KR100996881B1 - Integrating sphere - Google Patents
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Abstract
본 발명은 적분구에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 적분구 내로 유입되는 빛을 확산시킴으로써 광 측정오차를 저감시킨 적분구에 관한 것이다.
본 발명은, 광원의 광특성을 측정하기 위한 적분구에 있어서, 중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및 상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시키는 확산판을 포함하는 것을 특징으로 하는 적분구를 제공한다.The present invention relates to an integrating sphere, and more particularly, to an integrating sphere in which light measurement errors are reduced by diffusing light flowing into the integrating sphere.
The present invention provides an integrating sphere for measuring optical characteristics of a light source, the integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And a diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole.
Description
본 발명은 적분구에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 적분구 내로 유입되는 빛을 확산시킴으로써 광 측정오차를 저감시킨 적분구에 관한 것이다.The present invention relates to an integrating sphere, and more particularly, to an integrating sphere in which light measurement errors are reduced by diffusing light flowing into the integrating sphere.
적분구(integrating sphere)는 내측에 중공부를 가진 구형의 장치로서, 중공부 내로 광을 받아들여 그 특성을 측정하는 장치이다. 적분구의 내측면은 광을 효과적으로 난반사시키는 물질로 이루어지거나, 그러한 물질로 코팅되어 있다. 이로 인해 적분구의 중공부 내로 유입되는 광은 적분구 내에서 지속적으로 난반사되며, 따라서 유입되는 광의 강도 및 광특성이 중공부 내에서 평균화된다.An integrating sphere is a spherical device having a hollow portion inside, and is an apparatus that receives light into the hollow portion and measures its characteristics. The inner surface of the integrating sphere is made of or coated with a material that effectively diffuses light. As a result, the light flowing into the hollow portion of the integrating sphere is continuously diffused in the integrating sphere, and thus the intensity and optical characteristics of the incoming light are averaged in the hollow portion.
적분구의 주요 구성은 도 1에 도시되어 있다.The main configuration of the integrating sphere is shown in FIG.
적분구(1)의 내측에는 중공부(2)가 형성되며, 적분구(1)의 하부에는 광원(L)으로부터 출사된 광을 수광하는 수광공(3)이 마련된다. 또한, 적분구(1)의 내측면에는 측정공(4; 5)이 마련되며, 이 측정공(4; 5)을 통해 광특성측정기(6; 7)로 광을 유입시킴으로써 광특성을 측정하게 된다. 광원(L)은 유지부재(10) 상에 안착되어 있다.A
광원(L)의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예컨대 엘이디(LED, Light Emitting Diode)가 이용될 수 있다. 엘이디는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 발광 소자의 일종으로, 발광다이오드(Luminescent diode)라고도 한다.The kind of the light source L is not particularly limited, and for example, an LED (Light Emitting Diode) may be used. LED is a kind of light emitting device using a semiconductor that converts electricity into light, also called a Luminescent diode.
도 2a 및 도 2b에는 엘이디의 발광 패턴(radiation pattern)이 도시되어 있다. 이들 발광 패턴은 엘이디가 O지점에 위치할 경우 방사각에 따른 광의 강도를 표시한다. 여기서 광의 강도는 방사각에 따른 상대적인 크기만을 나타내므로 무차원으로 표시한다. 일반적으로 엘이디의 종류에 따라 여러 가지 발광 패턴이 나타나며, 같은 종류의 엘이디라 하더라도 각각의 엘이디 칩마다 실제의 발광 패턴은 조금씩 다르다. 예컨대 도 2a에 도시된 엘이디의 발광 패턴에 의하면, 광의 강도가 가장 높은 주광선(chief ray)(P)이 엘이디의 상측 수직 방향, 즉 0도 방향으로 형성되어 있음을 알 수 있다. 그에 반해 도 2b에 도시된 엘이디의 발광 패턴에 의하면, 주광선(P1; P2)이 엘이디의 상측 수직 방향에 대해 소정 각도만큼 이격되어 형성되어 있음을 알 수 있다.2A and 2B show the radiation pattern of the LED. These light emission patterns indicate the intensity of light according to the emission angle when the LED is located at the O point. In this case, the light intensity is expressed only dimensionally according to the emission angle, so it is displayed dimensionlessly. In general, various kinds of light emission patterns are displayed depending on the types of LEDs, and the actual light emission patterns are slightly different for each LED chip even though they are the same type. For example, according to the light emission pattern of the LED illustrated in FIG. 2A, it can be seen that the chief ray P having the highest light intensity is formed in the upper vertical direction of the LED, that is, in the 0 degree direction. On the other hand, according to the light emission pattern of the LED illustrated in FIG. 2B, it can be seen that the chief rays P1 and P2 are formed to be spaced apart by a predetermined angle with respect to the upper vertical direction of the LED.
