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KR100767375B1 - Inspection device of liquid crystal display - Google Patents

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KR100767375B1
KR100767375B1 KR1020010069138A KR20010069138A KR100767375B1 KR 100767375 B1 KR100767375 B1 KR 100767375B1 KR 1020010069138 A KR1020010069138 A KR 1020010069138A KR 20010069138 A KR20010069138 A KR 20010069138A KR 100767375 B1 KR100767375 B1 KR 100767375B1
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Abstract

본 발명은 칩 온 글라스(COG) 공정 완료후 COG 공정의 불량을 간단하게 검출하기 위한 액정 표시 장치의 본딩 검사 장치를 개시한다.The present invention discloses a bonding inspection apparatus for a liquid crystal display device for simply detecting defects in a COG process after completion of a chip on glass (COG) process.

본 발명에 따르면, 액정 패널이 구비되는 글라스의 동일 평면상에 화상 신호 또는 스캔 신호를 상기 액정 패널에 출력하는 COG IC를 배치하는 칩 온 글라스(COG) 방식의 액정 표시 장치의 검사 장치에 있어서, 검출부는 각각의 COG IC로부터 2개 이상의 출력 신호를 제공받아 연산하고, 연산을 통해 COG IC의 양품 여부에 대한 검출 신호를 출력한다. 특히, 액정 표시 장치가 아몰포스 실리콘(a-Si)의 액정 패널을 구비하는 경우에는 NMOS를 통해 검출부를 구현하는 것이 바람직하고, 액정 표시 장치가 저온 폴리 실리콘(LTPS)의 액정 패널을 구비하는 경우에는 CMOS를 통해 검출부를 구현하는 것이 바람직하다.According to the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a liquid crystal display of a chip on glass (COG) type in which a COG IC for outputting an image signal or a scan signal to the liquid crystal panel on the same plane of a glass provided with a liquid crystal panel, The detection unit receives two or more output signals from the respective COG ICs, calculates them, and outputs a detection signal indicating whether the COG IC is good or not through calculation. In particular, when the liquid crystal display device is provided with a liquid crystal panel of amorphous silicon (a-Si), it is preferable to implement the detection portion through the NMOS. When the liquid crystal display device includes a liquid crystal panel of low temperature polysilicon (LTPS) It is preferable to implement the detection unit through CMOS.

그 결과, COG 본딩 공정 완료후 COG 상에 실장되는 데이터 드라이브 IC나 게이트 드라이브 IC로부터 출력되는 신호를 검출하여 소정의 연산 과정을 거치므로써, COG 본딩 공정의 정상 여부를 손쉽게 확인할 수 있다.As a result, it is possible to easily check whether the COG bonding process is normal by detecting a signal output from the data drive IC or the gate drive IC mounted on the COG after the completion of the COG bonding process and performing a predetermined calculation process.

액정, 검사, 본딩, COG, 검출, 낸드Liquid crystal, inspection, bonding, COG, detection, NAND

Description

액정 표시 장치의 검사 장치{APPARATUS FOR DETECTING OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY}[0001] APPARATUS FOR DETECTING OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY [0002]

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 검사 장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining an inspection apparatus of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

도 2는 상기한 도 1의 검출부의 일례를 설명하기 위한 도면이다.Fig. 2 is a view for explaining an example of the detecting section of Fig. 1 described above.

도 3은 상기한 도 1의 검출부의 다른 일례를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a view for explaining another example of the detecting section of FIG. 1 described above.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>Description of the Related Art

100 : 타이밍 제어부 200 : COG 방식의 액정 표시 장치100: timing control unit 200: COG type liquid crystal display

300 : 검출부 310 : 낸드 게이트300: Detector 310: NAND gate

320 : 인버터 Q1, Q2 : MOS 트랜지스터320: Inverters Q1 and Q2: MOS transistors

본 발명은 액정 표시 장치의 검사 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 COG 공정 완료후 COG 공정의 불량을 간단하게 검출하기 위한 액정 표시 장치의 본딩 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for a liquid crystal display device, and more particularly, to a bonding inspection apparatus for a liquid crystal display device for simply detecting a defect in a COG process after a COG process is completed.

