KR100707686B1 - Panel Inspecting Apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 패널의 검사장치는, 검사 스테이지의 교환을 하지 않고 다른 크기의 표시용 패널의 검사를 가능하게 하기 위한 것이다. 패널의 검사장치는, 제1 개구를 갖는 판상의 제1 베이스와, 판상을 한 4개의 제2 베이스로서 제1 베이스에 틀 형상으로 배치된 제2 베이스와, 최소한 2개의 서로 이웃하는 제2 베이스에 배치된 복수의 접촉자 유닛을 포함한다. 제2 베이스는, 제1 베이스와 평행한 면내에서 이차원적으로 이동 가능하게 되어 있고, 또 표시용 패널을 받는 패널 받이로써 제1 개구와 마주보는 제2 개구를 함께 형성하는 패널 받이를 갖추고 있다.The inspection apparatus for panels according to the present invention is for enabling inspection of display panels of different sizes without replacing the inspection stages. The inspection apparatus of the panel includes a plate-shaped first base having a first opening, a second base arranged in a frame shape on the first base as four plate-shaped second bases, and at least two neighboring second bases. And a plurality of contact units disposed in the. The second base is movable in two dimensions in a plane parallel to the first base, and is provided with a panel support which together with the display panel forms a second opening facing the first opening.
검사 스테이지, 접속장치, 표시용 패널 Inspection stage, connector, display panel
Description
도1은 본 발명에 따른 패널의 검사장치의 한 실시예를 나타내는 평면도이다.1 is a plan view showing one embodiment of an inspection apparatus for a panel according to the present invention.
도2는 도1에서의 2-2선을 따라 얻은 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line 2-2 in FIG. 1.
도3은 도1에 나타낸 패널의 검사장치에서의 제1 및 제2 베이스와 결합장치와의 관계를 나타내는 평면도이다.FIG. 3 is a plan view showing the relationship between the first and second bases and the coupling device in the inspection device of the panel shown in FIG.
도4는 도1에 나타낸 패널의 검사장치에서의 제1 및 제2 베이스와 결합장치와의 관계를 나타내는 사시도로서, 몇 개의 부재를 제거하여 나타낸 도면이다.FIG. 4 is a perspective view showing the relationship between the first and second bases and the coupling device in the inspection device of the panel shown in FIG. 1, with some members removed.
도5는 도3에서의 3-3선을 따라 얻은 단면도이다.FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line 3-3 in FIG. 3.
도6은 하나의 제2 베이스와 그것에 설치된 각종 부재를 나타내는 사시도이다.Fig. 6 is a perspective view showing one second base and various members installed thereon.
도7은 도6에서의 화살표(7) 방향에서 본 도면이다.FIG. 7 is a view seen from the direction of the
도8은 접촉자 유닛 및 푸셔 부근의 확대 사시도이다.8 is an enlarged perspective view of the vicinity of the contactor unit and the pusher.
도9는 도8에서의 화살표(9) 방향에서 본 단면도이다.FIG. 9 is a sectional view seen from the direction of the
도10은 스토퍼 핀 및 푸셔의 위치 실시예를 나타내는 도면이다.10 is a view showing an embodiment of the position of the stopper pin and the pusher.
도11은 접촉자 유닛의 한 실시예를 나타내는 사시도이다.11 is a perspective view showing one embodiment of a contact unit.
도12는 도11에 나타낸 접촉자 유닛의 평면도이다.12 is a plan view of the contact unit shown in FIG.
도13은 도12에서의 13-13선을 따라 얻은 단면도이다.FIG. 13 is a sectional view taken along line 13-13 in FIG. 12;
도14는 접촉자 유닛의 동작을 설명하기 위한 도면으로, (A)는 제1 이동 블록이 후퇴위치에 있을 때의 도면, (B)는 제1 이동 블록이 전진 종료시기 및 후퇴 개시시기에 있을 때의 도면, (C)는 제1 이동 블록이 전진위치에 있을 때의 도면이다.14 is a view for explaining the operation of the contact unit, (A) is a view when the first moving block is in the retracted position, (B) is when the first moving block is at the forward end time and the retreat start time (C) is a diagram when the first moving block is in the forward position.
* 도면의 주요 부호에 대한 설명 *Description of the main symbols in the drawings
10: 패널의 검사장치 12: 패널10: inspection device of panel 12: panel
14: 검사 스테이지 16: 지지대14: Inspection stage 16: support
18: 스테이지 본체 20: 백라이트 유닛18: stage main body 20: backlight unit
34: 제1 베이스 36: 제2 베이스34: first base 36: second base
38: 접촉자 유닛 40, 44: 개구38:
42: 패널 받이(panel retainer) 46: 결합장치42: panel retainer 46: coupling device
48: 광 확산판 52, 56, 60: 제1, 제2, 제3 레일48:
54, 58, 62: 제1, 제2, 제3 가이드 66: 제1 고정장치54, 58, 62: first, second, third guide 66: first fixing device
68, 70: 제1, 제2 부재 72, 74, 76: 나사부재68, 70: first and
80: 스토퍼 핀 82: 푸셔80: stopper pin 82: pusher
84, 92, 96: 레일 86, 94, 98: 가이드84, 92, 96:
88: 스토퍼 편(片) 90: 지지핀88: stopper piece 90: support pin
99: 정지구 100: 푸쉬 편(片)99: stopper 100: push piece
102: 지지핀 104: 푸쉬 기구102: support pin 104: push mechanism
110: 베이스 판 112: 제1 이동 블록110: base plate 112: first moving block
114: 제2 이동 블록 116: 접촉자 블록114: second moving block 116: contact block
118: 레일 120: 가이드118: rail 120: guide
122: 접촉자 150: 레일122: contact 150: rail
152: 가이드 160: 제2 고정장치152: guide 160: second fixing device
162: 금구(金具) 164, 168: 나사부재162:
166: 나사구멍166: screw hole
발명의 분야Field of invention
본 발명은, 액정 표시 패널과 같은 표시용 패널의 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for a display panel such as a liquid crystal display panel.
발명의 배경Background of the Invention
액정 표시 패널과 같은 표시용 패널을 검사하는 장치의 하나로서, 복수의 접촉자 유닛(즉, 프로브 유닛)을, 표시용 패널을 받아 이동시키는 검사 스테이지에 설치한 것이 있다(일본공개특허공보 제2002-350485호).As an apparatus for inspecting a display panel such as a liquid crystal display panel, a plurality of contactor units (that is, probe units) are provided in an inspection stage for receiving and moving the display panel (JP-A-2002-A). 350485).
복수의 접촉자 유닛은, 그들 전체로 표시용 패널을 이것으로의 통전회로에 접속하기 위한 전기적 접속장치로서 작용한다.The plurality of contact units act as electrical connection devices for connecting the display panel to the energizing circuit therewith as a whole.