그런데, 전술한 종래의 적분구에 의하여 동일한 엘이디 칩의 광특성, 예컨대 광의 강도를 수차례 측정하면, 측정시마다 측정값에 편차가 생기게 된다. 이러한 측정오차를 PO편차로 부르기로 한다. PO편차는 엘이디의 종류에 따라 다르지만 대략 5% 내외, 크게는 7~8%에 이르게 된다.However, when the optical characteristics of the same LED chip, such as the intensity of light, are measured several times by the above-described conventional integrating sphere, there is a variation in the measured value every measurement. This measurement error is called PO deviation. PO deviation varies depending on the type of LED, but it is about 5% and largely reaches 7-8%.
이러한 PO편차의 주원인은, 광원(L)인 엘이디와 적분구 사이에 상대적인 위치오차가 발생되기 때문으로 생각된다.The main cause of such PO deviation is considered to be that a relative position error occurs between the LED, which is the light source L, and the integrating sphere.
예컨대, 엘이디의 발광 패턴이 도 2a에 도시된 것과 같이 동일한 경우라 하더라도, 엘이디(L) 및 엘이디(L)가 안착된 지지부재(10)가 정위치에 있는 경우와(도 3a 참조), 엘이디(L) 및 엘이디(L)가 안착된 지지부재(10)가 소정의 각도(θ)만큼 경사 오차를 가지는 경우(도 3b 참조), 양 경우에 있어서 적분구로 유입되는 광의 강도는 방사각에 따라 서로 상이하게 된다. 도 3b에서는 광원(L)인 엘이디와 지지부재(10)가 수직선에 대해 경사진 각도(θ)를 과장하여 도시하였다. 또한, 지지부재(10)는 정위치에 있더라도 엘이디의 형상이나 안착각도에 편차가 생김으로써, 결과적으로 적분구와 엘이디 사이에 경사 오차가 발생될 수도 있다.For example, even when the light emission pattern of the LED is the same as that shown in FIG. 2A, the case where the
이와 같이, 엘이디가 적분구에 대해 경사오차를 가지는 경우 주광선의 위치가 상이하게 되고, 이는 주광선이 적분구 내에서 측정공으로 유입되기까지 내측면에서 반사되는 횟수에 차이를 유발한다. 반사될 때마다 일정 정도의 손실이 발생하게 되므로 반사 횟수의 차이는 측정값에 편차를 유발한다. 이와 같이 엘이디의 발광 패턴이 방사각도에 따라 균일하지 않기 때문에, 적분구 내에서 광의 특성이 평균화된다고 하더라도 실제로 측정하는 광특성에는 편차가 발생하게 된다. 또한, 엘이디가 적분구에 대해 경사오차를 가지게 되면, 적분구로 유입되지 못하고 손실되는 광이 더 많아질 수 있으며, 이로 인해 측정되는 광특성에 편차가 발생할 수도 있다.As such, when the LED has an inclination error with respect to the integrating sphere, the positions of the chief rays are different, which causes a difference in the number of times the chief rays are reflected from the inner side until they enter the measuring hole in the integrating sphere. Each reflection causes a certain amount of loss, so the difference in the number of reflections causes a variation in the measured value. As such, since the light emission pattern of the LED is not uniform according to the radiation angle, even if the characteristics of the light are averaged in the integrating sphere, deviations occur in the optical characteristics actually measured. In addition, when the LED has an inclination error with respect to the integrating sphere, more light may be lost without being introduced into the integrating sphere, which may cause a deviation in the measured optical characteristics.
이러한 편차는 엘이디 칩의 광특성을 정확히 측정하고 분류하는 데에 큰 지장을 초래하며, 결국 엘이디 칩을 이용한 제품의 불량률을 증가시키는 원인이 된다.This deviation causes a great difficulty in accurately measuring and classifying the optical characteristics of the LED chip, which in turn increases the defect rate of the product using the LED chip.
본 발명은 전술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 광의 측정오차를 저감시킨 적분구를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide an integrating sphere in which the measurement error of light is reduced.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명은, 광원의 광특성을 측정하기 위한 적분구에 있어서, 중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및 상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시키는 확산판을 포함하는 것을 특징으로 하는 적분구를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source, the integrating sphere body having a hollow portion and the light receiving hole connected to the hollow portion; And a diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole.
