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KR100815537B1 - Ic tester - Google Patents

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KR100815537B1
KR100815537B1 KR1020060084227A KR20060084227A KR100815537B1 KR 100815537 B1 KR100815537 B1 KR 100815537B1 KR 1020060084227 A KR1020060084227 A KR 1020060084227A KR 20060084227 A KR20060084227 A KR 20060084227A KR 100815537 B1 KR100815537 B1 KR 100815537B1
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히데키 나가누마
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요코가와 덴키 가부시키가이샤
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Abstract

본 발명은, 피시험 대상으로 전류가 공급 또는 흡인되어도, 정확하게 시험할 수 있는 IC 테스터를 실현하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to realize an IC tester which can be accurately tested even when a current is supplied or attracted to a test object.

본 발명은, 피시험 대상을 시험하는 IC 테스터를 개량한 것이다. 본 장치는, 피시험 대상의 출력 핀에 전류를 공급 또는 흡인하는 전류부와, 피시험 대상의 출력 핀의 출력 전압을 측정하여, 피시험 대상의 출력 저항값과 전류부의 전류값에 의해 보정하는 측정부를 구비한 것을 특징으로 한다.This invention improves the IC tester which tests a test subject. The apparatus measures the current portion which supplies or draws current to the output pin under test, and the output voltage of the output pin under test, and corrects it by the output resistance value and current value of the current target under test. It is characterized by comprising a measuring unit.

IC 테스터, 다계조 전압, 피시험 대상, A/D 변환기, 능동 부하, 연산부, 전류 측정 IC tester, multi-gradation voltage, object under test, A / D converter, active load, operation unit, current measurement

Description

ＩＣ 테스터{IC TESTER}IC tester {IC TESTER}

도 1은 본 발명의 일실시예를 나타낸 구성도이다.1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 다른 실시예를 나타낸 구성도이다.2 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

일본국 특개 2005-69970호 공보Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2005-69970

일본국 특개평 9(1997)-196998호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 9 (1997) -196998

본 발명은, 피시험 대상, 예를 들면, 액정 구동 드라이버를 시험하는 IC 테스터에 관한 것으로서, 피시험 대상으로 전류가 공급 또는 흡인되어도, 정확하게 측정할 수 있는 IC 테스터에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC tester for testing an object under test, for example, a liquid crystal drive driver, and relates to an IC tester that can be accurately measured even when a current is supplied or attracted to the object under test.

액정 구동 드라이버는, 복수개의 핀으로부터 다단계(다계조) 전압을 출력하고, 액정 디스플레이를 구동하고 있다. 이와 같은 액정 구동 드라이버를 시험하는 IC 테스터는, 예를 들면, 일본국 특개 2005-69970호 공보, 일본국 특개평 9-196998호 공보 등에 기재되어 있다.The liquid crystal drive driver outputs a multilevel (multi-gradation) voltage from a plurality of pins to drive the liquid crystal display. IC testers for testing such liquid crystal drive drivers are described in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2005-69970, Japanese Patent Laid-Open No. 9-196998, and the like.

이와 같은 장치에서는, 액정 구동 드라이버의 출력 핀의 계조 전압을 A/D 변환기에 의해 측정하여, 액정 구동 드라이버의 판정을 수행하고 있다.In such a device, the gradation voltage of the output pin of the liquid crystal drive driver is measured by the A / D converter to determine the liquid crystal drive driver.

그런데, 액정 구동 드라이버의 종류에 따라서는, 액정 구동 드라이버가 액정 디스플레이 패널에 내장될 경우, 출력 핀에 접속되는 부하 용량이 작아서 발진이 일어나지 않지만, IC 테스터의 부하 용량에 의해 발진하게 된다. 그래서, 능동 부하(active load)를 사용하여, 액정 구동 드라이버의 출력 핀에 대해서, 전류를 인가 또는 흡인하여, 발진을 방지하고, 시험하고 있다.By the way, depending on the type of liquid crystal drive driver, when the liquid crystal drive driver is incorporated in the liquid crystal display panel, the load capacity connected to the output pin is small and oscillation does not occur, but the oscillation is caused by the load capacity of the IC tester. Thus, an active load is used to apply or draw current to the output pin of the liquid crystal drive driver to prevent oscillation and to test it.

그러나, 능동 부하에 의해 전류를 인가 또는 흡인하므로, 액정 구동 드라이버의 출력 저항에 의해, 계조 전압의 측정에 오차가 생기므로, 정확하게 시험할 수 없게 된다.However, since the current is applied or attracted by the active load, an error occurs in the measurement of the gray scale voltage by the output resistance of the liquid crystal drive driver, so that it cannot be accurately tested.

