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KR101192757B1 - Ｌｃｄ 검사 장비 및 ｌｃｄ 검사 방법 - Google Patents

Ｌｃｄ 검사 장비 및 ｌｃｄ 검사 방법 Download PDF

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KR101192757B1
KR101192757B1 KR1020050080042A KR20050080042A KR101192757B1 KR 101192757 B1 KR101192757 B1 KR 101192757B1 KR 1020050080042 A KR1020050080042 A KR 1020050080042A KR 20050080042 A KR20050080042 A KR 20050080042A KR 101192757 B1 KR101192757 B1 KR 101192757B1
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South Korea
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lcd panel
unit
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work table
lcd
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강동우
김봉철
양기섭
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명은 LCD 검사 장비 및 LCD 검사 방법에 관한 것으로, 특히 LCD 패널의 불량만을 검출할 수 있도록 한 새로운 구조의 LCD 검사 장비 및 그를 이용한 검사 방법을 제공하고자 한 것이다.
이를 위한 본 발명의 LCD 검사 장비는, 전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널에 광원을 제공하는 백라이트 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 영상을 촬영하는 영상 촬영유닛; 상기 영상 촬영유닛과 상기 LCD 패널 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판; 상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 표면으로 조명을 조사하는 조명 유닛; 그리고, 상기 영상 촬영유닛에 의해 촬영된 영상을 제공받아 불량 정보를 추출하는 영상 처리부:가 포함되어 구성됨으로써 LCD 패널의 외부 이물과 실제 픽셀 불량이 확연히 구분될 수 있기 때문에 검사 시간이 단축되고 수율이 향상된다.
LCD 검사 장비, 영상 처리부, 조명유닛, 실드부, 편광판, 영상 촬영유닛

Description

ＬＣＤ 검사 장비 및 ＬＣＤ 검사 방법{Apparatus for Testing LCD Panel}
도 1 은 종래 LCD 검사 장비의 일예를 개략적으로 나타낸 정면도
도 2 는 도 1의 LCD 검사 장비의 측면도
도 3 은 LCD 패널에 나타나는 외관 불량 유형을 나타낸 LCD 패널의 단면도
도 4 는 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비를 설명하기 위한 개략적인 측면도
도 5 는 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비 중 제1조명유닛의 장착 구조를 설명하기 위해 실드부의 후면을 도시한 개략적인 사시도
도 6 은 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비 중 제2조명유닛의 장착 구조를 설명하기 위해 워크 테이블의 전방측 구조를 도시한 개략적인 사시도
도 7 은 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비를 이용한 LCD 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도
도 8 은 본 발명의 실시예에 따른 LCD 패널의 검사 과정 중 실질적인 불량을 추출하는 일련의 과정을 설명하기 위한 개략적인 상태도
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
110. 워크 테이블 120. 프로브 유닛
130. 백라이트 유닛 140. 이동 스테이지
150. 영상 촬영유닛 161. 제1편광판
162. 제2편광판 171. 제1조명유닛
172. 제2조명유닛 173. 실드부
180. 영상 처리부 190. 패턴 제너레이터
본 발명은 액정표시장치(LCD)의 패널을 검사하는 장비에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 LCD 패널의 불량만을 자동으로 정확히 검출할 수 있도록 한 새로운 구조의 LCD 검사 장비와 그를 이용한 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로, LCD 검사 장비는 LCD 패널이 불량품인지 양품인지를 육안으로 용이하게 검사할 수 있도록 구성된 장비이다.
첨부된 도 1 및 도 2는 종래의 LCD 검사 장비를 도시하고 있다.
이를 통해 알 수 있듯이, 종래의 LCD 검사 장비는 본체(1)의 일측에 LCD 패널(10)의 검사를 수행하는 검사부(2)가 배치되고, 상기 검사부(2)의 일측에는 LCD 패널(10)을 공급 및 회수하는 로딩/언로딩부(7)가 배치된 구성으로 이루어진다.
또한, LCD 검사 장비에는 LCD 패널(10)을 상기 로딩/언로딩부(7)에서 검사부(2)로, 검사부(2)에서 로딩/언로딩부(7)로 반송하여 주는 캐리어(carrier)(9)가 좌/우로 이동이 가능하게 설치되어 있다.
