[go: up one dir, main page]

KR101180698B1 - 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법 - Google Patents

탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101180698B1
KR101180698B1 KR1020100037552A KR20100037552A KR101180698B1 KR 101180698 B1 KR101180698 B1 KR 101180698B1 KR 1020100037552 A KR1020100037552 A KR 1020100037552A KR 20100037552 A KR20100037552 A KR 20100037552A KR 101180698 B1 KR101180698 B1 KR 101180698B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
carbon
density
standard density
standard
specimen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020100037552A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20110118010A (ko
Inventor
김동륜
윤남균
Original Assignee
국방과학연구소
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 국방과학연구소 filed Critical 국방과학연구소
Priority to KR1020100037552A priority Critical patent/KR101180698B1/ko
Priority to PCT/KR2010/004513 priority patent/WO2011132820A1/en
Priority to US13/583,431 priority patent/US8989345B2/en
Publication of KR20110118010A publication Critical patent/KR20110118010A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101180698B1 publication Critical patent/KR101180698B1/ko
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/24—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by observing the transmission of wave or particle radiation through the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N2001/2893—Preparing calibration standards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3306—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object rotates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/633—Specific applications or type of materials thickness, density, surface weight (unit area)
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/4998—Combined manufacture including applying or shaping of fluent material

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

본 발명은 비파괴 방법으로 탄소/탄소 재료의 국부 밀도 분포를 정량적으로 평가할 수 있는 표준밀도시편 제작 방법 및 전산화 단층촬영을 통하여 물리적 밀도로 계산하는 방법에 관한 것으로, 탄소/탄소 재료에 장착할 수 있는 표준밀도시편을 마련하되, 상기 표준밀도시편은 상기 탄소/탄소 재료와 동종의 재료에 의하여 제작한 후 상기 탄소/탄소 재료에 장착시키는 제1단계; 장착된 상기 표준밀도시편과 탄소/탄소 재료에 엑스선을 조사하여 전산화 단층촬영 영상을 취득하고 보정하는 제2단계; 및 상기 전산화 단층촬영 영상의 선형흡수계수를 통하여 물리적 밀도를 계산하는 제3단계를 포함한다. 이러한 국부 밀도 측정 방법은 비파괴적인 방법으로서 정확하게 측정할 수 있는 장점이 있을 뿐 아니라, 공정 개선 및 품질 보증의 우수한 수단이 될 수 있다.

