[go: up one dir, main page]

KR101232158B1 - The test process for Liquid Crystal Display Device - Google Patents

The test process for Liquid Crystal Display Device Download PDF

Info

Publication number
KR101232158B1
KR101232158B1 KR1020060052045A KR20060052045A KR101232158B1 KR 101232158 B1 KR101232158 B1 KR 101232158B1 KR 1020060052045 A KR1020060052045 A KR 1020060052045A KR 20060052045 A KR20060052045 A KR 20060052045A KR 101232158 B1 KR101232158 B1 KR 101232158B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lcd panel
lcd
shorting bar
inspection
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020060052045A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20070117871A (en
Inventor
엄성열
양기섭
강동우
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020060052045A priority Critical patent/KR101232158B1/en
Priority to CN2006101694903A priority patent/CN101086563B/en
Priority to TW095148769A priority patent/TWI369523B/en
Priority to US11/644,959 priority patent/US7411410B2/en
Publication of KR20070117871A publication Critical patent/KR20070117871A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101232158B1 publication Critical patent/KR101232158B1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명의 목적은 LCD 패널의 불량 여부를 정확하고 신속하게 확인할 수 있는 액정표시장치의 검사공정을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide an inspection process of a liquid crystal display device that can accurately and quickly determine whether the LCD panel is defective.

이를 위해 본 발명은 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작하는 단계; 상기 LCD 패널을 카메라와 같은 영상장비를 구비하는 LCD 검사장비로 로딩하여 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 단계; 상기 LCD 패널에 형성된 쇼팅 바를 연마기를 이용해 제거하는 단계; 상기 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계; 그리고, 상기 세정된 LCD 패널을 작업자가 눈으로 직접 검사하여 최종 불량 여부를 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는 액정표시장치의 검사공정을 제공한다.To this end, the present invention is to cut a large glass substrate to produce a sheet of LCD panel; Loading the LCD panel into an LCD inspection apparatus having an imaging device such as a camera to inspect whether the LCD panel is defective; Removing the shorting bar formed on the LCD panel using a polishing machine; Cleaning the LCD panel from which the shorting bar is removed; In addition, an inspection process of the liquid crystal display device including the step of directly inspecting the cleaned LCD panel by an operator to determine whether or not the final failure.

이와 같은 본 발명에 의하면 CCD 카메라와 같은 영상 장비를 이용해 LCD 패널에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 상기 촬영된 영상을 제어부에서 분석하여 LCD 패널의 불량 여부를 판단하기 때문에 작업자의 육안에 의한 검사의 한계점을 보완하여 작업의 능률향상 및 정확성을 크게 향상시킬 수 있다.According to the present invention as described above by taking an image of each pattern displayed on the LCD panel using an imaging device, such as a CCD camera, and by analyzing the captured image in the control unit to determine whether the LCD panel is defective or not Completion of inspection limitations can greatly improve work efficiency and accuracy.

LCD 검사 장비, 영상 장비, 레이저 트리머, 연마기, 검사공정 LCD Inspection Equipment, Imaging Equipment, Laser Trimmer, Grinder, Inspection Process

Description

액정표시장치의 검사공정{The test process for Liquid Crystal Display Device}The test process for Liquid Crystal Display Device

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.1 is a flowchart illustrating an inspection process of a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 LCD 검사장비의 개략적인 구조를 나타내는 측단면도이다. Figure 2 is a side cross-sectional view showing a schematic structure of the LCD inspection equipment according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 LCD 패널의 게이트 패드부의 평면도이다.3 is a plan view of a gate pad portion of an LCD panel according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 LCD 패널의 데이터 패드부의 평면도이다.4 is a plan view of a data pad portion of an LCD panel according to the present invention.

도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.5 is a flowchart illustrating an inspection process of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*Description of the Related Art [0002]

110: 워크 테이블 120: 프로브 유닛110: work table 120: probe unit

130: 백라이트 유닛 140: 편광판130: backlight unit 140: polarizing plate

150: 이동 스테이지 160: 영상 장비150: moving stage 160: video equipment

200: 게이트 쇼팅 바 300: 데이터 쇼팅 바200: gate shorting bar 300: data shorting bar

본 발명은 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display Device)의 제조공정에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 액정표시장치의 검사공정에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manufacturing process of a liquid crystal display device (LCD), and more particularly to an inspection process of a liquid crystal display device for inspecting whether an LCD panel is defective.

정보화 사회가 발전함에 따라 표시장치에 대한 요구도 다양한 형태로 점증하고 있으며, 이에 부응하여 근래에는 LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display)등 여러 가지 평판 표시 장치가 연구되어 왔고 일부는 이미 여러 장비에서 표시장치로 활용되고 있다.As the information society develops, the demand for display devices is increasing in various forms, and in recent years, liquid crystal display devices (LCDs), plasma display panels (PDPs), electro luminescent displays (ELDs), and vacuum fluorescent (VFD) Various flat panel display devices such as displays have been studied, and some of them are already used as display devices in various devices.

그 중에, 현재 화질이 우수하고 경량, 박형, 저소비 전력의 특징에 따른 장점으로 인하여 이동형 화상 표시장치의 용도로 CRT(Cathode Ray Tube)을 대체하면서 액정표시장치가 가장 많이 사용되고 있으며, 노트북 컴퓨터의 모니터와 같은 이동형의 용도 이외에도 방송신호를 수신하여 디스플레이하는 텔레비전 및 컴퓨터의 모니터 등으로 다양하게 개발되고 있다.Among them, the liquid crystal display device is the most widely used as a substitute for the CRT (Cathode Ray Tube) for the mobile image display device due to the advantages of excellent image quality, light weight, thinness and low power consumption. In addition to the mobile use, such as a variety of TV and computer monitors that receive and display broadcast signals have been developed.

