KR100506729B1 - 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 - Google Patents
박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100506729B1 KR100506729B1 KR10-2002-0028142A KR20020028142A KR100506729B1 KR 100506729 B1 KR100506729 B1 KR 100506729B1 KR 20020028142 A KR20020028142 A KR 20020028142A KR 100506729 B1 KR100506729 B1 KR 100506729B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- forming
- membrane layer
- thickness
- membrane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/58—Multiple crystal filters
- H03H9/60—Electric coupling means therefor
- H03H9/605—Electric coupling means therefor consisting of a ladder configuration
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P11/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing waveguides or resonators, lines, or other devices of the waveguide type
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H3/04—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/58—Multiple crystal filters
- H03H9/582—Multiple crystal filters implemented with thin-film techniques
- H03H9/586—Means for mounting to a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
- H03H9/587—Air-gaps
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H3/04—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
- H03H2003/0414—Resonance frequency
- H03H2003/0421—Modification of the thickness of an element
- H03H2003/0442—Modification of the thickness of an element of a non-piezoelectric layer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
Description
멤브레인층 두께 | 하부전극두께 | 압전층 두께 | 상부전극두께 | ||
직렬 공진기 | 병렬 공진기 | ||||
송신 필터 | 1500 | 3500 | 1000 | 10300 | 3300 |
수신 필터 | 1500 | 3500 | 1000 | 10300 | 2100 |
Claims (15)
- 복수의 직렬 공진기(100) 및 병렬 공진기(200)를 포함하는 래더(ladder)타입의 필터에 적용되는 FBAR 소자에 있어서,기판(310);상기 기판(310) 상에 형성된 절연층(320);상기 절연층(320) 상에 형성되며 복수의 에어갭(335)을 포함하는 멤브레인 지지층(340);상기 멤브레인 지지층(340) 상에 형성되며, 상기 에어갭과 오버랩되는 부분에 형성한 복수의 활성영역을 포함하는 멤브레인층(350);상기 활성영역 각각 위에 형성된 복수의 하부전극(110,210);상기 하부전극(110,210) 각각 위에 형성된 복수의 압전층(120,220); 및상기 압전층(120,220) 각각 위에 형성된 복수의 상부전극(130,230)을 구비하며,상기 복수의 활성영역중에서 필터의 직렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께는 병렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께와 서로 다른 것을 특징으로 하는 FBAR 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 멤브레인층의 활성영역의 두께는상기 활성영역이 형성되지 않은 멤브레인층의 두께와 같거나, 얇은 것을 특징으로 하는 FBAR 소자.
- 제2항에 있어서, 상기 멤브레인층의 활성영역은상기 멤브레인층의 상면이 침하된 평면을 갖는 것을 특징으로 하는 FBAR 소자.
- 제3항에 있어서, 상기 활성영역의 침하된 평면은식각에 의해 형성된 것을 특징으로 FBAR소자.
- 제2항에 있어서,상기 멤브레인층의 활성영역 두께 조절에 의해병렬 공진기 및 직렬 공진기의 중심주파수를 제어되는 것을 특징으로 하는 FBAR소자.
- 제2항에 있어서,상기 멤브레인층의 활성영역 두께는0.0-1.0mm 인 것을 특징으로 하는 FBAR소자.
- 복수의 직렬 공진기(100) 및 병렬 공진기(200)를 포함하는 래더(ladder)타입의 필터에 적용되는 FBAR 소자에 있어서,기판(310);상기 기판(310) 상에 형성된 절연층(320);상기 절연층(320) 상에 형성되며 복수의 에어갭(335)을 포함하는 멤브레인 지지층(340);상기 멤브레인 지지층(340) 상에 형성되며, 상기 에어갭과 오버랩되는 부분에 형성한 복수의 활성영역을 포함하는 멤브레인층(350);상기 활성영역 각각 위에 형성된 복수의 하부전극(110,210);상기 하부전극(110,210) 각각 위에 형성된 복수의 압전층(120,220); 및상기 압전층(120,220) 각각 위에 형성된 복수의 상부전극(130,230)을 구비하며,상기 복수의 활성영역중에서 필터의 직렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께는 병렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께와 서로 다르며, 또한, 상기 멤브레인층의 활성영역 두께 조절에 의해 병렬 공진기 및 직렬 공진기의 중심주파수를 제어하는 것을 특징으로 하는 FBAR 소자.