Description

탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법{METHOD FOR EVALUATION OF DENSITY PROFILE IN CARBON/CARBON MATERIAL AND METHOD FOR PRODUCTION OF STANDARD DENSITY TEST BLOCK USED THEREIN}
본 발명은 비파괴 방법으로 탄소/탄소 재료의 국부 밀도 분포를 정량적으로 평가할 수 있는 표준밀도시편 제작 방법 및 전산화 단층촬영을 통하여 물리적 밀도로 계산하는 방법에 관한 것이다.
탄소/탄소 재료는 탄화와 함침을 반복한 결과 재료의 내부에 탄소만이 남겨진 상태를 말하는 것으로서, 내부에는 다공성 부분이 존재하게 되고 이런 다공성 부분은 국부적인 밀도 차이를 가지게 된다. 연소시험 결과에 의하면 전체 체적에 대해 밀도가 비슷한 탄소/탄소 재료를 사용하였더라도 삭마량이 일정하지 않는데, 이는 직접적으로는 탄소/탄소 재료의 국부적인 밀도 차이로부터 기인한다.
탄소/탄소 재료의 국부 밀도는 절단 및 절개 등을 통하여 물리적으로 측정할 수는 있지만 탄소/탄소 재료의 파괴를 수반하므로 탄소/탄소 재료의 개발 초기 단계에서는 보조적인 자료를 얻는데 한정된다. 또한, 물리적으로 파괴하여 밀도의 분포를 측정하게 되면 시간과 비용이 과다하게 투입되는 문제도 있다. 이를 해결하기 위해 보다 신속하고 정확한 밀도 분포를 측정하는 비파괴 방법이 도입되었다.
비파괴적으로 밀도를 측정하는 방법은 초음파 밀도 측정법, 엑스선 투과 밀도 측정법, 전산화 단층촬영법 등 여러 시험 기법이 있으나 물리적 밀도를 정량적으로 측정하기는 어렵다. 밀도 측정은 의료 산업 분야에서 골다공증 환자들을 진단하기 위해 골밀도 측정법을 주축으로 활발히 연구가 진행되고 있으나, 현재까지도 판독자의 경험에 의존하고 판독자간의 오차가 크며 동일 판독자에 의한 재현도도 낮은 실정이다.
초음파 밀도 측정법은 매질에 따른 초음파의 전달 속도나 탄성계수의 변화 등을 이용하여 밀도를 구하는 방법이지만 재현성 및 정확성이 높지 않은 단점을 가지고 있다.
엑스선 영상을 이용하여 골밀도를 측정하기 위한 많은 방법이 제시되었음에도 불구하고 한 장의 엑스선 영상만으로는 엑스선 흡수 효과의 차이를 명확히 구분하지 못하여 상당한 측정 오차가 발생한다. 이를 위하여 복수의 단계로 이루어진 금속 스텝웨지를 이용하여 재질의 두께 및 밀도 분포를 측정하는 기법이 연구되었으나 정량적인 결과를 얻지 못하고 밀도에 대한 정성적인 분석 결과만 제시하고 있다.
1998년 Bolotin에 의해 미국특허(US 5774520)로 등록된 “Densitometer for Determining the Density Distribution and Variation of Density of an Object”에서는 소멸 방사선을 이용하여 뼈조직의 밀도 변화 및 밀도 분포를 측정하였다. 양전자 방출 선원 Na-22를 엑스레이 검출기 중심에 위치하고 한쪽 검출기는 Na-22에서 발생한 511 keV의 소멸 방사선이 직접 검출되도록 설계되었으며, 한쪽 검출기는 Na-22와 검출기 사이에 측정 물체를 놓고 511 keV의 소멸 방사선과 물체의 반응 현상을 이용하여 밀도를 측정하였다. 단색 감마선을 사용하므로 선속경화현상이 발생하지 않는 장점이 있고, 산란 방사선을 계측하지 않으므로 선명한 단층촬영 영상을 얻을 수 있는 장점이 있다. 하지만, 상기 방법은 뼈, 지방, 근육 등의 선형흡수계수를 측정하여 밀도 차이를 단지 구별하였고 정량적인 밀도 값은 제시하지 못하고 있다. 또한, 511 keV의 소멸 방사선을 이용하였으므로 물체의 투과 능력에는 한계가 있으며, Na-22와 같은 방사선 동위원소를 사용하므로 방사선 안전관리의 문제가 수반된다.
1989년 Roberton에 의해 미국특허(US 4873707)로 등록된 “X-ray Tomography Phantoms, Method and System”에서는 측정하려는 밀도와 형상에 상응하는 표준시편을 제작하여 생체 내에서 골형의 윤곽에 대해 정확한 영상을 구현하기 위한 오차 교정 기술을 개발하였다. 형상 보정을 위하여 표준시편의 내부, 외부의 직경 변화를 주었으며, 표준시편 내부에는 빈 공간을 두어 물질을 충전하게 설계하였다. 표준시편을 이용하여 특정한 골형 구조의 보철물 제작 및 교정 등에는 이용할 수 있지만, 정량적인 밀도 값은 제시하지 못하고 있다.
1997년 Hangarter에 의해 미국특허(US 5673303)로 등록된 “Method and Apparatus for the Evaluation of Structural Width Tomography”에서는 전산화 단층촬영 영상으로 측정된 밀도 선도를 이용하여 측정 물체의 기하학적 폭과 밀도를 측정하는 기법을 개발하였다. 기존의 단층촬영 방법으로는 영상의 최소 해상도 값 아래의 폭을 가지는 구조에 대한 정확한 폭과 밀도 측정이 가능하지 않았으나, 최대 밀도 값을 기준으로 반폭치를 측정하여 최소 해상도보다 낮은 특별한 구조 구조물의 폭을 측정하였다. 상기 방법은 겉질 뼈의 두께 및 밀도를 측정할 수 있는 기법이다. 하지만 반치폭 내의 밀도를 단순하게 합산하여 밀도를 측정하였으므로 정성적인 결과만을 제시하고 있다.
2006년도 한국추진공학회지 제10권 제1호 논문에 게재된 “전산화 단층촬영에 의한 니들 펀칭 탄소/탄소 복합재료 노즐 목삽입재의 밀도 분포 평가”에서는 전산화 단층촬영을 이용하여 탄소/탄소 재료의 밀도 분포를 정량적으로 제시하고 있다. 밀도 분포 측정을 위해 밀도분해능시편 및 표준밀도시편을 각각 제작하였으며 표준밀도시편의 표준밀도물질을 이용하여 밀도 분포를 측정하고 있다.
하지만, 상기 방법은 아크릴 소재의 내부홀에 증류수, NaCl 수용액, 마그네슘 및 PVDF와 같은 이종 재료를 삽입하였으며, 이들 이종 재료의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계가 탄소 계열의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계와 다르기 때문에 직접적으로 국부 밀도를 측정할 수 없는 단점이 있다. 이를 해결하기 위하여 표준밀도시편에서 얻은 증류수와 NaCl 수용액에 대한 선형흡수계수 차이가 탄소/탄소 재료에도 동일하게 적용될 것으로 가정하였으며, 탄소/탄소 재료의 전체 밀도를 측정한 후 증류수와 NaCl 수용액의 선형흡수계수 차이를 이용하여 간접적인 방법으로 국부 밀도를 측정하고 있다. 그러므로, 상기 방법은 국부 밀도를 측정하기 위해서는 각각의 슬라이스의 영상을 보정해야 하는 복잡한 과정이 수반된다.