이와 같은 액정표시장치는 일반적으로 게이트 배선 및 데이터 배선에 의해 정의된 각 화소 영역에 박막 트랜지스터와 화소 전극이 형성된 박막 트랜지스터 어레이 기판과, 컬러 필터층과 공통전극이 형성된 컬러필터 어레이 기판과, 상기 두 기판 사이에 개재된 액정층으로 구성되어, 전극에 전압을 인가하여 액정층의 액정 분자들을 재배열시킴으로써 투과되는 빛의 양을 조절하여 화상을 표시한다.Such a liquid crystal display generally includes a thin film transistor array substrate having thin film transistors and pixel electrodes formed in each pixel region defined by gate wirings and data wirings, a color filter array substrate having color filter layers and a common electrode formed thereon, and the two substrates. It is composed of a liquid crystal layer interposed therebetween, by applying a voltage to the electrode to rearrange the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer to adjust the amount of light transmitted to display an image.

이때, 상기 컬러필터 어레이 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판은 에폭시 수지와 같은 씨일제에 의해 합착되며, PCB(Printed Circuit Board) 상의 구동회로는 박막 트랜지스터 어레이 기판에 연결된다.In this case, the color filter array substrate and the thin film transistor array substrate are bonded by a sealant such as an epoxy resin, and a driving circuit on a printed circuit board (PCB) is connected to the thin film transistor array substrate.

한편, 상기와 같은 컬러필터 어레이 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판이 합착되어 제작되는 LCD 패널은 불량 유무를 확인하기 위한 검사공정을 거치게 된다.Meanwhile, the LCD panel manufactured by combining the color filter array substrate and the thin film transistor array substrate as described above undergoes an inspection process for checking for defects.

이하, 종래 기술에 따른 액정표시장치의 검사 공정에 대해 간략히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the inspection process of the liquid crystal display according to the prior art will be briefly described.

먼저, 상기 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착되어 제작되는 LCD 패널은 대면적의 유리기판으로 이루어져 있기 때문에 낱장의 LCD 패널로 절단되는 단계를 거친다.First, since the LCD panel manufactured by bonding the array substrate and the color filter substrate together is made of a large-area glass substrate, the LCD panel is cut into a single LCD panel.

즉, 대면적의 유리기판에 복수의 패널영역이 형성되고 상기 패널영역 각각에 박막 트랜지스터와 컬러 필터가 형성되기 때문에 실제 제품에 사용될 LCD 패널을 개별적으로 검사하기 위해서는 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 기판으로 만드는 절단공정을 거쳐야 한다.That is, since a plurality of panel regions are formed on a large glass substrate, and thin film transistors and color filters are formed in each of the panel regions, a large glass substrate is cut by cutting a large glass substrate to individually inspect an LCD panel to be used in a real product. It must go through a cutting process to make a substrate.

그리고, 대형 유리 기판이 절단되어 낱장의 LCD 패널이 제조되면 각 LCD 패널은 LCD 검사장비로 보내져 각종 불량 여부를 검사받게 된다. 일반적으로, 상기 LCD 검사장비는 LCD 패널에 대한 컬러필터 돌기, 사선얼룩, 러빙 줄무늬, 핀 홀, 게이트 라인 및 데이터 라인의 단선 또는 합선등을 검사한다.Then, when a large glass substrate is cut and a single LCD panel is manufactured, each LCD panel is sent to the LCD inspection equipment to be inspected for various defects. In general, the LCD inspection apparatus inspects color filter protrusions, slanted spots, rubbing stripes, pinholes, gate lines, and data lines on the LCD panel.

하지만, 이러한 종래기술에 따른 액정표시장치의 검사공정은 다음과 같은 문제점을 가지고 있었다.However, the inspection process of the liquid crystal display device according to the prior art had the following problems.

먼저, LCD 검사장비를 통한 LCD 패널의 불량 여부 검사는 작업자의 눈을 통해 이루어지기 때문에 많은 양의 LCD 패널을 검사하는데 장시간이 소요되는 문제점이 있었다.First, the inspection of the LCD panel through the LCD inspection equipment whether the defect is made through the eyes of the operator has a problem that takes a long time to inspect a large amount of LCD panel.

특히, 최근에는 LCD 패널이 점차적으로 대형화되고 있어 작업자가 육안만으로 LCD 패널의 검사를 모두 수행하기에는 한계가 있었다.In particular, in recent years, LCD panels have been gradually enlarged, so that there is a limit for the operator to perform all of the inspection of the LCD panels with the naked eye.

