KR100962404B1 - Signal strength measuring device and method - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 224
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 104
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 9
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract
본 발명은 신호 세기 측정 장치에 관한 것으로, 구체적으로 피검사기(DUT :Device Under Test)에서 출력한 두 신호 세기의 차가 자동검사기(ATE : Automatic Test Equipment)에서 측정할 수 있는 신호 세기 측정 동적 범위(Dynamic Range)보다 클 경우에도 피검사기의 신호 세기를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한 신호 세기 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 자동검사기와 피검사기의 사이에 위치하여, 피검사기의 측정응답신호를 측정응답변환신호로 변환하는 신호변환기와, 측정응답변환신호를 변환하는데 필요한 변환요구신호를 생성하고, 측정응답변환신호를 입력받아 피검사기의 성능을 검증하는 자동검사기를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 세기 측정장치 및 이를 이용한 신호 세기 측정방법을 제공한다.
자동검사기, 피검사기, 신호변환기
The present invention relates to an apparatus for measuring signal strength, and specifically, a signal strength measurement dynamic range in which a difference between two signal strengths output from a device under test (DUT) can be measured by an automatic test equipment (ATE). The present invention relates to a signal strength measuring apparatus and method for measuring the signal strength of an inspector even when the dynamic range is greater than the dynamic range. To this end, the present invention is located between the automatic tester and the inspector, a signal converter for converting the measurement response signal of the inspector into a measurement response conversion signal, and generates a conversion request signal required for converting the measurement response conversion signal, the measurement It provides a signal strength measuring device and a signal strength measuring method using the same, characterized in that it comprises an automatic tester for receiving the response conversion signal to verify the performance of the inspected.
Auto Inspector, Inspector, Signal Converter
Description
본 발명은 신호 세기 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 구체적으로 피검사기에서 출력한 두 신호 세기의 차가 자동검사기에서 측정할 수 있는 신호 세기 측정 동적 범위보다 클 경우에도 피검사기의 신호 세기를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한 신호 세기 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and a method for measuring signal strength. Specifically, even when a difference between two signal strengths output from an inspector is greater than a signal intensity measurement dynamic range that can be measured by an automatic inspector, the signal strength of the inspector is measured and measured. A signal strength measuring apparatus and method for verifying the performance of a tester.
일반적으로, 집적 회로(IC:Integrated circuit)는 적당한 동작을 보장하도록 검사될 필요가 있다. 이것은 특히 IC의 개발 및 제조 단계에서 요구되는 것으로, 통상적으로 최종 애플리케이션 전에 검사된다. 검사 동안, 피검사기 예컨대, RF칩과 같은 IC는 다양한 유형의 자극 신호에 노출되고, 응답은 측정 및 처리되어 양호한 장치의 예상된 응답과 비교된다. 자동검사기는 일반적으로 장치-지정 검사 프로그램에 따라 작업을 수행한다.In general, integrated circuits (ICs) need to be tested to ensure proper operation. This is particularly required during the development and manufacturing stages of ICs, which are typically inspected prior to final application. During testing, ICs such as inspectors, such as RF chips, are exposed to various types of stimulus signals, and the response is measured and processed to compare with the expected response of a good device. Automated checkers generally perform their work according to a device-specific inspection program.
여기서는 측정응답신호가 2개일 경우를 예를 들어 설명한다. Here, the case where there are two measurement response signals is demonstrated as an example.
도 1a는 종래의 신호세기측정장치를 설명하기 위한 구성도이다.1A is a block diagram illustrating a conventional signal strength measuring apparatus.
도 1a에 도시된 바와 같이, 종래의 신호세기측정장치는 피검사기(30)의 측정응답신호(f1,f2)를 입력받아 저주파 변환 신호(fo)와 혼합하여 저주파 신호(f1-fo,f2-fo)로 변환하는 혼합기(11)와, 저주파 변환 신호(fo)를 생성하는 신호생성부(17)와, 혼합된 저주파 신호(f1-fo,f2-fo)를 측정하기 위해 신호 세기 측정 동적 범위가 설정된 아날로그 디지털 변환기(ADC : Analog to Digital Converter)(13)와, 아날로그 디지털 변환기에 의해 인식된 신호 세기 측정값을 처리하여 최종 신호 세기 측정 결과로 출력하는 디지털 신호 처리기(DSP :Digital Signal Processer)(15)를 포함하는 자동검사기(10)와, 자동검사기(10)가 측정응답신호(f1,f2)를 측정함으로써 성능을 검증 받는 피검사기(30)로 구성된다.As shown in FIG. 1A, the conventional signal strength measuring apparatus receives the measurement response signals f1 and f2 of the inspected
자동검사기(10)는 신호생성부(17)를 통해 피검사기의 측정응답신호(f1,f2)를 저주파 신호로 변환시키기 위한 저주파 변환 신호(fo)를 생성하여 혼합기(11)로 보내면, 혼합기(11)는 측정응답신호(f1,f2)와 저주파 변환 신호(fo)를 혼합하여 저주파 신호(f1-fo,f2-fo)를 만든다. 저주파 신호(f1-fo,f2-fo)는 아날로그 디지털 변환기(13)에 입력되고 아날로그 디지털 변환기(13)의 신호 세기 측정 동적 범위 내에서 신호 세기로 인식되어 디지털 신호 처리기(15)에 의해 처리된 후 측정응답신호 세기의 측정 결과로 출력된다. The
도 1b는 종래의 신호세기측정장치에서 측정응답신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.Figure 1b is an exemplary view for explaining the measurement response signal strength in the conventional signal strength measuring apparatus.