본 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제는, 피시험 대상으로 전류가 공급 또는 흡인되어도, 정확하게 시험할 수 있는 IC 테스터를 실현하는 것이다.The technical problem to be solved by the present invention is to realize an IC tester which can be accurately tested even when a current is supplied or attracted to the object under test.

이하 본 발명을, 도면을 사용하여 상세하게 설명한다. 도 1은 본 발명의 일실시예를 나타낸 구성도이다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in detail using drawing. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

도 1에 있어서, 피시험 대상(이하 DUT)(1)은, 예를 들면 액정 구동 드라이버이며, 다계조 전압을 복수개의 출력 핀으로부터 출력하고, 복수개의 D/A 컨버터(11), 복수개의 출력 저항 R 등으로 이루어진다. D/A 컨버터(11)는, 출력단에 출력 저항 R의 일단이 접속된다. 스위치 SW1은, DUT(1)의 출력 핀, 즉, 출력 저항 R의 타단에 고정단이 접속된다. 스위치 SW2는, 스위치 SW1의 가동단에 고정단이 접속된다. 증폭기(2)는, 스위치 SW2의 가동단에 입력단이 접속된다. A/D 변환기(3)는, 증폭기(2)의 출력단에 입력단이 접속된다. 연산부(4)는, A/D 변환기(3)의 출력으로부터, (출력 저항값×전류값)에 의해 보정하고, 계조 전압값을 구한다. 스위치 SW3는, 스위치 SW1의 가동단에 고정단을 접속한다. 증폭기(2), A/D 변환기(3) 및 연산부(4)는 측정부를 구성한다.In Fig. 1, the object under test (hereinafter referred to as DUT) 1 is, for example, a liquid crystal drive driver, which outputs a multi-gradation voltage from a plurality of output pins, a plurality of D / A converters 11, and a plurality of outputs. Resistance R and the like. One end of the output resistor R is connected to the output terminal of the D / A converter 11. The switch SW1 is connected to the output pin of the DUT 1, that is, the other end of the output resistor R. The switch SW2 has a fixed end connected to the movable end of the switch SW1. The amplifier 2 is connected to an input end of the switch SW2. The input terminal is connected to the output terminal of the amplifier 2 of the A / D converter 3. The calculating part 4 correct | amends with (output resistance value x current value) from the output of the A / D converter 3, and calculate | requires the gradation voltage value. The switch SW3 connects the fixed end to the movable end of the switch SW1. The amplifier 2, the A / D converter 3, and the calculation unit 4 constitute a measurement unit.

능동 부하(5)는 전류부에서, 스위치 SW3의 가동단에 전류를 공급 또는 흡인하고, 다이오드 브리지(51), 전류원(52, 53), 드라이버(54)로 이루어진다. 다이오드 브리지(51)는, 다이오드 D1, D2가 직렬로 접속되고, 다이오드 D3, D4가 직렬로 접속되며, 다이오드 D1, D2와 다이오드 D3, D4가 병렬로 접속된다. 다이오드 D1, D2의 접속점이 스위치 SW3의 가동단에 접속된다. 전류원(52)은, 다이오드 D1, D3의 양극(anode)에 접속된다. 전류원(53)은, 다이오드 D2, D4의 음극(cathode)에 접속된다. 드라이버(54)는, 다이오드 D3, D4의 접속점에 접속된다. 스위치 SW4의 가동단에 스위치 SW1의 고정단이 접속된다. 전류 측정 모듈(6)은, 능동 부하(6)보다 적은 개수가 설치되고, 스위치 SW4의 가동단에 접속되며, 전류를 측정하여, 연산부(4)에 출력한다.The active load 5 supplies or draws current to the movable end of the switch SW3 in the current portion, and comprises a diode bridge 51, current sources 52 and 53, and a driver 54. The diode bridge 51 has diodes D1 and D2 connected in series, diodes D3 and D4 connected in series, and diodes D1 and D2 and diodes D3 and D4 connected in parallel. The connection point of the diodes D1 and D2 is connected to the movable end of the switch SW3. The current source 52 is connected to the anodes of the diodes D1 and D3. The current source 53 is connected to the cathodes of the diodes D2 and D4. The driver 54 is connected to the connection point of the diodes D3 and D4. The fixed end of the switch SW1 is connected to the movable end of the switch SW4. The current measuring module 6 has a smaller number than the active load 6, is connected to the movable end of the switch SW4, measures the current, and outputs it to the calculating unit 4.