또한, 작업자의 육안에 의한 검사로 불량을 검출하기 때문에 점 결함(point defect; PD), 라인 결함(line defect; LD) 및 미세한 얼룩 등의 불량들이 발견되지 않는 경우가 발생하여 검사 결과의 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있었다. In addition, since defects are detected by visual inspection of the operator, defects such as point defects (PD), line defects (LD), and minute stains are not found, thereby increasing the reliability of the inspection results. There was a problem falling.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 LCD 패널의 불량 여부를 정확하고 신속하게 확인할 수 있는 액정표시장치의 검사 공정을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an inspection process of a liquid crystal display device that can accurately and quickly determine whether the LCD panel is defective.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명은 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작하는 단계; 상기 LCD 패널을 카메라와 같은 영상장비를 구비하는 LCD 검사장비로 로딩하여 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 단계; 상기 LCD 패널에 형성된 쇼팅 바를 연마기를 이용해 제거하는 단계; 상기 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계; 그리고, 상기 세정된 LCD 패널을 작업자가 눈으로 직접 검사하여 최종 불량 여부를 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는 액정표시장치의 검사공정을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention comprises the steps of manufacturing a single LCD panel by cutting a large glass substrate; Loading the LCD panel into an LCD inspection apparatus having an imaging device such as a camera to inspect whether the LCD panel is defective; Removing the shorting bar formed on the LCD panel using a polishing machine; Cleaning the LCD panel from which the shorting bar is removed; In addition, an inspection process of the liquid crystal display device including the step of directly inspecting the cleaned LCD panel by an operator to determine whether or not the final failure.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사공정을 상세히 설명한다. Hereinafter, an inspection process of a liquid crystal display according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.1 is a flowchart illustrating an inspection process of a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

먼저, 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착되어 형성되는 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작한다.(S101) First, a large glass substrate formed by joining an array substrate and a color filter substrate is cut to manufacture a single LCD panel.

이후, 상기 LCD 패널을 LCD 검사장비로 로딩하여 LCD 패널의 불량 여부를 검사한다.(S102)Thereafter, the LCD panel is loaded into the LCD inspection apparatus to check whether the LCD panel is defective.

여기서, 상기 LCD 검사장비는 종래기술에 따른 LCD 검사장비와 달리 카메라와 같은 영상장비를 포함하여 이루어진다.Here, the LCD inspection equipment comprises an imaging device such as a camera, unlike the LCD inspection equipment according to the prior art.

도 2는 본 발명에 따른 LCD 검사장비의 개략적인 구조를 나타내는 측단면도이다. Figure 2 is a side cross-sectional view showing a schematic structure of the LCD inspection equipment according to the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 LCD 검사 장비는 크게 워크 테이블(110)과, 프로브 유닛(120)과, 백라이트 유닛(130)과, 편광판(140)과, 이동 스테이지(150)와, 영상 장비(160)를 포함하여 이루어진다.As shown in FIG. 2, the LCD inspection apparatus includes a work table 110, a probe unit 120, a backlight unit 130, a polarizing plate 140, a moving stage 150, and imaging equipment. And made up of 160.

상기 워크 테이블(110)은 대략 그 내측이 개구된 사각 박스 형상을 가지며, 전면에는 LCD 패널(10)이 안착된다.The work table 110 may have a rectangular box shape having an inner side thereof opened, and an LCD panel 10 may be seated on a front surface thereof.

그리고, 상기 프로브 유닛(120)은 상기 워크 테이블(110)의 전방 개구측 둘레에 설치되어 상기 워크 테이블(110)에 안착된 LCD 패널(10)의 쇼팅 바와 전기적으로 접속된다.The probe unit 120 is installed around the front opening side of the work table 110 and electrically connected to the shorting bar of the LCD panel 10 seated on the work table 110.

상기 쇼팅 바는 LCD 패널(10)의 검사를 위해 형성되는 것으로, 다수의 게이트 라인으로 전기적 신호를 인가하기 위한 게이트 쇼팅 바(200)(도 3참조)와, 다수의 데이터 라인으로 전기적 신호를 인가하기 위한 데이터 쇼팅 바(300)(도 4참조)로 이루어진다.The shorting bar is formed for the inspection of the LCD panel 10. The shorting bar 200 (see FIG. 3) for applying an electrical signal to a plurality of gate lines and an electrical signal to a plurality of data lines. Data shorting bar 300 (see FIG. 4).

따라서, 상기 프로브 유닛(120)에 제공되는 LCD 패널(10)의 검사를 위한 각종 패턴별 영상 신호는 상기 쇼팅 바를 통해 LCD 패널(10)로 제공되어 된다.Therefore, various pattern-specific image signals for inspecting the LCD panel 10 provided to the probe unit 120 are provided to the LCD panel 10 through the shorting bar.

상기 백라이트 유닛(130)은 상기 워크 테이블(110)의 내부 후방측에 구비되어 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)로 광원을 제공하도록 구성된다.The backlight unit 130 may be provided at an inner rear side of the work table 110 to provide a light source to the LCD panel 10 seated on the front surface of the work table 110.

그리고, 상기 편광판(140)은 워크 테이블(110)의 내부 전방측에 설치되어 상기 백라이트 유닛(130)으로부터 방사되는 광원이 편광된 상태로 LCD 패널(10)에 조사되도록 한다. In addition, the polarizing plate 140 is installed at the inner front side of the work table 110 so that the light source emitted from the backlight unit 130 is irradiated to the LCD panel 10 in a polarized state.

또한, 상기 이동 스테이지(150)는 상기 워크 테이블(110)의 후방측에 구비되며, 상기 워크 테이블(110)을 상기 프로브 유닛(120)에 정렬하고 접속시키는 역할을 수행한다.In addition, the moving stage 150 is provided at the rear side of the work table 110, and serves to align and connect the work table 110 to the probe unit 120.

