KR100914745B1 - Valve and apparatus for treating substrate with the valve - Google Patents
Valve and apparatus for treating substrate with the valveInfo
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Abstract
본 발명은 밸브 및 이를 구비하여 기판을 처리하는 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 밸브는 전기적으로 구동되는 모터를 사용하여 처리액이 흐르는 라인을 개폐하되, 밸브 내 처리액이 흐르는 통로를 개폐하는 플레이트가 스프링과 같은 가압부재에 의한 가압압력으로 인해 빠른 속도로 상기 통로를 개폐하도록 한다. 본 발명에 따른 밸브는 에어 구동 방식의 밸브보다 안정적이고 정밀한 처리액의 유량 조절을 수행한다.The present invention relates to a valve and an apparatus for treating the substrate having the same. The valve according to the present invention is to open and close the line through which the processing liquid flows using an electrically driven motor, the plate for opening and closing the passage through which the processing liquid flows in the valve at a high speed due to the pressing pressure by the pressure member such as a spring Open and close the passage. The valve according to the present invention performs a more stable and precise flow rate control of the processing liquid than the air driven valve.
Description
본 발명은 밸브 및 이를 구비하여 기판을 처리하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a valve and an apparatus for treating the substrate having the same.
일반적인 기판 처리 장치는 반도체 집적회로 칩 제조를 위한 웨이퍼 및 평판 디스플레이트 제조를 위한 유리 기판 등과 같은 기판을 처리하는 장치이다. 이러한 기판 처리 장치들 중 처리액을 사용하여 기판을 처리하는 장치에는 처리액이 흐르는 라인 내 처리액의 유량을 조절하기 위한 밸브가 구비된다. 예컨대, 기판 상에 감광액(photoresist)을 도포하는 도포장치에는 감광액이 흐르는 라인 상에 설치되어 감광액의 유량 조절을 위한 밸브가 구비된다. 반도체 기판 표면에 감광액을 도포하는 도포 공정 장치는 공정시 기판 표면에 기설정된 일정량의 감광액이 도포되어야 한다. 따라서, 밸브는 공정시 감광액 공급 라인이 일정량의 감광액을 안정적으로 공급할 수 있도록, 감광액 공급 라인의 안정적인 개폐 및 정밀한 감광액의 유량 조절을 수행하여야 한다. Typical substrate processing apparatuses are apparatuses for processing substrates such as wafers for semiconductor integrated circuit chip manufacturing and glass substrates for flat panel display manufacturing. Among the substrate processing apparatuses, the apparatus for processing the substrate using the processing liquid is provided with a valve for adjusting the flow rate of the processing liquid in the line through which the processing liquid flows. For example, the coating apparatus for applying a photoresist on a substrate is provided on a line through which the photoresist flows and is provided with a valve for adjusting the flow rate of the photoresist. In the coating process apparatus for applying the photosensitive liquid to the semiconductor substrate surface, a predetermined amount of the photosensitive liquid must be applied to the substrate surface during the process. Therefore, the valve must perform stable opening and closing of the photosensitive liquid supply line and precisely adjusting the flow rate of the photosensitive liquid so that the photosensitive liquid supply line can stably supply a certain amount of the photosensitive liquid during the process.
그러나, 일반적인 밸브는 감광액의 토출량을 정밀하게 조절하기 힘들다. 예컨대, 에어 구동 방식으로 작동되는 밸브는 에어 공급의 오류로 인한 밸브 오동작의 발생빈도가 높다. 또한, 에어 구동 방식으로 작동되는 밸브는 개폐 동작을 반복할수록 라인을 개폐하는 속도에 변화가 발생되어, 감광액의 공급량이 변화되는 현상이 발생된다. However, a general valve is difficult to precisely control the discharge amount of the photosensitive liquid. For example, a valve operated in an air driven manner has a high frequency of valve malfunction due to an error in air supply. In addition, as the valve operated by the air driving method is changed in the speed of opening and closing the line as the opening and closing operation is repeated, the phenomenon that the supply amount of the photosensitive liquid is changed.
본 발명은 처리액을 유량 조절을 정밀하게 수행하는 밸브 및 이를 구비하는 기판 처리 장치를 제공한다.The present invention provides a valve and a substrate processing apparatus having the same for precisely controlling the flow rate of the processing liquid.
