KR100641618B1 - 전자기장을 사용하여 연속 주조중의 금속흐름을 제어하는방법 및 장치 - Google Patents
전자기장을 사용하여 연속 주조중의 금속흐름을 제어하는방법 및 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
바람직하게는, 알고리즘, 수치모델 또는 다변량 데이타 분석방법은 관측되거나 샘플링된 흐름 파라미터 외에도 미리 설정되거나 미리 측정된 상수, 소정 함수 뿐만 아니라 관측되거나 샘플링된 파라미터값의 형태의 주조 파라미터를 또한 포함한다. 이로써, 2차 흐름은 더 안정적으로 제어되고 몰드의 실제 작용조건에 대한 바람직한 흐름 패턴이 주어지도록 채택될 것이다.
Claims (37)
- 몰드내로 공급된 고온의 금속 용융물 1차 흐름 (P) 이 하나 이상의 정적 또는 주기적 저주파수 자기장에 의한 작용을 받아 상기 1차 흐름이 제동되고 분기되어 주조 스트랜드의 미응고 부분에 제어된 2차 흐름을 형성하며, 자기장의 자속밀도가 주조조건에 기초하여 조절되는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법에 있어서,몰드내의 메니스커스를 따라 그에 인접하는 2차 흐름 (M, U, C1, C2, c3, c4, G1, G2, g3, g4, O1, O2, o3, o4) 의 유동 속도 (Vm) 가 전체 주조 전반에 걸쳐 관측되고, 상기 유동 속도의 변화를 검출하는 경우, 관측된 유동 속도의 변화에 대한 정보가 메니스커스에서의 유동 속도 (Vm) 의 변화를 평가하는 제어 유니트로 공급되고, 그 후 상기 평가에 기초하여 자속밀도가 온라인으로 조절되어, 소정의 유동 속도 범위내로 제어된 메니스커스를 따라 또는 그에 인접하는 2차 흐름의 유동 속도 (Vm) 를 유지하거나 조절하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 2차 흐름 (M, U, C1, C2, c3, c4, G1, G2, g3, g4, O1, O2, o3, o4) 의 유동속도가 몰드의 하나 이상의 특정지점에서 연속적으로 측정되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 2차 흐름 (M, U, C1, C2, c3, c4, G1, G2, g3, g4, O1, O2, o3, o4) 의 유동속도가 몰드의 하나 이상의 특정지점에서 샘플링되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 메니스커스에서의 유동속도 (Vm) 가 관측되고, 변화가 검출되는 경우 이 변화가 평가되고, 자속밀도가 상기 평가에 기초하여 조절되어 소정의 유동속도 범위 내에서 메니스커스에서의 유동속도 (Vm) 를 유지하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항 내지 제 3 항중의 어느 한 항에 있어서, 상기 몰드의 좁은 측면중의 하나에서 상향 2차 흐름의 유동속도 (Vu) 가 관측되고, 변화가 검출되는 경우 이 변화가 평가되고, 자속밀도가 상기 평가에 기초하여 조절되어 메니스커스를 따라 그에 인접하는 상기 상향 흐름의 유동속도 (Vu) 를 조절하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항 내지 제 3 항중의 어느 한 항에 있어서, 상기 몰드의 좁은 측면중의 하나에서 상향 2차 흐름에 의해 메니스커스에서 발생되는 정재파의 높이 (hw), 위치 또는 형상중 어느 하나 이상이 관측되고, 변화가 검출되는 경우 이 변화가 평가되고, 자속밀도가 상기 평가에 기초하여 조절되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항 내지 제 3 항중의 어느 한 항에 있어서, 상기 몰드가 2 이상의 제어영역 (Ⅰ, Ⅱ) 으로 분할되고, 흐름 (P, M, U, O1, O2, o3, o4) 이 각각의 제어영역내에서 관측되며, 제어영역내의 검출된 흐름의 변화가 평가되고, 상기 제어영역내의 흐름에 영향을 미치는 자기장의 자속밀도가 상기 평가에 기초하여 조절되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 7 항에 있어서, 상기 몰드가 2개의 제어영역 (Ⅰ, Ⅱ) 으로 분할되고, 이 2개의 영역이 각각 몰드의 좌우 절반으로 이루어지며, 흐름 (P, M, U, O1, O2, o3, o4) 이 각각의 제어영역내에서 관측되고, 제어영역내의 검출된 흐름변화가 평가되며, 상기 제어영역내의 흐름에 영향을 미치는 자기장의 자속밀도가 상기 평가에 기초하여 조절되어 몰드내에 대칭이면서 균형잡힌 흐름을 유지하면서 불균형 편류가 나타나는 경향을 억제하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 7 항에 있어서, 상기 메니스커스에서의 유동속도 (Vm) 가 각각의 제어영역에서 측정되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 7 항에 있어서, 상기 몰드의 좁은 측면에서의 상향 흐름 (Vu) 이 몰드의 양쪽 좁은 측면에서 관측되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 7 항에 있어서, 상기 몰드 좁은 측면에서 상향 2차 흐름에 의해서 메니스커스에서 발생되는 정재파의 높이 (hw), 위치 또는 형상중 어느 하나 이상이 몰드의 양쪽 좁은 측면에서 간접적으로 관측되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항 