KR100852388B1 - 절연 영역을 구비한 반도체 레이저 소자 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 68
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 42
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 claims description 3
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 3
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 claims description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 28
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- -1 AlInGaAs Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/09—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
- H01S3/091—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
- H01S3/094—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
- H01S3/0941—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light of a laser diode
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1021—Coupled cavities
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/065—Mode locking; Mode suppression; Mode selection ; Self pulsating
- H01S5/0651—Mode control
- H01S5/0653—Mode suppression, e.g. specific multimode
- H01S5/0654—Single longitudinal mode emission
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1003—Waveguide having a modified shape along the axis, e.g. branched, curved, tapered, voids
- H01S5/1017—Waveguide having a void for insertion of materials to change optical properties
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1039—Details on the cavity length
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
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Abstract
Description
Claims (21)
- 제 1 면 및 상기 제 1 면에 대향하는 제 2 면을 구비한 기판;상기 기판의 제 2 면 상에 형성된 활성 영역;상기 활성 영역 상에 형성된 클래딩 층; 및상기 기판의 제 2 면 상에 제 1 길이를 가지는 제 1 레이저 영역 및 상기 제 1 길이와 다른 제 2 길이를 가지는 제 2 레이저 영역을 형성하도록 상기 클래딩 층에 형성된 절연 영역을 포함하되,상기 제 1 레이저 영역 및 제 2 레이저 영역의 조합은 단일 모드 레이저를 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 활성 영역은 상부 면과 하부 면을 갖는 활성부 층과, 상기 활성부 층의 상부 면 및 하부 면 상에 덮여진 분리 가둠형 헤테로구조(SCH)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서,상기 기판의 제 1 면 상에 형성된 제 1 전극; 및상기 제 1 레이저 영역의 외부 면 상에 형성된 제 2 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 3 항에 있어서, 상기 제 2 레이저 영역의 외부 면 상에 형성된 제 3 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 레이저 영역과 상기 제 2 레이저 영역은 길이가 상이한 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 클레딩 층은 상기 절연 영역의 깊이보다 큰 두께를 가지며, 상기 제 1 레이저 영역은 상기 제 2 레이저 영역에 연결된 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 절연 영역은 이온 트랜스포테이션법(Ion transportation method) 및 FIB법(Focus ion beam method)으로 이루어진 군에서 선택된 방법에 의해 상기 클래딩 층에 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 절연 영역은 포토닉 크리스탈(Photonic crystal), 또는 화학 에칭 및 건식 에칭으로 이루어진 군에서 선택된 방법으로 상기 클래딩 층에 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 8 항에 있어서, 상기 화학적 에칭 및 건식 에칭은 모두 상기 클래딩 층에 공간을 형성하고, 상기 공간에 유전 물질을 채워 상기 제 1 레이저 영역과 제 2 레이저 영역 사이에 절연 영역을 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 9 항에 있어서, 상기 유전 물질은 SiOx, SiNx 및 폴리머로 이루어진 군에서 선택된 물질인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 단일 모드 레이저는 상기 제 1 레이저 영역 및 제 2 레이저 영역 중 어느 영역에 전류를 주입하여 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 단일 모드 레이저는 상기 제 1 레이저 영역에 일정한 제 1 전류를 주입하고, 상기 제 2 레이저 영역에 가변 제 2 전류를 주입하여 변조 가능한 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 단일 모드 레이저는 상기 제 1 레이저 영역에 변동 가능한 제 1 전류를 주입하고, 상기 제 2 레이저 영역에 일정한 제 2 전류를 주입 하여 변조 가능한 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 단일 모드 레이저는 상기 제 1 레이저 영역으로부터 발생한 제 1 광 스펙트럼 및 상기 제 2 레이저 영역으로부터 발생한 제 2 광 스펙트럼의 파장을 드리프트하도록 상기 반도체 레이저 소자의 작동 온도를 조정함으로써 변조 가능한 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 기판은 p-형 InP 기판인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 15 항에 있어서, 상기 클래딩 층은 n-형 InP 기판인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 1 항에 있어서, 상기 기판은 n-형 InP 기판인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 제 17 항에 있어서, 상기 클래딩 층은 p-형 InP 기판인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
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- 제 1 항에 있어서, 상기 활성 영역은 AlInGaAs, InGaAs, GaAs, GaAsN 및 InGaAsP로 이루어진 군에서 선택된 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자.
- 삭제
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW094119955A TWI262639B (en) | 2005-06-16 | 2005-06-16 | Semiconductor laser device |
TW094119955 | 2005-06-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060131691A KR20060131691A (ko) | 2006-12-20 |
KR100852388B1 true KR100852388B1 (ko) | 2008-08-14 |
Family
ID=37573289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060054288A Expired - Fee Related KR100852388B1 (ko) | 2005-06-16 | 2006-06-16 | 절연 영역을 구비한 반도체 레이저 소자 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7602831B2 (ko) |
KR (1) | KR100852388B1 (ko) |
TW (1) | TWI262639B (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100773925B1 (ko) * | 2006-02-08 | 2007-11-06 | 제주대학교 산학협력단 | 미세 물질층 상의 전극 형성 방법 |
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US9306672B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-04-05 | Encore Corporation | Method of fabricating and operating an optical modulator |
US9306372B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-04-05 | Emcore Corporation | Method of fabricating and operating an optical modulator |
US9059801B1 (en) | 2013-03-14 | 2015-06-16 | Emcore Corporation | Optical modulator |
US9564733B2 (en) | 2014-09-15 | 2017-02-07 | Emcore Corporation | Method of fabricating and operating an optical modulator |
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US10074959B2 (en) | 2016-08-03 | 2018-09-11 | Emcore Corporation | Modulated laser source and methods of its fabrication and operation |
JP2018182306A (ja) * | 2017-04-17 | 2018-11-15 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光半導体素子、及び光半導体素子の駆動方法 |
CN108521074A (zh) * | 2018-05-21 | 2018-09-11 | 北京大学 | 利用不对称dbr结构实现可调谐单模激光的方法及激光器 |
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Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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AU7550000A (en) | 1999-09-23 | 2001-04-24 | Provost, Fellows And Scholars Of The College Of The Holy And Undivided Trinity Of Queen Elizabeth Near Dublin | An optical waveguide and a method for providing an optical waveguide |
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KR100620391B1 (ko) | 2004-12-14 | 2006-09-12 | 한국전자통신연구원 | 집적형 반도체 광원 |
-
2005
- 2005-06-16 TW TW094119955A patent/TWI262639B/zh not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-06-15 US US11/453,100 patent/US7602831B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-06-16 KR KR1020060054288A patent/KR100852388B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI262639B (en) | 2006-09-21 |
KR20060131691A (ko) | 2006-12-20 |
TW200701577A (en) | 2007-01-01 |
US7602831B2 (en) | 2009-10-13 |
US20060285570A1 (en) | 2006-12-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20060616 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20070731 Patent event code: PE09021S01D |
|
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event date: 20080212 Patent event code: PE09021S02D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20080721 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20080808 Patent event code: PR07011E01D |
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PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20080811 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
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PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110725 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120724 Year of fee payment: 5 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120724 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130724 Year of fee payment: 6 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130724 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140724 Year of fee payment: 7 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140724 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20160709 |