본 발명은 안정적으로 유량 조절을 수행하는 밸브 및 이를 구비하는 기판 처리 장치를 제공한다.The present invention provides a valve for stably adjusting the flow rate and a substrate processing apparatus having the same.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 밸브는 내부에 유체가 흐르는 통로가 형성되는 밸브몸체 및 상기 밸브몸체 내부에 구비되어 상기 통로를 개폐시키는 개폐부재를 포함하되, 상기 개폐부재는 상하로 이동되는 제1 플레이트, 일면이 상기 제1 플레이트와 대향되고, 타면이 상기 통로를 개폐하도록 제공되는 제2 플레이트, 일단이 상기 제1 플레이트와 결합되고 타단이 상기 제2 플레이트와 결합되고 상기 제1 플레이트로부터 상기 제2 플레이트를 가압하도록 제공되는 스프링, 그리고 상기 제1 플레이트를 상하로 구동시키는 제1 구동부를 포함한다.The valve according to the present invention for achieving the above object includes a valve body in which a fluid flow passage is formed therein and an opening and closing member provided in the valve body to open and close the passage, wherein the opening and closing member moves up and down. A first plate, one surface of which is opposite to the first plate, the second plate of which the other surface is provided to open and close the passage, one end of which is coupled to the first plate, and the other end of which is coupled to the second plate, And a spring provided to pressurize the second plate from the first plate, and a first driving unit driving the first plate up and down.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 제1 구동부는 전기적으로 구동되는 모터이다.According to an embodiment of the present invention, the first driving unit is an electrically driven motor.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 밸브는 상기 지점을 기준으로 상기 통로 내 처리액에 흡입력을 가하여, 일정량의 처리액을 흡입시키는 흡입부재를 더 포함하되, 상기 흡입부재는 상기 통로에 제공되는 흡입구에 설치되는 다이아프램 및 상기 흡입구를 따라 상기 다이아프램을 이동시키는 제2 구동부를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, the valve further comprises a suction member for applying a suction force to the processing liquid in the passage on the basis of the point, the suction member for sucking a predetermined amount of the processing liquid, the suction member is provided in the passage The diaphragm is installed in the second driving unit for moving the diaphragm along the suction port.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 밸브는 상기 제1 구동부 및 상기 제2 구동부를 냉각하는 냉각부재를 더 포함한다.According to an embodiment of the invention, the valve further comprises a cooling member for cooling the first drive and the second drive.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 처리 장치는 기판을 지지하는 척, 상기 척에 놓여진 기판의 처리면으로 감광액을 분사하는 노즐, 상기 노즐로 감광액을 공급하는 처리액 공급라인, 그리고 상기 처리액 공급라인 상에 설치되어, 상기 처리액 공급라인 내 감광액의 유량을 조절하는 밸브를 포함하되, 상기 밸브는 내부에 유체가 흐르는 통로가 형성되는 밸브몸체 및 상기 밸브몸체 내부에 구비되어 상기 통로를 개폐시키는 개폐부재를 포함하고, 상기 개폐부재는 상하로 이동되는 제1 플레이트, 일면이 상기 제1 플레이트와 대향되고, 타면이 상기 통로를 개폐하도록 제공되는 제2 플레이트, 일단이 상기 제1 플레이트와 결합되고 타단이 상기 제2 플레이트와 결합되고 상기 제1 플레이트로부터 상기 제2 플레이트를 가압하도록 제공되는 스프링, 그리고 상기 제1 플레이트를 상하로 구동시키는 제1 구동부를 포함한다.A substrate processing apparatus according to the present invention for achieving the above object is a chuck supporting a substrate, a nozzle for injecting the photosensitive liquid to the processing surface of the substrate placed on the chuck, a processing liquid supply line for supplying the photosensitive liquid to the nozzle, and the It is provided on the processing liquid supply line, including a valve for adjusting the flow rate of the photosensitive liquid in the processing liquid supply line, the valve is provided in the valve body and the valve body in which a fluid flow passage is formed inside the passage And an opening and closing member for opening and closing the first and second members, wherein the opening and closing member includes a first plate which is moved up and down, one side of which faces the first plate, and a second plate of which the other side is provided to open and close the passage. And a second end coupled with the second plate and provided to press the second plate from the first plate. A pring and a first drive unit for driving the first plate up and down.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 제1 구동부는 전기적으로 구동되는 모터이다.According to an embodiment of the present invention, the first driving unit is an electrically driven motor.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 밸브는 상기 지점을 기준으로 상기 제2 통로 내 처리액에 흡입력을 가하여, 일정량의 처리액을 흡입시키는 흡입부재를 더 포함하되, 상기 흡입부재는 상기 통로에 제공되는 흡입구에 설치되는 다이아프램 및 상기 흡입구를 따라 상기 다이아프램을 이동시키는 제2 구동부를 포함한다.According to an embodiment of the invention, the valve further comprises a suction member for applying a suction force to the processing liquid in the second passage on the basis of the point, the suction member to suck a predetermined amount of the processing liquid, the suction member is provided in the passage And a second driving part for moving the diaphragm along the suction port.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 밸브는 상기 제1 구동부 및 상기 제2 구동부를 냉각하는 냉각부재를 더 포함한다.According to an embodiment of the invention, the valve further comprises a cooling member for cooling the first drive and the second drive.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 기판 처리 장치는 상기 제1 구동모터 및 상기 제2 구동모터의 동작 상태를 판단하는 제어부 및 상기 제어부가 판단한 결과를 표시하는 표시부를 더 포함한다.According to an exemplary embodiment of the present disclosure, the substrate processing apparatus further includes a controller configured to determine operating states of the first and second drive motors, and a display configured to display a result determined by the controller.