각 접촉자 유닛은, 표시용 기판의 전극에 접촉되는 복수의 프로브 즉 접촉자를 갖춘 접촉자 블록을 지지 블록에 지지시키고 있고, 또 표시용 패널을 받아 이동시키는 검사 스테이지에 지지 블록에서 설치되어 있다.Each contactor unit supports a plurality of probes that are in contact with the electrodes of the display substrate, that is, a contact block having a contactor on the support block, and is provided in the support block on an inspection stage for receiving and moving the display panel.
검사 스테이지는, 패널을 패널 받음부에 받는 척 톱(top face of chuck)과 같은 패널 받이를 스테이지 본체의 상부에 설치하고 있다. 접촉자 유닛은 패널 받이에 설치되어 있다. 검사 스테이지는, 패널 받이를 스테이지 본체에 의해 최소한 삼차원적으로 이동시킨다.The inspection stage is provided with a panel support such as a top face of chuck that receives the panel to the panel receiving part on the upper part of the stage main body. The contact unit is installed in the panel tray. The inspection stage moves the panel receiver at least three-dimensionally by the stage body.
그러나 상기 종래의 검사장치에서는, 패널 받이의 패널 받음부의 크기가 불변이기 때문에, 검사 가능한 표시용 패널의 크기가 패널 받이 및 접촉자 유닛에 의해 결정되고, 따라서 크기가 다른 패널의 검사에 적용할 수 없다.However, in the conventional inspection apparatus, since the size of the panel receiving portion of the panel receiving is invariant, the size of the inspectable display panel is determined by the panel receiving and contactor unit, and thus cannot be applied to inspection of panels having different sizes. .
상기의 결과, 종래의 검사장치에서는, 패널 받이를 검사 스테이지에 설치하고 있는 것과 더불어, 크기가 다른 표시용 패널의 검사를 할 때는, 접촉자 유닛 및 검사 스테이지 양자의 교환을 하지 않으면 안되어, 그 작업이 번잡하다.As a result of the above, in the conventional inspection apparatus, in addition to providing the panel support to the inspection stage, when inspecting a display panel having a different size, both the contact unit and the inspection stage must be replaced. It is troublesome.
본 발명의 목적은, 검사 스테이지의 교환을 하지 않고, 다른 크기의 표시용 패널의 검사를 가능하게 하기 위한 것이다.An object of the present invention is to enable inspection of display panels of different sizes without replacing the inspection stages.
본 발명의 상기의 목적 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 발명에 의하여 모두 달성될 수 있다. 이하 본 발명의 내용을 하기에 상세히 설명한다.The above and other objects of the present invention can be achieved by the present invention described below. Hereinafter, the content of the present invention will be described in detail.
본 발명에 따른 패널의 검사장치는, 제1 개구를 갖는 판상의 제1 베이스와, 판상을 한 4개의 제2 베이스로서 상기 제1 베이스에 틀 형상으로 배치된 제2 베이스와, 최소한 2개의 서로 이웃하는 제2 베이스에 배치된 복수의 접촉자 유닛을 포함한다. 상기 제2 베이스는, 상기 제1 베이스와 평행한 면내에서 이차원적으로 이동 가능하게 되어 있고, 또 표시용 패널을 받는 패널 받이로써 상기 제1 개구와 마주보는 제2 개구를 함께 형성하는 패널 받이를 갖추고 있다.An inspection apparatus for a panel according to the present invention includes a plate-shaped first base having a first opening, a second base arranged in a frame shape on the first base as four plate-shaped second bases, and at least two of each other. And a plurality of contact units disposed in the neighboring second base. The second base is a panel receiver which is movable two-dimensionally in a plane parallel to the first base, and receives a panel for display, which together form a second aperture facing the first opening. Equipped.
본 발명에 따른 패널의 검사장치는, 제2 베이스가 표시용 패널을 받는 패널 받이를 갖추고, 그들 패널 받이가 제1 베이스에 형성된 제1 개구와 마주보는 제2 개구를 함께 형성한다.An inspection apparatus for a panel according to the present invention has a panel base receiving a panel for display by a second base, and together forming a second opening facing the first opening formed in the first base.
또 본 발명에 따른 패널의 검사장치는, 이것이 검사 스테이지에 설치된 상태에서, 검사해야 할 표시용 패널을 제2 베이스에 갖추어진 패널 받이에 받는다.Moreover, the inspection apparatus of the panel which concerns on this invention receives the display panel to be inspected by the panel base equipped in the 2nd base, in the state in which it was installed in the inspection stage.
게다가 본 발명에 따른 패널의 검사장치는, 검사해야 할 표시용 패널의 종류를 변경할 때에는 제2 베이스가 이차원적으로 이동되고, 그에 따라 제2 개구의 크기가 변경된다.Further, in the panel inspection apparatus according to the present invention, when the type of display panel to be inspected is changed, the second base is moved two-dimensionally, and the size of the second opening is changed accordingly.
이 때문에, 본 발명에 의하면, 서로 이웃하는 2개의 제2 베이스의 각각에 접 촉자 유닛이 설치되어 있는 것과 더불어, 검사해야 할 표시용 패널을 크기가 다른 다른 표시용 기판으로 변경할 때에는, 제2 베이스를 새로운 표시용 패널에 적합하도록 이차원적으로 이동시키는 것만으로 된다. 따라서 검사 스테이지를 교환하지 않고, 다른 크기의 표시용 패널의 검사가 가능해진다. 또, 패널 받이를 검사 스테이지에 갖출 필요가 없다.For this reason, according to the present invention, the contact unit is provided in each of the two neighboring second bases, and when the display panel to be inspected is changed to another display substrate having a different size, the second base is used. Is simply moved two-dimensionally so as to be suitable for a new display panel. Therefore, it is possible to inspect the display panels of different sizes without replacing the inspection stages. In addition, it is not necessary to equip the panel stage with the inspection stage.
각 제2 베이스는, 상기 제2 베이스의 이동방향 중, 상기 제2 개구의 크기에 변화를 주는 제1 방향과, 상기 제2 개구의 크기에 변화를 주지 않는 제2 방향으로 이동 가능해도 좋다. 그와 같이 하면, 검사해야 할 패널의 크기에 맞추어 제2 베이스를 용이하고 정확하게 이동시킬 수 있다.Each 2nd base may be movable in the 1st direction which changes the magnitude | size of the said 2nd opening among the moving directions of the said 2nd base, and the 2nd direction which does not change the magnitude | size of the said 2nd opening. By doing so, the second base can be easily and accurately moved in accordance with the size of the panel to be inspected.
각 접촉자 유닛은, 상기 제2 방향에서의 위치를 변경 가능하게 상기 제2 베이스에 설치되어 있을 수 있다. 그와 같이 하면, 전극의 배치 위치가 다른 표시용 패널의 검사에도 이용할 수 있다.Each contact unit may be provided in the said 2nd base so that the position in a said 2nd direction can be changed. By doing so, it can also be used for the inspection of display panels having different electrode placement positions.
