KR100955676B1 - Internal voltage generator - Google Patents
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Abstract
본 발명은 제1 기준전압 신호에 응답하여 내부전압 신호를 구동하되, 제1 제어신호 및 제2 제어신호에 따라 상기 내부전압 신호의 레벨을 조절하는 내부전압 구동부와; 제2 기준전압 신호와 상기 내부전압 신호를 비교하여 상기 제1 제어신호를 생성하고, 제3 기준전압 신호와 상기 내부전압 신호를 비교하여 상기 제2 제어신호를 생성하는 구동 제어부를 포함하는 내부전압 발생 회로에 관한 것이다.The present invention provides an internal voltage driver configured to drive an internal voltage signal in response to a first reference voltage signal and to adjust a level of the internal voltage signal according to a first control signal and a second control signal; An internal voltage including a driving controller configured to generate a first control signal by comparing a second reference voltage signal with the internal voltage signal, and generate the second control signal by comparing a third reference voltage signal with the internal voltage signal; It relates to a generating circuit.
내부전압, 구동력, 데드존 Internal voltage, driving force, dead zone
Description
본 발명은 반도체 장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 내부전압 발생 회로에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly to an internal voltage generation circuit.
모바일 디램에서는 디램 성능을 향상 시키기 위해 VCORE, VPERI, VPP, VBB, VBLP, VCP 등의 내부전원을 만들어 사용하고 있다.Mobile DRAM uses internal power such as VCORE, VPERI, VPP, VBB, VBLP, VCP to improve DRAM performance.
VCORE나 VPP, VPERI, VBB 드라이버 등은 디램에서 사용하는 전류양 등을 정확히 모델링하여, 충분한 양의 구동력을 갖도록 설계하고 있다. VCORE, VPP, VPERI, and VBB drivers are designed to accurately model the amount of current used by the DRAM and to have sufficient driving force.
VBLP는 BL과 BLB를 프리차지하기 위해 사용되는 전원으로, 프리차지 구간에서만 사용될 뿐만 아니라, VBLP 레벨은 별도의 VBLP 드라이버 없이 VCORE와 VSS의 중간 레벨로 설정하는 것도 가능하므로, 반도체 메모리 장치에서 VBLP 드라이버가 차지하는 비중은 작다. 또한 VCP는 스토리지 노드와 함께 셀 캡(cell cap)의 한쪽 노드를 잡아주는 전원으로, 파워 업 구간 종료 후 일정 레벨로 유지된다.VBLP is a power supply used to precharge BL and BLB. It is not only used in the precharge section, but also the VBLP level can be set to the intermediate level between VCORE and VSS without a separate VBLP driver. Account for a small portion. In addition, the VCP is a power supply that holds one node of the cell cap together with the storage node and is maintained at a constant level after the power-up period ends.
한편, VBLP와 VCP 전원은 큰 레벨을 갖는 BL 및 BLB와 셀 캡 등의 로딩을 감당해야 하므로 너무 민감하게 반응하지 않게 하기 위해 일정한 전압 변동 구간인 데드 존을 설정하여 데드 존에 의해 허용된 전압 변동에서는 전류 소모를 줄이기 위해 드라이버를 동작시키지 않는 방법을 사용한다.On the other hand, the VBLP and VCP power supply must handle the load of BL and BLB and cell cap having a large level, so that the dead zone, which is a constant voltage fluctuation period, is set so as not to react too sensitively. In order to reduce the current consumption, the driver is not operated.
특히, VCP 전원은 초기 동작시 약 1/2 VCORE 레벨로 설정되어 유지되고, 스토리지 노드는 셀 캡을 통해 VCP의 영향을 받아 VCP와 거의 동일 레벨인 1/2 VCORE 레벨로 설정된다. 그런데 여기서 문제점이 발생할 수 있다.In particular, the VCP power supply is maintained at about 1/2 VCORE level during initial operation, and the storage node is set at 1/2 VCORE level, which is almost the same level as VCP under the influence of VCP through the cell cap. However, problems can occur here.
