KR101281357B1 - 광학 소자 유지 장치, 경통, 노광 장치, 및 디바이스의제조방법 - Google Patents
광학 소자 유지 장치, 경통, 노광 장치, 및 디바이스의제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101281357B1 KR101281357B1 KR1020057023168A KR20057023168A KR101281357B1 KR 101281357 B1 KR101281357 B1 KR 101281357B1 KR 1020057023168 A KR1020057023168 A KR 1020057023168A KR 20057023168 A KR20057023168 A KR 20057023168A KR 101281357 B1 KR101281357 B1 KR 101281357B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- optical element
- displacement
- link
- frame member
- lever
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 314
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 192
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 58
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 19
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 8
- 238000013461 design Methods 0.000 description 7
- 206010034719 Personality change Diseases 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 239000010436 fluorite Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 210000003739 neck Anatomy 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LQFSFEIKYIRLTN-UHFFFAOYSA-H aluminum;calcium;lithium;hexafluoride Chemical compound [Li+].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[Al+3].[Ca+2] LQFSFEIKYIRLTN-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- IEPNMLJMIRCTIV-UHFFFAOYSA-H aluminum;lithium;strontium;hexafluoride Chemical compound [Li+].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[Al+3].[Sr+2] IEPNMLJMIRCTIV-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- -1 barium-lanthanum-aluminum Chemical compound 0.000 description 1
- 238000009412 basement excavation Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000005383 fluoride glass Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000011553 magnetic fluid Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- FVRNDBHWWSPNOM-UHFFFAOYSA-L strontium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Sr+2] FVRNDBHWWSPNOM-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001637 strontium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70825—Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
- G02B7/023—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses permitting adjustment
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Abstract
Description
Claims (29)
- 프레임 부재,상기 프레임 부재의 내측에 형성되고, 광학 소자를 유지하는 유지 부재,상기 프레임 부재와 상기 유지 부재 사이에 형성되고, 상기 유지 부재를 움직여, 상기 프레임 부재에 대한 상기 광학 소자의 자세를 6개의 자유도를 갖고 조정하는 자세 조정 기구 및상기 프레임 부재의 측면에 형성되는 장착 구멍에 수용되고, 상기 자세 조정 기구에 맞닿게 되고, 상기 자세 조정 기구를 사용하여 상기 프레임 부재에 대하여 상기 유지 부재를 변위시키는 변위 부재를 구비하고,상기 자세 조정 기구는, 각각이 상기 유지 부재에 대해 회전 가능하게 연결된 제 1 단부를 갖는 제 1 링크부와, 상기 프레임 부재에 회전 가능하게 장착된 제 1 단부 및 상기 변위 부재에 걸어 맞추는 제 2 단부를 갖는 제 2 링크부를 포함하고, 상기 제 1 링크부는 상기 제 2 링크부에 회전 가능하게 장착된 제 2 단부를 포함하고, 상기 프레임 부재의 장착 구멍과 상기 변위 부재 사이에 장착되는 시일 부재가 포함되는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 자세 조정 기구는, 상기 광학 소자의 자세를, 상기 광학 소자의 광축과 평행한 방향 및 상기 광축과 교차하는 방향으로 조정하는, 광학 소자 유지 장치.
- 삭제
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 자세 조정 기구는, 6개의 제 1 링크부와 6개의 제 2 링크부를 포함하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 6개의 제 1 링크부는, 각각이 2개의 제 1 링크부로 이루어지는 제 1, 제 2, 및 제 3 링크 기구를 형성하고,상기 제 1, 제 2, 및 제 3 링크 기구는, 상기 광학 소자의 광축의 주위에 등각도 간격을 두고 배치되어 있는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 5 항에 있어서,각 링크 기구를 형성하는 2개의 제 1 링크부는, 상기 광축을 중심에 갖는 원의 접평면과 평행한 제 1 평면 내에 배치되고, 또한, 상기 광축을 포함하고 또한 상기 제 1 평면과 직교하는 제 2 평면에 대하여 서로 대칭인, 광학 소자 유지 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 프레임 부재, 상기 유지 부재, 및 상기 자세 조정 기구의 일부가 하나의 구조체에 일체로 형성되고,상기 하나의 구조체는,상기 광학 소자의 광축과 직교하는 제 1 면과,상기 제 1 면과 평행한 제 2 면을 포함하고,적어도 1개의 제 1 링크부는, 상기 제 1 면에 형성된 제 1 오목부에 의해 구획된 제 1 목부와, 상기 제 2 면에 형성된 제 2 오목부에 의해 구획되는 제 2 목부를 구비하고,상기 적어도 1개의 제 1 링크부는, 상기 제 1 목부에서 상기 유지 부재에 연결되는, 광학 소자 유지 장치.