상기 검사부(2)는 프로브 유닛(probe unit)(3) 및, LCD 패널(10)을 상기 프 로브 유닛(3)에 콘택트시킴과 더불어 광원을 제공하는 워크 테이블(4)(work table)로 구성된다. 상기 워크 테이블(4)은 편광판(4a) 및 백라이트(4b)로 이루어지고, 이 워크 테이블(4)의 후방에는 워크 테이블(4)을 프로브유닛(3)에 대해 정렬함과 더불어 프로브 유닛(3)에 접속시키는 이동 스테이지(5)가 설치된다.
상기 로딩/언로딩부(7)에는 로더(미도시)로부터 반송된 LCD 패널(10)을 소정 각도(예컨대 60도)로 기울여주는 서브테이블(8)이 설치된다.
또한, 상기 검사부(2)의 전방에는 LCD 패널(10)의 육안 검사시 이상이 발견되었을 때 작업자가 이를 더욱 정밀히 확인하기 위한 현미경(6)이 상하 및 좌우로 이동이 가능하게 설치되어 있다.
상기와 같은 종래의 LCD 검사 장비에서 이루어지는 검사 과정을 간략하게 설명하면 다음과 같다.
먼저, 로딩/언로딩부(7)의 로더(미도시)로부터 서브테이블(8)에 LCD 패널(10)이 전달되고, 서브테이블(8)은 소정 각도로 기울어지면서 캐리어(9)에 LCD 패널(10)을 전달한다. 이어서, 상기 캐리어(9)는 LCD 패널(10)을 검사부(2)로 반송한다. 검사부(2)에 테스트할 LCD 패널(10)이 위치되면, 이동 스테이지(5)의 구동에 의해 워크 테이블(4)이 전진하여 캐리어(9)의 LCD 패널(10)을 진공 흡착하여 고정하고, 고정된 LCD 패널(10)의 패드(미도시)를 프로브 유닛(3)의 리드핀(미도시)에 접속시킨다.
이와 같이 LCD 패널(10)과 프로브 유닛(3) 간의 전기적 접속이 이루어지면, 프로브 유닛(3)을 통해 소정의 영상 신호가 인가됨과 동시에, 백라이트(4b)의 조명 이 외부의 영상신호 입력 장치인 패턴 제너레이터(PG;Pattern Generator)에 의해 다양한 패턴으로 바뀌게 되고, 작업자는 이 때 구현되는 패턴으로 패널의 불량을 판별하게 된다.
그러나, 상기와 같은 종래의 LCD 검사 장비는 다음과 같은 문제점이 야기된다.
먼저, 종래의 LCD 검사 장비로는 LCD 패널(10)의 검사를 수행할 때, 작업자의 육안에 의존될 수 밖에 없었음으로 불량 정보의 누락이 발생된 문제점을 가진다.
특히, 최근에는 LCD 패널(10)의 크기가 점차 증대되고 있음을 고려할 때 한 명의 작업자가 해당 LCD 패널(10)을 모두 검사하는데 소요되는 시간이 상당히 오래 걸렸던 문제점을 가진다.
또한, 종래의 LCD 검사 장비로는 도 3에 도시된 것과 같이, LCD 패널(10)의 상,하부 기판(11)의 표면에 미세한 먼지(D) 등이 뭍을 경우 작업자는 실질적으로 미세 먼지(D)와 특정 픽셀의 불량(PD;Point Defect)을 정확히 구분해 내기가 매우 어려웠다.
