KR100888003B1

KR100888003B1 - 위치 검증 장치 및 방법, 위치 측정 장치 및 방법, 및 위치 검증용 또는 위치 측정용의 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록매체

Info

Publication number: KR100888003B1
Application number: KR1020077018044A
Authority: KR
Inventors: 도루 가네가에; 마사쓰구 오가와; 마사히로 가토; 에이사쿠 가와노; 마사히로 미우라
Original assignee: 파이오니아 가부시키가이샤; 닛폰 덴키 가부시키가이샤
Priority date: 2005-01-14
Filing date: 2006-01-13
Publication date: 2009-03-09
Anticipated expiration: 2026-01-13
Also published as: US7586625B2; DE602006020687D1; EP1840887A1; CN100587813C; EP1840887A4; JPWO2006075697A1; KR20070097562A; CN101099201A; US20080137503A1; TW200632890A; TWI319872B; EP1840887B1; JP4518566B2; WO2006075697A1

Abstract

위치 검증 장치(300)는 제1 기록층(L0층)의 제1 영역(10)에 정보를 기록하는 제1 기록 디바이스(302 등); 상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역(11a)을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층(L1층)의 제2 영역(11)에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 디바이스(302 등); 상기 정보를 재생하는 재생 디바이스(302 등); 및 재생 품질이 상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질에서 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용범위 내에 있는지 여부를 판정하는 판정 디바이스(305)를 구비한다.

위치검증, 위치측정, 2층형, 다층형, 기록매체, 상대적인 어긋남, 치수오차, 접합오차, 편심, 편심량, 반경방향 오차

Description

위치 검증 장치 및 방법, 위치 측정 장치 및 방법, 및 위치 검증용 또는 위치 측정용의 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록매체{POSITION VERIFYING APPARATUS AND METHOD, POSITION MEASURING APPARATUS AND METHOD, AND A RECORDING MEDIUM RECODING THEREON A COMPUTER PROGRAM FOR POSITION VERIFICATION OR POSITION MEASUREMENT}

본 발명은, 예를 들면 2층형(two-layer type)의 DVD, CD(Compact Disc) 등의 다층형의 정보 기록 매체에서의 복수의 기록층에서의 상대적인 어긋남(relative shift)을 검증하기 위한 위치 검증 장치 및 방법, 위치 측정 장치 및 방법, 및 위치 검증용 또는 위치 측정용의 컴퓨터 프로그램에 관한 것이다.

예를 들면, CD-ROM(Compact Disc-Read Only Memory), CD-R(Compact Disc-Recordable), DVD-ROM, DVD-R, DVD-RW, 및 DVD+R 등의 정보 기록 매체에서는, 특허 문헌 1 및 2 등에 기재되어 있는 바와 같이, 동일 기판 상에 복수의 기록층이 적층, 또는 부착되어 이루어진 다층형 또는 듀얼층형(dual layer type)의 광디스크 등의 정보 기록 매체도 개발되어 있다. 그리고, 이와 같은 듀얼층형, 즉 2층형의 광디스크에 정보를 기록하는, DVD 레코더 등의 정보 기록 장치에서는, 레이저광의 조사 측에서 볼 때 앞쪽(즉, 광픽업에 가까운 측)에 위치하는 기록층(이하 필요에 따라 "L0층"이라고 한다)에 기록용의 레이저광을 집광함으로써, L0층에 정보를 가 열 등에 의한 비가역(irreversible) 변화 기록 방식이나 재기록 가능 방식으로 기록한다. 또, L0층 등을 통하여, 레이저광의 조사 측에서 볼 때 L0층의 뒤쪽(즉, 광픽업으로부터 먼 쪽)에 위치하는 기록층(이하 필요에 따라 "L1층"이라고 한다)에 상기 레이저광을 집광함으로써, L1층에 정보를 기록한다.

이와 같은 2층형의 광디스크를 구성하는 L1층에 정보를 기록할 때는, 도 18(a)에 나타낸 바와 같이, 기록된 L0층을 통하여 L1층에 조사된 레이저광의 최적인 기록 파워는, 예를 들면 도 18(c)의 가는선(흰색 삼각형)의 포물선 상에서의 지터 값(jitter value)이 최소가 되는 44.5(mW: 밀리 와트)이다. 한편, 도 18(b)에 나타낸 바와 같이, 기록된 L0층과는 광 투과비율이 상이한 미기록 상태의 L0층을 통하여 L1층에 조사된 레이저광의 최적인 기록 파워는, 예를 들면, 도 18(c)의 굵은선(검은색 삼각형)의 포물선 상에서의 지터 값이 최소가 되는 46(mW: 밀리 와트)이다. 따라서, L1층에 기록하는 경우에, L0층이 기록되어 있는지 여부를 고려할 필요성이 있다. 이에 대하여는, 예를 들면 기록된 상태의 L0층을 투과한 기록용의 레이저광이 조사되어야 한다는, 이른바, 기록 요건(recording order)을 충족시키는 기록 방법이 고안 또는 발명되어 있다.

그러나, 이와 같은 2층형의 정보 기록 매체를 제조할 때, L0층과 L1층이 별개의 스탬퍼에 의해 형성되고, 접합 또는 적층된다. 따라서, L0층 및 L1층에서, 접합 오차에 의해 편심(eccentricity)이 생길 가능성이 있다. 또는, L0층과 L1층이 별개의 스탬퍼에 의해 형성되기 때문에, 각각의 기록층에서의 트랙 피치에 편차가 생기거나, 각각의 기록층에서의 기준 어드레스(reference address)에 대한 절대 적인 반경 위치에 편차, 이른바 치수 오차(dimensional error)가 발생할 가능성이 있다. 이들 원인에 의해, 예를 들면 프리포맷 어드레스(pre-format address) 등의 어드레스 정보에 의해 L0층의 기록 영역에 연관되는 L1층의 기록 영역의 반경 위치에 어긋남(shift)이 생겨서, 전술한 기록 요건을 반드시 충족시키지 못할 가능성이 생긴다.

더욱 구체적으로, 예를 들면 기록된 LO층을 투과하여 기록할 때에 최적화된 기록 파워를 사용하여 기록을 행한다고 하자. 도 19의 좌측부에 나타낸 바와 같이, L1층에 정보를 기록할 때, 단일의 트랙 상에, 기록된 상태의 L0층을 투과한 기록용의 레이저광이 조사된 경우에는, 재생 신호의 진폭이 크고 양호한 신호 품질을 얻을 수 있다. 즉, 신호 품질을 나타내는 일례인 비대칭성 값(asysmetry value)이 적정한 값이 된다. 한편, 도 19의 우측부에 나타낸 바와 같이, 미기록 상태의 L0층을 투과한 기록용의 레이저광이 조사된 경우에는, 재생 신호의 진폭이 작아져 양호한 신호 품질은 얻을 수 없다. 즉, 비대칭성 값이 적정하지 않게 된다. 또한, 한편, 도 19의 중앙부에서 나타낸 바와 같이, 단일의 트랙 상에, 기록 상태의 영역과 미기록 상태의 영역이 혼재하는 L0층을 투과한 기록용의 레이저광이 조사된 경우에는, 재생 신호의 진폭은 편심량의 크기로 따라 변동한다. 즉, 비대칭성 값이 적정한 레벨과 적정하지 않은 레벨 중 한쪽에서 다른 쪽으로 천이한다.

이 상대적인 어긋남에 기인하는 최적의 기록 파워의 편차를 없애기 위해, 기록 장치가 L1층의 기록 영역에 연관되는 L0층의 기록 영역의 기록 상태를 검출하는 것은, 전술한 상대적인 어긋남을 정확하게 인식할 필요가 있기 때문에, 기록 제어 처리가 복잡하게 된다. 한편, 만일 이 상대적인 어긋남에 기인하는 최적의 기록 파워의 편차를 무시하고 정보를 기록한 경우, 예를 들면 기록된 정보를 재생하는 재생 장치에서 2진 신호(binary signal)를 얻기 위한 처리 파라미터를 동적으로 변경하여야 하므로 제어가 복잡하게 되어, 재생 처리 시의 부하가 증대된다.

그래서, 본 명세서 발명자들은, 전술한 상대적인 어긋남에 기인하는 어드레스 정보와 반경 위치의 오차를 허용 범위 내에 들도록 규정하는 것이 가능한 정보 기록 매체를 제안한다.

일반적으로, 2층형의 광디스크에 생기는 상대적인 어긋남, 즉 L0층의 하나의 어드레스에서의 반경 위치와, 하나의 어드레스에 연관되는 L1층의 다른 어드레스에서의 반경 위치와의 오차를 측정하기 위해, 이하와 같은 2가지 방법을 발명하였다.

제1 방법은, 레이저광을 조사 및 수광하는 광학 헤드(이하 필요에 따라 "PU: Pick Up"라고 한다)의 반경 위치를 계측하는 방법이다. 이 방법에서는, 디스크의 회전 중심 위치 및 PU의 상대 위치에 기초하여, 원하는 어드레스에 연관되는 반경 위치를 검출하는 것이 가능하고, 원하는 어드레스는 L0층 및 L1층 각각에서 PU에 의해 판독된다. 더욱 구체적으로는, 레이저광과 인코더를 구비하는 위치 센서 등의 위치 측정 디바이스는 PU 본체, 또는 레이저광을 집광시키는 대물 렌즈의 위치를 측정한다. 또, 측정된 대물 렌즈의 위치를 시계열적으로 해석함으로써, L0층의 트랙과 L1층의 트랙이 편심하여 회전하는 상태를 해석하는 것이 가능해진다. 이상 설명한 바와 같이, 제1 방법에 의하면, L0층 및 L1층의 임의의 어드레스에서의 반경 위치를 고정밀도로 측정하는 것이 가능해진다.

제2 방법은, 2차원 좌표를 측정 가능한 현미경을 사용하는 방법이다. 이 방법에서는, 디스크 상의 트랙을 현미경으로 관찰하고, 대체로 원형상인 트랙 위의 임의의 3점에서의 평면 좌표를 측정함으로써, 그 트랙의 중심 좌표와 반경을 검출할 수 있다. 더욱 구체적으로는, 도 20에 나타낸 3점("Q1" - "Q3")으로부터 중심 좌표 "OL1"를 검출할 수 있다. 또한, 이 좌표 측정을 L0층 및 L1층에서 행함으로써, 2개의 트랙의 상대적인 위치 관계를 검출할 수 있다. 도 20에 나타낸 거리 "d"에 의해 LO층과 L1층과의 반경 방향에서의 편심량을 검출할 수 있다. 특히, 원하는 어드레스를 포함하는 트랙에 미리 기록을 행함으로써, 이 좌표 측정 시에, 해당 트랙의 발견을 용이하게 할 수 있다. 이 제2 방법에서는, 제1 방법과 마찬가지로 임의의 어드레스에서의 반경 위치를 용이하게 측정할 수 있다. 또, 각 층의 트랙의 중심 좌표와 반경을 동시에 검출 가능하므로, 상대적인 위치 관계를 직접적으로 파악할 수 있다.

특허 문헌 1: 일본 특허공개공보 제2000-311346호

특허 문헌 2: 일본 특허공개공보 제2001-23237호

발명이 해결하려고 하는 과제

그러나 전술한 제1 방법에서는, 임의의 어드레스에서의 반경 위치의 고정밀도로 측정을 위해, 레이저광의 변위를 계측 가능한 위치 측정 장치 등의 비교적 고가의 측정 장치가 내장된 전용의 측정 기기를 이용해야 한다고 하는 기술적인 문제점이 있다.

게다가, 전술한 제2 방법에서는, 2차원 좌표를 측정 가능한 현미경을 사용하므로, 비교적 고가의 측정 시스템을 이용해야 한다고 하는 기술적인 문제점이 있다. 또, 트랙 위의 임의의 3점으로부터 중심 좌표와 반경을 산출하는 산출과정에서, 오차가 생기고 쉽고 고정밀도로 측정할 수 없을 가능성이 있다는 기술적인 문제점도 있다.

따라서, 본 발명은, 예를 들면 복수의 기록층을 가지는 정보 기록 매체에서의 상대적인 어긋남을, 보다 저비용으로 간편하게 검증하는 것이 가능한 위치 검증 장치 및 방법, 위치 측정 장치 및 방법, 및 컴퓨터로 하여금 이와 같은 위치 검증 장치, 또는 위치 측정 장치로 기능하게 하는 컴퓨터 프로그램을 제공하는 것을 목적으로 한다.

과제를 해결하기 위한 디바이스

(위치 검증 장치)

이하, 본 발명에 관한 위치 검증 장치에 대하여 설명한다.

본 발명의 상기한 목적은, 정보를 기록하기 위한 제1 트랙(L0층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계를 표시 가능)이 형성된 제1 기록층(LO층)과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙(L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계를 표시 가능)이 형성된 제2 기록층(L1층)을 적어도 구비하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이, 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 검증하는 위치 검증 장치로서, 상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 디바이스; 상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 디바이스; 상기 제2 영역에 기록된 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 디바이스; 및 상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용범위 내에 있는지 여부를 판정하는 판정 디바이스를 구비하는 위치 검증 장치에 의해 달성된다.

본 발명의 위치 검증 장치에 따르면, 먼저 제1 기록 디바이스에 의해, 제1 기록층의 제1 영역에, 예를 들면 제1 트랙에 따라, 정보를 기록한다. 그 후, 제2 기록 디바이스에 의해, 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 제2 영역에, 예를 들면 제2 트랙에 따라, 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보가 기록되고, 제1 영역을 투과하지 않은 레이저 광에 의해 다른 일부 정보가 기록된다.