- 삭제
- 제 4 항에 있어서,상기 제 2 링크부는, 상기 제 2 링크부의 두께 방향으로 연장되는 한 쌍의 관통구멍과, 각 관통구멍으로부터 연장되는 한 쌍의 슬릿에 의해 구획되는 피봇을 구비하고,상기 피봇은 상기 제 2 링크부를 상기 프레임 부재에 대하여 회전 가능하게 연결하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 변위 부재는, 상기 제 2 링크부에 맞닿는 맞닿음부와, 상기 제 2 링크부에 부여하는 변위량을 변경하는 변경부재를 갖는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 변경부재는, 제어신호에 따라서 상기 제 2 링크부에 부여하는 변위량을 변경하는 액츄에이터인, 광학 소자 유지 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 제 1 면에서 상기 제 2 목부와 대응하는 위치에 형성되고, 상기 제 2 오목부의 개구 면적보다도 큰 개구 면적을 갖는 제 1 컷아웃부와,상기 제 2 면에서 상기 제 1 목부와 대응하는 위치에 형성되고, 상기 제 1 오목부의 개구 면적보다도 큰 개구 면적을 갖는 제 2 컷아웃부를 더 구비하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 2 링크부가 상기 제 1 링크부의 제 1 단부의 변위 방향을 규제하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 피봇과는 다른 위치에 형성되고, 상기 제 2 링크부와 상기 프레임 부재를 연결하는 L 자 형상의 제 3 링크부를 더 구비하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 14 항에 있어서,상기 제 3 링크부는,상기 제 2 링크부와 상기 제 3 링크부의 연결부와, 상기 피봇을 연결하는 직선의 연장선 상에 배치되는 제 1 지지 링크와,상기 제 1 지지 링크에 대하여 직교하도록 배치된 제 2 지지 링크를 포함하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 변위 부재는 상기 프레임 부재로부터 분리 가능한, 광학 소자 유지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 변위 부재는, 상기 프레임 부재의 직경 방향에 따르는 제 1 변위 방향으로 제 1 변위량으로 변위하고,상기 자세 조정 기구는,상기 변위 부재의 변위를 받아, 상기 제 1 변위 방향과 교차하는 제 2 변위 방향으로, 상기 제 1 변위량과는 다른 제 2 변위량으로 변위되는, 광학 소자 유지 장치.
- 삭제
- 제 17 항에 있어서,상기 변위 부재는, 상기 제 2 링크부의 제 2 단부를 상기 광학 소자의 직경 방향으로 변위시키고,상기 제 2 링크부와 상기 제 1 링크부의 연결부는, 상기 광학 소자의 접선을 포함하는 면과 평행한 면내에서 이동하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 17 항 또는 제 19 항에 있어서,상기 유지 부재는, 상기 프레임 부재의 내측에 형성되는 내측 프레임 부재이고,상기 프레임 부재, 상기 내측 프레임 부재, 및 상기 제 1 링크부 및 제 2 링크부는 하나의 구조체에 일체로 형성되는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 17 항 또는 제 19 항에 있어서,상기 광학 소자의 광축에 대하여 직교하는 상기 프레임 부재의 일면과, 상기 광축에 대하여 직교하는 내측 프레임 부재의 일면은, 동일 평면 내에 배치되는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 2 링크부를 상기 프레임 부재를 향하여 탄성지지하는 탄성지지 부재와,상기 탄성지지 부재의 탄성지지력을 조정하는 조정 부재를 더 구비하는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 1 링크부는 상기 광학 소자의 광축에 대하여 경사져 있는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 자세 조정 기구는,상기 유지 부재와 상기 프레임 부재를 연결하는 적어도 3개의 링크 기구, 및상기 프레임 부재에 장착되고, 상기 각 링크 기구의 변위량을 조정하는 조정기구를 구비하고,상기 적어도 3개의 링크 기구는, 상기 유지 부재가 상기 프레임 부재에 대하여 6개의 자유도로 이동하는 것을 허용하도록 변위 가능하고, 상기 유지 부재, 상기 프레임 부재, 및 상기 적어도 3개의 링크 기구는 하나의 강체 (剛體) 로 일체로서 형성되어 있는, 광학 소자 유지 장치.