또한, 상기 방법의 표준밀도시편은 탄소/탄소 재료와 다른 아크릴 소재를 사용하였으므로 선속경화현상을 직접적으로 보정하지 못하기 때문에 원기둥의 탄소/탄소 재료를 이용하여 선속경화현상을 보정하고 확인하고 있는 단점도 있다.
본 발명은 탄소/탄소 재료를 절단 및 절개하는 파괴적인 방법을 사용하지 않으면서도 탄소/탄소 재료의 국부 밀도를 측정할 할 수 있는 문제를 해결하기 위한 것으로, 탄소/탄소 재료의 국부 밀도 분포를 정량적으로 측정할 수 있는 표준밀도시편 제작 및 선형흡수계수를 물리적 밀도 값으로 계산하는 방법을 제공하고자 한다.
상기한 과제를 해결하기 위해, 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법은, 탄소/탄소 재료에 장착할 수 있는 표준밀도시편을 마련하되, 상기 표준밀도시편은 상기 탄소/탄소 재료와 동종의 재료에 의하여 제작한 후 상기 탄소/탄소 재료에 장착시키는 제1단계; 장착된 상기 표준밀도시편과 탄소/탄소 재료에 엑스선을 조사하여 전산화 단층촬영 영상을 취득하고 보정하는 제2단계; 및 상기 전산화 단층촬영 영상의 선형흡수계수를 통하여 물리적 밀도를 계산하는 제3단계를 포함한다. 상기 표준밀도물질 및 선속경화현상 보정물질은 그라파이트와 같은 탄소계열의 물질에 의하여 형성될 수 있다.
상기 표준밀도 시편은, 서로 다른 밀도를 갖는 복수의 표준밀도물질; 및 상기 복수의 표준밀도물질이 서로 이격된 상태로 삽입되도록 대응되는 복수의 내부홀들을 갖는 선속경화현상 보정물질을 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 복수의 표준밀도물질들 중 적어도 두 개는 분해능을 확인할 수 있도록 일정한 최소밀도차를 갖도록 제조할 수 있다.
상기 선속경화현상 보정 물질의 내부홀과 상기 표준밀도물질들의 사이에 공기층을 배제할 수 있도록 진공 그리스를 도포시킬 수 있다. 그리고, 상기 선속경화현상 보정물질의 외형을 상기 탄소/탄소 재료에 삽입될 수 있는 형태로 형성하되, 상기 보정물질의 외표면 상기 탄소/탄소 재료의 홀의 내벽면 사이에 공기층을 배제할 수 있도록 진공 그리스를 도포시킬 수 있다.
상기 제2단계는 상기 표준밀도시편이 장착된 탄소/탄소 재료에 엑스선을 조사하여 상기 표준밀도시편과 탄소/탄소 재료가 동시에 측정되도록 할 수 있다.
상기 2단계는 상기 선속경화현상 보정 물질을 이용하여 전산화 단층촬영 영상의 선속경화현상을 보정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 제3단계는 상기 표준밀도물질들의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 도출한 후, 임의의 위치에서의 상기 탄소/탄소 재료의 선형흡수계수를 상기 표준밀도물질들의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 이용하여 측정할 수 있다.
본 발명은 또한, 전산화 단층촬영에 의하여 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포를 정량적으로 측정하기 위해 상기 탄소/탄소 재료에 삽입되는 표준밀도시편을 제작하는 방법으로서, 상기 제작방법은, 상기 탄소/탄소 재료와 동종의 재료를 사용하여 제작하되, 각기 다른 밀도를 갖도록 복수의 표준밀도물질을 제작하는 단계; 상기 복수의 표준밀도물질이 삽입되기 위한 복수의 내부홀들을 포함하도록 제작하며, 상기 탄소/탄소 재료를 통과하는 엑스선의 선속경화현상을 보정하도록 상기 표준밀도시편이 삽입되어야 할 상기 탄소/탄소 재료의 내부에 형성된 홀을 채울 수 있는 형태로 선속경화 보정물질을 제작하는 단계; 및 상기 복수의 표준밀도물질에 진공그리스를 도포하고 상기 선속경화 보정물질의 내부홀에 공기층이 없도록 상기 표준밀도물질을 장착하는 단계를 포함하여 이루어지는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포측정을 위한 표준밀도시편 제작방법 및 그 방법에 의하여 제작된 표준밀도시편을 제시한다.
상기와 같은 본 발명은 전산화 단층촬영을 이용하여 탄소/탄소 재료의 국부 밀도 분포를 측정하고자 할 때, 비파괴 방법으로 탄소/탄소 재료의 내부에 위치한 국부 밀도 분포를 정확하게 측정할 수 있는 효과가 있다.
본 발명에 의하여 제작된 표준밀도시편은 탄소/탄소 재료와 동종의 재료를 사용하는 것이므로 규명된 선형흡수계수와 밀도의 상관관계는 동종의 재료인 탄소/탄소 재료 내의 임의의 위치의 밀도를 평가하는데 직접적으로 사용될 수 있는 장점이 있다.
본 발명의 일 예에 의하면, 제작된 표준밀도시편은 탄소/탄소 재료와 동시에 전산화 단층촬영을 실시하여 측정되는 것이므로 표준밀도시편으로부터 얻어진 상관 관계와 실제의 탄소/탄소 재료의 밀도 측정이 하나의 촬영에 의하여 이루어지게 되어 측정공정을 획기적으로 개선시킬 수 있으며, 제품의 품질 평가 분야에도 널리 활용될 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 밀도 분포 측정 시스템의 개략적인 구성도이다.
도 2는 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 밀도 분포를 측정하기 위하여 제작된 표준밀도시편을 탄소/탄소 재료에 장착한 상태를 보인 사시도이다.
도 3은 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료와 표준밀도시편 조립체의 전산화 단층촬영 결과 얻어진 영상의 일 예시도이다.
도 4는 본 발명에서 적용되는 탄소/탄소 재료의 전산화 단층촬영에서 발생하는 선속경화현상 보정 방법을 설명하기 위한 일 도표이다.
도 5는 본 발명과 관련된 측정 시스템을 통하여 얻어진 결과를 토대로 표준밀도물질의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 분석하는 방법을 설명하기 위한 일 예시 도표이다.