- 직렬 공진기와 병렬 공진기를 포함하는 래더(ladder)타입의 필터에 적용되는 FBAR 소자에 있어서,(a) 기판을 마련하는 단계;(b) 상기 기판 상에 절연층을 형성하는 단계;(c) 상기 절연층 상에 희생층을 형성하는 단계;(d) 상기 희생층중 일부 희생층을 제거하여 복수의 에어갭 형성을 위한 희생영역을 형성하는 단계;(e) 상기 희생층이 제거된 상기 절연층의 상면에 멤브레인 지지층을 형성하는 단계;(f) 상기 희생영역 및 상기 멤브레인 지지층의 상부에 멤브레인층을 형성하는 단계;(g) 상기 멤브레인층 상면중 상기 희생영역과 오버랩되는 부분에 복수의 활성영역을 형성하는데, 여기서, 이 복수의 활성영역중에서 필터의 직렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께를 병렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께와 서로 다르게 형성하는 단계;(h) 상기 활성영역을 포함하는 멤브레인층 상에 하부 전극을 형성하는 단계;(i) 상기 하부전극 상에 압전층을 형성하는 단계;(j) 상기 압전층 상에 상부전극을 형성하는 단계; 및,(k) 상기 희생영역을 제거하여 에어갭을 형성하는 단계를 포함하는 FBAR 소자 제조방법.
- 제8항에 있어서, 상기 멤브레인층에 활성영역을 형성하는 단계(g)는상기 멤브레인층이 형성된 후, 이 멤브레인층 중 상기 희생영역과 오버랩되는 부분을 식각하는 과정을 통해 각 멤브레인층의 활성영역 두께를 소정의 두께로 형성하는 것을 특징으로 하는 FBAR소자 제조방법.
- 제9항에 있어서, 상기 멤브레인층의 활성영역의 두께는상기 활성영역이 형성되지 않은 멤브레인층의 두께와 같거나, 얇은 것을 특징으로 하는 FBAR 소자 제조방법.
- 제10항에 있어서, 상기 멤브레인층의 활성영역은상기 멤브레인층의 상면이 침하된 평면을 갖는 것을 특징으로 하는 FBAR 소자 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 활성영역의 침하된 평면은 식각에 의해 형성된 것을 특징으로 FBAR소자 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 멤브레인층의 활성영역 두께 조절에 의해병렬 공진기 및 직렬 공진기의 중심주파수를 제어되는 것을 특징으로 하는 FBAR소자 제조방법.
- 직렬 공진기와 병렬 공진기를 포함하는 래더(ladder)타입의 필터에 적용되는 FBAR 소자에 있어서,(a) 기판을 마련하는 단계;(b) 상기 기판 상에 절연층을 형성하는 단계;(c) 상기 절연층 상에 희생층을 형성하는 단계;(d) 상기 희생층의 일부를 제거하여 에어갭 형성을 위한 복수의 희생영역을 형성하는 단계;(e) 상기 희생층이 제거된 상기 절연층의 상면에 멤브레인 지지층을 형성하는 단계;(f) 상기 희생영역 및 상기 멤브레인 지지층의 상부에 멤브레인층을 형성하는 단계;(g) 상기 멤브레인층 상면중 상기 희생영역과 오버랩되는 부분에 식각 과정을 통해 복수의 활성영역을 형성하고, 이 멤브레인층의 활성영역 두께를 소정의 두께로 형성되며, 여기서, 상기 복수의 활성영역중에서 필터의 직렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께를 병렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께와 서로 다르게 형성하는 단계;(h) 상기 활성영역을 포함하는 멤브레인층 상에 하부 전극을 형성하는 단계;(i) 상기 하부전극 상에 압전층을 형성하는 단계;(j) 상기 압전층 상에 상부전극을 형성하는 단계; 및,(k) 상기 희생영역을 제거하여 에어갭을 형성하는 단계를 포함하는 FBAR 소자 제조방법.
