KR101232947B1 - 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 상기 조명시스템과 영상생성시스템과의 조립구조 - Google Patents
자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 상기 조명시스템과 영상생성시스템과의 조립구조 Download PDFInfo
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 77
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01N21/95684—Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements
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- G02B6/0001—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
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- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 설명도이다.
도 3은 본 발명의 조명시스템 및 영상생성시스템의 결합 설명도이다.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 2 광학부재의 단면 설명도이다.
10 : 영상생성시스템 13 : 평면굴절렌즈 14 : 광학부재
15 : 영상생성감응기 111 : 제 1 조명기 112 : 제 2 조명기
121 : 제 1 반사기 122 : 제 2 반사기 1211 : 장형 홈
*본원발명*
20 : 조명시스템 21 : 제 1 광원 22 : 제 2 광원
23 : 제 3 광원 24 : 제 1 광학부재
25 : 제 2 광학부재 30 : 영상생성감응기
41 : 프레즈널 렌즈 80 : 검사대상물체
Claims (16)
- 제 1 광원;
제 2 광원으로서, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원의 광출력단이 대칭적으로 검사대상물체의 표면을 향하도록 배치되는 제 2 광원;
제 3 광원;
상기 검사대상물체의 정상방에 위치하되, 상기 제 3 광원에서 나오는 광선이 상기 검사대상물체의 표면을 향하도록 장착된 제 1 광학부재; 및
상기 제 1 광원, 제 2 광원 및 제 3 광원의 광출력단에 형성되어, 상기 광출력단에서 나오는 광선을 집중시키는 불연속 집광(集光)곡면을 구비한 적어도 3개 이상의 제 2 광학부재를 포함하여 구성되되,
상기 제 2 광학부재는 두 개의 프레즈널 렌즈(Fresnel Lens)를 포함하여 구성되고, 상기 두 개의 프레즈널 렌즈는 불연속곡면이 서로 결합하는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템. - 청구항 1에 있어서, 상기 제 1 광학부재는 상기 제 1 광원 및 제 2 광원 사이의 대칭면을 향하도록 배치되는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템.
- 삭제
- 삭제
- 청구항 1에 있어서, 상기 제 1 광원, 제 2 광원 및 제 3 광원은 LED 직선광원 또는 광섬유 직선광원이 되는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템.
- 청구항 1에 있어서, 상기 제 1 광학부재는 분광렌즈가 되는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템.
- 제 1 광원;
제 2 광원으로서, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원의 광출력단이 대칭적으로 검사대상물체의 표면을 향하도록 배치되는 제 2 광원;
제 3 광원;
상기 검사대상물체의 정상방에 위치하되, 상기 제 3 광원에서 나오는 광선이 상기 검사대상물체의 표면을 향하도록 장착된 제 1 광학부재;
상기 제 1 광원, 제 2 광원 및 제 3 광원의 광출력단에 형성되어, 상기 광출력단에서 나오는 광선을 집중시키는 불연속 집광(集光)곡면을 구비한 적어도 3개 이상의 제 2 광학부재; 및
상기 검사대상물체의 표면에서 반사된 광선을 입력받아 영상을 생성하는 영상생성시스템;을 포함하여 구성되되,
상기 제 2 광학부재는 두 개의 프레즈널 렌즈(Fresnel Lens)를 포함하여 구성되고, 상기 두 개의 프레즈널 렌즈는 불연속곡면이 서로 결합하는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 영상생성시스템의 조립구조. - 청구항 7에 있어서, 상기 제 1 광학부재는 상기 제 1 광원 및 제 2 광원 사이의 대칭면을 향하도록 배치되는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 영상생성시스템의 조립구조.
- 삭제
- 삭제
- 청구항 7에 있어서, 상기 제 1 광원, 제 2 광원 및 제 3 광원은 LED 직선광원 또는 광섬유 직선광원이 되는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 영상생성시스템의 조립구조.
- 청구항 7에 있어서, 상기 제 1 광학부재는 분광렌즈가 되는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 영상생성시스템의 조립구조.
- 청구항 7에 있어서, 상기 영상생성시스템은 CCD 직선 촬영기를 포함하는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 영상생성시스템의 조립구조.