본 발명은 처리액이 흐르는 라인의 개폐속도를 향상시켜, 처리액의 유량 조절을 정밀하게 수행한다.The present invention improves the opening and closing speed of the line through which the treatment liquid flows, thereby precisely controlling the flow rate of the treatment liquid.
본 발명은 전기적으로 구동되는 모터를 사용하여 처리액이 흐르는 라인의 개폐를 수행하여 안정적으로 유량 조절을 수행한다.The present invention performs a flow rate control stably by performing the opening and closing of the line through which the processing liquid flows using an electrically driven motor.
도 1은 본 발명에 따른 기판 처리 장치를 보여주는 도면이다.1 is a view showing a substrate processing apparatus according to the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 밸브를 보여주는 도면이다.2 is a view showing the valve shown in FIG.
도 3은 도 2에 도시된 A영역의 확대도이다.FIG. 3 is an enlarged view of region A shown in FIG. 2.
도 4는 본 발명에 따른 기판 처리 방법을 보여주는 순서도이다.4 is a flowchart showing a substrate processing method according to the present invention.
도 5a 내지 도 5d는 본 발명에 따른 밸브의 개폐과정을 설명하기 위한 도면들이다.5a to 5d are views for explaining the opening and closing process of the valve according to the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명** Description of symbols on the main parts of the drawings *
1 : 기판 처리 장치 100 : 밸브1: substrate processing apparatus 100: valve
10 : 공정유닛 110 : 밸브몸체10: process unit 110: valve body
12 : 용기 120 : 개폐부재12 container 120 opening member
14 : 스핀척 122, 124 : 제1 및 제2 플레이트14: spin chuck 122, 124: first and second plate
16 : 구동기 126 : 가압부재16 driver 126 pressure member
20 : 처리액 공급유닛 128 : 플레이트 구동기20: processing liquid supply unit 128: plate driver
22 : 처리액 공급라인 130 : 흡입부재22: treatment liquid supply line 130: suction member
24 : 처리액 공급원 140 : 냉각부재24: treatment liquid supply source 140: cooling member
26 : 노즐26: nozzle
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호로 표시된 부분들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided to ensure that the disclosed subject matter is thorough and complete, and that the spirit of the present invention to those skilled in the art will fully convey. Portions denoted by like reference numerals denote like elements throughout the specification.
또한, 본 실시예에서는 반도체 기판 표면에 감광액을 도포하는 도포 공정을 수행하는 장치를 예로 들어 설명하였으나, 발명은 밸브를 구비하여 공정을 수행하는 모든 장치에 적용이 가능하다.In addition, the present embodiment has been described with an apparatus for performing a coating process for applying a photosensitive liquid to the surface of the semiconductor substrate as an example, the invention can be applied to any apparatus having a process to perform a process.
(실시예)(Example)
도 1은 본 발명에 따른 기판 처리 장치를 보여주는 도면이고, 도 2는 도 1에 도시된 밸브를 보여주는 도면이다. 그리고, 도 3은 도 2에 도시된 A영역의 확대도이다. 1 is a view showing a substrate processing apparatus according to the present invention, Figure 2 is a view showing a valve shown in FIG. 3 is an enlarged view of region A illustrated in FIG. 2.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 기판 처리 장치(apparatus for treating substrate)(1)는 공정유닛(process unit)(10), 처리액 공급유닛(treating-liquid supply unit(20), 제어부(controller)(30), 그리고 표시부(display member)(40)를 포함한다. Referring to FIG. 1, an apparatus for treating substrate 1 according to the present invention includes a process unit 10, a treating-liquid supply unit 20, and a controller. 30, and a display member 40.
공정유닛(10)은 반도체 기판(이하, '웨이퍼')(W)을 소정의 처리액으로 처리하는 공정을 수행하고, 처리액 공급유닛(20)은 공정유닛(10)으로 처리액을 공급한다. 여기서, 상기 기판 처리 공정은 웨이퍼(W) 표면에 감광액(photoresist)를 도포하는 도포 공정(coat process)일 수 있다.The process unit 10 performs a process of processing a semiconductor substrate (hereinafter referred to as "wafer") W with a predetermined treatment liquid, and the treatment liquid supply unit 20 supplies the treatment liquid to the process unit 10. . Here, the substrate treatment process may be a coat process for applying a photoresist to the surface of the wafer (W).
