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KR101021416B1 - Light emitting diodes having wavelength conversion pillars and a manufacturing method thereof - Google Patents

Light emitting diodes having wavelength conversion pillars and a manufacturing method thereof Download PDF

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KR101021416B1 KR1020090071181A KR20090071181A KR101021416B1 KR 101021416 B1 KR101021416 B1 KR 101021416B1 KR 1020090071181 A KR1020090071181 A KR 1020090071181A KR 20090071181 A KR20090071181 A KR 20090071181A KR 101021416 B1 KR101021416 B1 KR 101021416B1
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김영우
김상묵
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Abstract

발광다이오드 및 발광다이오드 제조방법을 제공한다. 상기 발광다이오드는 기판의 상부면 상에 배치된 제1형 반도체층 및 상기 제1형 반도체층의 상부면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 제2형 반도체층을 구비하는 발광구조체, 상기 제1형 반도체층 및 제2형 반도체층 상부면 상에 배치된 각각의 제1형 전극 및 제2형 전극, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극을 제외한 상기 기판 상에 배치되되 상기 제2형 반도체층의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지고, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극의 상부면을 노출시키는 투광성보호층, 및 상기 투광성보호층 및 상기 기판의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀 내에 각각 배치된 파장변환기둥들을 포함한다. Provided are a light emitting diode and a light emitting diode manufacturing method. The light emitting diode is disposed on an upper surface of the first type semiconductor layer and a first type semiconductor layer disposed on the upper surface of the substrate, and exposes at least a portion of the upper surface of the first type semiconductor layer. A light emitting structure having a layer, except for the first type electrode and the second type electrode, the first type electrode and the second type electrode, respectively disposed on upper surfaces of the first type semiconductor layer and the second type semiconductor layer. A transmissive protective layer disposed on a substrate and having an upper surface at a level higher than an upper surface level of the second type semiconductor layer, and exposing upper surfaces of the first type electrode and the second type electrode, and the transparent protective layer; Wavelength conversion pillars are disposed in each of the plurality of through holes penetrating the edge of the substrate.

발광다이오드, 웨이퍼 레벨 발광다이오드, 파장변환기둥 Light Emitting Diodes, Wafer Level Light Emitting Diodes, Wavelength Conversion Columns

Description

파장변환기둥들을 구비하는 발광다이오드 및 이의 제조방법{Light emitting diode having wavelength conversion piles and method for fabricating the same}Light emitting diodes having wavelength conversion pillars and a method for manufacturing the same

본 발명은 발광다이오드에 관한 것으로, 보다 상세하게는 파장변환기둥들을구비하는 발광다이오드 및 이의 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a light emitting diode, and more particularly, to a light emitting diode having a wavelength conversion pillar and a manufacturing method thereof.

발광다이오드(Light Emitting Diode; LED)는 전류를 빛으로 변환시키는 반도체 소자로서, 디스플레이 소자의 광원으로 주로 이용되고 있다. 이러한 발광다이오드는 기존의 광원에 비해 극소형이며, 소비전력이 적고, 수명이 길며, 반응속도가 빠른 등 매우 우수한 특성을 나타낸다. 이와 더불어서, 자외선과 같은 유해 전자기파를 방출하지 않으며, 수은 및 기타 방전용 가스를 사용하지 않으므로 환경 친화적이다.A light emitting diode (LED) is a semiconductor device that converts current into light and is mainly used as a light source of a display device. These light emitting diodes are very small compared to the conventional light sources, have very low power consumption, long lifespan, and fast reaction speed. In addition, it does not emit harmful electromagnetic waves such as ultraviolet rays, and is environmentally friendly since it does not use mercury and other discharge gases.

이러한 발광다이오드는 파장변환물질을 이용하여 발광다이오드 칩으로부터 방출되는 광의 파장을 다양하게 변환시킨다. 이러한 파장변환물질을 이용하여 상기 발광다이오드 칩의 광을 변화시키기 위해서는 파장변환물질을 발광다이오드 칩의 광방출면 전체에 형성해야 한다. Such a light emitting diode converts the wavelength of light emitted from the light emitting diode chip using a wavelength conversion material. In order to change the light of the LED chip using the wavelength conversion material, the wavelength conversion material should be formed on the entire light emitting surface of the LED chip.

이를 위해, 종래에는 다이싱을 통해 개별화된 발광다이오드 칩을 제조하고, 각각의 발광다이오드 칩의 상부면 및 측면부를 포함하는 방출면 상에 파장변환물질을 배치시켰다. To this end, conventionally, individualized light emitting diode chips were manufactured by dicing, and wavelength converting materials were disposed on emission surfaces including upper and side surfaces of each light emitting diode chip.

그러나, 이와 같은 방법으로 발광다이오드의 광방출면 상에 파장변환물질을 형성시키는 경우, 제조시간 및 제조비용의 증가와 더불어 파장변환이 균일하지 못한 문제점이 발생될 수 있다. However, when the wavelength conversion material is formed on the light emitting surface of the light emitting diode in this manner, the wavelength conversion may not be uniform along with an increase in manufacturing time and manufacturing cost.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 팹공정 내에서 파장변환물질을 형성시킬 수 있어, 색온도, 연색성 등의 광특성 품질 관리가 용이하고, 지향각별 파장변환 균일성이 향상되며, 대량 생산이 용이한 파장변환물질을 함유하는 발광다이오드 및 이의 제조방법을 제공함에 있다.The technical problem to be solved by the present invention is to form a wavelength conversion material in the fab process, it is easy to control the quality of optical properties such as color temperature, color rendering, etc., the wavelength conversion uniformity for each orientation is improved, mass production is easy A light emitting diode containing a wavelength conversion material and a method of manufacturing the same are provided.