따라서, 실제 불량이 아닌 경우도 불량으로 처리됨으로써 수율이 저하되고 제조 비용의 손실이 야기되는 문제가 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 LCD 패널의 불량만이 정확히 검출될 수 있도록 한 새로운 구조의 LCD 검사 장비 및 그 를 이용한 LCD 검사 방법을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 LCD 검사 장비는, 전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널에 광원을 제공하는 백라이트 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 영상을 촬영하는 영상 촬영유닛; 상기 영상 촬영유닛과 상기 LCD 패널 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판; 상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 표면으로 조명을 조사하는 조명 유닛; 그리고, 상기 영상 촬영유닛에 의해 촬영된 영상을 제공받아 불량 정보를 추출하는 영상 처리부:가 포함되어 구성됨을 특징으로 한다.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 LCD 패널의 검사 방법은 워크 테이블에 LCD 패널을 준비하는 패널 준비단계; 제1조명유닛과 제2조명유닛 중 적어도 어느 하나의 조명유닛으로 전원을 제공하여 LCD 패널로 조명을 조사한 후 영상 촬영유닛로 상기 LCD 패널을 촬영하는 제1촬영단계; 백라이트 유닛으로 전원을 제공함과 더불어 LCD 패널로 각 패턴의 구현을 위한 신호를 제공한 후 영상 촬영유닛로 상기 LCD 패널을 촬영하는 제2촬영단계; 그리고, 촬영된 각 상황별 영상을 비교하여 실질적인 불량을 추출하는 불량 추출단계:가 포함되어 진행됨을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 LCD 검사 장비와 그를 이용한 LCD 검사 방법의 바람직 한 실시예를 첨부된 도 4 내지 도 9를 참조하여 상세히 설명한다.
먼저, 첨부된 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비의 구성을 개략적으로 나타낸 측면도이다.
이를 통해 알 수 있듯이, 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비는 크게 워크 테이블(110)과, 프로브 유닛(120)과, 백라이트 유닛(130)과, 이동 스테이지(140)와, 영상 촬영유닛(150)과, 제1편광판(161) 및 제2편광판(162)과, 조명 유닛(171,172)과, 영상 처리부(180)가 포함되어 구성된다.
여기서, 상기 워크 테이블(110)은 대략 그 내측이 개구된 사각 박스의 형상으로 형성되며, 그 전면(영상 촬영유닛과 대향되는 면)에는 LCD 패널(10)이 안착된다.
그리고, 상기 프로브 유닛(120)은 상기 워크 테이블(110)에 안착된 LCD 패널(10)의 패드(도시는 생략됨)와 전기적으로 접속되며, 상기 워크 테이블(110)의 전방 중 개구측 부위의 둘레에 구비된다.
이때, 상기 프로브 유닛(120)은 패턴 제너레이터(190)로부터 LCD 패널(10)의 검사를 위한 각종 패턴별 영상 신호를 제공받아 상기 LCD 패널(10)로 제공하는 역할을 수행한다.
그리고, 상기 백라이트 유닛(130)은 상기 워크 테이블(110)의 내부 후방측에 구비되어 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)로 광원을 제공하도록 구성된다.
상기 백라이트 유닛(130)은 냉음극관(CFL: Cold Fluorescent Lamp)이나, 냉 음극 형광램프(CCFL;Cold Cathode Flourscent Lamp)나, 외부전극형광램프(EEFL;External Electrode Flourscent Lamp)이나, 고휘도 LED 중 어느 하나의 램프로 구성됨이 바람직하다.
특히, 상기 백라이트 유닛(130)은 상기 워크 테이블(110)과 일체를 이루도록 구성됨이 보다 바람직하다.
그리고, 상기 이동 스테이지(140)는 상기 워크 테이블(110)의 후방측에 구비되며, 상기 워크 테이블(110)을 상기 프로브 유닛(120)에 정렬하고 접속시키는 역할을 수행하도록 구성된다.
그리고, 상기 영상 촬영유닛(150)은 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하는 카메라이다.
상기 영상 촬영유닛(150)은 상기 워크 테이블(110)의 전면과는 적정 거리만큼 이격되게 위치된다. 이와 함께, 상기 영상 촬영유닛(150)은 CCD 카메라로 구성됨이 바람직하며, 그 해상도는 대략 LCD 패널(10)의 해상도와 동일하거나 혹은, 더욱 높은 해상도를 가지는 CCD 카메라로 구성됨이 보다 바람직하다.
특히, 최근에는 LCD 패널(10)의 크기가 점차 증가되고 있음을 고려할 때 LCD 패널(10)의 크기가 점차 커질 수록 하나의 영상 촬영유닛(150)으로는 상기 LCD 패널(10)의 전체 영역에 대한 촬영이 곤란하다.
이에 따라, 상기 영상 촬영유닛(150)은 둘 이상의 다수대로 구비될 수도 있다.