상기 영상 장비(160)는 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영한다. 이때, 상기 영상 장비(160)에 의해 촬영된 각 패턴별 영상은 마이콤등으로 이루어진 제어부(미도시)로 전송되고, 상기 제어부에서는 전송된 영상에서 불량 정보를 추출한다.The imaging device 160 captures an image of each pattern displayed on the LCD panel 10 seated on the front of the work table 110. In this case, the image for each pattern photographed by the imaging device 160 is transmitted to a controller (not shown) made of a microcomputer, etc., and the controller extracts the defective information from the transmitted image.

여기서, 상기 불량 정보는 LCD 패널(10)의 실질적인 불량에 대한 정보로써 픽셀에 대한 결함인 포인트 디펙터(Point Defect)와, 라인에 대한 결함인 라인 디펙트(Line Defect)를 포함한다.Here, the defect information includes a point defect that is a defect for a pixel and a line defect that is a defect for a line as information on a substantial defect of the LCD panel 10.

이러한 상기 영상 장비(160)는 CCD 카메라로 구성됨이 바람직하며, 해상도는 대략 LCD 패널(10)의 해상도와 동일하거나 혹은 더욱 높은 해상도를 가지도록 구성된다.The imaging device 160 is preferably composed of a CCD camera, the resolution is configured to have a resolution approximately equal to or higher than the resolution of the LCD panel 10.

이와 같이, 상기 LCD 검사장비는 CCD 카메라와 같은 영상 장비(160)를 이용해 LCD 패널(10)에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 상기 촬영된 영상을 제어부에서 분석하여 LCD 패널(10)의 불량 여부를 판단하기 때문에 작업자의 육안에 의한 검사의 한계점을 보완하여 작업의 능률향상 및 정확성을 크게 향상시킬 수 있다.As such, the LCD inspection apparatus photographs an image for each pattern displayed on the LCD panel 10 by using an imaging device 160 such as a CCD camera, and analyzes the photographed image in the controller to determine the LCD panel 10. Determination of defects can greatly improve the work efficiency and accuracy by supplementing the limitations of the inspection by the human eye.

한편, 상술한 상기 LCD 검사장비를 이용한 LCD 패널(10) 검사단계가 완료되면 LCD 패널(10)에 형성된 쇼팅 바를 레이저 트리머(Laser Trimmer)를 이용해 제거하는 레이저 트리밍(Trimming) 단계를 거친다.(S103)On the other hand, when the above-described LCD panel 10 inspection step using the LCD inspection equipment is completed, a laser trimming step of removing the shorting bar formed on the LCD panel 10 by using a laser trimmer (S103). )

상기 쇼팅 바는 상술한 바와 같이 LCD 패널(10)의 검사를 위해 형성되는 것으로 LCD 패널(10)에 대한 검사가 완료된 후 레이저 트리머에 의해 제거되어 진다.The shorting bar is formed for the inspection of the LCD panel 10 as described above and is removed by the laser trimmer after the inspection of the LCD panel 10 is completed.

그리고, 상기 레이저 트리밍 단계가 완료되면 다시 연마기를 이용해 레이저 트리머로 제거되지 않고 남아있는 나머지 쇼팅 바를 정밀하게 제거하는 그라인딩 (grinding)단계를 거치게 된다.(S104) When the laser trimming step is completed, a grinding step of precisely removing the remaining shorting bars that are not removed by the laser trimmer again using a polishing machine is performed (S104).

이때, 상기 그라인딩 단계에서는 연마기를 이용한 쇼팅 바 제거 뿐만 아니라 레이저 트리머에 의해 절단되어 날카로워진 LCD 패널(10)의 절단면을 정밀하게 다 듬는 작업도 동시에 수행된다. At this time, in the grinding step, as well as removing the shorting bar using the polishing machine, the operation of precisely trimming the cut surface of the LCD panel 10 cut and sharpened by the laser trimmer is performed at the same time.

이와 같이, LCD 패널(10)의 쇼팅 바는 레이저 트리머 및 연마기를 거치며 완전히 제거되어 진다. 특히, 상기 연마기는 레이저 트리머에 의한 절단면을 정밀하게 다듬는 역할도 수행한다.As such, the shorting bar of the LCD panel 10 is completely removed through the laser trimmer and the polishing machine. In particular, the polishing machine also serves to precisely trim the cut surface by the laser trimmer.

하지만, 상기 레이저 트리밍 단계는 별도의 레이저 트리머라는 고가의 장비를 필요로 하기 때문에 추가비용이 많이 소모되고, 추가적 공정이기 때문에 생산성을 저하시키는 문제점이 있었다.However, since the laser trimming step requires expensive equipment, such as a separate laser trimmer, the additional cost is consumed, and there is a problem of lowering productivity because it is an additional process.

따라서, 본 발명은 상기 레이저 트리밍 단계를 생략할 수 있는 LCD 패널 구조를 제안한다.Therefore, the present invention proposes an LCD panel structure which can omit the laser trimming step.

도 3은 본 발명에 따른 LCD 패널의 게이트 패드부의 평면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 LCD 패널의 데이터 패드부의 평면도이다.3 is a plan view of a gate pad portion of an LCD panel according to the present invention, and FIG. 4 is a plan view of a data pad portion of an LCD panel according to the present invention.

먼저, 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 패널은 게이트 배선(미도시)의 끝단에 형성된 게이트 패드(171)와, 상기 게이트 패드(171)의 외곽에 형성되는 게이트 단자 라인(181)을 구비한다.First, as shown in FIG. 3, the LCD panel according to the present invention includes a gate pad 171 formed at an end of a gate wiring (not shown) and a gate terminal line 181 formed outside the gate pad 171. ).