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Technical problems of the present invention are not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명의 일 측면은 발광다이오드를 제공한다. 상기 발광다이오드는 기판의 상부면 상에 배치된 제1형 반도체층 및 상기 제1형 반도체층의 상부면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 제2형 반도체층을 구비하는 발광구조체, 상기 제1형 반도체층 및 제2형 반도체층 상부면 상에 배치된 각각의 제1형 전극 및 제2형 전극, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극을 제외한 상기 기판 상에 배치되되 상기 제2형 반도체층의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지고, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극의 상부면을 노출시키는 투광성보호층, 및 상기 투광성보호층 및 상기 기판의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀 내에 각각 배치된 파장변환기둥들을 포함한다. In order to achieve the above technical problem, an aspect of the present invention provides a light emitting diode. The light emitting diode is disposed on an upper surface of the first type semiconductor layer and a first type semiconductor layer disposed on the upper surface of the substrate, and exposes at least a portion of the upper surface of the first type semiconductor layer. A light emitting structure having a layer, except for the first type electrode and the second type electrode, the first type electrode and the second type electrode, respectively disposed on upper surfaces of the first type semiconductor layer and the second type semiconductor layer. A transmissive protective layer disposed on a substrate and having an upper surface at a level higher than an upper surface level of the second type semiconductor layer, and exposing upper surfaces of the first type electrode and the second type electrode, and the transparent protective layer; Wavelength conversion pillars are disposed in each of the plurality of through holes penetrating the edge of the substrate.

상기 파장변환기둥들은 상기 기판의 가장자리부 방향으로 다수개의 열 형태 로 배치될 수 있으며, 이때, 상기 파장변환기둥들은 각각의 파장변환기둥들이 교호로 배치될 수 있다. The wavelength conversion pillars may be arranged in the form of a plurality of columns in the direction of the edge of the substrate, wherein the wavelength conversion pillars may be alternately arranged each wavelength conversion pillar.

상기 발광다이오드는 상기 기판의 하부면 상에 배치된 파장변환물질막을 더 포함할 수 있다. 상기 기판은 하부면 표면에 다수 개의 홈들을 구비하되, 상기 파장변환물질막은 상기 홈들 내에 배치될 수 있다. 상기 투광성보호층은 파장변환물질을 함유하고 상기 발광다이오드는 상기 기판의 하부면 상에 배치된 반사층을 더 포함할 수 있다. The light emitting diode may further include a wavelength conversion material film disposed on a lower surface of the substrate. The substrate may include a plurality of grooves on a bottom surface thereof, and the wavelength conversion material layer may be disposed in the grooves. The light transmissive protective layer may include a wavelength conversion material and the light emitting diode may further include a reflective layer disposed on a lower surface of the substrate.

상기 발광구조체는 청색광 또는 자외선광을 방출하는 소자이고, 상기 파장변환기둥은 황색변환물질, 적색변환물질, 녹색변환물질 및 청색변환물질로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나의 물질을 함유할 수 있다. The light emitting structure is a device that emits blue light or ultraviolet light, and the wavelength conversion column may contain at least one material selected from the group consisting of a yellow conversion material, a red conversion material, a green conversion material, and a blue conversion material.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명의 다른 측면은 발광다이오드 제조방법을 제공한다. 상기 발광다이오드 제조방법은 기판의 상부면 상에 배치된 제1형 반도체층 및 상기 제1형 반도체층의 상부면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 제2형 반도체층을 구비하는 발광구조체를 제공하는 단계, 상기 제1형 반도체층 및 제2형 반도체층 상부면 상에 각각 제1형 전극 및 제2형 전극을 형성하는 단계, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극을 제외한 상기 기판 상에 상기 제2형 반도체층의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지고, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극의 상부면을 노출시키는 투광성보호층을 형성하는 단계, 상기 투광성보호층 및 상기 기판의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀을 형성하는 단계, 및 상기 관통홀 내에 각각 파장변환물질을 인입시켜 파장변 환기둥들을 형성하는 단계를 포함한다. Another aspect of the present invention provides a light emitting diode manufacturing method for achieving the above technical problem. The light emitting diode manufacturing method includes a first type semiconductor layer disposed on an upper surface of a substrate and a second layer disposed on an upper surface of the first type semiconductor layer and exposing at least a portion of an upper surface of the first type semiconductor layer. Providing a light emitting structure having a type semiconductor layer, forming a first type electrode and a second type electrode on top surfaces of the first type semiconductor layer and the second type semiconductor layer, the first type electrode and Forming a transmissive protective layer on the substrate other than the second type electrode, the upper surface having a level higher than that of the second type semiconductor layer and exposing the top surfaces of the first type electrode and the second type electrode; Forming a plurality of through holes penetrating through the transmissive protective layer and the edge of the substrate; and inserting wavelength converting materials into the through holes, respectively, to form wavelength converting columns. .

상기 파장변환물질은 광, 열 또는 고주파에 의해 경화가 일어나는 경화물질을 더 함유하고, 상기 발광다이오드 제조방법은 상기 관통홀 내에 상기 파장변환물질을 인입시킨 후에, 상기 파장변환물질을 광, 열 또는 고주파에 노출시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 광은 광을 발생하는 기구로부터 가해진 광이거나, 상기 발광구조체로부터 발생되는 광일 수 있다. 상기 관통홀들은 레이저 드릴, 습식식각 또는 건식식각을 사용하여 형성할 수 있다. The wavelength converting material further contains a cured material in which curing occurs by light, heat, or high frequency. The light emitting diode manufacturing method includes introducing the wavelength converting material into the through hole, and then converting the wavelength converting material into light, heat, or the like. The method may further include exposing to high frequency. The light may be light applied from a mechanism for generating light or light generated from the light emitting structure. The through holes may be formed using a laser drill, wet etching, or dry etching.

상기 발광다이오드 제조방법은 상기 기판의 하부면 상에 파장변환막을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 발광다이오드 제조방법은 상기 기판의 하부면 상에 반사층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다. The light emitting diode manufacturing method may further include forming a wavelength conversion film on a lower surface of the substrate. The light emitting diode manufacturing method may further include forming a reflective layer on a lower surface of the substrate.

상술한 바와 같이 제조된 발광다이오드는 팹 공정 내에서 발광구조체의 상부면, 하부면 및 양 측면부에 파장변환물질을 형성시킬 수 있으므로, 백색 발광다이오드와 같은 파장변환물질을 통한 발광다이오드의 전체 제조시간이 절감되고, 색온도, 연색성 등의 광특성 품질 관리가 용이하고, 지향각별 파장변환 균일성이 향상되며, 대량생산이 용이해질 수 있다. The light emitting diode manufactured as described above may form the wavelength conversion material on the upper surface, the lower surface, and both side surfaces of the light emitting structure in the fab process, and thus, the overall manufacturing time of the light emitting diode through the wavelength conversion material such as a white light emitting diode. It is possible to reduce the quality, easy management of optical characteristics such as color temperature, color rendering, etc., improve uniformity of wavelength conversion for each direction, and facilitate mass production.

이에 더하여, 상기 기판을 패키지의 뼈대인 프레임으로 이용하고, 기판 혹은 웨이퍼 상태에서 모든 공정을 진행할 수 있으므로 웨이퍼 레벨 발광다이오드 패키지를 구현할 수 있다. 이에 따라, 제조비용 절감을 꾀할 수 있다.In addition, since the substrate is used as a frame, which is a skeleton of the package, and all processes can be performed in a substrate or wafer state, a wafer level LED package can be implemented. As a result, manufacturing cost can be reduced.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예들을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되는 실시 예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시 예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다. 도면들에 있어서, 층 및 영역들의 두께는 명확성을 기하기 위하여 과장된 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided so that the disclosure may be made thorough and complete, and to fully convey the spirit of the present invention to those skilled in the art. In the drawings, the thicknesses of layers and regions are exaggerated for clarity. Like numbers refer to like elements throughout.

도 1a 내지 도 1f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광다이오드의 제조방법을 나타내는 단면도들이고, 도 2는 도 1f의 상부면을 도시한 평면도이다. 상기 도 1f에 도시된 발광다이오드의 단면은 도 2의 절단선 A-A를 따라 취해진 단면에 대응한다. 이하에서는 발광 소자의 단위 셀에 한정되어 도시한다. 1A to 1F are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a light emitting diode according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view illustrating the top surface of FIG. 1F. The cross section of the light emitting diode shown in FIG. 1F corresponds to the cross section taken along cut line A-A of FIG. 2. Hereinafter, only the unit cell of the light emitting element is shown.

도 1a를 참조하면, 상기 기판(10) 상에 제1형 반도체층(12)을 형성한다. 상기 기판(10)은 투광성 재질의 기판일 수 있다. 상기 기판(10)은 Al2O3(사파이어), SiC, GaAs, InP, AlN 또는 GaN 기판일 수 있다. 바람직하게는 상기 기판(10)은 Al2O3 기판일 수 있다. 상기 기판(10)은 단일 소자가 형성되는 단위 기판 또는 다수개의 소자들이 형성되는 웨이퍼를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1A, a first type semiconductor layer 12 is formed on the substrate 10. The substrate 10 may be a substrate made of a light transmissive material. The substrate 10 may be an Al 2 O 3 (sapphire), SiC, GaAs, InP, AlN or GaN substrate. Preferably, the substrate 10 may be an Al 2 O 3 substrate. The substrate 10 may include a unit substrate on which a single device is formed or a wafer on which a plurality of devices are formed.

상기 제1형 반도체층(12)은 제1형 불순물 예를 들어, n형 불순물이 주입된 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체층 또는 Ⅱ-Ⅵ족 화합물 반도체층일 수 있다. 구체적으로, 상기 제1형 반도체층(12)은 GaN층, GaAs층 또는 InGaAs층일 수 있다. The first type semiconductor layer 12 may be a group III-V compound semiconductor layer or a group II-VI compound semiconductor layer implanted with a first type impurity, for example, an n-type impurity. In detail, the first type semiconductor layer 12 may be a GaN layer, a GaAs layer, or an InGaAs layer.

상기 기판(10)과 제1형 반도체층(12) 사이에는 상기 기판(10)과 제1형 반도체층(12) 간의 격자결함을 감소시키기 위한 버퍼층(미도시)이 더 배치될 수 있다. 상기 버퍼층은 AlN층, InP층 또는 GaN층일 수 있다. A buffer layer (not shown) may be further disposed between the substrate 10 and the first type semiconductor layer 12 to reduce lattice defects between the substrate 10 and the first type semiconductor layer 12. The buffer layer may be an AlN layer, an InP layer, or a GaN layer.

상기 제1형 반도체층(12) 상에 활성층(14)을 형성할 수 있다. 상기 활성층(14)은 양자점 구조 또는 다중양자우물 구조(Multi Quantum Well Structure)를 가질 수 있다. An active layer 14 may be formed on the first semiconductor layer 12. The active layer 14 may have a quantum dot structure or a multi quantum well structure.

상기 활성층(14) 상에 제2형 반도체층(16)을 형성하여 발광구조체(S)를 형성할 수 있다. 상기 제2형 반도체층(16)은 제2형 불순물 즉, p형 불순물이 주입된 Ⅲ-Ⅴ화합물 반도체층 또는 Ⅱ-Ⅵ 화합물 반도체층일 수 있다. 구체적으로, 상기 제2형 반도체층(16)은 GaN층, GaAs층 또는 InGaAs층일 수 있다.The light emitting structure S may be formed by forming the second type semiconductor layer 16 on the active layer 14. The second type semiconductor layer 16 may be a III-V compound semiconductor layer or a II-VI compound semiconductor layer implanted with a second type impurity, that is, a p-type impurity. In detail, the second type semiconductor layer 16 may be a GaN layer, a GaAs layer, or an InGaAs layer.

상기 제1형 반도체층(12), 상기 활성층(14) 및 상기 제2형 반도체층(16)은 MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition) 기술 또는 MBE(Molecular Beam Epitaxy) 기술을 사용하여 형성할 수 있다.The first type semiconductor layer 12, the active layer 14, and the second type semiconductor layer 16 may be formed using a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) technique or a molecular beam epitaxy (MBE) technique. .

도 1b를 참조하면, 상기 제2형 반도체층(16), 상기 활성층(14), 제1형 반도체층(12)을 메사식각하여 상기 기판(10)의 상부면의 가장자리부를 노출시키고, 상기 제2형 반도체층(16) 및 상기 활성층(14)의 일부를 식각하여, 상기 제1형 반도체층(12)의 상부면의 적어도 일부를 노출시킨다. 이때, 상기 제1형 반도체층(12)의 상부면 일부 또한 식각될 수 있다. Referring to FIG. 1B, the second type semiconductor layer 16, the active layer 14, and the first type semiconductor layer 12 are mesa-etched to expose edge portions of the upper surface of the substrate 10. A portion of the second type semiconductor layer 16 and the active layer 14 are etched to expose at least a portion of the upper surface of the first type semiconductor layer 12. In this case, a portion of the upper surface of the first type semiconductor layer 12 may also be etched.

이에 따라, 상기 발광구조체(S)는 기판(10)의 상부면 상에 배치된 제1형 반 도체층(12) 및 상기 제1형 반도체층(12)의 상부면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층(12)의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 활성층(14) 및 제2형 반도체층(16)을 구비할 수 있다. 상기와 같이 제조된 발광구조체(S)는 청색광 또는 자외선광을 방출하는 소자일 수 있다. Accordingly, the light emitting structure S is disposed on the first type semiconductor layer 12 and the top surface of the first type semiconductor layer 12 disposed on the top surface of the substrate 10, but the first type semiconductor layer 12 is disposed on the first surface of the substrate 10. The active layer 14 and the second type semiconductor layer 16 exposing at least a portion of the upper surface of the type semiconductor layer 12 may be provided. The light emitting structure S manufactured as described above may be a device emitting blue light or ultraviolet light.

도 1c를 참조하면, 상기 제1형 반도체층(12) 및 제2형 반도체층(16) 상부면 상에 각각 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)을 형성한다. 이때, 상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(26)의 상부면 레벨은 서로 동일하게 형성될 수 있다.Referring to FIG. 1C, a first type electrode 22 and a second type electrode 24 are formed on upper surfaces of the first type semiconductor layer 12 and the second type semiconductor layer 16, respectively. In this case, upper surface levels of the first type electrode 22 and the second type electrode 26 may be formed to be the same.

또한, 상기 제1형 반도체층(12)과 제 1형 전극(22) 사이 및 제2형 반도체층(16) 상부면과 제 2형 전극(24) 사이에는 각각 투명도전막(미도시)을 더 포함할 수 있다. 상기 투명도전막은 ITO, IZO 또는 AZO를 함유할 수 있다. In addition, a transparent conductive film (not shown) is further added between the first type semiconductor layer 12 and the first type electrode 22, and between the top surface of the second type semiconductor layer 16 and the second type electrode 24, respectively. It may include. The transparent conductive film may contain ITO, IZO or AZO.

상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(26)은 Cr, Ni 또는 Ti 중 어느 하나와, Au, Al, Cu, Mo, W, Ag, Sn 또는 Pd 중 어느 하나의 혼합층으로 구성될 수 있다. 또한, 상기 전극들(22, 24)의 표면에는 솔더에 잘 젖는 전기전도성 물질층(미도시)이 더 형성될 수 있다. 상기 전기전도성 물질층은 SnBi, PbSn, SnAgCu, SnAgCuBi, AuSn, Sn 또는 In일 수 있다.The first type electrode 22 and the second type electrode 26 may be formed of any one of Cr, Ni, or Ti, and a mixed layer of any one of Au, Al, Cu, Mo, W, Ag, Sn, or Pd. Can be. In addition, a surface of the electrodes 22 and 24 may further include a conductive material layer (not shown) that is well wetted with solder. The electrically conductive material layer may be SnBi, PbSn, SnAgCu, SnAgCuBi, AuSn, Sn, or In.

상기 제1형 전극(22), 제2형 전극(26), 전기전도성물질층(미도시) 및 투명도전막(미도시)은 스퍼터링, 전자빔증착법, 열증착법, 펄스레이저증착법 또는 레이저분자빔증착법을 사용하여 형성할 수 있다. The first type electrode 22, the second type electrode 26, the conductive layer (not shown), and the transparent conductive film (not shown) may be sputtered, electron beam deposition, thermal deposition, pulse laser deposition, or laser molecular beam deposition. Can be used.

도 1d를 참조하면, 상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)을 제외한 상기 기판(10) 상에 상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)의 상부면을 노출시키는 투 광성보호층(26)을 형성한다. 이때, 상기 투광성보호층(26)은 상기 활성층(14)의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지도록 형성할 수 있다. Referring to FIG. 1D, an upper surface of the first type electrode 22 and the second type electrode 24 on the substrate 10 except for the first type electrode 22 and the second type electrode 24. A transmissive protective layer 26 is formed to expose the film. In this case, the transparent protective layer 26 may be formed to have an upper surface of a level higher than the upper surface level of the active layer 14.

상기 투광성보호층(26)은 상기 발광구조체(S)를 보호하는 역할을 할 수 있을 뿐만 아니라 지지체로서의 역할을 할 수 있다. 또한, 상기 투광성보호층(26)은 절연 물질을 함유하여, 상기 제1형 반도체층(12) 및 제2형 반도체층(16) 간을 전기적으로 절연시킬 수 있다. The transparent protective layer 26 may not only serve to protect the light emitting structure S, but also serve as a support. In addition, the transparent protective layer 26 may contain an insulating material to electrically insulate the first type semiconductor layer 12 and the second type semiconductor layer 16 from each other.

상기 투광성보호층(26)은 실리콘 산화층, 실리콘 질화층, BPSG(Boro-phosphor Silicate Glass)층, SOG(Spin On Glass)층, BCB(BenzoCycloButene)층, PI(Poly Imide)층, 실리콘 고분자(silicone polymer)층, 또는 에폭시 수지(epoxy resin)층일 수 있다. The transparent protective layer 26 includes a silicon oxide layer, a silicon nitride layer, a boro-phosphor silicate glass (BPSG) layer, a spin on glass (SOG) layer, a benzocyclobutene (BCB) layer, a polyimide (PI) layer, and a silicone polymer (silicone). It may be a polymer layer or an epoxy resin layer.

상기 투광성 보호층(26)은 마스크를 이용한 습식코팅법을 이용하여 형성하거나, 습식코팅법을 사용하여 투광성물질막을 형성한 후, 평탄화 장비를 이용하여 상기 투광성물질막의 상부면을 제거할 수 있다. The transmissive protective layer 26 may be formed using a wet coating method using a mask, or after forming a translucent material film using a wet coating method, and then using a planarization apparatus, an upper surface of the translucent material film may be removed.

그 결과, 상기 투광성보호층(26) 사이로 상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)이 노출될 수 있다. As a result, the first type electrode 22 and the second type electrode 24 may be exposed between the transparent protective layer 26.

도 1e를 참조하면, 상기 투광성보호층(26) 및 상기 기판(10)의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀 내에 각각 배치된 파장변환기둥들(32)을 형성한다. Referring to FIG. 1E, wavelength converting pillars 32 are formed in a plurality of through holes penetrating through the transparent protective layer 26 and the edge of the substrate 10.

상기 파장변환기둥들(52)은 파장변환 효과를 극대화 시키기 위해 하나 이상의 열 형태로 배치시킬 수 있다. 이때, 상기 파장변환기둥들(52)은 서로의 광경로를 동일하게 하기 위해 상기 파장변환기둥들(52)을 교호로 배치시킬 수 있다. The wavelength conversion columns 52 may be arranged in one or more columns to maximize the wavelength conversion effect. In this case, the wavelength conversion pillars 52 may alternately arrange the wavelength conversion pillars 52 so that the optical paths of each other are the same.

상기 파장변환기둥(52)은 상기 투광성보호층(26) 및 상기 기판(10)의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀들을 형성하고, 상기 관통홀들 내부에 액체상태의 파장변환물질을 각각 인입시켜 형성할 수 있다. 이때, 상기 액체상태의 파장변환물질은 모세관현상에 의해 상기 관통홀들 내에 채워질 수 있다. The wavelength conversion column 52 forms a plurality of through holes penetrating the edges of the transparent protective layer 26 and the substrate 10, and introduces a liquid wavelength conversion material into the through holes, respectively. Can be formed. In this case, the liquid wavelength converting material may be filled in the through holes by capillary action.

추가적으로, 상기 파장변환물질을 경화물질을 더 함유하여, 경화시간을 단축시킬 수 있다. 구체적으로, 상기 경화물질은 광, 열 또는 고주파에 의해 경화가 진행되는 물질일 수 있다. 일 예로서, 상기 경화물질은 실리콘 수지, 에폭시 수지, 아크릴 수지, 우레탄 수지 또는 포토레지스트일 수 있다. In addition, the wavelength conversion material further contains a curing material, thereby shortening the curing time. Specifically, the cured material may be a material that is cured by light, heat, or high frequency. As one example, the cured material may be a silicone resin, an epoxy resin, an acrylic resin, a urethane resin, or a photoresist.

이에 따라, 외부의 광원, 열 또는 고주파에 의해 상기 파장변환물질은 빠르게 경화될 수 있다. 이때, 상기 외부의 광원은 광을 발생시키는 기구를 사용하여 조사되는 광원뿐만 아니라, 상기 발광구조체(S)에 전계를 인가하여 발생되는 광원을 포함할 수 있다. 상기 관통홀들은 레이저드릴, 또는 습식식각 또는 건식식각과 같은 식각공정을 이용하여 형성할 수 있다. Accordingly, the wavelength conversion material may be quickly cured by an external light source, heat, or high frequency. In this case, the external light source may include a light source generated by applying an electric field to the light emitting structure S, as well as a light source irradiated using a mechanism for generating light. The through holes may be formed using a laser drill or an etching process such as wet etching or dry etching.

상기 파장변환기둥(32)은 황색변환물질, 적색변환물질, 녹색변환물질 및 청색변환물질로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나의 물질을 함유할 수 있다. 구체적으로, 상기 발광구조체(S)가 자외선광을 발생시키는 경우에 상기 파장변환기둥(32)은 적색, 녹색 및 청색 변환물질을 함유할 수 있으며, 상기 발광구조체(S)가 청색광을 발생시키는 경우에 상기 파장변환기둥(32)은 황색 변환물질을 함유할 수 있다. 이에 따라 최종 구조의 발광 다이오드는 백색광을 방출할 수 있다. The wavelength conversion pillar 32 may contain at least one material selected from the group consisting of a yellow conversion material, a red conversion material, a green conversion material, and a blue conversion material. Specifically, when the light emitting structure S generates ultraviolet light, the wavelength conversion pillar 32 may contain red, green, and blue converting materials, and when the light emitting structure S generates blue light. The wavelength conversion pillar 32 may contain a yellow conversion material. Accordingly, the light emitting diode of the final structure may emit white light.

상기 청색 변환물질은 Sr(PO)Cl:Eu, SrMgSiO:Eu, BaMgSiO:Eu, BaMgAlO:Eu, SrPO:Eu, SrSiAlON:Eu등의 형광체 또는 감청(Fe4[Fe(CN)6]3), 코발트 블루(CoO-Al2O3)등의 안료일 수 있다.The blue converting material is a phosphor or a blue wire such as Sr (PO) Cl: Eu, SrMgSiO: Eu, BaMgSiO: Eu, BaMgAlO: Eu, SrPO: Eu, SrSiAlON: Eu (Fe 4 [Fe (CN) 6 ] 3 ), It may be a pigment such as cobalt blue (CoO-Al 2 O 3 ).

상기 녹색 변환물질은 BaSiO:Eu, SrSiO:Eu, SrAlO:Eu, SrAlO:Eu, SrGaS:Eu, SrSiAlON:Eu, (Ca,Sr,Ba)SiNO:Eu, YSiON:Tb, YSiON:Tb, GdSiON:Tn의 형광체, 또는 산화크롬(Cr2O3), 수산화 크롬(Cr2O(OH)4), 염기성 초산구리(Cu(C2H3O2)-2Cu(OH)2), 코발트 그린(Cr2O3-Al2O3-CoO)등의 안료일 수 있다.The green conversion material is BaSiO: Eu, SrSiO: Eu, SrAlO: Eu, SrAlO: Eu, SrGaS: Eu, SrSiAlON: Eu, (Ca, Sr, Ba) SiNO: Eu, YSiON: Tb, YSiON: Tb, GdSiON: Phosphor of Tn or chromium oxide (Cr 2 O 3 ), chromium hydroxide (Cr 2 O (OH) 4 ), basic copper acetate (Cu (C 2 H 3 O 2 ) -2Cu (OH) 2 ), cobalt green ( It may be a pigment such as Cr 2 O 3 -Al 2 O 3 -CoO).

상기 적색변환물질은 황화물계, 질화물계의 형광체 또는 산화철(Fe2O3), 사산화 납(Pb3O4), 황화수은(HgS)등의 안료일 수 있다. 구체적으로, 상기 황화물계 형광체는 SrS:Eu 또는 CaS:Eu일 수 있으며, 상기 질화물계 형광체는 SrSiN:Eu, CaSiN:Eu, CaAlSiN, (Ca,Sr,Ba)SiN:Eu, LaSiN:Eu 또는 Sr-α-SiAlON일 수 있다. The red converting material may be a sulfide-based or nitride-based phosphor or a pigment such as iron oxide (Fe 2 O 3 ), lead tetraoxide (Pb 3 O 4 ), or mercury sulfide (HgS). Specifically, the sulfide phosphor may be SrS: Eu or CaS: Eu, and the nitride phosphor is SrSiN: Eu, CaSiN: Eu, CaAlSiN, (Ca, Sr, Ba) SiN: Eu, LaSiN: Eu or Sr -α-SiAlON.

상기 황색 변환물질은 YAG계(yttrium aluminum garnet), 실리케이트계의 형광체 또는 크롬산 납(PbCrO4), 크롬산 아연(ZnCrO4), 황화-카드뮴-황화아연(CdS-ZnS)등의 안료일 수 있다. 구체적으로, 상기 YAG계 형광체는 YAG:Ce, TbYAG:Ce, GdYAG:Ce 또는 GdTbYAG:Ce일 수 있으며, 상기 실리케이트계 형광체는 메틸실리케이트, 에틸 실리케이트, 마그네슘알루미늄 실리케이트 또는 알루미늄 실리케이트일 수 있다. The yellow conversion material may be a pigment such as YAG-based (yttrium aluminum garnet), silicate-based phosphor or lead chromate (PbCrO 4 ), zinc chromate (ZnCrO 4 ), sulfide-cadmium-zinc sulfide (CdS-ZnS). Specifically, the YAG-based phosphor may be YAG: Ce, TbYAG: Ce, GdYAG: Ce or GdTbYAG: Ce, and the silicate-based phosphor may be methyl silicate, ethyl silicate, magnesium aluminum silicate, or aluminum silicate.

상기 파장변환기둥(52)은 100nm로 형성되는 것이 바람직하나, 파장변환효과를 조절하기 위해 상기 파장변환기둥(52)의 직경은 조절될 수 있다. The wavelength conversion column 52 is preferably formed to 100nm, the diameter of the wavelength conversion column 52 can be adjusted to control the wavelength conversion effect.

도 1f 및 도 2를 참조하면, 상기 기판(10)의 하부면에 파장변환물질막(34)을 배치시켜 발광다이오드를 형성한다. 상기 파장변환물질막(34)은 상기 기판(10)의 하부면 상에 단일막으로 형성되거나, 상기 기판(10)의 하부면 상에 다수 개의 홈들을 형성한 후에, 상기 홈들 내에 상기 파장변환물질을 채움으로서 형성될 수도 있다. 1F and 2, a wavelength converting material film 34 is disposed on a lower surface of the substrate 10 to form a light emitting diode. The wavelength conversion material film 34 is formed as a single layer on the bottom surface of the substrate 10 or after forming a plurality of grooves on the bottom surface of the substrate 10, the wavelength conversion material in the grooves. It may be formed by filling.

이와 같이 제조된 발광다이오드는 소잉(sawing), 클리빙(cleaving), 스크라이빙(scribing), 브레이킹(breaking), 레이저 다이싱(laser dicing) 등을 포괄하는 다이싱에 의해 분리되어 단위 발광다이오드들로 개별화될 수 있다. 상기와 같이 기판(10)의 하부면이 홈들에 의해 요철형상의 표면을 가지는 경우, 상기 단위 발광다이오드가 픕립칩 형태로 실장될 때, 전반사를 방지할 수 있어 외부양자효율을 향상시킬 수 있다. The light emitting diodes manufactured as described above are separated by dicing including sawing, cleaving, scribing, breaking, laser dicing, and the like, and are unit light emitting diodes. Can be individualized into As described above, when the lower surface of the substrate 10 has a concave-convex surface by the grooves, when the unit light emitting diode is mounted in the shape of a chip, it is possible to prevent total reflection and improve external quantum efficiency.

또한, 상술한 바와 같이 제조된 발광다이오드는 팹 공정 내에서 발광구조체의 측면부와 하부면 상에 파장변환물질을 형성시킬 수 있으므로, 발광다이오드 제조시간이 절감되고, 대량생산이 용이해질 수 있다. In addition, the light emitting diode manufactured as described above may form the wavelength conversion material on the side surface and the bottom surface of the light emitting structure in the fab process, thereby reducing the manufacturing time of the light emitting diode and facilitate mass production.

이에 더하여, 상기 기판을 패키지의 뼈대인 프레임으로 이용하고, 기판 혹은 웨이퍼 상태에서 모든 공정을 진행할 수 있으므로 웨이퍼 레벨 발광다이오드 패키지를 구현할 수 있다. 이에 따라, 제조비용 절감을 꾀할 수 있다.In addition, since the substrate is used as a frame, which is a skeleton of the package, and all processes can be performed in a substrate or wafer state, a wafer level LED package can be implemented. As a result, manufacturing cost can be reduced.

도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 발광다이오드의 구조를 도시한 단면도이다. 후술하는 것을 제외하고는 도 1a 내지 도 1f를 참조하여 설명한 발광다이 오드와 유사하다. 3 is a cross-sectional view illustrating a structure of a light emitting diode according to another embodiment of the present invention. It is similar to the light emitting diode described with reference to FIGS. 1A to 1F except as described later.

도 3을 참조하면, 상기 발광다이오드는 기판(10)의 상부면 상에 배치된 제1형 반도체층(12) 및 상기 제1형 반도체층(12)의 상부면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층(12)의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 제2형 반도체층(16)을 구비하는 발광구조체(S)를 구비한다. 이때, 상기 제1형 반도체층(12) 및 제2형 반도체층(16) 사이에는 활성층(14)이 위치할 수 있다. Referring to FIG. 3, the light emitting diode is disposed on the first type semiconductor layer 12 disposed on the top surface of the substrate 10 and the top surface of the first type semiconductor layer 12. A light emitting structure S having a second type semiconductor layer 16 exposing at least a portion of the upper surface of the semiconductor layer 12 is provided. In this case, the active layer 14 may be positioned between the first type semiconductor layer 12 and the second type semiconductor layer 16.

상기 기판(10)은 양측 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀 내에 각각 배치된 파장변환기둥(32)을 구비하며, 상기 기판(10)의 하부면 상에는 반사층(36)이 위치할 수 있다. 일 예로서, 상기 반사층은(36)은 Ag층 또는 Al층일 있다. The substrate 10 may include wavelength converting columns 32 disposed in a plurality of through holes penetrating both edges, and a reflective layer 36 may be positioned on a lower surface of the substrate 10. As an example, the reflective layer 36 may be an Ag layer or an Al layer.

상기 반사층(36)은 상기 발광구조체(S)로부터 방출되는 광원 중 하부방향으로 방출되는 광을 반사시켜 상기 발광구조체(S)의 상부면으로 방출되는 광원의 양을 증가시켜줄 수 있으므로, 광추출 효과가 향상될 수 있다. The reflective layer 36 may increase the amount of the light source emitted to the upper surface of the light emitting structure S by reflecting the light emitted downward in the light source emitted from the light emitting structure S, the light extraction effect Can be improved.

상기 제1형 반도체층(12) 및 제2형 반도체층(16) 상부면 상에는 각각 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)이 배치될 수 있으며, 상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)을 제외한 상기 기판(10) 상에는 상기 제2형 반도체층(16)의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지고, 상기 제1형 전극(22) 및 제2형 전극(24)의 상부면을 노출시키는 투광성보호층(26)이 배치될 수 있다. 이때, 상기 투광성보호층(26)은 파장변환물질을 함유할 수 있다. 상기 파장변환물질은 상기 파장변환물질기둥(32)과 동일한 물질을 사용하여 형성할 수 있다. The first type electrode 22 and the second type electrode 24 may be disposed on upper surfaces of the first type semiconductor layer 12 and the second type semiconductor layer 16, respectively. On the substrate 10 except for the second type electrode 24 and the second type semiconductor layer 16, the first type electrode 22 and the second type have a top surface of a level higher than that of the second type semiconductor layer 16. A transmissive protective layer 26 may be disposed to expose the top surface of the type electrode 24. In this case, the transparent protective layer 26 may contain a wavelength conversion material. The wavelength conversion material may be formed using the same material as the wavelength conversion material pillar 32.

상기 투광성보호층(26)이 파장변환물질을 함유함으로써 상부면으로 방출되는 광을 다른 파장으로 변환시켜줄 수 있다. The light-transmissive protective layer 26 may include a wavelength conversion material to convert light emitted to the upper surface into another wavelength.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 실장형 발광다이오드 패키지를 나타낸 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a surface mount light emitting diode package according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 베이스 보드(100) 상에 위치한 절연 코팅층(101) 및 복수의 본딩 패드들(102)을 구비하는 회로 보드(CB) 상에 단위 발광다이오드가 플립되어 배치된다. 상기 단위 발광다이오드는 도 1a 내지 도 1f, 및 도 2를 참조하여 설명한 단위 발광다이오드일 수 있다. Referring to FIG. 4, a unit light emitting diode is flipped and disposed on a circuit board CB including an insulating coating layer 101 and a plurality of bonding pads 102 disposed on a base board 100. The unit light emitting diode may be a unit light emitting diode described with reference to FIGS. 1A to 1F and 2.

상기 단위 발광다이오드는 상기 본딩 패드들(102)과 상기 단위 발광다이오드의 하부면에 노출된 전극들(22, 24)은 도전성 접합 물질(110)에 의해 각각 전기적으로 연결될 수 있다. The unit light emitting diodes may be electrically connected to the bonding pads 102 and the electrodes 22 and 24 exposed on the bottom surface of the unit light emitting diodes, respectively, by the conductive bonding material 110.

상기 회로 보드(CB)는 실리콘, 금속, 세라믹 재질, FR4 등의 보드일 수 있으며, 상기 본딩 패드들은 Au, Ag, Cr, Ni, Cu, Zn, Ti 또는 Pd 등의 금속 패드일 수 있다. 상기 도전성 접합 물질(110)은 상기 본딩 패드와 동일 물질이거나 Ag를 함유한 열경화성접착제이거나 SnBi, PbSn, SnAgCu, SnAgCuBi, AuSn, Sn, In 등의 솔더 물질일 수 있다. 상기 절연 코팅층(101)은 생략될 수 있다.The circuit board CB may be a board made of silicon, metal, ceramic material, FR4, etc. The bonding pads may be metal pads of Au, Ag, Cr, Ni, Cu, Zn, Ti, or Pd. The conductive bonding material 110 may be the same material as the bonding pad or a thermosetting adhesive containing Ag or a solder material such as SnBi, PbSn, SnAgCu, SnAgCuBi, AuSn, Sn, or In. The insulating coating layer 101 may be omitted.

도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 와이어 본딩형 발광다이오드 패키지를 나타낸 단면도이다. 5 is a cross-sectional view illustrating a wire bonded light emitting diode package according to another embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 지지부(202)와 제1 전극부(204) 및 제2 전극부(206) 등으 로 구성된 패키지 리드 프레임 상에 단위 발광다이오드가 배치된다. 상기 발광다이오드는 도 3을 참조하여 설명한 단위 발광다이오드일 수 있다.Referring to FIG. 5, a unit light emitting diode is disposed on a package lead frame including a support 202, a first electrode 204, a second electrode 206, and the like. The light emitting diode may be a unit light emitting diode described with reference to FIG. 3.

상기 단위 발광다이오드는 열전도성 접착 물질(206)을 통해 상기 지지부(202)와 접착될 수 있다. 상기 전극부들(204, 206)과 상기 단위 발광다이오드의 상부면 내에 노출된 전극들(22,24)은 도전성 와이어(120)에 의해 각각 전기적으로 연결될 수 있다. The unit light emitting diode may be attached to the support part 202 through a thermally conductive adhesive material 206. The electrode parts 204 and 206 and the electrodes 22 and 24 exposed in the upper surface of the unit light emitting diode may be electrically connected to each other by a conductive wire 120.

이상, 본 발명을 바람직한 실시 예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시 예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상 및 범위 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형 및 변경이 가능하다. As mentioned above, the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, but the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications and changes may be made by those skilled in the art within the spirit and scope of the present invention. You can change it.

도 1a 내지 도 1f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광다이오드의 제조방법을 나타내는 단면도들이다. 1A to 1F are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a light emitting diode according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1f의 상부 면을 도시한 평면도이다. FIG. 2 is a plan view illustrating the top surface of FIG. 1F.

도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 발광다이오드의 구조를 도시한 단면도이다. 3 is a cross-sectional view illustrating a structure of a light emitting diode according to another embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 실장형 발광다이오드 패키지를 나타낸 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a surface mount light emitting diode package according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 와이어 본딩형 발광다이오드 패키지를 나타낸 단면도이다. 5 is a cross-sectional view illustrating a wire bonded light emitting diode package according to another embodiment of the present invention.