공정유닛(10)은 용기(bowl)(12), 스핀척(spin chuck)(14), 그리고 구동기(driving part)(16)를 포함한다. 용기(12)는 내부에 도포 공정을 수행하는 공간을 제공한다. 용기(12)는 상부가 개방된 컵(cup) 형상을 가진다. 용기(12)의 개방된 상부는 공정시 용기(12) 내부 공간으로 웨이퍼(W)가 출입되기 위한 통로 사용된다.The process unit 10 includes a bowl 12, a spin chuck 14, and a driving part 16. The container 12 provides a space therein for performing an application process. The container 12 has a cup shape with an open top. The open upper part of the container 12 is used as a passage for the wafer W to enter and exit the interior of the container 12 during the process.
스핀척(14)은 도포 공정시 용기(12) 내부에서 웨이퍼(W)를 지지한다. 스핀척(14)은 용기(12) 내부에서 웨이퍼(W)의 높이를 조절하도록 상하로 승강된다. 또한, 스핀척(14)은 진공으로 웨이퍼(W)의 피처리면을 흡착시켜는 진공고정수단을 구비할 수 있다.The spin chuck 14 supports the wafer W inside the container 12 during the application process. The spin chuck 14 is lifted up and down to adjust the height of the wafer W in the container 12. In addition, the spin chuck 14 may be provided with vacuum fixing means for adsorbing the surface to be processed of the wafer W by vacuum.
구동기(16)는 스핀척(14)이 회전 운동 및 승강 운동하도록 스핀척(14)을 구동시킨다. 즉, 구동기(16)는 스핀척(14)을 회전시켜, 공정시 스핀척(14)에 놓여진 웨이퍼(W)를 기설정된 회전속도로 회전시킨다. 또한, 구동기(16)는 스핀척(14)을 상하로 승강시켜, 공정시 스핀척(14)에 놓여진 웨이퍼(W)의 높이를 조절한다.The driver 16 drives the spin chuck 14 so that the spin chuck 14 rotates and lifts. That is, the driver 16 rotates the spin chuck 14 to rotate the wafer W placed on the spin chuck 14 at a predetermined rotational speed during the process. In addition, the driver 16 moves the spin chuck 14 up and down to adjust the height of the wafer W placed on the spin chuck 14 during the process.
처리액 공급유닛(20)은 처리액 공급라인(treating liquid supply line)(22), 처리액 공급원(treating liquid supply source)(24), 노즐(nozzle)(26), 그리고 밸브(valve)(100)를 포함한다. 처리액 공급라인(22)은 처리액 공급원(24)으로부터 노즐(26)로 처리액을 공급한다. 여기서, 상기 처리액은 감광액(photoresist)일 수 있다. 처리액 공급원(24)은 처리액을 저장한다. 노즐(26)은 공정시 처리액 공급라인(22)으로부터 처리액을 공급받아 스핀척(14)에 놓여진 웨이퍼(W)의 처리면으로 처리액을 분사한다. 밸브(100)는 처리액 공급라인(22) 상에 설치되어, 처리액 공급라인(22) 내 처리액의 유량을 조절한다.The treatment liquid supply unit 20 includes a treatment liquid supply line 22, a treatment liquid supply source 24, a nozzle 26, and a valve 100. ). The treatment liquid supply line 22 supplies the treatment liquid from the treatment liquid supply source 24 to the nozzle 26. In this case, the treatment liquid may be a photoresist. The treatment liquid supply source 24 stores the treatment liquid. The nozzle 26 receives the processing liquid from the processing liquid supply line 22 during the process and injects the processing liquid to the processing surface of the wafer W placed on the spin chuck 14. The valve 100 is installed on the treatment liquid supply line 22 to adjust the flow rate of the treatment liquid in the treatment liquid supply line 22.
제어부(30)는 구동기(16) 및 밸브(100)를 제어한다. 즉, 제어부(30)는 구동기(16)를 제어하여, 웨이퍼(W)의 도포 공정을 제어한다. 또한, 제어부(30)는 밸브(100)의 유량 조절을 제어한다. 그리고, 표시부(40)는 밸브(100)의 제어 과정 및 오동작 여부를 작업자가 인지할 수 있도록 외부에 표시해준다.The controller 30 controls the actuator 16 and the valve 100. That is, the control part 30 controls the driver 16 and controls the application | coating process of the wafer W. FIG. In addition, the controller 30 controls the flow rate control of the valve 100. In addition, the display unit 40 displays the control process and malfunction of the valve 100 to the outside so that an operator can recognize it.
계속해서, 본 발명에 따른 밸브(100)의 구성들을 상세히 설명한다. Subsequently, the configurations of the valve 100 according to the present invention will be described in detail.