여기에서, "대향"이라는 용어는 서로 마주 보는 2개의 기록층에서, 반경 위치가 대체로 같은 위치 관계를 의미할 수 있으며, 소정 마진(margin) 등을 포함하여 반경 위치가 대체로 같은 위치 관계를 의미할 수 있다.

구체적으로는, 제1 트랙은, 예를 들면 디스크형 기판의 내주 측과 외주 측 중 한 측으로부터 다른 측을 향하도록 구성될 수 있다. 이와는 반대로, 제2 트랙은 다른 쪽 측으로부터 한 측으로 향하도록 구성할 수도 있다. 즉, 2층형 또는 다층형의 정보 기록 매체에서는, 2개의 기록층에서의 기록을 위한 트랙이 역방향을 향하고 있는 "오포지트 방식(opposite manner)"으로 연속 기록을 행할 수 있다. 따라서, 제1 기록층의 종료단(end edge)에서 제2 기록층의 개시단(start edge)으로, 기록을 연속적으로 수행하면, 정보 기록 처리 또는 정보 재생 처리의 대상인 기록층을 전환할 때, 기판에서의 레이저광의 조사 위치를 반경 방향으로 거의 또는 전혀 바꿀 필요가 없다. 따라서, 신속한 층간 점프(즉, 층간 전환 동작)가 가능해진다. 이것은, 예를 들면 영화 등의 연속된 기록 정보를 기록할 때에, 기록층의 전환을 위해 특별한 버퍼 기능을 필요로 하지 않고, 중단되지 않는 재생을 용이하게 한다는 점에서 실천상 대단히 유용하다.

다르게는, 제1 트랙은, 전술한 내주측과 외주측 중 한 측으로부터 다른 측을 향하도록 구성될 수 있고, 제2 트랙은 제1 트랙과 마찬가지로, 한 측으로부터 다른 측을 향하도록 구성될 수도 있다. 즉, 2층형 또는 다층형의 정보 기록 매체에서는, 트랙이 2개의 기록층에서 동일 방향을 향하고 있는 "패러랠 방식(parallel manner)"에 의한 연속 기록을 수행할 수 있다. 이 패러랠 방식에서는, 제1 기록층에서의 기록 또는 재생이 종료되면, 제2 기록층에서의 기록 또는 재생이 개시될 시에, 광디스크의 최외주(most outer circumference)에 있는 광픽업을 다시, 최내주(most outer circumference)로 이동시켜야 한다. 따라서, 패러랠 방식은 전술한 오포지트 방식에 비해, 제1 기록층에서 제2 기록층으로의 전환 시간이 그만큼 더 걸린다.

다음에, 재생 디바이스에 의해, 제2 영역에 기록된 일부 정보, 및 다른 일부 정보가 재생된다.

이어서, 판정 디바이스에 의해, 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질과 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 따라, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부가 판정된다.

상대적인 어긋남이 허용 범위 이외이면, 제1 기록층과 제2 기록층의 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는 경우에 제1 기록층의 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 기록된 정보가 나타내는 재생 품질과 대체로 같은 재생 품질을 얻을 수 있다고 추정되는 추정 영역과, 천이 위치 사이에 모순이 생긴다. 따라서, 판정 디바이스는, 예를 들면 천이 위치와 추정 영역의 위치 관계에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 용이하게 판정할 수 있다. 게다가, 판정 디바이스는 또한, 이 추정 영역에서의 재생 품질에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 더욱 용이하게 판정할 수 있다.

또, 종래의 하나의 방법을 이용한 경우, 임의의 어드레스에서의 반경 위치의 고정밀 측정을 위해, 레이저광의 변위를 계측 가능한 위치 측정 장치 등의 비교적 고가의 측정 장치가 내장된 전용의 측정 기기를 이용해야 한다. 또는, 종래의 다른 방법을 이용한 경우, 측정에 2차원 좌표를 측정 가능한 현미경을 사용하므로, 비교적 고가의 측정 시스템을 이용해야 한다. 게다가, 트랙 상의 임의의 3점으로부터 중심 좌표와 반경을 산출하는 산출과정에서, 오차가 생기고 쉽고 고정밀도로 측정할 수 없을 가능성이 있다.

이에 대하여, 본 발명에 따르면, 오실로스코프(oscilloscope)나 PC 등의 범용의 장치를 구비하고 있으므로, 상대적인 어긋남, 즉 제1 기록층과 제2 기록층의 어드레스에서의 반경 위치의 오차를, 보다 저비용으로 간편하게 검증하는 것이 가능하다.

본 발명의 위치 검증 장치의 하나의 실시양태에서, 상기 제1 영역은 제1 개시 어드레스로부터 제1 종료 어드레스까지의 범위를 나타내는 제1 어드레스 범위에 의해 특정 가능하며, 상기 제2 영역은 상기 제1 어드레스 범위와 이론적으로 연관되는 범위를 나타내는 추정 어드레스 범위에 의해 특정 가능한 추정 영역을 포함하고, 상기 판정 디바이스는 상기 추정 영역의 위치와 상기 천이 위치 모두에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 판정한다.

이 실시양태에 따르면, 판정 디바이스에 의해, 추정 영역의 위치와 천이 위치에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부가 간편하게 판정된다. 여기에서, 본 발명의 "추정 영역(estimated area)"이란, (i) 제1 영역을 나타내는 제1 어드레스 범위와 이론적으로 연관되는 범위를 나타낸 추정 어드레스 범위에 의해 특정 가능하며, (ii) 제1 기록층과 제2 기록층의 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는 경우에, 제1 기록층의 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 기록된 정보가 나타내는 재생 품질과 대체로 같은 재생 품질을 얻을 수 있다고 추정되는 영역이다. 또, 본 발명에서의 용어 "연관(associated)"이란, 하나의 어드레스로부터 다른 어드레스를 유일하게 특정하는 것이 가능한, 일대일 관계를 의미한다. 구체적으로, 하나의 어드레스와 다른 어드레스가 보수의 관계에 있는 경우, 하나의 어드레스와 다른 어드레스는 연관된다고 말할 수 있다. 또, 이 관계는 상대 편차를 마진으로서 포함할 수 있다.

전술한 천이 위치 또는 추정 영역의 위치에 관계되는 실시양태에서는, 상기 천이 위치 또는 상기 추정 영역의 위치는, 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 중 하나에 기초하여, 어드레스 또는 반경 위치로 표시될 수 있다.

이와 같이 구성하면, 판정 디바이스에 의해, 추정 영역의 위치 및 천이 위치를 나타내는, 어드레스 또는 반경 위치에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부가 신속하고 간편하게 판정된다.

전술한 추정 영역에 관한 실시양태에서, 상기 추정 영역은 또한, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 각각이 가지고 있는 치수 오차, (ii) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차에 기초하여 생기는 반경 방향의 오차(radial run-out), 및 (iii) 상기 제2 기록층에 초점을 맺도록 상기 레이저광이 조사될 때, 상기 제1 기록층을 투과하되 상기 제1 기록층에 초점을 맺지 않도록 상기 레이저광이 조사되는 영역의 반경을 나타내는 투과광의 반경 중 적어도 하나를 가지는 상대 편차를 포함하도록 특정 가능하게 구성해도 된다.

이와 같이 구성하면, 상대적인 어긋남을 유발하는 치수 오차, 편심량이나 반경 방향의 오차, 또는 투과광의 반경의 영향을 받지 않고, 판정 디바이스에 의한 판정을 행할 수 있다. 따라서, 판정 디바이스에 의해, 추정 영역의 위치와 천이 위치에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부가 고정밀도로 간편하게 판정된다.

전술한 추정 영역에 관한 실시양태에서, 상기 추정 영역은 또한, 적어도 상기 제1 개시 어드레스와 연관되는 제2 개시 어드레스(G점) 및 상기 제1 종료 어드레스와 연관되는 제2 종료 어드레스(H점) 모두에 의해 특정될 수 있도록 구성해도 된다.

이와 같이 구성하면, 추정 영역은, (i) 제1 영역을 나타내는 제1 개시 어드레스 및 제1 종료 어드레스와, (ii) 허용 범위 내의 상대적인 어긋남에 기초하여 특정될 수 있다. 따라서, 이 추정 영역에 포함되는 적어도 2개의 지점도, (iii) 제2 개시 어드레스 및 제2 종료 어드레스와, (iv) 허용 범위 내의 상대적인 어긋남에 기초하여 특정될 수 있다.

따라서, 판정 디바이스에 의해, 제2 개시 어드레스 및 제2 종료 어드레스에서의 재생 품질에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 신속하고도 간편하게 판정할 수 있다.

또한, 전술한 추정 영역에 관한 실시양태에서는, 상기 추정 영역은 또한, 상기 제2 개시 어드레스(G점에 대응)에, 상기 상대 편차에 상당하는 어드레스를 나타내는 마진 어드레스를 가산 또는 감산하여 취득한 마진 개시 어드레스, 및 상기 제2 종료 어드레스(H점에 대응)에 상기 마진 어드레스를 감산 또는 가산하여 취득한 마진 종료 어드레스에 의해 특정될 수 있도록 구성해도 된다.

이와 같이 구성하면, 판정 디바이스에 의해, 마진 개시 어드레스 및 마진 종료 어드레스에서의 재생 품질에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 고정밀도로 간편하게 판정할 수 있다.

본 발명의 위치 검증 장치의 다른 실시양태에서는, 상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층에서의 반경 방향의 소정의 길이는, 상기 제1 트랙 및 상기 제2 트랙에서의 단위길이당 데이터량을 나타내며 적어도 원하는 범위 내에서 계산될 수 있는 기록 선밀도에 기초하여, 수치적으로 지정될 수 있다.

이 실시양태에 따르면, 기록 선밀도가 기록층 내에서 일정하면, 소정의 길이에 기초한, 추정 영역을 나타내는 어드레스와 같은 위치 정보를, 광디스크의 기록 영역의 면적에 기초하여 간편하게 도출하는 것이 가능해진다.

이 소정의 길이에 관한 실시양태에서는, 상기 소정의 길이와 연관된 데이터량은, 상기 소정의 길이에 상당하는 면적을 소정 계수로 나눔으로써 표시될 수 있다.

이와 같이 구성하면, 소정의 길이에 기초하여, 추정 영역을 나타내는 어드레스 와 같은 위치 정보를, 더욱 간편하게 도출하는 것이 가능하다.

이 소정의 길이에 관한 실시양태에서, 상기 소정의 길이와 연관된 데이터량은, 상기 소정의 길이의 개시단을 나타내는 어드레스로부터 상기 소정의 길이의 종료단을 나타내는 어드레스까지의 스파이럴 적분(spiral integration) 계산에 의해 표시될 수 있다.

이와 같이 구성하면, 소정의 길이에 기초한, 추정 영역을 나타내는 어드레스 와 같은 위치 정보를, 보다 고정밀도로 도출하는 것이 가능하다.

본 발명의 위치 검증 장치의 다른 실시양태에서, 상기 재생 품질은 비대칭성 값(asymmetry value)으로 표시될 수 있다.

이 실시양태에 따르면, 예를 들면 오실로스코프(oscilloscope) 등을 포함하는 판정 디바이스에 의해, 비대칭성과 같은 재생 품질에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부가 고정밀도로 간편하게 판정된다.

본 발명의 위치 검증 장치의 다른 실시양태에서, 상기 제1 기록 디바이스는, 상기 제1 영역을 상기 제1 기록층의 내주부, 중주부, 및 외주부 중 적어도 2지점에 형성하고, 상기 제2 기록 디바이스는, 상기 제2 영역을 상기 제2 기록층의 적어도 상기 2지점에 형성하며, 상기 판정 디바이스는, 적어도 상기 2지점에서 상기 상대적인 어긋남이 허용될 수 있는지 여부를 판정한다.

이 실시양태에 따르면, 판정 디바이스에 의해, 디스크 상의 적어도 2지점에서의 재생 품질에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부가 고정밀도로 간편하게 판정된다.

(위치 검증 방법)

이하, 본 발명에 관한 위치 검증 방법에 대하여 설명한다.

본 발명의 상기 목적은 또한, 정보를 기록하기 위한 제1 트랙(L0층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계를 표시 가능)이 형성된 제1 기록층(LO층)과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙(L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계를 표시 가능)이 형성된 제2 기록층(L1층)을 적어도 구비하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이, 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 검증하는 위치 검증 장치에서의 위치 검증 방법으로서, 상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 공정; 상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 공정; 상기 제2 영역에 기록된 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 공정; 및 상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용범위 내에 있는지 여부를 판정하는 판정 공정을 포함하는 위치 검증 방법에 의해 달성될 수 있다.

본 발명의 위치 검증 방법에 의하면, 전술한 본 발명의 위치 검증 장치가 가지는 각종 이익을 향수하는 것이 가능해진다.

그리고, 전술한 본 발명의 위치 검증 장치가 가지는 각종 실시양태에 대응하여, 본 발명의 위치 검증 방법도 각종 실시양태를 채용할 수 있다.

(위치 측정 장치)

이하, 본 발명의 위치 측정 장치에 대하여 설명한다.

