KR101234415B1 - Test system of LCD - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정표시소자의 구동에 사용되는 SMT 회로기판과 그에 실장된 부품들의 정상 구동 여부를 검사하는 경우 회로기판 소켓을 이용하여 액정표시패널과 SMT 회로기판를 접속시킬 수 있는 액정표시소자의 검사 시스템을 제공하는 것으로, 액정표시소자의 구동에 사용되는 각종 부품들이 실장된 SMT 회로기판과 액정표시패널를 접속시켜 주기 위한 더미 회로기판; 및 일측에 결합되는 상기 더미 회로기판과 타측에 결합되는 상기 SMT 회로기판을 전기적으로 접속시켜 주기 위한 회로기판 소켓을 포함한다.According to the present invention, when the SMT circuit board used for driving the liquid crystal display device and whether the components mounted thereon are normally driven, the liquid crystal display device inspection system capable of connecting the liquid crystal display panel and the SMT circuit board using a circuit board socket is used. A dummy circuit board for connecting a liquid crystal display panel and an SMT circuit board mounted with various components used to drive the liquid crystal display device is provided. And a circuit board socket for electrically connecting the dummy circuit board coupled to one side and the SMT circuit board coupled to the other side.
액정표시소자, 검사, 회로기판, 소켓 LCD, Inspection, Circuit Board, Socket
Description
도 1은 일반적인 액정표시소자에 형성되는 픽셀의 등가 회로도.1 is an equivalent circuit diagram of a pixel formed in a general liquid crystal display device.
도 2는 일반적인 액정표시소자의 구성도.2 is a block diagram of a general liquid crystal display device.
도 3은 종래의 액정표시소자의 검사 시스템의 모식도.3 is a schematic diagram of an inspection system of a conventional liquid crystal display device.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 검사 시스템의 분리 모식도.4 is an exploded schematic diagram of an inspection system for a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 5는 도 4에서의 SMT 회로기판의 사시도.5 is a perspective view of the SMT circuit board in FIG.
도 6은 도 4에서의 더미 회로기판의 사시도.FIG. 6 is a perspective view of the dummy circuit board in FIG. 4. FIG.
도 7은 도 4에서의 회로기판 소켓의 사시도.7 is a perspective view of the circuit board socket in FIG.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 검사 시스템의 결합 모식도.8 is a schematic diagram of a coupling system for inspecting a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >Description of the Related Art
310: SMT 회로기판 320: 더미 회로기판310: SMT circuit board 320: dummy circuit board
330: 회로기판 소켓330: circuit board socket
본 발명은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 액정표시소자의 구동에 사용되는 SMT 회로기판(SMT PCB : Serface Mounting Technology Printed Circuit Board)과 그에 실장된 부품들의 정상 구동 여부를 검사하는 경우 회로기판 소켓을 이용하여 액정표시패널과 SMT 회로기판를 접속시킬 수 있는 액정표시소자의 검사 시스템에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
액정표시소자는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하며, 그리고 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정표시소자는 스위칭소자의 능동적인 제어가 가능하기 때문에 동영상 구현에 유리하다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자에 사용되는 스위칭소자로는 도 1과 같이 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 한다)가 이용되고 있다.The liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal cells according to the video signal, and the active matrix type liquid crystal display device in which the switching elements are formed for each liquid crystal cell enables active control of the switching elements. This is advantageous for video implementation. As a switching device used in the active matrix liquid crystal display device, a thin film transistor (hereinafter, referred to as TFT) is mainly used as shown in FIG. 1.
도 1을 참조하면, 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는, 디지털 입력 데이터를 감마기준전압을 기준으로 아날로그 데이터 전압으로 변환하여 데이터라인(DL)에 공급함과 동시에 스캔펄스를 게이트라인(GL)에 공급하여 액정셀(Clc)을 충전시킨다.Referring to FIG. 1, an active matrix type liquid crystal display device converts digital input data into an analog data voltage based on a gamma reference voltage and supplies it to the data line DL and simultaneously supplies scan pulses to the gate line GL. The liquid crystal cell Clc is charged.
TFT의 게이트전극은 게이트라인(GL)에 접속되고, 소스전극은 데이터라인(DL)에 접속되며, 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패 시터(Cst)의 일측 전극에 접속된다.The gate electrode of the TFT is connected to the gate line GL, the source electrode is connected to the data line DL, and the drain electrode of the TFT is a pixel electrode of the liquid crystal cell Clc and one electrode of the storage capacitor Cst. Is connected to.