- 제 24 항에 있어서,각 링크 기구는,아암,레버,상기 아암과 상기 유지 부재를 회전 가능하게 연결하는 제 1 피봇,상기 아암과 상기 레버를 회전 가능하게 연결하는 제 2 피봇, 및상기 레버와 상기 프레임 부재를 회전 가능하게 연결하는 제 3 피봇을 포함하는, 광학 소자 유지 장치.
- 적어도 1개의 광학 소자와,상기 적어도 1개의 광학 소자를 유지하는, 제 1 항, 제 2 항, 제 17 항, 제 19 항, 제 24 항, 또는 제 25 항 중 어느 한 항에 기재된 광학 소자 유지 장치를 구비하는, 경통.
- 제 26 항에 있어서,상기 광학 소자는, 마스크 상에 형성된 소정 패턴의 이미지를 기판 상에 투영하는 투영광학계를 구성하는 복수의 광학 소자 중 하나인, 경통.
- 소정 패턴의 이미지를 기판 상에 노광하는 노광 장치로서,상기 소정 패턴의 이미지가 형성된 마스크와,상기 이미지를 상기 기판 상에 전사하는 투영광학계를 구비하고,상기 투영광학계는, 적어도 1개의 광학 소자와, 상기 적어도 1개의 광학 소자를 유지하는 제 1 항, 제 2 항, 제 17 항, 제 19 항, 제 24 항, 또는 제 25 항 중 어느 한 항에 기재된 광학 소자 유지 장치를 구비하는, 노광 장치.
- 제 28 항에 기재된 노광 장치를 사용한 노광을 포함하는 리소그래피 공정을 구비하는, 디바이스의 제조방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003163023 | 2003-06-06 | ||
JPJP-P-2003-00163023 | 2003-06-06 | ||
PCT/JP2004/007947 WO2004109357A1 (ja) | 2003-06-06 | 2004-06-07 | 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060021339A KR20060021339A (ko) | 2006-03-07 |
KR101281357B1 true KR101281357B1 (ko) | 2013-07-02 |
Family
ID=33508740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020057023168A Expired - Fee Related KR101281357B1 (ko) | 2003-06-06 | 2004-06-07 | 광학 소자 유지 장치, 경통, 노광 장치, 및 디바이스의제조방법 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20060139775A1 (ko) |
EP (1) | EP1632799B2 (ko) |
JP (1) | JP4665759B2 (ko) |
KR (1) | KR101281357B1 (ko) |
CN (1) | CN100576003C (ko) |
AT (1) | ATE449978T1 (ko) |
DE (1) | DE602004024302D1 (ko) |
WO (1) | WO2004109357A1 (ko) |
Families Citing this family (57)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004025832A1 (de) * | 2004-05-24 | 2005-12-22 | Carl Zeiss Smt Ag | Optikmodul für ein Objektiv |
WO2005064382A1 (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Nikon Corporation | 光学素子の保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
JP4655520B2 (ja) * | 2004-06-29 | 2011-03-23 | 株式会社ニコン | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 |
JP2007147760A (ja) * | 2005-11-24 | 2007-06-14 | Fujitsu Ten Ltd | レンズ構造および調整治具構造 |
US7886449B2 (en) * | 2007-02-20 | 2011-02-15 | Electro Scientific Industries, Inc. | Flexure guide bearing for short stroke stage |
JP2008242448A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-10-09 | Canon Inc | 光学要素保持装置 |
WO2008106182A1 (en) * | 2007-02-28 | 2008-09-04 | Corning Incorporated | Optical mount pivotable about a single point |
DE102007027200A1 (de) * | 2007-06-13 | 2008-12-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
KR101706884B1 (ko) * | 2007-07-18 | 2017-02-14 | 가부시키가이샤 니콘 | 계측 방법, 스테이지 장치, 및 노광 장치 |
DE102007047109A1 (de) * | 2007-10-01 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches System, insbesondere Projektionsobjektiv der Mikrolithographie |
EP2255237B1 (en) * | 2008-02-29 | 2021-09-08 | Corning Incorporated | Kinematic optical mount |
NL1036701A1 (nl) * | 2008-04-15 | 2009-10-19 | Asml Holding Nv | Apparatus for supporting an optical element, and method of making same. |
US8227768B2 (en) * | 2008-06-25 | 2012-07-24 | Axcelis Technologies, Inc. | Low-inertia multi-axis multi-directional mechanically scanned ion implantation system |
DE102009044957A1 (de) | 2008-09-30 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Stützelemente für ein optisches Element |
CN101770063B (zh) * | 2009-01-07 | 2011-07-27 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 调焦模组制造方法 |
TWI425291B (zh) * | 2009-01-16 | 2014-02-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 調焦模組及調焦模組的製造方法 |
DE102009005954B4 (de) * | 2009-01-20 | 2010-10-21 | Carl Zeiss Smt Ag | Dämpfungsvorrichtung |