도 6은 탄소/탄소 재료 내의 다양한 측정 위치에 따른 밀도 분포를 얻는 방법을 설명하기 위한 예시도이다.
도 7은 도 6과 같은 측정 위치에 대응된 탄소/탄소 재료의 밀도 분포를 측정한 결과를 보인 도표이다.
이하, 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법을 첨부한 도면을 참조로 하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 밀도 분포 측정 시스템의 개략적인 구성도이다.
본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 밀도 측정 시스템은, 엑스선을 발생시키는 엑스선 발생장치(radiation source; 11), 엑스선(12), 부채꼴 선속용 납차폐체(fan beam collimator; 13), 슬라이스 두께 조절용 납차폐체(14), 선량 조절용 납차폐체(15), 엑스선 검출기(detector; 16), 회전 이송 기구(working table; 17), 제어 및 영상 처리 장치(18)를 구비한다.
부채꼴 선속용 납차폐체(13)는 엑스선 발생장치(11)의 전면에 배치되어 있으며, 엑스선 발생장치(11)에서 발생된 엑스선(12)이 부채꼴 선속용 납차폐체(13)를 통과함으로써 엑스선의 산란을 최소화하고 전산화 단층촬영에 필요한 부채꼴 엑스선만을 얻을 수 있게 한다.
부채꼴 선속용 납차폐체(13)를 통과한 엑스선은 탄소/탄소 재료(21)와 표준밀도시편(22)를 통과할 수 있게 되어 있다. 탄소/탄소 재료(21)와 표준밀도시편(22)을 통과한 엑스선은 재료가 갖는 선형흡수계수에 따라 에너지의 변화를 수반한다.
탄소/탄소 재료(21)와 표준밀도시편(22)을 통과한 엑스선은 슬라이스 두께 조절용 납차폐체(14)와 선량 조절용 납차폐체(15)를 차례로 통과하여 필요한 부위만으로 크기가 한정된 후 엑스선 검출기(16)에 도달하게 된다.
단층촬영 영상을 획득하기 위해 회전 이송 기구(17)는 촬영 후 횡방향으로 이송 후에 일정 각도로 회전을 하게 되고 다시 촬영을 반복한다. 이렇게 계측된 엑스선 정보는 제어 및 영상 처리 장치(18)에 의하여 단층촬영 영상으로 변환되어 출력된다.
도 2는 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료의 밀도 분포를 측정하기 위하여 제작된 표준밀도시편을 탄소/탄소 재료에 장착한 상태를 보인 사시도이다.
도 2와 같이, 측정하고자 하는 탄소/탄소 재료(21)는 형상에 따라 중심부에 홀(21a)이 형성될 수 있으며(예: 노즐의 목(throat)), 이 홀(21a)에 표준밀도시편(22)이 장착된다. 표준밀도시편(22)은 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 평가하기 위해 제작된 것으로, 복수의 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)과 선속경화현상(beam hardening) 보정 물질(23)을 포함한다.
본 발명에서는 특히, 표준밀도시편(22)은 탄소/탄소 재료(21)와 같이 동종의 재료인 탄소 계열, 예를 들어 그라파이트에 의하여 제작된다. 따라서, 표준밀도시편(22)을 통하여 규명된 선형흡수계수와 밀도의 상관관계는 동종의 재료인 탄소/탄소 재료(21) 내의 특정 위치에 대응하는 측정된 선형흡수계수를 이용하여 밀도 정보를 평가하는데 직접적으로 사용될 수 있다.
표준밀도물질(24, 25, 26, 27)은 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 평가하기 위해 제작되었으며 각각의 표준밀도물질은 밀도값이 서로 다른 탄소계열의 그라파이트와 같은 물질을 사용하여 제작된다. 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)은 가급적 노이즈를 줄일 수 있도록 원봉형으로 제작될 수 있으며, 상관관계를 얻기 위한 최소한의 수인 2개 이상을 배치할 수 있다. 도 2에 의하면, 4개의 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)을 90도 간격으로 배치한 것을 보이고 있다. 이러한 표준밀도물질들 중 두 개(24, 25)는 밀도 분해능을 평가하기 위해 0.01 g/cm3의 밀도 차이를 갖도록 제작될 수 있다.
선속경화현상 보정물질(23)은 연속 엑스선이 매질을 통과할 때 매질의 두께가 증가할수록 엑스선의 평균에너지가 높아짐에 따라 선형흡수계수가 낮아지는 현상을 보정하기 위해 제작된다. 특히, 선속경화현상 보정물질(23)은 밀도가 균일한 탄소 계열, 예를 들어 그라파이트로 제작된다.
선속경화현상 보정물질(23)은 적절한 가공에 의하여 그 외주면은 재료(21)의 홀(21a)에 부합하는 형상으로 형성되어 있으며, 그 내부에는 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)이 삽입되기 위한 내부홀들(24a, 25a, 26a, 27a)이 마련된다.
선속경화현상 보정물질(23) 내의 내부홀들(24a, 25a, 26a, 27a)에 각 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)을 삽입하기 전에 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)의 외표면 또는 내부홀들(24a, 25a, 26a, 27a)의 내벽면에는 진공그리스(28)가 도포될 수 있다. 이러한 진공그리스는 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)의 외표면과 내부홀들(24a, 25a, 26a, 27a)의 내벽면 사이의 틈을 메우므로 공기층이 제거되며, 이로 인하여 전산화 단층촬영 영상의 줄무늬 결점이 생기는 것을 방지한다. 이를 위하여, 가공시 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)의 외표면과 내부홀들(24a, 25a, 26a, 27a)의 내벽면 사이의 틈은 최소화시키는 것이 바람직하다. 진공그리스(28)는 또한, 선속경화현상 보정물질(23)과 표준밀도물질(24, 25, 26, 27) 사이의 마찰력을 감소시켜 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)이 원활하게 선속경화현상 보정물질(23)에 체결될 수 있도록 한다.