액정셀(Clc)의 공통전극에는 공통전압(Vcom)이 공급된다. A common voltage Vcom is supplied to the common electrode of the liquid crystal cell Clc.
스토리지 캐패시터(Cst)는 TFT가 턴-온될 때 데이터라인(DL)으로부터 인가되는 데이터전압을 충전하여 액정셀(Clc)의 전압을 일정하게 유지하는 역할을 한다. The storage capacitor Cst serves to charge the data voltage applied from the data line DL when the TFT is turned on to maintain the voltage of the liquid crystal cell Clc constant.
스캔펄스가 게이트라인(GL)에 인가되면 TFT는 턴-온(Turn-on)되어 소스전극과 드레인전극 사이의 채널을 형성하여 데이터라인(DL) 상의 전압을 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급한다. 이 때 액정셀(Clc)의 액정분자들은 화소전극과 공통전극 사이의 전계에 의하여 배열이 바뀌면서 입사광을 변조하게 된다.When a scan pulse is applied to the gate line GL, the TFT is turned on to form a channel between the source electrode and the drain electrode to apply a voltage on the data line DL to the pixel electrode of the liquid crystal cell Clc Supply. At this time, the liquid crystal molecules of the liquid crystal cell Clc modulate the incident light by changing the arrangement by the electric field between the pixel electrode and the common electrode.
이와 같은 구조를 갖는 픽셀들을 구비하는 일반적인 액정표시소자의 구성에 대하여 살펴보면 도 2에 도시된 바와 같다.A configuration of a general liquid crystal display device having pixels having such a structure will be described with reference to FIG. 2.
도 2는 일반적인 액정표시소자의 구성도이다.2 is a configuration diagram of a general liquid crystal display device.
도 2를 참조하면, 액정표시소자(100)는, 데이터라인(DL1 내지 DLm)과 게이트라인(GL1 내지 GLn)이 교차되며 그 교차부에 액정셀(Clc)을 구동하기 위한 박막트랜지스터(TFT : Thin Film Transistor)가 형성된 액정표시패널(110)과, 액정표시패널(110)의 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부(120)와, 액정표시패널(110)의 게이트라인(GL1 내지 GLn)에 스캔펄스를 공급하기 위한 게이트 구동부(130)와, 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)에 공급하기 위한 감마기준전압 발생부(140)와, 액정표시패널(110)에 광을 조사하기 위한 백라이트 어셈블리(150)와, 백라이트 어셈블리(160)에 교류 전압 및 전류를 인가하기 위한 인버터(160)와, 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 액정셀 (Clc)의 공통전극에 공급하기 위한 공통전압 발생부(170)와, 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생하여 게이트 구동부(130)에 공급하기 위한 게이트구동전압 발생부(180)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(190)를 구비한다.Referring to FIG. 2, the liquid
액정표시패널(110)은 두 장의 유리기판 사이에 액정이 주입된다. 액정표시패널(110)의 하부 유리기판 상에는 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 직교된다. 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)의 교차부에는 TFT가 형성된다. TFT는 스캔펄스에 응답하여 데이터라인들(DL1 내지 DLm) 상의 데이터를 액정셀(Clc)에 공급하게 된다. TFT의 게이트전극은 게이트라인(GL1 내지 GLn)에 접속되며, TFT의 소스전극은 데이터라인(DL1 내지 DLm)에 접속된다. 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패시터(Cst)에 접속된다. In the liquid
TFT는 게이트라인(GL1 내지 GLn)을 경유하여 게이트단자에 공급되는 스캔펄스에 응답하여 턴-온된다. TFT의 턴-온시 데이터라인(DL1 내지 DLm) 상의 비디오 데이터는 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급된다. The TFT is turned on in response to the scan pulse supplied to the gate terminal via the gate lines GL1 to GLn. When the TFT is turned on, video data on the data lines DL1 to DLm is supplied to the pixel electrode of the liquid crystal cell Clc.