JP2010271457A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Canon Inc | 光学素子位置調整機構、光学素子位置調整機構を備えた露光装置及び光学素子位置調整方法 |
DE102009037133B4 (de) * | 2009-07-31 | 2013-01-31 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Haltevorrichtung für ein optisches Element |
KR101631958B1 (ko) * | 2010-01-14 | 2016-06-20 | 엘지전자 주식회사 | 입력 장치 및 이를 구비하는 이동 단말기 |
DE102011114123A1 (de) | 2010-09-29 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System zur Ausrichtung eines optischen Elements und Verfahren hierfür |
US8941814B2 (en) * | 2011-06-20 | 2015-01-27 | Nikon Corporation | Multiple-blade holding devices |
CN107255858B (zh) * | 2011-12-20 | 2020-05-29 | 株式会社尼康 | 基底处理装置 |
EP2757571B1 (en) * | 2013-01-17 | 2017-09-20 | IMS Nanofabrication AG | High-voltage insulation device for charged-particle optical apparatus |
JP2015023286A (ja) | 2013-07-17 | 2015-02-02 | アイエムエス ナノファブリケーション アーゲー | 複数のブランキングアレイを有するパターン画定装置 |
DE102014102220B3 (de) * | 2014-02-20 | 2015-04-30 | Jenoptik Optical Systems Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer Linsenfassung und eine in einem Tubus radial fixierbare Linsenfassung |
EP2913838B1 (en) | 2014-02-28 | 2018-09-19 | IMS Nanofabrication GmbH | Compensation of defective beamlets in a charged-particle multi-beam exposure tool |
EP2937889B1 (en) | 2014-04-25 | 2017-02-15 | IMS Nanofabrication AG | Multi-beam tool for cutting patterns |
EP2950325B1 (en) | 2014-05-30 | 2018-11-28 | IMS Nanofabrication GmbH | Compensation of dose inhomogeneity using overlapping exposure spots |
JP6892214B2 (ja) | 2014-07-10 | 2021-06-23 | アイエムエス ナノファブリケーション ゲーエムベーハー | 畳み込みカーネルを使用する粒子ビーム描画機のカスタマイズ化 |
KR20160019809A (ko) * | 2014-08-12 | 2016-02-22 | 현대모비스 주식회사 | 레이져 광학계와 이를 구비한 차량용 램프 |
US9568907B2 (en) | 2014-09-05 | 2017-02-14 | Ims Nanofabrication Ag | Correction of short-range dislocations in a multi-beam writer |
US9214314B1 (en) * | 2015-03-10 | 2015-12-15 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Ion beam manipulator |
US9653263B2 (en) | 2015-03-17 | 2017-05-16 | Ims Nanofabrication Ag | Multi-beam writing of pattern areas of relaxed critical dimension |
EP3096342B1 (en) | 2015-03-18 | 2017-09-20 | IMS Nanofabrication AG | Bi-directional double-pass multi-beam writing |
US10410831B2 (en) | 2015-05-12 | 2019-09-10 | Ims Nanofabrication Gmbh | Multi-beam writing using inclined exposure stripes |
NL2015170B1 (en) * | 2015-07-15 | 2017-02-01 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Spacer displacement device for a wafer illumination unit and wafer illumination unit. |
CN106933060B (zh) * | 2015-12-30 | 2018-10-16 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种棱镜旋转调节机构和光刻机曝光系统及光刻机 |
US10325756B2 (en) | 2016-06-13 | 2019-06-18 | Ims Nanofabrication Gmbh | Method for compensating pattern placement errors caused by variation of pattern exposure density in a multi-beam writer |
CN106291907B (zh) * | 2016-09-30 | 2018-10-19 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种三自由度次镜调整装置 |
CN106291866A (zh) * | 2016-09-30 | 2017-01-04 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种适合月基力学及温差的反射镜支撑机构 |
KR20180068228A (ko) | 2016-12-13 | 2018-06-21 | 삼성전자주식회사 | 위치 조정 유닛 및 이를 포함하는 마스크리스 노광 장치 |
US10325757B2 (en) | 2017-01-27 | 2019-06-18 | Ims Nanofabrication Gmbh | Advanced dose-level quantization of multibeam-writers |
US10522329B2 (en) | 2017-08-25 | 2019-12-31 | Ims Nanofabrication Gmbh | Dose-related feature reshaping in an exposure pattern to be exposed in a multi beam writing apparatus |