일반적으로 중소형 액정 표시 제품 혹은 패널 사이즈가 콤팩트한 액정 표시 제품은 드라이브 IC를 액정 패널에 직접 붙이는 칩 온 글라스(Chip On Glass; 이하 COG) 형태로 제품을 만들고 있는 실정이다. Generally, small and medium sized liquid crystal display products or liquid crystal display products having a compact panel size are manufactured in the form of chip on glass (COG) which directly attaches a drive IC to a liquid crystal panel.

그러나, COG 공정의 불안 및 COG의 패드 피치 및 COG 면적의 작음에 의하여 COG 공정의 불량이 많이 발생하고 있는 실정이다.However, there are many defects in the COG process due to the uneasiness of the COG process and the small pitch of the COG and the small COG area.

따라서, 이러한 불량을 빨리 발견하고 피드백해야할 필요성이 대두되고 있는 상황이다.Therefore, there is a need to detect such defects quickly and provide feedback.

종래에는 액정 패널의 불량이 발생했을 경우, 불량의 원인이 COG성 불량인지, 드라이브 IC의 불량인지, 아니면 액정 패널의 공정 불량인지 등을 구별하려하면 각각의 경우의 수를 구분하여 하나하나 확인해야하는 번거로움이 있었다.Conventionally, when a defect of the liquid crystal panel occurs, if it is discriminated whether the cause of the defect is a COG defect, a drive IC defect, or a defect in the process of the liquid crystal panel, There was a hassle.

이에 본 발명의 기술과 과제는 이러한 점에 착안한 것으로, 본 발명의 목적은 COG 공정의 불량을 COG 본딩 후 간단하게 측정할 수 있는 액정 표시 장치의 검사 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide an inspection apparatus for a liquid crystal display device which can easily measure defective COG processes after COG bonding.

상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 하나의 특징에 따른 액정 표시 장치의 검사 장치는, 액정 패널이 구비되는 글라스의 동일 평면상에 화상 신호 또는 스캔 신호를 상기 액정 패널에 출력하는 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)를 배치하는 칩 온 글라스(COG) 방식의 액정 표시 장치의 검사 장치에 있어서,According to one aspect of the present invention for realizing the object of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a liquid crystal display, comprising: a liquid crystal panel; CLAIMS 1. An inspection apparatus for a chip on glass (COG) type liquid crystal display device in which a circuit (COG IC)

상기 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)로부터 2개 이상의 출력 신호를 제공받아 연산하고, 상기 연산을 통해 상기 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)의 양품 여부 에 대한 검출 신호를 출력하는 검출부를 포함하여 이루어진다. 여기서, 상기한 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)는 복수의 화상 신호를 상기 액정 패널의 데이터 라인 각각에 출력하는 데이터 드라이브 IC 또는 복수의 스캔 신호를 상기 액정 패널의 게이트 라인 각각에 순차 출력하는 게이트 드라이브 IC 이다.And a detection unit for receiving and outputting two or more output signals from the chip-on-glass integrated circuit (COG IC), and outputting a detection signal as to whether the chip-on-glass integrated circuit (COG IC) . The above-mentioned chip-on-glass integrated circuit (COG IC) includes a data drive IC for outputting a plurality of image signals to the respective data lines of the liquid crystal panel, or a data driver IC for sequentially outputting a plurality of scan signals to the gate lines of the liquid crystal panel Drive IC.