그리고, 상기 한 쌍의 편광판(161,162)은 상기 영상 촬영유닛(150)과 상기 LCD 패널(10) 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판(161)과, 상기 LCD 패널(10)과 상기 백라이트 유닛(130) 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판(162)이 포함되어 구성된다.
이때, 상기 제1편광판(161)은 상기 워크 테이블(110)에 비해 상기 영상 촬영유닛(150)과 상대적으로 인접하게 위치됨이 바람직하다. 이는, 상기 제1편광판(161)이 상기 워크 테이블(110)에 인접하게 위치될 경우 제1편광판(161)의 표면에 뭍은 미세 먼지나 이물질이 촬영되어 불량 정보로 인식될 수 있기 때문이다.
또한, 상기 제2편광판(162)은 상기 워크 테이블(110)의 개구된 내측 부위 중 중앙 부위를 기준으로 볼 때 상대적으로 전방측 부위에 구비된다.
그리고, 상기 조명 유닛(171,172)은 각 편광판(161,162)이나 LCD 패널(10)의 표면에 뭍은 미세 먼지나 이물질 등을 확인하기 위해 사용된다. 즉, 상기 조명 유닛(171,172)을 이용하여 상기 LCD 패널(10)의 표면으로만 조명을 조사함으로써 상기 LCD 패널(10)의 표면에 뭍은 이물질이 확인될 수 있도록 한 것이다.
상기한 조명 유닛(171,172)은 상기 영상 촬영유닛(150)과 상기 백라이트 유닛(130) 사이에 구비된다. 특히, 상기 조명 유닛(171,172)은 워크 테이블(110)에 안착된 LCD 패널(10)의 둘레측 부위를 따라 위치되어 상기 LCD 패널(10)의 표면을 향한 조명의 조사가 가능하도록 구성됨이 바람직하다.
즉, 상기 조명 유닛(171,172)이 상기 LCD 패널(10)로 측광을 제공하도록 구성됨으로써 상기 LCD 패널(10)의 표면에 이물질이 존재하는지에 대한 여부가 보다 쉽게 확인될 수 있는 것이다.
상기한 조명 유닛(171,172)은 상기 LCD 패널(10)의 전방측 둘레 방향으로부터 상기 LCD 패널(10)의 전방측 표면을 향해 조명을 조사하는 제1조명유닛(171)과, 상기 LCD 패널(10)의 후방측 둘레 방향으로부터 상기 LCD 패널(10)의 후방측 표면을 향해 조명을 조사하는 제2조명유닛(172)이 포함되어 구성된다.
상기 제1조명유닛(171)은 제1편광판(161)과 상기 워크 테이블(110) 사이에 구비되고, 상기 제2조명유닛(172)은 제2편광판(162)과 상기 워크 테이블(110) 사이에 구비됨이 바람직하다.
이때, 상기 제1편광판(161)과 상기 워크 테이블(110)의 전면 사이에는 내측이 개구된 사각틀의 형상으로 이루어진 실드부(173)가 더 구비되고, 상기 제1조명유닛(171)은 상기 실드부(173)의 후면(워크 테이블의 전면과 대향되는 면) 중 상기 실드부(173)의 개구된 부위의 둘레를 따라 고정 장착된다. 이의 구조는 첨부된 도 5에 도시된 바와 같다.
상기한 실드부(173)는 상기 제1조명유닛(171)에 의해 조사되는 조명이 영상 촬영유닛(150)으로 조사됨을 방지하여 상기 영상 촬영유닛(150)에 의해 촬영된 영상이 과다 노출됨으로 인해 불량 검출이 곤란할 수 있는 문제점을 미연에 방지하기 위한 구조이다.
또한, 상기 제2조명유닛(172)은 상기 워크 테이블(110)의 개구된 내측 부위 중 제2편광판(162)에 비해 상대적으로 전방측의 내부 둘레면을 따라 요입 장착된다. 이의 구조는 첨부된 도 6에 도시된 바와 같다.
전술한 바와 같은 각 조명 유닛(171,172)은 냉음극관(CFL: Cold Fluorescent Lamp)이나, 냉음극 형광램프(CCFL;Cold Cathode Flourscent Lamp)나, 외부전극형광램프(EEFL;External Electrode Flourscent Lamp)이나, 고휘도 LED 중 어느 하나의 램프로 구성됨이 바람직하다.