도 1b에 도시된 바와 같이, 종래의 신호세기측정장치에서 자동검사기(10)로 입력되는 피검사기(30)의 측정응답신호(f1,f2)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다.As shown in Figure 1b, the signal strength of the measurement response signal (f1, f2) of the
도 1c는 종래의 신호세기측정장치에서 측정응답혼합신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.Figure 1c is an exemplary view for explaining the measurement response signal strength in the conventional signal strength measuring apparatus.
도 1c에 도시된 바와 같이, 종래의 신호세기측정장치에서 자동검사기(10)의 혼합기에서 출력되는 측정응답혼합신호(f1-fo, f2-fo)의 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었는데, 측정응답혼합신호 중, f1-fo는 아날로그 디지털 변환기의 신호 세기 측정 동적 범위 내에 있고, f2-fo는 동적 범위 내에 있지 않다는 것을 알 수 있다. As shown in Figure 1c, the intensity of the measurement response mixed signal (f1-fo, f2-fo) output from the mixer of the
그러나, 종래의 신호세기측정장치는 피검사기의 측정응답신호(f1,f2) 세기의 차(f1신호의 세기 - f2신호의 세기)가 도 1c에서 나타낸 것과 같이 아날로그 디지털 변환기의 신호 세기 측정 동적 범위보다 클 경우, 피검사기의 측정응답신호(f1,f2)의 세기를 동시에 측정할 수 없는 문제점이 있다.However, in the conventional signal strength measuring apparatus, the signal intensity measurement dynamic range of the analog-to-digital converter is shown in FIG. If larger, there is a problem in that the intensity of the measurement response signals f1 and f2 of the inspector cannot be simultaneously measured.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 창출한 것으로, 피검사기에서 2개 이상의 출력신호가 자동검사기로 입력될 경우 출력신호 세기의 차가 자동검사기에서 측정할 수 있는 신호 세기 측정 동적 범위보다 크더라도 피검사기의 출력신호 세기를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한 신호 세기 측정 장치 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다.The present invention has been made in view of the above problems, and when two or more output signals are input from the inspector, even if the difference in the output signal strength is greater than the signal intensity measurement dynamic range that can be measured by the inspector, It is an object of the present invention to provide a signal strength measuring apparatus and method for measuring the output signal strength of the inspector to verify the performance of the inspector.
본 발명의 다른 목적은 피검사기의 복수 개의 출력 신호에 대해, 각각의 신호에 맞게 자동검사기에서 신호 세기 측정 동적 범위를 조절할 수 있게 하여 피검사기의 성능을 측정할 수 있도록 한 신호 세기 측정 장치 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a signal strength measuring apparatus and method for measuring the performance of an inspector by controlling the dynamic range of the signal strength measurement in the auto inspector for a plurality of output signals of the inspector according to each signal. The purpose is to provide.
본 발명의 다른 목적은 피검사기의 복수 개의 출력 신호를 자동검사기에서 한개씩 입력받아 각각의 입력 신호 세기에 맞게 측정 동적 범위를 조절할 수 있도록 피검사기의 출력신호를 가변할 수 있도록 한 신호 세기 측정 장치 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다. Another object of the present invention is to receive a plurality of output signals of the inspector one by one in the automatic tester signal strength measuring apparatus for varying the output signal of the inspector to adjust the measurement dynamic range according to each input signal strength and The purpose is to provide a method.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일면에 따른 신호세기측정장치는 측정대상인 피검사기로부터 수신되는 복수 개의 측정응답신호를 통해 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 변환 요구신호를 생성하는 동작을 반복 수행하여 상기 피검사기의 성능을 검증하는 자동 검사기와; 상기 자동검사기와 상기 피검사기 의 사이에 위치하여, 상기 피검사기의 복수 개 측정응답신호를 순차적으로 측정응답변환신호로 변환하여 출력하는 신호변환기를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호세기측정장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.Signal strength measuring apparatus according to an aspect of the present invention for achieving the above object is an operation of generating a conversion request signal to verify the performance of the inspector through a plurality of measurement response signals received from the inspected object to be measured An automatic inspector which repeats and verifies the performance of the inspector; And a signal converter positioned between the automatic tester and the test target, and configured to sequentially convert a plurality of measurement response signals of the test target into a measurement response conversion signal and output the signal. It is characterized by.