본 발명의 상기 목적은 또한, 정보를 기록하기 위한 제1 트랙이 형성된 제1 기록층과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙이 형성된 제2 기록층을 적어도 구비하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이, 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 측정하는 위치 측정 장치로서, 상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 디바이스; 상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 디바이스; 상기 제2 영역에 기록된 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 디바이스; 및 상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남으로서 (v) 상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층이 각각 가지고 있는 치수 오차, 또는 (vi) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차에 기초하여 생긴 반경 방향의 오차를 측정하는 측정 디바이스를 구비하는 위치 측정 장치에 의해 달성될 수 있다.

본 발명의 위치 측정 장치에 따르면, 먼저, 제1 기록 디바이스에 의해, 제1 기록층의 제1 영역에, 예를 들면 제1 트랙에 따라 정보가 기록된다. 그 후에, 제2 기록 디바이스에 의해, 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 제2 영역에, 예를 들면 제2 트랙에 따라, 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보가 기록되고, 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보가 기록된다.

이어서, 측정 디바이스에 의해, 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상대적인 어긋남으로서 (v) 제1 기록층, 및 제2 기록층이 각각 가지고 있는 치수 오차, 또는 (vi) 제1 기록층과 제2 기록층의 접합 오차를 기초하여 생기는 반경 방향의 오차가 측정된다.

그 결과, 본 발명에 의하면, 오실로스코프나 PC 등의 범용의 장치로 구성할 수 있으므로, (v) 치수 오차, 또는 (vi) 반경 방향의 오차 등의 상대적인 어긋남의 크기를 보다 저비용으로 간편하게 측정하는 것이 가능하다.

(위치 측정 방법)

이하, 본 발명의 위치 측정 방법에 대하여 설명한다.

본 발명의 상기한 목적은 또한 정보를 기록하기 위한 제1 트랙이 형성된 제1 기록층과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙이 형성된 제2 기록층을 적어도 구비하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이, 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 측정하는 위치 측정 장치에서의 위치 측정 방법으로서, 상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 공정; 상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 공정; 상기 제2 영역에 기록된 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 공정; 및 상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남으로서 (v) 상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층이 각각 가지고 있는 치수 오차, 또는 (vi) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차에 기초하여 생긴 반경 방향의 오차를 측정하는 측정 공정을 포함하는 위치 측정 방법에 의해 달성될 수 있다.

본 발명의 위치 측정 방법에 의하면, 전술한 본 발명의 위치 측정 장치가 가지는 각종 이익을 향수하는 것이 가능하다.

그리고, 전술한 본 발명의 위치 측정 장치가 가지는 각종 실시양태에 응하여, 본 발명의 위치 측정 방법도 각종 실시양태를 채용할 수 있다.

(컴퓨터 프로그램)

이하, 본 발명의 컴퓨터 프로그램에 대하여 설명한다.

본 발명의 상기 목적은 또한, 상술한 본 발명의 위치 검증 장치(각종 실시양태를 포함함)에 구비된 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어로 이루어지는, 위치 검증을 위한 명령어로 이루어지는 컴퓨터 프로그램그램으로서, 상기 컴퓨터를, 상기 제1 기록 디바이스, 상기 제2 기록 디바이스, 상기 재생 디바이스, 및 상기 판정 디바이스 중 적어도 하나로서 기능하게 하는, 컴퓨터 프로그램에 의해서도 달성될 수 있다.

본 발명의 상기 목적은 또한, 전술한 본 발명의 위치 측정 장치(각종 실시양태를 포함함)에 구비된 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어로 이루어지는, 위치 검증을 위한 명령어로 이루어지는 컴퓨터 프로그램으로서, 상기 컴퓨터를, 상기 제1 기록 디바이스, 상기 제2 기록 디바이스, 상기 재생 디바이스, 및 상기 측정 디바이스 중 적어도 하나로서 기능하게 하는, 컴퓨터 프로그램에 의해서도 달성될 수 있다.

본 발명의 컴퓨터 프로그램에 의하면, 컴퓨터가 해당 컴퓨터 프로그램을 저장하는 ROM, CD-ROM, DVD-ROM, 하드 디스크 등의 프로그램 스토리지 디바이스로부터, 해당 컴퓨터 프로그램을 읽어들여 실행시키거나, 또는 해당 컴퓨터 프로그램을, 통신 디바이스를 통하여 컴퓨터에 다운로드한 후에 실행시킴으로써, 전술한 본 발명의 위치 검증 장치 또는 위치 측정 장치를 비교적 용이하게 구현할 수 있다.

그리고, 전술한 본 발명의 위치 검증 장치 또는 위치 측정 장치에서의 각종 실시양태에 응하여, 본 발명의 컴퓨터 프로그램은 각종 실시양태를 채용할 수 있다.

본 발명의 상기 목적은 또한, 전술한 본 발명의 위치 검증 장치(각종 실시양태를 포함함)에 구비된 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어로 이루어지는 프로그램을 명백하게 구현하고, 상기 컴퓨터를, 상기 제1 기록 디바이스, 상기 제2 기록 디바이스, 상기 재생 디바이스, 및 상기 판정 디바이스 중 적어도 하나로서 기능하게 하는 컴퓨터로 판독한 가능한 매체 내의 컴퓨터 프로그램 제품에 의해서도 달성될 수 있다.

본 발명의 상기 목적은 또한, 전술한 본 발명의 위치 측정 장치(각종 실시양태를 포함함)에 구비된 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어로 이루어지는 프로그램을 명백하게 구현하고, 상기 컴퓨터를, 상기 제1 기록 디바이스, 상기 제2 기록 디바이스, 상기 재생 디바이스, 및 상기 측정 디바이스 중 적어도 하나로서 기능하게 하는, 컴퓨터로 판독 가능한 매체 내의 컴퓨터 프로그램에 의해서도 달성될 수 있다.

본 발명의 컴퓨터 프로그램 제품에 따르면, 해당 컴퓨터 프로그램 제품을 저장하는 ROM, CD-ROM, DVD-ROM, 하드 디스크 등의 기록 매체로부터, 상기 컴퓨터 프로그램 제품을 컴퓨터에 로딩하거나, 또는 전송파에 해당 될 수 있는 컴퓨터 프로그램 제품을, 통신 디바이스를 통하여 컴퓨터에 다운로드함으로써, 전술한 본 발명의 위치 검증 장치 또는 위치 측정 장치를 비교적 용이하게 구현할 수 있다. 더욱 구체적으로, 해당 컴퓨터 프로그램 제품은, 컴퓨터를 전술한 본 발명의 위치 검증 장치 또는 위치 측정 장치로서 기능하게 하는 컴퓨터 판독 가능한 코드(또는 컴퓨터 판독 가능한 명령어)를 포함할 수 있다.

본 발명의 이와 같은 작용 및 다른 장점은 다음에 설명하는 실시예로부터 더욱 명확해진다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 위치 검증 장치에 따르면, 제1 기록 디바이스; 제2 기록 디바이스; 재생 디바이스; 및 판정 디바이스를 구비한다. 본 발명의 위치 검증 방법에 따르면, 제1 기록 공정; 제2 기록 공정; 재생 공정; 및 판정 공정을 구비한다. 따라서, 오실로스코프와 같은, 범용의 장치를 구비하는 위치 검증 장치에 의해, 상대 목표 어긋남, 즉 제1 기록층과 제2 기록층의 어드레스에서의 반경 위치의 차를, 보다 저비용으로 간편하게 검증하는 것이 가능하다.

또, 본 발명의 위치 측정 장치에 따르면, 제1 기록 디바이스; 제2 기록 디바이스;, 재생 디바이스; 및 측정 디바이스를 구비한다. 본 발명의 위치 측정 방법에 따르면, 제1 기록 공정; 제2 기록 공정; 재생 공정; 및 측정 공정을 구비한다. 따라서, 오실로스코프와 같은 범용의 장치를 구비한 위치 측정 장치에 의해, 상대적인 어긋남으로서 (v) 치수 오차, 또는 (vi) 접합 오차를 기초로 하여 생기는 반경 방향의 오차를, 보다 저비용으로 간편하게 측정하는 것이 가능하다.

또, 본 발명의 컴퓨터 프로그램에 따르면, 컴퓨터를 전술한 본 발명의 위치 검증 장치로서 기능하게 하므로, 위치 검증 장치가 상대 목표 어긋남, 즉 제1 기록층과 제2 기록층의 어드레스에서의 반경 위치의 차를 보다 저비용으로 간편하게 검증할 수 있도록 한다.

본 발명의 컴퓨터 프로그램에 의하면, 컴퓨터를 전술한 본 발명의 위치 측정 장치로서 기능하게 하므로, 위치 측정 장치가 상대 목표 어긋남, 즉, (v) 상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층이 각각 가지고 있는 치수 오차, 또는 (vi) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차를 기초로 하여 생기는 반경 방향의 오차를, 보다 저비용으로 간편하게 측정할 수 있도록 한다.

도 1 (a)는 본 발명의 정보 기록 매체의 실시예에서, 복수의 기록 영역을 가지는 광디스크의 기본 구조를 나타낸 개략 평면도이고, 도 1 (b)는 상기 광디스크의 개략 단면도 및 이것에 대응한, 그 반경 방향에서의 기록 영역 구조의 개념도이다.

도 2는 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 관련된, L0층 및 L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계의 구체적인 일례를 나타낸 그래프(도 2 (a)), 및 다른 구체적인 예를 나타낸 그래프(도 2 (b))이다.

도 3은 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 관련된, L0층 및 L1층이 각각 가지고 있는 치수 오차를 개념적으로 나타낸 모식도이고(도 3 (a)), 및 L0층과 L1층의 접합 오차에 의해 생기는 반경 방향의 오차(즉, 편심량)를 개념적으로 나타낸 모식도(도 3 (b))이다.

도 4는 본 발명의 제2 기록층에 관련된 L1층에 초점이 맺히도록 레이저광이 조사될 때, 본 발명의 제1 기록층에 관련된 L0층을 투과하면서, L0층에 초점이 맺히지 않도록 레이저광이 조사되는 영역(조사 영역)의 반경을 개념적으로 나타낸 모식도이다.

도 5는 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 관련된, L0층 및 L1층에서 치수 오차 또는 접합 오차(또는 반경 방향의 오차)가 발생한 경우의, 어드레스와 반경 위치의 관계의 구체적인 일례를 나타낸 그래프이다.

도 6은 본 발명의 위치 검증 장치의 실시예에서의 정보 기록/재생 장치, 및 호스트 컴퓨터의 기본 구성을 나타낸 블록도이다.

도 7은 본 발명의 위치 검증 장치의 실시예에 따른 정보 기록/재생 장치에 의한 기록 동작을 나타낸 흐름도이다.

도 8은 본 발명의 "제2 영역"에 관련된 L1층의 전체 영역(11), 본 발명의 "제1 영역"에 관련된 L0층의 기록 영역(10), 및 전체 영역(11) 및 기록 영역(10)의 데이터량의 구체적인 일례를 개략적으로 나타낸 모식도이다.

도 9는 본 발명의 "추정 영역"에 관련된 추정 영역(12), 본 발명의 "제1 영역"에 관련된 L0층의 기록 영역(10), 및 추정 영역(12)에서의 재생 품질을 나타내는 일례로서의 비대칭성 값(asymmetry value)의 천이를 개략적으로 나타낸 모식도(도 9 (a)), L1층의 추정 영역(12)에서의 비대칭성 값의 하나의 상태에의 천이를 나타낸 그래프(도 9(b)), 및 L1층의 추정 영역(12)에서의 비대칭성 값의 다른 상태에의 천이를 나타낸 그래프(도 9(c))이다.

도 10은 본 발명의 "추정 영역"에 관련된 L1층의 추정 영역(12)에 포함되는 2개의 지점("J점" 및 "K점")의 어드레스를 도식적으로 나타낸 모식도이다.

도 11은 (i) 본 발명의 "추정 영역"에 관련된 L1층의 추정 영역(12)의 외주단 부근에서의 재생 품질을 나타내는 일례로서의 비대칭성 값이, 적정한 레벨로부터 비적정 레벨로 서서히 천이하는 상태, 및 (ii) 이 비대칭성 값의 천이와 연관되는, 본 발명의 "제1 영역"에 관련된 LO층의 기록 영역(10) 및 추정 영역(12)과 레이저광의 위치 관계를 도식적으로 나타낸 모식도이다.

도 12는 본 발명의 "추정 영역"에 관련된 L1층의 추정 영역(12)과 본 발명의 "제1 영역"에 관련된 L0층의 기록 영역(10)에서의 반경 위치와, 어드레스와의 관계를 도식적으로 나타낸 그래프(도 12 (a)), 및 추정 영역(12)에서의 재생 품질을 나타내는 일례로서의 비대칭성 값의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 12 (b))이다.

도 13은 본 발명에서 하나의 어드레스로부터 반경 위치를 산출하는 과정을 나타낸 일례의 개념도(도 13 (a)), 및 다른 예의 개념도(도 13 (b))이다.

도 14는 비교예의 광디스크에서, L1층의 추정 영역(12) 및 L0층의 기록 영역(10)의 반경 위치와, 어드레스와의 관계를 도식적으로 나타낸 그래프(도 14 (a)), 및 비교예의 추정 영역(12)에서의 재생 품질을 나타내는 일례로서의 비대칭성 값의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 14 (b))이다.

도 15는 본 발명의 제2 실시예에서의, 접합 오차(편심)와 투과광 직경을 포함하는 경우의 추정 영역(12)의 편심을 포함하는 정보 기록 매체에 대해 실제로 측정된 재생 품질을 나타내는 일례로서의 비대칭성 값의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 15 (a)), 및 L0층 및 L1층에서의 치수 오차가 허용 범위 내의 기준치인 이상적인 경우의 전체 영역(11)에서의 비대칭성 값의 천이(점선)와, 치수 오차를 포함하는 정보 기록 매체에 대해 실제로 측정된 L1층에서의 비대칭성 값의 천이(굵은선)를 나타낸 그래프(도 15 (b))이다.