특히, 본 발명의 실시예에서는 제1조명유닛(171)은 냉음극관(CFL: Cold Fluorescent Lamp)으로 구성되고, 제2조명유닛(172)은 냉음극 형광램프(CCFL;Cold Cathode Flourscent Lamp)로 구성됨을 제시한다.
그리고, 상기 영상 처리부(180)는 상기 영상 촬영유닛(150)에 의해 촬영된 영상을 제공받아 그 영상으로부터 불량 정보를 추출하고, 이때 추출된 불량 정보에 대한 결과를 데이터로 변환할 수 있도록 구성된다.
이때, 상기 영상 처리부(180)와 패턴 제너레이터(190)는 서로 데이터의 송수신이 가능하도록 연결됨이 바람직하다.
이하에서는, 전술한 본 발명의 실시예에 따른 LCD 검사 장비를 이용한 LCD 패널(10)의 검사 방법에 관해 첨부된 도 7의 순서도를 참조하여 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
우선, 워크 테이블(110)에 LCD 패널(10)을 준비하는 패널 준비단계를 수행(S110)한다.
즉, 상기 LCD 패널(10)을 상기 워크 테이블(110)로 로딩한 후 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착시키는 것이다.
이때, 상기 LCD 패널(10)은 그 이전 공정에서 이미 합착이 완료된 상태임과 더불어 단위 패널로 분리된 상태이며, 그 전면의 외측 둘레에는 다수의 데이터 라 인으로 전기적 신호를 인가하기 위한 데이터 쇼팅 패드(도시는 생략됨) 및 다수의 게이트 라인으로 전기적 신호를 인가하기 위한 게이트 쇼팅 패드(도시는 생략됨)가 각각 형성된 상태이다.
그리고, 상기 워크 테이블(110)에 상기 LCD 패널(10)이 안착되면 제1조명유닛(171)과 제2조명유닛(172) 중 적어도 어느 하나의 조명유닛으로 전원을 제공하여 LCD 패널(10)로 조명이 조사되도록 한다. 바람직하기로는 상기 제1조명유닛(171) 및 제2조명유닛(172) 모두에 전원을 제공하여 상기 LCD 패널(10)의 전면 및 후면으로 조명이 조사(S120)될 수 있도록 한다.
이때, 상기 각 조명유닛(171,172)은 상기 LCD 패널(10)에 대하여 둘레측 부위에 구비됨을 고려할 때 상기 LCD 패널(10)로 제공되는 조명은 상기 LCD 패널(10)의 표면에서 볼 때 측광이되고, 이로 인해 상기 LCD 패널(10)의 표면에 존재하는 이물질의 명암에 대한 구분이 선명히 나타난다.
또한, 이때에는 백라이트 유닛(130)으로의 전원 제공은 차단되도록 제어되고, 상기 LCD 패널(10)로의 신호 제공 역시 차단되도록 제어됨으로써 실질적으로 LCD 패널(10)의 표면(전면 및 후면) 및 제2편광판(162)의 표면에 존재하는 이물질만이 나타날 수 있게 된다.
상기 제2편광판(162)의 표면에 존재하는 이물질은 상기 제2조명유닛(172)로부터 조사되는 조명을 측광으로써 제공받기 때문에 나타나게 된다.
이후, 영상 촬영유닛(150)으로 상기 LCD 패널을 촬영하는 제1촬영단계를 수행하고, 이렇게 촬영된 영상은 영상 처리부(180)로 제공(S130)된다.
그리고, 전술한 일련의 과정이 완료되면 이동 스테이지(140)가 구동되면서 워크 테이블(110)은 전방측을 향해 이동시키게 된다.
이로 인해, 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)의 각 쇼팅 패드는 프로브 유닛(120)의 리드핀(도시는 생략됨)과 접촉되면서 상호간의 전기적 접속(S140)이 이루어진다.
이의 상태에서, 패턴 제너레이터(190)가 상기 프로브 유닛(120)을 통해 상기 LCD 패널(10)로 다수의 패턴별 영상을 디스플레이하기 위한 신호를 제공하면 백라이트 유닛(130)의 발광이 이루어지면서 상기 LCD 패널(10)로 백라이트가 조사됨과 동시에 상기 LCD 패널(10)에서는 각 패턴별 영상이 구현(S150)된다.