도 2를 참조하면, 밸브(100)는 처리액 공급라인(22)의 개폐 및 처리액 공급라인(22) 내 일정량의 처리액 흡입을 수행한다. 예컨대, 밸브(100)는 흡출밸브(suction valve)일 수 있다.Referring to FIG. 2, the valve 100 opens and closes the processing liquid supply line 22 and sucks a predetermined amount of the processing liquid into the processing liquid supply line 22. For example, the valve 100 may be a suction valve.
밸브(100)는 밸브몸체(valve body)(110), 개폐부재(open/close member)(120), 흡입부재(sucktion member)(130), 그리고 냉각부재(cooling member)(140)를 포함한다.The valve 100 includes a valve body 110, an open / close member 120, a suction member 130, and a cooling member 140. .
밸브몸체(110)는 내부에 밸브의 구성들이 구비되기 위한 공간을 제공한다. 밸브몸체(110)는 처리액 공급라인(22) 상에 설치된다. 밸브몸체(110)는 내부에 처리액이 흐르는 통로(112)가 제공된다. 통로(112)의 일단에는 처리액 공급라인(22)으로부터 처리액이 유입되는 유입구(112a)가 제공되고, 통로(112)의 타단에는 처리액 공급라인(22)으로 처리액이 유출되는 유출구(112b)가 제공된다. 그리고, 통로(112)의 유입구(112a)와 유출구(112b) 사이에는 통로(112)의 개폐(open/close)를 위한 개폐구(112c) 및 통로(112) 내 처리액의 흡입을 위한 흡입구(112d)가 제공된다. 개폐구(112c)는 유출구(112b)보다 유입구(112a)에 가깝게 제공되고, 흡입구(112d)는 개폐구(112c)와 유출구(112b) 사이에 제공된다.The valve body 110 provides a space for providing the components of the valve therein. The valve body 110 is installed on the treatment liquid supply line 22. The valve body 110 is provided with a passage 112 through which a processing liquid flows. One end of the passage 112 is provided with an inlet 112a through which the treatment liquid flows from the treatment liquid supply line 22, and the other end of the passage 112 has an outlet through which the treatment liquid flows out into the treatment liquid supply line 22. 112b) is provided. In addition, between the inlet 112a and the outlet 112b of the passage 112, the opening 112c for opening / closing the passage 112 and the suction port 112d for suction of the treatment liquid in the passage 112. ) Is provided. The opening and closing port 112c is provided closer to the inlet 112a than the outlet 112b, and the inlet 112d is provided between the opening and closing port 112c and the outlet 112b.
개폐부재(120)는 통로(112)를 개방 및 밀폐한다. 개폐부재(120)는 제1 플레이트(first plate)(122), 제2 플레이트(second plate)(124), 가압부재(pressurization member)(126), 그리고 플레이트 구동기(plate driving part)(128)를 포함한다.The opening and closing member 120 opens and closes the passage 112. The opening and closing member 120 may include a first plate 122, a second plate 124, a pressurization member 126, and a plate driving part 128. Include.
제1 및 제2 플레이트(122, 124)는 하우징(110) 내부에서 일정간격이 서로 이격되어 배치된다. 제1 및 제2 플레이트(122, 124)는 상하로 배치된다. 제1 플레이트(122)는 플레이트 구동기(128)와 결합되고, 제2 플레이트(124)는 제1 플레이트(122) 상에서 제1 플레이트(122)로부터 상하로 이동이 가능하도록 설치된다.The first and second plates 122 and 124 are arranged to be spaced apart from each other within the housing 110. The first and second plates 122 and 124 are disposed up and down. The first plate 122 is coupled to the plate driver 128, and the second plate 124 is installed to be movable up and down from the first plate 122 on the first plate 122.
가압부재(126)는 제2 플레이트(124)가 제1 플레이트(122)로부터 멀어지는 방향으로 압력이 가해지도록 제2 플레이트(124)를 가압한다. 예컨대, 가압부재(126)는 제1 플레이트(122) 및 제2 플레이트(124) 사이에 설치되는 스프링(spring)으로 제공된다. 본 실시예에서는 가압부재(126)로 스프링을 사용하는 경우를 예로 들어 설명하였으나, 가압부재(126)로는 다양한 구성들이 사용될 수 있다.The pressing member 126 presses the second plate 124 so that pressure is applied in a direction away from the first plate 122. For example, the pressing member 126 is provided as a spring installed between the first plate 122 and the second plate 124. In this embodiment, the case in which the spring is used as the pressing member 126 has been described as an example, but various configurations may be used as the pressing member 126.