표준밀도물질(24, 25, 26, 27)이 선속경화현상 보정물질(23)에 체결되면, 선속경화현상 보정물질(23)의 외주면 또는 재료(21)의 홀(21a)의 내벽면 사이에도 마찬가지로 진공그리스를 발라 전산화 단층촬영 영상의 줄무늬 결점이 생기는 것을 방지하고 원활하게 체결될 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
이와 같이 탄소/탄소 재료(21) 내에 표준밀도시편(22)을 삽입되면, 탄소/탄소 재료(21)는 표준밀도시편(22)와 함께 전산화 단층촬영이 실시된다.
도 3은 본 발명과 관련된 탄소/탄소 재료와 표준밀도시편 조립체의 전산화 단층촬영 결과 얻어진 영상의 일 예시도이다.
즉, 도 3과 같이, 본 발명이 적용되는 탄소/탄소 재료의 전산화 단층촬영 영상은, 탄소/탄소 재료(21)의 영상(31)과 표준밀도시편(22)의 영상(32)이 동시에 촬영된다. 선속경화현상 보정물질(23)의 영상(33)은 엑스선의 선속경화현상을 보정하는데 적용되었다. 밀도가 각각 다른 표준밀도시편(22)의 영상(34, 35, 36, 37)은 전산화 단층촬영 영상에서 서로 다른 선형흡수계수를 나타내고 있으며, 이들은 서로 다른 영상으로 나타나게 된다.
도 4는 본 발명에서 적용되는 탄소/탄소 재료의 전산화 단층촬영에서 발생하는 선속경화현상 보정 방법을 설명하기 위한 일 도표이다.
본 발명이 적용되는 탄소/탄소 재료(21)의 선속경화현상 보정은, 표준밀도시편(22)의 선속경화현상 보정물질(23)을 이용하고 선속경화 보정 계수를 실험적으로 결정하여 전산화 단층촬영 영상을 보정하였으며, 같은 밀도이지만 선속경화현상이 보정되기 전의 선형흡수계수(41)는 재료가 갖는 형상에 의하여 중심부에서 낮았지만 선속경화현상이 보정된 후의 선형흡수계수(42)는 동일한 밀도에서 동일한 선형흡수계수가 측정된 것으로 나오고 있다.
도 5는 본 발명과 관련된 측정 시스템을 통하여 얻어진 결과를 토대로 표준밀도물질의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 분석하는 방법을 설명하기 위한 일 예시 도표이다.
탄소/탄소 재료(21)의 밀도 분포를 측정하기에 앞서, 전산화 단층촬영에서 얻어진 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)의 선형흡수계수를 통하여 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)과 밀도의 상관관계가 분석되어야 한다. 즉, 이미 각각의 밀도를 알고 있는 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)로부터 측정된 선형흡수계수들을 각각 대응시키면 이들의 상관관계가 도출될 수 있다. 구체적으로, 제1표준밀도물질(24)의 제1밀도와 전산화 단층촬영에서 측정된 제1표준밀도물질(24)의 제1선형흡수계수는 도표 상의 제1위치(51)에 대응시키고, 제2표준밀도물질(25)의 제2밀도와 전산화 단층촬영에서 측정된 제2표준밀도물질(25)의 제2선형흡수계수는 도표 상의 제2위치(52)에 대응시킨다. 이와 같은 방법으로 제3표준밀도물질(26)과 제4표준밀도물질(27)을 각각 그래프 상의 제3위치(53)와 제4위치(54)에 대응시켜 기초가 되는 점들을 나열시킨 후 그래프 피팅에 의하여 그들간의 선형관계를 최종적으로 얻는다. 여기서, 밀도 분해능을 평가하기 위해 0.01 g/cm3의 밀도 차를 갖도록 제작된 제1표준밀도물질(24)의 제1위치(51)와 제2표준밀도물질(25)의 제2위치(52)는 도표상에서도 충분히 분리되어 있음을 확인할 수 있다.
이렇게 도 5와 같이 전산화 단층촬영에서 함께 측정한 표준밀도물질(24, 25, 26, 27)의 측정결과와 이를 토대로 얻어진 밀도와 선형흡수계수와의 관계는 탄소/탄소 재료(21)의 밀도 분포를 측정하는데 직접적으로 사용되며, 이러한 측정방법은 용이성과 정확성을 동시에 제공한다.
도 6은 탄소/탄소 재료 내의 다양한 측정 위치에 따른 밀도 분포를 얻는 방법을 설명하기 위한 예시도이다.
본 예에서는 본 발명이 적용되는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포를 측정하기 위한 측정 위치로서, 탄소/탄소 재료(21)의 원주방향으로 홀(21a)의 내벽면에서 5 mm 지점의 위치(61)와, 10 mm 지점의 위치(62), 15 mm 지점의 위치(63)를 정하고 이들 위치에서 측정을 시행한 것을 보이고 있다. 여기서, 탄소/탄소 재료의 국부 밀도는 2×2×1.5 mm를 한 개의 측정 단위로 설정될 수 있다. 하나의 위치에서 얻어진 국부 밀도는 영상 이미지에서 얻은 복셀(Voxel)에 대응되도록 설정될 수 있다.
이와 같은 방법으로 본 발명이 적용되는 탄소/탄소 재료의 측정 위치는 탄소/탄소 재료 내부의 임의의 지점에 대해서도 측정될 수 있으며, 측정의 단위, 즉 사이즈도 임의의 사이즈로 변경 가능하다.
도 7은 도 6과 같은 측정 위치에 대응된 탄소/탄소 재료의 밀도 분포를 측정한 결과를 보인 도표이다.
본 발명이 적용되는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포는, 도 6의 탄소/탄소 재료의 내경에서 5 mm 지점의 측정 위치(61)는 제1밀도 분포(71)와 대응하고, 탄소/탄소 재료의 내경에서 10 mm 지점의 측정 위치(62)는 제2밀도 분포(72)와 대응하며, 탄소/탄소 재료의 내경에서 15 mm 지점의 측정 위치(63)는 제3밀도 분포(73)에 대응한다. 나아가, 거리에 따라 슬라이스01로부터 슬라이스08까지의 밀도 분포가 도출된다.
본 발명이 적용되는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포의 측정 오차는 측정 단위가 2×2×1.5 mm일 때 측정된 밀도가 ± 0.01 g/cm3내에 98.53%의 신뢰도를 갖고 분포하므로 정확하게 국부 밀도 측정를 측정할 수 있는 장점이 있다.
이상에서 설명한 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법은 위에서 설명된 실시예들의 구성과 방법에 한정되지 않는다. 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.