이의 경우, 영상 촬영유닛(150)은 상기 LCD 패널(10)에 상기 각 패턴별 영상이 구현될 때마다 해당 영상을 촬영하는 제2촬영단계를 수행하고, 이렇게 촬영된 영상을 영상 처리부(180)로 제공(S160)한다.
이때, 상기 제2촬영단계에서 촬영된 각 패턴별 영상에는 이물질(D)도 촬영됨과 동시에 각 패턴별 불량(PD;Point Defect)도 함께 촬영된다.
이때에는, 상기 제1조명유닛(171) 및 제2조명유닛(172)으로의 전원 제공이 차단되도록 제어됨으로써 LCD 패널(10)의 각 패턴별 영상이 명확히 촬영된다.
물론, 상기 제2촬영단계는 전술한 제1촬영단계가 수행되기 전에 먼저 진행되도록 제어될 수도 있다.
그리고, 전술한 제2촬영단계가 완료되면 영상 처리부(180)는 상기 영상 촬영유닛(150)으로부터 제공받은 각 상황별 영상을 서로 비교함으로써 실질적인 불량( 특정 좌표의 픽셀에 대한 결함인 포인트 디펙트)을 추출하는 불량 추출단계를 수행(S170)한다.
즉, 영상 처리부(180)는 영상 촬영유닛(150)에 의해 촬영된 각 영상으로부터 공통적인 좌표에 존재하는 불량(D)을 이물질로 판단하고, 상기 이물질로 판단된 좌표를 전체 불량(D+PD)들의 좌표 내역으로부터 삭제하여 실질적인 불량(PD)이 존재하는 좌표만을 추출하는 것이다.
이의 과정을 첨부된 도 8을 참조하여 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저, 첨부된 도 8의 (a)와 같이 제1촬영단계에서 촬영된 영상(이하, 제1영상이라 함)으로부터 각 불량(D)들의 좌표를 획득한다.
계속해서, 첨부된 도 8의 (b)와 같이 제2촬영단계에서 촬영된 영상(이하, 제2영상이라 함)으로부터 각 불량(D+PD)들의 좌표를 획득한다.
이후, 상기 제2영상과 제1영상에서 공통으로 존재하는 불량(D)들의 좌표만 삭제함으로써 첨부된 도 8의 (c)와 같이 실질적인 불량(PD)만 추출된다.
상기에서 불량에 대한 좌표를 획득하는 방법은 해당 영상에서 나타나는 패턴 중 특정 픽셀의 패턴이 틀린 부분에 대한 좌표를 획득함으로써 진행된다.
예컨대, 암점의 검사를 위한 패턴을 해당 LCD 패널(10)에 구현하였을 경우 발생된 불량 픽셀과, 휘점의 검사를 위한 패턴을 해당 LCD 패널(10)에 구현하였을 경우 발생된 불량 픽셀 등의 좌표를 획득함으로써 불량 정보의 추출이 진행되는 것이다.
물론, 전술한 일련의 과정 중 실질적인 불량(PD)를 추출하기 위한 과정은 제2영상과 제1영상에서 공통으로 존재하는 불량(D)들의 좌표만 삭제함으로써 수행되는 것으로 한정되지는 않는다.
즉, 상기 제1영상 및 제2영상 모두에 공통적으로 존재하지 않더라도 상기 제2영상에 존재하는 각 불량(D+PD)의 좌표 내역으로부터 제1영상에 존재하는 각 불량(D)의 좌표 내역을 삭제함으로써 실질적인 불량(PD)가 추출되도록 수행될 수도 있는 것이다.
결국, 전술한 일련의 과정에 의해 추출된 불량들의 좌표 내역은 추후 해당 LCD 패널(10)의 목시 검사시 상기 LCD 패널(10)에 디스플레이되도록 함으로써 작업자가 해당 LCD 패널(10)의 불량을 보다 정확히 인지할 수 있도록 함이 바람직하다.