- 직렬 공진기와 병렬 공진기를 포함하는 래더(ladder)타입의 필터에 적용되는 FBAR 소자에 있어서,(a) 기판을 마련하는 단계;(b) 상기 기판 상에 절연층을 형성하는 단계;(c) 상기 절연층 상에 희생층을 형성하는 단계;(d) 상기 희생층의 일부를 제거하여 에어갭 형성을 위한 복수의 희생영역을 형성하는 단계;(e) 상기 희생층이 제거된 상기 절연층의 상면에 멤브레인 지지층을 형성하는 단계;(f) 상기 희생영역 및 상기 멤브레인 지지층의 상부에 멤브레인층을 형성하는 단계;(g) 상기 멤브레인층 상면중 상기 희생영역과 오버랩되는 부분에 식각 과정을 통해 복수의 활성영역을 형성하고, 이 멤브레인층의 활성영역 두께를 소정의 두께로 형성되며, 여기서, 상기 복수의 활성영역중에서 필터의 직렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께를 병렬 공진기에 대응하는 멤브레인층의 활성영역 두께와 서로 다르게 형성하는 단계;(h) 상기 활성영역을 포함하는 멤브레인층 상에 하부 전극을 형성하는 단계;(i) 상기 하부전극 상에 압전층을 형성하는 단계;(j) 상기 압전층 상에 상부전극을 형성하는 단계; 및,(k) 상기 희생영역을 제거하여 에어갭을 형성하는 단계를 구비하며,상기 멤브레인층의 활성영역 두께 조절에 의해 병렬 공진기 및 직렬 공진기의 중심주파수를 제어하는 것을 특징으로 하는 FBAR 소자 제조방법.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0028142A KR100506729B1 (ko) | 2002-05-21 | 2002-05-21 | 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 |
US10/327,929 US6842089B2 (en) | 2002-05-21 | 2002-12-26 | Film bulk acoustic resonator (FBAR) device |
JP2002381108A JP2003347884A (ja) | 2002-05-21 | 2002-12-27 | 薄膜バルクアコースティック共振器(FBARs)素子及びその製造方法 |
US10/852,433 US7128941B2 (en) | 2002-05-21 | 2004-05-25 | Method for fabricating film bulk acoustic resonator (FBAR) device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0028142A KR100506729B1 (ko) | 2002-05-21 | 2002-05-21 | 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030090142A KR20030090142A (ko) | 2003-11-28 |
KR100506729B1 true KR100506729B1 (ko) | 2005-08-08 |
Family
ID=29546324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2002-0028142A Expired - Fee Related KR100506729B1 (ko) | 2002-05-21 | 2002-05-21 | 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6842089B2 (ko) |
JP (1) | JP2003347884A (ko) |
KR (1) | KR100506729B1 (ko) |
Families Citing this family (90)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100506729B1 (ko) * | 2002-05-21 | 2005-08-08 | 삼성전기주식회사 | 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 |
US7275292B2 (en) | 2003-03-07 | 2007-10-02 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Method for fabricating an acoustical resonator on a substrate |
KR100485703B1 (ko) * | 2003-04-21 | 2005-04-28 | 삼성전자주식회사 | 기판으로부터 부양된 에어갭을 갖는 박막 벌크 음향공진기 및 그 제조방법 |
JP2005073175A (ja) * | 2003-08-27 | 2005-03-17 | Fujitsu Media Device Kk | 圧電薄膜共振子及びその製造方法 |
TWI243496B (en) * | 2003-12-15 | 2005-11-11 | Canon Kk | Piezoelectric film element, method of manufacturing the same, and liquid discharge head |
JP4488167B2 (ja) * | 2003-12-18 | 2010-06-23 | Tdk株式会社 | フィルタ |
JP4625260B2 (ja) * | 2004-02-04 | 2011-02-02 | 株式会社日立メディアエレクトロニクス | 薄膜バルク共振子の製造方法 |
JP2005260484A (ja) * | 2004-03-10 | 2005-09-22 | Tdk Corp | 圧電共振器およびそれを備えた電子部品 |
JP2005277454A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-10-06 | Tdk Corp | 圧電共振器およびそれを備えた電子部品 |
US7227433B2 (en) * | 2004-03-31 | 2007-06-05 | Intel Corporation | Electro mechanical device having a sealed cavity |
KR100622955B1 (ko) * | 2004-04-06 | 2006-09-18 | 삼성전자주식회사 | 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법 |
JP2005311567A (ja) * | 2004-04-20 | 2005-11-04 | Sony Corp | フィルタ装置及び送受信機 |
US7388454B2 (en) * | 2004-10-01 | 2008-06-17 | Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd | Acoustic resonator performance enhancement using alternating frame structure |
JP2006135529A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Japan Radio Co Ltd | 薄膜共振子の製造方法 |