이상적인 경우 초기 스토리지 노드는 VCP 레벨을 따라 올라가서 1/2 VCORE 레벨로 설정되고, 셀 데이터가 입력되어 센스앰프가 동작하면, VCORE 레벨 또는 0V로 증폭된다. 가령, VCORE가 1.5V이고, VCP가 그 값의 반인 0.75V라면 초기 스토리지 노드는 이상적인 경우 0.75V까지 따라 올라갈 것이나, 약 0.75V에 못미치거나 그 이상까지 올라간 경우, 파워 업 이후 초기 오토 리프래쉬(auto-refresh) 수행시 0V 또는 VCORE 레벨로 증폭될 수 있다.In an ideal case, the initial storage node goes up to the VCP level and is set to the 1/2 VCORE level. When cell data is input and the sense amplifier operates, the initial storage node is amplified to the VCORE level or 0V. For example, if VCORE is 1.5V and VCP is 0.75V, half the value, the initial storage node will go up to 0.75V in the ideal case, but if it goes below or above about 0.75V, the initial auto refresh after power-up (auto-refresh) can be amplified to 0V or VCORE level.
만약, 스토리지 노드가 0.7V로 설정된 상태에서 오토 리프래쉬 때 0V로 증폭되는 경우 스토리지 노드의 레벨은 약 700mV 만큼 변동하므로, 커플링 효과에 의해 VCP 레벨도 낮아진다. 이후, VCP는 변동된 레벨을 VCP 드라이버의 성능에 따라 일정 시간동안 유지하게 된다.If the storage node is set to 0.7V and is amplified to 0V during auto refresh, the storage node level fluctuates by about 700mV, and thus the VCP level is lowered due to the coupling effect. Thereafter, the VCP maintains the changed level for a certain time depending on the performance of the VCP driver.
반대로 스토리지 노드가 0.8V로 설정된 상태에서 오토 리프래쉬 때 VCORE 레벨로 증폭되는 경우 스토리지 노드의 레벨은 약 700mV 만큼 변동하므로, 커플링 효과에 의해 VCP 레벨도 높아져 일정 시간동안 유지된다.On the contrary, when the storage node is set to 0.8V and amplified to VCORE level during the auto-refresh, the level of the storage node fluctuates by about 700mV. Thus, the coupling effect increases the VCP level and is maintained for a certain time.
여기서, 문제가 될 수 있는 점은 상승된 또는 하강된 VCP 레벨 자체가 아니라, VCP 레벨이 상승하거나 하강하는 상태에서 리드 동작 또는 라이트 동작이 진행되는 경우이다. 이때, 셀 캡의 기준 레벨이 되는 VCP 레벨이 변동하므로, 데이터 값이 '1'이 될지 '0'이 될지 알 수 없는 문제가 발생한다.Here, the problem may be a case where the read operation or the write operation is performed while the VCP level is rising or falling, not the rising or falling VCP level itself. At this time, since the VCP level which becomes the reference level of the cell cap is changed, there is a problem that it is not known whether the data value becomes '1' or '0'.
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따라서, 본 발명은 내부전압(VCP) 드라이버의 데드존을 제어하는 방법을 사용하여 드라이버의 구동력을 높여 변동하는 VCP 레벨을 좀 더 빨리 안정화시키고자 하는 내부전압 발생 회로를 제시한다.Accordingly, the present invention proposes an internal voltage generation circuit which attempts to stabilize a variable VCP level more quickly by increasing the driving force of the driver using a method of controlling the dead zone of the internal voltage (VCP) driver.
이러한 본 발명은 제1 기준전압 신호에 응답하여 내부전압 신호를 구동하되, 제1 제어신호 및 제2 제어신호에 따라 상기 내부전압 신호의 레벨을 조절하는 내부전압 구동부와; 제2 기준전압 신호와 상기 내부전압 신호를 비교하여 상기 제1 제어신호를 생성하고, 제3 기준전압 신호와 상기 내부전압 신호를 비교하여 상기 제2 제어신호를 생성하는 구동 제어부를 포함한다.The present invention includes an internal voltage driver configured to drive an internal voltage signal in response to a first reference voltage signal and to adjust a level of the internal voltage signal according to a first control signal and a second control signal; And a driving controller configured to generate a first control signal by comparing a second reference voltage signal with the internal voltage signal, and generate the second control signal by comparing a third reference voltage signal with the internal voltage signal.