데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(190)로부터 공급되는 데이터구동 제어신호(DDC)에 응답하여 데이터를 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 공급하며, 그리고 타이밍 컨트롤러(190)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 샘플링하여 래치한 다음 감마기준전압 발생부(140)로부터 공급되는 감마기준전압을 기준으로 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)에서 계조를 표현할 수 있는 아날로그 데이터 전압 으로 변환시켜 데이터라인들(DL1 내지 DLm)들에 공급한다.The
게이트 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(190)로부터 공급되는 게이트구동 제어신호(GDC)와 게이트쉬프트클럭(GSC)에 응답하여 스캔펄스 즉, 게이트펄스를 순차적으로 발생하여 게이트라인(GL1 내지 GLn)들에 공급한다. 이때, 게이트 구동부(130)는 게이트구동전압 발생부(180)로부터 공급되는 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)에 따라 각각 스캔펄스의 하이레벨전압과 로우레벨전압을 결정한다.The
감마기준전압 발생부(140)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 정극성 감마기준전압과 부극성 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)로 출력한다.The gamma
백라이트 어셈블리(150)는 액정표시패널(110)의 후면에 배치되며, 인버터(160)로부터 공급되는 교류 전압과 전류에 의해 발광되어 광을 액정표시패널(110)의 각 픽셀로 조사한다.The
인버터(160)는 내부에 발생되는 구형파신호를 삼각파신호로 변화시킨 후 삼각파신호와 상기 시스템으로부터 공급되는 직류 전원전압(VCC)을 비교하여 비교결과에 비례하는 버스트디밍(Burst Dimming)신호를 발생한다. 이렇게 내부의 구형파신호에 따라 결정되는 버스트디밍신호가 발생되면, 인버터(160) 내에서 교류 전압과 전류의 발생을 제어하는 구동 IC(미도시)는 버스트디밍신호에 따라 백라이트 어셈블리(150)에 공급되는 교류 전압과 전류의 발생을 제어한다.The
공통전압 발생부(170)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 액정셀(Clc)들의 공통전극에 공급 한다.The
게이트구동전압 발생부(180)는 고전위 전원전압(VDD)을 인가받아 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생시켜 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 게이트구동전압 발생부(180)는 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 TFT의 문턱전압 이상이 되는 게이트 하이전압(VGH)을 발생하고 TFT의 문턱전압 미만이 되는 게이트 로우전압(VGL)을 발생한다. 이렇게 발생된 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)은 각각 게이트 구동부(130)에 의해 발생되는 스캔펄스의 하이레베전압과 로우레벨전압을 결정하는데 이용된다.The gate
타이밍 컨트롤러(190)는 디지털 비디오 카드(미도시)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 데이터 구동부(120)에 공급하고, 또한 클럭신호(CLK)에 따라 수평/수직 동기신호(H,V)를 이용하여 데이터 구동 제어신호(DDC)와 게이트 구동 제어신호(GDC)를 발생하여 각각 데이터 구동부(120)와 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 데이터 구동 제어신호(DDC)는 소스쉬프트클럭(SSC), 소스스타트펄스(SSP), 극성제어신호(POL) 및 소스출력인에이블신호(SOE) 등을 포함하고, 게이트구동 제어신호(GDC)는 게이트스타트펄스(GSP) 및 게이트출력인에이블(GOE) 등을 포함한다.The
이와 같은 구성 및 기능을 갖는 액정표시소자의 구동에 사용되는 SMT 회로기판(SMT PCB : Serface Mounting Technology Printed Circuit Board)과 그에 실장된 부품들의 정상 구동 여부를 검사하는 종래의 방식에 대하여 살펴보면 다음과 같다.The SMT PCB (SMT PCB) used to drive the liquid crystal display device having such a configuration and function and the conventional method of checking whether the components mounted thereon are normally driven are as follows. .
도 3은 종래의 액정표시소자의 검사 시스템의 모식도이다.3 is a schematic diagram of an inspection system of a conventional liquid crystal display device.