또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 면에 따른 신호세기측정방법은 성능을 검증하고자 하는 피검사기의 종류에 따라 상기 피검사기의 복수 개 측정응답신호의 세기를 자동검사기에서 반복 측정할 수 있도록, 상기 복수 개의 측정응답신호를 순차적으로 측정응답변환신호로 변환시키는 신호 변환기로 이루어진 신호 세기를 측정하는 장치의 신호 세기 측정 방법에 있어서, 상기 복수 개의 측정응답신호를 순차적으로 상기 측정응답변환신호로 변환시키는데 필요한 변환요구신호를 생성하는 변환요구신호 생성 단계와; 상기 복수 개의 측정응답신호를 수신하여 변조한 후, 순차적으로 상기 측정응답변환신호를 상기 자동검사기로 송신하는 신호변조 단계와; 복수 개의 상기 측정응답변환신호를 수신하여 상기 측정응답변환신호의 세기 측정을 반복 수행하는 신호세기측정 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the signal strength measurement method according to another aspect of the present invention for achieving the above object is to repeatedly measure the intensity of the plurality of measurement response signals of the inspector according to the type of inspector to verify the performance A signal strength measuring method of a device for measuring a signal strength comprising a signal converter for sequentially converting the plurality of measurement response signals into a measurement response conversion signal, wherein the plurality of measurement response signals are sequentially converted into the measurement response conversion signal A conversion request signal generating step of generating a conversion request signal required for conversion into a signal; A signal modulating step of receiving and modulating the plurality of measurement response signals and sequentially transmitting the measurement response conversion signals to the automatic tester; And a signal strength measuring step of receiving a plurality of the measurement response conversion signals and repeatedly measuring the strength of the measurement response conversion signal.
상술한 과제해결 수단에 의해 본 발명은 신호세기측정장치를 사용할 경우, 자동검사기는 피검사기의 출력 신호를 변환시켜 피검사기의 출력 신호 세기를 측정함으로써 피검사기의 성능을 검증할 수 있는 효과가 있다. According to the above-mentioned problem solving means, when the signal strength measuring device is used, the automatic tester can convert the output signal of the inspector to measure the output signal strength of the inspector, thereby verifying the performance of the inspector. .
또한 피검사기에서 복수 개의 신호를 출력할 경우, 출력된 신호의 세기 차가 자동검사기에서 측정할 수 있는 신호 세기 측정 동적 범위보다 크더라도, 변환된 신호를 한 개씩 입력받아 각각의 입력된 신호에 맞게 신호 세기 측정 동적 범위를 조절하여 피검사기의 출력 신호 세기를 측정함으로써 피검사기의 성능을 검증할 수 있는 효과가 있다.In addition, when a plurality of signals are output from the inspector, even if the difference in the intensity of the output signals is greater than the dynamic range of the signal strength measurement that can be measured by the automatic inspector, the converted signal is input one by one and the signal is matched with each input signal. Intensity Measurement By measuring the dynamic signal output signal strength by adjusting the dynamic range, the performance of the inspector can be verified.
본 발명의 신호세기측정장치 및 방법은 피검사기의 성능을 검증함에 있어서, 피검사기의 성능 검증에 필요한 측정응답신호가 자동검사기에 두 개 이상 입력될 경우, 입력된 신호의 세기 차가 자동검사기에서 측정 가능한 신호 세기 측정 동적 범위보다 크더라도 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 하는 기술적 요지를 갖는다. 이는 자동검사기의 신호 세기 측정 동적 범위보다 큰 신호의 세기 차를 갖는 측정응답신호를 자동검사기에서 동시에 측정할 수 없었던 문제에서 벗어나 측정하고자하는 측정응답신호를 변환기에서 변환시켜 출력하면 각 변환된 신호를 자동검사기는 하나씩 입력받아 입력된 신호의 세기에 맞게 자동검사기의 신호 세기 측정 동적 범위를 조절함으로써 측정응답신호의 신호 세기를 측정하여 피검사기의 성능을 검증할 수 있도록 한다. In the signal strength measuring apparatus and method of the present invention, when verifying the performance of the inspector, when two or more measurement response signals required for verifying the performance of the inspector are input to the automatic inspector, the difference in the intensity of the input signal is measured by the automatic inspector. Even if it is greater than the possible signal strength measurement dynamic range, there is a technical gist to verify the performance of the inspector. This is to solve the problem that the automatic tester cannot measure the response signal having the difference in signal strength greater than the dynamic range of the signal strength measurement dynamic range. The automatic tester adjusts the dynamic range of the signal strength measurement of the automatic tester according to the input signal strength one by one to measure the signal strength of the response signal to verify the performance of the test subject.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 본 발명에 따른 동작 및 작용을 이해하는데 필요한 부분을 중심으로 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, with reference to the parts necessary for understanding the operation and operation according to the present invention.