그리고, 본 발명은 제1 내지 제3 기준전압을 출력하는 기준전압 발생부와, 상기 제1 기준전압 신호에 응답하여 내부전압 신호를 구동하는 구동부와, 상기 구동부로부터 출력되는 내부전압 신호의 레벨을 조절하는 내부전압 조절부를 포함하는 내부전압 구동부와, 상기 제2 기준전압 신호와 상기 내부전압 신호를 비교하여 제1 제어신호를 생성하고, 상기 제3 기준전압 신호와 상기 내부전압 신호를 비교하여 제2 제어신호를 생성하는 구동 제어부를 포함한다.The present invention provides a reference voltage generator for outputting first to third reference voltages, a driver for driving an internal voltage signal in response to the first reference voltage signal, and a level of an internal voltage signal output from the driver. An internal voltage driver including an internal voltage adjusting unit to adjust the second voltage and the internal voltage signal to generate a first control signal, and compare the third reference voltage signal with the internal voltage signal to generate a first control signal; And a driving controller for generating a control signal.
이와 같이 본 발명은 내부전압(VCP) 드라이버의 데드존을 제어하는 방법을 사용하여 드라이버의 구동력을 높여 변동하는 VCP 레벨을 좀 더 빨리 안정화시킬 수 있다.As described above, the present invention can stabilize the VCP level changing faster by increasing the driving force of the driver using a method of controlling the dead zone of the internal voltage (VCP) driver.
이하, 실시예를 통하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하기로 한다. 이들 실시예는 단지 본 발명을 예시하기 위한 것이며, 본 발명의 권리 보호 범위가 이들 실시예에 의해 제한되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples. These embodiments are only for illustrating the present invention, and the scope of rights of the present invention is not limited by these embodiments.
도 1 은 본 발명에 의한 내부전압 발생 회로의 블럭도이다.1 is a block diagram of an internal voltage generation circuit according to the present invention.
도 1 에 도시한 바와 같이, 본 발명은 제1 내지 제3 기준전압(LEVEL,LEVEL+a,LEVEL-a)을 출력하는 기준전압 발생부(30)와, 상기 제1 기준전압 신호(LEVEL)에 응답하여 내부전압 신호(VCP)를 풀업 구동하는 풀업신호(PU)와 내부전압 신호(VCP)를 풀다운 구동하는 풀다운신호(PD)를 생성하되, 풀업신호(PU)와 풀다운신호(PD)의 레벨은 제1 제어신호(CS1)와 제2 제어신호(CS2)에 따라 조절되는 내부전압 구동부(10)와, 상기 제2, 제3 기준전압 신호(LEVEL+a,LEVEL-a)와 상기 내부전압 신호(VCP)를 입력받아 상기 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)를 출력하는 구동 제어부(20)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the present invention provides a
여기서, 상기 제2 기준전압(LEVEL+a)의 레벨은 상기 제1 기준전압(LEVEL)의 레벨보다 일정 크기만큼 높고, 상기 제3 기준전압(LEVEL-a)의 레벨은 상기 제1기준전압(LEVEL)의 레벨보다 일정 크기만큼 낮다.Here, the level of the second reference voltage LEVEL + a is higher than the level of the first reference voltage LEVEL by a predetermined amount, and the level of the third reference voltage LEVEL-a is the first reference voltage LEVEL) is lower than a certain level.