플레이트 구동기(128)는 제1 및 제2 플레이트(122, 124)가 상하로 동작되도록 제1 및 제2 플레이트(122, 124)를 구동시킨다. 플레이트 구동기(128)는 제1 구동부(first driving member)(128a) 및 제1 샤프트(first shaft)(128b)를 포함한다. 제1 구동부(128a)는 전기적으로 구동되는 모터이다. 제1 샤프트(128b)의 일단은 제1 구동부(이하, '제1 구동모터')(128a)와 결합되고, 제1 샤프트(128b)의 타단은 제1 플레이트(122)와 결합된다. 따라서, 제1 플레이트(122)는 제1 구동모터(128)에 의해 직접적으로 구동되고, 제2 플레이트(124)는 제1 플레이트(122)의 동작에 따라 제1 플레이트(122)로부터 멀어지거나 가까워지도록 동작된다.The plate driver 128 drives the first and second plates 122 and 124 so that the first and second plates 122 and 124 are operated up and down. The plate driver 128 includes a first driving member 128a and a first shaft 128b. The first driver 128a is an electrically driven motor. One end of the first shaft 128b is coupled to the first driving unit (hereinafter, 'first drive motor') 128a, and the other end of the first shaft 128b is coupled to the first plate 122. Therefore, the first plate 122 is directly driven by the first drive motor 128, the second plate 124 is moved away from or close to the first plate 122 in accordance with the operation of the first plate 122. It is operated to lose.
흡입부재(130)는 통로(112) 내 일정량의 처리액을 흡입한다. 흡입부재(130)는 다이아프램(diaphragm)(132) 및 다이아프램 구동기(diaphragm driving part)(134)를 가진다. 다이아프램(132)는 통로(112)의 흡입구(112d)에 제공된다. 다이아프램(132)은 흡입구(112d)와 밀착되어 상하로 이동가능하도록 설치된다. 따라서, 다이아프램(132)이 통로(112)를 따라 상승되면, 통로(112) 내 처리액에 흡입력에 제공되어, 통로(112) 내 일정량의 처리액이 흡입구(112d)를 따라 처리액이 빨려 들어가도록 한다.The suction member 130 sucks a predetermined amount of the processing liquid in the passage 112. The suction member 130 has a diaphragm 132 and a diaphragm driving part 134. The diaphragm 132 is provided at the inlet 112d of the passage 112. The diaphragm 132 is installed to be in close contact with the suction port 112d and to be movable up and down. Therefore, when the diaphragm 132 is raised along the passage 112, the processing liquid in the passage 112 is applied to the suction force, so that a predetermined amount of the processing liquid in the passage 112 is sucked along the suction port 112d. Let's go in.
다이아프램 구동기(134)는 다이아프램(132)이 상승되도록 하여 통로(112) 내 일정량의 처리액이 흡입구(112d)로 흡입되거나 흡입구(112d)로부터 배출되도록 한다. 다이아프램 구동기(134)는 제2 구동부(second driving member)(134a) 및 샤프트(shaft)(134b)를 포함한다. 제2 구동부(이하, '제2 구동모터')(134a)는 전기적으로 구동되는 모터이다. 샤프트(134b)의 일단은 구동모터(134a)와 결합되고, 샤프트(134b)의 타단은 다이아프램(132)과 결합된다. 본 실시예에서는 전기적으로 동작되는 제2 구동모터(134a)를 구비하는 다이아프램 구동기(134)를 구비하여 다이아프램(132)을 구동시키는 경우를 예로 들어 설명하였으나, 다이아프램 구동기는 에어(air)의 공급에 의한 구동방식으로 다이아프램(132)을 구동시킬 수 있다.The diaphragm driver 134 causes the diaphragm 132 to be raised so that a predetermined amount of processing liquid in the passage 112 is sucked into or discharged from the inlet 112d. The diaphragm driver 134 includes a second driving member 134a and a shaft 134b. The second driving unit (hereinafter referred to as 'second driving motor') 134a is an electrically driven motor. One end of the shaft 134b is coupled to the driving motor 134a, and the other end of the shaft 134b is coupled to the diaphragm 132. In the present exemplary embodiment, the diaphragm driver 134 including the electrically operated second driving motor 134a is driven to drive the diaphragm 132 as an example. However, the diaphragm driver is air. The diaphragm 132 may be driven by a driving method by supplying of.
냉각부재(140)는 제1 및 제2 구동모터(128a, 134a)를 냉각시킨다. 냉각부재(140)는 냉각유체 순환라인을 가진다. 냉각유체 순환라인은 공급라인(142) 및 회수라인(144)을 포함한다. 냉각유체 순환라인은 제1 및 제2 구동모터(128a, 134a)와 인접하는 영역에 냉각유체가 흐르도록 하여, 제1 및 제2 구동모터(128a, 134a)의 온도가 일정온도를 유지하도록 한다. 냉각유체로는 냉각가스가 사용될 수 있다. 또는, 선택적으로 냉각유체로는 냉각액이 사용될 수 있다.The cooling member 140 cools the first and second drive motors 128a and 134a. The cooling member 140 has a cooling fluid circulation line. The cooling fluid circulation line includes a supply line 142 and a recovery line 144. The cooling fluid circulation line allows the cooling fluid to flow in an area adjacent to the first and second driving motors 128a and 134a so that the temperature of the first and second driving motors 128a and 134a maintains a constant temperature. . Cooling gas may be used as the cooling fluid. Alternatively, a cooling liquid may be used as the cooling fluid.