US11569064B2 (en) | 2017-09-18 | 2023-01-31 | Ims Nanofabrication Gmbh | Method for irradiating a target using restricted placement grids |
US10678018B2 (en) * | 2017-10-23 | 2020-06-09 | Magna Electronics Inc. | Camera for vehicle vision system with replaceable lens |
CN108214952B (zh) * | 2017-12-27 | 2024-05-31 | 青岛高测科技股份有限公司 | 一种全自动分布式多晶硅开方方法 |
US10651010B2 (en) | 2018-01-09 | 2020-05-12 | Ims Nanofabrication Gmbh | Non-linear dose- and blur-dependent edge placement correction |
US10840054B2 (en) | 2018-01-30 | 2020-11-17 | Ims Nanofabrication Gmbh | Charged-particle source and method for cleaning a charged-particle source using back-sputtering |
RU2681668C1 (ru) * | 2018-03-07 | 2019-03-12 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Оренбургский государственный университет" | Устройство ввода излучения шаровых ламп в световод |
DE102018216344A1 (de) | 2018-09-25 | 2020-03-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen elements |
US11099482B2 (en) | 2019-05-03 | 2021-08-24 | Ims Nanofabrication Gmbh | Adapting the duration of exposure slots in multi-beam writers |
DE102019207826A1 (de) * | 2019-05-28 | 2020-12-03 | Zf Friedrichshafen Ag | Segmentierter Schwingungstilger |
KR20210132599A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 아이엠에스 나노패브릭케이션 게엠베하 | 대전 입자 소스 |
EP4095882A1 (en) | 2021-05-25 | 2022-11-30 | IMS Nanofabrication GmbH | Pattern data processing for programmable direct-write apparatus |
US12154756B2 (en) | 2021-08-12 | 2024-11-26 | Ims Nanofabrication Gmbh | Beam pattern device having beam absorber structure |
DE102022214186A1 (de) * | 2022-12-21 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002131605A (ja) | 2000-08-18 | 2002-05-09 | Nikon Corp | 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
Family Cites Families (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4559717A (en) † | 1984-02-21 | 1985-12-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Flexure hinge |
US4733945A (en) † | 1986-01-15 | 1988-03-29 | The Perkin-Elmer Corporation | Precision lens mounting |
US5428482A (en) † | 1991-11-04 | 1995-06-27 | General Signal Corporation | Decoupled mount for optical element and stacked annuli assembly |
US5383168A (en) * | 1993-04-01 | 1995-01-17 | Eastman Kodak Company | Actively athermalized optical head assembly |
US6341006B1 (en) † | 1995-04-07 | 2002-01-22 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus |
JP3894509B2 (ja) * | 1995-08-07 | 2007-03-22 | キヤノン株式会社 | 光学装置、露光装置およびデバイス製造方法 |
US6312859B1 (en) † | 1996-06-20 | 2001-11-06 | Nikon Corporation | Projection exposure method with corrections for image displacement |
JPH1054932A (ja) † | 1996-08-08 | 1998-02-24 | Nikon Corp | 投影光学装置及びそれを装着した投影露光装置 |
JPH10270333A (ja) † | 1997-03-27 | 1998-10-09 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH1114876A (ja) † | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Nikon Corp | 光学構造体、その光学構造体を組み込んだ投影露光用光学系及び投影露光装置 |
JPH11274031A (ja) † | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法ならびに位置決め装置 |
EP0964307A3 (en) * | 1998-06-08 | 2001-09-05 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
DE19825716A1 (de) * | 1998-06-09 | 1999-12-16 | Zeiss Carl Fa | Baugruppe aus optischem Element und Fassung |
US5986827A (en) † | 1998-06-17 | 1999-11-16 | The Regents Of The University Of California | Precision tip-tilt-piston actuator that provides exact constraint |
DE19827603A1 (de) † | 1998-06-20 | 1999-12-23 | Zeiss Carl Fa | Optisches System, insbesondere Projektions-Belichtungsanlage der Mikrolithographie |