또한, 상기한 검출부는 상기 액정 표시 장치가 아몰포스 실리콘(a-Si)의 액정 패널을 구비하는 경우에는 NMOS를 구비하는 것이 바람직하고, 상기 액정 표시 장치가 저온 폴리 실리콘(LTPS)의 액정 패널을 구비하는 경우에는 CMOS를 구비하는 것이 바람직하다.Preferably, the detection unit includes an NMOS when the liquid crystal display device includes a liquid crystal panel of amorphous silicon (a-Si). Preferably, the liquid crystal display device includes a liquid crystal panel of low temperature polysilicon (LTPS) It is preferable to include a CMOS.

이러한 액정 표시 장치의 검사 장치에 의하면, COG 본딩 작업 완료후 COG IC로부터 출력되는 신호의 연산을 통해 COG 공정의 불량을 간단하게 측정할 수 있다.According to such an inspection apparatus for a liquid crystal display device, it is possible to easily measure defects in the COG process through calculation of signals output from the COG IC after completion of the COG bonding operation.

그러면, 통상의 지식을 지닌 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 실시예에 관해 설명하기로 한다.Embodiments will now be described so that those skilled in the art can readily implement the present invention.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 검사 장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining an inspection apparatus of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 검사 장치는 타이밍 제어부(100), 칩 온 글라스(이하, COG) 방식의 액정 표시 장치(200) 및 검출부(300)를 포함한다.1, an apparatus for testing an LCD according to an exemplary embodiment of the present invention includes a timing controller 100, a liquid crystal display 200 of a chip on glass (COG) method, and a detector 300 .

타이밍 제어부(100)는 외부의 그래픽 콘트롤러(미도시)로부터 제공되는 디스플레이를 위한 화상 신호와 이의 제어를 위한 콘트롤 신호를 제공받아 액정 표시 장치를 구동하기 위한 디지털 신호들을 생성하여 상기 COG 방식의 액정 표시 장치 에 제공한다.The timing controller 100 receives the image signal for display provided from an external graphic controller (not shown) and a control signal for controlling the image signal, and generates digital signals for driving the liquid crystal display, Device.

COG 방식의 액정 표시 장치(200)는 복수의 데이터 라인(D1, D2, ..., Dm)과 복수의 스캔 라인(G1, G2, ..., Gn)을 포함하는 액정 패널이 구비되는 글라스의 동일 평면상에 스캔 신호를 출력하는 제1 및 제2 게이트 드라이브 IC(210, 220)와 화상 신호를 출력하는 제1 및 제2 데이터 드라이브 IC(230, 240)를 포함하여 이루어지며, 그 상세 동작에 대해서는 그 설명을 생략한다.The liquid crystal display 200 of the COG method includes a liquid crystal panel including a plurality of data lines D1, D2, ..., Dm and a plurality of scan lines G1, G2, ..., Gn, First and second gate drive ICs 210 and 220 for outputting a scan signal on the same plane of the first and second data driver ICs 230 and 240 and a first and a second data drive ICs 230 and 240 for outputting an image signal, The description of the operation will be omitted.

검출부(300)는 제1 데이터 드라이브 IC(230)의 출력단으로부터 하나의 출력 신호를 제공받고, 제2 데이터 드라이브 IC(240)의 출력단으로부터 다른 하나의 출력 신호를 제공받아 COG 공정의 불량 여부에 대한 검출 신호를 출력한다.The detection unit 300 receives one output signal from the output terminal of the first data drive IC 230 and receives another output signal from the output terminal of the second data drive IC 240 to determine whether the COG process is bad or not And outputs a detection signal.

이러한 검출 신호를 근거로 액정 표시 장치의 제조자측에서는 COG 본딩 작업후 COG IC의 정상 본딩 또는 불량 본딩 여부를 간단히 체크할 수 있을 것이다. On the basis of such a detection signal, the manufacturer of the liquid crystal display device can easily check whether the COG IC is normally bonded or poorly bonded after the COG bonding operation.