내지 제 3 항중의 어느 한 항에 있어서, 상기 몰드내 용융물에 작용하는 하나 이상의 자기장이, 전자 제동 장치 (42) 에 의해서 발생되고, 전원 (421) 으로부터 상기 전자 제동 장치의 권선으로 공급되는 전류의 암페어수가 제어되어 자기장의 자속밀도를 조절하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 12 항에 있어서, 2 이상의 자기장이 몰드내의 금속에 작용하도록 배열되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 13 항에 있어서, 상기 자기장이 주조방향으로 2 이상의 레벨에 번갈아 작용하도록 배치되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 14 항에 있어서, 하나 이상의 제 1 레벨 (B, N) 이, 상기 노즐의 출구(들)와 동일한 레벨 또는 하류에 배치되고, 하나 이상의 제 2 레벨 (A, L) 이 메니스커스와 동일한 레벨 또는 메니스커스와 노즐 포트(들) 사이의 레벨에 배치되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 14 항에 있어서, 하나 이상의 제 1 레벨 (D) 이 노즐의 출구(들) 와 동일한 레벨에 배치되고, 하나 이상의 제 2 레벨 (E) 이 상기 제 1 레벨의 하류 레벨에 배치되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 13 항에 있어서, 상기 몰드안의 금속이 2 이상의 자기장에 의해 영향을 받게 되고, 상기 자기장의 자속밀도가 서로 독립적으로 조절되는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 제 1 항 내지 제 3 항중의 어느 한 항에 있어서, 하나 이상의 교류 자기장이 몰드내 또는 몰드의 하류의 스트랜드의 용융물에 작용하도록 가해지고, 제어 유니트가 온라인으로 상기 교류 자기장을 조절하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조방법.
- 주조 스트랜드를 성형하는 몰드, 상기 몰드에 고온의 금속 용융물 1차 흐름 (P) 의 공급 수단 및 상기 몰드내의 금속에 작용하는 하나 이상의 자기장을 가하는 자기적 수단 (42) 을 포함하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치에 있어서, 상기 자기적 수단은 제어 유니트 (44) 와 연결되고, 상기 제어 유니트는 검출수단 (43, 43a, 43b, 45, 45a, 45b) 과 연결되며, 상기 검출수단은 몰드내의 메니스커스를 따라 그에 인접하는 2차 흐름 (M, U, C1, C2, c3, c4, G1, G2, g3, g4, O1, O2, o3, o4) 의 유동 속도 (Vm) 를 관측하여, 이 유동 속도의 변화를 검출하게 되고, 상기 제어 유니트는 검출된 메니스커스에서의 유동 속도의 변화를 평가하는 평가수단과, 상기 메니스커스를 따라 그에 인접하는 유동속도의 검출된 변화의 평가에 기초하여 유동속도가 소정의 범위내에 있도록 자기장의 자속밀도를 온라인으로 조절하는 제어수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
- 제 19 항에 있어서, 상기 몰드가 몰드를 분할하는 제어영역 (Ⅰ, Ⅱ) 을 포함하고, 각각의 제어영역은 이 영역내의 흐름에 영향을 미치는 자기적 수단 (42) 및 제어 유니트 (44) 와 연결된 검출수단 (43a, 43b, 45a, 45b) 을 포함하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
- 제 20 항에 있어서, 상기 몰드는 2개의 제어영역 (Ⅰ, Ⅱ) 을 포함하고, 상기 2개의 제어영역이 각각 몰드의 좌우 절반으로 이루어진 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
- 제 19 항 내지 제 21 항중의 어느 한 항에 있어서, 복수의 전자석 (42) 이 주조방향으로 번갈아 배치된 하나 이상의 레벨에서 자기 밴드 영역의 형태로 작용하도록 자기장을 가하게 배열되고, 제어 유니트 (44) 가 하나 이상의 밴드영역에서 자속밀도를 조절하도록 전자석과 연결된 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
- 제 22 항에 있어서, 하나의 제어 유니트 (44) 가 2쌍 이상의 자석 (42) 과 연결되어 이 자석에 의해서 가해진 자기장(들) 을 조절하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
- 제 22 항에 있어서, 전자 제동 장치가 2 이상의 제어 유니트 (44) 에 연결되고, 각각의 유니트가 한쌍 이상의 자석 (42) 에 연결되어 한쌍 이상의 자석이 다른 쌍(들) 의 자석과 독립적으로 제어될 수 있는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
- 제 19 항 내지 제 21 항중의 어느 한 항에 있어서, 상기 제어 유니트 (44) 가, 몰드내 또는 몰드 하류의 스트랜드의 용융물에 작용하도록 교류 전자기장을 가하도록 배열된 추가의 전자기장치에 연결되어 상기 장치에 의해서 발생된 자기장을 조절하는 것을 특징으로 하는 금속의 연속 또는 반연속 주조장치.
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