KR100482718B1 - 핵산 프로브 고정화 기체 및 그것을 이용한 표적 핵산의존재를 검출하는 방법 - Google Patents
핵산 프로브 고정화 기체 및 그것을 이용한 표적 핵산의존재를 검출하는 방법 Download PDFInfo
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- 기체 (基體), 및 상기 기체에 스페이서를 통해 고정화되고 표적 서열에 상보적인 염기 서열을 포함하는 핵산 프로브를 구비하며,상기 스페이서의 길이를 X로 하고, 상기 핵산 프로브에 대하여 상기 표적 서열을 그 일부에 포함하는 표적 핵산이 혼성화할 때에 해당 혼성화 부위의 기체측 말단으로부터 상기 표적 핵산의 기체측 말단까지의 길이를 Y로 한 경우에, 상기 스페이서가 X≥Y의 관계가 성립하는 스페이서인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y이며, Y≥10 Å인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y이고, Y≥10 Å이며, X-10 Å≥Y인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y이고, Y≥10 Å이고, X-10 Å≥Y이며, 200 Å≥X인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y이고, Y≥10 Å이고, X-10 Å≥Y이고, 200 Å≥X이며, X≥100 Å인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y이고, Y≥10 Å이고, X-10 Å≥Y이며, 100 Å≥X인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y이며, 10 Å≥Y인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 스페이서가 유기쇄형 분자인 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 스페이서가 핵산, 에틸렌 글리콜 및 알칸으로 이루어진 군으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제1항에 있어서, 상기 기체가 전기 화학적 검출을 행할 수 있는 전극을 구비하며, 상기 전극에 해당 핵산 프로브가 스페이서를 통해 고정화되어 있는 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제8항에 있어서, 상기 기체가 전기 화학적 검출을 행할 수 있는 전극을 구비하며, 상기 전극에 해당 핵산 프로브가 스페이서를 통해 고정화되어 있는 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 제9항에 있어서, 상기 기체가 전기 화학적 검출을 행할 수 있는 전극을 구비하며, 상기 전극에 해당 핵산 프로브가 스페이서를 통해 고정화되어 있는 것을 특징으로 하는 핵산 프로브 고정화 기체.
- 시료 핵산을, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y가 성립하도록 선택된 프라이머를 사용하여 증폭하는 공정,적절한 혼성화가 얻어지는 조건하에서, 상기 증폭에 의해 얻어진 증폭 산물을 제1항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체에 고정화된 핵산 프로브와 반응시키는 공정, 및상기 반응시킨 공정에 의해 발생한 혼성화를 검출함으로써, 시료 핵산 중에 표적 핵산이 존재하는 것을 판정하는 공정을 구비하는, 제1항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- 시료 핵산을, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y가 성립하도록 선택된 프라이머를 사용하여 증폭하는 공정,적절한 혼성화가 얻어지는 조건하에서, 상기 증폭에 의해 얻어진 증폭 산물을 제8항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체에 고정화된 핵산 프로브와 반응시키는 공정, 및상기 반응시킨 공정에 의해 발생한 혼성화를 검출함으로써, 시료 핵산 중에 표적 핵산이 존재하는 것을 판정하는 공정을 구비하는, 제8항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- 시료 핵산을, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y가 성립하도록 선택된 프라이머를 사용하여 증폭하는 공정,적절한 혼성화가 얻어지는 조건하에서, 상기 증폭에 의해 얻어진 증폭 산물을 