본 발명에 있어서, 상기 적분구 본체는 실질적으로 구형일 수 있다. 또한, 상기 적분구 본체에는 광특성측정기를 연결하기 위한 측정공이 마련되어 있을 수 있다.In the present invention, the integrating sphere body may be substantially spherical. In addition, the integrating sphere body may be provided with a measuring hole for connecting the optical characteristic meter.
또한, 상기 광특성측정기는 수광소자(photo detector) 또는 분광계(spectrometer)일 수 있다. 또한, 상기 적분구 본체의 내측면에는 상기 수광공으로부터 유입되는 광이 직접 측정공으로 향하는 것을 방지하는 배플(baffle)이 설치되어 있을 수 있다.In addition, the optical characteristic meter may be a photo detector or a spectrometer. In addition, a baffle may be provided on the inner surface of the integrating sphere body to prevent directing light from the light receiving hole directly to the measurement hole.
본 발명에 있어서, 상기 확산판은 표면이 마이크로 샌딩으로 연마된 광투과성 기판일 수 있다. 여기서, 상기 광투과성 기판은 유리 또는 수지 기판일 수 있다.In the present invention, the diffusion plate may be a light transmissive substrate whose surface is polished by micro sanding. Here, the light transmissive substrate may be a glass or a resin substrate.
본 발명에 있어서, 상기 확산판은, 광투과성 기판 및 상기 광투과성 기판 상에 형성된 광확산층으로 이루어질 수 있다. 여기서, 상기 광투과성 기판은 유리 기판이며, 상기 광확산층은 유기 또는 무기계 확산입자를 포함하는 수지층일 수 있다.In the present invention, the diffusion plate may be formed of a light transmissive substrate and a light diffusion layer formed on the light transmissive substrate. Here, the light transmissive substrate may be a glass substrate, and the light diffusion layer may be a resin layer including organic or inorganic diffusion particles.
상기 광확산층은 패턴화된 볼록부 또는 오목부일 수 있다. 여기서, 상기 패턴화된 볼록부는 반구, 반원통, 각기둥, 또는 각뿔 형상의 마이크로 볼록렌즈가 복수개 배열되어 있는 것일 수 있다. 또한, 상기 패턴화된 오목부는 반구, 반원통, 각기둥, 또는 각뿔 형상의 마이크로 오목렌즈가 복수개 배열되어 있는 것일 수 있다.The light diffusing layer may be a patterned convex portion or a concave portion. Here, the patterned convex portion may be a plurality of micro-convex lenses of a hemispherical shape, a semi-cylindrical shape, a prismatic pillar, or a pyramid shape. In addition, the patterned concave portion may be a plurality of hemispheres, semi-cylindrical, prismatic, or pyramidal micro-concave lens is arranged.
또한, 상기 광확산층은 상기 광투과성 기판 상에 복수층 형성되어 있을 수 있다.In addition, the light diffusion layer may be formed in a plurality of layers on the light transmissive substrate.
본 발명에 있어서, 상기 확산판은 유기 또는 무기계 확산입자를 포함하는 광투과성 기판일 수 있다. 여기서, 상기 광투과성 기판은 수지 기판일 수 있다.In the present invention, the diffusion plate may be a light transmissive substrate including organic or inorganic diffusion particles. Here, the light transmissive substrate may be a resin substrate.
또한, 상기 확산판은 플라이 아이 렌즈(fly eye lens) 또는 프리즘 시트(prism sheet)일 수 있다.In addition, the diffusion plate may be a fly eye lens or a prism sheet.
또한, 상기 확산판은 200 nm 내지 1000 nm의 파장범위에서 일정하게 높은 투과율을 갖는 것일 수 있다. 또한, 상기 확산판은 불화마그네슘(MgF2), 불화칼슘(CaF2), 합성 석영(fused silica) 유리, 붕규산크라운(BK7) 유리, 수정(crystal quartz), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 사파이어 중 어느 하나 이상의 재료로 이루어질 수 있다.In addition, the diffusion plate may be one having a constant high transmittance in the wavelength range of 200 nm to 1000 nm. In addition, the diffusion plate is magnesium fluoride (MgF 2 ), calcium fluoride (CaF 2 ), fused silica glass, borosilicate crown (BK7) glass, crystal quartz, polymethyl methacrylate (PMMA), It may be made of any one or more materials of sapphire.
마지막으로, 상기 광원은 엘이디 칩일 수 있다.Finally, the light source may be an LED chip.
본 발명에 따른 적분구에 의하면, 적분구의 내측에 마련된 중공부 내로 유입되는 광을 확산시킴으로써, 광의 측정오차를 저감할 수 있게 된다.According to the integrating sphere according to the present invention, by diffusing the light flowing into the hollow portion provided inside the integrating sphere, the measurement error of the light can be reduced.