US8981876B2 (en) | 2004-11-15 | 2015-03-17 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Piezoelectric resonator structures and electrical filters having frame elements |
US7202560B2 (en) | 2004-12-15 | 2007-04-10 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Wafer bonding of micro-electro mechanical systems to active circuitry |
US7791434B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-09-07 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator performance enhancement using selective metal etch and having a trench in the piezoelectric |
KR100691152B1 (ko) * | 2005-02-28 | 2007-03-09 | 삼성전기주식회사 | 박막 벌크 음향 공진기 |
US7369013B2 (en) * | 2005-04-06 | 2008-05-06 | Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd | Acoustic resonator performance enhancement using filled recessed region |
US7436269B2 (en) * | 2005-04-18 | 2008-10-14 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustically coupled resonators and method of making the same |
CN101228691B (zh) * | 2005-08-30 | 2011-01-05 | 松下电器产业株式会社 | 压电谐振器的制造方法 |
US7868522B2 (en) * | 2005-09-09 | 2011-01-11 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Adjusted frequency temperature coefficient resonator |
US7675390B2 (en) * | 2005-10-18 | 2010-03-09 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic galvanic isolator incorporating single decoupled stacked bulk acoustic resonator |
US7737807B2 (en) * | 2005-10-18 | 2010-06-15 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic galvanic isolator incorporating series-connected decoupled stacked bulk acoustic resonators |
US7525398B2 (en) * | 2005-10-18 | 2009-04-28 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustically communicating data signals across an electrical isolation barrier |
US7463499B2 (en) * | 2005-10-31 | 2008-12-09 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte Ltd. | AC-DC power converter |
US7612636B2 (en) * | 2006-01-30 | 2009-11-03 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Impedance transforming bulk acoustic wave baluns |
US20070210748A1 (en) * | 2006-03-09 | 2007-09-13 | Mark Unkrich | Power supply and electronic device having integrated power supply |
US7746677B2 (en) * | 2006-03-09 | 2010-06-29 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | AC-DC converter circuit and power supply |
US20070210724A1 (en) * | 2006-03-09 | 2007-09-13 | Mark Unkrich | Power adapter and DC-DC converter having acoustic transformer |
US7479685B2 (en) * | 2006-03-10 | 2009-01-20 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Electronic device on substrate with cavity and mitigated parasitic leakage path |
KR100719123B1 (ko) * | 2006-07-27 | 2007-05-18 | 삼성전자주식회사 | 멀피 밴드 필터모듈 및 그 제조방법 |
US7508286B2 (en) * | 2006-09-28 | 2009-03-24 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | HBAR oscillator and method of manufacture |
JP5172844B2 (ja) * | 2007-08-24 | 2013-03-27 | 太陽誘電株式会社 | 圧電薄膜共振子、それを用いたフィルタ、そのフィルタを用いたデュプレクサおよびそのフィルタまたはそのデュプレクサを用いた通信機 |
US7791435B2 (en) * | 2007-09-28 | 2010-09-07 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Single stack coupled resonators having differential output |
KR101375660B1 (ko) | 2008-02-22 | 2014-03-19 | 삼성전자주식회사 | 오버레이 ebg 구조를 이용한 공진기, 대역통과필터 및공진기의 제조방법 |