패널의 검사장치는, 상기 제2 베이스를 이차원적으로 이동 가능하게 상기 제1 베이스에 각각 결합하는 4개의 결합장치를 더 포함하고, 각 결합장치는 상기 제1 및 제2 베이스의 어느 한쪽에 설치되고, 상기 제1 방향으로 연장하는 제1 레일과, 상기 제1 레일에 이동 가능하게 결합된 제1 가이드와, 상기 제1 및 제2 베이스의 다른쪽에 설치되어 상기 제2 방향으로 연장하는 제2 레일과, 상기 제2 레일에 상대적 이동이 가능하게 결합되어 있음과 동시에 상기 제1 가이드에 상대적 이동이 불가능하게 결합된 제2 가이드를 포함할 수 있다.The inspection apparatus of the panel further includes four coupling devices for coupling the second base to the first base so as to be two-dimensionally movable, and each coupling device is installed on either one of the first and second bases. And a first rail extending in the first direction, a first guide movably coupled to the first rail, and a second installed on the other side of the first and second bases and extending in the second direction. It may include a rail and a second guide coupled to the second rail so as to be relatively movable, and coupled to the first guide so as not to be relatively movable.
각 결합장치는, 대응하는 제2 베이스 및 그 이웃하는 제2 베이스의 어느 한 쪽에 설치되어 상기 제2 레일과 평행하게 연장하는 제3 레일과, 상기 제3 레일에 상대적 이동이 가능하게 결합되어 있음과 동시에 대응하는 제2 베이스 및 그 이웃하는 제2 베이스의 다른쪽에 상대적 이동이 불가능하게 결합된 제3 가이드를 더 포함할 수 있다. 그와 같이 하면, 하나의 제2 베이스를 이동시키면, 이것에 결합된 이웃하는 제2 베이스가 필연적으로 이동하기 때문에, 제2 베이스의 이동을 용이하고 정확하게 할 수 있다.Each coupling device is provided on one of a corresponding second base and a neighboring second base, and is coupled to the third rail and extends in parallel with the second rail so as to be movable relative to the third rail. And a third guide coupled to the corresponding second base and the other side of the neighboring second base so that relative movement is impossible. In such a case, when one second base is moved, the neighboring second bases coupled thereto are inevitably moved, so that the movement of the second base can be easily and accurately performed.
패널의 검사장치는, 상기 제2 베이스를 상기 제1 베이스에 해제 가능하게 각각 고정하는 4개의 제1 고정장치를 더 포함하고, 각 제1 고정장치는 설치 위치를 변경 가능하게 상기 제1 베이스에 설치된 제1 부재와, 대응하는 제2 베이스에 설치된 제2 부재와, 상기 제1 및 제2 부재의 어느 한쪽에 결합되어 상기 제1 및 제2 부재의 상대적 위치를 해제 가능하게 고정하는 한 쌍의 나사부재를 포함할 수 있다.The inspection device of the panel further includes four first fixing devices for releasably fixing the second base to the first base, and each first fixing device is mounted on the first base to change an installation position. A pair of first members provided, a second member provided on a corresponding second base, and a pair of ones coupled to one of the first and second members to releasably fix the relative positions of the first and second members. It may include a screw member.
게다가, 패널의 검사장치는 상기 접촉자 유닛을 대응하는 제2 베이스에 해제 가능하게 각각 고정하는 복수의 제2 고정장치를 포함하고, 각 제2 고정장치는 상기 접촉자 유닛을 사이에 두고 상기 제2 방향에서의 설치 위치를 변경 가능하게 상기 제2 베이스에 설치된 한 쌍의 금구와, 상기 금구에 결합되어 상기 접촉자 유닛을 함께 끼우는 최소한 한 쌍의 나사부재를 포함할 수 있다.In addition, the inspection device of the panel includes a plurality of second fixing devices each releasably fixing the contact unit to a corresponding second base, wherein each second fixing device is arranged in the second direction with the contact unit interposed therebetween. In order to be able to change the mounting position in the second base and a pair of brackets, and coupled to the bracket may include at least a pair of screw member for fitting the contact unit together.
각 제2 베이스는 상기 제2 방향으로 연장해 있고, 상기 패널 받이는 대응하는 제2 베이스 중, 상기 제2 개구쪽 가장자리에 배치되어 있어도 좋다.Each second base extends in the second direction, and the panel support may be disposed at an edge of the second opening side of the corresponding second base.
패널의 검사장치는, 상기 제2 개구를 폐쇄하도록 상기 제1 베이스에 설치된 광 확산판을 더 포함할 수 있다. 그와 같이 하면, 검사해야 할 표시용 패널이 광 확산판의 가까이에 받아지기 때문에, 광 확산판에서 확산된 빛이 패널에 효과적으로 조사된다.The inspection apparatus of the panel may further include a light diffuser plate installed in the first base to close the second opening. In this case, since the display panel to be inspected is received near the light diffusion plate, light diffused from the light diffusion plate is effectively irradiated to the panel.
게다가 패널의 검사장치는, 상기 패널 받이에 받아진 표시용 패널의 가장자리가 접할 수 있게 서로 이웃하는 2개의 제2 베이스에 배치된 복수의 스토퍼 핀과, 상기 패널 받이에 받아진 표시용 패널을 상기 스토퍼 핀을 향해 누르도록, 서로 이웃하는 다른 2개의 제2 베이스에 배치된 복수의 푸셔를 포함할 수 있다. 그와 같이 하면, 패널 받이에 받아진 표시용 패널이 패널의 검사장치에 대하여, 용이하게 위치가 정해진다.In addition, the inspection device for the panel includes a plurality of stopper pins disposed on two adjacent second bases so that the edges of the display panel received by the panel receiver are in contact with each other, and the display panel received by the panel receiver. It may include a plurality of pushers disposed in two different second bases adjacent to each other to press toward the stopper pin. By doing so, the display panel received by the panel receiver is easily positioned with respect to the inspection device of the panel.
각 접촉자 유닛은, 상기 패널 받이에 받아진 표시용 패널의 전극에 해제 가능하게 접촉되는 복수의 접촉자를 갖는 접촉자 블록을 갖출 수 있다.Each contact unit may be provided with a contact block having a plurality of contacts releasably contacting the electrodes of the display panel received by the panel receiver.
각 제2 베이스는 상기 제1 개구의 대응하는 가장자리의 길이치수 이상의 길이치수를 가질 수 있다.Each second base may have a length dimension that is greater than or equal to the length dimension of the corresponding edge of the first opening.