도 1은 종래의 적분구를 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 2a 및 도 2b는 엘이디의 발광 패턴을 나타낸다.
도 3a 및 도 3b는 엘이디의 안착위치 오차에 따른 발광 패턴의 변화를 나타낸다.
도 4는 본 발명에 따른 적분구를 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 5는 확산판을 거치기 전후의 광 강도 프로파일을 나타낸다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 의한 확산판을 나타낸 단면도 및 확대단면도이다.
도 7a 내지 도 7f는 본 발명의 다른 실시예에 의한 확산판을 나타낸 단면도 및 사시도이다.
도 8a 및 도 8b는 플라이 아이 렌즈로서 형성된 확산판을 나타낸 사시도이다.
도 9a 및 도 9b는 프리즘 시트로서 형성된 확산판을 나타낸 단면도 및 사시도이다.1 is a cross-sectional view schematically showing a conventional integrating sphere.
2A and 2B show light emission patterns of LEDs.
3a and 3b show the change in the light emission pattern according to the mounting position error of the LED.
4 is a cross-sectional view schematically showing an integrating sphere according to the present invention.
5 shows the light intensity profile before and after passing through the diffuser plate.
6 is a cross-sectional view and an enlarged cross-sectional view showing a diffusion plate according to an embodiment of the present invention.
7A to 7F are cross-sectional views and perspective views illustrating a diffusion plate according to another embodiment of the present invention.
8A and 8B are perspective views showing a diffuser plate formed as a fly's eye lens.
9A and 9B are sectional views and a perspective view showing a diffusion plate formed as a prism sheet.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 4는 본 발명에 따른 적분구를 개략적으로 나타낸 단면도이다. 도시된 바와 같이, 적분구(100)는 적분구 본체(110)와 적분구 본체(110)에 결합된 확산판(120)을 구비한다.4 is a cross-sectional view schematically showing an integrating sphere according to the present invention. As shown, the integrating
적분구 본체(110)의 내측에는 중공부(111)가 마련된다. 중공부(111)는 중공부(111)로 유입된 광의 특성이 난반사에 의해 균질화될 수 있도록 구형을 이루며, 따라서 적분구 본체(110)도 실질적으로 구형인 것이 바람직하다.A
적분구 본체(110)는 예컨대 금속제 외피의 내측면에 반사율이 높은 확산반사층을 코팅함으로써 형성될 수 있다. 확산반사층은 예컨대 폴리테트라플루오르에틸렌(polytetrafluoroethylene; PTFE)을 포함하는 재료로 이루어질 수 있다. 그러나 확산반사층의 재료가 PTFE로 한정되는 것은 아니며, 그 외에도 폴리클로로트리플루오르에틸렌(polychlorotrifluoroethylene; PCTFE), 또는 폴리플루오르화비닐리덴(polyvinylidenefluoride; PVDF) 등의 중합체를 포함하는 재료로 이루어질 수도 있다. 다른 방법으로서, 적분구 본체(110)는 확산반사층을 포함하는 내피와 상기 내피의 외측에 결합된 금속제 외피로 구성될 수도 있다.The integrating
적분구 본체(110)의 하측에는 광을 중공부(111) 내로 유입하기 위한 수광공(112)이 마련된다. 수광공(112)은 원형으로 형성될 수 있으나, 그 형상이 특별히 한정되는 것은 아니다.A
적분구 본체(110)의 측면에는 광특성측정기(115; 116)를 연결하기 위한 측정공(113; 114)이 마련된다. 측정공(113; 114)은 원형으로 형성될 수 있으나, 그 형상이 특별히 한정되는 것은 아니다. 도 4에는 2개의 측정공(113; 114)이 도시되어 있으나, 광특성측정기의 개수에 따라, 1개 또는 3개 이상의 측정공을 마련하는 것도 가능하다.The side of the integrating sphere
적분구(100)를 이용하여 측정할 수 있는 광특성은 예컨대 휘도, 파장, 광속, 광도, 조도, 분광분포, 색온도, 색좌표일 수 있다. 또한, 광특성측정기(115; 116)는 예컨대 수광소자(photo detector) 또는 분광계(spectrometer)일 수 있다. 분광계는 광의 스펙트럼을 계측하는 장치이며, 수광소자는 광신호를 검출하여 전기적인 신호로 바꾸어 주는 역할을 하는 소자이다. 분광계, 수광소자, 및 기타 광특성측정기의 구성은 주지되어 있으므로, 상세한 설명은 생략하기로 한다.The optical characteristics that can be measured using the integrating
적분구 본체(110)의 내측면에는 배플(baffle)(117; 118)이 설치되어 있다. 배플(117; 118)은 수광공(112)으로부터 유입되는 광이 직접 측정공(113; 114)으로 향하는 것을 방지하도록 수광공(112)과 측정공(113; 114) 사이에 마련된다. 수광공(112)으로부터 유입되는 광이 측정공(113; 114)으로 직접 유입되면 광특성을 균일화하여 측정하려는 적분구(100)의 기능이 반감되며, 측정편차도 커지게 된다.