이상의 일례에서는 2개의 데이터 드라이브 IC와 2개의 게이트 드라이브 IC가 COG 상에 실장되는 것을 설명하였으나, 이에 한정되지는 않는다. 물론, 데이터 드라이브 IC나 게이트 드라이브 IC가 증가하는 경우에는 검출부의 입력단은 해당 드라이브 IC의 갯수가 증가하는 수만큼 증가하는 것이 바람직할 것이다.In the above example, two data drive ICs and two gate drive ICs are mounted on the COG. However, the present invention is not limited thereto. Of course, in the case where the data drive IC or the gate drive IC increases, it is preferable that the input end of the detection unit is increased by the number of the drive ICs.

또한, 이상의 일례에서는 COG 상에 본딩되는 데이터 드라이브 IC의 출력 신호, 바람직하게는 데이터 신호를 근거로 검출 신호를 출력하는 것을 설명하였으나, COG 상에 본딩되는 게이트 드라이브 IC의 출력 신호, 바람직하게는 스캔 신호를 근거로 검출 신호를 출력할 수도 있음은 자명하다.In the above example, the detection signal is output based on the output signal of the data drive IC bonded to the COG, preferably the data signal. However, the output signal of the gate drive IC bonded on the COG, It is obvious that the detection signal may be output based on the signal.

그러면, 상기한 검출부의 일례들을 첨부하는 도면들을 참조하여 설명한다. Hereinafter, an example of the above-described detection unit will be described with reference to the accompanying drawings.                     

도 2는 상기한 도 1의 검출부의 일례를 설명하기 위한 도면으로, 특히 저온 폴리 실리콘(LTPS)의 액정 패널을 구비하는 경우를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a view for explaining an example of the detection unit of FIG. 1, specifically illustrating the case of providing a low temperature polysilicon (LTPS) liquid crystal panel.

도 1과 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 COG 공정의 불량을 검출하기 위한 검출부는 낸드 게이트(310)와 인버터(320)를 포함한다.Referring to FIGS. 1 and 2, a detector for detecting a defect in the COG process according to the present invention includes a NAND gate 310 and an inverter 320.

낸드 게이트(310)는 2개의 입력단을 통해 입력되는 2개의 출력 신호 (OUTPUT1, OUTPUT2), 즉, 액정 패널의 데이터 라인에 입력되는 데이터 신호를 낸드 연산하고, 낸드 연산한 값을 인버터(320)에 출력한다.The NAND gate 310 performs NAND operation on the two output signals OUTPUT1 and OUTPUT2 input through the two input terminals, that is, the data signal input to the data line of the liquid crystal panel, and outputs the NANDed value to the inverter 320 Output.

인버터(320)는 낸드 게이트(310)로부터 출력되는 낸드 연산값을 반전시킨 검출 신호를 출력한다.The inverter 320 outputs a detection signal obtained by inverting the NAND operation value output from the NAND gate 310.

동작시, COG상에 본딩되는 제1 데이터 드라이브 IC(230)와 제2 데이터 드라이브 IC(240)의 출력 신호는 외부에서 제어할 수 있으므로, 외부에서 모두 하이로 출력할 때 COG 공정이 정상적으로 진행될 경우에는 하이 레벨의 검출 신호가 출력이 되며, COG 공정이 비정상적으로 진행되었다면 로우 레벨의 검출 신호가 출력이 될 것이다. 이러한 검출 신호부는 낸드 게이트(NAND)를 통해서도 만들 수 있고, 노어 게이트(NOR)를 통해서도 만들 수 있다.In operation, the output signals of the first data drive IC 230 and the second data drive IC 240, which are bonded on the COG, can be externally controlled. Therefore, when the COG process normally proceeds when outputting all of the outputs from the outside A detection signal of a high level is output, and a detection signal of a low level is output when the COG process proceeds abnormally. Such a detection signal unit can be made through a NAND gate (NAND) or through a NOR gate (NOR).