Claims (13)

  1. 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포를 정량적으로 측정하는 방법에 있어서, 상기 측정 방법은,
    상기 탄소/탄소 재료에 장착할 수 있는 표준밀도시편을 마련하되, 상기 표준밀도시편은 상기 탄소/탄소 재료와 동종의 재료에 의하여 제작한 후 상기 탄소/탄소 재료에 장착시키는 제1단계;
    장착된 상기 표준밀도시편과 탄소/탄소 재료에 엑스선을 조사하여 전산화 단층촬영 영상을 취득하고 보정하는 제2단계; 및
    상기 전산화 단층촬영 영상의 선형흡수계수를 통하여 물리적 밀도를 계산하는 제3단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 표준밀도 시편은,
    서로 다른 밀도를 갖는 복수의 표준밀도물질; 및
    상기 복수의 표준밀도물질이 서로 이격된 상태로 삽입되도록 대응되는 복수의 내부홀들을 갖는 선속경화현상 보정물질을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 표준밀도물질 및 선속경화현상 보정물질은 그라파이트와 같은 탄소계열의 물질에 의하여 형성시키는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 복수의 표준밀도물질들 중 적어도 두 개는 분해능을 확인할 수 있도록 일정한 최소밀도차를 갖도록 제조하는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  5. 제2항에 있어서, 상기 제1단계는,
    상기 선속경화현상 보정 물질의 내부홀과 상기 표준밀도물질들의 사이에 공기층을 배제할 수 있도록 진공 그리스를 도포시키는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  6. 제2항에 있어서, 상기 제1단계는,
    상기 선속경화현상 보정물질의 외형을 상기 탄소/탄소 재료에 삽입될 수 있는 형태로 형성하되, 상기 보정물질의 외표면 상기 탄소/탄소 재료의 홀의 내벽면 사이에 공기층을 배제할 수 있도록 진공 그리스를 도포시키는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 제2단계는 상기 표준밀도시편이 장착된 탄소/탄소 재료에 엑스선을 조사하여 상기 표준밀도시편과 탄소/탄소 재료가 동시에 측정되도록 하는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 2단계는, 상기 선속경화현상 보정 물질을 이용하여 전산화 단층촬영 영상의 선속경화현상을 보정하는 단계를 더 포함하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  9. 제2항에 있어서,
    상기 제3단계는 상기 표준밀도물질들의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 도출한 후, 임의의 위치에서의 상기 탄소/탄소 재료의 선형흡수계수를 상기 표준밀도물질들의 선형흡수계수와 밀도의 상관관계를 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법.
  10. 전산화 단층촬영에 의하여 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포를 정량적으로 측정하기 위해, 상기 탄소/탄소 재료에 삽입되는 표준밀도시편을 제작하는 방법에 있어서, 상기 표준밀도시편을 제작하는 방법은,
    상기 탄소/탄소 재료와 동종의 재료를 사용하여 제작하되, 각기 다른 밀도를 갖도록 복수의 표준밀도물질을 제작하는 단계;
    상기 복수의 표준밀도물질이 삽입되기 위한 복수의 내부홀들을 포함하도록 제작하며, 상기 탄소/탄소 재료를 통과하는 엑스선의 선속경화현상을 보정하도록 상기 표준밀도시편이 삽입되어야 할 상기 탄소/탄소 재료의 내부에 형성된 홀을 채울 수 있는 형태로 선속경화 보정물질을 제작하는 단계; 및
    상기 복수의 표준밀도물질에 진공그리스를 도포하고 상기 선속경화 보정물질의 내부홀에 공기층이 없도록 상기 표준밀도물질을 장착하는 단계를 포함하여 이루어지는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포측정을 위한 표준밀도시편 제작방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 표준밀도물질 및 선속경화현상 보정물질은 그라파이트와 같은 탄소계열의 물질에 의하여 형성시키는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포측정을 위한 표준밀도시편 제작방법.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 복수의 표준밀도물질들 중 적어도 두 개는 분해능을 확인할 수 있도록 일정한 최소밀도차를 갖도록 제조하는 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 밀도 분포측정을 위한 표준밀도시편 제작방법.
  13. 전산화 단층촬영에 의하여 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포를 정량적으로 측정하기 위해, 상기 탄소/탄소 재료에 삽입되는 표준밀도시편에 있어서, 상기 표준밀도시편은,
    상기 탄소/탄소 재료와 동종 재료로 구성되며, 각기 다른 밀도를 갖도록 제작된 복수의 표준밀도물질; 및
    상기 복수의 표준밀도물질이 삽입되기 위한 복수의 내부홀들을 포함하며, 상기 탄소/탄소 재료를 통과하는 엑스선의 선속경화현상을 보정하도록 상기 표준밀도시편이 삽입되어야 할 상기 탄소/탄소 재료의 내부에 형성된 홀을 채울 수 있는 형태로 형성되는 선속경화 보정물질을 포함하며,
    상기 복수의 표준밀도물질은 상기 선속경화 보정물질의 내부홀과의 사이에 공기층이 없도록 진공 그리스가 도포된 상태로 상기 선속경화 보정물질의 내부홀에 장착된 것을 특징으로 하는 탄소/탄소 재료의 내부밀도 분포측정을 위한 표준밀도시편.
KR1020100037552A 2010-04-22 2010-04-22 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법 Active KR101180698B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100037552A KR101180698B1 (ko) 2010-04-22 2010-04-22 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법
PCT/KR2010/004513 WO2011132820A1 (en) 2010-04-22 2010-07-12 Method for evaluation of density profile in carbon/carbon material and method for production of standard density test block used therein
US13/583,431 US8989345B2 (en) 2010-04-22 2010-07-12 Method for evaluation of density profile in carbon/carbon material and method for production of standard density test block used therein