이와 같은 장치의 동작을 이하에서 설명한다. 먼저, 능동 부하(5)의 전류 오차를 구한다. 도시하지 않은 제어부가, 스위치 SW1, SW2를 오프(off)하고, 스위치 SW3, SW4를 온(on)한다. 드라이버(54)가, 다이오드 브리지(51)에 대해서 전압을 부여한다. 이로써, 전류원(52)에 의한 정전류 공급, 또는, 전류원(53)에 의한 정전류 흡인이 행해지고, 스위치 SW3, SW4를 통하여, 전류 측정 모듈(6)에 의해 측 정되고, 이 전류값을 전류 측정 모듈(6)이 연산부(4)에 출력한다. 이로써, 실제 전류값이 구해진다.The operation of such a device will be described below. First, the current error of the active load 5 is obtained. The control part which is not shown in figure turns off the switch SW1, SW2, and turns on the switch SW3, SW4. The driver 54 applies a voltage to the diode bridge 51. Thereby, the constant current supply by the current source 52 or the constant current suction by the current source 53 is performed, it is measured by the current measuring module 6 via switches SW3 and SW4, and this current value is measured by the current measuring module. (6) outputs to the calculating part (4). As a result, the actual current value is obtained.

다음에, 출력 저항 R의 저항값(출력 저항값)을 구한다. 도시하지 않은 제어부가, 스위치 SW1 ~ SW3를 온하고, 스위치 SW4를 오프한다. 드라이버(54)가, 다이오드 브리지(51)에 대해서 전압을 부여하고, 스위치 SW3, SW1을 통하여, DUT(1)에 전류원(52)에 의한 정전류 공급, 또는, 전류원(53)에 의한 정전류 흡인을 한다. 그리고, A/D 변환기(3)가, 스위치 SW1, SW2 및 증폭기(2)를 통하여, DUT(1)의 출력 저항 R의 전압값을 구한다. 구해진 전압값을, 연산부(4)가, 전류 측정 모듈(6)이 측정한 전류값을 사용하여, 출력 저항 R의 저항값을 구한다.Next, the resistance value (output resistance value) of the output resistance R is obtained. The control part which is not shown in figure turns on the switch SW1-SW3, and turns off switch SW4. The driver 54 applies a voltage to the diode bridge 51 and supplies constant current by the current source 52 to the DUT 1 or constant current suction by the current source 53 through the switches SW3 and SW1. do. Then, the A / D converter 3 obtains the voltage value of the output resistance R of the DUT 1 through the switches SW1, SW2 and the amplifier 2. Using the obtained voltage value, the calculating part 4 calculates the resistance value of the output resistance R using the current value measured by the current measuring module 6.

그리고, 계조 측정을 실시한다. 도시하지 않은 제어부가, 스위치 SW1 ~ SW3을 온하고, 스위치 SW4를 오프한다. 드라이버(54)가, 다이오드 브리지(51)에 대해서 전압을 부여하고, 스위치 SW3, SW1를 통하여, DUT(1)에 전류원(52)에 의한 정전류 공급, 또는, 전류원(53)에 의한 정전류 흡인을 한다. 그리고, DUT(1)가, 도시하지 않은 신호 발생기로부터 데이터를 입력하고, D/A 컨버터(11)로부터 계조 전압을 출력 저항 R를 통하여 출력한다. 상기 계조 전압을, A/D 변환기(3)가, 스위치 SW1, SW2 및 증폭기(2)를 통하여 측정치를 구한다. 이 측정치를 연산부(4)가 입력하고, 연산부(4)가, (측정치) - (DUT(1)의 출력 저항값) × (능동 부하(5)의 전류값)에 의해, 실제 계조 전압값을 구한다. 이 계조 전압값에 의해, 연산부(4)가 DUT(1)의 불량 여부를 판정한다.Then, tone measurement is performed. The control part which is not shown in figure turns on the switch SW1-SW3, and turns off switch SW4. The driver 54 applies a voltage to the diode bridge 51 and supplies constant current by the current source 52 to the DUT 1 or constant current suction by the current source 53 through the switches SW3 and SW1. do. Then, the DUT 1 inputs data from a signal generator (not shown) and outputs a gray scale voltage from the D / A converter 11 through the output resistor R. The gray-level voltage is measured by the A / D converter 3 through the switches SW1, SW2 and the amplifier 2. The measurement unit 4 inputs the measured value, and the calculation unit 4 calculates the actual gray voltage value by (measurement value)-(output resistance value of the DUT 1) x (current value of the active load 5). Obtain Based on this gray scale voltage value, the calculating part 4 determines whether the DUT 1 is defective.