US7732977B2 (en) * | 2008-04-30 | 2010-06-08 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) | Transceiver circuit for film bulk acoustic resonator (FBAR) transducers |
US7855618B2 (en) * | 2008-04-30 | 2010-12-21 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Bulk acoustic resonator electrical impedance transformers |
US8291559B2 (en) * | 2009-02-24 | 2012-10-23 | Epcos Ag | Process for adapting resonance frequency of a BAW resonator |
US8902023B2 (en) * | 2009-06-24 | 2014-12-02 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator structure having an electrode with a cantilevered portion |
US8248185B2 (en) * | 2009-06-24 | 2012-08-21 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator structure comprising a bridge |
US8193877B2 (en) * | 2009-11-30 | 2012-06-05 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Duplexer with negative phase shifting circuit |
US8704191B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-04-22 | Arizona Board Of Regents, A Body Corporate Of The State Of Arizona, Acting For And On Behalf Of Arizona State University | Film bulk acoustic wave resonator-based high energy radiation detectors and methods using the same |
US9243316B2 (en) | 2010-01-22 | 2016-01-26 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Method of fabricating piezoelectric material with selected c-axis orientation |
US8796904B2 (en) | 2011-10-31 | 2014-08-05 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Bulk acoustic resonator comprising piezoelectric layer and inverse piezoelectric layer |
US8357981B2 (en) * | 2010-05-28 | 2013-01-22 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Transducer devices having different frequencies based on layer thicknesses and method of fabricating the same |
KR101696665B1 (ko) * | 2010-09-16 | 2017-01-16 | 삼성전자주식회사 | 체적 음향 공진기 센서 |
US8962443B2 (en) | 2011-01-31 | 2015-02-24 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same |
US9136818B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-09-15 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Stacked acoustic resonator comprising a bridge |
US9154112B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-10-06 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Coupled resonator filter comprising a bridge |
US9425764B2 (en) | 2012-10-25 | 2016-08-23 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Accoustic resonator having composite electrodes with integrated lateral features |
US9083302B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-07-14 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Stacked bulk acoustic resonator comprising a bridge and an acoustic reflector along a perimeter of the resonator |
US9048812B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-06-02 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Bulk acoustic wave resonator comprising bridge formed within piezoelectric layer |
US9148117B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-09-29 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Coupled resonator filter comprising a bridge and frame elements |
US9203374B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-12-01 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Film bulk acoustic resonator comprising a bridge |
US9490771B2 (en) | 2012-10-29 | 2016-11-08 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator comprising collar and frame |