도 3에 도시된 바와 같이, 종래의 액정표시소자의 검사 시스템(200)은, 액정표시소자(100)의 구동에 사용되는 각종 부품들이 실장된 SMT 회로기판(210)과 액정표시패널(110)를 접속시켜 주기 위한 더미 회로기판(Dummy PCB)(220)을 구비한다.As shown in FIG. 3, the
더미 회로기판(220)은 액정표시패널(110)과 직접적으로 접촉되지만, SMT 회로기판(210)과는 다수의 리드선들(230)을 통해 전기적으로 접속된다. 여기서, 다수의 리드선들(230)은 각각 SMT 회로기판(210)에 실장된 부품들과 전기적으로 접속되어야 하므로, 제품의 제조 단계에서 사용자는 검사를 수행할 때마다 다수의 리드선들(230)을 각각 SMT 회로기판(210)에 접속시켜 주어야 하는 불편함이 있었다.The
또한, 다수의 리드선들(230)은 각각 납땜을 통해 SMT 회로기판(210)에 접속되어야 하기 때문에, 사용자의 불편을 초래할 뿐만 아니라 검사 시스템(200)의 설치 과정에서 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다.In addition, since the plurality of
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 액정표시소자의 구동에 사용되는 SMT 회로기판과 그에 실장된 부품들의 정상 구동 여부를 검사하는 경우 회로기판 소켓을 이용하여 액정표시패널과 SMT 회로기판를 접속시킬 수 있는 액정표시소자의 검사 시스템을 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to use a circuit board socket when checking whether the SMT circuit board used for driving the liquid crystal display and the components mounted thereon are normally driven. An inspection system for a liquid crystal display device capable of connecting a liquid crystal display panel and an SMT circuit board is provided.
본 발명의 목적은 회로기판 소켓을 이용하여 액정표시패널과 SMT 회로기판을 접속시킴으로써, 검사에 소요되는 시간을 절감하고 아울러 사용자의 편의를 도모할 수 있는 액정표시소자의 검사 시스템을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a test system for a liquid crystal display device which can reduce the time required for the test and facilitate the user's convenience by connecting the liquid crystal display panel and the SMT circuit board using a circuit board socket.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 액정표시소자의 구동에 사용되는 각종 부품들이 실장된 SMT 회로기판과 액정표시패널를 접속시켜 주기 위한 더미 회로기판; 및 일측에 결합되는 상기 더미 회로기판과 타측에 결합되는 상기 SMT 회로기판을 전기적으로 접속시켜 주기 위한 회로기판 소켓을 포함한다.The present invention for achieving the above object is a dummy circuit board for connecting the liquid crystal display panel and the SMT circuit board mounted with various components used for driving the liquid crystal display device; And a circuit board socket for electrically connecting the dummy circuit board coupled to one side and the SMT circuit board coupled to the other side.
상기 회로기판 소켓의 양측면에 상기 SMT 회로기판과 더미 회로기판을 각각 결합시키기 위한 제 1 및 제 2 홈이 각각 형성되는 것을 특징으로 한다.First and second grooves for coupling the SMT circuit board and the dummy circuit board, respectively, are formed on both side surfaces of the circuit board socket.
상기 회로기판 소켓 상에는 다수의 접속 배선들이 일정 간격으로 배열되게 형성되되, 상기 다수의 접속 배선들은 상기 제 1 및 제 2 홈까지 연장되는 것을 특징으로 한다.A plurality of connection wires are formed to be arranged at a predetermined interval on the circuit board socket, wherein the plurality of connection wires extend to the first and second grooves.
상기 제 1 및 제 2 홈은 상기 SMT 회로기판과 더미 회로기판의 일측단이 삽입될 수 있을 정도의 폭과 깊이를 갖음과 아울러 상기 SMT 회로기판 및 더미 회로기판의 길이와 동일하거나 긴 길이를 갖는 것을 특징으로 한다.The first and second grooves have a width and depth enough to allow one end of the SMT circuit board and the dummy circuit board to be inserted therein and have a length equal to or longer than that of the SMT circuit board and the dummy circuit board. It is characterized by.
상기 다수의 접속 배선들의 양측단에는 각각 일정한 면적을 갖는 접속 단자가 형성되되, 상기 접속 단자는 상기 제 1 및 제 2 홈 내에 위치되는 것을 특징으로 한다.Connection terminals having a predetermined area are formed at both ends of the plurality of connection wires, respectively, and the connection terminals are positioned in the first and second grooves.
상기 더미 회로기판 상에는 다수의 접속 배선들이 일정 간격으로 배열되게 형성되며, 상기 다수의 접속 배선들의 양측단 중 일측단에 일정한 면적을 갖는 접속 단자가 형성되는 것을 특징으로 한다.A plurality of connection wires may be arranged at regular intervals on the dummy circuit board, and a connection terminal having a predetermined area may be formed at one end of both side ends of the plurality of connection wires.
상기 더미 회로기판의 일측단이 상기 회로기판 소켓의 제 1 홈에 삽입되어 결합되는 경우, 상기 더리 회로기판 상에 형성된 다수의 접속배선들에 대응되어 형성된 접속단자들은 상기 회로기판 소켓의 제 1 홈에 위치한 접속단자들과 대응되게 접속되는 것을 특징으로 한다.When one end of the dummy circuit board is inserted into and coupled to the first groove of the circuit board socket, the connection terminals formed to correspond to the plurality of connection wires formed on the dirty circuit board may be formed in the first groove of the circuit board socket. Characterized in that the corresponding connection to the connection terminal located in.
