗メモリーをアクセスするための方法と装置 | |
CN103563001B (zh) | 重置相变存储器和开关(pcms)存储器单元的方法和装置 | |
US9171614B2 (en) | Reliable set operation for phase-change memory cell | |
US9021227B2 (en) | Drift management in a phase change memory and switch (PCMS) memory device | |
US8392683B1 (en) | Dynamic range unlock or lock memory device and method to operate the same | |
TW201103024A (en) | Method for operating a portion of an executable program in an executable non-volatile memory | |
TWI685844B (zh) | 用於更新非揮發性記憶體中之一修整參數之技術 | |
US20100244023A1 (en) | Programmable resistance memory | |
EP2278590A2 (en) | Integrated circuit including memory having limited read | |
CN104241526B (zh) | 相变化存储器、其写入方法及其读取方法 | |
KR20150002949A (ko) | 저항체를 이용한 비휘발성 메모리 장치 및 그 구동 방법 | |
US7596016B2 (en) | Optically accessible phase change memory | |
KR20200022957A (ko) | 전자 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 20120726 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
A302 | Request for accelerated examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20141231 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PA0302 | Request for accelerated examination |
Patent event date: 20141231 Patent event code: PA03022R01D Comment text: Request for Accelerated Examination |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20150116 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20150518 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20150818 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20150819 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180801 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180801 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190816 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190816 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200806 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210809 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230809 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240806 Start annual number: 10 End annual number: 10 |