도 2 는 도 1 의 내부전압 구동부의 회로도이다. 도 2 에 도시한 바와 같이, 상기 내부전압 구동부(10)는 상기 제1기준전압 신호(LEVEL)에 응답하여 상기 내부전압 신호(VCP)를 구동하는 구동부(11)와, 상기 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)에 따라 레벨이 조절되는 풀업신호(PU)와 풀다운신호(PD)에 응답하여 내부전압 신호(VCP)의 레벨을 조절하는 내부전압 조절부(12)를 포함한다.FIG. 2 is a circuit diagram of the internal voltage driver of FIG. 1. As illustrated in FIG. 2, the
상기 내부전압 조절부(12)는 상기 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)에 응답하여 풀업신호(PU)와 풀다운신호(PD)를 조절하는 조절신호 출력부(121)와. 상기 풀업신호(PU)와 풀다운신호(PD)에 응답하여 상기 내부전압 신호(VCP)의 레벨을 조절하는 조절부(122)를 포함한다.The
상기 조절신호 출력부(121)는 상기 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)에 응답하여 턴-온 또는 턴-오프되어 전류량을 조절하는 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)와, 상기 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)의 전류 제어에 따라 레벨이 조절되는 상기 풀업신호(PU)와 풀다운신호(PD)를 출력하는 가변부(P4,P5,N4,N5)를 포함한다.The control
상기 조절부(122)는 상기 풀업신호(PU)에 응답하여 상기 내부전압 신호(VCP)의 레벨을 조절하는 PMOS 드라이버(P1)와, 상기 풀다운신호(PD)에 응답하여 상기 내부전압 신호(VCP)의 레벨을 조절하는 NMOS 드라이버(N1)를 포함한다.The adjusting
도 3a 와 3b 은 도 1 의 구동 제어부의 회로도이다. 도 3a 에 도시한 바와 같이 상기 구동 제어부(20)는 상기 제2기준전압 신호(LEVEL+a)와 상기 내부전압 신호(VCP)를 비교하고, 그 비교결과에 따라 일정 로직 레벨의 제1제어신호(CS1)를 출력하는 제1제어부(21)와, 도 3b에 도시한 바와 같이 상기 제3기준전압 신호(LEVEL-a)와 상기 내부전압 신호(VCP)를 비교하고, 그 비교결과에 따라 일정 로직 레벨의 제어신호(CS2)를 출력하는 제2제어부(22)를 포함한다.3A and 3B are circuit diagrams of the drive controller of FIG. 1. As shown in FIG. 3A, the
도 3a 에 도시한 바와 같이, 상기 제1제어부(21)는 상기 제2기준전압 신호(LEVEL+a)와 상기 내부전압 신호(VCP)를 비교하는 제1비교기(211)와, 상기 제1비교기(211)의 출력신호와 문턱전압 바이어스 신호(Vth)에 응답하여 일정 로직 레벨 의 제어신호(CS1)를 출력하는 제어신호 출력부(212)를 포함한다. 여기서, 상기 제어신호 출력부(212)는 상기 제1비교기(211)의 출력신호에 응답하여 풀-업 구동하는 풀-업 구동부와, 상기 문턱전압 바이어스 신호(Vth)에 응답하여 풀-다운 구동하는 풀-다운 구동부를 포함한다.As shown in FIG. 3A, the
도 3b 에 도시한 바와 같이, 상기 제2제어부(22)는 상기 제3기준전압 신호(LEVEL-a)와 상기 내부전압 신호(VCP)를 비교하는 제2비교기(221)와, 상기 제2비교기(221)의 출력신호와 문턱전압 바이어스 신호(Vth)에 응답하여 일정 로직 레벨의 제어신호(CS2)를 출력하는 제어신호 출력부(222)를 포함한다. 상기 제어신호 출력부(222)는 상기 제2비교기(221)의 출력신호에 응답하여 풀-업 구동하는 풀-업 구동부와, 상기 문턱전압 바이어스 신호(Vth)에 응답하여 풀-다운 구동하는 풀-다운 구동부를 포함한다. 또한, 상기 제어신호 출력부(222)는 상기 풀-업 구동부와 풀-다운 구동부의 출력신호를 버퍼링하는 버퍼부(223)를 더 포함한다.As shown in FIG. 3B, the
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 내부전압 발생 회로의 동작을 도 1 내지 도 4를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation of the internal voltage generating circuit according to the present invention configured as described above will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 4.