물론 도시하지는 않았으나, 상기한 하이 레벨의 검출 신호는 소정의 램프나 알람부 등에 인가되어 검사자측에 통보하기 위함이나, 상기한 인버터를 구비하지 않더라도 본 발명의 구현은 가능할 것이다.Although not shown, the above-described high-level detection signal is applied to a predetermined lamp, an alarm unit or the like so as to notify the inspector side, but the present invention can be implemented without the above inverter.

도 3은 상기한 도 1의 검출부의 다른 일례를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a view for explaining another example of the detecting section of FIG. 1 described above.

도 1과 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 COG 공정의 불량을 검출하기 위한 검출부는 N 타입의 제1 MOS 트랜지스터(Q1)와 제2 MOS 트랜지스터(Q2)를 각각 포함한다.Referring to FIGS. 1 and 3, a detector for detecting a defect in the COG process according to the present invention includes a first MOS transistor Q1 and a second MOS transistor Q2 of an N type, respectively.

제1 MOS 트랜지스터(Q1)는 소스단은 전원전압(Vcc)을 인가받고, 게이트단은 제1 출력 신호(OUTPUT1)를 인가받으며, 제1 출력 신호의 레벨에 응답하여 드레인단을 통해 연결된 제2 MOS 트랜지스터(Q2)에 소정의 신호를 출력한다.The first MOS transistor Q1 has a source terminal receiving a power supply voltage Vcc and a gate terminal receiving a first output signal OUTPUT1 and a second MOS transistor Q1 having a second terminal coupled to the drain terminal in response to the level of the first output signal, And outputs a predetermined signal to the MOS transistor Q2.

제2 MOS 트랜지스터(Q2)의 소스단은 제1 MOS 트랜지스터의 드레인단에 연결되고, 게이트단은 제2 출력 신호(OUTPUT2)를 인가받으며, 제2 출력 신호의 레벨에 응답하여 드레인단을 통해 소정 레벨의 검출 신호를 출력한다.The source terminal of the second MOS transistor Q2 is connected to the drain terminal of the first MOS transistor, the gate terminal receives the second output signal OUTPUT2, Level detection signal.

동작시, COG상에 본딩되는 제1 데이터 드라이브 IC(230)와 제2 데이터 드라이브 IC(240)의 출력 신호 모두가 정상적으로 출력되는 신호인 경우에는 제2 MOS 트랜지스터(Q2)의 드레인단을 통해 출력되는 검출 신호는 하이 레벨의 신호를 출력할 것이나, 어느 하나의 데이터 드라이브 IC의 출력 신호가 비정상적으로 출력되는 신호인 경우에는 제2 MOS 트랜지스터(Q2)의 드레인단을 통해 출력되는 검출 신호는 플로팅 레벨의 신호를 출력할 것이다.In operation, when both the output signals of the first data drive IC 230 and the second data drive IC 240 that are bonded onto the COG are normally output, they are output through the drain terminal of the second MOS transistor Q2 The detection signal output through the drain terminal of the second MOS transistor Q2 is a floating level signal which is output from the data driver IC when the output signal of any one of the data drive ICs is abnormally output. Will be output.

물론, 상기한 검출부에 입력되는 신호가 데이터 드라이브 IC로부터 출력되는 데이터 신호인 것을 설명하여 COG 공정후 데이터 드라이브 IC의 불량 여부를 체크하였으나, 검출부에 입력되는 신호를 게이트 드라이브 IC로부터 출력되는 스캔 신호로 하는 경우에도 동일하게 적용가능하며, 이러한 적용을 통해 COG 공정후 게이트 드라이브 IC의 불량 여부를 체크할 수 있을 것이다.Although it has been described that the signal input to the detection unit is a data signal output from the data drive IC, it is checked whether or not the data drive IC is defective after the COG process. However, if the signal input to the detection unit is a scan signal output from the gate drive IC And it is possible to check whether or not the gate drive IC is defective after the COG process.