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100037552A KR101180698B1 (ko) 2010-04-22 2010-04-22 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110118010A KR20110118010A (ko) 2011-10-28
KR101180698B1 true KR101180698B1 (ko) 2012-09-07

Family

ID=44834329

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100037552A Active KR101180698B1 (ko) 2010-04-22 2010-04-22 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8989345B2 (ko)
KR (1) KR101180698B1 (ko)
WO (1) WO2011132820A1 (ko)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013051594A1 (ja) * 2011-10-04 2013-04-11 株式会社ニコン Ｘ線装置、ｘ線照射方法、及び構造物の製造方法
CN110376223B (zh) * 2013-04-04 2023-03-31 伊利诺斯工具制品有限公司 X射线成像系统及方法及数据存储媒介
CN105452804B (zh) * 2013-05-10 2019-01-15 株式会社尼康 X线装置及构造物的制造方法
EP3060127B1 (en) 2014-01-28 2017-03-15 Koninklijke Philips N.V. Device and method for monitoring bladder volume of a subject
CN105910956B (zh) * 2016-04-15 2019-02-26 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种工业ct分析物体密度及密度分布的方法
CN105973916B (zh) * 2016-04-26 2018-11-20 中国兵器工业集团第五三研究所 复合材料x射线数字成像检测用穿透曲线的制作方法
JP6717784B2 (ja) * 2017-06-30 2020-07-08 アンリツインフィビス株式会社 物品検査装置およびその校正方法
CN109827871B (zh) * 2019-03-11 2021-08-31 中国科学院国家空间科学中心 一种基于x射线吸收的大气密度测量系统
US10914664B1 (en) * 2020-01-29 2021-02-09 Halliburton Energy Services, Inc. Inclined roller oven for dynamic sag evaluation/determination of settling velocity
WO2021210618A1 (ja) * 2020-04-16 2021-10-21 浜松ホトニクス株式会社 放射線画像処理方法、学習済みモデル、放射線画像処理モジュール、放射線画像処理プログラム、及び放射線画像処理システム
US12111148B2 (en) * 2021-05-21 2024-10-08 General Electric Company Component imaging systems, apparatus, and methods
CN113962585B (zh) * 2021-10-29 2024-11-08 中持水务股份有限公司 一种碳源性能测评方法及系统
CN119595038B (zh) * 2025-02-10 2025-04-25 浙江双元科技股份有限公司 一种检测设备的标定方法及装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4228351A (en) * 1979-02-26 1980-10-14 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method for measuring the density of lightweight materials
US4233507A (en) * 1979-05-07 1980-11-11 General Electric Company Computer tomography table containing calibration and correlation samples
US4613754A (en) * 1983-12-29 1986-09-23 Shell Oil Company Tomographic calibration apparatus
US4571491A (en) * 1983-12-29 1986-02-18 Shell Oil Company Method of imaging the atomic number of a sample
US4782502A (en) * 1986-10-01 1988-11-01 Schulz Eloy E Flexible calibration phantom for computer tomography system
US4873707A (en) 1987-09-11 1989-10-10 Brigham & Women's Hospital X-ray tomography phantoms, method and system
JPH03262947A (ja) * 1990-03-14 1991-11-22 Hitachi Ltd コンピュータ断層撮影装置及びその方法並びにコンピュータ断層撮影走査装置
US5247559A (en) * 1991-10-04 1993-09-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Substance quantitative analysis method
US5774520A (en) 1993-09-02 1998-06-30 Bolotin; Herbert Howard Densitometer for determining the density distribution and variation of density of an object
US5673303A (en) 1995-04-19 1997-09-30 Wright State University Method and apparatus for the evaluation of structural width and density by computed tomography
US5949846A (en) 1997-02-03 1999-09-07 Hologic, Inc. Bone densitometry using x-ray imaging systems
DE10305105A1 (de) * 2003-02-07 2004-08-26 Siemens Ag Eichung der Transformation spektraler Röntgenschwächungswerte in Dichte- und Ordnungszahlinformation
US7023951B2 (en) 2003-12-09 2006-04-04 General Electric Company Method and apparatus for reduction of artifacts in computed tomography images
KR101179540B1 (ko) * 2010-05-13 2012-09-04 국방과학연구소 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법
US20130089186A1 (en) * 2011-10-05 2013-04-11 General Electric Company X-ray calibration device