US9401692B2 (en) | 2012-10-29 | 2016-07-26 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator having collar structure |
US9490418B2 (en) | 2011-03-29 | 2016-11-08 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator comprising collar and acoustic reflector with temperature compensating layer |
US9444426B2 (en) | 2012-10-25 | 2016-09-13 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Accoustic resonator having integrated lateral feature and temperature compensation feature |
US8575820B2 (en) | 2011-03-29 | 2013-11-05 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Stacked bulk acoustic resonator |
US8350445B1 (en) | 2011-06-16 | 2013-01-08 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Bulk acoustic resonator comprising non-piezoelectric layer and bridge |
US8922302B2 (en) | 2011-08-24 | 2014-12-30 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator formed on a pedestal |
US8923794B2 (en) * | 2011-11-02 | 2014-12-30 | Triquint Semiconductor, Inc. | Temperature compensation of acoustic resonators in the electrical domain |
KR101928359B1 (ko) | 2012-09-11 | 2018-12-12 | 삼성전자주식회사 | 전도성 물질을 이용하여 전기적 손실을 처리하는 공진 장치 및 그 제조 방법 |
US9385684B2 (en) | 2012-10-23 | 2016-07-05 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Acoustic resonator having guard ring |
KR101959204B1 (ko) * | 2013-01-09 | 2019-07-04 | 삼성전자주식회사 | 무선 주파수 필터 및 무선 주파수 필터의 제조방법 |
KR102029503B1 (ko) * | 2014-12-08 | 2019-11-08 | 삼성전기주식회사 | 체적 음향 공진기 및 필터 |
KR101730335B1 (ko) * | 2015-01-27 | 2017-04-27 | 주하이 어드밴스드 칩 캐리어스 앤드 일렉트로닉 서브스트레이트 솔루션즈 테크놀러지즈 컴퍼니 리미티드 | 필름 벌크 음향 공진기 필터 제조 방법 |
US10177736B2 (en) | 2015-05-29 | 2019-01-08 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | Bulk acoustic wave resonator comprising multiple acoustic reflectors |
CN105703736B (zh) * | 2016-02-25 | 2018-12-07 | 锐迪科微电子(上海)有限公司 | 一种体声波器件及集成结构 |
JP6805630B2 (ja) * | 2016-08-24 | 2020-12-23 | セイコーエプソン株式会社 | 超音波デバイス、超音波モジュール、及び超音波測定装置 |
US10038422B2 (en) | 2016-08-25 | 2018-07-31 | Qualcomm Incorporated | Single-chip multi-frequency film bulk acoustic-wave resonators |
JP6545772B2 (ja) * | 2017-01-03 | 2019-07-17 | ウィン セミコンダクターズ コーポレーション | 質量調整構造付きバルク音響波共振装置の製造方法 |
US10873316B2 (en) | 2017-03-02 | 2020-12-22 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Acoustic resonator and method of manufacturing the same |
KR102369436B1 (ko) * | 2017-04-19 | 2022-03-03 | 삼성전기주식회사 | 체적 음향 공진기 |
JP6923365B2 (ja) * | 2017-06-08 | 2021-08-18 | 太陽誘電株式会社 | 弾性波デバイス |
US20190222193A1 (en) * | 2018-01-17 | 2019-07-18 | Snaptrack, Inc. | Bulk Acoustic Wave Resonator having a Lateral Energy Barrier |
CN110445474B (zh) * | 2018-05-04 | 2024-08-16 | 苏州汉天下电子有限公司 | 薄膜体声波谐振器及其制造方法以及薄膜体声波滤波器 |
KR102712627B1 (ko) * | 2018-12-07 | 2024-10-02 | 삼성전기주식회사 | 체적 음향 공진기 |
CN110365306A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-10-22 | 迈感微电子(上海)有限公司 | 薄膜体声波谐振器、滤波器及薄膜体声波谐振器制备方法 |
CN114257197B (zh) * | 2020-09-21 | 2025-03-11 | 中芯集成电路(宁波)有限公司上海分公司 | 一种薄膜体声波谐振器及其制造方法和滤波器 |
CN112532206B (zh) * | 2020-12-16 | 2024-07-26 | 武汉敏声新技术有限公司 | 一种双工器 |
CN112653414B (zh) * | 2020-12-17 | 2024-04-12 | 广东广纳芯科技有限公司 | 兰姆波谐振器及具备该兰姆波谐振器的滤波器和电子设备 |
US20220407496A1 (en) * | 2021-06-16 | 2022-12-22 | Skyworks Solutions, Inc. | Acoustic wave devices including high density interdigitated electrodes |