배플(117; 118)은 반달 형상으로 형성될 수 있으나, 그 형상이 특별히 한정되는 것은 아니다. 또한, 배플(117; 118)은 적분구 본체(110)의 내측면에 마련된 확산반사층과 동일한 재질로 이루어지는 것이 바람직하며, 배플(117; 118)과 적분구 본체(110)가 일체로 형성되는 것도 가능하다.The
확산판(120)은 수광공(112)에 마련된다. 구체적으로, 확산판(120)은 외측으로 개구된 수광공(112)을 덮도록 수광공(112)의 하측에 설치되며, 별도의 홀더부재(140)에 의해 적분구 본체(120)와 결합된다. 홀더부재(140)는 확산판(120)을 적분구 본체(120)와 결합시키는 부재로서, 예컨대 홀더부재(140)의 내측면에 나사산을 형성하고, 적분구 본체(112)에 있어서 수광공(112) 외측으로 도출된 부분에 나사산을 형성함으로써, 홀더부재(140)와 적분구 본체(120)를 나사결합시킬 수 있다. 확산판(120)을 적분구 본체(120)에 연결시키는 기능을 갖는 것이라면, 홀더부재(140)의 형상이나 결합방식에 특별한 제한은 없다. 또한, 확산판(120)과 홀더부재(140)를 일체형으로 하는 것도 가능하다.The
확산판(120)의 기능을 도 5를 참조하여 설명하기로 한다. 도 5는 확산판을 거치기 전후의 광 강도 프로파일을 나타낸다. 도 5에 도시된 바와 같이, 지지부재(10) 상에 광원으로서의 엘이디(L)가 안착되어 있고, 그 상측에 확산판(120)이 위치하는 경우를 가정한다. 또한, 엘이디(L)의 발광 패턴은 도 2a에 도시된 것과 같다고 가정한다. 확산판(120)의 상측에 연결된 적분구 본체는 생략되어 있다.The function of the
확산판(120)을 거치기 전, 예컨대 A선상에서의 광 강도 프로파일이 G1에 도시되어 있다. G1의 수평축은 거리를, 수직축은 광의 강도의 상대적 크기를 나타낸다. 이 경우, A선상에서는 광의 강도 프로파일이 가우시안(Gaussian) 분포를 보이게 된다. 즉, 엘이디(L)로부터 멀어질수록 광의 강도가 작아지게 되며, 이는 도 2a에서 방사각이 90도 또는 -90도 방향으로 갈수록 광의 강도가 작아지는 것에 대응한다.Prior to passing through the
확산판(120)을 거친 후, 예컨대 B선상에서의 광 강도 프로파일이 G2에 도시되어 있다. G1에서와 마찬가지로, G2의 수평축은 거리를, 수직축은 광의 강도의 상대적 크기를 나타낸다. 이 경우, B선상에서는 광의 강도가 중심부를 포함한 일정 영역에서 균일한 값을 가지게 됨을 알 수 있다. 즉, 광이 확산판(120)을 거치게 되면 확산판(120)의 각 지점에서 확산이 일어나게 되므로, 결국 확산판(120)의 각 지점이 별개의 광원과 같이 작용하게 되고, 따라서 G2의 광 강도 프로파일에서 알 수 있는 바와 같이 방사각에 따른 광 강도의 차이가 상당부분 상쇄된다. 다시 말해, 확산판(120)을 거치고 나면, 방사각에 관계없이 광 강도가 균일한 방사 패턴을 가지는 광원에서 광이 출사된 것과 같이 작용하게 된다.After passing through the
따라서, 엘이디(L) 또는 엘이디(L)가 안착된 지지부재(10)가 도 3b에 도시된 것과 같이 적분구에 대해 위치오차를 가지는 경우에도 측정 오차가 발생되지 않게 된다. 확산판(120)을 사용하게 되면 PO편차가 1% 내외로 급감한다.Accordingly, even when the LED L or the supporting
한편, 확산판(120)은 광을 확산하는 기능뿐만 아니라, 광을 투과시키는 기능을 함께 가져야 한다. 투과율이 낮을 경우 실제의 광특성을 측정하지 못하게 될 수 있다. 따라서, 확산판(120)은 최소한 광특성측정기의 배경 노이즈(background noise) 이상의 광신호가 광특성측정기로 전달되도록 하는 광 투과율을 가져야 한다. 특히, 엘이디의 경우 광특성의 측정 파장대역이 200 nm 내지 1000 nm에 해당하므로, 확산판(120)의 투과율은 200 nm 내지 1000 nm의 파장범위에서 일정하게 높은 값을 가지는 것이 바람직하다. 이를 위해, 확산판은 불화마그네슘(MgF2), 불화칼슘(CaF2), 합성 석영(fused silica) 유리, 붕규산크라운(BK7) 유리, 수정(crystal quartz), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 사파이어, 또는 그 외에 상기 투과율 조건을 만족하는 재료로 이루어지는 것이 바람직하다.On the other hand, the