이와 같이, 연산부(4)가, DUT(1)의 출력 저항값과 능동 부하(5)의 전류값에 의해 보정하므로, DUT(1)에 전류가 공급 또는 흡인되어도, 정확한 DUT(1)의 계조 전압값을 얻을 수 있고, 정확한 시험을 행할 수 있다.Thus, since the calculating part 4 correct | amends with the output resistance value of the DUT 1, and the current value of the active load 5, even if an electric current is supplied or attracted to the DUT 1, the gray level of the DUT 1 is correct. A voltage value can be obtained and an accurate test can be performed.

또한, DUT(1)의 출력 핀마다 설치하는 능동 부하(5)로부터 전류를 부여하고, DUT(1)의 각 출력 핀의 출력 저항 R을, A/D 변환기(3)에 의해 고속으로 구할 수 있고, DUT(1)마다 측정해도 시험 시간이 짧으므로, 계조 전압값의 보정에 사용해도, 시험 시간의 증가를 억제할 수 있다.In addition, a current is supplied from an active load 5 provided for each output pin of the DUT 1, and the output resistance R of each output pin of the DUT 1 can be obtained at high speed by the A / D converter 3. Since the test time is short even if the measurement is performed for each DUT 1, an increase in the test time can be suppressed even when used for the correction of the gradation voltage value.

다음에, 다른 실시예를 도 2에 따라서 설명한다. 여기서, 도 1과 동일한 요소는 동일한 부호를 부여하고 그에 대한 설명은 생략한다.Next, another embodiment will be described with reference to FIG. Here, the same elements as in FIG. 1 are given the same reference numerals and description thereof will be omitted.

도 2에 있어서, 감산부(7)는, DUT(1)의 출력 핀과 증폭기(2) 사이에 설치되고, 출력을 소정 전압에 의하여 감산한다. 그리고, 감산부(7)는, D/A 컨버터(71), 감산기(72)로 이루어진다. D/A 컨버터(71)는 소정 전압을 출력한다. 감산기(72)는, 스위치 SW1, SW2를 통한 DUT(1)로부터의 출력과 D/A 컨버터(71)의 출력을 감산하여, 증폭기(2)에 출력한다.In FIG. 2, the subtraction part 7 is provided between the output pin of the DUT 1 and the amplifier 2, and subtracts an output by a predetermined voltage. The subtractor 7 includes a D / A converter 71 and a subtractor 72. The D / A converter 71 outputs a predetermined voltage. The subtractor 72 subtracts the output from the DUT 1 and the output of the D / A converter 71 through the switches SW1 and SW2 and outputs them to the amplifier 2.

이와 같은 장치의 동작을 설명한다. DUT(1)가 출력하는 계조 전압으로부터 감산기(72)에서, D/A 컨버터(71)의 출력을 감산하고, 증폭기(2)로 증폭하여, A/D 변환기(3)에 출력한다. 그 외의 동작은, 도 1에 나타낸 장치와 마찬가지이므로 그에 대한 설명은 생략한다. 이와 같이, 감산부(7)에서, DUT(1)의 계조 전압을 감산하고, 증폭기(2)로 증폭함으로써, A/D 변환기(3)에서 고정밀도로 계조 전압을 측정할 수 있다.The operation of such a device will be described. The subtractor 72 subtracts the output of the D / A converter 71 from the gray scale voltage output by the DUT 1, amplifies the amplifier 2, and outputs the result to the A / D converter 3. Other operations are similar to those of the apparatus shown in FIG. 1, and thus description thereof will be omitted. In this way, the subtractor 7 subtracts the gray voltage of the DUT 1 and amplifies the amplifier 2 so that the gray voltage can be measured with high accuracy in the A / D converter 3.

그리고, 측정한 출력 저항값, 전류값에 의해, 계조 전압의 보정을 행하였으 나, 출력 저항값의 이상적인 값을 사용하거나, 능동 부하(5)의 설정 전류를 전류값으로 하여 보정하도록 구성되어도 된다. 또한, DUT(1)의 출력 핀의 대표 출력 저항값, 능동 부하(5)의 대표 전류값을 사용하여 보정하도록 구성되어도 된다.Then, the gray scale voltage is corrected by the measured output resistance value and the current value, but may be configured to use the ideal value of the output resistance value or to correct the setting current of the active load 5 as the current value. . Moreover, it may be comprised so that correction may be made using the representative output resistance value of the output pin of the DUT 1, and the representative current value of the active load 5. As shown in FIG.