CN113612463B (zh) * | 2021-06-30 | 2023-07-21 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 阶梯型薄膜体声波谐振器滤波器及滤波器组件 |
CN113644893B (zh) * | 2021-06-30 | 2023-07-25 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 体声波滤波器及滤波器组件 |
CN113644894B (zh) * | 2021-06-30 | 2023-08-29 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 空气腔型薄膜体声波谐振器滤波器及滤波器组件 |
CN113904654A (zh) * | 2021-10-11 | 2022-01-07 | 苏州汉天下电子有限公司 | 并联连接的体声波谐振器及其制造方法、以及电子器件 |
US11616489B2 (en) * | 2022-06-21 | 2023-03-28 | Shenzhen Newsonic Technologies Co., Ltd. | Bulk acoustic wave filter having release hole and fabricating method of the same |
FR3143258B1 (fr) | 2022-12-13 | 2025-04-11 | Commissariat Energie Atomique | Procédé de réalisation d’un filtre à ondes acoustiques de volume. |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6281807A (ja) * | 1985-10-05 | 1987-04-15 | Toshiba Corp | 圧電薄膜共振子 |
JPH01157108A (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-20 | Victor Co Of Japan Ltd | 圧電薄膜共振子 |
JP2001111371A (ja) * | 1999-08-03 | 2001-04-20 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ラダー型圧電セラミックフィルタの製造方法 |
EP1187318A2 (en) * | 2000-09-11 | 2002-03-13 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Acoustic resonator |
KR20020036547A (ko) * | 2000-11-10 | 2002-05-16 | 송재인 | 박막 벌크 오코스틱 공진기의 제조방법 |
US6469597B2 (en) * | 2001-03-05 | 2002-10-22 | Agilent Technologies, Inc. | Method of mass loading of thin film bulk acoustic resonators (FBAR) for creating resonators of different frequencies and apparatus embodying the method |
KR20030081551A (ko) * | 2002-04-11 | 2003-10-22 | 삼성전기주식회사 | Fbar 소자 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5587620A (en) * | 1993-12-21 | 1996-12-24 | Hewlett-Packard Company | Tunable thin film acoustic resonators and method for making the same |
JPH1098311A (ja) | 1996-09-20 | 1998-04-14 | Fujitsu General Ltd | マイクロ波装置 |
US6051907A (en) * | 1996-10-10 | 2000-04-18 | Nokia Mobile Phones Limited | Method for performing on-wafer tuning of thin film bulk acoustic wave resonators (FBARS) |
US5910756A (en) * | 1997-05-21 | 1999-06-08 | Nokia Mobile Phones Limited | Filters and duplexers utilizing thin film stacked crystal filter structures and thin film bulk acoustic wave resonators |
US6262637B1 (en) | 1999-06-02 | 2001-07-17 | Agilent Technologies, Inc. | Duplexer incorporating thin-film bulk acoustic resonators (FBARs) |
US6107721A (en) * | 1999-07-27 | 2000-08-22 | Tfr Technologies, Inc. | Piezoelectric resonators on a differentially offset reflector |
GB0012439D0 (en) * | 2000-05-24 | 2000-07-12 | Univ Cranfield | Improvements to filters |
US6355498B1 (en) * | 2000-08-11 | 2002-03-12 | Agere Systems Guartian Corp. | Thin film resonators fabricated on membranes created by front side releasing |
KR100473871B1 (ko) * | 2000-11-13 | 2005-03-08 | 주식회사 엠에스솔루션 | 박막 필터 |
KR100398363B1 (ko) * | 2000-12-05 | 2003-09-19 | 삼성전기주식회사 | Fbar 소자 및 그 제조방법 |
KR100398365B1 (ko) * | 2001-06-25 | 2003-09-19 | 삼성전기주식회사 | 폭방향 파동이 억제되는 박막 공진기 |
US6670866B2 (en) * | 2002-01-09 | 2003-12-30 | Nokia Corporation | Bulk acoustic wave resonator with two piezoelectric layers as balun in filters and duplexers |
KR100506729B1 (ko) * | 2002-05-21 | 2005-08-08 | 삼성전기주식회사 | 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 |
-
2002