한편, 상기한 도 3에 의한 검출부는 아몰포스 실리콘(a-Si)의 액정 패널에도 적용될 수 있고, 저온 폴리 실리콘(LTPS)의 액정 패널에도 적용될 수 있을 것이다.3 may be applied to a liquid crystal panel of amorphous silicon (a-Si), and may also be applied to a liquid crystal panel of low temperature polysilicon (LTPS).

또한, 도면상에서는 MOS 트랜지스터의 일례로서 N 타입으로 구현되는 것을 설명하였으나, 당업자라면 P 타입으로도 용이하게 구현할 수 있을 것이다.Also, in the drawing, the N-type transistor is illustrated as an example of the MOS transistor, but a P-type transistor can be easily realized by those skilled in the art.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the following claims. It can be understood that it is possible.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 COG 본딩 공정 완료후 COG 상에 실장되는 데이터 드라이브 IC나 게이트 드라이브 IC로부터 출력되는 신호를 검출하여 소정의 연산 과정을 거치므로써, COG 본딩 공정의 정상 여부를 손쉽게 확인할 수 있다.As described above, according to the present invention, signals output from the data drive IC or the gate drive IC mounted on the COG after completion of the COG bonding process are detected and a predetermined calculation process is performed, so that it is easy to check whether the COG bonding process is normal or not .

Claims (5)

액정 패널이 구비되는 글라스의 동일 평면상에 화상 신호 또는 스캔 신호를 상기 액정 패널에 출력하는 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)를 배치하는 칩 온 글라스(COG) 방식의 액정 표시 장치의 검사 장치에 있어서,(COG) type liquid crystal display device in which a chip-on-glass integrated circuit (COG IC) for outputting an image signal or a scan signal to the liquid crystal panel is arranged on the same plane of a glass provided with a liquid crystal panel As a result, 상기 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)로부터 2개 이상의 출력 신호를 제공받아 연산하고, 상기 연산을 통해 상기 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)의 양품 여부에 대한 검출 신호를 출력하는 검출부A detection unit for receiving and outputting two or more output signals from the chip-on-glass integrated circuit (COG IC) and outputting a detection signal indicating whether the chip-on-glass integrated circuit (COG IC) 를 포함하는 액정 표시 장치의 검사 장치.And a controller for controlling the liquid crystal display device. 제1항에 있어서, 상기 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)는 복수의 화상 신호를 상기 액정 패널의 데이터 라인 각각에 출력하는 데이터 드라이브 IC 인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 장치.The inspection apparatus of a liquid crystal display device according to claim 1, wherein the chip-on-glass integrated circuit (COG IC) is a data drive IC for outputting a plurality of image signals to the data lines of the liquid crystal panel. 제1항에 있어서, 상기 칩 온 글라스 집적회로(COG IC)는 복수의 스캔 신호를 상기 액정 패널의 게이트 라인 각각에 순차 출력하는 게이트 드라이브 IC인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 장치.The apparatus according to claim 1, wherein the chip-on-glass integrated circuit (COG IC) is a gate drive IC that sequentially outputs a plurality of scan signals to each gate line of the liquid crystal panel. 제1항에 있어서, 상기 검출부는,The apparatus according to claim 1, 상기 액정 표시 장치가 아몰포스 실리콘(a-Si)의 액정 패널을 구비하는 경우 에는 NMOS를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 장치.Wherein the liquid crystal display device comprises an NMOS when the liquid crystal display device includes an amorphous silicon (a-Si) liquid crystal panel. 제1항에 있어서, 상기 검출부는,The apparatus according to claim 1, 상기 액정 표시 장치가 저온 폴리 실리콘(LTPS)의 액정 패널을 구비하는 경우에는 CMOS를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 장치.Wherein when the liquid crystal display device is provided with a low temperature polysilicon (LTPS) liquid crystal panel, a CMOS is provided.
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