DE19859634A1 (de) * | 1998-12-23 | 2000-06-29 | Zeiss Carl Fa | Optisches System, insbesondere Projektionsbelichtungsanlage der Mikrolithographie |
JP2000206389A (ja) * | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Olympus Optical Co Ltd | 光学系位置調整可能な鏡枠 |
DE19901295A1 (de) † | 1999-01-15 | 2000-07-20 | Zeiss Carl Fa | Optische Abbildungsvorrichtung, insbesondere Objektiv, mit wenigstens einem optischen Element |
DE19905779A1 (de) * | 1999-02-12 | 2000-08-17 | Zeiss Carl Fa | Vorrichtung zum Kippen eines Gegenstandes um wenigstens eine Achse, insbesondere eines optischen Elementes |
DE19908554A1 (de) * | 1999-02-27 | 2000-08-31 | Zeiss Carl Fa | Verstellbare Baugruppe |
DE19910947A1 (de) * | 1999-03-12 | 2000-09-14 | Zeiss Carl Fa | Vorrichtung zum Verschieben eines optischen Elementes entlang der optischen Achse |
JP2001035773A (ja) † | 1999-07-19 | 2001-02-09 | Nikon Corp | 照明光学装置及び露光装置 |
US6727981B2 (en) * | 1999-07-19 | 2004-04-27 | Nikon Corporation | Illuminating optical apparatus and making method thereof, exposure apparatus and making method thereof, and device manufacturing method |
US6239924B1 (en) * | 1999-08-31 | 2001-05-29 | Nikon Corporation | Kinematic lens mounting with distributed support and radial flexure |
US6940582B1 (en) † | 1999-09-20 | 2005-09-06 | Nikon Corporation | Parallel link mechanism, exposure system and method of manufacturing the same, and method of manufacturing devices |
US6257957B1 (en) * | 1999-12-01 | 2001-07-10 | Gerber Coburn Optical Inc. | Tactile feedback system |
JP4945845B2 (ja) † | 2000-03-31 | 2012-06-06 | 株式会社ニコン | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法。 |
CN1440512A (zh) † | 2000-03-31 | 2003-09-03 | 株式会社尼康 | 固定光学元件的方法和装置、光学装置、曝光设备以及装置的制造方法 |
US6400516B1 (en) * | 2000-08-10 | 2002-06-04 | Nikon Corporation | Kinematic optical mounting |
JP4770090B2 (ja) * | 2000-08-18 | 2011-09-07 | 株式会社ニコン | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
WO2002016993A1 (fr) * | 2000-08-18 | 2002-02-28 | Nikon Corporation | Dispositif de maintien d'element optique |
WO2002039491A1 (fr) † | 2000-11-10 | 2002-05-16 | Nikon Corporation | Dispositif optique, dispositif d'exposition et leurs procedes de fabrication |
JP2002305140A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Nikon Corp | 露光装置及び基板処理システム |
US6674584B2 (en) * | 2001-07-03 | 2004-01-06 | Pts Corporation | Optical surface-mount lens cell |
JP2003029116A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Canon Inc | レンズ保持装置、およびレンズ保持装置を組み込んだ投影露光装置 |
US7035056B2 (en) * | 2001-11-07 | 2006-04-25 | Asml Netherlands B.V. | Piezoelectric actuator and a lithographic apparatus and a device manufacturing method |
DE60219871T2 (de) * | 2001-11-07 | 2008-01-17 | Asml Netherlands B.V. | Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung |
US20030234916A1 (en) * | 2002-06-21 | 2003-12-25 | Nikon Corporation | Soft supports to reduce deformation of vertically mounted lens or mirror |
AU2003219097A1 (en) * | 2003-03-26 | 2004-10-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Device for the low-deformation replaceable mounting of an optical element |
US7477842B2 (en) * | 2004-03-12 | 2009-01-13 | Siimpel, Inc. | Miniature camera |
US7604359B2 (en) * | 2004-05-04 | 2009-10-20 | Carl Zeiss Smt Ag | High positioning reproducible low torque mirror-actuator interface |
-
2004
- 2004-06-07 WO PCT/JP2004/007947 patent/WO2004109357A1/ja active Application Filing