한편, 본 발명의 실시예에서는 불량에 대한 검사가 보다 정확히 이루어질 수 있도록 하기 위해 백라이트 유닛(130)으로만 전원을 제공하여 LCD 패널(10)로 조명을 조사한 후 영상 촬영유닛(150)을 제어하여 상기 LCD 패널(10)을 촬영하는 제3촬영단계가 더 포함됨을 제시한다.
이러한 제3촬영단계는 제2편광판(162) 및 백라이트 유닛(130)의 표면에 존재하는 미세 먼지 등의 이물질이 불량으로 추출되지 않도록 하기 위한 일련의 과정이다.
이때, 상기 제3촬영단계가 진행되는 도중에는 제1조명유닛(171) 및 제2조명유닛(172)으로의 전원 제공은 차단되도록 제어됨과 동시에 LCD 패널(10)로의 신호 제공 역시 차단되도록 제어된다.
그리고, 전술한 제3촬영단계에 의해 촬영된 영상은 영상 처리부(180)로 제공되며, 상기 영상 처리부(180)에서는 상기 영상을 제1촬영단계 및 제2촬영단계에서 촬영된 영상과 비교하여 이물질을 불량 내역으로부터 제외될 수 있도록 한다.
즉, 상기 제3촬영단계에 의해 촬영된 영상과 제1촬영단계 및 제2촬영단계에서 촬영된 영상과의 공통적인 좌표에 존재하는 불량(D)을 이물질로 판단하고, 상기 이물질로 판단된 좌표를 삭제하여 실질적인 불량(PD)이 존재하는 좌표만을 추출하는 것이다.
따라서, 순수한 픽셀의 불량 정보만이 추출되고, 이로 인해 정확한 LCD 패널(10)의 불량 검사가 가능하게 된다.
한편, 전술한 본 발명의 실시예에 따른 검사 방법을 통해 검사된 후 제조되는 LCD 패널(10)은 해당 LCD 패널(10)이 실질적인 모듈화가 이루어진 후(즉, 모니터나 TV 등의 케이스에 결합된 후) 최종 검사 과정에서 발생되는 불량을 최대한 저감할 수 있기 때문에 모듈화를 위한 불필요한 공정 진행 및 제조 비용 소모가 이루어지지 않게 된다. 또한, 전술한 본 발명의 실시예에 따른 검사 방법을 통해 검사된 후 제조되는 LCD 패널(10)은 여타의 검사 방법을 통해 검사된 후 제조되는 LCD 패널에 비해 불량이 현저히 적다.
이렇듯, 본 발명에 따른 LCD 검사 장비 및 그를 이용한 검사 방법은 LCD 패널(10)의 불량 정보를 정확히 검사할 수 있게 된 유용한 발명이다.
특히, 상기한 LCD 패널(10)의 검사 방법에 의해 검사되는 LCD 패널(10)은 정확한 불량 혹은, 양품 여부의 구분이 가능하다.
이상에서와 같이 본 발명의 LCD 검사 장비 및 LCD 검사 방법은 다음과 같은 각종 효과를 가진다.
첫째, 본 발명은 LCD 패널의 불량 검사가 영상 촬영유닛에 의해 촬영된 다수의 영상을 토대로 영상 처리부에서 각종 불량이 자동으로 추출되도록 이루어짐에 따라 공정의 자동화가 가능하다는 효과를 가진다.
둘째, 본 발명은 LCD 패널의 표면에 뭍은 미세 먼지 등의 이물질에 의해 확인된 불량 정보가 실제 픽셀 불량으로부터 제외될 수 있도록 함으로써 매우 정확한 불량 검사가 가능하다는 효과를 가진다.

Claims (14)

  1. 전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블;
    상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛;
    상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널에 광원을 제공하는 백라이트 유닛;
    상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 영상을 촬영하는 영상 촬영유닛;
    상기 영상 촬영유닛과 상기 LCD 패널 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판;
    상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판;
    상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 표면으로 조명을 조사하는 조명 유닛;
    상기 영상 촬영유닛에 의해 촬영된 영상을 제공받아 불량 정보를 추출하는 영상 처리부: 그리고
    상기 제1편광판과 상기 워크 테이블의 전면 사이에는 내측이 개구된 사각틀의 형상으로 이루어진 실드부가 포함되어 구성됨을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 조명 유닛은
    상기 제1편광판과 상기 워크 테이블의 전면 사이에 구비되며, 상기 LCD 패널의 전방측 둘레 방향으로부터 상기 LCD 패널의 전방측 표면을 향해 조명을 조사하 는 제1조명유닛과,
    상기 제2편광판과 상기 워크 테이블의 전면 사이에 구비되며, 상기 LCD 패널의 후방측 둘레 방향으로부터 상기 LCD 패널의 후방측 표면을 향해 조명을 조사하는 제2조명유닛이 포함되어 구성됨을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.