- 청구항 7에 있어서, 상기 영상생성시스템은 상기 검사대상물체의 표면에서 반사된 광선을 입력받되, 우선 상기 광선이 상기 제 1 광학부재를 통과하도록 하는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 영상생성시스템의 조립구조.
- 제 1 광원;
제 2 광원으로서, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원의 광출력단이 대칭적으로 검사대상물체의 표면을 향하도록 배치되는 제 2 광원;
제 3 광원;
상기 검사대상물체의 정상방에 위치하되, 상기 제 3 광원에서 나오는 광선이 상기 검사대상물체의 표면을 향하도록 장착된 제 1 광학부재; 및
상기 제 1 광원, 상기 제 2 광원 또는 제 3 광원의 광출력단에 형성되어, 출력되는 광선을 집중시키도록 각 광원의 광출력단에 대응되게 배치되는 적어도 하나의 제 2 광학부재를 포함하여 구성되되,
상기 제 2 광학부재는 두 개의 프레즈널 렌즈(Fresnel Lens)를 포함하여 구성되고, 상기 두 개의 프레즈널 렌즈는 불연속곡면이 서로 결합하는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템. - 제 1 광원;
제 2 광원으로서, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원의 광출력단이 대칭적으로 검사대상물체의 표면을 향하도록 배치되는 제 2 광원;
제 3 광원;
상기 검사대상물체의 정상방에 위치하되, 상기 제 3 광원에서 나오는 광선이 상기 검사대상물체의 표면을 향하도록 장착된 제 1 광학부재; 및
상기 제 1 광원, 제 2 광원 및 제 3 광원의 광출력단에 형성되어, 상기 광출력단에서 나오는 광선을 집중시키는 적어도 3 개의 제 2 광학부재를 포함하여 구성되되,
상기 제 2 광학부재는 2개의 프레즈널 렌즈(Fresnel Lens)를 포함하여 적어도 일체를 이루고, 상기 2개의 프레즈널 렌즈는 불연속곡면이 서로 결합하는, 자동광학검사에 사용되는 조명시스템.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW099133802A TW201215845A (en) | 2010-10-05 | 2010-10-05 | Illumination system for automatic optical inspection and assembly of it and camera system |
TW099133802 | 2010-10-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120035830A KR20120035830A (ko) | 2012-04-16 |
KR101232947B1 true KR101232947B1 (ko) | 2013-02-13 |
Family
ID=46137672
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110013674A Active KR101232947B1 (ko) | 2010-10-05 | 2011-02-16 | 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 상기 조명시스템과 영상생성시스템과의 조립구조 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012079677A (ko) |
KR (1) | KR101232947B1 (ko) |
TW (1) | TW201215845A (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI484164B (zh) * | 2012-05-11 | 2015-05-11 | Machvision Inc | Optical re - inspection system and its detection method |
TWI484223B (zh) * | 2013-01-22 | 2015-05-11 | Machvision Inc | An optical component for multi-angle illumination of line scanning, and a light source system using the same |
TWI491871B (zh) * | 2013-07-05 | 2015-07-11 | Machvision Inc | 用於光學檢測的照明系統及使用其之檢測系統、檢測方法 |
CN110346381B (zh) * | 2019-08-12 | 2022-03-08 | 衡阳师范学院 | 一种光学元件损伤测试方法及装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0829138A (ja) * | 1994-07-20 | 1996-02-02 | Fujitsu Ltd | パターン検査装置及び方法 |
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-
2010
- 2010-10-05 TW TW099133802A patent/TW201215845A/zh unknown
-
2011
- 2011-02-16 KR KR1020110013674A patent/KR101232947B1/ko active Active
- 2011-02-18 JP JP2011032957A patent/JP2012079677A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20120035830A (ko) | 2012-04-16 |
JP2012079677A (ja) | 2012-04-19 |
TW201215845A (en) | 2012-04-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20110216 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20120713 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20130107 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20130206 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20130206 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151125 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20151125 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170126 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170126 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180126 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180126 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
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FPAY | Annual fee payment |
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