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011132820A1 (en) 2011-10-27
US20130003917A1 (en) 2013-01-03
US8989345B2 (en) 2015-03-24
KR20110118010A (ko) 2011-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101180698B1 (ko) 탄소/탄소 재료의 내부 밀도 분포 측정 방법 및 그의 표준밀도시편 제작방법
US7430282B2 (en) Heel effect compensation filter X-ray irradiator, X-ray CT scanner and method for X-ray CT imaging
US7881424B2 (en) Method for calibrating dual-energy CT system and method of image reconstruction
US11009470B2 (en) X-ray apparatus, data processing apparatus and data processing method
US9888902B2 (en) X-ray CT device, calcuration device, recording medium for X-ray CT device, and maintenance method for X-ray CT device
JP5508598B2 (ja) エックス線断層撮影を用いて材料内部の密度を分析する方法
KR20200004392A (ko) 광자 계수형의 x선 검출 데이터를 처리하는 방법 및 장치, 및 x선 장치
EA035017B1 (ru) Способ определения геометрических параметров и/или состояния материала исследуемого объекта посредством радиографии
CN1324312C (zh) 为计算机断层造影设备的探测器信道确定校正系数的方法
EP2679989A2 (en) X-ray CT system for measuring three dimensional shapes and measuring method of three dimensional shapes by X-ray CT system
CN110720940A (zh) 一种模体及其在ct检测系统中的应用
KR101425530B1 (ko) X-선 단층 촬영을 이용한 물질 분별 알고리즘 교정 장치
KR101865434B1 (ko) 조사될 대상물에 있는 구조의 위치를 x-선 컴퓨터 단층 촬영기로 결정하는 방법 및 평가 장치
US20160245761A1 (en) Method of determination of physical parameters of an object imaged using computer tomograph and equipment for implementation of said method
CN102670231B (zh) 确定检查对象与焦点的距离的方法和计算机断层造影设备
JP4062232B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線ｃｔ装置による撮像方法
Seoung Evaluation of usefulness for quality control phantom of computed tomography produced by using fused deposition modeling 3D printing technology
WO2016190218A1 (ja) 測定方法および放射線撮影装置
Tran et al. Monte Carlo simulation of a cone-beam CT system for lightweight casts
US11372117B2 (en) Device for estimating the half-value layer or the quarter-value layer of rotating x-ray sources used in computed tomography
JP2009154021A (ja) Ｘ線ｃｔ装置とその画像表示方法
Isokivi Spatial Resolution Analysis of Laboratory-Based X-ray Imaging System: Evaluation using pinhole and edge method
JP2007279071A (ja) Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線ｃｔ装置による撮像方法
Hammersberg Computerised tomography performance
PL229533B1 (pl) Sposób mapowania rozkładu parametrów fizycznych wzornika stosowanego w badaniach z wykorzystaniem fal elektromagnetycznych

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20100422

PA0201 Request for examination
PG1501 Laying open of application
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20120215

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20120822

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20120903

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20120904

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20150901

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20160901

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20170901

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20180903

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20190903

Start annual number: 8

End annual number: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20200902

Start annual number: 9

End annual number: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20210902

Start annual number: 10

End annual number: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20220902

Start annual number: 11

End annual number: 11

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20240902

Start annual number: 13

End annual number: 13