도1∼도10을 참조하면, 패널의 검사장치(10)는 표시용 패널(12)(도10 참조)을 통전회로에 접속하여, 점등검사와 같은 통전시험을 하는 검사장치에 이용된다.1 to 10, the
피검사체로서의 패널(12)은 사각형의 형상을 갖고 있고, 또 사각형의 변의 몇 개에 대응하는 가장자리의 각각에 복수의 전극을 갖춘다. 도시한 예에서는, 패널(12)은 액정을 봉입한 액정 표시 패널이고, 또 마주보는 2개의 가장자리 및 남은 하나의 가장자리의 각각에 복수의 전극을 대응하는 가장자리의 길이방향으로 간격을 두고 갖고 있다.The
검사장치는, 도2에 나타낸 바와 같이, 도시하지 않은 하우징 프레임에 설치된 검사 스테이지(14)를 포함한다. 검사 스테이지(14)는, 지지대(16)를 스테이지 본체(18) 위에 설치하고, 지지대(16)에 백라이트 유닛(20)을 배치하고 있다.As shown in Fig. 2, the inspection apparatus includes an inspection stage 14 provided in a housing frame (not shown). The inspection stage 14 installs the support base 16 on the stage
지지대(16)는, 사각형의 판 형상을 갖는 지지 베이스(22)와 사각형의 판 형상을 갖는 받음 베이스(24)를, 이들이 상하방향으로 간격을 두고 평행한 상태로, 복수의 지주(26)에 의해 맞붙이고 있다.The support base 16 has a
받음 베이스(24)는, 이것의 중앙영역을 두께 방향으로 관통하는 개구(28)에 의해, 틀 형상으로 형성되어 있다. 이에 의해, 개구(28)를 통하여 위쪽으로 개방하는 공간이 지지대(16)에 형성되어 있다.The receiving
스테이지 본체(18)는, 지지대(16)를 X, Y 및 Z의 세 방향으로(삼차원적으로) 변위시킴과 동시에, Z방향으로 연장하는 θ 축선 주위에 각도적으로 회전시킨다.The stage
백라이트 유닛(20)은, 백색 전구나 백색 형광등과 같은 복수의 백라이트(30)를 위쪽으로 개방하는 수납용기(32)에 수용하고 있다(도2 참조). 수납용기(32)는 지지대(16)의 상기 공간에 배치되고, 지지 베이스(22)에 설치되어 있다.The
패널의 검사장치(10)는, 받음 베이스(24)에 놓인 사각형의 판상을 한 설치 베이스 즉 제1 베이스(34)와, 제1 베이스(34) 위에 사각형으로 배치된 4개의 프로브 베이스 즉 제2 베이스(36)와, 3개의 제2 베이스(36)에 배치된 복수의 접촉자 유닛(38)을 포함한다.The
제1 베이스(34)는, 받음 베이스(24)의 개구(28)와 유사한 사각형의 개구(40)를 중앙에 갖고 있고, 또 복수의 나사부재(도시하지 않음)에 의해 받음 베이스(24) 위에 탈착 가능하게 설치되어 있다. 개구(40)는 제1 베이스(34)의 두께 방향으로 관통하고 있다.The
각 제2 베이스(36)는, 긴 판의 형상을 갖고 있고, 또 개구(40)의 대응하는 가장자리의 길이치수 이상의 길이치수를 갖고 있다. 각 제2 베이스(36)는, 이것의 길이방향에서의 일단면을 도1 및 도3에 있어서 개구(44) 주위에 있어서의 시계방향으로 옆에 위치하는 다른 제2 베이스(36)의 개구(44)쪽 가장자리에 접하게 하고 있다.Each
제2 베이스(36)는, 패널(12)을 제1 베이스(34)와 평행하게 받는 패널 받이(42)를 상부에 갖추고 있다. 패널 받이(42)는 장방형의 단면형상을 갖는 소위 각주형상을 한 긴 부재의 형상을 하고 있고, 또 대응하는 제2 베이스(36)의 폭방향에서의 개구(40)쪽 단부를 대응하는 제2 베이스(36)의 길이방향으로 연장하고 있다.The
각 제2 베이스(36)는, 4개의 패널 받이(42)가 개구(40)와 마주보는 개구(44)를 형성하도록, 결합장치(46)에 의해 제1 베이스(34)와 평행한 면내에서 이차원적으로 이동 가능하게 제1 베이스(34)에 결합되어 있다. 개구(44)는 개구(28 및 40)와 유사한 사각형의 형상을 갖는다.Each
패널의 검사장치로서 조립된 상태에 있어서, 패널 받이(42)의 개구(44)쪽 가장자리는, 개구(44)를 함께 형성하는 가장자리로서 작용한다. 개구(28 및 40)는 같은 크기를 갖지만, 개구(44)는 개구(28 및 40)보다 작다.In the state assembled as the inspection apparatus of a panel, the edge of the
개구(44)는, 복수의 설치부재(50)에 의해 제1 베이스(34)의 아래쪽에 설치된 광 확산판(48)에 의해 폐쇄되어 있다. 광 확산판(48)은, 백라이트(30)로부터의 빛 을 확산시켜 패널(12)의 배면에 효과적이고 균일하게 조사한다.The
각 결합장치(46)는, 제2 베이스(36)의 길이방향과 직교하는 방향(제1 방향)으로 연장하도록 제1 베이스(34)의 윗면에 설치된 제1 레일(52)과, 제1 레일(52)에 이동 가능하게 결합된 제1 가이드(54)와, 제2 베이스(36)의 길이방향(제2 방향)으로 연장하도록 제2 베이스(36)의 아래면에 설치된 제2 레일(56)과, 제2 레일(56)에 상대적 이동이 가능하게 결합되어 있음과 동시에 제1 가이드(54)에 상대적 이동이 불가능하게 결합된 제2 가이드(58)를 포함한다.Each
이 때문에, 개구(44)의 크기는 모든 제2 베이스(36)가 동시에 이동되면 변화한다. 또 각 제2 베이스(36)가 제1 레일(52)을 따라서만 단독으로 이동되면 변화하지만, 각 제2 베이스(36)가 제2 레일(56)을 따라서만 단독으로 이동되어도 변화하지 않는다. For this reason, the size of the
또 각 결합장치(46)는, 대응하는 제2 베이스(36)에 설치되고 제2 레일(56)과 평행하게 연장하는 제3 레일(60)과, 제3 레일(60)에 상대적 이동이 가능하게 결합된 제3 가이드(62)를 포함한다. 제3 가이드(62)는 연결부재(64)에 의해 대응하는 제2 베이스(36)에 대하여, 도1 및 도3에 있어서 개구(44) 주위에 있어서의 반시계방향으로 옆에 위치하는 다른 제2 베이스(36)에 상대적 이동이 불가능하게 결합되어 있다.In addition, each
이 때문에, 각 제2 베이스(36)는, 이것이 제1 방향으로 이동됨으로써, 반시계방향으로 옆에 위치하는 제2 베이스(36)를 같은 방향으로 이동시키고, 제2 방향으로 이동됨으로써, 시계방향으로 옆에 위치하는 제2 베이스(36)를 같은 방향으로 이동시킨다.For this reason, each
상기와는 반대로, 각 제2 베이스(36)는, 반시계방향으로 옆에 위치하는 제2 베이스(36)가 이것의 제2 방향으로 이동됨으로써, 같은 방향으로 이동되고, 시계방향으로 옆에 위치하는 제2 베이스(36)가 이것의 제1 방향으로 이동됨으로써, 같은 방향으로 이동된다.Contrary to the above, each
각 제2 베이스(36)는, 제1 고정장치(66)에 의해 제1 베이스(34)에 해제 가능하게 각각 고정된다.Each
각 제1 고정장치(66)는 도6 및 도7에 나타낸 바와 같이, 설치 위치를 변경 가능하게 제1 베이스(34)에 설치된 제1 부재(68)와, 대응하는 제2 베이스(36)에 설치된 제2 부재(70)와, 제1 및 제2 부재(68 및 70)의 상대적 위치를 해제 가능하게 고정하는 한 쌍의 나사부재(72 및 74)를 포함한다.As shown in Figs. 6 and 7, each