이하, 도 4를 참조하여 상술한 본 발명에 따른 기판 처리 장치의 공정 과정을 상세히 설명한다. 도 4는 본 발명에 따른 기판 처리 방법을 보여주는 순서도이다. 그리고, 도 5a 내지 도 5d는 본 발명에 따른 밸브의 개폐과정을 설명하기 위한 도면들이다.Hereinafter, the process of the substrate processing apparatus according to the present invention described above with reference to FIG. 4 will be described in detail. 4 is a flowchart showing a substrate processing method according to the present invention. 5A to 5D are views for explaining the opening and closing process of the valve according to the present invention.
공정이 개시되면, 스핀척(14)에 웨이퍼(W)가 로딩(loading)된다(S110). 스핀척(14)에 웨이퍼(W)가 로딩되면, 구동기(16)는 스핀척(14)을 구동시켜, 웨이퍼(W)가 기설정된 회전속도로 회전되도록 한다. 그리고, 밸브(100)가 처리액 공급라인(22)를 개방하고, 처리액 공급라인(22)은 처리액 공급원(24)으로부터 노즐(26)로 처리액을 공급한다(S120). 노즐(26)을 통해 웨이퍼(W) 처리면의 중앙영역으로 기설정된 양의 처리액이 토출되면, 밸브(100)는 처리액 공급라인(22) 내 일정량의 처리액을 흡입한다(S130). 통로(112) 내 일정량의 처리액이 흡입되면, 노즐(126)의 토출구 주변에 잔류하는 처리액이 노즐(126) 내부로 흡입되어 노즐(126)의 토출구 주변에 처리액이 잔류하는 것을 방지한다.When the process is started, the wafer W is loaded on the spin chuck 14 (S110). When the wafer W is loaded on the spin chuck 14, the driver 16 drives the spin chuck 14 to rotate the wafer W at a predetermined rotational speed. Then, the valve 100 opens the processing liquid supply line 22, and the processing liquid supply line 22 supplies the processing liquid from the processing liquid supply source 24 to the nozzle 26 (S120). When a predetermined amount of processing liquid is discharged through the nozzle 26 to the center region of the processing surface of the wafer W, the valve 100 sucks a predetermined amount of processing liquid in the processing liquid supply line 22 (S130). When a predetermined amount of the processing liquid in the passage 112 is sucked, the processing liquid remaining around the discharge port of the nozzle 126 is sucked into the nozzle 126 to prevent the processing liquid from remaining around the discharge port of the nozzle 126. .
한편, 웨이퍼(W)의 중앙영역으로 공급된 처리액은 웨이퍼(W)의 원심력에 의해 중앙영역으로부터 가장자리영역으로 이동되면서, 웨이퍼(W) 처리면에 고르게 도포된다(S140). 처리액의 도포가 완료되면, 구동기(16)는 스핀척(14)의 회전을 중지시키고, 로봇암(미도시됨)은 스핀척(14)으로부터 웨이퍼(W)를 언로딩(unlaoding)한다(S150).Meanwhile, the processing liquid supplied to the center region of the wafer W is moved evenly from the center region to the edge region by the centrifugal force of the wafer W, and is evenly applied to the wafer W processing surface (S140). When the application of the processing liquid is completed, the driver 16 stops the rotation of the spin chuck 14, and the robot arm (not shown) unloads the wafer W from the spin chuck 14 ( S150).