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도 1 에 도시한 바와 같이, 내부전압 구동부(10)는 제1 기준전압 신호(LEVEL)에 응답하여 내부전압 신호(VCP)를 풀업 구동하는 풀업신호(PU)와 풀다운 구동하는 풀다운신호(PD)를 생성하며, 풀업신호(PU)와 풀다운신호(PD)의 레벨은 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)에 따라 조절한다. 구동 제어부(20)는 제2 기준전압 신호(LEVEL+a)와 내부전압 신호(VCP)를 비교하여 제1 제어신호(CS1)를 생성하고, 제3 기준전압 신호(LEVEL-a)와 내부전압 신호(VCP)를 비교하여 제2 제어신호(CS2)를 생성한다.As illustrated in FIG. 1, the
도 2 에 도시한 바와 같이, 내부전압 구동부(10)의 내부전압 조절부(12)는 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)에 응답하여 턴-온 또는 턴-오프되어 전류량을 조절하는 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)를 이용하여 데드존을 제어한다. 여기서, 윗단의 PMOS 트랜지스터(P2,P3)들은 +i(VCP)에 대한 데드존을 제어하고, 아랫단의 NMOS 트랜지스터(N2,N3)들은 -i(VCP)에 대한 데드존을 제어한다. 즉, 내부전압 조절부(12)는 구동 제어부(20)로부터 출력되는 제1 제어신호(CS1) 및 제2 제어신호(CS2)에 따라 상기 PMOS 트랜지스터 또는 NMOS 트랜지스터를 몇 개 사용할 것인지를 결정한다. 여기서, PMOS 트랜지스터나 NMOS 트랜지스터의 사이즈 또는 갯수가 많아지면 데드존은 커지게 된다.As shown in FIG. 2, the internal
따라서, 노말 상황일때는 내부전압 신호(VCP)의 동작 민감도를 줄여 전류 소모를 막고자 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)에 포함되는 PMOS 트랜지스터나 NMOS 트랜지스터의 갯수를 많이 사용할 것이고, 비교기의 입력을 받아 동작시에는 PMOS 트랜지스터나 NMOS 트랜지스터의 갯수를 줄여 데드존을 적게 만들어 내부전압 구동부의 동작을 민감하게 만들어 구동력을 크게 할 수 있다.Therefore, in the normal situation, the number of PMOS transistors or NMOS transistors included in the variable control units P2, P3, N2, and N3 will be used to reduce current sensitivity by reducing the operation sensitivity of the internal voltage signal VCP. When receiving an input, the number of PMOS transistors or NMOS transistors can be reduced to make the dead zone less, making the operation of the internal voltage driver sensitive, thereby increasing the driving force.
도 3a와 도3b를 참조하여 구동 제어부(20)의 동작을 설명하면 다음과 같다.An operation of the driving
먼저, 도 3a에 도시한 바와 같이 제1 제어부(21)는 내부전압 신호(VCP)가 제2 기준전압 신호(LEVEL+a)보다 높아지면 제1 비교기(211)가 이를 감지하여 제1 제어신호(CS1)로 하이 레벨의 로직 신호를 출력한다. 그러면 내부전압 조절부(12, 도2참조)는 상기 제1 제어신호(CS1)에 응답하여 병렬 연결된 복수의 PMOS 트랜지스터(P2,P3)를 턴-오프시키므로, PMOS 트랜지스터(P2,P3)를 통한 전류량이 줄어들어 풀업신호(PU)의 레벨은 낮아진다. 따라서, PMOS드라이버(P1)는 풀업신호(PU)에 응답하여 내부전압 신호(VCP)를 풀업 구동한다. 즉, 내부전압 조절부(12)는 제1 제어신호(CS1)에 응답하여 사용하는 PMOS 트랜지스터의 갯수가 작아지는 경우 +i(VCP)의 데드존을 줄인다.First, as shown in FIG. 3A, when the internal voltage signal VCP becomes higher than the second reference voltage signal LEVEL + a, the