- 2002-05-21 KR KR10-2002-0028142A patent/KR100506729B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-26 US US10/327,929 patent/US6842089B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-12-27 JP JP2002381108A patent/JP2003347884A/ja active Pending
-
2004
- 2004-05-25 US US10/852,433 patent/US7128941B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6281807A (ja) * | 1985-10-05 | 1987-04-15 | Toshiba Corp | 圧電薄膜共振子 |
JPH01157108A (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-20 | Victor Co Of Japan Ltd | 圧電薄膜共振子 |
JP2001111371A (ja) * | 1999-08-03 | 2001-04-20 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ラダー型圧電セラミックフィルタの製造方法 |
EP1187318A2 (en) * | 2000-09-11 | 2002-03-13 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Acoustic resonator |
KR20020036547A (ko) * | 2000-11-10 | 2002-05-16 | 송재인 | 박막 벌크 오코스틱 공진기의 제조방법 |
US6469597B2 (en) * | 2001-03-05 | 2002-10-22 | Agilent Technologies, Inc. | Method of mass loading of thin film bulk acoustic resonators (FBAR) for creating resonators of different frequencies and apparatus embodying the method |
KR20030081551A (ko) * | 2002-04-11 | 2003-10-22 | 삼성전기주식회사 | Fbar 소자 및 그 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003347884A (ja) | 2003-12-05 |
US20030218518A1 (en) | 2003-11-27 |
US20040212458A1 (en) | 2004-10-28 |
US7128941B2 (en) | 2006-10-31 |
KR20030090142A (ko) | 2003-11-28 |
US6842089B2 (en) | 2005-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100506729B1 (ko) | 박막 벌크 어코스틱 공진기(FBARs)소자 및 그제조방법 | |
US7109826B2 (en) | Tapered electrode in an acoustic resonator | |
US10784838B2 (en) | Air-gap type film bulk acoustic resonator and method of manufacturing the same | |
JP3535474B2 (ja) | FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator)素子の製造方法 | |
US7939356B2 (en) | Method of manufacturing film bulk acoustic resonator using internal stress of metallic film and resonator manufactured thereby | |
JP3867231B2 (ja) | 薄膜共振器及びその製造方法 | |
US7791432B2 (en) | Contour-mode piezoelectric micromechanical resonators | |
EP1914888B1 (en) | Fabrication method of a ladder filter | |
US7554426B2 (en) | Resonator, apparatus having the same and fabrication method of resonator | |
EP1548939B1 (en) | Duplexer and method of fabrication | |
US8164398B2 (en) | Resonator, filter and electronic device | |
JP2003318696A (ja) | Fbar素子及びその製造方法 | |
KR100622398B1 (ko) | 필름 벌크 음향 공진기 및 그 제조 방법 | |
US7253703B2 (en) | Air-gap type FBAR, method for fabricating the same, and filter and duplexer using the same | |
US7119638B2 (en) | Film bulk acoustic resonator having an air gap and a method for manufacturing the same | |
KR100698287B1 (ko) | 박막벌크음향공진기 및 그 제조 방법 | |
KR100400741B1 (ko) | 가변 대역통과필터 및 그 제조방법 | |
US20240322792A1 (en) | Piezoelectric thin film filter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20020521 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20050118 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20050708 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20050729 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20050801 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080701 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090616 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20100701 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100701 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |