KR101157081B1 - 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 - Google Patents
조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101157081B1 KR101157081B1 KR1020100039263A KR20100039263A KR101157081B1 KR 101157081 B1 KR101157081 B1 KR 101157081B1 KR 1020100039263 A KR1020100039263 A KR 1020100039263A KR 20100039263 A KR20100039263 A KR 20100039263A KR 101157081 B1 KR101157081 B1 KR 101157081B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- light
- light source
- stage
- camera
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 160
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 59
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000009021 linear effect Effects 0.000 claims description 19
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 11
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
Abstract
본 발명의 특징은 조명장치에 확산필터판과 플라이아이렌즈를 더욱 구비하는 것으로, 이를 통해 작업자가 검사하고자 하는 목적에 따라 기판에 이르는 빛의 조도를 조절할 수 있으며, 특히, 오프(off) 상태에서 광손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
또한, 플라이아이렌즈를 통해 보다 균일하고 공간적으로 보다 넓은 범위의 조명광을 모아 프레넬렌즈로 수속되도록 함으로써, 기판에 조영되는 광이 중심부나 중심부로부터 멀어져도 균일한 조도의 광이 조영되도록 할 수 있다.
또한, 카메라부를 기판 스테이지부와 일체형으로 형성함으로써, 기판의 검사공정의 효율성을 향상시킬 수 있으며, 기판의 특정 지점을 카메라를 통해 보다 정밀하게 검사할 수 있다.
Description
도 2는 본 발명의 실시예에 기판 검사 장치의 조명장치를 개략적으로 도시한 설명도.
도 3a ~ 3b는 플라이아이렌즈를 통과하기 전, 후의 조도 분포를 나타낸 그래프.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치를 개략적으로 도시한 사시도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 기판검사장치의 주요부 사시도.
111 : 광원, 113 : 반사거울
115 : 프레넬렌즈, 117 : 확산필터판, 119 : 플라이아이렌즈
200 : 밀폐공간, 210 :베이스프레임, 220 : 기판 스테이지부
221 : 제 1 지지대, 223 : 제 2 지지대, 225 : 스테이지, 225a : 가이드부
230 : 촬영기구부, 235 : 표시장치,
250 : 카메라부, 250a : 카메라지지부
251 : 카메라, 253 : 제 1 리니어, 255 : 제 2 리니어, 255a : 가이드부
Claims (8)
- 광원과, 상기 광원의 일측에 상기 광원과 이격되게 설치되며 상기 광원으로부터 조사된 광을 하측방향으로 반사시키는 반사거울과, 상기 반사거울에 의해 반사된 광을 스테이지에 안착된 기판으로 집광하는 프레넬렌즈로 구성된 기판 검사 장치의 조명장치에 있어서,
상기 광원의 일측에 위치하여, 상기 광원으로부터 조사된 광을 산란시키는 확산필터판과
상기 광원의 일측에 위치하여, 상기 광원으로부터 조사된 광을 확산 및 산란시켜, 보다 균일하고 공간적으로 보다 넓은 범위의 광을 상기 프레넬렌즈로 수속시키는 플라이아이렌즈를 포함하는
기판 검사 장치의 조명장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 확산필터판은 상기 조명장치에 있어서, 착탈이 가능하며, 상기 광을 산란시키지 않을 경우에는 탈착시키는 기판 검사 장치의 조명장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 확산필터판은 상기 프레넬렌즈보다 상기 광원 측에 위치하는 기판 검사 장치의 조명장치.
- 베이스프레임과
상기 베이스프레임 상에서 전후 슬라이딩 이동가능한 지지대와, 상기 지지대를 기준으로 선회(旋回) 가능하며 기판이 놓여지는 스테이지로 이루어진 기판 스테이지부와
상기 스테이지로 빛을 조사하며, 광원과, 상기 광원의 일측에 상기 광원과 이격되게 설치되며 상기 광원으로부터 조사된 광을 하측방향으로 반사시키는 반사거울과, 상기 반사거울에 의해 반사된 광을 스테이지에 안착된 기판으로 집광하는 프레넬렌즈로 구성된 기판 검사 장치의 조명장치에 있어서, 상기 광원의 일측에 위치하여, 전압제어에 의해 상기 광원으로부터 조사된 광을 산란시키는 확산필터판과 상기 광원의 일측에 위치하여, 상기 광원으로부터 조사된 광을 확산 및 산란시켜, 보다 균일하고 공간적으로 보다 넓은 범위의 광을 상기 프레넬렌즈로 수속시키는 플라이아이렌즈를 포함하는 조명장치와
상기 기판 스테이지부와 일체로 장착되어, 상기 기판을 촬영하여 전송하는 카메라
를 포함하는 기판 검사 장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 카메라를 통해 촬상되는 상기 기판의 불량가능부위를 디스플레이하는 표시장치가 마련되는 것을 특징으로 하는 기판 검사 장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 카메라는 상기 스테이지의 양측에 각각 구비되는 한쌍의 제 1 리니어와 상기 제 1 리니어에 수직한 제 2 리니어로 이루어지는 카메라지지부를 통해 지지되는 기판 검사 장치.
- 제 6 항에 있어서,
상기 한쌍의 제 1 리니어는 상기 스테이지의 가이드부에 연결되어, 상기 스테이지의 양측 가장자리를 따라 이동 가능한 기판 검사 장치.
- 제 6 항에 있어서,
상기 제 2 리니어에는 가이드부가 형성되어, 상기 카메라는 상기 가이드부의 길이방향을 따라 슬라이딩 이동하는 기판 검사 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100039263A KR101157081B1 (ko) | 2010-04-28 | 2010-04-28 | 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100039263A KR101157081B1 (ko) | 2010-04-28 | 2010-04-28 | 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110119869A KR20110119869A (ko) | 2011-11-03 |
KR101157081B1 true KR101157081B1 (ko) | 2012-07-03 |
Family
ID=45391173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100039263A KR101157081B1 (ko) | 2010-04-28 | 2010-04-28 | 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101157081B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101594909B1 (ko) * | 2014-07-23 | 2016-02-17 | 주식회사 다이프로 | 평판 유리 검사용 조명 장치 |
JP6617050B2 (ja) * | 2016-02-22 | 2019-12-04 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板撮像装置 |
JP2019066706A (ja) * | 2017-10-02 | 2019-04-25 | ソニー株式会社 | 蛍光顕微鏡装置及び蛍光顕微鏡システム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100793182B1 (ko) | 2006-02-07 | 2008-01-10 | 주식회사 한택 | 라인센서 카메라를 이용한 반도체 기판의 결함검출장치 및방법 |
-
2010
- 2010-04-28 KR KR1020100039263A patent/KR101157081B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100793182B1 (ko) | 2006-02-07 | 2008-01-10 | 주식회사 한택 | 라인센서 카메라를 이용한 반도체 기판의 결함검출장치 및방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110119869A (ko) | 2011-11-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI442016B (zh) | A light source for illumination and a pattern inspection device using it | |
JP3385432B2 (ja) | 検査装置 | |
JPH0727709A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JP2010112786A (ja) | 照明装置及びそれを有する外観検査装置 | |
TW201447422A (zh) | 液晶面板檢查裝置 | |
JP2008519257A (ja) | 板ガラスの表面及び内部の欠陥を識別するための検査装置及び方法 | |
JP2007078581A (ja) | 外観検査用照明装置 | |
KR101157081B1 (ko) | 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 | |
TW201939021A (zh) | 光學系統,照明模組及自動光學檢測系統 | |
JP2017166903A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
KR20110125906A (ko) | 레티클 검사장치 | |
JP2021503079A (ja) | ガラスシートの表面欠陥の検出方法および装置 | |
CN101076720B (zh) | 检查背光单元的装置 | |
KR19980080031A (ko) | 투명물체 검사방법, 이에 사용되는 장치 및 검사시스템 | |
TWI314642B (en) | Illuminating apparatus for substrate inspection | |
JP6381865B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
KR101153246B1 (ko) | 기판검사방법 | |
JP3625953B2 (ja) | 外観検査用投光装置 | |
KR20080019395A (ko) | 평판디스플레이용 이물검사장치 | |
JP3095856B2 (ja) | 外観検査用投光装置 | |
JP2009085883A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP2000333047A (ja) | 光学的撮像装置および光学的撮像方法 | |
JP3231582B2 (ja) | 光学部材検査装置 | |
JP2009092481A (ja) | 外観検査用照明装置及び外観検査装置 | |
JPH05232040A (ja) | 外観検査用投光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20100428 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20110817 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20120309 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20120611 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20120612 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20160509 |