이때, 상기 게이트 단자 라인(181)과 게이트 패드는 연결패턴(190)을 통해 전기적으로 연결된다. In this case, the gate terminal line 181 and the gate pad are electrically connected through the connection pattern 190.

구체적으로, 상기 연결패턴(190)은 제 2 콘택홀(192)을 통해 게이트 패드(171)와 연결됨과 동시에 제 1 콘택홀(191)을 통해 게이트 단자 라인(181)에 연결되어 상기 게이트 단자 라인(181)과 게이트 패드(171)를 전기적으로 연결한다.In detail, the connection pattern 190 is connected to the gate pad 171 through the second contact hole 192 and is connected to the gate terminal line 181 through the first contact hole 191 to the gate terminal line. 181 and the gate pad 171 are electrically connected to each other.

한편, 상기 게이트 단자 라인(181) 외곽부에는 제 3 콘택홀(193)을 통해 연 결패턴(190)과 연결되어 상기 게이트 패드(171)와 전기적으로 연결되는 게이트 쇼팅 바(200)가 형성된다.Meanwhile, a gate shorting bar 200 is formed at an outer portion of the gate terminal line 181 to be connected to the connection pattern 190 through a third contact hole 193 and electrically connected to the gate pad 171. .

상기 게이트 쇼팅바(200)는 일반적으로 홀수 번째의 게이트 패드(171)에 연결되는 제 1 게이트 쇼팅 바(201)와, 짝수 번째의 게이트 패드(171)에 연결되는 제 2 게이트 쇼팅 바(202)로 이루어지며 제 1, 제 2 게이트 쇼팅 바(201, 202)를 통해 게이트 배선에 흐르는 전압차에 의해 배선의 단락 유무를 검출한다. The gate shorting bar 200 generally includes a first gate shorting bar 201 connected to an odd-numbered gate pad 171 and a second gate shorting bar 202 connected to an even-numbered gate pad 171. The presence or absence of a short circuit of the wiring is detected by the voltage difference flowing through the first and second gate shorting bars 201 and 202 through the gate wiring.

이때, 상기 게이트 단자 라인(181) 및 게이트 쇼팅 바(200)는 게이트 패드(171)와 동일층에 형성될 수 있는데, 이 경우, 상기 제 1, 제 2, 제 3 콘택홀(191, 192, 193)은 게이트 배선층과 연결패턴(190) 사이에 개재된 절연막을 제거하여 형성된다. In this case, the gate terminal line 181 and the gate shorting bar 200 may be formed on the same layer as the gate pad 171. In this case, the first, second, and third contact holes 191, 192, 193 is formed by removing an insulating layer interposed between the gate wiring layer and the connection pattern 190.

여기서, 상기 게이트 배선층을 비저항이 낮은 AlNd로 형성할 경우 게이트 단자 라인(181)이 차지하는 면적은 최소화될 수 있다. Here, when the gate wiring layer is formed of AlNd having a low specific resistance, an area occupied by the gate terminal line 181 may be minimized.

또한, 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 패널은 데이터 배선(미도시)의 끝단에 형성된 데이터 패드(172)와, 상기 데이터 패드(172)의 외곽에 형성되는 데이터 단자 라인(182)을 구비한다.In addition, as shown in FIG. 4, the LCD panel according to the present invention includes a data pad 172 formed at an end of a data line (not shown) and a data terminal line 182 formed outside the data pad 172. ).

이때, 상기 데이터 단자 라인(182)과 데이터 패드(172)는 연결패턴(190)을 통해 전기적으로 연결된다. In this case, the data terminal line 182 and the data pad 172 are electrically connected through the connection pattern 190.

구체적으로, 상기 연결패턴(190)은 제 2 콘택홀(192)을 통해 데이터 패드(172)와 연결됨과 동시에 제 1 콘택홀(191)을 통해 데이터 단자 라인(182)에 연결되어 상기 데이터 단자 라인(182)과 데이터 패드(172)를 전기적으로 연결한다.In detail, the connection pattern 190 is connected to the data pad 172 through the second contact hole 192 and to the data terminal line 182 through the first contact hole 191 to the data terminal line. 182 and the data pad 172 are electrically connected to each other.

한편, 상기 데이터 단자 라인(182) 외곽부에는 제 3 콘택홀(193)을 통해 연결패턴(190)과 연결되어 상기 데이터 패드(172)와 전기적으로 연결되는 데이터 쇼팅 바(300)가 형성된다.Meanwhile, a data shorting bar 300 is formed at an outer portion of the data terminal line 182 to be connected to the connection pattern 190 through a third contact hole 193 and electrically connected to the data pad 172.

상기 데이터 쇼팅 바(300)는 일반적으로 홀수 번째의 데이터 패드(172)에 연결되는 제 1 데이터 쇼팅 바(301)와, 짝수 번째의 데이터 패드(172)에 연결되는 제 2 데이터 쇼팅 바(302)로 이루어지며 제 1, 제 2 데이터 쇼팅 바(301, 302)를 통해 데이터 배선에 흐르는 전압차에 의해 배선의 단락 유무를 검출한다. The data shorting bar 300 generally includes a first data shorting bar 301 connected to an odd data pad 172 and a second data shorting bar 302 connected to an even data pad 172. The presence or absence of a short circuit of the wiring is detected by the voltage difference flowing through the data wiring through the first and second data shorting bars 301 and 302.