하기의 설명에서 본 발명의 신호세기측정장치 및 발명의 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있는데, 이들 특정 상세들 없 이 또한 이들의 변형에 의해서도 본 발명이 용이하게 실시될 수 있다는 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.In the following description, the signal strength measuring apparatus of the present invention and specific details of the present invention are shown to provide a more general understanding of the present invention. Without these specific details, the present invention can be easily implemented by modification thereof. It will be apparent to those of ordinary skill in the art.
한편 본 명세서 전반에 걸쳐 측정응답신호는 피검사기에서 출력되는 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 측정응답혼합신호는 측정응답신호가 혼합기를 거쳐 출력된 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 측정응답변환신호는 측정응답혼합신호가 소정의 대역 필터를 거쳐 출력된 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 변환요구신호는 측정응답신호가 대역 필터의 중심주파수와 일치하도록 변환시키는데 필요한 신호를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 측정응답신호 세기의 측정 결과는 자동검사기에서 측정된 피검사기의 성능 검증에 대한 결과를 의미하는 바로 사용할 것이다. 또한 대역 필터 중심주파수는 소정 대역 필터의 중심주파수를 의미하는 바로 사용할 것이다. On the other hand throughout the present specification, the measurement response signal will be used immediately means a signal output from the inspector. In addition, the measurement response mixed signal will be used immediately, which means a signal in which the measurement response signal is output through the mixer. In addition, the measurement response conversion signal will be immediately used to mean a signal that the measurement response mixed signal is output through a predetermined band pass filter. The conversion request signal will also be used immediately to mean a signal necessary for converting the measurement response signal to match the center frequency of the band pass filter. In addition, the measurement result of the response signal strength will be used immediately, which means the result of the performance verification of the inspected object measured by the automatic inspector. Also, the band filter center frequency will be used immediately to mean the center frequency of a predetermined band filter.
또한 본 발명의 신호세기측정장치 및 방법은 피검사기에서 출력되는 측정응답신호가 복수 개 이상인 경우에 가능하지만, 본 발명의 이해를 돕고자 2개인 경우를 예를 들어 설명한다.In addition, although the signal strength measuring apparatus and method of the present invention can be used when there are more than one measurement response signals output from the inspected object, the case of two will be described as an example to help understanding of the present invention.
도 2는 본 발명의 신호세기측정장치를 설명하기 위한 구성도이다.2 is a block diagram for explaining a signal strength measuring apparatus of the present invention.
도 2에서 도시된 바와 같이, 본 발명의 신호측정장치는 자동검사기(100)와, 피검사기(200)와, 신호변환기(300)로 구성된다.As shown in FIG. 2, the signal measuring apparatus of the present invention includes an
우선 피검사기(200)는 자동검사기(100)에서 측정할 수 있는 신호 세기의 측정 동적 범위보다 측정응답신호(f1,f2) 세기의 차(f1-f2)가 더 큰 2개 이상의 측정응답신호를 출력할 수 있다. 여기서 피검사기(200)는 송수신 기능을 내장한 디바이 스가 된다. 예를 들면, 무선주파수(RF) 신호를 송수신하는 RF칩이 될 수 있다.First, the
신호변환기(300)는 자동검사기(100)와 피검사기(200) 사이에 위치하여, 측정응답신호(f1,f2)를 변환하여 자동검사기로 출력한다. 신호변환기(300)는 자동검사기(100)에서 생성한 변환요구신호(fc)를 입력받아 측정응답신호(f1,f2)를 소정 대역의 중심 주파수와 일치하게 변환(f1-fc,f2-fc)해준다. 변환된 신호는 소정 대역을 거쳐 자동검사기(100)로 출력될 경우, f1-fc가 소정 대역의 중심 주파수와 일치할 경우에 f1-fc와 f2-fc가 소정 대역을 통과하면, f2-fc는 걸러지고 측정응답변환신호(f1-fc)가 자동검사기(100)로 출력되고, f2-fc가 소정 대역의 중심 주파수와 일치할 경우에 f1-fc와 f2-fc가 소정 대역을 통과하면, f1-fc는 걸러지고 측정응답변환신호(f2-fc)가 자동검사기(100)로 출력된다. The