도 16은 본 발명의 제2 실시예에서의, 제1 기록층 및 제2 기록층에 각각 관련된 L0층 및 L1층에서, 치수 오차, 접합 오차(또는 반경 방향의 오차), 및 투과광 직경이 생긴 경우의, L0층에서의 하나의 트랙과, L1층에서의, 상기 하나의 트랙과 연관되는 다른 트랙의 위치 관계를 나타낸 도식적 평면도이다.

도 17은 본 발명의 제2 실시예에서 상대 편차가 최대가 되는 경우의 재생 품질을 나타내는 일례로서의 비대칭성 값의 천이, 및 상대 편차가 최소가 되는 경우의 재생 품질의 천이를 나타낸 모식도이다.

도 18은 본 발명의 기록 요건을 개념적으로 나타낸 모식도(도 18 (a) 및 (b)), 및 수치적으로 나타낸 그래프(도 18 (c))이다.

도 19는 비교예에서의 문제점을 나타낸 모식도이다.

도 20은 비교예에서의 방법을 나타낸 모식도이다.

*도면의 주요부호에 관한 설명*

10: 기록 영역

11: 전체 영역

11a: 부분 영역

12: 추정 영역

100: 광디스크

101: 리드인 영역

102: 데이터 영역

103: 리드아웃 영역

104: 중간 영역

300: 정보 기록/재생 장치

310: 오실로스코프

LB: 레이저광

이하, 본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태를 실시예 각각에 대해 차례대로 도면을 참조하여 설명한다.

(1) 정보 기록 매체

먼저, 도 1 내지 도 12를 참조하여, 본 발명의 정보 기록 매체의 실시예에 대하여 상세하게 설명한다. 그리고, 본 실시예의 광디스크에서는, 본 발명의 "제1 트랙"의 일례를 구성하는 L0층의 트랙 경로와 본 발명의 "제2 트랙"의 일례를 구성하는 L1층의 트랙 경로가 반대의 기록 방향을 가지는, 오포지트 방식이 기록 방식의 구체적인 일례로서 적용되어 있다. 또, 본 실시예에서는, 패러랠 방식도 적용할 수 있는 것은 물론이다.

특히, 본 실시예에서는, 후술하는 하나의 어드레스에 의해 하나의 트랙(하나의 원주)이 특정되는 것에 기초하여 설명한다.

(1-1) 기본 구성

먼저, 도 1 (a) 및 도 1 (b)를 참조하여, 본 발명의 정보 기록 매체의 실시예에 관한 광디스크의 기본 구조에 대하여 설명한다. 도 1 (a)는 본 발명의 정보 기록 매체의 실시예에서의 복수의 기록 영역을 가지는 광디스크의 기본 구조를 나타낸 개략 평면도이며, 도 1 (b)는 상기 광디스크의 개략 단면도와 이에 대응하는, 그 반경 방향에서의 기록 영역 구조의 도식적인 개념도이다.

도 1 (a) 및 도 1 (b)에 나타낸 바와 같이, 광디스크(100)는, DVD와 동일하게 직경 12cm 정도의 디스크 본체 위의 기록면을 가진다. 이 기록면 상에, 광디스크(100)는 센터 홀(1)을 중심으로 하여, 리드인 영역(101) 또는 리드아웃 영역(103), 데이터 영역(102), 및 중간 영역(104)을 가지고 있다. 그리고, 광디스크(100)의, 예를 들면 투명 기판(106)에 L0층 및 L1층과 같은 기록층이 적층되어 있다. 기록층의 각 기록 영역에는, 센터 홀(1)을 중심으로 하여, 나선형 또는 동심원형으로, 그루브 트랙(groove track) 및 랜드 트랙(land track)과 같은 트 랙(10)이 교대로 형성되어 있다. 이 트랙(10) 상에는, 데이터가 ECC 블록(11) 단위로 분할되어 기록된다. ECC블록(11)은, 기록 정보가 에러 정정 가능한 데이터 관리 단위이다.

그리고, 본 발명은, 이와 같은 세 개의 영역을 가지는 광디스크로 특히 한정되지 않는다. 예를 들면, 리드인 영역(101), 리드아웃 영역(103), 또는 중간 영역(104)이 존재하지 않더라도, 이하에 설명하는 데이터 구조를 구축할 수 있다. 또, 후술하는 바와 같이, 리드인 영역(101), 리드아웃(103), 또는 중간 영역(104)은 더욱 세분화될 수 있다.

본 실시예에서의 광디스크(10O)는, 도 1(b)에 나타낸 바와 같이, 투명 기판(106)에, 후술하는 본 발명의 "제1 및 제2 기록층"의 일례를 구성하는 L0층 및 L1층이 적층된 구조를 가진다. 이와 같은 2층형의 광디스크(100)의 기록/재생 시에는, 도 1(b)에서, 위쪽으로부터 아래쪽으로 향해 조사되는 레이저광(LB)의 초점 위치를 어느 기록층에 맞추는가에 따라, L0층 또는 L1에서의 기록/재생이 이루어진다. 또, 본 실시예에서의 광디스크(100)는, 2층 단면형, 즉 듀얼층형으로 한정되는 것이 아니고, 2층 양면형, 즉 듀얼층 양면형일 수도 있다. 또한, 본 실시예에서의 광디스크(10)는 전술한 바와 같이 2층의 기록층을 가지는 광디스크로 한정되지 않고, 3층 이상의 다층형의 광디스크도 가능하다.

그리고, 2층형 광디스크에 대한 오포지트 방식의 기록/재생 과정 등에 대하여는 후술한다.

(1-2) 어드레스와 반경 위치

다음에, 도 2를 참조하여, 본 발명의 정보 기록 매체의 실시예에 따른 2층형 광디스크에서의 어드레스와 반경 위치에 대해 설명한다. 도 2는, 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 각각 관련된, L0층 및 L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계에 대한 구체적인 일례를 나타낸 그래프(도 2(a)), 및 구체적인 다른 예를 나타낸 그래프(도 2(b))이다. 그리고, 도 2(a) 및 도 2(b)의 가로축은 반경 방향의 위치를 나타내고, 세로축은 어드레스를 나타낸다.

도 2(a), 및 도 2(b)에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 각각 관련된, L0층 및 L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계에 대한 구체적인 일례 및 구체적인 다른 예에 있어서는, 오포지트 방식에 기초하여 어드레스와 반경 위치의 관계가 규정되어 있다. 여기에서 오포지트 방식이란, 더욱 구체적으로는, 2층형 광디스크의 기록 또는 재생 과정으로서, 후술하는 정보 기록/재생 장치의 광픽업이, L0층에서는, 내주측으로부터 외주측을 향해, 즉 도 2(a), 및 도 2(b)의 화살표 AR0의 우측 방향으로 이동하는 한편, L1층에서는, 광픽업이 외주측으로부터 내주측을 향해, 즉, 도 2(a), 및 도 2(b)의 화살표 AR1의 좌측 방향으로 이동함으로써, 2층형 광디스크에서의 기록 또는 재생이 행해지는 방식이다. 이 오포지트 방식에서는, L0층에서의 기록 또는 재생이 종료되면, L1층에서의 기록 또는 재생이 개시될 시에, 광디스크의 최외주에 위치한 광픽업을 재차 최내주를 향해 이동할 필요는 없고, 초점 거리를 L0층에서 L1층으로 전환하면 된다. 따라서, L0층에서 L1층으로의 전환 시간이 패러랠 방식에 비해 짧다고 하는 이점이 있다. 이 것이 대용량의 컨텐츠 정보의 기록에 오포지트 방식이 널리 채용되고 있는 이유이 다.

(1-2-1) 감소하는 어드레스와 반경 위치

본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 각각 관련된 L0층 및 L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계에 대한 구체적인 일례에서, 전술한 오포지트 방식에 기초한 어드레스 체계에서, 어드레스가 감소한다. 그리고, 구체적인 일례에서는, 레이저광(LB)는 위쪽에서 아래쪽으로 조사되고, L0층에서의 어드레스의 추이는 위쪽 부분의 직선으로 나타내고, L1층에서의 어드레스의 추이는 아래쪽 부분의 직선으로 나타낸다.

구체적으로, 도 2(a)에 나타낸 바와 같이, 먼저, L0층에 있어서, 광픽업으로부터 조사된 레이저광이 리드인 영역(101-0), 데이터 영역(102-0) 및 중간 영역(104-0)을 내주측으로부터 외주측으로 이동함에 따라 광디스크(100)의 기록 영역에서의 어드레스는 감소한다. 더욱 구체적으로는, 레이저광의 초점이, 어드레스가 "FFCFFFh"(16진수 표시)이고 반경 위치가 "24(mm)"인 L0층의 데이터 영역(102-0)의 개시 위치(도 2(a)의 A점)로부터 외주측을 향해 이동된다. 그리고, 레이저광의 초점이, 어드레스가 "FDD109h"이고 반경 위치가 "58.1(mm)"인 L0층의 데이터 영역(102-0)의 종료 위치(도 2(a)의 B점)까지 이동됨에 따라, L0층의 데이터 영역(102-0)에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 재생한다.

한편, L1층에서는, 레이저광이 중간 영역(104-1), 데이터 영역(102-1), 및 리드아웃 영역(103-1)을 외주측으로부터 내주측으로 이동함에 따라 광디스크(100)의 기록 영역에서의 어드레스는 감소한다. 더욱 구체적으로는, 레이저광의 초점 이, 어드레스가 "22EF6h"이고 반경 위치가 "58.1(mm)"인 L1층의 데이터 영역(102-1)의 개시 위치(도 2(a)의 D점)로부터 내주측을 향해 이동된다. 그리고, 레이저광의 초점이, 어드레스가 "0300Oh"이고 반경 위치가 "24(mm)"인 L1층의 데이터 영역 (102-1)의 종료 위치(도 2(a)의 C점)까지 이동됨에 따라, L1층의 데이터 영역(102-1)에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 재생한다.

(1-2-2) 증가하는 어드레스와 반경 위치

본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층에 각각 관련된 L0층 및 L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계에 대한 다른 구체적인 예에서는, 전술한 오포지트 방식에 기초한 어드레스의 체계에서, 어드레스가 증가한다. 그리고, 다른 구체적인 예에서는, 레이저광(LB)은 아래쪽으로부터 위쪽으로 조사되고, L0층에서의 어드레스의 추이는 아래쪽 부분의 직선으로 나타내고 L1층에서의 어드레스의 추이는 위쪽 부분의 직선으로 나타낸다.

구체적으로는, 도 2(b)에 나타낸 바와 같이, 먼저, L0층에서, 광픽업으로부터 조사된 레이저광이 리드인 영역(101-0), 데이터 영역(102-0), 및 중간 영역(104-0)을 내주측으로부터 외주측으로 이동함에 따라 광디스크(100)의 기록 영역에서의 어드레스는 증가한다. 더욱 구체적으로는, 레이저광의 초점이, 먼저, 어드레스가 "O300Oh"이고 반경 위치가 "24(mm)"인 LO층의 데이터 영역(102-0)의 개시 위치(도 2(b)의 A점)로부터 외주측을 향해 이동된다. 그리고, 레이저광의 초점이, 어드레스가 "22EF6h"이고 반경 위치가 "58.1(mm)"인 데이터 영역(102-0)의 종료 위치(도 2(b)의 B점)까지 이동됨에 따라서, L0층의 데이터 영역(102-0)에 정보를 기 록하거나 기록된 정보를 재생한다.

한편, L1층에서, 레이저광이 중간 영역(104-1), 데이터 영역(102-1), 및 리드아웃 영역(103-1)을 외주측으로부터 내주측으로 이동함에 따라 광디스크(100)의 기록 영역에서의 어드레스는 증가한다. 더욱 구체적으로는, 레이저광의 초점이, 먼저, 어드레스가 "FDD109h"이고 반경 위치가 "58.1(mm)"인 L1층의 데이터 영역(102-1)의 개시 위치(도 2(b)의 D점)로부터 내주측으로 이동된다. 그리고, 레이저광의 초점이, 어드레스가 "FFCFFFh"이고 반경 위치가 "24(mm)"인 L1층의 데이터 영역(102-1)의 종료 위치(도 2(b)의 C점)까지 이동됨에 따라서, L1층의 데이터 영역(102-1)에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 재생한다.

그리고, 본 발명의 제1 기록층에 관련된 L0층에서의 하나의 반경 위치에 있는 지점의 어드레스의 값과, 본 발명의 제2 기록층에 관련된 L1층에서의 하나의 반경 위치에 있는 지점의 어드레스의 값은, 서로 비트를 반전(invert)시킨 관계, 즉 보수 관계에 있다. 또, 본 발명에서는, 후술하는 바와 같이, 보수를 나타내는 함수인 "Inv(x)"에 의해 보수 관계가 정의된다. 또한, L0층 및 L1층에서의 어드레스의 구체적인 일례로서, 예를 들면 랜드 프리 피트(LPP: Land Pre Pit) 어드레스로서 이용되어 있는 ECC 블록 어드레스가 적용되지만, 이른바, 섹터 번호를 적용할 수 있는 것은 물론이다.