여기서, 상기 데이터 단자 라인(182) 및 데이터 쇼팅 바(300)는 데이터 패드(172)와 동일층에 형성될 수 있는데, 일반적으로 데이터 배선층은 0.15Ω/㎛의 몰리브덴(Mo)을 사용하므로 그 폭이 커질 수 밖에 없다. Here, the data terminal line 182 and the data shorting bar 300 may be formed on the same layer as the data pad 172. In general, since the data wiring layer uses molybdenum (Mo) of 0.15 Ω / μm, its width is increased. This can only grow.

하지만, 상기 데이터 단자 라인(182) 및 데이터 쇼팅 바(300)를 게이트 배선층과 동시에 형성하면 데이터 단자 라인(182)이 차지하는 면적이 최소화될 수 있다. 이때, 게이트 배선층은 0.05Ω/㎛의 AlNd로 형성된다. However, when the data terminal line 182 and the data shorting bar 300 are simultaneously formed with the gate wiring layer, an area occupied by the data terminal line 182 may be minimized. At this time, the gate wiring layer is formed of AlNd of 0.05? / Μm.

이와 같이, 데이터 단자 라인(182) 및 데이터 쇼팅 바(300)를 게이트 배선층과 동시에 형성하면 데이터 쇼팅 바(300)는 50~60㎛의 폭으로 형성될 수 있고, 6개의 데이터 단자 라인(182)은 170㎛의 폭으로 형성될 수 있다. As such, when the data terminal line 182 and the data shorting bar 300 are simultaneously formed with the gate wiring layer, the data shorting bar 300 may be formed to have a width of 50 to 60 μm, and the six data terminal lines 182 may be formed. May be formed to a width of 170 μm.

결국, 상술한 바와 같이 게이트 단자 라인(181) 및 데이터 단자 라인(182)의 폭을 최소화하면 상기 게이트 단자 라인(181) 및 데이터 단자 라인(182)과 연결패턴(190)을 통해 전기적으로 연결되는 게이트 쇼팅 바(200) 및 데이터 쇼팅 바(300)의 폭도 최소화되어 진다. As a result, when the widths of the gate terminal line 181 and the data terminal line 182 are minimized as described above, the gate terminal line 181 and the data terminal line 182 are electrically connected to each other through the connection pattern 190. The width of the gate shorting bar 200 and the data shorting bar 300 is also minimized.

이와 같이, 상기 쇼팅 바의 폭이 최소화되면 레이져 트리밍 단계를 거칠 필요없이 그라인딩 단계만으로도 쇼팅 바를 완전하게 제거할 수 있다. As such, when the width of the shorting bar is minimized, the shorting bar can be completely removed only by the grinding step without having to go through the laser trimming step.

즉, 종래에는 쇼팅 바가 형성되는 폭이 커 연마기만으로 쇼팅 바를 완전히 제거하는 것은 작업시간이 너무 많이 소요되고 정전기 등의 문제로 거의 불가능하였지만 상술한 바와 같이 쇼팅 바가 형성되는 폭을 대폭 줄이게 되면 레이저 트리머를 이용한 절삭공정을 거치지 않고 연마기만을 이용해서도 쇼팅 바를 완전히 제거할 수 있게 된다.That is, in the related art, the shorting bar is formed in a large width, and the removal of the shorting bar completely using only a polishing machine takes too much work time and is almost impossible due to static electricity. It is possible to remove the shorting bar completely using a grinder without going through the cutting process.

한편, 상기 그라인딩 단계가 완료되면 LCD 패널(10)은 세정 단계로 보내어지는데(S105), 상기 세정 단계에서는 그라인딩 단계를 통해 LCD 패널(10)에 부착된 각종 이물질을 제거하는 작업이 수행된다.On the other hand, when the grinding step is completed, the LCD panel 10 is sent to the cleaning step (S105), the cleaning step is performed to remove the various foreign matter attached to the LCD panel 10 through the grinding step.

또한, 세정이 완료된 LCD 패널(10)은 작업자가 직접 눈으로 LCD 패널(10)의 불량 여부를 검사하는 목시 검사 단계로 보내어진다.(S106)In addition, the cleaned LCD panel 10 is sent to the visual inspection step in which the operator directly inspects whether the LCD panel 10 is defective.

상기 목시 검사는 상술한 LCD 검사장비를 이용한 검사에서 불량 판정이 난 LCD 패널(10)만을 대상으로 하며, 작업자는 직접 눈으로 불량 판정이 난 LCD 패널을 재차 검사하여 최종 불량 여부를 판정하게 된다.The visual inspection targets only the LCD panel 10 which is determined to be defective in the inspection using the above-described LCD inspection equipment, and the operator directly inspects the LCD panel which is determined to be defective by eyes to determine whether the final defect is present.

도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.5 is a flowchart illustrating an inspection process of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.

한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정은 낱장으로 절단된 LCD 패널(10)을 LCD 검사장비로 로딩하기 전 표면 이물질을 제거하는 세정 단계(S202)를 더 포함하여 이루어질 수 있다.On the other hand, as shown in Figure 5, the inspection process of the liquid crystal display according to the second embodiment of the present invention cleaning step for removing the surface foreign matter before loading the LCD panel 10 cut into a sheet to the LCD inspection equipment (S202) may be further included.