자동검사기(100)는 측정응답신호(f1,f2)를 소정의 대역의 중심 주파수와 일치하는 신호로 변환시키기 위해 변환요구신호(fc)를 생성하여 신호변환기(300)로 출력한다. 우선 측정응답신호 중, f1을 소정 대역의 중심 주파수와 일치하도록 변환시키고자 할 경우, f1-fc가 소정 대역의 중심 주파수가 되도록 변환요구신호(fc)를 생성하여 신호변환기(300)로 출력한다. f2를 소정 대역의 중심 주파수와 일치하도록 변환시키고자 할 경우, f2-fc가 소정 대역의 중심 주파수가 되도록 변환요구신호(fc)를 생성하여 신호변환기(300)로 출력한다. 신호변환기(300)에서 출력되는 측정응답변환신호가 f1-fc일 경우, 자동검사기(100)는 신호 세기 측정 동적 범위를 측정응답변환신호(f1-fc)를 측정할 수 있는 범위로 조절하여 신호 세기를 측정한 후 측정응답신호 세기의 측정 결과를 출력하고, 신호변환기(300)에서 출력되는 측 정응답변환신호가 f2-fc일 경우, 자동검사기(100)는 신호 세기 측정 동적 범위를 측정응답변환신호(f2-fc)를 측정할 수 있는 범위로 조절하여 신호 세기를 측정한 후 측정응답신호 세기의 측정 결과를 출력한다.The
도 3a은 도 2에 있어, 신호세기측정장치의 신호변환기 내부구성을 보인 구성도이다.3A is a block diagram showing the internal configuration of a signal converter of the signal strength measuring apparatus in FIG.
도 3a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 신호변환기(300)는 혼합기(310)와, 대역필터(330)로 구성된다.As shown in FIG. 3A, the
우선 혼합기(310)는 피검사기(200)의 측정응답신호(f1,f2)와 자동검사기(100)로부터 입력받은 변환요구신호(fc)를 혼합하여 측정응답혼합신호(f1-fc,f2-fc)를 출력한다. 이때 변환요구신호(fc)가 측정응답신호 중, f1을 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록 변환 시키는데 필요한 신호일 경우, f1-fc는 대역 필터 중심 주파수(fb)가 되고, f2를 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록 변환 시키는데 필요한 신호일 경우, f2-fc는 대역 필터 중심 주파수(fb)가 된다. 측정응답혼합신호(f1-fc,f2-fc) 중, f1-fc가 대역 필터 중심 주파수(fb)와 일치할 경우, 측정응답혼합신호(f1-fc,f2-fc)가 대역필터(330)를 통과하면 f2-fc는 필터에 의해 걸러져 측정응답변환신호인 f1-fc가 자동검사기(100)로 출력되고, f2-fc가 대역 필터 중심 주파수(fb)와 일치할 경우, 측정응답혼합신호(f1-fc,f2-fc)가 대역필터(330)를 통과하면 f1-fc는 필터에 의해 걸러져 측정응답변환신호인 f2-fc가 자동검사기(100)로 출력된다.First, the
도 3b는 신호변환기에 입력되는 측정응답신호 세기를 설명하기 위한 예시도 이다.3B is an exemplary diagram for describing the strength of the measurement response signal input to the signal converter.
도 3b에 도시된 바와 같이, 신호변환기(300)에 입력되는 측정응답신호(f1,f2)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다. 변환요구신호(fc)가 측정응답신호(f1,f2) 중, f1을 대역필터(330)의 중심 주파수(fb)와 일치 시키는데 필요한 신호일 경우, 변환요구신호(fc)는 f1-fb가 된다.As shown in Figure 3b, the signal strength of the measurement response signal (f1, f2) input to the
도 3c는 신호변환기의 혼합기에서 출력되는 측정응답혼합신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.3C is an exemplary diagram for explaining the strength of the measurement response mixed signal output from the mixer of the signal converter.
도 3c에 도시된 바와 같이, 신호변환기(300)의 혼합기(310)에서 출력되는 측정응답혼합신호(f1-fc, f2-fc)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다.As shown in Figure 3c, the signal strength of the measurement response mixed signal (f1-fc, f2-fc) output from the
도 3d는 신호변환기의 대역필터에서 출력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.3D is an exemplary diagram for describing the strength of the measurement response conversion signal output from the band pass filter of the signal converter.
도 3d에 도시된 바와 같이, 측정응답혼합신호(f1-fc,f2-fc) 중, f1-fc가 대역필터(330)의 중심 주파수(fb)와 일치할 경우, 대역필터(330)에서 출력되는 측정응답변환신호(f1-fc)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다.As shown in FIG. 3D, when f1-fc coincides with the center frequency fb of the
도 3e는 신호변환기에 입력되는 측정응답신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.3E is an exemplary diagram for describing the strength of the measurement response signal input to the signal converter.