  3. 삭제
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1조명유닛은 상기 실드부의 후면에 상기 개구된 내측 부위의 둘레를 따라 고정 장착됨을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 워크 테이블은 내측이 개구된 박스체의 형상으로 형성되고,
    상기 제2편광판은 상기 워크 테이블의 개구된 내측 부위 중 중앙 부위를 기준으로볼 때 상대적으로 전방측 부위에 구비됨을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제2조명유닛은 상기 워크 테이블의 각 부위 중 개구된 부위의 내측 둘레면을 따라 요입 장착됨을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.
  7. 제 4 항 또는, 제 6 항에 있어서,
    상기 제1조명유닛 및/혹은, 상기 제2조명유닛은
    냉음극관(CFL: Cold Fluorescent Lamp), 냉음극 형광램프(CCFL;Cold Cathode Flourscent Lamp), 외부전극형광램프(EEFL;External Electrode Flourscent Lamp) 혹은, 고휘도 LED 중 어느 하나로 구성됨을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.
  8. 워크 테이블에 LCD 패널을 준비하는 패널 준비단계;
    제1조명유닛과 제2조명유닛 중 적어도 어느 하나의 조명유닛으로 전원을 제공하여 LCD 패널로 조명을 조사한 후 영상 촬영유닛로 상기 LCD 패널을 촬영하는 제1촬영단계;
    백라이트 유닛으로 전원을 제공함과 더불어 LCD 패널로 각 패턴의 구현을 위한 신호를 제공한 후 영상 촬영유닛로 상기 LCD 패널을 촬영하는 제2촬영단계; 그리고,
    촬영된 각 상황별 영상을 비교하여 실질적인 불량을 추출하는 불량 추출단계를 구비하고,
    상기 제2촬영단계는 상기 제1촬영단계가 수행되기 전에 진행되도록 제어됨을 특징으로 하는 LCD 검사 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제1촬영단계가 진행되는 도중에는 상기 백라이트 유닛으로의 전원 제공 이 차단되도록 제어됨과 동시에 상기 LCD 패널로의 신호 제공이 차단되도록 제어됨을 특징으로 하는 LCD 검사 방법.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 제2촬영단계가 진행되는 도중에는 상기 제1조명유닛 및 제2조명유닛으로의 전원 제공이 차단되도록 제어됨을 특징으로 하는 LCD 검사 방법.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 불량 추출단계의 실질적인 불량 추출은
    여타의 각 단계에서 촬영된 영상에서 공통적인 좌표에 존재하는 불량을 이물질로 판단하고, 상기 이물질로 판단된 좌표를 삭제하여 실질적인 불량이 존재하는 좌표만을 추출함으로써 수행됨을 특징으로 하는 LCD 검사 방법.
  12. 삭제
  13. 제 8 항에 있어서,
    상기 불량 추출단계가 진행되기 전에
    백라이트 유닛으로 전원을 제공하여 LCD 패널로 조명을 조사한 후 영상 촬영 유닛로 상기 LCD 패널을 촬영하는 제3촬영단계가 더 포함되고,
    상기 불량 추출단계는 상기 제3촬영단계에 의해 촬영된 영상과 여타의 각 단계에서 촬영된 영상과의 공통적인 좌표에 존재하는 불량을 이물질로 판단하고, 상기 이물질로 판단된 좌표를 삭제하여 실질적인 불량이 존재하는 좌표만을 추출함으로써 수행됨을 특징으로 하는 LCD 검사 방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 제3촬영단계가 진행되는 도중에는 제1조명유닛 및 제2조명유닛으로의 전원 제공이 차단되도록 제어됨과 동시에 LCD 패널로의 신호 제공이 차단되도록 제어됨을 특징으로 하는 LCD 검사 방법.
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