KR101304477B1 - 테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치 - Google Patents
테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치 Download PDFInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 83
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000011068 loading method Methods 0.000 claims abstract description 69
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 239000012160 loading buffer Substances 0.000 abstract description 32
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 4
- 239000007858 starting material Substances 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000012812 general test Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2891—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
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Abstract
Description
Claims (3)
- 반도체소자들이 적재되는 다수의 적재공간이 형성되어 있는 버퍼; 및오적재 감지 수단; 을 포함하고,상기 오적재 감지 수단은,상기 버퍼의 일측에 구비된 빛 투과용 투사체; 및상기 버퍼의 타측에 구비되어 상기 투사체로부터 투사된 빛을 수광하는 빛 수광용 수광체; 를 포함하되,상기 버퍼의 다수의 적재공간은 상하벽과 좌우벽에 의해 형성되고,상기 좌우벽에는 홈이 형성되며,상기 투사체 및 수광체는 상기 홈을 통해 상기 적재공간에 반도체소자가 이중으로 적재되거나 비뚤어져서 적재되는 것을 감지하도록 위치되는 것을 특징으로 하는테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치.
- 반도체소자들이 적재되는 다수의 적재공간이 형성되어 있는 버퍼;반도체소자를 고객트레이로부터 캐리어보드로 로딩하거나 캐리어보드로부터 고객트레이로 언로딩하는 로더핸드 또는 언로더핸드; 및오적재 감지 수단; 을 포함하고,상기 오적재 감지 수단은,상기 로더핸드 또는 언로더핸드의 일측에 구비된 빛 투과용 투사체;상기 로더핸드 또는 언로더핸드의 타측에 구비되어 상기 투사체로부터 투사된 빛을 수광하는 빛 수광용 수광체; 및상기 투사체 및 수광체의 승강을 위해 상기 로더핸드 또는 언로더핸드의 양측에 마련되는 승강수단; 을 포함하며,상기 승강수단은 상기 로더핸드 또는 언로더핸드의 일반적인 작동 중에는 상기 투사체 및 수광체를 상승시키고 있다가, 상기 버퍼에서 반도체소자의 오적재를 감지하기 위해 상기 투사체 및 수광체를 하강시키되,상기 버퍼의 다수의 적재공간은 상하벽과 좌우벽에 의해 형성되고,상기 좌우벽에는 홈이 형성되며,상기 투사체 및 수광체는 상기 홈을 통해 상기 적재공간에 반도체소자가 이중으로 적재되거나 비뚤어져서 적재되는 것을 감지하도록 위치되는 것을 특징으로 하는테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080005246A KR101304477B1 (ko) | 2008-01-17 | 2008-01-17 | 테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080005246A KR101304477B1 (ko) | 2008-01-17 | 2008-01-17 | 테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090079343A KR20090079343A (ko) | 2009-07-22 |
KR101304477B1 true KR101304477B1 (ko) | 2013-09-06 |
Family
ID=41290549
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080005246A Active KR101304477B1 (ko) | 2008-01-17 | 2008-01-17 | 테스트핸들러용 반도체소자 오적재 감지 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101304477B1 (ko) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040060113A (ko) * | 2002-12-30 | 2004-07-06 | 동부전자 주식회사 | 반도체 패키지의 적재상태 감지가 가능한 핫 플레이트 |
KR20050048324A (ko) * | 2003-11-19 | 2005-05-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 칩 패키지 트레이 카운팅 장치 |
KR20080092671A (ko) * | 2007-04-13 | 2008-10-16 | (주)제이티 | 반도체디바이스 검사장치 |
-
2008
- 2008-01-17 KR KR1020080005246A patent/KR101304477B1/ko active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040060113A (ko) * | 2002-12-30 | 2004-07-06 | 동부전자 주식회사 | 반도체 패키지의 적재상태 감지가 가능한 핫 플레이트 |
KR20050048324A (ko) * | 2003-11-19 | 2005-05-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 칩 패키지 트레이 카운팅 장치 |
KR20080092671A (ko) * | 2007-04-13 | 2008-10-16 | (주)제이티 | 반도체디바이스 검사장치 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090079343A (ko) | 2009-07-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20080117 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20120312 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20080117 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20130320 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20130826 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20130830 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20130902 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160818 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160818 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170817 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170817 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180731 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180731 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190805 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190805 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200810 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220823 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230821 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240826 Start annual number: 12 End annual number: 12 |