도 3e에 도시된 바와 같이, 신호변환기(300)에 입력되는 측정응답신호(f1,f2)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다. 변환요구신호(fc)가 측정응답신호(f1,f2) 중, f2를 대역필터(330)의 중심 주파수(fb)와 일치 시키는데 필요한 신호일 경우, 변환요구신호(fc)는 f2-fb가 된다. As shown in FIG. 3E, the signal strengths of the measurement response signals f1 and f2 input to the
도 3f는 신호변환기의 혼합기에서 출력되는 측정응답혼합신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.3F is an exemplary diagram for explaining the strength of the measurement response mixed signal output from the mixer of the signal converter.
도 3f에 도시된 바와 같이, 신호변환기(300)의 혼합기(310)에서 출력되는 측정응답혼합신호(f1-fc, f2-fc)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다.As shown in Figure 3f, the signal strength of the measurement response mixed signal (f1-fc, f2-fc) output from the
도 3g는 신호변환기의 대역필터에서 출력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.3G is an exemplary diagram for describing the strength of the measurement response conversion signal output from the band pass filter of the signal converter.
도 3g에 도시된 바와 같이, 측정응답혼합신호(f1-fc,f2-fc) 중, f2-fc가 대역필터(330)의 중심 주파수(fb)와 일치할 경우, 대역필터(330)에서 출력되는 측정응답변환신호(f2-fc)의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다.As shown in FIG. 3G, when f2-fc of the measurement response mixed signals f1-fc and f2-fc coincides with the center frequency fb of the
도 4a은 도 2에 있어, 신호세기측정장치의 자동검사기 내부구성을 보인 구성도이다.Figure 4a is a configuration diagram showing the internal configuration of the automatic tester of the signal strength measuring apparatus in FIG.
도 4a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자동검사기(100)는 신호세기측정부(110)와, 변환요구신호생성부(130)와, 제어부(150)로 구성된다.As shown in FIG. 4A, the
우선 신호세기측정부(110)는 아날로그 디지털 변환기(111)와, 디지털 신호 처리기(113)로 구성된다. 아날로그 디지털 변환기(110)는 측정응답변환신호(f1-fc 또는 f2-fc)를 입력받아 측정응답변환신호(f1-fc 또는 f2-fc)의 신호 세기를 측정할 수 있도록 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위를 측정응답변환신호(f1-fc 또는 f2-fc)에 맞게 조절하여 입력된 신호의 세기를 인식한다. 인식된 값을 디지털 신호 처리기(113)에 출력하면 디지털 신호 처리기(113)는 이 값을 입력받아 처리한 후 측정응답신호 세기의 측정 결과를 출력한다.First, the signal
변환요구신호생성부(130)는 신호세기측정부(110)에서 피검사기(200)의 측정응답신호(f1,f2) 중, 측정응답변환신호(f1-fc 또는 f2-fc)로 입력받고자 하는 신호의 중심 주파수를 신호변환기(300)의 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록, 변환요구신호(fc)를 생성한다. 측정응답변환신호가 f1-fc가 되게 하려면, f1-fc가 신호변환기(300)의 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록, 변환요구신호(fc)를 생성하고, 측정응답변환신호가 f2-fc가 되게 하려면, f2-fc가 신호변환기(300)의 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록, 변환요구신호(fc)를 생성한다.The conversion request
제어부(150)는 피검사기(200)에서 출력한 측정응답신호가 몇 개인지 확인하고, 측정응답신호가 2개 이상일 경우, 각각의 측정응답신호를 측정할 수 있게 신호세기측정부(110)와 변환요구신호생성부(130)를 제어한다. 측정응답신호(f1,f2)의 세기 차(f1-f2)가 신호세기측정부(110)에서 측정할 수 있는 신호 세기 측정 동적 범위보다 클 경우, 동시에 측정응답신호(f1,f2)를 측정하기 불가능하므로, 측정응답신호(f1,f2)를 변환시켜 신호 세기를 측정하기 위해서, 측정응답신호(f1,f2)를 측정응답변환신호(f1-fc 또는 f2-fc)로 변환시키는데 필요한 변환요구신호(fc)를 생성하도록 변환요구신호생성부(130)를 제어하고, 입력된 측정변환요구신호(f1-fc 또는 f2-fc)를 측정할 수 있도록, 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위를 조절하도록 신호세기측정부(110)를 제어한다.The
도 4b는 자동검사기(100)에 입력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.4B is an exemplary diagram for describing the strength of the measurement response conversion signal input to the
도 4b에 도시된 바와 같이, 자동검사기(300)에 입력되는 측정응답변환신호가 f1-fc일 경우, 측정응답변환신호의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다. 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위가 측정응답변환신호 f1-fc에 맞게 조절된 것을 볼 수 있다. 측정응답신호 세기의 측정 결과를 측정할 수 있다.As shown in FIG. 4B, when the measurement response conversion signal input to the
도 4c는 자동검사기(100)에 입력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도이다.4C is an exemplary diagram for describing the strength of the measurement response conversion signal input to the
도 4c에 도시된 바와 같이, 자동검사기(300)에 입력되는 측정응답변환신호가 f2-fc일 경우, 측정응답변환신호의 신호 세기를 주파수 분석기를 통해 나타내었다. 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위가 측정응답변환신호 f2-fc에 맞게 조절된 것을 볼 수 있다. 측정응답신호 세기의 측정 결과를 측정할 수 있다.As shown in FIG. 4C, when the measurement response conversion signal input to the
도 5는 본 발명의 신호세기측정방법을 보인 흐름도이다.5 is a flowchart illustrating a signal strength measuring method of the present invention.