제1 부재(68)는, 두개의 변에 의해 L자상으로 형성된 L금구(金具)이고, 또 한쪽 변이 제1 베이스(34)로부터 일어서는 상태로, 다른쪽 변에서 한 쌍의 나사부재(76)에 의해 제1 베이스(34) 윗면의 임의의 부분에 탈착 가능하게 설치되어 있다. 이 때문에, 제1 베이스(34)는, 나사부재(76)를 결합시키기 위한 다수의 나사구멍을 소정의 간격으로 갖고 있다.The
제2 부재(70)는 긴 판상의 부재이고, 또 제2 베이스(36)의 패널 받이(42)쪽과 반대쪽 가장자리에 고정되어 있고, 게다가 패널 받이(42)와 평행하게 연장해 있다.The
한쪽 나사부재(72)는 제2 부재(72)를 관통하여 제1 부재(68)에 결합해 있고, 다른쪽 나사부재(74)는 제1 부재(68)의 나사구멍에 결합되어 선단을 제2 베이스(36)에 접하게 하고 있다.One
각 제1 고정장치(66)는, 한쪽 나사부재(72)를 제1 부재(68)에 조여 넣고, 제2 베이스(36)를 나사부재(74)의 선단에 누름으로써, 제2 베이스(36)를 제1 베이스(34)에 해제 가능하게 고정한다.Each
제1 베이스(34)에 대한 제2 베이스(36)의 엉성한 위치관계는, 제1 베이스(34)에의 제1 부재(68)의 설치 위치에 의해 결정된다. 제1 베이스(34)에 대한 제2 베이스(36)의 정밀한 위치관계는, 나사부재(74)의 조임 양에 의해 조정할 수 있다.The loose positional relationship of the
서로 이웃하는 2개의 제2 베이스(36)의 각각에는, 패널(12)의 가장자리가 접할 수 있는 복수의 스토퍼 핀(80)이 설치되어 있다. 서로 이웃하는 다른 2개의 제2 베이스(36)의 각각에는 패널(12)을 마주보는 스토퍼 핀(80)을 향해 누르는 1 이상의 푸셔(82)가 설치되어 있다.In each of the two
도시한 예에서는, 2개의 스토퍼 핀(80)이 서로 이웃하는 2개의 제2 베이스(36)에 패널 받이(42)의 길이방향으로 간격을 두고 설치되어 있음과 동시에, 2개의 푸셔(82)가 서로 이웃하는 다른 2개의 제2 베이스(36)의 각각에 설치되어 있다.In the illustrated example, two
도10에 나타낸 바와 같이, 각 스토퍼 핀(80)은 대응하는 제2 베이스(36)의 윗면에 제2 베이스(36)의 길이방향으로 이동 가능하게, 그리고 제2 베이스(36)의 길이방향에서의 위치를 변경 가능하게 배치되어 있다.As shown in FIG. 10, each
도시한 예에서는, 패널의 검사장치(10)는 스토퍼 핀(80)을 위해, 레일(84)을 제2 베이스(36)의 윗면에 그 길이방향으로 연장하는 상태로 배치하고, 가이드(86)를 레일(84)로 이동 가능하게 끼우고 있다. 스토퍼 핀(80)은, 가이드(86)에 설치되어 있다.In the example shown, the
가이드(86)는, 1 이상의 적절한 정지구(도시하지 않음)에 의해 제2 베이스(36)에 해제 가능하게 설치된다. 각 제2 베이스(36)는, 그와 같은 정지구에 이용되는 나사부재가 결합되는 복수의 나사 구멍을 길이방향으로 간격을 두고 갖고 있다. 이 때문에, 제2 베이스(36)에의 가이드(86)의 고정 위치를 변경함으로써, 제2 베이스(36)의 길이방향에서의 스토퍼 핀(80)의 위치를 변경할 수 있다.The
각 스토퍼 핀(80)은 원형의 스토퍼 편(88)과, 스토퍼 편(88)을 지지하는 지지핀(90)을 갖추고 있고, 또 스토퍼 편(88)이 대응하는 제2 베이스(36)의 패널 받이(42)로부터 위쪽으로 돌출하는 상태로, 가이드(86)에 지지핀(90)에 있어서 설치되어 있다.Each
도8 및 도10에 나타낸 바와 같이, 각 푸셔(82)는 대응하는 제2 베이스(36)의 윗면에 제2 베이스(36)의 길이방향으로 이동 가능하게, 그리고 제2 베이스(36)의 길이방향에서의 위치를 변경 가능하게 배치되어 있다.As shown in FIGS. 8 and 10, each
도시한 예에서는, 패널의 검사장치(10)는 또 푸셔(82)를 위해, 레일(92)을 제2 베이스(36)의 윗면에 그 길이방향으로 연장하는 상태로 배치하고, 가이드(94)를 레일(92)에 이동 가능하게 끼우고, 레일(96)을 가이드(94)에 레일(92)과 직교하는 방향으로 연장하는 상태로 설치하고, 가이드(98)를 레일(96)에 이동 가능하게 끼우고 있다. 푸셔(82)는 가이드(98)에 설치되어 있다.In the example shown, the
가이드(94)는, 한 쌍의 정지구(99)에 의해 제2 베이스(36)에 해제 가능하게 설치된다. 각 제2 베이스(36)는, 그와 같은 정지구(99)에 이용하는 나사부재가 결합되는 복수의 나사구멍을 길이방향으로 간격을 두고 갖고 있다. 이 때문에, 제2 베이스(36)에의 가이드(94)의 고정 위치를 변경함으로써, 제2 베이스(36)의 길이방향에서의 푸셔(82)의 위치를 변경할 수 있다.The
각 푸셔(82)는, 원형의 푸쉬 편(100)과, 푸쉬 편(100)을 지지하는 지지핀(102)과, 가이드(98) 및 지지핀(102)을 사이에 두고 푸쉬 편(100)을 진퇴시키는 푸쉬기구(104)를 갖추고 있고, 또 푸쉬 편(100)이 대응하는 제2 베이스(36)의 패널 받이(42)로부터 위쪽으로 돌출하는 상태로, 가이드(98)에 지지핀(102)에 있어서 설치되어 있다.Each
푸쉬기구(104)는, 솔레노이드 기구나 실린더 기구와 같이 왕복운동을 이용할 수 있다. 푸쉬기구(104)도 가이드(98)에 설치되어 있다.The
각 푸셔(82)는, 푸쉬 편(100)이 패널(12)을 향해 전진됨으로써, 그 패널(12)을 스토퍼 핀(80)을 향해 누른다. 이에 의해, 패널(12)은 스토퍼 핀(80)과 푸셔(82)와의 공동작용에 의해 위치가 결정됨과 동시에, 파지(把持)된다.Each
푸쉬 편(100)이 패널(12)에 대하여 후퇴되면, 각 푸셔(82)는 스토퍼 핀(80)과의 공동에 의한 패널(12)의 파지를 해제한다.When the
각 접촉자 유닛(38)은 도11에서 도13에 나타낸 바와 같이, 제2 베이스(36)에 배치된 베이스판(110)과, 패널 받이(42)에 대하여 전진 및 후퇴 가능하게 베이스판(110)에 놓인 제1 이동 블록(112)과, 패널 받이(42)에 받아진 패널(12)에 대하여 경사진 방향으로 이동 가능하게 제1 이동 블록(112)에 배치된 제2 이동 블록(114) 과, 제2 이동 블록(114)에 지지된 접촉자 블록(116)을 포함한다.As shown in FIGS. 11 to 13, each
제1 이동 블록(112)의 이동방향은 패널 받이(42)에 받아진 패널(12)과 평행한 방향이고, 제2 이동 블록(114)의 이동방향은 그 패널(12)에 대하여 경사져 비스듬하게 상하방향으로 연장하는 방향이다.The moving direction of the first moving
베이스판(110)은, 이 위에 가이드 레일(118)을 이것이 대응하는 제2 베이스(36)의 길이방향과 직교하는 방향(제1 방향)으로 연장하는 상태로 설치하고, 가이드(120)를 가이드 레일(118)에 미끄러질 수 있게 끼우고, 가이드(120)에 제1 이동 블록(112)을 지지시키고 있다.The
베이스판(110)에는, 2조(組)의 스토퍼(124, 126)가 제1 이동 블록(112)의 이동방향으로 간격을 둔 상태로 설치되어 있다. 스토퍼(124, 126)는, 도시한 예에서는, 베이스판(110)에 직립으로 설치되어 있고, 또 스토퍼(124, 126)의 조 마다 제1 이동 블록(112)을 사이에 두고 제1 이동 블록(112)의 이동방향과 직교하는 방향으로 간격을 두고 있다.The
제1 이동 블록(112)은, 도시하지 않은 구동기구에 의해 나중에 설명하는 접촉자(122)가 패널(12)의 전극에 접촉하는 전진 위치와, 접촉자(122)가 패널(12)로부터 멀어져 후퇴하는 대기 위치 즉 후퇴 위치로 이동된다.The first moving