또한, 제1 제어부(21)는 내부전압 신호(VCP)가 제2 기준전압 신호(LEVEL+a)보다 낮아지면 제1 비교기(211)가 확실한 로우레벨 또는 하이레벨을 잡지 않으므로 제1 제어신호(CS1)로 로우 레벨의 로직 신호를 출력한다. 그러면 내부전압 조절부(12)는 상기 제1 제어신호(CS1)에 응답하여 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)의 PMOS 트랜지스터(P2,P3)를 턴-온 시킨다. 즉, 내부전압 조절부(12)는 사용하는 PMOS 갯수가 많아져 +i(VCP)의 데드존을 넓힌다.In addition, when the internal voltage signal VCP becomes lower than the second reference voltage signal LEVEL + a, the
그리고, 도 3b에 도시한 바와 같이 제2 제어부(22)는 내부전압 신호(VCP)가 제3 기준전압 신호(LEVEL-a)보다 낮아지면 제2 비교기(221)가 이를 감지하여 제2 제어신호(CS2)로 로우레벨의 로직 신호를 출력한다. 그러면, 내부전압 조절부(12, 도2참조)는 상기 제2 제어신호(CS2)에 응답하여 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)의 NMOS 트랜지스터(N2,N3)를 턴-오프시키므로, NMOS 트랜지스터(N2,N3)를 통한 전류량이 줄어들어 풀다운신호(PD)의 레벨은 높아진다. 따라서, NMOS드라이버(N1)는 풀다운신호(PD)에 응답하여 내부전압 신호(VCP)를 풀다운 구동한다. 즉, 내부전압 조절부(12)는 제2 제어신호(CS2)에 응답하여 사용하는 NMOS 트랜지스터의 갯수가 작아지는 경우 -i(VCP)의 데드존을 줄인다.As shown in FIG. 3B, when the internal voltage signal VCP becomes lower than the third reference voltage signal LEVEL-a, the
또한, 제2 제어부(22)는 내부전압 신호(VCP)가 제3 기준전압 신호(LEVEL-a)보다 높아지면 제2 비교기(221)가 이를 감지하여 하이레벨의 제2 제어신호(CS2)를 출력한다. 그러면, 내부전압 조절부(12, 도2참조)는 상기 제2 제어신호(CS2)에 응답하여 가변 제어부(P2,P3,N2,N3)의 NMOS 트랜지스터(N2,N3)를 턴-온 시킨다. 즉, 내부전압 조절부(12)는 사용하는 NMOS 트랜지스터의 갯수가 많아져 -i(VCP)의 데드존을 넓힌다.In addition, when the internal voltage signal VCP becomes higher than the third reference voltage signal LEVEL-a, the
이와 같이 본 발명은 정해진 범위 내에서 내부전압 신호(VCP)의 레벨이 작게 변동할 때는 내부전압 신호(VCP)의 전류 소모를 적게 하기 위해 기 설정된 데드존을 유지하며 동작하고, 스토리지 노드의 커플링 영향을 받아 내부전압 신호(VCP)의 레벨이 상승 또는 하강하는 때에는 VCP 드라이버의 데드존의 크기를 제어하여 내부전압 신호(VCP)의 레벨을 빠르게 안정화시키도록 동작한다.As such, when the level of the internal voltage signal VCP fluctuates within a predetermined range, the present invention operates while maintaining a preset dead zone to reduce the current consumption of the internal voltage signal VCP, and coupling the storage node. When the level of the internal voltage signal VCP rises or falls under the influence, the dead zone of the VCP driver is controlled to quickly stabilize the level of the internal voltage signal VCP.
도 1 은 본 발명에 의한 내부전압 발생 회로의 블럭도이다.1 is a block diagram of an internal voltage generation circuit according to the present invention.
도 2 는 도 1 의 내부전압 구동부의 회로도이다.FIG. 2 is a circuit diagram of the internal voltage driver of FIG. 1.
도 3a 와 도 3b 는 도 1 의 구동 제어부의 회로도이다.3A and 3B are circuit diagrams of the driving controller of FIG. 1.
도 4 는 본 발명에 의해 데드 존(dead zone)이 가변되는 것을 도시한 도면이다.4 is a view showing that the dead zone (dead zone) is variable by the present invention.
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