(1-3) 상대적인 어긋남

다음에, 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층과 각각 관련된 L0층 및 L1층을 구비한 2층형의 광디스크에서 생기는 상대적인 어긋남의 3종류의 구체적인 예에 대 하여, 도 3, 및 도 4를 참조하여 설명한다. 도 3은, 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층과 관련된 LO층 및 L1층이 각각 가지고 있는 치수 오차를 개념적으로 나타낸 모식도(도 3(a)), 및 L0층과 L1층의 접합 오차에 기초하여 생기는 반경 방향의 오차(또는 편심량)을 개념적으로 나타낸 모식도(도 3(b))이다. 도 4는, 본 발명의 제2 기록층과 관련된 L1층에 초점이 맺히도록 레이저광이 조사될 때, 본 발명의 제1 기록층과 관련된 L0층을 투과하되 L0층에서 초점이 맺히지 않도록 레이저광이 조사되는 영역(조사 영역)의 반경을 개념적으로 나타낸 모식도이다.

먼저, 도 3을 참조하면, 본 발명에 관한 "치수 오차"와 "반경 방향의 오차(또는 편심량)"에 대하여 설명한다.

(1-3-1) 치수 오차

도 3(a)에 나타낸 바와 같이, 2층형의 광디스크를 구성하는 L0층 및 L1층 각각은, 상대적인 어긋남으로서 치수 오차를 유지하고 있다. 여기에서, "치수 오차(dimensional error)"란, L0층과 L1층이 각각 서로 관계없이 유지하고 있는 어드레스와 반경 위치의 오차이며, L0층과 L1층을 접착시켰을 때, L0층의 기준 어드레스에서의 절대적인 반경 위치와, L1층의 기준 어드레스에서의 절대적인 반경 위치의 편차로서 생기는 양이다.

구체적으로, 이 치수 오차는 제조 공정을 구성하는 각종 공정 각각에 의해 생긴다. 즉, L0층 및 L1층은, 커팅 머신에 의해 만들어진 원반(original disc)을 기초로 하여 제작된 스탬퍼에 수지 재료를 사출 성형함으로써 제조된다. 따라서, (i) 원반을 만들 때의, 커팅 머신의 반경 위치의 오차나 트랙 피치의 편 차(variation) 등에 의해, 원반 자체가 반경 오차를 유지할 가능성이 있다. (ii)광디스크의 사출 성형 시의 열수축에 있어 허용 범위 이외의 개체 차(individual difference)가, 반경 오차가 될 가능성이 있다. (iii) L0층과 L1층이 별개의 스탬퍼에 의해 각각 만들어지므로, 각각의 기록층에서의 트랙 피치의 편차를 포함할 가능성이 있다.

구체적으로, 치수 오차 tol은, (i) 전술한 도 2에 나타낸, 어드레스가 "FFCFFFh"인 L0층의 데이터 영역(102-0)의 개시 위치(A점)의 반경 위치와, (ii) 어드레스가 "03000h"이고 반경 위치가 "24mm"인 L1층의 데이터 영역(102-1)의 종료 위치(C점)의 반경 위치의 차로서 나타낸다. 그리고, 치수 오차 tol의 허용 범위는, L0층에서, 정방향 또는 부방향으로 "20μm"이내이고, L1층에서도, 정방향 또는 부방향으로, "20μm" 이내이다. 따라서, 이는 2층형의 광디스크의 개체마다, 허용범위를 합계 "40μm"만큼 유지하는 것이 허용된다는 것을 의미한다.

(1-3-2) 접합 오차(또는 반경 방향의 오차)

도 3(b)에 나타낸 바와 같이, 2층형의 광디스크에서는, 상대적인 어긋남으로서 L0층과 L1층을 붙일 때의 오차, 이른바, 접합 오차에 기인하는 반경 방향의 오차(또는 편심량)가 생길 가능성이 있다. 여기에서, "반경 방향의 오차(radial run-out)"이란, L0층과 L1층이 각각 가지고 있는 치수 오차와는 무관하고, L0층과 L1층을 붙일 때, L0층의 기준 어드레스에서의 절대적인 반경 위치와, L1층의 기준 어드레스에서의 절대적인 반경 위치의 편차로서 생기는 양이다.

구체적으로 반경 방향의 오차(또는 편심량) ro는, 전술한 도 2에 나타낸, 어 드레스가 "FFCFFFh"인 L0층의 데이터 영역(102-0)의 개시 위치(A점)의 반경 위치와, 어드레스가 "03000h"이고 반경 위치가 "24mm"인 L1층의 데이터 영역(102-1)의 종료 위치(C점)의 반경 위치의 차로서 나타낸다. 그리고, 이 반경 방향의 오차 ro의 허용 범위는, L0층에서, 정방향 또는 부방향으로 "20μm"이내이고, L1층에서, 정방향 또는 부방향으로 "30μm"이내이다. 이는 2층형의 광디스크의 개체마다, 허용범위를 합계 "50μm"만큼 유지하는 것이 허용된다는 것을 의한다.

이상의 결과, 전술한 L0층 및 L1층을 구비한 2층형의 광디스크에 생기는 2종류의 상대적인 어긋남에 기초하여, LO층의 기준 어드레스에서의 절대적인 반경 위치와, L1층의 기준 어드레스에서의 절대적인 반경 위치의 편차는, 정방향 또는 부방향으로 "90μm"의 값을 취할 가능성이 있다고 말할 수 있다. 따라서, 이 편차는, 최대치으로서 "180μm"의 값을 유지하는 범위 내에서 변동할 가능성이 있다고 말할 수 있다.

(1-3-3) 투과광 반경(Radius of Transmitfted Light)

도 4에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 "투과광 반경"에 대하여 설명한다.

도 4에 나타낸 바와 같이, 2층형의 광디스크에서는, 레이저광의 빔 형상이 원추인 것에 기인하여 투과광 반경 rb가 생길 가능성이 있다. 여기에서, "투과광 반경"이란, L1층에 초점을 맺도록 레이저광이 조사되는 때, 이 레이저광이 L0층을 투과하면서 L0층에 초점을 맺지않도록(즉, 디포커스되도록), 조사되는 영역(조사 영역)의 반경이다.

구체적으로는, 투과광 반경 rb의 최대치는, 다음의 식(10)으로 나타낸다.

rb = L×tan<sin-1(NA/n)> (10)

단,

L : 중간층(L0층과 L1층 사이에 삽입된 층)의 두께

NA: 광학계의 개구율

n: 굴절률.

그리고, "sin-1"은 "sin" 함수의 역함수를 나타낸다.

더욱 상세하게는, 투과광 반경 rb의 최대치의 구체적인 일례로서는, (i) 레이저광의 개구율(NA: Numerical Aperture), (ii) L0층과 L1층 사이에 존재하는 중간층의 굴절률, 및 (iii) L0층과 L1층의 층간 거리를 결정하는 중간층의 두께에 기초하여, "34μm"의 값이 산출될 수 있다.

그리고, 기록 또는 재생 시에는, 이 투과광 반경 rb의 영향을 고려할 필요가 있다. 구체적으로 보다 양호한 기록 신호 특성(또는 재생 특성)을 얻기 위해서는, 이 투과광 반경 rb에서 벗어나서 기록을 해야한다.

이상의 결과, 실제 기록 시에는, 정방향, 또는 부방향에서, 예를 들면 "90μm"의 값을 유지하는 상대 편차와, 예를 들면 "34μm"의 값을 유지하는 투과광 반경 rb를 고려할 필요가 있다.

(1-4) 상대적인 어긋남을 포함하는 어드레스와 반경 위치의 관계

다음에, 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층과 관련된 L0층 및 L1층을 구비한 2층형의 광디스크에서, 예를 들면 3종류의 상대적인 어긋남이 생긴 경우의 구체적인 예에 대하여, 도 5를 참조하여 설명한다. 여기에서, 도 5는, 본 발명의 제1 기록층 및 제2 기록층과 관련된 L0층 및 L1층에서, 치수 오차 또는 접합 오차(또는 반경 방향의 오차)가 발생한 경우의, 어드레스와 반경 위치의 관계에 대한 구체적인 일례를 나타낸 그래프이다. 그리고, 도 5중의 가로축은 반경 방향의 위치를 나타내고, 세로축은 어드레스를 나타낸다.

(1-4-1) 어드레스와 반경 위치의 관계(어드레스를 목표로 삼아 해석)

도 5에 나타낸 바와 같이, 전술한 예를 들면 3종류의 상대적인 어긋남이 생긴 경우, L0층과 L1층에서의 어드레스와 반경 위치의 관계도, 이 상대적인 어긋남에 상당하는 "상대 편차"의 값만큼, 그래프 상에서, 수평 방향으로 시프트하는 것으로 판명되었다.

구체적으로, (i) L0층에서의 어드레스 "X0"로 나타낸 "A점"의 반경 위치와, (ii) L1층에서의 어드레스 "Inv X0"로 나타낸 "C점"의 반경 위치 "24mm"의 편차에 의해, 하나의 상대 편차가 표시된다. 한편, (i) L0층에서의 어드레스 "X"로 나타낸 "B점"의 반경 위치와, (ii) L1층에서의 어드레스 "Inv X"로 나타낸 "D점"의 반경 위치 "58mm"의 편차에 의해, 다른 상대 편차가 표시된다.

(2) 상대적인 어긋남을 검증하는 위치 검증 장치

다음에, 도 6 내지 도 13을 참조하여, 본 발명의 제1 기록층과 관련된 L0층, 및 본 발명의 제2 기록층과 관련된 L1층을 구비한 광디스크에서의 상대적인 어긋남을 검증하는 위치 검증 장치의 기본 구성 및 동작 원리에 대하여 상세하게 설명한다. 특히, 본 실시예에서는, 본 발명의 "위치 검증 장치"를 광디스크용의 정보 기록/재생 장치에 적용한다.

(2-1) 기본 구성

먼저, 도 6을 참조하여, 본 발명의 위치 검증 장치의 실시예에 따른 정보 기록/재생 장치(300), 및 호스트 컴퓨터(400)의 기본 구성에 대하여 설명한다. 도 6은 본 발명의 위치 검증 장치의 실시예에 따른 정보 기록/재생 장치 및, 호스트 컴퓨터의 기본 구성을 나타낸 블록도이다. 그리고, 정보 기록/재생 장치(300)는, 광디스크(100)에 기록 데이터를 기록하는 기능과, 광디스크(100)에 기록된 기록 데이터를 재생하는 기능을 가진다.

도 6을 참조하여, 정보 기록/재생 장치(300)의 내부 구성을 설명한다. 정보 기록/재생 장치(300)는, 드라이브용의 CPU(Central Processing Unit)(305)의 제어하에, 광디스크(100)에 정보를 기록하고, 광디스크(100)에 기록된 정보를 판독하는 장치이다.

정보 기록/재생 장치(300)는, 광디스크(100); 광픽업(301); 신호 기록/재생 디바이스(302); 어드레스 검출 디바이스(303); 어드레스 연산 디바이스(304), CPU(드라이브 제어 디바이스)(305); 스핀들 모터(306); 메모리(307); 데이터 입출력 제어 디바이스(308); 버스(309); 및 오실로스코프(310)를 구비하고 있다.

또, 호스트 컴퓨터(400)는, CPU(호스트 제어 디바이스)(401); 메모리(402); 조작 제어 디바이스(403); 조작 버튼(404); 표시 패널(405); 데이터 입출력 제어 디바이스(406); 및 버스(407)를 구비하고 있다.

특히, 정보 기록/재생 장치(300)는, 예를 들면 모뎀과 같은 통신 디바이스를 구비한 호스트 컴퓨터(400)를 동일 하우징 내에 내장함으로써, 외부 네트워크와 통 신 가능하도록 구성해도 된다. 또는, 예를 들면 i-link와 같은, 통신 디바이스를 구비한 호스트 컴퓨터(400)의 CPU(호스트 제어 디바이스)(405)가, 데이터 입출력 제어 디바이스(308) 및 버스(309)를 통하여 직접 정보 기록/재생 장치(300)를 제어함으로써, 외부 네트워크와 통신 가능할 수 있다.

광픽업(301)은 광디스크(100)에 대한 기록/재생을 행하는 것으로, 반도체 레이저 장치와 렌즈 등을 구비한다. 더욱 구체적으로는, 광픽업(301)은, 광디스크(100)에 레이저빔과 같은 광빔을, 재생시에는 판독 광으로서 제1 파워로 조사하고, 기록시에는 기록 광으로서 제2 파워로 변조시키면서 조사한다.

신호 기록/재생 디바이스(302)는 광픽업(301)과 스핀들 모터(306)를 제어함으로써 광디스크(100)에 대해 기록/재생을 행한다. 더욱 구체적으로, 신호 기록/재생 디바이스(302)는, 예를 들면 레이저 다이오드(LD) 드라이버 및 헤드 증폭기 (head amplifier) 등을 구비하고 있다. 레이저 다이오드 드라이버는 광픽업(301) 내에 설치된 도시하지 않은 반도체 레이저를 구동한다. 헤드 증폭기는, 광픽업(301)의 출력 신호, 즉 광빔의 반사광을 증폭하고, 증폭한 신호를 출력한다. 더욱 구체적으로는, 신호 기록/재생 디바이스(302)는, OPC(Optimum Power Control) 처리 시에, CPU(305)의 제어하에, 도시하지 않은 타이밍 생성기 등과 함께, OPC 패턴의 기록 및 재생 처리에 의해 최적인 레이저 파워가 결정되도록, 광픽업(301) 내에 설치된 도시하지 않은 반도체 레이저를 구동한다. 특히, 신호 기록/재생 디바이스(302)는, 광픽업(301)과 함께, 본 발명의 "제1 기록 디바이스" 및 "제2 기록 디바이스"에 더해 "측정 디바이스"의 일례를 구성한다.