상기와 같은 이동기구로서, 잭(jack)식 구동기구, 솔레노이드 구동기구 등, 제1 방향에서의 제1 이동 블록(112)의 위치를 조정 가능한 것을 이용할 수 있다.As the above moving mechanism, a jack type drive mechanism, a solenoid drive mechanism, or the like, which can adjust the position of the first moving
제1 이동 블록(112)은, 이것이 전진 위치로 전진한 때에, 스토퍼(124)에 접하여 제1 이동 블록(112)의 전진을 제한하는 제한 블록(128)을 각 측부에 갖추고 있다.The first moving
제2 이동 블록(114)은, 이것이 제1 이동 블록(112)과 함께 전진한 때에, 스토퍼(126)에 접하는 2조의 회전체(130)를 갖추고 있다. 각 조의 회전체(130)는 제2 이동 블록(114)으로부터 제1 이동 블록(112)의 옆쪽을 제2 이동 블록(114)이 후퇴하는 방향으로 연장하는 스토퍼 암(132)의 후단부에, 수평방향으로 연장하는 축선 주위에 회전 가능하게 설치되어 있다.When the 2nd moving block 114 advances with the
제1 이동 블록(112)이 전진 위치 및 후퇴 위치로 이동된 것을, 각각 베이스판(110)에 배치된 센서(도시하지 않음)로 검출해도 좋다.You may detect that the
제1 이동 블록(112)의 선단면(즉, 패널 받이(42)쪽 면)은, 패널 받이(42)쪽만큼 패널 받이(42)로부터 위쪽으로 멀어지도록, 패널(12)에 대하여 경사진 비스듬하게 아래쪽을 향하는 경사면(134)으로 되어 있다. 제1 이동 블록(112)은 경사면(134)을 따라 비스듬하게 상하방향으로 연장하는 가이드 레일(136)을 경사면(134)에 설치하고 있다.The front end surface of the first movable block 112 (ie, the
제2 이동 블록(114)은, 가이드 레일(136)에 이동 가능하게 끼워진 가이드(138)에 의해, 제1 이동 블록(112)에 설치되어 있다. 스토퍼 암(132)은 제2 이동 블록(114)에 나사로 고정되어 있다.The 2nd moving
각 조의 회전체(130)는, 스토퍼(126)에 접촉하여 회전하면서 경사면(134)의 경사방향으로 이동하도록, 상하방향으로 간격을 두고 있다. 각 회전체(130)는, 도시한 예에서는 스토퍼 암(132)에 장착된 롤러이지만, 볼(ball)과 같은 다른 부재여도 좋다.The
제1 이동 블록(112)은, 경사면(134)에 경사면(134)과 직각으로 설치된 지지부(140)와, 지지부(140)로부터 경사면(134)과 평행하게 경사 위쪽으로 연장하는 로드(rod)(142)를 갖춘다.The first moving
제2 이동 블록(114)은, 로드(142)를 이것의 상부로부터 받아들이는 구멍(144)을 갖추고 있고, 또 로드(142)에 배치된 압축 코일 스프링과 같은 탄성체(146)에 의해 제1 이동 블록(112)으로부터 멀어지도록 제2 방향으로 힘이 가해지고 있다.The second moving
각 접촉자(122)는, 포고(pogo) 핀 타입 또는 스프링 핀 타입의 프로브이고, 접촉자 블록(116)을 관통하여 연장하고 있다. 접촉자(122)는 패널(12)의 전극의 배열과 동일한 배열로 배치되어 있고, 또 접촉자 블록(116)에 설치된 배선기판(도시하지 않음)과, 이 배선기판에 설치된 커넥터(도시하지 않음)와, 이 커넥터에 접속된 플렉시블(flexible) 인쇄 배선판(도시하지 않음)을 사이에 두고, 검사장치의 전기회로에 전기적으로 접속된다.Each
접촉자(122)의 선단과 패널(12)과의 평행도나 높이 위치는, 접촉자 유닛(38)마다 조정할 수 있다. 이 때문에, 그와 같은 평행도나 높이 위치의 조정작업이 용이해지고, 패널(12)과 접촉자(122)와의 사이에 콘택트 벗어남(contact misalignment)이 생길 우려가 저감된다.The parallelism and the height position of the tip of the
각 접촉자 유닛(38)은, 대응하는 제2 베이스(36)의 윗면에 제2 베이스(36)의 길이방향으로 이동 가능하게, 그리고 제2 베이스(36)의 길이방향에서의 위치를 변경 가능하게 배치되어 있다.Each
도8 및 도9에 나타낸 바와 같이, 패널의 검사장치(10)는 게다가 접촉자 유닛(38)을 위해, 레일(150)을 제2 베이스(36)의 윗면에 그 길이방향으로 연장하는 상태로 배치하고, 가이드(152)를 레일(150)에 이동 가능하게 끼우고 있다. 접촉자 유닛(38)은 베이스판(110)에서 가이드(152)에 설치되어 있다. 레일(150)은 볼록형(凸型)의 단면형상을 갖는다.As shown in Figs. 8 and 9, the
각 접촉자 유닛(38)은, 제2 고정장치(160)에 의해 대응하는 제2 베이스(36)에 해제 가능하게 고정된다. 각 제2 고정장치(160)는, 상기 접촉자 유닛을 사이에 두고 상기 제2 방향에서의 설치 위치를 변경 가능하게 상기 제2 베이스에 설치된 한 쌍의 금구(162)와, 금구(162)의 나사구멍에 결합된 한 쌍의 나사부재(164)를 포함한다.Each
각 금구(162)는, 2개의 변에 의해 L자상으로 형성된 L금구이고, 한쪽 변이 레일(150)로부터 일어서는 상태로 다른쪽 변을 관통하여 레일(150)의 나사구멍(166)에 결합된 한 쌍의 나사부재(168)에 의해 레일(150)의 윗면에 탈착 가능하게 설치되어 있다.Each
각 금구(162)의 한쪽 편(片) 부분은, 나사부재(164)가 결합된 나사구멍을 갖고 있다. 레일(150)은 나사부재(168)가 결합되는 복수의 나사구멍(166)을 레일(140)의 길이방향으로 일정한 간격을 두고 갖고 있다. 이 때문에, 나사부재(168)를 결합시키는 레일(150)의 나사구멍(166)을 변경함으로써, 제2 베이스(36)의 길이방향에서의 접촉자 유닛(38)의 위치를 변경할 수 있다.One side portion of each metal fitting 162 has a screw hole in which the
제2 고정장치(160)는, 양 금구(162)의 나사구멍에 결합된 나사부재(164)에 의해 접촉자 유닛(38)을 함께 끼움으로써, 접촉자 유닛(38)을 제2 베이스(36)에 대하여 위치 결정한다.The
제2 베이스(36)에 대한 접촉자 유닛(38)의 정밀한 위치 조정은, 금구(162)의 나사구멍에의 나사부재(164)의 조임 양을 조정함으로써 행할 수 있다.Precise position adjustment of the
앞에 서술한 정지구(99)로서, 상기와 같은 구조를 갖는, 금구(162), 나사부재(164, 168) 및 나사구멍(166)을 이용할 수 있다.As the
이어서 도14를 참조하여 검사장치의 동작을 설명한다.Next, the operation of the inspection apparatus will be described with reference to FIG.
대기 시, 제1 이동 블록(112)은 도14(A)에 나타낸 바와 같이, 패널 받이(42)로부터 대기 위치로 후퇴되어 있다. 이 때문에 제2 이동 블록(114)은, 패널 받이(42) 위의 패널(12)로부터 후퇴되어 있음과 동시에, 탄성체(146)에 의해 경사 위쪽으로 힘이 가해져 패널(12)로부터 위쪽으로 떨어져 있다.In the standby, the first moving