도 5에 도시된 바와 같이, 피검사기(200)가 측정응답신호를 출력한다(S501).As shown in FIG. 5, the
자동검사기(100)의 제어부(150)는 측정응답신호가 2개 이상인가 판단한다(S503). The
판단결과, 측정응답신호가 2개 이상일 경우, 자동검사기(100)의 제어부(150)는 두 측정응답신호 세기의 차가 자동검사기(100) 신호세기측정부(110)의 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위보다 큰가를 판단한다(S505).As a result of determination, when there are two or more measurement response signals, the
판단결과, 두 측정응답신호 세기의 차가 클 경우, 측정응답신호 중 신호 세기를 먼저 측정하고자 하는 신호의 중심 주파수가 신호변환기(300)의 대역필 터(330)의 중심 주파수와 일치하도록, 자동검사기(100)는 변환요구신호생성부(130)에서 변환요구신호를 생성한다(S507). 신호변환기(300)의 혼합기(310)는 2개의 측정응답신호와 변환요구신호를 혼합하여 2개의 측정응답혼합신호를 만든다(S509). 자동검사기(100)의 제어부(150)는 2개의 측정응답혼합신호 중, 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하는 주파수가 일치하는 신호가 있는가 판단한다(S511). As a result of determination, when the difference between the two measurement response signal strength is large, the automatic tester such that the center frequency of the signal to measure the signal strength of the measurement response signal to match the center frequency of the
판단결과, 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하는 신호가 2개의 측정응답혼합신호 중에 있을 경우, 대역 필터링을 하여 2개의 측정응답혼합신호 중 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하는 신호를 통과시키고, 일치하지 않는 신호는 걸러낸다(S513). 대역필터(330)를 통과한 신호의 세기를 측정할 수 있게, 자동검사기(100)의 제어부(150)는 신호세기측정부(110)의 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위를 조절한다(S515). 동적 범위가 조절 되면, 신호세기측정부(110)는 대역필터를 통과한 신호의 세기를 측정한다(S517).As a result of the determination, when a signal coinciding with the center frequency of the
그러나, 511단계(S511)의 판단결과, 2개의 측정응답혼합신호 중, 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하는 신호가 없을 경우, 측정응답신호 중 신호 세기를 측정하고자 하는 신호의 중심 주파수가 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록 변환요구신호를 생성한다(S507).However, as a result of the determination in step 511 (S511), when there is no signal matching the center frequency of the
503단계(S503)의 판단결과, 측정응답신호가 2개 이상이 아닐 경우, 자동검사기(100)의 제어부(150)신 측정응답신호의 세기를 측정할 수 있게, 아날로그 디지털 변환기(111)의 신호 세기 측정 동적 범위를 조절한다(S515). 자동검사기(100)의 신호세기측정부(110)는 신호 세기를 측정한다(S517). As a result of the determination in step 503 (S503), when the measurement response signal is not two or more, the signal of the analog-to-
505단계(S505)의 판단결과, 2개의 측정응답신호의 신호 세기 차가 자동검사기(100)의 아날로그 디지털 변환기(111) 신호 세기 측정 동적 범위보다 작을 경우, 곧 바로 자동검사기(100)의 신호세기측정부(110)는 신호 세기를 측정한다(S517).As a result of determining in step 505 (S505), when the signal strength difference between the two measurement response signal is smaller than the dynamic range of the analog-to-
자동검사기(100)의 제어부(150)는 측정할 측정응답신호가 남아 있는가 판단한다(S519).The
판단결과, 측정할 측정응답신호가 없을 경우 신호세기측정을 끝낸다.As a result of the determination, if there is no measurement response signal to be measured, the signal strength measurement is finished.