상기 SMT 회로기판의 일측단에 일정한 면적을 갖는 접속 단자들이 형성되되, 이 접속단자들은 상기 SMT 회로기판 상의 부품들과 접속되는 것을 특징으로 한다.Connection terminals having a predetermined area are formed at one end of the SMT circuit board, and the connection terminals are connected to components on the SMT circuit board.
상기 SMT 회로기판의 일측단이 상기 회로기판 소켓의 제 2 홈에 삽입되어 결합되는 경우, 상기 SMT 회로기판 상에 형성된 접속단자들은 상기 회로기판 소켓의 제 2 홈에 위치한 접속단자들과 대응되게 접속되는 것을 특징으로 한다.When one end of the SMT circuit board is inserted into and coupled to the second groove of the circuit board socket, the connection terminals formed on the SMT circuit board are connected to correspond to the connection terminals located in the second groove of the circuit board socket. It is characterized by.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 검사 시스템의 분리 모식도이다.4 is an exploded schematic view of an inspection system for a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 4를 참조하면, 본 발명의 액정표시소자의 검사 시스템(300)은, 액정표시소자(100)의 구동에 사용되는 각종 부품들이 실장된 SMT 회로기판(310)과 액정표시패널(110)를 접속시켜 주기 위한 더미 회로기판(Dummy PCB)(320)과, 일측에 결합되는 더미 회로기판(320)과 타측에 결합되는 SMT 회로기판(310)을 전기적으로 접속시켜 주기 위한 회로기판 소켓(330)을 구비한다.Referring to FIG. 4, the inspection system 300 of the liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes an
SMT 회로기판(310)은 도 5에 도시된 바와 같이 액정표시패널(110)의 구동용 부품들(311-1 내지 311-n)이 실장되며, 특히 SMT 회로기판(310)의 일측면에는 부품들(311-1 내지 311-n)과 대응되게 연결되는 접속 단자들(312-1 내지 312-n)이 일정 간격으로 배열되어 형성되는데, 이러한 접속 단자들(312-1 내지 312-n)은 SMT 회로기판(310)이 더미 회로기판(320)과 결합된 회로기판 소켓(330)에 결합되었을 때 부품들(311-1 내지 311-n)이 회로기판 소켓(330)을 통해 더미 회로기판(320)과 접속된 액정표시패널(110)과 전기적으로 접속되도록 한다.As shown in FIG. 5, the driving parts 311-1 to 311-n of the
더미 회로기판(320)은 액정표시소자의 제조 단계에서 각종 부품들을 실장하고 있는 SMT 회로기판(310)의 정상 구동 여부를 검사하는데 이용되는 것으로, SMT 회로기판(310)과 액정표시패널(110)을 전기적으로 접속시켜 주는 역할을 한다.The
이러한 더미 회로기판(320)은 일측면이 액정표시패널(110)과 전기적으로 접속되되, 액정표시패널(110)에 부착된 데이터 구동부(120)와 직접적으로 접촉되어 결합되며, 타측면이 회로기판 소켓(330)에 결합되어 전기적으로 접속된다. 이와 같은 접속 기능을 갖기 때문에, 더미 회로기판(320) 상에는 접속 배선들(321-1 내지 321-n)이 일정 간격으로 배열되게 형성되며, 또한 도 6에 도시된 바와 같이 접속 배선들(321-1 내지 321-n)의 양측단 중 일측단에 일정한 면적을 갖는 접속 단자들(322-1 내지 322-n)이 형성되는데, 이 접속 단자들(322-1 내지 322-n)은 회로기판 소켓(330)과 직접 접촉되는 부분으로 더미 회로기판(320)과 회로기판 소켓(330)이 전기적으로 용이하게 접속되도록 하기 위해 형성된 것이다.One side of the
회로기판 소켓(330)은 일측면에 액정표시패널(110)과 접속된 더미 회로기판(320)이 결합되도록 하고 타측면에 SMT 회로기판(310)이 결합되도록 함으로써, SMT 회로기판(310)과 액정표시패널(110)을 전기적으로 접속시켜 주는 역할을 한다. 이러한 기능을 갖는 회로기판 소켓(330)의 구조에 대하여 살펴보면 도 7에 도시된 바 와 같다.The
도 7에 도시된 바와 같이, 회로기판 소켓(330)은, 양측면에 SMT 회로기판(310)과 더미 회로기판(320)을 각각 결합시키기 위한 홈들(331, 332)이 형성되되, 이 홈들(331, 332)은 SMT 회로기판(310)과 더미 회로기판(320)의 일측단이 삽입될 수 있을 정도의 폭과 깊이를 갖음과 아울러 SMT 회로기판(310) 및 더미 회로기판(320)의 길이와 동일하거나 긴 길이를 갖는 것을 특징으로 한다.As illustrated in FIG. 7, the