상기 대형 유리기판이 절단되어 형성되는 낱장의 LCD 패널에는 각종 이물질이 묻어있을 가능성이 매우 높다. 따라서, 세정 공정을 통해 미리 LCD 패널에 묻어있는 이물질을 제거하게 되면 LCD 패널에 대한 검사가 보다 정확히 이루어질 수 있다.It is very likely that various foreign matters are on the sheet of LCD panels formed by cutting the large glass substrate. Therefore, if the foreign matter on the LCD panel is removed in advance through the cleaning process, the inspection of the LCD panel can be made more accurately.

또한, 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정은 세정 단계(S202) 또는 LCD 패널 검사 단계(S102) 전에 LCD 패널을 스토커에 입고하는 단계를 더 포함하여 이루어질 수 있다.(S201) In addition, the inspection process of the liquid crystal display according to the second embodiment of the present invention may further comprise the step of putting the LCD panel in the stocker before the cleaning step (S202) or the LCD panel inspection step (S102). )

상기 스토커는 각 공정을 거치기 위해 반송 또는 이송되는 LCD 패널이 임시로 보관되는 장소로서 매우 청정한 상태로 유지되어 진다. 따라서, 절단후 낱장이 된 LCD 패널이 즉시 LCD 검사장비로 로딩되지 않거나 또는 이물질을 제거하는 세정 단계로 보내지지 않을 경우에는 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 LCD 패널을 최대한 청결한 상태로 유지시키는 것이 바람직하다.The stocker is kept in a very clean state as a place where the LCD panel to be conveyed or transported through each process is temporarily stored. Therefore, it is desirable to keep the LCD panel as clean as possible by putting the LCD panel into the stocker when the LCD panel which has been cut after cutting is not immediately loaded into the LCD inspection equipment or sent to the cleaning step to remove foreign substances. .

물론, 상술한 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 저장하는 단계는 상술한 목시 검사 단계 전에 이루어질 수도 있다.(S203) Of course, the step of storing the above-described LCD panel in the stocker may be performed before the above-described visual inspection step (S203).

즉, 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계 후 즉시 최종 불량 여부를 검사하는 목시 검사 단계가 진행되지 않을 경우에도 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 LCD 패널을 최대한 청결한 상태로 유지시키는 것이 바람직하다.That is, even when the visual inspection step of checking for final defects is not performed immediately after the cleaning of the LCD panel from which the shorting bar is removed, it is desirable to keep the LCD panel as clean as possible by wearing the LCD panel in a stocker.

이와 같이, LCD 패널을 스토커에 저장하여 최대한 청결한 상태로 유지시키면 LCD 검사장비를 이용한 검사 단계 및 목시 검사 단계에서 정확한 검사 결과를 얻을 수 있다.As such, if the LCD panel is stored in the stocker and kept as clean as possible, accurate inspection results can be obtained in the inspection step and the visual inspection step using the LCD inspection equipment.

이상에서와 같이 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사공정은 다음과 같은 효과를 가진다.As described above, the inspection process of the liquid crystal display according to the present invention has the following effects.

첫째, CCD 카메라와 같은 영상 장비를 이용해 LCD 패널에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 상기 촬영된 영상을 제어부에서 분석하여 LCD 패널의 불량 여부를 판단하기 때문에 작업자의 육안에 의한 검사의 한계점을 보완하여 작업의 능률향상 및 정확성을 크게 향상시킬 수 있다.First, the image of each pattern displayed on the LCD panel is photographed using an imaging device such as a CCD camera, and the control unit analyzes the captured image to determine whether the LCD panel is defective. Complementary work can greatly improve work efficiency and accuracy.

둘째, 쇼팅 바 제거를 위한 레이져 트리머를 필요로 하지 않아 고가의 장비를 구입하기 위한 추가적인 지출을 막고 공정 단축에 의한 생산성 향상을 이룰 수 있다.Secondly, laser trimmers are not needed to remove the shorting bar, thus preventing additional expenses for purchasing expensive equipment and improving productivity by shortening the process.

셋째, LCD 패널이 LCD 검사장비로 로딩되기 전에 미리 세정하는 단계를 추가하거나 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 이물질에 오염되지 않도록 함으로써 LCD 패널의 불량 여부를 정확히 판단할 수 있다.Third, it is possible to accurately determine whether the LCD panel is defective by adding a pre-cleaning step before the LCD panel is loaded into the LCD inspection equipment or by putting the LCD panel in a stocker so as to prevent contamination.

Claims (6)