그러나, 519단계(S519)의 판단결과, 측정할 측정응답신호가 남아있을 경우, 2개의 측정응답혼합신호 중, 아직 측정하지 않고 남아있는 측정응답혼합신호의 중심주파수가 대역필터(330)의 중심 주파수와 일치하도록 변환요구신호를 생성한다(S507). However, when it is determined in step 519 that the measurement response signal to be measured remains, the center frequency of the measurement response mixed signal that has not yet been measured among the two measurement response mixed signals remains at the center of the
도 1a는 종래의 신호세기측정장치를 설명하기 위한 구성도.Figure 1a is a block diagram for explaining a conventional signal strength measuring device.
도 1b는 종래의 신호세기측정장치에서 측정응답신호 세기를 설명하기 위한 예시도.Figure 1b is an exemplary view for explaining the measurement response signal strength in the conventional signal strength measuring device.
도 2는 본 발명의 신호세기측정장치를 설명하기 위한 구성도.Figure 2 is a block diagram for explaining the signal strength measuring apparatus of the present invention.
도 3a은 도 2에 있어, 신호변환기 내부구성을 보인 구성도.3A is a configuration diagram showing an internal configuration of a signal converter in FIG.
도 3b는 신호변환기에 입력되는 측정응답신호 세기를 설명하기 위한 예시도.Figure 3b is an exemplary diagram for explaining the strength of the measurement response signal input to the signal converter.
도 3c는 신호변환기의 혼합기에서 출력되는 측정응답혼합신호 세기를 설명하기 위한 예시도.Figure 3c is an exemplary view for explaining the measurement response signal strength output from the mixer of the signal converter.
도 3d는 신호변환기의 대역필터에서 출력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도.3D is an exemplary view for explaining the strength of the measurement response conversion signal output from the band pass filter of the signal converter.
도 3e는 신호변환기에 입력되는 측정응답신호 세기를 설명하기 위한 예시도.3E is an exemplary diagram for explaining the strength of the measurement response signal input to the signal converter.
도 3f는 신호변환기의 혼합기에서 출력되는 측정응답혼합신호 세기를 설명하기 위한 예시도.Figure 3f is an exemplary diagram for explaining the strength of the measurement response mixed signal output from the mixer of the signal converter.
도 3g는 신호변환기의 대역필터에서 출력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도.3G is an exemplary diagram for explaining the strength of the measurement response conversion signal output from the band pass filter of the signal converter.
도 4a는 도 2에 있어, 자동검사기 내부구성을 보인 구성도.Figure 4a is a configuration diagram showing the internal configuration of the automatic inspection machine in Figure 2;
도 4b와 도 4c는 자동검사기에 입력되는 측정응답변환신호 세기를 설명하기 위한 예시도.4B and 4C are exemplary views for explaining the strength of the measurement response conversion signal input to the automatic tester.
도 5는 본 발명의 신호세기측정방법을 보인 흐름도.5 is a flow chart showing a signal strength measuring method of the present invention.
***도면의 주요부분에 대한 부호의 설명****** Explanation of symbols for main parts of drawing ***
100: 자동검사기 200: 피검사기100: automatic tester 200: tester
300: 신호변환기 110: 신호세기측정부300: signal converter 110: signal strength measuring unit
111: 아날로그 디지털 변환기 113: 디지털 신호 처리기111: analog to digital converter 113: digital signal processor
130: 변환요구신호생성부 150: 제어부130: conversion request signal generation unit 150: control unit
310: 혼합기 330:대역필터310: mixer 330: band filter
Claims (13)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070140101A KR100962404B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Signal strength measuring device and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070140101A KR100962404B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Signal strength measuring device and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090072102A KR20090072102A (en) | 2009-07-02 |
KR100962404B1 true KR100962404B1 (en) | 2010-06-11 |
Family
ID=41329365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070140101A Expired - Fee Related KR100962404B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Signal strength measuring device and method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100962404B1 (en) |
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---|---|---|---|---|
WO2020150051A3 (en) * | 2019-01-15 | 2020-10-29 | Litepoint Corporation | System and method for testing a data packet signal transceiver |
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CN104049142B (en) * | 2013-03-14 | 2018-11-09 | 爱德万测试公司 | ATE digital channels for RF frequency/power measurement |
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JP3129970U (en) | 2006-05-22 | 2007-03-08 | 普誠科技股▲ふん▼有限公司 | Circuit test equipment |
-
2007
- 2007-12-28 KR KR1020070140101A patent/KR100962404B1/en not_active Expired - Fee Related
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KR20090072102A (en) | 2009-07-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20071228 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20091117 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20100526 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20100602 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20100603 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130111 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130111 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20150509 |