그리고, 회로기판 소켓(330) 상에는 접속 배선들(333-1 내지 333-n)이 일정 간격으로 배열되게 형성되되, 이 접속 배선들(333-1 내지 333-n)은 일측단의 홈(331)으로부터 타측단의 홈(332)까지 연장된다. 또한, 접속 배선들(333-1 내지 333-n)의 양측단에는 일정한 면적을 갖는 접속 단자들(334-1 내지 334-n, 335-1 내지 335-n)이 형성되되, 접속 단자들(334-1 내지 334-n)은 홈(331) 내에 위치되고, 접속단자들(335-1 내지 335-n)은 홈(332) 내에 위치된다.In addition, connection wirings 333-1 to 333-n are formed on the
이와 같이 홈들(331, 332) 내에 접속 단자들(334-1 내지 334-n, 335-1 내지 335-n)이 형성됨으로서, SMT 회로기판(310)의 일측단의 홈(331) 내에 삽입되어 결합되면 SMT 회로기판(310)에 형성된 접속단자들(312-1 내지 312-n)과 홈(331) 내에 위치된 회로기판 소켓(330)의 접속단자들(334-1 내지 334-n)이 대응되게 접속된다. 또한, 액정표시패널(110)과 접속된 더미 회로기판(320)의 일측단이 홈(332) 내에 삽입되어 결합되면 더미 회로기판(320)에 형성된 접속단자들(322-1 내지 322-n)과 홈(332) 내에 위치된 회로기판 소켓(330)의 접속단자들(335-1 내지 335-n)이 대응되게 접속된다.As such, the connection terminals 334-1 to 334-n and 335-1 to 335-n are formed in the grooves 331 and 332, thereby being inserted into the groove 331 at one end of the
전술한 바와 같이, 본 발명은 제조 단계에서 회로기판 소켓(330)의 양측단에 형성된 홈들(331, 332) 내에 SMT 회로기판(310)과 더미 회로기판(320)을 삽입하여 SMT 회로기판(310)이 회로기판 소켓(330) 및 더미 회로기판(320)을 경유하여 액정표시패널(110)에 전기적으로 접속되도록 함으로써, SMT 회로기판(310)과 더미 회로기판(320)의 접속에 따른 절차를 간소화시킴과 사용자의 편의를 도모할 수 있다.As described above, the present invention inserts the
상기한 바와 같은 구조를 갖는 SMT 회로기판(310)과 더미 회로기판(320)을 회로기판 소켓(330)을 통해 접속시키면, 액정표시소자의 검사 시스템(300)은 도 8에 도시된 바와 같은 결합 구조를 갖는다. 즉, 도 8을 통해 보건데, 본 발명에서는 종래에 사용되는 다수의 리드선들(230)을 이용하지 않고 SMT 회로기판(310)과 더미 회로기판(320)을 접속시키고 있음을 알 수 있다.When the
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 액정표시소자의 구동에 사용되는 SMT 회로기판과 그에 실장된 부품들의 정상 구동 여부를 검사하는 경우 회로기판 소켓을 이용하여 액정표시패널과 SMT 회로기판를 접속시킴으로써, 검사에 소요되는 시간을 절감하고 아울러 사용자의 편의를 도모할 수 있다.As described above, in the present invention, when the SMT circuit board used to drive the liquid crystal display device and whether the components mounted thereon are normally driven, the liquid crystal display panel and the SMT circuit board are connected by using a circuit board socket. This reduces the time required for the user and promotes user convenience.
본 발명의 기술사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the technical spirit of the present invention has been described in detail according to the above-described preferred embodiment, it should be noted that the above-described embodiment is for the purpose of description and not of limitation. In addition, those skilled in the art will understand that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention.
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