대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작하는 단계;Cutting a large glass substrate to produce a single LCD panel; 상기 LCD 패널을 카메라와 같은 영상장비를 구비하는 LCD 검사장비로 로딩하고, 상기 LCD 패널로 각종 패턴별 영상 신호를 제공하고, 상기 LCD 패널에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 이 촬영된 각 패턴별 영상을 분석하여 상기 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 단계; The LCD panel is loaded into an LCD inspection apparatus equipped with an imaging device such as a camera, and various image signals are provided to the LCD panel, and images of each pattern displayed on the LCD panel are taken. Analyzing the image for each pattern to check whether the LCD panel is defective; 상기 LCD 패널에 형성된 쇼팅 바를 연마기를 이용해 제거하는 단계; Removing the shorting bar formed on the LCD panel using a polishing machine; 상기 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계; 그리고,Cleaning the LCD panel from which the shorting bar is removed; And, 상기 세정된 LCD 패널을 작업자가 눈으로 직접 검사하여 최종 불량 여부를 판정하는 단계를 포함하며;An operator inspects the cleaned LCD panel directly with eyes to determine whether there is a final failure; 상기 쇼팅 바는 게이트 쇼팅 바 및 데이터 쇼팅 바를 포함하며, 상기 게이트 쇼팅 바 및 데이터 쇼 팅바가 게이트 배선층과 동시에 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.And the shorting bar includes a gate shorting bar and a data shorting bar, wherein the gate shorting bar and the data shorting bar are simultaneously formed with the gate wiring layer. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LCD 패널의 최종 불량 여부를 검사하는 단계는 LCD 검사장비를 이용한 검사에서 불량 판정이 난 LCD 패널만을 대상으로 하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.The step of checking whether or not the final failure of the LCD panel, the inspection process of the liquid crystal display device, characterized in that only for the LCD panel is determined to be defective in the inspection using the LCD inspection equipment. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LCD 패널의 최종 불량 여부를 검사하기 전에 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 저장하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.And inspecting the LCD panel in a stocker before storing the LCD panel for final defects. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 낱장이 된 LCD 패널을 세정하여 표면 이물질을 제거하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.And cleaning the sheet of LCD panel to remove foreign substances from the surface of the LCD panel. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 LCD 패널을 LCD 검사장비로 로딩하기 전에 스토커에 입고하여 저장하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.And storing and storing the LCD panel in a stocker before loading the LCD panel into the LCD inspection apparatus.
KR1020060052045A 2006-06-09 2006-06-09 The test process for Liquid Crystal Display Device Active KR101232158B1 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060052045A KR101232158B1 (en) 2006-06-09 2006-06-09 The test process for Liquid Crystal Display Device
CN2006101694903A CN101086563B (en) 2006-06-09 2006-12-15 Liquid crystal display inspection device and its inspection process
TW095148769A TWI369523B (en) 2006-06-09 2006-12-25 Lcd test device and test process thereof
US11/644,959 US7411410B2 (en) 2006-06-09 2006-12-26 LCD test device and test process thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060052045A KR101232158B1 (en) 2006-06-09 2006-06-09 The test process for Liquid Crystal Display Device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070117871A KR20070117871A (en) 2007-12-13
KR101232158B1 true KR101232158B1 (en) 2013-02-12

Family

ID=39142895

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060052045A Active KR101232158B1 (en) 2006-06-09 2006-06-09 The test process for Liquid Crystal Display Device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101232158B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050114132A (en) * 2004-05-31 2005-12-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Test apparatus of auto probe and method of testing using the same
KR20060022463A (en) * 2004-09-07 2006-03-10 삼성전자주식회사 Display board and manufacturing method thereof
KR20060047026A (en) * 2004-11-12 2006-05-18 삼성전자주식회사 Array test system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050114132A (en) * 2004-05-31 2005-12-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Test apparatus of auto probe and method of testing using the same
KR20060022463A (en) * 2004-09-07 2006-03-10 삼성전자주식회사 Display board and manufacturing method thereof
KR20060047026A (en) * 2004-11-12 2006-05-18 삼성전자주식회사 Array test system

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070117871A (en) 2007-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101086563B (en) Liquid crystal display inspection device and its inspection process
KR100528697B1 (en) Method and Apparatus for Testing Liquid Crystal Display
KR20100096546A (en) Liquid crystal panel test apparatus and test method using the same
KR0143613B1 (en) Display device manufacturing device and display device manufacturing method
KR101347895B1 (en) Method of fabricating liquid crystal display device
KR20120075096A (en) Liquid crystal display device and inspection method thereof
KR101232158B1 (en) The test process for Liquid Crystal Display Device
KR102078994B1 (en) Liquid Crystal Display device and Inspection Method thereof
KR101434985B1 (en) Pre-assembly final inspection device for LCD and inspection method using the same
CN114035356B (en) Display panel repairing method and device and display panel
JP2019158442A (en) Display panel inspection system and display panel inspection method
KR20140058710A (en) Vision testing system for display device and inspecting method thereof
JP2004219706A (en) Display element and driving voltage detecting method of display element
KR101427282B1 (en) Liquid crystal display device having pad structure and method of fabricating thereof
JP3446729B2 (en) Liquid crystal image display device, its inspection method and its manufacturing method
JP3533946B2 (en) Liquid crystal display panel inspection apparatus and liquid crystal display panel inspection method
KR101358256B1 (en) Array substrate for liquid crystal display device
KR101152491B1 (en) Liquid crystal display device
KR101434987B1 (en) Pre-assembly final inspection device for LCD and inspection method using the same
JPH10268273A (en) LCD display substrate
KR100960453B1 (en) LCD panel
KR20090006456A (en) LCD panel inspection device and inspection method
KR20070117181A (en) Inspection device of display panel
KR20070001434A (en) Inspection equipment and inspection method of liquid crystal display
KR101268389B1 (en) Method of fabricating liquid crystal display device

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20060609

PG1501 Laying open of application
A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 20110527

Comment text: Request for Examination of Application

Patent event code: PA02011R01I

Patent event date: 20060609

Comment text: Patent Application

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20120724

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20130122

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20130205

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20130206

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160128

Year of fee payment: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20160128

Start annual number: 4

End annual number: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170116

Year of fee payment: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20170116

Start annual number: 5

End annual number: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190114

Year of fee payment: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20190114

Start annual number: 7

End annual number: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200116

Year of fee payment: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20200116

Start annual number: 8

End annual number: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20210118

Start annual number: 9

End annual number: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20230116

Start annual number: 11

End annual number: 11

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20240115

Start annual number: 12

End annual number: 12