확산판(120)의 구성에 대해서는 도 6 내지 도 9b를 참조하여 설명하기로 한다. 도 6은 본 발명의 일실시예에 의한 확산판을 나타낸 단면도 및 확대단면도, 도 7a 내지 도 7f는 본 발명의 다른 실시예에 의한 확산판을 나타낸 단면도 및 사시도, 도 8a 및 도 8b는 플라이 아이 렌즈로서 형성된 확산판을 나타낸 사시도, 도 9a 및 도 9b는 프리즘 시트로서 형성된 확산판을 나타낸 단면도 및 사시도이다.The configuration of the
도 6에 도시된 바와 같이, 확산판(120)은 표면이 마이크로 샌딩으로 연마된 광투과성 기판으로 형성될 수 있다. 광투과성 기판은 유리 또는 수지 기판일 수 있다. 마이크로 샌딩으로 연마된 확산판(120)의 표면에는 수많은 돌기부(121)가 형성된다. 이들 돌기부(121)는 렌즈와 같은 역할을 하게 되므로, 확산판(120)을 통과하는 광은 확산되어 균일화된다.As shown in FIG. 6, the
다른 실시예로서, 확산판(120)은 도 7a에 도시된 바와 같이, 광투과성 기판(122) 및 이 광투과성 기판(122) 상에 형성된 광확산층(123)으로 이루어질 수 있다. 광투과성 기판(122)은 예컨대 유리 기판이고, 광확산층(123)은 아크릴 등의 수지층일 수 있다. 광확산층(123)에는 렌즈 역할을 하는 다수의 확산입자(124)가 포함될 수 있다(도 7b 참조). 이들 확산입자(124)를 통과하는 광은 확산되어 균일화된다. 확산입자(124)는 유기 또는 무기계 재료로 형성되며, 광의 확산 기능을 갖기 위해서 광확산층(123)을 이루는 수지층과 굴절률이 다른 재질로 이루어져야 한다. 확산입자(124)는 예컨대 우레탄계 수지, 아크릴계 수지, 에폭시계 수지, 올레핀계 수지, 폴리에스테르계 수지, 알루미나, 유리, 실리카 등의 재료 또는 이들의 혼합물로 이루어질 수 있다. 확산입자(124)의 재질, 확산입자(124)와 수지층의 굴절률 차이, 수지층에 대한 확산입자(124)의 체적률 등은 확산판(120)의 확산 성능 및 투과율을 고려하여 선택하면 된다.As another example, the
전술한 실시예에서는 확산판(120)의 기계적 강도 등을 고려하여 광투과성 기판(122) 위에 광확산층(123)을 형성한 2층 구조로 하였으나(도 7b 참조), 이와 달리 확산판(120)을 1층 구조, 즉 유기 또는 무기계 확산입자를 포함하는 광투과성 기판으로 하는 것도 가능하다. 이 경우 광투과성 기판은 수지 기판일 수 있다.In the above-described embodiment, the
또 다른 실시예로서, 광확산층(123)은 도 7c 및 도 7d에 도시된 바와 같이, 그 표면에 볼록부 또는 오목부를 포함할 수 있다. 광확산층(123)의 재질은 전술한 실시예와 특별한 차이는 없으며, 예컨대 유리 또는 수지층으로 형성할 수 있다.As another embodiment, the
상기 볼록부는 도 7c에 도시된 바와 같이 반구 형태의 마이크로 볼록렌즈(125)일 수 있다. 그러나 마이크로 볼록렌즈(125)의 형상은 반구 형태로 한정되는 것은 아니며, 반원통형, 각기둥형, 각뿔형 등 광을 확산시킬 수 있는 구조이기만 하면 그 형상에 특별한 제한은 없다.The convex portion may be a hemispherical micro
한편, 상기 오목부는 도 7d에 도시된 바와 같이 반구 형태의 마이크로 오목렌즈(126)일 수 있다. 그러나 마이크로 볼록렌즈(125)의 경우와 마찬가지로, 마이크로 오목렌즈(126)의 형상도 반구 형태로 한정되는 것은 아니며, 반원통형, 각기둥형, 각뿔형 등 광을 확산시킬 수 있는 구조이기만 하면 그 형상에 특별한 제한은 없다.Meanwhile, the concave portion may be a hemispherical micro
전술한 볼록부 및 오목부는 광투과성 기판(122) 상에 소정의 패턴을 이루어 복수개가 정렬되어 배치될 수 있다. 또한, 앞의 실시예에서는 광투과성 기판(122) 상에 복수개의 볼록부만 형성되거나, 또는 광투과성 기판(122) 상에 복수개의 오목부만 형성된 구조로 되어 있으나, 하나의 광투과성 기판(122) 상에 볼록부와 오목부가 순차적으로, 또는 무작위적으로 배치되는 구성도 가능하다. 이와 같이 확산판(120)을 투과하는 광이 확산되어 균일화되기만 하면, 볼록부 및 오목부의 형상 및 배치에는 특별한 제한이 없다.The convex portion and the concave portion described above may be arranged on the