어드레스 검출 디바이스(303)는, 신호 기록/재생 디바이스(302)에 의해 출력되는, 프리 포맷(pre-format) 어드레스 신호 등을 포함하는 재생 신호로부터 광디스크(100)에서의 어드레스(어드레스 정보)를 검출한다. 또, 어드레스 검출 디바이스(303)는, 컨트롤 데이터 존(control data zone)에 사전 기록된 오프셋(offset) 정보를 검출하도록 구성될 수 있다.

어드레스 연산 디바이스(304)는 검출된 어드레스에 대해 어드레스 오프셋 값을 가산하거나 감산하는 등의, 연산 또는 계산을 행한다.

오실로스코프(310)를 사용하여, 신호 기록/재생 디바이스(302)에 의해 출력되는 재생 신호로부터, RF 재생 파형 등의 파형을 관찰할 수 있다. 특히, 오실로스코프(310)는 본 발명의 "측정 디바이스"의 다른 예를 구성한다.

CPU(드라이브 제어 디바이스)(305)는, 버스(309)를 통하여, 각종 제어 디바이스에 지시를 내림으로써 정보 기록/재생 장치(300) 전체를 제어한다. 특히, CPU(305)는 어드레스 연산 디바이스(304)에 의해 연산 또는 계산된 어드레스에 기초하여, 각종 기록 영역의 위치를 결정한다. 그리고, CPU(305)는 결정된 각종 기록 영역에 각종 기록 정보를 기록하도록, 신호 기록/재생 디바이스(302)를 제어한다. 또, CPU(305)를 동작시키기 위한 소프트웨어 또는 펌웨어는 메모리(307)에 저장되어 있다. 특히, CPU(305)는 본 발명의 "판정 디바이스"의 일례, 및 "측정 디바이스"의 다른 예이다.

스핀들 모터(306)는 광디스크(100)를 회전 및 정지시키는 것으로, 광디스크를 액세스할 때에 동작한다. 더욱 구체적으로, 스핀들 모터(306)는 도시하지 않은 서보 유닛(servo unit) 등에 의해 스핀들 서보 하에서 소정 속도로 광디스크(100)를 회전 및 정지시키도록 구성되어 있다.

메모리(307)는 정보 기록/재생 장치(300)에서의 전반적인 데이터 처리 및 OPC 처리에 사용되고, 기록/재생 데이터의 버퍼 영역, 데이터를 신호 기록/재생 디바이스(302)에서 사용할 수 있는 데이터로 변환할 때의 중간 버퍼로서 사용되는 영역 등을 포함한다. 또, 메모리(307)는 이들 기록 디바이스로서의 동작을 수행하기 위한 프로그램, 즉 펌웨어가 저장되는 ROM 영역; 기록/재생 데이터의 일시 저장용 버퍼; 펌웨어 프로그램 등의 동작에 필요한 파라미터가 저장되는 RAM 영역 등dmf r구비하고 있다. 특히, 전술한 오프셋 양(어긋남 양), 및 상기 오프셋 양(어긋남 양)에 기초하여 계산된 어드레스 오프셋 값 등에 관한 오프셋 정보를, 메모리(307)에 저장(기억)할 수 있다.

데이터 입출력 제어 디바이스(308)는, 정보 기록/재생 장치(300)에 대한 외부로부터의 데이터 입출력을 제어함으로써, 메모리(307) 상의 데이터 버퍼에 대하여 저장 및 인출을 행한다. 정보 기록/재생 장치(300)와 SCSI나 ATAPI 등의 인터페이스를 통하여 접속되어 있는 외부의 호스트 컴퓨터(400)(이하 필요에 따라 호스트라고 함)으로부터 발행되는 드라이브 제어 커맨드는, 데이터 입출력 제어 디바이스(308)를 통하여 CPU(305)에 전달된다. 또, 기록/재생 데이터도 마찬가지로 데이터 입출력 제어 디바이스(308)를 통하여, 호스트 컴퓨터(400)에 대해 송수신 된다.

호스트 컴퓨터(400)의 CPU(호스트 제어 디바이스)(401), 메모리(402), 데이터 입출력 제어 디바이스(406), 및 버스(407)는, 이들에 대응되는 정보 기록/재생 장치(300) 내의 구성 요소와 실질적으로 동일하다.

특히, 조작 제어 디바이스(403)는 호스트 컴퓨터(400)에 대한 동작 지시를 수신하고 표시하며, 기록 또는 재생과 같은, 조작 버튼(404)에 의한 지시를 CPU(401)에게 전한다. CPU(401)는 조작 제어 디바이스(403)로부터의 지시 정보에 기초하여, 데이터 입출력 디바이스(406)를 통하여, 정보 기록/재생 장치(300)에 제어 커맨드를 송신함으로써, 정보 기록/재생 장치(300) 전체를 제어할 수 있다. 마찬가지로, CPU(401)는, 정보 기록/재생 장치(300)에 대해, 동작 상태를 호스트에 송신하도록 요구하는 커맨드를 송신할 수 있다. 이로써, 기록중 및 재생중과 같은, 정보 기록/재생 장치(300)의 동작 상태를 알 수 있으므로, CPU(401)는 조작 제어 디바이스(403)를 통하여 형광관(fluorescent tube)이나 LCD 등의 표시 패널(405)에 정보 기록/재생 장치(300)의 동작 상태를 출력할 수 있다.

이상 설명한, 정보 기록/재생 장치(300)와 호스트 컴퓨터(400)를 조합하여 사용하는 구체적인 일례는, 영상을 기록 및 재생하는 레코더 기기 등의, 가정용 기기이다. 이 레코더 기기는 방송 수신 튜너나 외부 접속 단자로부터의 영상 신호를 디스크에 기록하고, 텔레비전과 같은 외부 표시 기기에 디스크로부터 재생한 영상 신호를 출력한다. 메모리(402)에 저장된 프로그램을 CPU(401) 상에서 실행함으로써 레코더 기기로서의 동작이 수행된다. 또, 다른 구체적인 예에서는, 정보 기록/재생 장치(300)는 디스크 드라이브(이하, 필요에 따라 "드라이브"라고 함)이며, 호스트 컴퓨터(400)은 퍼스널 컴퓨터와 워크 스테이션(work station)이다. 퍼스널 컴퓨터 등의 호스트 컴퓨터와 드라이브는 SCSI나 ATAPI와 같은 데이터 입출력 제어 디바이스(308, 406)를 통하여 접속되어 있고, 호스트 컴퓨터에 설치되어 있는 기록 소프트웨어(writing software) 등의 애플리케이션이 디스크 드라이브를 제어한다.

(2-2) 동작 원리

다음에, 필요에 따라 도 7 외에, 도 8 내지 도 13을 참조하여, 본 발명의 위치 검증 장치의 실시예에 따른 정보 기록/재생 장치의 동작 원리에 대하여 설명한다. 여기에서, 도 7은 본 발명의 위치 검증 장치의 실시예에 따른 정보 기록/재생 장치에 의한 기록 동작을 나타낸 흐름도이다. 도 8은, 본 발명의 "제2 영역"과 관련된 L1층의 전체 영역(11), 본 발명의 "제1 영역"과 관련된 L0층의 기록 영역(10), 및 전체 영역(11)과 기록 영역(10)의 데이터량에 대한 구체적인 일례를 도식적으로 모식도이다. 도 9는, 본 발명의 "추정 영역"과 관련된 추정 영역(12), 본 발명의 "제1 영역"과 관련된 L0층의 기록 영역(10), 및 추정 영역(12)에서의 재생 품질을 나타내는 일례인 비대칭성 값의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 9(a)), L1층의 추정 영역(12)에서의 비대칭성 값의 하나의 상태로의 천이를 나타낸 그래프(도 9(b)), 그리고 L1층의 추정 영역(12)에서의 비대칭성 값의 다른 상태로의 천이를 나타낸 그래프(도 9(c))이다. 도 10은, 본 발명의 "추정 영역"과 관련된 L1층의 추정 영역(12)에 포함되는 2개의 지점("J점" 및 "K점")에서의 어드레스를 도식적으로 나타낸 모식도이다. 그리고, 도 9(a)의 위쪽 부분의 가로축은 반경 방향의 위치를 나타낸다. 또, 도 9(a)의 아래쪽 부분의 가로축은 L1층에서의 어드레스를 나타내고, 세로축은 L1층의 비대칭성을 나타낸다.

본 발명에서의 위치 검증 장치에 관한 실시예에 따르면, 본 발명의 "추정 영 역"에 포함되는 2개의 소정 지점에서의, 비대칭성 등의 재생 품질이, 정보가 기록된 L0층에서의 기록 영역을 투과한 레이저광에 의해 기록된 정보가 나타내는 재생 품질과 대체로 같은 경우, L0층 및 L1층에서의 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있다고 판정할 수 있다.

이하, 소정의 절차에 따라 설명한다.

도 7에 나타낸 바와 같이, 먼저, CPU(305)의 제어하에, L0층의 기록 영역(10)에 정보를 기록한다(단계 S101). 구체적으로, 도 8의 좌측 부분에 나타낸 바와 같이, LO층의 중주부(middle circumferential part)에 "2700 ECC 블록"에 상당하는 데이터량의 정보를 기록한다.

다음에, CPU(305)의 제어하에, 일정한 파워를 유지하는 레이저광(LB)를, L1층에 조사하여, L0층의 기록 영역(10)에 물리적으로 대향하는 부분 영역(11a)을 적어도 포함하는 L1층의 전체 영역(11)에 정보를 기록한다(단계 S102). 즉, L0층의 기록 영역(10)을 투과한 레이저광(LB)에 의해, 부분 영역(11a)에 정보의 일부(이하, 필요에 따라 "정보 I1a"라고 함)를 기록한다. 동시에, L0층의 기록 영역(10)을 투과하지 않는 레이저광(LB)에 의해, 전체 영역(11) 중 부분 영역(1la) 이외의 나머지의 영역에 정보의 다른 일부(이하, 필요에 따라 "정보 I1"라고 함)를 기록하한다. 구체적으로, 도 8의 우측 부분에 나타낸 바와 같이, 예를 들면 L1층의 중 주부에 "7060 ECC 블록 = 2180 × 2 + 2700)"에 상당하는 데이터량의 정보를 기록한다. 그리고, 본 실시예에서는, 전체 영역(11)에 기록을 수행할 때, L0층이 기록된 상태인 경우, 레이저광의 파워를 최적인 일정 값으로 유지하여 기록하는 방법에 대하여 설명하고 있다. 하지만, L0층이 미기록 상태인 경우에, 레이저광의 파워를 최적인 일정 값으로 유지하여 기록하는 방법에도 본 발명을 적용할 수 있음은 물론이다.

다음에, CPU(305)의 제어하에, 본 발명과 관련된 추정 영역(12)에 포함되는 적어도 2개의 지점("J점" 및 "K점")에 기록된 정보를 재생하고, 예를 들면 비대칭성 등의 재생 품질을 측정한다(단계 S103). 여기에서, 본 발명의 "추정 영역"이란, L0층과 L1층과의 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에서 있으면 L0층의 기록 영역(10)을 투과한 레이저광(LB)에 의해 기록된 정보가 나타내는 재생 품질과 대체로 같은 재생 품질을 얻을 수 있다고 추정되는 영역이다. 그리고, 이 추정 영역(12)은 기록 영역(10)의 어드레스와 허용 범위 내의 상대적인 어긋남에 기초하여 특정할 수 있다. 따라서, 이 추정 영역(12)에 포함되는 2개의 지점("J점" 및 "K점")도 기록 영역(10)의 어드레스와 허용 범위 내의 상대적인 어긋남에 기초하여 특정할 수 있다.

구체적으로, 도 9 및 도 10에 나타낸 바와 같이, 추정 영역(12)에 포함되는 "J점"을 나타내는 어드레스 "M(z)"는, (i) L0층의 기록 영역(10)의 개시단 "E점"을 나타내는 어드레스 "z", 및 (ii) 허용 범위 내의 상대적인 어긋남에 상당하는 오프셋 양 "b"를 파라미터로 사용하여 특정될 수 있다. 마찬가지로, 추정 영역(12)에 포함되는 "K점"을 나타내는 어드레스 "M(y)"도, (iii) L0층의 기록 영역(10)의 종료단 "F점"을 나타내는 어드레스 "y", 및 (iv) 오프셋 양 "b"를 파라미터로 사용하여 특정될 수 있다. 그리고, 추정 영역(12)에 포함되는 "J점" 및 "K점"을 각각 나 타내는 어드레스 "M(z)" 및 "M(y)"의 정량적인 설명에 대해서는 후술한다. 그리고, 부분 영역(11a)에 기록된 정보 I1a, 및 부분 영역(11a) 이외의 전체 영역(11)에 기록된 정보 I1를 재생할 수 있고, 예를 들면 비대칭성 등의 재생 품질의 천이를 측정할 수 있다.