또한, 측정부는, 증폭기를 포함하여 구성되는 것을 나타냈으나, D/A 컨버터(3) 내에 있도록 구성되어도 된다.In addition, although the measurement part was shown including the amplifier, it may be comprised so that it may be in the D / A converter 3. As shown in FIG.

또한, 연산부(4)는, 계조 전압을 보정하도록 구성되는 것을 나타냈으나, 기대값 측을 보정하고, 측정치와 비교하여, DUT(1)의 불량 여부의 판정을 행하도록 구성되어도 된다.In addition, although the calculation part 4 was shown to be comprised so that the gray-level voltage may be correct | amended, you may be comprised so that the expected value side may be correct | amended and the DUT 1 may be judged compared with the measured value.

또한, 감산부(7)는, 감산기(72)를 설치하여 구성되는 것을 나타냈으나, 가산기를 설치할 수도 있다. 이 경우, D/A 컨버터(71)에 부전압을 출력시킨다.In addition, although the subtractor 7 has shown that it is comprised by providing the subtractor 72, you may install an adder. In this case, the negative voltage is output to the D / A converter 71.

본 발명에 따르면, 피시험 대상으로 전류가 공급 또는 흡인되어도, 정확하게 시험할 수 있는 시험 IC 테스터를 실현할 수 있다.According to the present invention, it is possible to realize a test IC tester which can be accurately tested even if a current is supplied or attracted to the object under test.

Claims (6)

피시험 대상을 시험하는 IC 테스터에 있어서,In an IC tester for testing a test subject, 상기 피시험 대상의 출력 핀에 전류를 공급 또는 흡인하는 전류부와,A current unit for supplying or drawing current to the output pin of the test target; 상기 피시험 대상의 출력 핀의 출력 전압을 측정하고, 상기 피시험 대상의 출력 저항값과 상기 전류부의 전류값에 의해 보정하는 측정부A measuring unit which measures the output voltage of the output pin under test and corrects the output resistance value of the test target under test and the current value of the current unit 를 구비한 것을 특징으로 하는 IC 테스터.IC tester, characterized in that provided with. 피시험 대상을 시험하는 IC 테스터에 있어서,In an IC tester for testing a test subject, 상기 피시험 대상의 출력 핀마다 설치되고, 피시험 대상의 출력 핀에 전류를 공급 또는 흡인하는 능동부하(active load)와,An active load provided for each output pin of the object under test and supplying or drawing current to the output pin of the object under test; 상기 피시험 대상의 출력 핀마다 설치되고, 피시험 대상의 출력 핀의 출력 전압을 측정하는 A/D 변환기와,An A / D converter provided for each output pin of the object under test and measuring an output voltage of the output pin under test; 상기 A/D 변환기의 출력을, 상기 피시험 대상의 출력 저항값과 상기 능동 부하의 전류값에 의해 보정하는 연산부Computation unit for correcting the output of the A / D converter by the output resistance value of the test target and the current value of the active load 를 구비한 것을 특징으로 하는 IC 테스터.IC tester, characterized in that provided with. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 피시험 대상의 출력 핀과 상기 A/D 변환기 사이에 설치되고, 출력을 소정 전압에 의하여 감산하는 감산부와,A subtraction unit provided between the output pin of the test target and the A / D converter and subtracting the output by a predetermined voltage; 상기 감산부의 출력을 증폭하여, 상기 A/D 변환기에 출력하는 증폭기를 설치한 것을 특징으로 하는 IC 테스터.And an amplifier for amplifying the output of the subtracting section and outputting the output to the A / D converter. 제2항 또는 제3항에 있어서,The method according to claim 2 or 3, 상기 연산부는, (출력 저항값) × (전류값)에 의해 보정하여, 피시험 대상의 출력 전압값을 구하는 것을 특징으로 하는 IC 테스터.And said calculating section calculates an output voltage value to be tested by correcting by (output resistance value) x (current value). 제2항 또는 제3항에 있어서,The method according to claim 2 or 3, 상기 능동 부하에 접속하고, 전류값을 구하여, 상기 연산부에 출력하는 전류 측정 모듈을 설치한 것을 특징으로 하는 IC 테스터.And a current measurement module connected to the active load to obtain a current value and output to the calculation unit. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 피시험 대상은, 다계조 전압을 출력하는 액정 구동 드라이버인 것을 특징으로 하는 IC 테스터.The said test object is a liquid crystal drive driver which outputs a multi-gradation voltage, The IC tester characterized by the above-mentioned.
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