상술한 기판 처리 공정이 수행되는 과정에서 밸브(100)가 처리액 공급라인(22)을 밀폐하는 과정은 다음과 같다. 처리액의 공급이 개시되면, 도 5a에 도시된 바와 같이, 밸브(100)가 처리액 공급라인(22)을 개방한 후 일정량의 처리액을 노즐(126)로 공급한다. 그 후 처리액의 공급이 완료되면, 밸브(100)는 처리액 공급라인(22)을 밀폐한다. 처리액 공급라인(22)의 밀폐가 개시되면, 제1 구동모터(128a)는 제1 플레이트(122)를 아래 방향으로 이동되도록 구동시킨다. 제1 플레이트(122)가 순간적으로 아래방향으로 구동되면, 플레이트(124)는 제1 플레이트(122)의 이동속도보다 빠른 속도로 아래 방향으로 이동되어 개폐구(112c)를 밀폐시킨다. 즉, 제1 구동모터(128a)가 제1 플레이트(122)를 아래방향으로 구동시키면, 도 5b 및 도 5c에 도시된 바와 같이, 가압부재(126)가 제2 플레이트(124)를 가압하는 압력에 의해 제2 플레이트(124)는 제1 플레이트(122) 상으로부터 튀어나가 개폐구(112c)를 밀폐한다. 그 후, 도 5d를 참조하면, 제1 플레이트(122)가 아래 방향으로 이동하게 되어, 가압부재(126)는 제2 플레이트(124)를 가압하여, 제2 플레이트(124)가 보다 효과적으로 개폐구(112c)를 밀폐하도록 한다.The process of closing the processing liquid supply line 22 by the valve 100 in the process of performing the substrate processing described above is as follows. When the supply of the treatment liquid is started, as shown in FIG. 5A, the valve 100 opens the treatment liquid supply line 22 and supplies a predetermined amount of the treatment liquid to the nozzle 126. After the supply of the treatment liquid is completed, the valve 100 seals the treatment liquid supply line 22. When the sealing of the processing liquid supply line 22 is started, the first driving motor 128a drives the first plate 122 to move downward. When the first plate 122 is momentarily driven downward, the plate 124 is moved downward at a speed faster than the moving speed of the first plate 122 to close the opening 112c. That is, when the first drive motor 128a drives the first plate 122 downward, as shown in FIGS. 5B and 5C, the pressure member 126 presses the second plate 124. As a result, the second plate 124 protrudes from the first plate 122 to close the opening and closing port 112c. Thereafter, referring to FIG. 5D, the first plate 122 moves downward, and the pressing member 126 presses the second plate 124 so that the second plate 124 more effectively opens and closes ( Seal 112c).
처리액 공급라인(22)의 밀폐가 완료되면, 제2 구동모터(134a)는 다이아프램(132)을 상방향으로 이동시켜, 흡입구(112d)를 통해 통로(112) 내 일정량의 처리액을 흡입시킨다. 이러한 밸브(100)의 개폐 동작 및 처리액 흡입을 위한 제1 및 제2 구동모터(128a, 134a)의 구동 상태는 제어부(30)에 의해 감지된 후 작업자가 이를 인지할 수 있도록 표시부(40)에 표시된다.When the sealing of the processing liquid supply line 22 is completed, the second driving motor 134a moves the diaphragm 132 upward, and sucks a predetermined amount of the processing liquid in the passage 112 through the suction port 112d. Let's do it. The driving state of the first and second driving motors 128a and 134a for the opening and closing operation of the valve 100 and the suction of the processing liquid is detected by the controller 30 and then displayed by the display unit 40 so that an operator can recognize them. Is displayed.
상술한 본 발명에 따른 밸브(100)는 공정시 처리액을 공급하는 라인 내 처리액의 유량을 효과적으로 조절한다. 특히, 밸브(100)는 전기적으로 구동되는 모터를 사용하여 처리액이 흐르는 라인을 개폐하는 경우에 있어서, 가압부재(126)에 의해 개폐구(112c)를 개폐하는 제2 플레이트(124)의 개폐속도를 향상시킬 수 있어, 에어 구동 방식의 밸브에 비해 개폐구(112c)의 개폐속도가 늦은 단점을 보완하고, 에어 구동 방식의 밸브가 가지는 밸브의 오동작의 발생빈도를 감소시킨다.The valve 100 according to the present invention described above effectively regulates the flow rate of the processing liquid in the line for supplying the processing liquid during the process. In particular, when the valve 100 opens and closes a line through which the processing liquid flows using an electrically driven motor, the opening and closing speed of the second plate 124 opening and closing the opening and closing port 112c by the pressing member 126 is opened. It can be improved, to compensate for the disadvantage that the opening and closing speed of the opening and closing port (112c) is slow compared to the air-driven valve, reducing the frequency of malfunction of the valve of the air-driven valve.
이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 전술한 실시예들은 본 발명을 실시하는데 있어 최선의 상태를 설명하기 위한 것이며, 본 발명과 같은 다른 발명을 이용하는데 당업계에 알려진 다른 상태로의 실시, 그리고 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The foregoing detailed description illustrates the present invention. In addition, the foregoing description merely shows and describes preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications, and environments. That is, changes or modifications may be made within the scope of the concept of the invention disclosed in this specification, the scope equivalent to the disclosed contents, and / or the skill or knowledge in the art. The above-described embodiments are for explaining the best state in carrying out the present invention, the use of other inventions such as the present invention in other state known in the art, and the specific fields of application and uses of the present invention. Various changes are also possible. Accordingly, the detailed description of the invention is not intended to limit the invention to the disclosed embodiments. Also, the appended claims should be construed to include other embodiments.
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