또 다른 실시예로서, 도 7e 및 도 7f에 도시된 바와 같이 광확산층을 광투과성 기판 상에 복수층으로 형성하는 것도 가능하다. 예컨대, 도 7 e에 도시된 바와 같이, 광투과성 기판(122)의 상측으로 차례로 제1 광확산층(127) 및 제2 광확산층(128)을 형성할 수 있다. 제1 광확산층(127) 및 제2 광확산층(128)은 연장방향이 서로 교차하는 반원통 형상의 마이크로 렌즈이며, 이 경우 제1 광확산층(127)과 제2 광확산층(128)은 굴절률이 서로 다른 재질로 형성되어야 한다.As another embodiment, as shown in FIGS. 7E and 7F, it is also possible to form a light diffusion layer in multiple layers on a light transmissive substrate. For example, as illustrated in FIG. 7E, the first
한편, 도 7f에 도시된 바와 같이 광투과성 기판(122)의 상측에 제3 광확산층(129)을 형성하고, 광투과성 기판(122)의 하측에 제4 광확산층(130)을 형성하는 것도 가능하다. 제3 광확산층(129) 및 제4 광확산층(130)은 연장방향이 서로 교차하는 반원통 형상의 마이크로 렌즈이며, 이 경우 도 7e에 도시된 실시예와 달리 제3 광확산층(129)과 제4 광확산층(130)은 서로 동일한 재질로 형성하는 것도 가능하다.Alternatively, a third
도 8a 및 도 8b에는 플라이 아이 렌즈(fly eye lens)(131; 132)가 도시되어 있으며, 이러한 플라이 아이 렌즈(131; 132)를 확산판으로 사용하는 것도 가능하다. 또한 도 9a 및 도 9b에는 프리즘 시트(prism sheet)(133)가 도시되어 있으며, 이러한 프리즘 시트를 확산판으로 사용하는 것도 가능하다. 이들 플라이 아이 렌즈와 프리즘 시트는 표면에 렌즈 역할을 하는 구조가 형성되어 있다는 점에서, 도 7a 내지 도 7f에 도시된 확산판(120)과 본질적인 기능은 동일하다.8A and 8B show
이상, 본 발명의 실시예에 대해 설명하였으나, 본 발명의 기술적 사상에 포함되는 범위 내에서 구성의 변경 및 부가, 균등물로의 치환이 가능함은 자명하다.As mentioned above, although the Example of this invention was described, it is clear that a change of a structure, addition, and substitution by an equivalent can be carried out within the range included in the technical idea of this invention.
전술한 구성을 채택함으로써 본 발명은 광 측정오차를 저감시킨 적분구를 제공한다.By adopting the above configuration, the present invention provides an integrating sphere in which the optical measurement error is reduced.
Claims (19)
중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및
상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시켜 광 강도를 균일화시키는 확산판을 포함하며,
상기 확산판은, 광투과성 기판 및 상기 광투과성 기판 상에 형성된 광확산층으로 이루어지며,
상기 광투과성 기판은 유리 기판이며, 상기 광확산층은 유기 또는 무기계 확산입자를 포함하는 수지층인 것을 특징으로 하는 적분구.In the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source,
An integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And
A diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole to uniform the light intensity;
The diffusion plate is made of a light transmissive substrate and a light diffusion layer formed on the light transmissive substrate,
The light transmitting substrate is a glass substrate, and the light diffusion layer is an integrating sphere, characterized in that the resin layer containing organic or inorganic diffusion particles.