이어서, 도 11 외에 전술한 도 9를 참조하여, 재생 품질의 천이에 대하여 정성적으로 설명한다. 도 11은, (i) 본 발명의 "추정 영역"과 관련된 L1층의 추정 영역(12)의 외주단 부근의 재생 품질을 나타내는 일례인, 비대칭성 값이 적정한 레벨로부터 비적정 레벨에 서서히 천이하는 상태, 및 (ii) 재생 품질의 하나의 지표 일례)인, 예를 들면 비대칭성 값의 천이와 연관되는 위치 관계로서, (ii-1) 레이저광과, (ii-2) 본 발명의 "제1 영역"과 관련된 L0층의 기록 영역(10) 및 추정 영역(12) 양자의 위치 관계를 도식적으로 나타낸 모식도이다.

도 11 외에, 도 9 (c) 및 도 9 (a)에 나타낸 바와 같이, L1층에 조사되는 레이저광(LB)의 형상이 원추인 것에 의해 생기는, 전술한 투과광 반경에 기인하여, L1층의 추정 영역(12)의 외주단 부근의 비대칭성 값은, 적정한 레벨로부터 비적정 레벨로 서서히 천이된다. 더욱 구체적으로, 도 11의 위쪽 좌측 부분에 나타낸 바와 같이, 추정 영역(12)의 외주단로부터 내주측 부근에는, LO층의 기록 영역(10)을 투과한 레이저광(LB)에 의해 정보가 기록되어 있으므로, 비대칭성 값은 적정한 레벨이다. 한편, 도 11의 위쪽 중앙 부분에 나타낸 바와 같이, 추정 영역(12)의 외주단의 외주측이며 L0층의 기록 영역(10)에 물리적으로 대향되는 부분 영역(11a)의 외주단의 내주측의 영역인 천이 영역(1lb)에서는, L0층의 기록 영역(10)을 투과한 레이저광(LB)의 비율과 L0층의 기록 영역(10)을 투과하지 않는 레이저광(LB)의 비율이 변천하는 상황하에서, 정보가 기록되므로, 비대칭성 값은 적정한 레벨로부터 비적정 레벨로 서서히 천이 된다. 한편, 도 11의 위쪽 우측 부분에 나타낸 바와 같이, 부분 영역(11a)의 외주단의 외주측의 영역인 전체 영역(11)에서는, L0층의 기록 영역(10)을 투과하지 않는 레이저광(LB)에 의해 정보가 기록되므로, 비대칭성 값은 비적정 레벨이다. 그러므로, 추정 영역(12)에 포함되는 "K점"은, 상대 편차 및 투과광의 반경을 포함하는 오프셋 양 "b"만큼, 예를 들면 내주측에 위치하고 있는 것이 바람직하다.

마찬가지로, 도 9(b) 및 도 9(a)에 나타낸 바와 같이, L1층에 조사된 레이저광(LB)의 투과광 반경에 기인하여, L1층의 추정 영역(12)의 내주단 부근에서의 재생 품질은, 비적정 레벨로부터 적정한 레벨로 서서히 천이 된다. 따라서, 추정 영역(12)에 포함되는 "J점"은 오프셋 양 "b"만큼, 예를 들면 외주측에 위치하고 있는 것이 바람직하다.

다시, 도 7로 돌아간다.

다음에, CPU(305)의 제어하에, 추정 영역(12)에 포함되는 "J점" 및 "K점"에 서 측정된, 재생 품질의 하나의 지표인 비대칭성 값이, 기록 영역(10)을 투과한 레이저광에 의해 기록된 정보 I1a의 비대칭성 값과 대체로 동등한지 여부를 판정한다(단계 S104). "J점" 및 "K점"에서 측정된 비대칭성 값이 적정한 레벨의 비대칭성 값과 대체로 동등한 경우(단계 S104: Yes), L0층 및 L1층에서의 상대적인 어긋남이 규정된 허용 범위 내에 있는 것으로 판정할 수 있다(단계 S105).

한편, J점" 및 "K점"에 있어서 측정된 비대칭성 값이 적정한 레벨의 비대칭성 값과 대체로 동등하지 않은 경우(단계 S104: No), L0층 및 L1층에서의 상대적인 어긋남이 허용 범위 외에 있는 것으로 판정할 수 있으므로, L0층 및 L1층을 구비한 광디스크를 규정에 준거하지 않는 광디스크인 것으로 식별하는 것이 가능하다(단계 S106).

(2-3) 추정 영역에 포함되는 "K점" 및 J점"을 나타내는 어드레스의 정량화

이어서, 전술한 추정 영역(12)에 포함되는 "K점" 및 J점"을 각각 나타내는 어드레스 "M(y)" 및 "M(z)"에 대하여, 도 12 및 도 13을 참조하여, 정량적으로 설명한다. 도 12는, 본 발명의 "추정 영역"과 관련된 L1층의 추정 영역(12)과 본 발명의 "제1 영역"과 관련된 L0층의 기록 영역(10) 모두에서의 반경 위치와 어드레스의 관계를 도식적으로 나타낸 그래프(도 12(a)), 및 추정 영역(12)에서의 재생 품질의 일례인 비대칭성 값의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 12(b))이다. 도 13은, 본 발명에서의 하나의 어드레스로부터 반경 위치를 계산하는 과정을 나타낸 하나의 개념도 및 다른 개념도(도 13(a) 및 도 13(b))이다. 그리고, 도 12(a)의 가로축은 반경 방향의 위치를 나타내고, 세로축은 어드레스를 나타낸다. 도 12(b)의 가로축은 L1층에서의 어드레스를 나타내고, 세로축은 L1층의 비대칭성을 나타낸다.

(2-3-1) "K점"을 나타내는 어드레스의 정량화

도 12(a)에 나타낸 바와 같이, 추정 영역(12)에 포함되는 "K점"을 나타내는 어드레스 "M(y)"는, (iii) L0층의 기록 영역(10)의 종료단 "F점"을 나타내는 어드 레스 "y" 및 (iv) 허용 범위 내의 오프셋 양 "b"를 파라미터로 한 다음의 식 (1) 및 식 (2)로 표현할 수 있다. 그리고, 본 발명에서, "Rt(x)"는 제곱근을 나타내는 함수이다. "Sqr(x)"는 제곱을 나타내는 함수이다. "Inv(x)"는 보수를 나타내는 함수이다.

M(y) = InvY + Ax ― <b × (2 × R(y) - b) × π> ÷ c (1)

단,

b = (치수 오차 tol) + (반경 방향의 오차 ro) + 투과광의 반경 rb)

= 124(μm)

c = "1 ECC 블록당 기록 면적을 나타내는 소정의 계수"

(단위: mm²/ECC 블록)

Ax = "기준 어긋남 양".

1 ECC 블록당 기록 면적을 나타내는 소정의 계수 "c"는, 정보 기록 매체의 단위면적당 기록되는 데이터량의 역수를 나타낸 계수이다. 예를 들면, c는 다음과 같을 수 있다.

c = (32 × 1024 × 8 × 3.84 × 0.74)

/<(2048 / 2418) × (8 / 16) × 26.16 × 1000000>

전술한 "Ax"의 값을 나타내는 ECC 블록의 수는, 다음에 나타낸 기준 어긋남 양 "a"에 기초하여, 예를 들면 실험적, 경험적, 이론적, 또는 시뮬레이션 등에 의해 일대일 결정 가능한 값이다.

구체적으로, 기준 어긋남 양 "a"는, "A점"(도 2를 참조)의 반경 위치와 "C점"(도 2를 참조)의 반경 위치의 디스크 설계 시에 설정된 기준인 어긋남 양을 나타내는 ECC 블록수이다. 더욱 구체적으로, "A점"은, 예를 들면 L0층의 데이터 영역의 개시 위치이며, 어드레스가 "FFCFFFh"이고 반경 위치가 24mm(그리고, 직경 D (0 = 48mm)인 지점이다. "C점"은 "A점"과 연관되는(즉, 보수 관계에 있는) L1층의 데이터 영역의 종료 위치이며, 어드레스가 "00300Oh"인 반경 위치에 위치하는 지점이다.

그리고, 식 (1)의 "R(y)"는 다음의 식 (2)로 표현된다.

R(y) = Rt[<Sqr(D0 / 2) × π + (x0 - y) c)> /π] (2)

그리고, 식 (2)에 대한 상세한 것은 후술한다.

(2-3-2) "J점"을 나타내는 어드레스의 정량화

마찬가지로, 추정 영역(12)에 포함되는 J점"을 나타내는 어드레스 "M(z)"는, (i) L0층의 기록 영역(10)의 개시단 "E점"을 나타내는 어드레스 "z" 및 (ii) 상대적인 어긋남에 상당하는 오프셋 양 "b"를 파라미터한 다음의 식 (1a) 및 식 (2a)로 표현될 수 있다.

M(z) = InZ + Ax - <b × (2 × R(z) - b) × π> ÷ c (1a)

그리고, 식 (1a)의 "R(y)"는 다음의 식 (2)로 표현될 수 있다.

R(z) = Rt [ <Sqr (D0 / 2) × π + (x0 - z) c> /π] (2a)

그리고, 식 (2a)의 대한 상세한 것은 후술한다.

(2-3-3) 어드레스와 반경 위치와의 정량화

또, 전술한 식 (2) 및 식 (2a)는 다음과 같이 하여 도출할 수 있다.

도 13(a)에 나타낸 바와 같이, 어드레스가 "y"인 "F점"의 반경 위치 "R(y)"를 가지는 원의 면적 "Sr"은, (i) 예를 들면 어드레스가 "x0"인 전술한 "A점"의 반경 위치 "D0/2"를 가지는 원의 면적 "S0"와, (ii) 어드레스 "x0"로부터 어드레스 "y"까지의 차분 데이터량 "ΔS"의 합과 같다.

또, 면적 "Sr"는, π(파이)에 "R(x)"의 제곱을 곱함으로써 구해진다. 면적 "S0"는 π에 "D0 / 2"의 제곱을 곱함으로써 구해진다. 차분 데이터량 "ΔS"는, 어드레스 "x0"와 어드레스 "y"의 차에 소정의 계수 "c"를 곱함으로써 구해진다. 따라서, 다음의 식(3)을 얻는다. 이 식(3)으로부터 전술한 식 (2)을 도출할 수 있다.

Sqr <R(y)> × π = Sqr (D0 / 2) × π + (x0 - y) × c (3)

마찬가지로, 도 13(b)에 나타낸 바와 같이, 어드레스가 "z"인 "E점"의 반경 위치 "R(z)"를 가지는 원의 면적 "Sr"는, (i) 예를 들면 어드레스가 "x0"인 전술한 "A점"의 반경 위치 "D0 / 2"를 가지는 원의 면적 "S0"와, (ii) 어드레스 "x0"로부터 어드레스 "z"까지의 차분 데이터량 "ΔS"의 합과 같다. 따라서, 다음의 식 (3a)을 얻는다. 이 식 (3a)으로부터 전술한 식 (2a)을 도출할 수 있다.

Sqr <R(z)> × π = Sqr (D0 / 2) × π + (x0 - z) × c (3a)

특히, 본 실시예에서는, 차분 데이터량 "ΔS"를 산출할 때, 단위 길이당 데이터량을 나타내는 기록선 밀도가 제1 트랙 및 제2 트랙에서 동일하다는 전제에 기초하여, 데이터 양을 어드레스로부터 이론적으로 결정한다.

또, 차분 데이터량 "ΔS"를 산출할 때, 전술한 LO층의 데이터 영역의 개시 위치 "A점"과 L1층의 데이터 영역의 종료 위치 "C점" 양쪽에서의 표준 오차(standard error)의 영향이 거의 없거나 없다고 가정할 수 있다. 게다가, 차분 데이터량 "ΔS"을 산출할 때, 이른바, 스파이럴 적분 계산을 사용할 수도 있다.

전술한 바와 같은, (i) L1층에서의 재생 품질과 (ii) 추정 영역(12)에 포함되는 "K점" 및 J점"을 각각 나타내는 어드레스 "M(y)" 및 "M(z)"의 관계는, 도 12(b)에 나타나 있다.

(3) 본 발명의 위치 검증 장치의 작용 및 효과의 검토

다음에, 도 14를 참조하여, 본 발명의 위치 검증 장치의 작용 및 효과에 대하여 검토한다. 도 14는, 비교예의 광디스크에서, L1층의 추정 영역(12)과 L0층의 기록 영역(10) 양자의 반경 위치와, 어드레스의 관계를 도식적으로 나타낸 그래프(도 14(a)), 및 비교예의 추정 영역(12)에서의 재생 품질의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 14(b))이다. 그리고, 도 14(a)의 가로축은 반경 방향의 위치를 나타내고, 세로축은 어드레스를 나타낸다. 도 14(b)의 가로축은, L1층의 어드레스를 나타내고, 세로축은 L1층의 비대칭성을 나타낸다.

도 14(a) 및 도 14(b)에 나타낸 바와 같이, 비교예의 광디스크에서, 오프셋 양 "b"가, 예를 들면 전술한 124(μm)보다 큰 경우, 추정 영역(12)에 포함되는 어드레스 "M(z)"에 의해 특정 가능한 "J점"에서의 비대칭성 값은, 정보가 기록된 L0층의 기록 영역(10)을 투과한 레이저광에 의해 기록된 정보가 나타낸 비대칭성 값보다 작다.

그 결과, L0층과 L1층과의 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는 경우에, L0층의 기록 영역(10)을 투과한 레이저광(LB)에 의해 기록된 정보가 나타내는 재생 품질과 대체로 동등한 재생 품질을 얻을 수 있을 것으로 추정되는 추정 영역(12)에 서, 원하는 재생 품질을 얻을 수 있다는 모순이 생긴다. 따라서, 본 발명의 위치 검증 장치 방법은 추정 영역에서의 재생 품질에 기초하여, 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 용이하게 판정할 수 있다.