제9항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체에 고정화된 핵산 프로브와 반응시키는 공정, 및상기 반응시킨 공정에 의해 발생한 혼성화를 검출함으로써, 시료 핵산 중에 표적 핵산이 존재하는 것을 판정하는 공정을 구비하는, 제9항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- 시료 핵산을, 상기 X와 Y의 관계가 X≥Y가 성립하도록 선택된 프라이머를 사용하여 증폭하는 공정,적절한 혼성화가 얻어지는 조건하에서, 상기 증폭에 의해 얻어진 증폭 산물을 제10항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체에 고정화된 핵산 프로브와 반응시키는 공정, 및상기 반응시킨 공정에 의해 발생한 혼성화를 검출함으로써, 시료 핵산 중에 표적 핵산이 존재하는 것을 판정하는 공정을 구비하는, 제10항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- (a) 해당 표적 핵산이 표적 서열을 통해 핵산 프로브와 혼성화시에, 해당 표적 서열 부위의 기체측 말단부로부터 40 염기 이내에 상기 표적 핵산의 말단이 위치하도록 해당 표적 핵산을 증폭하기 위한 프라이머를 준비하는 단계,(b) 상기 (a)에서 준비된 프라이머를 사용하여 시료 핵산을 증폭하는 단계,(c) 상기 (b)에서 얻어진 증폭 산물을 단일쇄로 만드는 단계,(d) 상기 (c)에서 얻어진 단일쇄를 상기 핵산 프로브와 반응시키는 단계, 및(e) 상기 (d)에서 발생된 혼성화를 검출함으로써, 해당 시료 핵산 중 표적 핵산의 존재를 검출하는 단계를 구비하는, 기체, 및 상기 기체에 고정화되고 표적 서열에 상보적인 서열을 포함하는 핵산 프로브를 구비하는 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 해당 표적 서열을 포함하는 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- (a) 해당 표적 핵산이 표적 서열을 통해 핵산 프로브와 혼성화시에, 해당 표적 서열 부위의 기체측 말단부로부터 40 염기 이내에 상기 표적 핵산의 말단이 위치하도록 해당 표적 핵산을 증폭하기 위한 프라이머를 준비하는 단계,(b) 상기 (a)에서 준비된 프라이머를 사용하여 시료 핵산을 증폭하는 단계,(c) 상기 (b)에서 얻어진 증폭 산물을 단일쇄로 만드는 단계,(d) 상기 (c)에서 얻어진 단일쇄를 상기 핵산 프로브와 반응시키는 단계, 및(e) 상기 (d)에서 발생된 혼성화를 검출함으로써, 해당 시료 핵산 중 표적 핵산의 존재를 검출하는 단계를 구비하는, 제1항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 해당 표적 서열을 포함하는 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- (a) 해당 표적 핵산이 표적 서열을 통해 핵산 프로브와 혼성화시에, 해당 표적 서열 부위의 기체측 말단부로부터 40 염기 이내에 상기 표적 핵산의 말단이 위치하도록 해당 표적 핵산을 증폭하기 위한 프라이머를 준비하는 단계,(b) 상기 (a)에서 준비된 프라이머를 사용하여 시료 핵산을 증폭하는 단계,(c) 상기 (b)에서 얻어진 증폭 산물을 단일쇄로 만드는 단계,(d) 상기 (c)에서 얻어진 단일쇄를 상기 핵산 프로브와 반응시키는 단계, 및(e) 상기 (d)에서 발생된 혼성화를 검출함으로써, 해당 시료 핵산 중 표적 핵산의 존재를 검출하는 단계를 구비하는, 제8항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 해당 표적 서열을 포함하는 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
- (a) 해당 표적 핵산이 표적 서열을 통해 핵산 프로브와 혼성화시에, 해당 표적 서열 부위의 기체측 말단부로부터 40 염기 이내에 상기 표적 핵산의 말단이 위치하도록 해당 표적 핵산을 증폭하기 위한 프라이머를 준비하는 단계,(b) 상기 (a)에서 준비된 프라이머를 사용하여 시료 핵산을 증폭하는 단계,(c) 상기 (b)에서 얻어진 증폭 산물을 단일쇄로 만드는 단계,(d) 상기 (c)에서 얻어진 단일쇄를 상기 핵산 프로브와 반응시키는 단계, 및(e) 상기 (d)에서 발생된 혼성화를 검출함으로써, 해당 시료 핵산 중 표적 핵산의 존재를 검출하는 단계를 구비하는, 제10항에 기재된 핵산 프로브 고정화 기체를 사용하여 해당 표적 서열을 포함하는 표적 핵산의 존재를 검출하는 방법.
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