대기상태에 있어서는, 제1 및 제2 이동 블록(112, 114) 및 접촉자 블록(116)이 패널 받이(42)에의 패널(12)의 배치 영역으로부터 떨어져 있기 때문에, 패널(12)을 패널 받이(42)에 대하여 용이하게 탈착할 수 있다.In the standby state, since the first and second moving
푸셔(82)는, 패널(12)을 패널 받이(42)에 대하여 탈착할 때, 푸쉬 편(100)을 패널 받이(42)로부터 떨어지도록 후퇴시키고 있다.The
상기 상태에 있어서, 패널(12)이 패널 받이(42)에 놓이면, 푸셔(82)는 푸쉬 편(100)을 패널(12)을 향해 전진시킨다. 이에 의해, 패널 받이(42) 위의 패널(12)은 스토퍼 핀(80)에 눌리고, 패널 받이(42)에 대하여 소정의 상태로 위치가 결정된다. 이 때문에, 패널 받이(42)에 받아진 패널(12)을 패널의 검사장치(10)에 대하여 용이하게 위치 결정할 수 있다.In the above state, when the
검사 시, 제1 이동 블록(112)이 패널 받이(42)를 향해 전진된다. 도14(B)에 나타낸 바와 같이, 제1 이동 블록(112)의 전진의 종료 시, 제2 이동 블록(114)의 회전체(130)가 스토퍼(126)에 접촉한다. 이에 의해, 제2 이동 블록(114)의 전진이 저지되고, 그 상태로 제1 이동 블록(112)이 더 전진된다.In inspection, the first moving
제1 이동 블록(112)의 더한 전진에 의해, 제2 이동 블록(114)이 탄성체(146)가 가하는 힘에 저항하여 제1 이동 블록(112)에 대하여 후퇴된다. 이 때, 제2 이동 블록(114)은, 제1 이동 블록(112)이 패널 받이(42)에 접근하면 할수록 접촉자 블록(36)이 패널(12) 쪽으로 변위하도록 하강된다. 이 때 회전체(130)는 스토퍼(126)에 접촉하여 회전하면서 하강한다.By further advancing of the first moving
도14(C)에 나타낸 바와 같이, 제1 이동 블록(112)이 전진 위치까지 전진되면, 제한 블록(128)이 스토퍼(124)에 접함으로써, 정지된다. 이에 의해, 제2 이동 블록(114) 및 접촉자 블록(116)은 접촉자(122)가 패널(12)의 전극에 눌린 상태로, 하강이 정지된다.As shown in Fig. 14C, when the first moving
상기 상태로, 패널(12)에 통전되고 점등검사가 행해진다. 검사가 종료하면, 패널의 검사장치(10)는 상기와 반대로 동작하여, 도14(A)에 나타낸 상태로 되돌아간다. 이 상태에서, 패널(12)의 교환이 행해진다.In this state, the
점등검사 시, 광 확산판(48)이 제1 베이스(34)에 설치되어 있기 때문에, 검사해야 할 패널(12)이 광 확산판(48)의 가까이에 받아지고, 그 결과 광 확산판(48)에서 확산된 빛이 패널(12)에 효과적으로 조사된다.In the lighting inspection, since the
제1 이동 블록(112)의 전진 종료 시 및 후퇴 개시 시, 제1 이동 블록(112)의 이동로를 사이에 둔 2조의 회전체(130)가 조마다 스토퍼(126)의 2개소에 접촉하면서 회전 이동하기 때문에, 제3 방향으로의 제2 이동 블록(114)의 이동이 안정하고 원활해진다.At the end of the forward movement of the first moving
상기와 같이 패널의 검사장치(10)에 있어서는, 패널 받이(42)를 이동시키지 않고, 패널(12)을 패널 받이(42)에 대하여 탈착할 수 있고, 제1 이동 블록(112)을 패널(12)에 대하여 전진 후퇴시키는 것만으로, 접촉자(122)를 이것이 패널(12)에 접촉하는 위치와 패널(12)로부터 멀어지는 위치로 변위시킬 수 있다. 그 결과, 패널(12)을 패널 받이(42)에 대하여 탈착하는 시간이 단축한다.In the
검사해야 할 패널을 크기가 다른 다른 패널로 변경할 때, 패널의 검사장치(10)는, 제2 베이스(36), 접촉자 유닛(38), 제1 고정장치(66), 스토퍼 핀(80), 푸셔(82), 정지구(99) 및 제2 고정장치(160)가 새로운 패널(12)에 적합하도록 제1 및 제2 방향으로 이동된다.When the panel to be inspected is changed to another panel having a different size, the
따라서 검사 스테이지(14)를 교환하지 않고, 다른 크기의 패널의 검사가 가능해진다. 또 패널 받이(42)를 검사 스테이지(14)에 갖출 필요가 없다.Therefore, inspection of panels of different sizes is possible without replacing the inspection stage 14. In addition, it is not necessary to equip the inspection stage 14 with the
본 발명은, 액정 표시 패널뿐만 아니라, 그와 같은 유리기판, 유기 EL 등, 다른 표시용 패널의 검사에 이용하는 전기적 접속장치에도 적용할 수 있다.The present invention can be applied not only to liquid crystal display panels, but also to electrical connection devices used for inspection of other display panels such as glass substrates, organic ELs, and the like.
본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 그 취지를 벗어나지 않는 한, 각종 변경이 가능하다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various changes can be made without departing from the spirit thereof.
본 발명에 따른 패널의 검사장치는, 검사 스테이지의 교환을 하지 않고, 다른 크기의 표시용 패널의 검사를 가능하게 하는 발명의 효과를 갖는다.The inspection apparatus for a panel according to the present invention has the effect of the invention that enables inspection of display panels of different sizes without replacing the inspection stages.
본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 용이하게 이용될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.Simple modifications and variations of the present invention can be readily used by those skilled in the art, and all such variations or modifications can be considered to be included within the scope of the present invention.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100873743B1 (en) * | 2006-09-06 | 2008-12-12 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Inspection Apparatus |
