KR101316826B1 - 소형 전자부품 검사용 프로브장치 - Google Patents
소형 전자부품 검사용 프로브장치 Download PDFInfo
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Abstract
이를 위하여 본 발명은 지그수단의 표면에 마련된 단자부자리 및 부품자리에 회로기판의 단자부 및 전자부품을 올려 고정시킨 뒤 상기 지그수단과 힌지축으로 연결된 회전수단을 원호상으로 회전시켜 회전수단에 마련된 프로브들이 상기 단자부의 단자들과 접촉되어 검사장비와 회로적으로 연결되도록 한 소형 전자부품 검사용 프로브장치에 있어서, 수평유지수단은 상기 힌지축을 통하여 상기 지그수단과 연결되고, 상기 회전수단의 상하로 관통된 내부공간에 회동가능하게 끼워지며, 상기 수평유지수단의 자유단 밑면에는 상기 회전수단의 하강시 함께 하강되다가 상기 지그수단과 수평이 유지되면 정지되도록 상기 지그수단의 표면에 닿는 멈춤돌기가 구비되며; 수직승강수단은 밑면에 상기 단자부의 단자들과 일대일 대응되는 다수의 프로브들이 구비되고, 상기 수평유지수단의 상하로 관통된 내부공간에 수직으로 승강되게 끼워지며; 상기 회전수단에는 상기 수평유지수단을 관통하여 상기 수직승강수단의 표면과 접하는 누름부가 마련되어, 상기 수평유지수단이 정지되고 상기 회전수단이 계속 하강되면 상기 누름부가 상기 수직승강수단을 눌러 상기 프로브들이 상기 단자부의 단자들과 동시에 접촉되도록 한 특징이 있다.
Description
도 2는 본 발명 한 실시예의 프로브장치의 조립 사시도
도 3은 본 발명 한 실시예의 프로브장치의 작동상태 단면도
도 4는 본 발명 한 실시예의 프로브블록과 전자부품의 예시도
12 : 부품자리 13 : 힌지부
14 : 힌지축 15 : 고정레버
20 : 회전수단 21 : 제1힌지부
22 : 걸림턱 23 : 누름부
24 : 걸이구 30 : 수평유지수단
31 : 제2힌지부 32 : 멈춤돌기
33 : 걸이홈 40 : 수직승강수단
41 : 프로브블록 42 : 프로브
43 : 핀구멍 44 : 스프링자리
45 : 받침부 46 : 스프링
47 : 승강안내핀
Claims (3)
- 지그수단의 표면에 마련된 단자부자리 및 부품자리에 회로기판의 단자부 및 전자부품을 올려 고정시킨 뒤 상기 지그수단과 힌지축으로 연결된 회전수단을 원호상으로 회전시키면 회전수단에 마련된 프로브들이 상기 단자부의 단자들과 접촉되어 검사장비와 전자부품이 회로적으로 연결되는 소형 전자부품 검사용 프로브장치에 있어서,
수평유지수단은 상기 힌지축을 통하여 상기 지그수단과 연결되고, 상기 회전수단의 상하로 관통된 내부공간에 회동가능하게 끼워지며, 상기 수평유지수단의 자유단 밑면에는 상기 회전수단의 하강시 함께 하강되다가 상기 지그수단과 수평이 유지되면 정지되도록 상기 지그수단의 표면에 닿는 멈춤돌기가 구비되며;
수직승강수단은 밑면에 상기 단자부의 단자들과 일대일 대응되는 다수의 프로브들이 구비되고, 상기 수평유지수단의 상하로 관통된 내부공간에 수직으로 승강되게 구비되며;
상기 회전수단에는 상기 수평유지수단을 관통하여 상기 수직승강수단의 표면과 접하는 누름부가 마련되어, 상기 수평유지수단이 정지되고 상기 회전수단이 계속 하강되면 상기 누름부가 상기 수직승강수단을 눌러 상기 프로브들이 상기 단자부의 단자들과 동시에 접촉되도록 한 것을 특징으로 하는 소형 전자부품 검사용 프로브장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 수평유지수단의 전후방 밑면에는 내부공간으로 향하는 한쌍의 받침부가 구비되고, 받침부들의 표면에 다수의 스프링이 구비되며,
상기 수직승강수단의 전후방 밑면에는 상기 받침부들과 대응되어 스프링에 놓이는 스프링자리가 마련되며,
상기 수직승강수단의 전후방 양측에는 수직으로 관통하여 상기 수평유지수단의 밑면에 체결 고정되는 다수의 승강안내핀이 구비되어, 상기 수직승강수단이 승강안내핀들을 통하여 스프링의 탄력을 받으면서 승강되도록 한 것을 특징으로 하는 소형 전자부품 검사용 프로브장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 회전수단의 밑면 양측에는 내부공간으로 향하는 한쌍의 걸이구가 구비되고,
상기 수평유지수단의 밑면에는 상기 걸이구들이 끼워지는 걸이홈이 구비되어 상기 회전수단이 하강되는 동안 상기 수평유지수단이 자유낙하되지 않도록 한 것을 특징으로하는 소형 전자부품 검사용 프로브장치.
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