Claims (13)

기판의 상부면 상에 배치된 제1형 반도체층 및 상기 제1형 반도체층의 상부면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 제2형 반도체층을 구비하는 발광구조체;A first type semiconductor layer disposed on an upper surface of the substrate and a second type semiconductor layer disposed on an upper surface of the first type semiconductor layer and exposing at least a portion of the upper surface of the first type semiconductor layer; Light emitting structure; 상기 제1형 반도체층 및 제2형 반도체층 상부면 상에 배치된 각각의 제1형 전극 및 제2형 전극;First and second type electrodes respectively disposed on upper surfaces of the first type semiconductor layer and the second type semiconductor layer; 상기 제1형 전극 및 제2형 전극을 제외한 상기 기판 상에 배치되되 상기 제2형 반도체층의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지고, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극의 상부면을 노출시키는 투광성보호층; 및It is disposed on the substrate except for the first type electrode and the second type electrode, and has an upper surface having a level higher than that of the upper surface of the second type semiconductor layer, and an upper surface of the first type electrode and the second type electrode. A translucent protective layer exposing the light; And 상기 투광성보호층 및 상기 기판의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀 내에 각각 배치된 파장변환기둥들을 포함하는 발광다이오드. And a wavelength conversion pillar disposed in each of the plurality of through holes penetrating through the transparent protective layer and the edge portion of the substrate. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 파장변환기둥들은 상기 기판의 가장자리부 방향으로 다수개의 열 형태로 배치되는 발광다이오드. The wavelength conversion pillars are arranged in the form of a plurality of columns in the direction of the edge of the substrate. 제2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 파장변환기둥들은 각각의 파장변환기둥들이 교호로 배치되는 발광다이오드. The wavelength conversion pillars are light emitting diodes, each wavelength conversion pillar is arranged alternately. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 기판의 하부면 상에 배치된 파장변환물질막을 더 포함하는 발광다이오드. The light emitting diode further comprising a wavelength conversion material film disposed on the lower surface of the substrate. 제4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 기판은 하부면 표면에 다수 개의 홈들을 구비하되, The substrate is provided with a plurality of grooves on the lower surface, 상기 파장변환물질막은 상기 홈들 내에 배치되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드. And the wavelength conversion material film is disposed in the grooves. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 투광성보호층은 파장변환물질을 함유하고, The translucent protective layer contains a wavelength conversion material, 상기 기판의 하부면 상에 배치된 반사층을 더 포함하는 발광다이오드. And a reflective layer disposed on the bottom surface of the substrate. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 발광구조체는 청색광 또는 자외선광을 방출하는 소자이고, The light emitting structure is a device emitting blue light or ultraviolet light, 상기 파장변환기둥은 황색변환물질, 적색변환물질, 녹색변환물질 및 청색변환물질로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나의 물질을 함유하는 발광다이오드. The wavelength conversion column includes at least one material selected from the group consisting of a yellow conversion material, a red conversion material, a green conversion material and a blue conversion material. 기판의 상부면 상에 배치된 제1형 반도체층 및 상기 제1형 반도체층의 상부 면 상에 배치되되 상기 제1형 반도체층의 상부면의 적어도 일부를 노출시키는 제2형 반도체층을 구비하는 발광구조체를 제공하는 단계;A first type semiconductor layer disposed on an upper surface of the substrate and a second type semiconductor layer disposed on an upper surface of the first type semiconductor layer and exposing at least a portion of the upper surface of the first type semiconductor layer; Providing a light emitting structure; 상기 제1형 반도체층 및 제2형 반도체층 상부면 상에 각각 제1형 전극 및 제2형 전극을 형성하는 단계;Forming a first type electrode and a second type electrode on upper surfaces of the first type semiconductor layer and the second type semiconductor layer, respectively; 상기 제1형 전극 및 제2형 전극을 제외한 상기 기판 상에 상기 제2형 반도체층의 상부면 레벨보다 높은 레벨의 상부면을 가지고, 상기 제1형 전극 및 제2형 전극의 상부면을 노출시키는 투광성보호층을 형성하는 단계; An upper surface having a level higher than that of the upper surface of the second type semiconductor layer on the substrate except for the first type electrode and the second type electrode, and exposing the upper surfaces of the first type electrode and the second type electrode; Forming a light transmitting protective layer; 상기 투광성보호층 및 상기 기판의 가장자리부를 관통하는 다수 개의 관통홀을 형성하는 단계; 및Forming a plurality of through holes penetrating through the transparent protective layer and the edge of the substrate; And 상기 관통홀 내부에 파장변환물질을 각각 인입시켜 파장변환기둥들을 형성하는 단계를 포함하는 발광다이오드 제조방법. And inserting wavelength converting materials into the through holes, respectively, to form wavelength converting pillars. 제8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 파장변환물질은 광, 열 또는 고주파에 의해 경화가 일어나는 경화물질을 더 함유하고, The wavelength conversion material further contains a cured material that hardening occurs by light, heat or high frequency, 상기 관통홀 내에 상기 파장변환물질을 인입시킨 후에, 상기 파장변환물질을 광, 열 또는 고주파에 노출시키는 단계를 더 포함하는 발광다이오드 제조방법. And introducing the wavelength conversion material into the through-hole, and then exposing the wavelength conversion material to light, heat, or high frequency. 제9항에 있어서, 10. The method of claim 9, 상기 광은 광을 발생하는 기구로부터 가해진 광이거나, 상기 발광구조체로부 터 발생되는 광인 발광다이오드 제조방법. Wherein the light is light applied from a mechanism for generating light or light generated from the light emitting structure. 제8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 관통홀들은 레이저 드릴, 습식식각 또는 건식식각을 사용하여 형성하는 발광다이오드 제조방법. The through-holes are formed using a laser drill, wet etching or dry etching. 제8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 기판의 하부면 상에 파장변환막을 형성하는 단계를 더 포함하는 발광다이오드 제조방법. A method of manufacturing a light emitting diode, the method comprising: forming a wavelength conversion film on a lower surface of the substrate. 제8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 기판의 하부면 상에 반사층을 형성하는 단계를 더 포함하는 발광다이오드 제조방법. And forming a reflective layer on a lower surface of the substrate.
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