- 2004-06-07 DE DE602004024302T patent/DE602004024302D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-06-07 KR KR1020057023168A patent/KR101281357B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-07 EP EP04745657.9A patent/EP1632799B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-06-07 CN CN200480020943A patent/CN100576003C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-07 JP JP2005506808A patent/JP4665759B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-07 AT AT04745657T patent/ATE449978T1/de not_active IP Right Cessation
-
2005
- 2005-12-05 US US11/294,239 patent/US20060139775A1/en not_active Abandoned
-
2007
- 2007-07-12 US US11/776,942 patent/US7764447B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002131605A (ja) | 2000-08-18 | 2002-05-09 | Nikon Corp | 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1632799A4 (en) | 2006-07-05 |
KR20060021339A (ko) | 2006-03-07 |
EP1632799B2 (en) | 2013-11-20 |
ATE449978T1 (de) | 2009-12-15 |
US7764447B2 (en) | 2010-07-27 |
EP1632799A1 (en) | 2006-03-08 |
EP1632799B1 (en) | 2009-11-25 |
CN100576003C (zh) | 2009-12-30 |
JPWO2004109357A1 (ja) | 2006-07-20 |
US20060139775A1 (en) | 2006-06-29 |
WO2004109357A1 (ja) | 2004-12-16 |
HK1084186A1 (en) | 2006-07-21 |
CN1826547A (zh) | 2006-08-30 |
JP4665759B2 (ja) | 2011-04-06 |
DE602004024302D1 (de) | 2010-01-07 |
US20070279768A1 (en) | 2007-12-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101281357B1 (ko) | 광학 소자 유지 장치, 경통, 노광 장치, 및 디바이스의제조방법 | |
JP4945864B2 (ja) | 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 | |
KR100775796B1 (ko) | 광학소자 유지장치 | |
US6930842B2 (en) | Optical element holding device for exposure apparatus | |
US7110089B2 (en) | Drive mechanism, exposure device, optical equipment, and device manufacturing method | |
KR20100018581A (ko) | 광학 소자 유지 장치, 경통 및 노광 장치 및 디바이스의 제조 방법 | |
US7697222B2 (en) | Apparatus for holding optical element, barrel, exposure apparatus, and device producing method | |
JP4770090B2 (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 | |
JP2003337272A (ja) | 光学系の保持装置、光学素子の位置調整方法、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 | |
JP4586731B2 (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 | |
JP2005236258A (ja) | 光学装置およびデバイス製造方法 | |
HK1084186B (en) | Optical element holding device, lens barrel, exposing device, and device producing method | |
JP2011119550A (ja) | 光学部材変形装置、光学系、露光装置、デバイスの製造方法 | |
JP4655520B2 (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 | |
JP2007201342A (ja) | 光学部材保持装置、光学ユニット、及び露光装置 | |
HK1095886A (en) | Optical element holding device with drive mechanism allowing movement of the element along three coordinate axes | |
JP2005266146A (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 20051202 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20090605 Comment text: Request for Examination of Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20110316 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20130425 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20130626 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20130626 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160527 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160527 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170530 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170530 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180618 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180618 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190618 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190618 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20210407 |