KR101093646B1 (en) | 2009-05-01 | 2011-12-15 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Test device for flat specimen |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100748072B1 (en) * | 2005-08-01 | 2007-08-09 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Electrical inspection device of display panel |
JP4916712B2 (en) * | 2005-12-16 | 2012-04-18 | 株式会社日本マイクロニクス | Display panel inspection device |
JP5137336B2 (en) * | 2006-05-29 | 2013-02-06 | 株式会社日本マイクロニクス | Movable probe unit mechanism and electrical inspection device |
KR100822026B1 (en) | 2006-07-27 | 2008-04-15 | (주)엠에스쎌텍 | Tap bonding defect inspection device of LCD module |
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JP2008064682A (en) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Micronics Japan Co Ltd | Inspection device |
JP5001681B2 (en) * | 2007-03-12 | 2012-08-15 | 株式会社日本マイクロニクス | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
JP4845897B2 (en) * | 2008-01-15 | 2011-12-28 | 株式会社東芝 | Sample stage |
JP5631020B2 (en) * | 2009-05-01 | 2014-11-26 | 株式会社日本マイクロニクス | Test equipment for flat specimen |
JP5480756B2 (en) * | 2009-11-06 | 2014-04-23 | 株式会社日本マイクロニクス | Test equipment for flat specimen |
JP5470456B2 (en) * | 2010-06-17 | 2014-04-16 | シャープ株式会社 | Lighting inspection device |
JP5631114B2 (en) * | 2010-08-24 | 2014-11-26 | 株式会社日本マイクロニクス | Inspection device for flat specimen |
KR101269443B1 (en) * | 2011-09-20 | 2013-05-30 | 참엔지니어링(주) | Apparatus for testing and repairing of substrate |
KR101269446B1 (en) | 2011-10-05 | 2013-05-30 | 참엔지니어링(주) | Apparatus for testing and repairing of substrate |
JP6194767B2 (en) * | 2013-03-14 | 2017-09-13 | 株式会社リコー | Liquid ejection head and image forming apparatus |
KR101593505B1 (en) * | 2014-10-27 | 2016-02-12 | 주식회사 애이시에스 | A variable lcd/oled testing device |
CN112595725A (en) * | 2020-11-30 | 2021-04-02 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | Detection objective table and detection system |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002091336A (en) | 2000-09-12 | 2002-03-27 | Soushiyou Tec:Kk | Display panel or support frame body for probe block |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5391376A (en) * | 1977-01-24 | 1978-08-11 | Hirohide Yano | Device for inspecting printed board |
JPS62147369A (en) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Panel connecting device |
JP3350899B2 (en) * | 1999-08-31 | 2002-11-25 | 株式会社双晶テック | Probe block support frame |
JP4582958B2 (en) * | 2001-05-30 | 2010-11-17 | 株式会社日本マイクロニクス | Display substrate inspection equipment |
JP4167010B2 (en) * | 2002-06-18 | 2008-10-15 | 株式会社日本マイクロニクス | Display substrate processing equipment |
JP3816031B2 (en) * | 2002-07-04 | 2006-08-30 | 株式会社双晶テック | Inspection device for flat panel display |
-
2004
- 2004-10-22 JP JP2004308233A patent/JP4570930B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-06-24 TW TW094121110A patent/TWI319498B/en active
- 2005-07-18 KR KR1020050064888A patent/KR100707686B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002091336A (en) | 2000-09-12 | 2002-03-27 | Soushiyou Tec:Kk | Display panel or support frame body for probe block |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100873743B1 (en) * | 2006-09-06 | 2008-12-12 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Inspection Apparatus |
KR101093646B1 (en) | 2009-05-01 | 2011-12-15 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Test device for flat specimen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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JP4570930B2 (en) | 2010-10-27 |
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TWI319498B (en) | 2010-01-11 |
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