(4) 위치 검증 장치의 제2 실시예

다음에, 도 15 내지 도 17을 참조하여, 본 발명의 위치 검증 장치의 제2 실시예에 대하여 설명한다. 도 15는, 본 발명의 제2 실시예에서의, 접합 오차(편심)와 투과광의 반경을 포함하는 경우의, 추정 영역(12)의 편심을 포함하는 정보 기록 매체에서 실제로 측정된 재생 품질의 일례로서의 비대칭성 값의 천이를 도식적으로 나타낸 모식도(도 15(a)), 그리고 LO층 및 L1층에서의 치수 오차가 허용 범위 내의 기준치인 이상적인 경우의 전체 영역(11)에서의 비대칭성 값의 천이(점선)와, 치수 오차를 포함하는 정보 기록 매체에서 실제로 측정된 L1층에서의 비대칭성 값의 천이(굵은선)를 나타낸 그래프(도 15(b))이다. 도 16은, 본 발명의 제2 실시예에서, 제1 기록층 및 제2 기록층과 각각 관련된 L0층 및 L1층에 치수 오차, 접합 오차(또는 반경 방향의 오차), 및 투과광의 반경이 생긴 경우의, L0층에서의 하나의 트랙과 L1층에서의, 상기 하나의 트랙와 연관되는 다른 트랙의 위치 관계를 도식적으로 나타낸 평면도이다. 도 17은, 제2 실시예에서 상대 편차가 최대인 경우의 재생 품질의 일례인 비대칭성 값의 천이, 및 상대 편차가 최소인 경우의 재생 품질의 천이 를 나타낸 모식도이다. 그리고, 도 15(a) 및 도 15(b)의 가로축은 L1층에서의 어드레스를 각각 나타낸다.

도 15(a)에 나타낸 바와 같이, 정보 기록 매체가 한번 회전하는 동안에 상대 편차가 최대치인 위치에서의, 예를 들면 비대칭성 값으로 표현되는 재생 품질의 천이(가는선으로 표시)와, 상대 편차가 최소치인 위치에서의 재생 품질의 천이(굵은선으로 표시)를 비교함으로써, (i) L0층에서의 레이저광의 스폿 직경, 즉 L0층에서의 디포커스된 직경, 및 (ii) 예를 들면 반경 방향의 오차를 포함하는 상대 편차를 측정할 수 있다.

또, 도 15(b)에 나타낸 바와 같이, 이상적인 경우의 전체 영역(11)에서의 재생 품질의 천이(점선으로 표시)와, 실제로 측정된 L1층에서의 재생 품질의 천이(굵은선으로 표시)를 비교함으로써, 예를 들면 치수 오차를 포함하는 상대 편차를 측정할 수 있다.

실제의 정보 기록 매체를 대상으로 하면, 반경 방향의 오차 및 치수 오차의 영향이 복합되어 관측된다. 하지만, 전술한 방법에 기초하여, 반경 방향의 오차를 포함하는 상대 편차 및 치수 오차를 포함하는 상대 편차를, 각각 추출하는 것이 가능하다.

구체적으로는, 도 16에 나타낸 바와 같이, 원주 Cr1로 나타낸 L1층의 하나의 트랙 상의 "Ml-b점"과 원주 Cr0로 나타낸 L0층의 하나의 트랙 상의 "M0-b점" 양자의 반경 위치의 편차에 의해, 상대 편차의 최대치를 나타낸다. 한편, 도 16에 나타낸 바와 같이, 원주 Cr1로 L1층의 하나의 트랙 상의 "M1-s점"과 원주 Cr0로 나타 낸 L0층의 하나의 트랙 상의 "M0-s점" 양자의 반경 위치의 편차에 의해, 상대 편차의 최소치를 나타낸다.

더욱 구체적으로는, 도 17의 중앙 부분과 도 17의 아래쪽 부분의 그래프에 나타낸 바와 같이, 기록된 상태의 영역과 미기록 상태의 영역이 혼재하는 L0층을 투과한 기록용의 레이저광이 조사된 경우의 재생 신호의 진폭을 나타낸 곡선은, 정보 기록 매체가 일회전하는 동안에 "top"과 "bottom"으로 나타낸 값 사이를, 상대 편차의 크기로 따라 변화한다. 그리고, 이들 "top"과 "bottom"으로 나타낸 값으로부터, 예를 들면 비대칭성 값 등의 재생 품질이 대응하여 산출된다.

전술한 실시예에서는, 위치 검증 장치 또는 위치 측정 장치의 일례로서, DVD-R 레코더 및 DVD+R 레코더 등의 추기용(additional recording or writing once)의 정보 기록/재생 장치에 대하여 설명하였다. 하지만, 본 발명은, 예를 들면, DVD-RW 레코더 또는 DVD+RW 레코더 등의, 다층형 광 디스크 등의 재기록용의 정보 기록/재생 장치에 적용할 수도 있다. 또한, 본 발명은 블루 레이저를 기록/재생에 사용하는 대용량 기록용의 정보 기록/재생 장치에도 적용할 수 있다.

본 발명은, 전술한 실시예에 한정되지 않고, 청구의 범위 및 명세서 전체로부터 알 수 있는 발명의 요지 또는 사상에 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변경이 가능하다. 그러한 변경을 수반하는 모든 위치 검증 장치 및 방법, 위치 측정 장치 및 방법, 및 컴퓨터 프로그램도 또한 본 발명의 기술적 범위에 포함되는 것이다.

본 발명에 따른 위치 검증 장치 및 방법, 그리고 위치 검증용의 컴퓨터 프로 그램은, 예를 들면 듀얼층형의 DVD, CD(Compact Disc) 등의 다층형의 정보 기록 매체의 복수의 기록층에서의 상대적인 어긋남을 검증하기 위한 위치 검증 장치 및 방법으로 이용 가능하다. 또, 예를 들면 민생용 또는 업무용의 각종 컴퓨터 기기에 탑재되는, 또는 각종 컴퓨터 기기에 접속 가능한 위치 검증 장치 등에도 이용 가능하다.

Claims

정보를 기록하기 위한 제1 트랙이 형성된 제1 기록층과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙이 형성된 제2 기록층을 적어도 포함하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남(relative shift)의 크기를 검증하는 위치 검증 장치로서,

상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 디바이스;

상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 디바이스;

상기 제2 영역에 기록된, 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 디바이스; 및

상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용범위 내에 있는지 여부를 판정하는 판정 디바이스

를 포함하는 위치 검증 장치.
제1항에 있어서,

상기 제1 영역은 제1 개시 어드레스로부터 제1 종료 어드레스까지의 범위를 나타내는 제1 어드레스 범위에 의해 특정될 수 있고,

상기 제2 영역은 상기 제1 어드레스 범위와 이론적으로 연관되는 범위를 나타내는 추정 어드레스 범위에 의해 특정 가능한 추정 영역을 포함하며,

상기 판정 디바이스는 상기 추정 영역의 위치와 상기 천이 위치 모두에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용 범위 내에 있는지 여부를 판정하는, 위치 검증 장치.
제2항에 있어서,

상기 천이 위치 또는 상기 추정 영역의 위치는, 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 중 하나에 기초하여, 어드레스 또는 반경 위치로 표시되는, 위치 검증 장치.
제2항에 있어서,

상기 추정 영역은 또한, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 각각이 가지고 있는 치수 오차, (ii) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차(bonding error)에 기초하여 생기는 반경 방향의 오차(radial run-out), 및 (iii) 상기 제2 기록층에 초점을 맺도록 상기 레이저광이 조사될 때, 상기 제1 기록층을 투과하면서 상기 제1 기록층에 초점을 맺지 않도록 상기 레이저광이 조사되 는 영역의 반경을 나타내는 투과광의 반경 중 적어도 하나를 가지는 상대 편차를 포함하도록 특정될 수 있는, 위치 검증 장치.
제2항에 있어서,

상기 추정 영역은 또한, 적어도 상기 제1 개시 어드레스와 연관되는 제2 개시 어드레스, 및 상기 제1 종료 어드레스와 연관되는 제2 종료 어드레스 모두에 의해 특정될 수 있는, 위치 검증 장치.
제5항에 있어서,

상기 추정 영역은 또한, 상기 제2 개시 어드레스에, 상대 편차에 상당하는 어드레스를 나타내는 마진 어드레스를 가산 또는 감산하여 취득한 마진 개시 어드레스, 및 상기 제2 종료 어드레스에 상기 마진 어드레스를 감산 또는 가산하여 취득한 마진 종료 어드레스에 의해 특정될 수 있는, 위치 검증 장치.
제1항에 있어서,

상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층에서의 반경 방향의 소정 길이는, 상기 제1 트랙 및 상기 제2 트랙에서의 단위길이당 데이터량을 나타내며 적어도 원하는 범위 내에서 계산될 수 있는 기록 선밀도에 기초하여, 수치적으로 지정될 수 있는, 위치 검증 장치.
제7항에 있어서,

상기 소정의 길이와 연관되는 데이터량은, 상기 소정의 길이에 상당하는 면적을 소정의 계수로 나눔으로써 표시되는, 위치 검증 장치.
제7항에 있어서,

상기 소정의 길이와 연관되는 데이터량은, 상기 소정의 길이의 개시단을 나타내는 어드레스에서 상기 소정의 길이의 종료단을 나타내는 어드레스까지의 스파이럴 적분(spiral integration) 계산에 의해 표시되는, 위치 검증 장치.
제1항에 있어서,

상기 재생 품질은 비대칭성 값(asymmetry value)으로 표시되는, 위치 검증 장치.
제1항에 있어서,

상기 제1 기록 디바이스는, 상기 제1 영역을 상기 제1 기록층의 내주부(inner circumferential part), 중주부(middle circumferential part), 및 외주부(outer circumferential part) 중 적어도 2지점에 형성하고,

상기 제2 기록 디바이스는, 상기 제2 영역을 상기 제2 기록층의 적어도 상기 2지점에 형성하며,

상기 판정 디바이스는, 적어도 상기 2지점에서 상기 상대적인 어긋남이 허용 될 수 있는지 여부를 판정하는, 위치 검증 장치.
정보를 기록하기 위한 제1 트랙이 형성된 제1 기록층과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙이 형성된 제2 기록층을 적어도 포함하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 검증하는 위치 검증 장치에서의 위치 검증 방법으로서,

상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 공정;

상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 공정;

상기 제2 영역에 기록된, 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 공정; 및

상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질과 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남이 허용범위 내에 있는지 여부를 판정하는 판정 공정

을 포함하는 위치 검증 방법.
정보를 기록하기 위한 제1 트랙이 형성된 제1 기록층과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙이 형성된 제2 기록층을 적어도 포함하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 측정하는 위치 측정 장치로서,

상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 디바이스;

상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 디바이스;

상기 제2 영역에 기록된, 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 디바이스; 및

상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중에서 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남으로서, (v) 상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층이 각각 가지고 있는 치수 오차, 또는 (vi) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차에 기초하여 생긴 반경 방향의 오차를 측정하는 측정 디바이스

를 포함하는 위치 측정 장치.
정보를 기록하기 위한 제1 트랙이 형성된 제1 기록층과, 상기 정보를 기록하기 위한 제2 트랙이 형성된 제2 기록층을 적어도 포함하는 정보 기록 매체에 있어서, (i) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층 사이, 또는 (ii) 상기 제1 트랙과 상기 제2 트랙 사이의 반경 방향에서의 상대적인 어긋남의 크기를 측정하는 위치 측정 장치에서의 위치 측정 방법으로서,

상기 제1 기록층의 제1 영역에 상기 정보를 기록하는 제1 기록 공정;

상기 제1 영역에 대향하는 부분 영역을 적어도 포함하는 상기 제2 기록층의 제2 영역에, (iii) 상기 제1 영역을 투과한 레이저광에 의해 일부 정보를 기록하고, (iv) 상기 제1 영역을 투과하지 않는 레이저광에 의해 다른 일부 정보를 기록하는 제2 기록 공정;

상기 제2 영역에 기록된, 상기 일부 정보 및 상기 다른 일부 정보를 재생하는 재생 공정; 및

상기 재생된 일부 정보가 나타내는 재생 품질, 및 상기 재생된 다른 일부 정보가 나타내는 재생 품질 중 재생 품질이 한쪽으로부터 다른 쪽으로 천이하는 천이 위치에 기초하여, 상기 상대적인 어긋남으로서, (v) 상기 제1 기록층 및 상기 제2 기록층이 각각 가지고 있는 치수 오차, 또는 (vi) 상기 제1 기록층과 상기 제2 기록층의 접합 오차에 기초하여 생긴 반경 방향의 오차를 측정하는 측정 공정

을 포함하는 위치 측정 방법.
제1항에 따른 위치 검증 장치에 구비된 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어로 이루어지는, 위치 검증을 위한 명령어로 이루어지는 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록매체로서,

상기 컴퓨터를, 상기 제1 기록 디바이스, 상기 제2 기록 디바이스, 상기 재생 디바이스, 및 상기 판정 디바이스 중 적어도 하나로서 기능하게 하는, 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록매체.
제13항에 따른 위치 측정 장치에 구비된 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어로 이루어지는, 위치 검증을 위한 명령어로 이루어지는 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록매체로서,

상기 컴퓨터를, 상기 제1 기록 디바이스, 상기 제2 기록 디바이스, 상기 재생 디바이스, 및 상기 측정 디바이스 중 적어도 하나로서 기능하게 하는, 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록매체.