중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및
상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시켜 광 강도를 균일화시키는 확산판을 포함하며,
상기 확산판은, 광투과성 기판 및 상기 광투과성 기판 상에 형성된 광확산층으로 이루어지며,
상기 광확산층은 패턴화된 볼록부 또는 오목부인 것을 특징으로 하는 적분구.In the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source,
An integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And
A diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole to uniform the light intensity;
The diffusion plate is made of a light transmissive substrate and a light diffusion layer formed on the light transmissive substrate,
And the light diffusing layer is a patterned convex portion or a concave portion.
중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및
상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시켜 광 강도를 균일화시키는 확산판을 포함하며,
상기 확산판은, 광투과성 기판 및 상기 광투과성 기판 상에 형성된 광확산층으로 이루어지며,
상기 광확산층은 상기 광투과성 기판 상에 복수층 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 적분구.In the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source,
An integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And
A diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole to uniform the light intensity;
The diffusion plate is made of a light transmissive substrate and a light diffusion layer formed on the light transmissive substrate,
An integrating sphere, wherein the light diffusing layer is formed on a plurality of layers on the light transmissive substrate.
중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및
상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시켜 광 강도를 균일화시키는 확산판을 포함하며,
상기 확산판은, 우레탄계 수지, 아크릴계 수지, 에폭시계 수지, 올레핀계 수지, 폴리에스테르계 수지, 알루미나, 유리, 실리카 중 하나 이상을 포함하는 재질로 이루어진 확산입자를 포함하는 광투과성 기판인 것을 특징으로 하는 적분구.In the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source,
An integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And
A diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole to uniform the light intensity;
The diffusion plate is a light-transmissive substrate comprising a diffusion particle made of a material containing at least one of urethane resin, acrylic resin, epoxy resin, olefin resin, polyester resin, alumina, glass, silica. Integrating sphere.
중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및
상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시켜 광 강도를 균일화시키는 확산판을 포함하며,
상기 확산판은 플라이 아이 렌즈(fly eye lens) 또는 프리즘 시트(prism sheet)인 것을 특징으로 하는 적분구.In the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source,
An integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And
A diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole to uniform the light intensity;
The diffusion plate is a fly eye lens (fly eye lens) or a prism sheet (prism sheet) characterized in that the integrating sphere.
중공부 및 상기 중공부에 연결된 수광공을 가지는 적분구 본체; 및
상기 수광공에 마련되며, 상기 수광공으로부터 상기 중공부로 유입되는 광을 확산시켜 광 강도를 균일화시키는 확산판을 포함하며,
상기 확산판은 불화마그네슘(MgF2), 불화칼슘(CaF2), 합성 석영(fused silica) 유리, 붕규산크라운(BK7) 유리, 수정(crystal quartz), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 사파이어 중 어느 하나 이상의 재료로 이루어진 것을 특징으로 하는 적분구.In the integrating sphere for measuring the optical characteristics of the light source,
An integrating sphere body having a hollow portion and a light receiving hole connected to the hollow portion; And
A diffusion plate provided in the light receiving hole and diffusing the light flowing into the hollow part from the light receiving hole to uniform the light intensity;
The diffusion plate is magnesium fluoride (MgF 2 ), calcium fluoride (CaF 2 ), synthetic quartz glass (fused silica) glass, borosilicate crown (BK7) glass, crystal quartz, polymethyl methacrylate (PMMA), sapphire Integrating sphere, characterized in that made of any one or more materials.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140011907A (en) * | 2012-07-19 | 2014-01-29 | 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | Optical characteristic measuring apparatus |
KR102203066B1 (en) | 2019-12-04 | 2021-01-14 | 한국표준과학연구원 | Integrating sphere light source apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003177061A (en) * | 2001-12-12 | 2003-06-27 | Japan Science & Technology Corp | Open-end structure of integrating sphere light source |
-
2010
- 2010-01-06 KR KR1020100000957A patent/KR100996881B1/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003177061A (en) * | 2001-12-12 | 2003-06-27 | Japan Science & Technology Corp | Open-end structure of integrating sphere light source |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140011907A (en) * | 2012-07-19 | 2014-01-29 | 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | Optical characteristic measuring apparatus |
KR102028408B1 (en) * | 2012-07-19 | 2019-10-04 | 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | Optical characteristic measuring apparatus |
KR102203066B1 (en) | 2019-12-04 | 2021-01-14 | 한국표준과학연구원 | Integrating sphere light source apparatus |
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